JPH11101704A - 真空圧力測定方法およびその装置 - Google Patents
真空圧力測定方法およびその装置Info
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- JPH11101704A JPH11101704A JP9279537A JP27953797A JPH11101704A JP H11101704 A JPH11101704 A JP H11101704A JP 9279537 A JP9279537 A JP 9279537A JP 27953797 A JP27953797 A JP 27953797A JP H11101704 A JPH11101704 A JP H11101704A
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Abstract
定することができる真空圧力測定方法とその装置を提供
する。 【解決手段】 圧力を測定すべき減圧部1と連通する容
器3内の水を飽和温度まで加熱し、この加熱時の検出温
度に基づいて、前記減圧部1の圧力を算出することを特
徴としている。また、容器3の上部と減圧部1とを上部
連通管4を介して接続するとともに、前記容器3内の所
定水位を規定する部位と前記減圧部1とを下部連通管5
を介して接続し、前記容器3内の水を加熱する加熱手段
と、加熱した水の温度を検出する温度センサ9を設け、
この温度センサ9の検出値に基づいて、前記減圧部1の
圧力を演算する圧力演算手段を設けたことを特徴として
いる。
Description
真空圧力を測定するための装置に関するもので、たとえ
ば真空脱気装置や真空冷却装置などに用いられる。
中に被処理水を通し、中空糸膜の外側を真空引きして減
圧状態にすることにより、中空糸膜の膜壁を通して被処
理水中の溶存気体を除去する装置である。この真空脱気
装置の真空ラインにおいて、その真空圧力を測定するた
めのセンサとして、歪ゲージ式のものが広く用いられて
いるが、このセンサは高価であり、またその管理が煩雑
で、精度の維持が困難であった。
おける真空圧力を正確かつ簡単に測定することができる
真空圧力測定方法と、その装置を提供することを目的と
している。
解決するためになされたものであって、請求項1に記載
の発明は、圧力を測定すべき減圧部と連通する容器内の
水を飽和温度まで加熱し、この加熱時の検出温度に基づ
いて、前記減圧部の圧力を算出することを特徴としてお
り、また請求項2に記載の発明は、所定水位まで水を入
れる容器の上部と圧力を測定すべき減圧部とを上部連通
管を介して接続するとともに、前記容器内の所定の水位
を規定する部位と前記減圧部とを下部連通管を介して接
続し、前記容器内の水を加熱する加熱手段と、加熱した
水の温度を検出する温度センサを設け、この温度センサ
の検出値に基づいて、前記減圧部の圧力を演算する圧力
演算手段を設けたことを特徴としており、また請求項3
に記載の発明は、前記容器が、隔壁で二部屋に分割し、
前記隔壁の下部に連通穴を設けたものであることを特徴
としており、さらに請求項4に記載の発明は、前記圧力
演算手段が、前記温度センサの検出する温度が所定時間
一定温度を持続したとき、前記容器内の水が飽和温度に
達したと判定する機能を有することを特徴としている。
ついて説明すると、この発明は、所定水位まで水を入れ
た容器の上部と圧力を測定すべき減圧部とを上部連通管
を介して接続するとともに、前記容器内の所定水位を規
定する部位と前記減圧部とを下部連通管を介して接続し
ている。そして、前記容器内の水を加熱する加熱手段
と、加熱した水の温度を検出する温度センサを設け、こ
の温度センサの検出値に基づいて、前記減圧部の圧力を
演算する圧力演算手段を設けた構成の真空圧力測定装置
において実現される。さらに、前記圧力演算手段が、前
記温度センサの検出する温度が所定時間一定温度を持続
したとき、前記容器内の水が飽和温度に達したと判定す
る機能を有している。
前記容器の下部(容器の外側でもよい)に設けている。
また、前記温度センサは、たとえば熱電対あるいはサー
ミスタ等を用い、その検出温度を前記圧力演算手段を内
蔵した制御器へ通報する。前記圧力演算手段は、飽和温
度と絶対圧力とを対比したテーブルを前記制御器に入力
している。また、前記温度センサからの検出温度の持続
時間を計測するタイマを備え、検出温度が所定時間一定
温度を持続したときに計測を停止し信号を発する。
は、圧力を測定すべき減圧部と連通した容器内の水を飽
和温度まで加熱し、この加熱時の検出温度が所定時間一
定温度を持続したとき飽和温度に達したと判定し、この
飽和温度を圧力演算手段で前記減圧部の圧力を算出(測
定)する。そして、算出した圧力は、適宜の表示手段に
より表示する。また、圧力測定後は加熱手段を停止す
る。
却装置,真空乾燥装置等の減圧部を有する装置に適用す
ることができる。
づいて詳細に説明する。図1は、この発明の真空圧力測
定装置の第一実施例の構成を概略的に示す説明図であ
る。
ライン2の側面に所定水位まで水を入れた容器3を設
け、この容器3の上部と前記真空吸引ライン2とを上部
連通管4で接続するとともに、前記容器3内の所定水位
を規定する部位と前記真空吸引ライン2とを下部連通管
5で接続している。そして、前記容器3の下部にヒータ
等の加熱手段6を設けている。この加熱手段6は、信号
線7を介して制御器8に接続してあって、前記制御器8
でON,OFF制御するようにしている。一方、加熱し
た水の温度を検出する温度センサ9を前記容器3の上部
から挿入し、他端は信号線7を介して前記制御器8に接
続している。前記温度センサ9としては、熱電対あるい
はサーミスタ等を用い、先端の感温部を水面下に水没さ
せている。
出する検出温度に基づいて前記真空吸引ライン2内の圧
力を演算する圧力演算手段を内蔵している。そして、演
算手段としてのテーブルが備えられている。このテーブ
ルは、飽和温度と絶対圧力および真空圧力とを対比した
対照表(図2参照)であって、この対照表の数値を前記
制御器8に入力している。また、前記温度センサ9から
の検出信号の持続時間を計測するタイマ(図示省略)を
備え、検出温度が所定時間(たとえば、20秒)一定温
度を持続したときは、前記容器3内の水が飽和温度に達
したと判定する機能を有している。さらに、前記真空吸
引ライン2内の圧力測定値を表示する適宜の圧力表示手
段(図示省略)を備えている。
真空手段(たとえば、水封式真空ポンプ)が稼動し、真
空吸引ライン2内が減圧状態になったとき、制御器8か
らの出力信号により加熱手段6および温度センサ9がO
Nされる。そして、容器3内の水が加熱され、水の温度
が上昇し飽和温度に達すると平衡状態となる。この平衡
状態の温度が所定時間(たとえば、20秒)持続したと
き飽和温度に達したと判定し、このときの検出温度に基
づいて圧力演算手段(テーブル)から真空吸引ライン2
内の圧力を算出(測定)する。たとえば、検出温度が3
2.55℃であれば、図2から絶対圧力は0.05(kg
/cm2 A )であり、真空圧力は38torrになる。そし
て、測定した圧力は、圧力表示手段(図示省略)により
表示し、圧力測定後の前記加熱手段6および前記温度セ
ンサ9はOFFとする。
測定すべき減圧部1と連通する容器3内の水を飽和温度
まで加熱し、この加熱時の検出温度に基づいて前記減圧
部1の圧力を測定するので、従来の歪ゲージ式のものに
比し、構造が簡単で安価であり、しかも精度維持管理が
容易である。
いて、他の実施例である第二実施例を図3に基づいて説
明する。なお、前記第一実施例と同一部材には同一符号
を付し、重複する説明は省略する。
ール10と水封式真空ポンプ11とを真空吸引ライン2
を介して接続し、この水封式真空ポンプ11により前記
脱気モジュール10内の被脱気水を真空脱気する脱気装
置において、前記真空吸引ライン2に、この発明の真空
圧力測定装置を並列に設けたものである。
まで水を入れる容器3の下部(たとえば、所定水位まで
の高さ)を隔壁12で二部屋(A室14とB室15)に
分割し、この隔壁12の下部に連通穴13を設けたもの
で、前記以外の各部材および構成は、前記第一実施例で
説明したものと同様であるので説明を省略する。
室15は、前記A室14の水が加熱されて蒸発し、水位
が低下したときに補水するために形成されたものであ
る。したがって、A,B両室14,15を連通する前記
連通穴13は、極力小径の穴とすることがのぞましい。
らの出力信号により水封式真空ポンプ11を駆動し、真
空吸引ライン2を介して脱気モジュール10内を真空脱
気し、被脱気水から溶存気体を吸引して脱気水を供給す
る。この脱気過程において、前記制御器8から適宜出力
信号を発し、前記真空吸引ライン2内の真空圧力を測定
する。すなわち、前記第一実施例で説明したように、加
熱手段6および温度センサ9をONして前記真空吸引ラ
イン2内の圧力を測定する。そして、この圧力測定が繰
り返し行なわれると、前記A室14の水位が低下する
が、前記B室15の水が前記連通穴13を介して前記A
室14に補給されるので、長時間の脱気装置の運転に対
応することができる。また、前記脱気装置が停止される
と、前記水封式真空ポンプ11内の封水が逆流し、前記
容器3内へ上,下連通管4,5を介して流入する。そし
て、前記脱気装置が再駆動されると、前記容器3内に充
満していた水は、前記下部連通管5の接続部位(所定水
位)までの水を残し、他はすべて前記水封式真空ポンプ
11に吸引される。したがって、前記容器3内の水は、
前記脱気装置が停止される度に新しい水と入れ替わるこ
とになるので、水が濃縮しスケール付着の原因となるこ
とはない。
ば、圧力を測定すべき減圧部と連通する容器内の水を飽
和温度まで加熱し、この加熱時の検出温度に基づいて、
前記減圧部の圧力を算出するようにしたので、従来の歪
ゲージ式の測定装置に比し、構造が簡単で安価であり、
しかも精度維持管理が容易である。
成を概略的に示す断面説明図である。
た対照表である。
面説明図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 圧力を測定すべき減圧部1と連通する容
器3内の水を飽和温度まで加熱し、この加熱時の検出温
度に基づいて、前記減圧部1の圧力を算出することを特
徴とする真空圧力測定方法。 - 【請求項2】 所定水位まで水を入れる容器3の上部と
圧力を測定すべき減圧部1とを上部連通管4を介して接
続するとともに、前記容器3内の所定の水位を規定する
部位と前記減圧部1とを下部連通管5を介して接続し、
前記容器3内の水を加熱する加熱手段6と、加熱した水
の温度を検出する温度センサ9を設け、この温度センサ
9の検出値に基づいて、前記減圧部1の圧力を演算する
圧力演算手段を設けたことを特徴とする真空圧力測定装
置。 - 【請求項3】 前記容器3が、隔壁12で二部屋に分割
し、前記隔壁12の下部に連通穴13を設けたものであ
ることを特徴とする請求項2に記載の真空圧力測定装
置。 - 【請求項4】 前記圧力演算手段が、前記温度センサ9
の検出する温度が所定時間一定温度を持続したとき、前
記容器3内の水が飽和温度に達したと判定する機能を有
することを特徴とする請求項2または請求項3に記載の
真空圧力測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27953797A JP3239817B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 真空圧力測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27953797A JP3239817B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 真空圧力測定方法およびその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11101704A true JPH11101704A (ja) | 1999-04-13 |
JP3239817B2 JP3239817B2 (ja) | 2001-12-17 |
Family
ID=17612388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27953797A Expired - Lifetime JP3239817B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 真空圧力測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3239817B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101018833B1 (ko) | 2008-09-11 | 2011-03-04 | 네오뷰코오롱 주식회사 | 반도체 기판 처리 장치 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5530883U (ja) * | 1978-08-18 | 1980-02-28 | ||
JPH1019706A (ja) * | 1996-07-08 | 1998-01-23 | Miura Co Ltd | 真空圧力測定装置 |
-
1997
- 1997-09-26 JP JP27953797A patent/JP3239817B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5530883U (ja) * | 1978-08-18 | 1980-02-28 | ||
JPH1019706A (ja) * | 1996-07-08 | 1998-01-23 | Miura Co Ltd | 真空圧力測定装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101018833B1 (ko) | 2008-09-11 | 2011-03-04 | 네오뷰코오롱 주식회사 | 반도체 기판 처리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3239817B2 (ja) | 2001-12-17 |
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