JPH10317171A - 試料支持装置 - Google Patents

試料支持装置

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JPH10317171A
JPH10317171A JP13193597A JP13193597A JPH10317171A JP H10317171 A JPH10317171 A JP H10317171A JP 13193597 A JP13193597 A JP 13193597A JP 13193597 A JP13193597 A JP 13193597A JP H10317171 A JPH10317171 A JP H10317171A
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JP
Japan
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sample
sample stage
metal fitting
pressing piece
samples
Prior art date
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Pending
Application number
JP13193597A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisao Onuki
久生 大貫
Seitaro Oishi
鉦太郎 大石
Shigeru Tanaka
田中  滋
Shinya Sekimoto
信也 関本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP13193597A priority Critical patent/JPH10317171A/ja
Publication of JPH10317171A publication Critical patent/JPH10317171A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】試料ステージ14Aの試料を配置する面積を増
加させたり、或いは試料を試料ステージに着脱するのを
容易にすることにある。 【解決手段】試料ステージ14Aに設けた内側押金具3
0と外側押金具31との間に複数の試料13A〜13D
を仮固定後、外側押金具31で各試料を内側押金具30
方向に移動し、両押金具間に各試料13A〜13Dを固
定することにある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は試料支持装置に係わ
り、特にイオンビーム加工装置の試料ホルダに取付ける
試料ステージと試料との設置構造に関する。
【0002】
【従来の技術】イオンビーム加工装置の試料ホルダは従
来試料ステージ1個に1枚の試料を取付けていた。試料
ステージ1個に1枚の試料を取付けているため、1枚の
試料は4個所で固定手段により、試料ステージに固定さ
れていた。従来のイオンビーム加工装置として特開昭6
2−108440号公報を挙げることが出来る。また試
料支持装置として特開平6−145978号公報を挙げ
ることが出来る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、固定す
るための余分な部分が大きくとられ、試料取付けスペー
スが非常に少なくなってしまう。又1枚1枚固定するた
めに取付けに非常に時間を要する欠点があった。
【0004】本発明の目的は、同一面積内においてより
多くの試料が取付け可能で、試料の脱着(交換)が容易
な構造を有する試料支持装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の試料支持装置
は、回転可能な試料ステージに設けた内側押金具と外側
押金具との間に試料を配置し、外側押金具で試料を内側
押金具側に押圧し、両押金具間に試料を固定することに
ある。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例を図1〜
図6に示すイオンビーム加工装置より説明する。図1は
本発明のイオンビーム加工装置である。図2は本発明の
イオンビーム加工装置の内部構造を示す図である。図3
は本発明の試料ステージの全体配置図を示す。図4、図
5は図3の試料ステージの平面図で、図6乃至図8は図
4の断面図である。
【0007】真空チャンバ1の上部に設けた真空ポンプ
2は主ゲート弁3を制御して真空チャンバ内を真空圧に
制御する。真空チャンバ内の一側にはフィラメント端子
4及びフィラメント5とガス供給口6を設けている。ガ
ス供給口6に連通しているボンベ7のガス例えばArガ
スをイオン源アーク室8に供給し、フィラメント端子4
及びフィラメント5と真空チャンバ内との間を接続した
放電回路9で放電し、Arガスをイオン化したイオンガ
スを加速電極11で加速し、イオンビーム12にし、こ
のイオンビーム12を図3に示す試料13に照射する。
加速電極11と試料13との間にはシャッター12Aを
設けている。
【0008】イオンビーム12は回転している試料13
に照射し、試料13を試料ステージ14に支持し、試料
13は図4に示す内側押金具15と外側押金具16との
間に保持されている。内側押金具15と外側押金具16
とは試料ステージ14に設けられている。試料13を試
料ステージ14に配置する配置方法及び両金具15,1
6の構造については後述する。試料ステージ14は回転
可能な試料ホルダ17に支持されている。試料ホルダ1
7は螺合する2個の傘歯車18,19を介して駆動モー
タ20に連結している。試料ホルダ17と駆動モータ2
0との間は収納容器21内に収まっている。駆動モータ
20の出力軸は回転駆動機構部22に連結している。回
転駆動機構部22によりイオンビーム加工装置は、複数
の試料ステージがそれぞれが自転しながら試料ホルダの
軸を中心に同一円周上を公転している。回転駆動機構部
22及び収納容器21等は扉23に支持されている。
【0009】扉23は図示していないヒンジを介して扉
22を矢印方向Yに回動すれば、扉22を開放し、試料
13、試料ステージ14、試料ホルダ17等を外部に露
出することが出来る。尚、この図では扉22を矢印方向
Yに回動すれば、収納容器21が真空チャンバ1の一部
に当接し、外部に引き出すことは出来ない図になってい
るが、実際には真空チャンバ内で収納容器21が当接し
ない広さを有している。
【0010】外部に露出した試料ステージ14には図3
に示すように4個の試料ステージ14A〜14Dを配置
している。各試料ステージ14A〜14Dには4個の試
料13A〜13Dを配置している。
【0011】各試料ステージ14A〜14Dに試料13
A〜13Dを固定する場合を図4ないし図7により説明
する。各試料ステージ14A〜14Dは構成が同じなの
で、試料ステージ14Aを例にとり説明する。試料ステ
ージ14Aは4個の試料13A〜13Dを配置し、左側
の試料13A及び13Bと右側の試料13C及び13D
とは内側押金具30と外側押金具31とに支持され、両
押金具30,31をネジ32により試料ステージ14A
に締め付け固定している。
【0012】更に詳細に図6で説明すると、内側押金具
30にはネジ32を固定する幅を備えた底部30Aは試
料ステージ14Aに接している。底部30Aの両側面は
上方に延び、途中で上端が外側押金具方向に折り曲げら
れた先端部30Bを形成している。つまり先端部30B
と試料ステージ14Aとの間に試料例えば13Cの一方
側を挟持する。また外側押金具31は試料ステージ14
Aに接する底部31Aを有している。底部31Aの内側
押金具30と対応する側面は上方に延び、途中で内側押
金具方向に折り曲げた先端部31Bを形成している。つ
まり先端部31Bと試料ステージ14Aとの間に試料1
3Cの他方側を挟持する。
【0013】試料13A〜13Dを内側押金具30及び
外側押金具31と試料ステージ14Aとの間にネジ32
で固定する場合を図7により説明する。図7は試料13
Cを試料13Aのように固定する場合について説明す
る。内側押金具30のネジ穴に挿入したネジ32を回し
て試料ステージ14Aに仮固定した状態で、外側押金具
31の底部31Aに設けた楕円穴13E及び試料ステー
ジ14Aの穴にネジ32を挿入した状態で、外側押金具
31で試料13Cを左側に押圧すると、外側押金具31
が楕円穴13E、ネジ32を介して内側押金具方向に移
動して、先端部30Bと先端部31Bとの間の試料ステ
ージ14A上に試料13Cを挿入する。
【0014】この状態で外側押金具31を更に左側に移
動し、両押金具間に試料13Cを挟持した後、ネジ32
を締付けて外側押金具31を試料ステージ14Aに固定
する。仮固定している内側押金具30はネジ32を締付
け、内側押金具30を試料ステージ14Aに固定する。
また試料13B,13Dについても上述と同じで方法で
固定することが出来るので、説明を省略する。又内側押
金具30に楕円穴を設けて、内側押金具30を移動でき
るようにしても良い。
【0015】この実施例では内側押金具30及び外側押
金具31との間で試料13A〜13Dを固定するように
したので、従来の試料の4辺で固定していたのに比べ
て、固定個所が少なくなつた分だけ、試料13の配置面
積を増加することが出来るようになった。また試料13
を外側から挿入できるので、挿入作業、固定手段の締め
付け作業等を容易に行うことができる。
【0016】更に、この実施例では試料13A〜13D
の下側の試料ステージ14Aには、各試料13A〜13
Dに対応するOリング溝部34を設けている。隣接する
Oリング溝部は二つのOリング35を埋め込むことが出
来る共通溝部36にし、共通溝部36に二つのOリング
35を埋め込み、両Oオリング間の共通溝部36を仕切
板37で仕切り、共通溝部上で隣接する試料片13C´
と試料片13D´とを当接している。
【0017】この結果、2本のOリング溝部を独立して
設ける場合には、Oリング溝部とOリング溝部との間に
試料ステージの一部を必要とすので、この分面積が本発
明の共通溝部36に比べて広くなるが、本発明の共通溝
部36であれば、試料ステージの一部を必要とせず、試
料ステージの面積は広くならず、試料ステージの直径を
縮小できるので、イオンビーム加工装置を小型化出来
る。又、共通溝部36の仕切板37上で試料片13C´
と試料片13D´とを当接できるので、仕切板37は試
料片13C´と試料片13D´との位置合せつまり目印
として利用すことが出来る。更に一方の試料片13D´
が仕切板37を被うように配置すれば、例えばネジ32
の締付力が強い場合には、仕切板37上で試料片13C
´と試料片13D´との間を仕切板37が突き抜けるお
それがあるが、一方の試料片13C´が仕切板37を被
うように鎖線個所38で当接すれば、上述の欠点は除去
できる。
【0018】尚、この実施例ではイオンビーム加工装置
について述べたが、単に試料ステージに試料を支持する
基板支持装置にも使用できることは云うまでもない。試
料としては矩形形状が適している。
【0019】
【発明の効果】以上のように本発明の基板支持装置によ
れば、試料ステージに試料を複数枚取付けることによ
り、同一スペース内において従来より2〜4倍程度の設
置枚数を増加させることが可能となった。又本発明では
共通溝部により試料ステージの面積は広くならず、試料
ステージ及びイオンビーム加工装置を小型化出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例として示したイオンビーム加工
装置の概略図。
【図2】図1のイオンビーム加工装置の側断面図。
【図3】図1に使用した試料ホルダの平面図。
【図4】図3の試料ステージに試料を配置した平面図。
【図5】図3の試料ステージの平面図。
【図6】図4の試料ステージの側断面図。
【図7】図4の試料ステージに試料を配置した側断面
図。
【図8】図4のA−A側断面図。
【符号の説明】
1…真空チャンバ、2…加速電極、13…試料、14…
試料ステージ、17…試料ホルダ、30…内側押金具、
31…外側押金具、36…共通溝部、37…仕切板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 関本 信也 茨城県日立市国分町一丁目1番1号 株式 会社日立製作所国分工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料を試料ステージに支持するものにお
    いて、上記試料ステージに取付けた内側押金具と外側押
    金具との間に試料を配置し、両押金具の一方側で他方の
    押金具側に試料を押圧し、両金具間に試料を固定するこ
    とを特徴とする試料支持装置。
  2. 【請求項2】 試料を試料ステージに支持するものにお
    いて、上記試料ステージに取付けた内側押金具と外側押
    金具との間に複数の試料を固定し、各試料の下側の試料
    ステージにOリング溝部を設け、隣接するOリング溝部
    を少なくとも二つ以上のOリングを収納出来る共通溝部
    にし、共通溝部に少なくとも二つ以上のOリングを収納
    し、両Oオリング間の共通溝部を仕切板で仕切り、共通
    溝部上で隣接する試料片と試料片とを当接するようにし
    たことを特徴とする試料支持装置。
  3. 【請求項3】 上記仕切板を被うように配置した一方側
    試料片と他方側試料片とを共通溝部上で当接するように
    したことを特徴とする請求項2記載の試料支持装置。
  4. 【請求項4】 上記仕切板上で一方側試料片と他方側試
    料片とを当接するようにしたことを特徴とする請求項2
    記載の試料支持装置。
  5. 【請求項5】 真空チャンバ内に導入したイオンガスを
    加速電極で加速したイオンビームを回転している試料に
    照射し、試料を試料ステージに支持するイオンビーム加
    工装置に使用することを特徴とする請求項1乃至4のい
    ずれか1に記載の試料支持装置。
JP13193597A 1997-05-22 1997-05-22 試料支持装置 Pending JPH10317171A (ja)

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JP13193597A JPH10317171A (ja) 1997-05-22 1997-05-22 試料支持装置

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JPH10317171A true JPH10317171A (ja) 1998-12-02

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112538617A (zh) * 2019-09-20 2021-03-23 江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 镀膜设备
US11555247B2 (en) 2019-09-20 2023-01-17 Jiangsu Favored Nanotechnology Co., Ltd. Coating apparatus and movable electrode arrangement, movable support arrangement, and application thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112538617A (zh) * 2019-09-20 2021-03-23 江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 镀膜设备
CN112538617B (zh) * 2019-09-20 2022-02-22 江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 镀膜设备
US11555247B2 (en) 2019-09-20 2023-01-17 Jiangsu Favored Nanotechnology Co., Ltd. Coating apparatus and movable electrode arrangement, movable support arrangement, and application thereof

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