JPH10321531A - 縦型熱処理装置 - Google Patents

縦型熱処理装置

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JPH10321531A
JPH10321531A JP14594097A JP14594097A JPH10321531A JP H10321531 A JPH10321531 A JP H10321531A JP 14594097 A JP14594097 A JP 14594097A JP 14594097 A JP14594097 A JP 14594097A JP H10321531 A JPH10321531 A JP H10321531A
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pipe
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Tomohisa Shimazu
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 反応管の排気速度を大きくし、しかも反応管
の下方側のロ−ディングエリアの高さを大きくとって被
処理基板の一括処理枚数の減少を避けること。 【解決手段】 下端部が開口している縦型の反応管2の
下端部に設けられた筒状のマニホ−ルド4に排気管6を
接続する。この排気管6は、マニホ−ルド4に接続され
た一端側は横に偏平な形状に形成され、他端側は円形に
形成されており、断面形状が排気方向に徐々に変化する
ように構成されている。マニホ−ルド4の排気口42は
横に偏平な形状に形成されているので、マニホ−ルド4
の高さを変えずに排気口42の面積を大きくすることが
できる。またマニホ−ルド4の高さが変わらないので、
ウエハボ−ト7の長さも変わらない。これによりウエハ
Wの一括処理枚数を低下させずに、反応管2内の排気速
度を大きくすることができるので、熱処理のスル−プッ
トを向上させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、縦型熱処理装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハにポリシリコン膜などの薄
膜を形成する手法の一つとして減圧CVD(Chemical V
apor Deposition)法があり、この方法を実施するバッチ
炉としては、大気の巻き込みが少ない等の理由から縦型
熱処理装置が主流になりつつある。この縦型熱処理装置
について図8、図9を参照しながら説明すると、反応管
1は、マニホ−ルド10の上に設けられていて、反応管
1の下端側のベ−スプレ−ト1aとマニホ−ルド10の
上端側に設けられたフランジ部10aとはOリング10
bを介して気密に接合されている。前記反応管1は、上
端が閉じられると共に下端が開口している外管11と、
この外管11内に設けられ両端が開口している内管12
とからなり、この反応管1の周囲には加熱炉13が設け
られている。
【0003】前記反応管1のベ−スプレ−ト1aの下方
側にはロ−ディングエリア14が設けられている。前記
マニホ−ルド10はこのロ−ディングエリア14内に突
出しており、円形の排気管15とガス供給管16とが側
周壁に接続されている。前記反応管1の下方側には、多
数枚の半導体ウエハ(以下ウエハという)Wを棚状に保
持するウエハボ−ト17がボ−トエレベ−タ18により
昇降するように設けられている。
【0004】このような装置では、反応管1内にウエハ
ボ−ト17を搬入し、反応管1内を外管11と内管12
との間から排気管15により真空排気して所定の減圧雰
囲気に維持しながら、ガス供給管16を介して処理ガス
を内管12の下方側から導入し、所定の処理温度に制御
して、処理ガスの化学気相反応によりウエハWに薄膜を
形成する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで近年、上述の
減圧CVD処理はより真空度を高める傾向にあり、また
ウエハWの大口径化に伴い反応管及びマニホ−ルドの容
積も大きくなりつつある。この場合今までの排気性能の
ままでは、真空排気に長い時間がかかり、スル−プット
が低下する。反応管1内の排気速度は、排気管15の断
面積と指数関数的な関係があり、前記排気速度を大きく
し、所定の真空度まで排気する際の排気時間を短縮する
ためには排気管15の口径を大きくすればよい。しかし
ながら排気管15の口径を大きくすると、図10に示す
ように、マニホ−ルド10の高さ(上下の長さ)hが大
きくなってしまう。
【0006】ここで加熱炉13の上端からロ−ディング
エリア14の下端までの距離L1を大きくすることは、
加熱炉13の上端はクリ−ンル−ムの天井近傍に位置し
ているので困難である。従って既述のようにマニホ−ル
ド10の高さhが大きくなってマニホ−ルド10の下端
の位置が下がると、マニホ−ルド10の下端からロ−デ
ィングエリア13の下端までの距離L2が小さくなる。
【0007】このようにL2が小さくなると、反応管1
や装置全体の高さを変えないことを前提とした場合、ウ
エハボ−ト17の長さをマニホ−ルド10の増加分の2
倍の長さだけ短くしなければならない。つまりマニホ−
ルド10の下端位置が仮に1cm低くなるとすると、ロ
−ディングエリア14内の所定位置にあるウエハボ−ト
17の上端位置が1cm低くなる。このためウエハボ−
ト17を反応管1内に搬入すると、ウエハボ−ト17の
下端位置が1cm下がり、ウエハWの載置領域が熱処理
領域からはみ出してしまうので、これを防止するために
ウエハボ−ト17の下端位置を1cm高くしなければな
らなくなり、結局ウエハボ−ト17の長さは合計2cm
短くなる。この結果当該ボ−ト17のウエハ載置領域が
小さくなるので、ウエハWの一括処理枚数が少なくなっ
てしまう。
【0008】以上のように排気管15の口径を大きくし
て排気速度を大きくしようとすると、反応管1の下方側
のロ−ディングエリア14の上下の長さが小さくなって
しまい、この結果ウエハWの一括処理枚数が少なくなっ
てしまうので、結果として減圧CVD処理のスル−プッ
トを高めることは困難な状況にある。
【0009】本発明はこのような事情の下になされたも
のであり、その目的は、反応管の排気速度を大きくする
ことができ、しかも反応管の下方側のロ−ディングエリ
アの高さを大きくとることができて、被処理基板の一括
処理枚数の減少を避けることができる縦型熱処理装置を
提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】このため本発明は、下端
部が開口している縦型の反応管と、この反応管の下端部
に設けられ、前記反応管内を真空排気するための排気管
が側周部に接続された筒状のマニホ−ルドと、複数の被
処理基板を棚状に保持し、前記マニホ−ルドの下端開口
部から反応管内に搬入される保持具と、を備え、前記マ
ニホ−ルドの下端開口部を蓋体で気密に閉じ、前記被処
理基板を減圧雰囲気で熱処理する縦型熱処理装置におい
て、前記排気管のマニホ−ルドとの接続部を横に偏平な
形状に形成することを特徴とする。また前記排気管は、
マニホ−ルドから離れた所では断面を円形に形成するよ
うにしてもよい。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態に用い
られる縦型熱処理装置を示す断面図である。図中2は石
英製の反応管であり、この反応管2は上端が閉じられる
と共に下端が開口している外管2aと、この外管2a内
に設けられ両端が開口している内管2bとから構成され
ている。この反応管2の周囲には、これを取り囲むよう
に加熱炉3が配設され、この加熱炉3は断熱体31の内
周面に抵抗発熱体よりなるヒ−タ32を設けて構成され
る。
【0012】反応管2の下部側には金属製のマニホ−ル
ド4が設けられており、反応管2の下端のフランジ部が
マニホ−ルド4とベ−スプレ−ト51との間に挟まれた
状態で固定されていて、反応管2のフランジ部とマニホ
−ルド4の接合部分にはOリング52が介在されてい
る。
【0013】マニホ−ルド4の側壁にはガス供給管41
が突入して設けられると共に、排気口42が形成されて
おり、この排気口42には短い排気管(排気ポ−ト)6
が接続されて、当該マニホ−ルド4及び排気管6が1つ
のユニットになっている。ここでマニホ−ルド4と排気
管6とは溶接により接合されている。前記排気管6のマ
ニホ−ルド4とは反対側の端部は、排気管81を介して
図示しないメンテナンスル−ムに設けられた真空ポンプ
8に接続されている。
【0014】前記排気口42は、例えば図2に示すよう
に、横に偏平な形状に形成されており、具体的には長方
形の両端に、夫々円弧が外側になるように半円を組み合
わせた形状に形成されている。このような排気口42
は、例えば長方形部の長さa1が114mm、半円部の
長さa2が29mm、ト−タルの長さa3が172m
m、高さb1が58mmに設定されている。
【0015】また前記排気管6は、例えば図3及び図4
に示すように、一端側(マニホ−ルド側)の基端開口部
6aと真空ポンプ8側の先端開口部6bとの断面形状が
異なるように形成されており、横に偏平な断面形状を有
する偏平筒状体61と、円形(ほぼ真円)の断面形状を
有する円形筒状体63と、これら互いに異なる口径部同
士を接合し、先端側に向かうにつれてラッパ状に広がる
口径を有する口径変換部62とから構成されている。
【0016】前記偏平筒状体61の基端開口部6aの形
状(偏平筒状体61の断面形状)は、前記排気口42と
適合するように形成されている。また前記円形筒状体6
3は、断面形状が円形(ほぼ真円)の排気管81と接続
されるため、先端開口部6bの形状が前記排気管81と
同一の構成の円形に形成されていると共に、この先端開
口部6bには前記排気管81と接続されるためのフラン
ジ部63aが設けられている。
【0017】ここで各部材の寸法について説明すると、
口径変換部62の内径b2は108mm、偏平筒状体6
1の長さc1は30mm、口径変換部62の長さc2は
75mm、円形筒状体63の長さc3は30mm、変換
用排気管6ト−タルの長さcは135mmに夫々設定さ
れており、偏平筒状体61(基端開口部6a)の断面積
と、円形筒状体63(先端開口部6b)の断面積とはほ
ぼ同じ大きさになるように設定されている。このように
両者の断面積をほぼ同じ大きさにするのは、排気管6及
び排気管81よりなる排気路のコンダクタンスの変化を
極力抑えるためである。
【0018】前記反応管2内には、多数枚例えば150
枚の被処理基板であるウエハWが棚状に、即ち各々ほぼ
水平な状態で上下に間隔をおいて保持具であるウエハボ
−ト7に載置されており、このウエハボ−ト7は蓋体7
1の上に断熱体である保温筒72を介して保持されてい
る。蓋体71はウエハボ−ト7を反応管2内に搬入、搬
出するためのボ−トエレベ−タ73の上に搭載されてお
り、上限位置にあるときにはマニホ−ルド4の下端開口
部を閉じる役割を持っている。
【0019】次に上述の装置の作用について述べる。先
ず反応管2内を所定の温度に設定し、例えば150枚の
ウエハWをウエハボ−ト7に載せて、ボ−トエレベ−タ
73を上昇させることにより反応管2内に下端開口部か
ら搬入する。次いで反応管2内を図示しない真空ポンプ
により排気管6、81を通じて例えば0.1Torrま
で真空排気すると共に、ウエハW表面を処理温度まで加
熱し、反応管2内に処理ガスを導入して、ウエハW上に
薄膜を形成する。
【0020】このような装置では、真空ポンプ8とマニ
ホ−ルド4とを接続する排気路の断面積が92cm2
大きく、反応管2内の排気速度は排気管の断面積と指数
関数的な関係があるので排気速度がかなり大きくなり、
反応管2内を所定の真空度まで排気するまでの時間が短
縮される。
【0021】しかもマニホ−ルド4の排気口42を既述
のように偏平な形状に形成したので、マニホ−ルド4の
側壁における排気管6の接合部分が占める上下方向領域
が小さくて済み、従ってマニホ−ルド4の高さを大きく
することなく排気口42の面積を大きくすることができ
る。
【0022】このようにマニホ−ルド4の高さを大きく
しなくても済むので、「発明が解決しようとする課題」
の項で既述したようなウエハボ−ト7の長さの短縮化を
避けることができる。従って本実施の形態では、ウエハ
Wの処理枚数を従前と同等に確保しながら反応管2の排
気速度を大きくすることができるので、結果として熱処
理のスル−プットを高めることができる。
【0023】ここで例えば図5に示すように、従前のよ
うに排気口を円形に形成した場合には、本実施の形態の
排気口42と同じ面積を得ようとすると、マニホ−ルド
4の高さが大きくなってしまう。例えば上述の例では、
偏平な排気口の高さは58mmであり、円形の排気口の
高さ(内径)は108mmであるので、円形の排気口を
形成した場合にはマニホ−ルドの高さが50mm大きく
なってしまう。このようにマニホ−ルド4の高さが大き
くなると、既述のように、ウエハボ−ト7の長さは、マ
ニホ−ルド4の大きくなった長さの2倍分短くなってし
まうので、ウエハWの搭載枚数が低下してしまい、スル
−プットを高めることは困難である。
【0024】また本実施の形態では、従前と同等の排気
機能を得るためにはマニホ−ルド4の高さを低くするこ
とができるので、その分反応管2の下端位置を下げるこ
とにより、既述のように反応管2の上端位置を上げるこ
とが出来なくても、ウエハボ−ト7を長くするといった
設計も可能であるし、マニホ−ルド4の高さを従前と同
等とするならば、反応管2の排気速度を高めるに際し
て、既存のウエハボ−ト7を変更することなくそのまま
利用することができる。
【0025】さらに本実施の形態では、断面形状が偏平
な形状から円形に変換する排気管6を設けているので、
この排気管6と真空ポンプ8との間を一般に用いられて
いる円形の排気管81で接続することができ、例えば既
に円形の排気管が配管されていれば、そのまま用いるこ
とができるので、従前のシステムに変更を加えなくて済
む。また排気管6のフランジ部63aは、円形の先端側
開口部6bに設けられており、一般の排気管のフランジ
部と同様に形成すればよいので、フランジ部63aの形
成が容易になる。
【0026】以上において本実施の形態では、排気口4
2の形状は、横に偏平な形状であればよく、例えば図6
(a)に示すように楕円状に形成してもよいし、図6
(b)に示すように長方形状に形成してもよい。
【0027】また本発明では、例えば図7に示すよう
に、排気管6を設ける変わりに、排気口42と適合する
形状の排気管9を接続し、当該横に偏平な断面形状を有
する排気管9を真空ポンプ8側まで配管するようにして
もよい。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、反応管の排気速度を大
きくすることができ、しかも反応管の下方側のロ−ディ
ングエリアの高さを大きくとることができて、被処理基
板の一括処理枚数の減少を避けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の縦型熱処理装置の一実施の形態を示す
断面図である。
【図2】マニホ−ルドの一例を示す側面図である。
【図3】変換用排気管の一例を示す斜視図である。
【図4】変換用排気管の一例を示す側面図である。
【図5】偏平な形状の排気口を形成したマニホ−ルドと
円形の排気口を形成したマニホ−ルドとの高さの違いを
説明するための側面図である。
【図6】マニホ−ルドに形成された排気口の他の例を示
す側面図である。
【図7】マニホ−ルドに接続される排気管の他の例を示
す斜視図である。
【図8】従来の縦型熱処理装置を示す断面図である。
【図9】従来の縦型熱処理装置を示す断面図である。
【図10】マニホ−ルドを示す側面図である。
【符号の説明】
2 反応管 3 加熱炉 4 マニホ−ルド 42 排気口 6、81、9 排気管 7 ウエハボ−ト 8 真空ポンプ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下端部が開口している縦型の反応管と、
    この反応管の下端部に設けられ、前記反応管内を真空排
    気するための排気管が側周部に接続された筒状のマニホ
    −ルドと、複数の被処理基板を棚状に保持し、前記マニ
    ホ−ルドの下端開口部から反応管内に搬入される保持具
    と、を備え、前記マニホ−ルドの下端開口部を蓋体で気
    密に閉じ、前記被処理基板を減圧雰囲気で熱処理する縦
    型熱処理装置において、 前記排気管のマニホ−ルドとの接続部を横に偏平な形状
    に形成することを特徴とする縦型熱処理装置。
  2. 【請求項2】 前記排気管は、マニホ−ルドから離れた
    所では断面が円形に形成されていることを特徴とする請
    求項1記載の縦型熱処理装置。
JP14594097A 1997-05-20 1997-05-20 縦型熱処理装置 Expired - Fee Related JP3420465B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016176497A (ja) * 2015-03-19 2016-10-06 東京エレクトロン株式会社 連結構造及びこれを用いた排気系、基板処理装置、並びにフランジの取り外し方法

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JP2016176497A (ja) * 2015-03-19 2016-10-06 東京エレクトロン株式会社 連結構造及びこれを用いた排気系、基板処理装置、並びにフランジの取り外し方法

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