JPH11135665A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JPH11135665A
JPH11135665A JP9296555A JP29655597A JPH11135665A JP H11135665 A JPH11135665 A JP H11135665A JP 9296555 A JP9296555 A JP 9296555A JP 29655597 A JP29655597 A JP 29655597A JP H11135665 A JPH11135665 A JP H11135665A
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JP
Japan
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chip
lead
semiconductor device
chip support
support
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JP9296555A
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Japanese (ja)
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Toru Saga
徹 嵯峨
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Hitachi Ltd
Akita Electronics Systems Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Akita Electronics Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH11135665A publication Critical patent/JPH11135665A/en
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    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance moisture resistance of a semiconductor device. SOLUTION: This semiconductor device comprises a sealing body 2 of insulating resin, a plurality of leads 3 extending inward and outward of the encapsulating body 2, a chip support 7 located in the encapsulating body 2 continuously to a part of the leads 3, a semiconductor chip 13 bonded onto the chip support 7 in the encapsulating body 2, and a wire 14 for connecting the electrode of the semiconductor chip 13 electrically with the lead 3 in the encapsulating body 2 wherein the rear side of the chip support 7, i.e., the side opposite to the semiconductor chip bonding side, is exposed from one side of the encapsulating body 2. The surface of the chip support 7 to be bonded with the semiconductor chip is applied with an auxiliary body 12 (adhesive tape) composed of a frame-like insulator, stretching outward substantially over the entire circumference of the chip support 7 in the encapsulating body 2. The auxiliary body 12 also 10e extended on the lead 13. The surface of the chip support 7 to be bonded with the semiconductor chip is flush with the wire connecting face of the lead 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に関し、
特に半導体装置の耐湿性向上技術に係わり、たとえば、
半導体チップを固定するチップ支持体の一面が封止体の
一面から露出する構造の半導体装置に適用して有効な技
術に関する。
The present invention relates to a semiconductor device,
Especially related to the technology for improving the moisture resistance of semiconductor devices, for example,
The present invention relates to a technology effective when applied to a semiconductor device having a structure in which one surface of a chip support for fixing a semiconductor chip is exposed from one surface of a sealing body.

【0002】[0002]

【従来の技術】樹脂封止型の半導体装置(半導体集積回
路装置)は、半導体チップ等を樹脂からなる封止体(パ
ッケージ)で封止するとともに、前記パッケージの周面
から複数のリード(外部端子)を突出させる構造になっ
ている。
2. Description of the Related Art In a resin-sealed semiconductor device (semiconductor integrated circuit device), a semiconductor chip or the like is sealed with a sealing body (package) made of resin, and a plurality of leads (external parts) are formed from the peripheral surface of the package. Terminal).

【0003】前記半導体チップは、タブ,ダイパッド等
と呼称されるチップ支持体上に固定されているが、半導
体チップの発熱量が大きい場合は、前記チップ支持体の
半導体チップ固定面の裏面が封止体の一面(底面)に露
出するようになっている。
[0003] The semiconductor chip is fixed on a chip support called a tab, a die pad or the like. However, when the heat generation of the semiconductor chip is large, the back surface of the semiconductor chip fixing surface of the chip support is sealed. It is designed to be exposed on one surface (bottom surface) of the stationary body.

【0004】たとえば、特開平7-4953号公報(平成7年
1月19日出願)には、放熱効果を高めるため封止体の底
面または上面に半導体ペレットを固定したタブの裏面が
露出した構造が開示されている。
For example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-4953 (filed on Jan. 19, 1995) discloses a structure in which the back surface of a tab in which a semiconductor pellet is fixed to the bottom or top surface of a sealing body is exposed in order to enhance the heat radiation effect. Is disclosed.

【0005】一方、株式会社日立製作所、電子事業本
部、半導体事業部発行「日立面実装形パッケージ実装マ
ニュアル」、昭和62年3月発行、P30には、丸形の封止
体の周囲から十文字状にリードを突出させたパッケージ
構造の半導体装置が開示されている。このパッケージ構
造は、VHF〜UHF帯の高周波トランジスタに適用さ
れている。
On the other hand, "Hitachi Surface Mount Type Package Mounting Manual" issued by Hitachi, Ltd., Electronic Business Headquarters, Semiconductor Business Division, published in March 1987, has a cross-shaped A semiconductor device having a package structure in which leads are protruded from the semiconductor device is disclosed. This package structure is applied to a high-frequency transistor in a VHF to UHF band.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】封止体の底にチップ支
持体(ヒートスプレッダ)を露出する従来構造の樹脂封
止型半導体装置においては、封止体の底に露出するチッ
プ支持体と、封止体を形成する樹脂との界面から水分が
浸入し易い。封止体内に浸入した水分は、ヒートスプレ
ッダ表面を経由して半導体チップ表面に到達し、電極腐
食等を発生させることになる。
In a resin-encapsulated semiconductor device having a conventional structure in which a chip support (heat spreader) is exposed at the bottom of a sealing body, a chip support exposed at the bottom of the sealing body and a sealing member are provided. Moisture easily penetrates from the interface with the resin forming the stopper. The moisture that has entered the sealing body reaches the semiconductor chip surface via the heat spreader surface, causing electrode corrosion and the like.

【0007】そこで、本発明者は、水分の遮断と水分の
通過経路(パス)の長大化を図り、これによって半導体
装置の耐湿性向上を図ることを考え本発明をなした。
The inventor of the present invention has made the present invention in consideration of improving the moisture resistance of a semiconductor device by cutting off moisture and lengthening the passage of moisture (path).

【0008】本発明の目的は半導体装置の耐湿性向上を
図ることにある。
An object of the present invention is to improve the moisture resistance of a semiconductor device.

【0009】本発明の前記ならびにそのほかの目的と新
規な特徴は、本明細書の記述および添付図面からあきら
かになるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The following is a brief description of an outline of typical inventions disclosed in the present application.

【0011】(1)絶縁性樹脂からなる封止体と、前記
封止体の内外に亘って延在する複数のリードと、前記封
止体内に位置しかつ前記一部のリードに連なるチップ支
持体と、前記封止体内に位置し前記チップ支持体上に固
定される半導体チップと、前記封止体内に位置し前記半
導体チップの電極と前記リードを電気的に接続する接続
手段(たとえば、ワイヤ)とを有し、前記チップ支持体
の半導体チップ固定面とは反対となる裏面が前記封止体
の一面から露出する半導体装置であって、前記チップ支
持体の半導体チップ固定面には前記封止体内に位置しか
つ前記チップ支持体の略全周に亘って外側に張り出す枠
状の絶縁体からなる補助体が固定されている。前記補助
体は前記リード上にも延在している。前記チップ支持体
の半導体チップ固定面と前記リードのワイヤ接続面は同
一面である。前記チップ支持体と前記リードは同じ厚さ
であり、前記リードの裏面も前記封止体の一面から露出
している。前記リードは前記チップ支持体のチップ固定
面に沿って真っ直ぐに延在している。前記補助体は絶縁
性の接着テープで形成され、接着面が前記チップ固定面
および前記リードに接着されている。
(1) A sealing body made of an insulating resin, a plurality of leads extending inside and outside the sealing body, and a chip support located in the sealing body and connected to the some of the leads. Body, a semiconductor chip located in the sealing body and fixed on the chip support, and connection means (eg, wire) for electrically connecting an electrode of the semiconductor chip and the lead located in the sealing body. ), Wherein a back surface opposite to the semiconductor chip fixing surface of the chip support is exposed from one surface of the sealing body, wherein the semiconductor chip fixing surface of the chip support has the sealing An auxiliary body made of a frame-shaped insulator that is located in the stationary body and extends outward over substantially the entire circumference of the chip support is fixed. The auxiliary body also extends on the lead. The semiconductor chip fixing surface of the chip support and the wire connection surface of the lead are the same surface. The chip support and the lead have the same thickness, and the back surface of the lead is also exposed from one surface of the sealing body. The leads extend straight along the chip fixing surface of the chip support. The auxiliary body is formed of an insulating adhesive tape, and an adhesive surface is bonded to the chip fixing surface and the lead.

【0012】(2)前記手段(1)の構成において、前
記接続手段(たとえば、ワイヤ)が接続されるリードの
接続領域に対応する前記補助体部分には穴が設けられて
いる。
(2) In the configuration of the means (1), a hole is provided in the auxiliary body portion corresponding to a connection area of a lead to which the connection means (for example, a wire) is connected.

【0013】(3)前記手段(1)および前記手段
(2)の構成において、前記チップ支持体は前記リード
の厚さよりも厚くなっている。
(3) In the configuration of the means (1) and the means (2), the chip support is thicker than the thickness of the lead.

【0014】(4)前記チップ支持体は前記リードと同
じ厚さの支持板と、この支持板の裏面に固定されかつ前
記封止体の一面から裏面が露出する熱伝導性の良好な材
料で構成される放熱板とで構成されている。
(4) The chip support is made of a support plate having the same thickness as the leads, and a material having good heat conductivity, which is fixed to the back surface of the support plate and whose back surface is exposed from one surface of the sealing body. And a radiator plate.

【0015】前記(1)の手段によれば、(a)前記チ
ップ支持体の半導体チップ固定面にはチップ支持体の外
側に張り出す枠状の補助体が固定されていることから、
チップ支持体と封止体との界面から封止体内に浸入する
水分の半導体チップ表面までの浸入経路(通過経路)は
長大化し、耐湿性が向上する。
According to the above-mentioned means (1), (a) a frame-shaped auxiliary body extending outside the chip support is fixed to the semiconductor chip fixing surface of the chip support.
The infiltration path (passage path) from the interface between the chip support and the sealing body to the surface of the semiconductor chip for the moisture that enters the sealing body is lengthened, and the moisture resistance is improved.

【0016】(b)前記補助体が前記リード上にも延在
する構造では、チップ支持体とリードとの間の隙間も塞
がれることになり、水分の遮断を図ることができるとと
もに、半導体チップ表面までの浸入経路をさらに長くで
き、耐湿性が向上する。
(B) In the structure in which the auxiliary body also extends on the lead, the gap between the chip support and the lead is closed, so that moisture can be cut off and the semiconductor can be prevented. The infiltration path to the chip surface can be further lengthened, and the moisture resistance is improved.

【0017】(c)前記チップ支持体の半導体チップ固
定面と前記リードのワイヤ接続面は同一面であり、前記
補助体は前記半導体チップ固定面側およびワイヤ接続面
側に接続される構造であることから、リードと半導体チ
ップの間に補助体を介在させる構造に比較して半導体装
置の薄型化が達成できる。
(C) The semiconductor chip fixing surface of the chip support is the same as the wire connection surface of the lead, and the auxiliary member is connected to the semiconductor chip fixing surface side and the wire connection surface side. Thus, the semiconductor device can be made thinner than a structure in which an auxiliary body is interposed between the lead and the semiconductor chip.

【0018】(d)前記チップ支持体と前記リードは同
じ厚さであり、前記リードの裏面も前記封止体の一面か
ら露出している構造であることから、チップ支持体およ
びリードの底面からの放熱効果も得られる。
(D) Since the chip support and the lead have the same thickness, and the back surface of the lead is also exposed from one surface of the encapsulant, the chip support and the bottom of the lead are The heat radiation effect can also be obtained.

【0019】(e)前記リードは前記チップ支持体のチ
ップ固定面に沿って真っ直ぐに延在する構造になってい
ることから、半導体装置を実装基板にそのまま実装すれ
ば、チップ支持体およびリードも直接実装基板に接触す
る構造になり、高い放熱効果が得られる。
(E) Since the leads have a structure extending straight along the chip fixing surface of the chip support, if the semiconductor device is mounted as it is on a mounting substrate, the chip support and the leads are also reduced. The structure comes into direct contact with the mounting substrate, and a high heat radiation effect can be obtained.

【0020】(f)前記補助体は絶縁性の接着テープで
形成されていることから、前記チップ固定面および前記
リードへの接着が容易である。
(F) Since the auxiliary body is formed of an insulating adhesive tape, it is easy to adhere to the chip fixing surface and the lead.

【0021】前記(2)の手段によれば、前記手段
(1)の構成による効果に加えて、接続手段(たとえ
ば、ワイヤ)が接続されるリードの接続領域に対応する
前記補助体部分には穴が設けられている構造になってい
ることから、前記補助体を前記封止体内において広く張
ることができ、前記チップ支持体と封止体との界面から
半導体チップ表面までの浸入経路をさらに長くでき、耐
湿性を向上することができる。
According to the means (2), in addition to the effect of the structure of the means (1), the auxiliary body portion corresponding to the connection area of the lead to which the connection means (for example, a wire) is connected is provided. Because of the structure in which the holes are provided, the auxiliary body can be stretched widely in the sealing body, and the penetration path from the interface between the chip support body and the sealing body to the semiconductor chip surface can be further increased. It can be made longer and the moisture resistance can be improved.

【0022】前記(3)の手段によれば、前記手段
(1)および前記手段(2)の構成による効果に加え
て、(a)前記チップ支持体は前記リードの厚さよりも
厚くなり封止体の底から露出するため良好な放熱効果を
得ることができる。
According to the means (3), in addition to the effects of the structure of the means (1) and the means (2), (a) the chip support is thicker than the lead and is sealed. Since it is exposed from the bottom of the body, a good heat radiation effect can be obtained.

【0023】(b)前記封止体の底面側のリード面(底
面)が封止体で覆われていることから、封止体によるリ
ード保持強度が向上する。
(B) Since the lead surface (bottom surface) on the bottom surface side of the sealing body is covered with the sealing body, the strength of holding the lead by the sealing body is improved.

【0024】前記(4)の手段によれば、(a)前記チ
ップ支持体は前記リードと同じ厚さの支持板と、この支
持板の裏面に固定されかつ前記封止体の一面から裏面が
露出する熱伝導性の良好な材料で構成される放熱板とで
構成されていることから、良好な放熱効果を得ることが
できる。
According to the means (4), (a) the chip support is a support plate having the same thickness as the lead, and is fixed to the back surface of the support plate, and the back surface is formed from one surface of the sealing body. A good heat dissipation effect can be obtained because the heat dissipation plate is made of a material having good thermal conductivity exposed.

【0025】(b)前記封止体の底面側のリード面(底
面)が封止体で覆われていることから、封止体によるリ
ード保持強度が向上する。
(B) Since the lead surface (bottom surface) on the bottom surface side of the sealing body is covered with the sealing body, the strength of holding the lead by the sealing body is improved.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、発明の実施の形態を
説明するための全図において、同一機能を有するものは
同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In all the drawings for describing the embodiments of the present invention, components having the same functions are denoted by the same reference numerals, and their repeated description will be omitted.

【0027】(実施形態1)本実施形態1では、封止体
の周面から十文字状にリードを突出させる表面実装型の
半導体装置に適用した例について説明する。この半導体
装置は、たとえば、携帯電話に組み込まれるGaAs−
MESFETを構成している。
(Embodiment 1) In Embodiment 1, an example will be described in which the present invention is applied to a surface mount type semiconductor device in which leads protrude in a cross shape from the peripheral surface of a sealing body. This semiconductor device is, for example, a GaAs-
This constitutes a MESFET.

【0028】図1は本発明の実施形態1である一部を切
り欠いた状態の半導体装置の平面図、図2はその断面図
である。
FIG. 1 is a plan view of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention with a part thereof being cut away, and FIG. 2 is a sectional view thereof.

【0029】図1および図2に示すように、半導体装置
1は、偏平矩形体からなる封止体(パッケージ)2の各
辺の略中央部分からリード3を突出させた外観形状にな
っている。封止体2は、特に限定はされないが、たとえ
ば、高さ0.9mm、幅3.7mm,長さ4.2mmで
あり、リード3の厚さは0.4mm、幅0.5mm、突
出長さ1.0mmである。
As shown in FIGS. 1 and 2, the semiconductor device 1 has an external appearance in which a lead 3 is projected from a substantially central portion of each side of a sealing body (package) 2 formed of a flat rectangular body. . Although the sealing body 2 is not particularly limited, for example, the height is 0.9 mm, the width is 3.7 mm, the length is 4.2 mm, and the thickness of the lead 3 is 0.4 mm, the width is 0.5 mm, and the protrusion length is 1.0 mm.

【0030】各リード3は、図1における上下がソース
(S)リード4であり、左側がゲート(G)リード5で
あり、右側がドレイン(D)リード6である。
Each of the leads 3 is a source (S) lead 4 at the top and bottom in FIG. 1, a gate (G) lead 5 is on the left side, and a drain (D) lead 6 is on the right side.

【0031】パッケージ2の中央には長方形のチップ支
持体7が位置している。このチップ支持体7は前記リー
ド3と同一の板材から形成され、厚さは0.4mmにな
っている。そして、チップ支持体7の両端には前記ソー
スリード4が一体に連なっている。
A rectangular chip support 7 is located at the center of the package 2. The chip support 7 is made of the same plate material as the leads 3 and has a thickness of 0.4 mm. The source leads 4 are integrally connected to both ends of the chip support 7.

【0032】また、前記リード3の上面およびチップ支
持体7の上面は同一平面上に位置している。また、チッ
プ支持体7およびリード3の裏面(下面)はパッケージ
2から露出するようになっている。
The upper surface of the lead 3 and the upper surface of the chip support 7 are located on the same plane. The back surfaces (lower surfaces) of the chip support 7 and the leads 3 are exposed from the package 2.

【0033】したがって、本実施形態1では、チップ支
持体7は熱を放散するヒートスプレッダとして作用し、
またリード3もヒートスプレッダとして作用する。
Therefore, in the first embodiment, the chip support 7 functions as a heat spreader for dissipating heat,
The lead 3 also functions as a heat spreader.

【0034】ゲートリード5およびドレインリード6の
封止体2内に位置する先端部分は、平行に複数のワイヤ
を接続するために幅広部10,11に形成されている。
The tip portions of the gate lead 5 and the drain lead 6 located in the sealing body 2 are formed in wide portions 10 and 11 for connecting a plurality of wires in parallel.

【0035】また、矩形枠状の絶縁体からなる補助体1
2(図1で点々を施した部分)が、前記チップ支持体7
から各リード3に亘って張り付けられている。補助体1
2は絶縁性の接着テープで形成され、接着面がチップ支
持体7やリード3の上面に張り付けられている。
The auxiliary body 1 made of a rectangular frame-shaped insulator
2 (dotted portions in FIG. 1) is the chip support 7
And over each lead 3. Auxiliary body 1
Numeral 2 is formed of an insulating adhesive tape, and the adhesive surface is attached to the upper surfaces of the chip support 7 and the leads 3.

【0036】前記補助体12の内側部分は、チップ支持
体7の4辺の縁にそれぞれ所定幅重なるように張り付け
られ、補助体12の外側部分は前記幅広部10,11の
縁に所定幅重なるように張り付けられている。したがっ
て、ゲートリード5およびドレインリード6とチップ支
持体7との間の隙間は補助体12によって塞がれること
になる。パッケージ2の底に露出するチップ支持体7と
パッケージ2を形成する樹脂との界面から浸入する水分
を遮断する役割を果たすとともに、後述する半導体チッ
プの表面に至る水分の通過経路(パス)の長大化を図る
ことになる。
The inner portion of the auxiliary body 12 is adhered to the edges of the four sides of the chip support 7 so as to overlap each other by a predetermined width, and the outer portion of the auxiliary body 12 overlaps the edges of the wide portions 10 and 11 by a predetermined width. It is stuck as follows. Therefore, the gap between the gate lead 5 and the drain lead 6 and the chip support 7 is closed by the auxiliary body 12. In addition to serving to block moisture entering from the interface between the chip support 7 exposed at the bottom of the package 2 and the resin forming the package 2, the length of the passage of moisture to the surface of the semiconductor chip, which will be described later, is large. Will be planned.

【0037】前記補助体12の内側のチップ支持体7上
には半導体チップ13が固定されている。
A semiconductor chip 13 is fixed on the chip support 7 inside the auxiliary body 12.

【0038】また、半導体チップ13の図示しない電極
と、ゲートリード5およびドレインリード6の幅広部1
0,11は、接続手段としての導電性のワイヤ14を介
して電気的に接続されている。ワイヤ14は幅広部1
0,11の補助体12で覆われない領域に接続されてい
る。
The electrodes (not shown) of the semiconductor chip 13 and the wide portions 1 of the gate lead 5 and the drain lead 6 are formed.
0 and 11 are electrically connected via a conductive wire 14 as a connection means. The wire 14 is the wide part 1
0, 11 are connected to the area not covered by the auxiliary body 12.

【0039】前記半導体チップ13,補助体12,チッ
プ支持体7,ワイヤ14,ゲートリード5およびドレイ
ンリード6の先端側等は絶縁性樹脂からなるパッケージ
2で封止されている。チップ支持体7の裏面およびリー
ド3の裏面はパッケージ2の底面から露出し、リード3
の裏面がチップ支持体7の裏面と同一面となることか
ら、表面実装型となる。
The semiconductor chip 13, auxiliary body 12, chip support 7, wire 14, gate lead 5 and drain lead 6 are sealed with a package 2 made of insulating resin. The back surface of the chip support 7 and the back surface of the lead 3 are exposed from the bottom
Is the same surface as the back surface of the chip support 7, so that it is a surface mount type.

【0040】つぎに、本実施形態1の半導体装置1の製
造方法について説明する。
Next, a method of manufacturing the semiconductor device 1 according to the first embodiment will be described.

【0041】半導体装置1の製造においては、図3に示
すようなリードフレーム20が用意される。
In manufacturing the semiconductor device 1, a lead frame 20 as shown in FIG. 3 is prepared.

【0042】リードフレーム20は、0.4mmの厚さ
の銅板または銅合金板をエッチングまたは精密プレスに
よってパターニングすることによって形成される。本実
施形態1で使用するリードフレーム20は、単位リード
パターンを1列に複数配置した短冊体となっている。図
3では単位リードフレーム部分を示す。
The lead frame 20 is formed by patterning a copper plate or copper alloy plate having a thickness of 0.4 mm by etching or precision press. The lead frame 20 used in the first embodiment is a strip having a plurality of unit lead patterns arranged in one row. FIG. 3 shows a unit lead frame portion.

【0043】リードフレーム20は、平行に延在する一
対の外枠21と、これら外枠21を連結する内枠22と
を有し、枠構造になっている。
The lead frame 20 has a pair of outer frames 21 extending in parallel, and an inner frame 22 connecting the outer frames 21, and has a frame structure.

【0044】前記枠の中央には長方形の前記チップ支持
体7が位置している。このチップ支持体7は前記外枠2
1の中央部分から突出延在するリード3(ソースリード
4)に支持された構造になっている。前記ソースリード
4の幅は0.5mmになっている。
The rectangular chip support 7 is located at the center of the frame. This chip support 7 is attached to the outer frame 2.
1 has a structure supported by leads 3 (source leads 4) projecting from the central portion. The width of the source lead 4 is 0.5 mm.

【0045】また、前記内枠22の中央部分から前記チ
ップ支持体7に向かってリード3(ゲートリード5,ド
レインリード6)が延在している。前記ゲートリード5
およびドレインリード6の先端は前記チップ支持体7の
対面する辺に沿うように幅が広い幅広部10,11にな
っている。
The leads 3 (gate lead 5 and drain lead 6) extend from the center of the inner frame 22 toward the chip support 7. The gate lead 5
In addition, the distal ends of the drain leads 6 are wide portions 10 and 11 which are wide so as to extend along the sides facing the chip support 7.

【0046】また、リードフレーム20の外枠21に
は、図示はしないが、リードフレーム20の移送や位置
決めに使用するガイド孔等が設けられている。
Although not shown, the outer frame 21 of the lead frame 20 is provided with guide holes and the like used for transferring and positioning the lead frame 20.

【0047】なお、前記リードフレーム20は必要に応
じて所望個所にメッキが施されている。
The lead frame 20 is plated at desired locations as required.

【0048】このようなリードフレーム20を使用して
半導体装置1を製造する際、図4に示すように、最初に
前記リードフレーム20のチップ支持体7および幅広部
10,11に掛けて枠状の補助体12が張り付けられ
る。
When manufacturing the semiconductor device 1 using such a lead frame 20, as shown in FIG. 4, first, the lead frame 20 is hung on the chip support 7 and the wide portions 10, 11 to form a frame. Auxiliary body 12 is attached.

【0049】補助体12(図4で点々を施した部分)
は、エポキシ樹脂テープ等からなる接着テープで形成さ
れ、枠形状になっている。接着テープからなる補助体1
2は0.25mm程度の厚さであり、その矩形枠の内法
は前記チップ支持体7よりも小さく、矩形枠の内側の部
分は所定の幅チップ支持体7に重なって張り付けられ
る。
Auxiliary body 12 (dotted portion in FIG. 4)
Is formed of an adhesive tape made of an epoxy resin tape or the like, and has a frame shape. Auxiliary body 1 made of adhesive tape
Reference numeral 2 denotes a thickness of about 0.25 mm, and the inner size of the rectangular frame is smaller than that of the chip support 7, and an inner portion of the rectangular frame is attached to the chip support 7 with a predetermined width.

【0050】また、補助体12の外法は前記チップ支持
体7よりも大きく、前記ゲートリード5およびドレイン
リード6ならびにソースリード4に到達する大きさであ
り、ゲートリード5およびドレインリード6の先端側に
所定の幅で重なって張り付けられる。
The external size of the auxiliary body 12 is larger than that of the chip support 7 and is large enough to reach the gate lead 5, the drain lead 6 and the source lead 4. It is attached to the side with a predetermined width.

【0051】幅広部10,11では、ワイヤを接続する
領域を補助体12で覆わないようにする。
In the wide portions 10 and 11, the region where the wires are connected is not covered with the auxiliary body 12.

【0052】つぎに、チップ支持体7の補助体12で覆
われない中央領域に半導体チップ13が固定される。
Next, the semiconductor chip 13 is fixed to a central area of the chip support 7 which is not covered by the auxiliary body 12.

【0053】つぎに、半導体チップ13の図示しない電
極とゲートリード5およびドレインリード6の幅広部1
0,11は導電性のワイヤ14で電気的に接続される。
Next, the electrodes (not shown) of the semiconductor chip 13 and the wide portions 1 of the gate leads 5 and the drain leads 6 are formed.
0 and 11 are electrically connected by a conductive wire 14.

【0054】半導体チップ13の電極とリード3との接
続は他の接続手段でもよい。
The connection between the electrode of the semiconductor chip 13 and the lead 3 may be another connection means.

【0055】つぎに、図4に二点鎖線で示すように、ト
ランスファモールド等によってチップ支持体7,半導体
チップ13,ゲートリード5およびドレインリード6の
先端側,ワイヤ14等をエポキシ樹脂等の樹脂で封止し
てパッケージ2を形成する。
Next, as shown by a two-dot chain line in FIG. 4, the tip support 7, the semiconductor chip 13, the distal ends of the gate leads 5 and the drain leads 6, the wires 14, etc. To form a package 2.

【0056】つぎに、図示はしないが、前記パッケージ
2から突出するリード3を所定箇所で切断することによ
って、図1および図2に示すような半導体装置1を製造
する。
Next, although not shown, the semiconductor device 1 as shown in FIGS. 1 and 2 is manufactured by cutting the leads 3 protruding from the package 2 at predetermined positions.

【0057】このような半導体装置1は、たとえば、図
2に示すように、実装基板30に表面実装構造によって
実装される。すなわち、実装基板30のランド31に半
田等の導電性接合材32を介して接続される。
Such a semiconductor device 1 is mounted on a mounting board 30 by a surface mounting structure, as shown in FIG. 2, for example. That is, it is connected to the land 31 of the mounting board 30 via the conductive bonding material 32 such as solder.

【0058】この例では、チップ支持体7の裏面および
リード3の裏面からの放熱を図るため、実装基板30を
部分的に厚く形成してある。
In this example, the mounting substrate 30 is formed to be partially thick in order to radiate heat from the back surface of the chip support 7 and the back surface of the leads 3.

【0059】半導体装置1は、チップ支持体7とリード
3がその表面(半導体チップやワイヤを接続する面)を
同一平面とする構造となることから、半導体装置の厚さ
をより薄くすることができ、実装高さを低くすることが
できる。
Since the semiconductor device 1 has a structure in which the chip support 7 and the leads 3 have the same surface (the surface for connecting a semiconductor chip and wires) on the same plane, the thickness of the semiconductor device can be further reduced. The mounting height can be reduced.

【0060】本実施形態1の半導体装置1によれば以下
の効果を奏する。
According to the semiconductor device 1 of the first embodiment, the following effects can be obtained.

【0061】(1)チップ支持体7の半導体チップ固定
面にはチップ支持体7の外側に張り出す枠状の補助体1
2が固定されている。したがって、チップ支持体7と封
止体2との界面から封止体2内に浸入する水分の半導体
チップ表面までの浸入経路(通過経路)は長大化し、耐
湿性が向上する。
(1) On the semiconductor chip fixing surface of the chip support 7, a frame-shaped auxiliary body 1 extending outside the chip support 7.
2 is fixed. Therefore, the penetration path (passing path) from the interface between the chip support 7 and the sealing body 2 to the surface of the semiconductor chip of the moisture penetrating into the sealing body 2 is lengthened, and the moisture resistance is improved.

【0062】(2)前記補助体12が前記リード3上に
も延在する構造では、チップ支持体7とリード3(ゲー
トリード5,ドレインリード6)との間の隙間も塞がれ
ることになり、水分の遮断を図ることができる。また、
補助体12が大きいことから半導体チップ表面までの水
分の浸入経路はさらに長くなり、耐湿性がより一層向上
する。
(2) In the structure in which the auxiliary body 12 also extends on the lead 3, the gap between the chip support 7 and the lead 3 (gate lead 5, drain lead 6) is also closed. In other words, moisture can be blocked. Also,
Since the size of the auxiliary body 12 is large, the path of water penetration to the surface of the semiconductor chip is further increased, and the moisture resistance is further improved.

【0063】(3)チップ支持体7の半導体チップ固定
面と前記リード3のワイヤ接続面は同一面であり、前記
接着テープからなる補助体12は前記半導体チップ固定
面側およびワイヤ接続面側に接続される構造であること
から、リード3と半導体チップ13の間に補助体12を
介在させる構造に比較して半導体装置1の薄型化が達成
できる。
(3) The semiconductor chip fixing surface of the chip support 7 and the wire connection surface of the lead 3 are the same, and the auxiliary body 12 made of the adhesive tape is provided on the semiconductor chip fixing surface side and the wire connection surface side. Since the structure is connected, the semiconductor device 1 can be made thinner as compared with a structure in which the auxiliary body 12 is interposed between the lead 3 and the semiconductor chip 13.

【0064】(4)チップ支持体7と前記リード3は同
じ厚さであり、前記リード3の裏面も前記封止体2の一
面から露出している構造であることから、チップ支持体
7およびリード3の底面からの放熱効果も得られるた
め、熱放散性の良好な半導体装置1になる。
(4) Since the chip support 7 and the leads 3 have the same thickness and the back surface of the leads 3 is also exposed from one surface of the sealing body 2, the chip supports 7 and Since a heat radiation effect from the bottom surface of the lead 3 is also obtained, the semiconductor device 1 having good heat dissipation properties is obtained.

【0065】(5)リード3は前記チップ支持体7のチ
ップ固定面に沿って真っ直ぐに延在する構造になってい
ることから、半導体装置1を実装基板30にそのまま表
面実装すれば、チップ支持体7およびリード3も直接実
装基板30に接触する構造になり、高い放熱効果が得ら
れる。
(5) Since the leads 3 have a structure extending straight along the chip fixing surface of the chip support 7, if the semiconductor device 1 is directly surface-mounted on the mounting substrate 30, the chip support The body 7 and the lead 3 also have a structure in which the body 7 and the lead 3 are in direct contact with the mounting board 30, and a high heat radiation effect is obtained.

【0066】(6)補助体12は接着テープで形成され
ていることから、前記チップ支持体7のチップ固定面お
よび前記リード3への接着が容易であり、半導体装置1
の製造における製造コスト低減が達成できる。
(6) Since the auxiliary body 12 is formed of an adhesive tape, the auxiliary body 12 is easily adhered to the chip fixing surface of the chip support 7 and the leads 3, and the semiconductor device 1
The production cost can be reduced in the production of.

【0067】(実施形態2)図5は本発明の実施形態2
である一部を切り欠いた状態の半導体装置の平面図、図
6は断面図である。
(Embodiment 2) FIG. 5 shows Embodiment 2 of the present invention.
6 is a plan view of the semiconductor device in a partially cut-out state, and FIG. 6 is a cross-sectional view.

【0068】本実施形態2では、補助体12を封止体2
内において出来るだけ大きくした構成になっている。こ
のため、ゲートリード5およびドレインリード6の幅広
部10,11にワイヤ14を接続できるように、幅広部
10,11上の補助体12部分に対応して穴35が設け
られている。本実施形態2における他の各部の構造は前
記実施形態1と同様である。
In the second embodiment, the auxiliary body 12 is
The configuration is as large as possible within. For this reason, holes 35 are provided corresponding to the auxiliary members 12 on the wide portions 10 and 11 so that the wires 14 can be connected to the wide portions 10 and 11 of the gate lead 5 and the drain lead 6. The structure of other components in the second embodiment is the same as that of the first embodiment.

【0069】本実施形態2によれば、前記実施形態1の
効果に加えて、補助体12がより大きくなった故に水分
の遮断効果が高くなるとともに、半導体チップ表面まで
の水分の浸入経路が長くなり、より一層耐湿性が向上す
る。
According to the second embodiment, in addition to the effects of the first embodiment, since the auxiliary body 12 is larger, the effect of blocking moisture is enhanced, and the length of the water infiltration path to the surface of the semiconductor chip is increased. And the moisture resistance is further improved.

【0070】なお、本実施形態2では、前記穴35は各
ワイヤボンディング位置に対応して設けたが、ゲートリ
ード5およびドレインリード6のワイヤ接続部分は幅広
部10,11となっていることから、複数のワイヤボン
ディング位置を含む穴や、全てのワイヤボンディング位
置を含む長穴としてもよい。
In the second embodiment, the holes 35 are provided corresponding to the respective wire bonding positions. However, since the wire connecting portions of the gate lead 5 and the drain lead 6 are wide portions 10 and 11, Alternatively, a hole including a plurality of wire bonding positions or a slot including all the wire bonding positions may be used.

【0071】(実施形態3)図7は本発明の実施形態3
である半導体装置の断面図である。
(Embodiment 3) FIG. 7 shows Embodiment 3 of the present invention.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a semiconductor device which is

【0072】本実施形態7では、前記チップ支持体7の
厚さを前記リード3の厚さよりも厚く形成した構造にな
っている。
The seventh embodiment has a structure in which the thickness of the chip support 7 is formed larger than the thickness of the leads 3.

【0073】したがって、チップ支持体7をヒートスプ
レッダとして使用できることは勿論とし、前記封止体2
の底面側のリード面(底面)が封止体2で覆われている
ことから、封止体2によるリード3の保持強度が向上す
る効果が得られる。
Therefore, the chip support 7 can be used as a heat spreader, and
Since the lead surface (bottom surface) on the bottom surface side is covered with the sealing body 2, an effect of improving the holding strength of the lead 3 by the sealing body 2 is obtained.

【0074】本実施形態3における他の各部の構造は前
記実施形態1と同様である。
The structure of each of the other components in the third embodiment is the same as that in the first embodiment.

【0075】(実施形態4)図8は本発明の実施形態4
である半導体装置の断面図、図9は一部を切り欠いた状
態の半導体装置の平面図である。
(Embodiment 4) FIG. 8 shows Embodiment 4 of the present invention.
FIG. 9 is a plan view of the semiconductor device with a part cut away.

【0076】本実施形態4では、チップ支持体7は前記
リード3と同じ厚さの支持板7aと、この支持板7aの
裏面に固定されかつ前記封止体2の一面から裏面が露出
する熱伝導性の良好な材料で構成される放熱板7bとで
構成されている。前記リード3および支持板7aは同一
の厚さになるとともに、表裏面は同一平面に位置してい
る。
In the fourth embodiment, the chip support 7 is composed of a support plate 7a having the same thickness as the leads 3 and a heat source fixed to the back surface of the support plate 7a and having a back surface exposed from one surface of the sealing body 2. And a radiator plate 7b made of a material having good conductivity. The lead 3 and the support plate 7a have the same thickness, and the front and back surfaces are located on the same plane.

【0077】本実施形態4ではリード3が4方向に複数
延在するIC(集積回路装置)に本発明を適用した例で
ある。
The fourth embodiment is an example in which the present invention is applied to an IC (integrated circuit device) having a plurality of leads 3 extending in four directions.

【0078】本実施形態4では、放熱板7bをヒートス
プレッダとして使用できることは勿論とし、前記封止体
2の底面側のリード面(底面)が封止体2で覆われてい
ることから、封止体2によるリード3の保持強度が向上
する効果が得られる。
In the fourth embodiment, the heat radiation plate 7b can be used as a heat spreader, and the lead surface (bottom surface) on the bottom surface side of the sealing body 2 is covered with the sealing body 2. The effect of improving the holding strength of the lead 3 by the body 2 is obtained.

【0079】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。たとえ
ば、前記各実施形態では、リードを真っ直ぐな形状とし
たが、ガルウィング型等他のリード構造でも前記実施形
態同様な効果が得られる。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiment, the invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Needless to say. For example, in each of the above embodiments, the lead is formed in a straight shape. However, the same effect as in the above embodiment can be obtained with other lead structures such as gull wing type.

【0080】[0080]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The effects obtained by the representative ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0081】(1)半導体チップを固定するチップ支持
体の半導体チップ固定面の周縁からリードの先端のワイ
ヤ接続面に亘って絶縁性の補助体が設けられていること
から、チップ支持体と封止体との界面から封止体内に浸
入する水分の浸入を遮断することができるとともに、半
導体チップ表面までの浸入経路(通過経路)を長大化さ
せることができるので耐湿性が向上する。
(1) Since the insulating auxiliary member is provided from the periphery of the semiconductor chip fixing surface of the chip support for fixing the semiconductor chip to the wire connection surface at the tip of the lead, the chip support and the chip support are sealed. Moisture resistance can be improved because it is possible to block the intrusion of moisture that intrudes into the sealing body from the interface with the stationary body, and it is possible to lengthen the infiltration path (passing path) to the semiconductor chip surface.

【0082】(2)チップ支持体の半導体チップ固定面
とリードのワイヤ接続面は同一面であり、補助体は前記
半導体チップ固定面側およびワイヤ接続面側に接続され
る構造であることから、リードと半導体チップの間に補
助体を介在させる構造に比較して半導体装置の薄型化が
達成できる。
(2) The semiconductor chip fixing surface of the chip support and the wire connection surface of the lead are the same, and the auxiliary body is connected to the semiconductor chip fixing surface side and the wire connection surface side. The thickness of the semiconductor device can be reduced as compared with a structure in which an auxiliary body is interposed between the lead and the semiconductor chip.

【0083】(3)チップ支持体とリードは同じ厚さで
あり、前記リードの裏面も前記封止体の一面から露出し
ている構造であることから、チップ支持体およびリード
の底面からの放熱効果も得られ、放熱効果の高い半導体
装置になる。
(3) Since the chip support and the lead have the same thickness, and the back surface of the lead is also exposed from one surface of the sealing body, heat is radiated from the chip support and the bottom surface of the lead. The effect is also obtained, and the semiconductor device has a high heat radiation effect.

【0084】(4)リードはチップ支持体のチップ固定
面に沿って真っ直ぐに延在する構造になっていることか
ら、半導体装置を実装基板にそのまま実装すれば、チッ
プ支持体およびリードも直接実装基板に接触する構造に
なり、高い放熱効果が得られる。
(4) Since the leads extend straight along the chip fixing surface of the chip support, if the semiconductor device is directly mounted on the mounting substrate, the chip support and the leads are also directly mounted. The structure comes into contact with the substrate, and a high heat radiation effect can be obtained.

【0085】(5)補助体は絶縁性の接着テープで形成
されていることから、前記チップ固定面および前記リー
ドへの接着が容易であり、半導体装置の製造コストの低
減が達成できる。
(5) Since the auxiliary body is formed of an insulating adhesive tape, the auxiliary body can be easily bonded to the chip fixing surface and the lead, and the manufacturing cost of the semiconductor device can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態1である一部を切り欠いた状
態の半導体装置の平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention with a part thereof being cut away;

【図2】本実施形態1の半導体装置の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the semiconductor device according to the first embodiment.

【図3】本実施形態1の半導体装置の製造に用いるリー
ドフレームの平面図である。
FIG. 3 is a plan view of a lead frame used for manufacturing the semiconductor device of the first embodiment.

【図4】本実施形態1の半導体集積回路装置の製造にお
いて、チップボンディング,ワイヤボンディングが終了
したリードフレームを示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a lead frame on which chip bonding and wire bonding have been completed in the manufacture of the semiconductor integrated circuit device according to the first embodiment;

【図5】本発明の実施形態2である一部を切り欠いた状
態の半導体装置の平面図である。
FIG. 5 is a plan view of a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention with a part thereof being cut away;

【図6】本実施形態2の半導体装置の断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of the semiconductor device according to the second embodiment.

【図7】本発明の実施形態3である半導体装置の断面図
である。
FIG. 7 is a sectional view of a semiconductor device according to a third embodiment of the present invention;

【図8】本発明の実施形態4である半導体装置の断面図
である。
FIG. 8 is a sectional view of a semiconductor device according to a fourth embodiment of the present invention;

【図9】本実施形態4の一部を切り欠いた状態の半導体
装置の平面図である。
FIG. 9 is a plan view of a semiconductor device according to a fourth embodiment with a part thereof being cut away;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体装置、2…封止体(パッケージ)、3…リー
ド、4…ソースリード、5…ゲートリード、6…ドレイ
ンリード、7…チップ支持体、7a…支持板、7b…放
熱板、10,11…幅広部、12…補助体、13…半導
体チップ、14…ワイヤ、20…リードフレーム、21
…外枠、22…内枠、30…実装基板、31…ランド、
32…導電性接合材、35…穴。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor device, 2 ... Sealing body (package), 3 ... Lead, 4 ... Source lead, 5 ... Gate lead, 6 ... Drain lead, 7 ... Chip support, 7a ... Support plate, 7b ... Heat sink, 10 , 11 wide part, 12 auxiliary body, 13 semiconductor chip, 14 wire, 20 lead frame, 21
... outer frame, 22 ... inner frame, 30 ... mounting board, 31 ... land,
32: conductive bonding material, 35: hole.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性樹脂からなる封止体と、前記封止
体の内外に亘って延在する複数のリードと、前記封止体
内に位置しかつ前記一部のリードに連なるチップ支持体
と、前記封止体内に位置し前記チップ支持体上に固定さ
れる半導体チップと、前記封止体内に位置し前記半導体
チップの電極と前記リードを電気的に接続する接続手段
とを有し、前記チップ支持体の半導体チップ固定面とは
反対となる裏面が前記封止体の一面から露出する半導体
装置であって、前記チップ支持体の半導体チップ固定面
には前記封止体内に位置しかつ前記チップ支持体の略全
周に亘って外側に張り出す枠状の絶縁体からなる補助体
が固定されていることを特徴とする半導体装置。
1. A sealing body made of an insulating resin, a plurality of leads extending inside and outside the sealing body, and a chip support located in the sealing body and connected to the part of the leads. And a semiconductor chip located in the sealing body and fixed on the chip support, and connecting means for electrically connecting the electrode and the lead of the semiconductor chip located in the sealing body, A semiconductor device in which a back surface opposite to the semiconductor chip fixing surface of the chip support is exposed from one surface of the sealing body, and the semiconductor chip fixing surface of the chip support is located in the sealing body and A semiconductor device, wherein an auxiliary body made of a frame-shaped insulator extending outward over substantially the entire circumference of the chip support is fixed.
【請求項2】 前記補助体は前記リード上にも延在して
いることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein said auxiliary body also extends on said lead.
【請求項3】 前記接続手段が接続されるリードの接続
領域に対応する前記補助体部分には穴が設けられている
ことを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
3. The semiconductor device according to claim 2, wherein a hole is provided in said auxiliary body portion corresponding to a connection area of a lead to which said connection means is connected.
【請求項4】 前記チップ支持体の半導体チップ固定面
と前記リードの前記接続手段接続面は同一面であること
を特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記
載の半導体装置。
4. The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor chip fixing surface of the chip support and the connecting means connecting surface of the lead are the same surface. .
【請求項5】 前記チップ支持体と前記リードは同じ厚
さであり、前記リードの裏面も前記封止体の一面から露
出していることを特徴とする請求項1乃至請求項4のい
ずれか1項に記載の半導体装置。
5. The chip support according to claim 1, wherein the chip support and the lead have the same thickness, and the back surface of the lead is also exposed from one surface of the sealing body. 2. The semiconductor device according to claim 1.
【請求項6】 前記チップ支持体は前記リードの厚さよ
りも厚くなっていることを特徴とする請求項1乃至請求
項4のいずれか1項に記載の半導体装置。
6. The semiconductor device according to claim 1, wherein said chip support is thicker than said leads.
【請求項7】 前記チップ支持体は前記リードと同じ厚
さの支持板と、この支持板の裏面に固定されかつ前記封
止体の一面から裏面が露出する熱伝導性の良好な材料で
構成される放熱板とで構成されていることを特徴とする
請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の半導体装
置。
7. The chip support is composed of a support plate having the same thickness as the leads, and a material having good thermal conductivity fixed to the back surface of the support plate and having a back surface exposed from one surface of the sealing body. The semiconductor device according to any one of claims 1 to 4, wherein the semiconductor device comprises a heat sink.
【請求項8】 前記リードは前記チップ支持体のチップ
固定面に沿って真っ直ぐに延在していることを特徴とす
る請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の半導体
装置。
8. The semiconductor device according to claim 1, wherein said leads extend straight along a chip fixing surface of said chip support.
【請求項9】 前記補助体は絶縁性の接着テープで形成
され、接着面が前記チップ固定面および前記リードに接
着されていることを特徴とする請求項1乃至請求項8の
いずれか1項に記載の半導体装置。
9. The semiconductor device according to claim 1, wherein the auxiliary body is formed of an insulating adhesive tape, and an adhesive surface is bonded to the chip fixing surface and the lead. 3. The semiconductor device according to claim 1.
JP9296555A 1997-10-29 1997-10-29 Semiconductor device Pending JPH11135665A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6344534B2 (en) 2000-02-29 2002-02-05 Daicel Chemical Industries, Ltd. Functional polyester polymer and production process thereof

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