JPH1090342A - 電力ケーブルの劣化測定方法 - Google Patents
電力ケーブルの劣化測定方法Info
- Publication number
- JPH1090342A JPH1090342A JP26130596A JP26130596A JPH1090342A JP H1090342 A JPH1090342 A JP H1090342A JP 26130596 A JP26130596 A JP 26130596A JP 26130596 A JP26130596 A JP 26130596A JP H1090342 A JPH1090342 A JP H1090342A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- measuring
- measuring cable
- point
- pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Locating Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 中間接続点の片側のケーブルのみの劣化点の
位置及び劣化程度を正確に検出する。 【構成】 非測定ケーブル１１と測定ケーブル１２はジ
ョイント部１３において導体１１ａ、１２ａ同志が接続
され、測定ケーブル１２には劣化点Ｆが存在するものと
する。活線状態における測定ケーブル１２に試験パルス
を注入するために、パルス発生器１４を測定ケーブル１
２の近端Ａにおいて金属遮蔽層１２ｃに接続し、非測定
ケーブル１１の近端Ａにおける金属遮蔽層１１ｃの接地
を切り離す。そして、測定ケーブル１２の遮蔽層１２ｃ
には検出回路１８を介して波形観測器１９を接続する。
近端Ａから注入した試験パルスは測定すべき測定ケーブ
ル１２のみを伝播し劣化点Ｆで一部が反射される。この
反射パルスを検出回路１８を介して波形観測器１９で観
測することにより、測定ケーブル１２の近端Ａから劣化
点Ｆまでの距離は、反射パルスが戻ってくる時間から求
めることができる。
位置及び劣化程度を正確に検出する。 【構成】 非測定ケーブル１１と測定ケーブル１２はジ
ョイント部１３において導体１１ａ、１２ａ同志が接続
され、測定ケーブル１２には劣化点Ｆが存在するものと
する。活線状態における測定ケーブル１２に試験パルス
を注入するために、パルス発生器１４を測定ケーブル１
２の近端Ａにおいて金属遮蔽層１２ｃに接続し、非測定
ケーブル１１の近端Ａにおける金属遮蔽層１１ｃの接地
を切り離す。そして、測定ケーブル１２の遮蔽層１２ｃ
には検出回路１８を介して波形観測器１９を接続する。
近端Ａから注入した試験パルスは測定すべき測定ケーブ
ル１２のみを伝播し劣化点Ｆで一部が反射される。この
反射パルスを検出回路１８を介して波形観測器１９で観
測することにより、測定ケーブル１２の近端Ａから劣化
点Ｆまでの距離は、反射パルスが戻ってくる時間から求
めることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、活線状態において
中間接続点の片側のケーブルの劣化点の位置及び劣化程
度の測定を行う電力ケーブルの劣化測定方法に関するも
のである。
中間接続点の片側のケーブルの劣化点の位置及び劣化程
度の測定を行う電力ケーブルの劣化測定方法に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】電力ケーブルに不測の事故が発生した場
合に、この事故点をケーブルの端末からの距離として求
める方法は幾つか知られている。これらは、マーレール
ープ法やマーレーフイシャ法等に代表され、線路の導体
抵抗比を基に平衡条件を求めて測定するブリッジ法と、
進行波パルスの到達時間差を検出して測定するパルスレ
ーダ法に大別される。
合に、この事故点をケーブルの端末からの距離として求
める方法は幾つか知られている。これらは、マーレール
ープ法やマーレーフイシャ法等に代表され、線路の導体
抵抗比を基に平衡条件を求めて測定するブリッジ法と、
進行波パルスの到達時間差を検出して測定するパルスレ
ーダ法に大別される。
【０００３】比較的よく用いられるパルスレーダ法で
は、例えば図３に示すように事故相線１の近端Ａの導体
２にパルス発生器３で生成した試験パルスを送出し、劣
化点Ｆで反射されて戻ってくる反射パルスをオシロスコ
ープ４等で観測する。
は、例えば図３に示すように事故相線１の近端Ａの導体
２にパルス発生器３で生成した試験パルスを送出し、劣
化点Ｆで反射されて戻ってくる反射パルスをオシロスコ
ープ４等で観測する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例においては、ケーブルの途中に中間接続点などがあ
り、そこに非測定ケーブルが接続されていると、非測定
ケーブルに試験パルスが入射し、測定すべきケーブルの
劣化点Ｆの位置の特定及びその劣化程度の大きさの判定
が困難となる。
来例においては、ケーブルの途中に中間接続点などがあ
り、そこに非測定ケーブルが接続されていると、非測定
ケーブルに試験パルスが入射し、測定すべきケーブルの
劣化点Ｆの位置の特定及びその劣化程度の大きさの判定
が困難となる。
【０００５】本発明の目的は、中間接続点を利用して、
電力ケーブルが事故に至る以前の劣化状態を正確かつ容
易に測定することが可能な電力ケーブルの劣化測定方法
を提供することにある。
電力ケーブルが事故に至る以前の劣化状態を正確かつ容
易に測定することが可能な電力ケーブルの劣化測定方法
を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る電力ケーブルの劣化測定方法は、非測
定ケーブルと中間接続点を介して接続する測定ケーブル
の絶縁劣化を活線状態において測定する場合において、
前記測定ケーブルの金属遮蔽層と大地間に試験パルスに
対し高い値を持つインピーダンスを接続し、前記非測定
ケーブルの前記中間接続点に近接する金属遮蔽層接地を
開放し、前記測定ケーブルに試験パルスを注入すること
を特徴とする。
めの本発明に係る電力ケーブルの劣化測定方法は、非測
定ケーブルと中間接続点を介して接続する測定ケーブル
の絶縁劣化を活線状態において測定する場合において、
前記測定ケーブルの金属遮蔽層と大地間に試験パルスに
対し高い値を持つインピーダンスを接続し、前記非測定
ケーブルの前記中間接続点に近接する金属遮蔽層接地を
開放し、前記測定ケーブルに試験パルスを注入すること
を特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明による測定法を、図１、図
２に図示の実施例に基づいて詳細に説明する。図１はこ
の測定法の説明図であり、非測定ケーブル１１と測定ケ
ーブル１２はジョイント部１３において導体１１ａ、１
２ａ同志が接続され、測定ケーブル１２には劣化点Ｆが
存在するものとする。ケーブル１１、１２の導体１１
ａ、１２ａは、絶縁層１１ｂ、１２ｂを介在して金属遮
蔽層１１ｃ、１２ｃによって包囲されている。
２に図示の実施例に基づいて詳細に説明する。図１はこ
の測定法の説明図であり、非測定ケーブル１１と測定ケ
ーブル１２はジョイント部１３において導体１１ａ、１
２ａ同志が接続され、測定ケーブル１２には劣化点Ｆが
存在するものとする。ケーブル１１、１２の導体１１
ａ、１２ａは、絶縁層１１ｂ、１２ｂを介在して金属遮
蔽層１１ｃ、１２ｃによって包囲されている。
【０００８】活線状態における測定ケーブル１２に試験
パルスを注入するために、パルス発生器１４を注入イン
ピーダンス１５を介して近端Ａにおいて金属遮蔽層１２
ｃに接続する。また、近端Ａにおいて、遮蔽層１２ｃと
大地間にスイッチ１６の端子１６ａを介して接地インピ
ーダンス１７を介在し、スイッチ１６の端子１６ｂは接
地する。更に、遮蔽層１２ｃには検出回路１８を介して
オシロスコープなどの波形観測器１９を接続する。ジョ
イント部１３は静電容量を介して接地しており、非測定
ケーブル１１の近端Ａの近傍の金属遮蔽層１１ｃはスイ
ッチ２０を介して接地する。
パルスを注入するために、パルス発生器１４を注入イン
ピーダンス１５を介して近端Ａにおいて金属遮蔽層１２
ｃに接続する。また、近端Ａにおいて、遮蔽層１２ｃと
大地間にスイッチ１６の端子１６ａを介して接地インピ
ーダンス１７を介在し、スイッチ１６の端子１６ｂは接
地する。更に、遮蔽層１２ｃには検出回路１８を介して
オシロスコープなどの波形観測器１９を接続する。ジョ
イント部１３は静電容量を介して接地しており、非測定
ケーブル１１の近端Ａの近傍の金属遮蔽層１１ｃはスイ
ッチ２０を介して接地する。
【０００９】通常では、測定ケーブル１２の金属遮蔽層
１２ｃはスイッチ１６の端子１６ｂを介して接地してい
る。また、非測定ケーブル１１の金属遮蔽層１１ｃもス
イッチ２０を介して接地している。しかし、本測定に際
しては、スイッチ１６の端子１６ａ、接地インピーダン
ス１７を介して接地し、金属遮蔽層１１ｃはスイッチ２
０により大地と切り離す。
１２ｃはスイッチ１６の端子１６ｂを介して接地してい
る。また、非測定ケーブル１１の金属遮蔽層１１ｃもス
イッチ２０を介して接地している。しかし、本測定に際
しては、スイッチ１６の端子１６ａ、接地インピーダン
ス１７を介して接地し、金属遮蔽層１１ｃはスイッチ２
０により大地と切り離す。
【００１０】接地インピーダンス１７は接地された状態
を維持するために、商用周波数に対しては低いインピー
ダンスであることが必要であり、試験パルスの周波数に
対しては高いインピーダンスを有している。例えば、２
００μＨのインダクタンスを用いると、５０Ｈｚの商用
周波数に対してはインピーダンスが０．０６３Ωとな
り、この値は電気設備が基準値の１種接地の規定値以下
であり問題はない。また、約５ＭＨｚの試験パルスに対
しては８．３ｋΩとなる。
を維持するために、商用周波数に対しては低いインピー
ダンスであることが必要であり、試験パルスの周波数に
対しては高いインピーダンスを有している。例えば、２
００μＨのインダクタンスを用いると、５０Ｈｚの商用
周波数に対してはインピーダンスが０．０６３Ωとな
り、この値は電気設備が基準値の１種接地の規定値以下
であり問題はない。また、約５ＭＨｚの試験パルスに対
しては８．３ｋΩとなる。
【００１１】また、非測定ケーブル１１の金属遮蔽層１
１ｃを大地から切り離すことにより、非測定ケーブル１
１のインピーダンスは測定ケーブル１２のインピーダン
スに比較して十分大きくなり、注入する試験パルスは非
測定ケーブル１１には流れず、ジョイント部１３に接地
した静電容量を介して大地に流れることになる。
１ｃを大地から切り離すことにより、非測定ケーブル１
１のインピーダンスは測定ケーブル１２のインピーダン
スに比較して十分大きくなり、注入する試験パルスは非
測定ケーブル１１には流れず、ジョイント部１３に接地
した静電容量を介して大地に流れることになる。
【００１２】測定ケーブル１２のサージインピーダンス
Z0は、ケーブルの長さをＬ、静電容量をＣとすると、 Z0＝（Ｌ／Ｃ)1/2 …(1) の式で表される。この場合の測定ケーブル１２の劣化点
Ｆにおける劣化点インピーダンスをZ'とすると、劣化点
Ｆにおける電気パルスの反射係数ｍは、 ｍ＝（Z'−Z0）／（Z'＋Z0） …(2) の式で表される。
Z0は、ケーブルの長さをＬ、静電容量をＣとすると、 Z0＝（Ｌ／Ｃ)1/2 …(1) の式で表される。この場合の測定ケーブル１２の劣化点
Ｆにおける劣化点インピーダンスをZ'とすると、劣化点
Ｆにおける電気パルスの反射係数ｍは、 ｍ＝（Z'−Z0）／（Z'＋Z0） …(2) の式で表される。
【００１３】測定ケーブル１２に劣化がない場合に、パ
ルス発生器１４から近端Ａで数μＳの幅のパルスPaを商
用周波数よりも十分に大きな周波数で注入すると、パル
スPaは測定ケーブル１２の遮蔽層１２ｃから絶縁層１２
ｂ、導体１２からから成るサージインピーダンスＺを介
して大地に流れる。この間に、遠端Ｂによる反射波が生
じ、伝播時間を横軸にとると図２(a) に示すような時間
軸に対応する反射パルスPbが現れる。即ち、近端Ａには
遠端Ｂからの反射パルスPbは時間t1後に戻ってくる。パ
ルスの伝播速度ｖは一定であるから、パルスの伝播時間
t1は近端Ａから反射点までの距離に比例する。ここで、
遠端Ｂの反射点までの距離をＬとすると、 Ｌ＝ｖ・t1／2 …(3) という式が成立する。
ルス発生器１４から近端Ａで数μＳの幅のパルスPaを商
用周波数よりも十分に大きな周波数で注入すると、パル
スPaは測定ケーブル１２の遮蔽層１２ｃから絶縁層１２
ｂ、導体１２からから成るサージインピーダンスＺを介
して大地に流れる。この間に、遠端Ｂによる反射波が生
じ、伝播時間を横軸にとると図２(a) に示すような時間
軸に対応する反射パルスPbが現れる。即ち、近端Ａには
遠端Ｂからの反射パルスPbは時間t1後に戻ってくる。パ
ルスの伝播速度ｖは一定であるから、パルスの伝播時間
t1は近端Ａから反射点までの距離に比例する。ここで、
遠端Ｂの反射点までの距離をＬとすると、 Ｌ＝ｖ・t1／2 …(3) という式が成立する。
【００１４】測定ケーブル１２に劣化点Ｆが存在する
と、劣化点Ｆの劣化点インピーダンスZ'がサージインピ
ーダンスZ0と異なるので、近端Ａから注入したパルスPa
は遠端Ｂで反射されると共に、劣化点Ｆにおいても一部
が反射され、劣化点Ｆにおける反射パルスPfが図２(b)
に示すように時間t2後に得られることになる。近端Ａか
ら劣化点Ｆまでの距離Lfは、(3) 式と同様に、 Lf＝ｖ・t2／2 …(4) という関係式が成り立つ。従って、(3) 、(4) 式から、 Lf＝（Ｌ／t1）・t2 …(5) なる式が導出される。
と、劣化点Ｆの劣化点インピーダンスZ'がサージインピ
ーダンスZ0と異なるので、近端Ａから注入したパルスPa
は遠端Ｂで反射されると共に、劣化点Ｆにおいても一部
が反射され、劣化点Ｆにおける反射パルスPfが図２(b)
に示すように時間t2後に得られることになる。近端Ａか
ら劣化点Ｆまでの距離Lfは、(3) 式と同様に、 Lf＝ｖ・t2／2 …(4) という関係式が成り立つ。従って、(3) 、(4) 式から、 Lf＝（Ｌ／t1）・t2 …(5) なる式が導出される。
【００１５】この反射パルスPb、Pfを検出回路１８を介
して波形観測器１９で観測することにより、近端Ａから
劣化点Ｆまでの距離Lfは、反射パルスPfが戻ってくる時
間t2から求めることができる。即ち、測定ケーブル１２
の全長Ｌを住後する時間t1を予め測定しておけば、反射
パルスPfの伝播時間t2を測定するだけで、(5) 式から劣
化点Ｆの位置を知ることができる。
して波形観測器１９で観測することにより、近端Ａから
劣化点Ｆまでの距離Lfは、反射パルスPfが戻ってくる時
間t2から求めることができる。即ち、測定ケーブル１２
の全長Ｌを住後する時間t1を予め測定しておけば、反射
パルスPfの伝播時間t2を測定するだけで、(5) 式から劣
化点Ｆの位置を知ることができる。
【００１６】なお、活線状態においては、商用周波数に
よる振幅の大きな基本波上に反射パルスは重畳されてく
るので、検出回路１８には基本波を除去する例えばハイ
パスフィルタを備えることが必要となる。
よる振幅の大きな基本波上に反射パルスは重畳されてく
るので、検出回路１８には基本波を除去する例えばハイ
パスフィルタを備えることが必要となる。
【００１７】また、劣化が進行すると劣化点インピーダ
ンスZ'がサージインピーダンスZ0と大きく異なり、(2)
式から反射係数ｍも大きくなるので、波形観測器１９で
観察される劣化点Ｆによる反射パルスPfの振幅が大きく
なる。例えば、遮蔽層が劣化するとプラス極性の反射パ
ルスが得られ、絶縁層が劣化するとマイナス極性の反射
パルスが観測される。従って、反射パルスPfの振幅値と
極性から測定ケーブル１２の劣化状態を知ることが可能
となる。
ンスZ'がサージインピーダンスZ0と大きく異なり、(2)
式から反射係数ｍも大きくなるので、波形観測器１９で
観察される劣化点Ｆによる反射パルスPfの振幅が大きく
なる。例えば、遮蔽層が劣化するとプラス極性の反射パ
ルスが得られ、絶縁層が劣化するとマイナス極性の反射
パルスが観測される。従って、反射パルスPfの振幅値と
極性から測定ケーブル１２の劣化状態を知ることが可能
となる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る電力ケ
ーブルの劣化測定方法によれば、中間接続点の非測定ケ
ーブル側に試験パルスが進行しないようにするので、測
定ケーブルのみに試験パルスを注入できる。
ーブルの劣化測定方法によれば、中間接続点の非測定ケ
ーブル側に試験パルスが進行しないようにするので、測
定ケーブルのみに試験パルスを注入できる。
【図１】本発明を実施するための構成図である。
【図２】パルスのタイミングチャート図である。
【図３】従来例の構成図である。
１１、１２ ケーブル １３ ジョイント部 １４ パルス発生器 １５ 注入インピーダンス １６、２０ スイッチ １７ 接地インピーダンス １９ 波形観測器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三浦 昭夫 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工業 株式会社熊谷製作所内 (72)発明者 美納 智次 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工業 株式会社熊谷製作所内 (72)発明者 青木 勝 埼玉県熊谷市新堀1008番地 三菱電線工業 株式会社熊谷製作所内
Claims (1)
- 【請求項１】 非測定ケーブルと中間接続点を介して接
続する測定ケーブルの絶縁劣化を活線状態において測定
する場合において、前記測定ケーブルの金属遮蔽層と大
地間に試験パルスに対し高い値を持つインピーダンスを
接続し、前記非測定ケーブルの前記中間接続点に近接す
る金属遮蔽層接地を開放し、前記測定ケーブルに試験パ
ルスを注入することを特徴とする電力ケーブルの劣化測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26130596A JPH1090342A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 電力ケーブルの劣化測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26130596A JPH1090342A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 電力ケーブルの劣化測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090342A true JPH1090342A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17359951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26130596A Pending JPH1090342A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 電力ケーブルの劣化測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1090342A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100419442C (zh) * | 2005-03-08 | 2008-09-17 | 杭州华三通信技术有限公司 | 一种低成本检测高频电缆互联可靠性的方法 |
-
1996
- 1996-09-10 JP JP26130596A patent/JPH1090342A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100419442C (zh) * | 2005-03-08 | 2008-09-17 | 杭州华三通信技术有限公司 | 一种低成本检测高频电缆互联可靠性的方法 |
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