JPH11109905A

JPH11109905A - モニター自動調整装置及び調整方法

Info

Publication number: JPH11109905A
Application number: JP9265351A
Authority: JP
Inventors: Noriaki Ishida; 紀昭石田; Kanenari Yo; 金成楊; Susumu Nakayama; 丞中山
Original assignee: NIPPON SORUTEC KK
Current assignee: NIPPON SORUTEC KK
Priority date: 1997-09-30
Filing date: 1997-09-30
Publication date: 1999-04-23

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】モニターの解像度別に幾何学的歪みを簡単且つ
効率よく調整する。【解決手段】被調整モニター４０の画面上に表示したテ
ストパターンを検出する複数のイメージセンサ１と、こ
れを画面上の所定の位置に配置して固定する取付手段
と、複数のイメージセンサの夫々が検出したアナログ信
号を受信してデジタル的な位置情報に変換する変換手段
１０と、これからの位置情報を受信するために変換手段
と接続した処理手段２０と、これと被調整モニターに接
続し、処理手段から所定のテストパターン表示のための
信号を受信し、その信号に相応するテストパターン信号
を被調整モニターに送出する信号発生器３０とを有し、
処理装置を被調整モニターに接続し、画面上に表示した
テストパターンと目標となる基準パターンのずれを算出
し、補正データを被調整モニターに送信して解像度に応
じたテストパターンの位置と歪みの調整を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、モニター画面の自
動調整装置及び調整方法に関する。特に本発明は、パー
ソナル・コンピュータ用モニター画面調整のうちの幾何
学的歪の自動調整装置及び調整方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】パーソナル・コンピュータ（ＰＣ）用モ
ニターで使用されるＣＲＴの画面調整には、Ｒ、Ｇ、Ｂ
の各輝度等のコンバージェンス調整、画面上に白を表示
させてその度合いを調整するホワイトバランス調整、更
には画面上に表示されるパターンの位置調整と歪み調
整、いわゆるジオメトリ調整（幾何学的歪調整ともい
う）の３つが少なくとも必要である。

【０００３】ここで、ＣＲＴ画面上に赤（Ｒ）、緑
（Ｇ）、青（Ｂ）の単色画像パターンを表示させ、ＣＲ
Ｔ画面前面に備えた光電検出器、あるいはＩＴＶカメラ
（撮像装置）によって蛍光部分の色ずれを検出して、そ
の検出結果に基づき、モニターのコンバージェンスヨー
クの調整を自動的に行う帰還型のコンバージェンス調整
装置が知られている。

【０００４】また、ＣＲＴ画面上に光電変換素子を設
け、電子ビームの光の位置と量とを検出することで、幾
何学的歪みと色ずれ等を計測し、自動的に幾何学的調整
とコンバージェンス調整の両方を行う装置が知られてい
る。

【０００５】しかしながら、これまでの装置は、テスト
信号をラスタ走査させるために使用する同期信号を使用
することで、画面上に丁度ビーム照射された時に、光電
変換素子等で検出するようにしているため、同期をとる
ためのハードウェア機構が複雑であったり、ソフトウェ
アの処理が膨大となるといった問題点を有していた。ま
た、パーソナルコンピュータ用に提供されるモニターに
ついては、実際にどのモード（すなわち解像度）で使用
されるか不明であり、使用できる種類の解像度すべてに
ついて、出荷前に予めジオメトリ調整を行う必要がある
ため、使用可能な全ての解像度について、簡易にしかも
迅速に調整を行うことができる装置が望まれていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従って、本発明は、モ
ニターについて、特にＰＣ用に提供され、様々な解像度
に対応できるモニターについて、その解像度別に効率よ
く調整可能であり且つ幾何学的歪みを簡単に補正できる
新たなモニター調整装置を提供することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明によると、被調整
モニターの幾何学的歪を調整可能な装置であって、前記
画面上に表示されたテストパターンを検出する複数の一
次元リニアセンサと、前記複数の一次元リニアセンサを
前記画面上の所定の位置に配置して固定する取付手段
と、前記複数の一次元リニアセンサの夫々が検出したア
ナログ信号を受信してデジタル的な位置情報に変換する
変換手段と、前記変換手段からの位置情報を受信するた
めに前記変換手段と接続された処理手段と、前記処理手
段と前記被調整モニターに接続され、前記処理手段から
所定のテストパターン表示のための信号を受信し、その
信号に相応するテストパターン信号を前記被調整モニタ
ーに送出する信号発生器とを有し、前記処理装置は更
に、前記被調整モニターに接続され、前記画面上に表示
されたテストパターンと目標となる基準パターンとのず
れとを算出し、補正データを前記被調整モニターに送信
して解像度に応じたテストパターンの表示位置と歪みの
調整を行うことを特徴とするモニター自動調整装置を提
供する。

【０００８】また、前記変換手段は、前記複数回受信し
たアナログ信号を２値にデジタル化した後、各検出位置
別にＯＲすることを特徴とする。

【０００９】更に、本発明によると、前記一次元リニア
センサは、テストパターンを投射するレンズの結像位置
よりもわずかにずらすように設けられている。

【００１０】そして、前記変換手段は、前記一次元リニ
アセンサから検出したテストパターンを、ＰＣが汎用と
して有する入力ポートでデータ伝送可能なビット長の位
置情報に変換することを特徴とする。

【００１１】

【発明の実施の形態】図１は、本発明による実施形態で
あるモニター調整のためのブロック図である。被調整モ
ニター４０は、ＰＣ等の処理装置（以下、単にＰＣとい
う）と接続して画像出力可能なように、ＲＧＢのアナロ
グのビデオ入力端子を有しているほか、ＰＣから画像用
の制御命令を受けるシリアル・ポート又はパラレル・ポ
ートを有している。

【００１２】被調整モニター４０のＣＲＴ画面前面に
は、リニアイメージセンサ・アタッチメント（以下、Ｌ
ＩＳＡという）１が取り付けられている。ＬＩＳＡ１
は、デジタル・イメージ・プロセッサ（以下、ＤＩＰと
いう）１０とライン５０で電気的に接続されている。Ｄ
ＩＰ１０は、バス５２によってＰＣ２０と電気的に接続
されている。ＰＣ２０は、被調整モニター４０の図示し
ないシリアル・ポート又はパラレル・ポートとバス５４
によって電気的に接続されている。更に、ＰＣ２０は、
ビデオ・シグナル・ジェレネータ（ビデオ信号発生器）
（以下、ＶＳＧという）３０を制御可能なように、バス
５６と電気的に接続され、ＶＳＧ３０は、被調整モニタ
ー４０のＣＲＴ画面上に所定のパターンを表示させるた
めに、ビデオ入力端子とビデオ・ライン５８によって電
気的に接続されている。尚、被調整モニター４０との接
続を図るバス５４は、被調整モニター４０が外部接続可
能なインタフェースに応じて、そして、バス５２やバス
５６は、ＰＣ２０やＶＳＧ３０が外部接続可能なインタ
フェースに応じて適宜変更して使用する。例えば、バス
５４とバス５６には、ＲＳ２３２Ｃインタフェースを使
用し、バス５２としてＲＳ４２２インタフェースを使用
するといった具合である。

【００１３】次に、各構成について、以下により詳細に
説明する。

【００１４】図２は、被調整モニター４０に取り付ける
直前のＬＩＳＡ１を、被調整モニター４０側から見た斜
視図を示す。ＬＩＳＡ１は、四角形のフレーム８と、そ
のフレーム８から上部に突き出て、被調整モニター４０
のフレームの上部に掛かるようにしたサスペンダー９を
有している。また、フレーム８の４隅には、被調整モニ
ター４０のＣＲＴ画面４４の４隅であってフレーム前面
４２との境界と同じ位置関係となるようにラバー７が取
り付けられている。このラバー７は、サスペンダー９を
被調整モニター４０のフレーム上部に掛けて取り付けた
際に、それぞれＣＲＴ画面４４の４隅を押し、ＣＲＴ画
面４４よりも前に出たフレーム前面４２の左右、上下の
内側で挟まれるため、ＬＩＳＡ１の位置を被調整モニタ
ー４０に固定する役目を有している。

【００１５】フレーム８の内部には、縦、横に整列した
複数のＣＣＤモジュール（ＣＣＤ１〜ＣＣＤ１０）が固
定されて取り付けられている。ＣＣＤモジュールは、前
面の画像を取り込むためのレンズ５（図６参照）と、レ
ンズ５によって集光された光を検知する一次元のＣＣＤ
リニアイメージセンサ（以下、単にＣＣＤという）及び
図示しないバッファアンプから構成されている。ＣＣＤ
のアナログ出力信号は、そのバッファアンプと図１で示
したライン５０を介してＤＩＰ１０に送られる。図３
は、ＰＣ２０によってＶＳＧ３０（図１参照）を制御す
ることにより、被調整モニター４０のＣＲＴ画面４４上
に４角形のテストパターン６２を表示させた場合の、各
ＣＣＤモジュール（ＣＣＤ１〜ＣＣＤ１０）の位置とテ
ストパターン６２との位置関係を、図２のポイントＡか
ら矢印方向に見た場合を示したものである。基準パター
ン６０は、破線で示されており、実際に表示されたテス
トパターン６２を、その基準パターン６０に一致するよ
うに自動調整される。

【００１６】ここで、ＶＳＧ３０は、水平、垂直タイミ
ングを送信してテストパターンを被調整モニター４０に
表示でき、ＰＣ２０による制御コマンドによって制御可
能な市販のプログラマブル・ビデオ・ジェネレータで良
い。例えば、本実施例では、リーダ電子株式会社から提
供されているプログラマブル・ビデオ・ジェネレータ
（型番ＬＴ１６１０）を使用した。ＶＳＧ３０には、予
め定めた４角形のテストパターンを、被調整モニター４
０が使用されるであろうと思われる解像度別（いわゆる
モード別）に設定し記憶しておく。ＰＣ２０は、ＶＳＧ
３０を制御することで、ＶＳＧ３０に記憶されたテスト
パターンを使用して、そのモード毎に４角形のテストパ
ターンを被調整モニター４０に表示させることができ
る。従って、一つのモードのテストパターンが調整し終
わると、次のモードによるテストパターンを表示させて
調整することで、被調整モニター４０を、多数のモード
毎に調整することができるようになっている。

【００１７】図３に戻ると、被調整モニター４０に表示
された４角形のテストパターン６２は、被調整モニター
４０が全く調整されていない場合には、４角形そのもの
が歪んでいたり、その大きさが基準パターン６０とは一
致していないのが普通である。例えば、テストパターン
６２は、画面上の左右上下にずれた位置にあったり、時
計又は半時計方向に回転したもの、左右の縦パターン６
２Ｌ、６２Ｒが外側に膨れたもの（いわゆる樽型）やそ
の逆に、内側に絞られた状態となった形、あるいは同方
向に歪んだもの（いわゆる弓型）、上あるいは右テスト
パターン６２Ｕ、６２Ｌの長さが下あるいは左テストパ
ターン６２Ｂ、６２Ｒの長さと異なるもの（いわゆる台
形型）、といったいくつかの形のパターンに分けること
ができる。これらのパターンは、縦パターン６２Ｌ、６
２Ｒを検出するために左右に配置されたそれぞれ３つの
ＣＣＤモジュール（ＣＣＤ２〜４とＣＣＤ７〜９）及び
横パターン６２Ｕ、６２Ｂを検出するために上下に配置
されたそれぞれ２つのＣＣＤモジュール（ＣＣＤ１、１
０とＣＣＤ５、６）によって判断することができる。そ
して、各ＣＣＤモジュールによる検出結果に基づいて、
ＰＣ２０は、テストパターンの位置ずれを検出して、そ
のテストパターンが、基準パターン６０に合致する方向
へ移動調整するように、図１で示したバス５４を介し
て、画像調整の制御コマンドを被調整モニター４０に送
信する。被調整モニター４０の図示しないデジタル制御
部は、その画像調整の制御コマンドに応じて、被調整モ
ニター４０のＣＲＴ画面上に投射するテストパターンの
形や位置を変更する。

【００１８】このようにしてテストパターン６２が基準
パターン６０と合致し、それ以上の調整を必要としない
とＰＣ２０が判断すると、被調整モニター４０のメモリ
に記憶させるコマンドを送る。そして、ＰＣ２０は、次
の異なった解像度でのテストパターン調整を行うため
に、バス５６を介してＶＳＧ３０にその新たな解像度で
のテストパターンを表示するように命令する。そして、
その命令を受けたＶＳＧ３０は、ビデオ・ライン５８を
介して、次の解像度でのテストパターンを表示するよう
に、ＲＧＢアナログ信号を被調整モニター４０に送信
し、そのＣＲＴ画面に得られた新たなテストパターン６
２について、上記と同様の画像位置調整を行う。

【００１９】図４は、図２で示したＣＣＤモジュール
と、図１で示したＤＩＰ１０との接続関係を示したブロ
ック図である。先に説明したように、ＬＩＳＡ１は、こ
こでは、１０個のＣＣＤモジュール（ＣＣＤ１〜１０）
を有している。一方、ＤＩＰ１０は、各ＣＣＤモジュー
ルのＣＣＤからのアナログ信号を増幅するためのアンプ
３、更には、そのアンプ３出力をデジタル的に”Ｌｏ
ｗ”か”Ｈｉｇｈ”に判断するコンパレータ４及び、そ
のデジタル出力をフェッチして処理する中央処理装置
（ＣＰＵ）、更には、ＣＣＤの画像読取のための基本的
なクロックを生成するためのクロック・ジェレネータ６
を有している。

【００２０】本実施の形態では、ＣＰＵとしてＺ８０Ｃ
ＰＵを使用し、各ＣＣＤモジュール（ＣＣＤ１〜１０）
の出力は、アンプ３及びコンパレータ４を経て、夫々並
列にＺ８０ＣＰＵの各入力ポート（ＩＮＰＯＲＴ１〜１
０）（以下略称してＩＮ１〜１０と記す）と接続され
る。ここで、ＣＣＤは、約２８ミリ長、２０４８画素の
ラインイメージセンサである。このＣＣＤを制御するた
めに、クロック・ジェレネータ６は、ＣＣＤシフトクロ
ック（ＣＣ）を発生する。また、ＣＣＤが読み取った信
号をＤＩＰ１０がフェッチするために、クロック・ジェ
レネータ６は、更にスタートパルス（ＳＰ）と、リード
クロック（ＲＣ）を発生する。ＣＣＤシフトクロック
（ＣＣ）とスタートパルス（ＳＰ）は、各ＣＣＤに夫々
並列に入力される。また、スタートパルス（ＳＰ）とリ
ードクロック（ＲＣ）は、図１のライン５０を介してＤ
ＩＰ１０に送信される。そして、スタートパルス（Ｓ
Ｐ）は、Ｚ８０ＣＰＵのインターラプト１（ＩＮＴＥＲ
ＲＵＰＴ−１）（ＩＮＴ１と省略する）に入力され、リ
ードクロック（ＲＣ）は、Ｚ８０ＣＰＵのインターラプ
ト２（ＩＮＴＥＲＲＵＰＴ−２）（ＩＮＴ２と省略す
る）に入力される。ここで、スタートパルス（ＳＰ）
は、ＣＣＤの読取を開始する信号となり、ＤＩＰ１０の
Ｚ８０ＣＰＵに対して割り込みを発生して、Ｚ８０ＣＰ
Ｕは、コンパレータ４から出力されるデジタル信号を取
り込む処理を開始する。また、リードクロック（ＲＣ）
は、Ｚ８０に対して更に割り込みを発生して、実際にコ
ンパレータ４からのデジタル信号をフェッチする。Ｚ８
０によって処理されたデータは、バス５２を介して、Ｐ
Ｃ２０に送信される。尚、図４では、バス５２のインタ
フェース用のハードウェア・ドライバは省略して示して
いる。

【００２１】図５は、ＣＣＤシフトクロック（ＣＣ）に
同期して得られたＣＤＤからのアナログ信号をアンプ３
によって増幅し、コンパレータ４によってデジタル出力
するタイミングチャートを示す。アナログアンプ３によ
って増幅されたＣＣＤアナログ信号は、コンパレータ４
によって、あるしきい値と比較される。そして、そのし
きい値よりもアナログアンプ３の出力が高い場合は、”
Ｈｉｇｈ”に相当する電圧を出力する。そして、しきい
値よりもアナログアンプ３の出力が低い場合は、”Ｌｏ
ｗ”に相当する電圧を出力する。ここでの”Ｈｉｇｈ”
および”Ｌｏｗ”は、ＤＩＰ１０のＺ８０ＣＰＵの駆動
電圧に応じて決められ、もし、駆動電圧が５ボルトの場
合は、”Ｈｉｇｈ”に相当するコンパレータ４の出力は
約５ボルトであり、”Ｌｏｗ”に相当するコンパレータ
４の出力は約０ボルトである。スタートパルス（ＳＰ）
の発生後、リードクロック（ＲＣ）は、少なくとも、２
０４８個のパルスを発生する。そして、そのリードクロ
ック（ＲＣ）のパルスの立ち上がりに同期して、ＤＩＰ
１０のＺ８０は、コンパレータ４の出力をフェッチす
る。ここで、リードクロック（ＲＣ）は、ＣＣＤシフト
クロック（ＣＣ）のパルス発生後の所定時間に同期して
発生しており、その間の遅延時間は、ＣＣＤがアナログ
出力を安定した出力信号にするまでの時間を少なくとも
有する。また、スタートパルス（ＳＰ）の発生後、ＣＣ
Ｄは、ＣＣＤシフトクロック（ＣＣ）の発生に同期し
て、その画素番号１、２、３〜２０４８までの検出信号
を順次アナログアンプ３に出力するため、Ｚ８０ＣＰＵ
は、ＣＣＤの画素２０４８個分のデジタル出力信号を取
り込むことができる。クロック・ジェレネータ６は、Ｃ
ＣＤシフトクロック（ＣＣ）とリードクロック（ＲＣ）
に２０４８個の画素分のパルスを発生した後、再度、ス
タートパルス（ＳＰ）を発生し、引き続いて、ＣＣＤシ
フトクロック（ＣＣ）とリードクロック（ＲＣ）に２０
４８個の画素分のパルスを繰り返し発生する。これによ
ってＺ８０ＣＰＵは、ＣＣＤの画素番号１から順次２０
４８までの信号を再度デジタル信号としてフェッチする
ことができる。

【００２２】以上のように、被調整モニター前面に一次
元ＣＣＤリニアセンサを複数取り付け、ビデオ信号発生
器によって発生したテストパターンをその被調整モニタ
ー４０に描画する。一次元ＣＣＤリニアセンサは、一列
に並んだ複数の画素から構成され、そのうちの一部の画
素がテストパターンを検出する。ここで、一次元ＣＣＤ
リニアセンサは、モニター画面上に所定の位置となるよ
うに取付手段によって配置されているため、画面上のテ
ストパターンの位置と一次元ＣＣＤリニアセンサの検出
する画素は対応し、リードクロック（ＲＣ）によって時
系列に得られたデジタル信号の論理から、画面上のテス
トパターンの位置が定まり、Ｚ８０ＣＰＵは、検出した
テストパターンの位置情報をバス５２に送信する。

【００２３】ここで、本実施形態での特徴的な点は、ス
タートパルス（ＳＰ）のパルス発生や、ＣＣＤシフトク
ロック（ＣＣ）、あるいはリードクロック（ＲＣ）のパ
ルス発生と、被調整モニター４０のＣＲＴのビーム走査
とは、同期していないことである。一般に、ＣＲＴは、
画面上にテストパターンを走査する場合、ラスタースキ
ャンを行いながら、所定の箇所に電子ビームを照射する
ことで、全体としての画像を形成する。従って、所定の
箇所に当てられたビームを検出するためには、その照射
に同期して、対応するＣＣＤが光を取り込むようにする
必要がある。しかし、本実施の形態では、そのような同
期をせず、通常ＣＲＴの画面上にビーム照射された光の
残像を検出する。ここで問題となるのは、ビーム照射さ
れた画面上の光量は、ＲＧＢの各発光体によって発光す
るため、ラスタースキャンして次のビーム照射に至るま
で残像光量が次第に減少していくことである。従って、
各発光体の残像光量がかなり減少した時に、ＣＣＤの検
出タイミングとなる場合があり、その結果として、アナ
ログアンプ３の出力がしきい値に達せず、コンパレータ
４の出力は”Ｌｏｗ”となり、Ｚ８０はテストパターン
を認識することができない。この問題を解決するため
に、本実施の形態では、ＤＩＰ１０のＺ８０ＣＰＵは、
同一のテストパターンに対して、同一の画素の信号を複
数回、例えば１０回に亘ってデジタル信号として取り込
む。そして、１０回のうちの１回でも、”Ｈｉｇｈ”の
デジタル信号をフェッチすると、その画素に対応する画
面上には、テストパターンによる輝点があると判断す
る。これを論理的に行うには、図５で示した最初のスタ
ートパルス（ＳＰ）から次のスタートパルスに至る一連
のＣＣＤシフトクロック（ＣＣ）、リードクロック（Ｒ
Ｃ）を複数回、この例では１０回、定期的に繰り返し、
各リードクロック（ＲＣ）の番号別に、フェッチして得
られたコンパレータ４の出力を前のコンパレータ４の出
力毎と”ＯＲ”するようにＺ８０ＣＰＵが処理すること
によって可能となる。Ｚ８０は、そのようにして得られ
たリードクロック（ＲＣ）の番号１〜２０４８までのデ
ジタル信号から、テストパターンの範囲を判断すること
ができる。今、一次元ＣＣＤリニアセンサは、２８．６
８５ミリメートル長、２０４８画素であるため、集光レ
ンズ５の倍率を１倍と仮定すると、一画素あたり０．０
１４ミリメートルの検知能力を有する。一方、ＣＲＴの
画面の１ドットを約０．２ミリメートルとすると、その
１ドットからなるテストパターンの検出には、約１４個
の画素を使用する。従って、テストパターンを検出した
Ｚ８０ＣＰＵは、その１４画素分の広がりを有したデジ
タル信号を受け、その中心をテストパターンの画面上の
位置と判断すればよいこととなる。ＣＲＴと非同期のタ
イミングでＣＣＤによる光検出を行うとすると、残像光
量が少ないときに検出する場合もあるが、複数回に亘っ
て検出したうちの１回でも十分残像の光量が得られるよ
うな周期でスタートパルス（ＳＰ）及びそれに続くＣＣ
Ｄシフトクロック（ＣＣ）とリードクロック（ＲＣ）と
を発生すればよく、ＣＲＴのラスタースキャンに同期さ
せるための複雑な処理を行う必要が無い。

【００２４】尚、この例では、１０回周期による読取
と、簡単な”ＯＲ”の処理によって１回の”Ｈｉｇｈ”
のデジタル信号を受けたときに揮点として識別してテス
トパターンの有無を判断するようにしたが、スタートパ
ルス（ＳＰ）の周期や、使用する被調整モニター４０の
ＣＲＴの残像時間、更には、画面上のちらつきを考慮し
て、１０回に限らず複数回の読取と、そのうちの複数
回、例えば３回の揮点検知とから、テストパターンの有
無を判断するようにしてもよい。

【００２５】図６は、被調整モニター４０のＣＲＴ画面
４４上のテストパターンをＣＣＤモジュールのレンズ５
がＣＣＤ上に集光した場合を示している。そして、ＣＣ
Ｄは、縦方向に画素が延びたラインセンサであって、そ
の位置に対応するように、アナログアンプ３の出力と、
コンパレータ４の出力を示している。ここで、ＣＲＴ画
面は、ビーム照射によってＲ，Ｇ，Ｂの各ドットから合
成された揮点として出力するため、ＣＣＤは、ＣＲＴ画
面の例えば約０．２ミリメートルのドットピッチを有し
た各ドットを敏感に検出する。また、テストパターンは
一定の幅を持つように、幅方向に複数の揮点を有するよ
うにしている。従って、ＤＩＰ１０のコンパレータ４に
入力されるアナログ信号は、複数のＲ、Ｇ、Ｂ用のドッ
ト毎で分離された高帯域な信号となっている。一方、Ｄ
ＩＰ１０のデジタル処理を行うＣＰＵにとっては、Ｒ，
Ｇ，Ｂの各ドット、あるいはテストパターンの幅の中に
含まれる各ドットの発光が一つにまとまった揮点として
パルス信号を得られれば十分である。従って、その各ド
ットの発光を一つの連続したアナログ信号とするため
に、本実施の形態では、図６（Ｂ）のように、意図的に
結像する位置からずれた位置にＣＣＤを置くようにして
いる。その結果、ＣＲＴ画面４４の画面上に現れた各ド
ットは、一定の広がりを有し、Ｒ，Ｇ，Ｂの各ドットの
光は互いに重なるため、コンパレータ４への入力信号
は、一本の線（すなわち一つの揮点）からなるアナログ
信号となる。従って、Ｚ８０ＣＰＵには、一本の線によ
るパルスデータをフェッチすることができるため、電子
的なローパスを必要とせず、ＣＰＵにおけるソフトウェ
ア処理を簡単にすることもできる。また、テストパター
ンの方向や、Ｒ，Ｇ，Ｂの各ドットの配列等との関係か
ら、ＣＣＤにピントが鋭く合っている場合に、各ドット
間の黒の部分のみを検出し、結果としてテストパターン
を認識できないといった事態も予想されるため、ピント
をずらすようにレンズ５とＣＣＤとを配置する構成は、
確実にテストパターンを検出する効果も与えている。

【００２６】また、他の不必要な光ノイズに対しても、
かかる構成は有効である。すなわち、何らかの理由で不
必要な高周波の光ノイズがＣＣＤに入り込んだ場合に、
図６（Ａ）のような被調整モニター４０のＣＲＴ画面４
４上のテストパターン６２がレンズ５によって結像した
位置に丁度ＣＣＤがある場合は、ＣＣＤは、その光ノイ
ズを敏感に検知することとなり、アナログアンプ３の出
力は、実際のテストパターン６２の信号に加え鋭いノイ
ズをも出力することとなる。従って、コンパレータ４の
出力は、しきい値を越えた不必要なノイズを”Ｈｉｇ
ｈ”として出力するため、そのようなノイズを除去する
ための複雑な手段をＤＩＰ１０に必要とする。一方、図
６（Ｂ）のように、幾分ピントをぼかすようにＣＣＤを
配置した場合は、光ノイズは、ＣＣＤの複数の画素上に
分散し、アンプ３からは、しきい値のレベルよりも弱い
ノイズ信号となるため、コンパレータ４によって”Ｈｉ
ｇｈ”と判断されにくくなる。ここで、レンズ５にぼか
しによる高周波成分のカットに加え、アンプ３の帯域を
狭めるようにすれば、高周波ノイズをより取り除くこと
ができ、その後のデジタル処理を容易にすることができ
る。尚、図６（Ｂ）では、図６（Ａ）のレンズ５からの
結像距離ｆ₁よりもＣＣＤを近接して配置したが、もち
ろん、遠接、あるいは、レンズ５とＣＲＴ画面４４との
距離を異ならせるようにしてもよい。

【００２７】真のテストパターン６２を認識したＤＩＰ
１０は、２０４８個の画素に対応して、夫々”１”又
は”０”のデータを有する。そして、そしてそのピッチ
は、０．０１４ミリメートルであり、ＣＲＴ画面４４の
ピッチである約０．２ミリメートルに比較して十分小さ
い。従って、ＣＲＴ画面４４のドットピッチに相当する
約１４画素の広がりを有するデジタルデータは、そのド
ットの位置を表すには、一つのビットデータとして表せ
ば十分である。従って、ＤＩＰ１０のＺ８０ＣＰＵは、
２０４８個のデジタルデータを、２５６個、すなわち８
ビットのデータに圧縮する。この８ビットデータは、
０．０１４ｘ８＝０．１１２ミリのピッチに相当するた
め、ＣＲＴ画面４４のドットピッチ０．２ミリを表現す
ることができる。このようにして、８ビットデータで表
現されたテストパターンの位置は、バス５２を介してＰ
Ｃ２０に送信される。従って、バス５２として、ＰＣ２
０が汎用として通常有しているＲＳ２３２Ｃ、ＲＳ４２
２あるいはセントロニクス等を使用することができる。
これによって、ＰＣ２０は、何ら特別のバスやデバイス
を新たに必要しないため、ＰＣそのものを調整用として
使用することができる。また、８ビットデータに圧縮し
たため、テストパターンと基準パターンの位置の比較
や、後に説明する調整のための演算処理を容易にするこ
とができる。

【００２８】バス５２を介してテストパターン６２の位
置情報を受けたＰＣ２０は、基準パターン６０の位置情
報と比較され、テストパターン６２が適正な位置となる
ように、画面調整の制御命令を被調整モニター４０に送
信する。ここで、今日のモニターは、ＰＣによるデジタ
ルの制御命令で調整可能なように、ＣＲＴを駆動する駆
動制御部の他に画面調整用のデジタル制御回路とメモリ
を有し、コマンド形式で補正データを入力することで、
幾何学的歪みの補正が可能なようになっているため、こ
れを利用する。具体的なテストパターンの検証と調整の
ためのアルゴリズムは例えば以下のとおりである。

【００２９】まず、（１）テストパターン６２が、ＬＩ
ＳＡ１の４隅のＣＣＤモジュールＣＣＤ１、５、６、１
０によって検出されているかどうかを判断する。検出さ
れていない場合は、テストパターン６２が大きすぎる
か、あるいは小さすぎて、各ＣＣＤモジュールＣＣＤ
１、５、６、１０の検知範囲にないと考えられるため、
テストパターン６２の全体、上部又は下部のテストパタ
ーン６２Ｕ，６２Ｂの縮小、あるいは拡大、右又は左の
テストパターン６２Ｌ，６２Ｒの伸張又は縮小の画像調
整の制御命令を被調整モニター４０に送信する。この調
整をその４隅のＣＣＤモジュールＣＣＤ１、５、６、１
０のいずれもがテストパターン６２を検出するまで行
う。

【００３０】ここで、テストパターン６２がいずれのＣ
ＣＤモジュールＣＣＤ１、５、６、１０でも検出されな
い場合、そのテストパターン６２が大きすぎて検出され
ないのか、小さくて検出されないのかの２つの場合が考
えられる。そこで、テストパターン６２の拡大又は縮小
のいずれかを適正に行うために、図７で示したように、
テストパターン６２の他に、それより小さい４角形の指
標パターン６４と、テストパターン６２より大きな４角
形の指標パターン６６をＶＳＧ３０によって表示させ
る。そして、各指標パターン６４、６６の夫々は、数が
異なった複数本のパターン（図では夫々２本と３本）か
ら構成されるようにする。これによって、２本の指標パ
ターンのみを検出した場合は、テストパターン６２を縮
小するように調整すればよい。また、もし３本の指標パ
ターン６６のみを検出した場合は、テストパターン６２
を拡大するように調整すればよい。これによって、縮
小、拡大の判断をより簡易に且つ迅速に行うことができ
る。

【００３１】次に（２）右及び左のテストパターン６２
Ｌ，６２Ｒが、左右のＣＣＤモジュールＣＣＤ２、４、
７、９によって検知されているかどうかを判断する。検
知されていない場合は、検知するまで、右又は左のテス
トパターン６２Ｌと６２Ｒ間の幅の伸張又は縮小の制御
命令を被調整モニター４０に送信する。更に、（３）上
部及び下部のテストパターン６２Ｕ、６２Ｂが水平であ
るかどうかをＣＣＤモジュールＣＣＤ１と１０及びＣＣ
Ｄ５と６の検知結果から判断する。もし、右上がりであ
る場合は、右回転（時計方向）の制御命令を被調整モニ
ター４０に送信し、左上がりである場合は、左回転（反
時計方向）の制御命令を被調整モニター４０に送信し
て、水平な状態とする。次に、（４）台形であるかどう
かを、ＣＣＤモジュールのＣＣＤ２とＣＣＤ９とが検知
した座標差とＣＣＤ４とＣＣＤ７とが検知した座標差か
ら判断する。もし、相互の座標差が異なっている場合
は、台形調整のための制御命令を被調整モニター４０に
送信して、相互の座標差を一致させる。上記ステップが
終了しても、左右の横テストパターン６２Ｌ、６２Ｒが
例えば平行四辺形のように夫々画面上で傾いている場合
がある。従って（５）ＣＣＤモジュールのＣＣＤ２とＣ
ＣＤ４との検知した座標差又はＣＣＤ９とＣＣＤ７との
検知した座標差を０とするように、垂直のための制御命
令を被調整モニター４０に送信して調整する。更に残っ
ている問題として、左右の横テストパターン６２Ｌ、６
２Ｒが、外側あるいは内側が湾曲している場合がある。
そのために、（６）ＣＣＤモジュールのＣＣＤ２とＣＣ
Ｄ３との検知した座標差及びＣＣＤ９とＣＣＤ８との検
知した座標差を０、あるいは人間の目では識別できない
程度の所定の公差内とするように、樽型補正や弓型補正
のための制御命令を夫々被調整モニター４０に送信して
調整する。次に、（７）テストパターン６２の四角形の
隅が、ＣＲＴ画面４４上の適正な位置に有るかどうかを
判断するために、ＣＣＤモジュールＣＣＤ１とＣＣＤ２
の検出結果を利用する。そして、テストパターンを移動
するための制御命令を被調整モニター４０に送信して、
適正な位置にテストパターン６２を移動調整する。ま
た、（８）テストパターン６２の大きさが基準パターン
６０と一致するかどうかをＣＣＤモジュールのＣＣＤ５
とＣＣＤ９によって判断する。そして、一致するまで、
テストパターン６２の下方方向への拡大又は縮小と、左
方向への拡大又は縮小のための制御命令を被調整モニタ
ー４０に送信する。最後に、その調整値を被調整モニタ
ー４０内のメモリに記憶させて初期設定値とするため
に、ＰＣ２０は、Ｓａｖｅ命令を被調整モニター４０に
送信して最終的な調整を終了する。尚、上記の他に、よ
り微妙な幾何学的歪の調整をするには、１０個以上のＣ
ＣＤモジュールをＬＩＳＡ１に設け、テストパターンの
形状をより詳細に把握できるようにすればよい。

【００３２】ここで、上記ステップ（１）〜（８）にか
けて使用した各制御命令は、モニターが通常内蔵するロ
ジック制御手段によって解読可能な制御命令である。そ
して、ＰＣ２０は、そのような既に用意された画面調整
の制御命令を使用し、その制御命令と調整値を表すパラ
メータとを被調整モニター４０に送信することで、ステ
ップ（１）〜（８）で示したような分類された調整モー
ドによる調整を図っている。従って、最終的に調整され
た時の調整値（パラメータ）は、夫々の被調整モニター
４０毎に異なることとなり、その異なったパラメータ
が、各被調整モニター４０の初期設定値となる。そし
て、その被調整モニター４０の製造番号やシリアル番号
等の認識番号と、それに対応する各解像度毎の初期設定
値をＰＣ２０上で記録管理するとともに、その被調整モ
ニター４０用にフロッピーディスク等の携帯可能な記録
媒体（以下、ＦＤ等という）に記録する。一つの被調整
モニター４０には、その記録を行ったＦＤ等を添付する
とともに、各解像度毎に初期設定値を自動的にその被調
整モニター４０に書き込むことが可能なソフトウェア・
プログラム（いわゆる自動調整プログラム）を記録す
る。このソフトウェア・プログラムは、市販のＰＣのＯ
Ｓ（オペレーティング・システム）に応じて作成されて
おり、例えば、ＷＩＮＤＯＷＳ９５（マイクロソフ
ト_RM）やＯＳ８（アップル_RM）等で実行可能なように用
意する。一方、そのモニターを購入したユーザにおい
て、何らかの理由で、初期設定状態が破壊され、モニタ
ーの表示位置のずれや歪みが発生したとき、そのモニタ
ー用に用意されたＦＤ等から自動調整プログラムを起動
させる。このとき、自動調整プログラムは、既にＰＣで
設定されたモニターの解像度を識別し、その解像度に応
じた初期設定をＦＤ等から読み出し、モニターに制御命
令を発生することによって、初期設定状態に復帰するこ
とが可能となる。

【００３３】次に、ＬＩＳＡ１の校正について説明す
る。ＬＩＳＡ１が検出したテストパターンのＰＣ２０に
送信される位置情報とＰＣ２０が保管する基準パターン
の位置情報は、テストパターンが基準パターンに一致し
た際に、同時に一致する必要がある。そのためには、Ｃ
ＣＤモジュールのレンズやＣＣＤの位置を厳密に管理し
てＬＩＳＡ１のフレーム８に取り付け、基準パターンに
一致したテストパターンが、ＣＣＤの決まった画素で検
出されるようにする必要がある。そして、そのために
は、精密なブラケット等の取付器具や長時間の調整を必
要とするのが一般的である。そこで、次の方法によっ
て、ＬＩＳＡ１を簡易に組み立てたまま、校正できるよ
うにする。

【００３４】まず、基準のテストパターンを表示する基
準モニターを用意する。そして、その基準モニターにＣ
ＣＤモジュールを組み込んだ未調整のＬＩＳＡ１を取り
付ける。ＤＩＰ１０を図１に示すようにＬＩＳＡ１とＰ
Ｃ２０に接続する。ＰＣ２０は、ＤＩＰ１０から得られ
た位置情報を基準パターンの位置情報として保管する。
このようにデータ上で校正することで、既にＣＣＤモジ
ュールが組み入れられたＬＩＳＡ１の校正がされたこと
となり、ＣＣＤモジュールそのものを厳密に取り付ける
必要がなくなる。そして、ＬＩＳＡ１毎にその対応する
校正データをＰＣ２０で使用することによって、テスト
パターンの位置を適正に調整することができる。複数の
ＬＩＳＡ１を生産して、様々なエリアに配分する場合
は、その校正データが記録されたＦＤ等をＬＩＳＡ１毎
に添付して使用できるようにすればよい。

【００３５】

【発明の効果】以上のように、本発明は、被調整モニタ
ー上に取り付けた複数の一次元ＣＣＤリニアセンサから
のアナログ信号をコンパレータによってデジタル信号に
変換し、テストパターンの残像光量の強い時を検出でき
るように、その各一次元ＣＣＤリニアセンサによるテス
トパターンの検出を複数回繰り返して行うことによっ
て、被調整モニターがビーム照射するタイミングに同期
することなく、容易にテストパターンの検出が可能とな
った。

【００３６】また、ＣＣＤの位置をレンズがテストパタ
ーンを結像する位置からわずかにずらすことで、Ｒ，
Ｇ，Ｂの各ドットによる各揮点がぼかされ、一つのまと
まりのある揮点としてＣＣＤが検出するため、高周波成
分を取り除く電子的なローパスフィルターを排除し、一
本のテストパターンの識別を行うための処理を簡素化す
ることができた。

【００３７】更に、多数の微細なピッチの画素を有する
一次元ＣＣＤリニアセンサによって、それよりも大きい
ピッチの被調整モニターの蛍光体の揮点を検出するた
め、一定の幅（すなわち複数のビット検出）を有する揮
点のみをテストパターンとして識別すれば良く、更に、
デジタル・イメージ・プロセッサによって、その識別さ
れた幅のあるテストパターンの位置情報を一点として変
換して表すことで、複数のビットデータを圧縮すること
としため、データ伝送時間の短縮を図ることができた。

【００３８】また、解像度が異なる各モードのテストパ
ターンを表示させるように、予めプログラム可能なビデ
オ信号発生器に複数のモードのテストパターンを設定
し、ビデオ信号発生器とＰＣとを接続して、ＰＣからの
制御を可能とし、また、被調整モニターは、ビデオ信号
発生器からの解像度及びテストパターン情報を得て画像
表示するためにビデオ信号発生器と接続され、ＰＣから
位置補正の為の制御信号を受けてテストパターンの位置
を基準とする位置に補正するためにＰＣと接続される。
これによって、ユーザ毎に異なった解像度で使用される
モニターについても、その全ての解像度で簡単にしかも
迅速に補正できるようになった。

【００３９】更には、その補正のための処理装置として
市販される汎用のＰＣで行うため、調整済みのモニター
の補正データを、ＰＣが利用できる記録媒体に記録して
保管でき、調整用のソフトウェア・プログラムととも
に、モニターに添付して提供すれば、一度、モニターの
初期設定が破壊されたとしても、その記録媒体によって
簡単に初期設定状態に復帰させることも可能となった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によりモニター調整を行うためのブロッ
ク図である。

【図２】取付手段であるリニアイメージセンサ・アタッ
チメントの斜視図である。

【図３】被調整モニターの画面とＣＣＤモジュールとの
位置関係の一例である。

【図４】リニアイメージセンサ・アタッチメントのＣＣ
Ｄおよびデジタル・イメージ・プロセッサのブロック図
である。

【図５】各ＣＣＤモジュールの一次元ＣＣＤリニアセン
サで得られたアナログ信号を、デジタル・イメージ・プ
ロセッサが読取信号によってフェッチするためのタイミ
ングチャートである。

【図６】ＣＣＤモジュールのレンズとＣＣＤとの位置関
係を示す概略図である。

【図７】テストパターンと、テストパターンの位置を即
座に判断させるための指標パターンとがＣＲＴ画面上に
表示された一例である。

【符号の説明】

１．．．リニアイメージセンサ・アタッチメント（ＬＩ
ＳＡ）、１０．．デジタル・イメージ・プロセッサ（ＤＩＰ）２０．．パーソナルコンピュータ（ＰＣ）３０．．ビデオ信号発生器（ＶＳＧ）４０．．被調整モニター６０．．基準パターン６２．．テストパターン

【手続補正書】

【提出日】平成９年１２月９日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０００７

【補正方法】変更

【補正内容】

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明によると、被調整
モニターの幾何学的歪を調整可能な装置であって、前記
画面上に表示されたテストパターンを検出する複数のイ
メージセンサと、前記複数のイメージセンサを前記画面
上の所定の位置に配置して固定する取付手段と、前記複
数のイメージセンサの夫々が検出したアナログ信号を受
信してデジタル的な位置情報に変換する変換手段と、前
記変換手段からの位置情報を受信するために前記変換手
段と接続された処理手段と、前記処理手段と前記被調整
モニターに接続され、前記処理手段から所定のテストパ
ターン表示のための信号を受信し、その信号に相応する
テストパターン信号を前記被調整モニターに送出する信
号発生器とを有し、前記処理装置は更に、前記被調整モ
ニターに接続され、前記画面上に表示されたテストパタ
ーンと目標となる基準パターンとのずれとを算出し、補
正データを前記被調整モニターに送信して解像度に応じ
たテストパターンの表示位置と歪みの調整を行うことを
特徴とするモニター自動調整装置を提供する。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０００８

【補正方法】変更

【補正内容】

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０００９

【補正方法】変更

【補正内容】

【０００９】更に、本発明によると、前記イメージセン
サは、テストパターンを投射するレンズの結像位置より
もわずかにずらすように設けられている。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１０

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１０】そして、前記変換手段は、前記イメージセ
ンサから検出したテストパターンを、ＰＣが汎用として
有する入力ポートでデータ伝送可能なビット長の位置情
報に変換することを特徴とする。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００２７

【補正方法】変更

【補正内容】

【００２７】真のテストパターン６２を認識したＤＩＰ
１０は、２０４８個の画素に対応して、夫々”１”又
は”０”のデータを有する。そして、そしてそのピッチ
は、０．０１４ミリメートルであり、ＣＲＴ画面４４の
ピッチである約０．２ミリメートルに比較して十分小さ
い。従って、ＣＲＴ画面４４のドットピッチに相当する
約１４画素の広がりを有するデジタルデータは、そのド
ットの位置を表すには、一つの位置データとして表せば
十分である。従って、ＤＩＰ１０のＺ８０ＣＰＵは、２
０４８個のデジタルデータを、２５６個、すなわち８ビ
ットのデータに圧縮する。この８ビットデータは、０．
０１４ｘ８＝０．１１２ミリのピッチに相当するため、
ＣＲＴ画面４４のドットピッチ０．２ミリを表現するこ
とができる。このようにして、８ビットデータで表現さ
れたテストパターンの位置は、バス５２を介してＰＣ２
０に送信される。そして、バス５２として、ＰＣ２０が
汎用として通常有しているＲＳ２３２Ｃ、ＲＳ４２２あ
るいはセントロニクス等を使用することができる。これ
によって、ＰＣ２０は、何ら特別のバスやデバイスを新
たに必要しないため、ＰＣそのものを調整用として使用
することができる。また、８ビットデータに圧縮したた
め、テストパターンと基準パターンの位置の比較や、後
に説明する調整のための演算処理を容易にすることがで
きる。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】解像度別にテストパターン信号を被調整モ
ニターに送出する信号発生器と、前記テストパターン信号に応じて前記被調整モニターの
画面上に表示されたテストパターンを検出する複数の一
次元リニアセンサと、前記複数の一次元リニアセンサを前記画面上の所定の位
置に配置して固定する取付手段と、前記複数の一次元リニアセンサの夫々が検出したアナロ
グ信号を受信してデジタルの位置情報に変換する変換手
段と、前記変換手段からの位置情報を受信するために前記変換
手段と接続された処理手段とを有し、前記処理手段は、前記被調整モニターと前記信号発生器
に接続され、前記画面上に表示されたテストパターンと
目標となる基準パターンの位置ずれを算出し、位置補正
のための補正データを前記被調整モニターに送信してテ
ストパターンの位置調整を行い、テストパターン表示の
ための信号を解像度毎に前記信号発生器に送信すること
で、解像度別に被調整モニターの幾何学的歪の調整を行
うことを特徴とするモニター自動調整装置。
【請求項２】前記変換手段は、前記テストパターンを認
識するために、前記複数の一次元リニアセンサが検出し
たアナログ信号を夫々複数回に亘って受信することを特
徴とする請求項１記載のモニター自動調整装置。
【請求項３】前記変換手段は、前記複数回受信したアナ
ログ信号を２値にデジタル化した後、各検出位置別にＯ
Ｒすることを特徴とする請求項第２項に記載のモニター
自動調整装置。
【請求項４】前記一次元リニアセンサは、テストパター
ンを投射するレンズの結像位置からずらすように設けら
れていることを特徴とする請求項１記載のモニター自動
調整装置。
【請求項５】前記処理手段はパーソナル・コンピュータ
（ＰＣ）であって、前記変換手段は、前記一次元リニアセンサから検出した
テストパターンを、前記ＰＣが汎用として有する入力ポ
ートでデータ伝送可能なビット長の位置情報に変換する
ことを特徴とする請求項第１項に記載のモニター自動調
整装置。
【請求項６】前記入力ポートは、ＲＳ２３２Ｃ、ＲＳ４
２２又はセントロニクスのいずれかであることを特徴と
する請求項第５項記載のモニター自動調整装置。
【請求項７】前記テストパターンは縦ラインと横ライン
とからなり、前記複数の一次元リニアセンサは、縦ラインの画面横方
向の位置を検出するために縦ラインに沿って横に配置さ
れた一次元リニアセンサと、横ラインの画面縦方向の位
置を検出するために横ラインに沿って縦に配置された一
次元リニアセンサとからなることを特徴とする請求項第
１項に記載のモニター自動調整装置。
【請求項８】前記テストパターンは、前記縦ラインが被
調整モニター画面左右に表示され、前記横ラインが被調
整モニター画面上下に表示される四角形のパターンで構
成され、前記横に配置された一次元リニアセンサは、左右の前記
縦ラインに沿って上部、下部に配置された少なくとも４
個の一次元リニアセンサから構成され、前記縦に配置された一次元リニアセンサは、上下の前記
横ラインに沿って左部及び右部に配置された少なくとも
４個の一次元リニアセンサから構成されていることを特
徴とする請求項第７項に記載のモニター自動調整装置。
【請求項９】前記処理手段は、前記縦ラインに沿って配
置された一次元リニアセンサから得られた位置情報から
縦ラインの傾きと左右の縦ライン間の距離を算出し、横
ラインに沿って配置された一次元リニアセンサから得ら
れた位置情報から横ラインの傾きと上下の横ライン間の
距離を算出することを特徴とする請求項第８項に記載の
モニター自動調整装置。
【請求項１０】前記縦ラインに沿って配置された一次元
リニアセンサは更に、前記上部と前記下部との中間に配
置された一次元リニアセンサを有し、前記処理手段は、前記縦ラインに沿って配置された一次
元リニアセンサから得られた得られた位置情報から、縦
ラインの湾曲を算出することを特徴とする請求項第８項
に記載のモニター自動調整装置。
【請求項１１】前記テストパターンは、異なった複数本
の近接した縦ライン及び横ラインからなる一群の指標パ
ターンを更に有し、前記処理手段は、前記指標パターンを検出することによ
り、当該指標パターンから偏在したテストパターンの画
面上の位置関係を算出することを特徴とする請求項第１
項に記載のモニター自動調整装置。
【請求項１２】被調整モニターに検出手段を取り付け、
当該検出手段によって検出した画面上のテストパターン
の位置情報と所定の基準パターンの位置情報と比較する
ことでテストパターンの位置を調整する方法であって、適正な基準パターンを表示する基準モニターに前記検出
手段を取り付けて当該基準パターンを検出して位置情報
を算出し、前記位置情報を当該検出手段の基準パターンの位置情報
とすることを特徴とするモニター調整方法。