JPH11134242A - メモリ手段にアクセスするための装置 - Google Patents
メモリ手段にアクセスするための装置Info
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- JPH11134242A JPH11134242A JP10248261A JP24826198A JPH11134242A JP H11134242 A JPH11134242 A JP H11134242A JP 10248261 A JP10248261 A JP 10248261A JP 24826198 A JP24826198 A JP 24826198A JP H11134242 A JPH11134242 A JP H11134242A
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- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 167
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 206
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims description 28
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 19
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 12
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 8
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F5/00—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled
- G06F5/06—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor
- G06F5/16—Multiplexed systems, i.e. using two or more similar devices which are alternately accessed for enqueue and dequeue operations, e.g. ping-pong buffers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
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- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31919—Storing and outputting test patterns
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F5/00—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled
- G06F5/06—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
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Abstract
ち時間の影響を減少する。 【解決手段】メモリ手段にアクセスするための装置は、
反復開始バッファと反復切換ユニットを備える。反復開
始バッファは、メモリに接続可能で、反復してアクセス
すべきデータシーケンスのはじめを同時にバッファする
よう構成される。またデータシーケンスは、反復すべき
アクセスの最初にアクセスされる。反復切換ユニット
は、メモリに接続可能で、反復開始バッファに接続さ
れ、メモリおよび反復開始バッファとの間で切換えを行
うよう構成される。また反復切換ユニットは、反復して
アクセスすべきデータシーケンスのバッファされたはじ
めをアクセスするため、反復開始バッファに切り換える
ことができるよう構成される。
Description
する待ち時間の影響の補償に関する。
またはプログラム(命令のシーケンス)のような情報を
一時的または恒久的に格納するため、多かれ少なかれ複
雑なメモリ装置を備える。ここで使用する用語「メモ
リ」は、ディスク、テープ、半導体装置、またはその種
の任意の記憶装置を指し、マイクロコンピュータにおけ
るようなある種の目的またはアプリケーションに制限さ
れない。ここで使用する用語「データ」は、一時的また
は恒久的であって、個々のまたは総データのような任意
の種類の情報を指す。
的な操作から構成される。1)メモリに何をするか、例
えばメモリのある場所からいくつかのバイトを読むとい
うようなことを伝えること。2)メモリがアクセスを完
了するのを待つこと。3)読み出されたデータを受けと
るか、またはメモリにデータを書き込むこと。システム
・レベルでの転送は、3つのタイミング・パラメータに
分解することができる。(a)アドレス転送、(b)デ
ータアクセス時間、(c)データ転送、である。アドレ
ス転送は、新しいアドレスを取得するのに必要な時間お
よびメモリのインターフェースへの何らかの制御として
定義することができる。通常この転送時間は、メモリ・
インタフェースのみの機能である。「データアクセス時
間」は、データアクセスを実行する時間、すなわち内部
のメモリ・アレイすなわちコアから、あるデータにアク
セスするのにメモリが必要とする時間、として定義する
ことができる。データ転送は、データをメモリから、ま
たはデータをメモリに移動させるのに必要な時間として
定義することができ、一般にバンド幅またはメモリイン
ターフェースの信号のレートに依存する。
いメモリ容量を持つメモリ)の重要なアプリケーション
が、例えば、ヒューレット・パッカード社のHP 83
000の「Digital IC Test Systems(デジタルIC試
験システム)」のような集積回路(IC)または他の電
子装置を試験するための試験アプリケーションにおいて
存在する。通常の試験装置は、試験回路(tester circui
t)および試験装置(device under test,DUT)を含み、
ICまたは任意の他の電子装置であることができる。こ
のような試験装置の詳細は、例えば同じ出願者のヨーロ
ッパ特許出願、20-97-009、20-97-023、20-97-013、20-
97-013/1および20-97-019に見つけることができる。通
常試験回路は、DUTへの刺激データストリームを生成
および適用するための信号生成装置、DUTからの刺激
データストリームの応答を受けとるための信号受信装置
およびその応答を予想データストリームと比較するため
の信号解析装置を備える。またDUTに適用される試験
データは、ベクトル・データまたは試験ベクトルと呼ば
れ、1またはそれ以上の信号の個々のベクトルを含む。
それぞれ個々のベクトルは、信号の状態を表すことがで
きる。ここで信号の状態とは、所与の時点において、D
UTの1またはそれ以上の入力に適用されるのか、また
はDUTによる出力に適用されるのか、のどちらかであ
る。デジタルICテスターでは、ベクトルは通常、ある
回数繰り返される可変長部分を持つ順次ストリームで実
行される。
激してその応答を評価するのに必要な試験ベクトルを格
納するための高速かつ深いメモリの必要性が大きくなっ
てきた。DUTがますます複雑になり、試験すべきゲー
トの量が増加しているので、それに応じてベクトル・シ
ーケンスが巨大になってきている。合理的な価格で大き
いメモリ量を提供するため、高密度メモリをもつメモリ
装置が通常使用され、これが、試験実行時間を最小に
し、さらに意図した操作速度でDUTを試験することが
できる高ベクトル・レートをも考慮する。最も高い密度
のメモリのメモリ技術は、現在ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ(DRAM)技術である。
る「待ち時間(latency time)」であり、これは命令制御
装置がデータを呼び出す時点からデータの実際の転送が
始まる時点までの間隔、言い換えるとランダムアドレス
で最初のデータ語をアクセスするのに必要な時間であ
る。通常待ち時間は、データアクセス時間を増加させ
る。待ち時間は、あるメモリまたはメモリの種類につい
て固定された値ではなく、実際のデータアクセスに依存
する。しかし、大部分のメモリでは、待ち時間は実質的
に大部分のデータアクセスについて一定の値である。以
下簡単のため、待ち時間をあるメモリについて一定値と
みなす。
物理的な時間は同じであるが、メモリ装置間の相違が、
アドレスおよび(制御)情報がメモリ装置に移動する速
度と、データがコントローラに戻される速度である待ち
時間に影響する。
への順次(sequential,連続的(serial)と同義)アクセ
ス、すなわちメモリへのアクセスが最初の開始アドレス
から連続した物理的位置で順次に(連続的に)生じるア
クセスのみを要求するアプリケーションでは、開始アド
レスへのアクセスについてのみ待ち時間が現れる。待ち
時間内に連続データの最初のデータ語がアクセスされた
後、開始アドレスの最初のデータ語に連続する順次デー
タの読み出しまたは書き込み操作は、メモリ速度で実行
される。通常メモリ速度は、最初のデータ語にアクセス
する「速度」より非常に大きく、一般にはメモリがサポ
ートする最大速度である。またこの操作は、「第1のデ
ータアクセス操作」と呼び、すなわち連続データの最初
のデータ語へのアクセスである。
操作ごとに生じる。この待ち時間の間はどのデータも利
用できず、さらなるデータを必要として走っている処理
は、その更なるデータを待つ必要があることを理解すべ
きである。
ロック20a、20bおよび20cを持つ第1の連続的
に格納されるデータ領域20、データ・ブロック30
a、30b、30cおよび30dをもつ第2の連続的に格
納されるデータ領域30を含み(示されていない他のデ
ータの中で)、メモリの連続領域にそれぞれ格納され
る。プロセッサ40はメモリ10を制御し、データ接続
50を介してメモり10にアクセスする。データ接続5
0は、固定した物理的接続ではなく、メモリ10のそれ
ぞれのデータブロックから、またはデータブロックへの
アクセス線を表し、当該技術分野で既知の接続手段によ
り具体化することができる。図1の例では、データ接続
50を介してプロセッサはデータブロック20aにアク
セスする。
読み出す時、第1のデータアクセス操作として、(第1
の)データブロック20aへのアクセスについてのみ待
ち時間が生じる。データブロック20aにアクセスした
後は、更なるデータブロック20bおよび20cをメモ
リ速度で読むことができる。したがって、データ領域3
0を読む時、第1のデータアクセス操作として、待ち時
間はデータブロック30aへのアクセスについてのみ生
じる。データブロック30aにアクセスした後は、更な
るデータブロック30b、30cおよび30dをメモリ
速度で読むことができる。
またはそれらの一部)にアクセス(例えば読み出しまた
は書き込むため)した後、第2の連続データ(たとえば
データ領域30またはその一部)をアクセスする場合で
は、第1の連続データの最初のデータ語(たとえばデー
タブロック20a)にアクセスするためにまず待ち時間
がまず生じ、第2の連続データの最初のデータ語に(た
とえばデータブロック30a)アクセスするために再び
生じる。この操作を、「ジャンプ操作」とも呼び(すな
わちある連続データから他の連続データにジャンプす
る)、一般に待ち時間はジャンプ操作のたびに生じる。
域20またはその一部)を反復しなければならない場合
では、待ち時間は連続データのそれぞれのアクセス間で
生じる。この操作を「反復操作」とも呼び、(すなわち
連続データへのアクセスの反復)一般に待ち時間は反復
操作のたびに生じる。
を繰り返し書き込むことはあまり意味があることではな
いので、データを読み出すためにのみ使用され、データ
を書き込むためには使用されない場合がほとんどであ
る。
アップシステムのようなアプリケーションにおいて重要
となり、この場合待ち時間は他のアクセス時間(たとえ
ばデータの読み出しまたは書き込み)に対して無視する
ことができない。特に、多くのジャンプおよび(また
は)反復操作を持つアプリケーションでは、必要とされ
るデータすべてをアクセスするのに必要な全時間が、メ
モリの待ち時間に主として依存する。
のデータは順次的には格納されないで、1またはそれ以
上のメモリの多様な位置に分散されている)、全データ
量をアクセスするのに待ち時間が何度か生じ、全データ
量をアクセスするのに必要な時間としての「データ収集
時間」を相当に増大させる。メモリ待ち時間の場合で
は、データ収集時間が、アクセスする個々のデータ量、
特に最初のデータアクセスの数、反復およびジャンプ操
作の数に依存することは明らかである。
らかな可能性は、同期ランダムアクセスメモリ(SRA
M)のような低減した待ち時間またはほとんどゼロの待
ち時間でメモリを使用することである。しかし、一般に
これらのメモリは高価でメモリ密度が低いので、格納す
る大きい量のデータを必要とするアプリケーションには
適さない。
データを処理する間、異なって格納された連続データブ
ロック間のジャンプ、またはある連続的に格納されたデ
ータブロックの反復の代わりに、メモリにデータをロー
ドする間に必要なデータを既にソートして連続的に保管
することである。しかし、このアプローチがメモリ資源
に厳しいオーバーヘッドを招き、システムのソフトウェ
アについて厳しい管理を招くことは明らかである。
能性は、反復するそのようなデータシーケンスを操作前
にメモリに完全に格納する方法で、反復操作についての
み低減し、またはほとんどゼロの待ち時間でメモリを使
用することである。しかし、反復する必要なデータシー
ケンスを格納するのに十分であることが必要な追加メモ
リのため、この可能性は柔軟性を減らし、コスト高を招
く。
パー・ピン(true tester-per-pin)」アーキテクチャを
持つ自動試験システムを開示する。EP-A-0228332は、R
AMデータ・デコーダおよびキャッシュメモリの手段に
より、メモリにアクセスするための装置を示す。ループ
をプログラムするということは、ループが繰り返される
回数に加え、ループの最初と最後の2つの命令アドレス
を、メモリアドレスのジェネレータに格納することを必
要とする。試験シーケンスの一番最初のループでは、試
験の開始に先だってこの情報がメモリアドレス・ジェネ
レータに提供される。メモリアドレス・ジェネレータが
ループの最初のアドレスに達すると、この命令と、ルー
プの最後の命令に達するまでのすべての次の命令を、キ
ャッシュメモリに格納する。ループの最後の命令に達す
ると、メモリアドレス・ジェネレータは、プログラムさ
れた回数についてキャッシュメモリに格納された命令を
繰り返す。ループの間、RAMデータ・デコーダは、メ
モリからの命令よりむしろキャッシュメモリから届く命
令を解読する。たとえループに必要な命令の数がキャッ
シュメモリにおさまらないとしても、長さにおいて無制
限なループを利用することができる。この事象では、キ
ャッシュメモリの命令の数が使い尽くされるまで、RA
Mデータ・デコーダはキャッシュメモリから実施する。
その後、メモリにおける命令に戻り、ループを完了す
る。これは、次のループについていくつかのサイクルの
アドレスをフェッチおよびロードするのに必要な時間を
提供するという問題を克服し、さらにDRAMの長いサ
イクル時間のために生じることができない次の命令に即
座にアクセスする必要があるという問題をも克服する。
ンを持つ複数の低速メモリと、低速メモリより速い操作
速度の第1および第2の高速メモリでのパターン生成を
開示する。第1および第2の高速メモリのうちの1つが
出力パターンを得るために読まれ、同時に複数の低速メ
モリが読まれ、読み出しデータは互いに交互して他方の
高速メモリに連続的に書き込まれる。一方の高速メモリ
からのパターン生成の完了の際に、他方の高速メモリか
らのパターン生成が成し遂げられる。
リへのアクセス操作についてメモリ待ち時間の影響を減
少させることである。
ムの機能により解決される。本発明の第1の側面による
と、メモリを使用する反復操作についてのメモリ待ち時
間の影響は、反復開始バッファ(100)を提供するこ
とにより減少する。反復開始バッファはメモリ(10)
に接続することができ、反復してアクセスすべきデータ
シーケンスのはじめを同時にバッファする。また、この
データシーケンスは、反復アクセスの最初でアクセスさ
れる。反復切換ユニット(110)は、メモリ(10)
に接続可能であり、反復開始バッファ(100)に接続
され、メモリ(10)および反復開始バッファ(10
0)の間で切り換えを行う。反復切換ユニット(11
0)は、反復してアクセスすべきデータシーケンスのバ
ッファされたはじめをアクセスするため、反復開始バッ
ファ(100)に切り換えることができる。
は)書き込むためメモリ(10)の反復アクセスは、次
のステップを適用することにより達成される。 (a)第1のアクセスサイクルの間に、(a1)メモリ
(10)へアクセスするステップと、(a2)反復開始
バッファ(100)にデータシーケンスのはじめをバッ
ファするステップ。(b)各々の連続したアクセスサイ
クルの間に、(b1) 反復開始バッファ(100)か
らデータシーケンスのバッファされたはじめを最初にア
クセスするステップと、(b2)バッファされたデータ
シーケンスに連続したアドレスに、メモリ(10)のデ
ータ接続を設定するステップと、(b3)メモリ(1
0)から、さらなるデータをアクセスするステップ。
0)を使用するジャンプ操作へのメモリ待ち時間の影響
が、第1のデータバッファ(200a)および第2のデ
ータバッファ(200b)を提供することにより減少す
る。それぞれのデータバッファはメモリ(10)に接続
可能であり、データシーケンスをバッファする。ジャン
プ切換ユニット(210)は、第1のデータバッファ
(200a)および第2のデータバッファ(200b)に
接続され、第1のデータバッファ(200a)および第
2のデータバッファ(200b)の間で切り換えを行
う。連続してアクセスすべきデータシーケンスのはじめ
をバッファするため、データバッファ(200a,b)の
うちの1つのアイドル・メモリアクセス時間の間、メモ
リ(10)はデータバッファ(200a,b)のそれぞれ
他の1つについてアクセスできる。
スは、次のステップを適用することにより達成すること
ができる。 (a)データ接続(105)を使用することにより、第
1のデータシーケンスを第1の領域(20)から読み出
す、または第1の領域のために書き込むステップと、
(b)データ接続(105)のアイドル時間の間、第2
の領域(30)から、または第2の領域のため、第2の
データシーケンスのはじめを第1のデータバッファ(2
00b)にバッファするステップと、(c)第2の領域
(30)までジャンプした後に、(c1)第1のデータ
バッファ(200b)から第2のデータシーケンスのバ
ッファされたはじめを読み出すステップと、(c2)第
1のデータバッファ(200b)にバッファされたデー
タシーケンスに連続したアドレスに、第2の領域(3
0)のデータ接続(105)を設定するステップと、
(c3)データ接続(105)を使用して、第2の領域
(30)から第2のデータシーケンスを読み出す、また
は第2の領域のため第2のデータシーケンスを書き込む
ステップ。
み合わされ、反復操作、ジャンプ操作および(または)
反復とジャンプの組み合わせ操作への、メモリ待ち時間
の影響を減少することを可能にする。反復および(また
は)ジャンプ操作を、データを読み出しおよび(また
は)書き込みのと同様に使用することができる。
ス操作に連続してアクセスすべきデータシーケンスのは
じめをバッファすることにより、それぞれ適用されるバ
ッファの記憶容量に依存して、連続アクセスのサイクル
/操作間の待ち時間の影響による待っている時間が減少
され、または除去することさえできる。したがって、バ
ッファ記憶容量は予想待ち時間に従い、またメモリの最
大待ち時間に従うのが好ましく、これはバッファのデー
タ内容により待ち時間がカバーされることを意味する。
このことにより、最低限の構成要素および必要とされる
オーバーヘッドの管理と共に、高い柔軟性を持つ連続
的、またはほぼ連続的なデータストリームの提供が可能
になる。バッファリングはアクセス操作の間中提供さ
れ、前もって準備する必要はない。
Cテスターで使用することが好ましい。
復操作について改良されたデータアクセス時間を提供す
る。反復開始バッファ100は、データ接続105を介
してメモり10に接続され、データ線115を介して反
復切換ユニット110に接続される。また、反復切換ユ
ニット110は、データ線105を介してメモり10に
接続され、データ線120を介してプロセッサ40に接
続される。図2で用いられる矢印の線は、メモリ10へ
の読み出しアクセスの例についてのデータの流れの方向
を示す。
した物理的な接続を表すものでなく、メモリ10のそれ
ぞれのデータブロックからのアクセス線およびデータブ
ロックへのアクセス線を表し、これは当該技術分野で既
知のように任意の接続手段により具体化することができ
る。メモリ10のデータブロックの任意の1つからの、
または任意の1つへの任意のデータ接続のポインティン
グ(pointing)は、それぞれのデータ接続を介してそれぞ
れのデータブロックをアクセス(読み出しまたは書き込
み)することができることを意味し、これによりポイン
ティングの方向が読み出しまたは書き込み操作のいずれ
かについてのデータの流れの方向を示す。図2の例のよ
うに、データブロック20aからのデータ接続105の
ポインティングは、データブロック20aをデータ接続
105を介して読み出すことができることを示す。
す反復操作の開始において、プロセッサ40はデータ接
続105を設定し、読み出すべきデータの最初のデータ
語(例えばデータブロック20a)にアクセスする。待
ち時間の後、第1のデータ語が利用可能となり、これは
データ接続105を介して反復切換ユニット110だけ
でなく反復開始バッファ100にも適用される。第1の
反復サイクルのはじめに、反復切換ユニット110はデ
ータ接続105をデータ線120上に切り替えるので、
結果的にプロセッサ40はメモリ10からデータの読み
出しを開始することができる。この例では、プロセッサ
40は、最初のデータブロック20aから、データ領域
20の最後のデータブロック20cまで(1つの反復サ
イクルとして)、データ領域20を読み始める。同時
に、読むべきデータ(この例ではデータ領域20)も、
データ接続105を介して反復開始バッファ100に適
用され、そのデータのある量は反復開始バッファ100
の記憶容量に従ってそこにバッファされるのが好まし
い。この例では、反復開始バッファ100は、第1のデ
ータブロック20aをバッファする。
タの反復される読み出しについての反復サイクルの開始
アドレスに一致するのに対し、反復開始バッファ100
によりバッファされるデータ量はその記憶容量に依存す
るのは理解されよう。反復開始バッファ100は、待ち
時間が無い、または少なくとも無視できる待ち時間を持
つよう選択するのが好ましい。以下の検討および説明を
簡単にするため、反復開始バッファ100は待ち時間を
全く持たないものとみなす。
クルの間)に達し、この反復サイクルが再び繰り返され
る時、反復切換ユニット110は直ちに(第2の反復サ
イクルの開始で)、データ線120上にデータ線115
を介して反復開始バッファ100を切り換えるので、プ
ロセッサ40は即座に反復開始バッファ100にバッフ
ァされたデータを読み始めることができる。この例で
は、プロセッサ40は反復開始バッファ100から最初
のデータブロック20aを読み始める。同時に、プロセ
ッサ40はメモリ10を起動して(矢印125で示され
るように)読み出すべきデータにアクセスする。しかし
この場合、データ全体の開始からではなく、反復開始バ
ッファ100によりバッファされていない読み出すべき
データの最初のデータ語(少なくとも)からアクセスさ
れる。この例では、反復開始バッファ100によりバッ
ファされていない読み出すべきデータの最初のデータ語
が、データブロック20bである(矢印125で示され
るように)。待ち時間の後、このデータ語(たとえばデ
ータブロック20b)は使用可能となり、データ接続1
05を介して(矢印125で示されるように現在データ
ブロック20bにアクセスしているけれども)反復開始
バッファ100および反復切換ユニット110に適用さ
れる。反復切換ユニット110はデータ線120上にデ
ータ接続105を切り換えるので、再びプロセッサ40
は、メモリ10から直接的にデータを読み始めることが
できる。しかし、矢印125で示されるようにアクセス
するデータ語から直ちに開始する。この例では、反復開
始バッファ100にデータブロック20aをまず読み出
し、同時にデータ接続105はデータブロック20bに
設定され、その後プロセッサ40はデータブロック20
bおよび20cをメモリ10から直接的に読み出す。第
2の反復サイクルでは、反復開始バッファ100がデー
タ接続105により適用される何らかの更なるデータを
バッファする必要がないことは明らかである。
に、各々の連続した反復サイクルは実質的に同じ方法で
繰り返される。しかし、最後の反復サイクルの間、反復
開始バッファ100を、すでに他の目的(例えば、後で
説明するような)に使用することができる。
ら利用することができず(その瞬間で)、反復開始バッ
ファ100にバッファされる時は、反復切換ユニット1
10がデータ接続105からデータ線115に切り換え
るという方法で、反復切換ユニット110が制御されて
同期する。このあるデータが、反復開始バッファ100
からだけでなくメモリ10からも利用することができる
場合には、反復切換ユニット110は、データ接続10
5またはデータ線115のいずれか1つを選択すること
ができるが、データ接続105を選択するほうが好まし
く、これによりメモリ10が選択される。そうすれば、
連続データが直接メモリ10から読み出される。アクセ
スすべきあるデータが反復開始バッファ100にバッフ
ァされない時は、反復切換ユニット110はデータ線1
15からデータ接続105に切り換え、プロセッサはメ
モリ10から直接読み続ける。好ましい実施形態では、
データ接続105は、反復開始バッファ100に最後に
バッファされるデータのデータアドレスに続くデータア
ドレスに設定されるので、データは反復開始バッファ1
00または直接的にメモリ10からのどちらかからのみ
利用可能となる。
グ、反復切換ユニット110の切り換えおよびデータ接
続105の設定は、当該技術分野で既知のようにプロセ
ッサ40が制御する。そのため、プロセッサ40が繰り
返されるべきシーケンスの長さおよび位置を含む命令を
受け取り、そこから個々の要素をどのように制御すれば
いいかという情報を引き出すのが好ましい。
モリ10の待ち時間に一致するよう選択するのが好まし
く、これはメモリ10の待ち時間に対応する時間の間、
(待ち時間が無くて)メモリ10から読み出すことがで
きるのと同じくらい多くのデータを、反復開始バッファ
100がバッファすることができることを意味する。好
ましい実施形態では、反復開始バッファ100の記憶容
量は、メモリ10に現れる最大待ち時間に対応して選択
される。その場合、反復開始バッファ100は、メモリ
10のいかなる起こりうる状況をもカバーすることがで
きる。
反復操作は、以下のステップにより実行される。 (a)第1の反復サイクルの間、 直接メモリ10から読み出すべきデータを読み、反復開
始バッファ100にそのデータのはじめをバッファする
ステップ。 (b)各々の連続した反復サイクルの間、 反復開始バッファ100から読み出すべきバッファされ
たデータのはじめを最初に読み、メモリ10から直接的
に読み出すべきデータの残りをその後に読むステップ。
ついてデータの流れの方向を示す。反復操作における書
き込みアクセスは、一般にあまり意味がないが、図2の
矢印により示される方向と反対の方向にデータが流れる
ことにより、図2の実施形態を書き込みアクセスにも使
用することができことは明らかである。
続的に格納されたデータの異なる領域間のジャンプ操作
について改良されたデータアクセス時間を提供する。デ
ータ接続105は、第1のデータバッファ200aおよ
び第2のデータバッファ200bについてメモリ10へ
のアクセスを提供する。接続105が、第1のデータバ
ッファ200aまたは第2のデータバッファ200bの
どちらへのアクセスを提供するのかを明らかにするた
め、第2のデータバッファ200bへのデータ接続10
5を点線で示す。ジャンプ切換ユニット210は、デー
タ線205bを介してデータバッファ200bに接続さ
れ、またデータ線215を介してプロセッサ40に接続
される。図3の矢印は、メモリ10への読み出しアクセ
スの例についてデータの流れの方向を示す。
aおよび205bのデータ速度は、データ接続105に
よるデータ速度より遅くなるよう選択すべきことを理解
すべきである。これは、メモリ10と、データバッファ
200aおよび200bとの間のデータ転送が、データバ
ッファ200aおよび200bと、プロセッサ40との間
のデータ転送より速いことを意味する。言い換えると、
メモリ10への読み出しアクセスの場合には、プロセッ
サ40からの読み出しより高速に、データバッファ20
0aおよび200bがメモリ10から「満たされる」。メ
モリ10への書き込みアクセスの場合には、メモリ10
への書き込みより遅く、データバッファ200aおよび
200bがプロセッサ40から「満たされる」。
20および30)の2つの異なる領域間のジャンプ操作
を含むメモリ10への読み出しアクセスについて記述す
る。読み出しアクセスのはじめに、プロセッサ40はデ
ータ接続105を設定し、連続的に格納されたデータの
第1領域(例えばデータブロック20aにおけるデータ
領域20)にアクセスする。連続的に格納されたデータ
の第1の領域から読み出されたデータは、第1のデータ
バッファ200aによりバッファされる。ジャンプ切換
ユニット210は、データ線215に向けてデータ線2
05aを切り替えるよう設定される。プロセッサ40
は、データ線205aおよび215を介して、(しかし
上記で指摘したように)メモリ10から読み出すための
データ速度より遅いデータ速度で、第1のデータ・バッ
ファ200aを読み出し始める。これは、第1のデータ
・バッファ200aが、読み出しより速く「満たされ
る」ことを意味する。
「満たされる」とすぐに、第1のデータバッファ200
aは何のデータもバッファできないので、データ接続1
05はアイドル(idle)状態となる。プロセッサ40はす
ぐにデータ接続105を設定し、連続的に格納されたデ
ータの第2の領域(たとえばデータブロック30aにお
けるデータ領域30)をアクセスする。第2のデータバ
ッファ200bは、連続的に格納された第2の領域から
データのバッファを始める。プロセッサ40が第1のデ
ータバッファ200aが「空」になったと「認識する」
と、(これは、第1のデータバッファ200aにバッフ
ァされたデータの残りからの読み出すための時間が、メ
モリ10の待ち時間の範囲内か、または等しいことを意
味する)プロセッサ40はデータ接続105を設定し、
直ちに連続的に格納されたデータの第1の領域からの最
後の読み出しデータに連続したデータアドレスにおい
て、連続的に格納されたデータの第1の領域を再びアク
セスし、さらなるデータ(たとえばデータ領域20か
ら)が、第1のデータバッファ200aにバッファされ
る。
200aは何のデータもバッファすることがもうできな
いので、第1のデータバッファ200aは完全にデータ
ブロック20aで「満たされ」、データ接続はアイドル
状態になる。プロセッサ40はデータ接続105を設定
し、データブロック30aにおいてデータ領域30にア
クセスする。結果として第2のデータバッファ200b
はデータブロック30aのバッファリングを開始するの
で、データブロック30aは第2のデータバッファ20
0bにバッファされる。プロセッサ40が、第1のデー
タバッファ200aが「空」になったと「認識する」
と、プロセッサ40はデータ接続105を設定し、連続
的に格納されたデータ(しかし、今はデータブロック2
0b)の第1の領域に再びアクセスする。
タの第2の領域にジャンプ操作を必要とするとすぐに、
連続的に格納されたデータの第2の領域の開始が第2の
データバッファ200bにバッファされ、追加の待ち時
間を必要とすることなく、そこから即座に読み出すこと
ができる。プロセッサ40は、第2のデータバッファ2
00bにバッファされたデータの後の最初のアドレスに
ついて連続的に格納された第2の領域のデータ接続10
5を設定する。
されるデータ量が、第2のデータバッファ200bのサ
イズ、「アイドル時間」(すなわち第1のデータバッフ
ァ200aの連続したバッファリング・サイクル間の時
間)およびメモリ10の待ち時間に依存することは明ら
かである。第2のデータバッファ200bがバッファリ
ングを開始することができるのにアイドル時間が十分で
ない場合には、プロセッサ40は、連続的に格納された
データの第1の領域についてデータ接続105を維持す
るのが好ましい。ジャンプが要求される前に全くアイド
ル時間が無い場合には、第2のデータバッファ200b
をジャンプの前に満たすことができないのは明らかであ
る。アイドル時間が第2のデータバッファ200bを
「満たす」時間より大きい場合には、第2のデータバッ
ファ200bを「満たし」た後、連続的に格納されたデ
ータの第1の領域に直接戻すようデータ接続105をプ
ロセッサ40が設定するのが好ましい。
00の「満たした状態」に依存して、データバッファ2
00の一方へのデータ接続105のアイドル時間を、ジ
ャンプの前にデータバッファ200の他方をさらにバッ
ファするのに使用することにより、連続的に格納された
データの領域間の更なるジャンプが達成される。
ジャンプ操作は、以下のステップにより実行する。 (a)連続的に格納されたデータの第2の領域へ連続的
に格納されたデータの第1の領域からジャンプする前
に、第1のデータバッファ200aに連続的に格納され
たデータの第1の領域から読み出すべきデータをバッフ
ァし、そこから読み出すステップと、データ接続105
のアイドル時間の間、連続的に格納されたデータの第2
の領域から読み出すべきデータのはじめを第2のデータ
バッファ200bにバッファするステップ。 (b)連続的に格納されたデータの第1の領域から、連
続的に格納されたデータの第2の領域にジャンプした後
に、連続的に格納されたデータの第2の領域から読み出
すべきバッファされたデータのはじめを第2のデータバ
ッファ200から読み出すステップと、第2のデータバ
ッファ200bにバッファされたデータの後の最初のア
ドレスに、連続的に格納されたデータの第2の領域のデ
ータ接続105を設定し、第2のデータバッファ200
bに連続的に格納されたデータの第2の領域から読み出
すべきさらなるデータをバッファしてそこから読み出す
ステップと、もし必要ならば、データ接続105のアイ
ドル時間の間、連続したジャンプ操作の後に、連続して
読み出すべきデータのはじめを第1のデータバッファ2
00aにバッファするステップ。
域間のジャンプを達成すべき場合には、複数のデータバ
ッファ200i(i=1...n)が提供され、連続的
に格納されたデータの最大n個の異なる領域間のジャン
プ操作についてアクセス時間を減らすことを可能にす
る。
ついてデータの流れの方向を示す。ジャンプ操作におけ
る書き込みアクセスは、上記に記述したように読み出し
アクセスに従って達成することができる。しかし、書き
込みアクセスの場合には、データの流れが図3の矢印で
示すものと反対方向となる。メモリ10へのデータの流
れは、マルチプレクサのような当該技術分野で既知であ
る適切な手段により指示し、導くことができる。
る領域間のジャンプ操作および(または)反復操作につ
いて改良されたデータアクセス時間を提供する実施形態
を示す。図4、5および6の実施形態は、図2および3
の実施形態の要素を含むが、「チャネル」についてジャ
ンプおよび反復の双方の機能性を実現するためいくつか
の要素が重複する。図7は、複数のチャネルa...n
について、反復操作だけでなく連続的に格納されたデー
タの異なる領域間のジャンプ操作の改良されたアクセス
時間を提供する実施形態を示す。i=a...nのそれ
ぞれのチャネルiは、データ接続105を介してメモリ
10のそれぞれのデータ領域iへ接続可能なデータバッ
ファ200iを含み、データ線205iを介して反復開
始バッファ100iおよび反復切換ユニット110iに
接続される。反復切換ユニット110iは、データ線1
15iを介して反復開始バッファ100iに接続され、
データ線120iを介してジャンプ切換ユニット210
に接続される。他のすべての機能および接続は、図2お
よび3に従う。
に従い、ジャンプ操作、反復操作および(または)ジャ
ンプと反復の組み合わせ操作について改良されたデータ
アクセス時間を可能にする。図4の実施例形態では、ジ
ャンプおよび(または)反復操作に対応するため、図3
によるデータバッファ200a、bのバッファリング機
能を、反復開始バッファ100a、bが提供する(した
がってそれぞれが機能的に等しいため、それぞれの要素
をデータバッファ100a/200aおよび100b/2
00bと呼ぶ)。図5の実施形態は、「チャネル」a
(参照番号aを持つ)がジャンプおよび(または)反復
操作への対応を可能にするのに対し、「チャネル」b
(参照番号bを持つ)はジャンプ操作のみに対応するこ
とを可能にする。図6、およびそれに応じて図7の実施
形態では、すべてのチャネル(a、b...n)が対称
的に増やされてジャンプおよび(または)反復操作への
対応を可能にする。特定の実施例の構造が特定の必要条
件に依存し、ジャンプ操作および(または)反復操作に
対応するためのチャネル、および(または)ジャンプ操
作または反復操作のみに対応するためのチャネルを含む
ことができることを理解すべきである。
復操作を含むメモリ10への読み出しアクセスについて
の例が以下に与えられ、それに応じて書き込みアクセス
についての例が与えられる。読み出すのは、データブロ
ックから成るデータシーケンスである。すなわち、a)
3x20a-20b-20c、b)2x20a-20b-3
0a-30b、c)3x20b-30b-20c。アクセス
時間の減少についての本発明の貢献は、例えば(−1L
T)を示すことにより(これは、このアクセスステップ
で待ち時間(LT)の発生が避けられたことを意味す
る)、それぞれのアクセスステップについて示されるア
クセス時間の減少である。この例では、データブロック
の1つにアクセスするのに必要な時間は待ち時間に等し
く、バッファ100および200の記憶容量は1つのデ
ータブロックに等しい。
5をデータブロック20aに設定する。データブロック
20aは第1のデータバッファ200aにバッファさ
れ、結果としてデータ線205aを介して反復開始バッ
ファ100aに適用され、さらにそこにバッファされ
る。反復切換ユニット110aは、データ線120aに
向けてデータ線205aを切り替え、ジャンプ切換バッ
ファ210は、データ線215を介してプロセッサ40
にデータ線120aを切り替える。それに応じて連続し
たデータブロック20bおよび20cが読み出される
が、その反復操作の第1のデータブロック20aだけが
反復開始バッファ100aにバッファされる。データブ
ロック20cが第1の反復サイクルで読み出されると、
反復切換ユニット110aは、データ線120aの方へ
データ線115aおよび反復開始バッファ100aを切
り替える(-1LT)。プロセッサ40は、データ接続
105をデータブロック20bに設定する。データブロ
ック20bがアクセスされて(待ち時間後に)、第1の
データバッファ200aにバッファされ始めると、反復
切換ユニット110aは、再びデータ線120aの方へ
データ線205aを切り替え、第2の反復サイクルのデ
ータブロック20bおよび20cは第1のデータバッフ
ァ200aから読み出される。第3の反復サイクルは、
第2の反復サイクルに従って実行される(-1LT)。
0b-20cの始め(20a)が反復開始バッファ10
0aにすでにバッファされるので、反復切換ユニット1
10aは、データ線120aの方へデータ線115aお
よび反復開始バッファ100aを切り替える(−1L
T)。プロセッサ40は、データ接続105をデータブ
ロック20bに設定する。データブロック20bがアク
セスされ(待ち時間後に)第1のデータバッファ200
aにバッファされ始めると、反復切換ユニット110a
は、再びデータ線120aの方へデータ線205aを切
り替え、データブロック20bおよび20cは第1のデ
ータバッファ200aから読み出される。第1のデータ
バッファ200aにデータブロックをバッファする間、
データ接続105のアイドル時間が第2のデータバッフ
ァ200bにデータブロック30aをバッファするのに
使用されると仮定する。部分的なジャンプ・シーケンス
30a-30bが再び繰り返されるので、それのはじめ
としてデータブロック30aが反復開始バッファ100
bにもバッファされる。データブロック20cが読まれ
た後、反復切換ユニット110bは、データ線120b
の方へデータ線205bを切り替え、ジャンプ切換バッ
ファ210は、データ線215を介してプロセッサ40
にデータ線120bを切り換えるので、データブロック
30aを第2のデータバッファ200bから読み出すこ
とができる(-1LT)。同時に、データ接続105は
データブロック30bにアクセスするよう設定され、デ
ータブロック30bは待ち時間後に第2のデータバッフ
ァ200bで読み出される。しかし、第2のデータバッ
ファ200bからデータブロック30aを読み出すため
の時間が待ち時間より大きいので、データブロック30
aを読み出した後、すぐに第2のデータバッファ200
bのデータブロック30bを利用することができる。そ
のため、データブロック30aおよび30bの間の時間
の遅延が生じない(-1LT)。データブロック30a
を読み出した後、このジャンプ・シーケンスは繰り返さ
れる。データブロック20aは、反復開始バッファ10
0aから読み出され(-1LT)、データブロック20
bおよび20cはメモリ10から直接読み出される(第
1のデータバッファ200aを介して)。データブロッ
ク30aは反復開始バッファ100bから読み出され
(-1LT)、データブロック30bは直接メモリ10
から読み出される(第1のデータバッファ200bを介
して)。
a-30bの読み出しの間、データ接続105のアイド
ル時間は、第1のデータバッファ200aにデータブロ
ック20bをバッファするのに使用される。データブロ
ック20bもそのシーケンスのはじめを表すので、デー
タブロック20bは(また)反復開始バッファ100a
に格納される。こうして、それが第1のデータバッファ
200aか反復開始バッファ100aか、またはその両
方か、いずれかに排他的にバッファされるかどうかに依
存して、データブロック20bは第1のデータバッファ
200aまたは反復開始バッファ100aから読み出す
ことができる(−1LT)。同時に、データ接続105
はデータブロック30bに設定され、データ接続30b
は第2のデータバッファ200bにその後バッファされ
る。よって、データブロック20bを読み出した後、デ
ータブロック30bを第2のデータバッファ200b
(-1LT)から読み出すことができる。データブロッ
ク30bの読み出しの間、データ接続105のアイドル
時間は、データブロック20cを第1のデータバッファ
200aにバッファするのに使用されるので、データブ
ロック20cを第1のデータバッファ200aから読み
出すことができる(−1LT)。シーケンスc)の次の
2つの反復サイクルからの読み出しが、反復開始バッフ
ァ100aからデータブロック20bを、第2のデータ
バッファ200bからデータブロック30bを、第1の
データバッファ200aからデータブロック20cを読
み出すことにより達成される(合計して2x−3L
T)。
全体で26のデータブロックへのアクセスについて16
の「待ち時間」が減少した。アクセス時間の減少がアク
セスすべきデータの実際の構造に依存することは明らか
である。書き込みアクセスまたは読み出しと書き込みの
組み合わせアクセスに応じて与えられた例を適用するこ
とができることが明らかである。
が、あるシーケンス中に読み出されて他のシーケンス中
に必要なデータのような中間のバッファリングも含むこ
とを理解すべきである。しかし、中間的にバッファされ
たデータを読み出す前にはそれぞれのバッファを使用し
ないという場合には、このような中間的なバッファリン
グのみが可能であることは明らかである。たとえば、上
記c)のようなシーケンスでは、先行するシーケンス
b)においてデータブロック20bを読み出す間、読み
出すべき第1のデータブロック20bが、反復開始バッ
ファ100aに直ちにバッファされる。
ルのような(ほぼ)ゼロまたは少なくとも低減した待ち
時間を持つ当該技術分野で既知であるような任意のバッ
ファリング手段により、反復開始バッファ100および
データバッファ200を実現することができる。反復開
始バッファ100は、RAMとして具体化するのが好ま
しいのに対し、データバッファ200はFIFO(ファ
ースト・イン、ファースト・アウト)として具体化する
のが好ましい。
換ユニット210は、マルチプレクサのような当該技術
分野で既知の任意の切換ユニットにより実現することが
できる。プロセッサ40は、当該技術分野で既知である
ような任意のプロセッサにより実現することができる。
メモリ10は、SDRAM、RDRAM、DRAMまた
はディスクのような当該技術分野で既知のような任意の
メモリまたは記憶装置により実現することができる。デ
ータ線115、205、120、および215は、バ
ス、シングル・ライン、アクセス・プロトコルの有無に
かかわらない通信チャネル、またはその種のような当該
技術分野で既知のような任意の接続手段により実現する
ことができる。
(図2)は、メモリ手段に接続可能で、データシーケン
スが反復アクセスの最初でアクセスされる間に、反復し
てアクセスすべきデータシーケンスのはじめを同時にバ
ッファするための反復開始バッファ(100)と、メモ
リ手段に接続可能で、反復開始バッファに接続され、メ
モリ手段および反復開始バッファの間で切り換えるため
のユニットであって、反復してアクセスすべきデータシ
ーケンスのバッファされたはじめをアクセスするため反
復開始バッファに切り換えることができる反復切換ユニ
ットとを備える。 (2)反復開始バッファの記憶容量が、メモリ手段の待
ち時間に従って選択される上記(1)に記載の装置。
ある、データシーケンスをバッファするための第1のデ
ータバッファ(200a)および第2のデータバッファ
(200b)と、第1のデータバッファおよび第2のデ
ータバッファに接続され、第1のデータバッファおよび
第2のデータバッファの間で切り換えるためのジャンプ
切換ユニット(210)とを備え、連続的にアクセスす
べきデータシーケンスのはじめをバッファするため一方
のデータバッファのアイドル・メモリアクセス時間の
間、他方のデータバッファのそれぞれ1つにメモリ手段
がアクセスすることができる、メモリ手段(10)にア
クセスするための装置(図3)。 (4)第1のデータバッファに接続され、メモリ手段に
接続可能であり、第1のデータバッファおよびメモリ手
段との間で切り換えるための第1の反復切換ユニット
(110a)と、第2のデータバッファに接続され、メ
モリ手段に接続可能であり、第2のデータバッファおよ
びメモリ手段との間で切り換えるための第2の反復切換
ユニット(110b)とを備え、第1のデータバッファ
および第2のデータバッファが、反復してアクセスすべ
きデータシーケンスのはじめをバッファするのにそれぞ
れ適合し、第1の反復切換ユニットおよび第2の反復切
換ユニットに接続されており、それらの間で切り換える
ためのジャンプ切換ユニット(210)と、を備える上
記(3)に記載の装置(図4)。
反復してアクセスすべきデータシーケンスのはじめをバ
ッファするための第1の反復開始バッファ(100a)
と、第1のデータバッファおよび第1の反復開始バッフ
ァに接続され、第1のデータバッファおよび第1の反復
開始バッファの間で切り換えるための第1の反復切換ユ
ニット(110a)であって、反復してアクセスすべき
データシーケンスのバッファされたはじめをアクセスす
るため第1の反復開始バッファに切り換え可能である反
復切換ユニットと、を備える上記(3)に記載の装置。
反復してアクセスすべきデータシーケンスの他のはじめ
をバッファするための第2の反復開始バッファ(100
b)と、第2のデータバッファおよび第2の反復開始バ
ッファに接続され、第2のデータバッファおよび第2の
反復開始バッファとの間で切り換えるためのユニットで
あって、反復してアクセスすべきデータシーケンスのバ
ッファされた他のはじめをアクセスするため第2の反復
開始バッファに切換可能な第2の反復切換ユニットと、
を備える上記(4)に記載の装置。
タバッファとの間のデータ転送が、第1および第2のデ
ータバッファとジャンプ切換ユニット(210)との間
のデータ転送より高速である上記(3)または(4)に
記載の装置。 (8)試験システム、好ましくはICテスターにおける
上記(1)から(3)のいずれかに記載の装置の使用。
(または)書き込むためのメモリ手段に反復してアクセ
スするため方法は、(a)第1のアクセスサイクルの
間、(a1)メモリ手段をアクセスするステップと、
(a2)反復開始バッファ(100)にデータシーケン
スを同時にバッファするステップと、(b)それぞれの
連続したアクセスサイクルの間、(b1)反復開始バッ
ファからデータシーケンスのバッファされたはじめを最
初にアクセスするステップと、(b2)メモリ手段への
データ接続を、バッファされたデータシーケンスに連続
のアドレスに設定するステップと、(b3)メモリ手段
からさらなるデータをアクセスするステップと、を含
む。
アクセスするための方法は、(a)データ接続(10
5)を使用して第1の領域(20)から第1のデータシ
ーケンスを読み出し、または第1の領域のため第1のデ
ータシーケンスを書き込むステップと、(b)データ接
続のアイドル時間の間、第2の領域(30)から、また
は第2の領域のため、第2のデータシーケンスのはじめ
を第1のデータバッファ(200b)にバッファするス
テップと、(c)第2の領域にジャンプした後、(c
1)第1のデータバッファから第2のデータシーケンス
のバッファされたはじめを読み出すステップと、(c
2)第1のデータバッファ(200b)にバッファされ
たデータシーケンスに連続のアドレスに第2の領域のデ
ータ接続を設定するステップと、(c3)データ接続を
使用して、第2の領域からデータシーケンスのデータを
読み出す、または第2の領域のため第2のデータシーケ
ンスのデータを書き込むステップと、を含む。
さらに、(a1)第2のデータバッファ(200a)に
第1のデータシーケンスをバッファするステップと、
(a2)第2のデータバッファ(200a)から第1の
データシーケンスを読み出しまたは書き込むステップ
と、を含む上記(10)に記載の方法。 (12)上記(10)または(11)のステップ(c
3)がさらに、(c4)データ接続のアイドル時間の
間、他の領域からまたは他の領域のため連続したデータ
シーケンスのはじめを第2のデータバッファにバッファ
するステップと、を含む上記(10)または(11)に
記載の方法。
待ち時間の影響を減少することができる。
の例を示す図。
間を提供する本発明の第1の側面による実施形態を示す
図。
ャンプ操作について改良されたデータアクセス時間を提
供する本発明の第2の側面による実施形態を示す図。
ャンプ操作および(または)反復操作について改良され
たデータアクセス時間を提供する1つの実施形態を示す
図。
ャンプ操作および(または)反復操作について改良され
たデータアクセス時間を提供する他の実施形態を示す
図。
ャンプ操作および(または)反復操作について改良され
たデータアクセス時間を提供する他の実施形態を示す
図。
て格納されたデータの異なる領域間のジャンプ操作につ
いて改良されたデータアクセス時間を提供する実施形態
を示す図。
Claims (1)
- 【請求項1】 メモリ手段に接続可能で、データシーケ
ンスが反復アクセスの最初でアクセスされる間に、反復
してアクセスすべきデータシーケンスのはじめを同時に
バッファするための反復開始バッファと、 前記メモリ手段に接続可能で、前記反復開始バッファに
接続され、前記メモリ手段および前記反復開始バッファ
の間で切り換えるためのユニットであって、反復してア
クセスすべき前記データシーケンスのバッファされたは
じめをアクセスするため前記反復開始バッファに切り換
えることができる反復切換ユニットと、 を備えるメモリ手段にアクセスするための装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP97115982A EP0864977B1 (en) | 1997-09-13 | 1997-09-13 | Memory latency compensation |
EP97115982.7 | 1997-09-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11134242A true JPH11134242A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=8227349
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10248261A Ceased JPH11134242A (ja) | 1997-09-13 | 1998-09-02 | メモリ手段にアクセスするための装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6351793B2 (ja) |
EP (1) | EP0864977B1 (ja) |
JP (1) | JPH11134242A (ja) |
DE (1) | DE69700328T2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013062326A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Canon Inc | 描画装置及び物品の製造方法 |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE602004015276D1 (de) | 2004-08-06 | 2008-09-04 | Verigy Pte Ltd Singapore | Verbesserte Analogsignalerzeugung mittels eines Delta-Sigma Modulators |
WO2006092173A1 (en) | 2005-03-02 | 2006-09-08 | Agilent Technologies, Inc. | Analog signal test using a-priori information |
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US8838406B2 (en) | 2008-11-11 | 2014-09-16 | Advantest (Singapore) Pte Ltd | Re-configurable test circuit, method for operating an automated test equipment, apparatus, method and computer program for setting up an automated test equipment |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5847741B2 (ja) * | 1978-03-29 | 1983-10-24 | 日本電信電話株式会社 | パタ−ン発生器 |
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-
1997
- 1997-09-13 EP EP97115982A patent/EP0864977B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-09-13 DE DE69700328T patent/DE69700328T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-08-20 US US09/137,439 patent/US6351793B2/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-09-02 JP JP10248261A patent/JPH11134242A/ja not_active Ceased
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69700328T2 (de) | 1999-11-04 |
EP0864977A1 (en) | 1998-09-16 |
US20010013092A1 (en) | 2001-08-09 |
US6351793B2 (en) | 2002-02-26 |
EP0864977B1 (en) | 1999-07-14 |
DE69700328D1 (de) | 1999-08-19 |
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