JPH1090337A - ケーブルの劣化測定方法 - Google Patents
ケーブルの劣化測定方法Info
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- JPH1090337A JPH1090337A JP8265291A JP26529196A JPH1090337A JP H1090337 A JPH1090337 A JP H1090337A JP 8265291 A JP8265291 A JP 8265291A JP 26529196 A JP26529196 A JP 26529196A JP H1090337 A JPH1090337 A JP H1090337A
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- Japan
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- deterioration
- cable
- point
- pulse
- phase cable
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 劣化相ケーブルの劣化点の位置及び劣化程度
を正確かつ容易に検出する。 【構成】 健全相ケーブル１１及び劣化相ケーブル１２
は同長の既設の線路であり、並列して布線され、劣化相
ケーブル１２には劣化点Ｆが存在する。不活線状態にお
ける導体１１ａ、１２ａの近端Ａに試験パルスを注入す
る。健全相ケーブル１１の場合には、近端Ａには遠端Ｂ
やケーブルジョイントにおける反射パルスが戻ってく
る。点Ｆに劣化を有する劣化相ケーブル１２では、注入
したパルスは劣化点Ｆでも一部が反射され、劣化点Ｆに
おける反射パルスが所定時間後に得られる。両ケーブル
１１、１２における反射パルスを差動回路１７を介して
波形観測器１８で観測すると、劣化点Ｆにおける反射パ
ルスのみが抽出される。
を正確かつ容易に検出する。 【構成】 健全相ケーブル１１及び劣化相ケーブル１２
は同長の既設の線路であり、並列して布線され、劣化相
ケーブル１２には劣化点Ｆが存在する。不活線状態にお
ける導体１１ａ、１２ａの近端Ａに試験パルスを注入す
る。健全相ケーブル１１の場合には、近端Ａには遠端Ｂ
やケーブルジョイントにおける反射パルスが戻ってく
る。点Ｆに劣化を有する劣化相ケーブル１２では、注入
したパルスは劣化点Ｆでも一部が反射され、劣化点Ｆに
おける反射パルスが所定時間後に得られる。両ケーブル
１１、１２における反射パルスを差動回路１７を介して
波形観測器１８で観測すると、劣化点Ｆにおける反射パ
ルスのみが抽出される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力ケーブルの劣
化点の位置及び劣化程度の測定を行うケーブルの劣化測
定方法に関するものである。
化点の位置及び劣化程度の測定を行うケーブルの劣化測
定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電力ケーブルに不測の事故が発生した場
合に、この事故点をケーブルの端末からの距離として求
める方法は幾つか知られている。これらは、マーレール
ープ法やマーレーフイシャ法等に代表され、線路の導体
抵抗比を基に平衡条件を求めて測定するブリッジ法と、
進行波パルスの到達時間差を検出して測定するパルスレ
ーダ法に大別される。
合に、この事故点をケーブルの端末からの距離として求
める方法は幾つか知られている。これらは、マーレール
ープ法やマーレーフイシャ法等に代表され、線路の導体
抵抗比を基に平衡条件を求めて測定するブリッジ法と、
進行波パルスの到達時間差を検出して測定するパルスレ
ーダ法に大別される。
【０００３】比較的よく用いられるパルスレーダ法で
は、例えば図３に示すように事故相線１の近端Ａの導体
２にパルス発生器３で生成した試験パルスを送出し、事
故点Ｆで反射されて戻ってくる反射パルスをオシロスコ
ープ４等で観測する。
は、例えば図３に示すように事故相線１の近端Ａの導体
２にパルス発生器３で生成した試験パルスを送出し、事
故点Ｆで反射されて戻ってくる反射パルスをオシロスコ
ープ４等で観測する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例においては、ケーブル途中のジョイント部などでも
反射パルスが発生し、事故点Ｆの位置の特定及びその劣
化程度の大きさの判定は熟練者であっても容易ではな
い。
来例においては、ケーブル途中のジョイント部などでも
反射パルスが発生し、事故点Ｆの位置の特定及びその劣
化程度の大きさの判定は熟練者であっても容易ではな
い。
【０００５】本発明の目的は、上述した従来例の問題点
を解消し、電力ケーブルが事故に至る以前の劣化状態に
おける劣化点の位置及び劣化程度を正確かつ容易に測定
することが可能なケーブルの劣化測定方法を提供するこ
とにある。
を解消し、電力ケーブルが事故に至る以前の劣化状態に
おける劣化点の位置及び劣化程度を正確かつ容易に測定
することが可能なケーブルの劣化測定方法を提供するこ
とにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係るケーブルの劣化測定方法は、劣化点を
有する劣化相ケーブルと該劣化相ケーブルに並設した健
全相ケーブルとのそれぞれの導体に不活線状態において
同時に試験パルスを注入して、前記両ケーブル線路に注
入した試験パルスと線路中で戻ってくる反射パルス同士
を差動的に検出し、得られた反射パルスの伝送時間及び
振幅から前記劣化相ケーブルの劣化位置及びその劣化程
度を求めることを特徴とする。
めの本発明に係るケーブルの劣化測定方法は、劣化点を
有する劣化相ケーブルと該劣化相ケーブルに並設した健
全相ケーブルとのそれぞれの導体に不活線状態において
同時に試験パルスを注入して、前記両ケーブル線路に注
入した試験パルスと線路中で戻ってくる反射パルス同士
を差動的に検出し、得られた反射パルスの伝送時間及び
振幅から前記劣化相ケーブルの劣化位置及びその劣化程
度を求めることを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明による測定法を、図１、図
２に図示の実施例に基づいて詳細に説明する。図１はこ
の測定法の説明図であり、健全相ケーブル１１及び劣化
相ケーブル１２は同長の既設の線路であり、並列して布
線され、劣化相ケーブル１２には劣化点Ｆが存在するも
のとする。ケーブル１１、１２の導体１１ａ、１２ａ
は、絶縁層１１ｂ、１２ｂを介在して金属遮蔽層１１
ｃ、１２ｃによって包囲されている。不活線状態におけ
る導体１１ａ、１２ａに試験パルスを注入するために、
パルス発生器１３、注入インピーダンス１４ａ、１４ｂ
を導体１１ａ、１２ａに近端Ａにおいて接続する。ま
た、近端Ａにおいて、導体１１ａ、１２ａを検出インピ
ーダンス１５、１６を介して差動回路１７を接続し、こ
の差動回路１７の出力をオシロスコープなどの波形観測
器１８に接続する。
２に図示の実施例に基づいて詳細に説明する。図１はこ
の測定法の説明図であり、健全相ケーブル１１及び劣化
相ケーブル１２は同長の既設の線路であり、並列して布
線され、劣化相ケーブル１２には劣化点Ｆが存在するも
のとする。ケーブル１１、１２の導体１１ａ、１２ａ
は、絶縁層１１ｂ、１２ｂを介在して金属遮蔽層１１
ｃ、１２ｃによって包囲されている。不活線状態におけ
る導体１１ａ、１２ａに試験パルスを注入するために、
パルス発生器１３、注入インピーダンス１４ａ、１４ｂ
を導体１１ａ、１２ａに近端Ａにおいて接続する。ま
た、近端Ａにおいて、導体１１ａ、１２ａを検出インピ
ーダンス１５、１６を介して差動回路１７を接続し、こ
の差動回路１７の出力をオシロスコープなどの波形観測
器１８に接続する。
【０００８】ケーブルのサージインピーダンスZ0は、ケ
ーブルの長さをＬ、静電容量をＣとすると、 Z0＝（Ｌ／Ｃ)1/2 …(1) の式で表される。この場合の劣化相ケーブル１２の劣化
点Ｆにおける劣化点インピーダンスをZ1とすると、劣化
点Ｆにおける電気パルスの反射係数ｍは、 ｍ＝（Z1−Z0）／（Z1＋Z0） …(2) の式で表される。
ーブルの長さをＬ、静電容量をＣとすると、 Z0＝（Ｌ／Ｃ)1/2 …(1) の式で表される。この場合の劣化相ケーブル１２の劣化
点Ｆにおける劣化点インピーダンスをZ1とすると、劣化
点Ｆにおける電気パルスの反射係数ｍは、 ｍ＝（Z1−Z0）／（Z1＋Z0） …(2) の式で表される。
【０００９】健全相ケーブル１１の場合には、パルス発
生器１３から注入インピーダンス１４ａを介して、近端
Ａで導体１１ａに数μＳの幅のパルスPaのパルスを注入
し、伝播時間を横軸にとると、検出インピーダンス１５
には図２(a) に示すような時間軸に対する反射パルスが
現れる。即ち、近端Ａには遠端Ｂやケーブルジョイント
Ｊにおける反射パルスPb、Pjが戻り、例えば遠端Ｂから
の反射パルスPbは時間t1後に戻ってくる。パルスの伝播
速度ｖは一定であるから、パルスの伝播時間t1は近端Ａ
から反射点までの距離に比例する。ここで、遠端Ｂの反
射点までの距離をＬとすると、 Ｌ＝ｖ・t1／2 …(3) という式が成立する。
生器１３から注入インピーダンス１４ａを介して、近端
Ａで導体１１ａに数μＳの幅のパルスPaのパルスを注入
し、伝播時間を横軸にとると、検出インピーダンス１５
には図２(a) に示すような時間軸に対する反射パルスが
現れる。即ち、近端Ａには遠端Ｂやケーブルジョイント
Ｊにおける反射パルスPb、Pjが戻り、例えば遠端Ｂから
の反射パルスPbは時間t1後に戻ってくる。パルスの伝播
速度ｖは一定であるから、パルスの伝播時間t1は近端Ａ
から反射点までの距離に比例する。ここで、遠端Ｂの反
射点までの距離をＬとすると、 Ｌ＝ｖ・t1／2 …(3) という式が成立する。
【００１０】次に、点Ｆに劣化を有する劣化相ケーブル
１２では、上述したようにその劣化点Ｆの劣化点インピ
ーダンスZ1がサージインピーダンスZ0と異なると、近端
Ａから注入したパルスPaは健全相ケーブル１１と同様に
ケーブルジョイントＪ、遠端Ｂで反射されると共に、劣
化点Ｆにおいても一部が反射され、検出インピーダンス
１６には図２(b) に示すような劣化点Ｆにおける反射パ
ルスPfが時間t2後に得られることになる。また、遠端Ｂ
からの反射パルスPb等も得られる。近端Ａから劣化点Ｆ
までの距離Lfは、(3) 式と同様に、 Lf＝ｖ・t2／2 …(4) という関係式が成り立つ。従って、(3) 、(4) 式から、 Lf＝（Ｌ／t1）・t2 …(5) なる式が導出される。
１２では、上述したようにその劣化点Ｆの劣化点インピ
ーダンスZ1がサージインピーダンスZ0と異なると、近端
Ａから注入したパルスPaは健全相ケーブル１１と同様に
ケーブルジョイントＪ、遠端Ｂで反射されると共に、劣
化点Ｆにおいても一部が反射され、検出インピーダンス
１６には図２(b) に示すような劣化点Ｆにおける反射パ
ルスPfが時間t2後に得られることになる。また、遠端Ｂ
からの反射パルスPb等も得られる。近端Ａから劣化点Ｆ
までの距離Lfは、(3) 式と同様に、 Lf＝ｖ・t2／2 …(4) という関係式が成り立つ。従って、(3) 、(4) 式から、 Lf＝（Ｌ／t1）・t2 …(5) なる式が導出される。
【００１１】両ケーブル１１、１２における反射パルス
Pb、Pj、Pfを差動回路１７を介して波形観測器１８で観
測すると、遠端Ｂの位置やジョイント部の位置は両ケー
ブル１１、１２で共通しているので、これらの個所にお
ける反射波Pb、Pjはほぼ打ち消される。そして、図２
(c) に示すような劣化点Ｆにおける反射パルスPfのみが
抽出される。なお、実際には不活線状態であっても隣接
する活線ケーブルからの電磁誘導によって、信号中に商
用周波数等の基本波が重畳されることがあるので、ハイ
パスフィルタによって基本波及び数次までの高調波を除
去するようにすることが好ましい。
Pb、Pj、Pfを差動回路１７を介して波形観測器１８で観
測すると、遠端Ｂの位置やジョイント部の位置は両ケー
ブル１１、１２で共通しているので、これらの個所にお
ける反射波Pb、Pjはほぼ打ち消される。そして、図２
(c) に示すような劣化点Ｆにおける反射パルスPfのみが
抽出される。なお、実際には不活線状態であっても隣接
する活線ケーブルからの電磁誘導によって、信号中に商
用周波数等の基本波が重畳されることがあるので、ハイ
パスフィルタによって基本波及び数次までの高調波を除
去するようにすることが好ましい。
【００１２】近端Ａから劣化点Ｆまでの距離Lfは、反射
パルスPfが戻ってくる時間t2から求めることができる。
即ち、ケーブル１１、１２の全長Ｌを往復する時間t1を
予め測定しておけば、反射パルスPfの伝播時間t2を測定
するだけで、(5) 式から劣化点Ｆの位置を知ることがで
きる。
パルスPfが戻ってくる時間t2から求めることができる。
即ち、ケーブル１１、１２の全長Ｌを往復する時間t1を
予め測定しておけば、反射パルスPfの伝播時間t2を測定
するだけで、(5) 式から劣化点Ｆの位置を知ることがで
きる。
【００１３】また、劣化が進行すると劣化点インピーダ
ンスZ1がサージインピーダンスZ0と大きく異なり、(2)
式から反射係数ｍも大きくなるので、波形観測器１８で
観察される劣化点Ｆによる反射パルスPfの振幅が大きく
なる。従って、反射パルスPfの振幅値から劣化相ケーブ
ル１２の劣化程度を知ることが可能となる。
ンスZ1がサージインピーダンスZ0と大きく異なり、(2)
式から反射係数ｍも大きくなるので、波形観測器１８で
観察される劣化点Ｆによる反射パルスPfの振幅が大きく
なる。従って、反射パルスPfの振幅値から劣化相ケーブ
ル１２の劣化程度を知ることが可能となる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るケーブ
ルの劣化測定方法によれば、健全相ケーブルと劣化相ケ
ーブルに同時に試験パルスを注入し、両反射パルスを差
動的に求めて劣化点における反射パルスのみを抽出する
ので、劣化点の位置及び劣化程度を正確かつ容易に検出
することが可能になる。
ルの劣化測定方法によれば、健全相ケーブルと劣化相ケ
ーブルに同時に試験パルスを注入し、両反射パルスを差
動的に求めて劣化点における反射パルスのみを抽出する
ので、劣化点の位置及び劣化程度を正確かつ容易に検出
することが可能になる。
【００１５】また、ケーブル新設布設時において観測し
た波形を健全状態の波形として記憶、保存しておき、経
年時に再び観測した波形と先の保存波形とを差動的又は
重ね合せることにより、劣化位置を測定することもでき
る。
た波形を健全状態の波形として記憶、保存しておき、経
年時に再び観測した波形と先の保存波形とを差動的又は
重ね合せることにより、劣化位置を測定することもでき
る。
【図１】本発明を実施するための構成図である。
【図２】パルスのタイミングチャート図である。
【図３】従来例の構成図である。
１１ 健全相ケーブル １２ 劣化相ケーブル １３ パルス発生器 １５、１６ 検出インピーダンス １７ 差動回路 １８ 波形観測器
フロントページの続き (72)発明者 三浦 昭夫 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工業 株式会社熊谷製作所内 (72)発明者 美納 智次 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工業 株式会社熊谷製作所内 (72)発明者 青木 勝 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工業 株式会社熊谷製作所内
Claims (1)
- 【請求項１】 劣化点を有する劣化相ケーブルと該劣化
相ケーブルに並設した健全相ケーブルとのそれぞれの導
体に不活線状態において同時に試験パルスを注入して、
前記両ケーブル線路に注入した試験パルスと線路中で戻
ってくる反射パルス同士を差動的に検出し、得られた反
射パルスの伝送時間及び振幅から前記劣化相ケーブルの
劣化位置及びその劣化程度を求めることを特徴とするケ
ーブルの劣化測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8265291A JPH1090337A (ja) | 1996-09-13 | 1996-09-13 | ケーブルの劣化測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8265291A JPH1090337A (ja) | 1996-09-13 | 1996-09-13 | ケーブルの劣化測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090337A true JPH1090337A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17415173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8265291A Pending JPH1090337A (ja) | 1996-09-13 | 1996-09-13 | ケーブルの劣化測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1090337A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006220460A (ja) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Nissan Motor Co Ltd | ケーブル診断装置およびケーブル診断方法 |
| JP2007046954A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Hitachi Cable Ltd | 電線・ケーブルの断線検出方法及びその装置 |
| JP2007121099A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Nissan Motor Co Ltd | 撚合導体の素線断線率の判定方法および判定装置 |
| JP2010517002A (ja) * | 2007-01-17 | 2010-05-20 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 別の装置に接続されたあるいは接続可能な電気装置における電流リターン・パス完全性を判定する方法 |
| CN105044516A (zh) * | 2015-08-04 | 2015-11-11 | 华南理工大学 | 基于波阻抗检测电缆接头老化程度的方法 |
| CN114062855A (zh) * | 2020-08-05 | 2022-02-18 | 威德大学校产学协力团 | 电力电缆劣化检测装置及其方法 |
-
1996
- 1996-09-13 JP JP8265291A patent/JPH1090337A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006220460A (ja) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Nissan Motor Co Ltd | ケーブル診断装置およびケーブル診断方法 |
| JP4673698B2 (ja) * | 2005-08-08 | 2011-04-20 | 日立電線株式会社 | 電線・ケーブルの断線検出方法及びその装置 |
| JP2007046954A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Hitachi Cable Ltd | 電線・ケーブルの断線検出方法及びその装置 |
| JP2007121099A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Nissan Motor Co Ltd | 撚合導体の素線断線率の判定方法および判定装置 |
| US9134364B2 (en) | 2007-01-17 | 2015-09-15 | International Business Machines Corporation | Determining the current return path integrity in an electric device connected or connectable to a further device |
| JP4639263B2 (ja) * | 2007-01-17 | 2011-02-23 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 別の装置に接続されたあるいは接続可能な電気装置における電流リターン・パス完全性を判定する方法 |
| JP2010517002A (ja) * | 2007-01-17 | 2010-05-20 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 別の装置に接続されたあるいは接続可能な電気装置における電流リターン・パス完全性を判定する方法 |
| US9304158B2 (en) | 2007-01-17 | 2016-04-05 | International Business Machines Corporation | Determining the current return path integrity in an electric device connected or connectable to a further device |
| US9581631B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-02-28 | International Business Machines Corporation | Determining the current return path integrity in an electric device connected or connectable to a further device |
| US9891256B2 (en) | 2007-01-17 | 2018-02-13 | International Business Machines Corporation | Determining the current return path integrity in an electric device connected or connectable to a further device |
| CN105044516A (zh) * | 2015-08-04 | 2015-11-11 | 华南理工大学 | 基于波阻抗检测电缆接头老化程度的方法 |
| CN114062855A (zh) * | 2020-08-05 | 2022-02-18 | 威德大学校产学协力团 | 电力电缆劣化检测装置及其方法 |
| CN114062855B (zh) * | 2020-08-05 | 2024-04-12 | 威德大学校产学协力团 | 电力电缆劣化检测装置及其方法 |
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Legal Events
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|
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