JPH103848A - 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 - Google Patents

電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法

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JPH103848A
JPH103848A JP17287996A JP17287996A JPH103848A JP H103848 A JPH103848 A JP H103848A JP 17287996 A JP17287996 A JP 17287996A JP 17287996 A JP17287996 A JP 17287996A JP H103848 A JPH103848 A JP H103848A
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Masanori Mitome
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/316Cold cathodes having an electric field parallel to the surface thereof, e.g. thin film cathodes
    • H01J2201/3165Surface conduction emission type cathodes

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高品位画像形成装置を実現し得る電子ビーム
源としての電子放出素子を提供する。 【解決手段】 間隙部4を介して素子電極2,3が互い
に対向しており、間隙部4の両側に高融点金属5が堆積
されており、かつ間隙部4に炭素又は/及び炭素化合物
を有する電子放出部6が形成されていることを特徴とす
る電子放出素子。 【効果】 電子放出部6の位置と形状を精度良く制御で
き、素子特性の均一化が実現されると共に、電子放出効
率及び耐久性の高い素子となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、該
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、該電子源を
用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装置、
及びそれらの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子には大別して熱電子
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
【0003】FE型の例としては、W.P.Dyke
and W.W.Dolan,“Field Emis
sion”,Advance in Electron
Physics,8,89(1956)あるいはC.
A.Spindt,“Physical Proper
ties of thin−filmfield em
ission cathodes withmolyb
denum cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。
【0004】MIM型の例としては、C.A.Mea
d,“Operation ofTunnel−Emi
ssion Devices”,J.Appl.Phy
s.,32,646(1961)等に開示されたものが
知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
M.I.Elinson,RadioEng.Elec
tron Phys.,10,1290(1965)等
に開示されたものがある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は、絶縁性基板上
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“ThinSolid
Films”,9,317(1972)]、In
/SnO薄膜によるもの[M.Hartwell a
nd C.G.Fonstad:“IEEE Tran
s.ED Conf.”,519(1975)]、カー
ボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、第26巻、第
1号、22頁(1983)]等が報告されている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
6に模式的に示す。同図において1は基板である。7は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部6が形成される。尚、図中の
素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1m
mで設定されている。
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性膜7を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部6を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜7の両端に電圧を印加通電し、導電性膜7を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部6を形成する処
理である。尚、電子放出部6では導電性膜7の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
【0009】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
【0010】従来、多数の表面伝導型電子放出素子を配
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
【0011】また、特に表示装置においては、液晶を用
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の表面伝導型電子放出素子においては、次のような問
題があった。
【0013】即ち、前述の通電フォーミングにより導電
性膜7の一部に形成される電子放出部6の形態は、導電
性膜7の膜質、基板の種類、基板の表面状態、フォーミ
ング時の雰囲気などに強く依存するため、その位置や形
状を精度良く制御し難く、例えばその幅は10nm〜1
000nm程度のバラツキを持つ場合がある。このこと
は、素子の特性を均一にする上で困難をもたらし、複数
の電子放出素子を配置した電子源や、それを用いた画像
形成装置などを作成した場合、電子放出量のバラツキ、
画面の明るさのバラツキが生じる場合がある。
【0014】また、前記電子源、画像形成装置等に用い
られる電子放出素子については、明るい表示画像を安定
して提供できるよう更に安定な電子放出特性及び電子放
出の効率向上が要望されている。
【0015】上記電子放出の効率とは、例えば前述の表
面伝導型電子放出素子であれば、導電性膜の両端に電圧
を印加した際に、これに流れる電流(以下、「素子電
流」と呼ぶ。)と真空中に放出される電流(以下、「放
出電流」と呼ぶ。)との比で評価されるものであり、素
子電流が小さく、放出電流が大きい電子放出素子が望ま
れている。
【0016】安定的に制御し得る電子放出特性と効率の
より一層の向上がなされれば、例えば蛍光体を画像形成
部材とする画像形成装置においては、低電流で明るい高
品位な画像形成装置、例えばフラットテレビが実現され
る。また、低電流化に伴い、画像形成装置を構成する駆
動回路等のローコスト化も図れる。
【0017】しかしながら、上述のM.ハートウェルの
電子放出素子にあっては、安定な電子放出特性及び電子
放出効率について、必ずしも満足のゆくものが得られて
おらず、これを用いて高輝度で動作安定性に優れた画像
形成装置を提供することは極めて難しいというのが実状
である。
【0018】従って、上記のような応用に用いられる電
子放出素子は、実用的な印加電圧に対して良好な電子放
出特性を有し、且つ長時間にわたってその特性を保持し
続けられることが必要である。
【0019】本発明の目的は、上述した解決すべき技術
的課題を解決し、電子放出部の位置と形状を精度良く制
御し、素子特性のバラツキを解消すると共に、耐久性を
高め安定な電子放出特性を有し、電子放出の効率向上を
図った電子放出素子を提供することにある。本発明の別
の目的は、高輝度で動作安定性に優れた画像形成装置を
提供することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべく
成された本発明の構成は、以下の通りである。
【0021】即ち、本発明の第一は、一対の電極間に電
子放出部を有する電子放出素子において、前記一対の電
極は狭い間隙部を介して互いに対向しており、該間隙部
の両側に高融点金属が堆積しており、かつ該間隙部に炭
素又は/及び炭素化合物を有する電子放出部が形成され
ていることを特徴とする電子放出素子にある。
【0022】上記本発明第一の電子放出素子は、さらに
その特徴として、「前記高融点金属が、タングステン又
はレニウムである」こと、「前記間隙部の間隔が、10
0nm以下である」こと、を含む。
【0023】また、本発明の第二は、上記本発明第一の
電子放出素子の製造方法であって、前記一対の電極とな
る電極膜を形成する工程と、該電極膜に間隙部を形成す
るとともに該間隙部の両側に高融点金属を堆積させる工
程と、該間隙部に炭素又は/及び炭素化合物を堆積させ
る工程とを含むことを特徴とする電子放出素子の製造方
法にある。
【0024】上記本発明第二の製造方法は、さらにその
特徴として、「前記電極膜に間隙部を形成するとともに
該間隙部の両側に高融点金属を堆積させる工程が、高融
点金属を含んだ有機ガス雰囲気下において、電極膜に集
束イオンビームを照射する工程である」こと、「前記間
隙部に炭素又は/及び炭素化合物を堆積させる工程が、
有機物質のガスを含む雰囲気下において、前記電極膜に
間隙部を設けることで形成された前記一対の電極間に電
圧を印加する工程である」こと、をも含む。
【0025】また、本発明の第三は、入力信号に応じて
電子を放出する電子源であって、上記本発明第二の電子
放出素子を、基板上に複数個配置したことを特徴とする
電子源にある。
【0026】上記本発明第三の電子源は、さらにその特
徴として、「前記電子放出素子の複数が梯子状に配置さ
れており、個々の電子放出素子の両電極が並列に二本の
行配線に接続されており、更に変調手段を有する」こ
と、「前記複数の電子放出素子がマトリクス状に配置さ
れており、個々の電子放出素子の一方の電極を行配線に
接続し、個々の電子放出素子の他方の電極を前記行配線
と直交する列配線に接続した」こと、をも含む。
【0027】また、本発明の第四は、上記本発明第三の
の電子源の製造方法において、前記複数の電子放出素子
を上記本発明第二の方法で製造することを特徴とする電
子源の製造方法にある。
【0028】また、本発明の第五は、入力信号に基づい
て画像を形成する装置であって、少なくとも、上記本発
明第三の電子源と、画像形成部材とによって構成された
ことを特徴とする画像形成装置にある。
【0029】さらに、本発明の第六は、上記本発明第五
の画像形成装置の製造方法において、前記電子源を上記
本発明第四の方法で製造することを特徴とする画像形成
装置の製造方法にある。
【0030】本来、表面伝導型電子放出素子等の冷陰極
型の電子放出素子は、低電力で駆動できることが大きな
特徴である。しかし、電子放出部の大きさが大変小さい
ことから、例え低い駆動電圧であっても、電子放出部は
高い濃度の電子衝撃や高温に曝されている。表面伝導型
電子放出素子の特性劣化は、少なくとも、これらが主要
な要因の一部となっていると考えられることから、電子
放出部付近は、これらに十分耐え得るような材料を選ぶ
必要がある。
【0031】しかしながら、融点が例えば3000℃以
上の代表的な金属(タングステン,レニウムなど)は酸
化しやすいなど、電極材料としては必ずしも扱い易い材
料ではない。
【0032】そこで本発明では、電子放出部となる電極
間の間隙部の両側にのみ局所的に高融点金属を堆積させ
ることにより、電子放出素子の劣化防止を図っているも
のである。更に本発明では、電子放出部の位置と形状を
制御すべく、予め電子放出部となる間隙部を電極間に形
成している。この位置と形状が制御された間隙部の形成
方法としては、例えばフォトリソ技術や集束イオンビー
ム技術などが考えられるが、本発明の製造方法では間隙
部の形成と高融点金属の堆積を同時に行うことができる
集束イオンビーム技術を用いている。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施態様
を示す。
【0034】図1は、本発明の電子放出素子の一構成例
を示す模式図であり、図1(a)は平面図、図1(b)
は縦断面図である。図1において、1は基板、2と3は
電極(素子電極)、4は素子電極2,3間に形成された
間隙部、5は間隙部4の両側に堆積した高融点金属であ
る。また、6は間隙部4に形成された電子放出部であ
り、炭素又は/及び炭素化合物を有する。
【0035】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層体、ア
ルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いることが
できる。
【0036】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi、C
r、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等
の金属或は合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In23 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
【0037】素子電極長さW、間隙部4の間隔Lは、応
用される形態等を考慮して、設計される。
【0038】素子電極長さWは、電極の抵抗値や電子放
出特性も考慮して、数μm〜数百μmの範囲とすること
ができる。
【0039】間隙部4の間隔Lは、100nm以下であ
ることが好ましく、50nm以下とするのがより好まし
い。間隙部4の間隔Lが100nmを超えると、後述す
る活性化処理により均一且つ良質な炭素又は/及び炭素
化合物を当該間隙部4に堆積させることが困難となり、
高効率で均一な電子放出特性が得難くなる。
【0040】間隙部4の両側には、タングステン,レニ
ウムなどの高融点金属5が堆積しており、間隙部4に形
成された電子放出部6は、後述する活性化処理に伴い炭
素又は/及び炭素化合物を含有している。
【0041】上述の電子放出素子の製造方法としては様
々な方法があるが、その一例を図2の製造工程図に基づ
いて以下に説明する。尚、図2においても図1に示した
部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付
している。
【0042】1)基板1を洗剤、純水及び有機溶剤等を
用いて十分に洗浄した後、真空蒸着法、スパッタ法等に
より電極材料を堆積し、電極膜8を形成する(図2
(a))。
【0043】2)次に、タングステン,レニウムなどの
高融点金属を含んだ有機金属ガス(例えば、カルボニル
化合物)の雰囲気下において、集束イオンビーム(FI
B)技術を用いて、電極膜8に間隙部4を形成する(図
2(b))。
【0044】この時、一般に集束イオンビームは、中心
部分が強度が強く周辺部は弱くなっているため、強度の
強い部分では、イオンによるスパッター作用が強く、電
極膜8が削られ、電気的に絶縁された間隙部4が形成さ
れる。これに対して、強度の弱い部分では、スパッター
作用より、イオンビームによって分解された有機金属ガ
ス分子から金属が堆積していく作用の方が上回り、高融
点金属5によるコーティングが行われる。
【0045】3)次に、活性化工程と呼ばれる処理を施
す。活性化工程とは、素子電極2,3間の間隙部4に炭
素あるいは炭素化合物を堆積させ、電子放出部6を形成
する(図2(c))工程である。
【0046】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、素子電極2,3間にパルスの印加
を繰り返すことで行うことができる。この雰囲気は、例
えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用いて真空
容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有機ガスを
利用して形成することができる他、イオンポンプなどに
より一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質のガス
を導入することによっても得られる。このときの好まし
い有機物質のガス圧は、前述の素子の形態、真空容器の
形状や、有機物質の種類などにより異なるため、場合に
応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、アルカ
ン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭
化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、ア
ミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸
類等を挙げることが出来、具体的には、メタン、エタ
ン、プロパンなどCn2n+2で表される飽和炭化水素、
エチレン、プロピレンなどCn2n等の組成式で表され
る不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、
エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、ア
セトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルア
ミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用
できる。この処理により、雰囲気中に存在する有機物質
から、炭素あるいは炭素化合物が間隙部4に堆積し、素
子電流If,放出電流Ieが、著しく変化して増加する
ようになり、電子放出部6が形成される。
【0047】炭素あるいは炭素化合物とは、例えばグラ
ファイト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するも
ので、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、P
Gは結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、
その膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、
30nm以下の範囲とすることがより好ましい。
【0048】上記活性化工程で用いる電圧波形の例を図
3に示す。
【0049】電圧波形は、特にパルス波形が好ましい。
これにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に
印加する図3(a)に示した手法と、パルス波高値を増
加させながらパルスを印加する図3(b)に示した手法
がある。
【0050】まず、パルス波高値を定電圧とした場合に
ついて図3(a)で説明する。図3(a)におけるT1
及びT2は電圧波形のパルス幅とパルス間隔である。三
角波の波高値は、表面伝導型電子放出素子の形態に応じ
て適宜選択される。このような条件のもと、例えば、数
秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は、三角波
に限定されるものではなく、矩形波等の所望の波形を採
用することができる。
【0051】次に、パルス波高値を増加させながら電圧
パルスを印加する場合について図3(b)で説明する。
図3(b)におけるT1及びT2は、図3(a)に示し
たのと同様とすることができる。三角波の波高値は、例
えば0.1Vステップ程度づつ、増加させることができ
る。
【0052】活性化工程の終了判定は、素子電流Ifと
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
なお、パルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜
設定される。
【0053】4)このような工程を経て得られた電子放
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
【0054】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1×10-8Torr以下が好ま
しく、さらには1×10-10 Torr以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。この
ときの加熱条件は、80〜250℃好ましくは150℃
以上で、できるだけ長時間処理するのが望ましいが、特
にこの条件に限るものではなく、真空容器の大きさや形
状、電子放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれ
る条件により行う。真空容器内の圧力は極力低くするこ
とが必要で、1×10-7Torr以下が好ましく、さら
には1×10-8Torr以下が特に好ましい。
【0055】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、結果として素子電流If,放出電流Ie
が、安定する。
【0056】上述した工程を経て得られた本発明を適用
可能な電子放出素子の基本特性について、図4,図5を
参照しながら説明する。
【0057】図4は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図4においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。
【0058】図4において、55は真空容器であり、5
6は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素
子が配されている。また、51は電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3間
を流れる素子電流Ifを測定するための電流計、54は
素子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを捕捉
するためのアノード電極、53はアノード電極54に電
圧を印加するための高圧電源、52は電子放出部5より
放出される放出電流Ieを測定するための電流計であ
る。一例として、アノード電極54の電圧を1KV〜1
0KVの範囲とし、アノード電極54と電子放出素子と
の距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定を行うこと
ができる。
【0059】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
【0060】排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータ
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより加熱できる。従っ
て、この真空処理装置を用いると、前述の活性化工程以
降の工程も行うことができる。
【0061】図5は、図4に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素子電
圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図5におい
ては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さ
いので、任意単位で示している。尚、縦・横軸ともリニ
アスケールである。
【0062】図5からも明らかなように、本発明の電子
放出素子は、放出電流Ieに関して次の3つの特徴的性
質を有する。
【0063】即ち、第1に、本素子はある電圧(閾値電
圧と呼ぶ;図5中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth以
下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放出
電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線形
素子である。
【0064】第2に、放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0065】第3に、アノード電極54(図4参照)に
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に
依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電荷
量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0066】以上の説明より理解されるように、本発明
の電子放出素子は、入力信号に応じて、電子放出特性を
容易に制御できることになる。この性質を利用すると複
数の電子放出素子を配して構成した電子源、画像形成装
置等、多方面への応用が可能となる。
【0067】図5においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を示したが、素子電流Ifが素子電圧Vfに対
して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特性」
という。)を示す場合もある(不図示)。これらの特性
は、前述の工程を制御することで制御できる。
【0068】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明の電子放出素子を複数個
基板上に配列し、例えば電子源あるいは、画像形成装置
が構成できる。
【0069】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
【0070】本発明の電子放出素子については、前述し
た通り3つの特性がある。即ち、電子放出素子からの放
出電子は、閾値電圧以上では、対向する素子電極間に印
加するパルス状電圧の波高値と幅で制御できる。一方、
閾値電圧以下では、殆ど放出されない。この特性によれ
ば、多数の電子放出素子を配置した場合においても、個
々の素子にパルス状電圧を適宜印加すれば、入力信号に
応じて、電子放出素子を選択して電子放出量を制御でき
る。
【0071】以下この原理に基づき、本発明の電子放出
素子を複数配して得られる電子源基板について、図6を
用いて説明する。図6において、71は電子源基板、7
2はX方向配線、73はY方向配線である。74は電子
放出素子、75は結線である。
【0072】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2,……,Dynのn
本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形成され
る。これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線7
3との間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、
両者を電気的に分離している(m,nは、共に正の整
数)。
【0073】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0074】電子放出素子74を構成する一対の素子電
極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線72とn本
のY方向配線73に、導電性金属等からなる結線75に
よって電気的に接続されている。
【0075】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0076】X方向配線72には、X方向に配列した電
子放出素子74の行を選択するための走査信号を印加す
る不図示の走査信号印加手段が接続される。一方、Y方
向配線73には、Y方向に配列した電子放出素子74の
各列を入力信号に応じて変調するための、不図示の変調
信号発生手段が接続される。各電子放出素子に印加され
る駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調信
号の差電圧として供給される。
【0077】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0078】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図7と図8及び
図9を用いて説明する。図7は、画像形成装置の表示パ
ネルの一例を示す模式図であり、図8は、図7の画像形
成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図9は、N
TSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動
回路の一例を示すブロック図である。
【0079】図7において、71は電子放出素子を複数
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分間以上焼成することで、封着して構成される。
【0080】74は、図1に示したような電子放出素子
である。72,73は、電子放出素子の一対の素子電極
と接続されたX方向配線及びY方向配線ある。
【0081】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
【0082】図8は、蛍光膜を示す模式図である。蛍光
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成する
ことができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列
により、ブラックストライプ(図8(a))あるいはブ
ラックマトリクス(図8(b))等と呼ばれる黒色導電
材91と蛍光体92とから構成することができる。ブラ
ックストライプ、ブラックマトリクスを設ける目的は、
カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体
92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を目立たな
くすることと、蛍光膜84における外光反射によるコン
トラストの低下を抑制することにある。黒色導電材91
の材料としては、通常用いられている黒鉛を主成分とす
る材料の他、導電性があり、光の透過及び反射が少ない
材料を用いることができる。
【0083】ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
【0084】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0085】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
【0086】図7に示した画像形成装置は、例えば以下
のようにして製造される。
【0087】外囲器88内は、前述の安定化工程と同様
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプ等のオイルを使用しない排気装置により不図示の排
気管を通じて排気し、10-7Torr程度の真空度の有
機物質の十分に少ない雰囲気にした後、封止が成され
る。外囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲ
ッター処理を行うこともできる。これは、外囲器88の
封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高
周波加熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の
位置に配置されたゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜
を形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分
であり、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-7
Torr以上の真空度を維持するものである。ここで、
電子放出素子の活性化処理以降の工程は適宜設定でき
る。
【0088】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図9を用いて説明する。図9において、10
1は画像表示パネル、102は走査回路、103は制御
回路、104はシフトレジスタ、105はラインメモ
リ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発生
器、Vx及びVaは直流電圧源である。
【0089】表示パネル101は、端子Dx1乃至Dx
m、端子Dy1乃至Dyn及び高圧端子87を介して外
部の電気回路と接続している。端子Dx1乃至Dxmに
は、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された電子放出
素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為の走査信号
が印加される。端子Dy1乃至Dynには、前記走査信
号により選択された1行の電子放出素子の各素子の出力
電子ビームを制御する為の変調信号が印加される。高圧
端子87には、直流電圧源Vaより、例えば10K
[V]の直流電圧が供給されるが、これは電子放出素子
から放出される電子ビームに、蛍光体を励起するのに十
分なエネルギーを付与する為の加速電圧である。
【0090】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1乃至Dxmと電気的に接
続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
【0091】直流電圧源Vxは、本例の場合には電子放
出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づき、走査され
ていない素子に印加される駆動電圧が電子放出閾値電圧
以下となるような一定電圧を出力するよう設定されてい
る。
【0092】制御回路103は、外部より入力される画
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
【0093】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
【0094】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
【0095】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
【0096】変調信号発生器107は、画像データI
d’1乃至Id’nの各々に応じて、電子放出素子の各
々を適切に駆動変調する為の信号源であり、その出力信
号は、端子Dy1乃至Dynを通じて表示パネル101
内の電子放出素子に印加される。
【0097】前述したように、本発明の電子放出素子は
放出電流Ieに関して以下の基本特性を有している。即
ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth
以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子
放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変
化に応じて放出電流も変化する。このことから、本素子
にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出閾値
電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電
子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合には電子ビー
ムが出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化さ
せることにより、出力電子ビームの強度を制御すること
が可能である。また、パルスの幅Pwを変化させること
により、出力される電子ビームの電荷の総量を制御する
ことが可能である。
【0098】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
【0099】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0100】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加す
ることもできる。
【0101】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増
幅するための増幅器を付加することもできる。
【0102】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像形成装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dx1乃至Dxm、Dy1乃至Dynを介して電
圧を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子
87を介してメタルバック85あるいは透明電極(不図
示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速され
た電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形
成される。
【0103】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついてはNTSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式等の他、
これらよりも多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
【0104】次に、前述の梯子型配置の電子源及び画像
形成装置について、図10及び図11を用いて説明す
る。
【0105】図10は、梯子型配置の電子源の一例を示
す模式図である。図10において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線D1〜D10であ
り、これらは外部端子として引き出されている。電子放
出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複数
個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置されて、電子源を構成している。各素子行
の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行を
独立に駆動させることができる。即ち、電子ビームを放
出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を印加
し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電子放
出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置する共
通配線D2〜D9は、例えばD2とD3を一体の同一配
線とすることもできる。
【0106】図11は、梯子型配置の電子源を備えた画
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、D1乃至Dmは容器外端子、G1乃至Gnは
グリッド電極120と接続された容器外端子である。1
10は各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基
板である。図11においては、図7、図10に示した部
位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符号
を付している。ここに示した画像形成装置と、図7に示
した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
【0107】図11においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、電子放出素子111か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
梯子型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリッ
ド電極の形状や配置位置は、図11に示したものに限定
されるものではない。例えば、開口としてメッシュ状に
多数の通過口を設けることもでき、グリッド電極を電子
放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
【0108】容器外端子D1乃至Dm及びグリッド容器
外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電気的に接
続されている。
【0109】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0110】以上説明した本発明の画像形成装置は、テ
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
【0111】
【実施例】以下に、具体的な実施例を挙げて本発明を説
明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものでは
なく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の置
換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0112】[実施例1]本実施例に係わる電子放出素
子の構成は、図1と同様である。図1において、1は基
板、2と3は素子電極、4は間隙部、5は高融点金属、
6は電子放出部である。
【0113】本実施例に係わる電子放出素子の製造法
は、基本的には図2と同様であり、以下、図1及び図2
を用いて、本実施例に係わる素子の構成及び製造法を順
を追って説明する。
【0114】基板1として石英基板を用い、これを有機
溶剤によって十分に洗浄後、該基板1上に、厚さ5nm
のTi、及び厚さ30nmのPtを真空蒸着し、電極膜
8を形成した(図2(a))。
【0115】次に、タングステンカルボニル(W(CO
6 ))ガスを導入した雰囲気下において、ガリウムイオ
ンを用いたFIBにより電極膜8を局所的に除去し、幅
L=30nmの間隙部4を形成して、長さW=300μ
mの素子電極2,3を形成すると同時に、該間隙部4の
両脇にタングステン(高融点金属5)を堆積させた(図
2(b))。
【0116】次に、上記素子を図4の真空処理装置の真
空容器55内に設置し、ロータリーポンプ56にて排気
し、真空容器55内を約2×10-3Torrの真空度と
した。この後、電源51より、素子電極2,3間に電圧
を印加して活性化処理を行い、電子放出部6を形成した
(図2(c))。活性化処理に用いた電圧波形は図3
(a)に示したものである。
【0117】本実施例の活性化処理では、図3(a)中
のT1を0.5ms、T2を10msとし、三角波の波
高値(活性化時のピーク電圧)は16Vとし、1時間行
った。
【0118】その後、排気ポンプをイオンポンプを用い
た超真空排気装置に切り換え、真空容器55内の真空度
を3×10-6Torrとした後、電子放出特性を評価し
た。
【0119】本実施例では、アノード電極54と電子放
出素子間の距離Hを5mm、アノード電極の電位を1K
Vとし、素子電極2,3間に素子電圧を印加し、その時
に流れる素子電流If及び放出電流Ieを測定したとこ
ろ、図5に示したような電圧−電流特性が得られた。本
素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電流Ieが
増大し、素子電圧14Vでは素子電流Ifが1.2m
A、放出電流Ieが1.8μAとなり、電子放出効率η
=Ie/If(%)は0.15%であった。
【0120】また、本実施例の素子を、パルス幅1m
s、パルス間隔2msの矩形波で一定時間駆動したとこ
ろ、素子電流Ifが1.0mA、放出電流Ieが1.2
μAとなり、電子放出効率η=Ie/If(%)は0.
12%であった。通常、電子放出素子を画像形成装置と
して利用する場合、パルス幅0.1ms、パルス間隔1
0ms程度であるから、上記連続駆動は、通常の駆動条
件の50倍程度の加速試験に相当する。
【0121】また、本素子の素子電極間の間隙部周辺を
FE−SEMで観察したところ、間隙部4には数nmの
粒径をもつ粒状物が密集した形態が確認され、更にこれ
をオージェ電子分光分析したところ、炭素の強いピーク
が検出された。
【0122】[実施例2]素子電極材料としてパラジウ
ムを用いたこと以外は、実施例1と同様にして素子電極
2,3、間隙部4、高融点金属5の作製を行った。
【0123】本実施例での活性化処理は、超高真空に排
気された真空装置内に、アセトンを1×10-3Torr
導入した雰囲気にて行った。活性化処理に用いたパルス
波形は矩形波であり、波高値は10Vから18Vまで4
0分かけて漸次的に増加させた。
【0124】この活性化処理の後、アセトンを排気し超
高真空下において素子特性を測定したところ、素子電流
Ifが4.0mA、放出電流Ieが4.4μAとなり、
電子放出効率η=Ie/If(%)は0.11%であっ
た。
【0125】この素子を、実施例1と同様に、パルス幅
1ms、パルス間隔2msの矩形波で実施例1と同様の
連続駆動したところ、素子電流Ifが3.0mA、放出
電流Ieが3.0μAとなり、電子放出効率η=Ie/
If(%)は0.10%であった。
【0126】[実施例3]本実施例は、多数の電子放出
素子を単純マトリクス配置した電子源を用いて、画像形
成装置を作製した例である。
【0127】複数対の素子電極がマトリクス配線された
基板の一部の平面図を図12に示す。また、図中のA−
A’断面図を図13に示す。但し、図12、図13で同
じ符号で示したものは、同じ部材を示す。ここで1は基
板、72は図9のDxmに対応するX方向配線(下配線
とも呼ぶ)、73は図9のDynに対応するY方向配線
(上配線とも呼ぶ)、2と3は素子電極、161は層間
絶縁層、162は素子電極2と下配線72との電気的接
続のためのコンタクトホールである。
【0128】先ず、本実施例の電子源の製造方法を、図
14及び図15を用いて工程順に従って具体的に説明す
る。尚、以下に説明する工程−a〜hは、それぞれ図1
4の(a)〜(d)及び図15の(e)〜(f)に対応
する。
【0129】工程−a 清浄化した青板ガラス上に厚さ0.5μmのシリコン酸
化膜をスパッタ法で形成した基板1上に、真空蒸着によ
り厚さ5nmのCr、厚さ600nmのAuを順次積層
した後、ホトレジスト(AZ1370/ヘキスト社製)
をスピンナーにより回転塗布、ベークした後、ホトマス
ク像を露光、現像して、下配線72のレジストパターン
を形成し、Au/Cr堆積膜をウエットエッチングし
て、所望の形状の下配線72を形成した。
【0130】工程−b 次に、厚さ1.0μmのシリコン酸化膜からなる層間絶
縁層161をRFスパッタ法により堆積した。
【0131】工程−c 上記工程で堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホール
162を形成するためのホトレジストパターンを作り、
これをマスクとして層間絶縁層161をエッチングして
コンタクトホール162を形成した。エッチングはCF
4 とH2 ガスを用いたRIE(Reactive Io
n Etching)法によった。
【0132】工程−d 次に実施例1と同様、素子電極材料を堆積させた後、タ
ングステンカルボニル(W(CO6 ))ガスを導入した
雰囲気下において、ガリウムイオンを用いたFIB加工
技術により、素子電極2,3を形成すると同時に、間隙
部4の両脇にタングステン(高融点金属5)を堆積させ
た。
【0133】工程−e 素子電極2,3の上に上配線73のホトレジストパター
ンを形成した後、厚さ5nmのTi、厚さ500nmの
Auを順次真空蒸着により堆積し、リフトオフにより不
要の部分を除去して、所望の形状の上配線83を形成し
た。
【0134】工程−f コンタクトホール162部分以外にレジストを塗布する
ようなパターンを形成し、真空蒸着により厚さ5nmの
Ti、厚さ500nmのAuを順次堆積した。リフトオ
フにより不要の部分を除去することにより、コンタクト
ホール162を埋め込んだ。
【0135】以上の工程により、絶縁性基板1上に下配
線72、層間絶縁層141、上配線73、素子電極2,
3、間隙部4、高融点金属5を形成した。
【0136】次に、以上のようにして作製した複数対の
素子電極がマトリクス配線された基板1(図12)を用
いて画像形成装置を作製した。作製手順を図7と図8を
用いて説明する。
【0137】先ず、上記複数対の素子電極がマトリクス
配線された基板1(図12)をリアプレート81上に固
定した後、基板1の5mm上方に、フェースプレート8
6(ガラス基板83の内面に蛍光膜84とメタルバック
85が形成されて構成される)を支持枠82を介して配
置し、フェースプレート86、支持枠82、リアプレー
ト81の接合部にフリットガラスを塗布し、大気中で4
30℃で10分以上焼成することで封着した(図7)。
なお、リアプレート81への基板1の固定もフリットガ
ラスで行った。
【0138】図7において、74は電子放出素子、7
2,73はそれぞれX方向及びY方向の配線である。
【0139】蛍光膜84は、カラーを実現するために、
ストライプ形状(図8(a)参照)の蛍光体とし、先に
ブラックストライプを形成し、その間隙部にスラリー法
により各色蛍光体92を塗布して蛍光膜84を作製し
た。ブラックストライプの材料としては、通常よく用い
られている黒鉛を主成分とする材料を用いた。
【0140】また、蛍光膜84の内面側にはメタルバッ
ク85を設けた。メタルバック85は、蛍光膜84の作
製後、蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通常、フ
ィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸
着することで作製した。
【0141】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極を設ける場合もあるが、本実施例ではメタルバック8
5のみで十分な導電性が得られたので省略した。
【0142】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体92と電子放出素子74とを対応させなくてはい
けないため、十分な位置合わせを行った。
【0143】以上のようにして完成した外囲器88内の
雰囲気を排気管(不図示)を通じロータリーポンプにて
排気し、容器外端子Dx1乃至DxmとDy1乃至Dy
nを通じ素子電極2,3間に実施例1と同様のパルス電
圧を印加し、素子電流If,放出電流Ieを測定しなが
ら活性化処理を行った。
【0144】この後、不図示の排気管を通じ、外囲器8
8内を10-6Torr程度の真空度まで排気し、該排気
管をガスバーナーで熱することで溶着し、外囲器88の
封止を行った。最後に、封止後の真空度を維持するため
に、高周波加熱法でゲッター処理を行った。ゲッターは
Ba等を主成分とした。
【0145】以上のようにして完成した本発明の画像形
成装置において、容器外端子Dx1乃至DxmとDy1
乃至Dynを通じ、走査信号及び変調信号を不図示の信
号発生手段より夫々印加することにより電子放出させ、
高圧端子87を通じてメタルバック84に数kV以上の
高圧を印加して、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝
突させ、励起・発光させることで画像を表示した。
【0146】本実施例における画像表示装置は、高輝度
で均一な画像を精度良く表示することができた。
【0147】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、電
子放出素子の電子放出部の位置及び形状を、各電子放出
素子の間で一定にすることができるので、素子特性を均
一化できる。また、電子放出部周辺に高融点金属を堆積
させたことにより、電子放出効率が高く、耐久性に優れ
た電子放出素子を実現できる。
【0148】また、多数の電子放出素子を配列形成し、
入力信号に応じて電子を放出する電子源においては、各
電子放出素子の電子放出特性の均一化が実現され、かか
る電子源を用いた画像形成装置においては、輝度むら・
輝度低下等の画像品位の低下や消費電力の増大の問題も
解消され、高品位な画像形成装置、例えばカラーフラッ
トテレビが実現される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子放出素子の一例である平面型の電
子放出素子を模式的に示した図である。
【図2】図1の電子放出素子の製造方法の一例を説明す
るための図である。
【図3】本発明の電子放出素子の製造に際して採用でき
る活性化処理における電圧波形の一例を示す模式図であ
る。
【図4】本発明の電子放出素子の製造に用いることので
きる真空処理装置(測定評価装置)の一例を示す概略構
成図である。
【図5】本発明の電子放出素子の放出電流Ieおよび素
子電流Ifと素子電圧Vfの関係の典型的な例を示す図
である。
【図6】単純マトリクス配置の本発明の電子源の概略構
成図である。
【図7】単純マトリクス配置の電子源を用いた本発明の
画像形成装置に用いる表示パネルの概略構成図である
【図8】図7の表示パネルにおける蛍光膜を示す図であ
る。
【図9】図7の表示パネルを駆動する駆動回路の一例を
示す図である。
【図10】梯子型配置の本発明の電子源の概略平面図で
ある。
【図11】梯子型配置の電子源を用いた本発明の画像形
成装置に用いる表示パネルの概略構成図である。
【図12】実施例3にて示す単純マトリクス配置の電子
源の部分平面図である。
【図13】図12の電子源の部分断面図である。
【図14】図12の電子源の製造方法を説明するための
図である。
【図15】図12の電子源の製造方法を説明するための
図である。
【図16】従来例の表面伝導型電子放出素子の平面図で
ある。
【符号の説明】
1 基板 2,3 素子電極 4 間隙部 5 高融点金属 6 電子放出部 7 導電性膜 8 電極膜 50 素子電流Ifを測定するための電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 Vx,Va 直流電圧源 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 161 層間絶縁層 162 コンタクトホール

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一対の電極間に電子放出部を有する電子
    放出素子において、前記一対の電極は狭い間隙部を介し
    て互いに対向しており、該間隙部の両側に高融点金属が
    堆積しており、かつ該間隙部に炭素又は/及び炭素化合
    物を有する電子放出部が形成されていることを特徴とす
    る電子放出素子。
  2. 【請求項2】 前記高融点金属が、タングステン又はレ
    ニウムであることを特徴とする請求項1に記載の電子放
    出素子。
  3. 【請求項3】 前記間隙部の間隔が、100nm以下で
    あることを特徴とする請求項1に記載の電子放出素子。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の電子放
    出素子の製造方法であって、前記一対の電極となる電極
    膜を形成する工程と、該電極膜に間隙部を形成するとと
    もに該間隙部の両側に高融点金属を堆積させる工程と、
    該間隙部に炭素又は/及び炭素化合物を堆積させる工程
    とを含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記電極膜に間隙部を形成するとともに
    該間隙部の両側に高融点金属を堆積させる工程が、高融
    点金属を含んだ有機ガス雰囲気下において、電極膜に集
    束イオンビームを照射する工程であることを特徴とする
    請求項4に記載の電子放出素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記間隙部に炭素又は/及び炭素化合物
    を堆積させる工程が、有機物質のガスを含む雰囲気下に
    おいて、前記電極膜に間隙部を設けることで形成された
    前記一対の電極間に電圧を印加する工程であることを特
    徴とする請求項4に記載の電子放出素子の製造方法。
  7. 【請求項7】 入力信号に応じて電子を放出する電子源
    であって、請求項1〜3のいずれかに記載の電子放出素
    子を、基板上に複数個配置したことを特徴とする電子
    源。
  8. 【請求項8】 前記電子放出素子の複数が梯子状に配置
    されており、個々の電子放出素子の両電極が並列に二本
    の行配線に接続されており、更に変調手段を有すること
    を特徴とする請求項7に記載の電子源。
  9. 【請求項9】 前記複数の電子放出素子がマトリクス状
    に配置されており、個々の電子放出素子の一方の電極を
    行配線に接続し、個々の電子放出素子の他方の電極を前
    記行配線と直交する列配線に接続したことを特徴とする
    請求項7に記載の電子源。
  10. 【請求項10】 請求項7〜9のいずれかに記載の電子
    源の製造方法において、前記複数の電子放出素子を請求
    項4〜6のいずれかに記載の方法で製造することを特徴
    とする電子源の製造方法。
  11. 【請求項11】 入力信号に基づいて画像を形成する装
    置であって、少なくとも、請求項7〜9のいずれかに記
    載の電子源と、画像形成部材とによって構成されたこと
    を特徴とする画像形成装置。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載の画像形成装置の製
    造方法において、前記電子源を請求項10に記載の方法
    で製造することを特徴とする画像形成装置の製造方法。
JP17287996A 1996-06-13 1996-06-13 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 Withdrawn JPH103848A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6900581B2 (en) 1999-02-22 2005-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus, and manufacturing methods thereof
US7067336B1 (en) 1999-02-22 2006-06-27 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus, and manufacturing methods thereof

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