JPH11105286A - 離間した別個の平面に位置する加熱要素導体を有するプリントヘッド - Google Patents
離間した別個の平面に位置する加熱要素導体を有するプリントヘッドInfo
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- JPH11105286A JPH11105286A JP22354598A JP22354598A JPH11105286A JP H11105286 A JPH11105286 A JP H11105286A JP 22354598 A JP22354598 A JP 22354598A JP 22354598 A JP22354598 A JP 22354598A JP H11105286 A JPH11105286 A JP H11105286A
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- B41J2/01—Ink jet
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- B41J2002/14387—Front shooter
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- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 インク滴が噴出される複数のオリフィスを有
するプレートとこのプレートに結合されたヒータチップ
とを含む、プリントヘッドが提供される。 【解決手段】 ヒータチップは、ヒータチップの主本体
部分に設けられた少なくとも一つの加熱要素を含む。主
本体部分は、少なくとも一つの第1の導体と少なくとも
一つの第2の導体とを備える。第1と第2の導体はひ加
熱要素に接し、かつ、加熱要素にエネルギーを供給す
る。第1の導体の少なくとも一つの区域が第1の平面に
位置し、第2の導体の少なくとも一つの区域が第1の平
面から垂直方向に離間する第2の平面に位置する。
するプレートとこのプレートに結合されたヒータチップ
とを含む、プリントヘッドが提供される。 【解決手段】 ヒータチップは、ヒータチップの主本体
部分に設けられた少なくとも一つの加熱要素を含む。主
本体部分は、少なくとも一つの第1の導体と少なくとも
一つの第2の導体とを備える。第1と第2の導体はひ加
熱要素に接し、かつ、加熱要素にエネルギーを供給す
る。第1の導体の少なくとも一つの区域が第1の平面に
位置し、第2の導体の少なくとも一つの区域が第1の平
面から垂直方向に離間する第2の平面に位置する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、加熱要素と加熱要
素にエネルギーを送る導体とを備えたヒータチップを有
するインク・ジェット・プリントヘッドに関し、ここ
で、導体は離間した平面に及び/又はマトリックスに配
列されている。
素にエネルギーを送る導体とを備えたヒータチップを有
するインク・ジェット・プリントヘッドに関し、ここ
で、導体は離間した平面に及び/又はマトリックスに配
列されている。
【0002】
【従来の技術】ドロップ−オン−デマンドのインク・ジ
ェット・プリンタは、インクが充填されたチャンバ内に
小滴を噴出するための気化泡を生成すべく、熱エネルギ
ーを使用する。熱エネルギーの生成体又は加熱要素は通
常抵抗体であり、放出オリフィス近くのヒータチップ上
のチャンバ内に配置される。単一の加熱要素をそれぞれ
備えた複数のチャンバが、プリンタのプリントヘッド内
に設けられる。プリントヘッドは典型的には、ヒータチ
ップと複数の放出オリフィスを有するヒータチップ内の
プレートとからなる。プリントヘッドはインク・ジェッ
ト・プリント・カートリッジ部分の一部を形成し、この
はカートリッジはインクが充填された容器をさらに含
む。
ェット・プリンタは、インクが充填されたチャンバ内に
小滴を噴出するための気化泡を生成すべく、熱エネルギ
ーを使用する。熱エネルギーの生成体又は加熱要素は通
常抵抗体であり、放出オリフィス近くのヒータチップ上
のチャンバ内に配置される。単一の加熱要素をそれぞれ
備えた複数のチャンバが、プリンタのプリントヘッド内
に設けられる。プリントヘッドは典型的には、ヒータチ
ップと複数の放出オリフィスを有するヒータチップ内の
プレートとからなる。プリントヘッドはインク・ジェッ
ト・プリント・カートリッジ部分の一部を形成し、この
はカートリッジはインクが充填された容器をさらに含
む。
【0003】個々の抵抗体には、瞬時にインクを蒸発さ
せ、かつインク滴を噴出させる気泡を形成するためにエ
ネルギー・パルスが印化される。プリンタエネルギー供
給回路からプリントヘッドに移動するエネルギー・パル
スの通路を提供するのに、フレキシブル回路を用いても
よい。プリントヘッド上のボンドパッドは、回路上のト
レース区域の端部に結合される。複数の第1と第2の導
体がヒータチップ上に設けられ、ボンドパッドと抵抗体
との間を延出する。トレース、ボンドパッド、及び第1
と第2の導体を経て、電流が抵抗体に送られる。
せ、かつインク滴を噴出させる気泡を形成するためにエ
ネルギー・パルスが印化される。プリンタエネルギー供
給回路からプリントヘッドに移動するエネルギー・パル
スの通路を提供するのに、フレキシブル回路を用いても
よい。プリントヘッド上のボンドパッドは、回路上のト
レース区域の端部に結合される。複数の第1と第2の導
体がヒータチップ上に設けられ、ボンドパッドと抵抗体
との間を延出する。トレース、ボンドパッド、及び第1
と第2の導体を経て、電流が抵抗体に送られる。
【0004】第1世代のプリントヘッドでは、第1の導
体と連結されるボンドパッドの数は、ヒータチップ上に
設けられる抵抗体の数に等しかった。しかしながら、そ
れぞれが2個以上の抵抗体に結合される少数の第2の導
体が設けられていた。第1と第2の導体は、一般に抵抗
体と同じ平面に配置されていた。
体と連結されるボンドパッドの数は、ヒータチップ上に
設けられる抵抗体の数に等しかった。しかしながら、そ
れぞれが2個以上の抵抗体に結合される少数の第2の導
体が設けられていた。第1と第2の導体は、一般に抵抗
体と同じ平面に配置されていた。
【0005】第1の導体と連結されるボンドパッドの数
を低減するために、後のプリンタとプリントヘッドに
は、デコーダ回路要素が設けられていた。しかしなが
ら、このデコーダ回路要素は高価なので、望ましくなか
った。
を低減するために、後のプリンタとプリントヘッドに
は、デコーダ回路要素が設けられていた。しかしなが
ら、このデコーダ回路要素は高価なので、望ましくなか
った。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】したがって、加熱要素
にエネルギー・パルスを与えるための、インク・ジェッ
ト・プリントヘッド内の改良された構造に体する要請が
ある。
にエネルギー・パルスを与えるための、インク・ジェッ
ト・プリントヘッド内の改良された構造に体する要請が
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】離間した平面に位置する
複数の第1と第2の導体を備えたヒータチップを有する
インク・ジェット・プリントヘッドが設けられた本発明
によって、この要請はかなえられる。一つの実施態様で
は、加熱要素は垂直に離間した第1と第2の導体間に位
置する。加熱要素は、一つ又はそれ以上の加熱要素区域
部分、或いは抵抗性材料を覆う部分を含んでいてもよ
い。この実施態様では、第1と第2の導体は加熱要素に
直接接してもよい。第1と第2の導体は、加熱要素への
電流を提供する。
複数の第1と第2の導体を備えたヒータチップを有する
インク・ジェット・プリントヘッドが設けられた本発明
によって、この要請はかなえられる。一つの実施態様で
は、加熱要素は垂直に離間した第1と第2の導体間に位
置する。加熱要素は、一つ又はそれ以上の加熱要素区域
部分、或いは抵抗性材料を覆う部分を含んでいてもよ
い。この実施態様では、第1と第2の導体は加熱要素に
直接接してもよい。第1と第2の導体は、加熱要素への
電流を提供する。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施態様にしたが
って形成されたヒータチップ10を、図1〜図3に図示
する。オリフィスプレート30が接着剤40によってチ
ップ10に固定されるようになっている、図3参照。結
合されたチップ10とプレート30によりインク・ジェ
ット・プリントヘッドを形成する。多くの場合にインク
が満たされたポリマー容器(不図示)に固定される。結
合されたポリマー容器とプリントヘッドは、インク・ジ
ェット・プリンタ(不図示)内に取り付けられるインク
・ジェット・プリント・カートリッジの一部分を形成す
る。ポリマー容器を再充填できるようにしてもよい。
って形成されたヒータチップ10を、図1〜図3に図示
する。オリフィスプレート30が接着剤40によってチ
ップ10に固定されるようになっている、図3参照。結
合されたチップ10とプレート30によりインク・ジェ
ット・プリントヘッドを形成する。多くの場合にインク
が満たされたポリマー容器(不図示)に固定される。結
合されたポリマー容器とプリントヘッドは、インク・ジ
ェット・プリンタ(不図示)内に取り付けられるインク
・ジェット・プリント・カートリッジの一部分を形成す
る。ポリマー容器を再充填できるようにしてもよい。
【0009】例示の実施態様では、ヒータチップ10に
はT−形状の複数の抵抗加熱要素区域11a〜11dが
備えられる。下記においてより明瞭に説明するが、加熱
要素区域11a〜11dの一部分は、抵抗加熱要素12
を形成する。図1〜図3に図示する実施態様における加
熱要素12は、抵抗加熱要素区域11a〜11dの一部
分を含むが、加熱要素12は、本発明の理解を容易にす
るために点線で示される四角によって図1と図2におい
て明示される。
はT−形状の複数の抵抗加熱要素区域11a〜11dが
備えられる。下記においてより明瞭に説明するが、加熱
要素区域11a〜11dの一部分は、抵抗加熱要素12
を形成する。図1〜図3に図示する実施態様における加
熱要素12は、抵抗加熱要素区域11a〜11dの一部
分を含むが、加熱要素12は、本発明の理解を容易にす
るために点線で示される四角によって図1と図2におい
て明示される。
【0010】プレート30は、プレート30を完全に貫
通し、かつインク滴が噴射されるオリフィス32aを形
成する開口32を備える。プレート30の区域34とヒ
ータチップ10の部分14により、バブルチャンバ50
が形成される。抵抗加熱要素区域11a〜11dは、加
熱要素区域11a〜11dの一部分、すなわち単一の加
熱要素12が、各バブルチャンバ50と連結するよう
に、チップ10上に位置する、図3参照。ポリマー容器
によって供給されるインクは、チップ10内の中央開口
15内に流れる。次いで、インクはインク供給チャネル
を通ってバブルチャンバ50内に移動する。
通し、かつインク滴が噴射されるオリフィス32aを形
成する開口32を備える。プレート30の区域34とヒ
ータチップ10の部分14により、バブルチャンバ50
が形成される。抵抗加熱要素区域11a〜11dは、加
熱要素区域11a〜11dの一部分、すなわち単一の加
熱要素12が、各バブルチャンバ50と連結するよう
に、チップ10上に位置する、図3参照。ポリマー容器
によって供給されるインクは、チップ10内の中央開口
15内に流れる。次いで、インクはインク供給チャネル
を通ってバブルチャンバ50内に移動する。
【0011】抵抗加熱要素12には個々にエネルギーパ
ルスが与えられる。各エネルギーパルスが加熱要素12
に加えられ、内部でバブルを形成するように加熱要素に
連結されたバブルチャンバ50内のインクを瞬時に蒸発
させる。バブルの機能は、インク滴がバブルチャンバの
オリフィスを通って噴出するように、チャンバ50内で
インクを排出することである。
ルスが与えられる。各エネルギーパルスが加熱要素12
に加えられ、内部でバブルを形成するように加熱要素に
連結されたバブルチャンバ50内のインクを瞬時に蒸発
させる。バブルの機能は、インク滴がバブルチャンバの
オリフィスを通って噴出するように、チャンバ50内で
インクを排出することである。
【0012】ポリマー容器に固定されたフレキシブル回
路(不図示)が、プリンタエネルギー供給回路からヒー
タチップ10に送られるエネルギーパルスのための通路
を提供するのに用いられる。ヒータチップ10上のボン
ドパッド16が(図1参照)、フレキシブル回路上のト
レース(不図示)の端部区域に結合される。プリンタエ
ネルギー供給回路からフレキシブル回路のトレースへ、
そしてトレースからヒータチップ10上のボンドパッド
に電流が流れる。
路(不図示)が、プリンタエネルギー供給回路からヒー
タチップ10に送られるエネルギーパルスのための通路
を提供するのに用いられる。ヒータチップ10上のボン
ドパッド16が(図1参照)、フレキシブル回路上のト
レース(不図示)の端部区域に結合される。プリンタエ
ネルギー供給回路からフレキシブル回路のトレースへ、
そしてトレースからヒータチップ10上のボンドパッド
に電流が流れる。
【0013】ヒータチップ10は、複数の、第1と第2
の導体を含む主本体部分18を含む。図1において、6
個の第1の導体60a〜60f、4個の第2の導体70
a〜70d、及び4個の加熱要素区域11a〜11dか
らなる第1と第2のセット80aと80bが、中央開口
15の対向する側に示される。4個の加熱要素区域11
a〜11dが24個の加熱要素12を提供するように、
各加熱要素区域11a〜11dは6個の加熱要素12を
形成する。したがって、8個の加熱要素区域11a〜1
1dは48個の加熱要素12を提供する。第1と第2の
セット80a、80bの各々における第1と第2の導体
60a〜60f、70a〜70dは、第1の導体列と第
2の導体カラムを有するマトリックスに配列する。互い
に整列して位置する4個のカラムが提供されるように、
第2の導体カラムの各々は単一の第2の導体70a〜7
0dによって形成される。したがって、ただ6個の第1
の導体60a〜60fと4個の第2の導体70a〜70
dのみが、24個の加熱要素12の加熱を果たすのに要
求される。チップ10上に提供される、加熱要素12の
数、ならびに第1と第2の導体60、70の数を、変え
てもよいことが本発明により企図される。
の導体を含む主本体部分18を含む。図1において、6
個の第1の導体60a〜60f、4個の第2の導体70
a〜70d、及び4個の加熱要素区域11a〜11dか
らなる第1と第2のセット80aと80bが、中央開口
15の対向する側に示される。4個の加熱要素区域11
a〜11dが24個の加熱要素12を提供するように、
各加熱要素区域11a〜11dは6個の加熱要素12を
形成する。したがって、8個の加熱要素区域11a〜1
1dは48個の加熱要素12を提供する。第1と第2の
セット80a、80bの各々における第1と第2の導体
60a〜60f、70a〜70dは、第1の導体列と第
2の導体カラムを有するマトリックスに配列する。互い
に整列して位置する4個のカラムが提供されるように、
第2の導体カラムの各々は単一の第2の導体70a〜7
0dによって形成される。したがって、ただ6個の第1
の導体60a〜60fと4個の第2の導体70a〜70
dのみが、24個の加熱要素12の加熱を果たすのに要
求される。チップ10上に提供される、加熱要素12の
数、ならびに第1と第2の導体60、70の数を、変え
てもよいことが本発明により企図される。
【0014】例示の実施態様においては、第1の導体6
0a〜60fの各々は、1個の主導体62と4個の副導
体48からなる。主導体62は、第1と第2のセグメン
ト64と66を有する。第1のセグメント64の第1の
端部64aは、ボンドパッド16に結合される。第2の
セグメント66は、長さに沿って離間した点66bにお
いて4個の副導体68に結合される。与えられた第2の
セグメント66が結合される4個の副導体68の各々は
下方に延出し、4個の第2の導体70a〜70dの異な
る一つと整列して配置される、図1〜図3参照。したが
って、4個の第2の導体70a〜70dの各々は上方に
配列され、第1の各導体60a〜60fの副導体68の
一つと整列して位置する。
0a〜60fの各々は、1個の主導体62と4個の副導
体48からなる。主導体62は、第1と第2のセグメン
ト64と66を有する。第1のセグメント64の第1の
端部64aは、ボンドパッド16に結合される。第2の
セグメント66は、長さに沿って離間した点66bにお
いて4個の副導体68に結合される。与えられた第2の
セグメント66が結合される4個の副導体68の各々は
下方に延出し、4個の第2の導体70a〜70dの異な
る一つと整列して配置される、図1〜図3参照。したが
って、4個の第2の導体70a〜70dの各々は上方に
配列され、第1の各導体60a〜60fの副導体68の
一つと整列して位置する。
【0015】第2の導体70a〜70dの各々は、第2
のセグメント72と、第1のセグメント72に実質的に
直交する第2のセグメント74からなる。第1のセグメ
ント72の第1の端部72aが、第2のセグメント74
に沿った中間点において第2のセグメントに結合される
一方、第1のセグメント72の第1の端部72aは、ボ
ンドパッド16に結合される。第2のセグメント74の
各々は延出して、6個の加熱要素12に接する。
のセグメント72と、第1のセグメント72に実質的に
直交する第2のセグメント74からなる。第1のセグメ
ント72の第1の端部72aが、第2のセグメント74
に沿った中間点において第2のセグメントに結合される
一方、第1のセグメント72の第1の端部72aは、ボ
ンドパッド16に結合される。第2のセグメント74の
各々は延出して、6個の加熱要素12に接する。
【0016】与えられた加熱要素12の加熱を果たすた
めに、加熱要素12の直接下方に配置される第1の導体
60a〜60fと、上方に配列され、かつ加熱要素12
に接する第2の導体70a〜70dとを通って電流が流
れる。例えば、図1における加熱要素12aは、第1の
導体60bと第2の導体70bを通って電流を通過させ
ることによって加熱される。加熱要素12bは,第1の
導体60aと第2の導体70dを通って電流を通過させ
ることによって加熱される。
めに、加熱要素12の直接下方に配置される第1の導体
60a〜60fと、上方に配列され、かつ加熱要素12
に接する第2の導体70a〜70dとを通って電流が流
れる。例えば、図1における加熱要素12aは、第1の
導体60bと第2の導体70bを通って電流を通過させ
ることによって加熱される。加熱要素12bは,第1の
導体60aと第2の導体70dを通って電流を通過させ
ることによって加熱される。
【0017】図1〜図3に例示する実施態様において、
主本体部分18はベース部分90と、ベース部分90上
に形成される第1の誘電層92とを更に含む。ベース部
分90は珪素から形成してもよく、すなわち、シリコン
ウエハ区域を含んでいてもよい。これに代って、ベース
部分90をアルミナ又はスレンレス鋼のような実質的に
耐インク性の他の基板から形成してもよい。誘電層92
は商業的に入手可能な二酸化珪素又は窒化珪素のよう
な、誘電性材料から形成してもよい。ベース部分90は
好ましくは、Z−方向で測定されたときに約400μm
〜約800μmの厚さを有する、図3参照。誘電層92
は好ましくは、約0.1μm〜約5.0μmの厚さを有
する。もし誘電層92が二酸化珪素から形成されるなら
ば、従来の熱酸化、スパッタリング又は化学蒸着プロセ
スによって形成してもよい。もし誘電層92が窒化珪素
から形成されるならば、スパッタリング又は化学蒸着の
プロセスによって形成してもよい。
主本体部分18はベース部分90と、ベース部分90上
に形成される第1の誘電層92とを更に含む。ベース部
分90は珪素から形成してもよく、すなわち、シリコン
ウエハ区域を含んでいてもよい。これに代って、ベース
部分90をアルミナ又はスレンレス鋼のような実質的に
耐インク性の他の基板から形成してもよい。誘電層92
は商業的に入手可能な二酸化珪素又は窒化珪素のよう
な、誘電性材料から形成してもよい。ベース部分90は
好ましくは、Z−方向で測定されたときに約400μm
〜約800μmの厚さを有する、図3参照。誘電層92
は好ましくは、約0.1μm〜約5.0μmの厚さを有
する。もし誘電層92が二酸化珪素から形成されるなら
ば、従来の熱酸化、スパッタリング又は化学蒸着プロセ
スによって形成してもよい。もし誘電層92が窒化珪素
から形成されるならば、スパッタリング又は化学蒸着の
プロセスによって形成してもよい。
【0018】第1と第2のセグメント64、66を含む
主導体62は、誘電層92上に形成される。アルミニウ
ム又は銅若しくは金のような他の高導電性材料が用いら
れる。例えば、アルミニウムの層は従来の真空蒸発プロ
セスによって誘電層92に加えられてもよい。これに代
えて、従来のスパッタ堆積プロセスを用いてもよい。次
いで、残存する金属が主導体62を形成するように、不
必要な金属を除去するのに従来のフォトマスキングプロ
セスが用いられる。不必要な金属を除去するのに、従来
のリフト−オフ・フォトリソグラフィー・プロセスを用
いてもよいことも企図される。リフト−オフ・プロセス
は、アルミニウム材料を加える前に、誘電層92上にフ
ォトレジスト層(ここではレジスト層としても言及す
る)を形成することを含む。現像ステップの間、導体6
2が形成されるべき領域に位置するレジスト材料は除去
される。次いで、アルミニウム層が堆積される。その
後、残存するレジスト材料と残存するレジスト材料上に
形成されたアルミニウムは除去される。導体62は好ま
しくは、Z−方向において測定されたときに約0.2μ
m〜約5μmの厚さを有する、図3参照。第1のセグメ
ント64は好ましくは、Y−方向において測定されたと
きに約10μm〜約100μmの幅を有し、第2のセグ
メント66は好ましくは、X−方向において測定された
ときに約10μm〜約100μmの幅を有する。
主導体62は、誘電層92上に形成される。アルミニウ
ム又は銅若しくは金のような他の高導電性材料が用いら
れる。例えば、アルミニウムの層は従来の真空蒸発プロ
セスによって誘電層92に加えられてもよい。これに代
えて、従来のスパッタ堆積プロセスを用いてもよい。次
いで、残存する金属が主導体62を形成するように、不
必要な金属を除去するのに従来のフォトマスキングプロ
セスが用いられる。不必要な金属を除去するのに、従来
のリフト−オフ・フォトリソグラフィー・プロセスを用
いてもよいことも企図される。リフト−オフ・プロセス
は、アルミニウム材料を加える前に、誘電層92上にフ
ォトレジスト層(ここではレジスト層としても言及す
る)を形成することを含む。現像ステップの間、導体6
2が形成されるべき領域に位置するレジスト材料は除去
される。次いで、アルミニウム層が堆積される。その
後、残存するレジスト材料と残存するレジスト材料上に
形成されたアルミニウムは除去される。導体62は好ま
しくは、Z−方向において測定されたときに約0.2μ
m〜約5μmの厚さを有する、図3参照。第1のセグメ
ント64は好ましくは、Y−方向において測定されたと
きに約10μm〜約100μmの幅を有し、第2のセグ
メント66は好ましくは、X−方向において測定された
ときに約10μm〜約100μmの幅を有する。
【0019】第2の誘電層96が、誘電層92と導体6
2の露出部分を覆っ形成される。層96は好ましくは、
商業的に入手可能な多くのポリマーフォトレジスト材料
の一つから形成される。このような材料の例は、製品
名”商標MEGAPOSIT SNR 248 PHOTO RESIST”の下にシプ
レイ・カンパニー・インコーポから商業的に入手可能
な、ネガティブ作用のフォトレジスト材料である。誘電
層96は、近接する導体62間での電流の移動を防ぐよ
うに、導体62間の領域に延出する。層96はまた、導
体62の第2のセグメント66が副導体68に結合され
るべき点66bを除いて導体62を覆う、図3参照。例
示の実施態様における、従来の材料除去プロセス、現像
プロセスは、層96に開口96aを形成するように、点
66b上に位置する誘電層96部分を除去するのに用い
られる。導体62を覆っていない位置において誘電層9
6は好ましくは、Z−方向において測定されたときに約
1μm〜約5μmの厚さを有する、図3参照。
2の露出部分を覆っ形成される。層96は好ましくは、
商業的に入手可能な多くのポリマーフォトレジスト材料
の一つから形成される。このような材料の例は、製品
名”商標MEGAPOSIT SNR 248 PHOTO RESIST”の下にシプ
レイ・カンパニー・インコーポから商業的に入手可能
な、ネガティブ作用のフォトレジスト材料である。誘電
層96は、近接する導体62間での電流の移動を防ぐよ
うに、導体62間の領域に延出する。層96はまた、導
体62の第2のセグメント66が副導体68に結合され
るべき点66bを除いて導体62を覆う、図3参照。例
示の実施態様における、従来の材料除去プロセス、現像
プロセスは、層96に開口96aを形成するように、点
66b上に位置する誘電層96部分を除去するのに用い
られる。導体62を覆っていない位置において誘電層9
6は好ましくは、Z−方向において測定されたときに約
1μm〜約5μmの厚さを有する、図3参照。
【0020】副導体68は、第1の水平面P1内に位置
するように誘電層96に加えられる、図3参照。導体6
8は好ましくは、従来の真空蒸発プロセスとフォトマス
キングプロセスとによってアルミニウム又は同様の材料
から形成される。これに代えて、導体68は、従来のス
パッタ堆積プロセス及び/又はリフト−オフ・フォトリ
ソグラフィー・プロセスによって形成されてもよい。ア
ルミニウム材料は、誘電層96内の開口96aを通って
延出する。したがって、副導体68は層96内の開口9
6aを通って延出し、点66bにおいて導体62の第2
のセグメント66と係合する。導体68は好ましくは、
Z−方向において測定されたときに約0.2μm〜約2
μmの厚さを有し、Y−方向において測定されたときに
約10μm〜約100μmの幅を有する、図3参照。
するように誘電層96に加えられる、図3参照。導体6
8は好ましくは、従来の真空蒸発プロセスとフォトマス
キングプロセスとによってアルミニウム又は同様の材料
から形成される。これに代えて、導体68は、従来のス
パッタ堆積プロセス及び/又はリフト−オフ・フォトリ
ソグラフィー・プロセスによって形成されてもよい。ア
ルミニウム材料は、誘電層96内の開口96aを通って
延出する。したがって、副導体68は層96内の開口9
6aを通って延出し、点66bにおいて導体62の第2
のセグメント66と係合する。導体68は好ましくは、
Z−方向において測定されたときに約0.2μm〜約2
μmの厚さを有し、Y−方向において測定されたときに
約10μm〜約100μmの幅を有する、図3参照。
【0021】第3の誘電層98は、誘電層96と導体6
8の露出部分を覆って形成される。層98は好ましく
は、誘電層96が形成されるのと同じ材料からなる。層
98は、近接する導体68間での電流の移動を防ぐよう
に、導体62間の領域内に延出する。層98はまた、導
体68上を延出する。しかしながら、例示の実施態様に
おける従来の材料除去プロセス、現像プロセスが、導体
68の端部領域68a上に位置する誘電層98内の開口
98aを形成するのに用いられ、この領域68aは加熱
要素12と整列して位置する、図3参照。開口98a
は、約15ミクロン〜約50ミクロン、好ましくは30
ミクロンの、各側に沿った長さを有する四角形状であっ
てよい。開口98aはまた、円形、楕円形、環状又は方
形状であってよい。もし開口98aが、四角又は方形で
ある場合には、丸い角を有していてもよい。導体68を
覆わないで位置する領域において誘電層98は好ましく
は、Z−方向において測定されたときに約1μm〜約5
μmの厚さを有する。
8の露出部分を覆って形成される。層98は好ましく
は、誘電層96が形成されるのと同じ材料からなる。層
98は、近接する導体68間での電流の移動を防ぐよう
に、導体62間の領域内に延出する。層98はまた、導
体68上を延出する。しかしながら、例示の実施態様に
おける従来の材料除去プロセス、現像プロセスが、導体
68の端部領域68a上に位置する誘電層98内の開口
98aを形成するのに用いられ、この領域68aは加熱
要素12と整列して位置する、図3参照。開口98a
は、約15ミクロン〜約50ミクロン、好ましくは30
ミクロンの、各側に沿った長さを有する四角形状であっ
てよい。開口98aはまた、円形、楕円形、環状又は方
形状であってよい。もし開口98aが、四角又は方形で
ある場合には、丸い角を有していてもよい。導体68を
覆わないで位置する領域において誘電層98は好ましく
は、Z−方向において測定されたときに約1μm〜約5
μmの厚さを有する。
【0022】図3の実施態様において、電流移動層10
0が誘電層98に加えられる。これは、導体68の端部
領域68aと係合するように、誘電層98内の開口98
aを通って延出する。第1の導体60a〜60fと加熱
要素12との間を電流が流れることができるように、好
ましくは、層100が形成される材料は導電性である。
しかしながら、この材料は隣接する加熱要素12内に電
流が実質的に流れることができる程に導電性であっては
ならない。この材料の抵抗は好ましくは、約0.1Ω−
cm〜約5Ω−cmであり、より好ましくは約1Ω−c
mである。約350℃未満の温度に約5μ秒間加熱され
る場合に、この材料は熱抵抗性であることが好ましい。
さらにこの材料は、非熱伝導性であることが好ましい。
この材料の熱伝導性は好ましくは、約0.1W/m℃〜
約0.5W/m℃である。最も好ましくは、この材料は
導電性フィラーを充填した高熱抵抗性のポリマーであ
る。このような材料の例は、カーボンを充填したポリイ
ミド材料である。このような材料は、カーボンブラック
材料をポリイミド材料中に均一に分散させるようにし
て、商業的に入手可能なポリイミド材料にカーボンブラ
ック材料をブレンドすることによって形成してもよい。
電流移動層100は、従来のオーブン硬化プロセスに続
く従来のスピン塗布プロセスによって形成してもよい。
層100は好ましくは、Z−方向において測定されたと
きに約5μm〜約50μmの厚さを有する。
0が誘電層98に加えられる。これは、導体68の端部
領域68aと係合するように、誘電層98内の開口98
aを通って延出する。第1の導体60a〜60fと加熱
要素12との間を電流が流れることができるように、好
ましくは、層100が形成される材料は導電性である。
しかしながら、この材料は隣接する加熱要素12内に電
流が実質的に流れることができる程に導電性であっては
ならない。この材料の抵抗は好ましくは、約0.1Ω−
cm〜約5Ω−cmであり、より好ましくは約1Ω−c
mである。約350℃未満の温度に約5μ秒間加熱され
る場合に、この材料は熱抵抗性であることが好ましい。
さらにこの材料は、非熱伝導性であることが好ましい。
この材料の熱伝導性は好ましくは、約0.1W/m℃〜
約0.5W/m℃である。最も好ましくは、この材料は
導電性フィラーを充填した高熱抵抗性のポリマーであ
る。このような材料の例は、カーボンを充填したポリイ
ミド材料である。このような材料は、カーボンブラック
材料をポリイミド材料中に均一に分散させるようにし
て、商業的に入手可能なポリイミド材料にカーボンブラ
ック材料をブレンドすることによって形成してもよい。
電流移動層100は、従来のオーブン硬化プロセスに続
く従来のスピン塗布プロセスによって形成してもよい。
層100は好ましくは、Z−方向において測定されたと
きに約5μm〜約50μmの厚さを有する。
【0023】加熱要素区域11a〜11dは、電流移動
層100上に形成される、図3参照。加熱要素区域11
a〜11dが形成される抵抗性材料は好ましくは、Ta
OXからなる。X<2であり、好ましくはX《1であ
り、したがって、実質的に非化学的量論量の条件を示
す。この材料は、反応性スパッタリングプロセスによっ
て堆積してもよい。このプロセスの間、不活性作用ガス
と共に酸素ガスが真空チャンバに加えられる。酸素ガス
は、TaOXとして堆積するようにチャンバ内でタンタ
ル蒸気物質と反応する。材料の化学的量論量を変化させ
るように、チャンバ内の酸素ガスの圧力が変化する。加
熱要素区域11a〜11dを形成するのに、アルミニウ
ムのような他の材料を用いてもよい。好ましくは、加熱
要素区域11a〜11dは約10Ω−cm〜約400Ω
−cmの抵抗を有し、Z−方向において測定されたとき
に約1000オングストロームの厚さに対して好ましく
は約40Ω−cmである、図3参照。加熱要素区域11
a〜11dの厚さは好ましくは、約800オングストロ
ーム〜約10,000オングストロームである。
層100上に形成される、図3参照。加熱要素区域11
a〜11dが形成される抵抗性材料は好ましくは、Ta
OXからなる。X<2であり、好ましくはX《1であ
り、したがって、実質的に非化学的量論量の条件を示
す。この材料は、反応性スパッタリングプロセスによっ
て堆積してもよい。このプロセスの間、不活性作用ガス
と共に酸素ガスが真空チャンバに加えられる。酸素ガス
は、TaOXとして堆積するようにチャンバ内でタンタ
ル蒸気物質と反応する。材料の化学的量論量を変化させ
るように、チャンバ内の酸素ガスの圧力が変化する。加
熱要素区域11a〜11dを形成するのに、アルミニウ
ムのような他の材料を用いてもよい。好ましくは、加熱
要素区域11a〜11dは約10Ω−cm〜約400Ω
−cmの抵抗を有し、Z−方向において測定されたとき
に約1000オングストロームの厚さに対して好ましく
は約40Ω−cmである、図3参照。加熱要素区域11
a〜11dの厚さは好ましくは、約800オングストロ
ーム〜約10,000オングストロームである。
【0024】例示の実施態様では、加熱要素区域11a
〜11dは、4個の分離したT形状の区域11a〜11
dからなる。4個の加熱要素区域11a〜11dを形成
するために、フォトマスキング又はリフト−オフ・フォ
トリソグラフィー・プロセスを不必要な抵抗性材料を除
去するのに用いてもよい。他の実施態様では、抵抗性材
料の除去ステップは、抵抗性材料の被覆が電流移動層1
00上に残存するようには実行されない。これと図1の
実施態様では、加熱要素12は、第1と第2の導体60
a〜60fと70a〜70dの交差区域間に位置する抵
抗性材料部分からなる。より厳密には、電流が区域11
a〜11dを通って流れるとき、加熱要素12は加熱要
素区域11a〜11dの加熱されるゾーンを含む。加熱
されるゾーンの寸法は、通常、開口98aの寸法によっ
て規定される。したがって、各辺が30ミクロンの四角
形の開口では、各加熱要素12の表面積は約9×10−
10平方メートルである。上記で言及したように、加熱
要素12からなる抵抗性材料層部分は、図1と図2の点
線で示される四角形によって表わされる。
〜11dは、4個の分離したT形状の区域11a〜11
dからなる。4個の加熱要素区域11a〜11dを形成
するために、フォトマスキング又はリフト−オフ・フォ
トリソグラフィー・プロセスを不必要な抵抗性材料を除
去するのに用いてもよい。他の実施態様では、抵抗性材
料の除去ステップは、抵抗性材料の被覆が電流移動層1
00上に残存するようには実行されない。これと図1の
実施態様では、加熱要素12は、第1と第2の導体60
a〜60fと70a〜70dの交差区域間に位置する抵
抗性材料部分からなる。より厳密には、電流が区域11
a〜11dを通って流れるとき、加熱要素12は加熱要
素区域11a〜11dの加熱されるゾーンを含む。加熱
されるゾーンの寸法は、通常、開口98aの寸法によっ
て規定される。したがって、各辺が30ミクロンの四角
形の開口では、各加熱要素12の表面積は約9×10−
10平方メートルである。上記で言及したように、加熱
要素12からなる抵抗性材料層部分は、図1と図2の点
線で示される四角形によって表わされる。
【0025】加熱要素12、すなわち第1と第2の導体
60a〜60fと70a〜70dの交差区域間に位置す
る抵抗性材料層部分は好ましくは、第1と第2の導体6
0a〜60fと70a〜70d間の電流の流れ方向に通
常平行な第1の軸A1に沿った実質的に一定の断面積を
有する、図3参照。電流の流れ方向における各加熱要素
12の断面積は変化しないので、各加熱要素12の略均
一な加熱が起こるであろうと考えられる。このことは、
加熱要素が電流の流れ方向において不均一な断面積を有
することと対照的である。このような加熱要素では、こ
れを通って電流が流れるときに、”ホット”ゾーンと”
コールド”ゾーンが生じると考えられる。”コールド”
ゾーンは加熱要素の全体効率を低減し、印刷品質に悪影
響を及ぼす。
60a〜60fと70a〜70dの交差区域間に位置す
る抵抗性材料層部分は好ましくは、第1と第2の導体6
0a〜60fと70a〜70d間の電流の流れ方向に通
常平行な第1の軸A1に沿った実質的に一定の断面積を
有する、図3参照。電流の流れ方向における各加熱要素
12の断面積は変化しないので、各加熱要素12の略均
一な加熱が起こるであろうと考えられる。このことは、
加熱要素が電流の流れ方向において不均一な断面積を有
することと対照的である。このような加熱要素では、こ
れを通って電流が流れるときに、”ホット”ゾーンと”
コールド”ゾーンが生じると考えられる。”コールド”
ゾーンは加熱要素の全体効率を低減し、印刷品質に悪影
響を及ぼす。
【0026】本発明においては、加熱要素の上面、すな
わちインク含有チャンバ50に最も近接する面を通る電
流の流れは、略垂直な軸に沿って生じるので、各加熱要
素12は第1の軸A1に略直交する第2の軸A2に沿っ
た実質的に不均一な断面積を有する。したがって、加熱
されるゾーン、すなわち加熱要素区域11a〜11dの
加熱要素12は、円形状のインクに面する面を有するよ
うに円筒形状であってよい。加熱されるゾーンはまた、
環状のインクに面する面を有するように中空円筒であっ
てもよい。加熱されるゾーンの形状は、開口98aの形
状によって決定される。もし開口98aが円形状であれ
ば、加熱されるゾーンは円筒形状となるであろう。もし
開口98aが環状であれば、加熱されるゾーンは中空円
筒形の形状となるであろう。したがって、加熱されるゾ
ーン又は加熱要素12のインクに面する面は、丸い又は
曲線状の区域を有していてもよく、例えばこれらが円形
状又は環状の形状であってもよい。これらはまた四角形
又は方形の形状であってもよく、丸い角を有していても
よい。したがって、加熱要素は、インク中の気泡を収縮
させる間に生じる激しい衝撃波のよる加熱要素の損傷を
最小限にするように、より簡単な形状であってよい。各
加熱要素12の断面積が電流の流れ方向において実質的
に一定であるとき、この付加された利点が加熱要素の効
率を犠牲にすることなく生じる。
わちインク含有チャンバ50に最も近接する面を通る電
流の流れは、略垂直な軸に沿って生じるので、各加熱要
素12は第1の軸A1に略直交する第2の軸A2に沿っ
た実質的に不均一な断面積を有する。したがって、加熱
されるゾーン、すなわち加熱要素区域11a〜11dの
加熱要素12は、円形状のインクに面する面を有するよ
うに円筒形状であってよい。加熱されるゾーンはまた、
環状のインクに面する面を有するように中空円筒であっ
てもよい。加熱されるゾーンの形状は、開口98aの形
状によって決定される。もし開口98aが円形状であれ
ば、加熱されるゾーンは円筒形状となるであろう。もし
開口98aが環状であれば、加熱されるゾーンは中空円
筒形の形状となるであろう。したがって、加熱されるゾ
ーン又は加熱要素12のインクに面する面は、丸い又は
曲線状の区域を有していてもよく、例えばこれらが円形
状又は環状の形状であってもよい。これらはまた四角形
又は方形の形状であってもよく、丸い角を有していても
よい。したがって、加熱要素は、インク中の気泡を収縮
させる間に生じる激しい衝撃波のよる加熱要素の損傷を
最小限にするように、より簡単な形状であってよい。各
加熱要素12の断面積が電流の流れ方向において実質的
に一定であるとき、この付加された利点が加熱要素の効
率を犠牲にすることなく生じる。
【0027】第2の導体70a〜70dは、加熱要素区
域11a〜11dを覆って形成される。電流が加熱要素
12を迂回し、かつ電流移動層100と第2の導体70
a〜70dとの間を直接流れるのを防止するように、第
2の導体70a〜70dは誘電層98の開口98aに近
い領域において電流移動層100と接しない。例示の実
施態様では、第2の導体70a〜70dは加熱要素区域
11a〜11dと同一の広がりを有するので、電流移動
層100と接しない。第2の導体70a〜70dは、第
1の水平面P1から垂直に離間する第2の水平面P2に
位置する、図3参照。第2の導体70a〜70dは、例
えば、後に従来のフォトマスキングとエッチバックプロ
セスが続く、従来のスパッター堆積プロセスを用いたタ
ンタルから作ってもよい。これに代えて、従来の真空蒸
発プロセスとリフト−オフ・フォトリソグラフィー・プ
ロセスを用いてもよい。金のようなインクと実質的に非
反応性である金属を、タンタルの代って用いてもよい。
アルミニウム、銅及びこれらから調製される合金のよう
な他の金属もまた用いてもよく、これらは第2の導体7
0a〜70dを覆って形成されるパッシベーション(保
護)層を提供する。
域11a〜11dを覆って形成される。電流が加熱要素
12を迂回し、かつ電流移動層100と第2の導体70
a〜70dとの間を直接流れるのを防止するように、第
2の導体70a〜70dは誘電層98の開口98aに近
い領域において電流移動層100と接しない。例示の実
施態様では、第2の導体70a〜70dは加熱要素区域
11a〜11dと同一の広がりを有するので、電流移動
層100と接しない。第2の導体70a〜70dは、第
1の水平面P1から垂直に離間する第2の水平面P2に
位置する、図3参照。第2の導体70a〜70dは、例
えば、後に従来のフォトマスキングとエッチバックプロ
セスが続く、従来のスパッター堆積プロセスを用いたタ
ンタルから作ってもよい。これに代えて、従来の真空蒸
発プロセスとリフト−オフ・フォトリソグラフィー・プ
ロセスを用いてもよい。金のようなインクと実質的に非
反応性である金属を、タンタルの代って用いてもよい。
アルミニウム、銅及びこれらから調製される合金のよう
な他の金属もまた用いてもよく、これらは第2の導体7
0a〜70dを覆って形成されるパッシベーション(保
護)層を提供する。
【0028】加熱要素区域11a〜11dが形成される
同様のスパッタリング工程において、タンタル層を塗布
してもよい。これは、TaOXの層が形成された後に、
不活性作用ガスのみを真空チャンバ内に加えることによ
って達成される。リフト−オフ・プロセスが採用される
場合は、フォトレジスト材料を除去するのに、ストリッ
ピング溶液が用いられる。不必要なTaOXとタンタル
材料は、フォトレジスト材料と共に除去される。残存す
るTaOX抵抗性材料は、加熱要素区域11a〜11d
を形成し、この区域は第2の導体70a〜70dと実質
的に同じT形状を有する。したがって、加熱要素12
は、第1と第2の導体60a〜60fと70a〜70d
の交差区域間に位置するT形状の区域11a〜11d部
分からなる。第2の導体70a〜70dは好ましくは、
Z−方向において測定されたときに約0.2μm〜約2
μmの厚さと、X−方向において測定されたときに約1
0μm〜約100μmの幅を有する。
同様のスパッタリング工程において、タンタル層を塗布
してもよい。これは、TaOXの層が形成された後に、
不活性作用ガスのみを真空チャンバ内に加えることによ
って達成される。リフト−オフ・プロセスが採用される
場合は、フォトレジスト材料を除去するのに、ストリッ
ピング溶液が用いられる。不必要なTaOXとタンタル
材料は、フォトレジスト材料と共に除去される。残存す
るTaOX抵抗性材料は、加熱要素区域11a〜11d
を形成し、この区域は第2の導体70a〜70dと実質
的に同じT形状を有する。したがって、加熱要素12
は、第1と第2の導体60a〜60fと70a〜70d
の交差区域間に位置するT形状の区域11a〜11d部
分からなる。第2の導体70a〜70dは好ましくは、
Z−方向において測定されたときに約0.2μm〜約2
μmの厚さと、X−方向において測定されたときに約1
0μm〜約100μmの幅を有する。
【0029】第2の導体70a〜70dが形成された後
に、オリフィス・プレート30が電流移動層100と第
2の導体70a〜70dに接着剤40によって固定され
る。このようなオリフィス・プレート30の例と接着剤
の例は、アトーニイ・ドケット番号LE9−95−02
4で、トニア、エイチ、ジャクソンらによって1995
年8月28日に提出された、”インク・ジェット・プリ
ントヘッド・ノズル構造を形成する方法”と題する共同
特許出願である米国出願番号第08/519,906号
に説明されていおり、ここにこの開示を参照として挙げ
ている。その中で言及されているように、プレート30
はポリイミド、ポリエステル、フルオロカーボンポリマ
ー、又はポリカーボネートのようなポリマー材料から形
成してもよく、これは好ましくは約15〜200ミクロ
ン、最も好ましくは約75〜約125ミクロン厚さであ
る。接着剤は、フェノール樹脂、レゾルシノール樹脂、
尿素樹脂、エポキシ樹脂、エチレン−尿素樹脂、フラン
樹脂、ポリウレタン及びシリコーン樹脂を含むB−ステ
ージアブルな熱硬化樹脂を含む。他の好適な接着材料
は、エチレン−ビニルアセテート、エチレンエチルアク
リレート、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリアミ
ド、ポリエステル及びポリウレタンのような高分子量の
熱可塑性又はホットメルト材料を含む。
に、オリフィス・プレート30が電流移動層100と第
2の導体70a〜70dに接着剤40によって固定され
る。このようなオリフィス・プレート30の例と接着剤
の例は、アトーニイ・ドケット番号LE9−95−02
4で、トニア、エイチ、ジャクソンらによって1995
年8月28日に提出された、”インク・ジェット・プリ
ントヘッド・ノズル構造を形成する方法”と題する共同
特許出願である米国出願番号第08/519,906号
に説明されていおり、ここにこの開示を参照として挙げ
ている。その中で言及されているように、プレート30
はポリイミド、ポリエステル、フルオロカーボンポリマ
ー、又はポリカーボネートのようなポリマー材料から形
成してもよく、これは好ましくは約15〜200ミクロ
ン、最も好ましくは約75〜約125ミクロン厚さであ
る。接着剤は、フェノール樹脂、レゾルシノール樹脂、
尿素樹脂、エポキシ樹脂、エチレン−尿素樹脂、フラン
樹脂、ポリウレタン及びシリコーン樹脂を含むB−ステ
ージアブルな熱硬化樹脂を含む。他の好適な接着材料
は、エチレン−ビニルアセテート、エチレンエチルアク
リレート、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリアミ
ド、ポリエステル及びポリウレタンのような高分子量の
熱可塑性又はホットメルト材料を含む。
【0030】上記において言及したように、与えられた
加熱要素12の加熱を果たすために、加熱要素12の直
下に位置する第1の導体60a〜60fと、この要素1
2と係合する第2の導体70a〜70dとを通って電流
が流される。第1の導体と加熱要素12の間に位置する
電流移動層100は、第1の導体と加熱要素12の間の
Z方向に電流が流れる通路を提供する。もし第1の導体
がポジティブであれば、Z方向において第1の導体から
電流移動層100と加熱要素12を通って第2の導体へ
と電流が流れる。もし第2の導体がポジティブであれ
ば、Z方向において第2の導体から加熱要素12と電流
移動層100を通って第1の導体へと電流が流れる。
加熱要素12の加熱を果たすために、加熱要素12の直
下に位置する第1の導体60a〜60fと、この要素1
2と係合する第2の導体70a〜70dとを通って電流
が流される。第1の導体と加熱要素12の間に位置する
電流移動層100は、第1の導体と加熱要素12の間の
Z方向に電流が流れる通路を提供する。もし第1の導体
がポジティブであれば、Z方向において第1の導体から
電流移動層100と加熱要素12を通って第2の導体へ
と電流が流れる。もし第2の導体がポジティブであれ
ば、Z方向において第2の導体から加熱要素12と電流
移動層100を通って第1の導体へと電流が流れる。
【0031】本発明の第2の実施態様によって形成され
るヒータチップ110を図4〜図8に示すが、同様の参
照番号は同様の要素を示す。チップ110は、複数の第
1と第2の導体160、170を含む主本体部分118
からなる。第1と第2の導体160、170はマトリッ
クスに配列される、図4参照。
るヒータチップ110を図4〜図8に示すが、同様の参
照番号は同様の要素を示す。チップ110は、複数の第
1と第2の導体160、170を含む主本体部分118
からなる。第1と第2の導体160、170はマトリッ
クスに配列される、図4参照。
【0032】図4の実施態様において、2個のT形状の
加熱要素区域111aと111bがチップ110上に提
供される。加熱要素区域111aと111bは抵抗性加
熱要素112を形成する。理解を容易にするため、加熱
要素112は図4で四角の点線で示される。
加熱要素区域111aと111bがチップ110上に提
供される。加熱要素区域111aと111bは抵抗性加
熱要素112を形成する。理解を容易にするため、加熱
要素112は図4で四角の点線で示される。
【0033】4個の第1の導体160a〜160dが図
4に示されている。第1の導体160a〜160dの各
々は、1この主導体162と複数の副導体168からな
るが、図4に示される実施態様では副導体は2個であ
る。各主導体162は第1と第2のセグメント164、
166を有する。第1のセグメント164の第1の端部
164aはボンドパッド116に結合される。第1のセ
グメント164の第2の端部164bは第2のセグメン
ト166に結合される。第2のセグメント166は、そ
の長さに沿った離間点166bにおいて、その2個の副
導体168に結合される、図5参照。与えられた第2セ
グメント166が結合される2個の副導体168の各々
は下方に延出し、かつ、2個の第2の導体170の異な
る一つに配列して位置する、図4及び図5参照。したが
って、2個の第2の導体170の各々は上方に位置し、
かつ、各第1の導体160a〜160dの単一の副導体
168に配列して配置される。
4に示されている。第1の導体160a〜160dの各
々は、1この主導体162と複数の副導体168からな
るが、図4に示される実施態様では副導体は2個であ
る。各主導体162は第1と第2のセグメント164、
166を有する。第1のセグメント164の第1の端部
164aはボンドパッド116に結合される。第1のセ
グメント164の第2の端部164bは第2のセグメン
ト166に結合される。第2のセグメント166は、そ
の長さに沿った離間点166bにおいて、その2個の副
導体168に結合される、図5参照。与えられた第2セ
グメント166が結合される2個の副導体168の各々
は下方に延出し、かつ、2個の第2の導体170の異な
る一つに配列して位置する、図4及び図5参照。したが
って、2個の第2の導体170の各々は上方に位置し、
かつ、各第1の導体160a〜160dの単一の副導体
168に配列して配置される。
【0034】第2の導体170の各々は、第1のセグメ
ント172とこの第1の導体172に実質的に垂直な第
2のセグメント174を含む。第1のセグメント172
の第1の端部172aはボンドパッド116に結合さ
れ、第1のセグメント172の第2の端部172bは、
第2のセグメント174に沿った中間点において第2の
セグメント174に結合される。
ント172とこの第1の導体172に実質的に垂直な第
2のセグメント174を含む。第1のセグメント172
の第1の端部172aはボンドパッド116に結合さ
れ、第1のセグメント172の第2の端部172bは、
第2のセグメント174に沿った中間点において第2の
セグメント174に結合される。
【0035】与えられた加熱要素112の加熱を果たす
ために、加熱要素11の直下に位置する第1の導体16
0と、この要素112に係合する第2の導体170とを
通って電流が流される。
ために、加熱要素11の直下に位置する第1の導体16
0と、この要素112に係合する第2の導体170とを
通って電流が流される。
【0036】この実施態様においては、シリコンウエハ
又は同様の基板材料にチップが構成されない。チップ
は、一体化された誘電層と電流移動層、122、124
を含む基板120を最初に設けることによって形成され
る。誘電層122はここでは第1の誘電層というが、好
ましくはポリイミド材料のようなポリマー材料を含む。
電流移動層124は好ましくは、カーボンが充填された
ポリイミドのような導電性フィラーが充填された高温に
耐えるポリマーを含む。電流移動層124は好ましく
は、約0.1Ω−cm〜約5Ω−cm、より好ましくは
1Ω−cmの抵抗を有する。電流移動層124の熱伝導
率は好ましくは、約0.1W/m℃〜約3.0W/m
℃、より好ましくは約0.37W/m℃である。誘電層
122は好ましくは、約1μm〜約100μm、より好
ましくは約1μm〜約20μm、最も好ましくは約1μ
m〜約5μmの厚さを有する。電流移動層124は好ま
しくは、約1μm〜約100μm、より好ましくは約1
μm〜約20μm、最も好ましくは約1μm〜約5μm
の厚さを有する。このような基板の例は、”商標KAP
TON XC”の製品名でデュポンフィルムから商業的
に入手可能なものである。
又は同様の基板材料にチップが構成されない。チップ
は、一体化された誘電層と電流移動層、122、124
を含む基板120を最初に設けることによって形成され
る。誘電層122はここでは第1の誘電層というが、好
ましくはポリイミド材料のようなポリマー材料を含む。
電流移動層124は好ましくは、カーボンが充填された
ポリイミドのような導電性フィラーが充填された高温に
耐えるポリマーを含む。電流移動層124は好ましく
は、約0.1Ω−cm〜約5Ω−cm、より好ましくは
1Ω−cmの抵抗を有する。電流移動層124の熱伝導
率は好ましくは、約0.1W/m℃〜約3.0W/m
℃、より好ましくは約0.37W/m℃である。誘電層
122は好ましくは、約1μm〜約100μm、より好
ましくは約1μm〜約20μm、最も好ましくは約1μ
m〜約5μmの厚さを有する。電流移動層124は好ま
しくは、約1μm〜約100μm、より好ましくは約1
μm〜約20μm、最も好ましくは約1μm〜約5μm
の厚さを有する。このような基板の例は、”商標KAP
TON XC”の製品名でデュポンフィルムから商業的
に入手可能なものである。
【0037】電流移動層124上に位置すべき加熱要素
112の位置の直下に位置する誘電層122の部分は、
従来のレーザ・アブレーション・プロセスによって除去
される、図7の開口122aを参照。レーザ・アブレー
ションは、約100ミリジュール/センチメータ2〜約
5,000ミリジュール/センチメータ2、好ましくは
約1,000ミリジュール/センチメータ2のエネルギ
ー密度レベルで達成される。レーザ・アブレーション・
プロセスの間、約150ナノメータ〜約400ナノメー
タ、最も好ましくは約248ナノメータの波長をもった
レーザビームが、約1ナノ秒〜約200ナノ秒、最も好
ましくは約20ナノ秒の持続パルスで照射される。開口
122aは特定形状に制限されるものでなく、四角形、
方形、円形又は環状の形状であってもよい。
112の位置の直下に位置する誘電層122の部分は、
従来のレーザ・アブレーション・プロセスによって除去
される、図7の開口122aを参照。レーザ・アブレー
ションは、約100ミリジュール/センチメータ2〜約
5,000ミリジュール/センチメータ2、好ましくは
約1,000ミリジュール/センチメータ2のエネルギ
ー密度レベルで達成される。レーザ・アブレーション・
プロセスの間、約150ナノメータ〜約400ナノメー
タ、最も好ましくは約248ナノメータの波長をもった
レーザビームが、約1ナノ秒〜約200ナノ秒、最も好
ましくは約20ナノ秒の持続パルスで照射される。開口
122aは特定形状に制限されるものでなく、四角形、
方形、円形又は環状の形状であってもよい。
【0038】副導体168が第1の誘電層122に加え
られ、第1の水平面P1に沿って延出する、図7参照。
導体168は好ましくは、従来の真空蒸発とフォトマス
キングプロセスによってアルミニウム又は同様の材料か
ら形成される。この代りに、スッパター堆積プロセス及
び/又はリフト−オフ・フォトリソグラフィー・プロセ
スを用いてもよい。アルミニウム材料は誘電層122内
の開口122aを通って延出する、図7参照。したがっ
て、副導体168は好ましくは、Z−方向において測定
されたときに約0.2μm〜約2μmの厚さと、Y−方
向において測定されたときに約40μm〜約400μm
の幅を有する、図7参照。
られ、第1の水平面P1に沿って延出する、図7参照。
導体168は好ましくは、従来の真空蒸発とフォトマス
キングプロセスによってアルミニウム又は同様の材料か
ら形成される。この代りに、スッパター堆積プロセス及
び/又はリフト−オフ・フォトリソグラフィー・プロセ
スを用いてもよい。アルミニウム材料は誘電層122内
の開口122aを通って延出する、図7参照。したがっ
て、副導体168は好ましくは、Z−方向において測定
されたときに約0.2μm〜約2μmの厚さと、Y−方
向において測定されたときに約40μm〜約400μm
の幅を有する、図7参照。
【0039】第2の誘電層195は誘電層122と導体
168の露出部分を覆うように加えられる。層195は
好ましくは、上述の誘電層96が形成されるのと同じ材
料を含む。層195は、近接する導体168間の電流移
動を防止するように導体168間の領域に内に延出す
る。層195はまた、導体168上を延出する。しかし
ながら、例示の実施態様において従来の材料除去プロセ
ス、現像プロセスが、第2のセグメント166が導体1
68に結合されるべき位置の直上、すなわち第2のセグ
メント166上の点166b上に位置する誘電層195
部分を除去するのに用いられる。導体168上に位置し
ていない領域において、誘電層195は好ましくは、Z
−方向において測定されたときに約1μm〜約5μmの
厚さを有する、図7参照。
168の露出部分を覆うように加えられる。層195は
好ましくは、上述の誘電層96が形成されるのと同じ材
料を含む。層195は、近接する導体168間の電流移
動を防止するように導体168間の領域に内に延出す
る。層195はまた、導体168上を延出する。しかし
ながら、例示の実施態様において従来の材料除去プロセ
ス、現像プロセスが、第2のセグメント166が導体1
68に結合されるべき位置の直上、すなわち第2のセグ
メント166上の点166b上に位置する誘電層195
部分を除去するのに用いられる。導体168上に位置し
ていない領域において、誘電層195は好ましくは、Z
−方向において測定されたときに約1μm〜約5μmの
厚さを有する、図7参照。
【0040】第1と第2のセグメント164、166を
含む主導体162は、誘電層195上に形成される。ア
ルミニウム又は銅若しくは金のような他の高導電性材料
を用いてもよい。例えばアルミニウムの層を、従来の真
空蒸発プロセスによって誘電層195に加えてもよい。
これに代えて、従来のスパッター堆積プロセス又は他の
類似のプロセスを用いてもよい。次いで、残存する金属
が主導体162を形成するように、不必要な金属を除去
するために従来のフォトマスキング・プロセスを用いて
もよい。主導体162は好ましくは、約0.2μm〜約
2μmの厚さと、約10μm〜約100μmの幅を有す
る。
含む主導体162は、誘電層195上に形成される。ア
ルミニウム又は銅若しくは金のような他の高導電性材料
を用いてもよい。例えばアルミニウムの層を、従来の真
空蒸発プロセスによって誘電層195に加えてもよい。
これに代えて、従来のスパッター堆積プロセス又は他の
類似のプロセスを用いてもよい。次いで、残存する金属
が主導体162を形成するように、不必要な金属を除去
するために従来のフォトマスキング・プロセスを用いて
もよい。主導体162は好ましくは、約0.2μm〜約
2μmの厚さと、約10μm〜約100μmの幅を有す
る。
【0041】保護層197が、誘電層122と導体16
8の露出部分を覆って加えられる。好ましくは、層19
7は、従来のスプレー又はロール・ラミネーション・プ
ロセスによってハンダ・マスクから形成される。層19
7は好ましくは、Z−方向において測定されたときに約
10μm〜約100μmの厚さを有する。
8の露出部分を覆って加えられる。好ましくは、層19
7は、従来のスプレー又はロール・ラミネーション・プ
ロセスによってハンダ・マスクから形成される。層19
7は好ましくは、Z−方向において測定されたときに約
10μm〜約100μmの厚さを有する。
【0042】加熱要素区域111aと111bは、電流
移動層124上に形成される。好ましくは、加熱要素区
域111aと111bは実質的に同じ材料から形成さ
れ、かつ、図1〜図3に例示した実施態様の加熱要素区
域11a〜11dと実質的に同じ方法で形成される。第
2の導体170は加熱要素区域111aと111b上に
形成される。第2の導体170は好ましくは、実質的に
同じ材料から形成され、かつ、図1〜図3に例示した実
施態様の第2の導体70a〜70dと実質的に同じ方法
で形成される。
移動層124上に形成される。好ましくは、加熱要素区
域111aと111bは実質的に同じ材料から形成さ
れ、かつ、図1〜図3に例示した実施態様の加熱要素区
域11a〜11dと実質的に同じ方法で形成される。第
2の導体170は加熱要素区域111aと111b上に
形成される。第2の導体170は好ましくは、実質的に
同じ材料から形成され、かつ、図1〜図3に例示した実
施態様の第2の導体70a〜70dと実質的に同じ方法
で形成される。
【0043】第2の導体170が形成された後に、オリ
フィス・プレート30が電流移動層124と第2の導体
170に接着剤40によって固定される、図8参照。
フィス・プレート30が電流移動層124と第2の導体
170に接着剤40によって固定される、図8参照。
【0044】電流移動層100又は124は非熱伝導性
なので、熱の生成においては、加熱要素が珪素のような
熱伝導性材料上に典型的に形成される従来のデバイスよ
りも、少ないエネルギーが加熱要素によって下にある電
流移動層100又は124内に放散されるものと考えら
れる。このような理由のために、本発明の第1と第2の
実施態様のプリントヘッドでは、従来のプリントヘッド
において気泡形成を果たすのに必要とされるエネルギー
量に比べた際に、気泡形成を果たすのに必要とされるエ
ネルギー量が低減されるものと更に考えられる。
なので、熱の生成においては、加熱要素が珪素のような
熱伝導性材料上に典型的に形成される従来のデバイスよ
りも、少ないエネルギーが加熱要素によって下にある電
流移動層100又は124内に放散されるものと考えら
れる。このような理由のために、本発明の第1と第2の
実施態様のプリントヘッドでは、従来のプリントヘッド
において気泡形成を果たすのに必要とされるエネルギー
量に比べた際に、気泡形成を果たすのに必要とされるエ
ネルギー量が低減されるものと更に考えられる。
【0045】約300Ω〜約600Ωの抵抗を有する加
熱要素12を備えた、本発明の第1と第2の実施態様に
より構成されるヒータチップは、気泡チャンバ・オリフ
ィスを通してインク滴を噴出させるために、約5〜約3
0ミリアンプの振幅と約1μs〜5μs、好ましくは約
2μsのパルス幅とを有する電流パルスを必要とするも
のと考えられる。。
熱要素12を備えた、本発明の第1と第2の実施態様に
より構成されるヒータチップは、気泡チャンバ・オリフ
ィスを通してインク滴を噴出させるために、約5〜約3
0ミリアンプの振幅と約1μs〜5μs、好ましくは約
2μsのパルス幅とを有する電流パルスを必要とするも
のと考えられる。。
【0046】単一の加熱要素を有する試験デバイスにお
いては、約400Ωの抵抗を有する加熱要素が約2μs
のパルス幅と約7.5mA〜約2mAの振幅とを有する
電流パルスを受けると、気泡形成が達成される。電圧は
約3V〜約8Vであり、電力/パルスは約0.32μj
/パルス未満であった。加熱要素又は加熱されるゾーン
は実質的に円形状であり、約20μm〜約30μmの直
径を有していた。加熱要素の厚さは、約1000μmで
あった。これとは対照的に、従来のヒータチップで気泡
形成を果たすには、約6〜7μj/パルスが必要であ
る。このように、この試験デバイスは、気泡形成を達成
するのに必要な電力量が約1/10に低減される。
いては、約400Ωの抵抗を有する加熱要素が約2μs
のパルス幅と約7.5mA〜約2mAの振幅とを有する
電流パルスを受けると、気泡形成が達成される。電圧は
約3V〜約8Vであり、電力/パルスは約0.32μj
/パルス未満であった。加熱要素又は加熱されるゾーン
は実質的に円形状であり、約20μm〜約30μmの直
径を有していた。加熱要素の厚さは、約1000μmで
あった。これとは対照的に、従来のヒータチップで気泡
形成を果たすには、約6〜7μj/パルスが必要であ
る。このように、この試験デバイスは、気泡形成を達成
するのに必要な電力量が約1/10に低減される。
【0047】以下の実施例は例示の目的のみに示される
ものであり、制限のためのものではない。
ものであり、制限のためのものではない。
【0048】実施例1 本発明の第2の実施態様によるヒータチップを備えたプ
リントヘッドのコンピュータ・シュミレーションを用い
た。シュミレートされたチップは、酸化アルミニウムの
加熱要素の連続層を含んでおり、この層は、約0.1μ
mのZ方向における厚さと、約2Ω−mの抵抗と、約3
800Kg/立方メートルの密度と、30W/m℃の熱
伝導率と、約1580J/Kg℃の比熱を有する。電流
移動層124は、約20μmのZ方向における厚さと、
約0.006Ω−mの抵抗と、約1200Kg/立方メ
ートルの密度と、0.37W/m℃の熱伝導率と、約1
305J/Kg℃の比熱を有する。ポジティブとネガテ
ィブの導体160、170の幅は、約20μmであっ
た。約15Vの振幅を有する1μ秒の電圧パルスを、加
熱要素に印加した。計算した加熱要素の表面温度は、約
546℃であった。約25ミリアンプの電流を加熱要素
に加えた。典型的には、従来のプリントヘッドにおいて
加熱要素を加熱するのに約250ミリアンプの電流が必
要とされる。したがって、このシュミレートされたプリ
ントヘッドにおける加熱要素の加熱を果たすには、十分
に少ないエネルギーしか必要とされない。
リントヘッドのコンピュータ・シュミレーションを用い
た。シュミレートされたチップは、酸化アルミニウムの
加熱要素の連続層を含んでおり、この層は、約0.1μ
mのZ方向における厚さと、約2Ω−mの抵抗と、約3
800Kg/立方メートルの密度と、30W/m℃の熱
伝導率と、約1580J/Kg℃の比熱を有する。電流
移動層124は、約20μmのZ方向における厚さと、
約0.006Ω−mの抵抗と、約1200Kg/立方メ
ートルの密度と、0.37W/m℃の熱伝導率と、約1
305J/Kg℃の比熱を有する。ポジティブとネガテ
ィブの導体160、170の幅は、約20μmであっ
た。約15Vの振幅を有する1μ秒の電圧パルスを、加
熱要素に印加した。計算した加熱要素の表面温度は、約
546℃であった。約25ミリアンプの電流を加熱要素
に加えた。典型的には、従来のプリントヘッドにおいて
加熱要素を加熱するのに約250ミリアンプの電流が必
要とされる。したがって、このシュミレートされたプリ
ントヘッドにおける加熱要素の加熱を果たすには、十分
に少ないエネルギーしか必要とされない。
【0049】本発明により形成されたチップは、その各
々がただ一つの加熱要素形成する複数の加熱要素区域を
備えていてもよいことがさらに企図される。各加熱要素
は好ましくは、これに対応する誘電層98又は122の
開口98a又は122aより大きな大きさである。加熱
要素又は加熱されるゾーンの形状と大きさは、開口98
a又は122aの形状と大きさによって決定されるであ
ろう。開口98a又は122aは、円形、環状、四角形
又は方形の形状であってもよい。これらはまた、ここで
明示していない他の幾何学的形状を有していてもよい。
々がただ一つの加熱要素形成する複数の加熱要素区域を
備えていてもよいことがさらに企図される。各加熱要素
は好ましくは、これに対応する誘電層98又は122の
開口98a又は122aより大きな大きさである。加熱
要素又は加熱されるゾーンの形状と大きさは、開口98
a又は122aの形状と大きさによって決定されるであ
ろう。開口98a又は122aは、円形、環状、四角形
又は方形の形状であってもよい。これらはまた、ここで
明示していない他の幾何学的形状を有していてもよい。
【0050】電流が加熱要素を迂回し、かつ、第2の導
体と電流移動層との間を直接流れるのを防止するため
に、電流移動層の表面を覆う誘電層が形成される。開口
98a又は122aと実質的に同じ形状と大きさを有す
る開口が、誘電層内に形成される。加熱要素区域が誘電
層上に形成される際に、これらの区域は誘電層内の開口
を通って延出し、かつ電流移動層と直接接する。第2の
導体が実質的に形成される際に、加熱要素区域を囲む誘
電層が存在するためにこれらの導体は電流移動層と接し
ない。電流移動層を覆って形成された誘電層は、図3の
実施態様において層96を形成するのに用いられたのと
同じ材料から形成されてもよい。
体と電流移動層との間を直接流れるのを防止するため
に、電流移動層の表面を覆う誘電層が形成される。開口
98a又は122aと実質的に同じ形状と大きさを有す
る開口が、誘電層内に形成される。加熱要素区域が誘電
層上に形成される際に、これらの区域は誘電層内の開口
を通って延出し、かつ電流移動層と直接接する。第2の
導体が実質的に形成される際に、加熱要素区域を囲む誘
電層が存在するためにこれらの導体は電流移動層と接し
ない。電流移動層を覆って形成された誘電層は、図3の
実施態様において層96を形成するのに用いられたのと
同じ材料から形成されてもよい。
【0051】本発明の第3の実施態様により形成された
ヒータチップ210を、図9〜図14に示す。チップ2
10は、複数の第1と第2の導体260、270を備え
た主本体部分218を含む。
ヒータチップ210を、図9〜図14に示す。チップ2
10は、複数の第1と第2の導体260、270を備え
た主本体部分218を含む。
【0052】4個の通常方形の加熱要素区域211a〜
211dが、チップ210(図9において点線で示され
る)上に設けられる。加熱要素区域211a〜211d
の部分は、抵抗性の加熱要素212を形成する。理解を
容易にするため、加熱要素212は図9において四角の
点線によって示される。
211dが、チップ210(図9において点線で示され
る)上に設けられる。加熱要素区域211a〜211d
の部分は、抵抗性の加熱要素212を形成する。理解を
容易にするため、加熱要素212は図9において四角の
点線によって示される。
【0053】図9に例示する実施態様は、3個の第1の
導体260a〜260cと4個の第2の導体270a〜
270dを備える。第1の導体260a〜260cの各
々は、通常直線状の開始部分262と、通常U形状の中
間部分263と、通常U形状の第1の最終部分264
と、通常U形状の第2の最終部分265を含む。開始部
分262の第1の端部262aは、ボンドパッド216
に結合される。開始部分262の反対側にある第2の端
部262bは、対応する中間部分263と一体化され、
又は接する。中間部分263は第1と第2の脚263
a、263bを有する。第1の脚263aは、対応する
第1の最終部分264と接し、第2の脚263bは対応
する第2の最終部分265と接する。第1の最終部分2
64は第1と第2の脚264a、264bを有し、第2
の最終部分265は第3と第4の脚265a、265b
を有する。第1の脚264aは下方に延出し第2の導体
270aと整列して位置し、 第2の脚264bは下方
に延出し第2の導体270bと整列して位置し、第3の
脚264cは下方に延出し第2の導体270cと整列し
て位置し、第4の脚264cは下方に延出し第2の導体
270dと整列して位置する。このように、4個の第2
の導体270a〜270dの各々は上方に位置し、か
つ、3個の第1の導体260a〜260cの各々の脚と
整列して位置する。
導体260a〜260cと4個の第2の導体270a〜
270dを備える。第1の導体260a〜260cの各
々は、通常直線状の開始部分262と、通常U形状の中
間部分263と、通常U形状の第1の最終部分264
と、通常U形状の第2の最終部分265を含む。開始部
分262の第1の端部262aは、ボンドパッド216
に結合される。開始部分262の反対側にある第2の端
部262bは、対応する中間部分263と一体化され、
又は接する。中間部分263は第1と第2の脚263
a、263bを有する。第1の脚263aは、対応する
第1の最終部分264と接し、第2の脚263bは対応
する第2の最終部分265と接する。第1の最終部分2
64は第1と第2の脚264a、264bを有し、第2
の最終部分265は第3と第4の脚265a、265b
を有する。第1の脚264aは下方に延出し第2の導体
270aと整列して位置し、 第2の脚264bは下方
に延出し第2の導体270bと整列して位置し、第3の
脚264cは下方に延出し第2の導体270cと整列し
て位置し、第4の脚264cは下方に延出し第2の導体
270dと整列して位置する。このように、4個の第2
の導体270a〜270dの各々は上方に位置し、か
つ、3個の第1の導体260a〜260cの各々の脚と
整列して位置する。
【0054】第2の導体270の各々は、第1のセグメ
ント272とこれに実質的に垂直な第2のセグメント2
74とを含む。第1のセグメント272の第1の端部2
72aはボンドパッド216に結合され、第1のセグメ
ント272の第2の端部272bは、第2のセグメント
274に沿った中間点において対応する第2のセグメン
ト274に結合される。
ント272とこれに実質的に垂直な第2のセグメント2
74とを含む。第1のセグメント272の第1の端部2
72aはボンドパッド216に結合され、第1のセグメ
ント272の第2の端部272bは、第2のセグメント
274に沿った中間点において対応する第2のセグメン
ト274に結合される。
【0055】与えられた加熱要素212の加熱を果たす
ために、加熱要素212の直下に位置し、かつこれと係
合する第1の導体260、ならびに加熱要素212を覆
って延出し、かつこれと係合する第2の導体270を通
って電流が流される。
ために、加熱要素212の直下に位置し、かつこれと係
合する第1の導体260、ならびに加熱要素212を覆
って延出し、かつこれと係合する第2の導体270を通
って電流が流される。
【0056】この実施態様においては、主本体部分21
8はベース部分290とこのベース部分290を覆って
形成される第1の誘電層292とを更に備える、図10
〜図14参照。ベース部分290は、図3の実施態様に
おいてベース部分90が形成された上述の材料の一つか
ら形成されてもよい。第1の層292は、図3の実施態
様における誘電層92と本質的に同じ方法で、かつ層9
2を形成する上述の材料の一つから形成されてもよい。
8はベース部分290とこのベース部分290を覆って
形成される第1の誘電層292とを更に備える、図10
〜図14参照。ベース部分290は、図3の実施態様に
おいてベース部分90が形成された上述の材料の一つか
ら形成されてもよい。第1の層292は、図3の実施態
様における誘電層92と本質的に同じ方法で、かつ層9
2を形成する上述の材料の一つから形成されてもよい。
【0057】第1の導体260a〜260cの第1と第
2の最終部分264、265、第1の導体260bと2
60cの下方区域261bと261c、ならびに、第2
の導体270bと270cの下方区域271bと271
cは、全て図9において点線で示されいるが、誘電層2
92上に形成される。最終部分264と265、ならび
に、下方区域261b、261c、271b、271c
は、図3の実施態様における主導体62と本質的に同じ
方法で、かつ主導体62を形成する上述の材料の一つか
ら形成されてもよい。
2の最終部分264、265、第1の導体260bと2
60cの下方区域261bと261c、ならびに、第2
の導体270bと270cの下方区域271bと271
cは、全て図9において点線で示されいるが、誘電層2
92上に形成される。最終部分264と265、ならび
に、下方区域261b、261c、271b、271c
は、図3の実施態様における主導体62と本質的に同じ
方法で、かつ主導体62を形成する上述の材料の一つか
ら形成されてもよい。
【0058】第2の誘電層296は、誘電層292、最
終部分264と265、ならびに、下方区域261b、
261c、271b、271cの露出部分を覆って形成
される。誘電層296は、図3の実施態様における層9
6と本質的に同じ方法で、かつ層96を形成するのと同
じ材料から形成されてもよい。
終部分264と265、ならびに、下方区域261b、
261c、271b、271cの露出部分を覆って形成
される。誘電層296は、図3の実施態様における層9
6と本質的に同じ方法で、かつ層96を形成するのと同
じ材料から形成されてもよい。
【0059】誘電層296は、最終部分264、265
と下方区域261b、261c、271b、271cと
の間の領域内に延出し、これらの部分と区域間に電流が
流れるのを防止する。層296はまた、最終部分264
と265上の点364a、364bと365a、365
b、ならびに、下方区域261b、261c、271
b、271c上の点361と371以外において、最終
部分264、265、ならびに、下方区域261b、2
61c、271b、271cを覆う。例示の実施態様に
おいて、従来の材料除去プロセス、現像プロセスが、層
96内に開口296aを形成するように、点361、3
64a、364b、365a、365b及び371上に
位置する誘電層296部分を除去するのに用いられる、
図11〜図13参照。
と下方区域261b、261c、271b、271cと
の間の領域内に延出し、これらの部分と区域間に電流が
流れるのを防止する。層296はまた、最終部分264
と265上の点364a、364bと365a、365
b、ならびに、下方区域261b、261c、271
b、271c上の点361と371以外において、最終
部分264、265、ならびに、下方区域261b、2
61c、271b、271cを覆う。例示の実施態様に
おいて、従来の材料除去プロセス、現像プロセスが、層
96内に開口296aを形成するように、点361、3
64a、364b、365a、365b及び371上に
位置する誘電層296部分を除去するのに用いられる、
図11〜図13参照。
【0060】加熱要素区域211a〜211dが、第2
の誘電層上に形成される。加熱要素区域211a〜21
1dが第1の導体260a〜260cの最終部分264
と265に直接接するように、区域211a〜211d
部分は、最終部分264と265上の点364bと36
5bの上方に位置する第2の誘電層296の開口296
aを通って延出する、図11参照。点364bと365
bの上方の各開口296aの下方区域は、図11Aに示
すように四角形であってもよい。これに代わって、この
下方区域は、図11Bに示すように円形であってもよ
く、図11Cに示すように環状であってもよく、又は、
他の幾何学的形状を有していてもよい。加熱要素区域2
11a〜211dは、図3の実施態様における加熱要素
区域11a〜11dと本質的に同じ方法で、かつ加熱要
素区域11a〜11dを形成する上記材料の一つから形
成されてもよい。加熱要素区域211a〜211dは、
図9に示すように方形であってもよい。これに代って、
区域211a〜211dはT形状であってもよく、又
は、ここに明示されていない他の形状を有していてもよ
い。更に、各区域がただ一つの加熱要素を形成する、よ
り小さな加熱要素区域を設けてもよい。
の誘電層上に形成される。加熱要素区域211a〜21
1dが第1の導体260a〜260cの最終部分264
と265に直接接するように、区域211a〜211d
部分は、最終部分264と265上の点364bと36
5bの上方に位置する第2の誘電層296の開口296
aを通って延出する、図11参照。点364bと365
bの上方の各開口296aの下方区域は、図11Aに示
すように四角形であってもよい。これに代わって、この
下方区域は、図11Bに示すように円形であってもよ
く、図11Cに示すように環状であってもよく、又は、
他の幾何学的形状を有していてもよい。加熱要素区域2
11a〜211dは、図3の実施態様における加熱要素
区域11a〜11dと本質的に同じ方法で、かつ加熱要
素区域11a〜11dを形成する上記材料の一つから形
成されてもよい。加熱要素区域211a〜211dは、
図9に示すように方形であってもよい。これに代って、
区域211a〜211dはT形状であってもよく、又
は、ここに明示されていない他の形状を有していてもよ
い。更に、各区域がただ一つの加熱要素を形成する、よ
り小さな加熱要素区域を設けてもよい。
【0061】電流が加熱要素区域211a〜211dを
通って流れるとき、加熱要素212は区域211a〜2
11dの加熱されるゾーンを含む。加熱されるゾーンの
形状と大きさは、開口296aの大きさによって通常決
定される。
通って流れるとき、加熱要素212は区域211a〜2
11dの加熱されるゾーンを含む。加熱されるゾーンの
形状と大きさは、開口296aの大きさによって通常決
定される。
【0062】加熱要素212、すなわち開口296a
内、ならびに、第1の導体260a〜260cの最終部
分264、265と第2の導体270a〜270dの第
2のセグメント274との交差区域間に延出する抵抗性
材料の層部分は好ましくは、部分264、265と第2
のセグメント274との間の電流の流れ方向に通常平行
な第1の軸A1に沿った実質的に一定の断面積を有す
る、図14参照。電流の流れ方向において各加熱要素2
12の断面積は変化しないので、各加熱要素212の略
均一な加熱が起こるものと考えられる。
内、ならびに、第1の導体260a〜260cの最終部
分264、265と第2の導体270a〜270dの第
2のセグメント274との交差区域間に延出する抵抗性
材料の層部分は好ましくは、部分264、265と第2
のセグメント274との間の電流の流れ方向に通常平行
な第1の軸A1に沿った実質的に一定の断面積を有す
る、図14参照。電流の流れ方向において各加熱要素2
12の断面積は変化しないので、各加熱要素212の略
均一な加熱が起こるものと考えられる。
【0063】本発明においては、加熱要素の上面、すな
わちインク含有チャンバに最も近接する面を通る電流の
流れは、略垂直な軸に沿って生じるので、各加熱要素2
12は第1の軸A1に略直交する第2の軸A2に沿った
実質的に不均一な断面積を有する。したがって、加熱さ
れるゾーン、すなわち加熱要素区域211a〜211d
の加熱要素212は、円形状のインクに面する面を有す
るように円筒形状であってよい。加熱されるゾーンはま
た、環状のインクに面する面を有するように中空円筒で
あってもよい。加熱されるゾーンの形状は、開口296
aの形状によって決定される。もし開口296aが円形
状であれば、加熱されるゾーンは円筒形状となるであろ
う。もし開口296aが環状であれば、加熱されるゾー
ンは中空円筒形の形状となるであろう。したがって、加
熱されるゾーン又は加熱要素212のインクに面する面
は、丸い又は曲線状の区域を有していてもよく、例えば
これらが円形状又は環状の形状であってもよい。これら
はまた四角形又は方形の形状であってもよく、丸い角を
有していてもよい。したがって、各加熱要素212は、
インク中の気泡を収縮させる間に生じる激しい衝撃波の
よる加熱要素212の損傷を最小限にするように、より
簡単な形状であってよい。各加熱要素212の断面積が
電流の流れ方向において実質的に一定であるとき、この
付加された利点が加熱要素の効率を犠牲にすることなく
生じる。
わちインク含有チャンバに最も近接する面を通る電流の
流れは、略垂直な軸に沿って生じるので、各加熱要素2
12は第1の軸A1に略直交する第2の軸A2に沿った
実質的に不均一な断面積を有する。したがって、加熱さ
れるゾーン、すなわち加熱要素区域211a〜211d
の加熱要素212は、円形状のインクに面する面を有す
るように円筒形状であってよい。加熱されるゾーンはま
た、環状のインクに面する面を有するように中空円筒で
あってもよい。加熱されるゾーンの形状は、開口296
aの形状によって決定される。もし開口296aが円形
状であれば、加熱されるゾーンは円筒形状となるであろ
う。もし開口296aが環状であれば、加熱されるゾー
ンは中空円筒形の形状となるであろう。したがって、加
熱されるゾーン又は加熱要素212のインクに面する面
は、丸い又は曲線状の区域を有していてもよく、例えば
これらが円形状又は環状の形状であってもよい。これら
はまた四角形又は方形の形状であってもよく、丸い角を
有していてもよい。したがって、各加熱要素212は、
インク中の気泡を収縮させる間に生じる激しい衝撃波の
よる加熱要素212の損傷を最小限にするように、より
簡単な形状であってよい。各加熱要素212の断面積が
電流の流れ方向において実質的に一定であるとき、この
付加された利点が加熱要素の効率を犠牲にすることなく
生じる。
【0064】2個の第2の導体270aと270bの各
々の実質的な全体部分、第1の導体260aの開始部分
262、第1の導体260b、260cの上方区域36
1b、361c、第2の導体270b、270cの上方
区域371b、371c、ならびに、中間部分263
は、誘電層296上に形成される。第2の導体270a
〜270d第2のセグメント274は、加熱要素区域2
11a〜211dを覆って延出する、図9〜図11、図
13及び図14参照。部分262、263及び区域36
1b、361cは、図3の実施態様の主導体68と本質
的に同じ方法で、かつ主導体68を形成する上記材料の
一つから形成されてもよい。導体270a、270d及
び区域371b、371cは、図3の実施態様の第2の
導体70a〜70dと本質的に同じ方法で、かつ導体7
0a〜70dを形成する上記材料の一つから形成されて
もよい。
々の実質的な全体部分、第1の導体260aの開始部分
262、第1の導体260b、260cの上方区域36
1b、361c、第2の導体270b、270cの上方
区域371b、371c、ならびに、中間部分263
は、誘電層296上に形成される。第2の導体270a
〜270d第2のセグメント274は、加熱要素区域2
11a〜211dを覆って延出する、図9〜図11、図
13及び図14参照。部分262、263及び区域36
1b、361cは、図3の実施態様の主導体68と本質
的に同じ方法で、かつ主導体68を形成する上記材料の
一つから形成されてもよい。導体270a、270d及
び区域371b、371cは、図3の実施態様の第2の
導体70a〜70dと本質的に同じ方法で、かつ導体7
0a〜70dを形成する上記材料の一つから形成されて
もよい。
【0065】第1の導体260bの上方区域361b
は、下方区域261bに接するように、下方区域261
b上の点361の一つの上方にある誘電層296の開口
296aを通って延出する。第1の導体260cの上方
区域361cは、下方区域261cに接するように、下
方区域261c上の点361の一つの上方にある誘電層
296の開口296aを通って延出する。第2の導体2
70bの2個の上方区域371bは、下方区域271b
に接するように、下方区域271b上の点371の上方
にある誘電層296の開口296aを通って延出する。
第2の導体270cの2個の上方区域371cは、下方
区域271cに接するように、下方区域271c上の点
371の上方にある誘電層296の開口296aを通っ
て延出する。各中間部分263の第1と第2の脚263
a、263bは、最終部分264、265と係合するよ
うに、対応する最終部分264、265上の点364
a、365aを覆って誘電層296の開口296aを通
って延出する。第1の導体260b部分を形成する中間
部分263の中央区域263cは、下方区域261bと
係合するように、誘電層296の開口296aを通って
延出する。第1の導体260c部分を形成する中間部分
263の中央区域263dは、下方区域261cと係合
するように、誘電層296の開口296aを通って延出
する。
は、下方区域261bに接するように、下方区域261
b上の点361の一つの上方にある誘電層296の開口
296aを通って延出する。第1の導体260cの上方
区域361cは、下方区域261cに接するように、下
方区域261c上の点361の一つの上方にある誘電層
296の開口296aを通って延出する。第2の導体2
70bの2個の上方区域371bは、下方区域271b
に接するように、下方区域271b上の点371の上方
にある誘電層296の開口296aを通って延出する。
第2の導体270cの2個の上方区域371cは、下方
区域271cに接するように、下方区域271c上の点
371の上方にある誘電層296の開口296aを通っ
て延出する。各中間部分263の第1と第2の脚263
a、263bは、最終部分264、265と係合するよ
うに、対応する最終部分264、265上の点364
a、365aを覆って誘電層296の開口296aを通
って延出する。第1の導体260b部分を形成する中間
部分263の中央区域263cは、下方区域261bと
係合するように、誘電層296の開口296aを通って
延出する。第1の導体260c部分を形成する中間部分
263の中央区域263dは、下方区域261cと係合
するように、誘電層296の開口296aを通って延出
する。
【0066】保護層297が、誘電層296、ならび
に、第1と第2の導体260a〜260c、270a〜
270dの露出部分を覆って加えられる。好ましくは、
この層297は、認識された堆積プロセス技術によっ
て、例えばSi3N4又はSiCから形成される。層2
97は、約500オングストローム〜約10,000オ
ングストロームの厚さを有していてもよい。
に、第1と第2の導体260a〜260c、270a〜
270dの露出部分を覆って加えられる。好ましくは、
この層297は、認識された堆積プロセス技術によっ
て、例えばSi3N4又はSiCから形成される。層2
97は、約500オングストローム〜約10,000オ
ングストロームの厚さを有していてもよい。
【0067】保護層297が形成された後に、オリフィ
ス・プレート30が接着剤40によって層297に固定
される。
ス・プレート30が接着剤40によって層297に固定
される。
【0068】本発明の第4の実施態様により形成された
ヒータチップ310を、図14Aに示すが、同様の参照
番号は同様の要素を示す。この実施態様では、加熱要素
区域311は、第1の導体260の最終部分264を直
接覆って形成される。第2の層296は、加熱要素区域
311の部分上を延出する。第2の導体270の第2の
セグメント274は、加熱要素区域311に沿った3個
の離間部分において加熱要素区域311と接するよう
に、誘電層296を覆って形成され、かつ層296内の
3個の開口296aを通って延出する。加熱要素区域3
11の各離間部分は、加熱要素312を含む。
ヒータチップ310を、図14Aに示すが、同様の参照
番号は同様の要素を示す。この実施態様では、加熱要素
区域311は、第1の導体260の最終部分264を直
接覆って形成される。第2の層296は、加熱要素区域
311の部分上を延出する。第2の導体270の第2の
セグメント274は、加熱要素区域311に沿った3個
の離間部分において加熱要素区域311と接するよう
に、誘電層296を覆って形成され、かつ層296内の
3個の開口296aを通って延出する。加熱要素区域3
11の各離間部分は、加熱要素312を含む。
【0069】本発明の第5の実施態様により形成された
ヒータチップ410を、図15に示す。チップ410
は、複数の第1と第2の導体460、470を備えた主
本体部分418を含む。主本体部分418は、図3に例
示される実施態様の主本体部分218と本質的に同じ方
法で構成される。
ヒータチップ410を、図15に示す。チップ410
は、複数の第1と第2の導体460、470を備えた主
本体部分418を含む。主本体部分418は、図3に例
示される実施態様の主本体部分218と本質的に同じ方
法で構成される。
【0070】4個の通常方形の加熱要素区域411a〜
411dが、チップ410(図9において点線で示され
る)上に設けられる。加熱要素区域411a〜411d
の部分は、抵抗性の加熱要素412を形成する。理解を
容易にするため、加熱要素412は図15において四角
の点線によって示される。
411dが、チップ410(図9において点線で示され
る)上に設けられる。加熱要素区域411a〜411d
の部分は、抵抗性の加熱要素412を形成する。理解を
容易にするため、加熱要素412は図15において四角
の点線によって示される。
【0071】図15に例示する実施態様は、3個の第1
の導体460a〜460cと4個の第2の導体470a
〜470dを備える。第1の導体460a〜460cの
各々は、第1と第2の上方部分462、464、ならび
に、4個の下方の第3の部分466a〜466dを含
む。第1の部分462の第1の端部462aは、ボンド
パッド416に結合される。第2の部分464は第1の
部分462に対して通常右に傾斜して延出し、第1の部
分462と一体化される。第2の部分464が接続され
る4個の第3の部分466a〜466dの各々は下方に
延出し、かつ4個の第2の導体470a〜470dの異
なる一つに整列して位置する。このように、4個の第2
の導体470a〜470dの各々は上方に位置し、第1
の導体460a〜460cの各々の第3の部分の一つに
整列して位置する。
の導体460a〜460cと4個の第2の導体470a
〜470dを備える。第1の導体460a〜460cの
各々は、第1と第2の上方部分462、464、ならび
に、4個の下方の第3の部分466a〜466dを含
む。第1の部分462の第1の端部462aは、ボンド
パッド416に結合される。第2の部分464は第1の
部分462に対して通常右に傾斜して延出し、第1の部
分462と一体化される。第2の部分464が接続され
る4個の第3の部分466a〜466dの各々は下方に
延出し、かつ4個の第2の導体470a〜470dの異
なる一つに整列して位置する。このように、4個の第2
の導体470a〜470dの各々は上方に位置し、第1
の導体460a〜460cの各々の第3の部分の一つに
整列して位置する。
【0072】図9の実施態様における誘電層296と同
方法と材料から形成される第2の誘電層296は、第1
と第2の部分462、464と第3の部分466a〜4
66dの間に位置する。加熱要素区域411a〜411
dが第2の誘電層上に形成される。誘電層296内の開
口296aと同様の開口(不図示)が、第2の誘電層内
に形成される。第2の部分464の各々は、対応する4
個の第3の部分466a〜466dに接するように、第
2の誘電層内の4個の開口を通って延出する。同様に、
加熱要素区域411a〜411dは、第3の部分466
a〜466dに接するように、第2の誘電層内の開口を
通って延出する。加熱要素区域411a〜411dは、
例示された実施態様では方形であるが、他の形状であっ
てもよい。しかしながら、第2の部分464が第3の部
分466a〜466dに接するために、第2の誘電層内
の開口を通って延出する位置に、区域411a〜411
dが配置されるように、この区域411a〜411dは
第2の誘電層の上面に沿って延出してはならない。
方法と材料から形成される第2の誘電層296は、第1
と第2の部分462、464と第3の部分466a〜4
66dの間に位置する。加熱要素区域411a〜411
dが第2の誘電層上に形成される。誘電層296内の開
口296aと同様の開口(不図示)が、第2の誘電層内
に形成される。第2の部分464の各々は、対応する4
個の第3の部分466a〜466dに接するように、第
2の誘電層内の4個の開口を通って延出する。同様に、
加熱要素区域411a〜411dは、第3の部分466
a〜466dに接するように、第2の誘電層内の開口を
通って延出する。加熱要素区域411a〜411dは、
例示された実施態様では方形であるが、他の形状であっ
てもよい。しかしながら、第2の部分464が第3の部
分466a〜466dに接するために、第2の誘電層内
の開口を通って延出する位置に、区域411a〜411
dが配置されるように、この区域411a〜411dは
第2の誘電層の上面に沿って延出してはならない。
【0073】第2の導体470a〜470dの各々は、
第1と第2の上方部分480、482と第3の下方部分
484とを含む。第2の誘電層は下方部分484部分を
覆って延出する。第1と第2の部分480、482は、
下方部分484の向い合う端部に接するように、第2の
誘電層内の開口を通って延出する。第2の部分482も
また、加熱要素区域411a〜411dに接する。
第1と第2の上方部分480、482と第3の下方部分
484とを含む。第2の誘電層は下方部分484部分を
覆って延出する。第1と第2の部分480、482は、
下方部分484の向い合う端部に接するように、第2の
誘電層内の開口を通って延出する。第2の部分482も
また、加熱要素区域411a〜411dに接する。
【0074】第1と第2の導体460a〜460cと4
70a〜470dの上方部分462、464、480及
び482を、これらの上方部分が第2の誘電層の下方に
位置し、かつ、下方部分466a〜466dが第2の誘
電層の上面上に形成されるように、主本体部分418の
第1の誘電層(不図示)上に形成してもよいことが更に
企図される。
70a〜470dの上方部分462、464、480及
び482を、これらの上方部分が第2の誘電層の下方に
位置し、かつ、下方部分466a〜466dが第2の誘
電層の上面上に形成されるように、主本体部分418の
第1の誘電層(不図示)上に形成してもよいことが更に
企図される。
【0075】図9の実施態様における、第1と第2の導
体260a〜260c、270a〜270dの上方と下
方部分ならびに区域は、上方部分と区域が第2の誘電層
296の下方に位置し、下方部分と区域が誘電層296
上に位置するように、逆にしてもよいことが更にまた企
図される。
体260a〜260c、270a〜270dの上方と下
方部分ならびに区域は、上方部分と区域が第2の誘電層
296の下方に位置し、下方部分と区域が誘電層296
上に位置するように、逆にしてもよいことが更にまた企
図される。
【図1】第1の導体が実線で示されると共に第2の導体
が点線で示されている、本発明の第1の実施態様により
形成されたヒータチップの第1と第2の導体の平面図
が点線で示されている、本発明の第1の実施態様により
形成されたヒータチップの第1と第2の導体の平面図
【図2】二つの異なるレベルで除去された区域を備えた
オリフィ・スプレートに結合されたヒータチップ部分の
平面図
オリフィ・スプレートに結合されたヒータチップ部分の
平面図
【図3】図2の区域線3−3に沿った断面図
【図4】本発明の第2の実施態様により形成されたヒー
タチップ部分の平面図
タチップ部分の平面図
【図5】図4の線5−5に沿った断面図
【図6】図4の線6−6に沿った断面図
【図7】図4の線7−7に沿った断面図
【図8】本発明の第2の実施態様により形成されたチッ
プを通る分解断面図
プを通る分解断面図
【図9】第1と第2の導体の上方区域が実線で示される
と共に第1と第2の導体の下方区域が点線で示されてい
る、本発明の第3の実施態様により形成された第1と第
2の導体、ならびにヒータチップの加熱要素区域の平面
図
と共に第1と第2の導体の下方区域が点線で示されてい
る、本発明の第3の実施態様により形成された第1と第
2の導体、ならびにヒータチップの加熱要素区域の平面
図
【図10】図9の線10−10に沿った断面図
【図11】図9の線11−11に沿った断面図
【図11A】図11に示されるヒータチップの第2の誘
電層内の修正された開口を示す図
電層内の修正された開口を示す図
【図11B】図11に示されるヒータチップの第2の誘
電層内の修正された開口を示す図
電層内の修正された開口を示す図
【図11C】図11に示されるヒータチップの第2の誘
電層内の修正された開口を示す図
電層内の修正された開口を示す図
【図12】図9の線12−12に沿った断面図
【図13】図9の線13−13に沿った断面図
【図14】本発明の第3の実施態様により構成されたヒ
ータチップを有するプリントヘッド部分を通る断面図
ータチップを有するプリントヘッド部分を通る断面図
【図14A】本発明の第4の実施態様により構成された
ヒータチップを有するプリントヘッド部分を通る断面図
ヒータチップを有するプリントヘッド部分を通る断面図
【図15】本発明の第5の実施態様により構成されたヒ
ータチップの第1と第2の導体の平面図
ータチップの第1と第2の導体の平面図
10,110,210,310,410 ヒータチップ 11a〜11d,111a〜111d,211a〜21
1d,311,411a〜411d 加熱要素区域 12,112,212,312,412 加熱要素 16,116,216,416 ボンドパッド 18,118,218,418 主本体部分 32a・・オリフィス、 50 チャンバ 60a〜60f,160a〜160d,260a〜26
0c,460a〜460c 第1の導体 70a〜70d,170,270a〜270d,470
a〜470d 第2の導体 62,162 主導体 68,90,168,290 副導体 64a,72a,164a,172a,262a,27
2a,462a 第1の端部 164b,172b,262b,272b 第2の端部 92,122,292 第1の誘電層 96,195,296 第2の誘電層 98 第3の誘電層 96a,98a,122a,296a 開口 100,124 電流移動層 120 基板 P1 第1の面 P2 第2の面
1d,311,411a〜411d 加熱要素区域 12,112,212,312,412 加熱要素 16,116,216,416 ボンドパッド 18,118,218,418 主本体部分 32a・・オリフィス、 50 チャンバ 60a〜60f,160a〜160d,260a〜26
0c,460a〜460c 第1の導体 70a〜70d,170,270a〜270d,470
a〜470d 第2の導体 62,162 主導体 68,90,168,290 副導体 64a,72a,164a,172a,262a,27
2a,462a 第1の端部 164b,172b,262b,272b 第2の端部 92,122,292 第1の誘電層 96,195,296 第2の誘電層 98 第3の誘電層 96a,98a,122a,296a 開口 100,124 電流移動層 120 基板 P1 第1の面 P2 第2の面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アショク・マーシー アメリカ合衆国 40515−1202 ケンタッ キー、レキシントン、ウッドフィールド・ サークル 2376
Claims (28)
- 【請求項1】 主本体部分と;該主本体部分上に設けら
れた少なくとも一つの加熱要素と;を含み、 前記主本体部分が少なくとも一つの第1の導体と少なく
とも一つの第2の導体とを備え、前記第1と第2の導体
が前記少なくとも一つの加熱要素に接し、かつ、前記少
なくとも一つの加熱要素にエネルギーを供給し、少なく
とも一つの前記第1の導体の区域が第1の平面に位置
し、少なくとも一つの前記第2の導体の区域が前記第1
の平面から離間する第2の平面に位置する、ヒータチッ
プ。 - 【請求項2】 前記第1の導体の一つの区域と前記第2
の導体の一つの区域とが前記加熱要素に接する、請求項
1に記載のヒータチップ。 - 【請求項3】 前記第1の導体が開始部分、中間部分及
び最終部分を含む、請求項1に記載のヒータチップ。 - 【請求項4】 前記中間部分がU形状部分を含み、前記
少なくとも一つの最終部分が第1と第2の最終部分を含
み、前記U形状部分が前記第1と第2の最終部分の各々
に接する、請求項3に記載のヒータチップ。 - 【請求項5】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、前記最終
部分が上に形成されている第1の誘電層と;該第1の誘
電層部分と前記最終部分とを覆って設けられ、かつ、前
記少なくとも一つの加熱要素と前記開始部分と前記中間
部分とが上に形成されている第2の誘電層と;をさらに
含み、 前記中間部分と前記少なくとも一つの加熱要素が、前記
第2の誘電層を通って延出し、かつ前記最終部分に接
し、前記第2の導体が前記第2の誘電層と前記少なくと
も一つの加熱要素との上に形成される、請求項3に記載
のヒータチップ。 - 【請求項6】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、前記最終
部分が上に形成され、ならびに、前記少なくとも一つの
加熱要素が前記最終部分上に形成されている第1の誘電
層と;該第1の誘電層部分と前記最終部分と前記少なく
とも一つの加熱要素を覆って設けられた第2の誘電層
と;をさらに含み、 前記開始部分と中間部分とが前記第2の誘電層上に形成
され、前記中間部分が前記第2の誘電層中を通って延出
し、かつ前記最終部分に接し、前記第2の導体が前記第
2の誘電層上に形成され、かつ前記少なくとも一つの加
熱要素に接するように前記第2の誘電層中を通って延出
する、請求項3に記載のヒータチップ。 - 【請求項7】 前記第1の導体の開始部分が上方区域と
下方区域とを含み、前記第2の導体が上方区域と下方区
域とを含み、前記第2の導体の上方区域が前記第2の平
面に位置する前記第2の導体の一つを形成する、請求項
3に記載のヒータチップ。 - 【請求項8】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、ならび
に、前記開始部分の下方区域と前記第2の導体の下方区
域と前記最終部分が上に形成されている第1の誘電層
と;該第1の誘電層部分、前記最終部分、前記開始部分
の下方区域及び前記第2の導体を覆って設けられた第2
の誘電層と;をさらに含み、 前記最終部分、前記少なくとも一つの加熱要素、前記開
始部分の上方区域及び前記中間部分が前記第2の誘電層
上に形成され、前記少なくとも一つの加熱要素が前記第
2の誘電層を通って延出し、かつ、前記最終部分に接
し、前記開始部分の上方区域が前記第2の誘電層を通っ
て延出し、かつ、前記開始部分の下方区域に接し、前記
中間部分が前記誘電層を通って延出し、かつ、前記開始
部分の下方区域とと最終部分とに接し、前記第2の導体
の上方区域が前記第2の誘電層と前記少なくとも一つの
加熱要素との上に形成され、前記第2の導体の上方区域
が、前記第2の導体の下方区域に接するように前記誘電
層を通って延出する、請求項7に記載のヒータチップ。 - 【請求項9】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、ならび
に、前記開始部分の下方区域と前記第2の導体の下方区
域と前記最終部分が上に形成されている誘電層であっ
て、前記少なくとも一つの加熱要素が前記最終部分上に
形成されている第1の誘電層と;該第1の誘電層部分、
前記開始部分と第2の導体の下方区域、前記少なくとも
一つの加熱要素部分、及び最終部分を覆って設けられた
第2の誘電層と;をさらに含み、前記開始部分の上方区
域及び前記中間部分が前記第2の誘電層上に形成され、
前記開始部分の上方区域が前記第2の誘電層を通って延
出し、かつ、前記開始部分の下方区域に接し、前記中間
部分が前記誘電層を通って延出し、かつ、前記開始部分
の下方区域と前記最終部分とに接し、前記第2の導体の
上方区域が前記第2の誘電層上に形成され、かつ、前記
前記少なくとも一つの加熱要素と前記第2の導体の下方
区域に接するように前記第2の誘電層を通って延出す
る、請求項7に記載のヒータチップ。 - 【請求項10】 前記少なくとも一つの加熱要素が複数
の加熱要素を含み、前記少なくとも一つの第1の導体が
複数の第1の導体を含み、ならびに、前記少なくとも一
つの第2の導体が複数の第2の導体を含む、請求項1に
記載のヒータチップ。 - 【請求項11】 前記主本体部分上に形成された加熱要
素をさらに含み、かつ、前記複数の加熱要素が前記加熱
要素区域部分によって形成される、請求項10に記載の
ヒータチップ。 - 【請求項12】 前記第1の導体が上方区域と下方区域
とを含み、かつ、前記第2の導体が上方区域と下方区域
とを含む、請求項1に記載のヒータチップ。 - 【請求項13】 前記第2の平面が前記第1の平面から
垂直に離間する、請求項1に記載のヒータチップ。 - 【請求項14】 インク滴が噴出される少なくとも一つ
のオリフィスを有するプレートと;該プレートに結合さ
れ、かつ、少なくとも一つの加熱要素を備えた主本体部
分を含むヒータチップを含み、 前記主本体部分が、前記少なくとも一つの加熱要素にエ
ネルギーを供給するために前記少なくとも一つの加熱要
素に接する少なくとも一つの第1の導体と少なくとも一
つの第2の導体とを備え、前記第1の導体の少なくとも
一つの区域が前記第2の導体の少なくとも一つの区域か
ら垂直に離間する、インク・ジェット・プリントヘッ
ド。 - 【請求項15】 前記少なくとも一つの加熱要素が複数
の加熱要素を含む、請求項14に記載のインク・ジェッ
ト・プリントヘッド。 - 【請求項16】 前記プレートの区域と前記ヒータチッ
プ部分とが、複数のインク含有チャンバを形成し、前記
インク含有チャンバの各々がこれに連結する前記加熱要
素の一つを有するように前記複数の加熱要素が前記ヒー
タチップ上に位置する、請求項15に記載のインク・ジ
ェット・プリントヘッド。 - 【請求項17】 前記ヒータチップが前記主本体部分上
に形成された加熱要素をさらに含み、かつ、前記複数の
加熱要素が前記加熱要素区域部分によって形成される、
請求項15に記載のインク・ジェット・プリントヘッ
ド。 - 【請求項18】 前記第1の導体区域の一つと前記第2
の導体区域の一つが、前記加熱要素と係合する、請求項
14に記載のインク・ジェット・プリントヘッド。 - 【請求項19】 前記第1の導体が開始部分、中間部分
及び最終部分を含む、請求項14に記載のインク・ジェ
ット・プリントヘッド。 - 【請求項20】 前記中間部分がU形状部分を含み、前
記少なくとも一つの最終部分が第1と第2の最終部分を
含み、前記U形状部分が前記第1と第2の最終部分の各
々に接する、請求項19に記載のインク・ジェット・プ
リントヘッド。 - 【請求項21】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、前記最終
部分が上に形成されている第1の誘電層と;該第1の誘
電層部分と前記最終部分とを覆って設けられ、かつ、前
記少なくとも一つの加熱要素と前記開始部分と前記中間
部分とが上に形成されている第2の誘電層と;をさらに
含み、 前記中間部分と前記少なくとも一つの加熱要素が、前記
第2の誘電層を通って延出し、かつ前記最終部分に接
し、前記第2の導体が前記第2の誘電層と前記少なくと
も一つの加熱要素との上に形成される、請求項19に記
載のインク・ジェット・プリントヘッド。 - 【請求項22】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、前記最終
部分が上に形成され、ならびに、前記少なくとも一つの
加熱要素が前記最終部分上に形成されている第1の誘電
層と;該第1の誘電層部分と前記最終部分と前記少なく
とも一つの加熱要素を覆って設けられた第2の誘電層
と;をさらに含み、 前記開始部分と中間部分とが前記第2の誘電層上に形成
され、前記中間部分が前記第2の誘電層中を通って延出
し、かつ前記最終部分に接し、前記第2の導体が前記第
2の誘電層上に形成され、かつ前記少なくとも一つの加
熱要素に接するように前記第2の誘電層中を通って延出
する、請求項19に記載のインク・ジェット・プリント
ヘッド。 - 【請求項23】 前記第1の導体の開始部分が上方区域
と下方区域とを含み、前記第2の導体が上方区域と下方
区域とを含む、請求項19に記載のインク・ジェット・
プリントヘッド。 - 【請求項24】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、ならび
に、前記開始部分の下方区域と前記第2の導体の下方区
域と前記最終部分が上に形成されている第1の誘電層
と;該第1の誘電層部分、前記最終部分、前記開始部分
の下方区域及び前記第2の導体を覆って設けられた第2
の誘電層と;をさらに含み、 前記最終部分、前記少なくとも一つの加熱要素、前記開
始部分の上方区域及び前記中間部分が前記第2の誘電層
上に形成され、前記少なくとも一つの加熱要素が前記第
2の誘電層を通って延出し、かつ、前記最終部分に接
し、前記開始部分の上方区域が前記第2の誘電層を通っ
て延出し、かつ、前記開始部分の下方区域に接し、前記
中間部分が前記誘電層を通って延出し、かつ、前記開始
部分の下方区域とと最終部分とに接し、前記第2の導体
の上方区域が前記第2の誘電層と前記少なくとも一つの
加熱要素との上に形成され、前記第2の導体の上方区域
が、前記第2の導体の下方区域に接するように前記誘電
層を通って延出する、請求項23に記載のインク・ジェ
ット・プリントヘッド。 - 【請求項25】 前記主本体部分が、 ベース部分と;該ベース部分を覆って位置し、ならび
に、前記開始部分の下方区域と前記第2の導体の下方区
域と前記最終部分が上に形成されている誘電層であっ
て、前記少なくとも一つの加熱要素が前記最終部分上に
形成されている第1の誘電層と;該第1の誘電層部分、
前記開始部分と第2の導体の下方区域、前記少なくとも
一つの加熱要素部分、及び最終部分を覆って設けられた
第2の誘電層と;をさらに含み、前記開始部分の上方区
域及び前記中間部分が前記第2の誘電層上に形成され、
前記開始部分の上方区域が前記第2の誘電層を通って延
出し、かつ、前記開始部分の下方区域に接し、前記中間
部分が前記誘電層を通って延出し、かつ、前記開始部分
の下方区域と前記最終部分とに接し、前記第2の導体の
上方区域が前記第2の誘電層上に形成され、かつ、前記
前記少なくとも一つの加熱要素と前記第2の導体の下方
区域に接するように前記第2の誘電層を通って延出す
る、請求項23に記載のインク・ジェット・プリントヘ
ッド。 - 【請求項26】 前記プリントヘッドがインク・ジェッ
ト・プリント・カートリッジ部分を形成する、請求項1
4に記載のインク・ジェット・プリントヘッド。 - 【請求項27】 前記プリント・カートリッジがインク
を充填した容器をさらに含む、請求項26に記載のイン
ク・ジェット・プリントヘッド。 - 【請求項28】 前記第1の導体が上方区域と下方区域
を含み、前記第2の導体が上方区域と下方区域を含む、
請求項14に記載のインク・ジェット・プリントヘッ
ド。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US88792197A | 1997-07-03 | 1997-07-03 | |
US08/887,921 | 1997-07-03 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11105286A true JPH11105286A (ja) | 1999-04-20 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22354598A Withdrawn JPH11105286A (ja) | 1997-07-03 | 1998-07-02 | 離間した別個の平面に位置する加熱要素導体を有するプリントヘッド |
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---|---|
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JP (1) | JPH11105286A (ja) |
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---|---|---|---|---|
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JPH05234706A (ja) * | 1992-02-25 | 1993-09-10 | Rohm Co Ltd | 面実装用サーミスタ |
US5317346A (en) * | 1992-03-04 | 1994-05-31 | Hewlett-Packard Company | Compound ink feed slot |
US5774148A (en) * | 1995-10-19 | 1998-06-30 | Lexmark International, Inc. | Printhead with field oxide as thermal barrier in chip |
US6758552B1 (en) * | 1995-12-06 | 2004-07-06 | Hewlett-Packard Development Company | Integrated thin-film drive head for thermal ink-jet printer |
-
1998
- 1998-07-02 JP JP22354598A patent/JPH11105286A/ja not_active Withdrawn
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- 1998-07-03 CN CN 98117803 patent/CN1212206A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1212206A (zh) | 1999-03-31 |
EP0888889A3 (en) | 1999-06-23 |
EP0888889A2 (en) | 1999-01-07 |
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