JPH1092790A - Substrate treatment device - Google Patents

Substrate treatment device

Info

Publication number
JPH1092790A
JPH1092790A JP26514496A JP26514496A JPH1092790A JP H1092790 A JPH1092790 A JP H1092790A JP 26514496 A JP26514496 A JP 26514496A JP 26514496 A JP26514496 A JP 26514496A JP H1092790 A JPH1092790 A JP H1092790A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
pair
processing liquid
processing
cover
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP26514496A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3431419B2 (en
Inventor
Tokuyuki Hayashi
徳幸 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP26514496A priority Critical patent/JP3431419B2/en
Publication of JPH1092790A publication Critical patent/JPH1092790A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3431419B2 publication Critical patent/JP3431419B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate treatment device capable of preventing lowering of a treatment quality due to uneven drying of the substrate. SOLUTION: A substrate carrier device 21 is provided with a running member 23 capable of reciprocating running in the X-direction, a supporting member 24 capable of vertically traveling to the running member 23 and a pair of chucks 25 supported by a supporting member 24. A pair of the chuck members 25 have a pair of rotary axes 26 allowing pivotal rotation on the respective supporting members 24, supporting rods 27 hanging from a pair of pivots 26 and substrates holding rods 28 installed between the supporting rods 27. Holding grooves for holding side edges of a plurality of substrates W are notched on the respective holding rods 28. Then, a pair of covers 30 are provided on a pair of rotary axes 26 for covering the upper part of the substrate W held by the chucks and shielding an air current due to a down flow.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハや
液晶表示パネル用ガラス基板あるいは半導体製造装置用
ガラス基板等の基板を処理液槽に貯留された処理液中に
浸漬して処理する基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for immersing a substrate such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display panel, or a glass substrate for a semiconductor manufacturing apparatus in a processing solution stored in a processing solution tank. About.

【0002】[0002]

【従来の技術】このような基板処理装置においては、図
7に示すように、基板Wを基板搬送装置2のチャック3
により保持した状態で搬送し、この基板Wを処理液槽に
貯留された処理液中に浸漬してその表面を処理するよう
に構成されている。そして、このような基板処理装置に
おいては、大気中のパーティクルや処理液から発生する
ミスト等を装置外に速やかに排出するため、気流発生手
段により、ダウンフローと呼称される処理液槽の上方か
ら流下する清浄な気体の流れを発生させるように構成さ
れている。
2. Description of the Related Art In such a substrate processing apparatus, as shown in FIG.
The substrate W is transported in a state of being held, and the surface of the substrate W is processed by immersing the substrate W in a processing liquid stored in a processing liquid tank. In such a substrate processing apparatus, in order to quickly discharge particles in the atmosphere, mist generated from the processing liquid, and the like to the outside of the apparatus, an airflow generating unit is used to perform a process from above a processing liquid tank called a downflow. It is configured to generate a flowing clean gas flow.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】基板Wが処理液槽に貯
留された処理液から引き上げられている状態や基板Wが
基板搬送装置2により搬送されている状態において、基
板Wにダウンフローによる気流が当たった場合には、基
板Wの表面において処理液の乾燥が促進され、図7に示
すように、基板Wの上方から下方に向かって順次乾燥が
進行する。なお、図7に示す基板Wの斜線部分は処理液
が未だ乾燥していない領域を示し、それ以外の部分は処
理液が既に乾燥している領域を示す。
When the substrate W is pulled up from the processing liquid stored in the processing liquid tank or when the substrate W is being transported by the substrate transport device 2, the airflow caused by the downflow to the substrate W is reduced. , The drying of the processing liquid is promoted on the surface of the substrate W, and the drying proceeds sequentially from above the substrate W downward as shown in FIG. Note that the hatched portion of the substrate W shown in FIG. 7 indicates a region where the processing liquid has not been dried yet, and the other portion indicates a region where the processing liquid has already been dried.

【0004】このように、基板Wの表面に付着した処理
液が上方から下方に向かって順次乾燥した場合には、基
板Wの処理品質が低下するという問題が生ずる。例え
ば、処理液としてフッ酸等のエッチング液を使用した場
合においては、基板Wの表面における乾燥した領域と乾
燥していない領域においてエッチング量に差が生じ、エ
ッチング処理後の処理の均一性が損なわれる。また、処
理液として純水を使用した場合においては、基板Wの表
面における乾燥した領域と乾燥していない領域の境界部
分で基板W表面の酸化が生じ、その結果基板Wの表面に
不要な酸化膜が生成される。
As described above, when the processing liquid adhered to the surface of the substrate W is sequentially dried from the upper side to the lower side, there is a problem that the processing quality of the substrate W is deteriorated. For example, when an etching solution such as hydrofluoric acid is used as the processing solution, a difference occurs in the amount of etching between a dry region and a non-dried region on the surface of the substrate W, and the uniformity of the process after the etching process is impaired. It is. Further, when pure water is used as the treatment liquid, oxidation of the surface of the substrate W occurs at the boundary between the dried region and the non-dried region on the surface of the substrate W. A film is generated.

【0005】この発明は上記課題を解決するためになさ
れたものであり、基板Wの不均一な乾燥による処理品質
の低下を防止することができる基板処理装置を提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and has as its object to provide a substrate processing apparatus capable of preventing a reduction in processing quality due to uneven drying of a substrate W.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明は、基板を処理
するための処理液を貯留する処理液槽と、そこに保持し
た基板を前記処理液槽に浸漬することにより当該基板を
処理するとともに、処理の終了した基板を前記処理液槽
から次の処理部に搬送する基板搬送装置と、前記処理液
槽の上方から流下する気流を発生させる気流発生手段と
を有する基板処理装置において、前記搬送手段に保持さ
れた基板の上方位置に、前記気流を遮蔽するためのカバ
ーを配設したことを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a processing liquid tank for storing a processing liquid for processing a substrate, and a method for processing the substrate by immersing the substrate held therein in the processing liquid tank. A substrate transport apparatus that transports the processed substrate from the processing liquid tank to the next processing unit; and an airflow generating unit that generates an airflow that flows down from above the processing liquid tank. A cover for shielding the air flow is provided above the substrate held by the means.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を図面に基
づいて説明する。図1はこの発明に係る基板処理装置の
概要図であり、図2は基板搬送装置21の斜視図であ
る。なお、この実施の形態においては、略円形の半導体
基板Wを処理する基板処理装置にこの発明を適用してい
る。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view of a substrate processing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of a substrate transfer apparatus 21. In this embodiment, the present invention is applied to a substrate processing apparatus that processes a substantially circular semiconductor substrate W.

【0008】これらの図において、12は処理液を貯留
した処理液槽である。処理液槽12に貯留された処理液
は、ポンプ13の作用により、オーバフロー槽14およ
びフィルター15を介して循環する。
In these figures, reference numeral 12 denotes a processing liquid tank storing a processing liquid. The processing liquid stored in the processing liquid tank 12 is circulated through the overflow tank 14 and the filter 15 by the action of the pump 13.

【0009】処理液槽12の上方には、図示しないファ
ン等により発生した気流を通過させることにより清浄な
ダウンフローを形成するためのフィルター16が配設さ
れている。ダウンフローによる清浄な気体の流れは、図
1において矢印で示すように、フィルター16から流下
し、処理装置内で発生したパーティクルや処理液のミス
トとともに処理装置外に強制排気される。
Above the treatment liquid tank 12, a filter 16 for forming a clean downflow by passing an air flow generated by a fan or the like (not shown) is provided. The flow of the clean gas due to the downflow flows down from the filter 16 as indicated by an arrow in FIG. 1 and is forcibly exhausted to the outside of the processing apparatus together with particles and processing liquid mist generated in the processing apparatus.

【0010】基板処理装置内には基板搬送装置21が配
設されている。この基板搬送装置21は、基板搬送装置
21の通路22内を図2に示すX方向(図1における紙
面に垂直な方向)に往復走行可能な走行部材23と、走
行部材23に対して上下移動可能な支持部材24と、支
持部材24に支持された一対のチャック25とを有す
る。
A substrate transfer device 21 is provided in the substrate processing apparatus. The substrate transfer device 21 is capable of reciprocating in the X direction shown in FIG. 2 (a direction perpendicular to the plane of FIG. 1) in the passage 22 of the substrate transfer device 21, and is vertically moved relative to the travel member 23. It has a possible support member 24 and a pair of chucks 25 supported by the support member 24.

【0011】一対のチャック25は、それぞれ、支持部
材24に軸止されて回動可能な一対の回転軸26と、一
対の回転軸26から垂下する支持棒27と、支持棒27
間に架設された基板保持棒28とを有する。各基板保持
棒28には、複数の基板Wの側縁を保持するための保持
溝が刻設されている。そして、一対の回転軸26には、
チャックに保持された基板Wの上方を覆う一対の板状の
カバー30が配設されている。
Each of the pair of chucks 25 includes a pair of rotation shafts 26 rotatably supported by the support member 24, a support rod 27 hanging from the pair of rotation shafts 26, and a support rod 27.
And a substrate holding rod 28 provided therebetween. Each substrate holding rod 28 is provided with a holding groove for holding the side edges of the plurality of substrates W. And, on the pair of rotating shafts 26,
A pair of plate-shaped covers 30 that cover the upper part of the substrate W held by the chuck is provided.

【0012】この基板搬送装置21により基板Wを保持
した状態で、基板Wを処理液槽12に浸漬した後処理液
槽12から引き上げ、あるいは、処理液槽12から図示
しない次の処理部である処理液槽や乾燥装置に搬送する
場合においては、基板搬送装置21に保持された複数の
基板W上方位置にはカバー30が配設されていることか
ら、フィルター15から流下するダウンフローによる気
流はこのカバー30により遮られる。このため、ダウン
フローによる気流により基板W表面に付着した処理液の
乾燥が促進され、基板Wの上方の領域のみが乾燥するこ
とに起因する基板Wの処理品質の低下を防止することが
できる。
With the substrate W held by the substrate transfer device 21, the substrate W is immersed in the processing liquid tank 12 and then pulled up from the processing liquid tank 12, or the next processing unit (not shown) from the processing liquid tank 12. In the case of transporting to a processing liquid tank or a drying device, since the cover 30 is provided at a position above the plurality of substrates W held by the substrate transport device 21, the airflow due to the downflow flowing down from the filter 15 is reduced. The cover 30 blocks the light. For this reason, the drying of the processing liquid attached to the surface of the substrate W is promoted by the airflow due to the downflow, and it is possible to prevent the processing quality of the substrate W from deteriorating due to the drying of only the region above the substrate W.

【0013】なお、この実施形態においては、一対のカ
バー30を、一対のチャック25における処理液槽12
に貯留された処理液に侵入しない部分たる一対の回転軸
26に配設している。このため、基板Wを処理液槽12
中に浸漬する場合においても、カバー30が処理液中に
侵入することはない。なお、一対のカバー30にかえ
て、支持部材24に片持ち式に付設された単一のカバー
を使用してもよい。
In this embodiment, the pair of covers 30 are connected to the processing liquid tanks 12 of the pair of chucks 25.
Are disposed on a pair of rotating shafts 26 which are portions that do not enter the processing liquid stored in the rotary shaft 26. Therefore, the substrate W is stored in the processing liquid tank 12.
Even in the case of immersion, the cover 30 does not enter the processing liquid. It should be noted that a single cover attached to the support member 24 in a cantilever manner may be used instead of the pair of covers 30.

【0014】次に、この発明の他の実施形態について説
明する。図3は第2実施形態に係る基板搬送装置41の
斜視図である。なお、図2に示す基板搬送装置21と同
一の部材については同一の符号を付して説明を省略す
る。
Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 is a perspective view of the substrate transfer device 41 according to the second embodiment. The same members as those of the substrate transfer device 21 shown in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0015】この基板搬送装置41は、一方のチャック
25に、さらにカバー42を配設した点が図2に示す基
板搬送装置21と異なる。すなわち、この基板搬送装置
41においては、処理液槽12中に浸漬された基板Wを
基板搬送装置41の一対のチャック25により保持して
引き上げた後、この基板搬送装置41を走行させて基板
Wを搬送する場合において、基板搬送装置41の進行方
向の上流側に位置するチャック25に複数の基板Wの前
方を覆うカバー42を配設することにより、基板Wが移
動する際に生ずる気流が基板Wに当たることを防止した
ものである。
The substrate transfer apparatus 41 differs from the substrate transfer apparatus 21 shown in FIG. 2 in that a cover 42 is further provided on one chuck 25. That is, in the substrate transfer device 41, the substrate W immersed in the processing liquid tank 12 is held by the pair of chucks 25 of the substrate transfer device 41 and pulled up, and then the substrate transfer device 41 is moved to move the substrate W In the case of transporting the substrate W, the cover 42 that covers the front of the plurality of substrates W is disposed on the chuck 25 located on the upstream side in the traveling direction of the substrate transport device 41, so that the air current generated when the substrate W moves W is prevented from hitting.

【0016】この基板搬送装置41によれば、図2に示
す第1実施形態に係る基板搬送装置21同様、基板Wの
上方の領域のみが乾燥することに起因する基板Wの処理
品質の低下を防止することができ、さらに、基板Wが移
動する際に生じる気流により基板Wの走行方向上流側の
領域の乾燥が促進されることに起因する基板Wの処理品
質の低下をも防止することができる。
According to the substrate transfer apparatus 41, similarly to the substrate transfer apparatus 21 according to the first embodiment shown in FIG. 2, the processing quality of the substrate W due to the drying of only the region above the substrate W is reduced. Further, it is possible to prevent a decrease in the processing quality of the substrate W caused by the promotion of drying of the region on the upstream side in the traveling direction of the substrate W by the air current generated when the substrate W moves. it can.

【0017】次に、この発明のさらに他の実施形態につ
いて説明する。図4は第3実施形態に係る基板搬送装置
51の斜視図である。なお、図2に示す基板搬送装置2
1と同一の部材については同一の符号を付して説明を省
略する。
Next, still another embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a perspective view of the substrate transfer device 51 according to the third embodiment. Note that the substrate transfer device 2 shown in FIG.
The same members as 1 are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0018】この基板搬送装置61は、一対のチャック
25配設されたカバー30に換えて、基板Wの外周部の
曲率に対応して湾曲した一対のカバー60を、基板Wに
近接させた状態で支持棒27に付設した点が図2に示す
基板搬送装置21と異なる。この基板搬送装置61にお
いては、カバー60を一対のチャック25に保持された
基板Wにより近接させて配置することができることか
ら、ダウンフローによる気流をより有効に遮蔽すること
ができる。
In the substrate transfer device 61, a pair of covers 60 curved in accordance with the curvature of the outer peripheral portion of the substrate W are brought close to the substrate W in place of the cover 30 provided with the pair of chucks 25. 2 is different from the substrate transfer device 21 shown in FIG. In the substrate transfer device 61, since the cover 60 can be disposed closer to the substrate W held by the pair of chucks 25, the airflow due to the downflow can be more effectively shielded.

【0019】上述した実施の形態においては、カバー3
0および60として、チャック25に保持された基板W
の上方全域を遮蔽する形状のものを使用した場合につい
て説明したが、基板Wの上方位置において基板Wの一部
を覆う構成としてもよい。すなわち、ダウンフローによ
る気流の作用により、基板Wの上端部から順次乾燥が進
行することを考慮すると、基板Wとして略円形の半導体
基板等を使用する場合においては、図5に示すように、
少なくともその上端部を含む領域を覆うことのできるカ
バー70を使用することにより、基板Wの上端部からの
乾燥の進行を防止することもできる。また、基板Wとし
て角形の液晶表示パネル用ガラス基板等を使用し、これ
を傾斜させて搬送する場合においては、図6に示すよう
に、少なくとも基板Wの上端の角部を含む領域を覆うこ
とのできるカバー80を使用することにより、基板Wの
上端部からの乾燥の進行を防止することもできる。
In the above-described embodiment, the cover 3
The substrate W held on the chuck 25 as 0 and 60
Although the case where a shape that shields the whole area above the substrate W is used has been described, a configuration in which a part of the substrate W is covered at a position above the substrate W may be used. That is, considering that the drying proceeds sequentially from the upper end of the substrate W due to the action of the airflow due to the downflow, when a substantially circular semiconductor substrate or the like is used as the substrate W, as shown in FIG.
By using the cover 70 that can cover at least the region including the upper end portion, the progress of drying from the upper end portion of the substrate W can also be prevented. In the case where a rectangular glass substrate for a liquid crystal display panel or the like is used as the substrate W and is transported while being inclined, at least a region including a corner at the upper end of the substrate W should be covered as shown in FIG. By using the cover 80 that can be used, the progress of drying from the upper end of the substrate W can be prevented.

【0020】また、上述した実施の形態においては、い
ずれも、カバー30、60、70、80として、気流を
完全に遮蔽しうるものを使用しているが、カバー30、
60、70、80として例えば網状のものや多孔性のも
のを使用し、気流の一部を遮蔽するようにしてもよい。
この明細書における遮蔽とは、このような形態をも含む
概念である。
In each of the above-described embodiments, the covers 30, 60, 70, and 80 are each capable of completely blocking the air flow.
For example, nets or porous members may be used as the members 60, 70, and 80 to block a part of the airflow.
The shielding in this specification is a concept including such a form.

【0021】また、上述した実施の形態においては、い
ずれも、基板Wを直接搬送装置21、41、51により
保持して搬送する場合について説明したが、基板Wをカ
セット内に収納し、このカセットを搬送装置により保持
して搬送するようにしてもよい。
In each of the above-described embodiments, a case has been described in which the substrate W is directly held and transported by the transport devices 21, 41, and 51. However, the substrate W is stored in a cassette, and May be held and transported by the transport device.

【0022】さらに、上述した第1〜第3実施形態にお
いては、半導体基板を処理する基板処理装置にこの発明
を適用した場合について説明したが、この発明を液晶表
示パネル用ガラス基板や半導体製造装置用ガラス基板等
の基板を処理する基板処理装置に適用することも可能で
ある。
Further, in the first to third embodiments described above, the case where the present invention is applied to a substrate processing apparatus for processing a semiconductor substrate has been described. However, the present invention is applied to a glass substrate for a liquid crystal display panel or a semiconductor manufacturing apparatus. It can also be applied to a substrate processing apparatus that processes a substrate such as a glass substrate for use.

【0023】[0023]

【発明の効果】この発明に係る基板処理装置によれば、
搬送手段に保持された基板の上方位置に前記気流を遮蔽
するためのカバーを配設していることから、下降気流に
より基板表面に付着した処理液の乾燥が促進され基板の
上方の領域のみが乾燥することに起因する基板の処理品
質の低下を防止することができる。
According to the substrate processing apparatus of the present invention,
Since the cover for shielding the airflow is disposed above the substrate held by the transporting means, drying of the processing liquid attached to the substrate surface by the downward airflow is promoted, and only the region above the substrate is dried. It is possible to prevent the processing quality of the substrate from deteriorating due to drying.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係る基板処理装置の概要図である。FIG. 1 is a schematic diagram of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】第1実施形態に係る基板搬送装置21の斜視図
である。
FIG. 2 is a perspective view of the substrate transfer device 21 according to the first embodiment.

【図3】第2実施形態に係る基板搬送装置41の斜視図
である。
FIG. 3 is a perspective view of a substrate transfer device 41 according to a second embodiment.

【図4】第3実施形態に係る基板搬送装置51の斜視図
である。
FIG. 4 is a perspective view of a substrate transfer device 51 according to a third embodiment.

【図5】カバーの変形例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory view showing a modification of the cover.

【図6】カバーの変形例を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory view showing a modification of the cover.

【図7】従来の基板搬送装置2の概要図である。FIG. 7 is a schematic view of a conventional substrate transfer device 2.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 処理液槽 16 フィルター 21 基板搬送装置 30 カバー 41 基板搬送装置 42 カバー 51 基板搬送装置 60 カバー 70 カバー 80 カバー W 基板 Reference Signs List 12 treatment liquid tank 16 filter 21 substrate transfer device 30 cover 41 substrate transfer device 42 cover 51 substrate transfer device 60 cover 70 cover 80 cover W substrate

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を処理するための処理液を貯留する
処理液槽と、そこに保持した基板を前記処理液槽に浸漬
することにより当該基板を処理するとともに、処理の終
了した基板を前記処理液槽から次の処理部に搬送する基
板搬送装置と、前記処理液槽の上方から流下する気流を
発生させる気流発生手段とを有する基板処理装置におい
て、 前記搬送手段に保持された基板の上方位置に、前記気流
を遮蔽するためのカバーを配設したことを特徴とする基
板処理装置。
1. A processing liquid tank for storing a processing liquid for processing a substrate, and the substrate held in the processing liquid tank is immersed in the processing liquid tank to process the substrate. In a substrate processing apparatus having a substrate transfer device that transfers a processing liquid from a processing liquid tank to a next processing unit, and an airflow generating unit that generates an airflow that flows down from above the processing liquid tank, A substrate processing apparatus, wherein a cover for shielding the airflow is provided at a position.
JP26514496A 1996-09-13 1996-09-13 Substrate processing equipment Expired - Fee Related JP3431419B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26514496A JP3431419B2 (en) 1996-09-13 1996-09-13 Substrate processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26514496A JP3431419B2 (en) 1996-09-13 1996-09-13 Substrate processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1092790A true JPH1092790A (en) 1998-04-10
JP3431419B2 JP3431419B2 (en) 2003-07-28

Family

ID=17413252

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26514496A Expired - Fee Related JP3431419B2 (en) 1996-09-13 1996-09-13 Substrate processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3431419B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6656321B2 (en) 1999-12-03 2003-12-02 Tokyo Electron Limited Liquid processing apparatus and liquid processing method
KR20180005726A (en) * 2018-01-04 2018-01-16 세메스 주식회사 A transferring unit and an apparatus for treating substrate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6656321B2 (en) 1999-12-03 2003-12-02 Tokyo Electron Limited Liquid processing apparatus and liquid processing method
KR20180005726A (en) * 2018-01-04 2018-01-16 세메스 주식회사 A transferring unit and an apparatus for treating substrate

Also Published As

Publication number Publication date
JP3431419B2 (en) 2003-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100886021B1 (en) Solution treatment method and solution treatment unit
JP3563605B2 (en) Processing equipment
JP2004207573A (en) Coating processor
JP3810968B2 (en) Liquid processing apparatus and liquid processing method
JP2002361155A (en) Coating device and its method
JP3818858B2 (en) Liquid processing equipment
JP3730829B2 (en) Development processing method and development processing apparatus
JPH1092790A (en) Substrate treatment device
JP2913363B2 (en) Rotary processing equipment
JP2000174095A (en) Substrate carrying device
JP3200291B2 (en) Cleaning equipment
JP3840388B2 (en) Substrate processing equipment
JP3035450B2 (en) Substrate cleaning method
JP3641707B2 (en) Development processing apparatus and development processing method
JP3253219B2 (en) Cleaning equipment in semiconductor processing system
JP3752136B2 (en) Development processing apparatus and development processing method
JP3211468B2 (en) Developing device and developing method
JPH10284457A (en) Washing system
JP3686241B2 (en) Processing method and processing apparatus
JP2002151404A (en) Peripheral edge removing and processing apparatus
JP3295620B2 (en) Processing equipment
JP3752418B2 (en) Application processing equipment
JP3003017B2 (en) Cleaning equipment
JPH06302585A (en) Method and apparatus for wet treatment of substrate
JP2518355Y2 (en) Immersion type substrate processing equipment

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090523

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees