JPH1074717A - 精密研磨装置および精密研磨方法 - Google Patents

精密研磨装置および精密研磨方法

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JPH1074717A
JPH1074717A JP13286397A JP13286397A JPH1074717A JP H1074717 A JPH1074717 A JP H1074717A JP 13286397 A JP13286397 A JP 13286397A JP 13286397 A JP13286397 A JP 13286397A JP H1074717 A JPH1074717 A JP H1074717A
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JP
Japan
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unit
precision polishing
polishing apparatus
workpiece
sealed chamber
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Application number
JP13286397A
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English (en)
Inventor
Kazuo Takahashi
一雄 高橋
Minokichi Ban
箕▲吉▼ 伴
Matsuomi Nishimura
松臣 西村
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 研磨ユニットにおいて発生した研磨粉等がウ
エハの洗浄ユニット等を汚染するのを防ぐ。 【解決手段】 ローディングユニット1に搬入されたウ
エハW1 は移送ロボット室11の移送ロボット11aに
よってウエハストッカーユニット2へ搬送され、続いて
研磨ユニット3へ送られて研磨される。研磨後のウエハ
1 は、予洗ユニット4、洗浄ユニット5等を経て乾燥
ユニット7において乾燥後、アンローディングユニット
8から取り出される。各ユニットや移送ロボット室11
等は密封室を構成し、各密封室の雰囲気圧力を、研磨ユ
ニット3に近づくほど低くなるように制御することで、
研磨ユニット3の研磨粉等が周辺のユニット等に侵入す
るのを防ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ディバイス
の製造工程等において、誘電体層等を積層したウエハ等
基板の表面等を高精度に研磨加工するための精密研磨装
置および精密研磨方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体ディバイスの高精細が進
み、微細パターンの線幅にはサブミクロンオーダの精度
が要求されている。これに伴って、配線や誘電体層を積
層したウエハ等基板の表面を極めて高精度に平坦化する
技術が必要となり、加工面において化学反応が関与する
といわれるメカノケミカルポリシング(化学機械研磨方
式)等を採用した精密研磨装置が開発されている。
【0003】図17は一従来例による精密研磨装置を示
すもので、これは、一対のウエハW0 を、その被研磨面
が下向きになるように吸着保持してガイド1001に沿
って搬送する基板ホルダ1002と、その搬送方向に直
列に配設されたローディング部1003、ウエハセンタ
リング部1004、定盤の上で研磨パッド1005aを
回転させる研磨部1005、ウエハ洗浄部1006、ウ
エハ反転部1007およびアンローディング部1008
等を有する。
【0004】それぞれローディングカセットG1 に収納
されて前工程から搬入されたウエハW0 は、ローディン
グ部1003においてローディングカセットG1 から取
り出されて、ウエハセンタリング部1004においてセ
ンタリングを終了後、基板ホルダ1002に吸着されて
研磨部1005に搬送される。研磨部1005において
は、回転する研磨パッド1005aの表面に各ウエハW
0 を軽く押し付けながら、基板ホルダ1002を研磨パ
ッド1005aの直径に沿って横断させることで、各ウ
エハW0 の下面(被研磨面)を研磨する。研磨パッド1
005aを横断した基板ホルダ1002は、ひき続きガ
イド1001に沿って移動してウエハ洗浄部1006に
到達する。ここで、各ウエハW0 の被研磨面にノズル1
006aから洗浄液を吹き付けて研磨の副成物等を除去
する。ウエハ反転部1007は、洗浄を終えたウエハW
0 を反転させてアンローディング部1008へ移送す
る。アンローディング部1008においては、アンロー
ディングカセットG2 にウエハW0 を収納して次工程へ
送り出す。
【0005】なお、基板ホルダ1002は、ウエハセン
タリング部1004、研磨部1005、ウエハ洗浄部1
006等の上方を移動する頂部フレーム1002aから
懸下されており、頂部フレーム1002aの一端はガイ
ド1001に沿って往復移動自在に支持され、他端は駆
動部1002bに連結される。基板ホルダ1002を懸
下した頂部フレーム1002aは、駆動部1002bの
駆動によってガイド1001に沿って往復移動する。研
磨部1005は、研磨パッド1005aの表面を清浄化
するためのブラッシング装置1005bやハンドシャワ
ー1005c等を備えている。このように、前工程から
連続的に送り込まれるウエハW0 の研磨とその後の洗浄
工程等を自動的に行なって次工程に送り出すとともに、
基板ホルダ1002が前記と逆向きに移動してアンロー
ディング部1008からローディング部1003に戻る
までの間に、研磨パッド1005aの表面を清浄化する
作業等を効率良く行なうことができるように構成されて
いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、コンベア等の搬送装置によって搬入さ
れたウエハをカセットから取り出して研磨し、その被研
磨面を洗浄する一連の工程を自動化することで、半導体
ディバイス等の製造コストを低減するのに大きく貢献す
るものであるが、研磨部において発生する研磨粉等の粉
塵が、研磨部に隣接するローディング部やウエハ洗浄部
に侵入してこれらの駆動部の性能を劣化させるため、メ
ンテナンスのコストが高いという未解決の課題がある。
【0007】また、前工程におけるウエハの露光装置等
は一般的にクリーンルーム等の清浄化された雰囲気下で
稼働するものであるから、研磨部で発生する粉塵がクリ
ーンルームの雰囲気を汚染すると露光装置等の性能を著
しく損なうおそれがある。さらに、研磨部から取り出さ
れるウエハとともに多量の研磨粉等がウエハ洗浄部に侵
入すれば、洗浄液の消費量が増大し、ウエハの洗浄に費
される時間も長くなって、半導体ディバイス等の製造コ
ストが高騰する結果となる。
【0008】本発明は上記従来の技術の有する未解決の
課題に鑑みてなされたものであり、研磨粉等の粉塵が、
ウエハのセンタリングや洗浄等の前後処理を行なう装置
や、これらを配設したクリーンルームの雰囲気を汚染す
るおそれがないうえに、機構や制御が簡単で、高速化や
自動化に適した精密研磨装置および精密研磨方法を提供
することを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の精密研磨装置は、研磨手段を備えた第1
の密封室と、第2の密封室を介して前記第1の密封室に
連通自在である第3の密封室と、前記第1および前記第
3の密封室と前記第2の密封室の間を交互に連通させる
第1および第2の開閉手段と、少なくとも前記第1の開
閉手段を開くときに前記第1の密封室の雰囲気圧力が前
記第2の密封室の雰囲気圧力より低くなるように両密封
室の前記雰囲気圧力を制御する雰囲気圧力制御手段を有
することを特徴とする。
【0010】また、研磨手段を備えた第1の密封室と、
第2の密封室と前記第1の密封室の間を連通させる開閉
手段と、前記開閉手段が開くときに前記第1の密封室の
雰囲気圧力が前記第2の密封室の雰囲気圧力より低くな
るように両密封室の前記雰囲気圧力を制御する雰囲気圧
力制御手段を有する精密研磨装置において、前記第1の
密封室が、その内部で上方から下方へクリーンエアーを
通風させるダウンフロー機構を備えていることを特徴と
する精密研磨装置でもよい。
【0011】また、被加工物を一時待機させる第1のユ
ニットと、前記第1のユニットから移送された被加工物
を研磨する研磨手段を備えた第2のユニットと、前記第
2のユニットから移送された被加工物を洗浄する第3の
ユニットと、前記第3のユニットから移送された被加工
物を乾燥させる第4のユニットと、前記第1ないし前記
第4のユニットのそれぞれの雰囲気を個別に密封する密
封手段と、各ユニットの雰囲気圧力を外部の雰囲気圧力
より低い値に制御する雰囲気圧力制御手段を有すること
を特徴とする精密研磨装置でもよい。
【0012】また、被加工物を研磨する研磨手段を備え
た第1の密封室と、その搬入側と搬出側にそれぞれ隣接
する第2および第3の密封室と、前記被加工物を透過自
在である流体カーテンを介して前記第2および前記第3
の密封室のそれぞれと前記第1の密封室の間を連通させ
る流体仕切り隔壁装置と、前記第1の密封室の雰囲気圧
力が前記第2および前記第3の密封室のそれぞれの雰囲
気圧力より低くなるように各雰囲気圧力を制御する雰囲
気圧力制御手段を有する精密研磨装置でもよい。
【0013】また、被加工物を一時待機させる第1のユ
ニットと、前記第1のユニットから移送された被加工物
を研磨する研磨手段を備えた第2のユニットと、前記第
2のユニットから移送された被加工物を洗浄する第3の
ユニットと、前記第3のユニットから移送された被加工
物を乾燥させる第4のユニットと、前記第1ないし前記
第4のユニットのそれぞれの雰囲気を個別に密封する密
封手段と、各ユニットの雰囲気圧力を外部の雰囲気圧力
より低い値に制御する雰囲気圧力制御手段を有し、前記
密封手段が、前記被加工物を透過自在な流体カーテンま
たは液体槽を介して少なくとも前記第1のユニットと前
記第2のユニットの間を連通させる流体仕切り隔壁装置
を備えていることを特徴とする精密研磨装置でもよい。
【0014】
【作用】研磨手段を有する第1の密封室である研磨室に
ウエハ等の被加工物を搬入するに際して、まず、第3の
密封室に被加工物を搬入し、続いて、第2の密封室を経
て研磨室へ搬入する。各開閉手段を開くときに、研磨室
に近い方の密封室ほど雰囲気圧力が低くなるように制御
することで、研磨によって発生する粉塵が漏出するのを
防ぐ。研磨室から第2、第3の密封室を経て被加工物を
搬出する場合も、同様の圧力勾配を発生させた状態で各
開閉手段を開く。
【0015】各開閉手段が交互に開くように構成すれ
ば、第2、第3の密封室が研磨粉等によって汚染される
のを確実に防ぐことができる。
【0016】各開閉手段にこれを部分的に開口させる部
分開口手段が設けられており、雰囲気圧力制御手段が、
研磨室である第1の密封室を常時排気する排気手段を備
えていれば、精密研磨装置のまわりのクリーンエアー等
を第3の密封室と第2の密封室を経て第1の密封室に吸
入し、常時研磨室に向かって流動するクリーンエアーの
気流を発生させることができる。これによって、精密研
磨装置とともに露光装置等を配設したクリーンルーム等
の清浄な雰囲気が、研磨粉等によって汚染されるのを確
実に防ぐことができる。
【0017】各密封室の間を流体カーテン等によって仕
切っておけば、開閉ドアのような開閉動作を必要とせ
ず、随時被加工物を搬入、搬出できる。開閉動作を行な
うための駆動機構等を省略することで、装置の駆動部の
機構と制御を簡略化し、研磨工程の自動化や高速化等を
大きく促進できる。
【0018】流体カーテンがウォーターカーテンであれ
ば、これを透過するときに被加工物が流水によって洗浄
される等の利点が付加される。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
【0020】(第1の実施の形態)図1は第1の実施の
形態による精密研磨装置を示すもので、これは、図示し
ないコンベア等からカセットごと被加工物であるウエハ
1 を少なくとも1枚受け取るローディングユニット1
と、ローディングユニット1から取り出されたウエハW
1 のセンタリングを行なってこれを一時待機させる第1
のユニットであるウエハストッカーユニット2と、ウエ
ハW1 をその被研磨面が上向きになるように保持し、ス
ラリー供給装置3bからスラリーを供給しながら研磨手
段である下向きの研磨パッド3aによってウエハW1
被研磨面を研磨する第2のユニットである研磨ユニット
3と、研磨後のウエハW1 に洗浄液を吹き付けて予備洗
浄を行なう予洗ユニット4と、第1および第2の洗浄槽
5a,5bによって順次ウエハW1 を洗浄する第3のユ
ニットである洗浄ユニット5と、ウエハW1 を回転させ
てこれに付着した洗浄液を除去するスピン脱水ユニット
6と、ウエハW1 に冷風等を吹き付けて完全に乾燥させ
る第4のユニットである乾燥ユニット7と、乾燥したウ
エハW1 を次工程へ送り出すアンローディングユニット
8を有し、各ユニット1〜8は内部の雰囲気を密封手段
によって密封された密封室を構成している。
【0021】ローディングユニット1とアンローディン
グユニット8は、共に精密研磨装置の一側面側に配置さ
れ、同一側面に後述する開閉ドア20が配置された構成
を有している。これにより、ウエハW1 を精密研磨装置
へ出し入れするための空間を節約することが可能とな
る。これは、作業者の作業スペースの省スペース化に重
要な構成である。
【0022】研磨ユニット3には、前述のように下向き
の研磨パッド3aが複数設けられており、これらが交互
にハンドドレッサー9によって再生され、再生が不可能
なときは研磨パッド交換ユニット10によって新たな研
磨パッドと交換される。
【0023】研磨ユニット3は、その天井から給気し、
下方より排気するように構成されたダウンフロー機構を
有している。該ダウンフロー機構は、研磨時に発生する
研磨屑、スラリー粒子、有機溶媒等が研磨ユニット3以
外に拡散するのを防ぐために、クリーンルーム内で使用
される高清浄度空気あるいは高清浄度窒素ガス等の高清
浄度不活性ガス(クリーンエアー)を研磨ユニット3内
に供給するためのものである。ダウンフローは、その名
の通り、上方から下方へと気体を流すことであり、この
ような気体のダウンフローが生じるのであれば、必要に
応じて給気口は天井壁ではなく側壁に設けても構わな
い。
【0024】ローディングユニット1とウエハストッカ
ーユニット2の間には第1の移送ロボット室11が設け
られており、その内部には、回転式の第1の移送ロボッ
ト11aが配設される。同様に、スピン脱水ユニット6
と乾燥ユニット7の間には第2の移送ロボット室12が
設けられ、その内部には回転式の第2の移送ロボット1
2aが配設され、乾燥ユニット7とアンローディングユ
ニット8の間には第3の移送ロボット室13が設けら
れ、その内部には回転式の第3の移送ロボット13aが
配設される。
【0025】第1ないし第3の移送ロボット室11〜1
3は、それぞれ、内部の雰囲気が密封された密封室であ
る。
【0026】研磨ユニット3は、ガイド14に沿って往
復移動する第4の移送ロボット14aを有し、洗浄ユニ
ット5は、ガイド15に沿ってウエハW1 を順次第1、
第2の洗浄槽5a,5bに搬送する洗浄用ロボット15
aを有する。
【0027】各ユニット1〜8や移送ロボット室11〜
13等の密封室はすべて、精密研磨装置の周囲の雰囲気
から仕切壁によって遮断されており、互に隣接する密封
室間にはスライド式の開閉手段である開閉ドア20が配
設され、各開閉ドア20を開くときは、図示しない雰囲
気圧力制御手段によって密封室の雰囲気圧力を以下のよ
うに制御する。
【0028】ローディングユニット1から第1の移送ロ
ボット室11に搬入された図示しないウエハを、ウエハ
ストッカーユニット2を経て研磨ユニット3に搬送する
ときには、図2の(a)に示すように、まずウエハスト
ッカーユニット2内の雰囲気圧力P2 を第1の移送ロボ
ット室11内の雰囲気圧力P1 より低くした状態でその
間の開閉ドア20を開き、ウエハを移送ロボット11a
によってウエハストッカーユニット2に搬入する作業を
行ない、移送ロボット室11側の開閉ドア20を閉じ
る。続いて、同図の(b)に示すように、ウエハストッ
カーユニット2内の雰囲気圧力P2 が研磨ユニット3内
の雰囲気圧力P3 より高い状態で両者の間の開閉ドア2
0を開いてウエハを研磨ユニット3へ搬入して研磨を行
なう。
【0029】研磨ユニット3から予洗ユニット4へウエ
ハを搬入するときも、研磨ユニット3の雰囲気圧力の方
が予洗ユニット4の雰囲気圧力より低い状態で開閉ドア
20を開いて、第4の移送ロボット14aによるウエハ
の受け渡しを行なう。
【0030】このように、互に隣接する密封室の開閉ド
ア20を開くときに、研磨ユニット3から遠い方の密封
室の雰囲気圧力が高くなるように制御しておけば、研磨
ユニット3内で発生する研磨粉等の粉塵がウエハストッ
カーユニット2や移送ロボット室11あるいは洗浄ユニ
ット5等へ多量に侵入するのを回避できる。その結果、
精密研磨装置のランニングコストやメンテナンスのコス
トを大きく低減できる。また、精密研磨装置が露光装置
等とともにクリーンルームに配設されているときは、ク
リーンルームの雰囲気が研磨粉等によって汚染されるの
を防ぎ、露光装置等の性能向上とメンテナンスのコスト
の低減にも貢献できる。
【0031】研磨ユニット3の下流側に配設された残り
の開閉ドア20についても、上記と同様に、研摩ユニッ
ト3から遠い方の密封室の雰囲気圧力が高くなるように
制御したうえで、開閉ドア20を開いてウエハの受け渡
しを行なう。
【0032】各密封室の雰囲気圧力を制御するには、図
3に示すように、各密封室にそれぞれ給排気手段である
給排気口21を設けておき、開閉ドア20を開くときは
一方の密封室の給排気口21からクリーンエアーを供給
し、他方の密封室の給排気口21を排気することで両密
封室の雰囲気に圧力差を設ける。あるいは、一方の密封
室にクリーンエアーを供給したり、排気するだけでも、
同様の圧力差を設けることができる。
【0033】また、各開閉ドア20に部分開口手段であ
るスリット開口等を設けておき、研磨ユニット3を図示
しない排気手段によって連続的に排気すれば、精密研磨
装置のまわりのクリーンエアーが順次各密封室に吸引さ
れてクリーンエアーを含む気流が発生し、各ユニットの
雰囲気圧力が精密研磨装置のまわりの雰囲気圧力(外部
の雰囲気圧力)より低くなり、さらに、研磨ユニット3
に近いものほど雰囲気圧力が低くなる圧力勾配が生じ
る。このように、研磨ユニット3から遠い密封室ほど雰
囲気圧力が高くなる状態を常時維持すれば、開閉ドア2
0の開閉を行なうたびに各密封室の雰囲気圧力を制御す
る必要はない。
【0034】(第2の実施の形態)これは、第1の実施
の形態における開閉ドア20の替わりに、移送ロボット
を有する円筒ドア50を用いたものである。
【0035】図4は第2の実施の形態による精密研磨装
置のローディングユニット31とウエハストッカーユニ
ット32と第1の移送ロボット室41のみを示す模式図
であって、第1の移送ロボット室41は、回転式の移送
ロボット41aを有し、ローディングユニット31とウ
エハストッカーユニット32との間には、開閉ドア20
の替わりに、移送ロボット41aの回転に連動して回転
する円筒ドア50を備えている。円筒ドア50は、円筒
状の隔壁の一部分に開口50aを設けたもので、ケーシ
ング50b内に回転自在に収容され、ケーシング50b
の両端を密封材50cを介してローディングユニット3
1とウエハストッカーユニット32に固定することで移
送ロボット室41が形成される。
【0036】ウエハW2 を移送するときは、図4の
(a)に示すように、まず、ウエハストッカーユニット
32と移送ロボット室41の間を円筒ドア50によって
閉塞した状態で、ローディングユニット31と移送ロボ
ット室41の雰囲気圧力の方がウエハストッカーユニッ
ト32の雰囲気圧力より高いことを確認し、そのうえ
で、同図の(b)に示すように、円筒ドア50を移送ロ
ボット41aとともに回転させ、同図の(c)に示すよ
うに、円筒ドア50の開口50aがウエハストッカーユ
ニット32に面した位置で停止させる。続いて、移送ロ
ボット41aをウエハストッカーユニット32内に突出
させてウエハW2 の受け渡しを行なう。
【0037】このように移送ロボットの回転と連動する
回転式の円筒ドアを各移送ロボット室に設ければ、スラ
イド式の開閉ドアを用いてこれを移送ロボットと個別に
駆動する場合に比べて、駆動部が簡単で、開閉のタイミ
ングを移送ロボットの駆動に合わせて制御する必要もな
い。
【0038】なお、この円筒ドアは、ローディングユニ
ットとウエハストッカーユニットの間に用いられている
が、他のユニット間に同様の円筒ドアを配設してもよ
い。
【0039】ローディングユニット31やウエハストッ
カーユニット32の雰囲気圧力に上記のような圧力勾配
を発生させるためには、図3と同様に各密封室に給排気
口や公知の加圧手段を設ける方法を採用してもよいし、
図5に示すように、ローディングユニット31の入口に
クリーンフィルタ31aを設け、ウエハストッカーユニ
ット32を排気口32aに接続された排気手段によって
減圧することで、精密研磨装置の周囲の雰囲気を清浄化
して取り入れてもよい。この場合には、円筒ドア50に
スリット50dを設けて、円筒ドア50がローディング
ユニット31側のみに開口しているときやウエハストッ
カーユニット32側のみに開口しているときでも、ロー
ディングユニット31とウエハストッカーユニット32
がスリット50dを介して互に連通するように構成す
る。これによって、ローディングユニット31からウエ
ハストッカーユニット32に向かって常時気流が発生
し、両者の間に上記の圧力勾配が形成される。
【0040】なお、円筒ドア50のスリット50dは、
図6に示すように、円筒ドア50の周方向に同じ長さだ
けのびるものを複数設けてもよいし、図7に示すよう
に、各スリット60dの長さを段階的に変化させた円筒
ドア60でもよい。
【0041】円筒ドア50,60のスリット50d,6
0dの長さおよび配置は、円筒ドア50,60がいかな
る回転位置にあってもローディングユニット31とウエ
ハストッカーユニット32の間が少なくともいずれかの
スリットを介して連通するように設定しなければならな
い。一般的には、円筒ドア50の開口50aが、円筒ド
ア50の中心軸のまわりに30〜90度の円弧状に開口
し、各スリット50dは、180度以上の円弧状にのび
ているものが望ましい。円筒ドア60についても同様で
ある。
【0042】また、図8に展開図で示すように、比較的
短いスリット70dを少なくとも一対ずつ、複数対周方
向に配設した円筒ドア70でもよい。この場合は、各対
のスリット70dの配設位置が各対ごとに互い違いにな
るように設けることで、両側の密封室を常時連通させる
ように構成する。
【0043】(第3の実施の形態)図9は第3の実施の
形態による精密研磨装置を示すもので、これは、ウエハ
ストッカーユニット2と研磨ユニット3の間に各密封室
を隔絶する開閉手段として第1の流体仕切り隔壁装置8
0が配設され、研磨ユニット3と予洗ユニット4の間に
は第2の流体仕切り隔壁装置80が配設され、予洗ユニ
ット4と洗浄ユニット5の間には第3の流体仕切り隔壁
装置80が配設され、洗浄ユニット5とスピン脱水ユニ
ット6の間には第4の流体仕切り隔壁装置80が配設さ
れる。また、残りの密封室間、すなわち、ローティング
ユニット1と第1の移送ロボット室11の間と、スピン
脱水ユニット6からアンローディングユニット8までの
各密封室間は前述と同様のスライド式の開閉ドア20に
よって仕切られている。同様に、ローディングユニット
1のウエハ搬入口とアンローディングユニット8のウエ
ハ搬出口にも開閉ドア20が設けられる。
【0044】各流体仕切り隔壁装置80は、図10に示
すように、互に隣接する密封室(ユニット2〜6)の雰
囲気をウォーターカーテン80aによって遮断し、各密
封室の気密性を保つものであり、密封室2〜6内の雰囲
気圧力P2 〜P6 の間に、圧力勾配P2 >P3 ,P3
4 <P5 <P6 を維持したままでウエハW3 の移送を
行なうことができる。
【0045】各流体仕切り隔壁装置80は、図10の
(b)に示すように、隣接する密封室の隔壁80bにウ
エハW3 を搬出入するのに充分な開口80cを設け、開
口80cの上方にその開口幅より長尺のスリット80d
を配設して、該スリット80dから水を落下させること
によって流体カーテンであるウォーターカーテン80a
を形成させるものである。
【0046】スリット80dに供給される水は、図11
に示すように、まず、流量制御装置80eを有する供給
管を経て上部貯溜槽80fに溜められる。スリット80
dは上部貯溜槽80fの底部に開口しており、上部貯溜
槽80f内の水位を一定に保つことで常時安定した水量
のウォーターカーテン80aを得ることができる。
【0047】スリット80dから落下する水は、隔壁8
0bの開口80cの開口幅より幅広のウォーターカーテ
ン80aとなって開口80cを覆い、両密封室の雰囲気
を遮断する。下部貯溜槽80gに溜まった水は、排水管
80hを経て排出される。
【0048】各密封室間でウエハW3 を移送するとき、
例えば、ウエハストッカーユニット2から研磨ユニット
3へウエハW3 を搬入するときは、スライド式の開閉ド
アのような開閉動作を必要とすることなく、単にウォー
ターカーテン80aを横切ってウエハW3 を移動させる
だけでよい。両密封室の気密性をほとんど損なうことな
くウエハW3 の移送を行なうことができるうえに、複雑
な開閉動作等を全く必要としないため、ウエハW3 の移
送に費す時間を大幅に短縮し、かつ、開閉ドア等の駆動
部のために装置が複雑化するのを回避できる。
【0049】これによって、精密研磨装置の自動化や高
速化と低コスト化を大きく促進できる。
【0050】なお、ウォーターカーテンを横切るときに
ウエハが濡れる点については、研磨ユニットにおける研
磨工程や予洗ユニットおよび洗浄ユニットにおける洗浄
工程がスラリーや洗浄液あるいは水等の液体を用いるも
のであるから何ら弊害となるおそれはない。返って、予
めスラリー等に対するウエハのなじみを良くするいわゆ
るプリウェット効果や、ウォーターカーテンの流水によ
ってウエハを洗浄できる等の利点が付加される。
【0051】すなわち、最後に乾燥工程が設けられてい
るため、その前の工程でウォーターカーテンによってウ
エハが濡れることは問題にならない。
【0052】本実施の形態は、ウエハストッカーユニッ
トからスピン脱水ユニットに到る工程の密封室間にウォ
ーターカーテンによる流体仕切り隔壁装置を配設したも
のであるが、必要であれば残りの密封室間においても、
開閉ドアの替わりに流体仕切り隔壁装置を用いることが
できることは言うまでもない。
【0053】図12は本実施の形態の一変形例を示す。
これは、図10の隔壁80bと同様の隔壁90bの開口
90cの上端に堰90eを有する液溜90fを設けて、
堰90eから水をオバーフローさせてウォーターカーテ
ン90aを形成させるものである。下部貯溜槽90gの
外側にタンク90hを配設して、ここに多量の水を溜め
ることができるように構成するとよい。
【0054】あるいは、図13に示すように、隔壁10
0bの開口100cの上部を湾曲させて案内壁100f
を形成し、長尺のノズル100eから吐出される水を直
接案内壁100fに沿って流動させることでウォーター
カーテン100aを形成してもよい。
【0055】さらには、図14に示すように、隔壁11
0bの開口110cに公知のエアーカーテン110aを
設けてもよい。この場合は、ウエハが濡れるおそれがな
いため、乾燥工程の後の開閉ドア等の替わりに流体仕切
り隔壁装置を用いることができるという利点が付加され
る。
【0056】図15はさらに別の変形例を示す。これ
は、2つの密封室、例えばウエハストッカーユニット2
と研磨ユニットと3の間の隔壁120bに液体槽である
液槽120aを取り付けて、液槽120a内の水をくぐ
ってウエハW3 が搬送されるように構成したものであ
る。隔壁120bの開口120cは液槽120aの液面
120dの下に開口しており、ウエハストッカーユニッ
ト2内において液槽120aに投入されたウエハW3
は、図16に示すように、液槽120aの側壁と底壁に
設けられた水流発生手段であるノズル120eから吐出
される水流によって研磨ユニット側に搬送される。
【0057】液槽120aのノズル120eは、図16
の(a)に示すように研磨ユニット側に傾斜して配設さ
れ、同図の(b)に示すように、ウエハW3 の両面に向
かって水流を吐出する。
【0058】また、本変形例では、ウエハが液槽の中を
くぐって搬送されるので液体を飛散させることがない。
そのため、この液体中に前密封室内で発生した不要物を
除去できる溶質を添加することが可能になり、その結
果、ウエハ搬送に伴なう不要物の汚染をより効果的に防
止することができる。このとき好ましい溶質とは、Si
2 粒子や研磨屑、疎水性の高い物質等に対して静電的
反発を促し、ウエハから除去する水酸化カリウム、アン
モニア等の塩基やイソプロピルアルコール等のアルコー
ル類である。また、金属、有機物等を酸化する塩酸、硫
酸、フッ素等の酸や、SiO2 粒子や研磨屑、疎水性の
高い物質等を水中で安定にトラップすることができる中
性、カチオン性、アニオン性の界面活性剤等も除去した
い物質に応じて適宜選択することのできる好ましい溶質
である。
【0059】さらに不要物をウエハより効果的に除去す
るために上記の液槽に公知の超音波発振装置を設置して
も構わない。
【0060】本変形例は、ウエハが両密封室の間を移動
するときに、各密封室の気密性を損なうおそれが皆無で
あるという利点を有する。
【0061】なお、前述のように、本実施の形態では、
ローディングユニットと第1の移送ロボット室の間と、
スピン脱水ユニットからアンローディングユニットまで
の各密封室間は前述したスライド式の開閉ドアによって
仕切られ、同様に、ローディングユニットのウエハ搬入
口とアンローディングユニットのウエハ搬出口にも開閉
ドアが設けられているが、これらの替わりに、上記と同
様の流体仕切り隔壁装置を用いてもよい。
【0062】
【発明の効果】本発明は上述のように構成されているの
で、以下に記載するような効果を奏する。
【0063】研磨粉等の粉塵が、ウエハのセンタリング
や洗浄等の前後処理を行なう装置やその外側のクリーン
ルームの雰囲気等を汚染するのを回避できるうえに、機
構や制御が簡単で研磨工程の自動化や高速化を大きく促
進できる。これによって、精密研磨装置のランニングコ
ストやメンテナンスのコストを低減するとともに、クリ
ーンルーム内の露光装置等においてその性能が研磨粉等
によって低下したり、メンテナンスのコストが上昇する
等のトラブルを回避できる。また、精密研磨装置のスル
ープットを向上させて、半導体ディバイス等の低価格化
に大きく貢献できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態による精密研磨装置を説明す
る模式図である。
【図2】図1の装置の一部分を示すもので、(a)は第
1の移送ロボット室とウエハストッカーユニットの間の
開閉ドアを開いた状態、(b)はウエハストッカーユニ
ットと研磨ユニットの間の開閉ドアを開いた状態を示す
説明図である。
【図3】図2の装置の各密封室を加圧または減圧する方
法を説明する図である。
【図4】第2の実施の形態によるローディングユニット
と移送ロボット室とウエハストッカーユニットを示すも
ので、(a)は円筒ドアをローディングユニットに開口
させた状態、(b)は(a)に示す状態から円筒ドアを
ウエハストッカーユニット側に回転させる途中の状態、
(c)は円筒ドアをウエハストッカーユニット側に開口
させた状態をそれぞれ説明する断面図である。
【図5】第2の実施の形態の第1の変形例による円筒ド
アを説明する図である。
【図6】図5の円筒ドアのスリットの配置を示す側面図
である。
【図7】図6のスリットの配置を変更した第2の変形例
による円筒ドアを示す側面図である。
【図8】図6のスリットの配置を変更した第3の変形例
による円筒ドアを平面状に展開した状態で示す展開図で
ある。
【図9】第3の実施の形態による精密研磨装置を説明す
る模式図である。
【図10】図9の装置の一部分を示すもので、(a)は
ウエハストッカーユニットからスピン脱水ユニットまで
を示す部分模式断面図、(b)は流体仕切り隔壁装置を
拡大して示す拡大部分断面図である。
【図11】図10の流体仕切り隔壁装置を示す斜視図で
ある。
【図12】第3の実施の形態の第1の変形例による流体
仕切り隔壁装置を示す模式部分断面図である。
【図13】第3の実施の形態の第2の変形例による流体
仕切り隔壁装置を示す模式部分断面図である。
【図14】第3の実施の形態の第3の変形例による流体
仕切り隔壁装置を示す模式部分断面図である。
【図15】第3の実施の形態の第4の変形例による流体
仕切り隔壁装置を異なる2つの断面図で示すものであ
る。
【図16】図15の(a)の破線で囲んだ部分Aと同図
の(b)の破線で囲んだ部分Bをそれぞれ拡大して示す
拡大断面図である。
【図17】一従来例による精密研磨装置を示す平面図で
ある。
【符号の説明】
1,31 ローディングユニット 2,32 ウエハストッカーユニット 3 研磨ユニット 4 予洗ユニット 5 洗浄ユニット 6 スピン脱水ユニット 7 乾燥ユニット 8 アンローディングユニット 11〜13,41 移送ロボット室 11a〜13a,41a 移送ロボット 20 開閉ドア 21 給排気口 50,60,70 円筒ドア 50d,60d,70d スリット 80 液体仕切隔壁装置 80a,90a,100a ウォーターカーテン 110a エアカーテン 120a 液槽

Claims (32)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 研磨手段を備えた第1の密封室と、第2
    の密封室を介して前記第1の密封室に連通自在である第
    3の密封室と、前記第1および前記第3の密封室と前記
    第2の密封室の間を交互に連通させる第1および第2の
    開閉手段と、少なくとも前記第1の開閉手段を開くとき
    に前記第1の密封室の雰囲気圧力が前記第2の密封室の
    雰囲気圧力より低くなるように両密封室の前記雰囲気圧
    力を制御する雰囲気圧力制御手段を有する精密研磨装
    置。
  2. 【請求項2】 雰囲気圧力制御手段が、第2の開閉手段
    を開くときに第2の密封室の雰囲気圧力が第3の密封室
    の雰囲気圧力より低くなるように両密封室の前記雰囲気
    圧力を制御するように構成されていることを特徴とする
    請求項1記載の精密研磨装置。
  3. 【請求項3】 雰囲気圧力制御手段が、各密封室のそれ
    ぞれの雰囲気圧力を個別に制御する給排気手段を備えて
    いることを特徴とする請求項1または2記載の精密研磨
    装置。
  4. 【請求項4】 各開閉手段にこれを部分的に開口させる
    部分開口手段が設けられており、雰囲気圧力制御手段
    が、第1の密封室を常時排気する排気手段を備えている
    ことを特徴とする請求項1または2記載の精密研磨装
    置。
  5. 【請求項5】 各開閉手段が、スライド式の開閉ドアで
    あることを特徴とする請求項1ないし4いずれか1項記
    載の精密研磨装置。
  6. 【請求項6】 各密封室の間で被加工物を移送する移送
    ロボットが設けられており、第1および第2の開閉手段
    が、前記移送ロボットに連動して開閉する回転式の円筒
    ドアによって構成されていることを特徴とする請求項1
    ないし4いずれか1項記載の精密研磨装置。
  7. 【請求項7】 移送ロボットが第2または第3の密封室
    に配設されていることを特徴とする請求項1ないし6い
    ずれか1項記載の精密研磨装置。
  8. 【請求項8】 第1の密封室が、その内部で上方から下
    方へクリーンエアーを通風させるダウンフロー機構を備
    えていることを特徴とする請求項1ないし7いずれか1
    項記載の精密研磨装置。
  9. 【請求項9】 精密研磨装置の同一側面に面してローデ
    ィングユニットとアンローディングユニットが配設され
    ていることを特徴とする請求項1ないし8いずれか1項
    記載の精密研磨装置。
  10. 【請求項10】 請求項1ないし9いずれか1項記載の
    精密研磨装置によって被加工物を精密研磨する工程を有
    する精密研磨方法。
  11. 【請求項11】 被加工物が半導体であることを特徴と
    する請求項10記載の精密研磨方法。
  12. 【請求項12】 被加工物の被研磨面が、絶縁膜または
    金属膜の表面であることを特徴とする請求項10または
    11記載の精密研磨方法。
  13. 【請求項13】 被加工物が、絶縁性基板上に半導体膜
    を形成したものであることを特徴とする請求項10ない
    し12いずれか1項記載の精密研磨方法。
  14. 【請求項14】 研磨手段を備えた第1の密封室と、第
    2の密封室と前記第1の密封室の間を連通させる開閉手
    段と、前記開閉手段が開くときに前記第1の密封室の雰
    囲気圧力が前記第2の密封室の雰囲気圧力より低くなる
    ように両密封室の前記雰囲気圧力を制御する雰囲気圧力
    制御手段を有する精密研磨装置において、前記第1の密
    封室が、その内部で上方から下方へクリーンエアーを通
    風させるダウンフロー機構を備えていることを特徴とす
    る精密研磨装置。
  15. 【請求項15】 雰囲気圧力制御手段が、各密封室のそ
    れぞれの雰囲気圧力を個別に制御する給排気手段を備え
    ていることを特徴とする請求項14記載の精密研磨装
    置。
  16. 【請求項16】 開閉手段にこれを部分的に開口させる
    部分開口手段が設けられており、雰囲気圧力制御手段
    が、第1の密封室を常時排気する排気手段を備えている
    ことを特徴とする請求項14または15記載の精密研磨
    装置。
  17. 【請求項17】 開閉手段が、スライド式の開閉ドアで
    あることを特徴とする請求項14ないし16いずれか1
    項記載の精密研磨装置。
  18. 【請求項18】 被加工物が各密封室の間を移送される
    ための移送ロボットが設けられており、開閉手段が、前
    記移送ロボットに連動して開閉する回転式の円筒ドアに
    よって構成されていることを特徴とする請求項14ない
    し16いずれか1項記載の精密研磨装置。
  19. 【請求項19】 移送ロボットが第1または第2の密封
    室に配設されていることを特徴とする請求項14ないし
    18いずれか1項記載の精密研磨装置。
  20. 【請求項20】 被加工物を一時待機させる第1のユニ
    ットと、前記第1のユニットから移送された被加工物を
    研磨する研磨手段を備えた第2のユニットと、前記第2
    のユニットから移送された被加工物を洗浄する第3のユ
    ニットと、前記第3のユニットから移送された被加工物
    を乾燥させる第4のユニットと、前記第1ないし前記第
    4のユニットのそれぞれの雰囲気を個別に密封する密封
    手段と、各ユニットの雰囲気圧力を外部の雰囲気圧力よ
    り低い値に制御する雰囲気圧力制御手段を有する精密研
    磨装置。
  21. 【請求項21】 雰囲気圧力制御手段が、第1のユニッ
    トから第2のユニットに向かって低減する圧力勾配と、
    第4のユニットから第3のユニットを経て前記第2のユ
    ニットに向かって低減する圧力勾配を発生させるように
    構成されていることを特徴とする請求項20記載の精密
    研磨装置。
  22. 【請求項22】 雰囲気圧力制御手段が、第1のユニッ
    トから第2のユニットに向かって流動するクリーンエア
    ーの気流と、第4のユニットから第3のユニットを経て
    前記第2のユニットに向かって流動するクリーンエアー
    の気流を発生させるように構成されていることを特徴と
    する請求項20または21記載の精密研磨装置。
  23. 【請求項23】 各ユニットの間に、被加工物を移送す
    る移送ロボットが配設されていることを特徴とする請求
    項20ないし22いずれか1項記載の精密研磨装置
  24. 【請求項24】 被加工物を研磨する研磨手段を備えた
    第1の密封室と、その搬入側と搬出側にそれぞれ隣接す
    る第2および第3の密封室と、前記被加工物を透過自在
    である流体カーテンを介して前記第2および前記第3の
    密封室のそれぞれと前記第1の密封室の間を連通させる
    流体仕切り隔壁装置と、前記第1の密封室の雰囲気圧力
    が前記第2および前記第3の密封室のそれぞれの雰囲気
    圧力より低くなるように各雰囲気圧力を制御する雰囲気
    圧力制御手段を有する精密研磨装置。
  25. 【請求項25】 流体カーテンがウォーターカーテンで
    あることを特徴とする請求項24記載の精密研磨装置。
  26. 【請求項26】 流体カーテンの替わりに、被加工物を
    沈ませて移動させることの自在である液槽を用いること
    を特徴とする請求項24記載の精密研磨装置。
  27. 【請求項27】 液槽の液体が、酸性物質、塩基性物
    質、アルコール、界面活性剤のうちの少なくとも1つを
    含有することを特徴とする請求項26記載の精密研磨装
    置。
  28. 【請求項28】 液槽が、被加工物を移動させるための
    水流を発生する水流発生手段を有することを特徴とする
    請求項26または27記載の精密研磨装置。
  29. 【請求項29】 被加工物を一時待機させる第1のユニ
    ットと、前記第1のユニットから移送された被加工物を
    研磨する研磨手段を備えた第2のユニットと、前記第2
    のユニットから移送された被加工物を洗浄する第3のユ
    ニットと、前記第3のユニットから移送された被加工物
    を乾燥させる第4のユニットと、前記第1ないし前記第
    4のユニットのそれぞれの雰囲気を個別に密封する密封
    手段と、各ユニットの雰囲気圧力を外部の雰囲気圧力よ
    り低い値に制御する雰囲気圧力制御手段を有し、前記密
    封手段が、前記被加工物を透過自在な流体カーテンまた
    は液体槽を介して少なくとも前記第1のユニットと前記
    第2のユニットの間を連通させる流体仕切り隔壁装置を
    備えていることを特徴とする精密研磨装置。
  30. 【請求項30】 雰囲気圧力制御手段が、第1のユニッ
    トから第2のユニットに向かって低減する圧力勾配と、
    第4のユニットから第3のユニットを経て前記第2のユ
    ニットに向かって低減する圧力勾配を発生させるように
    構成されていることを特徴とする請求項29記載の精密
    研磨装置。
  31. 【請求項31】 被加工物を搬入するためのローディン
    グユニットと前記被加工物を搬出するためのアンローデ
    ィングユニットが、精密研磨装置の同一側面に面して配
    設されていることを特徴とする請求項29または30記
    載の精密研磨装置。
  32. 【請求項32】 請求項14ないし31いずれか1項記
    載の精密研磨装置によって被加工物を研磨する工程を有
    する精密研磨方法。
JP13286397A 1996-05-10 1997-05-07 精密研磨装置および精密研磨方法 Pending JPH1074717A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002520847A (ja) * 1998-07-13 2002-07-09 エーケーティー株式会社 基板処理システムのガス流量制御
KR100934450B1 (ko) 2002-03-08 2009-12-29 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 기판을 처리하는 방법
JP2010124006A (ja) * 1999-01-06 2010-06-03 Tokyo Seimitsu Co Ltd 平面加工装置及び方法
JP4772679B2 (ja) * 2004-02-25 2011-09-14 株式会社荏原製作所 研磨装置及び基板処理装置
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WO2022103528A1 (en) * 2020-11-11 2022-05-19 Applied Materials, Inc. Substrate handling in a modular polishing system with single substrate cleaning chambers

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