JPH10727A - Reflection preventive film and manufacture thereof - Google Patents

Reflection preventive film and manufacture thereof

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JPH10727A
JPH10727A JP8177509A JP17750996A JPH10727A JP H10727 A JPH10727 A JP H10727A JP 8177509 A JP8177509 A JP 8177509A JP 17750996 A JP17750996 A JP 17750996A JP H10727 A JPH10727 A JP H10727A
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layer
refractive index
film
index layer
reflection
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Yurie Oota
友里恵 太田
Norinaga Nakamura
典永 中村
Mitsuru Tsuchiya
充 土屋
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly functional and high quality reflection preventive film using an application method which is advantageous in terms of mass production and equipment cost. SOLUTION: This reflection preventive film consists of a transparent base material film 1 and a hard coat layer 2, a layer 3 with high index of reflection and a layer 4 with low index of reflection which overlie this film directly or through another layer. In this case, the layer 4 with lox index of reflection comprises a SiO2 gel layer formed of an SiO2 sol liquid which is prepared by hydrolyzing silicon alkoxide expressed by Rm Si(OR')n (R and R' are a 1-10C alkyl group each; m+n is 4; and m and n are an integer each).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ワープロ、コンピ
ュータ、テレビ、プラズマディスプレイパネル等の各種
ディスプレイ、液晶表示装置に用いる偏光板の表面、透
明プラスチック類からなるサングラスレンズ、度付メガ
ネレンズ、カメラ用ファインダーレンズ等の光学レン
ズ、各種計器のカバー、自動車、電車等の窓ガラス等の
表面の反射防止に優れた反射防止フイルム及びその製造
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to various displays such as word processors, computers, televisions and plasma display panels, surfaces of polarizing plates used in liquid crystal displays, sunglass lenses made of transparent plastics, prescription eyeglass lenses, and cameras. The present invention relates to an antireflection film excellent in antireflection of the surface of an optical lens such as a finder lens, a cover of various instruments, a window glass of an automobile or a train, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、カーブミラー、バックミラー、ゴ
ーグル、窓ガラス、パソコン、ワープロ、プラズマディ
スプレイ等のディスプレイ、その他種々の商業ディスプ
レイ等には、ガラスやプラスチック等の透明基板が用い
られており、これらの透明基板を通して物体や文字、図
形等の視覚情報を観察する場合、或いはミラーでは透明
基板を通して反射層からの像を観察する場合に、これら
の透明基板の表面が外光で反射して内部の視覚情報が見
えにくいという問題があった。
2. Description of the Related Art Conventionally, transparent substrates such as glass and plastic have been used for displays such as curve mirrors, rearview mirrors, goggles, window glasses, personal computers, word processors, plasma displays, and various other commercial displays. When observing visual information such as objects, characters, and figures through these transparent substrates, or when observing an image from a reflective layer through a transparent substrate with a mirror, the surface of these transparent substrates is There is a problem that visual information of the person is difficult to see.

【0003】このような透明基板の反射を防止する方法
としては、従来、ガラスやプラスチックの表面に反射防
止塗料を塗布する方法、ガラス・プラスチック基材等の
透明基板の表面に、必要に応じてハードコート層を介し
て膜厚0.1μm程度のMgF2やSiO2等の薄膜を蒸
着やスパッタリング、プラズマCVD法等の気相法によ
り形成する方法があった。
[0003] As a method of preventing reflection of such a transparent substrate, a method of applying an antireflection paint to the surface of glass or plastic, or a method of coating a surface of a transparent substrate such as a glass or plastic substrate, if necessary, have been used. There has been a method of forming a thin film of about 0.1 μm in thickness such as MgF 2 or SiO 2 through a hard coat layer by a vapor phase method such as vapor deposition, sputtering, or plasma CVD.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】気相法による機能性薄
膜の製造方法は、高機能且つ高品質な薄膜を得ることが
可能であるが、高真空系での精密な雰囲気の制御が必要
であり、又、特殊な加熱又はイオン発生加速装置を必要
とし、製造装置が複雑で大型化するために、必然的に製
造コストが高くなるという問題がある。又、薄膜の大面
積化或いは複雑な形状のものを製造することが困難であ
るという問題がある。他方、塗布法による機能性薄膜の
製造方法のうち、スプレー法によるものは、塗液の利用
効率が悪く、成膜条件の制御が困難である等の問題があ
る。又、浸漬法及びスクリーン印刷法等による塗布法を
利用する機能性薄膜の製造方法は、成膜原料の利用効率
が良く、大量生産や設備コスト面での有利さがあるが、
塗布法により得られる機能性薄膜は、気相法により得ら
れる薄膜に比較して機能及び品質が劣ると云う問題点が
ある。
According to the method for producing a functional thin film by a vapor phase method, a high-performance and high-quality thin film can be obtained, but precise atmosphere control in a high vacuum system is required. In addition, there is a problem that a special heating or ion generation acceleration device is required, and the manufacturing apparatus is complicated and large, so that the manufacturing cost is necessarily increased. Further, there is a problem that it is difficult to increase the area of the thin film or to manufacture a thin film having a complicated shape. On the other hand, among the methods for producing a functional thin film by a coating method, the method by a spray method has problems such as poor use efficiency of a coating liquid and difficulty in controlling film forming conditions. In addition, a method for producing a functional thin film using a coating method such as an immersion method and a screen printing method has a good use efficiency of a film forming material and has an advantage in mass production and equipment cost,
The functional thin film obtained by the coating method has a problem that the function and quality are inferior to the thin film obtained by the gas phase method.

【0005】近年、塗布法によって優れた品質の薄膜を
得る方法として、無機又は有機超微粒子を酸性及び又は
アルカリ水溶液中に分散した分散液を、基材上に塗布
し、焼成する方法が提案されている。この製造方法によ
ると、大量生産や設備コスト面では有利であるが、製造
工程中に高温での焼成過程を必要とするため、プラスチ
ック基材には成膜が不可能なこと、又、基材と塗布膜と
の収縮度の違い等により被膜の均一性が十分でなく、気
相法により得られる薄膜に比較した場合に、依然として
性能が劣り、又、熱処理に長時間(例えば、数十分間以
上)を要し、生産性に劣ると云う欠点を有する。従っ
て、本発明の目的は、高機能且つ高品質な反射防止フイ
ルムを、大量生産や設備コスト面で有利な塗布法によっ
て提供することである。
In recent years, as a method for obtaining a thin film of excellent quality by a coating method, there has been proposed a method in which a dispersion liquid in which inorganic or organic ultrafine particles are dispersed in an acidic or alkaline aqueous solution is applied to a substrate and fired. ing. This method is advantageous in terms of mass production and equipment costs, but requires a high-temperature sintering process during the manufacturing process, making it impossible to form a film on a plastic substrate. The uniformity of the film is not sufficient due to the difference in the degree of shrinkage between the film and the coating film, and the performance is still inferior when compared with a thin film obtained by a gas phase method. Or more), resulting in poor productivity. Therefore, an object of the present invention is to provide a high-performance and high-quality antireflection film by a coating method which is advantageous in mass production and equipment cost.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的は以下の本発明
によって達成される。即ち、本発明は、透明基材フイル
ム上に、直接又は他の層を介してハードコート層、高屈
折率層及び低屈折率層を積層してなる反射防止フイルム
において、上記低屈折率層がRmSi(OR´)n(R及
びR´は炭素数1〜10のアルキル基を表し、m+nは
4であり、m及びnはそれぞれ整数である)で表される
珪素アルコキシドを加水分解して調製したSiO2ゾル
液から形成されたSiO2ゲル層からなることを特徴と
する反射防止フイルム、及びその製造方法である。
The above object is achieved by the present invention described below. That is, the present invention provides an antireflection film comprising a hard coat layer, a high refractive index layer and a low refractive index layer laminated directly or through another layer on a transparent base film, wherein the low refractive index layer is Hydrolyzing a silicon alkoxide represented by R m Si (OR ′) n (R and R ′ represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, m + n is 4 and m and n are each an integer) An anti-reflection film comprising a SiO 2 gel layer formed from a SiO 2 sol solution prepared by the above method, and a method for producing the same.

【0007】本発明によれば、低級珪素アルコキシドを
加水分解して、数ナノメートルの微粒子をゾル−ゲル法
によって調製し、この超微粒子が分散しているゾル溶液
を、透明基材フイルムの面のハードコート層上に形成し
た高屈折率層上へ塗布後、透明基材フイルムの熱変形温
度以下の温度で熱処理するか、或いは活性エネルギー線
を照射してSiO2ゲル層を形成することにより、気相
法により得られる低屈折率層の性能とほぼ同様な性能を
有する低屈折率層が得られ、プラスチック基材等の如く
熱変形温度が低温である基材を用いても、高機能且つ高
品質の反射防止フイルムの形成が可能である。
According to the present invention, a lower silicon alkoxide is hydrolyzed to prepare fine particles of several nanometers by a sol-gel method, and the sol solution in which the ultrafine particles are dispersed is coated on the surface of a transparent substrate film. After coating on the high refractive index layer formed on the hard coat layer, heat treatment is performed at a temperature equal to or lower than the thermal deformation temperature of the transparent base film, or by irradiating active energy rays to form a SiO 2 gel layer. A low-refractive-index layer having almost the same performance as the low-refractive-index layer obtained by the gas-phase method can be obtained, and even when a substrate having a low heat deformation temperature such as a plastic substrate is used, high performance is obtained. In addition, a high-quality antireflection film can be formed.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】次に実施の形態を挙げて本発明を
更に詳細に説明する。図1は、本発明の反射防止フイル
ムの一例の断面を図解的に示す図である。この例の反射
防止フイルムは、透明基材フイルム1上に、ハードコー
ト層2、高苦節率層3及び低屈折率層4を積層した例で
あり、図中の符号5は必要に応じて積層される接着層又
はプライマー層である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, the present invention will be described in more detail with reference to embodiments. FIG. 1 is a diagram schematically showing a cross section of an example of the antireflection film of the present invention. The anti-reflection film of this example is an example in which a hard coat layer 2, a high refractive index layer 3, and a low refractive index layer 4 are laminated on a transparent base film 1, and reference numeral 5 in the drawing denotes a laminate as necessary. Adhesive layer or primer layer to be formed.

【0009】本発明において、上記透明基材フイルムと
しては、透明性のあるフイルムであればいずれのフイル
ムでもよく、例えば、トリアセチルセルロースフイル
ム、ジアセチルセルロースフイルム、アセテートブチレ
ートセルロースフイルム、ポリエーテルサルホンフイル
ム、ポリアクリル系樹脂フイルム、ポリウレタン系樹脂
フイルム、ポリエステルフイルム、ポリカーボネートフ
イルム、ポリスルホンフイルム、ポリエーテルフイル
ム、トリメチルペンテンフイルム、ポリエーテルケトン
フイルム、(メタ)アクリロニトリルフイルム等が使用
できるが、これらの中では一軸又は二軸延伸ポリエステ
ルが透明性及び耐熱性に優れ、光学的に異方性が無い点
で好適に用いられる。その厚みは、通常は8μm〜1,
000μm程度のものが好適に用いられる。
In the present invention, the transparent substrate film may be any film as long as it is a transparent film, for example, triacetyl cellulose film, diacetyl cellulose film, acetate butyrate cellulose film, polyether sulfone. Films, polyacrylic resin films, polyurethane resin films, polyester films, polycarbonate films, polysulfone films, polyether films, trimethylpentene films, polyetherketone films, (meth) acrylonitrile films, etc. can be used. Uniaxially or biaxially stretched polyester is preferably used because it is excellent in transparency and heat resistance and has no optical anisotropy. Its thickness is usually 8 μm to 1,
Those having a size of about 000 μm are preferably used.

【0010】上記透明基材フイルムの面に形成するハー
ドコート層及び高屈折率層は、熱硬化性樹脂や電離放射
線硬化型樹脂から形成するが、前記透明基材フイルムが
熱可塑性樹脂からなるので、塗膜の硬化時に高温を必要
としない電離放射線硬化型樹脂を使用することが好まし
い。尚、本明細書において、「ハードコート層」或いは
「ハード性を有する」とは、JIS K5400で示さ
れる鉛筆硬度試験でH以上の硬度を示すものをいう。
又、本発明において「高屈折率」及び「低屈折率」と
は、互いに隣接する層同士の相対的な屈折率の高低をい
う。
The hard coat layer and the high refractive index layer formed on the surface of the transparent base film are formed of a thermosetting resin or an ionizing radiation-curable resin. However, since the transparent base film is formed of a thermoplastic resin, It is preferable to use an ionizing radiation curable resin that does not require a high temperature when the coating film is cured. In the present specification, "hard coat layer" or "having a hard property" means a material having a hardness of H or more in a pencil hardness test shown in JIS K5400.
In the present invention, the terms “high refractive index” and “low refractive index” refer to the relative refractive index of adjacent layers.

【0011】ハードコート層及び高屈折率層を形成する
のに好適な電離放射線硬化型樹脂としては、好ましくは
アクリレート系の官能基を有するもの、例えば、比較的
低分子量のポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、アク
リル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、アルキッド樹
脂、スピロアセタール樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリ
チオールポリエン樹脂、多価アルコール等の多官能化合
物の(メタ)アクリレート等のオリゴマー又はプレポリ
マー、及び反応性希釈剤としてエチル(メタ)アクリレ
ート、エチルヘキシル(メタ)アクリレート、スチレ
ン、メチルスチレン、N−ビニルピロリドン等の単官能
モノマー、並びに多官能モノマー、例えば、トリメチロ
ールプロパントリ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオ
ール(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコール
ジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メ
タ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)
アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)
アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)ア
クリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリ
レート等を比較的多量に含有するものが使用できる。更
に、上記の電離放射線硬化型樹脂を紫外線硬化型樹脂と
するには、この中に光重合開始剤として、アセトフェノ
ン類、ベンゾフェノン類、ミヒラーベンゾイルベンゾエ
ート、α−アミロキシムエステル、テトラメチルチウラ
ムモノサルファイド、チオキサントン類や、光増感剤と
してn−ブチルアミン、トリエチルアミン、トリーn−
ブチルホスフィン等を混合して用いることができる。
The ionizing radiation-curable resin suitable for forming the hard coat layer and the high refractive index layer is preferably one having an acrylate-based functional group, for example, a polyester resin or a polyether resin having a relatively low molecular weight. , Acrylic resin, epoxy resin, urethane resin, alkyd resin, spiro acetal resin, polybutadiene resin, polythiol polyene resin, oligomer or prepolymer such as (meth) acrylate of polyfunctional compound such as polyhydric alcohol, and reactive diluent Monofunctional monomers such as ethyl (meth) acrylate, ethylhexyl (meth) acrylate, styrene, methylstyrene, N-vinylpyrrolidone, and polyfunctional monomers such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate and hexanediol (meth) acryl Chromatography, tri propylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth)
Acrylate, dipentaerythritol hexa (meth)
Those containing relatively large amounts of acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate and the like can be used. Further, in order to make the above-mentioned ionizing radiation-curable resin an ultraviolet-curable resin, a photopolymerization initiator containing acetophenones, benzophenones, Michler benzoyl benzoate, α-amyloxime ester, tetramethylthiuram monosulfide is used. , Thioxanthones, n-butylamine, triethylamine, and tri-n-amine as photosensitizers
Butyl phosphine and the like can be mixed and used.

【0012】ハードコート層及び高屈折率層を、上記の
電離放射線硬化型樹脂単独で形成する場合、硬化時に架
橋密度が高くなりすぎると、可撓性が低下し、得られる
反射防止フイルムの屈曲時にハードコート層或いは高屈
折率層にクラック等が入り易くなる場合がある。この場
合にはハードコート層及び高屈折率層形成用組成物に、
非反応性樹脂を組成物全体中で約50重量%を占める量
までの範囲で混合することが好ましい。非反応性樹脂の
添加量が多すぎると、得られる層のハード性が不十分に
なる場合がある。この非反応性樹脂としては主として熱
可塑性樹脂が用いられる。特に、電離放射線硬化型樹脂
にポリエステルアクリレートとポリウレタンアクリレー
トの混合物を使用した場合には、使用する熱可塑性樹脂
にはポリメタクリル酸メチルアクリレート又はポリメタ
クリル酸ブチルアクリレートが塗膜の硬度を高く保つこ
とができる。しかも、この場合、主たる電離放射線硬化
型樹脂との屈折率が近いので塗膜の透明性を損なわず、
透明性、特に、低ヘイズ値、高透過率、又、相溶性の点
において有利である。
When the hard coat layer and the high refractive index layer are formed of the above ionizing radiation curable resin alone, if the crosslinking density becomes too high during curing, the flexibility is reduced, and the resulting antireflection film is bent. Occasionally, the hard coat layer or the high refractive index layer may easily crack. In this case, the hard coat layer and the high refractive index layer forming composition,
It is preferred to mix the non-reactive resin in an amount up to about 50% by weight of the total composition. If the amount of the non-reactive resin is too large, the resulting layer may have insufficient hardness. As the non-reactive resin, a thermoplastic resin is mainly used. In particular, when a mixture of polyester acrylate and polyurethane acrylate is used for the ionizing radiation-curable resin, polymethyl methacrylate or polybutyl methacrylate for the thermoplastic resin used can keep the hardness of the coating film high. it can. Moreover, in this case, since the refractive index of the main ionizing radiation-curable resin is close, the transparency of the coating film is not impaired,
This is advantageous in terms of transparency, particularly low haze value, high transmittance, and compatibility.

【0013】以上の成分からなるハードコート層及び高
屈折率層の屈折率は通常1.49〜1.51程度であ
る。図1に示した例では、ハードコート層及び高屈折率
層を高屈折率にするために、ハードコート層及び高屈折
率層形成用樹脂組成物中に、高屈折率の金属や金属酸化
物の超微粒子を添加して、形成されるハードコート層及
び高屈折率層の屈折率を1.50〜2.30程度に向上
させることが好ましい。ハードコート層及び高屈折率層
の屈折率を向上させる材料としては、例えば、ZnO
(屈折率1.90)、TiO2(屈折率2.3〜2.
7)、CeO2(屈折率1.95)、Sb25(屈折率
1.71)、SnO2、ITO(屈折率1.95)、Y2
3(屈折率1.87)、La23(屈折率1.9
5)、ZrO2(屈折率2.05)、Al23(屈折率
1.63)等の微粉末が挙げられる。又、ハードコート
層及び高屈折率層の屈折率を更に向上させるために、ハ
ードコート層及び高屈折率層形成用樹脂組成物中に、高
屈折率成分の分子や原子を含んだ樹脂を用いてもよい。
前記屈折率を向上させる成分の分子及び原子としては、
F以外のハロゲン原子、S、N、Pの原子、芳香族環等
が挙げられる。
The refractive index of the hard coat layer and the high refractive index layer composed of the above components is usually about 1.49 to 1.51. In the example shown in FIG. 1, in order to make the hard coat layer and the high refractive index layer have a high refractive index, a metal or a metal oxide having a high refractive index is contained in the resin composition for forming the hard coat layer and the high refractive index layer. It is preferable to improve the refractive index of the formed hard coat layer and high refractive index layer to about 1.50 to 2.30 by adding ultrafine particles of the above. As a material for improving the refractive index of the hard coat layer and the high refractive index layer, for example, ZnO
(Refractive index 1.90), TiO 2 (refractive index 2.3-2.
7), CeO 2 (refractive index: 1.95), Sb 2 O 5 (refractive index: 1.71), SnO 2 , ITO (refractive index: 1.95), Y 2
O 3 (refractive index 1.87), La 2 O 3 (refractive index 1.9)
5), fine powders such as ZrO 2 (refractive index: 2.05) and Al 2 O 3 (refractive index: 1.63). In addition, in order to further improve the refractive index of the hard coat layer and the high refractive index layer, in the resin composition for forming the hard coat layer and the high refractive index layer, a resin containing molecules and atoms of a high refractive index component is used. You may.
As the molecules and atoms of the component for improving the refractive index,
Examples include halogen atoms other than F, atoms of S, N, and P, and aromatic rings.

【0014】以上の成分からなるハードコート層及び高
屈折率層は、以上の成分を適当な溶剤に溶解又は分散さ
せて塗工液とし、この塗工液を前記基材フイルムに直接
塗布して硬化させるか、或いは離型フイルムに塗布して
硬化させた後、適当な接着剤を用いて前記透明基材フイ
ルムに転写させて形成することもできる。ハードコート
層の厚みは通常約3〜10μm程度が好ましい。上記ハ
ードコート層及び高屈折率層の硬化には、通常の電離放
射線硬化型樹脂の硬化方法、即ち、電子線又は紫外線の
照射によって硬化する方法を用いることができる。例え
ば、電子線硬化の場合にはコックロフトワルトン型、バ
ンデグラフ型、共振変圧型、絶縁コア変圧器型、直線
型、ダイナミトロン型、高周波型等の各種電子線加速器
から放出される50〜1000KeV、好ましくは10
0〜300KeVのエネルギーを有する電子線等が使用
され、紫外線硬化の場合には超高圧水銀灯、高圧水銀
灯、低圧水銀灯、カーボンアーク、キセノンアーク、メ
タルハライドランプ等の光線から発する紫外線等が利用
できる。
The hard coat layer and the high refractive index layer comprising the above components are dissolved or dispersed in an appropriate solvent to form a coating solution, and this coating solution is directly applied to the base film. After being cured, or after being applied to a release film and cured, it can be formed by transferring to the transparent substrate film using an appropriate adhesive. The thickness of the hard coat layer is usually preferably about 3 to 10 μm. The hard coat layer and the high refractive index layer can be cured by a usual method of curing an ionizing radiation-curable resin, that is, a method of curing by irradiation with an electron beam or ultraviolet rays. For example, in the case of electron beam curing, 50 to 1000 KeV emitted from various electron beam accelerators such as Cockloft-Walton type, Bande graph type, Resonant transformation type, Insulating core transformer type, Linear type, Dynamitron type, High frequency type, Preferably 10
An electron beam having an energy of 0 to 300 KeV is used. In the case of ultraviolet curing, ultraviolet rays emitted from light beams such as an ultra-high pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a carbon arc, a xenon arc, and a metal halide lamp can be used.

【0015】次に上記高屈折率層の面に、SiO2ゾル
液から屈折率1.38〜1.46のSiO2ゲル膜から
なる低屈折率層を形成することによって、図1に示した
本発明の反射防止フイルムが得られる。SiO2ゾル
は、珪素アルコキシドを塗布に適した有機溶剤に溶解
し、一定量の水を添加して加水分解を行って調製するこ
とができる。SiO2ゾルの形成に使用する珪素アルコ
キシドの好ましい例は、RmSi(OR´)nで表される
化合物であり、ここでR、R´は炭素数1〜10のアル
キル基を表し、m+nは4であり、m及びnはそれぞれ
整数である。更に具体的には、テトラメトキシシラン、
テトラエトキシシラン、テトラ−iso−プロポキシシ
ラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−n−ブ
トキシシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テト
ラ−tert−ブトキシシラン、テトラペンタエトキシ
シラン、テトラペンタ−iso−プロポキシシラン、テ
トラペンタ−n−プロポキシシラン、テトラペンタ−n
−ブトキシシラン、テトラペンタ−sec−ブトキシシ
ラン、テトラペンタ−tert−ブトキシシラン、メチ
ルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メ
チルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラ
ン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシ
ラン、ジメチルエトキシシラン、ジメチルメトキシシラ
ン、ジメチルプロポキシシラン、ジメチルブトキシシラ
ン、メチルジメトキシシラン、メチルジエトキシシラ
ン、ヘキシルトリメトキシシラン等が挙げられる。
Next, a low refractive index layer made of a SiO 2 gel film having a refractive index of 1.38 to 1.46 was formed from a SiO 2 sol solution on the surface of the high refractive index layer, as shown in FIG. The antireflection film of the present invention is obtained. The SiO 2 sol can be prepared by dissolving a silicon alkoxide in an organic solvent suitable for coating and adding a certain amount of water to carry out hydrolysis. Preferred examples of the silicon alkoxide used for forming the SiO 2 sol are compounds represented by R m Si (OR ′) n , wherein R and R ′ represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and m + n Is 4, and m and n are each an integer. More specifically, tetramethoxysilane,
Tetraethoxysilane, tetra-iso-propoxysilane, tetra-n-propoxysilane, tetra-n-butoxysilane, tetra-sec-butoxysilane, tetra-tert-butoxysilane, tetrapentaethoxysilane, tetrapenta-iso-propoxysilane , Tetrapenta-n-propoxysilane, tetrapenta-n
-Butoxysilane, tetrapenta-sec-butoxysilane, tetrapenta-tert-butoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltripropoxysilane, methyltributoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, dimethylethoxysilane Dimethylmethoxysilane, dimethylpropoxysilane, dimethylbutoxysilane, methyldimethoxysilane, methyldiethoxysilane, hexyltrimethoxysilane and the like.

【0016】上記珪素アルコキシドの加水分解は、上記
珪素アルコキシドを適当な溶媒中に溶解して行う。使用
する溶媒としては、例えば、メチルエチルケトン、イソ
プロピルアルコール、メタノール、エタノール、メチル
イソブチルケトン、酢酸エチル、酢酸ブチル等のアルコ
ール、ケトン、エステル類、ハロゲン化炭化水素、トル
エン、キシレン等の芳香族炭化水素、或いはこれらの混
合物が挙げられる。上記アルコキシドは上記溶媒中に、
該アルコキシドが100%加水分解及び縮合したとして
生じるSiO2換算で0.1重量%以上、好ましくは
0.1〜10重量%になるように溶解する。SiO2
ルの濃度が0.1重量%未満であると形成されるゾル膜
が所望の特性が充分に発揮できず、一方、10重量%を
越えると透明均質膜の形成が困難となる。又、本発明に
おいては、以上の固形分以内であるならば、有機物や無
機物バインダーを併用することも可能である。
The hydrolysis of the silicon alkoxide is performed by dissolving the silicon alkoxide in a suitable solvent. As the solvent used, for example, methyl ethyl ketone, isopropyl alcohol, methanol, ethanol, methyl isobutyl ketone, ethyl acetate, alcohols such as ethyl acetate, ketones, esters, halogenated hydrocarbons, toluene, aromatic hydrocarbons such as xylene, Alternatively, a mixture thereof may be mentioned. The alkoxide in the solvent,
The alkoxide is dissolved in an amount of 0.1% by weight or more, preferably 0.1 to 10% by weight in terms of SiO 2, which is generated as a result of 100% hydrolysis and condensation. If the concentration of the SiO 2 sol is less than 0.1% by weight, the sol film formed cannot exhibit desired properties sufficiently, while if it exceeds 10% by weight, it becomes difficult to form a transparent homogeneous film. In the present invention, if the solid content is within the above range, an organic or inorganic binder can be used in combination.

【0017】この溶液に加水分解に必要な量以上の水を
加え、15〜35℃、好ましくは22〜28℃の温度
で、0.5〜10時間、好ましくは2〜5時間撹拌を行
う。上記加水分解においては、触媒を用いることが好ま
しく、これらの触媒としては、塩酸、硝酸、硫酸又は酢
酸等の酸が好ましく、これらの酸を約0.001〜2
0.0N、好ましくは0.005〜5.0N程度の水溶
液として加え、該水溶液中の水分を加水分解用の水分と
することができる。以上の如くして得られたSiO2
ルは、無色透明な液体であり、ポットライフが約1ケ月
の安定な溶液であり、前記高屈折率層に対して濡れ性が
良く、塗布適性に優れている。
Water is added to the solution in an amount not less than the amount required for hydrolysis, and the mixture is stirred at a temperature of 15 to 35 ° C., preferably 22 to 28 ° C., for 0.5 to 10 hours, preferably 2 to 5 hours. In the above-mentioned hydrolysis, it is preferable to use a catalyst, and as such a catalyst, an acid such as hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid or acetic acid is preferable.
It is added as an aqueous solution of 0.0N, preferably about 0.005 to 5.0N, and the water in the aqueous solution can be used as the water for hydrolysis. The SiO 2 sol obtained as described above is a colorless and transparent liquid, is a stable solution having a pot life of about one month, has good wettability to the high refractive index layer, and has excellent coating suitability. ing.

【0018】上記ゾル溶液には、各種の添加剤を添加す
ることができる。添加剤としては、成膜を促進する硬化
剤が挙げられ、これらの硬化剤としては、酢酸ナトリウ
ム、酢酸リチウム等の有機酸金属塩の酢酸、ギ酸等の有
機酸溶液が挙げられる。該有機溶剤溶液の濃度は約0.
01〜0.1重量%程度であり、ゾル溶液に対する添加
量は、ゾル溶液中に存在するSiO2100重量部に対
して上記有機酸塩として約0.1〜1重量部程度の範囲
が好ましい。
Various additives can be added to the sol solution. Examples of the additive include curing agents that promote film formation, and examples of these curing agents include organic acid solutions of organic acid metal salts such as sodium acetate and lithium acetate, such as acetic acid and formic acid. The concentration of the organic solvent solution is about 0.5.
The amount of the organic acid salt is preferably in the range of about 0.1 to 1 part by weight based on 100 parts by weight of SiO 2 present in the sol solution. .

【0019】更に最終的に得られるゲル膜は、反射防止
フイルムの低屈折率層となるが、その屈折率を調整する
必要がある場合もある。例えば、屈折率を下げるために
フッ素系有機珪素化合物、屈折率を高めるために有機珪
素化合物、屈折率を更に高めるために硼素系有機化合物
等を添加することができる。具体的には、テトラエトキ
シシラン、テトラメトキシシラン、テトラプロポキシシ
ラン、テトラブトキシシラン、アルキルトリアルコキシ
シラン、コルコート40(コルコート社製)、MS51
(三菱化学製)、スノーテックス(日産化学製)等の有
機珪素化合物、ザフロンFC−110,220,250
(東亜合成化学製)、セクラルコートA−402B(セ
ントラル硝子製)、ヘプタデカフルオロデシルトリメト
キシシラン、トリデカフルオロオクチルトリメトキシシ
ラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン等のフ
ッ素化合物、硼酸トリエチル、硼酸トリメチル、硼酸ト
リプロピル、硼酸トリブチル等の硼素系化合物が挙げら
れる。これらの添加剤はゾルの調製時に加えてもよい
し、ゾルの形成後に加えてもよい。これらの添加剤を用
いることによって、珪素アルコキシドの加水分解時、或
いはその後にシラノール基と反応して更に均一で透明な
ゾル溶液が得られ、且つ形成されるゲル膜の屈折率をあ
る程度の範囲で変化させることができる。
Further, the gel film finally obtained is a low refractive index layer of the antireflection film, but there are cases where the refractive index needs to be adjusted. For example, a fluorine-based organic silicon compound can be added to lower the refractive index, an organic silicon compound can be added to increase the refractive index, and a boron-based organic compound can be added to further increase the refractive index. Specifically, tetraethoxysilane, tetramethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetrabutoxysilane, alkyl trialkoxysilane, Colcoat 40 (manufactured by Colcoat), MS51
Organic silicon compounds such as (Mitsubishi Chemical) and Snowtex (Nissan Chemical); Zafflon FC-110, 220, 250
(Manufactured by Toa Gosei Chemical Co., Ltd.), sexual coat A-402B (manufactured by Central Glass), fluorinated compounds such as heptadecafluorodecyltrimethoxysilane, tridecafluorooctyltrimethoxysilane, trifluoropropyltrimethoxysilane, triethyl borate, trimethyl borate, And boron-based compounds such as tripropyl borate and tributyl borate. These additives may be added during the preparation of the sol, or may be added after the formation of the sol. By using these additives, a more uniform and transparent sol solution is obtained by reacting with the silanol group during or after the hydrolysis of the silicon alkoxide, and the refractive index of the formed gel film is within a certain range. Can be changed.

【0020】上記のSiO2ゾル溶液を用いて低屈折率
層を形成する方法は、該SiO2ゾル溶液を、前記高屈
折率層の表面に対し、塗布法を用いて塗布し、その後塗
布物を活性エネルギー線照射処理するか或いは熱処理す
ることにより、SiO2ゲル膜を形成することができ、
高屈折率層に対するゲル膜の密着性は著しく改善され
る。このようにして形成する低屈折率層の厚みは通常約
50〜300nmの範囲が好ましい。前記SiO2ゾル
溶液を高屈折率層へ塗布する方法としては、スピンコー
ト法、ディップ法、スプレー法、ロールコーター法、メ
ニスカスコーター法、フレキソ印刷法、スクリーン印刷
法、ビードコーター法等が挙げられる。
The method for forming a low refractive index layer using the aforementioned SiO 2 sol solution, the SiO 2 sol solution to the surface of the high refractive index layer was applied using a coating method, then coated material By performing an active energy ray irradiation treatment or a heat treatment, a SiO 2 gel film can be formed,
The adhesion of the gel film to the high refractive index layer is significantly improved. The thickness of the low refractive index layer thus formed is usually preferably in the range of about 50 to 300 nm. Examples of the method of applying the SiO 2 sol solution to the high refractive index layer include a spin coating method, a dip method, a spray method, a roll coater method, a meniscus coater method, a flexographic printing method, a screen printing method, a bead coater method, and the like. .

【0021】上記ゾル溶液の塗布後に行う塗布層の熱処
理は、前記透明基材フイルムの熱変形温度以下の温度で
行う。例えば、透明基材フイルムがポリエチレンテレフ
タレートフイルム(PET)である場合には、約80〜
150℃の温度で約1分間〜1時間熱処理を行ってシリ
カのゲル膜を形成することができる。このような熱処理
条件は、使用する透明基材フイルムの種類及び厚みによ
って異なるので、使用する透明基材フイルムの種類に応
じて決定すればよい。
The heat treatment of the coating layer performed after the application of the sol solution is performed at a temperature equal to or lower than the thermal deformation temperature of the transparent base film. For example, when the transparent base film is polyethylene terephthalate film (PET), about 80 to
The heat treatment may be performed at a temperature of 150 ° C. for about 1 minute to 1 hour to form a silica gel film. Since such heat treatment conditions vary depending on the type and thickness of the transparent base film to be used, it may be determined according to the type of the transparent base film to be used.

【0022】ゾル溶液の塗布後の硬化に使用する活性エ
ネルギー線としては、電子線又は紫外線が挙げられ、特
に前記ハードコート層及び高屈折率層の硬化に使用する
と同様な電子線が好ましい。上記熱処理及び電子線照射
は、空気を酸素で置換しながら、或いは十分な酸素雰囲
気中で行うことが好ましく、酸素雰囲気中で行うことに
よりSiO2の生成、重合・縮合が促進され、より均質
且つ高品質のゲル層を形成することができる。
The active energy ray used for curing after the application of the sol solution includes an electron beam or ultraviolet ray. In particular, the same electron beam as used for curing the hard coat layer and the high refractive index layer is preferable. The heat treatment and the electron beam irradiation are preferably performed while replacing air with oxygen or in a sufficient oxygen atmosphere. By performing the heat treatment and the electron beam irradiation in an oxygen atmosphere, generation, polymerization and condensation of SiO 2 are promoted, and the heat treatment and electron beam irradiation are performed more uniformly and A high quality gel layer can be formed.

【0023】高屈折率層の形成の一例を挙げると、高屈
折率層は、低級金属アルコキシドR mTi(OR´)
n(R及びR´は炭素数1〜10のアルキル基を表し、
m+nは4であり、m及びnはそれぞれ整数である)又
はR mTa(OR´)n(R及びR´は炭素数1〜10の
アルキル基を表し、m+nは5であり、m及びnはそれ
ぞれ整数である)で表される金属アルコキシドを加水分
解して調製した金属酸化物ゾルから形成することができ
る。
An example of the formation of the high refractive index layer is as follows.
The index layer is made of a lower metal alkoxide R mTi (OR ')
n(R and R ′ represent an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms,
m + n is 4 and m and n are each an integer)
Is R mTa (OR ')n(R and R ′ each have 1 to 10 carbon atoms.
Represents an alkyl group, m + n is 5, and m and n are
Each of which is an integer)
Can be formed from metal oxide sol prepared by cracking
You.

【0024】上記低級金属アルコキシドとしては、例え
ば、チタンテトラエトキシド、チタンテトラ−i−プロ
ポキシド、チタンテトラ−n−プロポキシド、チタンテ
トラ−n−ブトキシド、チタンテトラ−sec−ブトキ
シド、チタンテトラ−tert−ブトキシド、タンタル
ペンタエトキシド、タンタルペンタ−i−プロポキシ
ド、タンタルペンタ−n−プロポキシド、タンタルペン
タ−n−ブトキシド、タンタルペンタ−sec−ブトキ
シド、タンタルペンタ−tert−ブトキシド等が挙げ
られる。
Examples of the lower metal alkoxide include titanium tetraethoxide, titanium tetra-i-propoxide, titanium tetra-n-propoxide, titanium tetra-n-butoxide, titanium tetra-sec-butoxide and titanium tetra-oxide. Examples include tert-butoxide, tantalum pentaethoxide, tantalum penta-i-propoxide, tantalum penta-n-propoxide, tantalum penta-n-butoxide, tantalum penta-sec-butoxide, tantalum penta-tert-butoxide and the like.

【0025】上記金属アルコキシドの加水分解は、上記
金属アルコキシドを適当な溶媒中に溶解して行う。使用
する溶媒としては、例えば、メチルエチルケトン、イソ
プロピルアルコール、メタノール、エタノール、メチル
イソブチルケトン、酢酸エチル、酢酸ブチル等のアルコ
ール、ケトン、エステル類、ハロゲン化炭化水素、トル
エン、キシレン等の芳香族炭化水素、或いはこれらの混
合物が挙げられる。上記金属アルコキシドは上記溶媒中
に、該金属アルコキシドが100%加水分解及び縮合し
たとして生じる金属酸化物換算で0.1%以上、好まし
くは0.1〜10重量%になるように溶解する。金属酸
化物ゾルの濃度が0.1重量%未満であると形成される
機能膜が所望の特性が充分に発揮できず、一方、10重
量%を越えると透明均質膜の形成が困難となる。又、上
記範囲内において、金属酸化物ゲル濃度を変化させるこ
とによって、ゲル濃度に比例して、得られるゲル膜の屈
折率を調整することができる。又、本発明においては、
以上の固形分以内であるならば、有機物や無機物バイン
ダーを併用することも可能である。
The hydrolysis of the metal alkoxide is performed by dissolving the metal alkoxide in a suitable solvent. As the solvent used, for example, methyl ethyl ketone, isopropyl alcohol, methanol, ethanol, methyl isobutyl ketone, ethyl acetate, alcohols such as ethyl acetate, ketones, esters, halogenated hydrocarbons, toluene, aromatic hydrocarbons such as xylene, Alternatively, a mixture thereof may be mentioned. The metal alkoxide is dissolved in the solvent in an amount of 0.1% or more, preferably 0.1 to 10% by weight in terms of a metal oxide generated when the metal alkoxide is hydrolyzed and condensed by 100%. If the concentration of the metal oxide sol is less than 0.1% by weight, the functional film formed cannot exhibit desired properties sufficiently, while if it exceeds 10% by weight, it becomes difficult to form a transparent homogeneous film. Further, by changing the metal oxide gel concentration within the above range, the refractive index of the obtained gel film can be adjusted in proportion to the gel concentration. In the present invention,
If the solid content is within the above range, an organic or inorganic binder can be used in combination.

【0026】上記金属アルコキシド溶液に加水分解に必
要な量以上の水を加え、15〜35℃、好ましくは22
〜28℃の温度で、5〜30時間、好ましくは12〜1
6時間撹拌を行う。該加水分解においては、触媒を用い
ることが好ましく、これらの触媒としては、塩酸、硝
酸、硫酸、ギ酸、酢酸等の酸が好ましく、これらの酸を
約0.1〜20.0N、好ましくは0.5〜7.0N程
度の水溶液として加え、該水溶液中の水分を加水分解用
の水分とすることができる。加水分解に際して上記範囲
において触媒の濃度を変化させることによって、触媒の
濃度に比例して、得られるゲル膜の屈折率を調整するこ
とができる。
Water is added to the above metal alkoxide solution in an amount not less than the amount required for hydrolysis, and is added at 15 to 35 ° C., preferably 22 to 35 ° C.
At a temperature of ~ 28 ° C for 5-30 hours, preferably 12-1
Stir for 6 hours. In the hydrolysis, it is preferable to use catalysts, and as such catalysts, acids such as hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, formic acid, and acetic acid are preferable. It can be added as an aqueous solution of about 0.5 to 7.0 N, and the water in the aqueous solution can be used as the water for hydrolysis. By changing the concentration of the catalyst in the above range during the hydrolysis, the refractive index of the obtained gel film can be adjusted in proportion to the concentration of the catalyst.

【0027】以上の如くして得られた金属酸化物ゾル
は、無色透明な液体であり、ポットライフが約1ケ月の
安定な溶液であり、前記ハードコート層に対して濡れ性
が良く、塗布適性に優れている。前記金属酸化物ゾル
を、前記ハードコート層の表面に対し、塗布法を用いて
塗布する。金属酸化物ゾルのハードコート層への塗布方
法としては、スピンコート法、ディップ法、スプレー
法、ロールコーター法、メニスカスコーター法、フレキ
ソ印刷法、スクリーン印刷法、ビードコーター法等が挙
げられる。
The metal oxide sol obtained as described above is a colorless and transparent liquid, is a stable solution having a pot life of about one month, has good wettability to the hard coat layer, and has good wettability. Excellent aptitude. The metal oxide sol is applied to the surface of the hard coat layer using an application method. Examples of the method for applying the metal oxide sol to the hard coat layer include a spin coating method, a dipping method, a spray method, a roll coater method, a meniscus coater method, a flexographic printing method, a screen printing method, and a bead coater method.

【0028】その後塗布物を加熱処理及び又は活性エネ
ルギー線照射処理することにより、金属酸化物ゲル膜を
形成する。上記ゾル溶液を塗布後に行う塗布層の熱処理
は、前記SiO2ゾル溶液の場合と同様に透明基材フイ
ルムの熱変形温度以下の温度で行う。又、上記ゾル溶液
を塗布後、その硬化に用いる活性エネルギー線として
は、前記ハードコート層の硬化に使用すると同様に電子
線が好ましい。電子線照射は、空気を酸素で置換しなが
ら、或いは十分な酸素雰囲気中で行うことが好ましく、
酸素雰囲気中で行うことにより金属酸化物の生成、重合
・縮合が促進され、より均質且つ高品質のゲル層を形成
することができる。次にSiO2ゲルからなる低屈折率
層を既術の様に形成して、本発明の反射防止フイルムが
得られる。
Thereafter, the coated material is subjected to a heat treatment and / or an active energy ray irradiation treatment to form a metal oxide gel film. The heat treatment of the coating layer performed after the application of the sol solution is performed at a temperature equal to or lower than the thermal deformation temperature of the transparent substrate film, as in the case of the SiO 2 sol solution. Further, as the active energy ray used for curing the sol solution after application, an electron beam is preferably used as in the case of using the hard coat layer for curing. The electron beam irradiation is preferably performed while replacing air with oxygen or in a sufficient oxygen atmosphere.
By performing the reaction in an oxygen atmosphere, generation, polymerization and condensation of the metal oxide are promoted, and a more uniform and high quality gel layer can be formed. Next, a low-refractive-index layer made of SiO 2 gel is formed as in the prior art, and the antireflection film of the present invention is obtained.

【0029】本発明の反射防止フイルムは、以上説明し
た各層の他に、各種機能を付与するための層を更に設け
ることができる。例えば、透明基材フイルムとハードコ
ート層との密着性を向上させるために接着剤層やプライ
マー層を設けたり、又、ハード性能を向上させるために
ハードコート層を複数層とすることができる。上記のよ
うに透明基材フイルムとハードコート層との中間に設け
られるその他の層の屈折率は、透明基材フイルムの屈折
率とハードコート層の屈折率の中間の値とすることが好
ましい。
The antireflection film of the present invention may further include a layer for imparting various functions, in addition to the above-described layers. For example, an adhesive layer or a primer layer may be provided to improve the adhesion between the transparent base film and the hard coat layer, and a plurality of hard coat layers may be provided to improve the hard performance. As described above, the refractive index of the other layer provided between the transparent base film and the hard coat layer is preferably set to an intermediate value between the refractive index of the transparent base film and the refractive index of the hard coat layer.

【0030】上記他の層の形成方法は、上記のように透
明基材フイルム上に、所望の塗工液を直接又は間接的に
塗布して形成してもよく、又、透明基材フイルム上にハ
ードコート層を転写により形成する場合には、予め離型
フイルム上に形成したハードコート層上に他の層を形成
する塗工液を塗布して形成し、その後、透明基材フイル
ムと離型フイルムとを、離型フイルムの塗布面を内側に
してラミネートし、次いで離型フイルムを剥離すること
により、透明基材フイルムに他の層を転写してもよい。
又、本発明の反射防止フイルムの下面には、粘着剤が塗
布されていてもよく、この反射防止フイルムは反射防止
すべき対象物、例えば、偏光素子に貼着して用いること
ができる。以上の如くして得られる本発明の反射防止フ
イルムは、ワープロ、コンピュータ、テレビ、プラズマ
ディスプレイパネル等の各種ディスプレイ、液晶表示装
置に用いる偏光板の表面、透明プラスチック類からなる
サングラスレンズ、度付メガネレンズ、カメラ用ファイ
ンダーレンズ等の光学レンズ、各種計器のカバー、自動
車、電車等の窓ガラス等の表面の反射防止に有用であ
る。
The other layer may be formed by directly or indirectly applying a desired coating solution on the transparent substrate film as described above, or on the transparent substrate film. When the hard coat layer is formed by transfer, a coating liquid for forming another layer is applied on the hard coat layer formed on the release film in advance, and then formed on the transparent base film. Another layer may be transferred to the transparent base film by laminating the release film with the release film with the coated surface of the release film inside, and then peeling the release film.
Further, an adhesive may be applied to the lower surface of the antireflection film of the present invention, and this antireflection film can be used by attaching it to an object to be antireflection, for example, a polarizing element. The antireflection film of the present invention obtained as described above can be used for various displays such as a word processor, a computer, a television, and a plasma display panel, a surface of a polarizing plate used for a liquid crystal display, a sunglass lens made of transparent plastics, and glasses with a prescription. It is useful for preventing reflection on surfaces of lenses, optical lenses such as viewfinder lenses for cameras, covers for various instruments, and window glasses of automobiles and trains.

【0031】[0031]

【実施例】次に実施例及び比較例を挙げて本発明を更に
具体的に説明する。 実施例1 メチルトリエトキシシラン(MTEOS)が理想的にS
iO2又はMeSiO1.5に加水分解及び縮合したと仮定
した時の固形分濃度が3重量%となるように、MTEO
Sを溶媒であるメチルエチルケトンに溶解し、液温が2
5℃に安定するまで30分間撹拌した(A液)。A液中
に、触媒である濃度0.005Nの塩酸をMTEOSの
アルコキシド基と等モル量加え、25℃で3時間加水分
解を行った(B液)。このB液に、硬化剤として酢酸ナ
トリウムと酢酸とを混合したものを加え、25℃で1時
間撹拌しSiOゾル溶液を得た。
Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples. Example 1 Methyltriethoxysilane (MTEOS) is ideally S
The MTEO is adjusted so that the solid content concentration becomes 3% by weight when it is assumed that the solid content is hydrolyzed and condensed to iO 2 or MeSiO 1.5.
S was dissolved in methyl ethyl ketone, a solvent, and the solution temperature was 2
The mixture was stirred for 30 minutes until it was stabilized at 5 ° C (Solution A). Hydrochloride having a concentration of 0.005 N as a catalyst was added to Solution A in an equimolar amount to the alkoxide group of MTEOS, and hydrolysis was performed at 25 ° C. for 3 hours (solution B). A mixture of sodium acetate and acetic acid as a curing agent was added to the solution B, and the mixture was stirred at 25 ° C. for 1 hour to obtain a SiO 2 sol solution.

【0032】表面が平滑なPETフイルム(ルミラーT
−60:商品名、ダイヤホイル株式会社製、厚さ50μ
m)上に、電離放射線硬化型樹脂(X−12−240
0:商品名、信越化学工業株式会社製)とZrO2超微
粒子(No.926:商品名、住友大阪セメント製、屈
折率1.9)とを重量比15:1に配合した微粒子分散
液を0.1μm/dryになるようにスリットリバース
コートにより塗工し、電子線を加速電圧175kVで5
Mrad照射して塗膜を硬化させ、高屈折率層を形成し
た。この高屈折率層上に電離放射線硬化型樹脂(X−1
2−2400)を7μm/dryになるようにグラビア
リバースコートにより塗工し、電子線を加速電圧175
KeVで5Mrad照射して塗膜を硬化させ、ハードコ
ート層を形成した。このハードコート層上に2液硬化型
接着剤(LX660、KW75(硬化剤))をグラビア
リバースコートにより塗工して接着剤層を形成した。
PET film having a smooth surface (Lumirror T
-60: trade name, manufactured by Diafoil Co., Ltd., thickness 50μ
m), ionizing radiation-curable resin (X-12-240)
0: trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and ultrafine ZrO 2 particles (No. 926: trade name, manufactured by Sumitomo Osaka Cement, refractive index: 1.9) were mixed at a weight ratio of 15: 1. The coating is performed by slit reverse coating so as to have a thickness of 0.1 μm / dry, and the electron beam is applied at an accelerating voltage of 175 kV for 5 hours.
The coating was cured by Mrad irradiation to form a high refractive index layer. On this high refractive index layer, ionizing radiation curable resin (X-1
2-2400) is applied by gravure reverse coating so as to be 7 μm / dry, and the electron beam is accelerated at an accelerating voltage of 175.
The coating film was cured by irradiating 5 Mrad with KeV to form a hard coat layer. A two-component curable adhesive (LX660, KW75 (curing agent)) was applied on the hard coat layer by gravure reverse coating to form an adhesive layer.

【0033】次いで、この接着剤層を介してPETフイ
ルム(A−4300:商品名、東洋紡製、厚さ100μ
m)をラミネートし、40℃で4日間エージングした
後、上記PETフイルム(T−60)を剥離して、ハー
ドコート層及び高屈折率層をPETフイルム(A−43
00)上に転写させた。得られたPETフイルム(A−
4300)上の高屈折率層上に、更に上記のSiO2
ル溶液を、膜厚が0.1μm/dryになるように塗工
し、120℃で1時間の熱処理を行い、本発明の反射防
止フイルムを得た。得られた反射防止フイルムの全光線
透過率は94.5%、ヘイズ値0.5、可視光線の波長
領域での最低反射率は0.2であり、反射防止性に優れ
ていた。又、その表面鉛筆硬度は3Hであり、ハード性
にも優れていた。
Next, a PET film (A-4300: trade name, manufactured by Toyobo, 100 μm thick) was applied through the adhesive layer.
m) was laminated and aged at 40 ° C. for 4 days, and then the PET film (T-60) was peeled off to form a hard coat layer and a high refractive index layer on the PET film (A-43).
00). The obtained PET film (A-
On the high refractive index layer above 4300), the above-mentioned SiO 2 sol solution was further applied so as to have a thickness of 0.1 μm / dry, and heat-treated at 120 ° C. for 1 hour to obtain the reflection of the present invention. A prevention film was obtained. The obtained antireflection film had a total light transmittance of 94.5%, a haze value of 0.5, and a minimum reflectance in the visible light wavelength region of 0.2, and was excellent in antireflection properties. The surface pencil hardness was 3H, and the hardness was excellent.

【0034】実施例2 テトラブトキシチタン(Ti(OC494)が理想的
にTiO2に加水分解及び縮合したと仮定したときの固
形分濃度が3重量%となるように、(Ti(OC49
4)を溶媒であるエチルセロソルブに溶解し、液温が2
5℃に安定する迄30分間撹拌した(C液)。C液中
に、触媒である3Nの塩酸を(Ti(OC494)の
アルコキシド基に対して2.5倍モル量加え、25℃で
3時間、加水分解を行いTiO2ゾル溶液を得た。
Example 2 (Ti (OC 4 H 9 ) 4 ) (Ti (OC 4 H 9 ) 4 ) (Ti (OC 4 H 9 ) 4 ) was adjusted so that the solid content concentration would be 3% by weight assuming that it was ideally hydrolyzed and condensed to TiO 2. (OC 4 H 9 )
4 ) is dissolved in a solvent, ethyl cellosolve, and the solution temperature is 2
The mixture was stirred for 30 minutes until it was stabilized at 5 ° C (solution C). To the solution C, 3N hydrochloric acid as a catalyst was added in a 2.5-fold molar amount with respect to the alkoxide group of (Ti (OC 4 H 9 ) 4 ), and the mixture was hydrolyzed at 25 ° C. for 3 hours to obtain a TiO 2 sol solution. I got

【0035】透明基材フイルムとして厚さ50μmのP
ETフイルム(ルミラーT−60)を用意した。一方、
上記TiO2ゾル溶液を、上記PETフイルム上に乾燥
後の膜厚が0.1μm/dryになるようにグラビアリ
バースコートにより塗工し、120℃で1時間熱処理を
行い、高屈折率層(屈折率1.9)を形成した。この高
屈折率層上にハードコート樹脂(PPZ−N−200
0:商品名、大阪共栄化学社製)を7μm/dryにな
るようにグラビアリバースコートにより塗工し、電子線
を加速電圧175KeVで5Mrad照射して塗膜を硬
化させ、ハードコート層を形成した。
As a transparent substrate film, a 50 μm thick P
An ET film (Lumilar T-60) was prepared. on the other hand,
The TiO 2 sol solution is coated on the PET film by gravure reverse coating so that the film thickness after drying is 0.1 μm / dry, and heat-treated at 120 ° C. for 1 hour to form a high refractive index layer (refractive layer). Rate 1.9). A hard coat resin (PPZ-N-200) is formed on the high refractive index layer.
0: trade name, manufactured by Osaka Kyoei Chemical Co., Ltd.) was applied by gravure reverse coating so as to be 7 μm / dry, and the coating was cured by irradiating an electron beam with 5 Mrad at an acceleration voltage of 175 KeV to form a hard coat layer. .

【0036】このハードコート層上に2液硬化型接着剤
(LX660、KW75(硬化剤):商品名、大日本イ
ンキ化学工業製)をグラビアリバースコートにより塗工
して接着剤層を形成した。次いで、この接着剤層を介し
てPETフイルム(A−4300)をラミネートし、4
0℃で4日間エージングした後、上記PETフイルム
(T−60)を剥離して、ハードコート層及び高屈折率
層をPETフイルム(A−4300)上に転写させた。
得られたPETフイルム(A−4300)上の高屈折率
層上に、実施例1のSiO2ゾル溶液を膜厚0.1μm
/dryとなるように成膜して本発明の反射防止フイル
ムを得た。得られた反射防止フイルムの全光線透過率は
94.5%、ヘイズ値0.4であり、反射防止性に優れ
ていた。又、その表面鉛筆硬度は3Hであり、ハード性
にも優れていた。
A two-part curable adhesive (LX660, KW75 (curing agent), trade name, manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) was applied on the hard coat layer by gravure reverse coating to form an adhesive layer. Next, a PET film (A-4300) was laminated through this adhesive layer,
After aging at 0 ° C. for 4 days, the PET film (T-60) was peeled off, and the hard coat layer and the high refractive index layer were transferred onto the PET film (A-4300).
On the high refractive index layer on the obtained PET film (A-4300), the SiO 2 sol solution of Example 1 was 0.1 μm thick.
/ Dry to obtain an antireflection film of the present invention. The obtained antireflection film had a total light transmittance of 94.5% and a haze value of 0.4, and was excellent in antireflection properties. The surface pencil hardness was 3H, and the hardness was excellent.

【0037】比較例1 低屈折率層として真空蒸着法によってSiOx膜を形成
した以外は実施例1と同様にして反射防止フイルムを作
製した。この反射防止フイルムの全光線透過率は93.
8%、ヘイズ値は0.7であり、反射防止性が前記実施
例の場合よりも劣っていた。又、その表面鉛筆硬度は2
Hであった。
Comparative Example 1 An antireflection film was produced in the same manner as in Example 1 except that an SiOx film was formed as a low refractive index layer by a vacuum evaporation method. The total light transmittance of this antireflection film is 93.
The haze value was 8%, and the anti-reflection property was inferior to that of the example. The surface pencil hardness is 2
H.

【0038】比較例2 低屈折率層として真空蒸着法によってSiOx膜を形成
した以外は実施例2と同様にして反射防止フイルムを作
製した。この反射防止フイルムの全光線透過率は94.
0%、ヘイズ値は0.5であり、反射防止性が前記実施
例の場合よりも劣っていた。又、その表面鉛筆硬度は2
Hであった。
Comparative Example 2 An antireflection film was produced in the same manner as in Example 2 except that a SiOx film was formed as a low refractive index layer by a vacuum evaporation method. The total light transmittance of this antireflection film is 94.
The haze value was 0%, and the anti-reflection property was inferior to that of the example. The surface pencil hardness is 2
H.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上の如く、本発明によれば、低級珪素
アルコキシドを加水分解して、数ナノメートルの微粒子
をゾル−ゲル法によって調製し、この超微粒子が分散し
ているゾル溶液を、透明基材フイルムの面のハードコー
ト層上に形成した高屈折率層へ塗布後、透明基材フイル
ムの熱変形温度以下の温度で熱処理するか、或いは活性
エネルギー線を照射してSiO2ゲル層を形成すること
により、気相法により得られる低屈折率層の性能とほぼ
同様な性能を有する低屈折率層が得られ、プラスチック
基材等の如く熱変形温度が低温である基材を用いても、
高機能且つ高品質の反射防止フイルムの形成が可能であ
る。
As described above, according to the present invention, the lower silicon alkoxide is hydrolyzed to prepare fine particles of several nanometers by the sol-gel method, and the sol solution in which the ultrafine particles are dispersed is obtained. After applying to the high refractive index layer formed on the hard coat layer on the surface of the transparent substrate film, heat-treat at a temperature lower than the thermal deformation temperature of the transparent substrate film, or irradiate active energy rays to form the SiO 2 gel layer. By forming a low refractive index layer having substantially the same performance as that of the low refractive index layer obtained by the gas phase method, a substrate having a low heat deformation temperature such as a plastic substrate is used. Even
It is possible to form a high-performance and high-quality antireflection film.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の反射防止フイルムの一例の断面を説
明する図。
FIG. 1 is a diagram illustrating a cross section of an example of an antireflection film of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:透明基材フイルム 2:ハードコート層 3:高屈折率層 4:低屈折率層 5:接着剤層 1: transparent base film 2: hard coat layer 3: high refractive index layer 4: low refractive index layer 5: adhesive layer

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B32B 27/36 B32B 27/36 G02B 1/11 G02B 1/10 A Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI Technical display location B32B 27/36 B32B 27/36 G02B 1/11 G02B 1/10 A

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明基材フイルム上に、直接又は他の層
を介してハードコート層、高屈折率層及び低屈折率層を
積層してなる反射防止フイルムにおいて、上記低屈折率
層がRmSi(OR´)n(R及びR´は炭素数1〜10
のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及びnはそ
れぞれ整数である)で表される珪素アルコキシドを加水
分解して調製したSiO2ゾル液から形成されたSiO2
ゲル層からなることを特徴とする反射防止フイルム。
1. An antireflection film comprising a hard coat layer, a high refractive index layer, and a low refractive index layer laminated directly or through another layer on a transparent base film, wherein the low refractive index layer is R m Si (OR ′) n (R and R ′ each have 1 to 10 carbon atoms)
Represents an alkyl group, m + n is 4, SiO 2 m and n which are formed a silicon alkoxide represented by each an integer) of SiO 2 sol solution prepared by hydrolyzing
An anti-reflection film comprising a gel layer.
【請求項2】 低屈折率層の屈折率が1.38〜1.4
6である請求項1に記載の反射防止フイルム。
2. The low refractive index layer has a refractive index of 1.38 to 1.4.
6. The anti-reflection film according to claim 1, wherein
【請求項3】 高屈折率層が、低級金属アルコキシドR
mTi(OR´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数0〜1
0のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及びnは
それぞれ整数である)又はR mTa(OR´)n(R及び
R´は炭素数0〜10のアルキル基を表し、m+nは5
であり、m及びnはそれぞれ整数である)で表される金
属アルコキシドを加水分解して調製した金属酸化物ゾル
からなる金属酸化物ゲル層である請求項1に記載の反射
防止フイルム。
3. The method according to claim 1, wherein the high refractive index layer comprises a lower metal alkoxide R
mTi (OR ')n(R and R ′ each have 0 to 1 carbon atoms.
Represents an alkyl group of 0, m + n is 4, and m and n are
Each is an integer) or R mTa (OR ')n(R and
R ′ represents an alkyl group having 0 to 10 carbon atoms, and m + n is 5
And m and n are each an integer)
Oxide sol prepared by hydrolyzing genus alkoxide
The reflection according to claim 1, wherein the reflection layer is a metal oxide gel layer composed of:
Prevention film.
【請求項4】 高屈折率層の屈折率が1.50〜2.3
0である請求項1に記載の反射防止フイルム。
4. The high refractive index layer has a refractive index of 1.50 to 2.3.
2. The antireflection film according to claim 1, wherein the value is zero.
【請求項5】 透明基材フイルム上に、直接又は他の層
を介してハードコート層、高屈折率層及び低屈折率層を
積層することからなる反射防止フイルムの製造方法にお
いて、上記低屈折率層をRmSi(OR´)n(R及びR
´は炭素数1〜10のアルキル基を表し、m+nは4で
あり、m及びnはそれぞれ整数である)で表される珪素
アルコキシドを加水分解して調製したSiO2ゾル液
を、透明基材フイルムの面に直接又は他の層を介して塗
布し、形成された塗布層を熱処理又は電離放射線照射し
てSi02ゲル層として形成することを特徴とする反射
防止フイルムの製造方法。
5. A method for producing an antireflection film, comprising laminating a hard coat layer, a high refractive index layer, and a low refractive index layer directly or via another layer on a transparent base film, The rate layer is defined as R m Si (OR ′) n (R and R
′ Represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, m + n is 4, and m and n are each an integer.) A SiO 2 sol solution prepared by hydrolyzing a silicon alkoxide represented by It was applied directly or via another layer on the surface of the film, forming process for the production of an antireflection film, which comprises forming a coating layer as heat treatment or irradiation of ionizing radiation to Si0 2 gel layer.
【請求項6】 低屈折率層の屈折率が1.38〜1.4
6である請求項5に記載の反射防止フイルムの製造方
法。
6. The low refractive index layer has a refractive index of 1.38 to 1.4.
6. The method for producing an antireflection film according to claim 5, wherein
【請求項7】 高屈折率層を、低級金属アルコキシドR
mTi(OR´)n(R及びR´はそれぞれ炭素数0〜1
0のアルキル基を表し、m+nは4であり、m及びnは
それぞれ整数である)又はR mTa(OR´)n(R及び
R´は炭素数0〜10のアルキル基を表し、m+nは5
であり、m及びnはそれぞれ整数である)で表される金
属アルコキシドを加水分解して調製した金属酸化物ゾル
から金属酸化物ゲル層として形成する請求項5に記載の
反射防止フイルムの製造方法。
7. The method according to claim 7, wherein the high refractive index layer is formed of a lower metal alkoxide R
mTi (OR ')n(R and R ′ each have 0 to 1 carbon atoms.
Represents an alkyl group of 0, m + n is 4, and m and n are
Each is an integer) or R mTa (OR ')n(R and
R ′ represents an alkyl group having 0 to 10 carbon atoms, and m + n is 5
And m and n are each an integer)
Oxide sol prepared by hydrolyzing genus alkoxide
6. The metal oxide gel layer according to claim 5,
A method for manufacturing an anti-reflection film.
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