JPH11109040A - 放射線情報収集装置 - Google Patents
放射線情報収集装置Info
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- JPH11109040A JPH11109040A JP9266594A JP26659497A JPH11109040A JP H11109040 A JPH11109040 A JP H11109040A JP 9266594 A JP9266594 A JP 9266594A JP 26659497 A JP26659497 A JP 26659497A JP H11109040 A JPH11109040 A JP H11109040A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 102
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 33
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 4
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 2
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 2
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SKJCKYVIQGBWTN-UHFFFAOYSA-N (4-hydroxyphenyl) methanesulfonate Chemical compound CS(=O)(=O)OC1=CC=C(O)C=C1 SKJCKYVIQGBWTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000001727 in vivo Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明の目的は、検出セルアレイ上のギャップ
に起因した画像の歪みやアーチファクトを軽減すること
を可能とする放射線情報収集装置を提供することにあ
る。 【解決手段】本発明は、単一の半導体結晶20上に電極
21を設けることにより検出セル1を構成した複数の検
出セルモジュール2をマトリクス状に配列した検出ユニ
ット4と、このユニット4からの出力に基づいて検出セ
ル1の幅より短い空間分解能で且つ検出セル1の数より
多い画素数で画像を得る補間計算回路7とを備え、半導
体結晶20の幅と半導体結晶20間のギャップの距離と
を加算した長さが、空間分解能の整数倍となるように構
成される。
に起因した画像の歪みやアーチファクトを軽減すること
を可能とする放射線情報収集装置を提供することにあ
る。 【解決手段】本発明は、単一の半導体結晶20上に電極
21を設けることにより検出セル1を構成した複数の検
出セルモジュール2をマトリクス状に配列した検出ユニ
ット4と、このユニット4からの出力に基づいて検出セ
ル1の幅より短い空間分解能で且つ検出セル1の数より
多い画素数で画像を得る補間計算回路7とを備え、半導
体結晶20の幅と半導体結晶20間のギャップの距離と
を加算した長さが、空間分解能の整数倍となるように構
成される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線撮影装置、X
線コンピュータ断層撮影装置(CTスキャナ)、ガンマ
カメラ、骨塩定量装置などの放射線を検出し画像化する
ための装置の心臓部を構成する放射線情報収集装置に関
する。
線コンピュータ断層撮影装置(CTスキャナ)、ガンマ
カメラ、骨塩定量装置などの放射線を検出し画像化する
ための装置の心臓部を構成する放射線情報収集装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】例えばガンマカメラでは、近年、RIの
濃度分布を一方向へ投影したようなプレーナ画像だけで
なく、X線コンピュータ断層撮影装置のようなRIの断
層面内の濃度分布を撮影できるガンマカメラシステムが
多く市販されている。このRIの断層面内の濃度分布の
撮影技法は、使用する核種の違いで、SPECT(singl
e photon emission computed tomography)とPET(pos
itron emission computed tomography) とに大別されて
いる。
濃度分布を一方向へ投影したようなプレーナ画像だけで
なく、X線コンピュータ断層撮影装置のようなRIの断
層面内の濃度分布を撮影できるガンマカメラシステムが
多く市販されている。このRIの断層面内の濃度分布の
撮影技法は、使用する核種の違いで、SPECT(singl
e photon emission computed tomography)とPET(pos
itron emission computed tomography) とに大別されて
いる。
【0003】SPECTは、シングルフォトン核種を被
検体に投与し、それから崩壊時に放出されるガンマ線を
体外から1個1個のフォトン(光子)として計数し、そ
の核種の断層面内の濃度分布を再構成するという技法で
ある。また、PETは、ポジトロン核種を被検体に投与
し、それから放出されるポジトロンが近傍の陰電子と結
合して消滅する際に互いに反対方向に発生する2個のフ
ォトンを同時計数して、その核種の断層面内の濃度分布
を再構成するという技法である。
検体に投与し、それから崩壊時に放出されるガンマ線を
体外から1個1個のフォトン(光子)として計数し、そ
の核種の断層面内の濃度分布を再構成するという技法で
ある。また、PETは、ポジトロン核種を被検体に投与
し、それから放出されるポジトロンが近傍の陰電子と結
合して消滅する際に互いに反対方向に発生する2個のフ
ォトンを同時計数して、その核種の断層面内の濃度分布
を再構成するという技法である。
【0004】最近、CdZnTe(Cadmium Z
inc Telluride)あるいはCdTe(Ca
dmium Telluride)などの検出セルが登
場し、ガンマカメラのシーンでもこの検出セルをマトリ
クスに配列したアレイが、従来のアンガー型のものに今
後、取って代わっていくであろうと予想されている。
inc Telluride)あるいはCdTe(Ca
dmium Telluride)などの検出セルが登
場し、ガンマカメラのシーンでもこの検出セルをマトリ
クスに配列したアレイが、従来のアンガー型のものに今
後、取って代わっていくであろうと予想されている。
【0005】ところで、このような放射線情報収集装置
をガンマカメラなどで実用化する上で非常に大きなマト
リクススケールのアレイが要求されており、このような
大きなマトリクススケールを実現するには、その製造過
程上の問題などから、小さいマトリクススケールの放射
線情報収集装置(モジュール)を多数作っておき、そし
てこのモジュールを幾つか縦横に配列して1つのモジュ
ールアレイを作り、さらに複数のモジュールアレイをや
はり縦横に配列するという2段階の過程を経る必要があ
る。
をガンマカメラなどで実用化する上で非常に大きなマト
リクススケールのアレイが要求されており、このような
大きなマトリクススケールを実現するには、その製造過
程上の問題などから、小さいマトリクススケールの放射
線情報収集装置(モジュール)を多数作っておき、そし
てこのモジュールを幾つか縦横に配列して1つのモジュ
ールアレイを作り、さらに複数のモジュールアレイをや
はり縦横に配列するという2段階の過程を経る必要があ
る。
【0006】モジュールやモジュールアレイを配列する
とき、隣り合うモジュールの間やモジュールアレイの間
に、ある程度のギャップ(空隙)が必要になるが、この
ギャップを配列精度の限界まで少なくしようとするあま
り、ギャップがばらつき、これにより画像が機械的に歪
んだり、ギャップ付近にアーチファクトが発生すること
になり、アンガー型のような、アナログ的で自然な画像
を出すのは困難であった。
とき、隣り合うモジュールの間やモジュールアレイの間
に、ある程度のギャップ(空隙)が必要になるが、この
ギャップを配列精度の限界まで少なくしようとするあま
り、ギャップがばらつき、これにより画像が機械的に歪
んだり、ギャップ付近にアーチファクトが発生すること
になり、アンガー型のような、アナログ的で自然な画像
を出すのは困難であった。
【0007】また、1ピクセルが検出セルの形状やサイ
ズに依存してしまう傾向が強くなり、ディジタル的なモ
アレ縞が見えてしまうという欠点もあった。このような
問題は、ガンマカメラに限らず、X線撮影装置やCTス
キャナ等で放射線情報収集装置を採用する場合にも同様
につきまとう問題であった。
ズに依存してしまう傾向が強くなり、ディジタル的なモ
アレ縞が見えてしまうという欠点もあった。このような
問題は、ガンマカメラに限らず、X線撮影装置やCTス
キャナ等で放射線情報収集装置を採用する場合にも同様
につきまとう問題であった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、放射
線情報収集装置のギャップの存在に起因した画像の歪み
やアーチファクトを軽減することを可能とする放射線情
報収集装置を提供することにある。
線情報収集装置のギャップの存在に起因した画像の歪み
やアーチファクトを軽減することを可能とする放射線情
報収集装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による放射線情報
収集装置は、単一の半導体結晶上に電極を設けることに
より検出セルを構成した複数の検出セルモジュールを、
マトリクス状に配列してなる放射線検出ユニットと、前
記放射線検出ユニットから出力される情報に基づいて、
前記検出セルの幅より短い空間分解能で、且つ前記検出
セルの数より多い画素数の画像情報を得る演算手段と、
前記演算手段で得られた画像情報を記憶する画像メモリ
とを備え、前記半導体結晶の幅と前記半導体結晶間のギ
ャップの幅とを加算した長さが、前記空間分解能の整数
倍となるように構成される。
収集装置は、単一の半導体結晶上に電極を設けることに
より検出セルを構成した複数の検出セルモジュールを、
マトリクス状に配列してなる放射線検出ユニットと、前
記放射線検出ユニットから出力される情報に基づいて、
前記検出セルの幅より短い空間分解能で、且つ前記検出
セルの数より多い画素数の画像情報を得る演算手段と、
前記演算手段で得られた画像情報を記憶する画像メモリ
とを備え、前記半導体結晶の幅と前記半導体結晶間のギ
ャップの幅とを加算した長さが、前記空間分解能の整数
倍となるように構成される。
【0010】また、本発明による放射線情報収集装置
は、単一の半導体結晶上に電極を設けることにより検出
セルを構成した複数の検出セルモジュールを、マトリク
ス状に配列してなる放射線検出ユニットを有する放射線
情報収集装置において、前記放射線検出ユニットは、前
記検出セルの中心間の距離と前記半導体結晶間のギャッ
プの幅との比が20以下の整数比になるように構成され
ている。。
は、単一の半導体結晶上に電極を設けることにより検出
セルを構成した複数の検出セルモジュールを、マトリク
ス状に配列してなる放射線検出ユニットを有する放射線
情報収集装置において、前記放射線検出ユニットは、前
記検出セルの中心間の距離と前記半導体結晶間のギャッ
プの幅との比が20以下の整数比になるように構成され
ている。。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
よる放射線情報収集装置を、好ましい実施形態により説
明する。本実施形態では、放射線情報収集装置として、
ガンマカメラシステムを例に説明するが、X線撮影装
置、X線コンピュータ断層撮影装置(CTスキャナ)、
骨塩定量装置などの放射線を検出し画像化するための装
置全般に適用可能である。
よる放射線情報収集装置を、好ましい実施形態により説
明する。本実施形態では、放射線情報収集装置として、
ガンマカメラシステムを例に説明するが、X線撮影装
置、X線コンピュータ断層撮影装置(CTスキャナ)、
骨塩定量装置などの放射線を検出し画像化するための装
置全般に適用可能である。
【0012】図1には本実施形態によるガンマカメラシ
ステムの構成を示している。このガンマカメラシステム
は、CPU9を制御中枢として、放射線検出ユニット
4、アドレス発生回路5、補間前収集メモリ6、補間計
算回路7、補間後収集メモリ8、ウォーブリング機構1
0、エンコーダ11、XY移動量計算回路12、アドレ
ス補正回路13とから構成される。
ステムの構成を示している。このガンマカメラシステム
は、CPU9を制御中枢として、放射線検出ユニット
4、アドレス発生回路5、補間前収集メモリ6、補間計
算回路7、補間後収集メモリ8、ウォーブリング機構1
0、エンコーダ11、XY移動量計算回路12、アドレ
ス補正回路13とから構成される。
【0013】図2に図1の放射線検出ユニット4の斜視
図を示し、図3に図1の放射線検出ユニット4の平面図
を示し、図4に図3の中の1つの検出セルモジュールの
側面図を示している。被検体に投与された放射性同位元
素から放射される放射線、ここではガンマ線を検出する
ための放射線検出ユニット4は、CZT(Cadmiu
m Zinc Telluride)あるいはCdTe
(Cadmium Telluride)等の半導体結
晶板20を有している。この半導体結晶板20の表面に
は複数の個別電極21が、ここでは4×4のマトリクス
状に形成され、裏面には共通電極22が形成されてい
る。このように1枚の半導体結晶板20に形成した4×
4の検出セルアレイを、1つの検出セルモジュール2と
して、製造上の物理的な最小単位として取り扱ってい
る。
図を示し、図3に図1の放射線検出ユニット4の平面図
を示し、図4に図3の中の1つの検出セルモジュールの
側面図を示している。被検体に投与された放射性同位元
素から放射される放射線、ここではガンマ線を検出する
ための放射線検出ユニット4は、CZT(Cadmiu
m Zinc Telluride)あるいはCdTe
(Cadmium Telluride)等の半導体結
晶板20を有している。この半導体結晶板20の表面に
は複数の個別電極21が、ここでは4×4のマトリクス
状に形成され、裏面には共通電極22が形成されてい
る。このように1枚の半導体結晶板20に形成した4×
4の検出セルアレイを、1つの検出セルモジュール2と
して、製造上の物理的な最小単位として取り扱ってい
る。
【0014】そして、4つの検出セルモジュール2をモ
ジュールアレイ用基板23の上に2×2のマトリクス状
に配置することにより、1つの検出セルモジュールアレ
イ3を構成し、さらに、複数の検出セルモジュールアレ
イ3をメイン基板24の上にマトリクス状に配列するこ
とにより、放射線検出ユニット4の中核をなす最終的な
例えばm×nマトリクスの検出セルアレイを構成してい
る。
ジュールアレイ用基板23の上に2×2のマトリクス状
に配置することにより、1つの検出セルモジュールアレ
イ3を構成し、さらに、複数の検出セルモジュールアレ
イ3をメイン基板24の上にマトリクス状に配列するこ
とにより、放射線検出ユニット4の中核をなす最終的な
例えばm×nマトリクスの検出セルアレイを構成してい
る。
【0015】なお、上記では、1枚の半導体結晶板20
に4×4の検出セルアレイを形成して、これを1つの検
出セルモジュール2としたが、図5(a)に示すよう
に、1検出セル分の電極21,22を表裏面に形成した
半導体結晶20を縦横それぞれの方向に所定のギャップ
を設けて、m×nのマトリクス状に配置したものや、図
5(b)に示すように、1つの半導体結晶20の一面に
共通電極22を設け、他の面にm×1分の電極21を設
けることにより、1行分の検出セルを構成し、この1行
の検出セルを所定のギャップを設けて、n行分配置する
ことにより、m×nのマトリクスを形成したものを用い
てもよい。
に4×4の検出セルアレイを形成して、これを1つの検
出セルモジュール2としたが、図5(a)に示すよう
に、1検出セル分の電極21,22を表裏面に形成した
半導体結晶20を縦横それぞれの方向に所定のギャップ
を設けて、m×nのマトリクス状に配置したものや、図
5(b)に示すように、1つの半導体結晶20の一面に
共通電極22を設け、他の面にm×1分の電極21を設
けることにより、1行分の検出セルを構成し、この1行
の検出セルを所定のギャップを設けて、n行分配置する
ことにより、m×nのマトリクスを形成したものを用い
てもよい。
【0016】このようなm×nマトリクスの放射線検出
ユニット4にガンマ線が入射すると、対応する位置に在
る検出セルから、入射ガンマ線のエネルギーに応じた波
高値で電気信号が出力される。エネルギーウインドウ回
路14は、波高値(エネルギー)に従って、被検体に投
与された放射性同位元素からのガンマ線を外乱ガンマ線
と弁別するために、波高値をウインドウ処理して、エネ
ルギーが所定のエネルギーウインドウに入ったとき、投
与された放射性同位元素からのガンマ線が入射したとい
う事象(イベント)の発生を表すイベント信号を、補間
前収集メモリ6に出力する。
ユニット4にガンマ線が入射すると、対応する位置に在
る検出セルから、入射ガンマ線のエネルギーに応じた波
高値で電気信号が出力される。エネルギーウインドウ回
路14は、波高値(エネルギー)に従って、被検体に投
与された放射性同位元素からのガンマ線を外乱ガンマ線
と弁別するために、波高値をウインドウ処理して、エネ
ルギーが所定のエネルギーウインドウに入ったとき、投
与された放射性同位元素からのガンマ線が入射したとい
う事象(イベント)の発生を表すイベント信号を、補間
前収集メモリ6に出力する。
【0017】補間前収集メモリ6では、所定期間中に起
こったイベントの回数を、アドレス発生回路5からのア
ドレスに従って、検出セルごとに、そのアレイと同じm
×nマトリクスで計数する。各計数値は、それぞれの検
出セルの視野内にある放射性同位元素の体内濃度を表し
ていて、所定期間終了後には、この濃度の空間的な分布
(一般的に、プレーナ画像と呼ばれている)が、m×n
マトリクスで補間前収集メモリ6に収集される。このプ
レーン画像データは、補間計算回路7で補間される。こ
の補間により、図6に示すように、検出セルの中心間距
離より短い空間分解能(横方向空間分解能;A、縦方向
空間分解能;B)で、且つ検出セルの数より画素数の多
いM×N(M>m、N>n)というマトリクスで、高精
細のプレーン画像データに変換され、補間後収集メモリ
8に保持される。
こったイベントの回数を、アドレス発生回路5からのア
ドレスに従って、検出セルごとに、そのアレイと同じm
×nマトリクスで計数する。各計数値は、それぞれの検
出セルの視野内にある放射性同位元素の体内濃度を表し
ていて、所定期間終了後には、この濃度の空間的な分布
(一般的に、プレーナ画像と呼ばれている)が、m×n
マトリクスで補間前収集メモリ6に収集される。このプ
レーン画像データは、補間計算回路7で補間される。こ
の補間により、図6に示すように、検出セルの中心間距
離より短い空間分解能(横方向空間分解能;A、縦方向
空間分解能;B)で、且つ検出セルの数より画素数の多
いM×N(M>m、N>n)というマトリクスで、高精
細のプレーン画像データに変換され、補間後収集メモリ
8に保持される。
【0018】なお、補間処理は、図7(a)に示すよう
に、M×Nマトリクスの中の検出セルが存在しないギャ
ップ上の画素のデータを、その隣の検出セルの実測デー
タをコピーするような処理でもよいし、CTスキャナ等
の濃淡画像でよく使われている図7(b)に示すような
ギャップ周辺の実測データから補間カーブを使ってギャ
ップ上の画素データを推定するような処理であってもよ
い。
に、M×Nマトリクスの中の検出セルが存在しないギャ
ップ上の画素のデータを、その隣の検出セルの実測デー
タをコピーするような処理でもよいし、CTスキャナ等
の濃淡画像でよく使われている図7(b)に示すような
ギャップ周辺の実測データから補間カーブを使ってギャ
ップ上の画素データを推定するような処理であってもよ
い。
【0019】ここで本実施形態で重要なのは、任意に決
めた長さ、ここでは補間後のM×Nマトリクスの空間分
解能(A,B)を基準寸法として、検出セルアレイの全
ての寸法、例えば、検出セル1の幅、隣り合う検出セル
1の中心点間距離、検出セルモジュール2の幅(半導体
結晶板20の幅)、モジュールアレイ用基板23上で隣
り合う検出セルモジュール2間のギャップ(モジュール
アレイ用基板23上で隣り合う半導体結晶板20間のギ
ャップ)、検出セルモジュールアレイ3の幅、メイン基
板24上で隣り合う検出セルモジュールアレイ間のギャ
ップ、さらに上位概念では、半導体結晶板20の幅と半
導体結晶板20間のギャップの幅とを加算した長さを、
それぞれ基準寸法の整数倍にしたことにある。
めた長さ、ここでは補間後のM×Nマトリクスの空間分
解能(A,B)を基準寸法として、検出セルアレイの全
ての寸法、例えば、検出セル1の幅、隣り合う検出セル
1の中心点間距離、検出セルモジュール2の幅(半導体
結晶板20の幅)、モジュールアレイ用基板23上で隣
り合う検出セルモジュール2間のギャップ(モジュール
アレイ用基板23上で隣り合う半導体結晶板20間のギ
ャップ)、検出セルモジュールアレイ3の幅、メイン基
板24上で隣り合う検出セルモジュールアレイ間のギャ
ップ、さらに上位概念では、半導体結晶板20の幅と半
導体結晶板20間のギャップの幅とを加算した長さを、
それぞれ基準寸法の整数倍にしたことにある。
【0020】つまり、a1 、a2 、a3 、b1 、b2 、
b3 を1以上の整数として、検出セル1の幅及び隣り合
う検出セル1の中心点間距離を、横方向に関して、a1
×A、縦方向に関して、b1 ×Bに設定し、モジュール
アレイ用基板23上で隣り合う検出セルモジュール2間
のギャップ(モジュールアレイ用基板23上で隣り合う
半導体結晶板20間のギャップ)を、横方向に関して、
a2 ×A、縦方向に関して、b2 ×Bに設定する。ま
た、メイン基板24上で隣り合う検出セルモジュールア
レイ間のギャップを、横方向に関して、a3 ×A、縦方
向に関して、b3×Bに設定する。
b3 を1以上の整数として、検出セル1の幅及び隣り合
う検出セル1の中心点間距離を、横方向に関して、a1
×A、縦方向に関して、b1 ×Bに設定し、モジュール
アレイ用基板23上で隣り合う検出セルモジュール2間
のギャップ(モジュールアレイ用基板23上で隣り合う
半導体結晶板20間のギャップ)を、横方向に関して、
a2 ×A、縦方向に関して、b2 ×Bに設定する。ま
た、メイン基板24上で隣り合う検出セルモジュールア
レイ間のギャップを、横方向に関して、a3 ×A、縦方
向に関して、b3×Bに設定する。
【0021】さらに、a1 、a2 、a3 、b1 、b2 、
b3 を適当に調整することにより、検出セル1の中心間
の距離と、隣り合う半導体結晶20間のギャップの幅と
の比が、4:19とか、5:18とかの20以下の整数
比になるように、また、隣り合う検出セル1の中心間距
離が、隣り合う半導体結晶20間のギャップの幅の整数
倍になるように、また隣り合う検出セル1の中心間距離
が、隣り合う半導体結晶20間のギャップの幅の整数倍
になるように、また隣り合う検出セルモジュールアレイ
3間のギャップの幅が、隣り合う検出セルモジュール2
間のギャップの幅の整数倍となるように設定することが
できる。
b3 を適当に調整することにより、検出セル1の中心間
の距離と、隣り合う半導体結晶20間のギャップの幅と
の比が、4:19とか、5:18とかの20以下の整数
比になるように、また、隣り合う検出セル1の中心間距
離が、隣り合う半導体結晶20間のギャップの幅の整数
倍になるように、また隣り合う検出セル1の中心間距離
が、隣り合う半導体結晶20間のギャップの幅の整数倍
になるように、また隣り合う検出セルモジュールアレイ
3間のギャップの幅が、隣り合う検出セルモジュール2
間のギャップの幅の整数倍となるように設定することが
できる。
【0022】このように全ての寸法を、基準寸法の整数
倍に設定したことにより、補間後のM×Nマトリクスに
おける実際の空間分解能と、装置側で認識している信号
処理上の空間分解能との不一致に起因する画像の歪みを
解消することができる。
倍に設定したことにより、補間後のM×Nマトリクスに
おける実際の空間分解能と、装置側で認識している信号
処理上の空間分解能との不一致に起因する画像の歪みを
解消することができる。
【0023】上述したような補間処理とは別に、或いは
併用して、ギャップを埋める方法として、検出ユニット
4を物理的に振るいわゆる“ウォーブリング”がある。
ウォーブリング機構10は、検出ユニット4を縦横両方
向に関して移動するのであるが、その動きとしては、縦
横移動の組み合わせによって、例えば図8(a)に示す
ようにセル1の対角線と平行に直線的に反復移動する、
図8(b)に示すように円軌道に沿って移動する、図8
(c)に示すようにセル1の縦横交互に四角形軌道に沿
って移動するのいずれでもよい。このウォーブリングの
横方向の移動距離は、横方向に関して最も大きなギャッ
プの幅に設定し、また同様に、縦方向の移動距離は、縦
方向に関して最も大きなギャップの幅に設定するのが効
率的である。
併用して、ギャップを埋める方法として、検出ユニット
4を物理的に振るいわゆる“ウォーブリング”がある。
ウォーブリング機構10は、検出ユニット4を縦横両方
向に関して移動するのであるが、その動きとしては、縦
横移動の組み合わせによって、例えば図8(a)に示す
ようにセル1の対角線と平行に直線的に反復移動する、
図8(b)に示すように円軌道に沿って移動する、図8
(c)に示すようにセル1の縦横交互に四角形軌道に沿
って移動するのいずれでもよい。このウォーブリングの
横方向の移動距離は、横方向に関して最も大きなギャッ
プの幅に設定し、また同様に、縦方向の移動距離は、縦
方向に関して最も大きなギャップの幅に設定するのが効
率的である。
【0024】このとき、検出セル1の出力を、検出ユニ
ット4が横方向にA、縦方向にBの距離を動くのに要す
る時間の逆数に応じた周波数でサンプリングすることに
より、横方向にA、縦方向にBという一定の空間分解能
でデータを収集できる。
ット4が横方向にA、縦方向にBの距離を動くのに要す
る時間の逆数に応じた周波数でサンプリングすることに
より、横方向にA、縦方向にBという一定の空間分解能
でデータを収集できる。
【0025】なお、図9に示すように、検出セルを行毎
にその幅の半分だけずらして配置することにより、縦方
向の空間分解能を略1/2に向上させることができる。
このようなウォーブリング最中であってもアドレス発生
回路5は検出ユニット4が基準位置に在るときの各セル
に固有のアドレスを発生するのみであるので、エンコー
ダ11で検出した実際の検出ユニット4の位置に従って
XY移動量計算回路12で基準位置からの縦横方向の変
位を計算し、そしてその変位に従ってアドレスの補正信
号を計算し、この補正信号でアドレス発生回路5から出
力されるアドレスを加算器13等で補正することが必要
になる。なお、これらデータ収集及びウォーブリングの
全ての動きはCPU9で制御される。
にその幅の半分だけずらして配置することにより、縦方
向の空間分解能を略1/2に向上させることができる。
このようなウォーブリング最中であってもアドレス発生
回路5は検出ユニット4が基準位置に在るときの各セル
に固有のアドレスを発生するのみであるので、エンコー
ダ11で検出した実際の検出ユニット4の位置に従って
XY移動量計算回路12で基準位置からの縦横方向の変
位を計算し、そしてその変位に従ってアドレスの補正信
号を計算し、この補正信号でアドレス発生回路5から出
力されるアドレスを加算器13等で補正することが必要
になる。なお、これらデータ収集及びウォーブリングの
全ての動きはCPU9で制御される。
【0026】このように本実施形態によると、補間され
た画像の空間分解能を基準寸法として、検出ユニットの
全ての寸法をその整数倍に決定しているので、補間後の
M×Nマトリクスにおける実際の空間分解能と、装置側
で認識している信号処理上の空間分解能との不一致に起
因する画像の歪みを解消することができる。また、この
ように検出セルを粗にアレイしても、十分な空間分解能
を得ることができるので、検出セルを必要な空間分解能
に従って稠密にアレイする必要がなく、このため、検出
セルアレイを安価で実現することができる。本発明は、
上述した実施形態に限定されることなく、種々変形して
実施可能である。
た画像の空間分解能を基準寸法として、検出ユニットの
全ての寸法をその整数倍に決定しているので、補間後の
M×Nマトリクスにおける実際の空間分解能と、装置側
で認識している信号処理上の空間分解能との不一致に起
因する画像の歪みを解消することができる。また、この
ように検出セルを粗にアレイしても、十分な空間分解能
を得ることができるので、検出セルを必要な空間分解能
に従って稠密にアレイする必要がなく、このため、検出
セルアレイを安価で実現することができる。本発明は、
上述した実施形態に限定されることなく、種々変形して
実施可能である。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、半導体結晶の幅と半導
体結晶間のギャップの距離とを加算した長さが、得られ
る画像の空間分解能の整数倍となるように構成されてい
るので、画像に歪みが生じるのを防ぐことができる。
体結晶間のギャップの距離とを加算した長さが、得られ
る画像の空間分解能の整数倍となるように構成されてい
るので、画像に歪みが生じるのを防ぐことができる。
【図1】本発明の実施形態に係る放射線情報収集装置の
構成図。
構成図。
【図2】図1の検出ユニットの斜視図。
【図3】図1の検出ユニットの平面図。
【図4】図3の検出セルモジュールの側面図。
【図5】他の検出セルモジュールの側面図。
【図6】図1の補間計算回路で補間された画像のマトリ
クスを示す図。
クスを示す図。
【図7】図1の補正計算回路の補正処理の説明図。
【図8】図1のウォーブリング機構によるウォーブリン
グ軌道を示す図。
グ軌道を示す図。
【図9】行毎にずらされた検出セルアレイとそれに対応
するウォーブリング軌道を示す図。
するウォーブリング軌道を示す図。
1・・・検出セル、 2・・・検出セルモジュール、 3・・・検出セルモジュールアレイ。 4・・・放射線検出ユニット、 5・・・アドレス発生回路、 6・・・補間前用収集メモリ、 7・・・補間計算回路、 8・・・補間後用収集メモリ、 9・・・CPU、 10・・・ウォーブリング機構、 11・・・エンコーダ、 12・・・XY移動量計算回路、 13・・・加算器。
Claims (8)
- 【請求項1】 単一の半導体結晶上に電極を設けること
により検出セルを構成した複数の検出セルモジュール
を、マトリクス状に配列してなる放射線検出ユニット
と、 前記放射線検出ユニットからの出力に基づいて、前記検
出セルの幅より短い空間分解能で、且つ前記検出セルの
数より多い画素数で画像情報を得る演算手段とを備え、 前記半導体結晶の幅と、隣り合う半導体結晶間のギャッ
プの幅とを加算した長さが、前記空間分解能の整数倍と
なるように構成されることを特徴とする放射線情報収集
装置。 - 【請求項2】 前記半導体結晶の幅が前記空間分解能の
整数倍となり、且つ前記半導体結晶間のギャップの幅が
前記空間分解能の整数倍となるように構成されることを
特徴とする請求項1記載の放射線情報収集装置。 - 【請求項3】 単一の半導体結晶上に電極を設けること
により検出セルを構成した複数の検出セルモジュール
を、マトリクス状に配列してなる放射線検出ユニットを
有する放射線情報収集装置において、 前記放射線検出ユニットは、前記検出セルの中心間の距
離と、隣り合う半導体結晶間のギャップの幅との比が2
0以下の整数比になるように構成されていることを特徴
とする放射線情報収集装置。 - 【請求項4】 前記放射線検出ユニットは、隣り合う検
出セルの中心間距離が、前記半導体結晶間のギャップの
幅の整数倍になるように構成されることを特徴とする請
求項3記載の放射線情報収集装置。 - 【請求項5】 前記検出セルモジュールは、前記単一の
半導体結晶上に電極をマトリクス状に設けることにより
複数の検出セルを構成したものであり、 前記放射線検出ユニットは、前記検出セルモジュール内
で隣り合う検出セルの中心間距離が、前記半導体結晶間
のギャップの幅の整数倍になるように構成されることを
特徴とする請求項4記載の放射線情報収集装置。 - 【請求項6】 前記放射線検出ユニットは、前記検出セ
ルモジュールがマトリクス状に配置されてなる複数の検
出セルモジュールアレイを、マトリクス状に配置するこ
とにより構成されたものであり、 前記隣り合う検出セルモジュールアレイ間のギャップの
幅が、隣り合う検出セルモジュール間のギャップの幅の
整数倍となるように構成されることを特徴とする請求項
5記載の放射線情報収集装置。 - 【請求項7】 前記放射線検出ユニットを、前記半導体
結晶間のギャップの幅とほぼ等しい距離で反復移動する
ウォーブリング機構を備えることを特徴とする請求項2
乃至6のいずれか1項記載の放射線情報収集装置。 - 【請求項8】 前記ウォーブリング機構は、前記放射線
検出ユニットを、前記検出セルの対角方向に平行な直線
軌道、円軌道、楕円軌道、四角形軌道のいずれか1つの
軌道上を反復移動するものであることを特徴とする請求
項7記載の放射線情報収集装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9266594A JPH11109040A (ja) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | 放射線情報収集装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9266594A JPH11109040A (ja) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | 放射線情報収集装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11109040A true JPH11109040A (ja) | 1999-04-23 |
Family
ID=17432987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9266594A Pending JPH11109040A (ja) | 1997-09-30 | 1997-09-30 | 放射線情報収集装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11109040A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006300662A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 放射線検出器および放射線検査装置 |
JP2007105068A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | National Univ Corp Shizuoka Univ | X線ct装置 |
JP2007136050A (ja) * | 2005-11-22 | 2007-06-07 | National Univ Corp Shizuoka Univ | X線検出器アレイ |
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JP2010042089A (ja) * | 2008-08-11 | 2010-02-25 | Yoshida Dental Mfg Co Ltd | X線撮影装置およびその信号処理方法 |
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WO2012144589A1 (ja) | 2011-04-21 | 2012-10-26 | 株式会社テレシステムズ | 光子計数型放射線検出器のキャリブレーション装置及びそのキャリブレーション方法 |
JP2017020820A (ja) * | 2015-07-07 | 2017-01-26 | 株式会社テクノエックス | 放射能検出装置、放射能測定装置および放射能測定方法 |
US10159450B2 (en) | 2014-10-01 | 2018-12-25 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus including a photon-counting detector, and an image processing apparatus and an image processing method for correcting detection signals detected by the photon-counting detector |
-
1997
- 1997-09-30 JP JP9266594A patent/JPH11109040A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2017020820A (ja) * | 2015-07-07 | 2017-01-26 | 株式会社テクノエックス | 放射能検出装置、放射能測定装置および放射能測定方法 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040930 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060728 |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071127 |