JPH1027569A - イオン照射装置 - Google Patents
イオン照射装置Info
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- JPH1027569A JPH1027569A JP20288496A JP20288496A JPH1027569A JP H1027569 A JPH1027569 A JP H1027569A JP 20288496 A JP20288496 A JP 20288496A JP 20288496 A JP20288496 A JP 20288496A JP H1027569 A JPH1027569 A JP H1027569A
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Abstract
を供給して、イオンビーム走査領域の全域においてほぼ
一様に基板の帯電を抑制することができるイオン照射装
置を提供する。 【解決手段】 イオンビーム2の走査領域3を挟んでプ
ラズマシャワー装置30に対向する位置に、補助コイル
42を、その中心軸がイオンビームの走査方向Xにほぼ
平行になるように配置した。この補助コイル42に、補
助コイル電源46から、イオンビームの走査に同期した
交流の補助コイル電流Iを供給する。この補助コイル4
2による交流磁界44と、プラズマシャワー装置30の
ソースコイル38による直流磁界40とが合成されて、
イオンビーム2の走査位置に追従する合成磁界48が形
成され、この合成磁界48によってプラズマ36がイオ
ンビーム2に向けてガイドされる。
Description
一次元で静電的または磁気的に走査すると共に、基板を
イオンビームの走査方向と実質的に直交する方向に機械
的に走査して基板にイオン注入等の処理を施す、いわゆ
るハイブリッドスキャン方式のイオン照射装置に関し、
より具体的には、その基板の帯電(チャージアップ)を
抑制する手段の改良に関する。
装置は、例えば特開平4−22900号公報等に開示さ
れているが、その一例を図4に示す。
源から引き出され、かつ必要に応じて質量分析、加速等
が行われたスポット状のイオンビーム2を、走査電源1
6から互いに180度位相の異なる走査電圧が印加され
る二組の走査電極4および6の協働によってX方向(例
えば水平方向。以下同じ)に静電的に高速度で、例えば
数百Hz程度で平行走査(パラレルスキャン)し、これ
をホルダ10に保持された基板(例えばウェーハ)8に
照射してイオン注入等の処理を施すよう構成されてい
る。イオンビーム2は、図に示すように、その走査領域
3の一端部3aから中心部3cを経由して他端部3bま
で往復走査される。
0度位相の異なる三角波状の走査電圧+Vおよび−Vを
出力するものであり、三角波状の走査信号Sを発生する
走査信号発生器18と、それからの走査信号Sを昇圧し
て互いに逆極性の走査電圧+Vおよび−Vをそれぞれ出
力する高圧増幅器20および22とを備えている。
ム12に取り付け、このアーム12を可逆転式のモータ
(例えばダイレクトドライブモータ)14によって矢印
Rのように往復旋回させることによって、ホルダ10を
イオンビーム2の走査領域3において、前記X方向と実
質的に直交するY方向(例えば垂直方向。以下同じ)に
機械的に往復走査するようにしている。これと、イオン
ビーム2の前記走査との協働(ハイブリッドスキャン)
によって、基板8の全面に均一にイオン照射が行われる
ようにしている。
イオンビーム2を磁場によって走査する場合もある。ま
た、イオンビーム2を必ずしもこの例のように平行走査
しない場合もある。また、ホルダ10を前記Y方向に往
復直線運動させる場合もある。ホルダ10を上記のよう
に往復走査する代わりに、ウェーハディスクを一方向に
回転させる場合もある。
施す場合、イオンビームの照射に伴って基板8の表面
が、特に当該表面が絶縁物の場合、正に帯電して放電等
の不具合が発生する問題がある。
側近傍11におけるイオンビーム走査領域3のほぼ中心
部3cの外側に、図5に示すようなプラズマシャワー装
置30を設けている。このプラズマシャワー装置30
は、プラズマ36を生成してそれを小孔34を経由し
て、イオンビーム2の走査方向Xに交差する(より具体
的にはほぼ直交する)方向からイオンビーム走査領域3
の中心部3c付近に向けて供給するプラズマソース部3
2と、このプラズマソース部32の周囲に巻かれてい
て、直流のソースコイル電源37によって励磁されてプ
ラズマソース部32の軸方向にほぼ沿う磁束40を発生
させるソースコイル38とを有している。この磁束40
は、プラズマソース部32におけるプラズマ36の生成
に寄与すると共に、当該プラズマ36をイオンビーム走
査領域3へガイドする働きをする。
0からイオンビーム走査領域3へプラズマ36を供給す
ると、当該プラズマ36中の電子(これは通常は例えば
数十eV程度以下の低エネルギーである)は、イオンビ
ーム2内にその正電位によって引き込まれる。基板8
(図4参照)が帯電している場合はそれによってイオン
ビーム2の軸方向に電位勾配が生じるため、イオンビー
ム2内に引き込まれた電子は、この電位勾配によって基
板8に引き寄せられ、基板表面のイオンビーム照射に伴
う正電荷を中和する。正電荷が中和されれば、電子の基
板8への引込みは自動的に止む。このようにして、電子
が基板8に過不足なく供給されるので、イオンビーム照
射に伴う基板8の帯電を抑制することができる。
電子をイオンビーム2中にその電位によって引き込ませ
るためには、プラズマ36をイオンビーム2のできるだ
け近傍に供給する必要がある。
ビーム2はX方向に走査されてその時間的位置が変化し
ているのに、プラズマシャワー装置30からのプラズマ
36の供給は、イオンビーム走査領域3のほぼ中心部3
c付近に向けてのスタティック(静的)なものであり、
従って走査されるイオンビーム2に対してプラズマ36
の供給、ひいては電子の供給が十分に追従していなかっ
た。
向に高速で走査する場合、イオンビーム2がプラズマシ
ャワー装置30の近傍、即ち走査領域3の中心部3c付
近にあるときは、プラズマ36をイオンビーム2の近傍
に十分に供給することはできるけれども、イオンビーム
2が遠ざかった場所、即ち走査領域3の両端部3a、3
b付近に走査されたときは、プラズマ36をイオンビー
ム2の近傍に十分に供給することはできない。従ってそ
のときは、イオンビーム照射に伴う基板8の帯電を十分
に抑制することはできない。
り、それに対応してイオンビーム2の走査幅も大きくな
っているので、上記問題は一層深刻化している。
置に追従してプラズマを供給して、イオンビーム走査領
域の全域においてほぼ一様に基板の帯電を抑制すること
ができるイオン照射装置を提供することを主たる目的と
する。
置は、前記イオンビームの走査方向にほぼ沿う磁束を発
生させる補助コイルと、この補助コイルに、前記イオン
ビームの走査に同機した交流の補助コイル電流を供給す
る補助コイル電源とを備えることを特徴とする。
のソースコイルによるイオンビーム走査方向に交差する
方向の直流磁界と、補助コイルによるイオンビーム走査
方向にほぼ沿っていて向きが反転する交流磁界とが合成
された合成磁界が形成される。しかもこの補助コイルに
供給する補助コイル電流はイオンビームの走査に同期し
たものであるため、上記合成磁界は、イオンビームの走
査に追従して、プラズマシャワー装置からイオンビーム
の走査位置方向(またはその逆方向)に向かうものとな
る。プラズマシャワー装置からのプラズマは、この合成
磁界にガイドされてイオンビームに供給される。従っ
て、イオンビームの走査位置に追従して当該イオンビー
ムにプラズマを供給することができる。その結果、イオ
ンビーム走査領域の全域においてほぼ一様に基板の帯電
を抑制することができる。
射装置におけるプラズマシャワー装置周りの一例を示す
断面図である。図5の従来例と同一または相当する部分
には同一符号を付し、以下においては当該従来例との相
違点を主に説明する。
ーム2の走査領域3を挟んでプラズマシャワー装置30
に(より具体的にはそのプラズマソース部32に)対向
する位置に、即ちイオンビーム走査領域3の中心部3c
のプラズマシャワー装置30とは反対側の外側付近に、
空心筒状の補助コイル42を、その中心軸がイオンビー
ム2の走査方向Xにほぼ平行になるように配置してい
る。従ってこの補助コイル42は、イオンビーム2の走
査方向Xにほぼ沿う磁束44を発生させる。この補助コ
イル42による磁界の最大値は、例えば数ガウス〜数十
ガウス程度である。
46から、イオンビーム2の走査に同期した交流の補助
コイル電流Iを供給する。具体的には、この例では、イ
オンビーム2がその走査領域3の一端部3a付近にある
ときには補助コイル42から図1中に示す向きに最大の
磁束44を発生させ、他端部3b付近にあるときには図
1中とは逆向きに最大の磁束44を発生させ、中心部3
c付近にあるときには磁束44をほぼ0にするような補
助コイル電流Iを供給する。
発生器18から出力される走査信号Sは、例えば図2に
示すような三角波状をしており、それが負側のピークに
あるときにはイオンビーム2はその走査領域3の前記一
端部3aに来るように走査され、走査信号Sが正側のピ
ークにあるときはイオンビーム2は前記他端部3bに来
るように走査される。補助コイル電源46は、この走査
信号Sを用いて(例えばそれを増幅して)、この走査信
号Sの波形に相似形かつ同期した、即ち同一周波数かつ
同一位相の交流の補助コイル電流Iを補助コイル42に
供給する。これによって、上記のようにイオンビーム2
のX方向の走査に同期した補助コイル電流Iを補助コイ
ル42に供給することができる。
30のソースコイル38によるイオンビーム走査方向X
に直交する方向の直流磁界40と、補助コイル42によ
るイオンビーム走査方向Xに平行で向きが反転する交流
磁界44とが合成された合成磁界48が形成される。し
かもこの補助コイル42に供給する補助コイル電流Iは
イオンビーム2の走査に同期したものであるため、上記
合成磁界48は、イオンビーム2の走査に追従して、常
にプラズマシャワー装置30から(より具体的には、そ
のプラズマソース部32の小孔34付近から)イオンビ
ーム2の走査位置方向に向かうものとなる。即ち、図
1に示すようにイオンビーム2がその走査領域3の一端
部3a付近にあるときには、合成磁界48は図1に示す
ように左に大きく湾曲して当該一端部3a付近に向か
い、イオンビーム2が他端部3b付近にあるときに
は、合成磁界48は図1とは反転して右に大きく湾曲し
て当該他端部3b付近に向かい、イオンビーム2が中
心部3c付近にあるときには、交流磁界44が0にな
り、直流磁界40のみとなって、合成磁界48は当該中
心部3c付近に向かう。
36は、この合成磁界48にガイドされてイオンビーム
2に供給される。従って、イオンビーム2の走査位置に
追従して当該イオンビーム2にプラズマ36を供給する
ことができる。その結果、イオンビーム走査領域3の全
域においてほぼ一様に基板8(図4参照)の帯電を抑制
することができる。従って基板8の大口径化にも十分に
対応することができる。
プラズマシャワー装置30の前方付近に、イオンビーム
2の走査領域3の一端部3a付近および他端部3b付近
をそれぞれ取り囲むように、二つの空心筒状の補助コイ
ル42を、その中心軸がイオンビーム2の走査方向Xに
ほぼ平行になるように配置しても良い。両補助コイル4
2は、互いに同じ向きに磁束44を発生させるように励
磁される。従ってこの両補助コイル42によって、イオ
ンビーム2の走査方向Xにほぼ沿う磁束44を発生させ
ることができる。
て、図1の実施例の場合と同様に、補助コイル電源46
から、イオンビーム2の走査に同期した交流の、より具
体的には前述した走査信号Sの波形に相似形かつ同期し
た、即ち同一周波数かつ同一位相の交流の補助コイル電
流Iを供給する。
置30のソースコイル38によるイオンビーム走査方向
Xに直交する方向の直流磁界40と、両補助コイル42
によるイオンビーム走査方向Xに平行で向きが反転する
交流磁界44とが合成された合成磁界48が形成され
る。しかもこの補助コイル42に供給する補助コイル電
流Iはイオンビーム2の走査に同期したものであるた
め、上記合成磁界48は、イオンビーム2の走査に追従
して、常にプラズマシャワー装置30からイオンビーム
2の走査位置方向に向かうものとなり、プラズマシャワ
ー装置30からのプラズマ36は、この合成磁界48に
ガイドされてイオンビーム2に供給される。従って、イ
オンビーム2の走査位置に追従して当該イオンビーム2
にプラズマ36を供給することができる。その結果、イ
オンビーム走査領域3の全域においてほぼ一様に基板8
(図4参照)の帯電を抑制することができる。
ル42の中心部の磁束44を利用するので、図1の実施
例の場合よりも磁界利用の効率が高いという利点があ
る。
向きまたはその逆向きのいずれにも沿って動くことがで
きるので、合成磁界48の上下方向の向きは上記例とは
逆向きでも良い。即ち、ソースコイル38による磁束4
0および補助コイル42による磁束44の両者は共に、
上記例とは逆向きにしても良い。
ル電流Iの波形は、正弦波等でも良い。補助コイル42
はコアを有するコイルでも良い。
mm〜300mm程度、イオンビーム2の走査周波数は
例えば100Hz〜1000Hz程度である。プラズマ
ソース部32でのプラズマ生成方式は、アーク放電式、
高周波放電式、ECR放電式等を問わない。
ハイブリッドスキャン方式のイオン注入装置、具体的に
は前述したように、イオンビーム2を平行走査しない装
置、イオンビーム2を磁場によって走査する装置、ホル
ダ10を往復直線運動させる装置、またはホルダ10を
往復走査する代わりにウェーハディスクを一方向に回転
させる装置、等にも勿論適用することができる。
マシャワー装置のソースコイルによる直流磁界と補助コ
イルによる交流磁界との合成磁界が形成され、しかもこ
の合成磁界は、イオンビームの走査に追従して、プラズ
マシャワー装置からイオンビームの走査位置方向または
その逆方向に向かうものとなる。プラズマシャワー装置
からのプラズマは、この合成磁界にガイドされてイオン
ビームに供給される。従って、イオンビームの走査位置
に追従して当該イオンビームにプラズマを供給すること
ができる。その結果、イオンビーム走査領域の全域にお
いてほぼ一様に基板の帯電を抑制することができる。従
って、基板の大口径化にも十分に対応することができ
る。
マシャワー装置周りの一例を示す断面図である。
助コイル電流との関係の一例を示す図である。
マシャワー装置周りの他の例を示す断面図である。
一例を部分的に示す斜視図である。
ー装置周りの一例を示す断面図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 イオンビームを一方向に往復走査すると
共に、基板を保持するホルダをイオンビームの走査方向
と実質的に直交する方向に機械的に走査して、ホルダ上
の基板にイオン注入等の処理を施す構成のイオン照射装
置であって、ホルダの上流側近傍におけるイオンビーム
の走査領域の外側に設けられていて、プラズマを生成し
てそれをイオンビームの走査方向に交差する方向からイ
オンビームの走査領域に供給するプラズマソース部と、
このプラズマソース部の周囲に巻かれていて当該プラズ
マソース部の軸方向にほぼ沿う磁束を発生させるソース
コイルとを有するプラズマシャワー装置を備えるものに
おいて、前記イオンビームの走査方向にほぼ沿う磁束を
発生させる補助コイルと、この補助コイルに、前記イオ
ンビームの走査に同期した交流の補助コイル電流を供給
する補助コイル電源とを備えることを特徴とするイオン
照射装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20288496A JP3624566B2 (ja) | 1996-07-11 | 1996-07-11 | イオン照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20288496A JP3624566B2 (ja) | 1996-07-11 | 1996-07-11 | イオン照射装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1027569A true JPH1027569A (ja) | 1998-01-27 |
JP3624566B2 JP3624566B2 (ja) | 2005-03-02 |
Family
ID=16464804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20288496A Expired - Fee Related JP3624566B2 (ja) | 1996-07-11 | 1996-07-11 | イオン照射装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3624566B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2374199A (en) * | 2000-12-01 | 2002-10-09 | Nissin Electric Co Ltd | Ion production device for ion beam irradiation apparatus |
US6815697B2 (en) | 2002-03-27 | 2004-11-09 | Sumitomo Eaton Nova Corporation | Ion beam charge neutralizer and method therefor |
JP2006156137A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Sumitomo Eaton Noba Kk | ビーム空間電荷中和装置及びこれを備えたイオン注入装置 |
US7455892B2 (en) | 2000-10-04 | 2008-11-25 | Dow Corning Ireland Limited | Method and apparatus for forming a coating |
-
1996
- 1996-07-11 JP JP20288496A patent/JP3624566B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7455892B2 (en) | 2000-10-04 | 2008-11-25 | Dow Corning Ireland Limited | Method and apparatus for forming a coating |
GB2374199A (en) * | 2000-12-01 | 2002-10-09 | Nissin Electric Co Ltd | Ion production device for ion beam irradiation apparatus |
US6686599B2 (en) | 2000-12-01 | 2004-02-03 | Nissin Electric Co., Ltd. | Ion production device for ion beam irradiation apparatus |
US6815697B2 (en) | 2002-03-27 | 2004-11-09 | Sumitomo Eaton Nova Corporation | Ion beam charge neutralizer and method therefor |
JP2006156137A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Sumitomo Eaton Noba Kk | ビーム空間電荷中和装置及びこれを備えたイオン注入装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3624566B2 (ja) | 2005-03-02 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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