JPH1041451A - 半導体装置のリード成形装置 - Google Patents

半導体装置のリード成形装置

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JPH1041451A
JPH1041451A JP19217296A JP19217296A JPH1041451A JP H1041451 A JPH1041451 A JP H1041451A JP 19217296 A JP19217296 A JP 19217296A JP 19217296 A JP19217296 A JP 19217296A JP H1041451 A JPH1041451 A JP H1041451A
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JP
Japan
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lead
bending
semiconductor device
leads
forming apparatus
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Application number
JP19217296A
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English (en)
Inventor
Fumiyuki Maeda
史之 前田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Bending Of Plates, Rods, And Pipes (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置のリードの成形時に生ずる樹脂か
す等を排除し、半導体装置の実装時における接触不良な
どのトラブルを発生させないリード成形装置を提供する
こと。 【解決手段】 半導体装置のリード成形装置10の曲げ
パンチ13の外面側から底面側にかけて、曲げダイ11
にセットした半導体装置1の各リード13を指向する空
気噴出孔14を穿設し、リード3の曲げ成形時に空気を
噴出させて、樹脂かすr、半田かすsを排除する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置のリード
成形装置に関するものであり、更に詳しくはリードを曲
げ成形すると同時に、リードから剥離される樹脂かす等
を排除する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置は樹脂封止、半田処理されて
から、リードフレームのダム部の樹脂が除かれ、タイバ
ーがカットされる。その後、半導体装置は図6に全体図
を示すリード成形装置10’において、リードの曲げ成
形が行われるが、その要部の拡大断面図である図7を参
照して、半導体装置1は曲げダイ11’にセットされ、
パッケージ2から導出されているリード3がノックアウ
ト12’で押さえて固定され、曲げパンチ13’が下降
されて、リード3が曲げ成形される。リード3の曲げ成
形前のタイバーがカットされた時点における半導体装置
1の部分平面図である図8に示すように、半導体装置1
のパッケージ2から導出されているリード3には樹脂か
すrが完全に除去されずに付着し残っている。
【0003】図9は従来例の半導体装置のリード成形装
置10’によって上記の半導体装置1のリード3を曲げ
成形する場合の過程を示す断面図であり、図9のAにお
いて、曲げパンチ13’が上方から下降されてリード3
に接触しリード3の曲げ成形が開始されると、リード3
の変形に追随し得ない樹脂かすrが剥離し落下するが、
図9のBに示すように、曲げパンチ13’が下端まで下
降した時点において、例えば、リード3の肩部や、先端
部の裏面側に樹脂かすrが付着して残る。この時点では
リード3が曲げダイ11’と曲げパンチ13’とに挟ま
れ押さえ込まれている状態となるため、樹脂かすrは圧
着されて、曲げ成形が完了した後も容易には剥がれず、
半導体装置1の検査時や実装時に接触不良を招く。図1
0は図9のBの状態から取り出された半導体装置1の部
分斜視図である。
【0004】また、曲げパンチ13’の角部がリード3
に接触する時に、リード3に施されている半田膜が薄く
削り取られて半田かすsを生じ、これらが下方へ落下し
たり、曲げパンチ13’の角部に付着して残ることがあ
る。これらの半田かすsは隣り合うリード3をショート
させる要因となる。これらの故に、リード成形装置1
0’は高い頻度での定期的な清掃を必要とし、この作業
が半導体装置の製造工数を増大させている。
【0005】リードの曲げ成形に関する先行技術とし
て、実開平2−9447号公報に係る「リード成形装
置」にはリードの基部と先端部とを反対方向に曲げる第
1パンチと第2パンチとを備えたリード成形装置が開示
されており、実開平2−17853号公報に係る「半導
体装置のリード形成装置」には傾斜曲面に沿って移動す
る可動ダイを備えたリード成形装置が開示され、実開平
4−435号公報に係る「リード折曲げ装置」にはリー
ドを折曲げた後に電子部品を排出するための排出プッシ
ャーを備えた装置が開示されている。これらは何れも曲
げパンチを備えた装置に関するものであるが、樹脂か
す、半田かすの排除については何等言及されていない。
【0006】更には、ダム部の樹脂を除き、タイバーを
カットした後に残る半田のバリによるショートの発生を
防ぐものとして、特開平4−264761号公報に係る
「半導体装置のリード加工方法およびその装置」には、
概念図である図10、図10における[11]−[1
1]線方向の部分破断側面図である図11に示す曲げパ
ンチ方式のリード加工装置が開示されている。下型のダ
イ29にリード3が入る溝部24を設け、押え駒(ノッ
クアウト)および曲げパンチ23に下型のダイ29と咬
合する凹凸部26を設け、リード3を曲げ加工する装置
である。同様な趣旨で、特開平6−140543号公報
に係る「半導体装置のリード加工装置およびその加工方
法」には、図12に示すリード加工装置が開示されてい
る。パッケージ2が下型ダイ33にセットされ、上型の
ノックアウト34によりリード3の一部が押えられ固定
される。その後、リード3の延長線上で前後される曲げ
駒38の孔39にリード3を収納し、回動される曲げロ
ーラ35によって、リード3を曲げ駒38ごと下方向に
曲げる加工装置である。以上の加工装置は溝部24、ま
たは孔39にリード3を挿入することによってリード3
から半田のバリを取り除くことを意図したものであり、
樹脂カスの排除については触れられていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は半導体装置の
リードの曲げ成形時に剥離される樹脂カスがリードの肩
部や先端部に付着して接触不良を招かず、また半田かす
がリードのショート不良を招くことのない半導体装置の
リード成形装置を提供することを課題とする。また、半
導体装置の製造工程の中で多くの工数を要している頻繁
な清掃を解消し得る半導体装置のリード成形装置を提供
することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置のリ
ード成形装置は、リードを曲げるための曲げパンチに空
気噴出孔を設けており、曲げ成形時にリードに向けて空
気を噴出させて樹脂かす等を吹き落とし排除するように
している。従って、リードに樹脂かすが付着することに
よる接触不良や、リードから削り取られる半田かすによ
るリード間のショート不良が防がれる。
【0009】
【発明の実施の形態】図面を使って本発明の実施の形態
を説明する。
【0010】図1は実施の形態による半導体装置のリー
ド成形装置10の要部の拡大断面図である。本実施の形
態による半導体装置のリード成形装置10は基本的には
従来例の図7で説明した半導体装置のリード成形装置1
0’と同様に構成されている。すなわち、樹脂封止され
半田メッキされた後、ダム部の樹脂が除かれタイバーが
カットされた半導体装置1は、リード成形装置10の曲
げダイ11にセットされてノックアウト12で挟持さ
れ、次いで曲げパンチ13が下降されて、パッケージ2
から導出されているリード3が曲げ成形されることは従
来例のリード成形装置10’と全く同様である。本実施
の形態のリード成形装置10が従来例のリード成形装置
10’と異なるところは、曲げパンチ13の下端部にお
いて、その外面側から底面側へ斜め下向きに貫通する空
気噴出孔14が曲げ成形するリード3の数だけ穿設され
ており、リード3の曲げ成形時には各リード3へ向けて
空気が噴出されることにある。
【0011】図2は図1に示した曲げパンチ13の一方
の部分拡大断面図であり、図3は図2における[3]−
[3]線方向の部分破断側面図である。図2を参照し
て、空気噴出口14はパッケージ2と直交する垂直な面
に投影した場合に水平面となす角度がθ1 に、また図3
を参照してパッケージ2と平行な面に投影した場合に水
平面となす角度がθ2 となるように傾斜させて穿設され
ている。すなわち空気噴出孔14は曲げパンチ13の外
面側から底面側へ斜め下向き傾斜に穿設されている。角
度θ1 は、後述する作用で説明するが、曲げ成形の開始
から終了までの間に、噴出空気をリード3の基部から先
端部へかけて連続的に移動させて効率良く噴出させるの
に効果的であり、リード3の数だけ設けられる空気噴出
孔14の同一方向への傾斜角度θ2 は噴出空気流が干渉
し合って噴出効果を低下させないように働く。
【0012】因みに、図3において、曲げパンチ13内
の各空気噴出孔14は断面で示す各リード3の中間に位
置するように設けられている。曲げパンチ13の底面が
各リード3に接し、これらを押し下げることによって各
リード3が曲げられるが、接するリード3の直上部に空
気噴出孔14が存在することによって曲げパンチ13が
変形することを避けるためである。
【0013】また、図4は曲げパンチ13の空気噴出孔
14への圧縮空気ホース16の接続を示し、穿設された
空気噴出孔14の上端部14tの内面に切られたねじに
継手15が螺着され、この継手15に圧縮空気ホース1
6が連結され固定される。空気噴出孔14からの空気の
噴出はリード成形装置10の動作サイクルと連動されて
おり、曲げパンチ13の下降時に空気が噴出されるよう
になっている。
【0014】本発明の実施の形態による半導体装置のリ
ード成形装置10は以上のように構成されるが、次ぎに
その作用を説明する。
【0015】ダム部の不要樹脂が抜かれ、タイバーがカ
ットされた半導体装置1は、図8に示すように、各リー
ド3に樹脂が付着し残った状態にあるが、このような半
導体装置1のリード3が図1に示したリード成形装置1
0において曲げ成形される。図5はその曲げ成形の作用
を示す図であり、図5のAにおいて、曲げダイ11上で
半導体装置1のパッケージ2から導出されているリード
3の基部がノックアウト12によって押えられ固定され
ると、曲げパンチ13の空気噴出孔14から空気の噴
出、すなわちエアブローが開始されると共に、曲げパン
チ13が下降され始める。この時、空気噴出孔14から
の空気はリード3の基部へ向けて噴出され、この部分に
残っているダム部の樹脂かすrを可及的に吹き落とし
て、リード3の曲げ成形の後半での樹脂かすrの落下を
無くすようにする。
【0016】曲げパンチ13が下降されリード3に接し
て曲げ成形が始まると、当初落下しなかった樹脂かすr
がその変形に追随できずに剥離して下方へ落下し、ま
た、曲げパンチ13がリード3に接する時、リード3の
表面の半田が削り取られ、半田かすsとして下方へ落下
するものを生ずる。そして、空気噴出孔14からの空気
のブロー位置はリード3の基部から中央部へ移動する。
曲げパンチ13が図5のBに示す位置まで下降した時点
では、空気噴出孔14からの空気はリード3の中央部か
ら先端部にかけてブローされると共に曲げダイ11の外
側の表面にブローされ、落下し堆積している樹脂かす
r、半田かすsを吹き飛ばして排除する。図3も参照し
て、各リード3に対応して設けられている各空気噴出孔
14からの空気は傾斜角度θ2 に揃えて一方向へ噴出さ
れているので、落下している樹脂かすr、半田かすsは
効率よく排除される。
【0017】曲げパンチ13が図5のCに示す位置まで
下降し、リード3の曲げ成形が完了する時点では、リー
ド3が実装される時の電気的接触面となる箇所をブロー
し、樹脂かすrや半田かすsがリード3と曲げダイ11
との間、ないしはリード3と曲げパンチ13との間に挟
み込まれて圧着されないようにする。
【0018】以上説明したように、本実施の形態の半導
体装置のリード成形装置10によれば、リード3の曲げ
成形に際し、曲げパンチ13から空気が噴出されて、樹
脂かすr、半田かすsが効果的に排除されるので、半導
体装置1の実装時における樹脂かすrによる接触不良
や、半田かすsによるリード3間のショート不良の発生
が解消される。
【0019】実施の形態による半導体装置のリード成形
装置10は以上のように構成され作用するが、勿論、本
発明はこれに限られることなく、本発明の技術的精神に
基づいて種々の変形が可能である。
【0020】例えば本実施の形態においては、曲げパン
チ13の下降時のみ、空気噴出孔14から空気を噴出さ
せるようにしたが、空気を常時噴出させても何等の支障
もない。
【0021】また、本実施の形態においては、各空気噴
出孔14に継手15を螺着し、これらに圧縮空気ホース
16を連結固定するようにしたが、圧縮空気ホース16
を1本とし、各空気噴出孔14との間は分岐タイプの継
手で接続するようにしてもよい。
【0022】また、本実施の形態においては、半導体装
置1としてSOPタイプのものを例示したが、本発明の
半導体装置のリード成形装置はQFPタイプのもの、お
よびDIPタイプのものにも適用される。
【0023】
【発明の効果】本発明は以上に説明したような形態で実
施され、次ぎに記載するような効果を奏する。
【0024】半導体装置のリード成形装置の曲げパンチ
に空気噴出孔を穿設し、リードの曲げ成形時に空気をリ
ードへ向けてブローし、落下する樹脂かすや半田かすを
排除するようにしているので、リードに樹脂かすや半田
かすのような異物の付着がなくなり、半導体装置の実装
時、検査時における樹脂かすによる接触不良や、半田か
すによるリード間のショート不良が解消される。
【0025】また、従来、上記の接触不良、ショート不
良を発生させないために実施していたリード成形装置の
頻度の高い清掃作業が不要となり、半導体装置の製造に
要する工数を大幅に低下させる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 半導体装置のリード成形装置の部分拡大断面
図である。
【図2】 同成形装置の曲げパンチの先端部の部分破断
側面図である。
【図3】 図2における[3]−[3]線方向の部分破
断側面図である。
【図4】 同上曲げパンチへの圧縮空気ホースの接続を
示す説明図である。
【図5】 同成形装置の作用を示す図であり、A、B、
Cは曲げパンチの異なる位置を示す。
【図6】 従来例のリード成形装置の全体図である。
【図7】 同装置の要部の拡大断面図である。
【図8】 曲げ成形前における半導体装置のリード部分
の部分平面図である。
【図9】 従来例のリード成形装置の作用を示す図であ
り、A、Bは曲げパンチの異なる位置を示す。
【図10】 図9のBの状態から取り出された半導体装
置の部分斜視図である。
【図11】 図11のAは先行技術に示されているリー
ド加工装置の概念図であり、Bは図11のAにおける
[B]−[B]線方向の部分破断側面図である。
【図12】 他の先行技術に示されているリード加工装
置の断面図である。
【符号の説明】
1……半導体装置、2……パッケージ、3……リード、
10……リード成形装置、11……曲げダイ、12……
ノックアウト、13……曲げパンチ、14……空気噴出
孔、16……圧縮空気ホース。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置のリードを曲げ加工するため
    の曲げパンチを備えたリード成形装置において、 曲げダイにセットされた前記半導体装置の各リードへ指
    向する複数の空気噴出孔が前記曲げパンチに穿設されて
    おり、 前記リードの曲げ加工時に空気が噴出されて、前記リー
    ド又は曲げダイに付着する樹脂かす等が排除されること
    を特徴とする半導体装置のリード成形装置。
  2. 【請求項2】 前記空気噴出孔が、前記リードの曲げ加
    工の開始から終了までの間、 前記曲げパンチの下降と共に空気の噴出される箇所が前
    記リードの基部から先端部にかけて移動するように、 前記曲げパンチの外面側から底面側へかけて下向き傾
    斜、または斜め下向き傾斜に所定の角度で穿設されてい
    ることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置のリー
    ド成形装置。
  3. 【請求項3】 前記空気噴出孔が、前記リードの曲げ加
    工時に前記曲げパンチが前記各リードと当接する面およ
    びその直上方を除く部分において、 前記曲げパンチの外面側から底面側へかけて下向き傾
    斜、または斜め下向き傾斜に所定の角度で穿設されてい
    ることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半
    導体装置のリード成形装置。
JP19217296A 1996-07-22 1996-07-22 半導体装置のリード成形装置 Pending JPH1041451A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160033529A (ko) * 2014-09-18 2016-03-28 주식회사 성우하이텍 프레스 장치
CN117505613A (zh) * 2024-01-05 2024-02-06 常州东皓电气有限公司 一种制作配电柜的折弯辅助装置

Cited By (3)

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KR20160033529A (ko) * 2014-09-18 2016-03-28 주식회사 성우하이텍 프레스 장치
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