JPH11153636A - バリスタの選別方法 - Google Patents
バリスタの選別方法Info
- Publication number
- JPH11153636A JPH11153636A JP9321668A JP32166897A JPH11153636A JP H11153636 A JPH11153636 A JP H11153636A JP 9321668 A JP9321668 A JP 9321668A JP 32166897 A JP32166897 A JP 32166897A JP H11153636 A JPH11153636 A JP H11153636A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- varistor
- dielectric loss
- pulse
- judged
- internal defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000010187 selection method Methods 0.000 claims description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 25
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 24
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
- G01R31/013—Testing passive components
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C17/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/10—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material voltage responsive, i.e. varistors
- H01C7/12—Overvoltage protection resistors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2688—Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor
- G01R27/2694—Measuring dielectric loss, e.g. loss angle, loss factor or power factor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 通常良品を劣化させたり、あるいは、通常良
品を不具合品として排除したりすることなく、安定して
内部欠陥の有無を検出する。 【解決手段】 ステップＳ１でパルス発生器を用いて、
１Ａ以上で、かつ、バリスタの平均的破壊電流の９０％
以下のピーク値を有し、パルス幅が１００ｍｓｅｃ以下
の大電流パルスを、バリスタに印加する。ステップＳ２
でバリスタの誘電損失を略１００ＫＨｚ以上の周波数で
ＬＣＲメータを用いて測定する。次に、ステップＳ３
で、測定値が予め設定された判定基準の範囲内であるか
どうかを判定する。範囲内であれば、良品として判断
し、範囲外であれば内部欠陥を有する不具合品と判断す
る。
品を不具合品として排除したりすることなく、安定して
内部欠陥の有無を検出する。 【解決手段】 ステップＳ１でパルス発生器を用いて、
１Ａ以上で、かつ、バリスタの平均的破壊電流の９０％
以下のピーク値を有し、パルス幅が１００ｍｓｅｃ以下
の大電流パルスを、バリスタに印加する。ステップＳ２
でバリスタの誘電損失を略１００ＫＨｚ以上の周波数で
ＬＣＲメータを用いて測定する。次に、ステップＳ３
で、測定値が予め設定された判定基準の範囲内であるか
どうかを判定する。範囲内であれば、良品として判断
し、範囲外であれば内部欠陥を有する不具合品と判断す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、バリスタ、特に、
電子回路等にサージ対策として採用されるバリスタの選
別方法に関する。
電子回路等にサージ対策として採用されるバリスタの選
別方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、電圧非直線抵抗体であるバリ
スタの内部欠陥の有無を検出する方法として、特公平６
−７０６５８号公報に示すように、パルスを印加して内
部欠陥のあるバリスタを破壊させる方法が提案されてい
る。また、特公平４−６６０８２号公報や特公平１−１
３２０１号公報に示すように、バリスタの電流電圧特性
を測定し、正常なバリスタの電流電圧特性と比較するこ
とによって、内部欠陥の有無を検出する方法も提案され
ている。
スタの内部欠陥の有無を検出する方法として、特公平６
−７０６５８号公報に示すように、パルスを印加して内
部欠陥のあるバリスタを破壊させる方法が提案されてい
る。また、特公平４−６６０８２号公報や特公平１−１
３２０１号公報に示すように、バリスタの電流電圧特性
を測定し、正常なバリスタの電流電圧特性と比較するこ
とによって、内部欠陥の有無を検出する方法も提案され
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、パルス
を印加して内部欠陥のあるバリスタを破壊させる方法
は、パルスのエネルギーが大きければ、通常の良品まで
も劣化させてしまうし、パルスのエネルギーが小さけれ
ば、欠陥の検出ができなくなるため、パルスのエネルギ
ー量設定や制御を厳格に管理する必要があった。
を印加して内部欠陥のあるバリスタを破壊させる方法
は、パルスのエネルギーが大きければ、通常の良品まで
も劣化させてしまうし、パルスのエネルギーが小さけれ
ば、欠陥の検出ができなくなるため、パルスのエネルギ
ー量設定や制御を厳格に管理する必要があった。
【０００４】また、バリスタの電流電圧特性を測定して
内部欠陥の有無を検出する方法は、内部欠陥の存在と電
流電圧特性の変動に統計的な相関関係があることを利用
しているため、確実に不具合品を排除させるには、良品
として選別する条件を厳しくして狭い選別範囲にしなけ
ればならず、通常の良品までも不具合として排除してし
まうおそれがあった。
内部欠陥の有無を検出する方法は、内部欠陥の存在と電
流電圧特性の変動に統計的な相関関係があることを利用
しているため、確実に不具合品を排除させるには、良品
として選別する条件を厳しくして狭い選別範囲にしなけ
ればならず、通常の良品までも不具合として排除してし
まうおそれがあった。
【０００５】そこで、本発明の目的は、通常良品を劣化
させたり、あるいは通常良品を不具合品として排除した
りすることなく、安定して内部欠陥の有無を検出するこ
とができるバリスタの選別方法を提供することにある。
させたり、あるいは通常良品を不具合品として排除した
りすることなく、安定して内部欠陥の有無を検出するこ
とができるバリスタの選別方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
め、本発明に係るバリスタの選別方法は、バリスタに大
電流パルスを印加した後、誘電損失を測定し、得られた
誘電損失の値に基づいてバリスタを選別することを特徴
とする。ここに、大電流パルスは、ピーク値が１Ａ以上
かつバリスタの平均的破壊電流の９０％以下であり、パ
ルス幅が１００ｍｓｅｃ以下である。さらに、誘電損失
の測定周波数は１００ＫＨｚ以上であり、かつ、測定時
間は１ｓｅｃ以下である。
め、本発明に係るバリスタの選別方法は、バリスタに大
電流パルスを印加した後、誘電損失を測定し、得られた
誘電損失の値に基づいてバリスタを選別することを特徴
とする。ここに、大電流パルスは、ピーク値が１Ａ以上
かつバリスタの平均的破壊電流の９０％以下であり、パ
ルス幅が１００ｍｓｅｃ以下である。さらに、誘電損失
の測定周波数は１００ＫＨｚ以上であり、かつ、測定時
間は１ｓｅｃ以下である。
【０００７】
【作用】以上の方法により、内部欠陥を有する不具合の
バリスタに大電流パルスを印加すると、内部欠陥部分の
非直線性が失われて抵抗体化し、誘電損失の値が上昇す
る。ところが、内部欠陥を有さない良品のバリスタに大
電流を印加しても、誘電損失の値は上昇しない。従っ
て、大電流パルスを印加した後、誘電損失の値を測定
し、その誘電損失の値が所定範囲から外れた場合には、
内部欠陥を有する不具合のバリスタと判定することがで
きる。
バリスタに大電流パルスを印加すると、内部欠陥部分の
非直線性が失われて抵抗体化し、誘電損失の値が上昇す
る。ところが、内部欠陥を有さない良品のバリスタに大
電流を印加しても、誘電損失の値は上昇しない。従っ
て、大電流パルスを印加した後、誘電損失の値を測定
し、その誘電損失の値が所定範囲から外れた場合には、
内部欠陥を有する不具合のバリスタと判定することがで
きる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るバリスタの選
別方法の実施形態について添付図面を参照して説明す
る。
別方法の実施形態について添付図面を参照して説明す
る。
【０００９】図１は、バリスタ１の一例を示す分解斜視
図である。セラミックシート２は、ＺｎＯ，ＢａＴｉＯ
3，ＳｒＴｉＯ3等を主成分とした粉末を含有した有機バ
インダを混練し、これをシート状にしたものである。セ
ラミックシート２の上面には内部電極３，４が印刷等の
方法によって形成されている。内部電極３，４の材料に
は、Ａｇ，Ａｇ−Ｐｄ，Ｃｕ等の導電性ペーストを使用
する。こうして準備されたセラミックシート２は交互に
積み重ねられる。さらに、保護シート５が上側と下側に
配設された後、一体的に圧着して積層体とされ、焼成さ
れる。
図である。セラミックシート２は、ＺｎＯ，ＢａＴｉＯ
3，ＳｒＴｉＯ3等を主成分とした粉末を含有した有機バ
インダを混練し、これをシート状にしたものである。セ
ラミックシート２の上面には内部電極３，４が印刷等の
方法によって形成されている。内部電極３，４の材料に
は、Ａｇ，Ａｇ−Ｐｄ，Ｃｕ等の導電性ペーストを使用
する。こうして準備されたセラミックシート２は交互に
積み重ねられる。さらに、保護シート５が上側と下側に
配設された後、一体的に圧着して積層体とされ、焼成さ
れる。
【００１０】次に、図２に示すように、この積層体の左
右に外部電極７，８が形成される。外部電極７には内部
電極３の端部が電気的に接続され、外部電極８には内部
電極４の端部が電気的に接続されている。従って、図３
に示す電気等価回路を有する積層型バリスタ１が得られ
る。
右に外部電極７，８が形成される。外部電極７には内部
電極３の端部が電気的に接続され、外部電極８には内部
電極４の端部が電気的に接続されている。従って、図３
に示す電気等価回路を有する積層型バリスタ１が得られ
る。
【００１１】こうして得られた積層型バリスタ１は、図
４に示す選別装置１１にセットされる。選別装置１１
は、パルス発生器１２、ＬＣＲメータ（いわゆるＱメー
タ）１３、切換えスイッチ１４及び図示しないマイクロ
コンピュータにて構成されている。パルス発生器１２
は、１Ａ以下で、かつ、バリスタ１の平均的破壊電流の
９０％以下のピーク値を有する大電流パルスを発生させ
る。ピーク値が１Ａより小さくなると、内部欠陥の抵抗
体化（後述）が行われないからである。また、ピーク値
がバリスタ１の平均的破壊電流の９０％より大きくなる
と、通常の良品までも劣化させてしまうおそれがあるか
らである。さらに、大電流パルスのパルス幅は１００ｍ
ｓｅｃ以下に設定することが好ましい。パルス幅が１０
０ｍｓｅｃを越えると、大電流パルスを印加することに
よってバリスタ１が発熱して劣化するからである。
４に示す選別装置１１にセットされる。選別装置１１
は、パルス発生器１２、ＬＣＲメータ（いわゆるＱメー
タ）１３、切換えスイッチ１４及び図示しないマイクロ
コンピュータにて構成されている。パルス発生器１２
は、１Ａ以下で、かつ、バリスタ１の平均的破壊電流の
９０％以下のピーク値を有する大電流パルスを発生させ
る。ピーク値が１Ａより小さくなると、内部欠陥の抵抗
体化（後述）が行われないからである。また、ピーク値
がバリスタ１の平均的破壊電流の９０％より大きくなる
と、通常の良品までも劣化させてしまうおそれがあるか
らである。さらに、大電流パルスのパルス幅は１００ｍ
ｓｅｃ以下に設定することが好ましい。パルス幅が１０
０ｍｓｅｃを越えると、大電流パルスを印加することに
よってバリスタ１が発熱して劣化するからである。
【００１２】ＬＣＲメータ１３は、回路の共振を利用し
てコンデンサのＱを測る周知の測定器であり、バリスタ
１の静電容量や誘電損失（ｔａｎδ）を測定することが
できる。このＬＣＲメータ１３はパルス発生器１２に対
して電気的に並列に接続され、両者はその一端が切替え
スイッチ１４を介してバリスタ１の外部電極７に電気的
に接続され、他端がバリスタ１の外部電極８に電気的に
接続される。
てコンデンサのＱを測る周知の測定器であり、バリスタ
１の静電容量や誘電損失（ｔａｎδ）を測定することが
できる。このＬＣＲメータ１３はパルス発生器１２に対
して電気的に並列に接続され、両者はその一端が切替え
スイッチ１４を介してバリスタ１の外部電極７に電気的
に接続され、他端がバリスタ１の外部電極８に電気的に
接続される。
【００１３】以上の構成からなる選別装置１１を使って
バリスタ１を選別する方法について、図５に示されてい
るフローチャートを参照して説明する。選別装置１１を
起動すると、ステップＳ１で、図示しないマイクロコン
ピュータからの信号により、切換えスイッチ１４を１４
ａ側に切り換えてパルス発生器１２をバリスタ１に接続
した後、パルス発生器１２からの大電流パルスをバリス
タ１に印加させる。例えば、バリスタ１がＺｎＯ系であ
る場合には、大電流パルスのピーク値は１Ａ、パルス幅
は１０ｍｓｅｃに設定される。
バリスタ１を選別する方法について、図５に示されてい
るフローチャートを参照して説明する。選別装置１１を
起動すると、ステップＳ１で、図示しないマイクロコン
ピュータからの信号により、切換えスイッチ１４を１４
ａ側に切り換えてパルス発生器１２をバリスタ１に接続
した後、パルス発生器１２からの大電流パルスをバリス
タ１に印加させる。例えば、バリスタ１がＺｎＯ系であ
る場合には、大電流パルスのピーク値は１Ａ、パルス幅
は１０ｍｓｅｃに設定される。
【００１４】このとき、図６に示すように、内部欠陥を
有する不具合のバリスタ１に大電流パルスが印加される
と、内部欠陥部分の非直線性が失われて抵抗体化し、誘
電損失の値が上昇する（点線２２ｂ参照）。一方、内部
欠陥を有さない良品のバリスタ１に大電流パルスを印加
しても、誘電損失の値は上昇しない（実線２２ａ参
照）。図６において、符号２２は周波数を変化させなが
ら誘電損失を測定したグラフを表示しており、実線２２
ａは通常良品の場合を示し、点線２２ｂは不具合品の場
合を示す。また、符号２１は周波数を変化させながら静
電容量を測定したグラフを表示しており、実線２１ａは
通常良品の場合を示し、点線２１ｂは不具合品の場合を
示す。なお、後述するように、誘電損失を測定する場合
は、通常、周波数を変化させながら誘電損失を測定する
ようなことはしないで、所定の周波数でのみ誘電損失を
測定する。大電流パルスが所定時間印加された後、再び
マイクロコンピュータからの信号により、パルス発生器
１２は停止される。
有する不具合のバリスタ１に大電流パルスが印加される
と、内部欠陥部分の非直線性が失われて抵抗体化し、誘
電損失の値が上昇する（点線２２ｂ参照）。一方、内部
欠陥を有さない良品のバリスタ１に大電流パルスを印加
しても、誘電損失の値は上昇しない（実線２２ａ参
照）。図６において、符号２２は周波数を変化させなが
ら誘電損失を測定したグラフを表示しており、実線２２
ａは通常良品の場合を示し、点線２２ｂは不具合品の場
合を示す。また、符号２１は周波数を変化させながら静
電容量を測定したグラフを表示しており、実線２１ａは
通常良品の場合を示し、点線２１ｂは不具合品の場合を
示す。なお、後述するように、誘電損失を測定する場合
は、通常、周波数を変化させながら誘電損失を測定する
ようなことはしないで、所定の周波数でのみ誘電損失を
測定する。大電流パルスが所定時間印加された後、再び
マイクロコンピュータからの信号により、パルス発生器
１２は停止される。
【００１５】次に、ステップＳ２で、切換えスイッチ１
４を１４ａ側から１４ｂ側に切り替えてＬＣＲメータ１
３をバリスタ１に接続する。バリスタ１が内部欠陥を有
する場合、誘電損失の上昇は図６に示すように、略１０
０ＫＨｚ以上で顕著になってくるので、ＬＣＲメータ１
３は、バリスタ１の誘電損失を１００ＫＨｚ以上の周波
数で測定するように設定されている。例えば、バリスタ
１がＺｎＯ系である場合には、測定電圧が１Ｖｒｍｓ，
周波数が１ＭＨｚで誘電損失を測定する。バリスタ１の
誘電損失の測定時間は１ｓｅｃ以下に設定される。
４を１４ａ側から１４ｂ側に切り替えてＬＣＲメータ１
３をバリスタ１に接続する。バリスタ１が内部欠陥を有
する場合、誘電損失の上昇は図６に示すように、略１０
０ＫＨｚ以上で顕著になってくるので、ＬＣＲメータ１
３は、バリスタ１の誘電損失を１００ＫＨｚ以上の周波
数で測定するように設定されている。例えば、バリスタ
１がＺｎＯ系である場合には、測定電圧が１Ｖｒｍｓ，
周波数が１ＭＨｚで誘電損失を測定する。バリスタ１の
誘電損失の測定時間は１ｓｅｃ以下に設定される。
【００１６】次に、ステップＳ３で、測定値はマイクロ
コンピュータに送られ、マイクロコンピュータは、測定
値が予め設定された所定の誘電損失の範囲内であるかど
うかを判定する。通常、判定の基準となる誘電損失の数
値は、バリスタ１の平均的な誘電損失の１．１〜５倍程
度を上限として設定される。平均的な誘電損失は材料系
が決まれば略一定の値となる。例えば、バリスタ１がＺ
ｎＯ系である場合には、平均的な誘電損失は２％〜５％
である。従って、マイクロコンピュータの判定基準とし
て５％を設定する。これにより、マイクロコンピュータ
は、測定値が予め設定された判定基準である５％を越え
ていないかどうかを判定し、越えていなければ良品と判
断する。逆に、測定値が５％を越えていれば不具合品と
判断する。
コンピュータに送られ、マイクロコンピュータは、測定
値が予め設定された所定の誘電損失の範囲内であるかど
うかを判定する。通常、判定の基準となる誘電損失の数
値は、バリスタ１の平均的な誘電損失の１．１〜５倍程
度を上限として設定される。平均的な誘電損失は材料系
が決まれば略一定の値となる。例えば、バリスタ１がＺ
ｎＯ系である場合には、平均的な誘電損失は２％〜５％
である。従って、マイクロコンピュータの判定基準とし
て５％を設定する。これにより、マイクロコンピュータ
は、測定値が予め設定された判定基準である５％を越え
ていないかどうかを判定し、越えていなければ良品と判
断する。逆に、測定値が５％を越えていれば不具合品と
判断する。
【００１７】以上の方法によれば、大電流パルスを印加
した後、誘電損失を測定するだけで、確実に内部欠陥を
有する不具合品を検出することができ、通常良品を劣化
させたり、通常良品を不具合品として排除しなくてす
む。また、以上の方法によれば、内部欠陥の存在により
耐サージ性及びサージ吸収能力の劣るバリスタを短時間
で選別することができる。従って、バリスタ１の全数選
別も実行可能となり、バリスタ１の品質を向上させるこ
とができる。さらに、サージ吸収特性が異なるバリスタ
であっても、そのバリスタの材料系が同じであれば、バ
リスタを選別する際のマイクロコンピュータに予め設定
しておく判定基準の誘電損失の数値を変更してなくても
すむので、多品種ラインへの適用も可能となる。
した後、誘電損失を測定するだけで、確実に内部欠陥を
有する不具合品を検出することができ、通常良品を劣化
させたり、通常良品を不具合品として排除しなくてす
む。また、以上の方法によれば、内部欠陥の存在により
耐サージ性及びサージ吸収能力の劣るバリスタを短時間
で選別することができる。従って、バリスタ１の全数選
別も実行可能となり、バリスタ１の品質を向上させるこ
とができる。さらに、サージ吸収特性が異なるバリスタ
であっても、そのバリスタの材料系が同じであれば、バ
リスタを選別する際のマイクロコンピュータに予め設定
しておく判定基準の誘電損失の数値を変更してなくても
すむので、多品種ラインへの適用も可能となる。
【００１８】なお、本発明に係るバリスタの選別方法は
前記実施形態に限定するものではなく、その要旨の範囲
内で種々に変更することができる。例えば、選別装置は
必ずしも前記実施形態に限定するものではなく、バリス
タの仕様に合わせて種々構成される。
前記実施形態に限定するものではなく、その要旨の範囲
内で種々に変更することができる。例えば、選別装置は
必ずしも前記実施形態に限定するものではなく、バリス
タの仕様に合わせて種々構成される。
【００１９】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、大電流パルスを印加した後、誘電損失を測定す
るだけで、確実に内部欠陥を有する不具合品を検出する
ことができ、通常良品を劣化させたり、通常良品を不具
合品として排除しなくてすむ。また、以上の方法によれ
ば、内部欠陥の存在により耐サージ性及びサージ吸収能
力の劣るバリスタを短時間で選別することができ、バリ
スタの全数選別も実行可能となり、バリスタの品質を向
上させることができる。さらに、サージ吸収特性が異な
るバリスタであっても、そのバリスタの材料系が同じで
あれば、バリスタを選別する際に予め設定しておく判定
基準の誘電損失の数値を変更してなくてもすむので、多
品種ラインへの適用も可能となる。
よれば、大電流パルスを印加した後、誘電損失を測定す
るだけで、確実に内部欠陥を有する不具合品を検出する
ことができ、通常良品を劣化させたり、通常良品を不具
合品として排除しなくてすむ。また、以上の方法によれ
ば、内部欠陥の存在により耐サージ性及びサージ吸収能
力の劣るバリスタを短時間で選別することができ、バリ
スタの全数選別も実行可能となり、バリスタの品質を向
上させることができる。さらに、サージ吸収特性が異な
るバリスタであっても、そのバリスタの材料系が同じで
あれば、バリスタを選別する際に予め設定しておく判定
基準の誘電損失の数値を変更してなくてもすむので、多
品種ラインへの適用も可能となる。
【図１】バリスタの一例を示す分解斜視図。
【図２】図１に示したバリスタの外観を示す斜視図。
【図３】図２に示したバリスタの電気等価回路図。
【図４】本発明に係るバリスタの選別方法に使用される
選別装置の一例を示す電気ブロック図。
選別装置の一例を示す電気ブロック図。
【図５】本発明に係るバリスタの選別方法の一実施形態
を示すフローチャート。
を示すフローチャート。
【図６】静電容量特性及び誘電損失特性を示すグラフ。
【符号の説明】 １…バリスタ １２…パルス発生器 １３…ＬＣＲメータ
Claims (3)
- 【請求項１】 バリスタに大電流パルスを印加した後、
誘電損失を測定し、得られた誘電損失の値に基づいてバ
リスタを選別することを特徴とするバリスタの選別方
法。 - 【請求項２】 前記大電流パルスは、ピーク値が１Ａ以
上かつバリスタの平均的破壊電流の９０％以下であり、
パルス幅が１００ｍｓｅｃ以下であることを特徴とする
請求項１記載のバリスタの選別方法。 - 【請求項３】 前記誘電損失の測定周波数が１００ＫＨ
ｚ以上であり、かつ、測定時間が１ｓｅｃ以下であるこ
とを特徴とする請求項２記載のバリスタの選別方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9321668A JPH11153636A (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | バリスタの選別方法 |
| DE19852775A DE19852775B4 (de) | 1997-11-21 | 1998-11-16 | Verfahren zur Sortierprüfung von Varistoren |
| US09/198,283 US6246242B1 (en) | 1997-11-21 | 1998-11-23 | Method of screening varistors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9321668A JPH11153636A (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | バリスタの選別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11153636A true JPH11153636A (ja) | 1999-06-08 |
Family
ID=18135085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9321668A Pending JPH11153636A (ja) | 1997-11-21 | 1997-11-21 | バリスタの選別方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6246242B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11153636A (ja) |
| DE (1) | DE19852775B4 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014059925A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Nhk Spring Co Ltd | 圧電素子供給装置及び圧電素子の電気的特性測定方法 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6512963B1 (en) * | 2000-11-16 | 2003-01-28 | International Business Machines Corporation | Library system having empty cartridge storage cell coded label stripe |
| US7138804B2 (en) * | 2003-08-08 | 2006-11-21 | Industrial Technology Research Institute | Automatic transmission line pulse system |
| FR2858856B1 (fr) * | 2003-08-14 | 2006-02-10 | Soule Protection Surtensions | Appareil de controle du vieillissement d'une varistance |
| US6955588B1 (en) | 2004-03-31 | 2005-10-18 | Lam Research Corporation | Method of and platen for controlling removal rate characteristics in chemical mechanical planarization |
| US8134376B2 (en) * | 2005-01-17 | 2012-03-13 | Tohoku University | Method of measuring electronic device and measuring apparatus |
| CN102854413B (zh) * | 2012-07-02 | 2015-04-22 | 西安理工大学 | 一种压敏电阻超快电脉冲响应的测试方法 |
| US9959430B2 (en) * | 2014-02-05 | 2018-05-01 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Counterfeit microelectronics detection based on capacitive and inductive signatures |
| DE102021214316B3 (de) | 2021-12-14 | 2023-02-09 | Vitesco Technologies GmbH | Kapazitiver Funktionstest von Varistoren einer Fahrzeugbordnetz-Hochvoltschutzvorrichtung |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1061898B (de) * | 1959-01-08 | 1959-07-23 | Grundig Max | Verfahren und Vorrichtung zur Pruefung und/oder Sortierung von spannungsabhaengigen Widerstaenden |
| US5142430A (en) * | 1990-03-28 | 1992-08-25 | Anthony Anthony A | Power line filter and surge protection circuit components and circuits |
| US5225783A (en) * | 1991-02-18 | 1993-07-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dielectric constant detection apparatus for fuel |
| US5652621A (en) * | 1996-02-23 | 1997-07-29 | Eastman Kodak Company | Adaptive color plane interpolation in single sensor color electronic camera |
-
1997
- 1997-11-21 JP JP9321668A patent/JPH11153636A/ja active Pending
-
1998
- 1998-11-16 DE DE19852775A patent/DE19852775B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-11-23 US US09/198,283 patent/US6246242B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014059925A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Nhk Spring Co Ltd | 圧電素子供給装置及び圧電素子の電気的特性測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19852775A1 (de) | 1999-06-02 |
| DE19852775B4 (de) | 2004-09-30 |
| US6246242B1 (en) | 2001-06-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100263276B1 (ko) | 적층형 복합기능 소자 및 그의 제조방법 | |
| US7075404B2 (en) | Porcelain composition for varistor and varistor | |
| US11735340B2 (en) | Cascade varistor having improved energy handling capabilities | |
| JPH11153636A (ja) | バリスタの選別方法 | |
| TWI509641B (zh) | Electrostatic protection of paste, electrostatic protection parts and manufacturing methods thereof | |
| US5345361A (en) | Shorted trimmable composite multilayer capacitor and method | |
| JPH0567167B2 (ja) | ||
| US20120200969A1 (en) | Resistive Element, Infrared Light Sensor, and Electrical Device | |
| JP2000228338A (ja) | 積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法 | |
| Takamizawa et al. | Large capacitance multilayer ceramic capacitor | |
| US5976420A (en) | Chip type varistor and ceramic compositions for the same | |
| JP3760373B2 (ja) | セラミック電子部品のスクリーニング方法 | |
| KR100877041B1 (ko) | 적층 세라믹 콘덴서의 스크리닝방법 | |
| US20060158305A1 (en) | Resistor paste, resistor and electronic component | |
| JP2006269876A (ja) | 静電気対策部品 | |
| JPH11142449A (ja) | 電子部品の抵抗測定装置 | |
| JP2006313877A (ja) | 静電気対策部品 | |
| US6509741B2 (en) | Method for screening multi-layer ceramic electronic component | |
| JP2001035758A (ja) | 積層セラミック電子部品のスクリーニング方法及びスクリーニング装置 | |
| JPH0347284Y2 (ja) | ||
| JP5206493B2 (ja) | セラミックコンデンサの選別方法および選別装置 | |
| JP2969666B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサの製造方法 | |
| US6133819A (en) | Load-dependent preventive fuse | |
| Chan et al. | Low-voltage performance of multilayer ceramic capacitors | |
| JP2805447B2 (ja) | サーマルヘッド、サーマルヘッドの製造方法及び製造装置 |