JPH10272125A - 放射線撮像装置 - Google Patents
放射線撮像装置Info
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- JPH10272125A JPH10272125A JP9081091A JP8109197A JPH10272125A JP H10272125 A JPH10272125 A JP H10272125A JP 9081091 A JP9081091 A JP 9081091A JP 8109197 A JP8109197 A JP 8109197A JP H10272125 A JPH10272125 A JP H10272125A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 照射される放射線の強度が時間的に変動する
場合であってもアーティファクトの少ない精度の高い放
射線像が得られる放射線撮像装置を提供する。 【解決手段】被検体ＢにＸ線を照射し、ラインセンサ３
の各検出素子から得られる検知データＤi(t)（ｉは各検
出素子の番号、ｔは撮像開始からの時間で実際には離散
的な時間でデータ取得を行う。）をパルス検知部４、カ
ウンタ５を介してデータ処理手段６に入力する。データ
処理手段６は、Ｘ線モニタ２を介してＸ線モニタ値Ｍi
(t)も同時に入力し、各検出素子の検知データＤi(t)に
基づき、記憶部７に記憶された補正係数より各検出素子
毎の補正係数Ｃitを算出する（ここで、Ｃitは、検出素
子ｉの時間ｔに得られた検知データに対する補正係数で
ある）。算出した補正係数ＣitとＸ線モニタ値Ｍi(t)と
から上述した式と同様以下の式に基づき各検出素子出力
のＸ線変動補正を行う。Ｄ’i(t)＝Ｄi(t)／（Ｃit・Ｍ
i(t)）全データの補正が完了した後、各検出素子出力の
補正後の出力Ｄ’i(t)に基づき、被検体ＢのＸ線像を合
成し、表示部８に表示する。
場合であってもアーティファクトの少ない精度の高い放
射線像が得られる放射線撮像装置を提供する。 【解決手段】被検体ＢにＸ線を照射し、ラインセンサ３
の各検出素子から得られる検知データＤi(t)（ｉは各検
出素子の番号、ｔは撮像開始からの時間で実際には離散
的な時間でデータ取得を行う。）をパルス検知部４、カ
ウンタ５を介してデータ処理手段６に入力する。データ
処理手段６は、Ｘ線モニタ２を介してＸ線モニタ値Ｍi
(t)も同時に入力し、各検出素子の検知データＤi(t)に
基づき、記憶部７に記憶された補正係数より各検出素子
毎の補正係数Ｃitを算出する（ここで、Ｃitは、検出素
子ｉの時間ｔに得られた検知データに対する補正係数で
ある）。算出した補正係数ＣitとＸ線モニタ値Ｍi(t)と
から上述した式と同様以下の式に基づき各検出素子出力
のＸ線変動補正を行う。Ｄ’i(t)＝Ｄi(t)／（Ｃit・Ｍ
i(t)）全データの補正が完了した後、各検出素子出力の
補正後の出力Ｄ’i(t)に基づき、被検体ＢのＸ線像を合
成し、表示部８に表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、医療用Ｘ線ＤＲ
（Digital Radiography ）やＸ線ＣＴ装置、産業用非破
壊検査装置において、Ｘ線強度の変動補正手段を備えた
放射線撮像装置に関する。
（Digital Radiography ）やＸ線ＣＴ装置、産業用非破
壊検査装置において、Ｘ線強度の変動補正手段を備えた
放射線撮像装置に関する。
【０００２】
【従来技術】放射線を用いた被検体の撮像装置は、Ｘ線
ＤＲ、Ｘ線ＣＴ装置等の医療用診断装置や、産業用の非
破壊検査装置等に広く用いられている。
ＤＲ、Ｘ線ＣＴ装置等の医療用診断装置や、産業用の非
破壊検査装置等に広く用いられている。
【０００３】Ｘ線ＤＲは、個々のＸ線センサ素子を１次
元のアレイ状に配列したラインセンサを被検体の体軸方
向に走査することによって２次元画像を得る診断装置で
あり、Ｘ線ＣＴ装置は、被検体回りにＸ線とＸ線センサ
アレイを一体として回転させ、得られたＸ線の透過デー
タから当該被検体の断層像を得るための診断装置であ
る。また、産業用の非破壊検査装置は、被検物にＸ線を
照射し、センサアレイより得られる透過像から異物の有
無を検査する装置である。
元のアレイ状に配列したラインセンサを被検体の体軸方
向に走査することによって２次元画像を得る診断装置で
あり、Ｘ線ＣＴ装置は、被検体回りにＸ線とＸ線センサ
アレイを一体として回転させ、得られたＸ線の透過デー
タから当該被検体の断層像を得るための診断装置であ
る。また、産業用の非破壊検査装置は、被検物にＸ線を
照射し、センサアレイより得られる透過像から異物の有
無を検査する装置である。
【０００４】かかる放射線撮像装置では、照射される放
射線の強度が時間的に変化する場合、得られる画像にア
ーティファクトが発生し、診断或いは異物の検査上支障
を来すこととなる。
射線の強度が時間的に変化する場合、得られる画像にア
ーティファクトが発生し、診断或いは異物の検査上支障
を来すこととなる。
【０００５】このため、従来では、撮像用の放射線セン
サとは別に放射線源から照射される放射線強度をモニタ
する放射線モニタを設け、当該放射線モニタの出力によ
り撮像用の放射線センサ出力に対して放射線強度の変動
補正を行っていた。
サとは別に放射線源から照射される放射線強度をモニタ
する放射線モニタを設け、当該放射線モニタの出力によ
り撮像用の放射線センサ出力に対して放射線強度の変動
補正を行っていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般に
放射線撮像装置に用いられる放射線センサでは、通常放
射線の強度が高まると検出感度が低下するため、被検体
を介さず放射線を直接検知する放射線モニタについても
同様に感度が低下し、このため、従来の放射線モニタで
は、正確に放射線強度の変動を検知できなかった。
放射線撮像装置に用いられる放射線センサでは、通常放
射線の強度が高まると検出感度が低下するため、被検体
を介さず放射線を直接検知する放射線モニタについても
同様に感度が低下し、このため、従来の放射線モニタで
は、正確に放射線強度の変動を検知できなかった。
【０００７】また、仮に正確な放射線強度の変動を検知
できたとしても、放射線強度に応じて放射線センサの感
度が変化するため正確な放射線強度の変動補正ができな
かった。
できたとしても、放射線強度に応じて放射線センサの感
度が変化するため正確な放射線強度の変動補正ができな
かった。
【０００８】このため、従来の放射線撮像装置では、放
射線強度の変動により生じるアーティファクトを完全に
除去しきれず、診断上或いは検査上支障を来す場合があ
った。
射線強度の変動により生じるアーティファクトを完全に
除去しきれず、診断上或いは検査上支障を来す場合があ
った。
【０００９】そこで、本発明はこれらの課題を解消する
ために創案されたもので、照射される放射線の強度が時
間的に変動する場合であってもアーティファクトの少な
い精度の高い放射線像が得られる放射線撮像装置の提供
を目的とする。
ために創案されたもので、照射される放射線の強度が時
間的に変動する場合であってもアーティファクトの少な
い精度の高い放射線像が得られる放射線撮像装置の提供
を目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、被検体に放射線を照射する放射線源と、
前記被検体を透過した放射線を検知する放射線検出器を
有し、この放射線検出器で得られた検知データより前記
被検体の放射線像を撮像する放射線撮像装置において、
放射線が前記被検体を通過しない位置に配設され、照射
された放射線強度を検知する放射線モニタと、前記放射
線モニタ出力に基づき、前記放射線検出器の出力に対し
て放射線強度の変動補正を行うと共に、放射線強度に対
する前記放射線検出器の出力感度に応じて前記変動補正
の補正量を増減する補正手段と、を備えたことを特徴と
する。
に、本発明は、被検体に放射線を照射する放射線源と、
前記被検体を透過した放射線を検知する放射線検出器を
有し、この放射線検出器で得られた検知データより前記
被検体の放射線像を撮像する放射線撮像装置において、
放射線が前記被検体を通過しない位置に配設され、照射
された放射線強度を検知する放射線モニタと、前記放射
線モニタ出力に基づき、前記放射線検出器の出力に対し
て放射線強度の変動補正を行うと共に、放射線強度に対
する前記放射線検出器の出力感度に応じて前記変動補正
の補正量を増減する補正手段と、を備えたことを特徴と
する。
【００１１】前記放射線モニタ上に放射線を所定量吸収
する吸収体を配設したことを特徴とする。
する吸収体を配設したことを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
〜図５に基づいて説明する。図１は、本発明の一実施形
態である医療用Ｘ線ＤＲの全体ブロック図である。
〜図５に基づいて説明する。図１は、本発明の一実施形
態である医療用Ｘ線ＤＲの全体ブロック図である。
【００１３】同図において、Ｘ線発生器１から照射され
たＸ線は被検体Ｂを透過してラインセンサ３で検知され
る。
たＸ線は被検体Ｂを透過してラインセンサ３で検知され
る。
【００１４】ラインセンサ３は、半導体のＸ線検出素子
を１次元のアレイ状に配設して構成されており、図２に
示されるように、被検体Ｂを挟んでＸ線発生器１と対向
して配設されている。ラインセンサ３は、支柱１１上を
垂直方向に移動可能に構成されており、支柱１１上を移
動しながらＸ線像を採取することで、被検体Ｂの２次元
平面透過像を合成するためのＸ線透過データを採取す
る。
を１次元のアレイ状に配設して構成されており、図２に
示されるように、被検体Ｂを挟んでＸ線発生器１と対向
して配設されている。ラインセンサ３は、支柱１１上を
垂直方向に移動可能に構成されており、支柱１１上を移
動しながらＸ線像を採取することで、被検体Ｂの２次元
平面透過像を合成するためのＸ線透過データを採取す
る。
【００１５】図１において、Ｘ線がラインセンサ３に入
射すると、ラインセンサ３は入射したＸ線の強度に応じ
た数のパルスを出力し、当該パルスは、ラインセンサ３
の各検出素子毎にパルス検知部４で検知され、カウンタ
５によりパルス数がカウントとされる。ここで得られた
カウント値は入射したＸ線強度を示し、データ処理手段
６に出力される。
射すると、ラインセンサ３は入射したＸ線の強度に応じ
た数のパルスを出力し、当該パルスは、ラインセンサ３
の各検出素子毎にパルス検知部４で検知され、カウンタ
５によりパルス数がカウントとされる。ここで得られた
カウント値は入射したＸ線強度を示し、データ処理手段
６に出力される。
【００１６】一方、Ｘ線モニタ２は、Ｘ線が被検体Ｂを
透過しない位置に配設され、Ｘ線を検知する検出素子、
パルス検知部及びカウンタからなり、Ｘ線強度に応じた
パルスカウント値を出力する。また、Ｘ線モニタ２の検
出素子前面には、後述するようにＸ線を所定量吸収する
金属材料などが配設され、Ｘ線変動の検知感度を高め、
精度良くＸ線強度の変動を検知できるよう構成されてい
る。
透過しない位置に配設され、Ｘ線を検知する検出素子、
パルス検知部及びカウンタからなり、Ｘ線強度に応じた
パルスカウント値を出力する。また、Ｘ線モニタ２の検
出素子前面には、後述するようにＸ線を所定量吸収する
金属材料などが配設され、Ｘ線変動の検知感度を高め、
精度良くＸ線強度の変動を検知できるよう構成されてい
る。
【００１７】なお、Ｘ線モニタ２は、Ｘ線が被検体Ｂを
透過しない位置にあるラインセンサ３端部の検出素子を
用い、パルス検知部４、カウンタ５と組み合わせた構成
としても良い。
透過しない位置にあるラインセンサ３端部の検出素子を
用い、パルス検知部４、カウンタ５と組み合わせた構成
としても良い。
【００１８】データ処理手段６は、カウンタ５から出力
されたラインセンサ３の検知データに対して、Ｘ線モニ
タ２から得られる検知データ及び予め記憶部７に記憶さ
れた補正係数を用いてＸ線強度の変動補正を行った後、
被検体Ｂの２次元画像を合成する。記憶部７に記憶され
た補正係数は、ラインセンサ３の各検出素子毎のＸ線強
度に対する検知感度に応じて当該検出素子毎に予め求め
られたものである。
されたラインセンサ３の検知データに対して、Ｘ線モニ
タ２から得られる検知データ及び予め記憶部７に記憶さ
れた補正係数を用いてＸ線強度の変動補正を行った後、
被検体Ｂの２次元画像を合成する。記憶部７に記憶され
た補正係数は、ラインセンサ３の各検出素子毎のＸ線強
度に対する検知感度に応じて当該検出素子毎に予め求め
られたものである。
【００１９】次に、Ｘ線モニタ２の出力特性及び、補正
係数を用いてなされるＸ線強度の変動補正について説明
する。
係数を用いてなされるＸ線強度の変動補正について説明
する。
【００２０】まず、図３ａにおいて、Ｂi(S)は、ライン
センサ３のｉ番目の検出素子の入射Ｘ線の強度（Ｘ線
量）に対する出力（図１のカウンタ５の出力）の関係を
示しており、入射Ｘ線の強度が高いほど検知感度が鈍る
という特性を示している。図４は、上方から下方へ連続
的に厚みを増すよう構成したアクリルファントム１２
と、ラインセンサ３の長手方向からの横断面を示してお
り、当該ファントム１２を上方から下方へ順次撮像する
ことで、ラインセンサ３に入射するＸ線強度を連続的に
変更することが可能となる。ここで示されたＢi(S)は、
アクリルファントム１２の所定厚さ毎に得られる出力を
順次プロットすることで得たものである。
センサ３のｉ番目の検出素子の入射Ｘ線の強度（Ｘ線
量）に対する出力（図１のカウンタ５の出力）の関係を
示しており、入射Ｘ線の強度が高いほど検知感度が鈍る
という特性を示している。図４は、上方から下方へ連続
的に厚みを増すよう構成したアクリルファントム１２
と、ラインセンサ３の長手方向からの横断面を示してお
り、当該ファントム１２を上方から下方へ順次撮像する
ことで、ラインセンサ３に入射するＸ線強度を連続的に
変更することが可能となる。ここで示されたＢi(S)は、
アクリルファントム１２の所定厚さ毎に得られる出力を
順次プロットすることで得たものである。
【００２１】図３ｂのＡi(t)は、Ｘ線発生器１から出力
されるＸ線の強度が一定の割合で変動する場合におけ
る、ラインセンサ３のｉ番目の検出素子により図４のア
クリルファントム１２を下部から上部にかけて撮像した
ときに得られる撮像開始時間から撮像終了時間までの出
力を示している。
されるＸ線の強度が一定の割合で変動する場合におけ
る、ラインセンサ３のｉ番目の検出素子により図４のア
クリルファントム１２を下部から上部にかけて撮像した
ときに得られる撮像開始時間から撮像終了時間までの出
力を示している。
【００２２】同図から明らかなように、アクリルファン
トム１２の下部付近では、入射するＸ線強度が低く、Ｘ
線の検知感度が高いため、Ｘ線強度の変動を敏感に検知
しているのに対して、アクリルファントム１２の上部付
近では、入射するＸ線強度が高く、Ｘ線の検知感度が低
いため、Ｘ線強度の変動をそれほど検知していない。同
図において、Ｍ’i(t)は、Ｘ線モニタ２のように検出素
子全面に金属等を配設しない従来のＸ線モニタにより、
Ｘ線の強度を検知したときの出力を示している。かかる
場合、アクリルファントム１２を透過させないため、入
射するＸ線強度が高くなり、全時間範囲に渡ってＸ線強
度の変動をそれほど検知しない出力となっている。
トム１２の下部付近では、入射するＸ線強度が低く、Ｘ
線の検知感度が高いため、Ｘ線強度の変動を敏感に検知
しているのに対して、アクリルファントム１２の上部付
近では、入射するＸ線強度が高く、Ｘ線の検知感度が低
いため、Ｘ線強度の変動をそれほど検知していない。同
図において、Ｍ’i(t)は、Ｘ線モニタ２のように検出素
子全面に金属等を配設しない従来のＸ線モニタにより、
Ｘ線の強度を検知したときの出力を示している。かかる
場合、アクリルファントム１２を透過させないため、入
射するＸ線強度が高くなり、全時間範囲に渡ってＸ線強
度の変動をそれほど検知しない出力となっている。
【００２３】これに対して、Ｍi(t)は、図１に示すＸ線
モニタ２によって、Ｘ線の強度を検知したときの出力を
示しており、上述したように検出素子の前面に入射する
Ｘ線を高感度に検知できるよう、Ｘ線を所定量吸収する
金属部材が配設されているため、従来のモニタ用検知デ
ータに相当するＭ’i(t)に比べて、Ｘ線強度の変動を精
度良く検知する出力となっている。このため、本発明に
かかるＸ線モニタ２を用いれば、従来のＸ線モニタを用
いた場合に比べて、Ｘ線強度の変動補正を高精度に行う
ことが可能となる。
モニタ２によって、Ｘ線の強度を検知したときの出力を
示しており、上述したように検出素子の前面に入射する
Ｘ線を高感度に検知できるよう、Ｘ線を所定量吸収する
金属部材が配設されているため、従来のモニタ用検知デ
ータに相当するＭ’i(t)に比べて、Ｘ線強度の変動を精
度良く検知する出力となっている。このため、本発明に
かかるＸ線モニタ２を用いれば、従来のＸ線モニタを用
いた場合に比べて、Ｘ線強度の変動補正を高精度に行う
ことが可能となる。
【００２４】次に、Ｘ線モニタ２の出力と補正係数を用
いてなされるＸ線強度の変動補正について説明する。
いてなされるＸ線強度の変動補正について説明する。
【００２５】図３ｃは、図３ａに示す感度を有する検出
素子、すなわち、ラインセンサ３のｉ番目の検出素子に
ついて、記憶部７に記憶される補正係数Ｃi(k)（ｋはカ
ウント値）を示したものであり、例えば、図３ａに示さ
れるＢi(S)を微分し、Ｘ線強度とカウント値を示すＢi
(s)を微分することで得られる。
素子、すなわち、ラインセンサ３のｉ番目の検出素子に
ついて、記憶部７に記憶される補正係数Ｃi(k)（ｋはカ
ウント値）を示したものであり、例えば、図３ａに示さ
れるＢi(S)を微分し、Ｘ線強度とカウント値を示すＢi
(s)を微分することで得られる。
【００２６】図３ｄは、図３ｂに示されるＡi(t)を以下
の式によって補正した結果を示す。
の式によって補正した結果を示す。
【００２７】 Ａ’i(t)＝Ａi(t)／（Ｃi(Ａi(t)) Ｍi(t)） 上式は、ラインセンサ３の検出素子出力に応じて補正係
数Ｃi(K)を特定し、当該補正係数Ｃi(K)によりＸ線強度
の変動を示すＸ線モニタ２の出力を補正した後、通常の
Ｘ線強度の変動補正を行うことを示している。
数Ｃi(K)を特定し、当該補正係数Ｃi(K)によりＸ線強度
の変動を示すＸ線モニタ２の出力を補正した後、通常の
Ｘ線強度の変動補正を行うことを示している。
【００２８】図３ｂで示したように、ラインセンサ３で
得られる撮像データは、Ｘ線の吸収率が高い部分と低い
部分（図４のアクリルファントム１２の下部と上部を撮
像した場合に相当）では、検出素子の検知感度が異なり
Ｘ線強度の変動による影響が異なり、従来のＸ線モニタ
出力Ｍ’i(t)や、Ｘ線モニタ２の出力Ｍi(t)のみでは、
各検出素子のＸ線強度の変動による影響を完全に認識で
きず、満足のできるＸ線強度の変動補正ができなかった
が、本発明では、図３ｄに示されるように、Ｘ線強度に
対するＸ線検出素子の感度を考慮した補正係数を用いる
ことで、各検出素子出力のＸ線強度の変動補正が極めて
正確になされることがわかる。なお、データ処理手段６
は、撮像に先立って、予め図４に示すアクリルファント
ム１２等を用いてラインセンサ３の各検出素子毎に得ら
れたＸ線強度とカウント値との関係である図３ａに示さ
れるＢi(k)に基づきＣi(k)（ｉは各検出素子の番号を示
す）を求め、記憶部７に記憶し、被検体Ｂの撮像時に上
述したＸ線強度の変動補正を行った後、被検体Ｂの２次
元像を合成する。
得られる撮像データは、Ｘ線の吸収率が高い部分と低い
部分（図４のアクリルファントム１２の下部と上部を撮
像した場合に相当）では、検出素子の検知感度が異なり
Ｘ線強度の変動による影響が異なり、従来のＸ線モニタ
出力Ｍ’i(t)や、Ｘ線モニタ２の出力Ｍi(t)のみでは、
各検出素子のＸ線強度の変動による影響を完全に認識で
きず、満足のできるＸ線強度の変動補正ができなかった
が、本発明では、図３ｄに示されるように、Ｘ線強度に
対するＸ線検出素子の感度を考慮した補正係数を用いる
ことで、各検出素子出力のＸ線強度の変動補正が極めて
正確になされることがわかる。なお、データ処理手段６
は、撮像に先立って、予め図４に示すアクリルファント
ム１２等を用いてラインセンサ３の各検出素子毎に得ら
れたＸ線強度とカウント値との関係である図３ａに示さ
れるＢi(k)に基づきＣi(k)（ｉは各検出素子の番号を示
す）を求め、記憶部７に記憶し、被検体Ｂの撮像時に上
述したＸ線強度の変動補正を行った後、被検体Ｂの２次
元像を合成する。
【００２９】次に、本発明の被検体Ｂの撮像動作を図５
に示されるフローチャートに基づき説明する。ここで、
補正係数Ｃi(k)（ｉは各検出素子の番号を示す）は、既
に上述した方法により求められ、記憶部７に記憶されて
いるものとする。
に示されるフローチャートに基づき説明する。ここで、
補正係数Ｃi(k)（ｉは各検出素子の番号を示す）は、既
に上述した方法により求められ、記憶部７に記憶されて
いるものとする。
【００３０】まず、被検体ＢにＸ線を照射し（Ｓ１）、
ラインセンサ３の各検出素子から得られる検知データＤ
i(t)（ｉは各検出素子の番号、ｔは撮像開始からの時間
で実際には離散的な時間でデータ取得を行う。）をパル
ス検知部４、カウンタ５を介してデータ処理手段６に入
力する（Ｓ２）。
ラインセンサ３の各検出素子から得られる検知データＤ
i(t)（ｉは各検出素子の番号、ｔは撮像開始からの時間
で実際には離散的な時間でデータ取得を行う。）をパル
ス検知部４、カウンタ５を介してデータ処理手段６に入
力する（Ｓ２）。
【００３１】データ処理手段６は、Ｘ線モニタ２を介し
てＸ線モニタ値Ｍi(t)も同時に入力し（Ｓ３）、各検出
素子の検知データＤi(t)に基づき、記憶部７に記憶され
た補正係数より各検出素子毎の補正係数Ｃitを算出する
（Ｓ４）（ここで、Ｃitは、検出素子ｉの時間ｔに得ら
れた検知データに対する補正係数である）。なお、記憶
部７には、所定カウント値毎に補正係数が離散的に記憶
されているため、Ｃitを算出するには、得られたカウン
ト値から補間処理等を行えばよい。
てＸ線モニタ値Ｍi(t)も同時に入力し（Ｓ３）、各検出
素子の検知データＤi(t)に基づき、記憶部７に記憶され
た補正係数より各検出素子毎の補正係数Ｃitを算出する
（Ｓ４）（ここで、Ｃitは、検出素子ｉの時間ｔに得ら
れた検知データに対する補正係数である）。なお、記憶
部７には、所定カウント値毎に補正係数が離散的に記憶
されているため、Ｃitを算出するには、得られたカウン
ト値から補間処理等を行えばよい。
【００３２】次に、算出した補正係数ＣitとＸ線モニタ
値Ｍi(t)とから上述した式と同様以下の式に基づき各検
出素子出力のＸ線変動補正を行う（Ｓ５）。
値Ｍi(t)とから上述した式と同様以下の式に基づき各検
出素子出力のＸ線変動補正を行う（Ｓ５）。
【００３３】Ｄ’i(t)＝Ｄi(t)／（Ｃit・Ｍi(t)） 全データの補正が完了した後、各検出素子出力の補正後
の出力Ｄ’i(t)に基づき、被検体ＢのＸ線像を合成し、
表示部８に表示する（Ｓ６）。
の出力Ｄ’i(t)に基づき、被検体ＢのＸ線像を合成し、
表示部８に表示する（Ｓ６）。
【００３４】なお、上述した実施の形態では、一次元ア
レイセンサを移動させることで、被検体Ｂの２次元像を
得る場合を示したが、本発明は、これに限らず、所定時
間に渡って得られる被検体Ｂの透過放射線から撮像を行
う装置、例えば、Ｘ線ＣＴ装置などに対しても適用でき
る。
レイセンサを移動させることで、被検体Ｂの２次元像を
得る場合を示したが、本発明は、これに限らず、所定時
間に渡って得られる被検体Ｂの透過放射線から撮像を行
う装置、例えば、Ｘ線ＣＴ装置などに対しても適用でき
る。
【００３５】
【発明の効果】本発明によれば、放射線強度に対する放
射線検出器の出力感度に応じて、Ｘ線強度変化をモニタ
する放射線モニタの出力を増減し、増減された放射線モ
ニタ出力に基づき、放射線検出器から得られる出力の放
射線強度の変動補正を行うよう構成したため、精度の高
い放射線強度の変動補正ができ、アーティファクトの少
ない良好な放射線像が得られる。
射線検出器の出力感度に応じて、Ｘ線強度変化をモニタ
する放射線モニタの出力を増減し、増減された放射線モ
ニタ出力に基づき、放射線検出器から得られる出力の放
射線強度の変動補正を行うよう構成したため、精度の高
い放射線強度の変動補正ができ、アーティファクトの少
ない良好な放射線像が得られる。
【００３６】また、放射線モニタ上に放射線を所定量吸
収する吸収体を配設したため、放射線強度の変動を精度
良く検知でき、精度の高い放射線強度の変動補正が可能
とな
収する吸収体を配設したため、放射線強度の変動を精度
良く検知でき、精度の高い放射線強度の変動補正が可能
とな
【図１】本発明にかかる放射線撮像装置をブロック図で
ある。
ある。
【図２】Ｘ線発生器とラインセンサの構成を示す図であ
る。
る。
【図３】Ｘ線強度に対するラインセンサの検出感度に応
じてなされるＸ線強度の変動補正を補足する図である。
じてなされるＸ線強度の変動補正を補足する図である。
【図４】Ｘ線強度に対するラインセンサの検出感度を算
出する際に用いるファントムである。
出する際に用いるファントムである。
【図５】本発明の動作を示すフローチャートである。
１・・・・・・Ｘ線発生器 ２・・・・・・Ｘ線モニタ ３・・・・・・ラインセンサ ４・・・・・・パルス検知部 ５・・・・・・カウンタ ６・・・・・・データ処理手段 ７・・・・・・記憶部 ８・・・・・・表示部 Ｂ・・・・・・被検体
Claims (2)
- 【請求項１】 被検体に放射線を照射する放射線源と、
前記被検体を透過した放射線を検知する放射線検出器を
有し、この放射線検出器で得られた検知データより前記
被検体の放射線像を撮像する放射線撮像装置において、 放射線が前記被検体を通過しない位置に配設され、照射
された放射線強度を検知する放射線モニタと、 前記放射線モニタ出力に基づき、前記放射線検出器の出
力に対して放射線強度の変動補正を行うと共に、放射線
強度に対する前記放射線検出器の出力感度に応じて前記
変動補正の補正量を増減する補正手段と、 を備えたことを特徴とする放射線撮像装置。 - 【請求項２】 前記放射線モニタ上に放射線を所定量吸
収する吸収体を配設したことを特徴とする放射線撮像装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9081091A JPH10272125A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9081091A JPH10272125A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 放射線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10272125A true JPH10272125A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=13736727
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9081091A Pending JPH10272125A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 放射線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10272125A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011078528A (ja) * | 2009-10-06 | 2011-04-21 | Aloka Co Ltd | Ｘ線撮像装置 |
| JP2013111214A (ja) * | 2011-11-29 | 2013-06-10 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2013223539A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-31 | Canon Inc | 放射線撮像装置 |
-
1997
- 1997-03-31 JP JP9081091A patent/JPH10272125A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011078528A (ja) * | 2009-10-06 | 2011-04-21 | Aloka Co Ltd | Ｘ線撮像装置 |
| JP2013111214A (ja) * | 2011-11-29 | 2013-06-10 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2013223539A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-31 | Canon Inc | 放射線撮像装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041012 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041019 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041130 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050301 |