JPH11120949A - イオンビーム照射装置 - Google Patents

イオンビーム照射装置

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JPH11120949A
JPH11120949A JP9296186A JP29618697A JPH11120949A JP H11120949 A JPH11120949 A JP H11120949A JP 9296186 A JP9296186 A JP 9296186A JP 29618697 A JP29618697 A JP 29618697A JP H11120949 A JPH11120949 A JP H11120949A
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JP
Japan
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gate valve
vacuum cylinder
ion beam
processing chamber
downstream
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JP9296186A
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English (en)
Inventor
Hideki Fujita
秀樹 藤田
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来例で必要だった接続用の絶縁碍子および
安全カバーを不要にして、装置全体の小型化および低コ
スト化を図る。 【解決手段】 上流側真空筒8、ゲート弁10、下流側
真空筒14および処理室20を電気的に接地し、減速管
18をこのゲート弁10、下流側真空筒14および処理
室20から電気的に絶縁した。上流側真空筒8内に、減
速管18と同電位−V2 にされる筒状電極30を上流側
真空筒8およびゲート弁10から電気的に絶縁して設け
た。更に、この筒状電極30および減速管18aのゲー
ト弁10側の端部に、ゲート弁の開閉空間13を挟んで
相対向する鍔状電極30a、18aをそれぞれ設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えばイオン注
入装置、イオンビーム照射を併用するMBE(分子線エ
ピタキシー)装置等のように、処理室内で基板にイオン
ビームを照射するイオンビーム照射装置に関し、より具
体的には、減速管を用いて減速した低エネルギーのイオ
ンビームを基板に照射するイオンビーム照射装置の小型
化および低コスト化を図る手段に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のイオンビーム照射装置の従来例
を図5および図6に示す。この装置は、イオン源2から
引き出したイオンビーム4を、真空筒8および14内を
経て処理室20内へ導入して、処理室20内の基板(例
えば半導体ウェーハ)22に照射するよう構成されてい
る。
【0003】処理室20内は図示しない真空排気装置に
よって、真空筒8およびイオン源2側は真空排気装置2
6によって、それぞれ真空排気される。このイオン源2
側と処理室20側とは、両者を別々に保守点検できるよ
うにする等のために、ゲート弁10で仕切られている。
イオン源2とゲート弁10との間をつなぐ真空筒8をこ
こでは上流側真空筒と呼び、ゲート弁10と処理室20
との間をつなぐ真空筒14を下流側真空筒と呼ぶ。ゲー
ト弁10は、図6中の矢印Aに示すように前後動して開
閉される弁体12を有している。
【0004】しかもこのイオンビーム照射装置は、基板
22に低エネルギーのイオンビーム4を照射するため
に、イオン源2から(V1 +V2 )の高電圧で効率良く
引き出した高エネルギーのイオンビーム4を基板22の
直前まで輸送し、基板22の直前で低エネルギーに減速
するようにしている。このようにすれば、輸送途中での
イオンビーム4の発散が少なくてイオンビームの輸送効
率が良くなる。この減速のために、下流側真空筒14内
から処理室20内の基板22近くにかけて、負の高電圧
−V2 (例えば−10kV〜−30kV程度)が印加さ
れる減速管18を設けている。イオンビーム4は、図5
中の電位分布に示すように、減速管18を出たところで
基板22(これは通常は接地電位にされている)との間
の電位差V2 分だけ減速されるので、基板22には電圧
1 (例えば100V〜5kV程度)に相当する低エネ
ルギーのイオンビーム4が照射される。
【0005】この場合、ゲート弁10を含めて、イオン
ビーム4の輸送経路の容器全体を、図5中の電位分布に
示すように、一定の負の高電圧−V2 に保つことが不可
欠であり、この例では以下に述べる手段でそのようにし
ている。そのようにすることにより、イオンビーム4の
輸送経路の電位が一定になってイオンビーム4は輸送途
中で運動エネルギーを変えないために、イオンビーム4
の軌道が乱されにくくなってイオンビーム4の輸送効率
が高くなり、イオンビーム4は効率良く基板22に照射
されるようになる。
【0006】即ち、処理室20は安全確保等のために通
常は電気的に接地されているので、下流側真空筒14の
途中に絶縁碍子16を設け、この絶縁碍子16の下流側
の真空筒14bとそれにつながる処理室20とを接地電
位にし、絶縁碍子16の上流側の真空筒14a、ゲート
弁10、上流側真空筒8および減速管18に上記負の高
電圧−V2 を印加して負の高電位にしている。イオン源
2と上流側真空筒8との間には絶縁碍子6を設けてい
る。このように下流側真空筒14を絶縁碍子16で分割
すると、絶縁碍子16の両側で電位が異なるので、それ
がイオンビーム4の輸送に悪影響を与えないようにする
ために、図6に詳述するように、下流側真空筒14内で
あってゲート弁10の下流側端近傍から基板22付近に
かけて、上記減速管18を配置している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記イオンビーム照射
装置においては、接地電位の処理室20とその上流側の
負の高電圧の機器(即ち真空筒14a、ゲート弁10お
よび上流側真空筒8)との間を接続する絶縁碍子16が
必要であるが、この絶縁碍子16は、沿面絶縁距離を確
保する必要から下流側真空筒14よりも外径を大きくす
る必要があるので大型になり、しかもその内側は真空で
あるので真空シール機能を有する必要があるので構造も
複雑になり、従って一般的に高価である。
【0008】また、接地電位部に配置されている真空排
気装置26と上流側真空筒8との間を接続する絶縁碍子
24も必要であり、この絶縁碍子24も電気絶縁機能お
よび真空シール機能を有する必要から比較的高価であ
る。
【0009】更に、上記高電圧−V2 が印加される上流
側真空筒8、ゲート弁10および下流側真空筒14a等
は、安全確保上、裸にしておく訳にはいかず、網状等を
した安全カバー28で囲む必要があるが、ゲート弁10
は、その弁体12のストロークを確保するために横方向
への張り出しが大きく、このような大きなゲート弁10
の全体をも囲まなければならないので、大きな安全カバ
ー28が必要になり、従ってイオンビーム照射装置全体
が大型になる。またこの安全カバー28も装置のコスト
アップの要因になる。
【0010】なお、イオン源2の周りも通常は安全カバ
ーで囲まれるけれども、これについてはこの従来例の場
合も後述する実施例の場合も同様であるので、図示を省
略している。
【0011】そこでこの発明は、上記のような接続用の
絶縁碍子および安全カバーを不要にして、装置全体の小
型化および低コスト化を図ることを主たる目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明のイオンビーム
照射装置は、前記上流側真空筒、ゲート弁、下流側真空
筒および処理室を電気的に接地し、前記減速管をゲート
弁、下流側真空筒および処理室から電気的に絶縁し、前
記上流側真空筒内に前記減速管と同電位にされる筒状電
極を上流側真空筒およびゲート弁から電気的に絶縁して
設け、かつこの筒状電極および前記減速管のゲート弁側
の端部に、ゲート弁の開閉空間を挟んで相対向する鍔状
電極をそれぞれ設けたことを特徴としている。
【0013】上記構成によれば、互いに同電位にされ
る、即ち同じ負の高電圧が印加される筒状電極および減
速管によって、イオンビームの輸送経路全体の容器を一
定の負の高電圧に保つことができる。この場合、筒状電
極と減速管との間には、ゲート弁の開閉空間が存在する
が、筒状電極と減速管にこの開閉空間を挟んで相対向す
る鍔状電極をそれぞれ設けているので、この開閉空間で
の電位の盛り上がりを小さく抑制することができる。そ
の結果、あたかも連続した容器の中を通すのと同様に、
イオンビームを等電位空間を通して輸送することができ
るので、イオンビームの発散を抑制してイオンビームを
基板へ効率良く輸送することができる。
【0014】しかも上記構成によれば、上流側真空筒、
ゲート弁、下流側真空筒および処理室を接地しており、
負の高電圧にされる筒状電極および減速管はこれらの内
部に設けられていて外に露出していないので、従来例で
必要だった接続用の絶縁碍子および安全カバーが不要に
なる。その結果、装置全体の小型化および低コスト化を
図ることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は、この発明に係るイオンビ
ーム照射装置の一例をイオンビーム経路の電位分布と共
に示す概略図である。図2は、図1の装置のゲート弁周
りの拡大断面図である。図5および図6の従来例と同一
または相当する部分には同一符号を付し、以下において
は当該従来例との相違点を主に説明する。
【0016】この実施例においては、前述した上流側真
空筒8、ゲート弁10、下流側真空筒14および処理室
20を、互いに電気的に接続すると共に接地している。
【0017】下流側真空筒14内には、前述した減速管
18を、ゲート弁10の開閉空間13のすぐ下流側近傍
から処理室20内の基板22付近にかけて設けている。
この減速管18は、この例では支持用の絶縁碍子34で
下流側真空筒14から支持して、ゲート弁10、下流側
真空筒14および処理室20から電気的に絶縁してい
る。この減速管18には、下流側真空筒14に設けた電
流導入端子38および高圧ケーブル39を経由して、前
述した負の高電圧−V2 が印加される。この電流導入端
子38および高圧ケーブル39は、いずれも同軸形であ
ることが好ましい。
【0018】上流側真空筒8内には、イオン源2付近
(より具体的にはこの例では、イオン源2の出口付近に
設けた前記絶縁碍子6の下流側端近傍)からゲート弁1
0の開閉空間13のすぐ上流側近傍にかけて、筒状電極
30を設けている。この筒状電極30は、この例では、
減速管18とほぼ同じ直径(より具体的には内径)の円
筒状をしている。この筒状電極30は、この例では支持
用の絶縁碍子32で上流側真空筒8から支持して、上流
側真空筒8およびゲート弁10から電気的に絶縁してい
る。この筒状電極30は、減速管18と同電位にされ
る。即ちこの例ではこの筒状電極30には、上流側真空
筒8に設けた電流導入端子36および高圧ケーブル39
を経由して、前述した負の高電圧−V2 が印加される。
この電流導入端子36および高圧ケーブル39は、いず
れも同軸形であることが好ましい。
【0019】更に、この筒状電極30および減速管18
のゲート弁10側の端部に、ゲート弁10の開閉空間1
3を挟んで相対向する円環状の鍔状電極30aおよび1
8aをそれぞれ設けている。両鍔状電極30a、18a
間の距離は、それらと閉じた弁体12との間で上記高電
圧−V2 に耐える絶縁を確保することができる距離とし
ている。従って、高電圧−V2 の印加中にもゲート弁1
0(より具体的にはその弁体12)の開閉は可能であ
る。
【0020】このイオンビーム照射装置によれば、互い
に同電位にされる、即ち同じ負の高電圧−V2 が印加さ
れる筒状電極30および減速管18によって、図1中の
電位分布に示すように、イオンビーム4の輸送経路全体
の容器を一定の負の高電圧−V2 に保つことができる。
この場合、筒状電極30と減速管18との間には、ゲー
ト弁10の開閉空間13が存在し、これが唯一、イオン
ビーム4の輸送経路の電位を不均一にする原因になる
が、この実施例では筒状電極30と減速管18とにこの
開閉空間13を挟んで相対向する鍔状電極30a、18
aをそれぞれ設けているので、この開閉空間13での電
位の盛り上がりを小さく抑制することができる。
【0021】これを詳述すると、仮に鍔状電極30aお
よび18aを設けないと、図4に示すように、開閉空間
13への等電位面40の入り込みが大きくて開閉空間1
3での電位の盛り上がりがC部のように大きくなってそ
こでイオンビーム4が大きく発散するけれども、この実
施例のように鍔状電極30aおよび18aを設けておく
と、図3に示すように、この鍔状電極30aおよび18
aによって開閉空間13への等電位面40の入り込みを
小さく抑制することができるので、開閉空間13での電
位の盛り上がりはB部のように小さくなる。その結果、
あたかも連続した容器の中を通すのと同様に、イオンビ
ーム4を等電位空間を通して輸送することができるの
で、イオンビーム4の発散を抑制してイオンビーム4を
基板22へ効率良く輸送することができる。
【0022】それだけでなく、上記開閉空間13にでき
るわずかな電位の盛り上がりが静電レンズの作用をし
て、図3に示すように、イオンビーム4に対して軽い集
束作用が働き、空間電荷効果によって発散しがちなイオ
ンビーム4を軽く集束させることができるので、減速管
18中のイオンビーム4の透過率(輸送効率)が向上
し、ひいては基板22に照射するビーム量を増大させる
ことが可能になる。計算によれば、上記静電レンズ作用
によって、例えば電圧−V2 が−15kVの場合、減速
管18中のイオンビーム4の透過率を30%程度向上さ
せることが可能になる。
【0023】しかもこのイオンビーム照射装置によれ
ば、上流側真空筒8、ゲート弁10、下流側真空筒14
および処理室20の全てを接地しており、負の高電圧に
される筒状電極30および減速管18はこれらの内部に
設けられていて外に露出していないので、従来例で必要
だった接続用の絶縁碍子16、24および安全カバー2
8は一切不要になる。その結果、装置全体の小型化およ
び低コスト化を図ることができる。
【0024】これを詳述すると、従来例で必要だった安
全カバー28が不要になることにより、装置の軸に直交
する方向(即ちゲート弁10の矢印Aに示す開閉方向)
の寸法を従来例に比べて約1/2に短縮することができ
る。また、従来例で必要だった接続用の絶縁碍子16が
不要になることにより、少なくともこの絶縁碍子16の
分だけ、装置の軸方向の寸法を従来例に比べて短縮する
ことができる。これによって、従来例に比べて装置全体
を小型化することができる。
【0025】また、この実施例では筒状電極30および
減速管18の支持用に絶縁碍子32および34を用いて
いるけれども、これらは単に真空筒8または14内で筒
状電極30または減速管18を支持するだけで良く、従
来例の接続用の絶縁碍子16および24のように真空シ
ール機能は必要ないので、小型かつ単純な構造で済み、
従来例の絶縁碍子16および24に比べて遙かに安価に
なる。また、安全カバー28が不要になるのでそのぶん
も安価になる。従って、筒状電極30および絶縁碍子3
2、34を設けるとしても、装置全体で見れば、従来例
に比べて低コスト化を図ることができる。
【0026】また、上述したように負の高電圧にされる
筒状電極30および減速管18は接地電位の上流側真空
筒8、ゲート弁10、下流側真空筒14および処理室2
0内に設けられていて外に全く露出していないので、作
業者や落下物等が誤って高電圧部に接触する恐れは全く
ないと言って良く、従って従来例のように安全カバー2
8で囲む場合に比べて安全性も高い。
【0027】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、上流側
真空筒内および下流側真空筒内に設けた、鍔状電極をそ
れぞれ有する筒状電極および減速管によって、イオンビ
ームを負の高電圧になった等電位空間を通して輸送する
ことができるので、輸送途中でのイオンビームの発散を
抑制してイオンビームを基板へ効率良く輸送することが
できる。しかも、ゲート弁の開閉空間にできるわずかな
電位の盛り上がりによる静電レンズ作用によってイオン
ビームを適度に集束させることができるので、イオンビ
ームの基板への輸送効率をより高めることができる。
【0028】更に、上流側真空筒、ゲート弁、下流側真
空筒および処理室を接地しており、負の高電圧にされる
筒状電極および減速管はこれらの内部に設けられていて
外に露出していないので、従来例で必要だった接続用の
絶縁碍子および安全カバーが不要になり、従って装置全
体の小型化および低コスト化を図ることができる。
【0029】また、負の高電圧にされる筒状電極および
減速管は上流側真空筒および下流側真空筒等の内部に設
けられていて外に全く露出していないので、従来例のよ
うに安全カバーで囲む場合に比べて安全性も高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係るイオンビーム照射装置の一例を
イオンビーム経路の電位分布と共に示す概略図である。
【図2】図1の装置のゲート弁周りの拡大断面図であ
る。
【図3】図1の装置のゲート弁部分の電位分布の概略例
を示す図である。
【図4】鍔状電極を設けない場合のゲート弁部分の電位
分布の概略例を示す図である。
【図5】従来のイオンビーム照射装置の一例をイオンビ
ーム経路の電位分布と共に示す概略図である。
【図6】図5の装置のゲート弁周りの拡大断面図であ
る。
【符号の説明】
2 イオン源 4 イオンビーム 8 上流側真空筒 10 ゲート弁 13 開閉空間 14 下流側真空筒 18 減速管 18a 鍔状電極 20 処理室 22 基板 30 筒状電極 30a 鍔状電極

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 イオン源から引き出したイオンビーム
    を、イオン源とゲート弁間をつなぐ上流側真空筒内、ゲ
    ート弁およびゲート弁と処理室間をつなぐ下流側真空筒
    内を経て処理室内へ導入して処理室内の基板に照射する
    装置であって、下流側真空筒内から処理室内にかけて設
    けられていて負の高電圧が印加される減速管を有するイ
    オンビーム照射装置において、前記上流側真空筒、ゲー
    ト弁、下流側真空筒および処理室を電気的に接地し、前
    記減速管をゲート弁、下流側真空筒および処理室から電
    気的に絶縁し、前記上流側真空筒内に前記減速管と同電
    位にされる筒状電極を上流側真空筒およびゲート弁から
    電気的に絶縁して設け、かつこの筒状電極および前記減
    速管のゲート弁側の端部に、ゲート弁の開閉空間を挟ん
    で相対向する鍔状電極をそれぞれ設けたことを特徴とす
    るイオンビーム照射装置。
JP9296186A 1997-10-13 1997-10-13 イオンビーム照射装置 Pending JPH11120949A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107230608A (zh) * 2016-03-25 2017-10-03 芝浦机械电子装置株式会社 等离子体处理装置
US20220359184A1 (en) * 2021-05-06 2022-11-10 Nissin Ion Equipment Co., Ltd. Ion beam irradiation apparatus

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CN107230608B (zh) * 2016-03-25 2019-06-21 芝浦机械电子装置株式会社 等离子体处理装置
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