JPH11111580A - 電解コンデンサの検査方法 - Google Patents
電解コンデンサの検査方法Info
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- JPH11111580A JPH11111580A JP9275474A JP27547497A JPH11111580A JP H11111580 A JPH11111580 A JP H11111580A JP 9275474 A JP9275474 A JP 9275474A JP 27547497 A JP27547497 A JP 27547497A JP H11111580 A JPH11111580 A JP H11111580A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解
コンデンサが良品となって特性検査をパスしてしまうと
いう不具合をなくすることができる電解コンデンサの検
査方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 電解コンデンサに高温雰囲気中で電圧を
印加することによりエージングを行った後、規定の時間
だけ高温状態で陽極箔と陰極箔に接続された一対のリー
ド端子間をショートさせて放電を行い、その後、電解コ
ンデンサの特性検査を行うようにしたものである。
コンデンサが良品となって特性検査をパスしてしまうと
いう不具合をなくすることができる電解コンデンサの検
査方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 電解コンデンサに高温雰囲気中で電圧を
印加することによりエージングを行った後、規定の時間
だけ高温状態で陽極箔と陰極箔に接続された一対のリー
ド端子間をショートさせて放電を行い、その後、電解コ
ンデンサの特性検査を行うようにしたものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は各種電子機器に利用
される電解コンデンサの検査方法に関するものである。
される電解コンデンサの検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般にこの種の電解コンデンサは、陽極
箔と陰極箔をその間にセパレータを介在させて巻回する
ことにより構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と
陰極箔に接続された一対のリード端子と、前記コンデン
サ素子に含浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素
子を収納する有底円筒状のケースと、このケースの開口
部を封口する封口部材とを備えており、そしてこの電解
コンデンサは、組み立てを完了した後、陽極箔の表面に
形成した酸化皮膜の欠損部を修復するために、電圧を印
加した状態で高温に保たれた恒温槽内を通すことにより
エージングを行うようにしている。
箔と陰極箔をその間にセパレータを介在させて巻回する
ことにより構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と
陰極箔に接続された一対のリード端子と、前記コンデン
サ素子に含浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素
子を収納する有底円筒状のケースと、このケースの開口
部を封口する封口部材とを備えており、そしてこの電解
コンデンサは、組み立てを完了した後、陽極箔の表面に
形成した酸化皮膜の欠損部を修復するために、電圧を印
加した状態で高温に保たれた恒温槽内を通すことにより
エージングを行うようにしている。
【０００３】図４は従来の電解コンデンサにおけるエー
ジング温度と印加電圧のタイミングを示したもので、従
来はこの図４に示すように、規定のエージング温度で規
定のエージング電圧を電解コンデンサに印加して領域１
に示すエージングを行った後、常温で電荷を放電する領
域２に示す常温放電を行い、その後、電解コンデンサの
特性検査を行うようにしていた。
ジング温度と印加電圧のタイミングを示したもので、従
来はこの図４に示すように、規定のエージング温度で規
定のエージング電圧を電解コンデンサに印加して領域１
に示すエージングを行った後、常温で電荷を放電する領
域２に示す常温放電を行い、その後、電解コンデンサの
特性検査を行うようにしていた。
【０００４】一方、電解コンデンサの特性として、常温
で充電した電解コンデンサを１０〜１５分の間、一対の
リード端子間をショートさせて放電を行い、その後、一
対のリード端子間のショートを開放した場合、時間の経
過とともに再び電解コンデンサの両端に電圧が発生する
ことがわかっている。これは、急速な放電は駆動用電解
液中の電子の移動により行われるが、充電時に陽極箔と
陰極箔からなる電極側に移動した駆動用電解液中のイオ
ンの移動が比較的遅いために発生するものと考えられ
る。
で充電した電解コンデンサを１０〜１５分の間、一対の
リード端子間をショートさせて放電を行い、その後、一
対のリード端子間のショートを開放した場合、時間の経
過とともに再び電解コンデンサの両端に電圧が発生する
ことがわかっている。これは、急速な放電は駆動用電解
液中の電子の移動により行われるが、充電時に陽極箔と
陰極箔からなる電極側に移動した駆動用電解液中のイオ
ンの移動が比較的遅いために発生するものと考えられ
る。
【０００５】上記現象により、電荷を放電した後の電解
コンデンサの駆動用電解液は、陰イオンが陽極箔の近辺
に集中的に分布し、かつ陽イオンが陰極箔の近辺に集中
的に分布しているものである。
コンデンサの駆動用電解液は、陰イオンが陽極箔の近辺
に集中的に分布し、かつ陽イオンが陰極箔の近辺に集中
的に分布しているものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記現象により陽極箔
の近辺に集中的に分布している駆動用電解液中の陰イオ
ンは陽極箔の表面に形成した酸化皮膜や酸化皮膜の欠損
部を覆うように配置され、そして駆動用電解液中の陽イ
オンと反発するため、半導体であるＦＥＴの電位障壁と
同様の働きをして、電解コンデンサの絶縁性を強化する
ように働くものである。このため、このような電解コン
デンサの特性検査を、図４に示すような常温で電荷を放
電する領域２に示す常温放電を行った後の検査工程にお
いて行った場合、この電解コンデンサは耐電圧が高く、
かつ漏れ電流が低いという検査結果が現われるものであ
り、したがって、本来は不良レベルである電解コンデン
サが良品となってその特性検査をパスしてしまうという
不具合を有するものであった。
の近辺に集中的に分布している駆動用電解液中の陰イオ
ンは陽極箔の表面に形成した酸化皮膜や酸化皮膜の欠損
部を覆うように配置され、そして駆動用電解液中の陽イ
オンと反発するため、半導体であるＦＥＴの電位障壁と
同様の働きをして、電解コンデンサの絶縁性を強化する
ように働くものである。このため、このような電解コン
デンサの特性検査を、図４に示すような常温で電荷を放
電する領域２に示す常温放電を行った後の検査工程にお
いて行った場合、この電解コンデンサは耐電圧が高く、
かつ漏れ電流が低いという検査結果が現われるものであ
り、したがって、本来は不良レベルである電解コンデン
サが良品となってその特性検査をパスしてしまうという
不具合を有するものであった。
【０００７】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コンデ
ンサが良品となって特性検査をパスしてしまうという不
具合をなくすることができる電解コンデンサの検査方法
を提供することを目的とするものである。
で、耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コンデ
ンサが良品となって特性検査をパスしてしまうという不
具合をなくすることができる電解コンデンサの検査方法
を提供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の電解コンデンサの検査方法は、陽極箔と陰極
箔をその間にセパレータを介在させて巻回することによ
り構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に
接続された一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に
含浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納
する有底筒状のケースと、このケースの開口部を封口す
る封口部材とを備えた電解コンデンサに高温雰囲気中で
電圧を印加することによりエージングを行った後、規定
の時間だけ高温状態で前記一対のリード端子間をショー
トさせて放電を行い、その後、電解コンデンサの特性検
査を行うようにしたもので、この検査方法によれば、耐
電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コンデンサが
良品となって特性検査をパスしてしまうという不具合を
なくすることができるものである。
に本発明の電解コンデンサの検査方法は、陽極箔と陰極
箔をその間にセパレータを介在させて巻回することによ
り構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に
接続された一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に
含浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納
する有底筒状のケースと、このケースの開口部を封口す
る封口部材とを備えた電解コンデンサに高温雰囲気中で
電圧を印加することによりエージングを行った後、規定
の時間だけ高温状態で前記一対のリード端子間をショー
トさせて放電を行い、その後、電解コンデンサの特性検
査を行うようにしたもので、この検査方法によれば、耐
電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コンデンサが
良品となって特性検査をパスしてしまうという不具合を
なくすることができるものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを介在させて
巻回することにより構成されたコンデンサ素子と、前記
陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端子と、前記
コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液と、前記コン
デンサ素子を収納する有底筒状のケースと、このケース
の開口部を封口する封口部材とを備えた電解コンデンサ
に高温雰囲気中で電圧を印加することによりエージング
を行った後、規定の時間だけ高温状態で前記一対のリー
ド端子間をショートさせて放電を行い、その後、電解コ
ンデンサの特性検査を行うようにしたもので、この検査
方法によれば、電解コンデンサのエージングを行った
後、規定の時間だけ電解コンデンサにおける一対のリー
ド端子間をショートさせて放電を行う場合、高温状態で
行うようにしているため、駆動用電解液中のイオンは熱
により励起されて移動速度が増すことになり、そしてこ
れにより、陽極箔の近辺に集中的に分布している陰イオ
ンと陰極箔の近辺に集中的に分布している陽イオンは移
動して容易に引き付け合うため、陽極箔から陰イオンは
すみやかに引き離されて陽極箔付近の電位障壁を短時間
で解除することができ、これにより、次の特性検査にお
いては、駆動用電解液中のイオンが陽極箔や陰極箔から
なる電極箔に片寄らない状態で検査を行うことができる
ため、従来のように耐電圧や漏れ電流等が不良レベルで
ある電解コンデンサが良品となって特性検査をパスして
しまうという不具合をなくすることができるものであ
る。
は、陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを介在させて
巻回することにより構成されたコンデンサ素子と、前記
陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端子と、前記
コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液と、前記コン
デンサ素子を収納する有底筒状のケースと、このケース
の開口部を封口する封口部材とを備えた電解コンデンサ
に高温雰囲気中で電圧を印加することによりエージング
を行った後、規定の時間だけ高温状態で前記一対のリー
ド端子間をショートさせて放電を行い、その後、電解コ
ンデンサの特性検査を行うようにしたもので、この検査
方法によれば、電解コンデンサのエージングを行った
後、規定の時間だけ電解コンデンサにおける一対のリー
ド端子間をショートさせて放電を行う場合、高温状態で
行うようにしているため、駆動用電解液中のイオンは熱
により励起されて移動速度が増すことになり、そしてこ
れにより、陽極箔の近辺に集中的に分布している陰イオ
ンと陰極箔の近辺に集中的に分布している陽イオンは移
動して容易に引き付け合うため、陽極箔から陰イオンは
すみやかに引き離されて陽極箔付近の電位障壁を短時間
で解除することができ、これにより、次の特性検査にお
いては、駆動用電解液中のイオンが陽極箔や陰極箔から
なる電極箔に片寄らない状態で検査を行うことができる
ため、従来のように耐電圧や漏れ電流等が不良レベルで
ある電解コンデンサが良品となって特性検査をパスして
しまうという不具合をなくすることができるものであ
る。
【００１０】請求項２に記載の発明は、陽極箔と陰極箔
をその間にセパレータを介在させて巻回することにより
構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に接
続された一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に含
浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納す
る有底筒状のケースと、このケースの開口部を封口する
封口部材とを備えた電解コンデンサに高温雰囲気中で電
圧を印加することによりエージングを行った後、規定の
時間だけ陰極箔の耐電圧以下の逆電圧を前記一対のリー
ド端子間に印加し、その後、この逆電圧の電荷を放電
し、さらにその後、電解コンデンサの検査を行うように
したもので、この検査方法によれば、電解コンデンサの
エージングを行った後、規定の時間だけ陰極箔の耐電圧
以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加するようにし
ているため、陽極箔は負電圧となり、そしてこの負電圧
によるクーロン力（吸引力）によってエージング中に陽
極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰イオンを電気
的に反発させることができるため、前記陰イオンは陽極
箔からすみやかに引き離されて陽極箔付近の電位障壁を
短時間で解除することができ、これにより、次の特性検
査においては、駆動用電解液中の陰イオンが陽極箔に片
寄らない状態で検査を行うことができるため、従来のよ
うに耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コンデ
ンサが良品となって特性検査をパスしてしまうという不
具合をなくすることができるものである。
をその間にセパレータを介在させて巻回することにより
構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に接
続された一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に含
浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納す
る有底筒状のケースと、このケースの開口部を封口する
封口部材とを備えた電解コンデンサに高温雰囲気中で電
圧を印加することによりエージングを行った後、規定の
時間だけ陰極箔の耐電圧以下の逆電圧を前記一対のリー
ド端子間に印加し、その後、この逆電圧の電荷を放電
し、さらにその後、電解コンデンサの検査を行うように
したもので、この検査方法によれば、電解コンデンサの
エージングを行った後、規定の時間だけ陰極箔の耐電圧
以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加するようにし
ているため、陽極箔は負電圧となり、そしてこの負電圧
によるクーロン力（吸引力）によってエージング中に陽
極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰イオンを電気
的に反発させることができるため、前記陰イオンは陽極
箔からすみやかに引き離されて陽極箔付近の電位障壁を
短時間で解除することができ、これにより、次の特性検
査においては、駆動用電解液中の陰イオンが陽極箔に片
寄らない状態で検査を行うことができるため、従来のよ
うに耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コンデ
ンサが良品となって特性検査をパスしてしまうという不
具合をなくすることができるものである。
【００１１】請求項３に記載の発明は、陽極箔と陰極箔
をその間にセパレータを介在させて巻回することにより
構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に接
続された一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に含
浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納す
る有底筒状のケースと、このケースの開口部を封口する
封口部材とを備えた電解コンデンサに高温雰囲気中で電
圧を印加することによりエージングを行った後、規定の
時間だけ高温状態で陰極箔の耐電圧以下の逆電圧を前記
一対のリード端子間に印加し、その後、この逆電圧の電
荷を放電し、さらにその後に電解コンデンサの特性検査
を行うようにしたもので、この検査方法によれば、電解
コンデンサのエージングを行った後、規定の時間だけ陰
極箔の耐電圧以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加
するようにしているため、陽極箔は負電圧となり、そし
てこの負電圧によるクーロン力（吸引力）によってエー
ジング中に陽極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰
イオンを電気的に反発させることができるため、前記陰
イオンは陽極箔からすみやかに引き離されることにな
り、また前記逆電圧の印加は高温状態で行うようにして
いるため、駆動用電解液中のイオンは熱により励起され
て移動速度が増すことになり、そしてこれにより、陽極
箔の近辺に集中的に分布している陰イオンと陰極箔の近
辺に集中的に分布している陽イオンは移動して容易に引
き付け合うため、請求項２に記載の発明よりも短時間で
陽極箔付近の電位障壁を解除することができ、その結
果、次の特性検査においては、駆動用電解液中のイオン
が陽極箔や陰極箔からなる電極箔に片寄らない状態で検
査を行うことができるため、従来のように耐電圧や漏れ
電流等が不良レベルである電解コンデンサが良品となっ
て特性検査をパスしてしまうという不具合をなくするこ
とができるものである。
をその間にセパレータを介在させて巻回することにより
構成されたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に接
続された一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に含
浸される駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納す
る有底筒状のケースと、このケースの開口部を封口する
封口部材とを備えた電解コンデンサに高温雰囲気中で電
圧を印加することによりエージングを行った後、規定の
時間だけ高温状態で陰極箔の耐電圧以下の逆電圧を前記
一対のリード端子間に印加し、その後、この逆電圧の電
荷を放電し、さらにその後に電解コンデンサの特性検査
を行うようにしたもので、この検査方法によれば、電解
コンデンサのエージングを行った後、規定の時間だけ陰
極箔の耐電圧以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加
するようにしているため、陽極箔は負電圧となり、そし
てこの負電圧によるクーロン力（吸引力）によってエー
ジング中に陽極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰
イオンを電気的に反発させることができるため、前記陰
イオンは陽極箔からすみやかに引き離されることにな
り、また前記逆電圧の印加は高温状態で行うようにして
いるため、駆動用電解液中のイオンは熱により励起され
て移動速度が増すことになり、そしてこれにより、陽極
箔の近辺に集中的に分布している陰イオンと陰極箔の近
辺に集中的に分布している陽イオンは移動して容易に引
き付け合うため、請求項２に記載の発明よりも短時間で
陽極箔付近の電位障壁を解除することができ、その結
果、次の特性検査においては、駆動用電解液中のイオン
が陽極箔や陰極箔からなる電極箔に片寄らない状態で検
査を行うことができるため、従来のように耐電圧や漏れ
電流等が不良レベルである電解コンデンサが良品となっ
て特性検査をパスしてしまうという不具合をなくするこ
とができるものである。
【００１２】以下、本発明の実施の形態について添付図
面にもとづいて説明する。 （実施の形態１）図１は本発明の実施の形態１を示す電
解コンデンサの検査方法におけるエージング温度と印加
電圧のタイミングを示したものである。
面にもとづいて説明する。 （実施の形態１）図１は本発明の実施の形態１を示す電
解コンデンサの検査方法におけるエージング温度と印加
電圧のタイミングを示したものである。
【００１３】電解コンデンサは、陽極箔と陰極箔をその
間にセパレータを介在させて巻回することにより構成さ
れたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に接続され
た一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に含浸され
る駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納する有底
円筒状のケースと、このケースの開口部を封口する封口
部材とを備えているもので、この電解コンデンサを組み
立てた後、陽極箔の表面に形成した酸化皮膜の欠損部を
修復するために、図１の領域１に示すように、規定のエ
ージング温度で規定のエージング電圧を電解コンデンサ
に印加するエージングを行い、その後、領域２に示すよ
うに、高温の雰囲気内で規定の時間だけ電解コンデンサ
における一対のリード端子間をショートさせて放電を行
い、その後、電解コンデンサの特性検査を行うようにし
たものである。
間にセパレータを介在させて巻回することにより構成さ
れたコンデンサ素子と、前記陽極箔と陰極箔に接続され
た一対のリード端子と、前記コンデンサ素子に含浸され
る駆動用電解液と、前記コンデンサ素子を収納する有底
円筒状のケースと、このケースの開口部を封口する封口
部材とを備えているもので、この電解コンデンサを組み
立てた後、陽極箔の表面に形成した酸化皮膜の欠損部を
修復するために、図１の領域１に示すように、規定のエ
ージング温度で規定のエージング電圧を電解コンデンサ
に印加するエージングを行い、その後、領域２に示すよ
うに、高温の雰囲気内で規定の時間だけ電解コンデンサ
における一対のリード端子間をショートさせて放電を行
い、その後、電解コンデンサの特性検査を行うようにし
たものである。
【００１４】上記図１に示す本発明の実施の形態１にお
いては、領域２に示すように、規定の時間だけ電解コン
デンサにおける一対のリード端子間をショートさせて放
電を行う場合、高温雰囲気内という高温状態で行うよう
にしているため、駆動用電解液中のイオンは熱により励
起されて移動速度が増すことになり、そしてこれによ
り、陽極箔の近辺に集中的に分布している陰イオンと陰
極箔の近辺に集中的に分布している陽イオンは移動して
容易に引き付け合うため、陽極箔から陰イオンはすみや
かに引き離されて陽極箔付近の電位障壁を短時間で解除
することができ、これにより、次の特性検査においては
駆動用電解液中のイオンが陽極箔や陰極箔からなる電極
箔に片寄らない状態で検査を行うことができるため、従
来のように耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解
コンデンサが良品となって特性検査をパスしてしまうと
いう不具合はなくなるものである。
いては、領域２に示すように、規定の時間だけ電解コン
デンサにおける一対のリード端子間をショートさせて放
電を行う場合、高温雰囲気内という高温状態で行うよう
にしているため、駆動用電解液中のイオンは熱により励
起されて移動速度が増すことになり、そしてこれによ
り、陽極箔の近辺に集中的に分布している陰イオンと陰
極箔の近辺に集中的に分布している陽イオンは移動して
容易に引き付け合うため、陽極箔から陰イオンはすみや
かに引き離されて陽極箔付近の電位障壁を短時間で解除
することができ、これにより、次の特性検査においては
駆動用電解液中のイオンが陽極箔や陰極箔からなる電極
箔に片寄らない状態で検査を行うことができるため、従
来のように耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解
コンデンサが良品となって特性検査をパスしてしまうと
いう不具合はなくなるものである。
【００１５】上記図１に示す領域２における高温雰囲気
内の温度は高いほど駆動用電解液中のイオンの移動速度
が速くなるため、より短い時間で陽極箔付近の電位障壁
を解除できるが、一般的には電解コンデンサの耐熱温度
もしくはエージング温度が好ましく、またその放電時間
は、電解コンデンサの電圧や容量によって異なるが、３
３μＦ・４００Ｖ級の電解コンデンサでは、温度が９５
℃で時間が１５分以上の高温放電が好ましいものであ
る。
内の温度は高いほど駆動用電解液中のイオンの移動速度
が速くなるため、より短い時間で陽極箔付近の電位障壁
を解除できるが、一般的には電解コンデンサの耐熱温度
もしくはエージング温度が好ましく、またその放電時間
は、電解コンデンサの電圧や容量によって異なるが、３
３μＦ・４００Ｖ級の電解コンデンサでは、温度が９５
℃で時間が１５分以上の高温放電が好ましいものであ
る。
【００１６】（実施の形態２）図２は本発明の実施の形
態２を示す電解コンデンサの検査方法におけるエージン
グ温度と印加電圧のタイミングを示したものである。
態２を示す電解コンデンサの検査方法におけるエージン
グ温度と印加電圧のタイミングを示したものである。
【００１７】上記本発明の実施の形態２は、電解コンデ
ンサを組み立てた後、陽極箔の表面に形成した酸化皮膜
の欠損部を修復するために、図２の領域１に示すよう
に、規定のエージング温度で規定のエージング電圧を電
解コンデンサに印加するエージングを行い、その後、領
域２に示すように、規定の時間だけ陰極箔の耐電圧以下
の逆電圧を電解コンデンサにおける一対のリード端子間
に印加し、その後、領域３に示すように、領域２におけ
る逆電圧の電荷を放電し、さらにその後、電解コンデン
サの特性検査を行うようにしたものである。
ンサを組み立てた後、陽極箔の表面に形成した酸化皮膜
の欠損部を修復するために、図２の領域１に示すよう
に、規定のエージング温度で規定のエージング電圧を電
解コンデンサに印加するエージングを行い、その後、領
域２に示すように、規定の時間だけ陰極箔の耐電圧以下
の逆電圧を電解コンデンサにおける一対のリード端子間
に印加し、その後、領域３に示すように、領域２におけ
る逆電圧の電荷を放電し、さらにその後、電解コンデン
サの特性検査を行うようにしたものである。
【００１８】上記図２に示す本発明の実施の形態２にお
いては、領域２に示すように、規定の時間だけ陰極箔の
耐電圧以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加するよ
うにしているため、陽極箔は負電圧となり、そしてこの
負電圧によるクーロン力（吸引力）によってエージング
中に陽極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰イオン
を電気的に反発させることができるため、前記陰イオン
は陽極箔からすみやかに引き離されて陽極箔付近の電位
障壁を短時間で解除することができ、これにより、次の
特性検査においては、駆動用電解液中の陰イオンが陽極
箔に片寄らない状態で検査を行うことができるめ、従来
のように耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コ
ンデンサが良品となって特性検査をパスしてしまうとい
う不具合はなくなるものである。
いては、領域２に示すように、規定の時間だけ陰極箔の
耐電圧以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加するよ
うにしているため、陽極箔は負電圧となり、そしてこの
負電圧によるクーロン力（吸引力）によってエージング
中に陽極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰イオン
を電気的に反発させることができるため、前記陰イオン
は陽極箔からすみやかに引き離されて陽極箔付近の電位
障壁を短時間で解除することができ、これにより、次の
特性検査においては、駆動用電解液中の陰イオンが陽極
箔に片寄らない状態で検査を行うことができるめ、従来
のように耐電圧や漏れ電流等が不良レベルである電解コ
ンデンサが良品となって特性検査をパスしてしまうとい
う不具合はなくなるものである。
【００１９】上記図２に示す領域２における逆電圧の電
圧は高いほどより短い時間で陽極箔付近の電位障壁を解
除できるが、陰極箔の耐電圧以下にする必要があり、一
般的には１Ｖ以下が好ましい。また逆電圧の印加時間
は、電解コンデンサの電圧や容量によって異なるが、３
３μＦ・４００Ｖ級の電解コンデンサでは、約１０分以
上の印加時間が好ましいものである。
圧は高いほどより短い時間で陽極箔付近の電位障壁を解
除できるが、陰極箔の耐電圧以下にする必要があり、一
般的には１Ｖ以下が好ましい。また逆電圧の印加時間
は、電解コンデンサの電圧や容量によって異なるが、３
３μＦ・４００Ｖ級の電解コンデンサでは、約１０分以
上の印加時間が好ましいものである。
【００２０】（実施の形態３）図３は本発明の実施の形
態３を示す電解コンデンサの検査方法におけるエージン
グ温度と印加電圧のタイミングを示したものである。
態３を示す電解コンデンサの検査方法におけるエージン
グ温度と印加電圧のタイミングを示したものである。
【００２１】上記本発明の実施の形態３は、電解コンデ
ンサを組み立てた後、陽極箔の表面に形成した酸化皮膜
の欠損部を修復するために、図３の領域１に示すよう
に、規定のエージング温度で規定のエージング電圧を電
解コンデンサに印加するエージングを行い、その後、領
域２に示すように、高温の雰囲気内で規定の時間だけ陰
極箔の耐電圧以下の逆電圧を電解コンデンサにおける一
対のリード端子間に印加し、その後、領域３に示すよう
に、領域２における逆電圧の電荷を放電し、さらにその
後、電解コンデンサの特性検査を行うようにしたもので
ある。
ンサを組み立てた後、陽極箔の表面に形成した酸化皮膜
の欠損部を修復するために、図３の領域１に示すよう
に、規定のエージング温度で規定のエージング電圧を電
解コンデンサに印加するエージングを行い、その後、領
域２に示すように、高温の雰囲気内で規定の時間だけ陰
極箔の耐電圧以下の逆電圧を電解コンデンサにおける一
対のリード端子間に印加し、その後、領域３に示すよう
に、領域２における逆電圧の電荷を放電し、さらにその
後、電解コンデンサの特性検査を行うようにしたもので
ある。
【００２２】上記図３に示す本発明の実施の形態３にお
いては、領域２に示すように、規定の時間だけ陰極箔の
耐電圧以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加するよ
うにしているため、陽極箔は負電圧となり、そしてこの
負電圧によるクーロン力（吸引力）によってエージング
中に陽極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰イオン
を電気的に反発させることができるとともに、前記逆電
圧の印加は高温雰囲気内という高温状態で行うようにし
ているため、駆動用電解液中のイオンは熱により励起さ
れて移動速度が増すことになり、そしてこれにより、陽
極箔の近辺に集中的に分布している陰イオンと陰極箔の
近辺に集中的に分布している陽イオンは移動して容易に
引き付け合うため、前記陰イオンは陽極箔からすみやか
に引き離されることになり、これにより、陽極箔付近の
電位障壁の解除は、本発明の実施の形態２よりもさらに
短時間に行わせることができるものである。
いては、領域２に示すように、規定の時間だけ陰極箔の
耐電圧以下の逆電圧を一対のリード端子間に印加するよ
うにしているため、陽極箔は負電圧となり、そしてこの
負電圧によるクーロン力（吸引力）によってエージング
中に陽極箔の近辺に密集した駆動用電解液中の陰イオン
を電気的に反発させることができるとともに、前記逆電
圧の印加は高温雰囲気内という高温状態で行うようにし
ているため、駆動用電解液中のイオンは熱により励起さ
れて移動速度が増すことになり、そしてこれにより、陽
極箔の近辺に集中的に分布している陰イオンと陰極箔の
近辺に集中的に分布している陽イオンは移動して容易に
引き付け合うため、前記陰イオンは陽極箔からすみやか
に引き離されることになり、これにより、陽極箔付近の
電位障壁の解除は、本発明の実施の形態２よりもさらに
短時間に行わせることができるものである。
【００２３】このような状態とすることにより、次の特
性検査においては、駆動用電解液中のイオンが陽極箔や
陰極箔からなる電極箔に片寄らない状態で検査を行うこ
とができるため、従来のように耐電圧や漏れ電流等が不
良レベルである電解コンデンサが良品となって特性検査
をパスしてしまうという不具合はなくなるものである。
性検査においては、駆動用電解液中のイオンが陽極箔や
陰極箔からなる電極箔に片寄らない状態で検査を行うこ
とができるため、従来のように耐電圧や漏れ電流等が不
良レベルである電解コンデンサが良品となって特性検査
をパスしてしまうという不具合はなくなるものである。
【００２４】上記図３に示す領域２における高温雰囲気
内の温度は高いほど駆動用電解液中のイオンの移動速度
が速くなるため、より短い時間で陽極箔付近の電位障壁
を解除できるが、一般的には電解コンデンサの耐熱温度
もしくはエージング温度が好ましい。また逆電圧の電圧
は高いほどより短い時間で陽極箔付近の電位障壁を解除
できるが、陰極箔の耐電圧以下にする必要があり、一般
的には１Ｖ以下が好ましい。そしてこの逆電圧の印加時
間は、電解コンデンサの電圧や容量によって異なるが、
３３μＦ・４００Ｖ級の電解コンデンサでは、温度が９
５℃で逆電圧を１Ｖとした場合、５分以上の時間が好ま
しいものである。
内の温度は高いほど駆動用電解液中のイオンの移動速度
が速くなるため、より短い時間で陽極箔付近の電位障壁
を解除できるが、一般的には電解コンデンサの耐熱温度
もしくはエージング温度が好ましい。また逆電圧の電圧
は高いほどより短い時間で陽極箔付近の電位障壁を解除
できるが、陰極箔の耐電圧以下にする必要があり、一般
的には１Ｖ以下が好ましい。そしてこの逆電圧の印加時
間は、電解コンデンサの電圧や容量によって異なるが、
３３μＦ・４００Ｖ級の電解コンデンサでは、温度が９
５℃で逆電圧を１Ｖとした場合、５分以上の時間が好ま
しいものである。
【００２５】上記した本発明の実施の形態１〜３におけ
る領域２および領域３の処理を施すことにより、この処
理を施した電解コンデンサに、次の特性検査として、電
解コンデンサの耐電圧まで急速充電する検査を実施した
場合、耐電圧不良品があった際には、その耐電圧不良品
は精度よく排除することができるものである。
る領域２および領域３の処理を施すことにより、この処
理を施した電解コンデンサに、次の特性検査として、電
解コンデンサの耐電圧まで急速充電する検査を実施した
場合、耐電圧不良品があった際には、その耐電圧不良品
は精度よく排除することができるものである。
【００２６】
【発明の効果】以上のように本発明の電解コンデンサの
検査方法は、陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを介
在させて巻回することにより構成されたコンデンサ素子
と、前記陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端子
と、前記コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液と、
前記コンデンサ素子を収納する有底筒状のケースと、こ
のケースの開口部を封口する封口部材とを備えた電解コ
ンデンサに高温雰囲気中で電圧を印加することによりエ
ージングを行った後、規定の時間だけ高温状態で前記一
対のリード端子間をショートさせて放電を行い、その
後、電解コンデンサの特性検査を行うようにしたもの
で、この検査方法によれば、電解コンデンサのエージン
グを行った後、規定の時間だけ電解コンデンサにおける
一対のリード端子間をショートさせて放電を行う場合、
高温状態で行うようにしているため、駆動用電解液中の
イオンは熱により励起されて移動速度が増すことにな
り、そしてこれにより、陽極箔の近辺に集中的に分布し
ている陰イオンと陰極箔の近辺に集中的に分布している
陽イオンは移動して容易に引き付け合うため、陽極箔か
ら陰イオンはすみやかに引き離されて陽極箔付近の電位
障壁を短時間で解除することができ、これにより、次の
特性検査においては、駆動用電解液中のイオンが陽極箔
や陰極箔からなる電極箔に片寄らない状態で検査を行う
ことができるため、従来のように耐電圧や漏れ電流等が
不良レベルである電解コンデンサが良品となって特性検
査をパスしてしまうという不具合をなくすることができ
るものである。
検査方法は、陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを介
在させて巻回することにより構成されたコンデンサ素子
と、前記陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端子
と、前記コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液と、
前記コンデンサ素子を収納する有底筒状のケースと、こ
のケースの開口部を封口する封口部材とを備えた電解コ
ンデンサに高温雰囲気中で電圧を印加することによりエ
ージングを行った後、規定の時間だけ高温状態で前記一
対のリード端子間をショートさせて放電を行い、その
後、電解コンデンサの特性検査を行うようにしたもの
で、この検査方法によれば、電解コンデンサのエージン
グを行った後、規定の時間だけ電解コンデンサにおける
一対のリード端子間をショートさせて放電を行う場合、
高温状態で行うようにしているため、駆動用電解液中の
イオンは熱により励起されて移動速度が増すことにな
り、そしてこれにより、陽極箔の近辺に集中的に分布し
ている陰イオンと陰極箔の近辺に集中的に分布している
陽イオンは移動して容易に引き付け合うため、陽極箔か
ら陰イオンはすみやかに引き離されて陽極箔付近の電位
障壁を短時間で解除することができ、これにより、次の
特性検査においては、駆動用電解液中のイオンが陽極箔
や陰極箔からなる電極箔に片寄らない状態で検査を行う
ことができるため、従来のように耐電圧や漏れ電流等が
不良レベルである電解コンデンサが良品となって特性検
査をパスしてしまうという不具合をなくすることができ
るものである。
【図１】本発明の実施の形態１を示す電解コンデンサの
検査方法におけるエージング温度と印加電圧のタイミン
グを示す図
検査方法におけるエージング温度と印加電圧のタイミン
グを示す図
【図２】本発明の実施の形態２を示す電解コンデンサの
検査方法におけるエージング温度と印加電圧のタイミン
グを示す図
検査方法におけるエージング温度と印加電圧のタイミン
グを示す図
【図３】本発明の実施の形態３を示す電解コンデンサの
検査方法におけるエージング温度と印加電圧のタイミン
グを示す図
検査方法におけるエージング温度と印加電圧のタイミン
グを示す図
【図４】従来の電解コンデンサの検査方法におけるエー
ジング温度と印加電圧のタイミングを示す図
ジング温度と印加電圧のタイミングを示す図
Claims (3)
- 【請求項１】 陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを
介在させて巻回することにより構成されたコンデンサ素
子と、前記陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端
子と、前記コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液
と、前記コンデンサ素子を収納する有底筒状のケース
と、このケースの開口部を封口する封口部材とを備えた
電解コンデンサに高温雰囲気中で電圧を印加することに
よりエージングを行った後、規定の時間だけ高温状態で
前記一対のリード端子間をショートさせて放電を行い、
その後、電解コンデンサの特性検査を行うようにした電
解コンデンサの検査方法。 - 【請求項２】 陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを
介在させて巻回することにより構成されたコンデンサ素
子と、前記陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端
子と、前記コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液
と、前記コンデンサ素子を収納する有底筒状のケース
と、このケースの開口部を封口する封口部材とを備えた
電解コンデンサに高温雰囲気中で電圧を印加することに
よりエージングを行った後、規定の時間だけ陰極箔の耐
電圧以下の逆電圧を前記一対のリード端子間に印加し、
その後、この逆電圧の電荷を放電し、さらにその後、電
解コンデンサの特性検査を行うようにした電解コンデン
サの検査方法。 - 【請求項３】 陽極箔と陰極箔をその間にセパレータを
介在させて巻回することにより構成されたコンデンサ素
子と、前記陽極箔と陰極箔に接続された一対のリード端
子と、前記コンデンサ素子に含浸される駆動用電解液
と、前記コンデンサ素子を収納する有底筒状のケース
と、このケースの開口部を封口する封口部材とを備えた
電解コンデンサに高温雰囲気中で電圧を印加することに
よりエージングを行った後、規定の時間だけ高温状態で
陰極箔の耐電圧以下の逆電圧を前記一対のリード端子間
に印加し、その後、この逆電圧の電荷を放電し、さらに
その後、電解コンデンサの特性検査を行うようにした電
解コンデンサの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27547497A JP3761303B2 (ja) | 1997-10-08 | 1997-10-08 | 電解コンデンサの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27547497A JP3761303B2 (ja) | 1997-10-08 | 1997-10-08 | 電解コンデンサの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11111580A true JPH11111580A (ja) | 1999-04-23 |
| JP3761303B2 JP3761303B2 (ja) | 2006-03-29 |
Family
ID=17556045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27547497A Expired - Fee Related JP3761303B2 (ja) | 1997-10-08 | 1997-10-08 | 電解コンデンサの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3761303B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104535864A (zh) * | 2014-12-29 | 2015-04-22 | 中国振华（集团）新云电子元器件有限责任公司 | 一种非固体钽电容器老炼方法 |
| CN111681876A (zh) * | 2020-06-17 | 2020-09-18 | 肇庆绿宝石电子科技股份有限公司 | 一种超高压铝电解电容器及其制造方法 |
-
1997
- 1997-10-08 JP JP27547497A patent/JP3761303B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104535864A (zh) * | 2014-12-29 | 2015-04-22 | 中国振华（集团）新云电子元器件有限责任公司 | 一种非固体钽电容器老炼方法 |
| CN111681876A (zh) * | 2020-06-17 | 2020-09-18 | 肇庆绿宝石电子科技股份有限公司 | 一种超高压铝电解电容器及其制造方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3761303B2 (ja) | 2006-03-29 |
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