JPH1114636A - 透過照明装置 - Google Patents
透過照明装置Info
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- JPH1114636A JPH1114636A JP9170243A JP17024397A JPH1114636A JP H1114636 A JPH1114636 A JP H1114636A JP 9170243 A JP9170243 A JP 9170243A JP 17024397 A JP17024397 A JP 17024397A JP H1114636 A JPH1114636 A JP H1114636A
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- lens
- illumination
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/02—Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope
- G01Q30/025—Optical microscopes coupled with SPM
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】走査型プローブ顕微鏡に組み込まれる高倍率の
対物レンズを用いた光学顕微鏡に十分な明るさの照明光
を供給できる透過照明装置を提供する。 【解決手段】筒型スキャナー33は円形の穴が形成され
た基板31に固定されている。筒型スキャナー33の下
端には、カンチレバー38の自由端の変位を検知する変
位センサー34が取り付けられている。筒型スキャナー
33の内側の空間には、透過照明装置の一部を構成する
照明光照射部41が配置されている。照明光照射部41
は、筒状のレンズ支持枠42と、上端部に固定されたコ
リメーターレンズ43と、下端部に固定されたコンデン
サーレンズ44とで構成されている。コリメーターレン
ズ43は凹レンズから成り、図示しない照明光生成部か
ら供給される収束性の照明光を平行光に変え、コンデン
サーレンズ44は凸レンズから成り、コリメーターレン
ズ43から伝搬してくる平行光を収束光に変える。
対物レンズを用いた光学顕微鏡に十分な明るさの照明光
を供給できる透過照明装置を提供する。 【解決手段】筒型スキャナー33は円形の穴が形成され
た基板31に固定されている。筒型スキャナー33の下
端には、カンチレバー38の自由端の変位を検知する変
位センサー34が取り付けられている。筒型スキャナー
33の内側の空間には、透過照明装置の一部を構成する
照明光照射部41が配置されている。照明光照射部41
は、筒状のレンズ支持枠42と、上端部に固定されたコ
リメーターレンズ43と、下端部に固定されたコンデン
サーレンズ44とで構成されている。コリメーターレン
ズ43は凹レンズから成り、図示しない照明光生成部か
ら供給される収束性の照明光を平行光に変え、コンデン
サーレンズ44は凸レンズから成り、コリメーターレン
ズ43から伝搬してくる平行光を収束光に変える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学顕微鏡と走査
型プローブ顕微鏡を組み合わせた装置に用いられる試料
透過照明用の透過照明装置に関する。
型プローブ顕微鏡を組み合わせた装置に用いられる試料
透過照明用の透過照明装置に関する。
【0002】
【従来の技術】走査型プローブ顕微鏡は、探針と試料の
位置合わせのために、光学顕微鏡が組み込まれたものが
一般的である。また、探針の走査機構には筒型スキャナ
ーが広く採用されている。
位置合わせのために、光学顕微鏡が組み込まれたものが
一般的である。また、探針の走査機構には筒型スキャナ
ーが広く採用されている。
【0003】走査型プローブ顕微鏡は、提案された当初
は専ら反射率の高い試料の観察に用いられていた。特公
平8−20246号は、このような走査型プローブ顕微
鏡の一つを開示している。その構成を図7に示す。
は専ら反射率の高い試料の観察に用いられていた。特公
平8−20246号は、このような走査型プローブ顕微
鏡の一つを開示している。その構成を図7に示す。
【0004】図7に示されるように、光学顕微鏡の対物
レンズ2は基板1に固定されている。また、筒型の圧電
体スキャナー3は対物レンズ2にほぼ同軸に基板1に固
定されている。探針5は透光性部材4に固定されてお
り、この透光性部材4は筒型スキャナー3の下端に固定
されている。探針5は試料10に対峙して配置される。
レンズ2は基板1に固定されている。また、筒型の圧電
体スキャナー3は対物レンズ2にほぼ同軸に基板1に固
定されている。探針5は透光性部材4に固定されてお
り、この透光性部材4は筒型スキャナー3の下端に固定
されている。探針5は試料10に対峙して配置される。
【0005】この装置では、試料10を光学的に観察す
るための対物レンズ2は、照明装置の一部を兼ねてお
り、照明光は対物レンズ2を介して試料10に照射され
る。最近では、走査型プローブ顕微鏡の分解能の高さに
注目し、光学的に透明に近い試料の観察にも走査型プロ
ーブ顕微鏡を利用したいとの考えがある。このような要
望に応えるため、透過型光学顕微鏡を組み込んだ走査型
プローブ顕微鏡が提案されている。その構成を図8に示
す。
るための対物レンズ2は、照明装置の一部を兼ねてお
り、照明光は対物レンズ2を介して試料10に照射され
る。最近では、走査型プローブ顕微鏡の分解能の高さに
注目し、光学的に透明に近い試料の観察にも走査型プロ
ーブ顕微鏡を利用したいとの考えがある。このような要
望に応えるため、透過型光学顕微鏡を組み込んだ走査型
プローブ顕微鏡が提案されている。その構成を図8に示
す。
【0006】図8に示されるように、カンチレバー22
はその自由端の変位を測定する変位センサー16に取り
付けられている。変位センサー16は、光てこ法に基づ
く変位検出光学系を備えており、これは、測定光を射出
するレーザー発振器17と、測定光を平行光にするレン
ズ18と、測定光をカンチレバー22に向けるミラー1
9と、カンチレバー22からの反射光を偏向するミラー
20と、二分割フォトダイオード等のフォトセンサー2
1とで構成されている。
はその自由端の変位を測定する変位センサー16に取り
付けられている。変位センサー16は、光てこ法に基づ
く変位検出光学系を備えており、これは、測定光を射出
するレーザー発振器17と、測定光を平行光にするレン
ズ18と、測定光をカンチレバー22に向けるミラー1
9と、カンチレバー22からの反射光を偏向するミラー
20と、二分割フォトダイオード等のフォトセンサー2
1とで構成されている。
【0007】変位センサー16は筒型スキャナー15の
下端に取り付けられており、筒型スキャナー15は、移
動機構25を介して鏡基26に取り付けられている基板
14によって支持されている。試料を載せたガラス基板
23はステージの上に載置され、その下方には倒立型光
学顕微鏡の一部を構成する対物レンズ24が配置されて
いる。
下端に取り付けられており、筒型スキャナー15は、移
動機構25を介して鏡基26に取り付けられている基板
14によって支持されている。試料を載せたガラス基板
23はステージの上に載置され、その下方には倒立型光
学顕微鏡の一部を構成する対物レンズ24が配置されて
いる。
【0008】基板14の上方には照明のためのランプハ
ウス11が配置され、ランプ12から発せられた照明光
はレンズ13で集光され、基板14に形成された穴、筒
型スキャナー15の内側、変位センサー16を通って、
スライドガラス23の上の試料を照明する。試料を透過
した光や試料で屈折散乱された光は対物レンズ24に取
り込まれ、これが試料像として観察される。
ウス11が配置され、ランプ12から発せられた照明光
はレンズ13で集光され、基板14に形成された穴、筒
型スキャナー15の内側、変位センサー16を通って、
スライドガラス23の上の試料を照明する。試料を透過
した光や試料で屈折散乱された光は対物レンズ24に取
り込まれ、これが試料像として観察される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図7に示される装置
は、光学反射率の高い試料や散乱の多い試料の観察に適
しており、金属や半導体や鉱物等に対してはコントラス
トの高い光学像を得ることができる。しかし、反射・散
乱が少ない試料、または、試料と周辺環境(培養液)と
の光学的屈折率の差が小さい試料の観察には適しておら
ず、液中の生細胞や染色していない細胞等に対してはコ
ントラストの高い光学像を得ることはできない。
は、光学反射率の高い試料や散乱の多い試料の観察に適
しており、金属や半導体や鉱物等に対してはコントラス
トの高い光学像を得ることができる。しかし、反射・散
乱が少ない試料、または、試料と周辺環境(培養液)と
の光学的屈折率の差が小さい試料の観察には適しておら
ず、液中の生細胞や染色していない細胞等に対してはコ
ントラストの高い光学像を得ることはできない。
【0010】一方、図8に示される装置は、反射・散乱
・光学的屈折が少ない試料、または、試料と周辺環境
(培養液)との光学的屈折率の差が小さい試料の観察に
適しているが、照明光は筒型スキャナー15の内側を通
って照射されるために照明光の開口数は0.1程度と小
さいため、高倍率の対物レンズ24の使用に対しては、
照明の光量が不十分になることが多く、明るい光学像を
得ることが難しい。また、この問題を解決するための強
い光の照射は、熱によるカンチレバーの変形や、液中観
察においては溶媒の対流を引き起こすため好ましくな
い。
・光学的屈折が少ない試料、または、試料と周辺環境
(培養液)との光学的屈折率の差が小さい試料の観察に
適しているが、照明光は筒型スキャナー15の内側を通
って照射されるために照明光の開口数は0.1程度と小
さいため、高倍率の対物レンズ24の使用に対しては、
照明の光量が不十分になることが多く、明るい光学像を
得ることが難しい。また、この問題を解決するための強
い光の照射は、熱によるカンチレバーの変形や、液中観
察においては溶媒の対流を引き起こすため好ましくな
い。
【0011】本発明は、このような実状を鑑みて成され
たものであり、その目的は、走査型プローブ顕微鏡に組
み込まれる高倍率の対物レンズを使用した透過型光学顕
微鏡観察に対しても十分な明るさの照明光を供給できる
透過照明装置を提供することである。
たものであり、その目的は、走査型プローブ顕微鏡に組
み込まれる高倍率の対物レンズを使用した透過型光学顕
微鏡観察に対しても十分な明るさの照明光を供給できる
透過照明装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、筒型スキャナ
ーを有する走査型プローブ顕微鏡に組み込まれる光学顕
微鏡のための透過照明装置であり、透過照明装置は、照
明部位の近くに配置される照明光照射部を含み、照明光
照射部が、少なくとも一部が筒型スキャナーの内側の空
間に配置された支持枠と、照明部位に近い支持枠の端部
に設けられた照明光を集光するためのコンデンサーレン
ズとを備えている。
ーを有する走査型プローブ顕微鏡に組み込まれる光学顕
微鏡のための透過照明装置であり、透過照明装置は、照
明部位の近くに配置される照明光照射部を含み、照明光
照射部が、少なくとも一部が筒型スキャナーの内側の空
間に配置された支持枠と、照明部位に近い支持枠の端部
に設けられた照明光を集光するためのコンデンサーレン
ズとを備えている。
【0013】本発明の透過照明装置は、好ましくは、照
明光照射部が、照明部位から遠い支持枠の端部に設けら
れた照明光を平行光に変えてコンデンサーレンズに供給
するコリメーターレンズを更に備えている。
明光照射部が、照明部位から遠い支持枠の端部に設けら
れた照明光を平行光に変えてコンデンサーレンズに供給
するコリメーターレンズを更に備えている。
【0014】本発明の透過照明装置は、更に好ましく
は、照明光照射部が、コリメーターレンズとコンデンサ
ーレンズの間に微分干渉顕微鏡法や位相差顕微鏡法など
の特殊光学顕微鏡法のための光学素子を更に備えてい
る。
は、照明光照射部が、コリメーターレンズとコンデンサ
ーレンズの間に微分干渉顕微鏡法や位相差顕微鏡法など
の特殊光学顕微鏡法のための光学素子を更に備えてい
る。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態について説明する。図1に示されるよう
に、筒型スキャナー33を支持する基板31には筒型ス
キャナー33の内径にほぼ等しい径の円形の穴が形成さ
れており、筒型スキャナー33はその内径を穴にほぼ一
致させて固定されている。
の実施の形態について説明する。図1に示されるよう
に、筒型スキャナー33を支持する基板31には筒型ス
キャナー33の内径にほぼ等しい径の円形の穴が形成さ
れており、筒型スキャナー33はその内径を穴にほぼ一
致させて固定されている。
【0016】筒型スキャナー33の自由端すなわち下端
には、カンチレバー38の自由端の変位を検知する変位
センサー34が取り付けられている。カンチレバー38
はホルダー35に保持され、これが変位センサー34に
着脱自在に取り付けられる。
には、カンチレバー38の自由端の変位を検知する変位
センサー34が取り付けられている。カンチレバー38
はホルダー35に保持され、これが変位センサー34に
着脱自在に取り付けられる。
【0017】変位センサー34の下側の一部は下方に突
出しており、その最下端部には光学的に透明なガラス板
36が取り付けられている。試料ステージ39の上には
生体試料45を培養したディッシュ37が載置され、変
位センサー24の下部の突出部はディッシュ37に入れ
られた溶媒に浸される。
出しており、その最下端部には光学的に透明なガラス板
36が取り付けられている。試料ステージ39の上には
生体試料45を培養したディッシュ37が載置され、変
位センサー24の下部の突出部はディッシュ37に入れ
られた溶媒に浸される。
【0018】試料ステージ39の下方には対物レンズ4
0が配置されている。試料ステージ39は円形の開口を
有しており、対物レンズ40はその開口に対して同軸に
位置し、開口を通してディッシュ37の底の生体試料4
5の光学観察を可能にしている。
0が配置されている。試料ステージ39は円形の開口を
有しており、対物レンズ40はその開口に対して同軸に
位置し、開口を通してディッシュ37の底の生体試料4
5の光学観察を可能にしている。
【0019】筒型スキャナー33の内側の空間には、透
過照明装置の一部を構成する照明光照射部41が配置さ
れている。照明光照射部41は、筒状のレンズ支持枠4
2と、上端部に固定されたコリメーターレンズ43と、
下端部に固定されたコンデンサーレンズ44とで構成さ
れている。
過照明装置の一部を構成する照明光照射部41が配置さ
れている。照明光照射部41は、筒状のレンズ支持枠4
2と、上端部に固定されたコリメーターレンズ43と、
下端部に固定されたコンデンサーレンズ44とで構成さ
れている。
【0020】コリメーターレンズ43は、図示しない照
明光生成部から供給される収束性の照明光を平行光に変
え、コンデンサーレンズ44は凸レンズから成り、コリ
メーターレンズ43から伝搬してくる平行光を収束光に
変える。収束性の照明光はガラス板36を通ってディッ
シュ37の底に付着している生物試料を照明する。
明光生成部から供給される収束性の照明光を平行光に変
え、コンデンサーレンズ44は凸レンズから成り、コリ
メーターレンズ43から伝搬してくる平行光を収束光に
変える。収束性の照明光はガラス板36を通ってディッ
シュ37の底に付着している生物試料を照明する。
【0021】ここで、照明光照射部41の支持機構(図
1には示されていない)について説明する。この支持機
構は、使用する対物レンズの倍率に応じて、要求される
機能が異なる。
1には示されていない)について説明する。この支持機
構は、使用する対物レンズの倍率に応じて、要求される
機能が異なる。
【0022】低倍率の対物レンズ40の使用に対して
は、特に照明範囲を調整する必要がない。このため、支
持機構には、照明光照射部41の光軸方向に沿った位置
を調整する機構を持たない簡単なものが使用できる。し
かし、高倍率の対物レンズ40の使用に対しては、照明
範囲を調整する必要がある。このため、支持機構は、照
明光照射部41の光軸方向に沿った位置を調整する機構
を備えている必要がある。
は、特に照明範囲を調整する必要がない。このため、支
持機構には、照明光照射部41の光軸方向に沿った位置
を調整する機構を持たない簡単なものが使用できる。し
かし、高倍率の対物レンズ40の使用に対しては、照明
範囲を調整する必要がある。このため、支持機構は、照
明光照射部41の光軸方向に沿った位置を調整する機構
を備えている必要がある。
【0023】勿論、高倍率の対物レンズに対応した支持
機構は、低倍率の対物レンズの使用に対しても用いるこ
とが可能であるが、使用する対物レンズが低倍率のもの
に限られている特定の用途のための装置においては、装
置の低価格化のためにも、簡単な構成の支持機構の採用
が好ましい。
機構は、低倍率の対物レンズの使用に対しても用いるこ
とが可能であるが、使用する対物レンズが低倍率のもの
に限られている特定の用途のための装置においては、装
置の低価格化のためにも、簡単な構成の支持機構の採用
が好ましい。
【0024】低倍率の対物レンズ40の使用に対する簡
単な構成の支持機構は、図2に示されるように、支持枠
42に設けられたフランジ46と、これを受けるための
基板31に形成されたフランジ受け溝48とで構成され
る。受け溝48には複数の位置決めピン49が設けら
れ、また、フランジ46にはこれを受ける複数の穴47
が形成されている。
単な構成の支持機構は、図2に示されるように、支持枠
42に設けられたフランジ46と、これを受けるための
基板31に形成されたフランジ受け溝48とで構成され
る。受け溝48には複数の位置決めピン49が設けら
れ、また、フランジ46にはこれを受ける複数の穴47
が形成されている。
【0025】照明光照射部41は、ピン49と穴47を
合わせて、フランジ46が受け溝48に配置され、さら
に図に示されないねじが締め付けられることにより固定
される。
合わせて、フランジ46が受け溝48に配置され、さら
に図に示されないねじが締め付けられることにより固定
される。
【0026】高倍率の対物レンズ40の使用に対する位
置調整機能を備えた支持機構は、図3に示されるよう
に、支持枠42に設けられたフランジ51と、これに形
成されたねじ穴に螺合した複数本(好適には三本)のね
じ52と、これらの先端を受けるための基板31に形成
された複数のねじ受け53と、フランジ51と基板31
の間に張力を与える複数本(好適にはねじ52と同じ三
本)のコイルばね55とで構成される。
置調整機能を備えた支持機構は、図3に示されるよう
に、支持枠42に設けられたフランジ51と、これに形
成されたねじ穴に螺合した複数本(好適には三本)のね
じ52と、これらの先端を受けるための基板31に形成
された複数のねじ受け53と、フランジ51と基板31
の間に張力を与える複数本(好適にはねじ52と同じ三
本)のコイルばね55とで構成される。
【0027】三本のねじ52の各々の適宜な回転によっ
て照明光照射部41の高さとその軸の傾斜が調整され
る。これにより、ディッシュ37の底を照明する領域を
変更することができる。なお、照明光照射部41はコイ
ルばね55の付勢力により安定に支持される。
て照明光照射部41の高さとその軸の傾斜が調整され
る。これにより、ディッシュ37の底を照明する領域を
変更することができる。なお、照明光照射部41はコイ
ルばね55の付勢力により安定に支持される。
【0028】図4に示されるように、照明光射出部41
のコンデンサーレンズ44から射出された照明光は、カ
ンチレバー38の自由端部の周辺の領域Bを照明する。
ここで、対物レンズ40の焦点をディッシュ37の底に
位置する生体試料45に合わせたときの視野を領域Aと
する。
のコンデンサーレンズ44から射出された照明光は、カ
ンチレバー38の自由端部の周辺の領域Bを照明する。
ここで、対物レンズ40の焦点をディッシュ37の底に
位置する生体試料45に合わせたときの視野を領域Aと
する。
【0029】領域Bの位置と大きさはコンデンサーレン
ズ44の位置に依存して変わる。一般に、照明光の明る
さは領域B内で均一ではなく、中心に近い部分が周辺よ
りも明るい。
ズ44の位置に依存して変わる。一般に、照明光の明る
さは領域B内で均一ではなく、中心に近い部分が周辺よ
りも明るい。
【0030】高倍率の対物レンズ40は0.5以上の開
口数NAを持つことが多いため、その観察像は暗くなる
傾向が強い。このため、高倍率の対物レンズ40を用い
た観察では、その視野が効率的に照明されることが望ま
れる。
口数NAを持つことが多いため、その観察像は暗くなる
傾向が強い。このため、高倍率の対物レンズ40を用い
た観察では、その視野が効率的に照明されることが望ま
れる。
【0031】従って、効率良い照明のためには、領域A
の中心と領域Bの中心が一致し、領域Bは出来る限り狭
いことが好ましい。つまり、照明光が、生体試料45ま
たはカンチレバー38の観察視野で収束することが好ま
しい。
の中心と領域Bの中心が一致し、領域Bは出来る限り狭
いことが好ましい。つまり、照明光が、生体試料45ま
たはカンチレバー38の観察視野で収束することが好ま
しい。
【0032】図3に示される前述の支持機構は、この要
望に応えるものであり、三本のねじ52の各々を適宜回
転させることによって、コンデンサーレンズ44の高さ
と向きを変更可能であり、従って照明領域Bの位置と大
きさを所望の状態に調整できる。
望に応えるものであり、三本のねじ52の各々を適宜回
転させることによって、コンデンサーレンズ44の高さ
と向きを変更可能であり、従って照明領域Bの位置と大
きさを所望の状態に調整できる。
【0033】これにより効率の良い照明が行なえ、その
結果、高倍率の対物レンズ40を使用しながらも、十分
に明るい観察像を実現できる。高倍率の対物レンズに対
応した支持機構は、図3に示される構造に限定されな
い。例えば、図5に示されるように、照明光照射部41
の支持枠42のフランジ部が移動機構62(例えばリニ
アガイドを利用した昇降機構)を介して鏡基63に取り
付けられた構成であってもよい。
結果、高倍率の対物レンズ40を使用しながらも、十分
に明るい観察像を実現できる。高倍率の対物レンズに対
応した支持機構は、図3に示される構造に限定されな
い。例えば、図5に示されるように、照明光照射部41
の支持枠42のフランジ部が移動機構62(例えばリニ
アガイドを利用した昇降機構)を介して鏡基63に取り
付けられた構成であってもよい。
【0034】これまでの説明では、照明光照射部41は
単にコリメーターレンズ43とコンデンサーレンズ44
を備えているものとしたが、微分干渉顕微鏡法や位相差
顕微鏡法を実現するための光学素子を備えていてもよ
い。その一例として、微分干渉顕微鏡法を実現する光学
素子を備えた照明光照射部を図6に示す。
単にコリメーターレンズ43とコンデンサーレンズ44
を備えているものとしたが、微分干渉顕微鏡法や位相差
顕微鏡法を実現するための光学素子を備えていてもよ
い。その一例として、微分干渉顕微鏡法を実現する光学
素子を備えた照明光照射部を図6に示す。
【0035】図6に示されるように、微分干渉顕微鏡法
用の照明光照射部70は、コリメーターレンズ78とコ
ンデンサーレンズ72の他に偏光フィルター76と微分
干渉プリズム74を備えている。この照明光照射部70
は、下端に内側突出縁部を有する円筒状の支持枠71の
中に、コンデンサーレンズ72、円環状スペーサー7
3、微分干渉プリズム74、円環状スペーサー75、偏
光フィルター76、円環状スペーサー77、コリメータ
ーレンズ78を順に挿入し、その後に押さえねじ79を
取り付けてこれらの部材を支持枠71の下端の内側突出
縁部との間に挟み込んで固定して構成される。
用の照明光照射部70は、コリメーターレンズ78とコ
ンデンサーレンズ72の他に偏光フィルター76と微分
干渉プリズム74を備えている。この照明光照射部70
は、下端に内側突出縁部を有する円筒状の支持枠71の
中に、コンデンサーレンズ72、円環状スペーサー7
3、微分干渉プリズム74、円環状スペーサー75、偏
光フィルター76、円環状スペーサー77、コリメータ
ーレンズ78を順に挿入し、その後に押さえねじ79を
取り付けてこれらの部材を支持枠71の下端の内側突出
縁部との間に挟み込んで固定して構成される。
【0036】このように構成された照明光照射部70
は、前述した照明光照射部41と同様に、図2または図
3または図5に示される支持機構によって、筒型スキャ
ナー33の内側に支持される。
は、前述した照明光照射部41と同様に、図2または図
3または図5に示される支持機構によって、筒型スキャ
ナー33の内側に支持される。
【0037】この照明光照射部70を用いることによ
り、生体試料45に対して微分干渉顕微鏡法による観察
が行なえ、従って、高コントラストで高分解能な生体試
料像を得ることができる。
り、生体試料45に対して微分干渉顕微鏡法による観察
が行なえ、従って、高コントラストで高分解能な生体試
料像を得ることができる。
【0038】また、微分干渉顕微鏡法や位相差顕微鏡法
を用いることにより、生体試料45が透明な場合でも、
蛍光観察のように試料に染色を施すことなく、明暗のコ
ントラストを付けて試料観察を行うことが可能である。
を用いることにより、生体試料45が透明な場合でも、
蛍光観察のように試料に染色を施すことなく、明暗のコ
ントラストを付けて試料観察を行うことが可能である。
【0039】従って、生体試料の加工されていない状態
での透明な試料の光学観察及び走査型プローブ顕微鏡に
よる試料測定が一つの装置で可能になる。また、上述の
実施の形態においては、透光性のある生体試料の観察に
ついて述べたが、これ以外の反射・散乱が少ない試料、
または、試料と周辺環境(培養液)との光学的屈折率の
差が小さい試料についても同様の効果を得ることができ
る。本発明は、上述の実施の形態に何等限定されるもの
ではない。発明の要旨を逸脱しない範囲で行なわれる実
施は、すべて本発明に含まれる。
での透明な試料の光学観察及び走査型プローブ顕微鏡に
よる試料測定が一つの装置で可能になる。また、上述の
実施の形態においては、透光性のある生体試料の観察に
ついて述べたが、これ以外の反射・散乱が少ない試料、
または、試料と周辺環境(培養液)との光学的屈折率の
差が小さい試料についても同様の効果を得ることができ
る。本発明は、上述の実施の形態に何等限定されるもの
ではない。発明の要旨を逸脱しない範囲で行なわれる実
施は、すべて本発明に含まれる。
【0040】
【発明の効果】本発明によれば、生細胞等を観察するた
めの走査型プローブ顕微鏡に組み込まれる高倍率の対物
レンズを用いた光学顕微鏡観察に対しても十分な明るさ
の照明光を供給できる透過照明装置が提供される。これ
により、生細胞等の試料を高分解能で光学観察できるよ
うになり、その結果、探針の位置合わせをより高い精度
で行なえるようになる。
めの走査型プローブ顕微鏡に組み込まれる高倍率の対物
レンズを用いた光学顕微鏡観察に対しても十分な明るさ
の照明光を供給できる透過照明装置が提供される。これ
により、生細胞等の試料を高分解能で光学観察できるよ
うになり、その結果、探針の位置合わせをより高い精度
で行なえるようになる。
【図1】本発明の実施の形態の透過照明装置を備えた走
査型プローブ顕微鏡の構成を示している。
査型プローブ顕微鏡の構成を示している。
【図2】低倍率の対物レンズの使用に適した簡単な構成
の図1に示される支持枠を支持する支持機構を示してい
る。
の図1に示される支持枠を支持する支持機構を示してい
る。
【図3】高倍率の対物レンズの使用に適した位置調整機
能を備えた図1に示される支持枠を支持する支持機構を
示している。
能を備えた図1に示される支持枠を支持する支持機構を
示している。
【図4】高倍率の対物レンズの使用に対するコンデンサ
ーレンズの位置調整機能の必要性を説明するための図で
ある。
ーレンズの位置調整機能の必要性を説明するための図で
ある。
【図5】高倍率の対物レンズの使用に適した図1に示さ
れる支持枠を支持する別の支持機構を示している。
れる支持枠を支持する別の支持機構を示している。
【図6】微分干渉顕微鏡法のための光学素子を備えた照
明光射出部の構成を示している。
明光射出部の構成を示している。
【図7】反射率の高い試料の観察に適した走査型プロー
ブ顕微鏡の一従来例を示している。
ブ顕微鏡の一従来例を示している。
【図8】透明に近い試料の観察に適した走査型プローブ
顕微鏡の一従来例を示している。
顕微鏡の一従来例を示している。
41 照明光照射部 42 支持枠 43 コリメーターレンズ 44 コンデンサーレンズ
Claims (3)
- 【請求項1】 筒型スキャナーを有する走査型プローブ
顕微鏡に組み込まれる光学顕微鏡のための透過照明装置
であり、 透過照明装置は、照明部位の近くに配置される照明光照
射部を含み、照明光照射部が、少なくとも一部が筒型ス
キャナーの内側の空間に配置された支持枠と、照明部位
に近い支持枠の端部に設けられた照明光を集光するため
のコンデンサーレンズとを備えている透過照明装置。 - 【請求項2】 請求項1において、照明光照射部が、照
明部位から遠い支持枠の端部に設けられた照明光を平行
光に変えてコンデンサーレンズに供給するコリメーター
レンズを更に備えている透過照明装置。 - 【請求項3】 請求項2において、照明光照射部が、コ
リメーターレンズとコンデンサーレンズの間に微分干渉
顕微鏡法や位相差顕微鏡法などの特殊光学顕微鏡法のた
めの光学素子を更に備えている透過照明装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9170243A JPH1114636A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 透過照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9170243A JPH1114636A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 透過照明装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1114636A true JPH1114636A (ja) | 1999-01-22 |
Family
ID=15901334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9170243A Withdrawn JPH1114636A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 透過照明装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1114636A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011107157A (ja) * | 2001-08-27 | 2011-06-02 | Nanonics Imaging Ltd | 遠方領域の光学顕微鏡の透明インタフェイスを備えた複数プレートのチップまたはサンプルをスキャンする再現可能なスキャンプローブ顕微鏡 |
-
1997
- 1997-06-26 JP JP9170243A patent/JPH1114636A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011107157A (ja) * | 2001-08-27 | 2011-06-02 | Nanonics Imaging Ltd | 遠方領域の光学顕微鏡の透明インタフェイスを備えた複数プレートのチップまたはサンプルをスキャンする再現可能なスキャンプローブ顕微鏡 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040907 |