JPH10314149A - プローブが交換可能な電気測定器及びプローブ管理方法及びパルスオキシメータ - Google Patents
プローブが交換可能な電気測定器及びプローブ管理方法及びパルスオキシメータInfo
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- JPH10314149A JPH10314149A JP9129922A JP12992297A JPH10314149A JP H10314149 A JPH10314149 A JP H10314149A JP 9129922 A JP9129922 A JP 9129922A JP 12992297 A JP12992297 A JP 12992297A JP H10314149 A JPH10314149 A JP H10314149A
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- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、プローブが交換可能な医療機器等の
装置本体に、プローブ使用に関する管理機能をもたせ
て、常にプローブを耐用期間に達するまで無駄なく有効
に使用できる経済的に有利な構成のプローブが交換可能
な電子測定器、及びプローブが交換可能な装置のプロー
ブ管理方法を提供することを課題とする。 【解決手段】ＣＰＵ１１は、自己のユニークなシリアル
番号をシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に登録した後、光学プ
ローブ２０の使用時間（ＬＥＤ２１，２２の発光時間）
をＲＡＭ１３内の内部カウンタ（Ｂ）を用いて計時し、
光学プローブ２０を１時間（１Ｈ）使用する毎に、シリ
アルＥＥＰＲＯＭ２４をアクセスしてアドレス０の領域
に格納された積算時間を読み込み、更新する値を加え
て、そのトータル時間が予め定められた耐用期間の時間
内にあるか否かを判断し、耐用期間の時間内にあるとき
アドレス０の領域に格納された積算時間を更新する。
装置本体に、プローブ使用に関する管理機能をもたせ
て、常にプローブを耐用期間に達するまで無駄なく有効
に使用できる経済的に有利な構成のプローブが交換可能
な電子測定器、及びプローブが交換可能な装置のプロー
ブ管理方法を提供することを課題とする。 【解決手段】ＣＰＵ１１は、自己のユニークなシリアル
番号をシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に登録した後、光学プ
ローブ２０の使用時間（ＬＥＤ２１，２２の発光時間）
をＲＡＭ１３内の内部カウンタ（Ｂ）を用いて計時し、
光学プローブ２０を１時間（１Ｈ）使用する毎に、シリ
アルＥＥＰＲＯＭ２４をアクセスしてアドレス０の領域
に格納された積算時間を読み込み、更新する値を加え
て、そのトータル時間が予め定められた耐用期間の時間
内にあるか否かを判断し、耐用期間の時間内にあるとき
アドレス０の領域に格納された積算時間を更新する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブが交換可
能な医療機器、及びプローブが交換可能な装置のプロー
ブ管理方法に関する。
能な医療機器、及びプローブが交換可能な装置のプロー
ブ管理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】プローブが交換可能な電子測定器とし
て、例えば図１２に示すような携帯型のパルスオキシメ
ータ（血中酸素飽和度測定器）が存在する。この種パル
スオキシメータは、光学プローブに設けられた光波長を
異にする２種のＬＥＤから発光された光の反射量を検出
することにより血中の酸素飽和度を算出測定するもの
で、その測定用の光学プローブは、通常、測定器本体に
コネクタ接続される。
て、例えば図１２に示すような携帯型のパルスオキシメ
ータ（血中酸素飽和度測定器）が存在する。この種パル
スオキシメータは、光学プローブに設けられた光波長を
異にする２種のＬＥＤから発光された光の反射量を検出
することにより血中の酸素飽和度を算出測定するもの
で、その測定用の光学プローブは、通常、測定器本体に
コネクタ接続される。
【０００３】この光学プローブは、上記したような、光
波長を異にする２種の発光素子（ＬＥＤ）、及びこの発
光素子（ＬＥＤ）の光を受光する受光素子とを備え、人
体（オキシメータ使用者）の指先にクリップ等で固定さ
れて用いられる。
波長を異にする２種の発光素子（ＬＥＤ）、及びこの発
光素子（ＬＥＤ）の光を受光する受光素子とを備え、人
体（オキシメータ使用者）の指先にクリップ等で固定さ
れて用いられる。
【０００４】この種の光学プローブは、発光側のＬＥＤ
の劣化、及び表面樹脂の劣化等により寿命が制限される
ため、一般的に、光学プローブの寿命は使用開始より、
６ヶ月として規定されている。この使用期間を経過した
光学プローブはメーカにより回収される。
の劣化、及び表面樹脂の劣化等により寿命が制限される
ため、一般的に、光学プローブの寿命は使用開始より、
６ヶ月として規定されている。この使用期間を経過した
光学プローブはメーカにより回収される。
【０００５】このように従来では、パルスオキシメータ
の光学プローブについて、その使用期間が一意に定めら
れ、使用頻度に拘らず、提供期間のみによって管理され
ていた。
の光学プローブについて、その使用期間が一意に定めら
れ、使用頻度に拘らず、提供期間のみによって管理され
ていた。
【０００６】具体的には、光学プローブの寿命が、使用
開始より一律６ケ月として規定されており、ユーザの頻
度による条件は一切考慮されない。従って、頻繁にパル
スオキシメータを使用しても、希に使用しても、いずれ
の場合も一律に使用開始から６ヶ月経過したら新しいも
のに買い替えなければならないという問題があり、ユー
ザにとって経済的負担が大きいという問題があった。
開始より一律６ケ月として規定されており、ユーザの頻
度による条件は一切考慮されない。従って、頻繁にパル
スオキシメータを使用しても、希に使用しても、いずれ
の場合も一律に使用開始から６ヶ月経過したら新しいも
のに買い替えなければならないという問題があり、ユー
ザにとって経済的負担が大きいという問題があった。
【０００７】尚、使用頻度の具体的な差異としては、在
宅酸素療法を行なっているユーザ等のように、連続的に
光学プローブ動作（ＬＥＤ発光）させる使い方から、健
康管理等のために一日に数回又は数分しか使用しない使
い方まで含むもので、連続的に使用した場合は（２４Ｈ
×３０日×６ヶ月＝４３２０時間）程度となり、又、健
康管理等で使用する場合は日に数回（例えば５分×３０
日×６ヶ月＝１５時間）程度となり、極端に大きな時間
差をもつ。しかしながら従来では、いずれの場合も同一
寿命としてプローブを管理している。
宅酸素療法を行なっているユーザ等のように、連続的に
光学プローブ動作（ＬＥＤ発光）させる使い方から、健
康管理等のために一日に数回又は数分しか使用しない使
い方まで含むもので、連続的に使用した場合は（２４Ｈ
×３０日×６ヶ月＝４３２０時間）程度となり、又、健
康管理等で使用する場合は日に数回（例えば５分×３０
日×６ヶ月＝１５時間）程度となり、極端に大きな時間
差をもつ。しかしながら従来では、いずれの場合も同一
寿命としてプローブを管理している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
では、パルスオキシメータの光学プローブについて、そ
の使用期間が一意的に定められ、使用頻度に拘らず、提
供期間のみによって管理されていたことから、希に使用
する場合も常時使用する場合と同様に所定の使用期間
（例えば６ヶ月）を経過する度に新規に買替えしなけれ
ばならないという問題があり、ユーザにとって経済的負
担が大きいという問題があった。
では、パルスオキシメータの光学プローブについて、そ
の使用期間が一意的に定められ、使用頻度に拘らず、提
供期間のみによって管理されていたことから、希に使用
する場合も常時使用する場合と同様に所定の使用期間
（例えば６ヶ月）を経過する度に新規に買替えしなけれ
ばならないという問題があり、ユーザにとって経済的負
担が大きいという問題があった。
【０００９】本発明は上記実情に鑑みなされたもので、
プローブが交換可能な医療機器等の装置本体にプローブ
使用に関するプローブ管理機能をもたせて、常にプロー
ブを耐用期間に達するまで無駄なく有効に使用できる経
済的に有利な構成のプローブが交換可能な医療機器、及
びプローブが交換可能な装置のプローブ管理方法を提供
することを目的とする。
プローブが交換可能な医療機器等の装置本体にプローブ
使用に関するプローブ管理機能をもたせて、常にプロー
ブを耐用期間に達するまで無駄なく有効に使用できる経
済的に有利な構成のプローブが交換可能な医療機器、及
びプローブが交換可能な装置のプローブ管理方法を提供
することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、プローブが交
換可能な装置のプローブ管理方法に於いて、プローブ
に、装置本体よりアクセス可能な記憶手段を設け、装置
本体がプローブの使用時間に応じて記憶手段の内容を更
新し、保持して、記憶手段よりプローブ交換の時期を判
定するための情報を取得できるようにしたことを特徴と
する。
換可能な装置のプローブ管理方法に於いて、プローブ
に、装置本体よりアクセス可能な記憶手段を設け、装置
本体がプローブの使用時間に応じて記憶手段の内容を更
新し、保持して、記憶手段よりプローブ交換の時期を判
定するための情報を取得できるようにしたことを特徴と
する。
【００１１】又、本発明は、計測用の発光素子を内蔵し
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器のプローブ管理方法に於いて、プロ
ーブに内蔵された発光素子の使用時間を積算し、当該積
算時間をもとにプローブの交換時期を判定することを特
徴とする。
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器のプローブ管理方法に於いて、プロ
ーブに内蔵された発光素子の使用時間を積算し、当該積
算時間をもとにプローブの交換時期を判定することを特
徴とする。
【００１２】又、上記医療機器のプローブ管理方法に於
いて、プローブに内蔵された発光素子の使用時間を積算
し保持する記憶手段をプローブにもち、本体がプローブ
に設けた記憶手段をアクセスしてプローブの交換時期を
判定することを特徴とする。
いて、プローブに内蔵された発光素子の使用時間を積算
し保持する記憶手段をプローブにもち、本体がプローブ
に設けた記憶手段をアクセスしてプローブの交換時期を
判定することを特徴とする。
【００１３】又、上記医療機器のプローブ管理方法に於
いて、プローブに内蔵された発光素子の発光時間を積算
し保持する記憶手段を本体にもち、これに記憶される使
用時間の積算値が一定値となる度にプローブの記憶手段
を更新することにより本体がこのプローブの記憶手段の
内容をもとに使用プローブの交換時期を判定しプローブ
を管理することを特徴とする。
いて、プローブに内蔵された発光素子の発光時間を積算
し保持する記憶手段を本体にもち、これに記憶される使
用時間の積算値が一定値となる度にプローブの記憶手段
を更新することにより本体がこのプローブの記憶手段の
内容をもとに使用プローブの交換時期を判定しプローブ
を管理することを特徴とする。
【００１４】又、本発明は、計測用の発光素子を内蔵し
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器に於いて、前記プローブに、メモリ
を具備し、前記本体に、前記プローブの発光素子使用時
間を積算する手段と、当該積算結果に従う情報を前記プ
ローブのメモリに書込む手段と、前記プローブのメモリ
より読出した情報をもとに前記プローブの交換時期を判
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器に於いて、前記プローブに、メモリ
を具備し、前記本体に、前記プローブの発光素子使用時
間を積算する手段と、当該積算結果に従う情報を前記プ
ローブのメモリに書込む手段と、前記プローブのメモリ
より読出した情報をもとに前記プローブの交換時期を判
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
【００１５】又、本発明は、計測用の発光素子を内蔵し
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器に於いて、前記プローブに、メモリ
を具備し、前記本体に、前記プローブの発光素子使用時
間を積算する手段と、当該積算結果に従う情報を前記プ
ローブのメモリに書込む手段と、前記プローブのメモリ
より読出した情報をもとに前記プローブの交換時期を判
定する手段と、前記プローブが交換時期に達したことを
判定したとき、プローブ交換のメッセージを表示する手
段とを具備してなることを特徴とする。
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器に於いて、前記プローブに、メモリ
を具備し、前記本体に、前記プローブの発光素子使用時
間を積算する手段と、当該積算結果に従う情報を前記プ
ローブのメモリに書込む手段と、前記プローブのメモリ
より読出した情報をもとに前記プローブの交換時期を判
定する手段と、前記プローブが交換時期に達したことを
判定したとき、プローブ交換のメッセージを表示する手
段とを具備してなることを特徴とする。
【００１６】又、本発明は、計測用の発光素子を内蔵し
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器に於いて、前記プローブに、メモリ
を具備し、前記本体に、前記プローブの発光素子使用時
間を積算する手段と、当該積算結果に従う情報と本体に
固有の情報を前記プローブのメモリに書込む手段と、前
記プローブのメモリより読出した情報をもとに使用プロ
ーブの交換時期を含めプローブを管理する手段とを具備
してなることを特徴とする。
たプローブと、当該プローブを交換可能に接続した本体
とでなる電子測定器に於いて、前記プローブに、メモリ
を具備し、前記本体に、前記プローブの発光素子使用時
間を積算する手段と、当該積算結果に従う情報と本体に
固有の情報を前記プローブのメモリに書込む手段と、前
記プローブのメモリより読出した情報をもとに使用プロ
ーブの交換時期を含めプローブを管理する手段とを具備
してなることを特徴とする。
【００１７】又、本発明は、耐用期間が制限される光学
プローブを交換可能としたパルスオキシメータに於い
て、前記光学プローブに、書換え可能なメモリを設け、
パルスオキシメータ本体に、前記光学プローブを使用し
た使用時間を積算する手段と、この手段により更新され
る使用積算時間及びパルスオキシメータ本体に固有の情
報を前記光学プローブのメモリに書込む手段とを具備
し、前記パルスオキシメータ本体が前記光学プローブの
メモリより読出した情報をもとに当該プローブの耐用時
間を管理することを特徴とする。
プローブを交換可能としたパルスオキシメータに於い
て、前記光学プローブに、書換え可能なメモリを設け、
パルスオキシメータ本体に、前記光学プローブを使用し
た使用時間を積算する手段と、この手段により更新され
る使用積算時間及びパルスオキシメータ本体に固有の情
報を前記光学プローブのメモリに書込む手段とを具備
し、前記パルスオキシメータ本体が前記光学プローブの
メモリより読出した情報をもとに当該プローブの耐用時
間を管理することを特徴とする。
【００１８】又、上記パルスオキシメータに於いて、光
学プローブのメモリに、当該プローブの耐用時間、ラン
ク情報、又は当該プローブに内蔵された計測用光学素子
の特性情報を格納し、パルスオキシメータ本体が光学プ
ローブのメモリより読出した情報をもとに当該光学プロ
ーブの光学素子を動作制御することを特徴とする。
学プローブのメモリに、当該プローブの耐用時間、ラン
ク情報、又は当該プローブに内蔵された計測用光学素子
の特性情報を格納し、パルスオキシメータ本体が光学プ
ローブのメモリより読出した情報をもとに当該光学プロ
ーブの光学素子を動作制御することを特徴とする。
【００１９】又、上記パルスオキシメータに於いて、パ
ルスオキシメータ本体に、接続された光学プローブに固
有の情報、及び当該プローブの使用時間を各々記憶する
手段と、前記各プローブの使用時間が予め定められた一
定時間に達した際に、光学プローブのメモリに記憶され
た積算時間を更新する手段とを具備してなることを特徴
とする。
ルスオキシメータ本体に、接続された光学プローブに固
有の情報、及び当該プローブの使用時間を各々記憶する
手段と、前記各プローブの使用時間が予め定められた一
定時間に達した際に、光学プローブのメモリに記憶され
た積算時間を更新する手段とを具備してなることを特徴
とする。
【００２０】又、上記パルスオキシメータに於いて、パ
ルスオキシメータ本体に、光学プローブのメモリより読
出した情報をもとに当該光学プローブが使用期間を経過
したことを判断し、プローブ交換を報知する手段を具備
してなることを特徴とする。
ルスオキシメータ本体に、光学プローブのメモリより読
出した情報をもとに当該光学プローブが使用期間を経過
したことを判断し、プローブ交換を報知する手段を具備
してなることを特徴とする。
【００２１】又、本発明は、計測用ＬＥＤを備えた光学
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、光
学プローブを交換した後のＬＥＤが発光した使用時間
を、積算計測し、その積算量が規定値を超えたとき、表
示部上にプローブ交換のメッセージを表示するプローブ
管理機能をもつ。
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、光
学プローブを交換した後のＬＥＤが発光した使用時間
を、積算計測し、その積算量が規定値を超えたとき、表
示部上にプローブ交換のメッセージを表示するプローブ
管理機能をもつ。
【００２２】又、本発明は、計測用ＬＥＤを備えた光学
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、上
記光学プローブにはＥＥＰＲＯＭが内蔵され、オキシメ
ータ本体がプローブ使用開始時に当該ＥＥＰＲＯＭにユ
ニークな管理コードを書き込むことを特徴とする。
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、上
記光学プローブにはＥＥＰＲＯＭが内蔵され、オキシメ
ータ本体がプローブ使用開始時に当該ＥＥＰＲＯＭにユ
ニークな管理コードを書き込むことを特徴とする。
【００２３】又、本発明は、計測用ＬＥＤを備えた光学
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、上
記光学プローブにはＥＥＰＲＯＭが内蔵され、当該ＥＥ
ＰＲＯＭ内には、プローブ使用が一定時間を超過した時
のみ積算されるカウンタを持つことを特徴とする。
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、上
記光学プローブにはＥＥＰＲＯＭが内蔵され、当該ＥＥ
ＰＲＯＭ内には、プローブ使用が一定時間を超過した時
のみ積算されるカウンタを持つことを特徴とする。
【００２４】又、本発明は、計測用ＬＥＤを備えた光学
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、上
記光学プローブにはＥＥＰＲＯＭが内蔵され、当該ＥＥ
ＰＲＯＭ内にはプローブ出荷時の初期特性を記録したこ
とを特徴とする。
プローブが交換可能なパルスオキシメータに於いて、上
記光学プローブにはＥＥＰＲＯＭが内蔵され、当該ＥＥ
ＰＲＯＭ内にはプローブ出荷時の初期特性を記録したこ
とを特徴とする。
【００２５】上記したようなプローブの管理機能をもつ
ことにより、常にプローブを耐用期間に達するまで無駄
なく有効に使用でき、経済的に有利な構成とすることが
できる。
ことにより、常にプローブを耐用期間に達するまで無駄
なく有効に使用でき、経済的に有利な構成とすることが
できる。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
形態を説明する。先ず、図１及び図２を参照して本発明
の実施形態を説明する。ここでは、プローブが交換可能
な電子測定器として、ＬＥＤをもつ光学プローブが本体
にコネクタを介して接続され使用される携帯型のパルス
オキシメータ（血中酸素飽和度測定器）を例に採る。
形態を説明する。先ず、図１及び図２を参照して本発明
の実施形態を説明する。ここでは、プローブが交換可能
な電子測定器として、ＬＥＤをもつ光学プローブが本体
にコネクタを介して接続され使用される携帯型のパルス
オキシメータ（血中酸素飽和度測定器）を例に採る。
【００２７】図１は本発明の実施形態に於けるパルスオ
キシメータのこの発明に係る要部の構成を示すブロック
図である。図１に於いて、１０は携帯型のパルスオキシ
メータ本体（ＰＯＸＭ）、２０はこのパルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０にコネクタ（ＣＯＮ）を介して
接続される光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）である。
キシメータのこの発明に係る要部の構成を示すブロック
図である。図１に於いて、１０は携帯型のパルスオキシ
メータ本体（ＰＯＸＭ）、２０はこのパルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０にコネクタ（ＣＯＮ）を介して
接続される光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）である。
【００２８】１１乃至１９はそれぞれパルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０の内部構成要素をなすもので、
１１はオキシメータ全体の制御を司るＣＰＵ、１２はＣ
ＰＵ１１が実行する制御プログラムを格納したＲＯＭで
ある。
タ本体（ＰＯＸＭ）１０の内部構成要素をなすもので、
１１はオキシメータ全体の制御を司るＣＰＵ、１２はＣ
ＰＵ１１が実行する制御プログラムを格納したＲＯＭで
ある。
【００２９】１３はＣＰＵ１１の計測処理等に供される
ＲＡＭであり、ここでは例えば図７に示すようなプロー
ブ管理テーブルの格納領域（Ａ）、図８に示されるプロ
ーブ使用時間等を計測するための内部カウンタ領域
（Ｂ）等が確保される。内部カウンタ領域（Ｂ）はバッ
クアップ電源（図示せず）により、記憶保持されるメモ
リである。
ＲＡＭであり、ここでは例えば図７に示すようなプロー
ブ管理テーブルの格納領域（Ａ）、図８に示されるプロ
ーブ使用時間等を計測するための内部カウンタ領域
（Ｂ）等が確保される。内部カウンタ領域（Ｂ）はバッ
クアップ電源（図示せず）により、記憶保持されるメモ
リである。
【００３０】１４は本体内部のシリアルＥＥＰＲＯＭで
あり、この第１実施形態に於いては、パルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０に固有のユニークなコード（シ
リアル番号）等が格納される。
あり、この第１実施形態に於いては、パルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０に固有のユニークなコード（シ
リアル番号）等が格納される。
【００３１】１５は計測開始の際に操作される押し釦式
の計測スイッチであり、その操作信号が計測開始指示信
号としてＣＰＵ１１に入力される。１６は測定モードを
設定するモードスイッチであり、ａ側接点に接続されて
いるとき連続測定モードが設定され、ｂ側接点に接続さ
れているときは、計測スイッチ１５が操作されたときの
み計測開始が指示される。
の計測スイッチであり、その操作信号が計測開始指示信
号としてＣＰＵ１１に入力される。１６は測定モードを
設定するモードスイッチであり、ａ側接点に接続されて
いるとき連続測定モードが設定され、ｂ側接点に接続さ
れているときは、計測スイッチ１５が操作されたときの
み計測開始が指示される。
【００３２】１７はＣＰＵ１１の制御の下にオキシメー
タの計測に係る各種の表示を行なう、例えば液晶ディス
プレイを用いた表示部（ＤＩＳＰ）であり、ここでは図
１１に示すように、測定された酸素飽和度、及び使用者
に対する各種のメッセージ等を表示する。
タの計測に係る各種の表示を行なう、例えば液晶ディス
プレイを用いた表示部（ＤＩＳＰ）であり、ここでは図
１１に示すように、測定された酸素飽和度、及び使用者
に対する各種のメッセージ等を表示する。
【００３３】１８はＣＰＵ１１の制御の下に光学プロー
ブ（Ｐｒｏｂｅ）２０に設けられたＬＥＤ２１，２２を
発光駆動制御するＬＥＤ発光回路（ＬＥＤ−ＤＲＶ）で
ある。１９は光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０に設けら
れたフォントトランジスタ２３の出力信号を増幅しＡ／
Ｄ変換してＣＰＵ１１に受け渡す、増幅回路、フィル
タ、Ａ／Ｄ変換回路等で構成される増幅回路ユニット
（ＡＭＰＵ）である。
ブ（Ｐｒｏｂｅ）２０に設けられたＬＥＤ２１，２２を
発光駆動制御するＬＥＤ発光回路（ＬＥＤ−ＤＲＶ）で
ある。１９は光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０に設けら
れたフォントトランジスタ２３の出力信号を増幅しＡ／
Ｄ変換してＣＰＵ１１に受け渡す、増幅回路、フィル
タ、Ａ／Ｄ変換回路等で構成される増幅回路ユニット
（ＡＭＰＵ）である。
【００３４】２１乃至２４はそれぞれ光学プローブ（Ｐ
ｒｏｂｅ）２０の内部構成要素をなすもので、２１，２
２は互いに波長を異にする２種の光を放射する計測用の
ＬＥＤであり、図１１に示すプローブの先端部分に内蔵
される。２３はこの計測用ＬＥＤ２１，２２からの透過
光をピックアップするフォントトランジスタであり、図
１１に示すプローブの先端部分に内蔵される。
ｒｏｂｅ）２０の内部構成要素をなすもので、２１，２
２は互いに波長を異にする２種の光を放射する計測用の
ＬＥＤであり、図１１に示すプローブの先端部分に内蔵
される。２３はこの計測用ＬＥＤ２１，２２からの透過
光をピックアップするフォントトランジスタであり、図
１１に示すプローブの先端部分に内蔵される。
【００３５】２４はプローブの使用時間（正確には計測
用ＬＥＤ２１，２２を発光ドライブした時間）の積算デ
ータ、耐用時間等を記憶するシリアルＥＥＰＲＯＭ（Ｅ
２ＰＲＯＭ）であり、ここではシリアルクロック端子、
及びシリアルデータ端子がそれぞれコネクタ（ＣＯＮ）
を介しＣＰＵ１１に接続されて、ＣＰＵ１１によりデー
タのリード／ライトアクセスが行なわれる。
用ＬＥＤ２１，２２を発光ドライブした時間）の積算デ
ータ、耐用時間等を記憶するシリアルＥＥＰＲＯＭ（Ｅ
２ＰＲＯＭ）であり、ここではシリアルクロック端子、
及びシリアルデータ端子がそれぞれコネクタ（ＣＯＮ）
を介しＣＰＵ１１に接続されて、ＣＰＵ１１によりデー
タのリード／ライトアクセスが行なわれる。
【００３６】尚、上記実施形態では、受光素子としてフ
ォトトランジスタを用いているが、フォトダイオードで
も同様の効果が得られる。図２は光学プローブ（Ｐｒｏ
ｂｅ）２０を使用するパルスオキシメータ本体（ＰＯＸ
Ｍ）１０が、そのプローブ使用に先立ち、自己のユニー
クな（本体に固有の）コード（ここではシリアル番号）
を上記光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０内のシリアルＥ
ＥＰＲＯＭ２４に登録する際の処理手順を示すフローチ
ャートである。ここでは、１本のプローブが付け換えさ
れるのは、本体４台までとする。
ォトトランジスタを用いているが、フォトダイオードで
も同様の効果が得られる。図２は光学プローブ（Ｐｒｏ
ｂｅ）２０を使用するパルスオキシメータ本体（ＰＯＸ
Ｍ）１０が、そのプローブ使用に先立ち、自己のユニー
クな（本体に固有の）コード（ここではシリアル番号）
を上記光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０内のシリアルＥ
ＥＰＲＯＭ２４に登録する際の処理手順を示すフローチ
ャートである。ここでは、１本のプローブが付け換えさ
れるのは、本体４台までとする。
【００３７】図４は上記光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２
０に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に積算時間を
書き込む際の処理手順を示すフローチャートであり、こ
こでは光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０を１時間（１
Ｈ）使用する毎にシリアルＥＥＰＲＯＭ２４の積算時間
を更新（インクリメント）する構成として、シリアルＥ
ＥＰＲＯＭ２４の延命化を図っている。
０に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に積算時間を
書き込む際の処理手順を示すフローチャートであり、こ
こでは光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０を１時間（１
Ｈ）使用する毎にシリアルＥＥＰＲＯＭ２４の積算時間
を更新（インクリメント）する構成として、シリアルＥ
ＥＰＲＯＭ２４の延命化を図っている。
【００３８】即ち、シリアルＥＥＰＲＯＭ２４は、その
構造上の特徴からアクセス（書き込み）回数に限界があ
り書き込み可能な回数が制限される。そこでこの実施形
態に於いては書き込み可能回数を極力減らして、シリア
ルＥＥＰＲＯＭ２４の延命化を図るべく、パルスオキシ
メータ本体（ＰＯＸＭ）１０のＲＡＭ１３内に設けた内
部カウンタ（Ｂ）により１時間（１Ｈ）を単位にプロー
ブ使用時間を計測し、１時間（１Ｈ）使用する毎に、シ
リアルＥＥＰＲＯＭ２４をアクセスして積算時間を更新
（インクリメント）する構成としている。
構造上の特徴からアクセス（書き込み）回数に限界があ
り書き込み可能な回数が制限される。そこでこの実施形
態に於いては書き込み可能回数を極力減らして、シリア
ルＥＥＰＲＯＭ２４の延命化を図るべく、パルスオキシ
メータ本体（ＰＯＸＭ）１０のＲＡＭ１３内に設けた内
部カウンタ（Ｂ）により１時間（１Ｈ）を単位にプロー
ブ使用時間を計測し、１時間（１Ｈ）使用する毎に、シ
リアルＥＥＰＲＯＭ２４をアクセスして積算時間を更新
（インクリメント）する構成としている。
【００３９】図５は上記光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２
０に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に格納される
データの構造例を示す図である。ここでは、アドレス０
に、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０を使用した（即ち
計測用ＬＥＤ２１，２２を使用した）積算時間が記憶さ
れる。ここでは、本体１０には、同時に２本のプローブ
を異なるコネクタに接続できるものとする。又、アドレ
ス１〜４に、パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）１０
に固有のユニークなシリアル番号と、プローブコネクタ
番号が記憶される。尚、この実施形態では、プローブコ
ネクタ番号をＰＮＯで示している。
０に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に格納される
データの構造例を示す図である。ここでは、アドレス０
に、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０を使用した（即ち
計測用ＬＥＤ２１，２２を使用した）積算時間が記憶さ
れる。ここでは、本体１０には、同時に２本のプローブ
を異なるコネクタに接続できるものとする。又、アドレ
ス１〜４に、パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）１０
に固有のユニークなシリアル番号と、プローブコネクタ
番号が記憶される。尚、この実施形態では、プローブコ
ネクタ番号をＰＮＯで示している。
【００４０】図６は上記実施形態に於けるプローブ管理
テーブルの格納領域（Ａ）のデータ構造例を示す図、図
７は上記実施形態に於けるプローブ管理テーブルの格納
領域（Ａ）のデータ構造例を示す図、図８は本発明の実
施形態に於けるプローブ使用時間等を計測するための内
部カウンタ領域（Ｂ）のデータ構造例を示す図である。
テーブルの格納領域（Ａ）のデータ構造例を示す図、図
７は上記実施形態に於けるプローブ管理テーブルの格納
領域（Ａ）のデータ構造例を示す図、図８は本発明の実
施形態に於けるプローブ使用時間等を計測するための内
部カウンタ領域（Ｂ）のデータ構造例を示す図である。
【００４１】ここで上記図１乃至図８を参照して本発明
の第１実施形態に於ける動作を説明する。この第１実施
形態では、各パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）が、
複数の光学プローブのうち任意の光学プローブを使用で
き、かつその使用状態を把握するための管理情報を取得
できる機能構成を特徴とする。
の第１実施形態に於ける動作を説明する。この第１実施
形態では、各パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）が、
複数の光学プローブのうち任意の光学プローブを使用で
き、かつその使用状態を把握するための管理情報を取得
できる機能構成を特徴とする。
【００４２】又、第１実施形態では、光学プローブ（Ｐ
ｒｏｂｅ）２０内に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ２
４の延命化を図るべく、パルスオキシメータ本体（ＰＯ
ＸＭ）１０のＲＡＭ１３内に設けた内部カウンタ（Ｂ）
により１時間（１Ｈ）を単位にプローブ使用時間を計測
し、１時間（１Ｈ）使用する毎に、シリアルＥＥＰＲＯ
Ｍ２４をアクセスして積算時間を更新（インクリメン
ト）する構成としている。
ｒｏｂｅ）２０内に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ２
４の延命化を図るべく、パルスオキシメータ本体（ＰＯ
ＸＭ）１０のＲＡＭ１３内に設けた内部カウンタ（Ｂ）
により１時間（１Ｈ）を単位にプローブ使用時間を計測
し、１時間（１Ｈ）使用する毎に、シリアルＥＥＰＲＯ
Ｍ２４をアクセスして積算時間を更新（インクリメン
ト）する構成としている。
【００４３】又、この第１実施形態では、光学プローブ
（Ｐｒｏｂｅ）２０に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ
２４の各データエリアのデータ内容が全て初期時に、Ｆ
ＦＦＦＨ（２Byte all“１”）になっているものとす
る。
（Ｐｒｏｂｅ）２０に設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭ
２４の各データエリアのデータ内容が全て初期時に、Ｆ
ＦＦＦＨ（２Byte all“１”）になっているものとす
る。
【００４４】パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）１０
の計測スイッチ１５が操作されると、ＣＰＵ１１の制御
の下に、オキシメータの計測処理動作が開始される。こ
の際、モードスイッチ１６により、計測スイッチ１５が
操作されたときのみ計測を開始する逐次測定モード、又
は計測スイッチ１５操作後、連続測定を行なう連続測定
モードが設定される。
の計測スイッチ１５が操作されると、ＣＰＵ１１の制御
の下に、オキシメータの計測処理動作が開始される。こ
の際、モードスイッチ１６により、計測スイッチ１５が
操作されたときのみ計測を開始する逐次測定モード、又
は計測スイッチ１５操作後、連続測定を行なう連続測定
モードが設定される。
【００４５】ＣＰＵ１１は、コネクタ（ＣＯＮ）の接地
端子、及びその折り返し信号端子を介して接地レベルの
信号をポート（Ｐ０）に入力すると、パルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０に、コネクタ（ＣＯＮ）を介し
て、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０がコネクタ接続さ
れたことを認識する。
端子、及びその折り返し信号端子を介して接地レベルの
信号をポート（Ｐ０）に入力すると、パルスオキシメー
タ本体（ＰＯＸＭ）１０に、コネクタ（ＣＯＮ）を介し
て、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０がコネクタ接続さ
れたことを認識する。
【００４６】ＣＰＵ１１は光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）
２０がコネクタ接続されていることを認識すると、コネ
クタ（ＣＯＮ）を介して光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２
０に動作用電源を供給し、続いてシリアルＥＥＰＲＯＭ
２４のデータを読出す。
２０がコネクタ接続されていることを認識すると、コネ
クタ（ＣＯＮ）を介して光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２
０に動作用電源を供給し、続いてシリアルＥＥＰＲＯＭ
２４のデータを読出す。
【００４７】この際、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０
が初めて使用されるものとすると、シリアルＥＥＰＲＯ
Ｍ２４のアドレス０，１にはそれぞれＦＦＦＦＨのデー
タが記録されているので、ＣＰＵ１１は、シリアルＥＥ
ＰＲＯＭ２４が初期状態にあることを認識する。
が初めて使用されるものとすると、シリアルＥＥＰＲＯ
Ｍ２４のアドレス０，１にはそれぞれＦＦＦＦＨのデー
タが記録されているので、ＣＰＵ１１は、シリアルＥＥ
ＰＲＯＭ２４が初期状態にあることを認識する。
【００４８】この際、パルスオキシメータ本体（ＰＯＸ
Ｍ）１０が、そのプローブ使用に先立ち、自己のユニー
クな（本体に固有の）コード（ここではシリアル番号）
を上記光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０内のシリアルＥ
ＥＰＲＯＭ２４に登録する際の処理手順を図２に示すフ
ローチャートを参照して説明する。
Ｍ）１０が、そのプローブ使用に先立ち、自己のユニー
クな（本体に固有の）コード（ここではシリアル番号）
を上記光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）２０内のシリアルＥ
ＥＰＲＯＭ２４に登録する際の処理手順を図２に示すフ
ローチャートを参照して説明する。
【００４９】ＣＰＵ１１はシリアルＥＥＰＲＯＭ２４の
アドレス０（Ｅ０）、アドレス１（Ｅ１）をリードアク
セスして、その各データの値を判断する（図２ステップ
Ｃ１〜Ｃ３）。
アドレス０（Ｅ０）、アドレス１（Ｅ１）をリードアク
セスして、その各データの値を判断する（図２ステップ
Ｃ１〜Ｃ３）。
【００５０】ここで、アドレス０，１の各値が初期値Ｆ
ＦＦＦＨであるときは、アドレス０（Ｅ０）にデータ値
「０」を書き込み、更に、アドレス１（Ｅ１）に自己の
ユニークなシリアル番号と、プローブコネクタ番号（Ｐ
ＮＯ＝“１”）を書き込む（図２ステップＣ２〜Ｃ
５）。アドレス０（Ｅ０）がＦＦＦＦＨでありながらア
ドレス１（Ｅ１）がＦＦＦＦＨでない場合はエラー表示
を行う（図２ステップＣ６）。
ＦＦＦＨであるときは、アドレス０（Ｅ０）にデータ値
「０」を書き込み、更に、アドレス１（Ｅ１）に自己の
ユニークなシリアル番号と、プローブコネクタ番号（Ｐ
ＮＯ＝“１”）を書き込む（図２ステップＣ２〜Ｃ
５）。アドレス０（Ｅ０）がＦＦＦＦＨでありながらア
ドレス１（Ｅ１）がＦＦＦＦＨでない場合はエラー表示
を行う（図２ステップＣ６）。
【００５１】又、アドレス１の値が初期値ＦＦＦＦＨで
なく、既に自己のユニークなシリアル番号とＰＮＯがシ
リアルＥＥＰＲＯＭ２４に登録されている場合は、その
登録処理を終了する。
なく、既に自己のユニークなシリアル番号とＰＮＯがシ
リアルＥＥＰＲＯＭ２４に登録されている場合は、その
登録処理を終了する。
【００５２】又、アドレス０の値が初期値ＦＦＦＦＨで
なく、既に他のパルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）１
０が自己のユニークなシリアル番号を登録しているとき
は、次の空き番地領域（初期値ＦＦＦＦＨの領域）であ
るアドレスを順番に探して自己のユニークなシリアル番
号と、プローブコネクタ番号（ＰＮＯ＝“１”）を書き
込む（図２ステップＣ７〜Ｃ１５）。
なく、既に他のパルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）１
０が自己のユニークなシリアル番号を登録しているとき
は、次の空き番地領域（初期値ＦＦＦＦＨの領域）であ
るアドレスを順番に探して自己のユニークなシリアル番
号と、プローブコネクタ番号（ＰＮＯ＝“１”）を書き
込む（図２ステップＣ７〜Ｃ１５）。
【００５３】但し、ここでは登録できるシリアル番号と
ＰＮＯは４組までとする。それ以上登録しようとする
と、プローブの識別番号を記憶するＥ１を除きＥ２〜を
４がリセットされる。
ＰＮＯは４組までとする。それ以上登録しようとする
と、プローブの識別番号を記憶するＥ１を除きＥ２〜を
４がリセットされる。
【００５４】このようにして、自己のユニークなシリア
ル番号をシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に登録した後、この
ＥＥＰＲＯＭ２４に記録されていたプローブの耐用時
間、各素子のランクを読み出して、プローブ管理テーブ
ルの格納領域（Ａ）に格納する（図２ステップＣ２
０）。
ル番号をシリアルＥＥＰＲＯＭ２４に登録した後、この
ＥＥＰＲＯＭ２４に記録されていたプローブの耐用時
間、各素子のランクを読み出して、プローブ管理テーブ
ルの格納領域（Ａ）に格納する（図２ステップＣ２
０）。
【００５５】そして図３、図４で示すように光学プロー
ブ（Ｐｒｏｂｅ）２０の使用時間（即ち、計測用ＬＥＤ
２１，２２を発光ドライブした時間）をＲＡＭ１３内の
内部カウンタ（Ｂ）を用いて計時し、光学プローブ（Ｐ
ｒｏｂｅ）２０を１時間（１Ｈ）使用する毎に、シリア
ルＥＥＰＲＯＭ２４をアクセスしてアドレス０の領域に
格納された積算時間を読み込み、更新（インクリメン
ト）する。そのトータル時間がＥＥＰＲＯＭ２４に記憶
された耐用期間の時間内にあるか否かを判断し、ＥＥＰ
ＲＯＭ２４に記憶された耐用時間を超えた場合はそのこ
とを表示する。
ブ（Ｐｒｏｂｅ）２０の使用時間（即ち、計測用ＬＥＤ
２１，２２を発光ドライブした時間）をＲＡＭ１３内の
内部カウンタ（Ｂ）を用いて計時し、光学プローブ（Ｐ
ｒｏｂｅ）２０を１時間（１Ｈ）使用する毎に、シリア
ルＥＥＰＲＯＭ２４をアクセスしてアドレス０の領域に
格納された積算時間を読み込み、更新（インクリメン
ト）する。そのトータル時間がＥＥＰＲＯＭ２４に記憶
された耐用期間の時間内にあるか否かを判断し、ＥＥＰ
ＲＯＭ２４に記憶された耐用時間を超えた場合はそのこ
とを表示する。
【００５６】本体（ＰＯＸＭ）が任意の光学プローブを
識別するのに、そのプローブが初めて本体に接続された
時にＥ１に登録された、その本体のシリアル番号とＰＮ
Ｏを使い、これをプローブの識別番号とする。そして図
８に示すように、本体は内部カウンタ領域（Ｂ）に接続
されたプローブの識別番号と、それに対応するカウンタ
を登録する。
識別するのに、そのプローブが初めて本体に接続された
時にＥ１に登録された、その本体のシリアル番号とＰＮ
Ｏを使い、これをプローブの識別番号とする。そして図
８に示すように、本体は内部カウンタ領域（Ｂ）に接続
されたプローブの識別番号と、それに対応するカウンタ
を登録する。
【００５７】例えば、本体が新品で、内部カウンタ領域
（Ｂ）が全てＦＦＦＦＨである場合、プローブを接続す
ると、内部カウンタ領域Ｂ０にプローブ識別番号が登録
され、Ｂ１をこれに対応するカウンタとし、カウンタの
値を００００Ｈとする（図３ステップＤ１〜Ｄ６）。
（Ｂ）が全てＦＦＦＦＨである場合、プローブを接続す
ると、内部カウンタ領域Ｂ０にプローブ識別番号が登録
され、Ｂ１をこれに対応するカウンタとし、カウンタの
値を００００Ｈとする（図３ステップＤ１〜Ｄ６）。
【００５８】次に他の使用したプローブを接続すると、
Ｂ０はもうＦＦＦＦＨでないので、Ｂ０とＥ１を比較し
て、同じであるかを判断し、異なっていれば次のＢ２を
チャックし、これがＦＦＦＦＨならばＢ２にこのブロー
部の識別番号を登録し、Ｂ３をこのプローブのカウンタ
とする。
Ｂ０はもうＦＦＦＦＨでないので、Ｂ０とＥ１を比較し
て、同じであるかを判断し、異なっていれば次のＢ２を
チャックし、これがＦＦＦＦＨならばＢ２にこのブロー
部の識別番号を登録し、Ｂ３をこのプローブのカウンタ
とする。
【００５９】又、Ｂ２がＦＦＦＦＨでなく、かつ、Ｅ１
と異なる場合は、Ｂ４をチェックし、これがＥ１と同じ
ならＢ５をカウンタとする。ここでは、４個までのプロ
ーブ識別番号が登録され、これ以上登録しようとする
と、Ｂに登録されたすべての識別番号がリセットされる
（図３ステップＤ３〜Ｄ６、Ｄ１５〜Ｄ２２）。
と異なる場合は、Ｂ４をチェックし、これがＥ１と同じ
ならＢ５をカウンタとする。ここでは、４個までのプロ
ーブ識別番号が登録され、これ以上登録しようとする
と、Ｂに登録されたすべての識別番号がリセットされる
（図３ステップＤ３〜Ｄ６、Ｄ１５〜Ｄ２２）。
【００６０】プローブの使用時間を内部カウンタ領域の
その識別番号に対応するカウンタで計測し、１時間（１
Ｈ）の計時を行うと（図４ステップＤ７〜Ｄ１０）、プ
ローブのＥＥＰＲＯＭ２４のアドレス０（Ｅ０）に格納
された積算時間を更新（インクリメン）し、対応するカ
ウンタを００００Ｈとする（図４ステップＤ１１、Ｄ１
２）。
その識別番号に対応するカウンタで計測し、１時間（１
Ｈ）の計時を行うと（図４ステップＤ７〜Ｄ１０）、プ
ローブのＥＥＰＲＯＭ２４のアドレス０（Ｅ０）に格納
された積算時間を更新（インクリメン）し、対応するカ
ウンタを００００Ｈとする（図４ステップＤ１１、Ｄ１
２）。
【００６１】そして、この積算時間がＥＥＰＲＯＭ２４
に記憶された耐用時間を超えた場合は、そのことを表示
部（ＤＩＳＰ）１７に表示する（図４ステップＤ１３、
Ｄ１４）。
に記憶された耐用時間を超えた場合は、そのことを表示
部（ＤＩＳＰ）１７に表示する（図４ステップＤ１３、
Ｄ１４）。
【００６２】このように、内部カウンタ（Ｂ）を複数設
けることによって、使用する光学プローブ（Ｐｒｏｂ
ｅ）２０を変えても、その各プローブの使用時間を管理
することができる。
けることによって、使用する光学プローブ（Ｐｒｏｂ
ｅ）２０を変えても、その各プローブの使用時間を管理
することができる。
【００６３】上記した積算時間の更新処理に於いて、シ
リアルＥＥＰＲＯＭ２４内のアドレス０の領域に格納さ
れた積算時間を更新（インクリメント）し、そのトータ
ル時間がＥＥＰＲＯＭに記憶された耐用時間内にあるか
否か（使用限界（寿命）に達したか否か）を判断した際
に、ＥＥＰＲＯＭ２４に記憶された耐用時間に達してい
るときは、図１２に示すように表示部（ＤＩＳＰ）１７
にプローブ交換メッセージ（現在の使用プローブが使用
限界（寿命）に達したことを報知するメッセージ）を表
示する。この際、ブザー等により、表示に合わせて現在
の使用プローブが使用限界に達したことを報知すること
も可能である。
リアルＥＥＰＲＯＭ２４内のアドレス０の領域に格納さ
れた積算時間を更新（インクリメント）し、そのトータ
ル時間がＥＥＰＲＯＭに記憶された耐用時間内にあるか
否か（使用限界（寿命）に達したか否か）を判断した際
に、ＥＥＰＲＯＭ２４に記憶された耐用時間に達してい
るときは、図１２に示すように表示部（ＤＩＳＰ）１７
にプローブ交換メッセージ（現在の使用プローブが使用
限界（寿命）に達したことを報知するメッセージ）を表
示する。この際、ブザー等により、表示に合わせて現在
の使用プローブが使用限界に達したことを報知すること
も可能である。
【００６４】このようにして、常にプローブを耐用時間
に達するまで無駄なく有効に使用できる経済的に有利な
構成としたパルスオキシメータが提供できる。次に、図
９を参照して本発明の他の第１実施形態を説明する。こ
こでは、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）内のシリアルＥＥ
ＰＲＯＭに、図９に示すように、複数の本体のシリアル
番号各々につき独立した積算時間（積算数）の領域をも
たせて、オキシメータ本体別に使用時間を管理できる構
成としたもので、各パルスオキシメータ本体毎の積算時
間（積算数）の和を求めることにより、そのプローブが
使用限界に達したか否かを判定することができ、更に、
プローブの使い回し頻度等、使用状況の分析が可能とな
り、市場での品質分析等に活用できることから、製品の
品質向上に寄与できる。
に達するまで無駄なく有効に使用できる経済的に有利な
構成としたパルスオキシメータが提供できる。次に、図
９を参照して本発明の他の第１実施形態を説明する。こ
こでは、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）内のシリアルＥＥ
ＰＲＯＭに、図９に示すように、複数の本体のシリアル
番号各々につき独立した積算時間（積算数）の領域をも
たせて、オキシメータ本体別に使用時間を管理できる構
成としたもので、各パルスオキシメータ本体毎の積算時
間（積算数）の和を求めることにより、そのプローブが
使用限界に達したか否かを判定することができ、更に、
プローブの使い回し頻度等、使用状況の分析が可能とな
り、市場での品質分析等に活用できることから、製品の
品質向上に寄与できる。
【００６５】次に、図３、図６、図７及び図１０を参照
して本発明の他の第２実施形態を説明する。ここでは、
パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）が、使用する光学
プローブ（Ｐｒｏｂｅ）の特性を認識して、その認識し
た特性に適合して光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）を動作制
御する。
して本発明の他の第２実施形態を説明する。ここでは、
パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）が、使用する光学
プローブ（Ｐｒｏｂｅ）の特性を認識して、その認識し
た特性に適合して光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）を動作制
御する。
【００６６】即ち、通常、プローブのＬＥＤ、及びフォ
ントトランジスタ等の計測用半導体素子の特性は、生産
ロットによる光量（ＬＥＤ）、及び感度（フォントトラ
ンジスタ）のばらつきが、生産ロットにより発生してし
まう。
ントトランジスタ等の計測用半導体素子の特性は、生産
ロットによる光量（ＬＥＤ）、及び感度（フォントトラ
ンジスタ）のばらつきが、生産ロットにより発生してし
まう。
【００６７】そこで、この実施形態では、フォントトラ
ンジスタの感度、ＬＥＤの光量を生産時に測定し、それ
ぞれのランクを、Ａ、Ｂ、Ｃのように段階分けし、プロ
ーブ内のシリアルＥＥＰＲＯＭに書き込んで出荷する。
そしてパルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）が、光学プ
ローブ（Ｐｒｏｂｅ）を用いた測定時に、当該プローブ
のシリアルＥＥＰＲＯＭに格納されたランクデータ（Ａ
／Ｂ／Ｃ）を読み、管理テーブルＡに格納しそのランク
に応じて上記ＬＥＤ、及びフォントトランジスタ等の計
測用半導体素子のドライブ電流、増幅率等を補正するこ
とで、精度の高いパルスオキシメータを生産することが
でき、かつプローブの歩留りを上げることが可能にな
る。又、プローブの耐用時間もこのＥＥＰＲＯＭに書き
込んで出荷され管理テーブルに格納される。
ンジスタの感度、ＬＥＤの光量を生産時に測定し、それ
ぞれのランクを、Ａ、Ｂ、Ｃのように段階分けし、プロ
ーブ内のシリアルＥＥＰＲＯＭに書き込んで出荷する。
そしてパルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）が、光学プ
ローブ（Ｐｒｏｂｅ）を用いた測定時に、当該プローブ
のシリアルＥＥＰＲＯＭに格納されたランクデータ（Ａ
／Ｂ／Ｃ）を読み、管理テーブルＡに格納しそのランク
に応じて上記ＬＥＤ、及びフォントトランジスタ等の計
測用半導体素子のドライブ電流、増幅率等を補正するこ
とで、精度の高いパルスオキシメータを生産することが
でき、かつプローブの歩留りを上げることが可能にな
る。又、プローブの耐用時間もこのＥＥＰＲＯＭに書き
込んで出荷され管理テーブルに格納される。
【００６８】この際の計測用半導体素子のドライブ回路
の構成例を図１０に示し、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）
内のシリアルＥＥＰＲＯＭに格納したランクデータの構
成例を図６に、管理テーブルＡに格納したランクデータ
の構成例を図７に示す。
の構成例を図１０に示し、光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）
内のシリアルＥＥＰＲＯＭに格納したランクデータの構
成例を図６に、管理テーブルＡに格納したランクデータ
の構成例を図７に示す。
【００６９】図１０に示す、パルスオキシメータ本体
（ＰＯＸＭ）内のＣＰＵ１１は、コネクタに接続された
使用対象となる光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）内のシリア
ルＥＥＰＲＯＭから読み出され、管理テーブルＡに格納
された図７に示すランクデータを読み、その内容に従う
ドライブ制御データを出力する。このＣＰＵ１１から出
力されたドライブ制御データをデコーダ３１でデコード
してＬＥＤ−Ａ，ＬＥＤ−Ｂの各ドライブ電流を当該各
ＬＥＤの特性に合わせて選択する。又、フォトトランジ
スタの感度のランクによって、増幅回路ユニット１９の
増幅率を選択する。
（ＰＯＸＭ）内のＣＰＵ１１は、コネクタに接続された
使用対象となる光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）内のシリア
ルＥＥＰＲＯＭから読み出され、管理テーブルＡに格納
された図７に示すランクデータを読み、その内容に従う
ドライブ制御データを出力する。このＣＰＵ１１から出
力されたドライブ制御データをデコーダ３１でデコード
してＬＥＤ−Ａ，ＬＥＤ−Ｂの各ドライブ電流を当該各
ＬＥＤの特性に合わせて選択する。又、フォトトランジ
スタの感度のランクによって、増幅回路ユニット１９の
増幅率を選択する。
【００７０】上記したような実施形態の機能により、光
学プローブの寿命管理を行なうことで、約２０００時間
持つと言われている光学プローブを、使用頻度が非常に
低い使用者でも効率よく使用できるため経済的に非常に
有利となる。
学プローブの寿命管理を行なうことで、約２０００時間
持つと言われている光学プローブを、使用頻度が非常に
低い使用者でも効率よく使用できるため経済的に非常に
有利となる。
【００７１】又、プローブの使い回しによる、寿命の算
定精度が高く、使用者に適切にプローブ交換を促すこと
ができるため、使用者（管理者）が使用可能期間を意識
する必要が無く、全ての使用者（管理者）が簡易にパル
スオキシメータを使用できる。
定精度が高く、使用者に適切にプローブ交換を促すこと
ができるため、使用者（管理者）が使用可能期間を意識
する必要が無く、全ての使用者（管理者）が簡易にパル
スオキシメータを使用できる。
【００７２】尚、上記した実施形態に於いては携帯型の
パルスオキシメータを例にとったが、それ以外のプロー
ブが交換可能な各種の電子測定器に適用できる。又、上
記した実施形態に於いては、プローブが本体にコネクタ
接続される構成としているが、このコネクタ接続には、
例えばプラグ、圧着等による各種の回路結合手段が含ま
れる。
パルスオキシメータを例にとったが、それ以外のプロー
ブが交換可能な各種の電子測定器に適用できる。又、上
記した実施形態に於いては、プローブが本体にコネクタ
接続される構成としているが、このコネクタ接続には、
例えばプラグ、圧着等による各種の回路結合手段が含ま
れる。
【００７３】又、上記した実施形態に於いては、光学プ
ローブ（Ｐｒｏｂｅ）内にシリアルＥＥＰＲＯＭを設け
た構成を例示したが、シリアルＥＥＰＲＯＭに代わり他
の不揮発性メモリを用いる構成であってもよい。
ローブ（Ｐｒｏｂｅ）内にシリアルＥＥＰＲＯＭを設け
た構成を例示したが、シリアルＥＥＰＲＯＭに代わり他
の不揮発性メモリを用いる構成であってもよい。
【００７４】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、プ
ローブが交換可能な電子測定器等の装置本体にプローブ
使用に関するプローブ管理機能をもたせたことにより、
常にプローブを耐用期間に達するまで無駄なく有効に使
用できる経済的に有利な構成のプローブが交換可能な電
子測定器、及びプローブが交換可能な装置のプローブ管
理方法が提供できる。
ローブが交換可能な電子測定器等の装置本体にプローブ
使用に関するプローブ管理機能をもたせたことにより、
常にプローブを耐用期間に達するまで無駄なく有効に使
用できる経済的に有利な構成のプローブが交換可能な電
子測定器、及びプローブが交換可能な装置のプローブ管
理方法が提供できる。
【００７５】更に、本発明の光学プローブの寿命管理を
行なうことにより、約２０００時間持つと言われている
光学プローブを、使用頻度が非常に低い使用者でも効率
よく使用できるため経済的に非常に有利な構成とするこ
とができる。又、プローブの使い回しによる、寿命の算
定精度が高く、使用者に適切にプローブ交換を促すこと
ができるため、使用者（管理者）が使用可能期間を意識
する必要が無く、全ての使用者（管理者）が簡易にパル
スオキシメータを使用できる。
行なうことにより、約２０００時間持つと言われている
光学プローブを、使用頻度が非常に低い使用者でも効率
よく使用できるため経済的に非常に有利な構成とするこ
とができる。又、プローブの使い回しによる、寿命の算
定精度が高く、使用者に適切にプローブ交換を促すこと
ができるため、使用者（管理者）が使用可能期間を意識
する必要が無く、全ての使用者（管理者）が簡易にパル
スオキシメータを使用できる。
【００７６】また、プローブに内蔵された計測用素子の
特性情報を不揮発性のメモリに格納し、それを読み出し
て、その特性に合わせて、動作制御することで、制度を
高め、かつプローブの歩留りをあげることができる。
特性情報を不揮発性のメモリに格納し、それを読み出し
て、その特性に合わせて、動作制御することで、制度を
高め、かつプローブの歩留りをあげることができる。
【図１】本発明の実施形態に於けるパルスオキシメータ
のこの発明に係る要部の構成を示すブロック図。
のこの発明に係る要部の構成を示すブロック図。
【図２】上記実施形態に於いて、パルスオキシメータ本
体がプローブ使用に先立ち、自己のユニークなシリアル
番号を光学プローブ内のシリアルＥＥＰＲＯＭに登録す
る際の処理手順を示すフローチャート。
体がプローブ使用に先立ち、自己のユニークなシリアル
番号を光学プローブ内のシリアルＥＥＰＲＯＭに登録す
る際の処理手順を示すフローチャート。
【図３】上記実施形態に於いて、光学プローブに設けら
れたシリアルＥＥＰＲＯＭに積算時間を書き込む際の処
理手順を示すフローチャート。
れたシリアルＥＥＰＲＯＭに積算時間を書き込む際の処
理手順を示すフローチャート。
【図４】上記実施形態に於いて、光学プローブに設けら
れたシリアルＥＥＰＲＯＭに積算時間を書き込む際の処
理手順を示すフローチャート。
れたシリアルＥＥＰＲＯＭに積算時間を書き込む際の処
理手順を示すフローチャート。
【図５】上記実施形態に於ける、光学プローブに設けら
れたシリアルＥＥＰＲＯＭのデータ構造例を示す図。
れたシリアルＥＥＰＲＯＭのデータ構造例を示す図。
【図６】上記実施形態に於ける、プローブ管理テーブル
の格納領域（Ａ）のデータ構造例を示す図。
の格納領域（Ａ）のデータ構造例を示す図。
【図７】上記実施形態に於ける、プローブ管理テーブル
の格納領域（Ａ）のデータ構造例を示す図。
の格納領域（Ａ）のデータ構造例を示す図。
【図８】本発明の実施形態に於ける、プローブ使用時間
等を計測するための内部カウンタ領域（Ｂ）のデータ構
造例を示す図。
等を計測するための内部カウンタ領域（Ｂ）のデータ構
造例を示す図。
【図９】本発明の他の第１実施形態に於ける、光学プロ
ーブに設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭのアドレスマッ
プを示す図。
ーブに設けられたシリアルＥＥＰＲＯＭのアドレスマッ
プを示す図。
【図１０】本発明の他の第２実施形態を説明するための
具体的な回路構成例を示す図。
具体的な回路構成例を示す図。
【図１１】本発明で対象とするパルスオキシメータの外
観構成例を示す図。
観構成例を示す図。
【図１２】本発明で対象とするパルスオキシメータの外
観構成例を示す図。
観構成例を示す図。
１０…パルスオキシメータ本体（ＰＯＸＭ）、 １１…ＣＰＵ、 １２…ＲＯＭ、 １３…ＲＡＭ、 １４…シリアルＥＥＰＲＯＭ、 １５…計測スイッチ、 １６…モードスイッチ、 １７…表示部（ＤＩＳＰ）、 １８…ＬＥＤ発光回路（ＬＥＤ−ＤＲＶ）、 １９…増幅回路ユニット（ＡＭＰＵ）、 ２０…光学プローブ（Ｐｒｏｂｅ）、 ２１…計測用ＬＥＤ、 ２２…計測用ＬＥＤ、 ２３…フォントトランジスタ、 ２４…シリアルＥＥＰＲＯＭ（Ｅ２ＰＲＯＭ）。
Claims (12)
- 【請求項１】 プローブが交換可能な電子測定器のプロ
ーブ管理方法に於いて、前記プローブに、装置本体より
アクセス可能な記憶手段を設け、前記装置本体が前記プ
ローブの使用時間に応じて前記記憶手段の内容を更新
し、保持して、前記記憶手段よりプローブ交換の時期を
判定するための情報を取得するようにしたことを特徴と
するプローブ管理方法。 - 【請求項２】 計測用の発光素子を内蔵したプローブ
と、当該プローブを交換可能に接続した本体とでなる電
子測定器のプローブ管理方法に於いて、前記プローブに
内蔵された発光素子の使用時間を積算し、当該積算時間
をもとにプローブの交換時期を判定することを特徴とす
るプローブ管理方法。 - 【請求項３】 前記発光素子の使用時間を積算し保持す
る記憶手段をプローブにもち、本体がプローブに設けた
記憶手段をアクセスしてプローブの交換時期を判定する
請求項２記載のプローブ管理方法。 - 【請求項４】 プローブに内蔵された発光素子の発光時
間を積算し保持する記憶手段を本体にもち、これに記憶
される使用時間の積算値が一定値となる度に、プローブ
の記憶手段を更新することにより本体が前記プローブの
記憶手段の内容をもとに使用プローブの交換時期を判定
しプローブを管理する請求項２記載のプローブ管理方
法。 - 【請求項５】 計測用の発光素子を内蔵したプローブ
と、当該プローブを交換可能に接続した本体とでなる電
子測定器に於いて、 前記プローブに、メモリを具備し、 前記本体に、前記プローブの発光素子使用時間を積算す
る手段と、当該積算結果に従う情報を前記プローブのメ
モリに書込む手段と、前記プローブのメモリより読出し
た情報をもとに前記プローブの交換時期を判定する手段
とを具備してなることを特徴とするプローブが交換可能
な電子測定器。 - 【請求項６】 計測用の発光素子を内蔵したプローブ
と、当該プローブを交換可能に接続した本体とでなる電
子測定器に於いて、 前記プローブに、メモリを具備し、 前記本体に、前記プローブの発光素子使用時間を積算す
る手段と、当該積算結果に従う情報を前記プローブのメ
モリに書込む手段と、前記プローブのメモリより読出し
た情報をもとに前記プローブの交換時期を判定する手段
と、 前記プローブが交換時期に達したことを判定したとき、
プローブ交換のメッセージを表示する手段とを具備して
なることを特徴とするプローブが交換可能な電子測定
器。 - 【請求項７】 計測用の発光素子を内蔵したプローブ
と、当該プローブを交換可能に接続した本体とでなる電
子測定器に於いて、 前記プローブに、メモリを具備し、 前記本体に、前記プローブの発光素子使用時間を積算す
る手段と、当該積算結果に従う情報と前記本体に固有の
情報とを前記プローブのメモリに書込む手段と、前記プ
ローブのメモリより読出した情報をもとに使用プローブ
の交換時期を含めプローブを管理する手段とを具備して
なることを特徴とするプローブが交換可能な電子測定
器。 - 【請求項８】 プローブに設けたメモリに、内蔵計測用
素子の特性情報を格納した請求項５又は６又は７記載の
プローブが交換可能な電子測定器。 - 【請求項９】 耐用期間が制限される光学プローブを交
換可能としたパルスオキシメータに於いて、 前記光学プローブに、書換え可能なメモリを設け、 パルスオキシメータ本体に、前記光学プローブを使用し
た使用時間を積算する手段と、この手段により更新され
る使用積算時間及びパルスオキシメータ本体に固有の情
報を前記光学プローブのメモリに書込む手段とを具備
し、 前記パルスオキシメータ本体が前記光学プローブのメモ
リより読出した情報をもとに当該プローブの耐用期間を
管理することを特徴とするパルスオキシメータ。 - 【請求項１０】 光学プローブのメモリに、当該プロー
ブの耐用時間、ランク情報、又は当該プローブに内蔵さ
れた計測用光学素子の特性情報を格納し、パルスオキシ
メータ本体が光学プローブのメモリより読出した情報を
もとに当該光学プローブの光学素子を動作制御する請求
項９記載のパルスオキシメータ。 - 【請求項１１】 パルスオキシメータ本体に、 接続された光学プローブに固有の情報、及び当該プロー
ブの使用時間を各々記憶する手段と、 前記各プローブの使用時間が予め定められた一定時間に
達した際に、光学プローブのメモリに記憶された積算時
間を更新する手段とを具備してなることを特徴とする請
求項９又は１０記載のパルスオキシメータ。 - 【請求項１２】 パルスオキシメータ本体に、光学プロ
ーブのメモリより読出した情報をもとに当該光学プロー
ブが耐用期間を経過したことを判断し、プローブ交換を
報知する手段を具備してなる請求項９又は１０又は１１
記載のパルスオキシメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9129922A JPH10314149A (ja) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | プローブが交換可能な電気測定器及びプローブ管理方法及びパルスオキシメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9129922A JPH10314149A (ja) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | プローブが交換可能な電気測定器及びプローブ管理方法及びパルスオキシメータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10314149A true JPH10314149A (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=15021731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9129922A Pending JPH10314149A (ja) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | プローブが交換可能な電気測定器及びプローブ管理方法及びパルスオキシメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10314149A (ja) |
Cited By (13)
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-
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- 1997-05-20 JP JP9129922A patent/JPH10314149A/ja active Pending
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