JPH11102077A - Method and device for carrying and positioning belt-like work - Google Patents

Method and device for carrying and positioning belt-like work

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JPH11102077A
JPH11102077A JP9263446A JP26344697A JPH11102077A JP H11102077 A JPH11102077 A JP H11102077A JP 9263446 A JP9263446 A JP 9263446A JP 26344697 A JP26344697 A JP 26344697A JP H11102077 A JPH11102077 A JP H11102077A
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mask
strip
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shaped
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Ushio Denki KK
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the positional deviation of belt-like work in a carrying direction and to accurately carry and position the belt-like work even though there are plural kinds of carrying pitches. SOLUTION: The belt-like work W is moved by a specified amount corresponding to the pitch PwW1 of a pattern area and stopped, a light irradiation part LH irradiates the alignment mark MAM of a mask M, and the positional deviation δ1 between a mask alignment mark image and a work alignment mark is stored. The work W is moved by the specified amount corresponding to the pitch PW2 and stopped, and the positional deviation δ2 is similarly stored. Next, when the belt-like work is moved by the specified amount corresponding to the pitch PW1, the specified amount is corrected by the positional deviation δ1 and the belt-like work is moved. Next, when the belt-like work is moved by the specified amount corresponding to the pitch PW2, the specified amount is corrected by the positional deviation δ2 and the belt-like work is moved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】帯状のワーク上に複数の各種
電子的素子等を形成するため、帯状ワークを所定のパタ
ーン領域(帯状ワーク上の各露光エリア)毎に搬送・停
止し、マスクと帯状ワークの各パターン領域との位置合
わせを行ったのちマスクパターンをワーク上に露光する
露光工程が行われる。本発明は、上記のような露光工程
等において、ワーク搬送を所定のパターン領域で停止さ
せるための帯状ワークの搬送・位置決め方法および装置
に関し、特に本発明は、帯状ワーク上にピッチが異なる
複数のパターン領域が配置されており、帯状ワークの搬
送量がパターン毎に異なる場合であっても、帯状ワーク
を正確に搬送・位置決めすることができる帯状ワークの
搬送・位置決め方法および装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION In order to form a plurality of various electronic elements on a strip-shaped workpiece, the strip-shaped workpiece is transported and stopped for each predetermined pattern area (each exposure area on the strip-shaped workpiece), and a mask and a strip-shaped workpiece are transferred. After performing alignment with each pattern area of the work, an exposure step of exposing the mask pattern onto the work is performed. The present invention relates to a method and an apparatus for transporting and positioning a strip-shaped workpiece for stopping the transport of the workpiece in a predetermined pattern area in the above-described exposure process and the like. The present invention relates to a method and an apparatus for transporting / positioning a strip-shaped workpiece, which can accurately transport and position the strip-shaped workpiece even when a pattern area is arranged and the transport amount of the strip-shaped workpiece differs for each pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】上記露光工程においては、薄い帯状ワー
ク(ロール状にまかれた厚さ20μm程度のステンレス
板等)をリールから引き出して、所定のパターン領域毎
に搬送・停止し、各パターン領域に露光行っている。使
用されるワークの長さは、およそ100m、パターン領
域は100〜200mm角、1工程で約1000回程度
の露光を行う。上記帯状ワークをリールから引出して所
定のパターン領域毎に搬送・停止する際、帯状ワークに
テンションをかけずに搬送・停止する必要がある。
2. Description of the Related Art In the above-mentioned exposure process, a thin strip-like work (a stainless steel sheet having a thickness of about 20 .mu.m spread in a roll shape) is pulled out from a reel, transported and stopped in predetermined pattern areas, and each pattern area is stopped. Exposure. The length of the work to be used is about 100 m, the pattern area is 100 to 200 mm square, and about 1000 exposures are performed in one process. When the belt-like work is pulled out from the reel and transported / stopped for each predetermined pattern area, it is necessary to transport / stop the belt-shaped workpiece without applying tension.

【0003】このため、通常、図4に示す搬送装置が使
用されている。図4において、WSはワークステージで
あり、ワークステージWSの表面には多数の吸着孔VC
Hが形成されており、同図矢印の方向に搬送されてきた
帯状ワークが所定の位置で停止すると、帯状ワークWを
吸着孔VCHにより吸着し、後述するようにマスクとワ
ークの位置合わせを行ったのち露光する。
[0005] For this reason, a transfer apparatus shown in FIG. 4 is usually used. In FIG. 4, WS is a work stage, and many suction holes VC are formed on the surface of the work stage WS.
H is formed, and when the strip-shaped work conveyed in the direction of the arrow in the figure stops at a predetermined position, the strip-shaped work W is sucked by the suction holes VCH, and the mask and the work are aligned as described later. After that, it is exposed.

【0004】ワークステージWSの下流側には、ドライ
ブローラDRが配置されており、帯状ワークWはドライ
ブローラDRにより同図矢印方向に駆動される。また、
ワークステージWSの上流側には、帯状ワークWにブレ
ーキをかけて波打ちを防止するブレーキローラBRが配
置されており、上記ドライブローラDRとブレーキロー
ラBRにより搬送装置を構成する。ドライブローラDR
はドライブローラ軸DRSの両端に取り付けられ、ドラ
イブローラ軸DRSにエンコーダEC1が接続されたモ
ータMが取り付けられ、エンコーダEC1によりドライ
ブローラDRの回転量を検出し、帯状ワークWの進行方
向の位置を制御する。
A drive roller DR is disposed downstream of the work stage WS, and the belt-shaped work W is driven by the drive roller DR in the direction of the arrow in FIG. Also,
On the upstream side of the work stage WS, a brake roller BR for applying a brake to the belt-shaped work W to prevent waving is arranged, and the drive roller DR and the brake roller BR constitute a transfer device. Drive roller DR
Are mounted at both ends of the drive roller shaft DRS, a motor M having an encoder EC1 connected to the drive roller shaft DRS is mounted, the rotation amount of the drive roller DR is detected by the encoder EC1, and the position of the strip-shaped workpiece W in the traveling direction is determined. Control.

【0005】また、ドライブローラDR上には押さえロ
ーラDR’,DR’が上下動可能に配置されており、押
さえローラDR’,DR’が下降し、回転するドライブ
ローラDRに帯状ワークWの両端の非露光部分を押し付
けて駆動する。ブレーキローラBRはブレーキローラ軸
BRSの両端に取り付けられ、ブレーキ軸BRSはベア
リングの回転を抑制するによってブレーキ効果をもたせ
た回転制御機BCに接続されている。そして、ブレーキ
ローラBR上には押さえローラBR’,BR’が上下動
可能に配置されており、押さえローラBR’,BR’が
下降してブレーキローラBRに帯状ワークWの両端の非
露光部分を押し付けて帯状ワークWにブレーキをかけ、
帯状ワークWの波打ちを防止する。
[0005] Press rollers DR ', DR' are arranged on the drive roller DR so as to be able to move up and down. The press rollers DR ', DR' are lowered, and both ends of the strip-shaped work W are attached to the rotating drive roller DR. Is driven by pressing a non-exposed portion of the substrate. The brake rollers BR are attached to both ends of the brake roller shaft BRS, and the brake shaft BRS is connected to a rotation controller BC which exerts a braking effect by suppressing the rotation of a bearing. Pressing rollers BR ', BR' are arranged on the brake roller BR so as to be movable up and down, and the pressing rollers BR ', BR' are lowered so that the non-exposed portions at both ends of the band-shaped work W are applied to the brake roller BR. Press to apply a brake on the strip-shaped workpiece W,
The wavy work W is prevented.

【0006】帯状ワークWを搬送する際は、ワークステ
ージWSに設けられた吸着孔VCHからエアーを吹き出
しながら、モータMTによりドライブローラDRを駆動
して、帯状ワークWを搬送し、帯状ワークWの所定のパ
ターン領域がワークステージWS上にくると上記モータ
MTの駆動を停止して、吸着孔VCHを負圧にし帯状ワ
ークWを吸着する。上記のように、搬送中、吸着孔VC
Hからエアーを供給することにより、帯状ワークWの裏
面がワークステージWSと擦れて傷がつくことを防止す
ることができる。以上のように、ブレーキローラBRに
よりブレーキを掛けながら、ドライブローラDRの駆動
力によって帯状ワークWを搬送することにより、帯状ワ
ークWの波打ちを防止して、帯状ワークWに大きなテン
ションをかけることなく搬送することができる。
When the belt-shaped work W is transported, the drive roller DR is driven by the motor MT while blowing air from the suction holes VCH provided in the work stage WS, and the belt-shaped workpiece W is transported. When a predetermined pattern area comes on the work stage WS, the drive of the motor MT is stopped, and the suction hole VCH is set to a negative pressure to suck the band-shaped work W. As described above, during conveyance, the suction holes VC
By supplying air from H, it is possible to prevent the back surface of the band-shaped work W from being rubbed against the work stage WS and being damaged. As described above, the belt-shaped work W is conveyed by the driving force of the drive roller DR while the brake is applied by the brake roller BR, thereby preventing waving of the band-shaped work W and applying no great tension to the band-shaped work W. Can be transported.

【0007】ところが、上記した搬送方法では、モータ
MTとして駆動パルスに対応した量だけ回転するパルス
モータを用い、またエンコーダEC1によりその回転量
を検出しても、ローラの加工精度により次のパターン領
域に移動するための指定された一回の送り量(通常10
0mm〜200mm)に対して、±0.1〜0.2mm
程度の帯状ワーク進行方向のズレが避けられない。一回
の送りで0.1mmのズレでも1000回の送りを繰り
返すと、そのズレは一回毎に累積され、帯状ワークWの
終点付近で100mmのズレとなる。これらのズレが累
積されると、後述するマスクMと帯状ワークWのアライ
メント時に、アライメントユニットの視野からワークア
ライメント・マークが外れてしまい、アライメントが出
来なくなる。
However, in the above-described conveying method, a pulse motor that rotates by an amount corresponding to the drive pulse is used as the motor MT, and even if the rotation amount is detected by the encoder EC1, the next pattern area is determined due to the processing accuracy of the roller. Specified single feed amount to move to
0 to 200 mm), ± 0.1 to 0.2 mm
A slight shift in the traveling direction of the belt-like work is inevitable. If the feed is repeated 1000 times even with a shift of 0.1 mm in one feed, the shift is accumulated every time, and the shift becomes 100 mm near the end point of the strip-shaped workpiece W. If these deviations accumulate, the workpiece alignment mark deviates from the field of view of the alignment unit during alignment of the mask M and the strip-shaped workpiece W, which will be described later, and alignment cannot be performed.

【0008】なお、マスクMと帯状ワークWのアライメ
ント時、後述するようにマスクMを移動させるのではな
く、ワークステージWSを移動させて帯状ワークWを動
かせば、上記ズレの累積は抑制される。しかしながら、
ワークステージWSをある程度移動させると、帯状ワー
クWにしわが発生したり、傷がついたりするので、ワー
クステージWSの移動可能範囲は限定される。したがっ
て、ズレ量がこのワークステージWSの移動可能範囲よ
り大きいと、上記アライメントをワークステージWSの
移動だけでは実現できず、マスクMをも移動させる必要
が生じてくる。結局、累積ズレ量の吸収が困難になり、
やがては、先に述べたように、アライメントができなく
なる。そこで、上記ズレの発生を防止し、指定されたパ
ターン領域で帯状ワークWを精度よく停止させるため、
従来、次の方法により搬送・位置決めを行い、露光を行
っていた。
When the mask M and the band-shaped work W are aligned, if the mask M is not moved as described later, but the work stage WS is moved to move the band-shaped work W, the accumulation of the deviation is suppressed. . However,
When the work stage WS is moved to some extent, the band-shaped work W is wrinkled or damaged, so that the movable range of the work stage WS is limited. Therefore, if the shift amount is larger than the movable range of the work stage WS, the above alignment cannot be realized only by moving the work stage WS, and the mask M also needs to be moved. Eventually, it becomes difficult to absorb the accumulated displacement,
Eventually, as described above, the alignment becomes impossible. Therefore, in order to prevent the occurrence of the above-described deviation and accurately stop the band-shaped work W in the designated pattern area,
Conventionally, exposure has been performed by carrying and positioning by the following method.

【0009】以下、帯状ワークWにマスクパターンを投
影露光する投影露光装置を一例として、従来の帯状ワー
クWの搬送・位置決め及び露光について説明する。 A.スプロケットを利用する方法 図5(a)はスプロケットを用いた従来の帯状ワークW
の投影露光装置の構成を示す図、(b)は帯状ワークW
を示す図であり、帯状ワークWの非露光面には、同図に
示すようにブレーキローラ、ドライブローラのスプロケ
ットと係合するパーフォレーションホールPHが形成さ
れており、また、露光面(パターン領域)には後述する
ようにマスクMと帯状ワークWの位置合わせをするため
のワークアライメント・マークWAMが記されている。
[0009] Hereinafter, the transfer, positioning, and exposure of a conventional strip-shaped work W will be described using a projection exposure apparatus that projects and exposes a mask pattern on the strip-shaped work W as an example. A. Method using sprocket FIG. 5A shows a conventional strip-shaped workpiece W using a sprocket.
FIG. 1B shows a configuration of a projection exposure apparatus of FIG.
The perforation hole PH which engages with a sprocket of a brake roller and a drive roller is formed on the non-exposed surface of the strip-shaped workpiece W as shown in FIG. , A work alignment mark WAM for aligning the mask M and the band-shaped work W is described later.

【0010】同図(a)において、R1は未露光の帯状
ワークWが巻かれた巻き出しリール、BR1はスプロケ
ット付きブレーキローラ、WSはワークステージ、DR
1はスプロケット付きドライブローラ、R2は巻き取り
リールである。スプロケット付きブレーキローラBR
1、スプロケット付きドライブローラDR1、ワークス
テージWSにより搬送装置を構成しており、ドライブロ
ーラDR1、ブレーキローラBR1にスプロケットが設
けられている点を除き基本的に前記図4に示したものと
同様の構成である。
In FIG. 1A, R1 is an unwinding reel on which an unexposed strip-shaped work W is wound, BR1 is a brake roller with a sprocket, WS is a work stage, DR
1 is a drive roller with a sprocket, and R2 is a take-up reel. Brake roller BR with sprocket
1. A transport device is constituted by a drive roller DR1 with a sprocket and a work stage WS, and is basically the same as that shown in FIG. 4 except that a sprocket is provided on the drive roller DR1 and the brake roller BR1. Configuration.

【0011】AUはアライメントユニットであり、アラ
イメントユニットAUにより、帯状ワークW上に結像し
たマスクアライメント・マークMAM(以下マスクマー
クMAMという)と帯状ワークW上に記されたワークア
ライメント・マークWAM(以下ワークマークWAMと
いう)を検出し、マスクマークMAMとワークマークW
AMが重なるようにマスクステージMSを移動させてマ
スクMと帯状ワークWの位置合わせを行う。
Reference numeral AU denotes an alignment unit. The alignment unit AU forms a mask alignment mark MAM (hereinafter referred to as a mask mark MAM) formed on the strip-shaped work W and a work alignment mark WAM (marked on the strip-shaped work W). (Hereinafter referred to as a work mark WAM), and the mask mark MAM and the work mark W are detected.
The mask stage MS is moved so that the AM overlaps, and the mask M and the strip-shaped workpiece W are aligned.

【0012】次に図4を参照しながら図5により、帯状
ワークWの露光工程について説明する。 (1)吸着孔VCHからエアーを放出し、スプロケット
付きドライブローラDR1をモータMTにより所定数回
転させ帯状ワークWを所定量だけ移動する。上記のよう
にスプロケット付きドライブローラDR1を用いている
ので、帯状ワークWはモータMTの回転に対応した量だ
け正確に移動し、モータMTの回転量を制御することに
より、帯状ワークWを正確に位置決めすることができ
る。 (2)アライメント時にワークマークWAMがアライメ
ントユニットAUの視野に入るように、帯状ワークWに
形成されたパーフォレーションホールPHに図示しない
位置決めピン等を挿入し、帯状ワークWの粗アライメン
トを行い、モータMTの回転を停止する。
Next, the exposure process of the strip-shaped work W will be described with reference to FIG. (1) Air is released from the suction hole VCH, and the drive roller DR1 with sprocket is rotated a predetermined number by the motor MT to move the strip-shaped work W by a predetermined amount. Since the drive roller DR1 with a sprocket is used as described above, the strip-shaped work W is accurately moved by an amount corresponding to the rotation of the motor MT, and by controlling the rotation amount of the motor MT, the strip-shaped work W can be accurately adjusted. Can be positioned. (2) Insert a positioning pin or the like (not shown) into a perforation hole PH formed in the strip-shaped work W so that the work mark WAM is in the field of view of the alignment unit AU during alignment, perform rough alignment of the strip-shaped work W, and Stop the rotation of.

【0013】(3)吸着孔VCHからのエアーの放出を
停止し、吸着孔VCHにより帯状ワークWを真空吸着し
て固定する。ついで、アライメントユニットAUをワー
クマークWAMを観察できる所定位置に挿入する。 (4)ワークステージWSをZ軸(ワークステージWS
の面に垂直な面上の軸)方向に移動させ(もしくはマス
クMと投影レンズLをZ軸方向に移動させ)非露光によ
る収差を補正した後、光照射部LHから非露光光を放射
してマスクマークMAMを帯状ワークW上に結像させ
る。
(3) The release of air from the suction holes VCH is stopped, and the strip-shaped work W is vacuum-adsorbed and fixed by the suction holes VCH. Next, the alignment unit AU is inserted into a predetermined position where the work mark WAM can be observed. (4) Move the work stage WS to the Z axis (work stage WS
After correcting the aberration due to non-exposure by moving the mask M and the projection lens L in the Z-axis direction), the non-exposure light is emitted from the light irradiation unit LH. To form an image of the mask mark MAM on the strip-shaped work W.

【0014】(5)アライメントユニットAUによりマ
スクマークMAMとワークマークWAMを検出し、両マ
ークが重なるように、マスクMを移動させて精アライメ
ントを行う。 (6)光照射部LHから非露光光の放射を停止して、ア
ライメントユニットAUを退避させる。ついで、光照射
部LHから露光光を放射し、マスクM上に記されたマス
クパターンを帯状ワークW上に結像させて露光を行い、
光照射部LHからの露光光の放射を停止する。 (7)次のパターン領域がワークステージWS上にくる
ように、モータMTによりドライブローラDRを所定量
回転させて帯状ワークWを所定量移動させる。上記
(2)〜(7)の工程を繰り返す。
(5) The mask mark MAM and the work mark WAM are detected by the alignment unit AU, and the mask M is moved so that the two marks overlap each other to perform precise alignment. (6) Stop emitting non-exposure light from the light irradiation unit LH, and retract the alignment unit AU. Next, exposure light is emitted from the light irradiation unit LH, and exposure is performed by forming an image of the mask pattern written on the mask M on the strip-shaped workpiece W.
The emission of the exposure light from the light irradiation unit LH is stopped. (7) The motor MT rotates the drive roller DR by a predetermined amount so as to move the band-shaped work W by a predetermined amount so that the next pattern area is on the work stage WS. Steps (2) to (7) are repeated.

【0015】B.パーフォレーションホールPHに代え
てワーク停止マークを用いる方法。 図6(a)はワーク停止マークを用いた従来の帯状ワー
クWの投影露光装置の構成を示す図、(b)は帯状ワー
クWを示す図であり、帯状ワークWの非露光面には、同
図に示すようにワーク停止マークWSMが形成されてお
り、また、露光面(パターン領域)には後述するように
マスクMと帯状ワークWの位置合わせをするためのワー
クマークWAMが記されている。同図(a)において、
図5に示したものと同一のものには同一の符号が付され
ており、図6の場合には、マスクMに帯状ワークWの停
止位置を定めるためのマスク停止マークMSMが記され
ており、停止マーク検出用アライメントユニット(図示
せず:前記アライメントユニットより視野が大きい)で
上記マスク停止マークMSMとワーク停止マークWSM
を検出して粗アライメントを行う。
B. A method using a work stop mark instead of the perforation hole PH. FIG. 6A is a diagram illustrating a configuration of a conventional belt-shaped workpiece W projection exposure apparatus using a workpiece stop mark, and FIG. 6B is a diagram illustrating the belt-shaped workpiece W. As shown in the figure, a work stop mark WSM is formed, and a work mark WAM for aligning the mask M and the band-shaped work W is written on the exposure surface (pattern area) as described later. I have. In FIG.
The same components as those shown in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and in FIG. 6, a mask stop mark MSM for determining the stop position of the strip-shaped work W is written on the mask M. A stop mark detection alignment unit (not shown: a field of view larger than the alignment unit), the mask stop mark MSM and the work stop mark WSM.
And coarse alignment is performed.

【0016】次に図4を参照しながら図6により、帯状
ワークの露光工程について説明する。 (1)ドライブローラDRをモータMT(例えばパルス
モータ)により一定速度で回転させ、帯状ワークWを搬
送する。また、光照射装置LHから非露光光を照射し、
マスクM上のマスク停止マークMSAを帯状ワークW上
に結像させる。 (2)予めワーク停止マークWSAのマークピッチが分
かっているので、所定量だけ高速で搬送したのち、帯状
ワークWの停止位置に近づいたらモータMTの回転速度
を低下させる。ついで、前記した不図示の停止マーク検
出用アライメントユニットによりワーク停止マークWS
Mと帯状ワークW上に結像した停止マークMSAを検出
し、両者が一致したとき、モータMTを停止させる(粗
アライメント)。なお、前記したように受像素子CCD
により両マークの位置の一致を検出してもよい。 (3)前記した「A.スプロケットを利用する方法」に
おける(3)〜(7)の工程を行い、上記(1)〜
(3)の工程を繰り返す。
Next, the exposure process of the strip-shaped work will be described with reference to FIGS. (1) The drive roller DR is rotated at a constant speed by a motor MT (for example, a pulse motor) to convey the strip-shaped work W. Further, non-exposure light is irradiated from the light irradiation device LH,
An image of the mask stop mark MSA on the mask M is formed on the strip-shaped workpiece W. (2) Since the mark pitch of the work stop mark WSA is known in advance, the conveyance speed is conveyed by a predetermined amount at a high speed, and when the stop position of the strip-shaped work W is approached, the rotation speed of the motor MT is reduced. Next, the work stop mark WS is set by the stop mark detection alignment unit (not shown).
M and a stop mark MSA imaged on the strip-shaped workpiece W are detected, and when they match, the motor MT is stopped (coarse alignment). Note that, as described above, the image receiving element CCD
, The coincidence of the positions of both marks may be detected. (3) Perform steps (3) to (7) in the above-mentioned “A.
Step (3) is repeated.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来方法は次
のような問題点を持っている。 (1)前記Aに記した「スプロケットを利用する方法」
の場合は、帯状ワークにパーフォレーションホールを形
成するための装置が別途必要となり、また、パーフォレ
ーションホールを形成する工程を必要とする。また、上
記装置は帯状ワークの材質や幅に応じてそれぞれ用意す
る必要があり、上記装置により、使用する帯状ワークの
材質や幅が制限されることがある。また、パーフォレー
ションホールのバリ等のゴミが発生する可能性があり、
これが歩留りを低下させることがある。
The above-mentioned conventional method has the following problems. (1) "Method using sprocket" described in A above
In the case of (1), an apparatus for forming perforation holes in the strip-shaped work is separately required, and a step of forming perforation holes is required. Further, it is necessary to prepare the above-mentioned devices according to the material and width of the strip-shaped work, and the material and width of the strip-shaped work to be used may be limited by the above-mentioned device. In addition, dust such as burrs in the perforation hole may be generated,
This may reduce the yield.

【0018】(2)前記Bに記した「ワーク停止マーク
を用いる方法」の場合は、帯状ワークにワーク停止マー
クを形成する装置が別途必要となり、また、ワーク停止
マークを形成する工程を必要とする。また、上記(1)
と同様、上記装置は帯状ワークの材質や幅に応じてそれ
ぞれ用意する必要があり、上記装置により、使用する帯
状ワークの材質や幅が制限されることがある。また、停
止マーク用のアライメントユニット、あるいは、ワーク
ステージに停止マークを観察するための受像素子等の観
察系を設けなければならず、装置の構成が複雑となる。
(2) In the case of the “method using a work stop mark” described in B, an apparatus for forming a work stop mark on a strip-shaped work is separately required, and a step of forming a work stop mark is required. I do. In addition, the above (1)
Similarly to the above, the above devices need to be prepared according to the material and width of the strip-shaped work, and the material and width of the strip-shaped work to be used may be limited by the above-mentioned device. Further, it is necessary to provide an alignment unit for the stop mark or an observation system such as an image receiving element for observing the stop mark on the work stage, which complicates the configuration of the apparatus.

【0019】上記した従来技術の問題点を解決するた
め、本発明者らは先に、帯状ワークWを移動させたとき
のマスクアライメント・マークMAM像とワークアライ
メント・マークWAMの位置ズレ量を求め、帯状ワーク
Wを次のパターン領域まで移動させる際、上記帯状ワー
クWのパターン領域のピッチに対応した所定量に上記位
置ズレ量δを加味した量だけ帯状ワークWを移動させ、
帯状ワークWの進行方向のズレを露光する毎に補正する
帯状ワークの搬送・位置決め方法および装置を提案した
(特願平8−82455号)。
In order to solve the above-mentioned problems of the prior art, the present inventors first obtained the positional deviation amount between the mask alignment mark MAM image and the work alignment mark WAM when the strip-shaped workpiece W was moved. When the band-shaped work W is moved to the next pattern area, the band-shaped work W is moved by an amount in which the positional shift amount δ is added to a predetermined amount corresponding to the pitch of the pattern area of the band-shaped work W,
A method and an apparatus for transporting and positioning a strip-shaped work which corrects each time a shift in the traveling direction of the strip-shaped work W is exposed have been proposed (Japanese Patent Application No. 8-82455).

【0020】図7は上記した帯状ワークの搬送・位置決
め方法を説明する図である。同図(a)に示すように、
帯状ワークWを移動させてパターン領域1を露光領域に
移動させたとき、マスクマークMAMとワークマークW
AMに位置ズレδが生じたら、その位置ズレ量δを記憶
する。ついで、ワークマークWAMとマスクマークMA
Mが重なるように、マスクMを移動させて精アライメン
トを行い、マスク上に記されたマスクパターンを帯状ワ
ークW上に結像させて露光を行う。次に、帯状ワークを
次のパターン領域まで移動させ帯状ワークWを停止させ
る。このときの帯状ワークWの移動量は、上記ズレ量δ
を加味し〔ピッチPw +ズレ量δ〕とする。この場合、
ズレ量δの値はマイナスとなっているので、移動量はP
W −δとなる。
FIG. 7 is a view for explaining a method of transporting and positioning the above-mentioned strip-shaped work. As shown in FIG.
When the belt-shaped workpiece W is moved to move the pattern area 1 to the exposure area, the mask mark MAM and the workpiece mark W are moved.
When the position shift δ occurs in the AM, the position shift amount δ is stored. Then, work mark WAM and mask mark MA
The mask M is moved so that M overlaps, fine alignment is performed, and a mask pattern written on the mask is imaged on the strip-shaped work W to perform exposure. Next, the belt-shaped work is moved to the next pattern area, and the belt-shaped work W is stopped. At this time, the moving amount of the band-shaped work W is equal to the displacement amount δ.
[Pitch Pw + shift amount δ]. in this case,
Since the value of the shift amount δ is negative, the movement amount is P
W−δ.

【0021】上記のように、帯状ワークWの移動量をP
w +δとすることにより、次のパターン領域2を露光領
域(露光光が照射される領域)に移動させるとき、図7
(b)に示すように帯状ワークWを正確に位置決めする
ことができる。すなわち、帯状ワークWがパターン領域
のピッチPw に相当した量だけ移動した場合、上記ズレ
量δは補正され帯状ワークWのパターン領域2のワーク
マークWAMはマスクマークMAMは略一致する。ま
た、仮に、このときの帯状ワークWの移動量が停止誤差
により再度ズレても、前回の位置ズレ量δは補正されて
いるので、位置ズレ量δが累積することはない。
As described above, the moving amount of the band-shaped work W is
By setting w + δ, when the next pattern area 2 is moved to the exposure area (area to which the exposure light is irradiated), FIG.
As shown in (b), the strip-shaped work W can be accurately positioned. That is, when the strip-shaped work W moves by an amount corresponding to the pitch Pw of the pattern area, the shift amount δ is corrected, and the work mark WAM in the pattern area 2 of the strip-shaped work W substantially matches the mask mark MAM. Further, even if the moving amount of the strip-shaped work W at this time shifts again due to the stop error, the previous position shift amount δ is corrected, and therefore the position shift amount δ does not accumulate.

【0022】上記した方法によれば、帯状ワークW上の
パターン領域のピッチPw が等しい場合には、帯状ワー
クWを正確に位置決めすることができるが、帯状ワーク
W上に施される回路パターンは1種類の回路パターンが
繰り返される場合のほか、複数種の回路パターンを一組
とした集合パターンが繰り返される場合がある。上記の
ような露光を行う場合、パターン領域のピッチPw が異
なり、帯状ワークWの移動量も露光毎に異なる。
According to the above-described method, when the pitch Pw of the pattern area on the strip-shaped work W is equal, the strip-shaped work W can be accurately positioned. In addition to a case where one type of circuit pattern is repeated, a set pattern including a plurality of types of circuit patterns as a set may be repeated. When the above exposure is performed, the pitch Pw of the pattern area is different, and the moving amount of the strip-shaped work W is also different for each exposure.

【0023】例えば、図8に示すように、第1回目の露
光で比較的粗い大きなパターンP1を帯状ワークWに露
光したのち、第2回目の露光で比較的細かい繰り返しパ
ターンP2を上記パターンP1に重ねて露光する場合が
ある。この場合、同図に示すように領域P01にパターン
を露光したのち領域P02を露光するために帯状ワークを
移動させるときの移動量はPw1であるが、次の領域P03
を露光するときの移動量はPw2となる。上記のように帯
状ワークW上のパターン領域のピッチが異なる場合、前
記特願平8−82455号に開示した方法では、帯状ワ
ークを正確に位置決めすることができず、場合によって
は、位置合わせのための顕微鏡の視野内にワークのアラ
イメントマークが捕らえられない場合が生ずる。
For example, as shown in FIG. 8, a relatively coarse large pattern P1 is exposed on a strip-shaped work W in a first exposure, and a relatively fine repetitive pattern P2 is converted into the pattern P1 in a second exposure. Exposure may be repeated. In this case, as shown in the drawing, the amount of movement when the belt-shaped workpiece is moved to expose the area P02 after exposing the pattern to the area P01 is Pw1, but the movement amount is Pw1.
Is Pw2 when exposing is performed. When the pitch of the pattern area on the strip-shaped workpiece W is different as described above, the strip-shaped workpiece cannot be accurately positioned by the method disclosed in Japanese Patent Application No. 8-82455. The alignment mark of the workpiece is not captured in the field of view of the microscope due to the problem.

【0024】例えば、図9に示すようにピッチPw1、P
w2でパターン領域01〜21、02〜22を露光する場
合、前記した方法で露光すると、位置ズレ量は次のよう
になる。 (1)領域01から領域02(ピッチPw1) に帯状ワー
クWを搬送する。その時のズレ量をPw1+δ1とする。
マスクを動かしてアライメントし、ズレ量+δ1を記憶
する。このときの、設定移動量、実移動量、ズレは図1
0に示すようになる。 (2)領域02を露光後、領域02から領域11(ピッ
チPw2)へ搬送する。従来の方法では、前回移動したと
きのズレ量を加味するから、設定移動量Pw2をPw2−δ
1と再設定し搬送する。搬送後のズレ量を+δ2とする
と、アライメント後に記憶されるズレ量は+δ2とな
り、設定移動量、移動量、ズレ量は図10に示すよう
になる。
For example, as shown in FIG.
In the case of exposing the pattern areas 01 to 21 and 02 to 22 in w2, when the exposure is performed by the above-described method, the positional deviation amount is as follows. (1) The belt-shaped work W is transported from the area 01 to the area 02 (pitch Pw1). The shift amount at that time is defined as Pw1 + δ1.
The alignment is performed by moving the mask, and the deviation amount + δ1 is stored. At this time, the set movement amount, the actual movement amount, and the deviation are shown in FIG.
0. (2) After exposing the area 02, it is transported from the area 02 to the area 11 (pitch Pw2). In the conventional method, since the displacement amount at the time of the previous movement is taken into account, the set movement amount Pw2 is calculated as Pw2−δ.
It is reset to 1 and transported. Assuming that the shift amount after the conveyance is + δ2, the shift amount stored after the alignment is + δ2, and the set movement amount, the movement amount, and the shift amount are as shown in FIG.

【0025】(3)領域11を露光後、領域11から領
域12(ピッチPw1) へ搬送する。前回のズレ量を加味
し、設定移動量をPw1をPw1−δ2に再設定し搬送す
る。その時のズレ量をδ3とすると、アライメント後に
記憶されるズレ量は+δ3となり、設定移動量、移動
量、ズレ量は図10に示すようになる。 (4)領域12を露光後、領域12から領域21へ搬送
する(ピッチPw2) 。上記(2)における設定移動量は
Pw2−δ1であったので、前回のズレ量を加味すると、
このときの設定移動量はPw2−δ1−δ3となる。搬送
後のずれ量を+δ4とすると、アライメント後に記憶さ
れるズレ量は+δ4となり、設定移動量、移動量、ズレ
量は図10に示すようになる。
(3) After the area 11 is exposed, it is transported from the area 11 to the area 12 (pitch Pw1). In consideration of the previous shift amount, the set movement amount is reset from Pw1 to Pw1−δ2, and the sheet is conveyed. Assuming that the deviation amount at that time is δ3, the deviation amount stored after the alignment is + δ3, and the set movement amount, the movement amount, and the deviation amount are as shown in FIG. (4) After the area 12 is exposed, the area 12 is conveyed from the area 12 to the area 21 (pitch Pw2). Since the set movement amount in the above (2) was Pw2−δ1, considering the previous deviation amount,
The set movement amount at this time is Pw2-δ1-δ3. Assuming that the shift amount after the conveyance is + δ4, the shift amount stored after the alignment is + δ4, and the set movement amount, the movement amount, and the shift amount are as shown in FIG.

【0026】以上の手順を繰り返して搬送が行われる
が、ここで、上記(2)以降のズレ量+δ2,+δ3,
+δ4,…はピッチPw1とPw2の両方に関連するズレ量
となり、ずれ量が大きくなったり、小さくなったりして
安定しない。このため、アライメントユニットの視野内
のワークマークWAMの位置はピッチPw1,Pw2に応じ
て変動し、場合によってはアライメントユニットの視野
内に入らない場合が生じた。本発明は上記した事情に鑑
みなされたものであって、例えば複数種類の回路パター
ンを一組とした集合パターンを繰り返し露光する場合の
ように、搬送ピッチが複数種類ある場合であっても、帯
状ワークを正確に搬送・位置決めすることができる帯状
ワークの搬送・位置決め方法および装置を提供すること
である。
The above-described procedure is repeated to carry out the transfer. Here, the shift amount + δ2, + δ3,
+ Δ4,... Are shift amounts related to both the pitches Pw1 and Pw2, and are not stable because the shift amounts are increased or decreased. For this reason, the position of the work mark WAM within the field of view of the alignment unit fluctuates according to the pitches Pw1 and Pw2, and in some cases, does not fall within the field of view of the alignment unit. The present invention has been made in view of the above-described circumstances.For example, when a plurality of types of circuit patterns are repeatedly exposed, such as in a case where a set pattern including a plurality of types of circuit patterns is repeatedly exposed, even when there are a plurality of types of transport pitches, An object of the present invention is to provide a method and an apparatus for transporting and positioning a strip-shaped workpiece, which can transport and position the workpiece accurately.

【0027】[0027]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の請求項1,2の発明においては、帯状ワー
クをパターン領域のピッチに対応した所定量だけ移動し
停止させた後、光照射部より露光光もしくは非露光光
を、マスクパターンとマスクアライメント・マークを有
するマスクのマスクアライメント・マークに照射し、マ
スクアライメント・マーク像と帯状ワークに設けられた
ワークアライメント・マークを検出し、上記複数のピッ
チに対応した帯状ワークの進行方向における上記マスク
アライメント・マーク像とワークアライメント・マーク
の位置ズレ量をそれぞれ求める。そして、帯状ワーク
を、上記複数のピッチに対応した所定量移動させて次の
パターン領域まで移動させる際、上記所定量に、そのピ
ッチと同じピッチに対応する所定量で移動した際に得ら
れる上記位置ズレ量を加味した量だけ帯状ワークを移動
し停止させる。
In order to solve the above-mentioned problems, according to the first and second aspects of the present invention, after the belt-shaped work is moved and stopped by a predetermined amount corresponding to the pitch of the pattern area, the light is turned off. Irradiating exposure light or non-exposure light from the irradiation unit to a mask alignment mark of a mask having a mask pattern and a mask alignment mark, and detecting a mask alignment mark image and a work alignment mark provided on the strip-shaped work; The amount of positional deviation between the mask alignment mark image and the work alignment mark in the traveling direction of the strip-shaped work corresponding to the plurality of pitches is obtained. Then, when the band-shaped workpiece is moved by a predetermined amount corresponding to the plurality of pitches and then moved to the next pattern area, the above-described obtained when the band-shaped work is moved by the predetermined amount corresponding to the same pitch as that pitch is obtained. The belt-like work is moved and stopped by an amount that takes into account the amount of displacement.

【0028】本発明の請求項1,2の発明においては、
上記のように複数のピッチに対応した帯状ワークの進行
方向における上記マスクアライメント・マーク像とワー
クアライメント・マークの位置ズレ量をそれぞれ求め、
帯状ワークを、上記複数のピッチに対応した所定量移動
させて次のパターン領域まで移動させる際、上記所定量
に、そのピッチと同じピッチに対応する所定量で移動し
た際に得られる上記位置ズレ量を加味した量だけ帯状ワ
ークを移動し停止させるようにしたので、搬送ピッチが
複数種類ある場合であっても、帯状ワークを正確に搬送
・位置決めすることができる。
In the first and second aspects of the present invention,
As described above, the amount of positional deviation between the mask alignment mark image and the work alignment mark in the traveling direction of the band-shaped work corresponding to a plurality of pitches is determined,
When the belt-shaped workpiece is moved by a predetermined amount corresponding to the plurality of pitches and is moved to the next pattern area, the position shift obtained when the band-shaped work is moved by the predetermined amount corresponding to the same pitch as the pitch is obtained. Since the band-shaped work is moved and stopped by an amount in consideration of the amount, the band-shaped work can be accurately conveyed and positioned even when there are a plurality of types of conveyance pitches.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】帯状ワークWにマスクパターンを
投影露光する投影露光装置を一例として、本発明の実施
例について説明する。なお、本発明は下記実施例に示す
投影露光装置だけでなく、マスクとワークを接触させ露
光するコンタクト露光装置、マスクとワークを近接させ
て露光するプロキシミティ露光装置にも適用することが
できる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described by taking a projection exposure apparatus for projecting and exposing a mask pattern on a strip-shaped workpiece W as an example. The present invention can be applied not only to the projection exposure apparatus shown in the following embodiments, but also to a contact exposure apparatus for bringing a mask and a work into contact for exposure, and a proximity exposure apparatus for bringing a mask and a work close to each other for exposure.

【0030】図1は本発明の実施例を示す図であり、同
図(a)は本実施例の投影露光装置の構成を示し、
(b)は本実施例の帯状ワークWを示しており、本実施
例における帯状ワークWは、前記図9に示したようにピ
ッチPw1、Pw2で搬送され、各パターン領域にマスクパ
ターンが露光される。そして、各パターン領域にはワー
クアライメント・マークWAMが記されている。同図
(a)において、前記した図5に示したものと同一のも
のには同一の符号が付されており、図5と同様な構成を
備えている。
FIG. 1 is a view showing an embodiment of the present invention. FIG. 1A shows the configuration of a projection exposure apparatus of the present embodiment.
(B) shows the strip-shaped work W of the present embodiment. The strip-shaped work W of the present embodiment is conveyed at the pitches Pw1 and Pw2 as shown in FIG. 9 and a mask pattern is exposed on each pattern area. You. A work alignment mark WAM is written in each pattern area. 5A, the same components as those shown in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and have the same configuration as FIG.

【0031】同図(a)において、R1は未露光の帯状
ワークWが巻かれた巻き出しリール、BRはブレーキロ
ーラであり、ブレーキローラBRの軸には第2のエンコ
ーダEC2が取り付けられている。WSはワークステー
ジ、DRはドライブローラであり、ドライブローラDR
には前記図4に示したように第1のエンコーダEC1と
モータMT(例えばパルスモータ)が取り付けられてい
る。また、R2は巻き取りリールである。ブレーキロー
ラBR、ドライブローラDR、ワークステージWSによ
り前記図4に示した搬送装置を構成し、ブレーキローラ
BRに第2のエンコーダが設けられている点を除き、前
記図4に示したものと同様の構成である。
In FIG. 3A, R1 is an unwinding reel on which an unexposed strip-shaped work W is wound, BR is a brake roller, and a second encoder EC2 is mounted on the shaft of the brake roller BR. . WS is a work stage, DR is a drive roller, and a drive roller DR
As shown in FIG. 4, the first encoder EC1 and the motor MT (for example, a pulse motor) are attached to the. R2 is a take-up reel. The transport device shown in FIG. 4 is constituted by the brake roller BR, the drive roller DR, and the work stage WS, and is the same as that shown in FIG. 4 except that a second encoder is provided on the brake roller BR. It is a structure of.

【0032】LHは露光光/非露光光を照射する光照射
部、Mはマスクパターンとマスクアライメント・マーク
MAM(以下マスクマークMAMという)が記されたマ
スク、MSはマスクMを載置するマスクステージ、Lは
投影レンズであり、光照射部LHが放射する露光光/非
露光光はマスクM上に照射され、前記したように、マス
クM上に設けられたマスクパターン、マスクマークMA
Mは、投影レンズLを介してワークステージWS上の帯
状ワークWに投影される。AUはアライメントユニット
であり、アライメントユニットAUにより、ワークW上
に結像したマスクマークMAMとワークW上に記された
ワークマークWAMを検出し、マスクマークMAMとワ
ークマークWAMが一致するようにマスクステージMS
を移動させてマスクMと帯状ワークWの位置合わせを行
う。
LH is a light irradiation section for irradiating exposure light / non-exposure light, M is a mask on which a mask pattern and a mask alignment mark MAM (hereinafter referred to as a mask mark MAM) are written, and MS is a mask on which the mask M is mounted. The stage L is a projection lens, and the exposure light / non-exposure light emitted from the light irradiation unit LH is irradiated onto the mask M, and the mask pattern MA and the mask mark MA are provided on the mask M as described above.
M is projected onto the band-shaped work W on the work stage WS via the projection lens L. AU is an alignment unit. The alignment unit AU detects the mask mark MAM formed on the work W and the work mark WAM written on the work W, and performs masking so that the mask mark MAM matches the work mark WAM. Stage MS
Is moved to align the mask M and the strip-shaped workpiece W.

【0033】アライメントユニットAUは帯状ワークW
上に記されたワークマークWAMに応じた数設けられ、
同図矢印方向に移動可能に構成されている。そして、ア
ライメントをする時にアライメントユニットAUが露光
領域内にある場合には、帯状ワークWを露光する際、ア
ライメントユニットAUを露光領域から退避させる。C
ntは制御装置であり、アライメントユニットAUによ
り受像されたマスクマークMAM像、ワークマークWA
M像、エンコーダEC1,EC2により検出されたドラ
イブローラDR、ブレーキローラBRの回転量は制御装
置Cntに送られ、制御装置CntはモータMTの回転
量を制御して後述するように帯状ワークWの位置決めを
行うとともに、マスクステージMAMを駆動して、マス
クMと帯状ワークWのアライメントを行う。
The alignment unit AU is a belt-like work W
A number corresponding to the work mark WAM described above is provided,
It is configured to be movable in the direction of the arrow in FIG. If the alignment unit AU is in the exposure area when performing alignment, the alignment unit AU is retracted from the exposure area when exposing the strip-shaped workpiece W. C
nt denotes a control device, and the mask mark MAM image and the work mark WA received by the alignment unit AU.
The M image and the rotation amounts of the drive roller DR and the brake roller BR detected by the encoders EC1 and EC2 are sent to the control device Cnt, and the control device Cnt controls the rotation amount of the motor MT to control the rotation of the belt-shaped work W as described later. The positioning is performed, and the mask stage MAM is driven to perform alignment between the mask M and the strip-shaped workpiece W.

【0034】また、上記複数のピッチに対応した設定移
動量だけ帯状ワークWを移動させ停止させた後、上記複
数のピッチに対応したマスクアライメント・マークMA
M像とワークアライメント・マークWAMのそれぞれの
位置ズレ量を求めて、それぞれの位置ズレ量を、記憶手
段Me1に記憶する。そして、帯状ワークWを次のパタ
ーン領域まで移動させる際、そのピッチと同じピッチに
対応する設定移動量で移動した際に得られる上記位置ズ
レ量を上記億手段Me1から読み出し、該位置ズレ量で
上記設定移動量を補正した量だけ帯状ワークWを移動し
停止させる。
After moving and stopping the band-shaped workpiece W by the set movement amount corresponding to the plurality of pitches, the mask alignment mark MA corresponding to the plurality of pitches is moved.
The respective positional deviation amounts of the M image and the work alignment mark WAM are obtained, and the respective positional deviation amounts are stored in the storage unit Me1. Then, when moving the band-shaped work W to the next pattern area, the position shift amount obtained when the band work W is moved by the set movement amount corresponding to the pitch is read out from the unit Me1, and the position shift amount is obtained. The belt-shaped work W is moved and stopped by an amount obtained by correcting the set movement amount.

【0035】次に、前記図9に示したように帯状ワーク
W上にピッチPw1,Pw2でパターン領域01〜22が配
置されている場合について、前記図4を参照しながら図
1により帯状ワークの露光工程について説明する。 (1)図9のパターン領域01を露光したのち、ワーク
ステージWSに設けられた吸着穴VCHからエアーを吹
き出して帯状ワークWをワークステージWSから浮上さ
せた状態で、ドライブローラDRをモータMTにより所
定数回転させ帯状ワークWを帯状ワークWのパターン領
域のピッチPw1に相当した量だけ移動させ、モータMT
の駆動を停止する。同時に、エンコーダEC1、EC2
によりドライブローラDR、ブレーキローラBRの回転
量を検出し記憶する。
Next, in the case where the pattern areas 01 to 22 are arranged at the pitches Pw1 and Pw2 on the strip-shaped work W as shown in FIG. The exposure step will be described. (1) After exposing the pattern area 01 in FIG. 9, air is blown out from the suction holes VCH provided in the work stage WS to float the strip-shaped work W from the work stage WS, and the drive roller DR is driven by the motor MT. A predetermined number of rotations are performed to move the strip-shaped work W by an amount corresponding to the pitch Pw1 of the pattern area of the strip-shaped work W.
Stop driving. At the same time, the encoders EC1, EC2
, The amounts of rotation of the drive roller DR and the brake roller BR are detected and stored.

【0036】(2)エンコーダEC1、EC2により検
出されたドライブローラDR、ブレーキローラBRの回
転量を比較する。ここで、ドライブローラDR、ブレー
キローラBRのいずれか一方、あるいは両方で帯状ワー
クWがすべった場合には、エンコーダEC1の検出値に
対してエンコーダEC2の検出値は小さくなる。また、
エンコーダEC1、EC2の検出値が一致している場合
は、帯状ワークWはローラの滑り等の影響を受けること
なく所定量正確に送られていたものと考えられる。
(2) The rotation amounts of the drive roller DR and the brake roller BR detected by the encoders EC1 and EC2 are compared. Here, when the belt-shaped work W slips on one or both of the drive roller DR and the brake roller BR, the detection value of the encoder EC2 becomes smaller than the detection value of the encoder EC1. Also,
When the detected values of the encoders EC1 and EC2 match, it is considered that the strip-shaped workpiece W has been accurately fed by a predetermined amount without being affected by the slippage of the rollers.

【0037】したがって、上記エンコーダEC1、EC
2の検出値が一致しない場合には、ローラ等の磨耗等に
より滑りが生じたものとしてエラーを出力し、帯状ワー
クWの搬送動作を停止する。なお、上記のようにエンコ
ーダEC1、EC2によりドライブローラDR、ブレー
キローラBRの回転量を検出しても前記したように、モ
ータMTに連結したドライブローラDRの停止精度によ
り、一回の送り量(約100mm〜200mm)に対し
て、±0.1〜0.2mm程度の帯状ワークWの進行方
向のズレは避けられない。そこで、後述するように搬送
ピッチPw1,Pw2に応じたズレをそれぞれ検出し、帯状
ワークを搬送する際、搬送ピッチPw1,Pw2に応じて上
記ズレ量だけ設定移動量を補正し、ズレの累積を防止す
る。
Therefore, the encoders EC1, EC1
If the two detected values do not match, an error is output on the assumption that slippage has occurred due to wear of the rollers or the like, and the transport operation of the strip-shaped work W is stopped. As described above, even if the rotation amounts of the drive roller DR and the brake roller BR are detected by the encoders EC1 and EC2, as described above, the one-time feed amount (due to the stop accuracy of the drive roller DR connected to the motor MT). (Approximately 100 mm to 200 mm), a deviation of the band-shaped workpiece W in the traveling direction of about ± 0.1 to 0.2 mm cannot be avoided. Therefore, as will be described later, deviations corresponding to the transport pitches Pw1 and Pw2 are respectively detected, and when the belt-shaped workpiece is transported, the set movement amount is corrected by the above-described deviation amount according to the transport pitches Pw1 and Pw2, and the accumulation of the deviations is calculated. To prevent.

【0038】(3)吸着孔VCHからのエアーの放出を
停止し、吸着孔VCHにより帯状ワークWを真空吸着し
て固定する。ついで、アライメントユニットAUをワー
クマークWAMを観察できる所定位置に挿入する(アラ
イメントユニットAUを退避させている場合)。 (4)前記したように非露光光による収差補正をした
後、光照射部LHから非露光光を放射してマスクマーク
MAMを帯状ワークW上に結像させる。なお、光照射部
LHから非露光光を放射する代わりに、光ファイバ等に
より露光光をワークマークWAM上に部分的に照射して
もよい。
(3) The release of air from the suction holes VCH is stopped, and the strip-shaped work W is vacuum-adsorbed and fixed by the suction holes VCH. Next, the alignment unit AU is inserted into a predetermined position where the work mark WAM can be observed (when the alignment unit AU is retracted). (4) After correcting the aberration by the non-exposure light as described above, the non-exposure light is emitted from the light irradiation section LH to form an image of the mask mark MAM on the strip-shaped work W. Instead of irradiating the non-exposure light from the light irradiation unit LH, the exposure light may be partially irradiated on the work mark WAM by an optical fiber or the like.

【0039】(5)アライメントユニットAUによりマ
スクマークMAMとワークマークWAMを検出し、ワー
クマークWAMとマスクマークMAMの帯状ワーク進行
方向のズレ量+δ1を求め記憶する(ワークマークWA
Mが帯状ワークWの進行方向側にズレているとき、δ1
はマイナスとなる)。図2は本実施例における搬送・位
置決めの様子を示す図であり、同図(a)に示すよう
に、帯状ワークWをピッチPw1だけ移動させてパターン
領域02を露光領域に移動させたとき、マスクマークM
AMとワークマークWAMに位置ズレδ1が生じたら、
その位置ズレ量δ1をピッチPw1に対応した位置ズレ量
として記憶手段Me1に記憶する。このときの設定移動
量、実移動量、ズレは図3に示すようになる。
(5) The mask mark MAM and the work mark WAM are detected by the alignment unit AU, and the shift amount + δ1 between the work mark WAM and the mask mark MAM in the belt-like work traveling direction is obtained and stored (work mark WA).
When M is shifted toward the traveling direction of the strip-shaped workpiece W, δ1
Is negative). FIG. 2 is a view showing a state of conveyance and positioning in the present embodiment. As shown in FIG. 2A, when the belt-shaped work W is moved by the pitch Pw1 to move the pattern area 02 to the exposure area, Mask mark M
If the position deviation δ1 occurs between AM and the work mark WAM,
The displacement δ1 is stored in the storage unit Me1 as the displacement corresponding to the pitch Pw1. The set movement amount, actual movement amount, and deviation at this time are as shown in FIG.

【0040】(6)ワークマークWAMとマスクマーク
MAMが重なるように、マスクMを移動させて精アライ
メントを行った後、光照射部LHから非露光光の放射を
停止して、アライメントユニットAUを退避させる(ア
ライメントユニットAUが露光領域内にある場合)。つ
いで、前記したように露光光によるマスクMのマスクパ
ターンの投影像が帯状ワークW上に結像するように調整
した後、光照射部LHから露光光を放射し、マスクM上
に記されたマスクパターンを帯状ワークW上に結像させ
て領域02の露光を行い、光照射部LHからの露光光の
放射を停止する。
(6) After the mask M is moved and fine alignment is performed so that the work mark WAM and the mask mark MAM overlap, the emission of the non-exposure light from the light irradiation unit LH is stopped, and the alignment unit AU is reset. Retreat (when the alignment unit AU is in the exposure area). Next, as described above, after adjusting the projection image of the mask pattern of the mask M by the exposure light so as to form an image on the strip-shaped work W, the exposure light is emitted from the light irradiation unit LH, and the exposure light is written on the mask M. The mask pattern is imaged on the strip-shaped workpiece W to expose the area 02, and the emission of the exposure light from the light irradiation unit LH is stopped.

【0041】(7)ワークステージWSの真空吸着を解
除し、ワークステージの吸着孔VCHからエアーを吹き
出して帯状ワークWをワークステージWSから浮上させ
た状態で、ドライブローラDRをモータMTにより所定
数回転させ、帯状ワークWをピッチPw2移動させ、モー
タMTを停止して帯状ワークWを停止させる。 (8)前記したように、エンコーダEC1、EC2の検
出値を比較し、帯状ワークWがローラの滑り等の影響を
受けることなく所定量正確に送られたことを確認したの
ち、帯状ワークWを真空吸着して固定する。そして、ア
ライメントユニットAUにより、マスクマークMAMと
ワークマークWAMを検出し、ワークマークWAMとマ
スクマークMAMの帯状ワーク進行方向のズレ量+δ2
をピッチPw2に対応した位置ズレ量として記憶手段Me
1に記憶する。〔図2(b)〕。このときの、設定移動
量、実移動量、ズレは図3に示すようになる。
(7) The vacuum suction of the work stage WS is released, and air is blown out from the suction holes VCH of the work stage to float the strip-shaped work W from the work stage WS. By rotating, the belt-shaped work W is moved by the pitch Pw2, the motor MT is stopped, and the belt-shaped work W is stopped. (8) As described above, the detected values of the encoders EC1 and EC2 are compared, and after confirming that the strip-shaped work W has been accurately sent by a predetermined amount without being affected by the slippage of the rollers, the strip-shaped work W is removed. Fix by vacuum suction. Then, the mask mark MAM and the work mark WAM are detected by the alignment unit AU, and the shift amount + δ2 between the work mark WAM and the mask mark MAM in the belt-like work traveling direction.
Is stored as the position shift amount corresponding to the pitch Pw2,
1 is stored. [FIG. 2 (b)]. At this time, the set movement amount, the actual movement amount, and the deviation are as shown in FIG.

【0042】(9)ワークマークWAMとマスクマーク
MAMが重なるように、マスクMを移動させて精アライ
メントを行い、前記したように光照射部LHから露光光
を放射し、マスクM上に記されたマスクパターンを帯状
ワークW上に結像させて領域11の露光を行う。 (10)領域11を露光後、帯状ワークWを領域11か
ら領域12へ搬送する。このとき、前回ピッチPw1移動
させたときのずれ量δ1を加味し、設定移動量をPw1−
δ1に再設定する。搬送後、前記したようにマスクマー
クMAMとワークマークWAMを検出し、ワークマーク
WAMとマスクマークMAMの帯状ワーク進行方向のズ
レ量+δ3(<+δ1)をピッチPw1に対応した位置ズ
レ量として記憶する〔図2(c)〕。このときの、設定
移動量、実移動量、ズレは図3に示すようになる。つ
いで、前記したように精アライメントを行い、マスクM
上に記されたマスクパターンを帯状ワークW上に結像さ
せて領域12の露光を行う。
(9) The mask M is moved so that the work mark WAM and the mask mark MAM overlap each other to perform fine alignment, and the exposure light is radiated from the light irradiating section LH as described above. The region 11 is exposed by forming an image of the mask pattern on the strip-shaped workpiece W. (10) After exposing the area 11, the belt-shaped work W is transported from the area 11 to the area 12. At this time, the set amount of movement is calculated as Pw1−
Reset to δ1. After the conveyance, the mask mark MAM and the work mark WAM are detected as described above, and the shift amount + δ3 (<+ δ1) of the work mark WAM and the mask mark MAM in the belt-like work traveling direction is stored as the position shift amount corresponding to the pitch Pw1. [FIG. 2 (c)]. At this time, the set movement amount, the actual movement amount, and the deviation are as shown in FIG. Then, fine alignment is performed as described above, and the mask M
The mask pattern described above is imaged on the strip-shaped workpiece W to expose the region 12.

【0043】(11)領域12を露光後、帯状ワークW
を領域12から領域21へ搬送する。このとき、前回ピ
ッチPw2移動させたときのずれ量δ2を加味し、設定移
動量をPw2−δ2に再設定する。搬送後、前記したよう
にマスクマークMAMとワークマークWAMを検出し、
ワークマークWAMとマスクマークMAMの帯状ワーク
進行方向のズレ量+δ4(<+δ2)をピッチPw2に対
応した位置ズレ量として記憶する〔図2(d)〕。この
ときの、設定移動量、実移動量、ズレは図3に示すよ
うになる。ついで、前記したように精アライメントを行
い、マスクM上に記されたマスクパターンを帯状ワーク
W上に結像させて領域21の露光を行う。 (12)以下、(10)〜(11)の手順を繰り返し、
帯状ワークWの搬送・位置決めを行ったのち、各領域を
露光する。
(11) After exposing the area 12, the strip-shaped work W
Is transported from the area 12 to the area 21. At this time, the set movement amount is reset to Pw2−δ2 in consideration of the shift amount δ2 at the time of moving the pitch Pw2 last time. After the transfer, the mask mark MAM and the work mark WAM are detected as described above,
The shift amount + δ4 (<+ δ2) between the work mark WAM and the mask mark MAM in the belt-like work traveling direction is stored as the position shift amount corresponding to the pitch Pw2 (FIG. 2D). At this time, the set movement amount, the actual movement amount, and the deviation are as shown in FIG. Next, fine alignment is performed as described above, and the mask pattern written on the mask M is imaged on the strip-shaped work W to expose the region 21. (12) Hereinafter, the procedure of (10) to (11) is repeated,
After carrying and positioning the strip-shaped work W, each area is exposed.

【0044】すなわち、本実施例においては、ズレ量を
ピッチPw1に対応するズレとピッチPw2に対応するズレ
に分け、それぞれ独立に前回の結果を加味して補正して
いく。これにより、ピッチPw1に対応したズレ量δ1,
δ3,…、および、ピッチPw2に対応したズレ量δ2,
δ4,…、は共に次第に小さくなり、設定移動量はある
値に落ち付く。このため、アライメントユニットの視野
内のワークマークWAMの位置はピッチPw1,Pw2にか
かわらず略一定となる。
That is, in the present embodiment, the shift amount is divided into a shift corresponding to the pitch Pw1 and a shift corresponding to the pitch Pw2, and each of them is independently corrected in consideration of the previous result. As a result, a shift amount δ1, corresponding to the pitch Pw1,
.., and a shift amount δ2 corresponding to the pitch Pw2.
δ4,... gradually become smaller, and the set movement amount falls to a certain value. Therefore, the position of the work mark WAM within the field of view of the alignment unit is substantially constant regardless of the pitches Pw1 and Pw2.

【0045】なお、上記実施例では、アライメントユニ
ットAUによりマスクマークMAMとワークマークWA
Mを検出し、両マークが重なるように、マスクMを移動
させて精アライメントを行う場合について説明したが、
露光位置の位置決め精度をそれほど要求されない露光工
程においては、上記精アライメントを行わず、移動ピッ
チPw1,Pw2に対応したワークマークWAMとマスクマ
ークMAMの帯状ワーク進行方向のズレ量をそれぞれ記
憶しておき、次に帯状ワークWを移動させる際に、移動
ピッチPw1,Pw2に応じたズレ量δだけ補正して帯状ワ
ークを移動させてもよい。これにより、前記した累積ズ
レの発生を防止することができる。
In the above-described embodiment, the alignment unit AU uses the mask mark MAM and the work mark WA.
M has been described, and the case where the mask M is moved and the fine alignment is performed so that both marks overlap with each other has been described.
In the exposure step in which the positioning accuracy of the exposure position is not so required, the fine alignment is not performed, and the shift amounts of the work mark WAM and the mask mark MAM corresponding to the movement pitches Pw1 and Pw2 in the strip-shaped work traveling direction are stored. When moving the strip-shaped work W next, the strip-shaped work W may be moved by correcting the shift amount δ according to the movement pitches Pw1 and Pw2. As a result, the occurrence of the above-described cumulative deviation can be prevented.

【0046】また、常に累積ズレ量が補正されるので、
マスクマークMAMとワークマークWAMとの精アライ
メントのときの移動量をある一定の範囲内にすることが
できる。したがって、上記移動量範囲に対応したワーク
ステージWSの移動量が帯状ワークWにしわが発生した
り、傷をつけたりしない程度であるならば、精アライメ
ントのとき、マスクMを移動させる代わりにワークステ
ージWSを移動させてもよい。
Also, since the accumulated shift amount is always corrected,
The movement amount at the time of precise alignment between the mask mark MAM and the work mark WAM can be within a certain range. Therefore, if the moving amount of the work stage WS corresponding to the moving amount range is such that the band-shaped work W is not wrinkled or scratched, the work stage WS is moved instead of moving the mask M at the time of fine alignment. May be moved.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、複数種類の回路パターンを一組とした集合パターン
を繰り返し露光する場合のように、搬送ピッチが複数種
類ある場合であっても、帯状ワークを正確に搬送・位置
決めすることができる。このため、例えば、アライメン
トユニットを用いて精アライメントを行う際、マスクマ
ークとワークマークがアライメント顕微鏡の視野から外
れアライメントができないといった問題が生ずることが
ない。
As described above, according to the present invention, even when a plurality of types of circuit patterns are repeatedly exposed, such as in the case of repeatedly exposing a set pattern of a plurality of types of circuit patterns, the present invention is not limited to this. Work can be transported and positioned accurately. Therefore, for example, when fine alignment is performed using the alignment unit, there is no problem that the mask mark and the work mark are out of the field of view of the alignment microscope and alignment cannot be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】本実施例における搬送・位置決めの様子を示す
図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a state of conveyance and positioning in the present embodiment.

【図3】本実施例の方法によりピッチPw1,Pw2で帯状
ワークを移動させたときの設定移動量、実移動量、位置
ズレ量を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a set movement amount, an actual movement amount, and a positional deviation amount when a belt-shaped work is moved at pitches Pw1 and Pw2 according to the method of the present embodiment.

【図4】帯状ワークを搬送するための搬送装置の構成を
示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a transport device for transporting a strip-shaped work.

【図5】スプロケットを用いた従来例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a conventional example using a sprocket.

【図6】ワーク停止マークを用いた従来例を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a conventional example using a work stop mark.

【図7】前回の位置ズレ量を加味して帯状ワークを移動
させたときの動作を説明する図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating an operation when a belt-shaped workpiece is moved in consideration of a previous positional deviation amount.

【図8】複数種の回路パターンを一組とした集合パター
ンを帯状ワーク上に露光する場合のピッチを説明する図
である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a pitch when a set pattern including a plurality of types of circuit patterns is exposed on a strip-shaped work.

【図9】ピッチとパターン領域を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a pitch and a pattern area.

【図10】図7の方法により帯状ワークをピッチPw1,
Pw2で移動させたときの設定移動量、実移動量、位置ズ
レ量を示す図である。
FIG. 10 shows a method of FIG.
FIG. 9 is a diagram illustrating a set movement amount, an actual movement amount, and a position shift amount when the movement is performed at Pw2.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

R1 巻き出しリール R2 巻き取りリール W 帯状ワーク BR ブレーキローラ DR ドライブローラ EC1 エンコーダ EC2 エンコーダ MT モータ BC 回転制御機 WS ワークステージ LH 光照射部 M マスク MS マスクステージ L 投影レンズ AU アライメントユニット MAM マスクマーク WAM ワークマーク Cnt 制御装置 Me1 記憶手段 R1 unwind reel R2 take-up reel W belt work BR brake roller DR drive roller EC1 encoder EC2 encoder MT motor BC rotation controller WS work stage LH light irradiation unit M mask MS mask stage L projection lens AU alignment unit MAM mask mark WAM work Mark Cnt control device Me1 storage means

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 帯状ワークにマスクパターンを露光し、
露光終了後、帯状ワークの次のパターン領域にマスクパ
ターンを露光するため、上記帯状ワークをパターン領域
のピッチに対応した所定量だけ移動し停止させる帯状ワ
ークの搬送・位置決め方法であって、 帯状ワークのパターン領域は複数のピッチを有してお
り、 上記複数のピッチに対応した所定量だけ帯状ワークを移
動させ停止させた後、光照射部より露光光もしくは非露
光光を、マスクパターンとマスクアライメント・マーク
を有するマスクのマスクアライメント・マークに照射
し、 上記マスクアライメント・マーク像と帯状ワークに設け
られたワークアライメント・マークを検出し、上記複数
のピッチに対応した帯状ワークの進行方向における上記
マスクアライメント・マーク像とワークアライメント・
マークの位置ズレ量をそれぞれ求め、 帯状ワークを、上記複数のピッチに対応した所定量移動
させて次のパターン領域まで移動させる際、上記所定量
に、そのピッチと同じピッチに対応する所定量で移動し
た際に得られる上記位置ズレ量を加味した量だけ帯状ワ
ークを移動し停止させることを特徴とする帯状ワークの
搬送・位置決め方法。
1. Exposing a mask pattern to a strip-shaped work,
A method of transporting and positioning a strip-shaped workpiece, in which after the exposure is completed, the strip-shaped workpiece is moved and stopped by a predetermined amount corresponding to the pitch of the pattern area in order to expose a mask pattern to the next pattern area of the strip-shaped workpiece. The pattern area has a plurality of pitches. After moving and stopping the strip-shaped workpiece by a predetermined amount corresponding to the plurality of pitches, the light irradiating unit applies exposure light or non-exposure light to the mask pattern and the mask alignment. Irradiating a mask alignment mark of a mask having a mark, detecting the mask alignment mark image and a work alignment mark provided on the strip-shaped workpiece, and detecting the mask in the traveling direction of the strip-shaped workpiece corresponding to the plurality of pitches; Alignment mark image and work alignment
The position deviation amount of the mark is obtained, and the band-shaped workpiece is moved by a predetermined amount corresponding to the plurality of pitches and moved to the next pattern area, and is moved to the predetermined amount by the predetermined amount corresponding to the same pitch as the pitch. A method for transporting and positioning a strip-shaped work, wherein the strip-shaped work is moved and stopped by an amount that takes into account the displacement amount obtained when the strip-shaped work is moved.
【請求項2】 帯状ワークにマスクパターンを露光し、
露光終了後、帯状ワークの次のパターン領域にマスクパ
ターンを露光するため、上記帯状ワークをパターン領域
のピッチに対応した所定量だけ移動し停止させる帯状ワ
ークの搬送・位置決め装置であって、 マスクパターンとマスクアライメント・マークを有する
マスクと、 露光光もしくは非露光光を上記マスク上に照射する光照
射部と、 上記パターン領域が複数種のピッチで配置され、上記マ
スクを介して上記光照射部から放射される露光光もしく
は非露光光が照射されるワークアライメント・マークを
有するワークと、 上記マスクアライメント・マーク像とワークアライメン
ト・マークを検出するアライメントユニットと、 上記帯状ワークの移動を制御する制御部とを備え、 上記制御部は、上記複数のピッチに対応した所定量だけ
帯状ワークを移動させ停止させた後、上記複数のピッチ
に対応したマスクアライメント・マーク像とワークアラ
イメント・マークのそれぞれの位置ズレ量を求めて、そ
れぞれの位置ズレ量を記憶する手段を備えており、 帯状ワークを次のパターン領域まで移動させる際、その
ピッチと同じピッチに対応する所定量で移動した際に得
られる上記位置ズレ量を上記億手段から読み出し、上記
所定量を該位置ズレ量で補正した量だけ帯状ワークを移
動し停止させることを特徴とする帯状ワークの搬送・位
置決め装置。
2. Exposing a mask pattern to a strip-shaped workpiece,
A belt-like work transport / positioning device for moving and stopping the belt-like work by a predetermined amount corresponding to the pitch of the pattern region in order to expose a mask pattern to a pattern region next to the belt-like work after the exposure, comprising: A mask having a mask alignment mark, a light irradiating unit for irradiating the mask with exposure light or non-exposure light, and the pattern regions are arranged at a plurality of types of pitches. A work having a work alignment mark irradiated with emitted exposure light or non-exposure light, an alignment unit for detecting the mask alignment mark image and the work alignment mark, and a control unit for controlling movement of the strip-shaped work The control unit is configured to form a band by a predetermined amount corresponding to the plurality of pitches. After moving and stopping the work, a means is provided for obtaining the respective positional deviation amounts of the mask alignment mark image and the work alignment mark corresponding to the plurality of pitches, and storing the respective positional deviation amounts. When the band-shaped workpiece is moved to the next pattern area, the amount of positional deviation obtained when the band-shaped workpiece is moved by a predetermined amount corresponding to the same pitch is read out from the unit, and the predetermined amount is calculated by the positional deviation amount. A transport / positioning device for a belt-like work, wherein the belt-like work is moved and stopped by a corrected amount.
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