JP3434064B2 - 落射式位相差顕微鏡 - Google Patents
落射式位相差顕微鏡Info
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- JP3434064B2 JP3434064B2 JP00719695A JP719695A JP3434064B2 JP 3434064 B2 JP3434064 B2 JP 3434064B2 JP 00719695 A JP00719695 A JP 00719695A JP 719695 A JP719695 A JP 719695A JP 3434064 B2 JP3434064 B2 JP 3434064B2
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は細胞培養装置の培養状態
を観察するのに用いて好適な位相差顕微鏡であって小型
化した落射式位相差顕微鏡に関する。 【０００２】 【従来の技術】細胞培養装置、等において培養状態を観
察、監視する場合には、培養細胞は普通無色透明に近く
透過型顕微鏡では観察が困難である。そのため、培養液
と細胞の屈折率差を明暗差に変換する位相差方式が適用
される。従来の位相差顕微鏡の照明光源系は対物レンズ
から試料を挟んだ対向側に設置される透過型であるが、
空間上の制約から小型の自動培養装置に組み込むことは
困難であった。 【０００３】図３，図４はこのような照明光源系が試料
を挟んで配置している位相差顕微鏡の模式図で、図３は
正立型、図４は倒立型を示している。図３の正立型は、
試料１を挟んで上側には対物レンズ２、鏡筒６、接眼レ
ンズまたはカメラ５が配置され、下側には光源ランプ４
からの光を発射する照明装置３を配置した構成である。 【０００４】図４の倒立型は、試料１を挟んで上側より
光源ランプ４を有する照明装置３を配置し、下側に対物
レンズ２、横に配置した鏡筒６、接眼レンズまたはカメ
ラ５を配置した構成となっている。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】前述のように従来の位
相差顕微鏡は図３，図４に示すように試料１を挟んで照
明光学系が対向して配置されており、対物レンズ２の後
方にスペースがとれないような小型の自動培養装置にこ
のような位相差顕微鏡を組込む場合は組込みができず、
培養細胞の観察ができないことになる。このような小型
の自動培養装置に適用するため、対物レンズから試料を
挟んだ対向側の照明光源光学系の容積を最小化する必要
がある。 【０００６】本発明は自動化された細胞培養装置の培養
状態観察・監視に適用され、位相差顕微鏡観察を行うの
に用いて好適な機構であって照明光学系を試料を挟んで
対物レンズに対向する側に設置する余地が無い場合に適
用される同軸型の落射式位相差顕微鏡を提供することを
目的としている。 【０００７】 【課題を解決するための手段】そこで本発明は、位相差
顕微鏡の照明光源および照明光学系を対物レンズ側に設
け、対物レンズを通して試料に照明光を照射し、反射装
置により、試料を透過した光を観察部に導く構成とす
る。 【０００８】即ち、本発明は、照明光源からの光を照明
光学系を介して試料に照射し、同試料を透過したリング
状の光を対物レンズに導き、同対物レンズを通して接眼
レンズ、カメラ等の観察部に導き、前記試料を観察する
位相差顕微鏡であって、前記照明光源および照明光学系
は前記対物レンズ側に設けられ、照明光を同対物レンズ
を通して前記試料に向けて照射するように配置し、反射
装置により、前記試料を透過した光を前記観察部に導く
ことを特徴とする落射式位相差顕微鏡を提供する。 【０００９】 【作用】本発明はこのような手段により、照明光源から
の光は照明光学系を介して対物レンズ側から入射し、試
料に照射される。反射装置により、試料を透過した光は
観察部に導かれ、観察される。従って、従来のように試
料の後方に照明光源や照明光学系がないので試料後方に
大きな空間を確保する必要性がなくなる。照明光を顕微
鏡光軸に導く場合は例えば、ハーフミラー等によって対
物レンズを通して試料に導き、試料を挟み対物レンズに
対向する側に反射鏡を置き、試料を透過したリング状の
光を対物レンズに戻すようにすればよい。 【００１０】このような落射方式を採用することによ
り、試料後方に大きな空間を必要としないため、容積に
余裕のない装置に組み込むことができる。 【００１１】 【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体
的に説明する。図１は本発明の落射式位相差顕微鏡の基
本的な配置を示す模式図である。図において、使用する
符号は図３，図４に示す位相差顕微鏡と対比できるよう
に同種の構成要素には同じ符号を用いて示している。１
は観察すべき試料、７は試料の下部に配置した反射鏡、
２は対物レンズ、３は照明装置、４は照明装置３に光を
供給する光源ランプ、６は試料を透過し、反射鏡７より
反射した反射光を導く鏡筒で上部に接眼レンズまたはカ
メラ５を搭載している構成であり、同軸に配置されてい
る。 【００１２】図２はこのような構成の同軸型の落射式位
相差顕微鏡の作動を示す模式図である。図において、符
号１乃至７は図１に示すものと同じであるので、説明は
省略するが、８はコンデンサレンズで平行光線を作り出
すレンズである。９は中央部に空間を有するドーナツ状
ミラー、１０は遮光板、１１は試料１の培養容器となる
試料ステージ、１２は中央部の光を遮断するための遮光
板である。 【００１３】前述の落射式位相差顕微鏡において、光源
ランプ４から出た光１３はコンデンサレンズ８で平行光
線化して鏡筒６内に導く。中央部の光を遮り、リング状
の光線にするため遮光板１２を置くこともできる。この
光は鏡筒６内に４５度の角度で取り付けられたドーナツ
状ミラー９またはハーフミラーで光線は折り曲げられ、
照明光１４となって対物レンズ２の方向に向かう。 【００１４】このリング状で対物レンズ２に入射した照
明光１４は試料１を載せた試料ステージ１１を透過し、
その後方に設けられた反射鏡７で反射され、対物レンズ
２の中央部に入射する。以下、通常の位相差顕微鏡と同
様に、反射鏡７で反射され、試料１に当たらずに対物レ
ンズ２に入射した光１５は遮光板１０で遮られるが、試
料１を透過して屈折した光１６は接眼レンズまたはカメ
ラ面５に結像する。 【００１５】このような実施例では、照明のための光源
ランプ４およびその光学系となる照明装置３を対物レン
ズ２の側に移し、ドーナツ状ミラー９で同軸上に照明光
を導き、試料ステージ１１を挟んで反射鏡７を配置し、
反射鏡７で反射され、試料１を透過して屈折した光を同
軸上で接眼レンズまたはカメラ５に結像するようにした
ので、試料１の後方に大きな空間を必要とせず、自動培
養装置のような容積に余裕のない装置にも組込むことが
できるものである。 【００１６】なお、試料１の後方に大きな空間を必要と
しない本発明での特徴は、図１と図３および図４とを比
較すると明らかである。図１の本発明では試料１の後方
には反射鏡７のみであるが、図３の正立型では、光源ラ
ンプ４および光学系となる照明装置３があり、また、図
４の倒立型では、対物レンズ２、鏡筒６、レンズまたは
カメラ５が配置されており、それぞれ大きな空間を占め
ている。従って試料の後方に大きな装置を組込む余地の
ない観察装置としては、このような顕微鏡を組込むこと
ができなくなる。 【００１７】 【発明の効果】以上、具体的に説明したように、本発明
においては、位相差顕微鏡の照明光源および照明光学系
を対物レンズ側に設け、対物レンズを通して試料に照明
光を照射し、反射装置により、試料を透過した光を観察
部に導く構成としたので、落射方式を採用することがで
き、試料後方に大きな空間を必要としないため、容積に
余裕のない装置に組み込むことができる。
を観察するのに用いて好適な位相差顕微鏡であって小型
化した落射式位相差顕微鏡に関する。 【０００２】 【従来の技術】細胞培養装置、等において培養状態を観
察、監視する場合には、培養細胞は普通無色透明に近く
透過型顕微鏡では観察が困難である。そのため、培養液
と細胞の屈折率差を明暗差に変換する位相差方式が適用
される。従来の位相差顕微鏡の照明光源系は対物レンズ
から試料を挟んだ対向側に設置される透過型であるが、
空間上の制約から小型の自動培養装置に組み込むことは
困難であった。 【０００３】図３，図４はこのような照明光源系が試料
を挟んで配置している位相差顕微鏡の模式図で、図３は
正立型、図４は倒立型を示している。図３の正立型は、
試料１を挟んで上側には対物レンズ２、鏡筒６、接眼レ
ンズまたはカメラ５が配置され、下側には光源ランプ４
からの光を発射する照明装置３を配置した構成である。 【０００４】図４の倒立型は、試料１を挟んで上側より
光源ランプ４を有する照明装置３を配置し、下側に対物
レンズ２、横に配置した鏡筒６、接眼レンズまたはカメ
ラ５を配置した構成となっている。 【０００５】 【発明が解決しようとする課題】前述のように従来の位
相差顕微鏡は図３，図４に示すように試料１を挟んで照
明光学系が対向して配置されており、対物レンズ２の後
方にスペースがとれないような小型の自動培養装置にこ
のような位相差顕微鏡を組込む場合は組込みができず、
培養細胞の観察ができないことになる。このような小型
の自動培養装置に適用するため、対物レンズから試料を
挟んだ対向側の照明光源光学系の容積を最小化する必要
がある。 【０００６】本発明は自動化された細胞培養装置の培養
状態観察・監視に適用され、位相差顕微鏡観察を行うの
に用いて好適な機構であって照明光学系を試料を挟んで
対物レンズに対向する側に設置する余地が無い場合に適
用される同軸型の落射式位相差顕微鏡を提供することを
目的としている。 【０００７】 【課題を解決するための手段】そこで本発明は、位相差
顕微鏡の照明光源および照明光学系を対物レンズ側に設
け、対物レンズを通して試料に照明光を照射し、反射装
置により、試料を透過した光を観察部に導く構成とす
る。 【０００８】即ち、本発明は、照明光源からの光を照明
光学系を介して試料に照射し、同試料を透過したリング
状の光を対物レンズに導き、同対物レンズを通して接眼
レンズ、カメラ等の観察部に導き、前記試料を観察する
位相差顕微鏡であって、前記照明光源および照明光学系
は前記対物レンズ側に設けられ、照明光を同対物レンズ
を通して前記試料に向けて照射するように配置し、反射
装置により、前記試料を透過した光を前記観察部に導く
ことを特徴とする落射式位相差顕微鏡を提供する。 【０００９】 【作用】本発明はこのような手段により、照明光源から
の光は照明光学系を介して対物レンズ側から入射し、試
料に照射される。反射装置により、試料を透過した光は
観察部に導かれ、観察される。従って、従来のように試
料の後方に照明光源や照明光学系がないので試料後方に
大きな空間を確保する必要性がなくなる。照明光を顕微
鏡光軸に導く場合は例えば、ハーフミラー等によって対
物レンズを通して試料に導き、試料を挟み対物レンズに
対向する側に反射鏡を置き、試料を透過したリング状の
光を対物レンズに戻すようにすればよい。 【００１０】このような落射方式を採用することによ
り、試料後方に大きな空間を必要としないため、容積に
余裕のない装置に組み込むことができる。 【００１１】 【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体
的に説明する。図１は本発明の落射式位相差顕微鏡の基
本的な配置を示す模式図である。図において、使用する
符号は図３，図４に示す位相差顕微鏡と対比できるよう
に同種の構成要素には同じ符号を用いて示している。１
は観察すべき試料、７は試料の下部に配置した反射鏡、
２は対物レンズ、３は照明装置、４は照明装置３に光を
供給する光源ランプ、６は試料を透過し、反射鏡７より
反射した反射光を導く鏡筒で上部に接眼レンズまたはカ
メラ５を搭載している構成であり、同軸に配置されてい
る。 【００１２】図２はこのような構成の同軸型の落射式位
相差顕微鏡の作動を示す模式図である。図において、符
号１乃至７は図１に示すものと同じであるので、説明は
省略するが、８はコンデンサレンズで平行光線を作り出
すレンズである。９は中央部に空間を有するドーナツ状
ミラー、１０は遮光板、１１は試料１の培養容器となる
試料ステージ、１２は中央部の光を遮断するための遮光
板である。 【００１３】前述の落射式位相差顕微鏡において、光源
ランプ４から出た光１３はコンデンサレンズ８で平行光
線化して鏡筒６内に導く。中央部の光を遮り、リング状
の光線にするため遮光板１２を置くこともできる。この
光は鏡筒６内に４５度の角度で取り付けられたドーナツ
状ミラー９またはハーフミラーで光線は折り曲げられ、
照明光１４となって対物レンズ２の方向に向かう。 【００１４】このリング状で対物レンズ２に入射した照
明光１４は試料１を載せた試料ステージ１１を透過し、
その後方に設けられた反射鏡７で反射され、対物レンズ
２の中央部に入射する。以下、通常の位相差顕微鏡と同
様に、反射鏡７で反射され、試料１に当たらずに対物レ
ンズ２に入射した光１５は遮光板１０で遮られるが、試
料１を透過して屈折した光１６は接眼レンズまたはカメ
ラ面５に結像する。 【００１５】このような実施例では、照明のための光源
ランプ４およびその光学系となる照明装置３を対物レン
ズ２の側に移し、ドーナツ状ミラー９で同軸上に照明光
を導き、試料ステージ１１を挟んで反射鏡７を配置し、
反射鏡７で反射され、試料１を透過して屈折した光を同
軸上で接眼レンズまたはカメラ５に結像するようにした
ので、試料１の後方に大きな空間を必要とせず、自動培
養装置のような容積に余裕のない装置にも組込むことが
できるものである。 【００１６】なお、試料１の後方に大きな空間を必要と
しない本発明での特徴は、図１と図３および図４とを比
較すると明らかである。図１の本発明では試料１の後方
には反射鏡７のみであるが、図３の正立型では、光源ラ
ンプ４および光学系となる照明装置３があり、また、図
４の倒立型では、対物レンズ２、鏡筒６、レンズまたは
カメラ５が配置されており、それぞれ大きな空間を占め
ている。従って試料の後方に大きな装置を組込む余地の
ない観察装置としては、このような顕微鏡を組込むこと
ができなくなる。 【００１７】 【発明の効果】以上、具体的に説明したように、本発明
においては、位相差顕微鏡の照明光源および照明光学系
を対物レンズ側に設け、対物レンズを通して試料に照明
光を照射し、反射装置により、試料を透過した光を観察
部に導く構成としたので、落射方式を採用することがで
き、試料後方に大きな空間を必要としないため、容積に
余裕のない装置に組み込むことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の落射式位相差顕微鏡の基本的な配置を
示す模式図である。 【図２】本発明の一実施例に係る落射式位相差顕微鏡の
光路を示す模式図である。 【図３】従来の一般的な正立型の位相差顕微鏡の模式図
である。 【図４】従来の一般的な倒立型の位相差顕微鏡の模式図
である。 【符号の説明】 １ 試料 ２ 対物レンズ ３ 照明装置 ４ 光源ランプ ５ 接眼レンズまたはカメラ ６ 鏡筒 ７ 反射鏡 ８ コンデンサレンズ ９ ドーナツ状ミラー １０ 遮光板 １１ 試料ステージ １２ 遮光板
示す模式図である。 【図２】本発明の一実施例に係る落射式位相差顕微鏡の
光路を示す模式図である。 【図３】従来の一般的な正立型の位相差顕微鏡の模式図
である。 【図４】従来の一般的な倒立型の位相差顕微鏡の模式図
である。 【符号の説明】 １ 試料 ２ 対物レンズ ３ 照明装置 ４ 光源ランプ ５ 接眼レンズまたはカメラ ６ 鏡筒 ７ 反射鏡 ８ コンデンサレンズ ９ ドーナツ状ミラー １０ 遮光板 １１ 試料ステージ １２ 遮光板
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 照明光源からの光を照明光学系を介して
試料に照射し、同試料を透過したリング状の光を対物レ
ンズに導き、同対物レンズを通して接眼レンズ、カメラ
等の観察部に導き、前記試料を観察する位相差顕微鏡で
あって、前記照明光源および照明光学系は前記対物レン
ズ側に設けられ、照明光を同対物レンズを通して前記試
料に向けて照射するように配置し、反射装置により、前
記試料を透過した光を前記観察部に導くことを特徴とす
る落射式位相差顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00719695A JP3434064B2 (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 落射式位相差顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00719695A JP3434064B2 (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 落射式位相差顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08194160A JPH08194160A (ja) | 1996-07-30 |
| JP3434064B2 true JP3434064B2 (ja) | 2003-08-04 |
Family
ID=11659287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00719695A Expired - Fee Related JP3434064B2 (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 落射式位相差顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3434064B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8568660B2 (en) | 2005-09-16 | 2013-10-29 | Hirata Corporation | Disk, and counting observation apparatus for counting and observing cells through optical microscope by use of the disk |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20150087902A1 (en) * | 2012-03-30 | 2015-03-26 | Trustees Of Boston University | Phase Contrast Microscopy With Oblique Back-Illumination |
| CN112384606B (zh) * | 2018-07-06 | 2024-04-12 | 北海道公立大学法人札幌医科大学 | 观察装置 |
-
1995
- 1995-01-20 JP JP00719695A patent/JP3434064B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8568660B2 (en) | 2005-09-16 | 2013-10-29 | Hirata Corporation | Disk, and counting observation apparatus for counting and observing cells through optical microscope by use of the disk |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08194160A (ja) | 1996-07-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030430 |
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