JPH10305894A - Substrate storage case and semiconductor production process - Google Patents

Substrate storage case and semiconductor production process

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JPH10305894A
JPH10305894A JP9240798A JP24079897A JPH10305894A JP H10305894 A JPH10305894 A JP H10305894A JP 9240798 A JP9240798 A JP 9240798A JP 24079897 A JP24079897 A JP 24079897A JP H10305894 A JPH10305894 A JP H10305894A
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JP
Japan
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substrate
reticle
holding member
case
storage case
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JP9240798A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinobu Tokushima
忍 徳島
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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  • Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To apply a substrate storage case for storing a substrate such as reticle to other devices irrespective of the top and bottom of the case. SOLUTION: On the bottom of a frame 5, hold members 2 are provided for holding a substrate 1. A preload plate 12 attached to an upper lid 6 via compression springs 4 is provided with preload hold members 3 so that they are symmetrical with respect to the hold members 2 with the substrate between them. The parts 2a and 3a of the hold members 2 and the preload hold members 3, respectively, where they contact the substrate 1 are formed so as to taper. Cams 8 for moving the preload plate 12 upward according as an opening operation of a front lid 7 is attached to walls 5C and 5D. Thus, even if the case is inverted so that its bottom is above the top, the substrate 1 is surely held by the hold members 2 and the preload hold member 3, and it is released from the hold by opening the front lid 7.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造に用い
られるレチクルあるいはマスク等のガラス基板を収納す
る基板収納ケースに関する。
The present invention relates to a substrate storage case for storing a glass substrate such as a reticle or a mask used in semiconductor manufacturing.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、図10に示す従来のレチクルケ
ースにおいては、レチクル1は保持部材21により下方
から保持され、さらに上方から固定ピン22がレチクル
1を下方に押圧することにより保持されている。図10
に示すように、保持部材21および固定ピン22は、レ
チクル1のガラス研磨面に直接接触するように構成され
ている。固定ピン22は押し当てばね25などによりレ
チクル1の方向に付勢されており、前面フタ23を開く
と、固定ピン22がレチクル1から離れてレチクル1の
固定が解除されるように構成されている。作業者が手動
でレチクルケースにレチクル1を出し入れする場合は、
上面フタ24を開いて行う。一方、レチクル検査機にお
いては、検査機に設けられたレチクル自動搬送装置がレ
チクルケースの前面フタ23を自動で開けて、固定ピン
22によるレチクルの固定を解除して、レチクル1を自
動的にレチクルケースから出し入れする。
2. Description of the Related Art For example, in a conventional reticle case shown in FIG. 10, a reticle 1 is held from below by a holding member 21, and a fixing pin 22 is held from above by pressing the reticle 1 downward. . FIG.
As shown in (1), the holding member 21 and the fixing pin 22 are configured to directly contact the polished glass surface of the reticle 1. The fixing pin 22 is urged in the direction of the reticle 1 by a pressing spring 25 or the like. When the front cover 23 is opened, the fixing pin 22 separates from the reticle 1 and the fixing of the reticle 1 is released. I have. When the operator manually puts the reticle 1 in and out of the reticle case,
This is performed by opening the top cover 24. On the other hand, in the reticle inspection machine, an automatic reticle transport device provided in the inspection machine automatically opens the front cover 23 of the reticle case, releases the fixing of the reticle by the fixing pin 22, and automatically moves the reticle 1 to the reticle. Put in and out of the case.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述したようなレチク
ルケースにおいては、上面フタ24にばね25を介して
固定ピン22が設けられ、レチクル1を固定ピン22と
保持部材21との間においてばね25の付勢力により挟
持することによりケース内においてレチクルを固定して
いるため、レチクルケースの天地を逆にした状態におい
てレチクル1を取り出すことができない。したがって、
レチクル1のクロム面を下側に向けて利用する縮小投影
露光装置などと、クロム面を上側に向けて利用するEB
装置や検査装置において、レチクルケースを共通に使用
することは不可能であり、それぞれの装置に専用のレチ
クルケースを用意する必要がある。
In the reticle case as described above, a fixing pin 22 is provided on a top cover 24 via a spring 25, and the reticle 1 is held between the fixing pin 22 and the holding member 21 by a spring 25. Since the reticle is fixed in the case by being held by the urging force, the reticle 1 cannot be taken out with the reticle case upside down. Therefore,
A reduction projection exposure apparatus that uses the chrome surface of the reticle 1 facing downward, and an EB that uses the chrome surface facing upward.
It is impossible to use a common reticle case in an apparatus or an inspection apparatus, and it is necessary to prepare a dedicated reticle case for each apparatus.

【0004】また、従来のレチクルケースでは、レチク
ル1のガラス研磨面に保持部材21および固定ピン22
が直接面接触するように構成されているため、接触部分
において発生するゴミがガラス研磨面に付着し易く、レ
チクル1上に非常に精密に描画されているパターンに悪
影響を及ぼすこともある。さらに上述したようなケース
においては、ばね25が左右に振れるとレチクル1がケ
ース内部において左右に移動するおそれがあり、この移
動により固定ピン22とレチクル1あるいは保持部材2
1とレチクル1とが互いに摺動してゴミが一層発生し易
くなる。
In a conventional reticle case, a holding member 21 and a fixing pin 22 are provided on the polished glass surface of the reticle 1.
Are configured to make direct surface contact, dust generated at the contact portion easily adheres to the polished glass surface, and may adversely affect the pattern drawn very precisely on the reticle 1. Further, in the case described above, if the spring 25 swings right and left, the reticle 1 may move left and right inside the case, and this movement may cause the fixing pin 22 and the reticle 1 or the holding member 2 to move.
1 and the reticle 1 slide with each other, and dust is more likely to be generated.

【0005】一方、図11は従来の半導体製造プロセス
の一例を示している。図11に示すように、例えば、E
B露光描画装置201では、装置特有のパレット201
Aにレチクル1を載置してこれをオペレータがマニュア
ルでセットすると、EB露光装置201の自動搬送装置
(不図示)がパレット201Aを自動搬送する構成にな
っている。また、エッチング・現像装置202では、オ
ペレータが装置特有のキャリア202Aにレチクル1を
収納した後、キャリア202Aをセットすると、装置の
自動搬送装置(不図示)がレチクル1をエッチング・現
像装置202に搬送する構成になっている。
FIG. 11 shows an example of a conventional semiconductor manufacturing process. As shown in FIG. 11, for example, E
In the B exposure drawing apparatus 201, a pallet 201 unique to the apparatus.
When the reticle 1 is placed on A and the operator manually sets the reticle 1, an automatic transport device (not shown) of the EB exposure apparatus 201 automatically transports the pallet 201A. In the etching / developing apparatus 202, when an operator stores the reticle 1 in a carrier 202A unique to the apparatus and then sets the carrier 202A, an automatic transport device (not shown) of the apparatus transports the reticle 1 to the etching / developing apparatus 202. Configuration.

【0006】さらに、レチクル検査装置203では、装
置特有のレチクルストッカー203Aに複数枚のレチク
ル1をオペレータがセットすると、レチクル検査装置2
03の自動搬送装置(不図示)がレチクルストッカー2
03Aからレチクル1をレチクル検査装置203に搬送
する構成になっている。また、縮小投影露光装置204
では、オペレータが装置特有のレチクルケース204A
にレチクル1を収納し、レチクルケース204Aをセッ
トすると、自動搬送装置(不図示)がレチクル1をレチ
クルケース204Aから取り出して縮小露光装置203
に搬送する構成になっている。
Further, in the reticle inspection apparatus 203, when an operator sets a plurality of reticles 1 on a reticle stocker 203A unique to the apparatus, the reticle inspection apparatus 2
03 reticle stocker 2 (not shown)
The reticle 1 is transported to the reticle inspection device 203 from 03A. Further, the reduction projection exposure device 204
Then, the operator operates the reticle case 204A unique to the apparatus.
When the reticle 1 is stored in the reticle case 204A and the reticle case 204A is set, an automatic transfer device (not shown) takes out the reticle 1 from the reticle case 204A and removes the reticle 1 from the reticle case 204A.
It is configured to be transported to

【0007】このような半導体製造プロセスでは、レチ
クル1をパレット201Aを介してEB露光装置201
にセット→レチクル描画→レチクル1の取り出し→レチ
クル1をキャリア202Aに収納しエッチング・現像装
置202にセット→エッチング・現像→レチクル1の取
り出し→ストッカー203Aにレチクル1をセット→レ
チクル検査→レチクル1の取り出し→レチクル1をレチ
クルケース204Aに収納し縮小露光装置204にセッ
ト→縮小投影露光→レチクル1の取り出し、という一連
の複雑な工程が必要となり、オペレータの作業が煩雑な
ものとなり、ゴミや汚れが付着する可能性も高くなる。
実際のプロセスではさらに工程数が多く、製造プロセス
はより複雑なものとなる。
In such a semiconductor manufacturing process, reticle 1 is placed on EB exposure apparatus 201 through pallet 201A.
→ Reticle drawing → Reticle 1 removal → Reticle 1 is stored in carrier 202A and set in etching / development device 202 → Etching / development → Reticle 1 removal → Reticle 1 is set in stocker 203A → Reticle inspection → Reticle 1 A series of complicated steps such as taking out → storing the reticle 1 in the reticle case 204A and setting it in the reduction exposure apparatus 204 → reducing projection exposure → taking out the reticle 1 are required, and the work of the operator becomes complicated, and dust and dirt are removed. The possibility of adhesion increases.
In an actual process, the number of steps is further increased, and the manufacturing process becomes more complicated.

【0008】本発明の目的は、天地を逆にした状態であ
っても使用することができる基板収納ケースを提供する
ことにある。また、本発明の別の目的は、効率的でゴミ
や汚れの付着を低減することができる半導体製造プロセ
スを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a substrate storage case that can be used even when the board is turned upside down. Another object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing process that is efficient and can reduce the adhesion of dust and dirt.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図1
を参照して説明すると、請求項1の発明は、少なくとも
上部が開口されたフレーム5と、フレーム5の開口を開
閉する蓋体6と、フレーム底面に配設された第1の保持
部材2と、蓋体6に配設された第2の保持部材3とを備
え、第1および第2の保持部材2,3により基板1を挟
持して、基板1を収納する基板収納ケースに適用され、
第1の保持部材2と第2の保持部材3の各々には、それ
ぞれが単独で基板1を載置することが可能な載置部2
a,3aが設けられていることにより上記目的を達成す
る。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.
According to the first aspect of the present invention, a frame 5 having at least an upper portion opened, a lid 6 for opening and closing the opening of the frame 5, and a first holding member 2 disposed on the bottom surface of the frame 5 are provided. A second holding member 3 disposed on the lid 6, the first and second holding members 2, 3 sandwich the substrate 1 and are applied to a substrate storage case for storing the substrate 1.
On each of the first holding member 2 and the second holding member 3, a mounting portion 2 on which the substrate 1 can be mounted independently.
The above-mentioned object is achieved by providing a and 3a.

【0010】請求項2の発明は、第1の保持部材2およ
び第2の保持部材3の載置部2a,3aはケースの中央
側に下り勾配のテーパ状とされ、載置部2a,3aは基
板1のエッジに接触して基板1を保持する。請求項3の
発明は、第1の保持部材2および第2の保持部材3の少
なくとも一方を他方に向けて付勢する付勢機構4をさら
に備える。請求項4の発明は、第2の保持部材3は予圧
板12に設けられ、付勢機構4は予圧板12を付勢す
る。
According to a second aspect of the present invention, the mounting portions 2a, 3a of the first holding member 2 and the second holding member 3 are tapered with a downward slope toward the center of the case. Contacts the edge of the substrate 1 and holds the substrate 1. The invention according to claim 3 further includes an urging mechanism 4 for urging at least one of the first holding member 2 and the second holding member 3 toward the other. In the invention of claim 4, the second holding member 3 is provided on the preload plate 12, and the urging mechanism 4 urges the preload plate 12.

【0011】請求項5の発明は、予圧板12が付勢機構
4の付勢方向と直交する方向に移動しないように規制す
る規制機構をさらに備える。請求項6の発明は、付勢機
構4の付勢を解除する解除機構8をさらに備える。請求
項7の発明は、フレーム5の前面を開閉する前面フタ7
をさらに備え、解除機構8は前面フタ7の開動作に応じ
て、付勢機構4,12の付勢を解除する。請求項8の発
明は、解除機構8は、基板1が収納される空間と隔離さ
れて配設されている。
The invention according to claim 5 further includes a regulating mechanism for regulating the preload plate 12 from moving in a direction orthogonal to the urging direction of the urging mechanism 4. The invention according to claim 6 further includes a release mechanism 8 for releasing the bias of the biasing mechanism 4. The invention according to claim 7 is a front cover 7 for opening and closing the front of the frame 5.
The release mechanism 8 releases the urging of the urging mechanisms 4 and 12 according to the opening operation of the front cover 7. In the invention according to claim 8, the release mechanism 8 is provided separately from the space in which the substrate 1 is stored.

【0012】請求項9の発明は、基板1に対して加工あ
るいは検査を行う複数の工程からなる半導体製造プロセ
スにおいて、複数の工程のうちの一の工程から次工程に
基板1を移動する際に、基板1を請求項1〜8のいずれ
か1項に記載の基板収納ケース20に収納するようにし
たものである。請求項10の発明は、請求項9に記載の
半導体製造プロセスにおいて、基板1が3以上の工程を
順次移動するプロセスであって、複数回の移動に際し基
板1を共通の基板収納ケース20に収納するようにした
ものである。請求項11の発明は、請求項10に記載の
半導体製造プロセスにおいて、共通の基板収納ケース2
0から基板1を取り出して加工あるいは検査のための所
定位置に自動搬送する自動搬送装置40、50を各工程
ごとに設けたものである。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor manufacturing process including a plurality of steps for processing or inspecting the substrate 1 when the substrate 1 is moved from one of the plurality of steps to the next step. The substrate 1 is stored in the substrate storage case 20 according to any one of claims 1 to 8. According to a tenth aspect of the present invention, there is provided the semiconductor manufacturing process according to the ninth aspect, wherein the substrate 1 is sequentially moved through three or more steps. It is something to do. According to an eleventh aspect of the present invention, in the semiconductor manufacturing process according to the tenth aspect, a common substrate storage case 2 is provided.
Automatic transfer devices 40 and 50 for taking out the substrate 1 from 0 and automatically transferring the substrate 1 to a predetermined position for processing or inspection are provided for each process.

【0013】請求項1の発明によれば、第1および第2
の保持部材2,3の載置部2a,3aが基板1をそれぞ
れ単独で保持するため、ケースの天地に関わらず、基板
1はケース内において同一の状態で保持される。請求項
2の発明によれば、基板1は第1および第2の保持部材
2,3のテーパ状の載置部2a,3aにそのエッジが線
接触した状態で保持される。請求項3の発明によれば、
第1および第2の保持部材2,3の少なくとも一方が、
付勢機構4により他方に向けて付勢されているため、基
板1は第1および第2の保持部材2,3に確実に保持さ
れる。請求項4の発明によれば、予圧板12は付勢機構
4により付勢され、基板1は予圧板12に設けられた第
2の保持部材3が第1の保持部材2に向けて付勢される
ことにより保持される。
According to the first aspect of the present invention, the first and the second
Since the mounting portions 2a and 3a of the holding members 2 and 3 respectively hold the substrate 1 independently, the substrate 1 is held in the same state in the case regardless of the top and bottom of the case. According to the second aspect of the present invention, the substrate 1 is held in a state where the edges thereof are in line contact with the tapered mounting portions 2a, 3a of the first and second holding members 2, 3. According to the invention of claim 3,
At least one of the first and second holding members 2 and 3 is
Since the substrate 1 is urged toward the other by the urging mechanism 4, the substrate 1 is securely held by the first and second holding members 2 and 3. According to the invention of claim 4, the preload plate 12 is urged by the urging mechanism 4, and the substrate 1 is urged by the second holding member 3 provided on the preload plate 12 toward the first holding member 2. Will be maintained.

【0014】請求項5の発明によれば、予圧板12は付
勢機構4の付勢方向と直交する方向に移動しないように
規制機構30,31により規制される。請求項6の発明
によれば、解除機構8により付勢機構4の付勢を解除す
ることにより、基板1は第1および第2の保持部材2,
3による保持から解放される。請求項7の発明によれ
ば、前面フタ7を開動作に応じて、解除機構8が付勢機
構4の付勢を解除するため、基板1をフレーム5の前面
から容易に取り出すことができる。請求項8の発明によ
れば、解除機構8は基板1が収納される空間と隔離され
ているため、解除機構8の動作により生じるゴミが基板
1に付着することがなくなる。
According to the fifth aspect of the present invention, the preloading plate 12 is regulated by the regulating mechanisms 30 and 31 so as not to move in the direction orthogonal to the urging direction of the urging mechanism 4. According to the invention of claim 6, by releasing the urging of the urging mechanism 4 by the releasing mechanism 8, the substrate 1 is separated from the first and second holding members 2 and 2.
3 is released from holding. According to the invention of claim 7, the release mechanism 8 releases the urging of the urging mechanism 4 in response to the opening operation of the front cover 7, so that the substrate 1 can be easily taken out from the front of the frame 5. According to the invention of claim 8, since the release mechanism 8 is isolated from the space in which the substrate 1 is stored, dust generated by the operation of the release mechanism 8 does not adhere to the substrate 1.

【0015】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段の項では、本発明を分かり易くする
ために発明の実施の形態の図を用いたが、これにより本
発明が実施の形態に限定されるものではない。
In the section of the means for solving the above-mentioned problems, which explains the configuration of the present invention, the drawings of the embodiments of the present invention are used for easy understanding of the present invention. However, the present invention is not limited to this.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

−本発明による基板収納ケースの実施の形態− 以下図面を参照して本発明による基板収納ケースの実施
の形態について説明する。図1は本実施の形態に係るレ
チクルケースの構成を示す斜視図、図2(a)は本実施
の形態に係るレチクルケースの前面フタが閉じてレチク
ルを保持している状態のレチクル保持部分の断面図、図
2(b)はレチクルを保持している状態のレチクル固定
部分の断面図、そして図3(a)は本実施の形態に係る
レチクルケースの前面フタが開いた状態のレチクル保持
部分の断面図、図3(b)はレチクルケースの前面フタ
が開いた状態のレチクル固定部分の断面図である。ま
た、図4(a),(b)はそれぞれ図2(a),(b)
の天地を逆にした状態を示し、図5(a),(b)はそ
れぞれ図3(a),(b)の天地を逆にした状態を示し
ている。
-Embodiment of substrate storage case according to the present invention- An embodiment of a substrate storage case according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a reticle case according to the present embodiment, and FIG. 2A is a view of a reticle holding portion in a state where a front cover of the reticle case according to the present embodiment is closed and holds the reticle. FIG. 2B is a cross-sectional view of a reticle fixing portion holding the reticle, and FIG. 3A is a reticle holding portion of the reticle case according to the present embodiment with a front cover opened. FIG. 3B is a cross-sectional view of the reticle fixing portion with the front cover of the reticle case opened. FIGS. 4A and 4B show FIGS. 2A and 2B, respectively.
5 (a) and 5 (b) show a state where the top and bottom of FIGS. 3 (a) and 3 (b) are reversed.

【0017】図1に示すように、本実施の形態に係るレ
チクルケースは、上面および前面が開口する箱状に形成
されたフレーム5と、フレーム5の上面を開閉するよう
に不図示の蝶番により回動可能に設けられた上フタ6
と、フレーム5の前面を開閉するように不図示の蝶番に
より開閉可能に設けられた前面フタ7とを備える。
As shown in FIG. 1, a reticle case according to the present embodiment comprises a box-shaped frame 5 having an open top and front, and a hinge (not shown) so as to open and close the top of the frame 5. Upper lid 6 rotatably provided
And a front cover 7 that can be opened and closed by a hinge (not shown) so as to open and close the front surface of the frame 5.

【0018】フレーム5の下面には、後述するようにし
てレチクル1を保持するための4つの保持部材2が取り
付けられている。保持部材2におけるレチクル1との接
触部2aはフレーム5底面の中央部に向けて低くなるよ
うにテーパ状に形成されている。このため、レチクル1
を保持部材2上に載置した際に、レチクル1はそのエッ
ジ部のみが保持部材2に線接触するようになる。すなわ
ち、レチクル1の表面(クロム面)、裏面(ガラス
面)、側面のどの面とも保持部材2は面接触することが
なくなる。
Four holding members 2 for holding the reticle 1 are attached to the lower surface of the frame 5 as described later. The contact portion 2a of the holding member 2 with the reticle 1 is formed in a tapered shape so as to become lower toward the center of the bottom surface of the frame 5. Therefore, reticle 1
When the reticle 1 is placed on the holding member 2, only the edge of the reticle 1 comes into line contact with the holding member 2. That is, the holding member 2 does not come into surface contact with any of the front surface (chrome surface), the back surface (glass surface), and the side surface of the reticle 1.

【0019】また、フレーム5の下面には、その側壁5
A,5Bと略平行に壁部5C,5Dが形成されており、
この壁部5C,5Dにそれぞれ2個のカム8が軸8Bを
中心に回転可能に配設されている。カム8の形状につい
ては後述する。各壁部5C,5Dに配設された2個のカ
ム8は、カム8に形成されたピン8Aに連結された連結
ワイヤ9により連結されており、これにより2つのカム
8は互いに連動して回転する。また、前面フタ7に近い
側にあるカム8は前面フタ7とワイヤ10により連結さ
れている。さらに、カム8は引張ばね11によりフレー
ム5の後面方向(反時計回り方向)に付勢されている。
このため、前面フタ7の開閉と4個のカム8の回転とが
連動するとともに、前面フタ7は閉じる方向に常時付勢
されることとなる。
The lower surface of the frame 5 has a side wall 5
Wall portions 5C and 5D are formed substantially parallel to A and 5B,
Two cams 8 are provided on the walls 5C and 5D so as to be rotatable about a shaft 8B. The shape of the cam 8 will be described later. The two cams 8 provided on each of the wall portions 5C and 5D are connected by a connecting wire 9 connected to a pin 8A formed on the cam 8, whereby the two cams 8 are interlocked with each other. Rotate. The cam 8 on the side close to the front cover 7 is connected to the front cover 7 by a wire 10. Further, the cam 8 is urged by a tension spring 11 in the rear direction of the frame 5 (counterclockwise direction).
Therefore, the opening and closing of the front cover 7 and the rotation of the four cams 8 are linked, and the front cover 7 is constantly urged in the closing direction.

【0020】上フタ6には、4つの圧縮ばね4を介して
予圧板12が取り付けられている。この予圧板12は図
6(a),(b)に示すように、上フタ6に取り付けら
れたガイドピン30が予圧板12に取り付けられた筒部
31に挿嵌されることにより、上フタ6に対して垂直方
向にのみ移動可能とされている。なお、ガイドピン30
および筒部31は圧縮ばね4内に設けられる。また、予
圧板12の表面には、フレーム5の下面に設けられた保
持部材2と同様にテーパ状の接触部3aを有する予圧保
持部材3が取り付けられている。予圧保持部材3はフレ
ーム5の保持部材2とレチクル1に対して上下対称とな
る位置に配設されている。なお、上フタ6はフレーム5
の上面を閉じた状態においては、不図示のロック装置に
よりロックされる。
A preload plate 12 is attached to the upper lid 6 via four compression springs 4. As shown in FIGS. 6A and 6B, the guide pins 30 attached to the upper cover 6 are inserted into the cylindrical portion 31 attached to the preload plate 12, and thus the upper cover 12 is fitted to the upper cover 12. 6 can be moved only in the vertical direction. The guide pins 30
And the cylinder part 31 is provided in the compression spring 4. A preload holding member 3 having a tapered contact portion 3a is attached to the surface of the preload plate 12 similarly to the holding member 2 provided on the lower surface of the frame 5. The preload holding member 3 is disposed at a vertically symmetric position with respect to the holding member 2 of the frame 5 and the reticle 1. The upper lid 6 is the frame 5
Is locked by a lock device (not shown) when the upper surface of the is closed.

【0021】ここで、上述したカム8は、レチクル1を
保持部材2および予圧保持部材3との間に挟んで上フタ
6および前面フタ7を閉じたときに、カム面8aが予圧
板12に接触することなく、前面フタ7を開いてフレー
ム5の前面方向に回転したときにカム面8aにより予圧
保持部材3を上方に押圧するように形成されている。
Here, when the upper lid 6 and the front lid 7 are closed by sandwiching the reticle 1 between the holding member 2 and the preload holding member 3, the cam surface 8 a contacts the preload plate 12. The cam surface 8a presses the preload holding member 3 upward when the front cover 7 is opened and rotated toward the front of the frame 5 without contact.

【0022】次いで、本実施の形態の動作について説明
する。レチクル1のクロム面、すなわち図2(a)にお
いてペリクル1aが設けられた面をフレーム5の保持部
材2上に載置して上フタ6を閉じると、図2(a)に示
すように、レチクル1は保持部材2と予圧保持部材3と
により上下から挟まれる。この際、レチクル1は圧縮ば
ね4の作用により上方から押圧された状態となり、これ
によりレチクル1が上下から保持される。一方、レチク
ル1は保持部材2および予圧保持部材3のテーパ状の接
触部2a,3aにて保持されるため、レチクル面に対し
て2次元的な方向の移動も規制される。したがって、レ
チクル1はフレーム5内において移動することなく保持
される。なお、この際カム8のカム面8aは、図2
(b)に示すように予圧板12とは接触していないた
め、予圧保持部材3によるレチクル1の保持が確実なも
のとなる。
Next, the operation of this embodiment will be described. When the chrome surface of the reticle 1, that is, the surface on which the pellicle 1a is provided in FIG. 2A, is placed on the holding member 2 of the frame 5 and the upper lid 6 is closed, as shown in FIG. The reticle 1 is sandwiched between the holding member 2 and the preload holding member 3 from above and below. At this time, the reticle 1 is pressed from above by the action of the compression spring 4, whereby the reticle 1 is held from above and below. On the other hand, since the reticle 1 is held by the tapered contact portions 2a and 3a of the holding member 2 and the preload holding member 3, the movement in the two-dimensional direction with respect to the reticle surface is also restricted. Therefore, reticle 1 is held without moving within frame 5. At this time, the cam surface 8a of the cam 8 is
As shown in (b), the reticle 1 is reliably held by the preload holding member 3 because it is not in contact with the preload plate 12.

【0023】次いで、前面フタ7を図2(a),(b)
に示すように矢印A方向に開いていくと、前面フタ7の
開運動と連動してばね11の付勢力に抗してカム8が図
2(b)の矢印C方向に回転する。これにより、カム8
は圧縮ばね4の付勢力に抗して回転し、カム面8aが予
圧板12と接触を開始してその形状に応じて予圧板12
を徐々に矢印B方向に押し上げる。そして、前面フタ7
を全開すると、図3(a),(b)に示すように、カム
8は予圧板12を完全に押し上げるため、レチクル1の
固定は解除される。この際、レチクル1は保持部材2上
に載置された状態にあり、この状態において、半導体装
置の自動搬送装置がレチクル1を自動的にフレーム5か
ら取り出して搬送する。
Next, the front cover 7 is moved to the position shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b).
When the cam 8 is opened in the direction of arrow A, the cam 8 rotates in the direction of arrow C in FIG. 2B against the urging force of the spring 11 in conjunction with the opening movement of the front cover 7. Thereby, the cam 8
Rotates against the urging force of the compression spring 4, and the cam surface 8a starts contacting with the preload plate 12, and the cam surface 8a
Is gradually pushed up in the direction of arrow B. And the front cover 7
Is fully opened, as shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b), the cam 8 completely pushes up the preload plate 12, so that the fixing of the reticle 1 is released. At this time, the reticle 1 is placed on the holding member 2, and in this state, the automatic transfer device of the semiconductor device automatically takes out the reticle 1 from the frame 5 and transfers it.

【0024】そして、再度前面フタ7を閉じると、カム
8がばね11の付勢力によりフレーム5の後面方向に回
転するため、予圧板12が圧縮ばね4の付勢力により下
方に移動し、この状態において保持される。
When the front cover 7 is closed again, the cam 8 rotates toward the rear surface of the frame 5 by the urging force of the spring 11, so that the preload plate 12 moves downward by the urging force of the compression spring 4, and in this state. Is held in.

【0025】一方、レチクルケースの天地を逆に設置し
た場合、図4(a)に示すように、レチクル1は上記図
2(a)に示す場合と同様に保持部材2と予圧保持部材
3との間に挟持される。この際、レチクル1は圧縮ばね
4の作用により下方から上方へ押圧された状態となり、
これによりレチクル1が上下に固定される。一方、レチ
クル1は保持部材2および予圧保持部材3のテーパ状の
接触部2a,3aにて保持されるため、レチクル面に対
して2次元的な方向の移動も規制される。したがって、
ケースの天地を逆にしてもレチクル1はフレーム5内に
おいて移動することなく保持される。なお、この際カム
8は図4(b)に示すように、予圧板12とは接触して
いないため、予圧保持部材3によるレチクル1の保持は
確実なものとなる。
On the other hand, when the reticle case is installed upside down, as shown in FIG. 4A, the reticle 1 has the holding member 2 and the preload holding member 3 as in the case shown in FIG. 2A. Sandwiched between. At this time, the reticle 1 is pressed upward from below by the action of the compression spring 4, and
Thereby, the reticle 1 is fixed up and down. On the other hand, since the reticle 1 is held by the tapered contact portions 2a and 3a of the holding member 2 and the preload holding member 3, the movement in the two-dimensional direction with respect to the reticle surface is also restricted. Therefore,
Even if the case is turned upside down, the reticle 1 is held in the frame 5 without moving. At this time, since the cam 8 is not in contact with the preload plate 12 as shown in FIG. 4B, the holding of the reticle 1 by the preload holding member 3 is assured.

【0026】次いで、前面フタ7を図4(a),(b)
に示すように矢印A方向に開いていくと、前面フタ7の
開運動と連動してばね11の付勢力に抗してカム8が図
4(b)の矢印C方向に回転する。これにより、カム8
は圧縮ばね4の付勢力に抗して予圧板12を徐々に矢印
B方向に押し下げる。そして、前面フタ7を全開する
と、図5(a),(b)に示すように、カム8は予圧板
12を完全に押し下げるため、レチクル1の固定は解除
される。この際、レチクル1は予圧保持部材3上に載置
された状態にあり、この状態において、半導体装置の自
動搬送装置がレチクル1を自動的にフレーム5から取り
出して搬送する。
Next, the front cover 7 is moved to the position shown in FIGS.
4B, the cam 8 rotates in the direction of arrow C in FIG. 4B against the urging force of the spring 11 in conjunction with the opening movement of the front cover 7. Thereby, the cam 8
Presses down the preload plate 12 gradually in the direction of arrow B against the urging force of the compression spring 4. When the front cover 7 is fully opened, as shown in FIGS. 5A and 5B, the cam 8 completely pushes down the preloading plate 12, so that the reticle 1 is unlocked. At this time, the reticle 1 is placed on the preload holding member 3, and in this state, the automatic transfer device of the semiconductor device automatically takes out the reticle 1 from the frame 5 and transfers it.

【0027】そして、再度前面フタ7を閉じると、カム
8がばね11の付勢力によりフレーム5の後面方向に回
転するため、予圧板12が圧縮ばね4の付勢力により上
方に移動し、この状態において保持される。
When the front cover 7 is closed again, the cam 8 rotates toward the rear surface of the frame 5 by the urging force of the spring 11, so that the preload plate 12 moves upward by the urging force of the compression spring 4, and in this state. Is held in.

【0028】このように、本実施の形態においては、フ
レーム5の底面に設けられた保持部材2と、保持部材2
と対称に予圧板12に設けられた予圧保持部材3とによ
りレチクル1を保持するとともに、予圧板12をフレー
ム5の底面に向けて付勢したため、保持部材2と予圧保
持部材3との間に挟持されたレチクル1はレチクルケー
スの天地を逆にしても、ケース内に確実に保持される。
したがって、レチクル1のクロム面を下側に向けて利用
する縮小投影露光装置などと、クロム面を上側に向けて
利用するEB装置や検査装置とで、別個のケースを用意
する必要がなくなる。
As described above, in the present embodiment, the holding member 2 provided on the bottom surface of the frame 5 and the holding member 2
The reticle 1 is held by the preload holding member 3 provided on the preload plate 12 and the preload plate 12 is urged toward the bottom surface of the frame 5. The nipped reticle 1 is securely held in the reticle case even if the reticle case is turned upside down.
Therefore, it is not necessary to provide separate cases for a reduced projection exposure apparatus or the like that uses the chrome surface of the reticle 1 facing downward and an EB apparatus or an inspection device that uses the chrome surface facing upward.

【0029】また、保持部材2および予圧保持部材3の
テーパ状の接触部2a,3aによりレチクル1はそのエ
ッジにおいてのみ保持部材2および予圧保持部材3に線
接触して保持されるため、レチクル1の表面に保持部材
2および予圧保持部材3が接触することがなくなる。こ
のため、保持部材とレチクル1とが面接触することによ
るゴミの発生を防止し、レチクル1に描画されているパ
ターンに悪影響を及ぼすことをなくすことができる。
Further, the reticle 1 is held in line contact with the holding member 2 and the preload holding member 3 only at its edges by the tapered contact portions 2a and 3a of the holding member 2 and the preload holding member 3, so that the reticle 1 The holding member 2 and the preload holding member 3 do not come into contact with the surface of the first member. Therefore, generation of dust due to surface contact between the holding member and the reticle 1 can be prevented, and it is possible to prevent the pattern drawn on the reticle 1 from being adversely affected.

【0030】さらに、上記実施の形態においては、ケー
ス内においてカム8が取り付けられる空間とレチクル1
が保持される空間とは壁部5C,5Dにより隔離されて
いるため、カム8の回転により生じるゴミがレチクル1
が保持される空間に進入することを防止できる。
Further, in the above embodiment, the space in the case where the cam 8 is attached and the reticle 1
Is separated from the space in which the reticle 1 is held by the walls 5C and 5D, so that dust generated by the rotation of the cam 8 is
Can be prevented from entering the space in which is held.

【0031】なお、上記実施の形態においては、レチク
ル1を収納するケースについて説明したが、ウエハやガ
ラス基板を収納するケースにも本発明を適用することが
可能である。
In the above embodiment, the case for storing the reticle 1 has been described. However, the present invention can be applied to a case for storing a wafer or a glass substrate.

【0032】また、上記実施の形態においては上フタ6
に圧縮ばね4を介して予圧板12を設けるようにした
が、フレーム5の底面に圧縮ばねを介して予圧板を設け
てもよく、上フタ6およびフレーム5の底面の双方に圧
縮ばねを介して予圧板を設けてもよい。
In the above embodiment, the upper lid 6
Although the preload plate 12 is provided on the bottom of the frame 5 via a compression spring, a preload plate may be provided on the bottom of the frame 5 via a compression spring. A preload plate may be provided.

【0033】以上の実施の形態と請求項との対応におい
て、保持部材2が第1の保持部材を、予圧保持部材3が
第2の保持部材を、接触部2a,3aが載置部を、圧縮
ばね4および予圧板12が付勢機構を、カム8が解除機
構を、ガイドピン30および筒部31が規制機構をそれ
ぞれ構成する。
In the correspondence between the above embodiment and the claims, the holding member 2 is the first holding member, the preload holding member 3 is the second holding member, the contact portions 2a, 3a are the mounting portions, The compression spring 4 and the preload plate 12 constitute an urging mechanism, the cam 8 constitutes a release mechanism, and the guide pin 30 and the cylinder 31 constitute a regulating mechanism.

【0034】−本発明による半導体製造プロセスの実施
の形態− 以下、図7〜図9を用いて本発明による半導体製造プロ
セスの一実施の形態について説明する。
Embodiment of Semiconductor Manufacturing Process According to the Present Invention Hereinafter, an embodiment of a semiconductor manufacturing process according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0035】図7において、レチクルケース20は半導
体製造プロセスを構成する個々の工程間を移動するに際
し、レチクル1を収納するための共用の収納ケースであ
る。レチクルケース20は上述の基板収納ケースの実施
の形態とほぼ同様の構成を備える。ただし、上述の実施
の形態の前面フタ7よりも前面フタ7aの横幅を広げて
おり、前面フタ7aの両端がフレーム5の側壁5A,5
Bから突出するように構成されている。
In FIG. 7, a reticle case 20 is a common storage case for storing the reticle 1 when moving between individual steps constituting a semiconductor manufacturing process. The reticle case 20 has substantially the same configuration as the above-described embodiment of the substrate storage case. However, the width of the front cover 7a is wider than that of the front cover 7 of the above-described embodiment, and both ends of the front cover 7a are
It is configured to protrude from B.

【0036】レチクル1を収納したレチクルケース20
がEB露光装置101のレチクルケースライブラリ10
1Aに挿入されると、EB露光装置101の自動搬送装
置(不図示)がレチクルケース20からレチクル1を取
り出し、レチクル1をEB露光装置101内に搬送す
る。EB描写を実行した後、描画されたレチクル1は自
動搬送装置によってEB露光装置101内から搬出さ
れ、レチクルケースライブラリ101A内のレチクルケ
ース20に再度収納される。
Reticle case 20 containing reticle 1
Is the reticle case library 10 of the EB exposure apparatus 101
When the reticle 1 is inserted into the EB exposure apparatus 101, the automatic transport apparatus (not shown) of the EB exposure apparatus 101 takes out the reticle 1 from the reticle case 20 and transports the reticle 1 into the EB exposure apparatus 101. After executing the EB depiction, the drawn reticle 1 is carried out of the EB exposure apparatus 101 by the automatic transport device, and is again stored in the reticle case 20 in the reticle case library 101A.

【0037】EB描画プロセスの終了後、レチクル1が
収納されたレチクルケース20はレチクルケースライブ
ラリ101Aから取り出され、次プロセスのためエッチ
ング・現像装置102のレチクルケースライブラリ10
2Aに挿入される。次に、エッチング・現像装置102
の自動搬送装置(不図示)がレチクルケース20からレ
チクル1を取り出して、エッチング・現像装置102内
に搬送する。エッチング・現像プロセスを経たレチクル
1は、自動搬送装置によってレチクルケースライブラリ
102A内のレチクルケース20に再度収納される。
After the EB drawing process is completed, the reticle case 20 containing the reticle 1 is taken out of the reticle case library 101A, and is used for the next process.
Inserted into 2A. Next, the etching / developing device 102
The automatic transfer device (not shown) takes out the reticle 1 from the reticle case 20 and transfers it to the etching / developing device 102. The reticle 1 that has undergone the etching / developing process is stored again in the reticle case 20 in the reticle case library 102A by the automatic transport device.

【0038】エッチング・現像プロセス終了後、レチク
ルケース20はレチクルケースライブラリ102Aから
取り出され、レチクル検査装置103のレチクルケース
ライブラリ103Aに挿入される。レチクル1は後述す
る自動搬送装置40(図8)によってレチクルケース2
0から取り出され、レチクル検査装置103内に搬入さ
れる。レチクル検査装置103によってレチクル1に形
成されたパターンの寸法測定やパターンの外観検査を行
った後、レチクル1は自動搬送装置40によってレチク
ルケース20内に戻され、レチクル検査プロセスが完了
する。
After the completion of the etching / development process, the reticle case 20 is taken out of the reticle case library 102A and inserted into the reticle case library 103A of the reticle inspection apparatus 103. The reticle 1 is moved by a later-described automatic transfer device 40 (FIG. 8) into a reticle case 2.
And is carried into the reticle inspection apparatus 103. After the dimensions of the pattern formed on the reticle 1 are measured and the appearance of the pattern is inspected by the reticle inspection device 103, the reticle 1 is returned into the reticle case 20 by the automatic transfer device 40, and the reticle inspection process is completed.

【0039】次に、レチクルケース20はレチクル検査
装置103のレチクルケースライブラリ103Aから取
り出され、次プロセスの縮小投影露光プロセスへと送ら
れる。縮小投影露光プロセスではレチクル1はパターン
面が下側となる向きにセットされなければならないの
で、レチクルケース20は天地を反転して縮小投影露光
装置104のレチクルケースライブラリ104Aに挿入
される。レチクル1は、後述する自動搬送装置50(図
9)により縮小投影露光装置104内に搬送され、ウエ
ハへの縮小投影を行う。縮小投影が完了した後、レチク
ル1が自動搬送装置50によってレチクルケース20に
戻され、全てのプロセスを終了する。
Next, the reticle case 20 is taken out of the reticle case library 103A of the reticle inspection apparatus 103, and sent to the next process, the reduced projection exposure process. In the reduction projection exposure process, the reticle 1 must be set so that the pattern surface is on the lower side, and the reticle case 20 is turned upside down and inserted into the reticle case library 104A of the reduction projection exposure apparatus 104. The reticle 1 is transferred into the reduction projection exposure device 104 by an automatic transfer device 50 (FIG. 9) described later, and performs reduction projection on a wafer. After the reduction projection is completed, the reticle 1 is returned to the reticle case 20 by the automatic transfer device 50, and all the processes are completed.

【0040】次に図8を用い、上述のレチクル検査プロ
セスにおいて使用される自動搬送装置40について説明
する。図8に示すように、自動搬送装置40は鉛直方向
に移動可能な移動部41aを有する基体41と、移動部
41aに回動可能に取付けられた第1アーム42と、第
1アーム42の先端部に回動可能に取付けられた第2ア
ーム43と、第2アーム43の先端部に回動可能に取付
けられたハンド44とを備える。このような構成によ
り、ハンド44の水平面内の位置、方向(R、θ)およ
び鉛直方向の位置(Z)が制御可能とされている。
Next, with reference to FIG. 8, the automatic transfer device 40 used in the above-described reticle inspection process will be described. As shown in FIG. 8, the automatic transport device 40 includes a base 41 having a moving part 41 a movable in a vertical direction, a first arm 42 rotatably attached to the moving part 41 a, and a tip of the first arm 42. A second arm 43 is rotatably attached to the unit, and a hand 44 is rotatably attached to the tip of the second arm 43. With such a configuration, the position, direction (R, θ) and vertical position (Z) of the hand 44 in the horizontal plane can be controlled.

【0041】一方、図8に示すようにレチクル検査装置
103のレチクルケースライブラリ103Aには、レチ
クルケース20の前面フタ7aを開放するための爪46
が各段ごとに設けられている。前面フタ7aの端部に当
接する爪46を移動することによって、前面フタ7aを
P方向に開けることができる。
On the other hand, as shown in FIG. 8, the reticle case library 103A of the reticle inspection device 103 has a claw 46 for opening the front cover 7a of the reticle case 20.
Are provided for each stage. The front cover 7a can be opened in the P direction by moving the claw 46 that contacts the end of the front cover 7a.

【0042】レチクルケース20がレチクル検査装置1
03のレチクルケースライブラリ103Aに挿入される
と、爪46によって前面フタ7aが開放され、これによ
りレチクル1の固定が解除される。続いてレチクル1の
下側の間隙に差込まれたハンド44を上昇させることに
より、レチクル1をハンド44上に載置する。次に、ハ
ンド44を移動させることにより、図8の矢印Q、R、
S、Tの経路を経てレチクル1はレチクル検査装置10
3のレチクルステージ47の上に載置される。レチクル
検査終了後、レチクル1は矢印U、V、W、Xの経路を
経て前面フタ7aが開放されたレチクルケース20内に
載置される。ハンド44をレチクルケース20から引き
抜いた後、爪46を移動して前面フタ7aをY方向に閉
じる。これによりレチクル1はレチクルケース20内に
固定される。
The reticle case 20 is the reticle inspection device 1
When the reticle 1 is inserted into the reticle case library 103A of No. 03, the front cover 7a is opened by the claw 46, whereby the fixing of the reticle 1 is released. Subsequently, the reticle 1 is placed on the hand 44 by raising the hand 44 inserted into the lower gap of the reticle 1. Next, by moving the hand 44, the arrows Q, R,
The reticle 1 passes through the S and T paths,
3 is mounted on the reticle stage 47. After the reticle inspection is completed, the reticle 1 is placed in the reticle case 20 with the front cover 7a opened via the paths of arrows U, V, W, and X. After the hand 44 is pulled out of the reticle case 20, the claws 46 are moved to close the front cover 7a in the Y direction. Thereby, reticle 1 is fixed in reticle case 20.

【0043】次に図9を用い、上述の縮小投影露光プロ
セスにおいて使用される自動搬送装置50について説明
する。自動搬送装置50は自動搬送装置40と同様の構
成を備える。図9に示すように、自動搬送装置50は鉛
直方向に移動可能な移動部51aを有する基体51と、
移動部51aに回動可能に取付けられた第1アーム52
と、第1アーム52の先端部に回動可能に取付けられた
第2アーム53と、第2アーム53の先端部に回動可能
に取付けられたハンド54とを備える。また、縮小投影
露光装置104のレチクルケースライブラリ104Aに
は、レチクルケース20の前面フタ7aを開放するため
の爪56が各段ごとに設けられている。なお、図9では
レチクルケース2の天地が図8と反転している。
Next, with reference to FIG. 9, an automatic transport device 50 used in the above-described reduced projection exposure process will be described. The automatic transfer device 50 has the same configuration as the automatic transfer device 40. As shown in FIG. 9, the automatic transfer device 50 includes a base 51 having a moving portion 51 a movable in a vertical direction,
First arm 52 rotatably attached to moving part 51a
A second arm 53 rotatably attached to the distal end of the first arm 52; and a hand 54 rotatably attached to the distal end of the second arm 53. In the reticle case library 104A of the reduction projection exposure apparatus 104, claws 56 for opening the front cover 7a of the reticle case 20 are provided for each stage. Note that in FIG. 9, the top and bottom of the reticle case 2 are inverted from those in FIG.

【0044】レチクルケース20が縮小投影露光装置1
04のレチクルケースライブラリ104Aに挿入される
と、爪56によって前面フタ7aが開放される。続いて
レチクル1の下側の間隙に差込まれたハンド54を上昇
させ、レチクル1をハンド54上に載置した後、図9の
矢印Q、R、S、Tの経路を経てレチクル1が縮小投影
露光装置104のレチクルステージ57の上に載置され
る。レチクル検査終了後、レチクル1は矢印U、V、
W、Xの経路を経て前面フタ7aが開放されたレチクル
ケース20内に載置される。ハンド54をレチクルケー
ス20から引き抜いた後、爪56の移動によって前面フ
タ7aをY方向に閉じることによりレチクル1がレチク
ルケース20内に固定される。
The reticle case 20 is a reduction projection exposure apparatus 1
When inserted into the reticle case library 104A of No. 04, the front cover 7a is opened by the claw 56. Subsequently, the hand 54 inserted into the lower gap of the reticle 1 is lifted, and the reticle 1 is placed on the hand 54. Then, the reticle 1 is moved through the paths indicated by arrows Q, R, S, and T in FIG. It is mounted on a reticle stage 57 of the reduction projection exposure apparatus 104. After reticle inspection, reticle 1 is indicated by arrows U, V,
The front cover 7a is placed in the open reticle case 20 via the paths of W and X. After the hand 54 is pulled out of the reticle case 20, the front cover 7a is closed in the Y direction by the movement of the claw 56, whereby the reticle 1 is fixed in the reticle case 20.

【0045】本実施の形態の半導体製造プロセスでは、
各工程間の移動に際しレチクル1をレチクルケース20
に収納するようにし、各工程の装置ごとにレチクルケー
ス20を収納するためのレチクルケースライブラリを設
けている。このため、レチクル1を収納したままレチク
ルケース20をレチクルケースライブラリの間で移動さ
せることができるので、製造プロセスの途中でオペレー
タがレチクル1に触れることがなく、空気中のゴミも付
着しにくい。したがって、極めてクリーンなプロセスを
実現することができる。また、レチクルケース2は天地
逆に使用することができるので、レチクル1を異なるケ
ースに収納するための入替え作業が不要となり、半導体
製造プロセスの効率化およびコストダウンが図られる。
In the semiconductor manufacturing process of this embodiment,
When moving between the respective steps, the reticle 1 is held in the reticle case 20.
And a reticle case library for accommodating the reticle case 20 for each apparatus in each process. For this reason, the reticle case 20 can be moved between the reticle case libraries while the reticle 1 is stored, so that the operator does not touch the reticle 1 during the manufacturing process, and dust in the air hardly adheres. Therefore, an extremely clean process can be realized. In addition, since the reticle case 2 can be used upside down, there is no need to replace the reticle 1 in a different case, and the efficiency and cost of the semiconductor manufacturing process can be reduced.

【0046】各工程間のレチクルケース20の移動はオ
ペレータの手によって行ってもよいし、無人搬送装置な
どを使用することにより自動化してもよい。本実施の形
態によれば、レチクル1を収納するケースをレチクルケ
ース20に統一しているので、無人搬送装置などを用い
た自動化が容易である。また、収納ケースの統一によ
り、自動搬送装置40、50などの各工程ごとに用いら
れる自動搬送装置の設計を共通化することができる。
The movement of the reticle case 20 between the steps may be performed by an operator, or may be automated by using an unmanned transfer device or the like. According to the present embodiment, the case for storing reticle 1 is unified to reticle case 20, so that automation using an unmanned transfer device or the like is easy. In addition, by unifying the storage cases, it is possible to standardize the design of the automatic transport devices used for each process such as the automatic transport devices 40 and 50.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、請求項1の
発明によれば、フレーム底面と蓋体との双方にそれぞれ
基板を載置する載置部が設けられた第1および第2の保
持部材を設けたため、ケースの天地に関わらず、基板は
ケース内において同一の状態で保持され、これにより、
基板の上下に関わらずケースを使用することができ、基
板を使用する装置に応じて別個のケースを設ける必要が
なくなる。請求項2の発明によれば、基板1は第1およ
び第2の保持部材2,3のテーパ状の載置部にそのエッ
ジが接触した状態で保持される。このため、基板の表面
に第1および第2の保持部材が接触することがなくな
り、保持部材と基板とが接触することによるゴミの発生
を防止して基板に悪影響を及ぼすことを防止することが
できる。
As described above in detail, according to the first aspect of the present invention, the first and second mounting portions for mounting the substrate on both the bottom surface of the frame and the lid are provided. Because the holding member is provided, the substrate is held in the same state in the case regardless of the top and bottom of the case,
The case can be used regardless of whether the substrate is above or below the substrate, and it is not necessary to provide a separate case depending on the device using the substrate. According to the second aspect of the present invention, the substrate 1 is held with the edges thereof in contact with the tapered mounting portions of the first and second holding members 2 and 3. For this reason, the first and second holding members do not come into contact with the surface of the substrate, and the generation of dust due to the contact between the holding member and the substrate is prevented, thereby preventing the substrate from being adversely affected. it can.

【0048】請求項3の発明によれば、第1および第2
の保持機構の少なくとも一方が他方に向けて付勢されて
いるため、基板は第1および第2の保持機構にその位置
を規制されて確実に保持されることとなる。請求項4の
発明によれば、第2の保持部材が予圧板に設けられ、付
勢機構はこの予圧板を付勢するため、第2の保持部材は
基板を均等な保持力により保持することができる。請求
項5の発明によれば、予圧板は規制機構により付勢機構
の付勢方向と直交する方向に移動しないように規制され
るため、予圧板は付勢機構の付勢方向に確実に移動する
こととなる。したがって、第2の保持部材は基板を均等
な保持力により確実の保持することができる。
According to the third aspect of the present invention, the first and the second
Since at least one of the holding mechanisms is biased toward the other, the substrate is reliably held with its position regulated by the first and second holding mechanisms. According to the fourth aspect of the present invention, the second holding member is provided on the preload plate, and the urging mechanism urges the preload plate. Therefore, the second holding member holds the substrate with a uniform holding force. Can be. According to the fifth aspect of the present invention, the preload plate is regulated by the regulating mechanism so as not to move in the direction orthogonal to the urging direction of the urging mechanism, so that the preload plate surely moves in the urging direction of the urging mechanism. Will be done. Therefore, the second holding member can surely hold the substrate with a uniform holding force.

【0049】請求項6の発明によれば、付勢機構の付勢
を解除する解除機構を設けたため、基板は第1および第
1の保持部材による保持から解放し易くすることができ
る。請求項7の発明によれば、前面フタの開動作に応じ
て解除機構により付勢機構の付勢を解除するようにした
ため、基板をフレームの前面から取り出し易くすること
ができる。請求項8の発明によれば、解除機構は基板が
収納される空間と隔離されているため、解除機構の動作
により生じるゴミが基板に付着することがなくなり、こ
れにより基板への悪影響を防止することができる。
According to the sixth aspect of the present invention, since the release mechanism for releasing the urging of the urging mechanism is provided, the substrate can be easily released from being held by the first and first holding members. According to the seventh aspect of the invention, the urging mechanism is released from the urging mechanism by the releasing mechanism in accordance with the opening operation of the front cover, so that the substrate can be easily taken out from the front surface of the frame. According to the invention of claim 8, since the release mechanism is isolated from the space in which the substrate is stored, dust generated by the operation of the release mechanism does not adhere to the substrate, thereby preventing adverse effects on the substrate. be able to.

【0050】請求項9の発明によれば、基板1に対して
加工あるいは検査を行う複数の工程間を移動するに際し
て、基板1を請求項1〜8のいずれか1項に記載の基板
収納ケースに収納するので、基板へのゴミや汚れの付着
を防ぐことができる。請求項10の発明によれば、工程
間の複数回の移動に際して共通の基板収納ケースを用い
るようにしたので、半導体製造プロセスを効率化するこ
とができる。
According to the ninth aspect of the present invention, when the substrate 1 is moved between a plurality of processes for processing or inspecting the substrate 1, the substrate 1 is stored in the substrate storage case according to any one of the first to eighth aspects. Since it is accommodated in the substrate, it is possible to prevent dust and dirt from adhering to the substrate. According to the tenth aspect, a common substrate storage case is used for a plurality of movements between steps, so that the semiconductor manufacturing process can be made more efficient.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態に係るレチクルケースの構成を示
す斜視図
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a reticle case according to the present embodiment.

【図2】(a)は本実施の形態に係るレチクルケースの
前面フタが閉じてレチクルを保持している状態のレチク
ル保持部分の断面図、図(b)はレチクルを保持してい
る状態のレチクル固定部分の断面図
FIG. 2A is a cross-sectional view of a reticle holding portion in a state where a front cover of a reticle case according to the present embodiment is closed to hold a reticle, and FIG. 2B is a state in which a reticle is held; Cross section of reticle fixing part

【図3】(a)は本実施の形態に係るレチクルケースの
前面フタが開いた状態のレチクル保持部分の断面図、図
(b)はレチクルケースの前面フタが開いた状態のレチ
クル固定部分の断面図
FIG. 3A is a cross-sectional view of a reticle holding portion of the reticle case according to the present embodiment with a front cover opened, and FIG. 3B is a view of a reticle fixing portion of the reticle case with a front cover opened. Sectional view

【図4】図2(a),(b)の天地を逆にした状態を示
す図
FIG. 4 is a diagram showing a state in which the top and bottom of FIGS. 2A and 2B are inverted;

【図5】図3(a),(b)の天地を逆にした状態を示
す図
FIG. 5 is a diagram showing a state in which the top and bottom of FIGS. 3A and 3B are inverted;

【図6】ガイドピンの構成を示す図FIG. 6 is a diagram showing a configuration of a guide pin.

【図7】本実施の形態の半導体製造プロセスを模式的に
示す図
FIG. 7 is a diagram schematically showing a semiconductor manufacturing process of the present embodiment.

【図8】レチクル検査プロセスにおいて使用される自動
搬送装置を示す図
FIG. 8 is a view showing an automatic transfer device used in the reticle inspection process.

【図9】縮小投影露光プロセスにおいて使用される自動
搬送装置を示す図
FIG. 9 is a diagram showing an automatic transport device used in the reduction projection exposure process.

【図10】従来のレチクルケースの構成を示す図FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a conventional reticle case.

【図11】従来の半導体製造プロセスの一例を示す図FIG. 11 is a diagram showing an example of a conventional semiconductor manufacturing process.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レチクル 2 保持部材 3 予圧保持部材 4 圧縮ばね 5 フレーム 6 上フタ 7 前面フタ 8 カム 9 連結ワイヤ 11 引張ばね 12 予圧板 20 レチクルケース 30 ガイドピン 31 筒部 40 自動搬送装置 50 自動搬送装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Reticle 2 Holding member 3 Preload holding member 4 Compression spring 5 Frame 6 Upper lid 7 Front lid 8 Cam 9 Connecting wire 11 Tension spring 12 Preload plate 20 Reticle case 30 Guide pin 31 Tubular part 40 Automatic transport device 50 Automatic transport device

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも上部が開口されたフレーム
と、 該フレームの前記開口を開閉する蓋体と、 前記フレーム底面に配設された第1の保持部材と、 前記蓋体に配設された第2の保持部材とを備え、 前記第1および前記第2の保持部材により基板を挟持し
て、該基板を収納する基板収納ケースにおいて、 前記第1の保持部材と前記第2の保持部材の各々には、
それぞれ単独で前記基板を載置可能な載置部が設けられ
ていることを特徴とする基板収納ケース。
1. A frame having at least an upper part opened, a lid for opening and closing the opening of the frame, a first holding member disposed on a bottom surface of the frame, and a first member disposed on the lid. A holding member for holding the substrate by holding the substrate between the first and second holding members, wherein each of the first holding member and the second holding member is provided. In
A substrate storage case, wherein a mounting portion on which the substrate can be mounted independently is provided.
【請求項2】 前記第1の保持部材および前記第2の保
持部材の前記載置部は前記ケースの中央側に下り勾配の
テーパ状とされ、前記載置部は前記基板のエッジに接触
して該基板を保持することを特徴とする請求項1記載の
基板収納ケース。
2. The mounting portion of the first holding member and the second holding member is tapered with a downward slope toward the center of the case, and the mounting portion contacts an edge of the substrate. The substrate storage case according to claim 1, wherein the substrate is held by holding the substrate.
【請求項3】 前記第1の保持部材および前記第2の保
持部材の少なくとも一方を他方に向けて付勢する付勢機
構をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2記
載の基板収納ケース。
3. The substrate storage according to claim 1, further comprising an urging mechanism for urging at least one of the first holding member and the second holding member toward the other. Case.
【請求項4】 前記第2の保持部材は予圧板に設けら
れ、前記付勢機構は該予圧板を付勢することを特徴とす
る請求項3記載の基板収納ケース。
4. The substrate storage case according to claim 3, wherein the second holding member is provided on a preload plate, and the urging mechanism urges the preload plate.
【請求項5】 前記予圧板が前記付勢機構の付勢方向と
直交する方向に移動しないように規制する規制機構をさ
らに備えたことを特徴とする請求項4記載の基板収納ケ
ース
5. The substrate storage case according to claim 4, further comprising a regulating mechanism for regulating the preload plate so as not to move in a direction orthogonal to the urging direction of the urging mechanism.
【請求項6】 前記付勢機構の付勢を解除する解除機構
をさらに備えたことを特徴とする請求項3、4または5
記載の基板収納ケース。
6. The apparatus according to claim 3, further comprising a release mechanism for releasing the urging of said urging mechanism.
The board storage case described.
【請求項7】 前記フレームの前面を開閉する前面フタ
をさらに備え、前記解除機構は前記前面フタの開動作に
応じて、前記付勢機構の付勢を解除することを特徴とす
る請求項6記載の基板収納ケース。
7. The apparatus according to claim 6, further comprising a front cover for opening and closing a front surface of the frame, wherein the release mechanism releases the bias of the biasing mechanism in response to an opening operation of the front cover. The board storage case described.
【請求項8】 前記解除機構は、前記基板が収納される
空間と隔離されて配設されていることを特徴とする請求
項6または7記載の基板収納ケース。
8. The substrate storage case according to claim 6, wherein the release mechanism is provided separately from a space in which the substrate is stored.
【請求項9】 前記基板に対して加工あるいは検査を行
う複数の工程からなる半導体製造プロセスにおいて、 前記複数の工程のうちの一の工程から次工程に前記基板
を移動する際に、前記基板を請求項1〜8のいずれか1
項に記載の基板収納ケースに収納するようにしたことを
特徴とする半導体製造プロセス。
9. In a semiconductor manufacturing process including a plurality of steps of processing or inspecting the substrate, when the substrate is moved from one of the plurality of steps to the next step, Any one of claims 1 to 8
A semiconductor manufacturing process characterized in that the semiconductor device is housed in the substrate housing case described in (1).
【請求項10】 前記基板が3以上の工程を順次移動す
るプロセスであって、複数回の移動に際し前記基板を共
通の基板収納ケースに収納するようにしたことを特徴と
する請求項9に記載の半導体製造プロセス。
10. The process according to claim 9, wherein said substrate is a process of sequentially moving three or more steps, and wherein said substrate is stored in a common substrate storage case during a plurality of movements. Semiconductor manufacturing process.
【請求項11】 前記共通の基板収納ケースから前記基
板を取り出して加工あるいは検査のための所定位置に自
動搬送する自動搬送装置を各工程ごとに設けたことを特
徴とする請求項10に記載の半導体製造プロセス。
11. The apparatus according to claim 10, wherein an automatic transfer device for taking out the substrate from the common substrate storage case and automatically transferring the substrate to a predetermined position for processing or inspection is provided for each process. Semiconductor manufacturing process.
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