JPH10282165A - ジッタアナライザ - Google Patents

ジッタアナライザ

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JPH10282165A
JPH10282165A JP8290397A JP8290397A JPH10282165A JP H10282165 A JPH10282165 A JP H10282165A JP 8290397 A JP8290397 A JP 8290397A JP 8290397 A JP8290397 A JP 8290397A JP H10282165 A JPH10282165 A JP H10282165A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置の改造やレンジ変更が不要で転送レート
や回転系制御方式に関わりなくジッタの測定が可能なジ
ッタアナライザを実現する。 【解決手段】 パルス幅変調された入力信号の時間幅を
測定することによりジッタを測定するジッタアナライザ
において、入力信号の時間幅を測定する時間測定回路
と、この時間測定回路の出力をヒストグラム分布として
記憶するアクイジションメモリと、確率分布が格納され
た確率分布メモリと、アクイジションメモリの内容を走
査したデータが確率分布の範囲内にある場合にデータに
基づきジッタ演算して表示手段に表示させる制御手段と
を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、周期信号、パルス
信号等のパルス幅のジッタを測定するジッタアナライザ
に関し、特に入力信号の種類に関わりなくジッタの測定
が可能なジッタアナライザに関する。
【0002】
【従来の技術】CD若しくはCD−ROM等の光ディス
ク・ドライブのジッタ解析にはジッタメータが用いられ
ていた。従来のジッタメータはパルス幅変調されたEF
M(Eight-to-Fourteen Modulation )信号の特定のパ
ルス幅を抽出・測定しジッタを表示等するものである。
【0003】図14はこのような従来のジッタメータの
一例を示す構成ブロック図である。図14において1は
増幅器、2及び11はローパスフィルタ回路(以下、単
にフィルタ回路と呼ぶ。)、3はウィンドウ回路、4は
比較器、5,6及び7はそれぞれ標準速、2倍速及び4
倍速の入力信号用の時間電圧変換器、8はA/D変換
器、9はデータ取込回路、10はD/A変換器、12は
ジッタ変換回路、13は表示回路、100はEFM信号
等の入力信号である。
【0004】入力信号100は増幅器1に入力され、増
幅器1の出力はフィルタ回路2及びウィンドウ回路3に
接続される。フィルタ回路2の出力は比較器4に接続さ
れ、比較器4の出力は時間電圧変換器5,6及び7にそ
れぞれ接続される。
【0005】時間電圧変換器5,6及び7の出力はA/
D変換器8に接続され、A/D変換器8の出力はデータ
取込回路9に接続される。また、ウィンドウ回路3の出
力はデータ取込回路9の制御端子に接続される。
【0006】データ取込回路9の出力はD/A変換器1
0に接続され、D/A変換器10の出力はフィルタ回路
11に接続される。
【0007】フィルタ回路11の出力はジッタ変換回路
12に接続され、ジッタ変換回路12の出力は表示回路
13に接続される。
【0008】ここで、図14に示す従来例の動作を図1
5を用いて説明する。図15は入力信号100の一例を
示すタイミング図であり、CD−ROMドライブからの
EFM信号の一例である。
【0009】図15において”イ”,”ロ”,”
ハ”,”ニ”,”ホ”,”ヘ”,”ト”及び”チ”はサ
ンプリングクロック”T”のそれぞれ”3”,”
5”,”11”,”4”,”8”,”3”,”6”及
び”4”倍幅のパルス信号である。
【0010】このように、入力信号100は3〜11倍
幅(以下、3T〜11Tと記載を省略する。)のパルス
信号がランダムに分布するものである。この中で3Tの
パルス信号のジッタが最も大きいためCD−ROMドラ
イブの評価等では3Tのパルス信号のジッタが測定され
る。
【0011】入力信号100は増幅器1により適宜増幅
されフィルタ回路2で高周波成分を除去されて比較器4
に入力される。比較器4は入力された信号を2値化し
て、時間電圧変換器5,6及び7に入力する。
【0012】入力信号100の転送レートに基づき時間
電圧変換器5,6及び7の一が選択される。例えば、転
送レートが2倍速であれば時間電圧変換器6が選択され
る。
【0013】時間電圧変換器6は入力されたパルス信号
を電圧値に変換してA/D変換器8に入力し、A/D変
換器8は前記電圧値をディジタル信号に変換する。
【0014】データ取込回路9はウィンドウ回路3で決
定されたウィンドウ幅に基づきA/D変換器8の出力を
取り込みD/A変換器10に出力する。
【0015】D/A変換器10の出力はフィルタ回路1
1を介してジッタ変換回路12に入力され、ジッタ変換
回路12の出力であるジッタは表示回路13において表
示される。
【0016】この結果、転送レートが2倍速の入力信号
100のジッタを測定することができる。また、時間電
圧変換回路5及び7を適宜選択することにより転送レー
トが標準速や4倍速等の入力信号のジッタを測定するこ
とも可能になる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のジッタ
メータでは標準速、2倍速及び4倍速と言った転送レー
トに合わせて前述の時間電圧変換回路を選択、言い換え
ればレンジ変更をしなければならず測定が煩わしいと言
った問題点があった。
【0018】また、現在でも10倍速や12倍速と言っ
た転送レートのCD−ROMドライブ等が存在し、これ
らの測定をするためには前記転送レートに適した時間電
圧変換回路を追加する等のジッタメータの改造が必要で
ある。
【0019】しかも、将来的には24倍速やDVD(Di
gital Versatile Disc )の開発が行われており従来の
ジッタメータを将来的に使用することは困難であると言
った問題点が生じる。
【0020】一方、現在のCD−ROMドライブの回転
系制御方式はCLV制御方式(Constant Line Velocit
y、線速度一定。)であるので、CD−ROMの任意の
点でパルス信号を取り出しても同一倍幅、例えば、3T
のパルス幅は一定である。
【0021】しかしながら、転送レートの高速化や記憶
データの高密度化などによりZ−CLV制御方式(Zone
Constant Line Velocity、ゾーン毎の線速度一定.)
やCAV制御方式(Constant Angle Velocity、角速度
一定。)が開発されており、CD−ROMの任意の点で
同一倍幅のパルス信号を取り出してもその取り出し位置
によりバラバラになってしまい従来のジッタメータでは
測定が困難であると言った問題点が生じる。従って本発
明が解決しようとする課題は、装置の改造やレンジ変更
が不要で転送レートや回転系制御方式に関わりなくジッ
タの測定が可能なジッタアナライザを実現することにあ
る。
【0022】
【課題を解決するための手段】このような課題を達成す
るために、本発明の第1では、パルス幅変調された入力
信号の時間幅を測定することによりジッタを測定するジ
ッタアナライザにおいて、前記入力信号の時間幅を測定
する時間測定回路と、この時間測定回路の出力をヒスト
グラム分布として記憶するアクイジションメモリと、確
率分布が格納された確率分布メモリと、前記アクイジシ
ョンメモリの内容を走査したデータが前記確率分布の範
囲内にある場合に前記データに基づきジッタ演算して表
示手段に表示させる制御手段とを備えたことを特徴とす
るものである。
【0023】このような課題を達成するために、本発明
の第2では、本発明の第1において、複数の転送レート
に対応する走査位置を格納した走査位置メモリを備え、
前記アクイジションメモリの内容を前記走査位置に基づ
き走査することを特徴とするものである。
【0024】このような課題を達成するために、本発明
の第3では、本発明の第1及び第2において、参照分布
設定手段により設定された参照分布データを格納する参
照分布メモリを備え、前記アクイジションメモリの内容
を前記参照分布データに基づき走査することを特徴とす
るものである。
【0025】このような課題を達成するために、本発明
の第4では、本発明の第1乃至第3において、前記アク
イジションメモリから走査されたヒストグラム分布を表
示するヒストグラム分布表示手段を備えたことを特徴と
するものである。
【0026】このような課題を達成するために、本発明
の第5では、本発明の第1乃至第3において、前記参照
分布メモリに格納された参照分布データを表示する参照
分布表示手段を備えたことを特徴とするものである。
【0027】このような課題を達成するために、本発明
の第6では、本発明の第1乃至第3において、前記転送
レートを表示する転送レート表示手段を備えたことを特
徴とするものである。
【0028】このような課題を達成するために、本発明
の第7では、本発明の第1乃至第3において、前記表示
手段に入力信号の種類に関わりなくジッタを百分率表示
することを特徴とするものである。
【0029】このような課題を達成するために、本発明
の第8では、本発明の第1において、前記アクイジショ
ンメモリと前記確率分布メモリとを一つの記憶回路で構
成したことを特徴とするものである。
【0030】このような課題を達成するために、本発明
の第9では、本発明の第2において、前記アクイジショ
ンメモリ、前記確率分布メモリ及び前記走査位置メモリ
を一つの記憶回路で構成したことを特徴とするものであ
る。
【0031】このような課題を達成するために、本発明
の第10では、本発明の第3において、前記アクイジシ
ョンメモリ、前記確率分布メモリ及び前記参照分布メモ
リを一つの記憶回路で構成したことを特徴とするもので
ある。
【0032】
【発明の実施の形態】以下本発明を図面を用いて詳細に
説明する。図1は本発明に係るジッタアナライザの一実
施例を示す構成ブロック図である。
【0033】図1において100は図14と同一符号を
付してあり、14は時間測定回路、15はアクイジショ
ンメモリ、16は確率分布メモリ、17はデータ読出手
段、18は読出データメモリ、19はジッタ演算手段、
20は表示手段、21は走査位置メモリ、22は参照分
布メモリ、23は入力手段である。また、17〜19は
制御手段50を構成している。
【0034】入力信号100は時間測定回路14に入力
され、時間測定回路14の出力はアクイジションメモリ
15に接続される。
【0035】アクイジションメモリ15、確率分布メモ
リ16、読出データメモリ18、走査位置メモリ21及
び参照分布メモリ22の入出力はデータ読出手段17に
接続される。
【0036】読出データメモリ18の出力はジッタ演算
手段19に接続され、ジッタ演算手段19の出力は表示
手段20に接続される。また、入力手段23の出力は参
照分布メモリ22に接続される。
【0037】ここで、図1に示す実施例の動作を図2〜
図4を用いて説明する。図2〜図4はアクイジションメ
モリ15のデータの分布状態を示す説明図である。
【0038】時間測定回路14は入力信号100の立ち
上がり若しくは立ち下がりのエッジをトリガとしてパル
ス幅測定や2信号間の時間差測定等を行う。
【0039】測定されたデータはアクイジションメモリ
15に順次格納される。但し、アクイジションメモリ1
5には測定データそのものが格納されるのではなく、測
定データのヒストグラム分布形状が格納される。
【0040】即ち、時間測定回路14は測定データ値に
該当するアクイジションメモリ15のアドレス等に度数
としてデータを格納するものである。
【0041】例えば、測定されたパルス幅が”694n
s”の場合にはアクイジションメモリ15内の”694
ns”に該当するメモリ領域の度数を”+1”する。
【0042】これにより、例えば図2〜図4に示すよう
なヒストグラム分布がアクイジションメモリ15に格納
される。
【0043】図2、図3及び図4は標準速、2倍速及び
6倍速のCD−ROMドライブのEFM信号を測定した
場合のアクイジションメモリ15に格納されるヒストグ
ラム分布を示すものであり、縦軸は度数を、横軸は測定
されたパルス幅を示している。
【0044】また、図2中”イ”〜”リ”はそれぞれ”
3T”〜”11T”のパルス信号の分布状態を示してい
る。ここで”T”はCD−ROMドライブ内部のサンプ
リングクロックを示し、このサンプリングクロックはデ
ータ転送レートと比例関係にある。
【0045】また、データ読出手段17は確率分布メモ
リ16、走査位置メモリ21及び参照分布メモリ22か
らデータを読み出し、データ読出手段17はこれらのデ
ータ等に基づきアクイジションメモリ15からデータを
読み出して読出データメモリ18に格納する。
【0046】そして、ジッタ演算手段19は読出データ
メモリ18に格納されているデータに基づきジッタを演
算して表示手段20に表示させる。
【0047】ジッタ(標準偏差)”σ”は読出データメ
モリ18内のヒストグラムビン数を”n”、i番目の相
対度数を”Pi”、i番目の測定値を”Xi”、平均値
を”Ave”とした場合、 σ={Σ(Xi−Ave)2×Pi/n}1/2 (1) と演算される。但し、”Σ”は”i=1”〜”n”まで
の加算を意味する。
【0048】さらに、実施例の動作をより具体的に図5
〜図11を用いて説明する。図5はジッタアナライザの
表面パネルの具体例を示す平面図、図6,図7,図8及
び図9は確率分布メモリ16、走査位置メモリ21、読
出データメモリ18及び参照分布メモリ22の内容を示
す説明図、図10は実施例の動作を説明するフロー図、
図11はデータ読出方法を説明する説明図である。
【0049】図5において24は測定ファンクション表
示手段、25は参照分布表示手段、26は転送レート表
示手段、27はヒストグラム分布表示手段、28は測定
ファンクション選択手段、29は参照分布選択手段、3
0はジッタ表示手段、31及び32は入力端子、33は
被測定対象であるCD−ROMドライブである。
【0050】CD−ROMドライブ33からのEFM信
号及びサンプリングクロック信号はジッタアナライザの
入力端子31及び32に入力される。
【0051】図10(a)に示すように先ずユーザは参
照分布選択手段29により参照分布データの設定を行
う。具体的にはサンプリングクロック”T”の何倍幅の
パルス信号を測定するかを選択する。
【0052】この選択操作により参照分布メモリ22に
参照分布データが格納される。例えば、サンプリングク
ロックの3倍幅のパルス信号を選択すれば図9に示すよ
うに”3T”が格納される。
【0053】この時、図5に示すように参照分布表示手
段25は”3T”の部分が反転表示される。具体的には
参照分布選択手段29を操作する毎に参照分布表示手段
25の反転表示部分は右側若しくは左側にシフトする。
【0054】図10(b)に示すようにジッタアナライ
ザは入力信号の測定を開始する。例えば、入力信号10
0は転送レートが”6倍速”であり、”100000
点”の測定を行い、”3T”のパルス信号のジッタを測
定するものと仮定する。
【0055】図10(c)に示すようにデータ読出手段
17は参照分布メモリ22及び走査位置メモリ21の内
容を読み出す。そして、アクイジションメモリ15内に
走査位置が残っている否かを判断する。
【0056】もし、走査位置が残っていれば図10
(d)に示すように参照分布メモリ22及び走査位置メ
モリ21の内容に基づきアクイジションメモリ15を走
査する。
【0057】この場合前述のように参照分布メモリ22
には”3T”が格納されているので、”3T”に基づき
走査位置メモリ21から操作開始点のデータを読み出
す。
【0058】走査位置メモリ21には図7に示すような
データが格納されており、図7中”イ”に示す”3T”
の行を”24倍速”から順次走査して行く。
【0059】具体的には”3T”の行の”24倍速”に
該当する図7中”ロ”に示す”28.92ns”及び”
24倍速”時のサンプリングクロックである図7中”
ハ”に示す”T=9.641ns”をそれぞれ読み出
し、 28.92±9.641/2(ns) (2) の範囲をアクイジションメモリ15から走査する。
【0060】そして、図10(e)に示すように上記走
査範囲にデータが存在するか否かを判断する。
【0061】もし、データが存在しなければ図10
(c)及び図10(d)に戻ってデータが見つかるか、
若しくは、アクイジションメモリ15内の走査位置がな
くなるまで順次走査範囲を走査する。
【0062】この場合には転送レートが”6倍速である
ので、図7中”イ”に示す”3T”の行の”24倍速”
に該当する位置にはデータが存在しないので、”3T”
の行の”6倍速”になるまで順次走査が繰り返され、”
115.7±38.56/2(ns)”の走査範囲内が
走査されてデータが得られる。
【0063】そして、図10(f)及び(g)に示すよ
うに走査したデータと確率分布メモリ16内のデータを
比較して走査したデータの妥当性を判断する。
【0064】確率分布メモリ16の内容は図6中”イ”
に示すように、”3T”の確率分布が”31.46%〜
38.46%”となっているので、”(走査されたデー
タの総数)/(測定点の総数)”が上記範囲に入るか否
かを判断する。
【0065】この場合には測定点の総数は”10000
0”であるので、走査されたデータの総数が”3146
0〜38460”個の範囲に入っていれば妥当であると
判断される。すなわち、転送レート”6倍速”の”3
T”のパルス信号のヒストグラム分布が得られたことに
なる。
【0066】従って、図10(h)に示すようにデータ
読出手段17は走査したデータを読出データメモリ18
に書き込む。
【0067】さらに、図10(i)及び(j)に示すよ
うにジッタ演算手段19は読出データメモリ18からデ
ータを読み出してジッタを演算し、ジッタの百分率を演
算し表示手段20にジッタ等を表示する。
【0068】この場合には、転送レート”6倍速”の”
3T”のパルス信号のヒストグラム分布が得られたの
で、転送レート表示手段26の”×6”が反転表示さ
れ”6倍速”である旨を示す。
【0069】また、液晶パネル(以下、LCDパネルと
呼ぶ。)等を用いたヒストグラム分布表示手段27によ
り読出データメモリ18に格納されたヒストグラム分布
が表示される。
【0070】さらに、入力信号100の種類に関わりな
くアナログメータ等のジッタ表示手段30によりジッタ
が表示される。具体的にはジッタをサンプリングクロッ
クで除算した百分率をジッタ表示手段30に表示させ
る。
【0071】例えば、ジッタが”2.384ns”であ
れば転送レート”6倍速”のサンプリングクロックであ
る”38.56ns”で割った百分率”0.91%”が
表示される。
【0072】この結果、走査位置メモリ21及び参照分
布メモリ22からのデータに基づきアクイジションメモ
リ15を走査し、確率分布メモリ16を用いて走査した
データの妥当性を判断することにより、装置の改造やレ
ンジ変更が不要で転送レートに関わりなくジッタの測定
が可能になる。
【0073】但し、転送レート”6倍速”の”3T”の
パルス信号を測定する場合には、図7中”イ”に示す走
査位置メモリ21の”3T”の行を”24倍速”から順
次走査して行けばデータの衝突が生じないが、下記の場
合にはデータの衝突の問題が生じる。
【0074】即ち、転送レート”12倍速”の”8T”
のパルス信号を測定する場合には図7中”ヘ”に示す走
査位置メモリ21の”8T”の行を”24倍速”から順
次走査して行くことになる。
【0075】この場合の走査位置は図7中”ト”に示
す”77.13ns”であるが、これは転送レート”1
2倍速”の”4T”のパルス信号の走査位置と一致して
しまう。
【0076】このため、図10(e)において走査位置
メモリ21の”8T”の行の”12倍速”に達するまで
にデータが検出されてしまう。
【0077】この場合、図11に示すようにデータ読出
手段17は図11中”イ”に示す通常の走査範囲であ
る”77.13±9.641/2(ns)”を越え、正
規分布のP−P点(正規分布の裾の両端)を見つけるま
で図11中”ロ”及び”ハ”に示すような範囲のデータ
を走査する。
【0078】このように、全てのヒストグラム分布を走
査するとその確率分布は”4T”のパルス信号に一致す
るので、図10(g)において不適当なデータと判断さ
れて次の走査範囲の走査に移って行くことになる。
【0079】この結果、前記走査範囲である”77.1
3±9.641/2(ns)”のデータの確率分布がた
またま”8T”のパルス信号の確率分布と一致した場合
でも、転送レート”24倍速”の”8T”のパルス信号
と誤認されることが防止できる。
【0080】また、図12は2倍速のCD−ROMドラ
イブのEFM信号とサンプリングクロックとの時間差を
測定した場合にヒストグラム分布である。
【0081】この測定は”Data−to−Cloc
k”測定と呼ばれサンプリングクロックに比例する時間
値を中心に”3T”〜”11T”の全てのジッタ成分が
分布することになり、高速、高密度のため”3T”だけ
のジッタ測定では不十分と言われるDVDの測定に有用
である。
【0082】このような”Data−to−Cloc
k”測定をする場合も、図7中”リ”に示す走査位置メ
モリ21の各転送レートの”T”の値を用いることによ
り、サンプリングクロックの時間値を容易に得られる。
【0083】従って、この時間値を走査位置としてアク
イジションメモリ15内を走査することによりドライブ
の転送レートの認識やジッタ測定を行うことが可能にな
る。
【0084】また、図13はCAV制御方法のCD−R
OMドライブのEFM信号のトラック1周分のヒストグ
ラム分布である。
【0085】この場合には走査位置メモリ21から走査
位置は特定できないが、確率分布メモリ16内の確率分
布はトラック1周分では同じであるので、図13中”
イ”,”ロ”,”ハ”等に示すヒストグラム分布の確率
分布と確率分布メモリ16内の確率分布を比較すること
によりそれぞれのヒストグラムが何Tかを特定した上で
ジッタを得ることができる。
【0086】この場合、走査位置は選択したトラック位
置によって変動するのでアクイジションメモリ15の先
頭から順次走査して行けば良い。これにより、例えば、
図13中”イ”等に示す分布が通常の分布なのかノイズ
によるものなのかを判断できる。
【0087】この結果、ヒストグラム分布の確率分布と
確率分布メモリ16内の確率分布を比較することによ
り、回転系制御方式に関わりなくジッタの測定が可能に
なる。
【0088】なお、実施例の説明に際しては走査位置メ
モリ21及び参照分布メモリ22の内容を用いたが、ア
クイジションメモリ15を走査して得られたヒストグラ
ム分布を確率分布メモリ16内データに基づきその妥当
性を判断することによりジッタを測定することが可能で
ある。
【0089】また、参照分布メモリ22の内容を用いな
くても、走査位置メモリ21の全ての内容に基づきアク
イジションメモリ15を走査し、得られたヒストグラム
分布を確率分布メモリ16内データに基づきその妥当性
を判断することによりジッタを測定することも可能であ
る。
【0090】また、走査位置メモリ21は転送レートの
早いものから順次走査したが、転送レートの遅いものか
ら走査して構わない。
【0091】但し、転送レートの遅いものから走査する
と初期の走査範囲が広く走査時間がかかってしまい、或
いは、上述のデータの衝突が生じ易くその妥当性を判断
するために処理時間が長くなってしまう。
【0092】また、図1の説明に際しては説明の簡単の
ためデータ読出手段17とジッタ演算手段19を分離し
て表記しているが、実際には制御回路50の内部プログ
ラムにより実現されるものである。
【0093】また、読出データメモリ18に関しては制
御手段50内の記憶回路を用いれば別途設ける必要はな
い。
【0094】同様に、アクイジションメモリ15、確率
分布メモリ16、走査位置メモリ21及び参照分布メモ
リ22を分割して表記しているが、1つの記憶回路で構
成しても良いし、適宜組み合わせて統合しても構わな
い。
【0095】また、図5においてヒストグラム分布表示
手段27としてはLCDパネルを例示したが、LCDパ
ネルに限らず、CRT(Cathode Ray Tube)、LED
(Light Emitting Diode)等ヒストグラム表示が可能な
表示手段であれば何でも構わない。
【0096】また、図5においてジッタ値表示手段30
としてはアナログメータを例示したが、アナログメータ
に限らずCRT、LCD、LED等ジッタの値を表示で
きるものであれば良い。
【0097】また、実施例の説明ではCD−ROMドラ
イブを例示しているがDVD、MD(Magnetic Dis
k)、MO(Magnet-Optical Disc)及びハードディスク
等のジッタの測定も可能である。
【0098】また、走査位置メモリ21のデータに該当
しない場合にはCAV制御方法として判断しても良い。
【0099】また、転送レートの認識は毎回行う必要は
ないので、最初の測定時のみに行っても良い。さらに、
転送レートの自動認識を行うか否かの切替手段を設けて
も良い。
【0100】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。走査位置メモリ
及び参照分布メモリからのデータに基づきアクイジショ
ンメモリを走査し、確率分布メモリを用いて走査したデ
ータの妥当性を判断することにより、装置の改造やレン
ジ変更が不要で転送レートに関わりなくジッタの測定が
可能なジッタアナライザが実現できる。
【0101】また、ヒストグラム分布の確率分布と確率
分布メモリ内の確率分布を比較することにより、回転系
制御方式に関わりなくジッタの測定が可能なジッタアナ
ライザが実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るジッタアナライザの一実施例を示
す構成ブロック図である。
【図2】アクイジションメモリのデータの分布状態を示
す説明図である。
【図3】アクイジションメモリのデータの分布状態を示
す説明図である。
【図4】アクイジションメモリのデータの分布状態を示
す説明図である。
【図5】ジッタアナライザの表面パネルの具体例を示す
平面図である。
【図6】確率分布メモリの内容を示す説明図である。
【図7】走査位置メモリの内容を示す説明図である。
【図8】読出データメモリの内容を示す説明図である。
【図9】参照分布メモリの内容を示す説明図である。
【図10】実施例の動作を説明するフロー図である。
【図11】データ読出方法を説明する説明図である。
【図12】2倍速のCD−ROMドライブのEFM信号
とサンプリングクロックとの時間差を測定した場合にヒ
ストグラム分布である。
【図13】CAV制御方法のCD−ROMドライブのE
FM信号のトラック1周分のヒストグラム分布である。
【図14】従来のジッタメータの一例を示す構成ブロッ
ク図である。
【図15】入力信号の一例を示すタイミング図である。
【符号の説明】
1 増幅器 2,11 ローパスフィルタ回路 3 ウィンドウ回路 4 比較器 5,6,7 時間電圧変換器 8 A/D変換器 9 データ取込回路 10 D/A変換器 12 ジッタ変換回路 13 表示回路 14 時間測定回路 15 アクイジションメモリ 16 確率分布メモリ 17 データ読出手段 18 読出データメモリ 19 ジッタ演算手段 20 表示手段 21 走査位置メモリ 22 参照分布メモリ 23 入力手段 24 測定ファンクション表示手段 25 参照分布表示手段 26 転送レート表示手段 27 ヒストグラム分布表示手段 28 測定ファンクション選択手段 29 参照分布選択手段 30 ジッタ表示手段 31,32 入力端子 33 CD−ROMドライブ 50 制御手段 100 入力信号

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パルス幅変調された入力信号の時間幅を測
    定することによりジッタを測定するジッタアナライザに
    おいて、 前記入力信号の時間幅を測定する時間測定回路と、 この時間測定回路の出力をヒストグラム分布として記憶
    するアクイジションメモリと、 確率分布が格納された確率分布メモリと、 前記アクイジションメモリの内容を走査したデータが前
    記確率分布の範囲内にある場合に前記データに基づきジ
    ッタ演算して表示手段に表示させる制御手段とを備えた
    ことを特徴とするジッタアナライザ。
  2. 【請求項2】複数の転送レートに対応する走査位置を格
    納した走査位置メモリを備え、 前記アクイジションメモリの内容を前記走査位置に基づ
    き走査することを特徴とする特許請求の範囲請求項1記
    載のジッタアナライザ。
  3. 【請求項3】参照分布設定手段により設定された参照分
    布データを格納する参照分布メモリを備え、 前記アクイジションメモリの内容を前記参照分布データ
    に基づき走査することを特徴とする特許請求の範囲請求
    項1及び請求項2記載のジッタアナライザ。
  4. 【請求項4】前記アクイジションメモリから走査された
    ヒストグラム分布を表示するヒストグラム分布表示手段
    を備えたことを特徴とする特許請求の範囲請求項1乃至
    請求項3記載のジッタアナライザ。
  5. 【請求項5】前記参照分布メモリに格納された参照分布
    データを表示する参照分布表示手段を備えたことを特徴
    とする特許請求の範囲請求項1乃至請求項3記載のジッ
    タアナライザ。
  6. 【請求項6】前記転送レートを表示する転送レート表示
    手段を備えたことを特徴とする特許請求の範囲請求項1
    乃至請求項3記載のジッタアナライザ。
  7. 【請求項7】前記表示手段に入力信号の種類に関わりな
    くジッタを百分率表示することを特徴とする特許請求の
    範囲請求項1乃至請求項3記載のジッタアナライザ。
  8. 【請求項8】前記アクイジションメモリと前記確率分布
    メモリとを一つの記憶回路で構成したことを特徴とする
    特許請求の範囲請求項1記載のジッタアナライザ。
  9. 【請求項9】前記アクイジションメモリ、前記確率分布
    メモリ及び前記走査位置メモリを一つの記憶回路で構成
    したことを特徴とする特許請求の範囲請求項2記載のジ
    ッタアナライザ。
  10. 【請求項10】前記アクイジションメモリ、前記確率分
    布メモリ及び前記参照分布メモリを一つの記憶回路で構
    成したことを特徴とする特許請求の範囲請求項3記載の
    ジッタアナライザ。
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