JPH1056333A - 検波回路 - Google Patents

検波回路

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JPH1056333A
JPH1056333A JP22762896A JP22762896A JPH1056333A JP H1056333 A JPH1056333 A JP H1056333A JP 22762896 A JP22762896 A JP 22762896A JP 22762896 A JP22762896 A JP 22762896A JP H1056333 A JPH1056333 A JP H1056333A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection
diode
detection circuit
distortion
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP22762896A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiko Miki
安彦 三木
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Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
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Publication of JPH1056333A publication Critical patent/JPH1056333A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ダイオードが原因の検波回路の歪みを少なく
する。 【解決手段】 第1検波ブロック12は、コンデンサ1
6及びダイオード14を有し、第2検波ブロック18は
コンデンサ22及び直列2個のダイオード20a及び2
0bを有する。これらのダイオードは、特性が等しく、
同じパッケージに格納されて熱的に結合していることが
望ましく、これによって熱変動が起こっても適切に歪み
が除去される。第1差動増幅器28は第1及び第2検波
ブロック12及び18の出力信号の差を出力する。この
差分はダイオード1個分の歪み、電圧降下によるもので
あるから、これを第2差動増幅器30で第1検波ブロッ
ク12の出力信号から差し引くと、ダイオード14の歪
みが除去された出力信号が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号のエンベロー
プを検波する回路に関し、特に低歪で直線性の良い検波
回路に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】図2
は、従来の検波回路の一例を示すブロック図である。こ
うした検波回路は、例えば、振幅変調の復調などで利用
され、入力信号のエンベロープ(包絡線)を検波する。
図3は、入力信号A及びそのエンベロープ信号Bを示す
波形図である。ただし、ここでは入力信号の半波分だけ
のエンベロープ信号を示している。入力信号は入力端子
10に入力され、ダイオード(半導体接合手段)14で
半波整流される。コンデンサ16は、入力信号の高周波
数成分をカットするローパス・フィルタ手段として機能
する。なお、入力信号の周波数の帯域は、ここでは既知
のものとする。よって、コンデンサ16の容量Cは、図
3に示すようなエンベロープ信号Bを得るのに適したも
のを選択し、これによってカットする周波数帯域を設定
すれば良い。なお、ダイオードの代わりに、周知の如
く、図4に示すようなベース・コレクタ間を短絡したト
ランジスタ、つまり、pn接合の半導体を利用しても良
い。
【0003】検波されたエンベロープ信号は、緩衝増幅
器(バッファ)29でインピーダンス変換されて出力端
子32から出力される。ところで図2に示す回路では、
入力信号の半波分のエンベロープ信号しか生成できな
い。入力信号の全波のエンベロープ信号を生成する場合
には、極性が逆の回路をもう1つ用意し、これらを対に
して用いれば良い。なお、定電流源24には、具体的に
は抵抗値の大きい抵抗器を利用しても良い。
【0004】入力信号がダイオードをはじめとするpn
接合半導体を通過すると、入出力関係が線形でないので
信号が歪む。そこでこの歪みを除去する必要がある。そ
こで従来から、検波した信号に補正係数をかけること
で、この歪みを除去するといったことが行われている。
しかし、補正係数は温度などでも変動するので、この方
法は必ずしも精度の良いものではない。そこで、比較的
簡単な構成で精度良く補正できる検波回路が望まれてい
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の検波回路は、第
1及び第2検波手段を設けて、第1及び第2差動増幅手
段で半導体接合手段による歪みを除去するようにする。
第1検波手段は、ローパス・フィルタ手段及び半導体接
合手段を有し、第2検波手段はローパス・フィルタ手段
及び直列2個の半導体接合手段を有する。これらの半導
体接合手段は、熱的に結合していることが望ましく、こ
れによって熱変動が起こっても適切に歪みが除去され
る。また、第2検波手段の直列2個の半導体接合手段内
の第1番目の半導体接合手段及びローパス・フィルタ手
段を、第1検波手段として兼用しても良い。第1差動増
幅手段は第1及び第2検波手段の出力信号の差を出力
し、第2差動増幅手段は第1差動増幅手段及び第1検波
手段の出力信号の差を出力する。
【0006】上述の検波回路は、入力信号の半波分のエ
ンベロープ信号を生成するものなので、全波分のエンベ
ロープ信号を生成したければ、上述した検波回路の極性
が互いに逆のものを1対にして使用すれば良い。半導体
接合手段は、より具体的には、1個以上のダイオードを
直列接続したもの、又はコレクタ及びベースを接続した
トランジスタを1個以上直列接続したものを使用すれば
良い。
【0007】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による検波回路の
一例のブロック図である。従来例と対応するものには、
同じ符号を付して説明する。入力端子10で受けた入力
信号は、第1及び第2検波ブロック(検波手段)12及
び18に夫々入力される。第1検波ブロック12は、1
個のダイオード14及びコンデンサ16で構成される。
ダイオード14は入力信号を半波整流する。コンデンサ
16はローパス・フィルタ手段として機能し、高周波数
成分をカットする。第2検波ブロック18は、2個のダ
イオード20a及び20b及びコンデンサ22で構成さ
れる。動作は、第1検波ブロック12と同様であるが、
ダイオードを2個使用する点が大きく異なる。各コンデ
ンサの容量Cは、検波出力信号の周波数帯域に応じて選
択的に切り換える構成としても良い。
【0008】コンデンサ16及び22には、特性の同じ
ものを使用する。また、ダイオード14並びにダイオー
ド20a及び20bには全て特性の同じものを使用し、
更にこれらは同じパッケージ内に格納されたものを使用
するのが好ましい。これによって、これらダイオードが
熱的に結合され、熱による特性変化もほぼ等しくなるか
らである。
【0009】第1差動増幅器28は、第1及び第2検波
ブロック12及び18の出力信号を受けて、これらの差
分を出力する。この差分は、ダイオードの個数が異なる
ことによって生じる差分、つまり、ダイオード1個分の
差分である。第2差動増幅器30は、第1検波ブロック
12及び第1差動増幅器28からの出力信号を受けて、
その差分を出力する。第1差動増幅器28の出力は、ダ
イオード1個分の歪み、電圧降下によるものであるか
ら、これを第1検波ブロック12の出力信号から差し引
くことによって、ダイオード14による歪み、電圧降下
がキャンセル(除去)された信号が出力端子32に現れ
る。
【0010】定電流源24及び26には、例えば、値の
大きい抵抗器を利用してもよく、検波したエンベロープ
信号の電圧変化を夫々対応する緩衝増幅器(バッファ)
25及び27に供給する。緩衝増幅器25及び27は、
検波したエンベロープ信号を精度良く第1及び第2差動
増幅器28及び30に供給するためのもので、本発明の
原理から言えば必ずしも必要ではない。
【0011】図1において、ダイオード14を2個のダ
イオードで構成しても良い。この場合には、ダイオード
20a及び20bも夫々2個のダイオードで構成する。
動作については、上述と同様である。また、ダイオード
14並びにダイオード20a及び20bは、夫々図3に
示すベース・コレクタ間を短絡したトランジスタで代用
することもできる。
【0012】図5は、本発明の他の実施例のブロック図
である。図1と比較すると、第1検波ブロック12に対
応する部分は、第1番目のダイオード20a及びコンデ
ンサ22で構成される。これらにより生成される信号
を、緩衝増幅器(バッファ)25で取り出し、第1差動
増幅器28に供給する。緩衝増幅器25が抽出した信号
は、図の第1検波ブロック12が生成する信号と同様
に、ダイオード1個分の歪みを含む入力信号のエンベロ
ープ信号である。このダイオード1個分の歪みを除去し
たエンベロープ信号を得る点は、上述の実施例と同様で
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一好適実施例のブロック図である。
【図2】従来の検波回路の一例のブロック図である。
【図3】入力信号及びそのエンベロープ信号の波形図で
ある。
【図4】半導体接合手段として利用できる他の例を示す
図である。
【図5】本発明の他の好適実施例のブロック図である。
【符号の説明】
10 入力端子 12 第1検波ブロック 13 緩衝増幅器 14 ダイオード(半導体接合手段) 16 コンデンサ(ローパス・フィルタ手段) 18 第2検波ブロック 20 ダイオード(半導体接合手段) 22 コンデンサ(ローパス・フィルタ手段) 24 定電流源 25 緩衝増幅器 26 定電流源 27 緩衝増幅器 28 第1差動増幅手段 30 第2差動増幅手段 32 出力端子

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ローパス・フィルタ手段及び半導体接合
    手段を有する第1検波手段と、 ローパス・フィルタ手段及び直列2個の半導体接合手段
    を有する第2検波手段と、 上記第1及び第2検波手段の出力信号の差を出力する第
    1差動増幅手段と、 該第1差動増幅手段及び上記第1検波手段の出力信号の
    差を出力する第2差動増幅手段とを具える検波回路。
  2. 【請求項2】 上記第2検波手段のローパス・フィルタ
    手段及び直列2個の半導体接合手段の1つを上記第1検
    波手段の上記ローパス・フィルタ手段及び上記半導体接
    合手段として兼用することを特徴とする請求項1記載の
    検波回路。
  3. 【請求項3】 極性が互いに逆の請求項1又は2記載の
    検波回路を1対にして使用することにより、入力信号の
    全波のエンベロープ信号を生成することを特徴とする検
    波回路。
  4. 【請求項4】 上記半導体接合手段は、互いに熱的に結
    合していることを特徴とする請求項1、2又は3記載の
    検波回路。
  5. 【請求項5】 上記半導体接合手段は1個以上のダイオ
    ードを直列接続したものであることを特徴とする請求項
    1、2、3又は4記載の検波回路。
  6. 【請求項6】 上記半導体接合手段はコレクタ及びベー
    スを接続したトランジスタを1個以上直列に接続したも
    のであることを特徴とする請求項1、2、3又は4記載
    の検波回路。
JP22762896A 1996-08-09 1996-08-09 検波回路 Pending JPH1056333A (ja)

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JP22762896A JPH1056333A (ja) 1996-08-09 1996-08-09 検波回路

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JPH1056333A true JPH1056333A (ja) 1998-02-24

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JP22762896A Pending JPH1056333A (ja) 1996-08-09 1996-08-09 検波回路

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JP (1) JPH1056333A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7209842B2 (en) 2002-11-29 2007-04-24 Denso Corporation Activation signal output circuit and determination circuit
US7536153B2 (en) 2003-12-17 2009-05-19 Denso Corporation Activation signal output circuit having multiple amplifier circuits

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7209842B2 (en) 2002-11-29 2007-04-24 Denso Corporation Activation signal output circuit and determination circuit
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