JPH10326819A - 位置ずれ検出装置と検出方法 - Google Patents

位置ずれ検出装置と検出方法

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JPH10326819A
JPH10326819A JP13629997A JP13629997A JPH10326819A JP H10326819 A JPH10326819 A JP H10326819A JP 13629997 A JP13629997 A JP 13629997A JP 13629997 A JP13629997 A JP 13629997A JP H10326819 A JPH10326819 A JP H10326819A
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signal
wafer
detection
detecting
cassette
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Masaaki Furuya
正明 古矢
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】本発明は、搬送路を搬送される被搬送体が搬送
路の基準位置と比較して許容範囲内の位置を搬送されて
いるか否かを検査し、同時に位置ずれ誤差量も検出す
る。 【解決手段】搬送路の所定位置に被搬送体2のエッジ部
を検出する複数の検出体(1〜4)5、6、7、8を設
け、搬送路を被搬送体2が搬送される際に、それら検出
体(1〜4)5、6、7、8からの信号と、予め記憶さ
れている基準信号とを信号比較部で比較して位置ずれ量
を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、搬送路を搬送され
る被搬送体が搬送路の所定位置からのずれを検出する装
置と検出方法に関し、特に、半導体製造装置での半導体
ウエハの取扱いで、例えば、所定のプロセス処理工程が
終了後に次工程の処理工程へ移行する際に、半導体ウエ
ハを収納しているカセットから半導体ウエハを取出す場
合等に好適な位置ずれ検出装置と検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体の製造工程では、基板(半導体ウ
エハ)は、専用のケース(カセット)に、収納されて順
次プロセス処理の各工程へ送られる。各プロセス処理工
程を行う装置は、一般にカセットからウエハを取出して
プロセス処理してカセットに戻すのが通常である。各プ
ロセス処理は大気と絶縁した専用チャンバで、専用の治
具にセットして行う場合が多く。プロセス装置の入口、
出口ではカセットからウエハを取出し、戻す機構と、大
気と処理環境を隔離するロードロック室が設けられてい
る。このウエハをカセットから取出し、戻す作業は、ウ
エハへのダストの付着を極力避ける為に、発塵の少ない
ロボット(クリーンロボット)で行われる場合が殆どで
あり、真空チャンバ内で行れる場合も多い。
【0003】このロボットによるカセットからのウエハ
取出し、戻し作業を正確に行う為には、精度の良いロボ
ットによる動作が必要である。また、真空チャンバ内で
この作業を行う場合は、ウエハへのダストの付着を極力
避ける為に、ウエハはロボットフィンガ上に載せるだけ
で保持する(摩擦保持)方法がとられている。このため
ロボットは、高位置決め精度だけでなく、動作時の振動
や移動の加速度によってウエハが滑って位置ずれを生じ
ない搬送能力が要求される。
【0004】しかし、ウエハが収納されて運ばれるカセ
ットは、一般に精度があまり高くなく、ウエハを位置決
めする能力は低く、通常、個々のウエハで数ミリメート
ルの位置誤差を生じることがある。また、上記カセット
は、プラスチック製でもあり、また、通常繰り返し使用
されているので精度のバラツキは更に大きい場合が多
い。従って、搬送系を高精度にしても、カセット内のウ
エハは搬送路に対して位置ずれが生じることは避けられ
ず、そのまま次工程の処理装置にカセットがセットされ
ると不具合を生じる。そのため、ウエハの位置ずれ量を
検出して補正する必要がある。
【0005】従来は、このウエハの位置補正を行う方法
として、多点の爪で円形のウエハをチャックして中心位
置補正する方法が良く取られた。しかし、先に示したよ
うにダスト防止からメカニカルな方法は使用できなくな
っている。そのため、新たな方法として、回転台の上に
ウエハを置き、ウエハエッジ部の位置の回転中心からの
位置ずれ量を計算して求める方法が取られているものも
ある。その際の位置ずれ量の補正は、ロボットや専用の
機構を用いることが必要になる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、カセッ
トに収納された状態のウエハをそのまま取出す場合は、
ロボットなどの搬送系をどんなに精度よく製造しても、
カセット内でのウエハの位置精度が保証されないので、
結果としての位置ずれを回避することは困難である。
【0007】また、カセットを使用しない場合は、ダス
ト防止が完全でウエハ位置精度を出せる専用機構が必要
になり、装置のコストアップやウエハハンドリング回数
の増加に伴う処理時間が長くなる等の不具合が生じる。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、搬送
路の所定位置に配設され搬送路を搬送される被搬送体の
エッジ部を検出する複数の検出体と、この各検出体から
の検出信号を処理する信号処理部と、この信号処理部か
らの出力信号を予め記憶されている標準位置信号と比較
して被搬送体の搬送路上の位置ずれを検出する信号比較
部とを有することを特徴とする位置ずれ検出装置であ
る。
【0009】請求項2によれば、複数の検出体は、各々
が搬送路の幅方向に分散して配設されていることを特徴
とする請求項1記載の位置ずれ検出装置である。請求項
3によれば、信号比較部に予め記憶されている標準信号
は、各検出体相互の検出時間を基に算出されていること
を特徴とする請求項1記載の位置ずれ検査装置である。
【0010】請求項4によれば、複数の検出体は、非接
触型の検出体であることを特徴とする請求項1記載の位
置ずれ検査装置である。請求項5によれば、搬送路の所
定位置に配設され搬送路を搬送される被搬送体のエッジ
部を複数の検出体で検出する検出工程と、この検出工程
によって検出された各検出体からの検出信号を処理する
信号処理工程と、この信号処理工程で処理され信号処理
部からの出力信号を予め記憶されている標準位置信号と
比較して被搬送体の搬送路上の位置ずれを検出する信号
比較工程とを有することを特徴とする位置ずれ検出方法
である。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第一の実施の形態
について図面を参照して説明する。図1は本発明の要部
の概要を示す平面図である。図示しない半導体プロセス
処理装置の所定位置にカセット1は装着されている。こ
のカセット1はプラスチック製で、1個のカセット1に
ウエハ2が25枚程度が収納されている。そして、一端
側に開口部3が形成されている。この開口部3はロボッ
トフィンガ4が進入自在に動作する際に、ウエハ2が出
入出来るように形成されている。このロボットフィンガ
4は図示しないロボットの一部で、ウエハ2を載置保持
(自重や真空吸着)出来るように板状に形成されてい
る。
【0012】また、この開口部3付近にはロボットフィ
ンガ4の進入・退出方向に対する幅方向(直角方向)に
複数の光電センサ(1〜4)5、6、7、8が配置され
ている。この光電センサ(1〜4)5、6、7、8は出
力側が図示しない信号処理部に接続されている。この信
号処理部は同様に図示しない信号比較部に接続されてい
る。
【0013】これらの構成による動作を説明すると、所
定のプロセス処理工程が終了して次のプロセス処理工程
が始まるに際して、ロボットフィンガ4が次工程のプロ
セス処理用のウエハ2を入手する為にカセット1内に進
入する。ロボットフィンガ4はカセット1内で所定プロ
セス処理用のウエハ2を載置すると進入方向と逆の退出
方向へ進む。退出する際に載置されたウエハ2はカセッ
ト1の開口部3付近を通過するので、そこに設置されて
いる光電センサ(1〜4)5、6、7、8を遮ることに
なる。この動作によって光電センサ(1〜4)5、6、
7、8からの信号が信号処理部へ伝送され信号処理され
る。そして、この信号処理された信号は同様に図示しな
い信号比較部へ伝送され、予め基準位置に載置されたウ
エハ2を基にした標準位置信号と比較され許容範囲内に
あるか否かを判断されたり、基準位置との誤差量が算出
される。これらの結果によって、ロボットは許容範囲外
の場合は誤差量を修正するために、ロボットフィンガ4
の位置を調整したり、ロボットが移動の軌跡を変更し
て、次のプロセス処理工程の処理装置の正確な位置にウ
エハ2をセットすることが出来る。
【0014】基準位置からの誤差量の算出について説明
すると、図2は、ウエハ2がロボットフィンガ4の中央
に位置決めされたときの光電センサ(1〜4)5、6、
7、8の位置関係を示したもので、各光電センサ(1〜
4)5、6、7、8は、ウエハ2の通過線上のウエハ2
エッジ部で状態が変化する。この位置関係を示す距離L
11、L12、L21、L22、L31、L32、L4
1,L42は、光電センサ(1〜4)5、6、7、8の
位置、ロボットフィンガ4の位置と退出方向から幾何学
的に求めることが出来る。
【0015】図3は、例えば一つの光電センサ(1)5
について、ウエハ2の通過によって発生する光電センサ
(1)5の遮光のポイントを示したもので、ロボットフ
ィンガ4中央にウエハ2が載っている場合、光電センサ
(1)5が遮光される点をA、遮光が終了する点をBと
し、ウエハがロボットフィンガ4の中央位置から(△
X、△Y)だけ位置ずれした場合、光電センサ(1)5
が遮光される点をC、遮光が終了する点をDとする。光
電センサ(1)5とロボットフィンガ4中央にあるウエ
ハ2との位置関係は、予め正確に求めることが出来る。
図3に示すYo(センサ通過軸とウエハ中心位置Oの通
過軸Xoとの距離)、L(点A、B間の距離)及びウエ
ハ中心位置Oも予め求めておくことが出来るので、この
状態で(△x、Δy)位置ずれしたウエハ2が光電セン
サ(1)5を通過した場合、本来遮光が始まる点Aの時
刻から実際に遮光が始まった点Cまでの時間差を計測す
ることが出来る。この時間をsとすると、ロボットの移
動速度Vとで、点Aと点Cとの距離aが次式(1)によ
り計算できる。
【0016】a=s・V 式(1) 次に、点Cと点Dとの間の時間(光電センサ(1)5の
遮光時間)pから点Cと点Dとの距離Lが計算できる。
図3に示すように、点A、Cの各点とそれぞれのウエハ
中心位置O、O’を結んだ線がそれぞれのウエハ中心位
置通過軸Xo、X’となす角度をθ、θ’とし、ウエハ
の半径をrとする。このとき幾何学的な関係により次式
(2)乃至(6)が成立する。
【0017】L=2rcosθo 式(2) L’=2rcosθ’ 式(3) sinθo=Yo/r 式(4) sinθ’=(Yo+△y)/r 式(5) a=△x+(L−L’)/2 式(6) これらの式(2)乃至(6)により、ウエハ中心位置の
ずれ量(△x,△y)が次式(7)、(8)から求めら
れる。 △x=a+(L’−L)/2 式(7)
【0018】
【式1】
【0019】このように、1つの光電センサ1、4を用
いてもウエハ2のずれ量を測定できるが、実際のウエハ
2にはノッチやオリフラと呼ばれる切り欠きが存在す
る。カセット1に収納されれいるウエハ2のノッチやオ
リフラの方向は任意であり、光電センサ(1〜4)5、
6、7、8の通過軸にこれらが一致する可能性がある。
このため、光電センサ(1〜4)5、6、7、8を複数
使用して、ノッチやオリフラによるデータを取除いて正
しいずれ量を求めることが出来る。また、複数のずれ量
を求め平均処理することで、データの信頼性を向上する
ことも出来る。
【0020】図4は、図2に位置決めされたウエハ2
が、光電センサ(1〜4)5、6、7、8を通過する時
の各光電センサ(1〜4)5、6、7、8の状態変化
と、フィンガ上の任意の位置(実際の位置)に置かれた
ウエハ2が、光電センサ(1〜4)5、6、7、8を通
過した時の光電センサ(1〜4)5、6、7、8の状態
変化を重ねてプロットした図である。図5は、それらの
タイミングを示すタイミングチャートである。このよう
に、複数の光電センサ(1〜4)5、6、7、8を用い
ることで精度を向上できる。
【0021】図6は、2個の光電センサ(1、4)5、
8を用いてウエハ2の中心位置ずれ量を計算する場合で
ある。この場合2個の光電センサ(1、4)5、8は、
それぞれ図3と同様に考えることが出来、位置ずれした
ウエハ2によって点CとD間、点FとH間で遮光され
る。ここで、計算に用いるのはフィンガ中心に置かれた
ウエハ2が通過して遮光を終了する点B、Gとの差であ
るb、b’の測定値である。予めフィンガ中央位置のウ
エハ2に対する2つの光電センサ(1、4)5、8の位
置関係は、図6のYo、Y1(ウエハ中心位置Oの通過
軸Xoと各センサ通過軸(1)、2との距離)、Xo、
X1(ウエハ中心位置のY方向中心軸Yoと点B、Gと
の距離)として求められている。また、点B、G、D、
Hの各点とそれぞれのウエハ中心位置O、O’を結んだ
線がそれぞれのウエハ中心位置通過軸Xo、X’となす
角度をγo、γ1、γo’、γ1’とする。このとき、
次式(9)乃至(12)が成り立つ。
【0022】 Yo+△y=rsinγo’ 式(9) Xo−△x+b=rcosγo’ 式(10) Y1−△y=rsinγ1’ 式(11) X1−△x+b=rcosγ1’ 式(12) この式(9)乃至(12)により、ウエハ2の中心位置
ずれ量(△x、△y)を計算により求めることが出来
る。この方法によれば、ウエハ2が通過したときの光電
センサ(1、4)5、8の遮光からのずれ量が計算でき
ることなる。これは、ロボットがウエハ2を保持してカ
セット1から引き抜く時に、一定速度で移動を行うこと
で、距離に換算する方法を用いている時に発生する移動
開始時の誤差を無くす事が出来ることを示している。言
い換えれば、はじめの方式ではロボットの速度が安定し
てから、ウエハ2が光電センサ(1〜4)5、6、7、
8を通過するようにした光電センサ(1〜4)5、6、
7、8配置が必要であるが、次に示した方式では、ウエ
ハ2が光電センサ(1〜4)5、6、7、8を通過する
までにロボットフィンガ4が一定速度になればよく、光
電センサ(1〜4)5、6、7、8をよりウエハ2に近
接して配置することが可能である。このことは、ウエハ
2のエッジ検出は、通過し始めた点か通過が終了する点
のいずれかのみの信号で処理することも出来ることを意
味している。
【0023】また、これによりこの光電センサ(1〜
4)5、6、7、8は、カセットに収納された状態のウ
エハ2エッジに近い位置に配置することが出来、この光
電センサ(1〜4)5、6、7、8を、通常はウエハ2
がカセット1からはみ出していないかを検出するウエハ
2飛び出し光電センサ(1〜4)5、6、7、8として
も使用することが出来る。この方式の場合も3個以上の
光電センサ(1〜4)5、6、7、8を組合わせ計算す
ることで、ノッチやオリフィスの影響を除くことが出来
る。
【0024】上記実施例では、ウエハ2が直線方向へ進
入、退出する場合を示したが、これらの方向が曲線でも
その他任意の方向でも、予め定められたものであれば同
様な効果を奏することは言うまでもない。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の位置ずれ
検査装置と検査方法は、請求項1から5の発明による
と、ロボットがカセットからウエハを引き抜く動作を利
用してウエハ位置を検出することで、特殊な位置計測ポ
ジションの設置が不要になると共に、ウエハの位置ずれ
を確実に検出することが出来、かつ、位置ずれ量を正確
に算出することが出来る。
【0026】また、複数の光電センサを用いてウエハの
位置ずれを検出する方法は、光電センサの設置位置を所
定の位置に設置すれば、飛び出し検出光電センサとして
も使用することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る位置検査装置と検査方法の要部の
平面図。
【図2】本発明に係る位置検出方法を説明する図。
【図3】本発明に係る位置ずれ誤差量算出を説明する
図。
【図4】本発明に係る位置ずれを説明する模型図。
【図5】本発明に係る位置ずれの時間差を説明する図。
【図6】本発明に係る位置ずれ誤差量算出を説明する
図。
【符号の説明】 1…カセット、2…ウエハ、3…開口部、4…ロボット
フィンガ、5…光電センサ(1)、6…光電センサ
(2)、7…光電センサ(3)、8…光電センサ
(4)。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】搬送路の所定位置に配設され搬送路を搬送
    される被搬送体を検出する複数の検出体と、この各検出
    体からの検出信号を処理する信号処理部と、この信号処
    理部からの出力信号を予め記憶されている標準位置信号
    と比較して被搬送体の搬送路上の位置ずれを検出する信
    号比較部とを有することを特徴とする位置ずれ検出装
    置。
  2. 【請求項2】複数の検出体は、各々が搬送路の幅方向に
    分散して配設されていることを特徴とする請求項1記載
    の位置ずれ検出装置。
  3. 【請求項3】信号比較部に予め記憶されている標準信号
    は、各検出体相互の検出時間を基に算出されていること
    を特徴とする請求項1記載の位置ずれ検査装置。
  4. 【請求項4】複数の検出体は、非接触型の検出体である
    ことを特徴とする請求項1記載の位置ずれ検査装置。
  5. 【請求項5】搬送路の所定位置に配設され搬送路を搬送
    される被搬送体を複数の検出体で検出する検出工程と、
    この検出工程によって検出された各検出体からの検出信
    号を処理する信号処理工程と、この信号工程で処理され
    信号処理部からの出力信号を予め記憶されている標準位
    置信号と比較して被搬送体の搬送路上の位置ずれを検出
    する信号比較工程とを有することを特徴とする位置ずれ
    検出方法。
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