JPH1090167A - 汚れ防止機構付光学計測窓装置 - Google Patents

汚れ防止機構付光学計測窓装置

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JPH1090167A
JPH1090167A JP25019396A JP25019396A JPH1090167A JP H1090167 A JPH1090167 A JP H1090167A JP 25019396 A JP25019396 A JP 25019396A JP 25019396 A JP25019396 A JP 25019396A JP H1090167 A JPH1090167 A JP H1090167A
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Yoshihiro Deguchi
祥啓 出口
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、光学窓を介して機器の内部観察をす
る計測器に関し、窓汚れの影響が大幅に改善することが
できる装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明に係る汚れ防止機構付光学計測窓
装置は、光学計測窓を通して内部の観察を行う装置にお
いて、（Ａ）光学計測窓１の周囲からイオン発生させた
空気を光学計測窓１に吹き付け、光学窓近傍に存在する
ゴミおよび微粒子１３にイオンを付着させてゴミおよび
微粒子を帯電させる機構と、（Ｂ）空気中に発生させた
イオンと同符号の電荷物質１１を光学計測窓近傍に配置
し、イオンが付着したゴミおよび微粒子に対し、光学計
測窓１から遠ざかる方向に電荷物質との反発力１４を与
え、ゴミおよび微粒子が光学計測窓に付着することを防
止することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、汚れ防止機構付光
学計測窓装置に関する。本発明は、ボイラー等の燃焼機
器の火炎観察や、機器の内部観察などに利用することが
できる。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術を図４に示す。従来の光学計
測窓機構は、図４に示すように、機器の壁１０３に光学
計測窓１０１を設置し、機器の内部を観察する上で、光
学窓の汚れを防止するために光学窓の周囲から空気など
のガスを流し、ゴミ、微粒子などの窓への付着を防止し
ていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の技術に
は次のような問題がある。 （１）図４に示す従来法では、パージガス１１１の流れ
の慣性力のみにより、ゴミ、微粒子等を窓から遠ざけて
いたが、パージガス１１１の流れ中に存在する渦等の影
響により、ゴミ、微粒子等が窓に付着する場合が多い。 （２）また、機器内のガスが光学窓側に流れ込んだ場合
には、パージガス１１１の流れの慣性力のみでは、付着
を防止できないという欠点を有していた。本発明は、こ
れらの問題を解決することができる装置を提供すること
を目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
（第１の手段）本発明に係る汚れ防止機構付光学計測窓
装置は、光学計測窓を通して内部の観察を行う装置にお
いて、（Ａ）光学計測窓の周囲からイオン発生させた空
気を光学計測窓に吹き付け、光学窓近傍に存在するゴミ
や微粒子にイオンを付着させて、ゴミおよび微粒子を帯
電させる機構と、（Ｂ）空気中に発生させたイオンと同
符号の電荷物質を光学計測窓近傍に配置し、イオンが付
着したゴミおよび微粒子に対し光学計測窓から遠ざかる
方向に電荷物質との反発力を与え、ゴミおよび微粒子が
光学計測窓に付着することを防止することを特徴とす
る。
【０００５】すなわち、本発明は、図２に示すように、
イオンを付加させパージガス１２を光学計測窓１の周囲
から光学窓近傍に導入し、イオンを光学窓近傍に存在す
るゴミ、微粒子等１３に吸着させる。
【０００６】光学計測窓１にはイオンと同符号の電荷を
有した物質１１を配置しておき、イオンが付着したゴミ
及び微粒子に対し、光学計測窓１から遠ざかる方向に電
荷物質との反発力１４を作用させる。
【０００７】したがって、次のように作用する。従来法
では、パージガスの慣性力のみで、ゴミ及び微粒子が光
学窓に付着することを防止していたが、本発明では、パ
ージガスの慣性力に加え、電荷物質との反発力１４で、
ゴミ及び微粒子の付着を防止できるため、ゴミ及び微粒
子の付着防止に関する性能を大幅に向上することができ
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】
（第１の実施の形態）本発明の第１の実施の形態を図１
〜図３に示す。本発明装置は、図１に示すように、機器
の壁３に光学計測窓１を設置し、機器の内部を観察する
上で、光学計測窓１の汚れを防止するために、光学計測
窓１の周囲からイオンが付加された空気などのパージガ
スを流し、ゴミや微粒子等１３を帯電させる。
【０００９】光学計測窓１にはイオンと同符号の電荷を
有した物質１１を配置しておき、イオンが付着したゴミ
及び微粒子に対し、光学計測窓１から遠ざかる方向に電
荷物質との反発力１４を作用させ、パージガスの流れの
慣性力とイオンが付着したゴミ及ぴ微粒子に働く電気力
を用いて、光学窓にゴミ及び微粒子等が付着することを
防止する。
【００１０】本発明の有効な利用例を図４に示す。図４
は、ボイラー等の機器の火炎観察等における観察窓の汚
れ防止機構に、本発明装置を用いた例であり、レーザ光
等の光を照射し、ボイラー内部の流動や、温度、成分を
観察する場合における観察窓の汚れ防止機構にも利用で
きる。
【００１１】
【発明の効果】本発明は前述のように構成されているの
で、以下に記載するような効果を奏する。 （１）本発明により、光学窓を介して機器の内部観察を
する計測器に関し、窓汚れの影響が大幅に改善すること
ができる。 （２）そのため、窓洗浄などのメインテナンスの向上、
および、計測精度の向上をはかることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る汚れ防止機構
付光学計測窓装置を示す図。
【図２】第１の実施の形態の係るイオン付加パージガス
を用いた汚れ防止効果を示す図。
【図３】ボイラー等の機器の火炎観察等への応用例を示
す図。
【図４】従来法を用いた光学計測窓を示す図。
【符号の説明】
１…光学計測窓 ２…内部観測機器 ３…機器の壁 ４…汚れ防止機構付光学計測窓 ５…観測カメラ ６…レーザ ７…バーナ ８…ボイラー等の燃焼機器 １１…イオン付加パージンガス １２…イオンと同符号の電荷物質 １３…ゴミ、微粒子等 １４…電荷物質との反発力 １０１…光学計測窓 １０２…内部観測機器 １０３…機器の壁 １１１…パージンガス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】光学計測窓を通して内部の観察を行う装置
    において、（Ａ）光学計測窓（１）の周囲からイオン発
    生させた空気を光学計測窓（１）に吹き付け、光学窓近
    傍に存在するゴミおよび微粒子（１３）にイオンを付着
    させてゴミおよび、微粒子を帯電させる機構と、（Ｂ）
    空気中に発生させたイオンと同符号の電荷物質を光学計
    測窓近傍に配置し、イオンが付着したゴミおよび微粒子
    に対し、光学計測窓から遠ざかる方向に電荷物質との反
    発力（１４）を与え、ゴミおよび微粒子が光学計測窓に
    付着することを防止することを特徴とする汚れ防止機構
    付光学計測窓装置。
JP25019396A 1996-09-20 1996-09-20 汚れ防止機構付光学計測窓装置 Expired - Lifetime JP3263612B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289780A (ja) * 2000-04-06 2001-10-19 Japan Organo Co Ltd 濃度計
JP2007192497A (ja) * 2006-01-20 2007-08-02 Nippon Steel Corp 観察用窓装置
JP2021017642A (ja) * 2019-07-24 2021-02-15 株式会社ソディック 積層造形装置および三次元造形物の製造方法

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JP2021017642A (ja) * 2019-07-24 2021-02-15 株式会社ソディック 積層造形装置および三次元造形物の製造方法

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