JPH11144329A - 円盤型光情報記録媒体の検査方法及び検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの情報エリアの開始位置が光ディ
スクの中心からの距離として規定された所定の半径位置
にあるか否かを検査する方法及び装置の測定精度を向上
させる。 【解決手段】 光ディスク２を回転させながら、対物レ
ンズ１２を搭載したピックアップ３を光ディスク２の半
径方向に移動させて情報を再生し、所定の情報が再生さ
れた時の半径位置を検出するとともに、その時のピック
アップ３の中心に対する対物レンズ１２の中心の変位量
を検出し、その変位量に基づいて、検出された半径位置
を補正して真の半径位置を求めるようにした。また、光
ディスク２の偏芯により対物レンズ１２の中心の変位量
が変動する場合、光ディスク２が少なくとも１回転する
間に検出された変位量の平均値を求め、その平均値に基
づいて、検出された半径位置を補正して真の半径位置を
求めるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤ−Ｒ(Conpact
Disk Recordable) 、ＤＶＤ(Digital Video Disk)等の
円盤型光情報記録媒体及びその原盤の検査装置に関わ
り、円盤型光情報記録媒体のリードインエリア、プログ
ラムエリア等の半径位置を測定する機能を有する検査装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】情報システムのセキュリティレベルを規
定するガイドラインであるOrange Book PartII（オレン
ジ・ブック第２部) には、ＣＤ−Ｒなど円盤型光情報記
録媒体（以下、光ディスクと記す。）の構造が規定され
ている。その構造を図５を参照して説明する。光ディス
クは、グルーブと呼ばれる螺旋状のトラックを円周方向
に形成した透明樹脂基板上に、レーザ波長領域の光に対
して僅かに吸収特性をもつ色素を記録層として塗布した
後、金属反射膜、紫外線硬化保護膜を順次積層して製造
される。信号の記録は、グルーブが形成されていない基
板面側から出力数１０ｍＷのレーザ光を入射させ、その
一部を色素に吸収させて熱分解を起こさせ、この部分の
光学特性を未記録の部分と変化させることによって行
う。信号再生時には、数ｍＷのレーザ光で記録部分と未
記録部分との反射率の違いをビット信号として検出す
る。グルーブにはＡＴＩＰ(Absolute Time In Pregroov
e)と呼ばれる時間情報が予め記録される。グルーブの始
端（開始位置）から一定幅のバッファ領域の後にＰＣ
Ａ、ＰＭＡ領域があり、その後にリードイン領域があ
る。これらの領域のＡＴＩＰ時間は９０数分から９９分
５９秒７４フレーム（９９：５９：７４）までで、その
後のプログラムエリアは００：００：００から時間情報
が刻まれている。Orange Book PartIIでは、このリード
インエリアの開始位置とプログラムエリアの開始位置と
が規定されており、これら情報エリアの開始位置が規定
された位置にあることを保証する必要がある。そのた
め、これらのエリアの開始位置を検査する検査装置が提
供されている。

【０００３】以下、従来の光ディスク検査装置について
説明する。図６は光ディスク検査装置の一般的な構造を
示したものである。被検査物である光ディスク２はター
ンテーブル１により回転し、ピックアップ３はスライダ
モータ５で半径方向に移動可能になっており、ターンテ
ーブル１の回転に応じてスライダモータ５の送りがドラ
イブコントローラ８により制御されることにより、光デ
ィスク２に刻まれた螺旋状のトラックに追随してピック
アップ３が移動するようになっている。さらにピックア
ップ３はトラックからの反射光を検出して、その検出信
号を図示しないサーボ回路に送ることにより、ピックア
ップ３内の対物レンズ１２を光ディスクの半径方向に移
動させてトラッキング制御を行う。ピックアップ３の位
置はスケール４で検出される。光ディスク２のトラック
にはアドレス情報（時間情報）が刻まれているのでピッ
クアップ３で検出した信号をＡＴＩＰデコーダ１０等で
デコードすることにより、アドレス情報を取り出すこと
ができる。そして所定のアドレスの半径位置は、所定の
アドレス情報を読み取った時のスケール４のデータをデ
ータラッチ９で保持し、ホスト１１においてデータ処理
することにより測定できる。従来この種の検査装置とし
て、特開平７−２９６４２５号公報に記載された測定装
置がある。この測定装置においても、プログラムエリア
の開始位置の測定は上記と同様にして行う。ただし、測
定対象がＣＤ（コンパクト・ディスク）であり、ＣＤの
場合データがリードインエリアから始まるので、ＣＤを
通常の読み取り時とは逆回転させてトラックのとぎれる
位置を検出することによりリードインエリアの開始位置
を測定している。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の技術では、対物レンズ１２についてはトラッキング制
御を行うことにより光ディスク２上の測定すべき所定の
トラックの位置に正確に移動させることができるが、対
物レンズ１２を保持しているピックアップ３自体の中心
は必ずしも測定すべき所定のトラックの位置にあるとは
限らないため、対物レンズ１２の中心位置とピックアッ
プの中心位置との間の位置ずれ分が測定誤差となって現
れることになる。このため、特開平７−２９６４２５号
公報に記載されたような従来法ではリードインエリアの
半径位置を正確に測定することはできなかった。そこ
で、本発明の解決すべき課題は、請求項１では光ディス
クの半径位置を正確に測定できる方法を提供することに
ある。また、請求項２では、光ディスクが偏芯していて
も光ディスクの半径位置を正確に測定できる方法を提供
することにある。また、請求項３では、光ディスクの半
径位置を正確に測定できる検査装置を提供することにあ
る。また、請求項４、５、６、７では、光ディスクが偏
芯していても光ディスクの半径位置を正確に測定できる
検査装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に記載の発明は、周方向に沿って螺旋状に
刻まれたトラックを有しこのトラックに沿って情報が書
き込まれた円盤型光情報記録媒体の情報エリアの開始位
置が円盤型光情報記録媒体の中心からの距離として規定
された所定の半径位置にあるか否かを検査する検査方法
において、円盤型光情報記録媒体を回転させながら、対
物レンズを搭載したピックアップを該円盤型光情報記録
媒体の半径方向に移動させて情報を再生し、所定の情報
が再生された時の半径位置を検出するとともに、その時
の前記ピックアップの中心に対する前記対物レンズの中
心の変位量を検出し、その変位量に基づいて、検出され
た半径位置を補正して真の半径位置を求めるようにした
ことを特徴としている。また、請求項２に記載の発明
は、請求項１に記載の検査方法において、前記円盤型光
情報記録媒体が偏芯した状態で回転するのに伴って前記
変位量が変動する場合、前記円盤型光情報記録媒体が少
なくとも１回転する間に検出された前記変位量の平均値
を求め、その平均値に基づいて、検出された半径位置を
補正して真の半径位置を求めるようにしたことを特徴と
している。また、請求項３に記載の発明は、周方向に沿
って螺旋状に刻まれたトラックを有しこのトラックに沿
って情報が書き込まれた円盤型光情報記録媒体の情報エ
リアの開始位置が円盤型光情報記録媒体の中心からの距
離として規定された所定の半径位置にあるか否かを検査
するための検査装置において、検査対象である円盤型光
情報記録媒体を回転させる回転手段と、前記円盤型光情
報記録媒体上に書き込まれた信号を再生するためのピッ
クアップと、前記回転手段により回転中の前記円盤型光
情報記録媒体の前記トラックに追従させるように前記ピ
ックアップを前記円盤型光情報記録媒体の半径方向にス
ライドさせるスライド手段と、前記ピックアップに装備
された対物レンズを前記円盤型光情報記録媒体の半径方
向に移動させるトラッキング手段と、前記ピックアップ
の中心に対する前記対物レンズの中心の変位量を検出す
るレンズ位置検出手段と、前記ピックアップで再生され
た信号から情報を読み出すデコード手段と、前記ピック
アップの半径位置を測定する位置検出手段と、所定の情
報が書き込まれた箇所の半径位置を前記位置検出手段に
より測定し、その測定値を前記変位量により補正して真
の半径位置を求める補正手段とを備えたことを特徴とし
ている。また、請求項４に記載の発明は、請求項３に記
載の検査装置の構成に加えて、前記円盤型光情報記録媒
体が少なくとも１回転する間に前記レンズ位置検出手段
により検出された前記変位量の平均値を求める平均値化
手段を備え、前記補正手段は、所定の情報が書き込まれ
た箇所の半径位置を前記位置検出手段により測定し、そ
の測定値を前記平均値化手段より得られた前記変位量の
平均値により補正して真の半径位置を求めることを特徴
としている。また、請求項５に記載の発明は、請求項４
に記載の検査装置において、前記平均値化手段は、前記
レンズ位置検出手段より出力される信号の低周波成分の
みを取り出すフィルタ手段からなることを特徴としてい
る。また、請求項６に記載の発明は、請求項４に記載の
検査装置において、前記平均値化手段は、前記レンズ位
置検出手段より出力される信号を一定時間毎に取り込む
ことにより前記変位量を複数取得し、これら複数の変位
量の平均値を求めることを特徴としている。また、請求
項７に記載の発明は、請求項４に記載の検査装置におい
て、前記平均値化手段は、前記レンズ位置検出手段より
出力される信号を所定のアドレスの範囲内で１アドレス
毎に取り込むことにより前記変位量を複数取得し、これ
ら複数の変位量の平均値を求めることを特徴としてい
る。

【０００６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。まず、本発明に係る光ディスク検査方法及
び検査装置の第１の原理を図１により説明する。ピック
アップ３はトラックに沿って移動するが、ピックアップ
３に搭載された対物レンズ１２はピックアップ本体に対
して光ディスク２の半径方向に±数十ミクロン程度移動
できるので、ピックアップ３の半径位置を測定しても最
大で±数十ミクロンもの測定誤差が発生する。そこで本
発明では、対物レンズ１２のピックアップ３の中心から
の距離、すなわちピックアップ３の中心に対する対物レ
ンズ１２の中心の変位量（この実施の形態では、対物レ
ンズの中心位置と表記する。）アを検出し、その値を測
定されたピックアップ１２の半径位置イから引いて、真
の半径位置ウを求める。光ディスク２の偏芯がごく僅か
な場合はこの方法により、正確な半径位置を求めること
ができる。

【０００７】図２は本発明に係る光ディスク検査装置の
第１の実施の形態を示す装置構成図である。被検査物で
ある光ディスク２はターンテーブル１により回転し、ピ
ックアップ３はスライダモータ５で半径方向に移動可能
になっており、ターンテーブル１の回転に応じてスライ
ダモータ５の送りがドライブコントローラ８で制御され
ることにより、光ディスク２に刻まれた螺旋状のトラッ
クに追従するようにピックアップ３が移動されるように
なっている。さらにピックアップ３はトラックからの反
射光を検出して、その検出信号をサーボ回路７に送るこ
とにより、ピックアップ３内の対物レンズ１２を光ディ
スクの半径方向に移動させてトラッキング制御を行う。
ピックアップ３の半径位置はスケール４で検出される。
光ディスク２のトラックにはアドレス情報（時間情報）
が刻まれているのでピックアップ３で検出した信号をＡ
ＴＩＰデコーダ１０等でデコードすることにより、アド
レス情報を取り出すことができる。そして所定のアドレ
スの半径位置は、所定のアドレス情報を読み取った時の
スケール４のデータをデータラッチ回路９で保持し、ホ
スト１１においてデータ処理することにより測定でき
る。以上は図６に示した従来の装置とほぼ同様である。

【０００８】第１の実施の形態の装置は、サーボ回路７
から取り出された対物レンズ１２のピックアップ３上に
おける位置データａを入力とするデータラッチ回路１５
を備えている。そして、スケール４のデータｂをデータ
ラッチ回路９でラッチすると同時に、サーボ回路７から
取り出された対物レンズ１２の位置データａをデータラ
ッチ回路１５でラッチする。その際、サーボ回路７から
出力された位置データａはＡ／Ｄ（アナログデジタル）
変換器１４でデジタル化されてデータラッチ回路１５に
送られ、スケール４からのデータｂに同期してラッチさ
れる。そして、ホスト１１は、一方のデータラッチ回路
９から出力されるスケール４のデータｂからもう一方の
データラッチ回路１５から出力される対物レンズ１２の
位置データａを引くことにより真の半径位置を求める。
第１の実施の形態によれば、光ディスク２上の半径位置
を測定するためのピックアップ３に搭載された対物レン
ズ１２の中心がピックアップ３の中心になくても、サー
ボ回路７から出力された位置データａによってスケール
４からのデータｂを補正して正確に半径位置を測定でき
る次に、本発明に係る光ディスク検査方法及び検査装置
の第２の原理を図１により説明する。光ディスク２に偏
芯が存在すると、光ディスク２が１回転する度にトラッ
キング制御によって対物レンズ１２が光ディスク２の半
径方向に振動する。このため上記第１の原理では光ディ
スク２が偏芯していると対物レンズ１２の中心位置アの
測定誤差が発生してしまう。このような測定誤差は、光
ディスク２が１回転する間に検出される対物レンズ１２
の中心位置の平均値を対物レンズ１２の中心位置アとす
ることにより解決できる。そして、光ディスク１回転当
たりの平均値として求めた対物レンズ１２の中心位置ア
の値を、測定されたピックアップ３の半径位置イから引
くことにより、ピックアップ３の真の半径位置ウを求め
る。

【０００９】図３は本発明に係る光ディスク検査装置の
第２の実施の形態を示す装置構成図である。被検査物で
ある光ディスク２はターンテーブル１により回転し、ピ
ックアップ３はスライダモータ５で半径方向に移動可能
になっており、ターンテーブル１の回転に応じてスライ
ダモータ５の送りがドライブコントローラ８で制御され
ることにより、光ディスク２に刻まれた螺旋状のトラッ
クに追従するようにピックアップ３が移動されるように
なっている。さらにピックアップ３はトラックからの反
射光を検出して、その検出信号をサーボ回路７に送るこ
とにより、ピックアップ３内の対物レンズ１２を光ディ
スクの半径方向に移動させてトラッキング制御を行う。
ピックアップ３の半径位置はスケール４で検出される。
光ディスク２のトラックにはアドレス情報（時間情報）
が刻まれているのでピックアップ３で検出した信号をＡ
ＴＩＰデコーダ１０等でデコードすることにより、アド
レス情報を取り出すことができる。そして所定のアドレ
スの半径位置は、所定のアドレス情報を読み取った時の
スケール４のデータをデータラッチ回路９で保持し、ホ
スト１１においてデータ処理することにより測定でき
る。以上は図２に示した第１の実施の形態の装置と同様
である。

【００１０】第２の実施の形態の装置では、サーボ回路
７から取り出された対物レンズ１２のピックアップ３上
における位置データａを入力とするデータラッチ回路１
５を備えている。そして、スケール４のデータｂをデー
タラッチ回路９でラッチすると同時に、サーボ回路７か
ら取り出された対物レンズ１２の位置データａをデータ
ラッチ回路１５でラッチする。その際、サーボ回路７か
ら出力された対物レンズ１２の位置データａは、ローパ
スフィルタ１３を通過することによって光ディスク２の
偏芯回転に伴う対物レンズ１２の振動による信号成分が
除去された後、Ａ／Ｄ（アナログデジタル）変換器１４
でデジタル化されてデータラッチ回路１５に送られ、ス
ケール４からのデータｂに同期してラッチされる。この
場合、ローパスフィルタ１３によって、対物レンズ１２
の位置データａに含まれる対物レンズ１２の振動による
信号成分を除去することは、光ディスク２が１回転する
間に出力される対物レンズ１２の位置データａを平均値
化することに相当する。そして、ホスト１１は、一方の
データラッチ回路９から出力されるスケール４のデータ
ｂからもう一方のデータラッチ回路１５から出力される
対物レンズ１２の平均値化された位置データａを引くこ
とにより真の半径位置を求める。第２の実施の形態の装
置によれば、光ディスク２の偏芯のために対物レンズ１
２の位置が変動しても、光ディスク２が１回転する間に
検出された対物レンズ１２の中心位置の平均値を求め、
その平均値に基づいて、検出された半径位置を補正して
真の半径位置を求めるようにしたので、第１の実施の形
態よりも更に正確に半径位置を測定することができる。

【００１１】次に、本発明に係る光ディスク検査装置の
第３の実施の形態を図４により説明する。ピックアップ
３で検出した信号からアドレス情報（時間情報）を取り
出し、これに基づいて所定のアドレス（所定の時間）の
半径位置を検出する方法は、第１及び第２の実施の形態
と同様である。第３の実施の形態の装置では、所定の時
間になる半トラック相当の時間前から半トラック相当の
時間後まで一定間隔でホスト１１がデータ取り込み指令
信号ｃを出力し、Ａ／Ｄ変換器１４でデジタル化された
対物レンズ１２の位置データａをデータ取り込み指令信
号ｃに同期してデータラッチ回路１５でラッチすること
により、対物レンズ１２の複数の位置における位置デー
タを取得する。そして、ホスト１１は、取得した複数の
位置データの平均値を求め、データラッチ回路９から出
力されるスケール４のデータｂから平均値として求めた
位置データａを引くことにより真の半径位置を求める。
第３の実施の形態の装置によれば、光ディスク２の偏芯
のために対物レンズ１２の位置が変動しても、対物レン
ズ１２の位置データａを一定時間毎に取り込むことによ
り対物レンズ２の位置データａを複数取得し、これら複
数の位置データａの平均値を求めるように構成したの
で、対物レンズ１２の位置データａの変動分をキャンセ
ルして正確に半径位置を測定することができる。

【００１２】次に、本発明に係る光ディスク検査装置の
第４の実施の形態を図４により説明する。ピックアップ
３で検出した信号からアドレス情報（時間情報）を取り
出し、これに基づいて所定のアドレス（所定の時間）の
半径位置を検出する方法は、第１及び第２の実施の形態
と同様である。第４の実施の形態の装置では、所定の時
間になる半トラック相当のＡＴＩＰ時間前から半トラッ
ク相当のＡＴＩＰ時間後まで１フレーム毎にホスト１１
がデータ取り込み指令信号ｃを出力し、Ａ／Ｄ変換器１
４でデジタル化された対物レンズ１２の位置データａを
データ取り込み指令信号ｃに同期してデータラッチ回路
１５でラッチすることにより、対物レンズ１２の複数の
位置における位置データを取得する。線速１．２ｍ／ｓ
のＣＤ−Ｒであれば、所定ＡＴＩＰ時間の±４フレーム
分のアドレス範囲だけ対物レンズ１２の位置データを取
得する。そして、ホスト１１は、取得した複数の位置デ
ータの平均値を求め、データラッチ回路９から出力され
るスケール４のデータｂから平均値として求めた位置デ
ータａを引くことにより真の半径位置を求める。第４の
実施の形態の装置によれば、光ディスク２の偏芯のため
に対物レンズ１２の位置が変動しても、対物レンズ１２
の位置データａを所定のアドレスの範囲内で１フレーム
毎に取り込むことにより対物レンズ３の位置データａを
複数取得し、これら複数の位置データａの平均値を求め
るように構成したので、対物レンズ３の位置データａの
変動分をキャンセルして正確に半径位置を測定すること
ができる。

【００１３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば以
下のような優れた効果を発揮できる。請求項１に記載の
検査方法においては、光ディスク上の半径位置を測定す
るためのピックアップに搭載された対物レンズの中心が
ピックアップの中心になくても、ピックアップの中心に
対する対物レンズの中心の変位量を検出し、その変位量
に基づいて、検出された半径位置を補正して真の半径位
置を求めるようにしたので、正確に半径位置を測定する
ことができる。また、請求項２に記載の検査方法におい
ては、光ディスクの偏芯のために対物レンズの位置が変
動しても、光ディスクが少なくとも１回転する間に検出
された対物レンズの変位量の平均値を求め、その平均値
に基づいて、検出された半径位置を補正して真の半径位
置を求めるようにしたので、請求項１よりも更に正確に
半径位置を測定することができる。請求項３に記載の検
査装置においては、光ディスク上の半径位置を測定する
ためのピックアップに搭載された対物レンズの中心がピ
ックアップの中心になくても、ピックアップの中心に対
する対物レンズの中心の変位量をレンズ位置検出手段に
より検出し、その変位量に基づいて、検出された半径位
置を補正して真の半径位置を求めるように構成したの
で、半径位置を正確に測定することができる。請求項４
に記載の検査装置においては、請求項３の装置構成に加
えて、光ディスクが少なくとも１回転する間にレンズ位
置検出手段により検出された前記変位量の平均値を求め
る平均値化手段を備え、所定の情報が書き込まれた箇所
の半径位置を位置検出手段により測定し、その測定値を
平均値化手段より得られた変位量の平均値により補正し
て真の半径位置を求めるように構成したので、光ディス
クの偏芯のために対物レンズの位置が変動しても、その
変動分をキャンセルして正確に半径位置を測定すること
ができる。

【００１４】請求項５に記載の検査装置においては、光
ディスクの偏芯のために対物レンズの位置が変動して
も、レンズ位置検出手段より出力される信号の低周波成
分のみをフィルタ手段で取り出すことにより、変動によ
る信号成分が除去されるので、対物レンズの変位量の変
動分をキャンセルして正確に半径位置を測定することが
できる。請求項６に記載の検査装置においては、光ディ
スクの偏芯のために対物レンズの位置が変動しても、レ
ンズ位置検出手段より出力される信号を一定時間毎に取
り込むことにより対物レンズの変位量を複数取得し、こ
れら複数の変位量の平均値を求めるように構成したの
で、対物レンズの変位量の変動分をキャンセルして正確
に半径位置を測定することができる。請求項７に記載の
検査装置においては、光ディスクの偏芯のために対物レ
ンズの位置が変動しても、レンズ位置検出手段より出力
される信号を所定のアドレスの範囲内で１アドレス毎に
取り込むことにより対物レンズの変位量を複数取得し、
これら複数の変位量の平均値を求めるように構成したの
で、対物レンズの変位量の変動分をキャンセルして正確
に半径位置を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスク検査方法及び検査装置
の原理説明図である。

【図２】本発明に係る光ディスク検査装置の第１の実施
の形態を示す装置構成図である。

【図３】本発明に係る光ディスク検査装置の第２の実施
の形態を示す装置構成図である。

【図４】本発明に係る光ディスク検査装置の第３及び第
４の実施の形態を示す装置構成図である。

【図５】光ディスクの構造を示した部分断面図である。

【図６】従来の一般的な光ディスク検査装置の装置構成
図である。

【符号の説明】

１ ターンテーブル、２ 光ディスク、３ ピックアッ
プ、４ スケール、５スライダモータ、７ サーボ回
路、８ ドライブコントローラ、１０ ＡＴＩＰデコー
ダ、９ データラッチ回路、１１ ホスト、１２ 対物
レンズ、１３ローパスフィルタ、１５ データラッチ回
路。

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 周方向に沿って螺旋状に刻まれたトラッ
   クを有しこのトラックに沿って情報が書き込まれた円盤
   型光情報記録媒体の情報エリアの開始位置が円盤型光情
   報記録媒体の中心からの距離として規定された所定の半
   径位置にあるか否かを検査する方法であって、 円盤型光情報記録媒体を回転させながら、対物レンズを
   搭載したピックアップを該円盤型光情報記録媒体の半径
   方向に移動させて情報を再生し、所定の情報が再生され
   た時の半径位置を検出するとともに、その時の前記ピッ
   クアップの中心に対する前記対物レンズの中心の変位量
   を検出し、その変位量に基づいて、検出された半径位置
   を補正して真の半径位置を求めるようにしたことを特徴
   とする円盤型光情報記録媒体の検査方法。
2. 【請求項２】 前記円盤型光情報記録媒体が偏芯した状
   態で回転するのに伴って前記変位量が変動する場合、前
   記円盤型光情報記録媒体が少なくとも１回転する間に検
   出された前記変位量の平均値を求め、その平均値に基づ
   いて、検出された半径位置を補正して真の半径位置を求
   めるようにしたことを特徴とする請求項１に記載の円盤
   型光情報記録媒体の検査方法。
3. 【請求項３】 周方向に沿って螺旋状に刻まれたトラッ
   クを有しこのトラックに沿って情報が書き込まれた円盤
   型光情報記録媒体の情報エリアの開始位置が円盤型光情
   報記録媒体の中心からの距離として規定された所定の半
   径位置にあるか否かを検査するための装置であって、 検査対象である円盤型光情報記録媒体を回転させる回転
   手段と、 前記円盤型光情報記録媒体上に書き込まれた信号を再生
   するためのピックアップと、 前記回転手段により回転中の前記円盤型光情報記録媒体
   の前記トラックに追従させるように前記ピックアップを
   前記円盤型光情報記録媒体の半径方向にスライドさせる
   スライド手段と、 前記ピックアップに装備された対物レンズを前記円盤型
   光情報記録媒体の半径方向に移動させるトラッキング手
   段と、 前記ピックアップの中心に対する前記対物レンズの中心
   の変位量を検出するレンズ位置検出手段と、 前記ピックアップで再生された信号から情報を読み出す
   デコード手段と、 前記ピックアップの半径位置を測定する位置検出手段
   と、 所定の情報が書き込まれた箇所の半径位置を前記位置検
   出手段により測定し、その測定値を前記変位量により補
   正して真の半径位置を求める補正手段とを備えたことを
   特徴とする円盤型光情報記録媒体の検査装置。
4. 【請求項４】 前記円盤型光情報記録媒体が少なくとも
   １回転する間に前記レンズ位置検出手段により検出され
   た前記変位量の平均値を求める平均値化手段を備え、 前記補正手段は、所定の情報が書き込まれた箇所の半径
   位置を前記位置検出手段により測定し、その測定値を前
   記平均値化手段より得られた前記変位量の平均値により
   補正して真の半径位置を求めることを特徴とする請求項
   ３に記載の円盤型光情報記録媒体の検査装置。
5. 【請求項５】 前記平均値化手段は、前記レンズ位置検
   出手段より出力される信号の低周波成分のみを取り出す
   フィルタ手段からなることを特徴とする請求項４に記載
   の円盤型光情報記録媒体の検査装置。
6. 【請求項６】 前記平均値化手段は、前記レンズ位置検
   出手段より出力される信号を一定時間毎に取り込むこと
   により前記変位量を複数取得し、これら複数の変位量の
   平均値を求めることを特徴とする請求項４に記載の円盤
   型光情報記録媒体の検査装置。
7. 【請求項７】 前記平均値化手段は、前記レンズ位置検
   出手段より出力される信号を所定のアドレスの範囲内で
   １アドレス毎に取り込むことにより前記変位量を複数取
   得し、これら複数の変位量の平均値を求めることを特徴
   とする請求項４に記載の円盤型光情報記録媒体の検査装
   置。