JPH1097728A - 光ディスクのスキュー検出方法 - Google Patents
光ディスクのスキュー検出方法Info
- Publication number
- JPH1097728A JPH1097728A JP20675197A JP20675197A JPH1097728A JP H1097728 A JPH1097728 A JP H1097728A JP 20675197 A JP20675197 A JP 20675197A JP 20675197 A JP20675197 A JP 20675197A JP H1097728 A JPH1097728 A JP H1097728A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- signal
- skew
- error
- delay
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高い信頼性をもってかつ容易に光ディスクの
記録面及びピックアップ間に生じているスキューの検出
を行うスキュー検出方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 光ディスクの記録面に読取ビームを照射
した際の反射光を受光してこれを電気信号に変換した読
取信号をサンプリングして得られた読取サンプル系列中
の各読取サンプル値と予測値との誤差値を求め、この誤
差値が得られた時点よりも所定時間だけ前の時点に得ら
れた読取サンプル値及び上記誤差値が得られた時点より
も所定時間だけ後の時点に得られた読取サンプル値各々
の極性が互いに異なる場合に上記誤差値に基づいてスキ
ューを検出する。
記録面及びピックアップ間に生じているスキューの検出
を行うスキュー検出方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 光ディスクの記録面に読取ビームを照射
した際の反射光を受光してこれを電気信号に変換した読
取信号をサンプリングして得られた読取サンプル系列中
の各読取サンプル値と予測値との誤差値を求め、この誤
差値が得られた時点よりも所定時間だけ前の時点に得ら
れた読取サンプル値及び上記誤差値が得られた時点より
も所定時間だけ後の時点に得られた読取サンプル値各々
の極性が互いに異なる場合に上記誤差値に基づいてスキ
ューを検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクの記録
面及びピックアップ間に生じているスキューの検出方法
に関し、特に、タンジェンシャル方向におけるスキュー
検出方法に関する。
面及びピックアップ間に生じているスキューの検出方法
に関し、特に、タンジェンシャル方向におけるスキュー
検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディジタルデータがピット列として記録
された円盤状の光ディスクから記録データを正しく読み
取るためにはディスク上に照射される読取用の光ビーム
をピット上に正しく照射する必要がある。ところが、か
かる光ディスクに反りが生じていると、そのディスク面
に対して傾き（スキュー）をもって情報読取ビームが照
射されることになる。この際、コマ収差を主成分とする
波面収差が増大して読取信号の波形に歪が生じてしま
う。
された円盤状の光ディスクから記録データを正しく読み
取るためにはディスク上に照射される読取用の光ビーム
をピット上に正しく照射する必要がある。ところが、か
かる光ディスクに反りが生じていると、そのディスク面
に対して傾き（スキュー）をもって情報読取ビームが照
射されることになる。この際、コマ収差を主成分とする
波面収差が増大して読取信号の波形に歪が生じてしま
う。
【０００３】そこで、かかる光ディスクから記録情報の
再生を行う再生装置においては、ディスク面に対する情
報読取ビームの照射角の傾き量（以下、スキュー量と称
する）を検出するチルトセンサを設ける構成としてい
る。かかるチルトセンサによって検出されたスキュー量
に応じたイコライジング特性にて、上記読取信号に対し
てフィルタリング処理を施すことにより、その歪んだ波
形が補償されるのである。
再生を行う再生装置においては、ディスク面に対する情
報読取ビームの照射角の傾き量（以下、スキュー量と称
する）を検出するチルトセンサを設ける構成としてい
る。かかるチルトセンサによって検出されたスキュー量
に応じたイコライジング特性にて、上記読取信号に対し
てフィルタリング処理を施すことにより、その歪んだ波
形が補償されるのである。
【０００４】しかしながら、チルトセンサを備えた再生
装置を製造する際には、このチルトセンサ自体の取り付
け角度を精密に調整しなければならず、再生装置の組立
が困難になるという問題が生じる。又、経時変化等によ
り、チルトセンサの検出感度が変動してしまった場合に
は、誤ったイコライジング特性にてフィルタリング処理
が為されてしまうので、波形補償の信頼性が低下すると
いう問題が発生する。
装置を製造する際には、このチルトセンサ自体の取り付
け角度を精密に調整しなければならず、再生装置の組立
が困難になるという問題が生じる。又、経時変化等によ
り、チルトセンサの検出感度が変動してしまった場合に
は、誤ったイコライジング特性にてフィルタリング処理
が為されてしまうので、波形補償の信頼性が低下すると
いう問題が発生する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明におい
ては、高い信頼性をもってかつ容易に光ディスクの記録
面及びピックアップ間に生じているスキューの検出を実
施する為のスキュー検出方法を提供することを目的とす
る。
ては、高い信頼性をもってかつ容易に光ディスクの記録
面及びピックアップ間に生じているスキューの検出を実
施する為のスキュー検出方法を提供することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明による光ディスク
のスキュー検出装置は、光ディスクの記録面に読取ビー
ムを照射した際の反射光を受光してこれを電気信号に変
換したものを読取信号として得るピックアップと前記記
録面との間に生じているタンジェンシャルスキューを検
出する光ディスクのスキュー検出方法であって、前記読
取信号をサンプリングして得られた読取サンプル系列中
の各読取サンプル値と予測値との誤差値を求め、前記誤
差値が得られた時点よりも所定時間だけ前の時点に得ら
れた読取サンプル値及び前記誤差値が得られた時点より
も前記所定時間だけ後の時点に得られた読取サンプル値
各々の極性が互いに異なる場合に前記誤差値に基づいて
前記タンジェンシャルスキューを検出する。
のスキュー検出装置は、光ディスクの記録面に読取ビー
ムを照射した際の反射光を受光してこれを電気信号に変
換したものを読取信号として得るピックアップと前記記
録面との間に生じているタンジェンシャルスキューを検
出する光ディスクのスキュー検出方法であって、前記読
取信号をサンプリングして得られた読取サンプル系列中
の各読取サンプル値と予測値との誤差値を求め、前記誤
差値が得られた時点よりも所定時間だけ前の時点に得ら
れた読取サンプル値及び前記誤差値が得られた時点より
も前記所定時間だけ後の時点に得られた読取サンプル値
各々の極性が互いに異なる場合に前記誤差値に基づいて
前記タンジェンシャルスキューを検出する。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照しつつ詳細に説明する。図１は、本発明によるスキュ
ー検出装置８を備えた記録情報再生装置の構成を示す図
である。図１において、円盤状の光ディスク１にはディ
ジタルデータがピット列として螺旋状又は同心円のトラ
ックに沿って記録されている。ピックアップ３は、その
対物レンズから光ディスク１に向けて波長λの読取ビー
ムを照射する。ピックアップ３は、かかる読取ビームの
照射によって光ディスク１から反射された反射光を受光
してこれをアナログの電気信号に変換し、これを読取信
号として出力する。スピンドルモータ２は、ピックアッ
プ３による読み取り線速度がＶLとなるように、光ディ
スク１を回転駆動せしめる。
照しつつ詳細に説明する。図１は、本発明によるスキュ
ー検出装置８を備えた記録情報再生装置の構成を示す図
である。図１において、円盤状の光ディスク１にはディ
ジタルデータがピット列として螺旋状又は同心円のトラ
ックに沿って記録されている。ピックアップ３は、その
対物レンズから光ディスク１に向けて波長λの読取ビー
ムを照射する。ピックアップ３は、かかる読取ビームの
照射によって光ディスク１から反射された反射光を受光
してこれをアナログの電気信号に変換し、これを読取信
号として出力する。スピンドルモータ２は、ピックアッ
プ３による読み取り線速度がＶLとなるように、光ディ
スク１を回転駆動せしめる。
【０００８】ピックアップ３から出力されたＲＦ信号で
ある読取信号は、ＲＦアンプ４で増幅された後、Ａ／Ｄ
変換器５によってディジタル化される。かかるＲＦアン
プ４で増幅された読取信号ｐは、周波数ｆSのサンプリ
ングクロック毎に、ディジタルのサンプル値に変換さ
れ、このサンプル値の系列からなる読取サンプル系列が
ＦＩＲフィルタ６に供給される。
ある読取信号は、ＲＦアンプ４で増幅された後、Ａ／Ｄ
変換器５によってディジタル化される。かかるＲＦアン
プ４で増幅された読取信号ｐは、周波数ｆSのサンプリ
ングクロック毎に、ディジタルのサンプル値に変換さ
れ、このサンプル値の系列からなる読取サンプル系列が
ＦＩＲフィルタ６に供給される。
【０００９】尚、本実施例においては、光ディスク１へ
の情報記録〜再生までの伝送系を、パーシャルレスポン
ス伝送系クラスＩと想定したものである。このような伝
送系から得られる上記読取信号ｐをチャネルクロックで
サンプリングして得られた読取サンプル系列は、ゼロで
交差（クロス）しかつ、その読取サンプル値は、
「１」、「０」、「−１」のいずれかの値を持つ離散信
号となる。
の情報記録〜再生までの伝送系を、パーシャルレスポン
ス伝送系クラスＩと想定したものである。このような伝
送系から得られる上記読取信号ｐをチャネルクロックで
サンプリングして得られた読取サンプル系列は、ゼロで
交差（クロス）しかつ、その読取サンプル値は、
「１」、「０」、「−１」のいずれかの値を持つ離散信
号となる。
【００１０】ＦＩＲフィルタ６は、例えば可変係数フィ
ルタであり、上記読取サンプル系列を、後述するフィル
タ係数演算回路９から供給されたフィルタ係数にてフイ
ルタリング処理することにより波形補償された読取サン
プル系列Ｒを得て、これをビタビ復号器７及びスキュー
検出装置８の各々に供給する。ビタビ復号器７は、かか
る読取サンプル系列Ｒに基づいて最も確からしい２値の
データ系列を復号し、これを再生データとして出力す
る。
ルタであり、上記読取サンプル系列を、後述するフィル
タ係数演算回路９から供給されたフィルタ係数にてフイ
ルタリング処理することにより波形補償された読取サン
プル系列Ｒを得て、これをビタビ復号器７及びスキュー
検出装置８の各々に供給する。ビタビ復号器７は、かか
る読取サンプル系列Ｒに基づいて最も確からしい２値の
データ系列を復号し、これを再生データとして出力す
る。
【００１１】スキュー検出装置８は、かかる読取サンプ
ル系列Ｒに基づいてピックアップ３の情報読み取り方向
における光ディスク１の傾き（タンジェンシャルスキュ
ー）を検出し、この検出したタンジェンシャルスキュー
検出信号ｅをフィルタ係数演算回路９に供給する。例え
ば、ピックアップ３の読み取り方向に対して光ディスク
１が、図２(a)に示される方向に傾いている場合、スキ
ュー検出装置８は、このタンジェンシャル方向の傾きに
対応した正極性のスキュー検出信号ｅをフィルタ係数演
算回路９に供給する。又、図２(ｂ)に示される方向に傾
いている場合、スキュー検出装置８は、この傾きに対応
した負極性のスキュー検出信号ｅをフィルタ係数演算回
路９に供給する。
ル系列Ｒに基づいてピックアップ３の情報読み取り方向
における光ディスク１の傾き（タンジェンシャルスキュ
ー）を検出し、この検出したタンジェンシャルスキュー
検出信号ｅをフィルタ係数演算回路９に供給する。例え
ば、ピックアップ３の読み取り方向に対して光ディスク
１が、図２(a)に示される方向に傾いている場合、スキ
ュー検出装置８は、このタンジェンシャル方向の傾きに
対応した正極性のスキュー検出信号ｅをフィルタ係数演
算回路９に供給する。又、図２(ｂ)に示される方向に傾
いている場合、スキュー検出装置８は、この傾きに対応
した負極性のスキュー検出信号ｅをフィルタ係数演算回
路９に供給する。
【００１２】フィルタ係数演算回路９は、例えばＬＭＳ
（least mean square）アルゴリズムの如き適応アルゴ
リズムに従って、上記スキュー検出信号ｅに応じたフィ
ルタ係数を求めこれを上記ＦＩＲフィルタ６に供給す
る。以上の如き、ＦＩＲフィルタ６、スキュー検出装置
８及びフィルタ係数演算回路９なる構成により、光ディ
スク１に生じているタンジェンシャルスキューの影響を
排除して波形補償された読取サンプル系列Ｒがビタビ復
号器７に供給されるのである。
（least mean square）アルゴリズムの如き適応アルゴ
リズムに従って、上記スキュー検出信号ｅに応じたフィ
ルタ係数を求めこれを上記ＦＩＲフィルタ６に供給す
る。以上の如き、ＦＩＲフィルタ６、スキュー検出装置
８及びフィルタ係数演算回路９なる構成により、光ディ
スク１に生じているタンジェンシャルスキューの影響を
排除して波形補償された読取サンプル系列Ｒがビタビ復
号器７に供給されるのである。
【００１３】次に、かかるスキュー検出装置８における
タンジェンシャルスキューの検出原理について説明す
る。図３(a)は、上記図２(a)に示されるが如き正方向の
タンジェンシャルスキューが生じている場合において、
光ディスク１の記録面上に集光されるタンジェンシャル
方向におけるスポットプロファイルを示す図である。
又、図３(b)は、上記図２(b)に示されるが如き負方向の
タンジェンシャルスキューが生じている場合において、
光ディスク１の記録面上に集光されるタンジェンシャル
方向におけるスポットプロファイルを示す図である。
タンジェンシャルスキューの検出原理について説明す
る。図３(a)は、上記図２(a)に示されるが如き正方向の
タンジェンシャルスキューが生じている場合において、
光ディスク１の記録面上に集光されるタンジェンシャル
方向におけるスポットプロファイルを示す図である。
又、図３(b)は、上記図２(b)に示されるが如き負方向の
タンジェンシャルスキューが生じている場合において、
光ディスク１の記録面上に集光されるタンジェンシャル
方向におけるスポットプロファイルを示す図である。
【００１４】これら図３(a)及び図３(b)に示されている
ように、タンジェンシャルスキューが生じていると、読
取ビームの照射によって光ディスク１の記録面上に集光
されるスポットプロファイルは、最大光強度が得られる
０軸を中心にして非対称となる。尚、かかる０軸は、読
取ビームの光軸センタに相当する。例えば、図３(a)に
おいて、この光軸センタである０軸から、読取方向に
０.３・(λ／ＮＡ）〜０.６・(λ／ＮＡ）離れた位置での
光強度は、かかる０軸から−０.３・(λ／ＮＡ）〜−０.
６・(λ／ＮＡ）離れた位置での光強度に比して大となっ
ている。更に、かかる０軸からＬt＝−０.８・(λ／Ｎ
Ａ）離れた位置を中心として、−０.６・(λ／ＮＡ）〜
−１.０・(λ／ＮＡ）の範囲には、０.６・(λ／ＮＡ）〜
１.０・(λ／ＮＡ）の範囲には見られないサイドローブ
Ｓｒが発生する。
ように、タンジェンシャルスキューが生じていると、読
取ビームの照射によって光ディスク１の記録面上に集光
されるスポットプロファイルは、最大光強度が得られる
０軸を中心にして非対称となる。尚、かかる０軸は、読
取ビームの光軸センタに相当する。例えば、図３(a)に
おいて、この光軸センタである０軸から、読取方向に
０.３・(λ／ＮＡ）〜０.６・(λ／ＮＡ）離れた位置での
光強度は、かかる０軸から−０.３・(λ／ＮＡ）〜−０.
６・(λ／ＮＡ）離れた位置での光強度に比して大となっ
ている。更に、かかる０軸からＬt＝−０.８・(λ／Ｎ
Ａ）離れた位置を中心として、−０.６・(λ／ＮＡ）〜
−１.０・(λ／ＮＡ）の範囲には、０.６・(λ／ＮＡ）〜
１.０・(λ／ＮＡ）の範囲には見られないサイドローブ
Ｓｒが発生する。
【００１５】一方、負方向のタンジェンシャルスキュー
が生じている場合には、図３(b)に示されるように、０
軸から、読取方向に０.３・(λ／ＮＡ）〜０.６・(λ／Ｎ
Ａ）離れた位置での光強度は、−０.３・(λ／ＮＡ）〜
−０.６・(λ／ＮＡ）離れた位置での光強度に比して小
となる。更に、かかる０軸からＬt＝０.８・(λ／ＮＡ）
離れた位置を中心として、０.６・(λ／ＮＡ）〜１.０・
(λ／ＮＡ）の範囲には、−０.６・(λ／ＮＡ）〜−１.
０・(λ／ＮＡ）の範囲には見られないサイドローブＳｒ
が発生するのである。尚、上記ＮＡは、ピックアップ３
の対物レンズＮＡ（numerical aperture)であり、λは
読取ビームの波長を示すものである。
が生じている場合には、図３(b)に示されるように、０
軸から、読取方向に０.３・(λ／ＮＡ）〜０.６・(λ／Ｎ
Ａ）離れた位置での光強度は、−０.３・(λ／ＮＡ）〜
−０.６・(λ／ＮＡ）離れた位置での光強度に比して小
となる。更に、かかる０軸からＬt＝０.８・(λ／ＮＡ）
離れた位置を中心として、０.６・(λ／ＮＡ）〜１.０・
(λ／ＮＡ）の範囲には、−０.６・(λ／ＮＡ）〜−１.
０・(λ／ＮＡ）の範囲には見られないサイドローブＳｒ
が発生するのである。尚、上記ＮＡは、ピックアップ３
の対物レンズＮＡ（numerical aperture)であり、λは
読取ビームの波長を示すものである。
【００１６】すなわち、読取ビームの照射によって光デ
ィスク１の記録面上に集光されたタンジェンシャル方向
でのスポットプロファイルにおいて、その最大光強度と
なる位置から同一距離だけ離れた前後の位置で互いに異
なる光強度となる部分が、上述の如きＬtを中心とした
範囲に存在するのである。尚、図３(a)及び図３(b)に示
されるように、タンジェンシャルスキューの量が０.３
度（一点破線）、０.６度（破線）、及び０.９度（実
線）の如く増加しても上記サイドローブＳｒの発生位置
は変化しない。
ィスク１の記録面上に集光されたタンジェンシャル方向
でのスポットプロファイルにおいて、その最大光強度と
なる位置から同一距離だけ離れた前後の位置で互いに異
なる光強度となる部分が、上述の如きＬtを中心とした
範囲に存在するのである。尚、図３(a)及び図３(b)に示
されるように、タンジェンシャルスキューの量が０.３
度（一点破線）、０.６度（破線）、及び０.９度（実
線）の如く増加しても上記サイドローブＳｒの発生位置
は変化しない。
【００１７】図４は、光ディスク１の記録面に形成され
ているピットのエッジ部に読取ビームスポットＹＳが照
射されている際に得られる読取サンプル値を示す図であ
る。尚、図４(a)は、タンジェンシャルスキューが生じ
ていない場合、図４(b)は、正方向のタンジェンシャル
スキューが生じている場合、図４(c)は、負方向のタン
ジェンシャルスキューが生じている場合の一例を示す図
である。又、図においては、図３に示すサイドローブを
説明の便宜上、サイドスポットＳＳとして表現してい
る。
ているピットのエッジ部に読取ビームスポットＹＳが照
射されている際に得られる読取サンプル値を示す図であ
る。尚、図４(a)は、タンジェンシャルスキューが生じ
ていない場合、図４(b)は、正方向のタンジェンシャル
スキューが生じている場合、図４(c)は、負方向のタン
ジェンシャルスキューが生じている場合の一例を示す図
である。又、図においては、図３に示すサイドローブを
説明の便宜上、サイドスポットＳＳとして表現してい
る。
【００１８】図４(b)及び図４(c)に示されるように、タ
ンジェンシャルスキューが生じていると、光ディスク１
の記録面にはメインとなる読取ビームスポットＹＳのみ
ならず、サイドスポットＳＳが形成される。かかるサイ
ドスポットＳＳは、上記図３中のサイドローブＳｒの影
響により生じたものである。従って、正方向のタンジェ
ンシャルスキューが生じている場合には、図４(b)に示
されるように、読取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ
後方（読取方向に対して）の位置にサイドスポットＳＳ
が形成される。又、負方向のタンジェンシャルスキュー
が生じている場合には、図４(c)に示されるように、読
取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ前方の位置にサイ
ドスポットＳＳが形成されるのである。
ンジェンシャルスキューが生じていると、光ディスク１
の記録面にはメインとなる読取ビームスポットＹＳのみ
ならず、サイドスポットＳＳが形成される。かかるサイ
ドスポットＳＳは、上記図３中のサイドローブＳｒの影
響により生じたものである。従って、正方向のタンジェ
ンシャルスキューが生じている場合には、図４(b)に示
されるように、読取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ
後方（読取方向に対して）の位置にサイドスポットＳＳ
が形成される。又、負方向のタンジェンシャルスキュー
が生じている場合には、図４(c)に示されるように、読
取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ前方の位置にサイ
ドスポットＳＳが形成されるのである。
【００１９】すなわち、タンジェンシャルスキューが生
じている場合、ピックアップ３は、読取ビームスポット
ＹＳによる反射光のみならず、サイドスポットＳＳによ
る反射光をも漏れ光として受光するのである。ここで、
図４(a)の如きタンジェンシャルスキューが生じていな
い場合には、読取ビームスポットＹＳが鏡面部をトレー
スしている際に得られる読取信号のレベルはＰmax、読
取ビームスポットＹＳがピットをトレースしている際に
得られる読取信号のレベルはＰminとなる。上述した如
きパーシャルレスポンス伝送系クラスＩを想定した場
合、上記Ｐmaxを「１」、Ｐminを「−１」、かかるＰ
maxとＰminとの中間値を「０」と捉える。
じている場合、ピックアップ３は、読取ビームスポット
ＹＳによる反射光のみならず、サイドスポットＳＳによ
る反射光をも漏れ光として受光するのである。ここで、
図４(a)の如きタンジェンシャルスキューが生じていな
い場合には、読取ビームスポットＹＳが鏡面部をトレー
スしている際に得られる読取信号のレベルはＰmax、読
取ビームスポットＹＳがピットをトレースしている際に
得られる読取信号のレベルはＰminとなる。上述した如
きパーシャルレスポンス伝送系クラスＩを想定した場
合、上記Ｐmaxを「１」、Ｐminを「−１」、かかるＰ
maxとＰminとの中間値を「０」と捉える。
【００２０】タンジェンシャルスキューが生じていない
場合に、図４(a)に示されるように、読取ビームスポッ
トＹＳが、ピットのエッジ部、すなわち鏡面部とピット
との境界をトレースしている際に得られる読取サンプル
値Ｒaは、かかるＰmaxとＰmi nとの中間値になる。これ
は、読取ビームスポットＹＳが鏡面部とピット部とを半
々に照射しているので、その反射光による光強度は、鏡
面部のみを照射している場合の５０％となるからであ
る。
場合に、図４(a)に示されるように、読取ビームスポッ
トＹＳが、ピットのエッジ部、すなわち鏡面部とピット
との境界をトレースしている際に得られる読取サンプル
値Ｒaは、かかるＰmaxとＰmi nとの中間値になる。これ
は、読取ビームスポットＹＳが鏡面部とピット部とを半
々に照射しているので、その反射光による光強度は、鏡
面部のみを照射している場合の５０％となるからであ
る。
【００２１】一方、正方向のタンジェンシャルスキュー
が生じている場合には、図４(b)に示されるように、読
取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ後方の位置にサイ
ドスポットＳＳが存在する。従って、図４(b)の如き正
方向のタンジェンシャルスキューが生じている場合、説
明を簡単にする為、鏡面部の反射率を１、ピット部の反
射率を０と仮定すれば、読取ビームスポットＹＳ及びサ
イドスポットＳＳが共に鏡面部をトレースしている際に
得られた読取信号のレベルがＰmaxとなる。すなわち、
読取ビームスポットＹＳによる鏡面部からの反射光のみ
ならず、サイドスポットＳＳによる鏡面部からの漏れ光
をも含めて得られた読取信号のレベルがＰmaxとなるの
である。同様に、読取ビームスポットＹＳ及びサイドス
ポットＳＳが共にピットをトレースしている場合に得ら
れる読取信号のレベルがＰminとなる。この際、読取ビ
ームスポットＹＳが、ピットのエッジ部をトレースして
いる際に得られる読取サンプル値Ｒbは、かかるＰmaxと
Ｐminとの中間値にはならない。すなわち、読取ビーム
スポットＹＳによる反射光はピットのエッジ部にかかっ
ているので、鏡面部とピット部を半々に照射しているこ
とになるが、図４(b)に示されるようにサイドスポット
ＳＳは鏡面部をトレースしているので、かかるサイドス
ポットＳＳによる漏れ光の５０％分だけ、読取サンプル
値Ｒbは中間値よりも大なる値になってしまうのであ
る。つまり、中間値に対して正極性の誤差が生じるので
ある。
が生じている場合には、図４(b)に示されるように、読
取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ後方の位置にサイ
ドスポットＳＳが存在する。従って、図４(b)の如き正
方向のタンジェンシャルスキューが生じている場合、説
明を簡単にする為、鏡面部の反射率を１、ピット部の反
射率を０と仮定すれば、読取ビームスポットＹＳ及びサ
イドスポットＳＳが共に鏡面部をトレースしている際に
得られた読取信号のレベルがＰmaxとなる。すなわち、
読取ビームスポットＹＳによる鏡面部からの反射光のみ
ならず、サイドスポットＳＳによる鏡面部からの漏れ光
をも含めて得られた読取信号のレベルがＰmaxとなるの
である。同様に、読取ビームスポットＹＳ及びサイドス
ポットＳＳが共にピットをトレースしている場合に得ら
れる読取信号のレベルがＰminとなる。この際、読取ビ
ームスポットＹＳが、ピットのエッジ部をトレースして
いる際に得られる読取サンプル値Ｒbは、かかるＰmaxと
Ｐminとの中間値にはならない。すなわち、読取ビーム
スポットＹＳによる反射光はピットのエッジ部にかかっ
ているので、鏡面部とピット部を半々に照射しているこ
とになるが、図４(b)に示されるようにサイドスポット
ＳＳは鏡面部をトレースしているので、かかるサイドス
ポットＳＳによる漏れ光の５０％分だけ、読取サンプル
値Ｒbは中間値よりも大なる値になってしまうのであ
る。つまり、中間値に対して正極性の誤差が生じるので
ある。
【００２２】一方、負方向のタンジェンシャルスキュー
が生じている場合には、図４(c)に示されるように、読
取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ前方の位置にサイ
ドスポットＳＳが存在する。従って、図４(b)の場合と
同様に、読取ビームスポットＹＳ及びサイドスポットＳ
Ｓが共に鏡面部をトレースしている際に得られる読取信
号のレベルがＰmaxとなり、両者が共にピットをトレー
スしている際に得られる読取信号のレベルがＰminとな
る。
が生じている場合には、図４(c)に示されるように、読
取ビームスポットＹＳよりもＬtだけ前方の位置にサイ
ドスポットＳＳが存在する。従って、図４(b)の場合と
同様に、読取ビームスポットＹＳ及びサイドスポットＳ
Ｓが共に鏡面部をトレースしている際に得られる読取信
号のレベルがＰmaxとなり、両者が共にピットをトレー
スしている際に得られる読取信号のレベルがＰminとな
る。
【００２３】この際、図４(c)のように、読取ビームス
ポットＹＳがピットのエッジ部をトレースしている際に
得られる読取サンプル値Ｒcは、かかるＰmaxとＰminと
の中間値にはならない。すなわち、読取ビームスポット
ＹＳによる反射光はピットのエッジ部にかかっているの
で、鏡面部とピット部を半々に照射していることになる
が、図４(c)に示されるように、サイドスポットＳＳは
ピットをトレースしているので、かかるサイドスポット
ＳＳによる漏れ光は０となってしまう。よって、サイド
スポットＳＳが鏡面部をトレースしている際に得られる
漏れ光の５０％分だけ読取サンプル値Ｒcは中間値より
も小なる値になってしまうのである。つまり、中間値に
対して負極性の誤差が生じるのである。
ポットＹＳがピットのエッジ部をトレースしている際に
得られる読取サンプル値Ｒcは、かかるＰmaxとＰminと
の中間値にはならない。すなわち、読取ビームスポット
ＹＳによる反射光はピットのエッジ部にかかっているの
で、鏡面部とピット部を半々に照射していることになる
が、図４(c)に示されるように、サイドスポットＳＳは
ピットをトレースしているので、かかるサイドスポット
ＳＳによる漏れ光は０となってしまう。よって、サイド
スポットＳＳが鏡面部をトレースしている際に得られる
漏れ光の５０％分だけ読取サンプル値Ｒcは中間値より
も小なる値になってしまうのである。つまり、中間値に
対して負極性の誤差が生じるのである。
【００２４】以上の如く、光ディスク１とピックアップ
３との間に、タンジェンシャルスキューが生じている
と、読取サンプル系列Ｒ中には、図４(b)又は図４(c)に
示されるが如き誤差を有する読取サンプル値Ｒb及びＲc
が存在する。更に、図４(b)又は図４(c)に示されるよう
に、誤差を有する読取サンプル値Ｒb及びＲcが得られた
光ディスク１上の位置よりも読み取り方向に対してＬt
だけ後方の位置が鏡面部であり、かつＬtだけ前方の位
置にピットが存在する場合には、この誤差の極性がタン
ジェンシャルスキューの方向を示すものとなる。
３との間に、タンジェンシャルスキューが生じている
と、読取サンプル系列Ｒ中には、図４(b)又は図４(c)に
示されるが如き誤差を有する読取サンプル値Ｒb及びＲc
が存在する。更に、図４(b)又は図４(c)に示されるよう
に、誤差を有する読取サンプル値Ｒb及びＲcが得られた
光ディスク１上の位置よりも読み取り方向に対してＬt
だけ後方の位置が鏡面部であり、かつＬtだけ前方の位
置にピットが存在する場合には、この誤差の極性がタン
ジェンシャルスキューの方向を示すものとなる。
【００２５】例えば、正方向のタンジェンシャルスキュ
ーが生じている場合には、図４(b)に示されるように、
中間値に対して正極性の誤差を有する読取サンプル値Ｒ
bが得られ、負方向のタンジェンシャルスキューが生じ
ている場合には、図４(c)に示されるように、中間値に
対して負極性の誤差を有する読取サンプル値Ｒcが得ら
れるのである。
ーが生じている場合には、図４(b)に示されるように、
中間値に対して正極性の誤差を有する読取サンプル値Ｒ
bが得られ、負方向のタンジェンシャルスキューが生じ
ている場合には、図４(c)に示されるように、中間値に
対して負極性の誤差を有する読取サンプル値Ｒcが得ら
れるのである。
【００２６】すなわち、読取サンプル値Ｒ中から、上述
した如き誤差を有する読取サンプル値が得られ、更に、
この誤差を有する読取サンプル値が得られた時点よりも
（Ｌt／ＶL）だけ前の時点に得られた読取サンプル値が
「１」に対応したものであり、かつ、上記誤差を有する
読取サンプル値が得られた時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ
後の時点に得られた読取サンプル値が「−１」に対応し
たものである場合、この誤差の極性に基づいてタンジェ
ンシャルスキューの方向を検出することが出来るのであ
る。
した如き誤差を有する読取サンプル値が得られ、更に、
この誤差を有する読取サンプル値が得られた時点よりも
（Ｌt／ＶL）だけ前の時点に得られた読取サンプル値が
「１」に対応したものであり、かつ、上記誤差を有する
読取サンプル値が得られた時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ
後の時点に得られた読取サンプル値が「−１」に対応し
たものである場合、この誤差の極性に基づいてタンジェ
ンシャルスキューの方向を検出することが出来るのであ
る。
【００２７】尚、かかる条件とは反対に、上記誤差を有
する読取サンプル値が得られた時点よりも（Ｌt／ＶL）
だけ前の時点に得られた読取サンプル値が「−１」に対
応したものであり、かつ、上記誤差を有する読取サンプ
ル値が得られた時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ後の時点に
得られた読取サンプル値が「１」に対応したものである
場合には、上述した如きタンジェンシャルスキューの方
向判断の基準が反対になる。
する読取サンプル値が得られた時点よりも（Ｌt／ＶL）
だけ前の時点に得られた読取サンプル値が「−１」に対
応したものであり、かつ、上記誤差を有する読取サンプ
ル値が得られた時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ後の時点に
得られた読取サンプル値が「１」に対応したものである
場合には、上述した如きタンジェンシャルスキューの方
向判断の基準が反対になる。
【００２８】すなわち、この際、誤差の極性が正極性で
ある場合には負方向のタンジェンシャルスキューが生じ
ていると判断し、かかる誤差の極性が負極性である場合
には正方向のタンジェンシャルスキューが生じていると
判断するのである。以上の如く、読取サンプル値Ｒ中か
ら、上述した如き誤差を有する読取サンプル値が得ら
れ、更に、この誤差を有する読取サンプル値が得られた
時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ前の時点に得られた読取サ
ンプル値と、上記誤差を有する読取サンプル値が得られ
た時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ後の時点に得られた読取
サンプル値との極性が異なる場合、上記誤差の極性に基
づいてタンジェンシャルスキューの方向を検出すること
が出来るのである。
ある場合には負方向のタンジェンシャルスキューが生じ
ていると判断し、かかる誤差の極性が負極性である場合
には正方向のタンジェンシャルスキューが生じていると
判断するのである。以上の如く、読取サンプル値Ｒ中か
ら、上述した如き誤差を有する読取サンプル値が得ら
れ、更に、この誤差を有する読取サンプル値が得られた
時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ前の時点に得られた読取サ
ンプル値と、上記誤差を有する読取サンプル値が得られ
た時点よりも（Ｌt／ＶL）だけ後の時点に得られた読取
サンプル値との極性が異なる場合、上記誤差の極性に基
づいてタンジェンシャルスキューの方向を検出すること
が出来るのである。
【００２９】図５は、上述した如きタンジェンシャルス
キューの検出原理に基づいて、スキュー検出を行うスキ
ュー検出装置８の内部構成の一例を示す図である。尚、
かかる図５に示される実施例においては、ピックアップ
３の対物レンズの開口ＮＡ＝０.５５、読取ビームの波
長λ＝０．６３５[μm］、ＶL／ｆs＝０.１７［μm］、
及びＬt＝０.８(λ／ＮＡ）を想定したものである。
キューの検出原理に基づいて、スキュー検出を行うスキ
ュー検出装置８の内部構成の一例を示す図である。尚、
かかる図５に示される実施例においては、ピックアップ
３の対物レンズの開口ＮＡ＝０.５５、読取ビームの波
長λ＝０．６３５[μm］、ＶL／ｆs＝０.１７［μm］、
及びＬt＝０.８(λ／ＮＡ）を想定したものである。
【００３０】図５において、上記ＦＩＲフィルタ６から
供給される離散信号たる読取サンプル系列Ｒは、縦続接
続された１０個の単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる系に
供給される。単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10の各々は、読取サ
ンプル系列Ｒの１サンプリング周期に等しい時間遅延を
与えるものである。従って、単位遅延素子Ｄ5から、読
取サンプル系列Ｒ中の時点Ｔ0での読取サンプル値が出
力されると想定すると、単位遅延素子Ｄ10からは、かか
る時点Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ前の時点Ｔ-5
での読取サンプル値が出力されることになり、単位遅延
素子Ｄ1に入力される読取サンプル系列Ｒ中の読取サン
プル値は、上記時点Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ
後の時点Ｔ5でのサンプル値といえる。この際、かかる
図５に示される単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ5、及び単位遅延
素子Ｄ6〜Ｄ10は、夫々第１遅延手段及び第２遅延手段
を形成しており、各々が、（Ｌt／ＶL）なる遅延を有す
るように単位遅延素子の段数が５つになっている。
供給される離散信号たる読取サンプル系列Ｒは、縦続接
続された１０個の単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる系に
供給される。単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10の各々は、読取サ
ンプル系列Ｒの１サンプリング周期に等しい時間遅延を
与えるものである。従って、単位遅延素子Ｄ5から、読
取サンプル系列Ｒ中の時点Ｔ0での読取サンプル値が出
力されると想定すると、単位遅延素子Ｄ10からは、かか
る時点Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ前の時点Ｔ-5
での読取サンプル値が出力されることになり、単位遅延
素子Ｄ1に入力される読取サンプル系列Ｒ中の読取サン
プル値は、上記時点Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ
後の時点Ｔ5でのサンプル値といえる。この際、かかる
図５に示される単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ5、及び単位遅延
素子Ｄ6〜Ｄ10は、夫々第１遅延手段及び第２遅延手段
を形成しており、各々が、（Ｌt／ＶL）なる遅延を有す
るように単位遅延素子の段数が５つになっている。
【００３１】誤差検出回路７０は、単位遅延素子Ｄ5の
出力値が、複数の予測値のいずれに最も近い値であるか
を判定し、この最も近い値を有する予測値と、かかる単
位遅延素子Ｄ5からの出力値との差を誤差値Ｇとして乗
算器８１及び乗算器８２の各々に供給する。前述したよ
うに、本実施例における記録再生系は、パーシャルレス
ポンス伝送系クラスＩを想定している。この際、上記読
取サンプル系列Ｒ中の各サンプルとしてとり得る理想値
を、「１」、「０」、「−１」なる３値のいずれかとす
ると、これらが上記予測値となる。
出力値が、複数の予測値のいずれに最も近い値であるか
を判定し、この最も近い値を有する予測値と、かかる単
位遅延素子Ｄ5からの出力値との差を誤差値Ｇとして乗
算器８１及び乗算器８２の各々に供給する。前述したよ
うに、本実施例における記録再生系は、パーシャルレス
ポンス伝送系クラスＩを想定している。この際、上記読
取サンプル系列Ｒ中の各サンプルとしてとり得る理想値
を、「１」、「０」、「−１」なる３値のいずれかとす
ると、これらが上記予測値となる。
【００３２】乗算器８１は、上記読取サンプル系列Ｒと
誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３に
供給する。乗算器８２は、上記単位遅延素子Ｄ10の出力
値と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８
３に供給する。減算器８３は、かかる乗算器８２による
乗算結果から、乗算器８１による乗算結果を減算した値
を平均化回路８４に供給する。平均化回路８４は、この
減算値の平均に相当する値を求めこれをスキュー検出信
号ｅとして出力する。
誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３に
供給する。乗算器８２は、上記単位遅延素子Ｄ10の出力
値と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８
３に供給する。減算器８３は、かかる乗算器８２による
乗算結果から、乗算器８１による乗算結果を減算した値
を平均化回路８４に供給する。平均化回路８４は、この
減算値の平均に相当する値を求めこれをスキュー検出信
号ｅとして出力する。
【００３３】以上の如く、かかる図５に示されるスキュ
ー検出装置８においては、先ず、読取サンプル系列Ｒ中
から、上記誤差値Ｇと、この誤差値Ｇが得られた時点よ
りも（Ｌt／ＶL）だけ前の時点（時点Ｔ-5）に得られた
読取サンプル値と、（Ｌt／ＶL）だけ後の時点（時点Ｔ
5）に得られた読取サンプル値とを夫々抽出する。次
に、この抽出した読取サンプル値各々に誤差値Ｇを乗算
したもの同士を減算することにより、タンジェンシャル
スキューの方向に対応した極性を有するスキュー検出信
号ｅを得るのである。
ー検出装置８においては、先ず、読取サンプル系列Ｒ中
から、上記誤差値Ｇと、この誤差値Ｇが得られた時点よ
りも（Ｌt／ＶL）だけ前の時点（時点Ｔ-5）に得られた
読取サンプル値と、（Ｌt／ＶL）だけ後の時点（時点Ｔ
5）に得られた読取サンプル値とを夫々抽出する。次
に、この抽出した読取サンプル値各々に誤差値Ｇを乗算
したもの同士を減算することにより、タンジェンシャル
スキューの方向に対応した極性を有するスキュー検出信
号ｅを得るのである。
【００３４】例えば、ディスクの記録データ列を図６
(ａ)に示されるものと仮定し、この際、正極性のスキュ
ーが生じていると、読取信号ｐをサンプリングして得ら
れた読取サンプル系列Ｒは、図６(ｂ)に示される形態と
なる。時点Ｔ0において得られた読取サンプル値Ｒ0の誤
差値Ｇは、中間値に対して正極性のものである。よっ
て、この正極性の誤差値Ｇと、時点Ｔ-5において得られ
た正極性の読取サンプル値Ｒ-5とを乗算した値から、か
かる誤差値Ｇと時点Ｔ5において得られた負極性の読取
サンプル値Ｒ5とを乗算した値を減算すると、正極性の
スキュー検出信号ｅが得られる。すなわち、正方向のタ
ンジェンシャルスキューが生じていると検出出来るので
ある。又、図６(ａ)に示される記録データの１、０の値
が逆の場合、Ｒ0及びＲー5は負となり、Ｒ5は正となるの
で、それ故に、減算された出力は同様に正極性のスキュ
ー検出信号ｅとなる。
(ａ)に示されるものと仮定し、この際、正極性のスキュ
ーが生じていると、読取信号ｐをサンプリングして得ら
れた読取サンプル系列Ｒは、図６(ｂ)に示される形態と
なる。時点Ｔ0において得られた読取サンプル値Ｒ0の誤
差値Ｇは、中間値に対して正極性のものである。よっ
て、この正極性の誤差値Ｇと、時点Ｔ-5において得られ
た正極性の読取サンプル値Ｒ-5とを乗算した値から、か
かる誤差値Ｇと時点Ｔ5において得られた負極性の読取
サンプル値Ｒ5とを乗算した値を減算すると、正極性の
スキュー検出信号ｅが得られる。すなわち、正方向のタ
ンジェンシャルスキューが生じていると検出出来るので
ある。又、図６(ａ)に示される記録データの１、０の値
が逆の場合、Ｒ0及びＲー5は負となり、Ｒ5は正となるの
で、それ故に、減算された出力は同様に正極性のスキュ
ー検出信号ｅとなる。
【００３５】更に、図６(ａ)に示される記録データにお
いて負極性のスキューが生じている場合、Ｒ0は負とな
るので減算出力は負極性となり、上述と同様に、図６
(ａ)に示される記録データの１、０の値が逆の場合も減
算出力は負極性となる。尚、かかる実施例においては、
サイドローブＳｒの発生する位置が
いて負極性のスキューが生じている場合、Ｒ0は負とな
るので減算出力は負極性となり、上述と同様に、図６
(ａ)に示される記録データの１、０の値が逆の場合も減
算出力は負極性となる。尚、かかる実施例においては、
サイドローブＳｒの発生する位置が
【００３６】
【数９】Ｌt＝±０.８・（λ／ＮＡ） であるとして、単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ5なる第１遅延手
段、及び単位遅延素子Ｄ6〜Ｄ10なる第２遅延手段各々
の遅延時間が、
段、及び単位遅延素子Ｄ6〜Ｄ10なる第２遅延手段各々
の遅延時間が、
【００３７】
【数１０】０.８・（λ／ＮＡ）／ＶL となるように設計されている。しかしながら、図３に示
されるように、かかるサイドローブＳｒの発生する位置
は、
されるように、かかるサイドローブＳｒの発生する位置
は、
【００３８】
【数１１】−０.６・(λ／ＮＡ）〜−１.０・(λ／Ｎ
Ａ）、 あるいは、
Ａ）、 あるいは、
【００３９】
【数１２】０.６・(λ／ＮＡ）〜１.０・(λ／ＮＡ） の如く幅をもっている。要するに、上記第１遅延手段及
び第２遅延手段各々の遅延時間ＤＤを、
び第２遅延手段各々の遅延時間ＤＤを、
【００４０】
【数１３】｛０.６・(λ／ＮＡ）／ＶL｝＜ＤＤ＜｛１.
０・(λ／ＮＡ）／ＶL｝ を満たすように設定すれば良いのである。尚、この例で
は、０.８・（λ／ＮＡ）／ＶLの１ポイント(±で考え
た場合は２ポイント)のサンプル値のみによる検出例を
示したが、サンプル値は１個に限らず、上記範囲に含ま
れるものであれば、例えば、｛０.６・(λ／ＮＡ）／
ＶL｝と｛０.７・(λ／ＮＡ）／ＶL｝との２ポイントの
サンプル値の和をそれぞれ求めるようにしても良い。
０・(λ／ＮＡ）／ＶL｝ を満たすように設定すれば良いのである。尚、この例で
は、０.８・（λ／ＮＡ）／ＶLの１ポイント(±で考え
た場合は２ポイント)のサンプル値のみによる検出例を
示したが、サンプル値は１個に限らず、上記範囲に含ま
れるものであれば、例えば、｛０.６・(λ／ＮＡ）／
ＶL｝と｛０.７・(λ／ＮＡ）／ＶL｝との２ポイントの
サンプル値の和をそれぞれ求めるようにしても良い。
【００４１】又、タンジェンシャルスキューが発生する
と、図３に示されるように、ビームプロフィルは上記サ
イドローブＳｒの発生位置のみならず、−０.３・(λ／
ＮＡ）〜−０.６・(λ／ＮＡ）、あるいは０.３・(λ／Ｎ
Ａ）〜０.６・(λ／ＮＡ）の位置にも光強度の盛り上が
りが発生する。すなわち、図３に示されるように、正方
向のタンジェンシャルスキューが発生している場合に
は、−０.３・(λ／ＮＡ）〜−０.６・(λ／ＮＡ）での光
強度よりも、０.３・(λ／ＮＡ）〜０.６・(λ／ＮＡ）で
の光強度の方が大であり、負方向のタンジェンシャルス
キューが発生している場合には、０.３・(λ／ＮＡ）〜
０.６・(λ／ＮＡ）での光強度よりも、−０.３・(λ／Ｎ
Ａ）〜−０.６・(λ／ＮＡ）での光強度の方が大とな
る。
と、図３に示されるように、ビームプロフィルは上記サ
イドローブＳｒの発生位置のみならず、−０.３・(λ／
ＮＡ）〜−０.６・(λ／ＮＡ）、あるいは０.３・(λ／Ｎ
Ａ）〜０.６・(λ／ＮＡ）の位置にも光強度の盛り上が
りが発生する。すなわち、図３に示されるように、正方
向のタンジェンシャルスキューが発生している場合に
は、−０.３・(λ／ＮＡ）〜−０.６・(λ／ＮＡ）での光
強度よりも、０.３・(λ／ＮＡ）〜０.６・(λ／ＮＡ）で
の光強度の方が大であり、負方向のタンジェンシャルス
キューが発生している場合には、０.３・(λ／ＮＡ）〜
０.６・(λ／ＮＡ）での光強度よりも、−０.３・(λ／Ｎ
Ａ）〜−０.６・(λ／ＮＡ）での光強度の方が大とな
る。
【００４２】この際、かかる光強度の非対称によって
も、読取サンプル系列Ｒ中に上記図４(b)及び図４(c)の
如きタンジェンシャルスキューの方向に対応した誤差が
発生する。そこで、上記第１遅延手段及び第２遅延手段
各々の遅延時間ＤＤを、
も、読取サンプル系列Ｒ中に上記図４(b)及び図４(c)の
如きタンジェンシャルスキューの方向に対応した誤差が
発生する。そこで、上記第１遅延手段及び第２遅延手段
各々の遅延時間ＤＤを、
【００４３】
【数１４】｛０.３・(λ／ＮＡ）／ＶL｝＜ＤＤ＜｛０.
６・(λ／ＮＡ）／ＶL｝、 とした図７に示されるが如き構成のスキュー検出装置８
を採用しても良い。図７において、上記ＦＩＲフィルタ
６から供給される離散信号たる読取サンプル系列Ｒは、
縦続接続された６個の単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ6からなる
系に供給される。単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ6の各々は、読
取サンプル系列Ｒの１サンプリング周期に等しい時間遅
延を与えるものである。この際、単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ
3にて上記第１遅延手段を形成しており、単位遅延素子
Ｄ4 〜Ｄ6にて上記第２遅延手段を形成している。誤差
検出回路７０は、単位遅延素子Ｄ3の出力値が複数の予
測値のいずれに最も近い値であるかを判定し、この最も
近い値を有する予測値と、かかる単位遅延素子Ｄ3から
の出力値との差を誤差値Ｇとして乗算器８１に供給す
る。
６・(λ／ＮＡ）／ＶL｝、 とした図７に示されるが如き構成のスキュー検出装置８
を採用しても良い。図７において、上記ＦＩＲフィルタ
６から供給される離散信号たる読取サンプル系列Ｒは、
縦続接続された６個の単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ6からなる
系に供給される。単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ6の各々は、読
取サンプル系列Ｒの１サンプリング周期に等しい時間遅
延を与えるものである。この際、単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ
3にて上記第１遅延手段を形成しており、単位遅延素子
Ｄ4 〜Ｄ6にて上記第２遅延手段を形成している。誤差
検出回路７０は、単位遅延素子Ｄ3の出力値が複数の予
測値のいずれに最も近い値であるかを判定し、この最も
近い値を有する予測値と、かかる単位遅延素子Ｄ3から
の出力値との差を誤差値Ｇとして乗算器８１に供給す
る。
【００４４】乗算器８１は、上記読取サンプル系列Ｒと
誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３に
供給する。乗算器８２は、上記単位遅延素子Ｄ6の出力
値と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８
３に供給する。減算器８３は、かかる乗算器８２による
乗算結果から、乗算器８１による乗算結果を減算した値
を平均化回路８４に供給する。平均化回路８４は、この
減算値の平均に相当する値を求めこれをスキュー検出信
号ｅとして出力する。
誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３に
供給する。乗算器８２は、上記単位遅延素子Ｄ6の出力
値と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８
３に供給する。減算器８３は、かかる乗算器８２による
乗算結果から、乗算器８１による乗算結果を減算した値
を平均化回路８４に供給する。平均化回路８４は、この
減算値の平均に相当する値を求めこれをスキュー検出信
号ｅとして出力する。
【００４５】又、スキュー検出装置８としては、上記図
５及び図７に示される構成を組み合わせてなる図８に示
されるが如き構成を採用しても構わない。図８におい
て、上記ＦＩＲフィルタ６から供給される離散信号たる
読取サンプル系列Ｒは、縦続接続された１０個の単位遅
延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる系に供給される。単位遅延素
子Ｄ1 〜Ｄ10の各々は、読取サンプル系列Ｒの１サンプ
リング周期に等しい時間遅延を与えるものである。係数
乗算器１０５は、読取サンプル系列Ｒに所定の第１重み
づけ係数を乗算して得られた乗算結果を加算器１０７に
供給する。係数乗算器１０８は、読取サンプル系列Ｒ
を、単位遅延素子Ｄ1及びＤ2なる第１遅延手段にて遅延
した値に所定の第３重みづけ係数を乗算して得られた乗
算結果を加算器１１０に供給する。誤差検出回路７０
は、読取サンプル系列Ｒを上記単位遅延素子Ｄ1及びＤ2
なる第１遅延手段にて遅延し、更に単位遅延素子Ｄ3〜
Ｄ5なる第２遅延手段にて遅延した値が複数の予測値の
いずれに最も近い値であるかを判定し、この最も近い値
を有する予測値と、かかる単位遅延素子Ｄ5からの出力
値との差を誤差値Ｇとして乗算器８１及び８２の各々に
供給する。係数乗算器１０６は、上記単位遅延素子Ｄ3
〜Ｄ5なる第２遅延手段にて遅延した値を更に単位遅延
素子Ｄ6〜Ｄ8なる第３遅延手段にて遅延した値に所定の
第２重みづけ係数を乗算して得られた乗算結果を加算器
１０７に供給する。加算器１０７は、係数乗算器１０５
及び１０６の各々から供給された乗算結果同士を加算し
て得られた加算結果を乗算器８１に供給する。
５及び図７に示される構成を組み合わせてなる図８に示
されるが如き構成を採用しても構わない。図８におい
て、上記ＦＩＲフィルタ６から供給される離散信号たる
読取サンプル系列Ｒは、縦続接続された１０個の単位遅
延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる系に供給される。単位遅延素
子Ｄ1 〜Ｄ10の各々は、読取サンプル系列Ｒの１サンプ
リング周期に等しい時間遅延を与えるものである。係数
乗算器１０５は、読取サンプル系列Ｒに所定の第１重み
づけ係数を乗算して得られた乗算結果を加算器１０７に
供給する。係数乗算器１０８は、読取サンプル系列Ｒ
を、単位遅延素子Ｄ1及びＤ2なる第１遅延手段にて遅延
した値に所定の第３重みづけ係数を乗算して得られた乗
算結果を加算器１１０に供給する。誤差検出回路７０
は、読取サンプル系列Ｒを上記単位遅延素子Ｄ1及びＤ2
なる第１遅延手段にて遅延し、更に単位遅延素子Ｄ3〜
Ｄ5なる第２遅延手段にて遅延した値が複数の予測値の
いずれに最も近い値であるかを判定し、この最も近い値
を有する予測値と、かかる単位遅延素子Ｄ5からの出力
値との差を誤差値Ｇとして乗算器８１及び８２の各々に
供給する。係数乗算器１０６は、上記単位遅延素子Ｄ3
〜Ｄ5なる第２遅延手段にて遅延した値を更に単位遅延
素子Ｄ6〜Ｄ8なる第３遅延手段にて遅延した値に所定の
第２重みづけ係数を乗算して得られた乗算結果を加算器
１０７に供給する。加算器１０７は、係数乗算器１０５
及び１０６の各々から供給された乗算結果同士を加算し
て得られた加算結果を乗算器８１に供給する。
【００４６】係数乗算器１０９は、上記単位遅延素子Ｄ
6〜Ｄ8なる第３遅延手段にて遅延した値を更に単位遅延
素子Ｄ9及びＤ10なる第４遅延手段にて遅延した値に所
定の第４重みづけ係数を乗算して得られた乗算結果を加
算器１１０に供給する。加算器１１０は、係数乗算器１
０８及び１０９各々から供給された乗算結果同士を加算
して得られた加算結果を乗算器８２に供給する。
6〜Ｄ8なる第３遅延手段にて遅延した値を更に単位遅延
素子Ｄ9及びＤ10なる第４遅延手段にて遅延した値に所
定の第４重みづけ係数を乗算して得られた乗算結果を加
算器１１０に供給する。加算器１１０は、係数乗算器１
０８及び１０９各々から供給された乗算結果同士を加算
して得られた加算結果を乗算器８２に供給する。
【００４７】乗算器８１は、上記加算器１０７からの値
と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３
に供給する。乗算器８２は、上記加算器１１０からの値
と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３
に供給する。減算器８３は、かかる乗算器８２による乗
算結果から、乗算器８１による乗算結果を減算した値を
平均化回路８４に供給する。平均化回路８４は、この減
算値の平均値を求めこれをスキュー検出信号ｅとして出
力する。
と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３
に供給する。乗算器８２は、上記加算器１１０からの値
と誤差値Ｇとを乗算して得られた乗算結果を減算器８３
に供給する。減算器８３は、かかる乗算器８２による乗
算結果から、乗算器８１による乗算結果を減算した値を
平均化回路８４に供給する。平均化回路８４は、この減
算値の平均値を求めこれをスキュー検出信号ｅとして出
力する。
【００４８】尚、上記第１遅延手段及び第４遅延手段各
々の遅延時間ＤＤ１は、
々の遅延時間ＤＤ１は、
【００４９】
【数１５】｛０.３・(λ／ＮＡ）／ＶL｝＜ＤＤ１＜
｛０.６・(λ／ＮＡ）／ＶL｝ 上記第２遅延手段及び第３遅延手段各々の遅延時間ＤＤ
２は、
｛０.６・(λ／ＮＡ）／ＶL｝ 上記第２遅延手段及び第３遅延手段各々の遅延時間ＤＤ
２は、
【００５０】
【数１６】｛０.３・(λ／ＮＡ）／ＶL｝＜ＤＤ２＜
｛０.４・(λ／ＮＡ）／ＶL｝ となるように構成されていれば良い。又、かかる図８に
示される回路構成を、図９及び図１０に示されるが如き
回路に変形しても構わない。この際、これら図９及び図
１０においては、図８に示される機能ブロックと同一機
能を有するブロックには同一符号が付されている。
｛０.４・(λ／ＮＡ）／ＶL｝ となるように構成されていれば良い。又、かかる図８に
示される回路構成を、図９及び図１０に示されるが如き
回路に変形しても構わない。この際、これら図９及び図
１０においては、図８に示される機能ブロックと同一機
能を有するブロックには同一符号が付されている。
【００５１】又、上記図５、図７〜図１０各々における
誤差検出回路７０を、ゼロクロスサンプル抽出回路に置
き換えても良い。図１１は、図８に示される構成中の誤
差検出回路７０をゼロクロスサンプル抽出回路９０に置
き換えて構成されるスキュー検出装置８の内部構成の一
例を示す図である。
誤差検出回路７０を、ゼロクロスサンプル抽出回路に置
き換えても良い。図１１は、図８に示される構成中の誤
差検出回路７０をゼロクロスサンプル抽出回路９０に置
き換えて構成されるスキュー検出装置８の内部構成の一
例を示す図である。
【００５２】図１１において、ゼロクロスサンプル抽出
回路９０は、単位遅延素子Ｄ5の出力系列中から、その
読取サンプル値の極性が正極性から負極性、あるいは負
極性から正極性へと変化する際のゼロクロス時点に最も
近い位置に存在するサンプル、すなわちゼロクロスサン
プルを抽出する。例えば、前述した図６においては、単
位遅延素子Ｄ5の出力系列中から、時点Ｔー3、Ｔ0、及び
Ｔ3各々での読取サンプル値がゼロクロスサンプルとし
て抽出されるのである。ゼロクロスサンプル抽出回路９
０は、この抽出したゼロクロスサンプル値自体を誤差値
Ｇとして乗算器８１及び乗算器８２の各々に供給する。
回路９０は、単位遅延素子Ｄ5の出力系列中から、その
読取サンプル値の極性が正極性から負極性、あるいは負
極性から正極性へと変化する際のゼロクロス時点に最も
近い位置に存在するサンプル、すなわちゼロクロスサン
プルを抽出する。例えば、前述した図６においては、単
位遅延素子Ｄ5の出力系列中から、時点Ｔー3、Ｔ0、及び
Ｔ3各々での読取サンプル値がゼロクロスサンプルとし
て抽出されるのである。ゼロクロスサンプル抽出回路９
０は、この抽出したゼロクロスサンプル値自体を誤差値
Ｇとして乗算器８１及び乗算器８２の各々に供給する。
【００５３】すなわち、誤差検出回路７０に代えてゼロ
クロスサンプル抽出回路９０を採用したスキュー検出装
置８においては、読取サンプル系列中におけるゼロクロ
スサンプル時点においてのみスキュー検出を行うのであ
る。このような簡易な構成によってもタンジェンシャル
スキューの検出が出来るのである。又、上記図５、図７
〜図１１各々に示されている乗算器８１及び８２各々
を、図１２に示されるが如き回路に置き換えても良い。
クロスサンプル抽出回路９０を採用したスキュー検出装
置８においては、読取サンプル系列中におけるゼロクロ
スサンプル時点においてのみスキュー検出を行うのであ
る。このような簡易な構成によってもタンジェンシャル
スキューの検出が出来るのである。又、上記図５、図７
〜図１１各々に示されている乗算器８１及び８２各々
を、図１２に示されるが如き回路に置き換えても良い。
【００５４】例えば、上記図１１に示される乗算器８１
に代わり、かかる図１２に示される回路が採用された場
合、この図１２におけるデータ判別回路８１０は、図１
１における加算器１０７にて重みづけ加算された値が
「１」、「０」、「−１」のいずれのデータに相当する
かを判別し、「０」以外の値であると判別された場合に
は論理値「１」のイネーブル信号をゲート回路８１１に
供給し、「０」であると判別された場合には論理値
「０」のイネーブル信号を供給する。更に、データ判別
回路８１０は、図１１における加算器１０７にて重みづ
け加算された値が「−１」である場合には、論理値
「１」の極性反転信号を極性切換回路８１２に供給し、
それ以外の値である場合には、論理値「０」の極性反転
信号を極性切換回路８１２に供給する。ゲート回路８１
１は、データ判別回路８１０から、論理値「１」のイネ
ーブル信号が供給された時のみに、ゼロクロスサンプル
抽出回路９０から供給されたゼロクロスサンプル値とし
ての誤差値Ｇを極性切換回路８１２に供給する。極性切
換回路８１２は、データ判別回路８１０から論理値
「１」の極性反転信号が供給された場合には、上記ゲー
ト回路８１１から供給された誤差値Ｇの極性を反転させ
た値を乗算結果として出力する。一方、極性切換回路８
１２は、かかるデータ判別回路８１０から論理値「０」
の極性反転信号が供給されない場合には、上記ゲート回
路８１１から供給された誤差値Ｇをそのまま乗算結果と
して出力する。
に代わり、かかる図１２に示される回路が採用された場
合、この図１２におけるデータ判別回路８１０は、図１
１における加算器１０７にて重みづけ加算された値が
「１」、「０」、「−１」のいずれのデータに相当する
かを判別し、「０」以外の値であると判別された場合に
は論理値「１」のイネーブル信号をゲート回路８１１に
供給し、「０」であると判別された場合には論理値
「０」のイネーブル信号を供給する。更に、データ判別
回路８１０は、図１１における加算器１０７にて重みづ
け加算された値が「−１」である場合には、論理値
「１」の極性反転信号を極性切換回路８１２に供給し、
それ以外の値である場合には、論理値「０」の極性反転
信号を極性切換回路８１２に供給する。ゲート回路８１
１は、データ判別回路８１０から、論理値「１」のイネ
ーブル信号が供給された時のみに、ゼロクロスサンプル
抽出回路９０から供給されたゼロクロスサンプル値とし
ての誤差値Ｇを極性切換回路８１２に供給する。極性切
換回路８１２は、データ判別回路８１０から論理値
「１」の極性反転信号が供給された場合には、上記ゲー
ト回路８１１から供給された誤差値Ｇの極性を反転させ
た値を乗算結果として出力する。一方、極性切換回路８
１２は、かかるデータ判別回路８１０から論理値「０」
の極性反転信号が供給されない場合には、上記ゲート回
路８１１から供給された誤差値Ｇをそのまま乗算結果と
して出力する。
【００５５】前述した如き乗算器８１、８２に代わり、
上記図１２に示される回路を採用すれば、その回路規模
が小になるのである。図１３は、本発明の他の実施例に
よるスキュー検出装置８の内部構成を示す図である。図
１３において、前述したＦＩＲフィルタ６から供給され
る離散信号たる読取サンプル系列Ｒは、縦続接続された
１０個の単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる系に供給され
る。単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10の各々は、読取サンプル系
列Ｒの１サンプリング周期に等しい時間遅延を与えるも
のである。
上記図１２に示される回路を採用すれば、その回路規模
が小になるのである。図１３は、本発明の他の実施例に
よるスキュー検出装置８の内部構成を示す図である。図
１３において、前述したＦＩＲフィルタ６から供給され
る離散信号たる読取サンプル系列Ｒは、縦続接続された
１０個の単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる系に供給され
る。単位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10の各々は、読取サンプル系
列Ｒの１サンプリング周期に等しい時間遅延を与えるも
のである。
【００５６】従って、単位遅延素子Ｄ5から、読取サン
プル系列Ｒ中の時点Ｔ0での読取サンプル値が出力され
ると想定すると、単位遅延素子Ｄ10からは、かかる時点
Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ前の時点Ｔ-5での読
取サンプル値が出力されることになり、単位遅延素子Ｄ
1に入力される読取サンプル系列Ｒ中の読取サンプル値
は、上記時点Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ後の時
点Ｔ5でのサンプル値といえる。
プル系列Ｒ中の時点Ｔ0での読取サンプル値が出力され
ると想定すると、単位遅延素子Ｄ10からは、かかる時点
Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ前の時点Ｔ-5での読
取サンプル値が出力されることになり、単位遅延素子Ｄ
1に入力される読取サンプル系列Ｒ中の読取サンプル値
は、上記時点Ｔ0よりも５サンプリング周期だけ後の時
点Ｔ5でのサンプル値といえる。
【００５７】データ判別回路１１７は、読取サンプル系
列Ｒ、及び単位遅延素子Ｄ8から出力された値各々の絶
対値が共に所定値以上の値、すなわち、「０」以外の値
であると判別され、かつ読取サンプル系列Ｒ、及び単位
遅延素子Ｄ8から出力された値各々の極性が互いに同一
であると判別された場合には論理値「１」のイネーブル
信号をゲート回路１１９に供給し、その他の場合は論理
値「０」のイネーブル信号をゲート回路１１９に供給す
る。更に、データ判別回路１１７は、上記読取サンプル
系列Ｒの極性に対応した論理値を有する極性反転信号を
極性切換回路１２１に供給する。例えば、上記読取サン
プル系列Ｒの極性が正極性である場合には論理値「１」
の極性反転信号を極性切換回路１２１に供給する一方、
上記読取サンプル系列Ｒの極性が負極性である場合には
論理値「０」の極性反転信号を極性切換回路１２１に供
給する。
列Ｒ、及び単位遅延素子Ｄ8から出力された値各々の絶
対値が共に所定値以上の値、すなわち、「０」以外の値
であると判別され、かつ読取サンプル系列Ｒ、及び単位
遅延素子Ｄ8から出力された値各々の極性が互いに同一
であると判別された場合には論理値「１」のイネーブル
信号をゲート回路１１９に供給し、その他の場合は論理
値「０」のイネーブル信号をゲート回路１１９に供給す
る。更に、データ判別回路１１７は、上記読取サンプル
系列Ｒの極性に対応した論理値を有する極性反転信号を
極性切換回路１２１に供給する。例えば、上記読取サン
プル系列Ｒの極性が正極性である場合には論理値「１」
の極性反転信号を極性切換回路１２１に供給する一方、
上記読取サンプル系列Ｒの極性が負極性である場合には
論理値「０」の極性反転信号を極性切換回路１２１に供
給する。
【００５８】一方、データ判別回路１１８は、単位遅延
素子Ｄ3から出力された値、及び単位遅延素子Ｄ10から
出力された値各々の絶対値が共に所定値以上の値、すな
わち、「０」以外の値であると判別され、かつ、これら
単位遅延素子Ｄ3から出力された値、及び単位遅延素子
Ｄ8から出力された値各々の極性が互いに同一であると
判別された場合には論理値「１」のイネーブル信号をゲ
ート回路１２０に供給し、その他の場合は論理値「０」
のイネーブル信号をゲート回路１２０に供給する。更
に、データ判別回路１１８は、上記単位遅延素子Ｄ10か
ら出力された値の極性に対応した論理値を有する極性反
転信号を極性切換回路１２２に供給する。例えば、上記
単位遅延素子Ｄ10から出力された値の極性が正極性であ
る場合には論理値「１」の極性反転信号を極性切換回路
１２２に供給する一方、上記単位遅延素子Ｄ10から出力
された値の極性が負極性である場合には論理値「０」の
極性反転信号を極性切換回路１２２に供給する。
素子Ｄ3から出力された値、及び単位遅延素子Ｄ10から
出力された値各々の絶対値が共に所定値以上の値、すな
わち、「０」以外の値であると判別され、かつ、これら
単位遅延素子Ｄ3から出力された値、及び単位遅延素子
Ｄ8から出力された値各々の極性が互いに同一であると
判別された場合には論理値「１」のイネーブル信号をゲ
ート回路１２０に供給し、その他の場合は論理値「０」
のイネーブル信号をゲート回路１２０に供給する。更
に、データ判別回路１１８は、上記単位遅延素子Ｄ10か
ら出力された値の極性に対応した論理値を有する極性反
転信号を極性切換回路１２２に供給する。例えば、上記
単位遅延素子Ｄ10から出力された値の極性が正極性であ
る場合には論理値「１」の極性反転信号を極性切換回路
１２２に供給する一方、上記単位遅延素子Ｄ10から出力
された値の極性が負極性である場合には論理値「０」の
極性反転信号を極性切換回路１２２に供給する。
【００５９】ゼロクロスサンプル抽出回路９０は、単位
遅延素子Ｄ5の出力系列中から、その読取サンプル値の
極性が正極性から負極性、あるいは負極性から正極性へ
と変化する際のゼロクロス時点に最も近い位置に存在す
るサンプル、すなわちゼロクロスサンプルを抽出し、こ
れを誤差値Ｇ（＝Ｄ0ｃ）としてゲート回路１１９及び
１２０の各々に供給する。
遅延素子Ｄ5の出力系列中から、その読取サンプル値の
極性が正極性から負極性、あるいは負極性から正極性へ
と変化する際のゼロクロス時点に最も近い位置に存在す
るサンプル、すなわちゼロクロスサンプルを抽出し、こ
れを誤差値Ｇ（＝Ｄ0ｃ）としてゲート回路１１９及び
１２０の各々に供給する。
【００６０】ゲート回路１１９は、データ判別回路１１
７から、論理値「１」のイネーブル信号が供給された時
のみに、ゼロクロスサンプル抽出回路９０から供給され
たゼロクロスサンプル値としての誤差値Ｇを極性切換回
路１２１に供給する。極性切換回路１２１は、データ判
別回路１１７から論理値「１」の極性反転信号が供給さ
れた場合には、上記ゲート回路１１９から供給された誤
差値Ｇの極性を反転させた値を減算器８３に供給する一
方、データ判別回路１１７から論理値「０」の極性反転
信号が供給された場合には、上記ゲート回路１１９から
供給された誤差値Ｇをそのまま減算器８３に供給する。
７から、論理値「１」のイネーブル信号が供給された時
のみに、ゼロクロスサンプル抽出回路９０から供給され
たゼロクロスサンプル値としての誤差値Ｇを極性切換回
路１２１に供給する。極性切換回路１２１は、データ判
別回路１１７から論理値「１」の極性反転信号が供給さ
れた場合には、上記ゲート回路１１９から供給された誤
差値Ｇの極性を反転させた値を減算器８３に供給する一
方、データ判別回路１１７から論理値「０」の極性反転
信号が供給された場合には、上記ゲート回路１１９から
供給された誤差値Ｇをそのまま減算器８３に供給する。
【００６１】ゲート回路１２０は、データ判別回路１１
８から、論理値「１」のイネーブル信号が供給された時
のみに、ゼロクロスサンプル抽出回路９０から供給され
たゼロクロスサンプル値としての誤差値Ｇを極性切換回
路１２２に供給する。極性切換回路１２２は、データ判
別回路１１８から論理値「１」の極性反転信号が供給さ
れた場合には、上記ゲート回路１２０から供給された誤
差値Ｇの極性を反転させた値を減算器８３に供給する一
方、データ判別回路１２０から論理値「０」の極性反転
信号が供給された場合には、上記ゲート回路１２０から
供給された誤差値Ｇをそのまま減算器８３に供給する。
８から、論理値「１」のイネーブル信号が供給された時
のみに、ゼロクロスサンプル抽出回路９０から供給され
たゼロクロスサンプル値としての誤差値Ｇを極性切換回
路１２２に供給する。極性切換回路１２２は、データ判
別回路１１８から論理値「１」の極性反転信号が供給さ
れた場合には、上記ゲート回路１２０から供給された誤
差値Ｇの極性を反転させた値を減算器８３に供給する一
方、データ判別回路１２０から論理値「０」の極性反転
信号が供給された場合には、上記ゲート回路１２０から
供給された誤差値Ｇをそのまま減算器８３に供給する。
【００６２】減算器８３は、極性切換回路１２２から供
給された値から、極性切換回路１２１から供給された値
を減算した値を平均化回路８４に供給する。平均化回路
８４は、この減算値の平均値を求めこれをスキュー検出
信号ｅとして出力する。図１４は、かかる図１３に示さ
れる構成の変形例の一例を示す図である。図１４におい
て、前述したＦＩＲフィルタ６から供給される離散信号
たる読取サンプル系列Ｒは、縦続接続された１０個の単
位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる直列遅延回路、及びデー
タ判別回路１２５に夫々供給される。単位遅延素子Ｄ1
〜Ｄ10の各々は、上記読取サンプル系列Ｒの１サンプリ
ング周期に等しい時間遅延を与えるものである。
給された値から、極性切換回路１２１から供給された値
を減算した値を平均化回路８４に供給する。平均化回路
８４は、この減算値の平均値を求めこれをスキュー検出
信号ｅとして出力する。図１４は、かかる図１３に示さ
れる構成の変形例の一例を示す図である。図１４におい
て、前述したＦＩＲフィルタ６から供給される離散信号
たる読取サンプル系列Ｒは、縦続接続された１０個の単
位遅延素子Ｄ1 〜Ｄ10からなる直列遅延回路、及びデー
タ判別回路１２５に夫々供給される。単位遅延素子Ｄ1
〜Ｄ10の各々は、上記読取サンプル系列Ｒの１サンプリ
ング周期に等しい時間遅延を与えるものである。
【００６３】データ判別回路１２５は、絶対値回路１２
６、比較器１２７、単位遅延素子Ｄ 11〜Ｄ20、ＡＮＤゲ
ートＧ１〜Ｇ４、及びＥＸＮＯＲゲートＥＮ１及びＥＮ
２から構成される。かかる絶対値回路１２６及び比較器
１２７は、上記読取サンプル系列Ｒ中の各読取サンプル
の絶対値が所定値Ｔh以上の値、すなわち、「０」以外
の値である場合には論理値「１」の信号を、一方、かか
る読取サンプルの絶対値が所定値Ｔhよりも小なる場合
には論理値「０」の信号を単位遅延素子Ｄ11に供給す
る。縦続接続された１０個の単位遅延素子Ｄ11〜Ｄ20の
各々は、上記読取サンプル系列Ｒの１サンプリング周期
に等しい時間遅延を与えるものであり、かかる比較器１
２７から順次供給されてくる１ビットの信号を単位遅延
素子Ｄ11から取り込んでこれを単位遅延素子Ｄ20へと順
次シフトして行く。
６、比較器１２７、単位遅延素子Ｄ 11〜Ｄ20、ＡＮＤゲ
ートＧ１〜Ｇ４、及びＥＸＮＯＲゲートＥＮ１及びＥＮ
２から構成される。かかる絶対値回路１２６及び比較器
１２７は、上記読取サンプル系列Ｒ中の各読取サンプル
の絶対値が所定値Ｔh以上の値、すなわち、「０」以外
の値である場合には論理値「１」の信号を、一方、かか
る読取サンプルの絶対値が所定値Ｔhよりも小なる場合
には論理値「０」の信号を単位遅延素子Ｄ11に供給す
る。縦続接続された１０個の単位遅延素子Ｄ11〜Ｄ20の
各々は、上記読取サンプル系列Ｒの１サンプリング周期
に等しい時間遅延を与えるものであり、かかる比較器１
２７から順次供給されてくる１ビットの信号を単位遅延
素子Ｄ11から取り込んでこれを単位遅延素子Ｄ20へと順
次シフトして行く。
【００６４】ＡＮＤゲートＧ１、Ｇ２、及びＥＸＮＯＲ
ゲートＥＮ１なる回路は、比較器１２７から出力された
信号と、単位遅延素子Ｄ18から出力された信号が共に論
理値「１」であり、かつ、上記読取サンプル系列Ｒ中の
各読取サンプルのサインビット及び単位遅延素子Ｄ8か
ら出力された値のサインビットが共に同一論理値であ
り、更に、後述するゼロクロス検出回路から論理値
「１」のゼロクロス検出信号が供給された場合には、論
理値「１」のイネーブル信号Ａをゲート回路１１９に供
給する。
ゲートＥＮ１なる回路は、比較器１２７から出力された
信号と、単位遅延素子Ｄ18から出力された信号が共に論
理値「１」であり、かつ、上記読取サンプル系列Ｒ中の
各読取サンプルのサインビット及び単位遅延素子Ｄ8か
ら出力された値のサインビットが共に同一論理値であ
り、更に、後述するゼロクロス検出回路から論理値
「１」のゼロクロス検出信号が供給された場合には、論
理値「１」のイネーブル信号Ａをゲート回路１１９に供
給する。
【００６５】ＡＮＤゲートＧ３、Ｇ４、及びＥＸＮＯＲ
ゲートＥＮ２なる回路は、単位遅延素子Ｄ12から出力さ
れた信号と、単位遅延素子Ｄ20から出力された信号が共
に論理値「１」であり、かつ、単位遅延素子Ｄ2から出
力された値のサインビット及び単位遅延素子Ｄ10から出
力された値のサインビットが共に同一論理値であり、更
に、後述するゼロクロス検出回路から論理値「１」のゼ
ロクロス検出信号が供給された場合には、論理値「１」
のイネーブル信号Ｂをゲート回路１２０に供給する。
ゲートＥＮ２なる回路は、単位遅延素子Ｄ12から出力さ
れた信号と、単位遅延素子Ｄ20から出力された信号が共
に論理値「１」であり、かつ、単位遅延素子Ｄ2から出
力された値のサインビット及び単位遅延素子Ｄ10から出
力された値のサインビットが共に同一論理値であり、更
に、後述するゼロクロス検出回路から論理値「１」のゼ
ロクロス検出信号が供給された場合には、論理値「１」
のイネーブル信号Ｂをゲート回路１２０に供給する。
【００６６】ゼロクロス検出回路９１は、ＡＮＤゲート
Ｇ５、Ｇ６、及びＥＸＯＲゲートＥＮ３から構成され
る。かかる構成により、ゼロクロス検出回路９１は、単
位遅延素子Ｄ14〜Ｄ16各々から出力された信号の論理値
が、夫々「１」、「０」、「１」となり、かつ、単位遅
延素子Ｄ4及びＤ6各々から出力された値のサインビット
が互いに異なる論理値である場合に論理値「１」のゼロ
クロス検出信号を発生し、これを上記ＡＮＤゲートＧ２
及びＧ４の各々に供給する。
Ｇ５、Ｇ６、及びＥＸＯＲゲートＥＮ３から構成され
る。かかる構成により、ゼロクロス検出回路９１は、単
位遅延素子Ｄ14〜Ｄ16各々から出力された信号の論理値
が、夫々「１」、「０」、「１」となり、かつ、単位遅
延素子Ｄ4及びＤ6各々から出力された値のサインビット
が互いに異なる論理値である場合に論理値「１」のゼロ
クロス検出信号を発生し、これを上記ＡＮＤゲートＧ２
及びＧ４の各々に供給する。
【００６７】ゲート回路１１９は、データ判別回路１２
５から、論理値「１」のイネーブル信号Ａが供給された
時のみに、単位遅延素子Ｄ5から出力された値を極性切
換回路１２１に供給する。極性切換回路１２１は、デー
タ判別回路１２５から論理値「１」の極性反転信号Ａが
供給された場合には、上記ゲート回路１１９から供給さ
れた値の極性を反転させた値を積分器８４ａに供給する
一方、データ判別回路１２５から論理値「０」の極性反
転信号Ａが供給された場合には、上記ゲート回路１１９
から供給された値をそのまま積分器８４ａに供給する。
積分器８４ａは、極性切換回路１２１から供給された値
の平均を求めこれを減算器８３に供給する。
５から、論理値「１」のイネーブル信号Ａが供給された
時のみに、単位遅延素子Ｄ5から出力された値を極性切
換回路１２１に供給する。極性切換回路１２１は、デー
タ判別回路１２５から論理値「１」の極性反転信号Ａが
供給された場合には、上記ゲート回路１１９から供給さ
れた値の極性を反転させた値を積分器８４ａに供給する
一方、データ判別回路１２５から論理値「０」の極性反
転信号Ａが供給された場合には、上記ゲート回路１１９
から供給された値をそのまま積分器８４ａに供給する。
積分器８４ａは、極性切換回路１２１から供給された値
の平均を求めこれを減算器８３に供給する。
【００６８】ゲート回路１２０は、データ判別回路１２
５から、論理値「１」のイネーブル信号Ｂが供給された
時のみに、単位遅延素子Ｄ5から出力された値を極性切
換回路１２２に供給する。極性切換回路１２２は、デー
タ判別回路１２５から論理値「１」の極性反転信号Ｂが
供給された場合には、上記ゲート回路１２０から供給さ
れた値の極性を反転させた値を積分器８４ｂに供給する
一方、データ判別回路１２５から論理値「０」の極性反
転信号Ｂが供給された場合には、上記ゲート回路１２０
から供給された値をそのまま積分器８４ｂに供給する。
積分器８４ｂは、極性切換回路１２２から供給された値
の平均を求めこれを減算器８３に供給する。
５から、論理値「１」のイネーブル信号Ｂが供給された
時のみに、単位遅延素子Ｄ5から出力された値を極性切
換回路１２２に供給する。極性切換回路１２２は、デー
タ判別回路１２５から論理値「１」の極性反転信号Ｂが
供給された場合には、上記ゲート回路１２０から供給さ
れた値の極性を反転させた値を積分器８４ｂに供給する
一方、データ判別回路１２５から論理値「０」の極性反
転信号Ｂが供給された場合には、上記ゲート回路１２０
から供給された値をそのまま積分器８４ｂに供給する。
積分器８４ｂは、極性切換回路１２２から供給された値
の平均を求めこれを減算器８３に供給する。
【００６９】減算器８３は、積分器８４ａから供給され
た値から、積分器８４ｂから供給された値を減算した値
をスキュー検出信号ｅとして出力する。又、上記図１３
に示されるスキュー検出装置８は、図１５に示される構
成に変形出来る。図１５において、ゼロクロスサンプル
抽出回路９０は、単位遅延素子Ｄ5の出力系列中から、
その読取サンプル値の極性が正極性から負極性、あるい
は負極性から正極性へと変化する際のゼロクロス時点に
最も近い位置に存在するサンプル、すなわちゼロクロス
サンプルを抽出し、これを誤差値Ｇとしてゲート回路１
２９に供給する。
た値から、積分器８４ｂから供給された値を減算した値
をスキュー検出信号ｅとして出力する。又、上記図１３
に示されるスキュー検出装置８は、図１５に示される構
成に変形出来る。図１５において、ゼロクロスサンプル
抽出回路９０は、単位遅延素子Ｄ5の出力系列中から、
その読取サンプル値の極性が正極性から負極性、あるい
は負極性から正極性へと変化する際のゼロクロス時点に
最も近い位置に存在するサンプル、すなわちゼロクロス
サンプルを抽出し、これを誤差値Ｇとしてゲート回路１
２９に供給する。
【００７０】図１６は、データ判別回路１２８の内部回
路を示す図である。図１６において、絶対値回路１２６
及び比較器１２７は、上記読取サンプル系列Ｒ中の各読
取サンプルの絶対値が所定値Ｔh以上の値、すなわち、
「０」以外の値である場合には論理値「１」の信号を、
一方、かかる読取サンプルの絶対値が所定値Ｔhよりも
小なる場合には論理値「０」の信号を単位遅延素子Ｄ11
に供給する。縦続接続された１０個の単位遅延素子Ｄ11
〜Ｄ20の各々は、上記読取サンプル系列Ｒの１サンプリ
ング周期に等しい時間遅延を与えるものであり、かかる
比較器１２７から順次供給されてくる１ビットの信号を
単位遅延素子Ｄ11から取り込んでこれを単位遅延素子Ｄ
20へと順次シフトして行く。
路を示す図である。図１６において、絶対値回路１２６
及び比較器１２７は、上記読取サンプル系列Ｒ中の各読
取サンプルの絶対値が所定値Ｔh以上の値、すなわち、
「０」以外の値である場合には論理値「１」の信号を、
一方、かかる読取サンプルの絶対値が所定値Ｔhよりも
小なる場合には論理値「０」の信号を単位遅延素子Ｄ11
に供給する。縦続接続された１０個の単位遅延素子Ｄ11
〜Ｄ20の各々は、上記読取サンプル系列Ｒの１サンプリ
ング周期に等しい時間遅延を与えるものであり、かかる
比較器１２７から順次供給されてくる１ビットの信号を
単位遅延素子Ｄ11から取り込んでこれを単位遅延素子Ｄ
20へと順次シフトして行く。
【００７１】ＡＮＤゲートＧ１及びＥＸＮＯＲゲートＥ
Ｎ１なる回路は、比較器１２７から出力された信号と、
単位遅延素子Ｄ18から出力された信号が共に論理値
「１」であり、かつ、上記読取サンプル系列Ｒ中の各読
取サンプルのサインビット及び単位遅延素子Ｄ8から出
力された値のサインビットが共に同一論理値である場合
にのみ論理値「１」の信号ＥＮＢ１を出力し、その他の
場合には、論理値「０」の信号ＥＮＢ１を出力する。
Ｎ１なる回路は、比較器１２７から出力された信号と、
単位遅延素子Ｄ18から出力された信号が共に論理値
「１」であり、かつ、上記読取サンプル系列Ｒ中の各読
取サンプルのサインビット及び単位遅延素子Ｄ8から出
力された値のサインビットが共に同一論理値である場合
にのみ論理値「１」の信号ＥＮＢ１を出力し、その他の
場合には、論理値「０」の信号ＥＮＢ１を出力する。
【００７２】ＡＮＤゲートＧ３及びＥＸＮＯＲゲートＥ
Ｎ２なる回路は、単位遅延素子Ｄ12から出力された信号
と、単位遅延素子Ｄ20から出力された信号が共に論理値
「１」であり、かつ、単位遅延素子Ｄ2から出力された
値のサインビット及び単位遅延素子Ｄ10から出力された
値のサインビットが共に同一論理値である場合にのみ論
理値「１」の信号ＥＮＢ２を出力し、その他の場合に
は、論理値「０」の信号ＥＮＢ２を出力する。
Ｎ２なる回路は、単位遅延素子Ｄ12から出力された信号
と、単位遅延素子Ｄ20から出力された信号が共に論理値
「１」であり、かつ、単位遅延素子Ｄ2から出力された
値のサインビット及び単位遅延素子Ｄ10から出力された
値のサインビットが共に同一論理値である場合にのみ論
理値「１」の信号ＥＮＢ２を出力し、その他の場合に
は、論理値「０」の信号ＥＮＢ２を出力する。
【００７３】ＥＸＯＲゲートＥＸ１、及びＡＮＤゲート
Ｇ７なる回路は、上記信号ＥＮＢ１及びＥＮＢ２のいず
れか一方の信号論理値が「１」であり、かつ、後述する
ゼロクロス検出回路９１から論理値「１」のゼロクロス
検出信号が供給された場合にのみ論理値「１」のイネー
ブル信号を発生してこれをゲート回路１２９に供給す
る。
Ｇ７なる回路は、上記信号ＥＮＢ１及びＥＮＢ２のいず
れか一方の信号論理値が「１」であり、かつ、後述する
ゼロクロス検出回路９１から論理値「１」のゼロクロス
検出信号が供給された場合にのみ論理値「１」のイネー
ブル信号を発生してこれをゲート回路１２９に供給す
る。
【００７４】ゼロクロス検出回路９１は、ＡＮＤゲート
Ｇ５、Ｇ６、及びＥＸＯＲゲートＥＸ２から構成され
る。かかる構成により、ゼロクロス検出回路９１は、単
位遅延素子Ｄ14〜Ｄ16各々から出力された信号の論理値
が、夫々「１」、「０」、「１」となり、かつ、単位遅
延素子Ｄ4及びＤ6各々から出力された値のサインビット
が互いに異なる論理値である場合に論理値「１」のゼロ
クロス検出信号を発生し、これを上記ＡＮＤゲートＧ７
に供給する。
Ｇ５、Ｇ６、及びＥＸＯＲゲートＥＸ２から構成され
る。かかる構成により、ゼロクロス検出回路９１は、単
位遅延素子Ｄ14〜Ｄ16各々から出力された信号の論理値
が、夫々「１」、「０」、「１」となり、かつ、単位遅
延素子Ｄ4及びＤ6各々から出力された値のサインビット
が互いに異なる論理値である場合に論理値「１」のゼロ
クロス検出信号を発生し、これを上記ＡＮＤゲートＧ７
に供給する。
【００７５】セレクタＳＥは、上記信号ＥＮＢ１の信号
論理値が「０」である場合には、単位遅延素子Ｄ10から
出力された値のサインビットを極性反転信号として極性
切換回路１３０に供給する一方、上記信号ＥＮＢ１の信
号論理値が「１」である場合には、読取サンプル系列Ｒ
中の各読取サンプルのサインビットをインバータＩＮＶ
にて反転した信号を極性反転信号として極性切換回路１
３０に供給する。
論理値が「０」である場合には、単位遅延素子Ｄ10から
出力された値のサインビットを極性反転信号として極性
切換回路１３０に供給する一方、上記信号ＥＮＢ１の信
号論理値が「１」である場合には、読取サンプル系列Ｒ
中の各読取サンプルのサインビットをインバータＩＮＶ
にて反転した信号を極性反転信号として極性切換回路１
３０に供給する。
【００７６】図１５におけるゲート回路１２９は、上述
したデータ判別回路１２８から、論理値「１」のイネー
ブル信号が供給された時のみに、ゼロクロスサンプル抽
出回路９０から供給された誤差値Ｇを極性切換回路１３
０に供給する。極性切換回路１３０は、データ判別回路
１２８から論理値「１」の極性反転信号が供給された場
合には、上記ゲート回路１２９から供給された値の極性
を反転させた値を平均化回路８４に供給する。平均化回
路８４は、極性切換回路１３０から供給された値の平均
を求めこれをスキュー検出信号ｅとして出力する。
したデータ判別回路１２８から、論理値「１」のイネー
ブル信号が供給された時のみに、ゼロクロスサンプル抽
出回路９０から供給された誤差値Ｇを極性切換回路１３
０に供給する。極性切換回路１３０は、データ判別回路
１２８から論理値「１」の極性反転信号が供給された場
合には、上記ゲート回路１２９から供給された値の極性
を反転させた値を平均化回路８４に供給する。平均化回
路８４は、極性切換回路１３０から供給された値の平均
を求めこれをスキュー検出信号ｅとして出力する。
【００７７】尚、上記実施例においては、スキュー検出
装置８にて検出したスキュー検出信号ｅに基づいて、Ｆ
ＩＲフィルタ６のフィルタ係数を更新して行くことによ
り、タンジェンシャルスキューによって生じた波形歪み
を補償するようにしている。しかしながら、図１７に示
されるように、かかるスキュー検出装置８にて検出した
スキュー検出信号ｅに基づいて、ティルトモータの制御
を行うようにしても良い。
装置８にて検出したスキュー検出信号ｅに基づいて、Ｆ
ＩＲフィルタ６のフィルタ係数を更新して行くことによ
り、タンジェンシャルスキューによって生じた波形歪み
を補償するようにしている。しかしながら、図１７に示
されるように、かかるスキュー検出装置８にて検出した
スキュー検出信号ｅに基づいて、ティルトモータの制御
を行うようにしても良い。
【００７８】図１７において、ティルトモータ制御回路
９は、スキュー検出装置８にて検出されたスキュー検出
信号ｅに応じた駆動電圧をティルトモータ１０に供給す
る。ティルトモータ１０は、かかる駆動電圧に応じたタ
ンジェンシャル方向にピックアップ３を傾ける。
９は、スキュー検出装置８にて検出されたスキュー検出
信号ｅに応じた駆動電圧をティルトモータ１０に供給す
る。ティルトモータ１０は、かかる駆動電圧に応じたタ
ンジェンシャル方向にピックアップ３を傾ける。
【００７９】
【発明の効果】以上、詳述したように本発明によるスキ
ュー検出装置によれば、光ディスクから読み取られた読
取信号に基づいて、かかる光ディスク及びピックアップ
間に生じているスキューの方向を検出することが出来る
ので、チルトセンサを用いない小規模な回路構成にて、
読取信号波形の補償を行うことが可能となるのである。
ュー検出装置によれば、光ディスクから読み取られた読
取信号に基づいて、かかる光ディスク及びピックアップ
間に生じているスキューの方向を検出することが出来る
ので、チルトセンサを用いない小規模な回路構成にて、
読取信号波形の補償を行うことが可能となるのである。
【図１】本発明によるスキュー検出装置８を備えた記録
情報再生装置の構成を示す図である。
情報再生装置の構成を示す図である。
【図２】タンジェンシャルスキューの状態を示す図であ
る。
る。
【図３】タンジェンシャルスキュー発生時のスポットプ
ロファイルを示す図である。
ロファイルを示す図である。
【図４】光ディスク１のピットのエッジ部に照射された
読取ビームスポット及び読取サンプル値を示す図であ
る。
読取ビームスポット及び読取サンプル値を示す図であ
る。
【図５】本発明によるスキュー検出装置８の回路構成を
示す図である。
示す図である。
【図６】正方向のタンジェンシャルスキューが発生して
いる際に得られる読取信号ｐ及び読取サンプルＲの一例
を示す図である。
いる際に得られる読取信号ｐ及び読取サンプルＲの一例
を示す図である。
【図７】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置８
の回路構成を示す図である。
の回路構成を示す図である。
【図８】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置８
の回路構成を示す図である。
の回路構成を示す図である。
【図９】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置８
の回路構成を示す図である。
の回路構成を示す図である。
【図１０】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置
８の回路構成を示す図である。
８の回路構成を示す図である。
【図１１】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置
８の回路構成を示す図である。
８の回路構成を示す図である。
【図１２】乗算器８１、及び８２の他の構成を示す図で
ある。
ある。
【図１３】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置
８の回路構成を示す図である。
８の回路構成を示す図である。
【図１４】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置
８の回路構成を示す図である。
８の回路構成を示す図である。
【図１５】本発明の他の実施例によるスキュー検出装置
８の回路構成を示す図である。
８の回路構成を示す図である。
【図１６】データ判別回路１２８の内部構成を示す図で
ある。
ある。
【図１７】本発明によるスキュー検出装置８を備えた記
録情報再生装置の他の構成を示す図である。
録情報再生装置の他の構成を示す図である。
８ スキュー検出装置 ７０ 誤差検出回路 ８１、８２ 乗算器 ８３ 減算器 ９０ ゼロクロスサンプル抽出回路 ８１０ データ判別回路 ８１１ ゲート回路 ８１２ 極性切換回路８１２
Claims (17)
- 【請求項１】 光ディスクの記録面に読取ビームを照射
した際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したも
のを読取信号として得るピックアップと前記記録面との
間に生じているタンジェンシャルスキューを検出する光
ディスクのスキュー検出方法であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列中の各読取サンプル値と予測値との誤差値を求め、 前記誤差値が得られた時点よりも所定時間だけ前の時点
に得られた読取サンプル値及び前記誤差値が得られた時
点よりも前記所定時間だけ後の時点に得られた読取サン
プル値各々の極性が互いに異なる場合に前記誤差値に基
づいて前記タンジェンシャルスキューを検出することを
特徴とする光ディスクのスキュー検出方法。 - 【請求項２】 前記所定時間＝{Ｌt／読取線速度｝であ
り、前記Ｌtは、前記読取ビームの照射により前記光デ
ィスクの記録面上に集光されたタンジェンシャル方向で
のスポットプロファイルにおいて最大光強度となる位置
から同一の距離だけ離れたタンジェンシャル方向での前
後位置において互いに異なる光強度となる場合の前記同
一の距離であることを特徴とする請求項１記載の光ディ
スクのスキュー検出方法。 - 【請求項３】 前記Ｌtは、 【数１】 ｛0.6・(λ／NA）｝＜ Ｌt ＜ ｛1.0・(λ／NA）｝ λ：前記読取ビームの波長 NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする請求項１及び２記載の光ディス
クのスキュー検出方法。 - 【請求項４】 前記Ｌtは、 【数２】 ｛0.3・(λ／NA）｝＜ Ｌt ＜ ｛0.6・(λ／NA）｝ λ：前記読取ビームの波長 NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする請求項１及び２記載の光ディス
クのスキュー検出方法。 - 【請求項５】 読取線速度ＶLとなるように回転駆動さ
れる光ディスクの記録面に波長λの読取ビームを照射し
た際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したもの
を読取信号として得るピックアップと前記記録面との間
に生じているタンジェンシャルスキューを検出する光デ
ィスクのスキュー検出方法であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列中の各読取サンプル値と予測値との誤差値を求め、 前記読取サンプル系列中から前記誤差値が得られた時点
よりも所定の第１時間だけ前の時点に得られた第１読取
サンプル値、前記誤差値が得られた時点よりも前記第１
時間だけ後の時点に得られた第２読取サンプル値、前記
誤差値が得られた時点よりも所定の第２時間だけ前の時
点に得られた第３読取サンプル値、及び前記誤差値が得
られた時点よりも前記第２時間だけ後の時点に得られた
第４読取サンプル値各々を抽出し、 前記第１読取サンプル値及び前記第４読取サンプル値同
士を重み付け加算した値から前記第２読取サンプル値及
び前記第３読取サンプル値同士を重み付け加算した値を
減算した値に基づいて前記タンジェンシャルスキューを
検出し、 前記第１時間及び前記第２時間は、夫々、 【数３】｛0.6・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第１時間 ＜ ｛1.0
・(λ／NA）／ＶL｝ ｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第２時間 ＜ ｛0.6・(λ／N
A）／ＶL｝ NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする光ディスクのスキュー検出方
法。 - 【請求項６】 前記誤差値は、前記読取サンプル系列中
におけるゼロクロス点に最も近い時点に得られた読取サ
ンプルの値であることを特徴とする請求項１及び５記載
の光ディスクのスキュー検出方法。 - 【請求項７】 読取線速度ＶLとなるように回転駆動さ
れる光ディスクの記録面に波長λの読取ビームを照射し
た際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したもの
を読取信号として得るピックアップと前記光ディスクの
記録面との間に生じているタンジェンシャルスキューを
検出する光ディスクのスキュー検出装置であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列を所定遅延時間だけ遅延させて順次出力する第１遅
延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値を更に前記所定遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第２遅延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値の誤差値を検出する
誤差検出手段と、 前記読取サンプル系列中の各読取サンプルと前記誤差値
との乗算を行う第１乗算器と、 前記第２遅延手段から出力された値と前記誤差値との乗
算を行う第２乗算器と、 前記第２乗算器による乗算結果から前記第１乗算器によ
る乗算結果を減算した値に基づいて前記タンジェンシャ
ルスキューを表すスキュー検出信号を得る減算器とから
なり、 前記所定遅延時間は、 【数４】｛0.6・(λ／NA）／ＶL｝＜ 所定遅延時間 ＜
｛1.0・(λ／NA）／ＶL｝ NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする光ディスクのスキュー検出装
置。 - 【請求項８】 読取線速度ＶLとなるように回転駆動さ
れる光ディスクの記録面に波長λの読取ビームを照射し
た際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したもの
を読取信号として得るピックアップと前記光ディスクの
記録面との間に生じているタンジェンシャルスキューを
検出する光ディスクのスキュー検出装置であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列を所定遅延時間だけ遅延させて順次出力する第１遅
延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値を更に前記所定遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第２遅延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値の誤差値を検出する
誤差検出手段と、 前記読取サンプル系列中の各読取サンプルと前記誤差値
との乗算を行う第１乗算器と、 前記第２遅延手段から出力された値と前記誤差値との乗
算を行う第２乗算器と、 前記第２乗算器による乗算結果から前記第１乗算器によ
る乗算結果を減算した値に基づいて前記タンジェンシャ
ルスキューを表すスキュー検出信号を得る減算器とから
なり、 前記所定遅延時間は、 【数５】｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 所定遅延時間 ＜
｛0.6・(λ／NA）／ＶL｝ NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする光ディスクのスキュー検出装
置。 - 【請求項９】 前記誤差検出手段は、前記第１遅延手段
から出力された値の内から、ゼロクロス点に最も近い時
点に得られた値を抽出してこれを前記誤差値とすること
を特徴とする請求項７及び８記載の光ディスクのスキュ
ー検出装置。 - 【請求項１０】 読取線速度ＶLとなるように回転駆動
される光ディスクの記録面に波長λの読取ビームを照射
した際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したも
のを読取信号として得るピックアップと前記光ディスク
の記録面との間に生じているタンジェンシャルスキュー
を検出する光ディスクのスキュー検出装置であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列を所定の第１遅延時間だけ遅延させて順次出力する
第１遅延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値を更に所定の第２遅
延時間だけ遅延させて順次出力する第２遅延手段と、 前記第２遅延手段から出力された値を更に前記第２遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第３遅延手段と、 前記第３遅延手段から出力された値を更に前記第１遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第４遅延手段と、 前記第２遅延手段から出力された値の誤差値を検出する
誤差検出手段と、 前記第１遅延手段から出力された値及び前記第４遅延手
段から出力された値同士を重み付け加算して第１加算値
を得る第１重み付け加算手段と、 前記第１加算値に前記誤差値を乗算して第１乗算値を得
る第１乗算手段と、 前記読取サンプル系列の各読取サンプル値及び前記第３
遅延手段から出力された値同士を重み付け加算して第２
加算値を得る第２重み付け加算手段と、 前記第２加算値に前記誤差値を乗算して第２乗算値を得
る第２乗算手段と、 前記第１乗算値から前記第２乗算値を減算した値に基づ
いて前記タンジェンシャルスキューを表すスキュー検出
信号を得る減算器とからなり、 前記第１遅延時間及び前記第２遅延時間は、夫々、 【数６】｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第１遅延時間 ＜
｛0.6・(λ／NA）／ＶL｝ ｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第２遅延時間 ＜｛0.4・(λ
／NA）／ＶL｝ NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする光ディスクのスキュー検出装
置。 - 【請求項１１】 前記第１乗算手段は、前記第１加算値
の値が０以外の値であると判別された場合にのみ第１イ
ネーブル信号を発生すると共に、前記第１加算値が負極
性である場合は論理値１の第１極性反転信号を発生する
一方前記第１加算値が正極性である場合には論理値０の
前記第１極性反転信号を発生する第１データ判別手段
と、 前記第１イネーブル信号が発生しておりかつ前記第１極
性反転信号が論理値０である場合には前記誤差値を前記
第１乗算値として出力する一方、前記第１イネーブル信
号が発生しておりかつ前記第１極性反転信号が論理値１
である場合には前記誤差値の極性を反転させたものを前
記第１乗算値として出力する第１極性切換手段とからな
り、 前記第２乗算手段は、前記第２加算値の値が０以外の値
であると判別された場合にのみ第２イネーブル信号を発
生すると共に、前記第２加算値が負極性である場合は論
理値１の第２極性反転信号を発生する一方前記第２加算
値が正極性である場合には論理値０の前記第２極性反転
信号を発生する第２データ判別手段と、 前記第２イネーブル信号が発生しておりかつ前記第２極
性反転信号が論理値０である場合には前記誤差値を前記
第２乗算値として出力する一方、前記第２イネーブル信
号が発生しておりかつ前記第２極性反転信号が論理値１
である場合には前記誤差値の極性を反転させたものを前
記第２乗算値として出力する第２極性切換手段とからな
ることを特徴とする請求項１０記載の光ディスクのスキ
ュー検出装置。 - 【請求項１２】 読取線速度ＶLとなるように回転駆動
される光ディスクの記録面に波長λの読取ビームを照射
した際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したも
のを読取信号として得るピックアップと前記光ディスク
の記録面との間に生じているタンジェンシャルスキュー
を検出する光ディスクのスキュー検出装置であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列を所定の第１遅延時間だけ遅延させて順次出力する
第１遅延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値を更に所定の第２遅
延時間だけ遅延させて順次出力する第２遅延手段と、 前記第２遅延手段から出力された値を更に前記第２遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第３遅延手段と、 前記第３遅延手段から出力された値を更に前記第１遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第４遅延手段と、 前記第２遅延手段から出力された値の誤差値を検出する
誤差検出手段と、 前記読取サンプル系列の各読取サンプル値に前記誤差値
を乗算して第１乗算値を得る第１乗算手段と、 前記第３遅延手段から出力された値に前記誤差値を乗算
して第２乗算値を得る第２乗算手段と、 前記第１遅延手段から出力された値に前記誤差値を乗算
して第３乗算値を得る第３乗算手段と、 前記第４遅延手段から出力された値に前記誤差値を乗算
して第４乗算値を得る第４乗算手段と、 前記第４乗算値及び前記第３乗算値同士を重み付け加算
して第１加算値を得る第１重み付け加算手段と、 前記第２乗算値及び前記第１乗算値同士を重み付け加算
して第２加算値を得る第２重み付け加算手段と、 前記第１加算値から前記第２加算値を減算した値に基づ
いて前記タンジェンシャルスキューを表すスキュー検出
信号を得る減算器とからなり、 前記第１遅延時間及び前記第２遅延時間は、夫々、 【数７】｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第１遅延時間 ＜
｛0.6・(λ／NA）／ＶL｝ ｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第２遅延時間 ＜｛0.4・(λ
／NA）／ＶL｝ NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする光ディスクのスキュー検出装
置。 - 【請求項１３】 読取線速度ＶLとなるように回転駆動
される光ディスクの記録面に波長λの読取ビームを照射
した際の反射光を受光してこれを電気信号に変換したも
のを読取信号として得るピックアップと前記光ディスク
の記録面との間に生じているタンジェンシャルスキュー
を検出する光ディスクのスキュー検出装置であって、 前記読取信号をサンプリングして得られた読取サンプル
系列を所定の第１遅延時間だけ遅延させて順次出力する
第１遅延手段と、 前記第１遅延手段から出力された値を更に所定の第２遅
延時間だけ遅延させて順次出力する第２遅延手段と、 前記第２遅延手段から出力された値を更に前記第２遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第３遅延手段と、 前記第３遅延手段から出力された値を更に前記第１遅延
時間だけ遅延させて順次出力する第４遅延手段と、 前記第２遅延手段から出力された値の誤差値を検出する
誤差検出手段と、 前記第１遅延手段から出力された値及び前記第４遅延手
段から出力された値同士を重み付け加算して第１加算値
を得る第１重み付け加算手段と、 前記読取サンプル系列の各読取サンプル値及び前記第３
遅延手段から出力された値同士を重み付け加算して第２
加算値を得る第２重み付け加算手段と、 前記第１加算値から前記第２加算値を減算して減算値を
得る減算器と、 前記減算値に前記誤差値を乗算して得られた値に基づい
て前記タンジェンシャルスキューを表すスキュー検出信
号を得る乗算手段とからなり、 前記第１遅延時間及び前記第２遅延時間は、夫々、 【数８】｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第１遅延時間 ＜
｛0.6・(λ／NA）／ＶL｝ ｛0.3・(λ／NA）／ＶL｝＜ 第２遅延時間 ＜｛0.4・(λ
／NA）／ＶL｝ NA：前記ピックアップの対物レンズの開口数 であることを特徴とする光ディスクのスキュー検出装
置。 - 【請求項１４】 前記乗算手段は、前記減算値が０以外
の値であると判別された場合にのみイネーブル信号を発
生すると共に前記減算値が負極性である場合は論理値１
の極性反転信号を発生する一方、前記減算値が正極性で
ある場合は論理値０の前記極性反転信号を発生するデー
タ判別手段と、 前記イネーブル信号が発生しておりかつ前記極性反転信
号が論理値０である場合には前記誤差値を前記スキュー
検出信号として出力する一方、前記イネーブル信号が発
生しておりかつ前記極性反転信号が論理値１である場合
には前記誤差値の極性を反転させたものを前記スキュー
検出信号として出力する極性切換手段とからなることを
特徴とする請求項１３記載の光ディスクのスキュー検出
装置。 - 【請求項１５】 前記誤差検出手段は、前記第２遅延手
段から出力された値の内から、ゼロクロス点に最も近い
時点に得られた値を抽出してこれを前記誤差値とするこ
とを特徴とする請求項１０、１２及び１３記載の光ディ
スクのスキュー検出装置。 - 【請求項１６】 光ディスクの記録面と、前記記録面に
読取ビームを照射した際の反射光に基づいて前記光ディ
スクから記録情報の読み取りを行って読取信号を得るピ
ックアップとの間に生じているスキューを検出するスキ
ュー検出方法であって、 前記読取信号と予測値との誤差値、及び前記読取信号が
得られた前記光ディスク上の位置から所定距離だけ離れ
た位置にて前記ピックアップが読み取りを行った際に得
られた読取信号に基づいて前記光ディスクの記録面と前
記ピックアップとの間に生じているスキューを検出する
ことを特徴とする光ディスクのスキュー検出方法。 - 【請求項１７】 前記所定距離は、前記スキューの影
響により前記読取ビームのビームスポット形状がそのビ
ームスポットの中心に対して非対称となった位置から前
記ビームスポット中心までの距離であることを特徴とす
る請求項１６記載のスキュー検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20675197A JPH1097728A (ja) | 1996-08-01 | 1997-07-31 | 光ディスクのスキュー検出方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8-203956 | 1996-08-01 | ||
| JP20395696 | 1996-08-01 | ||
| JP20675197A JPH1097728A (ja) | 1996-08-01 | 1997-07-31 | 光ディスクのスキュー検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1097728A true JPH1097728A (ja) | 1998-04-14 |
Family
ID=26514197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20675197A Pending JPH1097728A (ja) | 1996-08-01 | 1997-07-31 | 光ディスクのスキュー検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1097728A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100403925B1 (ko) * | 2001-03-31 | 2003-10-30 | 삼성전기주식회사 | 틸트 검출장치 및 틸트 검출방법 |
-
1997
- 1997-07-31 JP JP20675197A patent/JPH1097728A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100403925B1 (ko) * | 2001-03-31 | 2003-10-30 | 삼성전기주식회사 | 틸트 검출장치 및 틸트 검출방법 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3958269B2 (ja) | 復調装置およびこれを有するデータ記録装置 | |
| WO2000046802A1 (fr) | Circuit d'egalisation adaptatif | |
| US5508993A (en) | Digital signal reproducing apparatus using a Viterbi decoder | |
| JPH1186442A (ja) | 情報再生装置 | |
| US6167008A (en) | Skew detecting method and apparatus for optical disc | |
| JPH06295540A (ja) | ディジタル信号検出回路 | |
| JPH1091964A (ja) | 記録情報再生装置の適応等化器 | |
| JPH11259986A (ja) | 波形等化器及びこれを用いたデータ再生装置 | |
| US6163518A (en) | Crosstalk eliminating method for use in a recorded information reproducing apparatus | |
| JPH1097728A (ja) | 光ディスクのスキュー検出方法 | |
| JP4191962B2 (ja) | 記録媒体判別装置およびその方法 | |
| JP2005353153A (ja) | 位相差検出回路及びその位相差検出回路を有する光ディスク装置 | |
| JP2000113595A (ja) | クロストーク除去方法、およびクロストーク除去装置 | |
| JP4387422B2 (ja) | 信号再生装置 | |
| US7342854B2 (en) | Apparatus for generating tracking error signals | |
| JP3826388B2 (ja) | 光ディスク装置及び光ディスクのアクセス方法 | |
| JPH10198981A (ja) | 光学的情報再生装置 | |
| JPH08249665A (ja) | 光ディスクプレーヤ及び光ディスク | |
| JPH056619A (ja) | デジタルデータ記録および再生装置 | |
| JP3983450B2 (ja) | 再生装置と再生回路 | |
| JP3428525B2 (ja) | 記録情報再生装置 | |
| JP2002304818A (ja) | 再生装置 | |
| KR100272542B1 (ko) | 디지탈디스크의비트데이타재생방법 | |
| JPH0850764A (ja) | 光ディスク再生装置 | |
| JP2002197666A (ja) | 記録情報再生装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041117 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050309 |