JPH11118829A - Attachment for inspection of printed circuit board - Google Patents

Attachment for inspection of printed circuit board

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Publication number
JPH11118829A
JPH11118829A JP9280402A JP28040297A JPH11118829A JP H11118829 A JPH11118829 A JP H11118829A JP 9280402 A JP9280402 A JP 9280402A JP 28040297 A JP28040297 A JP 28040297A JP H11118829 A JPH11118829 A JP H11118829A
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JP
Japan
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electrodes
mat
circuit board
printed circuit
electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP9280402A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroaki Ono
弘明 尾野
Masanori Hirano
正憲 平野
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Linear Circuit KK
Original Assignee
Linear Circuit KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Linear Circuit KK filed Critical Linear Circuit KK
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Publication of JPH11118829A publication Critical patent/JPH11118829A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently inspect a printed circuit board B in a short time. SOLUTION: An elastic mat 11, first electrodes 21, 21,... installed on the rear surface side of the mat 11, and second electrodes 22, 22,... installed on the front surface of the mat 11 are combined with each other. The first electrodes 21, 21,... are connected individually to the second ones 22, 22,... through conductor parts 23, 23,... in the mat 11, and the mat 11 is fitted closely to the pattern surface of a printed circuit board B so as to bring the electrodes 21, 21,... in contact with it. Thus the printed circuit board B can be electrically inspected through the second electrodes 22, 22,....

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、プリント基板を
効率よく自動検査するために使用するプリント基板の検
査用アタッチメントに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board inspection attachment used for efficiently and automatically inspecting a printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント基板のパターン面は、一対のコ
ンタクトプローブを使用して自動検査することができ
る。
2. Description of the Related Art The pattern surface of a printed circuit board can be automatically inspected using a pair of contact probes.

【0003】コンタクトプローブは、スリーブに接触ピ
ンを摺動自在に組み込んで構成されており、接触ピン
は、スリーブ内のばねを介して先端側に付勢されてい
る。なお、スリーブからは、出力用のリード線が引き出
されている。そこで、このものは、プリント基板のパタ
ーン面に対向させ、所定の検査位置にまで移動させて接
触ピンをパターン面に接触させ、コンタクトプローブ間
の電気抵抗を測定することにより、プリント基板のパタ
ーンの良否を検査することができる。なお、コンタクト
プローブは、プリント基板のパターン面のすべてのパタ
ーンについて検査するために、接触位置を順次変えなが
ら、パターン面の全域を検査するものとする。
A contact probe is constructed by slidably incorporating a contact pin into a sleeve, and the contact pin is urged toward the distal end via a spring in the sleeve. Note that an output lead wire is drawn out of the sleeve. Therefore, this is to face the pattern surface of the printed circuit board, move it to a predetermined inspection position, contact the contact pin with the pattern surface, and measure the electrical resistance between the contact probes, to obtain the pattern of the printed circuit board. The quality can be checked. In order to inspect all the patterns on the pattern surface of the printed circuit board, the contact probe inspects the entire area of the pattern surface while sequentially changing the contact position.

【0004】また、プリント基板のパターン面のすべて
の検査位置に接触する多数のコンタクトプローブをピン
ボードに搭載し、プリント基板にピンボードを重ね合わ
せることにより、プリント基板のパターン面の全域を一
挙に検査することも可能である。
Further, a large number of contact probes which come into contact with all inspection positions on the pattern surface of the printed board are mounted on the pin board, and the pin board is overlaid on the printed board, so that the entire area of the pattern surface of the printed board can be seen at once. Inspection is also possible.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】かかる従来技術の前者
によるときは、コンタクトプローブは、プリント基板の
パターン面を順次移動させなければならず、検査時間が
過大になるという問題があった。また、後者によるとき
は、プリント基板ごとにピンボードを作成する必要があ
る上、プリント基板が大形になると、使用するコンタク
トプローブの数が多くなり、コンタクトプローブの接触
不良が発生し易いという問題がある。また、コンタクト
プローブは、それ自体が機械的な可動部分を有するた
め、耐久性に乏しく、初期性能を維持することが難しい
という問題があった。
According to the former technique of the prior art, the contact probe must sequentially move the pattern surface of the printed circuit board, and there is a problem that the inspection time becomes excessively long. In the latter case, it is necessary to create a pin board for each printed circuit board. In addition, when the size of the printed circuit board is large, the number of contact probes to be used increases, and a contact failure of the contact probes tends to occur. There is. Further, since the contact probe itself has a mechanically movable part, there is a problem that durability is poor and it is difficult to maintain initial performance.

【0006】そこで、この発明の目的は、かかる従来技
術の問題に鑑み、弾性を有するマットに第1、第2の電
極を設けることによって、信頼性が高い検査結果を短時
間内に得ることができ、大形のプリント基板にも好適に
使用することができるプリント基板の検査用アタッチメ
ントを提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a highly reliable inspection result in a short time by providing first and second electrodes on an elastic mat in view of the problems of the prior art. It is an object of the present invention to provide a printed circuit board inspection attachment which can be suitably used for a large-sized printed circuit board.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めのこの発明の構成は、弾性を有するマットと、マット
の裏面側に設ける第1の電極と、マットの表面側に設け
る第2の電極とを備えてなり、第1、第2の電極は、マ
ット内の導電部を介して個別に接続することをその要旨
とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides an elastic mat, a first electrode provided on the back side of the mat, and a second electrode provided on the front side of the mat. The gist is that the first and second electrodes are individually connected via a conductive portion in the mat.

【0008】なお、第2の電極は、第1の電極の配列ピ
ッチを拡大して配列することができる。
The second electrodes can be arranged by increasing the arrangement pitch of the first electrodes.

【0009】また、第2の電極は、マトリクス回路素子
を介して選択することができ、マトリクス回路素子の端
子配列に合わせて配列することができる。
The second electrode can be selected via a matrix circuit element, and can be arranged in accordance with the terminal arrangement of the matrix circuit element.

【0010】また、マトリクス回路素子は、マットに組
み合わせる副電極付きの支持基板に搭載することができ
る。
Further, the matrix circuit element can be mounted on a support substrate having sub-electrodes to be combined with a mat.

【0011】[0011]

【作用】かかる発明の構成によるときは、弾性を有する
マットは、プリント基板のパターン面に密着させること
により、裏面側の第1の電極がパターン面に接触し、電
気的に表面側の第2の電極にまで延長させることができ
る。そこで、第2の電極の任意の一対を順次選択し、そ
の間の電気抵抗を測定することにより、プリント基板の
良否を検査することができる。
According to the structure of the present invention, the mat having elasticity is brought into close contact with the pattern surface of the printed circuit board so that the first electrode on the back surface comes into contact with the pattern surface and the second electrode on the front surface is electrically connected. Electrode. Therefore, the quality of the printed circuit board can be inspected by sequentially selecting an arbitrary pair of the second electrodes and measuring the electric resistance therebetween.

【0012】第1の電極の配列ピッチを拡大して第2の
電極を配列するときは、第2の電極は、第1の電極がプ
リント基板のパターンを峻別し得る微細な配列ピッチに
配列されていても、それを拡大することにより、測定用
の外部配線やICチップ等を容易に接続することができ
る。
When the second electrodes are arranged by increasing the arrangement pitch of the first electrodes, the second electrodes are arranged at a fine arrangement pitch at which the first electrodes can distinguish the pattern of the printed circuit board. However, by expanding it, it is possible to easily connect external wiring for measurement, an IC chip, and the like.

【0013】マトリクス回路素子を介して第2の電極を
選択するときは、マトリクス回路素子は、第2の電極か
ら外部配線を個別に引き出すに代えて、アドレス信号に
よって指定される特定の第2の電極を電気的に外部に引
き出し、必要な外部配線の数を極めて少なくすることが
できる。なお、マトリクス回路素子とは、アドレス信号
を入力すると、複数行、複数列の第2の電極の中からア
ドレス信号によって特定されるもののみを選出して外部
に引き出すことができるIC素子をいう。
When the second electrode is selected via the matrix circuit element, the matrix circuit element does not individually pull out the external wiring from the second electrode, but selects a specific second electrode specified by an address signal. The electrodes are electrically drawn out to the outside, and the number of necessary external wirings can be extremely reduced. Note that a matrix circuit element refers to an IC element which can receive only an element specified by an address signal from a plurality of rows and columns of second electrodes and can be extracted to the outside when an address signal is input.

【0014】マトリクス回路素子の端子配列に合わせて
第2の電極を配列すれば、マトリクス回路素子と第2の
電極との間に格別な寸法調整要素を組み込む必要がな
い。
If the second electrodes are arranged in accordance with the terminal arrangement of the matrix circuit element, it is not necessary to incorporate a special dimension adjusting element between the matrix circuit element and the second electrode.

【0015】副電極付きの支持基板にマトリクス回路素
子を搭載するときは、支持基板は、マットを機械的に補
強してそれを平板状に維持する一方、マトリクス回路素
子は、副電極を介して第2の電極に簡単に接続すること
ができる。
When the matrix circuit element is mounted on a support substrate with sub-electrodes, the support substrate mechanically reinforces the mat and maintains it in a plate shape, while the matrix circuit element is connected via the sub-electrode. It can be easily connected to the second electrode.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、図面を以って発明の実施の
形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0017】プリント基板の検査用アタッチメントは、
弾性を有するマット11と、マット11の裏面側に設け
る第1の電極21、21…と、マット11の表面側に設
ける第2の電極22、22…とを備えてなる(図1、図
2)。ただし、マット11には、支持基板31が組み合
わされている。
The inspection attachment for the printed circuit board is
Are provided with a mat 11 having elasticity, first electrodes 21 provided on the back side of the mat 11, and second electrodes 22 provided on the front side of the mat 11 (FIGS. 1 and 2). ). However, the support substrate 31 is combined with the mat 11.

【0018】マット11は、弾性を有する絶縁性のゴム
材やプラスチック樹脂材等により板状に形成されてい
る。第1の電極21、21…は、マット11の裏面中央
部において、検査対象となるプリント基板Bのパターン
P、P間の最小絶縁間隙Wより十分に小さい配列ピッチ
d1 により、格子状に配列されている。なお、第1の電
極21、21…は、導電性のゴム材から形成されてお
り、先端は、ドーム状に形成してマット11の裏面側に
突出している。
The mat 11 is formed in a plate shape from an elastic rubber material or plastic resin material having elasticity. Are arranged in a lattice pattern at the center of the back surface of the mat 11 at an arrangement pitch d1 that is sufficiently smaller than the minimum insulating gap W between the patterns P of the printed circuit board B to be inspected. ing. The first electrodes 21, 21... Are formed from a conductive rubber material, and the tips are formed in a dome shape and protrude toward the back surface of the mat 11.

【0019】第2の電極22、22…は、それぞれ第1
の電極21と同様な導電性のゴム材から形成されてい
る。第2の電極22、22…は、マット11の表面側に
ドーム状の先端を突出させ、マット11内の導電部2
3、23…を介して個別に第1の電極21、21…に接
続されている。すなわち、第2の電極22、22…は、
第1の電極21、21…に対し、電気的に個別に対応し
ている。なお、各導電部23は、第1、第2の電極2
1、22と一体の導電性のゴム材としてもよく、マット
11に埋設する導電性の線材としてもよい。第2の電極
22、22…は、第1の電極21、21…の配列ピッチ
d1 を拡大し、配列ピッチd2 (d2 >d1 )に配列さ
れている。ただし、第2の電極22、22…は、マット
11の表面側外縁部において、所定行、所定列のブロッ
クAごとに区切って配列されている(図3、図4)。
Each of the second electrodes 22, 22...
Is formed of the same conductive rubber material as the electrode 21. The second electrodes 22, 22,... Have a dome-shaped tip protruding toward the surface of the mat 11 so that the conductive portions 2
Are individually connected to the first electrodes 21, 21,. That is, the second electrodes 22, 22,.
The first electrodes 21, 21... Electrically correspond individually. In addition, each conductive part 23 includes the first and second electrodes 2.
It may be a conductive rubber material integrated with the first and second wires 22, or a conductive wire embedded in the mat 11. The second electrodes 22, 22,... Are arranged at an arrangement pitch d2 (d2> d1) by enlarging the arrangement pitch d1 of the first electrodes 21, 21,. However, the second electrodes 22, 22,... Are arranged on the outer edge of the front surface side of the mat 11 by being divided into blocks A of a predetermined row and a predetermined column (FIGS. 3 and 4).

【0020】支持基板31は、マット11より大形に形
成されている(図1、図3)。また、支持基板31に
は、マット11を保持する支持材34が裏面側に付設さ
れており、支持材34の中央部は、第1の電極21、2
1…を外部に露出させるために大きく開口されている。
The support substrate 31 is formed larger than the mat 11 (FIGS. 1 and 3). A support member 34 for holding the mat 11 is attached to the back side of the support substrate 31. The center of the support member 34 is connected to the first electrodes 21 and 2,
.. Are exposed to the outside.

【0021】支持基板31は、中央部に吸引用の透孔3
1a、31a…を有する多層基板である。また、支持基
板31には、マット11上の第2の電極22、22…に
よるブロックA、A…に対応するようにして、マトリク
ス回路素子35、35…が搭載されている。各マトリク
ス回路素子35は、各ブロックA内の第2の電極22、
22…に対応する端子35a、35a…を有するととも
に、信号入出力用の端子35b、35b…が形成されて
いる。ただし、図1には、1個の端子35bのみが図示
されている。
The supporting substrate 31 has a through hole 3 for suction at the center.
1a, 31a... Are mounted on the support substrate 31 so as to correspond to the blocks A, A,... Formed by the second electrodes 22, 22,. Each matrix circuit element 35 includes a second electrode 22 in each block A,
22 and terminals 35b, 35b... For signal input / output are formed. However, FIG. 1 shows only one terminal 35b.

【0022】支持基板31には、副電極32、32…、
補助電極33、33…が組み込まれている。なお、各副
電極32、補助電極33は、支持基板31を貫通するス
ルホールとして形成されている。副電極32、32…
は、マット11上の各ブロックA内の第2の電極22、
22…に対応するように配列されており、各ブロックA
内の第2の電極22、22…を対応するマトリクス回路
素子35の端子35a、35a…に接続することができ
る。すなわち、副電極32、32…、第2の電極22、
22…は、それぞれブロックAごとに、対応するマトリ
クス回路素子35の端子35a、35a…の端子配列に
合わせて配列されている。
The supporting substrate 31 has sub-electrodes 32, 32,.
Auxiliary electrodes 33, 33 ... are incorporated. The sub-electrode 32 and the auxiliary electrode 33 are formed as through holes penetrating the support substrate 31. The sub-electrodes 32, 32 ...
Are the second electrodes 22 in each block A on the mat 11,
22 are arranged so as to correspond to each block A.
Are connected to the corresponding terminals 35a of the matrix circuit element 35. That is, the sub-electrodes 32, 32,.
Are arranged in accordance with the terminal arrangement of the terminals 35a of the corresponding matrix circuit element 35 for each block A.

【0023】また、補助電極33、33…は、支持基板
31内の線路31b、31cを介し、各マトリクス回路
素子35の端子35b、35b…を入出力用の制御IC
素子36、36…に引き出すことができる。ただし、制
御IC素子36、36…は、支持基板31に搭載されて
おり、その入出力信号は、コネクタ37、37を介して
外部に引き出されている。
Are connected to terminals 35b, 35b of each matrix circuit element 35 through lines 31b, 31c in the support substrate 31.
Can be drawn out to the elements 36, 36. However, the control IC elements 36, 36... Are mounted on the support substrate 31, and their input / output signals are extracted to the outside via the connectors 37, 37.

【0024】各マトリクス回路素子35は、線路31
b、31c、補助電極33、33…、端子35b、35
b…を介し、制御IC素子36からのアドレス信号、出
力線路選択信号、リセット信号、記憶信号、チップ選択
信号等の制御入力信号が入力されると、アドレス信号に
よって特定される1〜2個の端子35a、35a、第2
の電極22、22を選択し、別の端子35b、35b、
補助電極33、33に引き出した上、線路31b、31
cを介して制御IC素子36に接続することができる。
ただし、各線路31b、31cは、図1に拘らず、すべ
てのマトリクス回路素子35、35…に必要な入出力信
号を与えるために、支持基板31内に所定本数が多層に
並列に配設されているものとする。
Each matrix circuit element 35 has a line 31
, 31c, auxiliary electrodes 33, 33 ..., terminals 35b, 35
When control input signals such as an address signal, an output line selection signal, a reset signal, a storage signal, and a chip selection signal from the control IC element 36 are input via the control IC element 36, one or two specified by the address signal are input. Terminals 35a, 35a, second
Of the electrodes 22 and 22 are connected to another terminal 35b, 35b,
After being drawn out to the auxiliary electrodes 33, 33, the lines 31b, 31
It can be connected to the control IC element 36 via c.
However, irrespective of FIG. 1, a predetermined number of the lines 31b and 31c are arranged in parallel in the support substrate 31 in order to give necessary input / output signals to all the matrix circuit elements 35. It is assumed that

【0025】そこで、各制御IC素子36は、コネクタ
37を介して与えられる制御信号に対応して、1個また
は2個のマトリクス回路素子35、35を介してマット
11上の任意の一対の第2の電極22、22を選択し、
その間の電気抵抗を測定した上、コネクタ37を介して
外部に結果を出力することができる。ただし、制御IC
素子36は、コネクタ37を介し、単に選択した第2の
電極22、22を外部に引き出し、外部の測定装置によ
って第2の電極22、22間の電気抵抗を測定するよう
にしてもよい。また、このとき測定するパラメータは、
第2の電極22、22に対応する第1の電極21、21
間のパターンPの良否を判定し得るものであれば、電気
抵抗以外の任意の電気パラメータに設定してもよい。
Therefore, each control IC element 36 is connected to an arbitrary pair of first and second mats 11 on the mat 11 through one or two matrix circuit elements 35, 35 in response to a control signal supplied through the connector 37. Select two electrodes 22, 22,
After measuring the electric resistance during that time, the result can be output to the outside via the connector 37. However, the control IC
The element 36 may simply pull out the selected second electrodes 22 and 22 to the outside via the connector 37 and measure the electrical resistance between the second electrodes 22 and 22 using an external measuring device. The parameters measured at this time are:
First electrodes 21, 21 corresponding to the second electrodes 22, 22
Any electrical parameter other than the electrical resistance may be set as long as it can determine the quality of the pattern P between them.

【0026】かかるプリント基板の検査用アタッチメン
トは、検査装置40に組み込んで使用する(図5)。検
査装置40は、上下のフレーム41、42と、フレーム
41、42の間に昇降自在に配設する一対の移動フレー
ム43、44と、移動フレーム43、44の間に配設す
る固定フレーム45とを組み合わせて構成されている。
The printed circuit board inspection attachment is used by being incorporated into an inspection apparatus 40 (FIG. 5). The inspection device 40 includes upper and lower frames 41 and 42, a pair of moving frames 43 and 44 disposed between the frames 41 and 42 so as to be able to move up and down, and a fixed frame 45 disposed between the moving frames 43 and 44. Are combined.

【0027】下部のフレーム41の4隅部には、上部の
フレーム42を支持し、移動フレーム43、44の各隅
角部を摺動自在に貫通する支柱41a、41a…が立設
されている。下部の移動フレーム43は、下部のフレー
ム41に立設するシリンダ43a、43a…に連結され
ており、中央部において、支持基板31を介してマット
11を上向きに支持している。また、上部の移動フレー
ム44は、上部のフレーム42から垂設するシリンダ4
4a、44a…に連結されており、中央部において、支
持基板31を介してマット11を下向きに支持してい
る。なお、上下のフレーム41、42には、それぞれシ
リンダ46aを介して吸引ユニット46が昇降可能に付
設されており、各吸引ユニット46には、吸引ホース4
6bが接続されている。ただし、図5には、一方の吸引
ユニット46のみが図示されている。なお、各支持基板
31には、図示しない検査システムからの接続ケーブル
C、C…がソケット37、37…に接続されている。
At the four corners of the lower frame 41, columns 41a, 41a,... That support the upper frame 42 and slidably penetrate the corners of the moving frames 43, 44 are erected. . The lower moving frame 43 is connected to cylinders 43a, 43a,... Erected on the lower frame 41, and supports the mat 11 upward through the support substrate 31 at the center. In addition, the upper moving frame 44 is provided with a cylinder 4 that is suspended from the upper frame 42.
4a, 44a,..., And supports the mat 11 downward at the center via a support substrate 31. In addition, a suction unit 46 is attached to the upper and lower frames 41 and 42 via a cylinder 46 a so as to be able to move up and down.
6b is connected. However, only one suction unit 46 is shown in FIG. Note that connection cables C, C,... From an inspection system (not shown) are connected to the sockets 37, 37,.

【0028】固定フレーム45は、枠状に形成して支柱
41a、41a…の中間部に固定されている。固定フレ
ーム45は、先端に適当な支持材を有する支持片45
a、45aと、支持片45a、45aに対向するねじ軸
45c、45cとを介し、検査対象となるプリント基板
Bを着脱可能に保持することができる。なお、各ねじ軸
45cには、駆動用のモータ45dが付設されている。
The fixed frame 45 is formed in a frame shape and is fixed to an intermediate portion of the columns 41a. The fixed frame 45 includes a support piece 45 having a suitable support material at the tip.
The printed circuit board B to be inspected can be detachably held via the a and 45a and the screw shafts 45c and 45c facing the support pieces 45a and 45a. A drive motor 45d is attached to each screw shaft 45c.

【0029】固定フレーム45にプリント基板Bをセッ
トすると、移動フレーム43、44は、それぞれシリン
ダ43a、43a…、シリンダ44a、44a…を介し
て固定フレーム45に向けて接近し(図5の矢印K1 、
K2 方向)、したがって、上下のマット11、11は、
プリント基板Bを上下に挟み込み、プリント基板Bに密
着することができる。
When the printed circuit board B is set on the fixed frame 45, the moving frames 43, 44 approach the fixed frame 45 via the cylinders 43a, 43a,..., Cylinders 44a, 44a, respectively (arrow K1 in FIG. 5). ,
K2 direction) Therefore, the upper and lower mats 11, 11
The printed board B can be sandwiched between the upper and lower sides and can be in close contact with the printed board B.

【0030】このとき、吸引ユニット46、46は、そ
れぞれシリンダ46aを介して支持基板31とともに移
動し、透孔31a、31a…を介してマット11の中央
部を支持基板31側に吸引してマット11を平面に保持
することができる。よって、各マット11は、プリント
基板Bの表裏のパターン面に第1の電極21、21…を
接触させることができる。そこで、各制御IC素子36
は、マトリクス回路素子35、35…を介して任意の一
対の第2の電極22、22を順次選択することにより、
プリント基板B上の任意の2点に接触する第1の電極2
1、21を選択し、その間の電気抵抗を順次測定してプ
リント基板Bの良否を判別することができる。その後、
検査装置40は、移動フレーム43、44を元の位置に
退避させ、プリント基板Bを固定フレーム45から取り
外せばよい。
At this time, the suction units 46, 46 move together with the support substrate 31 through the cylinders 46a, respectively, and suck the center of the mat 11 toward the support substrate 31 through the through holes 31a, 31a. 11 can be held flat. Therefore, each mat 11 can make the first electrodes 21, 21... Contact the pattern surfaces on the front and back surfaces of the printed circuit board B. Therefore, each control IC element 36
Is selected by sequentially selecting an arbitrary pair of second electrodes 22, 22 via the matrix circuit elements 35, 35,.
First electrode 2 contacting any two points on printed circuit board B
1, 21 is selected, and the electrical resistance between them is sequentially measured, so that the quality of the printed circuit board B can be determined. afterwards,
The inspection device 40 may retract the moving frames 43 and 44 to their original positions, and remove the printed circuit board B from the fixed frame 45.

【0031】以上の説明において、検査装置40は、マ
ット11、11、プリント基板Bを垂直に保持し、マッ
ト11、11を水平移動させてプリント基板Bに密着さ
せてもよく、一方のマット11を固定し、プリント基板
Bとともに他方のマット11を移動させてもよい。ま
た、検査装置40は、移動フレーム43、44の一方を
省略し、プリント基板Bを片面側ずつ検査してもよい。
In the above description, the inspection apparatus 40 may hold the mats 11 and 11 and the printed board B vertically, move the mats 11 and 11 horizontally, and bring the mats 11 and 11 into close contact with the printed board B. May be fixed, and the other mat 11 may be moved together with the printed circuit board B. Further, the inspection device 40 may omit one of the moving frames 43 and 44 and inspect the printed circuit board B one side at a time.

【0032】マトリクス回路素子35の端子35a、3
5a…の配列ピッチが十分に小さく設定されていると
き、第1、第2の電極21、21…、22、22…は、
同一の配列ピッチd1 =d2 にすることができる。ま
た、第2の電極22、22…を区切るブロックA、A…
は、各マトリクス回路素子35が処理し得る第2の電極
22、22…の数によって、その大きさを定めればよ
い。
The terminals 35a and 3 of the matrix circuit element 35
When the arrangement pitch of 5a... Is set sufficiently small, the first and second electrodes 21, 21,.
The same arrangement pitch d1 = d2 can be obtained. Also, blocks A, A,... That separate the second electrodes 22, 22,.
Can be determined according to the number of the second electrodes 22, 22,... That each matrix circuit element 35 can process.

【0033】[0033]

【他の実施の形態】各第1の電極21は、先端部の表面
を粗面に形成してもよい(図6)。第1の電極21は、
単位面積当りの接触圧力を大きくしてプリント基板Bに
対する接触性を向上させることができる。
[Other Embodiments] Each first electrode 21 may have a rough surface at the tip (FIG. 6). The first electrode 21
By increasing the contact pressure per unit area, it is possible to improve the contact with the printed circuit board B.

【0034】副電極32、32…は、第2の電極22、
22…に個別に連結してもよい(図7)。各副電極32
は、第2の電極22に下部を埋め込んで抜け止めされて
おり、上端は、支持基板31の表面側においてハンダ付
けされている。また、各第2の電極22は、先端を平面
に形成してマット11の表面と同一平面を形成してい
る。そこで、支持基板31は、副電極32、32…、第
2の電極22、22…を介してマット11の表面に密着
させ、マット11を保持することができる。
The sub-electrodes 32, 32,...
22 may be individually connected (FIG. 7). Each sub electrode 32
Are embedded in the lower part of the second electrode 22 and are prevented from falling off, and the upper end is soldered on the surface side of the support substrate 31. Each of the second electrodes 22 has a flat front end, and forms the same plane as the surface of the mat 11. Therefore, the support substrate 31 can be held in close contact with the surface of the mat 11 via the sub-electrodes 32, 32,..., The second electrodes 22, 22,.

【0035】副電極32、32…は、支持基板31の裏
面側に形成して第2の電極22、22…に接続させ(図
8(A))、各第2の電極23は、先端面を粗面に形成
してもよい(同図(B))。各副電極32は、導電性の
接着剤Sを介して第2の電極22に接着することによ
り、マット11、支持基板31を一体に連結することが
できる。
Are formed on the back side of the support substrate 31 and are connected to the second electrodes 22, 22 (FIG. 8A). May be formed on a rough surface (FIG. 2B). Each sub-electrode 32 can integrally connect the mat 11 and the support substrate 31 by adhering to the second electrode 22 via a conductive adhesive S.

【0036】支持基板31は、弾性変形可能な樹脂材等
から形成し、中央部を裏面側に膨出させてもよい(図
9)。ただし、同図(B)、(C)は、それぞれ同図
(A)のX1 −X1 線、X2 −X2 線矢視相当の断面説
明図である。支持基板31は、マット11と一体に連結
することにより、マット11の中央部を裏面側に膨出さ
せる。そこで、支持基板31は、マット11を図示しな
いプリント基板に密着させることにより平板状に変形し
(同図の二点鎖線)、マット11をプリント基板に確実
に密着させることができる。
The support substrate 31 may be made of an elastically deformable resin material or the like, and the central portion may be bulged to the back side (FIG. 9). However, FIGS. 6B and 6C are cross-sectional explanatory views corresponding to the lines X1-X1 and X2-X2 in FIG. The support substrate 31 is integrally connected to the mat 11 so that the central portion of the mat 11 bulges to the back side. Therefore, the support substrate 31 is deformed into a flat plate shape by bringing the mat 11 into close contact with a printed board (not shown) (two-dot chain line in the figure), and the mat 11 can be firmly brought into contact with the printed board.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、弾性を有するマットに対し、導電部を介して個別に
接続する第1、第2の電極を設けることによって、マッ
トは、プリント基板に密着させることにより、プリント
基板のパターン面に第1の電極を接触させることがで
き、導電部を介して引き出される第2の電極の任意の一
対を選択してその間の電気抵抗を測定し、プリント基板
の良否を検査することができるから、信頼性が高い検査
結果を短時間内に得ることができ、接触不良がなく、大
形のプリント基板にも好適に使用することができるとい
う優れた効果がある。
As described above, according to the present invention, the mat is provided with the first and second electrodes which are individually connected to the elastic mat via the conductive portions, so that the mat can be printed on the printed circuit board. The first electrode can be brought into contact with the pattern surface of the printed circuit board by being brought into close contact with, and any pair of the second electrodes pulled out through the conductive portion is selected, and the electric resistance between them is measured. Since the quality of the printed circuit board can be inspected, a highly reliable inspection result can be obtained within a short time, there is no contact failure, and it can be suitably used for a large-sized printed circuit board. effective.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 要部拡大断面説明図FIG. 1 is an enlarged sectional explanatory view of a main part.

【図2】 図1の要部拡大断面図FIG. 2 is an enlarged sectional view of a main part of FIG. 1;

【図3】 全体構成斜視図FIG. 3 is a perspective view of the entire configuration.

【図4】 図3の要部拡大平面図FIG. 4 is an enlarged plan view of a main part of FIG. 3;

【図5】 使用状態説明図FIG. 5 is an explanatory view of a use state.

【図6】 他の実施の形態を示す要部拡大断面図(1)FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a main part showing another embodiment (1).

【図7】 他の実施の形態を示す要部拡大断面図(2)FIG. 7 is an enlarged sectional view of a main part showing another embodiment (2).

【図8】 他の実施の形態を示す要部拡大断面図(3)FIG. 8 is an enlarged sectional view of a main part showing another embodiment (3).

【図9】 他の実施の形態を示す構成説明図FIG. 9 is a configuration explanatory view showing another embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

B…プリント基板 d1 、d2 …配列ピッチ 11…マット 21…第1の電極 22…第2の電極 23…導電部 31…支持基板 32…副電極 35…マトリクス回路素子 B: printed circuit board d1, d2: arrangement pitch 11: mat 21: first electrode 22: second electrode 23: conductive part 31: support substrate 32: sub-electrode 35: matrix circuit element

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 弾性を有するマットと、該マットの裏面
側に設ける第1の電極と、前記マットの表面側に設ける
第2の電極とを備えてなり、前記第1、第2の電極は、
前記マット内の導電部を介して個別に接続することを特
徴とするプリント基板の検査用アタッチメント。
1. A mat having elasticity, a first electrode provided on a back side of the mat, and a second electrode provided on a front side of the mat, wherein the first and second electrodes are ,
An inspection attachment for a printed circuit board, which is individually connected via a conductive portion in the mat.
【請求項2】 前記第2の電極は、前記第1の電極の配
列ピッチを拡大して配列することを特徴とする請求項1
記載のプリント基板の検査用アタッチメント。
2. The method according to claim 1, wherein the second electrodes are arranged by increasing an arrangement pitch of the first electrodes.
Attachment for printed circuit board inspection as described.
【請求項3】 前記第2の電極は、マトリクス回路素子
を介して選択することを特徴とする請求項1または請求
項2記載のプリント基板の検査用アタッチメント。
3. The printed circuit board inspection attachment according to claim 1, wherein the second electrode is selected through a matrix circuit element.
【請求項4】 前記第2の電極は、前記マトリクス回路
素子の端子配列に合わせて配列することを特徴とする請
求項3記載のプリント基板の検査用アタッチメント。
4. The printed circuit board inspection attachment according to claim 3, wherein the second electrodes are arranged in accordance with a terminal arrangement of the matrix circuit element.
【請求項5】 前記マトリクス回路素子は、前記マット
に組み合わせる副電極付きの支持基板に搭載することを
特徴とする請求項3または請求項4記載のプリント基板
の検査用アタッチメント。
5. The printed circuit board inspection attachment according to claim 3, wherein the matrix circuit element is mounted on a support substrate having sub-electrodes to be combined with the mat.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030043327A (en) * 2001-11-27 2003-06-02 허상록 Power connector of jig for tester

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