JPH10307206A - 偏光板の製造方法 - Google Patents

偏光板の製造方法

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JPH10307206A
JPH10307206A JP11541797A JP11541797A JPH10307206A JP H10307206 A JPH10307206 A JP H10307206A JP 11541797 A JP11541797 A JP 11541797A JP 11541797 A JP11541797 A JP 11541797A JP H10307206 A JPH10307206 A JP H10307206A
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polarizer
film
polarizing plate
manufacturing
plate according
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JP11541797A
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Hideo Yamanaka
英雄 山中
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Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 異物や欠陥の検査を容易にかつ信頼性の高い
ものとし、これにより異物や欠陥の見逃しによる後工程
への不良流出率を低くし得る、偏光板の製造方法の提供
が望まれている。 【解決手段】 偏光体5の一方の面上に粘着剤7を介し
て離型フィルム8が貼合され、他方の面上に保護フィル
ム6cが貼合されてなる偏光板の製造方法である。少な
くとも保護フィルム6cが偏光体5に付着していない状
態で、偏光体5の異物欠陥検査を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置など
に用いられる偏光板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の偏光板の製造方法として
は、例えば図2(a)〜(f)に示す方法が知られてい
る。この製造方法は、反射防止膜を備えた偏光板の製造
方法であり、まず、図2(a)に示すように偏光子の保
護層である透明の三酢酸セルロースフィルム(以下、T
ACフィルムと称する)1aと、透明アクリル系樹脂で
ハードコート処理してハードコート膜2を形成した別の
TACフィルム1bとを用意し、さらに、1軸延伸した
ポリビニルアルコールに包接された多ヨウ素イオンで構
成されたヨウ素系の偏光子3、あるいは1軸延伸したポ
リビニルアルコールにその親和力で結合した水溶性2色
性染料から構成された染料系の偏光子3を用意する。な
お、これらTACフィルム1a、ハードコート膜2を形
成したTACフィルム1b、偏光子3は、いずれもロー
ル状に巻かれた形態で用意される。
【0003】次に、図2(b)に示すように、偏光子3
をTACフィルム1a、1bで挟着した状態にこれらを
加圧貼合し、偏光板本体4を形成する。なお、この偏光
板本体4において、TACフィルム1a、偏光子3、T
ACフィルム1bの三層からなる構造体を偏光体5とす
る。続いて、図2(c)に示すように得られた偏光板本
体4における、TACフィルム1a側の面に保護フィル
ム6aを貼合するとともに、TACフィルム1b側のハ
ードコート膜2上に保護フィルム6bを貼合する。
【0004】次いで、図2(d)に示すようにTACフ
ィルム1a側の保護膜フィルム6aを剥離し、さらにこ
のTACフィルム1a側の面に粘着剤7をコートした離
型フィルム8を貼合して、製造する偏光板の中間体9を
得る。続いて、このようにして形成した偏光板の中間体
9を所定寸法、例えば200×200(mm)に切断
し、シート(図示略)とする。次いで、このシートにお
けるハードコート膜2側の保護フィルム6bを剥離し、
露出したハードコート膜2の上に、図2(e)に示すよ
うに反射防止膜(Anti-Reflection ;以下、AR膜と称
する)10を蒸着法等によって形成する。
【0005】このようにしてAR膜10を形成したら、
これまでの工程において異物が混入したり欠陥が生じて
いないかを検査する。この検査、すなわち異物欠陥検査
では、ハードコート膜2のクラック、ハードコート膜2
中への異物混入による欠陥、偏光子3内への異物混入、
TACフィルム1aや1b内への異物混入、偏光子3と
TACフィルム1a(1b)との間への異物混入、ハー
ドコート膜2とAR膜10との間への異物混入などの有
無を調べる。また、このような異物欠陥検査を行うにあ
たっては、適当な光量および色の反射光と透過光を用
い、これを被検査品に照射して前記の欠陥や異物混入の
有無といった不良品目の検査を裸眼や顕微鏡などで行
い、欠陥や異物が検出された箇所を油性インク等でマー
キングする。
【0006】次いで、図2(f)に示すように、AR膜
10の上に保護フィルム6cを貼合し、さらに得られた
中間体(図示略)を所定寸法の短冊サイズあるいはチッ
プサイズ、例えば22.5×32.5(mm)に切断す
る。そして、得られた短冊サイズあるいはチップサイズ
の中間体(図示略)の中から先の異物欠陥検査でマーキ
ングされた箇所があるものを取り除き、残りの中間体に
ついて切断面や異物、欠陥等の最終検査を行い、この検
査に合格したものによって最終的に偏光板を得る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな製造方法においては以下に述べる不都合がある。異
物欠陥検査を行う際、図2(e)に示した被検査品には
離型フィルム8が貼合されているため、この離型フィル
ム8によって検査に用いた反射光や透過光が散乱し、偏
光体5中の異物や欠陥が検出されにくくなり、このため
異物や欠陥の見逃しによる後工程への不良品流出率が高
くなってしまう。すなわち、離型フィルム8は通常PE
T(ポリエチレンテレフタレート)フィルムからなって
いるため、その製造工程中に欠陥やキズなどが生じてそ
のまま残っており、これによって反射光や透過光が散乱
して見にくくなる。また、PETフィルム中の異物や欠
陥と偏光体5中の異物や欠陥との区別がつかない。
【0008】また、被検査品にはハードコート膜2やA
R膜10が形成されているため、これらの膜2、10と
偏光フィルム5や離型フィルム8との間の熱膨張係数の
差による圧縮応力により、AR膜10の外面側が凹状に
なるように被検査品が撓んでしまう。すると、この被検
査品は例えば200×200mmといったサイズのシー
トであるため、特に反射光および透過光を照射した場合
にこれら光が適正な角度で照射されない部分が生じ、こ
れにより検査がしにくくなって異物や欠陥の見逃しによ
る後工程への不良流出率が高くなってしまう。
【0009】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、異物や欠陥の検査を容易
にかつ信頼性の高いものとし、これにより異物や欠陥の
見逃しによる後工程への不良流出率を低くし得る、偏光
板の製造方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の偏光板の製造方
法では、偏光体の一方の面上に粘着剤を介して離型フィ
ルムが貼合され、他方の面上に保護フィルムが貼合され
てなる偏光板を製造するに際し、少なくとも前記保護フ
ィルムが付着していない状態で前記偏光体の異物欠陥検
査を行うことを前記課題の解決手段とした。
【0011】この偏光板の製造方法によれば、少なくと
も保護フィルムが偏光体に付着していない状態で該偏光
体の異物欠陥検査を行うので、保護フィルムによる光の
散乱がなく、さらには離型フィルムもなくせばこれによ
る光の散乱もなく、したがってこのような光の散乱によ
り異物や欠陥が検出されにくくなることが防がれる。
【0012】なお、前記偏光板が、偏光体にハードコー
ト膜、さらには反射防止膜を設けたものである場合に
は、前記偏光体の異物欠陥検査を、これらハードコート
膜、反射防止膜が形成された状態で行う。このようにし
て異物欠陥検査を行えば、ハードコート膜、反射防止膜
をも含めた異物や欠陥の検査を行うことができる。ま
た、前記偏光体の異物欠陥検査を、フラット化治具を用
いて偏光体を平坦な状態にして行えば、偏光体に設けら
れたハードコート膜などが圧縮応力によって凹状に撓ん
でいても、これを平坦化することによって透過光や反射
光を全体に適正な角度で照射することが可能になり、こ
れにより検査が容易になってその信頼性が高まる。さら
に、フラット化治具に、偏光体の検査エリアを区分する
区分手段、例えば糸状のマークを設けることで検査エリ
アが明瞭となり、確実な検査が行えることにより検査漏
れが低減し、その品質と信頼性が高まる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の偏光板の製造方法
を詳しく説明する。図1(a)〜(h)は本発明の偏光
板の製造方法を、主に液晶表示装置に用いられる、反射
防止膜を備えた偏光板の製造方法に適用した場合の一実
施形態例を説明するための図である。なお、図1(a)
〜(h)において図2(a)〜(f)に示した構成要素
と同一の構成要素には、同一の符号を付している。
【0014】まず、従来と同様にして、図1(a)に示
すように厚さ75μm程度の透明のTACフィルム(保
護層)1aと、ハードコート膜2を形成した別のTAC
フィルム(保護層)1bとを用意し、さらに、ポリビニ
ルアルコールからなる偏光子3を用意する。ここで、偏
光子3は、所定条件で1軸延伸したポリビニルアルコー
ル(PVA)をヨウ素または染料で染色し、これに偏光
特性を付与したものである。
【0015】次に、従来と同様にして、図1(b)に示
すように偏光子3をTACフィルム1a、1bで挟着し
た状態にこれらを加圧貼合し、偏光体5を形成すると同
時に偏光板本体4を形成する。続いて、図1(c)に示
すように得られた偏光板本体4における、TACフィル
ム1a側の面に保護フィルム6aを貼合するとともに、
TACフィルム1b側のハードコート膜2上に保護フィ
ルム6bを貼合し、偏光板の中間体12を形成する。こ
こで、保護フィルム6a、6bとしては、接着剤付きの
PETフィルム、あるいは粘着テープが用いられる。
【0016】次いで、この偏光板の中間体12を所定寸
法、例えばA4サイズや200×200(mm)に切断
し、シート(図示略)とする。続いて、このシートにお
けるハードコート膜2側の保護フィルム6bを剥離し、
露出したハードコート膜2の上に、図1(d)に示すよ
うにAR膜10を形成する。ここで、AR膜10につい
ては、各種の屈折率を有する無機化合物、例えばSiO
2 、TiO2 、ZrO2 などを0.1〜0.2μm程度
の厚さ、すなわち1/4波長厚に蒸着形成し、さらにこ
れを複数層に積層して形成するか、あるいは、低屈折率
有機バインダーポリマーを積層コーティングして形成す
る。
【0017】このようにしてAR膜10を形成したら、
図1(e)に示すようにTACフィルム1a側の保護フ
ィルム6aを剥離し、この状態で、これまでの工程にお
いて異物が混入したり欠陥が生じていないかを検査す
る。この異物欠陥検査では、従来と同様にハードコート
膜2のクラック、ハードコート膜2中への異物混入によ
る欠陥、偏光子3内への異物混入、TACフィルム1a
や1b内への異物混入、偏光子3とTACフィルム1a
(1b)との間への異物混入、ハードコート膜2とAR
膜10との間への異物混入などの有無を調べる。また、
このような異物欠陥検査を行うにあたっては、図1
(e)中矢印で示すように、適当な光量と角度および色
(例えば白色光や緑色光)の反射光と透過光を用い、こ
れを被検査品に照射して前記の欠陥や異物混入の有無と
いった不良品目の検査をプロジェクタや実体顕微鏡、裸
眼などで行う。そして、欠陥や異物が検出された箇所に
は、マジックインクやドットインクでマーキングする。
【0018】また、この異物欠陥検査においては、被検
査体となる保護フィルム6aを剥離した前記シートを、
フラット化治具を用いて平坦な状態にして行う。このフ
ラット化治具としては、例えば平坦な正方形枠状の枠体
の一方の面に両面テープや粘着剤を貼合あるいは塗着し
たものや、平坦な正方形状の透明ガラス板や透明硬質樹
脂板の一方の面の四周にやはり両面テープや粘着剤を貼
合あるいは塗着したものが用いられる。そして、このよ
うなフラット化治具を用いて前記検査を行うには、前記
シートの一方の面の四周をフラット化治具の上に載せ、
かつその四周をフラット化治具の両面テープあるいは粘
着剤の上に固定し、シートの凹状の撓みを矯正し平坦化
する。
【0019】このようにして異物欠陥検査を行うと、被
検査体であるシート、すなわちAR膜10を形成した偏
光板本体4からなるシートには、図2(e)に示した従
来の場合と異なり粘着剤7と離型フィルム8とが付着し
ておらず、しかも保護フィルム6aもない状態であるの
で、これら離型フィルム8や保護フィルム6aに起因す
る光の散乱がなく、したがってこのような光の散乱によ
り異物や欠陥が検出されにくくなることが防がれる。ま
た、フラット化治具を用いてシートを平坦な状態にして
行うので、シート中のハードコート膜2やAR膜10が
圧縮応力によって凹状に撓んでいても、これをフラット
化治具で平坦化することにより、光を全体に適正な角度
で照射することができる。
【0020】なお、前記フラット化治具には、偏光板本
体4の検査エリアを区分する区分手段、例えば糸状のマ
ークを設けるのが好ましい。この糸状のマークについて
は、例えばゴミ発生のないナイロン等からなる釣糸(道
糸)を、前記フラット化治具に設けられた両面テープや
粘着剤からなる正方形枠内を縦横に多数区分するよう等
間隔で張り巡らし、糸で区分されたエリアの大きさを例
えば最終製品サイズの大きさにすることによって形成す
る。そして、該糸で区分されたエリアを検査の単位エリ
アとする。このようにしてフラット化治具に、偏光板本
体4の検査エリアを多数の検査エリアに区分する糸状マ
ーク(区分手段)を設ければ、検査エリアが明瞭にな
り、確実な検査を行うことがきて検査漏れを低減するこ
とができ、これにより得られる偏光板の品質と信頼性を
高めることができる。
【0021】このようにして異物欠陥検査を終了した
ら、前記シートをフラット化治具から剥がし、図1
(f)に示すようにそのTACフィルム1aの外面に粘
着剤7をコートした離型フィルム8を貼合するととも
に、AR膜10の上に保護フィルム6cを貼合する。こ
のとき、TACフィルム1aと離型フィルム8との間、
およびAR膜10と保護フィルム6cとの間に異物を巻
き込まないよう、環境、および作業方法について十分に
注意する。なお、離型フィルム8としては、PETフィ
ルムに離型処理を施し、さらにこのPETフィルムにブ
チルアクリレートを主成分とするアクリル系透明接着剤
からなる粘着剤7をコートしたものが用いられる。そし
て、このような離型フィルム8は、粘着剤7側がTAC
フィルム1aに転写されることにより、TACフィルム
1aに貼合される。なお、このように離型フィルム8を
TACフィルム1aに貼合したら、35〜40℃で7日
間程度養生し、粘着剤7のTACフィルム1aへの粘着
を確実にする。このようにして粘着を確実にすることに
より、後に離型フィルム8を剥離する際、粘着剤7をT
ACフィルム1aに残した状態で、離型フィルム8をT
ACフィルム1aから剥離することができる。
【0022】次いで、図1(g)に示すように、先に形
成したシートを所定寸法の短冊サイズあるいはチップサ
イズ、例えば22.0±0.2×28.6±0.2(m
m)に切断する。そして、得られた短冊サイズあるいは
チップサイズの中間体13の中から先の異物欠陥検査で
マーキングされた箇所があるものを取り除き、残りの中
間体について切断面や異物、欠陥等の最終検査を行い、
この検査に合格したものについて製品としての偏光板と
する。その後、図1(h)に示すように、一方の面に両
面テープ14を貼ったラベリングシート15の両面テー
プ14上に、前記偏光板をその離型フィルム8側の面が
両面テープ14に当接するようにして貼合し、製品とす
る。
【0023】このような偏光板の製造方法にあっては、
AR膜10を形成した偏光板本体4からなるシートを被
検査体として異物欠陥検査を行うので、この被検査体に
粘着剤7と離型フィルム8とが付着しておらず、しかも
保護フィルム6aも付着していないことにより、これら
離型フィルム8や保護フィルム6aに起因して光が散乱
することがなくなる。したがって、このような光の散乱
により異物や欠陥が検出されにくくなることを防ぐこと
ができ、これにより異物欠陥検査の信頼性を高めること
ができる。また、離型フィルム8や保護フィルム6aの
異物や欠陥を検査しなくてもよいので、見にくさがなく
なり、被検査体の異物欠陥検出力が向上する。また、フ
ラット化治具を用いて被検査体を平坦な状態にして検査
を行うので、シート中のハードコート膜2やAR膜10
が圧縮応力によって凹状に撓んでいても、これをフラッ
ト化治具で平坦化することにより、光を全体に適正な角
度で照射することができ、これにより検査を容易にする
とともにその信頼性を高めることができる。
【0024】なお、前記実施形態例では、反射防止膜
(AR膜10)を備えた偏光板の製造方法について説明
したが、本発明はこれに限定することなく、反射防止膜
を備えない汎用性の偏光板の製造方法にも適用すること
ができ、その場合には、AR膜10の形成工程を省略
し、他の工程、例えば異物欠陥検査等を前記実施形態例
と同じ手順により行うようにすればよい。また、前記実
施形態例では、シート化してこれを被検査体とし、異物
欠陥検査を行ったが、シート化のためのカットを省略し
てロール状の形態のままで異物欠陥検査を行い、その後
所定の寸法にカットするようにしてもよい。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明の偏光板の製
造方法は、少なくとも保護フィルムが偏光体に付着して
いない状態で該偏光体の異物欠陥検査を行うので、保護
フィルムによる光の散乱がなく、さらには離型フィルム
もなくせばこれによる光の散乱もなく、したがってこの
ような光の散乱により異物や欠陥が検出されにくくなっ
て検査見逃しが起こるのを防止することができ、これに
より異物や欠陥の見逃しによる後工程への不良品流出率
を低下することができる。よって、このように後工程へ
の不良品流出率を低下することができることにより、液
晶表示装置の実装工程での歩留向上、偏光板受入品質向
上、顧客品質向上、さらにはコストダウンを実現するこ
とができる。
【0026】また、前記偏光体の異物欠陥検査を、フラ
ット化治具を用いて偏光体を平坦な状態にして行えば、
偏光体中のハードコート膜などが圧縮応力によって凹状
に撓んでいても、これを平坦化することによって光を全
体に適正な角度で照射することができ、これにより検査
を容易にしてその信頼性を高め、異物や欠陥の見逃しに
よる後工程への不良品流出率を低下することができる。
さらに、フラット化治具に偏光体の検査エリアを区分す
る区分手段、例えば糸状のマークを設ければ、検査エリ
アが明瞭になって確実な検査を行うことができ、これに
より検査漏れを低減することができ、したがって得られ
る偏光板の品質と信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(h)は本発明の偏光板の製造方法の
一実施形態例を工程順に説明するための要部側断面図で
ある。
【図2】(a)〜(f)は従来の偏光板の製造方法の一
例を工程順に説明するための要部側断面図である。
【符号の説明】
1a、1b 三酢酸セルロースフィルム(TACフィル
ム;保護層) 2 ハードコート膜 3 偏光子 4 偏光板本体
5 偏光体 6a、6b、6c 保護フィルム 7 粘着剤 8
離型フィルム 10 反射防止膜(AR膜)

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 偏光体の一方の面上に粘着剤を介して離
    型フィルムが貼合され、他方の面上に保護フィルムが貼
    合されてなる偏光板の製造方法において、 少なくとも前記保護フィルムが付着していない状態で前
    記偏光体の異物欠陥検査を行うことを特徴とする偏光板
    の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記偏光体は、偏光子とこれを挟着した
    状態で該偏光子に貼合された一対の保護層とからなるこ
    とを特徴とする請求項1記載の偏光板の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記偏光板が、偏光体における一方の保
    護層と前記保護フィルムとの間にハードコート膜を形成
    してなるものであり、 前記偏光体の異物欠陥検査を、前記ハードコート膜が形
    成された状態で行うことを特徴とする請求項2記載の偏
    光板の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記偏光板が、そのハードコート膜と保
    護フィルムとの間に反射防止膜を形成してなるものであ
    り、 前記偏光体の異物欠陥検査を、前記反射防止膜が形成さ
    れた状態で行うことを特徴とする請求項3記載の偏光板
    の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記偏光体の異物欠陥検査を、フラット
    化治具を用いて偏光体を平坦な状態にして行うことを特
    徴とする請求項1記載の偏光板の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記偏光体の異物欠陥検査を、フラット
    化治具を用いて偏光体を平坦な状態にして行うことを特
    徴とする請求項2記載の偏光板の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記偏光体の異物欠陥検査を、フラット
    化治具を用いて偏光体およびハードコート膜を平坦な状
    態にして行うことを特徴とする請求項3記載の偏光板の
    製造方法。
  8. 【請求項8】 前記偏光体の異物欠陥検査を、フラット
    化治具を用いて偏光体およびハードコート膜、反射防止
    膜を平坦な状態にして行うことを特徴とする請求項4記
    載の偏光板の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記フラット化治具に、偏光体の検査エ
    リアを区分する区分手段を設けたことを特徴とする請求
    項1記載の偏光板の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記フラット化治具に、偏光体の検査
    エリアを区分する区分手段を設けたことを特徴とする請
    求項2記載の偏光板の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記フラット化治具に、偏光体の検査
    エリアを区分する区分手段を設けたことを特徴とする請
    求項3記載の偏光板の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記フラット化治具に、偏光体の検査
    エリアを区分する区分手段を設けたことを特徴とする請
    求項4記載の偏光板の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記偏光体の異物欠陥検査を、反射光
    および透過光を用いて行うことを特徴とする請求項1記
    載の偏光板の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記偏光体の異物欠陥検査を、反射光
    および透過光を用いて行うことを特徴とする請求項2記
    載の偏光板の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記偏光体の異物欠陥検査を、反射光
    および透過光を用いて行うことを特徴とする請求項3記
    載の偏光板の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記偏光体の異物欠陥検査を、反射光
    および透過光を用いて行うことを特徴とする請求項4記
    載の偏光板の製造方法。
  17. 【請求項17】 前記偏光体の異物欠陥検査により検出
    された異物あるいは欠陥を有する箇所にマーキングを施
    し、最終的に該マーキングがある箇所を不良品とするこ
    とを特徴とする請求項1記載の偏光板の製造方法。
  18. 【請求項18】 前記偏光体の異物欠陥検査により検出
    された異物あるいは欠陥を有する箇所にマーキングを施
    し、最終的に該マーキングがある箇所を不良品とするこ
    とを特徴とする請求項2記載の偏光板の製造方法。
  19. 【請求項19】 前記偏光体の異物欠陥検査により検出
    された異物あるいは欠陥を有する箇所にマーキングを施
    し、最終的に該マーキングがある箇所を不良品とするこ
    とを特徴とする請求項3記載の偏光板の製造方法。
  20. 【請求項20】 前記偏光体の異物欠陥検査により検出
    された異物あるいは欠陥を有する箇所にマーキングを施
    し、最終的に該マーキングがある箇所を不良品とするこ
    とを特徴とする請求項4記載の偏光板の製造方法。
  21. 【請求項21】 前記偏光体の異物欠陥検査を行った
    後、前記偏光体の一方の面上に保護フィルムを貼合する
    とともに、該偏光体の他方の面上に粘着剤を介して離型
    フィルムを貼合することを特徴とする請求項1記載の偏
    光板の製造方法。
  22. 【請求項22】 前記偏光体の異物欠陥検査を行った
    後、前記偏光体の一方の面上に保護フィルムを貼合する
    とともに、該偏光体の他方の面上に粘着剤を介して離型
    フィルムを貼合することを特徴とする請求項2記載の偏
    光板の製造方法。
  23. 【請求項23】 前記偏光体の異物欠陥検査を行った
    後、前記ハードコート膜上に保護フィルムを貼合すると
    ともに、前記偏光体の他方の面上に粘着剤を介して離型
    フィルムを貼合することを特徴とする請求項3記載の偏
    光板の製造方法。
  24. 【請求項24】 前記偏光体の異物欠陥検査を行った
    後、前記反射防止膜上に保護フィルムを貼合するととも
    に、前記偏光体の他方の面上に粘着剤を介して離型フィ
    ルムを貼合することを特徴とする請求項4記載の偏光板
    の製造方法。
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