JPH1049007A - 静電記録システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 離散して設置された多数の静電記録装置を効
率的にメンテナンスし高画質の印刷を制御する。 【解決手段】 構成部品の特性を示すデータを検出し外
部に送信する手段を有する静電記録装置と、この静電記
録装置から離れた位置に別体に設けられ、静電記録装置
から送信された前記データを受信する手段と、この手段
にて受信したデータを静電記録装置の構成部品の寿命判
定データと比較してこの構成部品の診断を行う手段とを
有する情報処理装置とで、構成する。これにより、中央
に設置した情報処理装置により、遠隔地に設置した静電
記録装置のメンテナンスや画質制御を行うことが可能と
なる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は静電記録システムに
係り、特に、遠隔地に配置された静電記録装置を常に良
好な使用状態に保つのに好適な静電記録システムに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】例えば、静電記録装置には、感光体ドラ
ムが感光体シートの一部をドラムに巻き付けて使用し、
シートを巻き上げることによって、その使用部分を交換
する巻取り方式の感光体シートがある。このような静電
記録装置では、ドラムに設けられた感光体シート出入口
用開口部のキャップ部の電位を常にアース電位とする
か、キャップ部が表面電位検出手段に対向する位置に来
たときキャップ部の電位をアース電位にするという特許
(特公昭61−56514)が出願されている。この目的の一つ
は、表面電位検出手段が上記キャップ部を通過する時点
で表面電位検出手段の零電位補正を行うことにある。も
う一つの目的は表面電位検出手段により感光体表面電位
を測定し、これにより帯電器を制御することにある。

【０００３】一方、特開昭58−4172には、キャップ部が
表面電位検出手段に対向する位置に来たときに、キャッ
プ部に校正電圧を接続することによって表面電位検出手
段を校正したり、あるいはキャップ部を電流計と接続す
ることによってコロナ電流を測定し、帯電器の電源の出
力調整を行うことが述べられている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】静電記録装置を遠隔地
に設置した場合、そのメンテナンスを行うのに不便であ
り、また多数の静電記録装置を各所に散在させて設置し
た場合、その各静電記録装置をどのように巡回してメン
テナンスすれば良いかの判断が難しく、効率的な方法が
求められている。特に、上述した感光体シートを用いる
ものは、従来の静電記録装置に比べてメンテナンスの頻
度が高くなるため、その対策が必要である。更に、近年
では高画質の印刷要求が高く、高画質の制御を静電記録
装置自体で制御するには負荷が高すぎるという問題もあ
る。

【０００５】本発明の目的は、離散して設置された多数
の静電記録装置でも効率的にメンテナンスができしかも
静電記録装置による高画質の印刷を行うことができる静
電記録システムを提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的は、構成部品の
特性を示すデータを検出し外部に送信する手段を有する
静電記録装置と、該静電記録装置から離れた位置に別体
に設けられ、該静電記録装置から送信された前記データ
を受信する手段と、該手段にて受信した前記データを前
記構成部品の寿命判定データと比較して該構成部品の診
断を行う手段とを有する情報処理装置とを備えること
で、達成される。

【０００７】上記目的はまた、構成部品の特性を示すデ
ータを検出し外部に送信する手段を有する静電記録装置
と、該静電記録装置から離れた位置に別体に設けられ、
該静電記録装置から送信された前記データを受信する手
段と、該手段にて受信した前記データを前記構成部品の
寿命判定データと比較して該構成部品の診断を行う手段
と、診断結果を出力する手段とを有する情報処理装置と
を備えることで、達成される。

【０００８】上記目的はまた、構成部品の特性を示すデ
ータを検出し外部に送信する手段を有する静電記録装置
と、該静電記録装置から離れた位置に別体に設けられ、
該静電記録装置から送信された前記データを受信する手
段と、該手段にて受信した前記データを前記構成部品の
寿命判定データと比較する比較手段と、該比較の結果に
応じて前記構成部品の点検信号を発生する手段とを有す
る情報処理装置とを備えることで、達成される。

【０００９】上記目的はまた、感光体の特性を示すデー
タを検出し外部に送信する手段を有する静電記録装置
と、該静電記録装置から離れた位置に別体に設けられ、
該静電記録装置から送信された前記データを受信する手
段と、該手段にて受信した前記データを前記感光体の寿
命判定データと比較する比較手段と、該比較の結果に応
じて感光体交換信号を発生する手段とを有する情報処理
装置とを備えることで、達成される。

【００１０】上記目的はまた、静電潜像を現像した画像
を読み取りデータ化して送信する手段を有する静電記録
装置と、該静電記録装置から離れた位置に別体に設けら
れ、該静電記録装置から送信されたデータを受信する手
段と、該手段にて受信したデータを処理し処理結果を前
記静電記録装置にフィードバックする手段とを有する情
報処理装置とを備えることで、達成される。

【００１１】上記目的はまた、静電潜像を現像した画像
を読み取りデータ化して送信する手段を有する静電記録
装置と、該静電記録装置から離れた位置に別体に設けら
れ、該静電記録装置から送信されたデータを受信する手
段と、該手段にて受信したデータに基づき前記静電記録
装置の画質を制御する信号を生成し前記静電記録装置に
送信する手段とを有する情報処理装置とを備えること
で、達成される。

【００１２】このように、コンピュータやパソコン等の
情報処理装置を用いる構成にすることで、静電記録装置
を単なるプリントデータの受け手に限定するのでなく、
静電記録装置から感光体表面状態のデータや各種データ
を情報処理装置に送り、情報処理装置がこれを処理して
静電記録装置にフィードバックすることで、多用な制御
が可能になると共に、情報処理装置を中央に設置してこ
れに静電記録装置を接続することで、中央にて各種の制
御が可能となり、効率的なメンテナンスが容易となる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面を参照して説明する。図１は、本発明の一実施形態に
係る静電記録システムで用いる静電記録装置の構成図で
ある。本実施形態の静電記録装置では、感光体ドラムの
表面の一部に、印写に係わらない領域を設け、この部分
を所定電位になるように外部電源または帯電器から直接
あるいは間接的に電圧を供給し、回転するドラム面上に
基準電位測定部を構成する。

【００１４】そして、感光体ドラムの上部に表面電位検
出手段を配置しておき、感光体ドラム回転中、表面電位
検出手段により一定周期で基準電位測定部と電荷受容面
の電位を測定する。すなわち、図１(a)に示すように、
感光体シート４の一部をストックロール１からドラム素
管３の一部に設けた開口部５を介して外に引き出し、ド
ラム素管に巻き付けた後、再び開口部５から内に入って
テイクアップロール２に巻き付ける構成とした感光体ド
ラムにおいて、開口部５をキャップ６にてふさぐ構造と
する。このキャップの電位をＶsとする。これにより、
感光体ドラムの表面の一部に基準電位部を設けることが
出来る。第１図に示した例ではキャップ６が基準電位部
を構成している。

【００１５】先ず、静電記録装置の作用を概説する。図
１において、ドラム素管３は感光体シート４を巻きつけ
られて感光体ドラムを構成し、円弧矢印Ｒ方向に回転し
ている。この感光体ドラムの電荷受容面は帯電器８によ
り帯電された後、光学系９により光像露光されて潜像が
形成され、現像器10により潜像はトナー像として可視化
され、トナー画像は転写器11により用紙13に転写され
る。転写されたトナー像は定着器14により用紙に定着さ
れ、排出される。一方、感光体ドラム上の残留電位はイ
レーザ15により除去され、クリーナ16により感光体表面
の残留トナーが除去され、再び帯電以降の工程を繰り返
す。

【００１６】次に、前記の如く基準電位測定部を設けた
場合の作用について述べる。図１(a)は、基準電位部と
して設けたキャップ６付近の平面図である。感光体ドラ
ム上方に設けられた表面電位検出手段７により感光体ド
ラム表面の電位を測定したときのその出力の時間的変化
を図２に示す。図２は帯電器８により感光体表面を帯電
させている状態での特性である。キャップ部材６の電位
Ｖsは外部電源により任意に設定できる。今、この電圧
を電荷受容部（感光体）材料によって決まる受電電位Ｖ
sに設定する。電荷受容面の電位は帯電器の帯電条件
（帯電電圧，グリッド電圧等）や電荷受容面の疲労度等
によって変わる。帯電条件が適切でないと電荷受容面電
位Ｖ0はＶsよりも低くなったり、高くなったりする。従
って、Ｖ0がＶs近傍の値を取るように帯電条件を制御す
る必要がある。

【００１７】本構成では、感光体ドラム面上にキャップ
部材よりなる基準電位部６を持つために、ドラム回転中
に表面電位検出手段７の出力が基準電位測定部と感光体
ドラム面において、ほぼ同じ値を取る様に帯電器を制御
することによって感光体表面電位を適切な値に制御でき
る。ここで、17はキャップ位置を検出するセンサ、18は
帯電器電源、19は帯電器の制御回路である。

【００１８】図２に示すように、基準電位部との比較で
電圧の高低関係を調べ、次のサイクルで補正する。この
構成によれば、表面電位検出手段で感光体ドラム表面の
絶対的電位を測定する必要がなく、つまり表面電位検出
手段の絶対値校正を行うことなく、感光体表面電位を精
度よく制御できる。

【００１９】図１において、キャップ部の位置を判定す
るのに位置センサー17を用いる。従って、見方を変えれ
ば、キャップ部を基準値に限定する必要はなく、感光体
の一部を位置センサーにて検出して、その表面電位を測
定し、これを基準値として、他の部分の電位と比較して
もよい。

【００２０】感光体は、長時間使用に供されると劣化す
る。この劣化には、電気的劣化，機械的劣化，化学的劣
化が考えられる。即ち、感光体が帯電器によるコロナ放
電に曝されていると、時間の経過と共に感光体表面が酸
化して表面抵抗値が低下する。また、表面に存在するピ
ンホール等の欠陥がコロナ放電に曝されると局部的な体
積抵抗の低下が生じる。これらが電気的な劣化である。
化学的な劣化としては、オゾンやＮＯ3等による劣化が
考えられる。機械的な劣化としては、現像時における感
光体ドラム表面への現像材（主にキャリア）の付着、そ
してクリーナーによる傷の発生がある。実際には、これ
らの劣化が互いに重なって生じる複合劣化である。

【００２１】感光体が劣化するとその表面が荒れるた
め、帯電後の表面電位分布が不均一となり、表面電位が
局部的に高い個所や局部的に低い個所がランダムに生じ
る。このようになると、帯電器の電圧制御だけでは対処
できなくなり、感光体の交換が必要となる。

【００２２】こうした理由により、制御の手段を講じて
表面電位検出手段により電荷受容面の表面電位分布を測
定し、その分布状態を基準値と比較することにより感光
体の寿命評価を行うことが出来る。また、ドラム回転中
に表面電位検出手段で基準電位測定部と電荷受容面の電
位を検出してその差を求め、この差電位がなくなるよう
に帯電器動作を調整して電荷受容面電位を変化させれ
ば、ドラム１回転中の表面電位検出手段の電圧検出誤差
は一定と見てよいから、表面電位検出手段の校正を頻繁
に行わなくても精度のよい表面電位制御を行える。ま
た、基準電位測定部の電位を現像条件に応じて適当に設
定すれば、この部分がドラム周上の現像器を通過すると
きにトナーが付着するのを防止できる。さらに基準電位
測定部及び電荷受容面の電位を表面電位検出手段により
検出し、これらの差や分布を調べれば、電荷受容面の劣
化による電位の大きな変化や不規則な変化がわかり、こ
れから電荷受容面、つまり感光体の劣化を検出できる。

【００２３】次に、本発明の具体的な実施形態を図３に
より説明する。図３(a)に示した６はキャップ部材であ
って基準電位測定部を構成している。即ち、基準電位に
保たれている。上記のキャップ部材６に対して基準電位
を与える手段として、本実施形態は外部の直流電源によ
ることなく、帯電器８を使用する。キャップ部材６に対
して、定電圧受動素子としてのバリスタ20と、コンデン
サＣとを並列に介してアースする。18ａ，18ｂは帯電器
８の電源である。

【００２４】前記キャップ部材６に対向，離間せしめて
設置したスコロトロン帯電器８の放電ワイヤ８aのワイ
ヤ電圧Ｖa、或いはグリッド８bのグリッド電圧Ｖgを上
げてゆくと、キャップ部材６の表面電位Ｖkは図３(b)の
ように変化する。同図において、Ｖvはバリスタ20の動
作電位、ｉvはバリスタ電流である。この(b)図から明ら
かなように、キャップ部材６の表面電位Ｖkは、グリッ
ド電圧Ｖgの増加と共に上昇するが、バリスタ20の動作
電位Ｖvに達すると飽和し、バリスタ電流ｉvが増加し始
める。このようにして、基準電位測定部を構成するキャ
ップ部材６の表面電位は電位Ｖvに保たれる。

【００２５】図３(c)は、キャップ部材が帯電器８の下
方を通過した後のキャップ表面電位Ｖkの時間的変化を
示す図表である。図示の如く、電位ＶkはＣ，Ｒの時定
数で低下してゆく。ここに、Ｒはバリスタ20のＯＦＦ抵
抗である。

【００２６】現像方式が正規現像である場合に、上記キ
ャップ部材６が、図１(a)に示した現像器10を通過する
とき、該キャップ部材６の電位が現像バイアス電位より
も低くなるように設定すれば、トナーが付着しない。キ
ャップ部材以外に基準電位部を設けた場合も、該基準電
位部の電位をバイアス電位よりも低く設定すればよい。
また、反転現像の場合は、バイアス電圧よりも高く設定
すればトナーが付着しない。

【００２７】表面電位検出手段７（図１）の下方を通過
する時刻ｔJでの電位ＶJは、

【００２８】

【数１】

【００２９】従って、感光体の電荷受容面の電位を基準
電位Ｖsに設定するには、バリスタの動作電圧Ｖvが次の
数２

【００３０】

【数２】

【００３１】であるようなバリスタを選定して用いれば
良い。これにより、表面電位検出手段の下をキャップ部
が通過する時、キャップ部の電位ＶkはＶsの電位を示す
ことになる。このように、バリスタとＣ，Ｒを用いるこ
とにより、新たな外部電源を必要としない。外部の電源
から直接供給するためには、スリップリング機構が必要
となるが、本実施形態ではこれも不用である。このよう
に、本実施形態によれば簡単な方法であり新たな電源も
不用なため低価格，小型化を達成できる。

【００３２】図３(d)の如く、コンデンサＣと固定抵抗
Ｒとを並列に接続すると共に、さらにバリスタ20を直列
に介装してキャップ部材６を接地しても前記と同様な作
用，効果が得られる。また、前記のバリスタ20に代えて
ツエナダイオードを用いても同様の作用，効果が得られ
る。要するに、定電圧受動素子の中から適宜のものを選
択して用いることができる。

【００３３】図４(a)，(b)は、本実施形態の方法を適用
した感光体の表面電位制御及び寿命評価による感光体シ
ート交換システムを示したものである。図４(a)は図３
(a)に対応するバリスタ回路を設けた静電記録装置を示
し、図４(b)は図３(d)に対応するバリスタ回路を設けた
静電記録装置を示している。

【００３４】図３で説明したように帯電器８によりキャ
ップ部６に感光体の電荷受容面の基準電位Ｖsが印加さ
れる。

【００３５】(ｉ) 位置センサー17によりキャップ部材
(基準電位部)の位置を検出し、その時の表面電位検出手
段７による測定値（必ずしも絶対値でなくても良い）を
電荷受容面基準電圧Ｖsとして、演算処理部24に入力す
る。図示の21はＡ／Ｄ変換器、22は演算回路、23はＤ／
Ａ変換器である。上記の演算回路22はＣＰＵ，ＲＡＭ，
ＲＯＭ等から構成されている。

【００３６】(ii) 表面電位検出手段７により電荷受容
面の表面電位Ｖ0を測定し、演算処理部24に入力し、
(ｉ)において入力した電荷受容面基準電圧Ｖsと比較す
る。この比較結果に基づき、制御回路19により帯電器電
源18ａ，18ｂを制御し、図２に示すように、次のサイク
ルで電荷受容面電位Ｖ0がＶsと略一致するような表面電
位制御を行う。上記の帯電器電源の制御方法としては、
グリッド電圧８bを制御しても良く、ワイヤ電圧８aを制
御してもよく、帯電電源18ａを制御しても良い。

【００３７】(iii) 感光体が劣化して、帯電器の電
圧，電流を増加しても電荷受容面電位が予め設定された
値（Ｖsも含む）に達しない場合には感光体の寿命と判
断し、感光体巻き取り機構25により新しい感光体の寿命
を評価するパラメータとしては、電荷受容面の電位(絶
対値)だけではなく、表面電位の変動値を用いることも
出来る。

【００３８】(iv) 静電記録装置が停止あるいは休止状
態にある時、感光体は静止している。この状態で、表面
電位検出手段のプローブが感光体電荷受容面と対向した
位置にあると、その残留電位分（100〜200Ｖ）の直流電
圧が表面電位検出手段の測定電極プローブに影響を与え
る（例えばチャージアップ等の悪影響がある）。そこ
で、感光体静止時は表面電位検出手段７がキャップ部材
６と対向し、このキャップ部材６の電位が零になるよう
に設定する。

【００３９】図４(a)に示したように、コンデンサＣと
バリスタ20よりなる定電圧回路を設けた場合、また、図
４(b)に示したように、これに固定抵抗を組合わせた定
電圧回路を設けた場合、これら電気部品の特性値を適当
に選ぶと、感光体が静止した後、数秒以内に零Ｖとする
ことが出来、これにより、表面電位検出手段へのチャー
ジアップ等への影響をなくすことが出来る。また、表面
電位検出手段近傍の電界も零となるので、トナーが飛翔
して表面電位検出手段の測定電極に付着し、故障すると
いう問題も生じない。更に、静電記録装置の停止時ある
いは休止中に表面電位検出手段の零点補正を行うことが
出来る。

【００４０】図５は、感光体の寿命を評価するための、
前記と異なる方法の説明図である。感光体を長時間使用
すると、前述の如く劣化を生じる。特に、表面に傷痕が
出来ると湿気の存在の下に大幅な抵抗値の低下（初期値
に比して１／100〜１／1000になる）を生じる。このた
め“像ながれ”を生じて画質が低下する。こうした観点
から、帯電後の感光体の表面電流を測定することによっ
ても寿命の評価(損耗の進行状態の判定)が可能である。

【００４１】この方法を実地に適用するには、キャップ
部材６を電気の導体で構成し、これを感光体表面に接触
させる。この場合、キャップ部材６の端部は感光体表面
に傷がつかないように導電性ゴム等にすることが望まし
い。キャップ部材６とアースとの間に電流計27を接続
し、感光体表面のリーク電流26を検出する。この電流を
モニタし、所定値以上になった時、感光体の寿命と判断
し、感光体シートの交換を行う。

【００４２】前記のキャップ部材６が導電性ゴムであっ
ても金属部材であっても、このキャップ部材６と電荷受
容面との、表面電位検出手段７による測定電圧差をなく
すように帯電器制御を行えるが、この制御の具体的方法
を次に説明する。

【００４３】図９は、表面電位検出手段７による測定電
位の時間的変化を示しており、キャップ部材６の電位Ｖ
kは電荷受容面帯電設定電圧Ｖsに設定されているとす
る。図９(a)においては、表面電位検出手段７の出力値
が基準電位部であるキャップ部材の電位Ｖk＝Ｖcよりも
低い場合を示している。この場合は帯電器８を制御して
表面電位を高くする必要がある。このための一方法とし
て、キャップ部材６以外の電荷受容面における表面電位
検出手段７の出力最大値ＶHと最小値ＶLおよぴキャップ
６における出力Ｖcが次の数３を満たすような制御を行
う。

【００４４】

【数３】Ｖc ＝ α × （ＶH − ＶL） ＋ ＶL 但し、０≦α≦１とする。また電位計７の出力値が基準
電位部であるキャップの電位よりも高い場合も同様の制
御を行うことによって、電荷受容面上の電位を適正値と
することができる。数３を満たす制御を行った結果とし
て得られる表面電位を図９(b)に示す。

【００４５】帯電器の制御の別の方法を述べる。第９図
(c)は表面電位検出手段７の出力値を微分及び整流して
得た信号の時間的変化である。電荷受容面の電位が基準
電位に等しい時は、このパルス状電位はほぼ零となる
が、電荷受容面の電位が基準電位と異なる場合にはキャ
ップ部材６の前後でパルス電圧が発生する。このパルス
電圧がもっとも小さくなるように帯電器８を制御するこ
とによって、電荷受容面上の表面電位を適正値に設定す
ることが出来る。

【００４６】上記の表面電位の制御が出来なくなれば、
感光体の交換時期に達したものと判定する。具体的に
は、最大値と最小値との差が規定値を越えたときであ
る。また、この判定を簡易に行うためには、交換時期に
達するまでの感光体の回転回数を実験的に測定してお
き、実際の使用において感光体が上記の実験的測定値に
達したときに感光体の寿命が尽きたと判定することもで
きる。

【００４７】図１０(a)は、図９(a)と同様で、電荷受容
面における表面電位検出手段７の出力例を示している。
寿命評価の１つの方法は、この最大値ＶHと最小値ＶLが
次の数４を満たすとき、感光体の寿命が終わったと判定
する。

【００４８】

【数４】（ＶH − ＶL） ＞ ＶD ただし、ＶDは予め設定した値である。

【００４９】感光体の寿命評価の第２の方法としては、
図１０(a)において、基準電位測定部における表面電位
検出手段７の出力よりやや高いＶcH及びやや低いＶcLを
設定しておき、電荷受容面における出力がＶcHを越えた
回数ＮHとＶcL以下になった回数ＮLを図１の制御回路内
で計数し、感光体ドラム１回転当たりのそれらの回数が
予め設定した回数Ｎg を越えたとき感光体の寿命と判定
する。

【００５０】この実施形態の感光体の寿命評価方法で
は、測定電位の微分波形を利用する。図１０(b)は感光
体が劣化した場合の電位形７の出力を微分した値の時間
変化である。微分処理することによって、表面電位が急
激に変化する場所を検出できるため、ピンホール等の致
命的な欠陥を掴むことが出来る。即ち感光体の表面が劣
化してくるに従って多くのパルス波形があらわれる。こ
のパルス波形のうち基準電位測定部によるパルス以外の
パルスの数あるいはパルスの波高値をモニターする。そ
してパルス数が所定値Ｎwよりも大きくなった時、或は
パルスの波高値の最大値と最小値の差が基準値Ｖw以上
になった時、感光体の寿命がつきたと判定する。

【００５１】図６は、別の実施形態を示す図である。露
光後の表面電位を測定するための表面電位検出手段７b
を設け、残留電位ＶRを測定する。表面電位検出手段７a
はキャップ部の電位と帯電後の電荷受容面の表面電位を
比較測定するために用いられ、図４で説明したように、
電荷受容面の表面電位が常に基準値Ｖsとなるように制
御部 19によって帯電器８が制御される。

【００５２】しかし、図６(b)に示すように、光学系９
による露光後の表面電位すなわち残留電位ＶRは露光量
が同じでも感光体の劣化により、時間の経過とともに
（横軸座標ｔの増加に従って）上昇する。この残留電位
ＶRを、第２の表面電位検出手段７bによって測定し、演
算処理部24によりＶ0と比較して、制御部19により現像
器10のバイアス電源28を制御し、バイアス電圧ＶBがＶ0
よりも小さく、ＶRよりも大きくなるようにする。これ
により、カブリのない画質が得られる。

【００５３】一方、Ｖ0とＶRの値から、Ｖ0とＶRの差で
あるコントラスト電位ΔＶを算出し、このΔＶが予め設
定された値よりも小さくなった場合、あるいはＶRが予
め設定された値よりも大きくなった時、感光体の寿命と
みなし、感光体シートを交換する。この方法によれば、
露光後の感光体特性も評価するため、精度の高い寿命評
価が可能となる。

【００５４】図６の実施形態では2つの表面電位検出手
段７a，７bを用いたが、更に異なる実施形態として１個
の表面電位検出手段７bのみを用い、明・暗状態が交互
に繰り返されるような露光を行うことにより、暗部の感
光体表面からＶ を、明部の感光体表面からＶ を測定す
ることもできる。これにより１つの表面電位検出手段で
目的を達成することができる。

【００５５】上述の各実施形態は、ドラム素管３に感光
体シート４を巻きつけた所謂シート巻取式の感光体を用
いた静電記録装置について説明したが、本発明に係る感
光体の寿命評価方法はこれに限定されずに適用すること
が出来る。図７は、素管の表面に電荷受容面29を形成し
た、いわゆる感光体ドラム方式への適用例を示す。図７
(a)はカット紙対応のドラムであり、ドラムの周長がカ
ット紙の幅に比して長い場合に適用出来る構成であっ
て、基準電位部６’は素管３’から絶縁されている。
(b)図は連続紙，カット紙いずれの場合にも使用できる
構成であって、幅寸法ｌ以下の用紙に記録することが出
来る。

【００５６】図８は、上述した実施形態に係る静電記録
装置を用いた静電記録システムの概念構成図である。こ
のシステムでは、静電記録装置と、これと別体に設置さ
れた情報処理装置とによって構成されている。図１，図
４，図６に示した実施形態においては、静電記録装置内
に演算処理部を設けて帯電器や現像バイアス電圧制御等
を行ってきたが、今後、超高速・高精細・コンピュータ
グラフィック対応の超高画質なフルカラープリント等を
行う場合、より精密な制御が必要となる。そこで、本シ
ステムでは、情報処理装置自身が静電記録装置を制御す
る方式となる。次記(イ)，(ロ)の２方式が考えられる。

【００５７】(イ) 感光体の寿命評価と感光体ドラム交
換 感光体の表面状態のデータを静電記録装置から情報処理
装置に送り、データ処理後、感光体が寿命と判断した場
合は感光体交換信号を情報処理装置から静電記録装置に
送り、感光体を自動あるいは手動で交換する。

【００５８】(ロ) 画質制御 静電記録装置によりプリントされた画像を読み取り機構
によりデータ化し、これを情報処理装置に送り、データ
処理後、情報処理装置から帯電量，露光量，現像条件等
の画質制御信号を静電記録装置に送り画質制御を行う。

【００５９】さらに、情報処理装置によって静電記録装
置の故障診断や、重大損傷の未然防止を行うことも有効
である。即ち、静電記録装置から構成部品特性データ
（帯電器ワイヤー，露光パワー，現像器，ヒートロー
ル，イレーズランプ等）を情報処理装置に送り、各構成
部品の寿命判定データと比較し、装置点検指示信号を発
生する。これにより静電記録装置の故障事故を未然に防
ぐこのができる。

【００６０】

【発明の効果】本発明によれば、対話形式のシステム化
が容易となり、中央に設置した情報処理装置により一元
管理できるため、中央にメンテナンス用のデータベース
を構築でき、これに接続した静電記録装置の感光体の寿
命評価，画質制御，さらには静電記録装置自身の故障診
断も可能となり、静電記録装置の予防保全を容易に図る
ことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に用いる静電記録装置の構
成図（ａ）とこれに用いるキャップ部の上面図（ｂ）で
ある。

【図２】図１の感光体表面の電位の変化を示す図であ
る。

【図３】図１に示す帯電器の制御構成図である。

【図４】静電記録装置の制御説明図である。

【図５】感光体の寿命評価の一例の説明図である。

【図６】静電記録装置の感光体の表面電位測定説明図で
ある。

【図７】感光体ドラムに設ける基準電位部の説明図であ
る。

【図８】本発明の一実施形態に係る静電記録システムの
概念構成図である。

【図９】静電記録装置の感光体表面電位の変化を示す図
である。

【図１０】静電記録装置の感光体表面電位の変化を示す
図である。

【符号の説明】

３…ドラム素管、４…感光体シート、６…キャップ部材
（基準電位部を構成する部材）、７…表面電位検出手
段、８…帯電器、10…現像器、18…帯電器電源、19…制
御部、20…定電圧受動素子としてのバリスタ、24…演算
処理部、25…感光体シート巻取り機構、26…表面電流、
28…現像器バイアス電源。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 並川 理 東京都千代田区大手町２丁目６番２号 日 立工機株式会社内 (72)発明者 小松 勇 東京都千代田区大手町２丁目６番２号 日 立工機株式会社内

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 構成部品の特性を示すデータを検出し外
   部に送信する手段を有する静電記録装置と、該静電記録
   装置から離れた位置に別体に設けられ、該静電記録装置
   から送信された前記データを受信する手段と、該手段に
   て受信した前記データを前記構成部品の寿命判定データ
   と比較して該構成部品の診断を行う手段とを有する情報
   処理装置とを備えて成ることを特徴とする静電記録シス
   テム。
2. 【請求項２】 構成部品の特性を示すデータを検出し外
   部に送信する手段を有する静電記録装置と、該静電記録
   装置から離れた位置に別体に設けられ、該静電記録装置
   から送信された前記データを受信する手段と、該手段に
   て受信した前記データを前記構成部品の寿命判定データ
   と比較して該構成部品の診断を行う手段と、診断結果を
   出力する手段とを有する情報処理装置とを備えて成るこ
   とを特徴とする静電記録システム。
3. 【請求項３】 構成部品の特性を示すデータを検出し外
   部に送信する手段を有する静電記録装置と、該静電記録
   装置から離れた位置に別体に設けられ、該静電記録装置
   から送信された前記データを受信する手段と、該手段に
   て受信した前記データを前記構成部品の寿命判定データ
   と比較する比較手段と、該比較の結果に応じて前記構成
   部品の点検信号を発生する手段とを有する情報処理装置
   とを備えて成ることを特徴とする静電記録システム。
4. 【請求項４】 感光体の特性を示すデータを検出し外部
   に送信する手段を有する静電記録装置と、該静電記録装
   置から離れた位置に別体に設けられ、該静電記録装置か
   ら送信された前記データを受信する手段と、該手段にて
   受信した前記データを前記感光体の寿命判定データと比
   較する比較手段と、該比較の結果に応じて感光体交換信
   号を発生する手段とを有する情報処理装置とを備えて成
   ることを特徴とする静電記録システム。
5. 【請求項５】 静電潜像を現像した画像を読み取りデー
   タ化して送信する手段を有する静電記録装置と、該静電
   記録装置から離れた位置に別体に設けられ、該静電記録
   装置から送信されたデータを受信する手段と、該手段に
   て受信したデータを処理し処理結果を前記静電記録装置
   にフィードバックする手段とを有する情報処理装置とを
   備えて成ることを特徴とする静電記録システム。
6. 【請求項６】 静電潜像を現像した画像を読み取りデー
   タ化して送信する手段を有する静電記録装置と、該静電
   記録装置から離れた位置に別体に設けられ、該静電記録
   装置から送信されたデータを受信する手段と、該手段に
   て受信したデータに基づき前記静電記録装置の画質を制
   御する信号を生成し前記静電記録装置に送信する手段と
   を有する情報処理装置とを備えて成ることを特徴とする
   静電記録システム。
7. 【請求項７】 請求項６において、画質を制御する信号
   は、帯電量，露光量，現像条件を制御するものであるこ
   とを特徴とする静電記録システム。
8. 【請求項８】 請求項１乃至請求項７のいずれかに記載
   の静電記録装置は、感光体と、該感光体の表面を帯電す
   る帯電器と、帯電された前記感光体の表面を露光して静
   電潜像を形成する露光手段と、前記静電潜像を現像する
   現像手段と、該現像手段により現像された画像を被転写
   材に転写する転写手段と、前記感光体の表面のうち前記
   静電潜像が形成されない所定領域を定め該所定領域を所
   定電位に帯電する手段と、前記感光体の表面のうち前記
   静電潜像が形成される領域の帯電電位を検出すると共に
   前記所定領域の電位を検出する電位検出手段と、該電位
   検出手段の検出した前記帯電電位が前記電位検出手段の
   検出した前記所定領域の電位となるように前記帯電器を
   制御する制御手段とを備えることを特徴とする静電記録
   システム。
9. 【請求項９】 請求項８において、前記制御手段は、前
   記帯電電位を前記所定領域の電位に制御できなくなった
   とき前記感光体の寿命がつきたと判定する手段を備える
   ことを特徴とする静電記録システム。
10. 【請求項１０】 請求項８または請求項９において、前
    記所定領域は、定電圧受動素子を介して接地されている
    ことを特徴とする静電記録システム。
11. 【請求項１１】 請求項１乃至請求項１０のいずれかに
    おいて、前記感光体は、感光体ドラムの内部に未使用部
    分および使用済み部分が収納され且つ外周部に使用部分
    を巻き付けた感光体シートを巻き上げることで使用部分
    を交換する巻取式感光体であることを特徴とする静電記
    録システム。