JPH1063012A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

Info

Publication number
JPH1063012A
JPH1063012A JP8231490A JP23149096A JPH1063012A JP H1063012 A JPH1063012 A JP H1063012A JP 8231490 A JP8231490 A JP 8231490A JP 23149096 A JP23149096 A JP 23149096A JP H1063012 A JPH1063012 A JP H1063012A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
work
alignment
film mask
stage
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8231490A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3231246B2 (ja
Inventor
Katsuya Sannomiya
宮 勝 也 三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Adtec Engineering Co Ltd
Canon Components Inc
Original Assignee
Adtec Engineering Co Ltd
Canon Components Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Adtec Engineering Co Ltd, Canon Components Inc filed Critical Adtec Engineering Co Ltd
Priority to JP23149096A priority Critical patent/JP3231246B2/ja
Publication of JPH1063012A publication Critical patent/JPH1063012A/ja
Priority to US09/241,902 priority patent/US6252649B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3231246B2 publication Critical patent/JP3231246B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アライメント不能による稼働率低下のない露
光装置を提供する。 【解決手段】 ベルトコンベア7により搬送されるワー
クKをプラテン1上で位置決め装置5により予め位置決
めし、その後フィルムマスクFとワークK間の位置決め
を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、露光装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】プリント配線ワーク等の製造には、形成
すべき回路パターンを描いた原版を用いて光を投影露光
することによりワークにパターンを焼き付けし、フォト
エッチングにより回路を形成するフォトリソグラフィー
法が近年用いられるようになってきている。露光の際に
はフィルムマスクとワークとを正確に位置合わせする必
要があるが、最初にワークをベルトコンベアやコロ等に
よりアライメント基台に搬送し、ここに真空吸着等によ
り固定して、フィルムマスクをワークと0.5mm程度
隙間をあけて接近させ、この状態で両者を相対的に移動
させて画像処理により位置合わせを行うのが普通であ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、搬送されたワ
ークの基台上の停止位置がばらつくと、画像処理を行う
ためのカメラ等の視野に入らない不具合がしばしば発生
する問題があった。この場合、フィルムマスクとワーク
との位置調整が不能となり、ワークを系外に排出しなけ
らばならなくなり、露光装置の稼働率の低下を招く欠点
があった。本発明は上記従来技術の欠点を改善すること
を目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の露光装置は、搬送されたきたワークを所定
の位置に位置合わせするためのプリアライメント手段
と、該所定の位置に位置合わせされたワークとフィルム
マスクとを相対的に移動させて、ワークとフィルムマス
ク間の位置合わせを行うための手段と、を備えたことを
特徴とする。上記構成においては、搬送されたきたワー
クを、最初に所定の位置に位置合わせし、その後フィル
ムマスクとワークとの間の位置合わせを行うため、画像
処理による位置合わせが不能となることがなく、露光装
置の稼働率を向上できる。また、前記ワークの所定の位
置への位置合わせと、前記ワークとフィルムマスク間の
位置合わせとを露光基台上で行わうことにより、工程の
効率化と位置合わせの精度の向上を図ることが可能にな
る。
【0005】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面に
基づいて説明する。図1において、露光基台であるプラ
テン1はワークKをその上に載置し、吸引装置(図示せ
ず)によりワークKを真空吸着するように構成されてい
る。プラテン1はZステージ15、Xステージ16、Y
ステージ17及びθステージ18によりxyz方向及び
θ方向に可動になっている。これらは制御装置10によ
り制御され、ワークKを移動させるように構成されてい
る。
【0006】ワークKはベルトコンベア7により前工程
から搬送され、プラテン1上に載置されるようになって
いる。プラテン1上には図2に示すようにベルトコンベ
ア用溝9が設けられており、プラテン1を下げた状態で
ベルトコンベア7によりワークKを搬送し、プラテン1
を上昇させてワークKをプラテン1上に載置するように
なっている。
【0007】プラテン1上には図2に示すように各辺に
2ヶ所、合計8ヶ所に位置決め装置5が設けられてお
り、ベルトコンベア7から搬送されてきたワークKをプ
ラテン1上の所定の位置に位置決めするようになってい
る。各位置決め装置5はプラテン1に設けられた位置決
め装置用溝8内に設けられており、図4に示すように起
倒式のアライメント用つめ50を備え、このアライメン
ト用つめ50によりワークKの端部を規制するようにな
っている。
【0008】アライメント用つめ50はエアシリンダ5
1により起倒可能になっており、該エアシリンダ51は
制御装置10に制御されるようになっている。アライメ
ント用つめ50は起倒式でなく、上下に移動する構成と
しても良い。またアライメント用つめ50はボールネジ
52上に装着され、モータ53の稼働によりプラテン1
の中央方向に進退できるようになっている。このモータ
53の稼働も制御装置10に制御されている。図2にお
いて、右側の位置決め装置5A1にはセンサ6が設けら
れており、ここでワークKの到来を検知し、制御装置1
0にその旨の信号を送るように構成されている。そして
ワークKのサイズに対応するアライメント用つめ50の
位置の制御、アライメント動作等をモータ53の稼動に
より行うように構成されている。
【0009】以上の構成において、図において左側から
ベルトコンベア7によりワークKが搬送され、位置決め
装置5A1,A2に突き当たり、同時にセンサ6により
ワークKが検出され、ベルトコンベア7が停止する。そ
して、プラテン1が上昇して、ワークKをプラテン1上
に載置するようになっている。更に、位置決め装置5B
1、B2、5C1、C2、5D1、D2によりワークK
はプラテン1上で所定の位置に位置決めされ、前記吸引
装置(図示せず)により吸引され固定される。そして、
各アライメント用つめ50を倒してワークKのアライメ
ント用つめ50による拘束を解放し、プリアライメント
を終了し、次の工程に移行するようになっている。
【0010】プラテン1の上方にはフィルムマスク保持
装置20に保持されたフィルムマスクFが設けられてお
り、その上には加圧フィルムPと透明ガラス21及び光
源23が設けられている。透明ガラス21の上方には一
対のCCDカメラ2が設けられており、このCCDカメ
ラ2によりフィルムマスクF上の位置合せマーク3と位
置決めされたワークK上の位置合せマーク4の位置合わ
せを行うようになっている。即ち、制御装置10はCC
Dカメラ2からの情報により、位置合せマーク3と位置
合せマーク4が一致するようにXステージ16、Yステ
ージ17及びθステージ18を動かしてフィルムマスク
FとワークKの位置合わせを行うように構成されてい
る。この際、ワークKは前記プリアライメント工程によ
り所定の位置に位置決めされているから、CCDカメラ
2の視野から外れることなく、確実に画像処理が行え
る。
【0011】制御装置10は最初に、Zステージ15に
よりワークKを上昇させ、フィルムマスクFとの間に所
定の距離を保って、Xステージ16、Yステージ17、
θステージ18によりプラテン1を移動させつつ、CC
Dカメラ2により位置合せマーク3と位置合せマーク4
の位置合わせを行うようになっている。
【0012】位置合わせが終了したら、制御装置10は
プラテン1を上昇させて、同時に加圧フィルムPの裏面
側に加圧源22から加圧流体を導入して加圧フィルムP
を膨らませ、この加圧フィルムPによりフィルムマスク
FをワークKに押しつけて密着させるようになってい
る。そして、制御装置10は再度CCDカメラ2により
位置合せマーク3と位置合せマーク4の位置のずれ量を
測定し、許容公差範囲であれば光源23から光を照射し
て露光を行うように構成されている。
【0013】密着状態で位置合わせマーク3、4の位置
のずれ量が許容公差範囲外であった場合、制御装置10
はフィルムマスクFとワークKとの密着を解放し、再び
CCDカメラ2からの情報によりX、Y、Z、θステー
ジを移動させて位置合わせを行い、再度フィルムマスク
FとワークKを密着させ、再び位置合わせマーク3、4
のずれ量を測定する。このずれ量が許容公差範囲内にな
るまで上記動作を繰り返す様に構成されている。
【0014】図5によりこの実施形態の動作を説明す
る。ワークKが搬入されると(ステップS1)、位置決
め装置5によりプラテン1上におけるワークKのプリア
ライメントを実行し、ワークKを所定の位置に位置決め
する(ステップS2)。次いで前記したように制御装置
10により位置合わせマーク3、4による画像アライメ
ントを実行する(ステップS3)。そして、フィルムマ
スクFとワークKとを密着させる(ステップS4)。こ
の状態で、位置合わせマーク3、4によりアライメント
の確認を行い(ステップS5)、許容公差外の場合には
フィルムマスクFとワークKの密着を開放しステップS
3に戻る(ステップS6)。許容公差内の場合には露光
処理を実行し(ステップS7)、ワークKを搬出する
(ステップS8)。
【0015】以上説明した実施形態によれば、位置決め
装置5によりワークKを所定の位置に位置合わせするた
め、ワークKとフィルムマスクFとの間の位置合わせの
際に、ワークKがCCDカメラ2の視野外に位置する等
の問題が生じない。そのため、アライメント不能が生ず
ることがなく、装置の稼働率を向上できる。また、この
位置決め及びワークKとフィルムマスクF間の位置決め
はプラテン1上で行えるため、効率的であり、且つ位置
決め精度も向上する。更に、フィルムマスクとワークと
を密着させる際に微少な位置ずれが生じても、これを検
出して再度アライメントをやり直すようになっているた
め、アライメント不良による不良品の発生を防止するこ
とが可能になる等の効果がある。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明の露光装置に
よれば、搬送されてくるワークを予め所定の位置に位置
決めするため、ワークとフィルムマスクの間の位置決め
を確実に実行でき、アライメント不能を生じることがな
く、露光装置の稼働率を向上できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示すブロック図。
【図2】本発明の一実施形態におけるプラテン1の平面
図。
【図3】本発明の一実施形態におけるプラテン1の側面
図。
【図4】本発明の一実施形態における位置決め装置5の
側面図。
【図5】本発明の一実施形態の動作を説明するフローチ
ャート図。
【符号の説明】
1:プラテン、2:CCDカメラ、3:位置合せマー
ク、4:位置合せマーク、5:位置決め装置、6:セン
サ、7:ベルトコンベア、8:位置決め装置用溝、9:
ベルトコンベア用溝、10:制御装置、15:Zステー
ジ、16:Xステージ、17:Yステージ、18:θス
テージ、20:フィルムマスク保持装置、21:透明ガ
ラス、22:加圧源、23:光源、50:アライメント
用つめ、51:エアシリンダ、52:ボールネジ、5
3:モータ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搬送されてきたワークを所定の位置に位
    置合わせするためのプリアライメント手段と、 該所定の位置に位置合わせされたワークとフィルムマス
    クとを相対的に移動させて、ワークとフィルムマスク間
    の位置合わせを行うための手段と、 を備えたことを特徴とする露光装置。
  2. 【請求項2】 前記ワークの所定の位置への位置合わせ
    と、前記ワークとフィルムマスク間の位置合わせとが露
    光基台上で行われる、 請求項1に記載の露光装置。
JP23149096A 1996-07-31 1996-08-13 露光装置 Expired - Fee Related JP3231246B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23149096A JP3231246B2 (ja) 1996-08-13 1996-08-13 露光装置
US09/241,902 US6252649B1 (en) 1996-07-31 1999-02-02 Aligner

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23149096A JP3231246B2 (ja) 1996-08-13 1996-08-13 露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1063012A true JPH1063012A (ja) 1998-03-06
JP3231246B2 JP3231246B2 (ja) 2001-11-19

Family

ID=16924315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23149096A Expired - Fee Related JP3231246B2 (ja) 1996-07-31 1996-08-13 露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3231246B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002251016A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置
JP2002341560A (ja) * 2001-05-14 2002-11-27 Howa Mach Ltd 露光機における基板材の処理方法及び露光機の制御装置
JP2007225727A (ja) * 2006-02-21 2007-09-06 Orc Mfg Co Ltd 基板露光装置および基板露光方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002251016A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Adtec Engineeng Co Ltd 露光装置
JP2002341560A (ja) * 2001-05-14 2002-11-27 Howa Mach Ltd 露光機における基板材の処理方法及び露光機の制御装置
JP4756432B2 (ja) * 2001-05-14 2011-08-24 豊和工業株式会社 露光機における基板材の処理方法及び露光機の制御装置
JP2007225727A (ja) * 2006-02-21 2007-09-06 Orc Mfg Co Ltd 基板露光装置および基板露光方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3231246B2 (ja) 2001-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI442193B (zh) Exposure device
US7095483B2 (en) Process independent alignment marks
JPH03116816A (ja) 露光装置
US20070125491A1 (en) Method of removing particle on substrate, apparatus therefor, and coating and development apparatus
JPH0541981B2 (ja)
US4477182A (en) Pattern exposing apparatus
JPH0376195A (ja) 半田印刷装置の位置決め機構
JP3231246B2 (ja) 露光装置
JP3770074B2 (ja) メタルマスクアライメント装置
JP2000250227A (ja) 露光装置
US6760094B2 (en) Aligner
JP2699883B2 (ja) 露光装置
US6252649B1 (en) Aligner
JP2001022098A (ja) 露光装置におけるアライメント装置、被露光基板、及びアライメントマーク
JPH1048847A (ja) 露光装置
JP2509134B2 (ja) プリント配線基板の露光方法及び装置
KR100205199B1 (ko) 필름마스크를 이용한 노광방법 및 장치
JPH05232714A (ja) 露光工程における基板と原版との位置合わせ方法
JP2866513B2 (ja) 露光装置
JP2005017204A (ja) 位置決め装置
TWI785149B (zh) 光罩對,兩面曝光裝置及光罩交換方法
US20230296993A1 (en) Managing multi-objective alignments for imprinting
JP4868119B2 (ja) 露光装置
JP4177682B2 (ja) 露光機構および露光方法
JPH01308632A (ja) スクリーン印刷機の版合せ方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110914

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140914

Year of fee payment: 13

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees