JPH10260625A - 学習問題作成装置および学習問題作成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 英会話や漢字検定などを学習する学習検定装
置では、出題できる問題は予め用意された問題に限られ
ていた。 【解決手段】 漢字学習検定装置２０は、新規に問題を
作成するという指示がなされると、各問題についての問
題別履歴リストを参照し（ステップＳ３１０）、例えば
設定が過去に選択した問題は除くとなっていれば、選択
情報フラグＦｓ（Ｑ）の値を判定し、過去に選択した問
題を除く（ステップＳ３２０）。過去に選択されていな
い問題のみを、予め設定した総選択問題数Ｒｍａｘ個と
なるまで順次記憶する（ステップＳ３５０，３６０）。
なお、問題を作成する条件としては、過去に間違えた問
題を優先するといった条件や、解くのに時間のかかった
問題といった条件などを考えることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、学習問題作成装置
および学習問題作成方法、特に、複数の問題を有し、所
定の実行命令を入力することにより、該複数の問題の中
から問題を選択し、該選択した問題から問題群を作成す
る学習問題作成装置および学習問題作成方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、コンピュータの優れた処理機能を
利用した種々の学習検定装置が提案されている。これら
の装置の学習検定の方法としては、装置に予め準備され
た所定の問題を文字・音声等によって出力し、学習者に
解答の入力を求め、入力された解答と問題に対する正解
とが一致しているか否かを判定するものが一般的に採用
されている。このような装置が学習者に対して出題する
形式には、複数の問題の中から順に一問ずつ出題して解
答の正誤を判定する一問一答形式や、複数の問題を予め
いくつかの問題群に分け正誤の判定を一括して行なう模
擬試験形式等がある。模擬試験形式の場合には、いずれ
か一つの問題群に属する問題を順次出題し、それぞれの
問題について入力された解答の正誤を一括して判定す
る。模擬試験形式を採用する学習検定装置には、試験問
題の内容を異にする多数の問題群を準備して、異なる問
題群により何度も学習を試みることができるようにする
ことも行なわれていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
学習検定装置では、１つの問題群に含まれる問題の内容
は固定されており、使用者の学習の程度にかかわらず、
同じ問題群を解答しなければならないという問題があっ
た。使用者が、自分が過去に間違えた問題を重点的に学
び直そうとしていも、問題群に含まれる全ての問題が出
題されてしまい、使用者は、全問題について解答しなけ
ればならない。複数の問題から成る問題群の中で過去に
間違えた問題がごく僅かという場合には、その僅かな問
題を解くために、既に正解を学習した多数の問題を再度
解かねばならないった。こうした場合には、使用者の学
習意欲を高めることは困難であった。

【０００４】また、予め用意された問題群についてこれ
に含まれる問題に解答するという形式では、いずれ全て
の問題群を一度は解答した状態になってしまう。そうな
ると、更に学習するには、一度解答した問題群を何度も
やり直すことになり、学習しようとしている問題の性質
や使用者の性格によっては、学習効率が上がらない場合
も考えられた。こうした問題に対して、問題群を予め大
量に用意しておくという対応も考えられるが、使用者の
学習の状況は使用者毎に異なるから、単に問題を大量に
用意しておけば良いと言うことはならない。一人の使用
者はある分野の問題の学習が不十分で、他の使用者は別
の分野の問題の学習が不十分であっても、予め用意され
た問題を解くのでは、こうした学習の状況に対応するこ
とはできないからである。尚、模擬試験形式であっても
一問一答形式であっても、予めまとまった数の問題を用
意し、これを順次解いていくのであれば、学習検定装置
としては、同じである。

【０００５】本発明は、これらの問題を解決し、使用者
毎に適切な問題を出題し得る学習問題作成装置および学
習問題作成方法を提供することを目的としてなされた。

【０００６】

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】か
かる目的を達成する本発明の学習問題作成装置は、複数
の問題を用意し、該複数の問題の中から問題を選択し
て、問題群を作成する学習問題作成装置であって、問題
群の作成を実行する命令を入力する入力手段と、前記用
意された複数の問題についての所定の履歴を問題ごとに
記憶する問題履歴記憶手段と、該問題履歴記憶手段によ
り記憶された問題ごとの所定の履歴を参照して、前記複
数の問題の中から所定の条件に合致した問題を選択する
問題選択手段と、該問題選択手段により選択された問題
を、新たな問題群として出力する新規問題群出力手段と
を備えたことを要旨とする。

【０００７】この学習問題作成装置に対応した学習問題
作成方法は、複数の問題を用意し、該複数の問題の中か
ら問題を選択して、問題群を作成する学習問題作成方法
であって、問題群の作成を実行する命令を入力する入力
し、前記用意された複数の問題についての所定の履歴を
問題ごとに記憶し、該記憶された問題ごとの所定の履歴
を参照して、前記複数の問題の中から所定の条件に合致
した問題を選択し、該選択された問題を、新たな問題群
として出力することを要旨としている。

【０００８】この学習問題作成の手法によれば、用意さ
れた複数の問題についての所定の履歴を記憶しておき、
この履歴を参照して、所定の条件に合致した問題を選択
し、これを新たな問題群として出力することができる。
従って、使用者の学習の状況に応じた問題群を出題する
ことができ、学習効率の向上に資することができる。

【０００９】また、こうした学習問題の作成において、
問題に対する正誤判定の結果し、記憶された正誤判定の
結果を参照して、複数の問題の中から所定の条件に合致
した問題を選択するものとすることも可能である。この
場合には、例えば過去において間違えた問題だけを出力
するということも可能である。

【００１０】あるいは、問題群の作成にあたり、問題の
種類を考慮して、問題の種類ごとに選択すべき問題の配
分を決定し、決定された問題の配分を優先して、問題ご
との所定の履歴を参照し、複数の問題の中から所定の条
件に合致した問題を選択するものとすることもできる。
この場合には、問題の種類毎の問題の配分を適正に選択
することができる。

【００１１】

【発明の他の態様】本発明の他の態様としては、まず第
１に、かかる学習問題作成装置をコンピュータにより実
現するために必要なプログラムを記録した記録媒体の態
様が考えられる。即ち、複数の問題を用意し、該複数の
問題の中から問題を選択して、問題群を作成する機能を
コンピュータ上で実現するためのプログラムを記録した
記録媒体であって、問題群の作成を実行する命令を入力
する入力する機能、前記用意された複数の問題について
の所定の履歴を問題ごとに記憶する機能、該記憶された
問題ごとの所定の履歴を参照して、前記複数の問題の中
から所定の条件に合致した問題を選択する機能、該選択
された問題を、新たな問題群として出力する機能をコン
ピュータにより実現するためのプログラムをコンピュー
タにより読み取り可能に記録した記録媒体である。こう
した記録媒体としては、フレキシブルディスク、ＣＤ−
ＲＯＭ、光磁気ディスク、パンチカード、バーコードな
どの符号が印刷された紙などを考えることができる。

【００１２】これらの記録媒体は、コンピュータのフレ
キシブルディスク装置や光磁気ディスク装置などに装着
される。コンピュータは、磁気的な手段や光学的な手段
により記録されたプログラムを読み取ってそのメモリに
転送し、あるいは直接これを実行することにより、コン
ピュータ上で上述した学習問題作成の機能を実現する。

【００１３】第２の態様は、コンピュータのメモリにロ
ードされ、コンピュータシステムのマイクロプロセッサ
によって実行されることにより、複数の問題を用意し、
該複数の問題の中から問題を選択して、問題群を作成す
る学習問題作成装置を実現するプログラムを、通信回線
を介して供給する装置としての構成である。この場合に
も、コンピュータ上で上述した学習問題の作成の機能を
実現することができる。こうした場合には、使用者側の
コンピュータとネットワークを介して接続されたサーバ
ー側とで、どのように役割を分担するかは、自由に設計
することができる。例えば、ネットワーク上のサーバー
に複数の問題を置き、新たな問題群を作成する処理はコ
ンピュータ側で行なってもよいし、サーバー側で問題の
出力までを行ない、使用者側のコンピュータは単に選択
された新たな問題群をダウンロードし、学習するだけの
構成としても良い。

【００１４】

【発明の実施の形態】以上説明した本発明の構成及び作
用を一層明らかにするために、以下本発明の実施の形態
を実施例に基づき説明する。図１は、本発明の好適な実
施例である新規問題群を作成する機能を持つ漢字学習検
定装置２０の全体構成を示す概略構成図である。

【００１５】図示するように、本実施例の漢字学習検定
装置２０は、コンピュータ本体３８において所定のプロ
グラムを実行することにより実現されるものである。こ
のコンピュータ本体３８には、漢字学習検定処理および
新規問題群作成処理を実行するため、次の装置が備えら
れている。即ち、問題や解答と正解との一致性判断の結
果などを視認可能に表示するＣＲＴ２６、検定開始、問
題レベルの選択、検定終了、新規問題群の作成開始等の
各処理の実行指示を入力する手段としてのキーボード２
４、ＣＲＴ２６に表示された問題文に対し使用者が解答
を手書きにより入力する手段としてのタブレット３５お
よびマウス３６、プログラムやデータを記憶するハード
ディスク３２、ＣＤ−ＲＯＭに記憶されたデータを読み
取るＣＤ−ＲＯＭドライブユニット３９等である。

【００１６】タブレット３５は、これに組み合わされた
ペン３４によってタブレット上に記入された文字を座標
情報として入力する装置である。本装置では、解答の入
力をマウス３６によって行なうこともできる。この場合
には、学習者はマウス３６を操作し、解答として入力し
ようとする文字の形をなぞる。マウス３６を、そのボタ
ンを押したまま操作すると（ドラッグという）、なぞら
れた字形が、ＣＲＴ２６の所定の領域に表示され、イメ
ージ情報として入力される。イメージ情報は、コード化
されていない非コード情報である。本実施例では、タブ
レット３５とＣＲＴ２６を別体として構成しているが、
もちろんこれらを一体として構成することも可能であ
る。

【００１７】この漢字学習検定装置２０は、学習者が問
題に対する解答をペン３４を用いてタブレット３５に手
書きし、その解答をイメージ情報として入力し、イメー
ジ情報に合致する候補文字を抽出して候補文字を確定し
た後、解答と正解との一致性を判断するといった漢字学
習検定処理、および漢字学習検定のために準備された全
ての問題に関して、所定の履歴情報をリストとして記憶
し、そのリストを参照して問題を選択し、新規問題群と
して出力するといった問題群作成処理を行なう。これら
の処理は、コンピュータ本体３８の主記憶にロードされ
たプログラムにより行なわれる。この漢字学習検定装置
２０が実行するプログラムは、ＣＤ−ＲＯＭの中に予め
書き込まれており、ＣＤ−ＲＯＭをＣＤ−ＲＯＭドライ
ブユニット３９にセットすると、コンピュータ本体３８
において学習検定および新規問題群作成の各種処理を実
行するための準備が完了する。

【００１８】図２は、漢字学習検定装置２０のハードウ
ェアであるコンピュータ本体３８の内部構成を示すブロ
ック図である。図２に示すように、この装置は、予め設
定されたプログラムに従って漢字学習検定装置２０に関
わる動作を制御するための各種演算処理を実行するＣＰ
Ｕ２１を中心に、バス３１により相互に接続された次の
各部を備える。ＲＯＭ２２は、ＣＰＵ２１で各種演算処
理を実行するのに必要なプログラムやデータを予め格納
しており、ＲＡＭ２３は、同じくＣＰＵ２１で各種演算
処理を実行するのに必要な漢字学習検定装置２０に関わ
る各種プログラムやデータが一時的に読み書きされるメ
モリである。キーボードインタフェース２５は、キーボ
ード２４からの信号の入出力を司り、ポインティングデ
バイスインタフェース３７は、マウス３６およびタブレ
ット３５からの信号の入出力を司る。ＣＲＴＣ２７は、
カラー表示可能なＣＲＴ２６への信号出力を制御し、プ
リンタインタフェース２９は、プリンタ２８へのデータ
の出力を制御する。ハードディスク３２には、ＲＡＭ２
３にロードされて実行される各種プログラムやデバイス
ドライバの形式で提供される各種プログラム、あるいは
各種変換辞書などが記憶されている。このハードディス
ク３２の制御は、ハードディスクコントローラ（ＨＤ
Ｃ）３０により行なわれる。ＣＤ−ＲＯＭドライブユニ
ット３９は、ＣＤ−ＲＯＭに記録された記録内容を読み
取る装置である。タイマ３３は、現時点における時刻、
年月日などの所定の時点を示す日時情報を発生してい
る。

【００１９】このように構成されたハードウェアにおい
て、漢字学習プログラムおよび問題群作成プログラムが
記録されたＣＤ−ＲＯＭがＣＤ−ＲＯＭドライブユニッ
ト３９に装着されると、このコンピュータ本体３８上で
動作しているオペレーティングシステムが、ＣＤ−ＲＯ
Ｍを認識し、漢字学習検定プログラムおよび問題群作成
プログラムを実行可能な状態とする。漢字学習検定およ
び新規問題群の作成をしようとする使用者が、このプロ
グラムを起動することにより、問題文の画面表示、解答
の入力、入力された解答の文字認識、文字認識された解
答の正誤判定、正誤判定結果の記録・表示、新規問題群
に含めるべき問題の選択などがなされることになり、コ
ンピュータ本体３８は、新規問題群を作成する機能を持
つ漢字学習検定装置２０として機能する。

【００２０】次に、このハードウェア上で実行される漢
字学習検定処理の詳細について説明する。まず、キーボ
ード２４において、漢字学習検定の実行指示を行なうキ
ー操作がなされたとき、ＣＰＵ２１によりＣＤ−ＲＯＭ
に記録された漢字学習検定プログラムがＲＡＭ２３上に
ロードされ、実行可能な状態となる。なお、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ上のプログラムをハードディスク３２に一旦ロード
し、ハードディスク３２から起動するものとしても良
い。

【００２１】漢字学習検定プログラムの概要について説
明する。図３は、この漢字学習検定装置２０で実現して
いる漢字学習検定の内容を表すブロック図である。本実
施例の漢字学習検定装置２０では、主として階級別に漢
字検定模擬試験を行なう。ランクＲＡは模擬試験の難易
度を表わす。本実施例では、各自の能力に適合した学習
ができるように２級、３級および４級の３つのランクＲ
Ａを設定し、級数が小さいほど難易度の高い問題を準備
している。各ランクＲＡは、それぞれ第１回から８回ま
での試験回ＴＩに分けられ、各試験回ＴＩ毎に異なった
問題を準備している。各試験回ＴＩが準備する試験問題
の内容は、更に、１０個の異なったジャンルＧＥに分か
れている。本実施例では、漢字に関連する幅広い知識を
習得することができるように、問題読み、同一漢字、部
首、熟語構成、送り仮名、類義語・対義語、誤字訂正、
四字熟語、音訓異字、書き取りという多様なジャンルＧ
Ｅを設定している。 ＣＤ−ＲＯＭには、これらのラン
クＲＡ 、試験回ＴＩ及びジャンルＧＥ毎に、所定数の
問題が記録されている。なお、デフォルトで、第１回か
ら第８回までに設定された試験回ＴＩは、本装置が併有
する問題群作成処理を起動することにより、ＣＤ−ＲＯ
Ｍに記録された多数の問題の中から問題を選択して、新
たに第９回以降の模擬試験を追加することも可能であ
る。この処理については後述する。

【００２２】漢字学習検定プログラムが起動されると、
まず図４に示す開始画面を、ＣＲＴ２６に表示する処理
が行なわれる。開始画面には、学習者に、漢字検定につ
いて説明する画面への移動を指示するボタンＫＢ、模擬
試験の実行の開始を指示するボタンＥＸ、このプログラ
ムの終了を指示するボタンＱＴ、使い方の補助情報を表
示させるボタンＨＰ、および作者などのクレジットが表
示される。学習者は、マウス３６を操作して、これらの
ボタンを選択することにより、各ボタンに割り当てられ
た処理を選択することができる。学習者によって開始画
面上の漢字検定模擬試験を実行するというボタンＥＸが
選択なされると、図５に示す詳細項目設定画面ＷＤをＣ
ＲＴ２６上に表示する処理が行なわれる。詳細項目設定
画面ＷＤには、解答者の氏名を入力する氏名入力欄Ｎ
Ｉ、ランクＲＡを選択するランク選択ボタン群ＲＢ、試
験回ＴＩを選択するためのポップアップリストＴＰ、お
よびその他の設定項目が表示されている。学習者は、キ
ーボード２４を操作して自分の氏名を入力したり、マウ
ス３６を操作していずれかのランクＲＡ及び試験回ＴＩ
を選択することにより、希望する漢字検定模擬試験を設
定することができる。解答者の氏名は、氏名入力欄ＮＩ
に氏名を入力した後、「登録」ボタンＲＳをクリックす
ることにより登録され、以後氏名入力欄ＮＩにポップア
ップの形で表示される。

【００２３】詳細項目設定画面ＷＤで設定可能な他の項
目としては、模擬試験を行なっているときの制限時間の
設定の内容、模擬試験全体の終了までの制限時間、一つ
の問題毎に許容される解答時間、試験形式を模擬試験の
形式で行なうか一問一答形式で行なうかの設定等があ
る。これらの項目に応じて、詳細項目設定画面ＷＤに
は、制限時間を設定する終了時間設定欄ＴＴ、ここで設
定された時間が経過したら模擬試験を強制的に終了する
よう設定するボタンＦＱ、一問毎の解答時間を設定する
解答時間設定欄ＡＴ、ここで設定された時間が経過した
ら強制的に次の問題に移るよう設定するボタンＦＴ、試
験形式として模擬試験形式を選択する模擬試験形式選択
ボタンＰＢ、同じく一問一答形式を選択する一問一答形
式選択ボタンＱＡが表示されている。

【００２４】更に、この詳細項目設定画面ＷＤには、解
答を手書き文字により行なう場合に、手書き文字による
解答の入力の完了を、手書き入力が途絶えてから何秒経
過したかにより判断するかを設定する認識時間設定欄Ｉ
Ｒが設けられている。解答者は、タブレット３５および
ペン３４を用いた手書き入力、あるいはマウス３６を用
いた手書き入力の習熟度に応じて、認識までの時間を自
由に設定することができる。また、詳細項目設定画面の
下部には、開始画面への復帰を指示する「戻る」ボタン
ＲＴ、学習来歴を表示する「学習来歴」ボタンＰＨ、ヘ
ルプを表示する「ヘルプ」ボタンＨＰ、模擬試験の開始
を指示する「模擬試験開始」ボタンＳＴが表示されてい
る。学習者は、これらのボタンを操作することにより、
詳細項目設定画面ＷＤで設定した条件に従い、模擬試験
の開始などを行なうことができる。「模擬試験開始ボタ
ン」ＳＴが操作されると、模擬試験が開始されるが、最
初に行なわれる模擬試験は、漢字の読みを答える「読
み」の試験である（図６参照）。

【００２５】模擬試験が開始されると、ＣＲＴ２６に
は、各ジャンルＧＥ毎に問題が表示される。学習者は、
各問題の解答を、ペン３４でタブレット３５に手書き文
字を描くことにより入力することができる。あるいはマ
ウス３６を操作することによっても手書き文字を入力す
ることができる。更に、キーボード２４を操作して解答
を入力してもよい。模擬試験が開始されると、これらの
問題の表示から解答の入力という一連の処理を、学習者
が選択した試験回ＴＩにおいて、各ジャンルＧＥ毎に準
備された全ての問題について、制限時間の中で行ない、
その後、解答の全てについて一括して採点処理を行な
い、得点を模擬試験合格ボーダーラインとともに表示す
る。本実施例では、模擬試験合格ボーダーラインを正解
率８０パーセント以上として設定している。これによっ
て、学習者は、自己が選択したランクＲＡ、試験回ＴＩ
についての漢字検定模擬試験に合格したか否かを判断す
ることができる。なお、一問一答形式が選択された場合
には、採点は各問毎に行なわれるが、得点の表示は模擬
試験形式の場合と同様に行なわれる。

【００２６】以上、漢字学習検定の概要と設定画面につ
いて説明した。次に、本実施例の漢字学習検定装置２０
が漢字検定模擬試験の開始から終了までに行なう一連の
処理について、図７のフローチャートを参照しつつ説明
する。図７に示した漢字検定模擬試験ルーチンが起動さ
れると、起動後にＣＲＴ２６に表示される詳細項目設定
画面ＷＤにおいて学習者がマウス３６を操作することに
より選択した模擬試験のランクＲＡ、試験回ＴＩを指定
する処理を行ない（ステップＳ１００）、同様に詳細項
目設定画面ＷＤでの設定に基づいて模擬試験制限時間Ｔ
ＴＬ及び設問毎の解答制限時間ＰＴＬを設定する処理を
行なう（ステップＳ１１０）。模擬試験制限時間ＴＴＬ
は、模擬試験の開始から終了までの時間を表わし、この
時間が経過した場合には、未解答の問題が残っているか
否かに拘らず、模擬試験を終了する。模擬試験制限時間
ＴＴＬは、最大を１２０分として１分単位で設定するこ
とができ、学習者の選択によって制限を行なわないもの
とすることも可能である。解答制限時間ＰＴＬは、各問
題の出題から解答入力までの時間を表わし、この時間が
経過した場合には、出題されている問題に対する解答が
なされたか否かに拘らず、解答制限時間が経過すると次
の問題へ進む。解答制限時間ＰＴＬは、最大を１００秒
として１秒単位で設定することができ、学習者の選択に
よって制限を行なわないものとすることも可能である。
本実施例では、学習者が模擬試験制限時間ＴＴＬ及び設
問毎の解答制限時間ＰＴＬを一定時間に設定することを
選択したものとして、以降の処理を説明する。

【００２７】次に、指定された試験回ＴＩが準備する各
問題について、模擬試験終了までの間に学習者が解答に
要した延べ時間を表す解答所要時間ｔ（Ｑ）の値をゼロ
として初期設定する処理を行なう（ステップＳ１２
０）。ここで、Ｑは、この問題群に含まれる全問題の数
に対応した変数であり、ステップＳ１２０では、Ｑ＝
１，２，・・・として、全問題についての解答所要時間
ｔ（Ｑ）が初期化される。解答所要時間ｔ（Ｑ）は、解
答制限時間ＰＴＬが経過したか否かを判断するために必
要な計測処理によって計測された時間値を、模擬試験開
始から終了までの間において問題毎に累積・集計した値
である。この解答所要時間ｔ（Ｑ）の設定が果たす役割
の詳細は、後述する問題群作成処理において説明する。

【００２８】次に、ＣＤ−ＲＯＭに予め格納された出題
問題の中から最初の問題を出力してＣＲＴ２６に表示す
る処理を行なう（ステップＳ１３０）。この処理によ
り、学習者が出題された問題について解答することがで
きる状態となる。この状態においては、まず、設問毎の
解答制限時間ＰＴＬを経過しているか否かを判断し（ス
テップＳ１３５）、設問毎の解答制限時間ＰＴＬが経過
していない場合には、学習者によってタブレット３５に
記入された手書き解答をイメージ情報として入力する処
理を行なった後、このイメージ情報を解答文字として確
定する処理を行なう（ステップＳ１４０）。図６に示し
た例は、ランクＲＡが２級の場合の最初のジャンルＧＥ
として「読み」の問題が出題され、これに解答している
途中を示している。本実施例の漢字学習検定装置２０
は、学習者の解答がタブレット３５に１文字ずつ記され
るごとにそれをイメージ情報として入力し、入力された
イメージ情報をＮ番目の解答文字として確定する。

【００２９】タブレット３５にペン３４で文字を手書き
すると、手書きした通りの形が、ＣＲＴ２６の手書き文
字入力欄ＨＡに表示される。タブレット３５からの手書
き文字の入力が始まった後、所定時間手書き入力が途絶
えると、解答文字の手書き入力が１文字分完了したと判
断される。この判断は、タブレット３５において何の入
力も行なわれない時間がどれだけ経過したか否かによっ
て判断する。この判断に用いる時間は、詳細項目設定画
面ＷＤの認識時間設定欄ＩＲを用いて学習者が任意に設
定したものである。なお、この時間の経過による判定が
行なわれるより前に、学習者がマウス３６操作によりＣ
ＲＴ２６上に表示された認識ボタンＲＲを選択すると、
解答文字の記入完了とみなして、入力された解答のイメ
ージ認識を開始する。図６は、「蛍」という漢字の読み
を問う問題が表示され、既に「ほた」までの２文字分の
解答が入力され、３番目の文字として「る」という文字
が手書き入力されている状態を示している。

【００３０】確定された解答文字は、解答を構成するＮ
番目の文字としてＲＡＭ２３上の領域Ａ（Ｎ）に記憶さ
れる。この後、学習者による解答完了の指示があるま
で、ステップＳ１３５に戻り、解答を構成する次の文字
（Ｎ＋１番目の文字）を入力すべく、以上の処理を繰り
返す（ステップＳ１４５）。その間に、画面に表示され
た採点ボタンＡＱがクリックされ、あるいは次の問題に
進むことを指示する矢印ボタンＡＲがクリックされる
と、解答完了とみなして、その問題についての解答の入
力処理を停止する（ステップＳ１５０）。ステップＳ１
３５で設問毎の解答制限時間ＰＴＬが経過していると判
断した場合には、学習者の意志に拘らず、その問題につ
いての解答の入力処理を停止する（ステップＳ１３５、
Ｓ１５０）。この入力処理の停止とともに、解答制限時
間ＰＴＬを計測する処理が停止し、計測された所要時間
を検知し、この所要時間を問題Ｑについての解答所要時
間ｔ（Ｑ）として、予めＲＡＭ２３上に設けられた問題
別履歴リストに記憶する処理を行なう（ステップＳ１６
０）。

【００３１】解答入力処理の停止後、模擬試験制限時間
ＴＴＬを経過しているか否かを判断し（ステップＳ１６
５）、模擬試験制限時間ＴＴＬが経過していないと判断
した場合には、次の問題を出力する処理を行ない（ステ
ップＳ１７０）、ＣＲＴ２６に表示する処理から、上述
した処理を繰り返す（ステップＳ１３０ないしＳ１６
５）。模擬試験制限時間ＴＴＬが経過していると判断し
た場合には（ステップＳ１６５）、模擬試験を終了し、
試験回ＴＩに含まれる全ての問題について、既正誤判定
フラグＦｈを値１として、予めＲＡＭ２３上に設けられ
た問題別履歴リストに記憶し（ステップＳ１７５）、入
力されたすべての解答についてその正誤を判定する処理
を行なう（ステップＳ１８０）。既正誤判定フラグＦｈ
は、学習者がその問題を既に解き、正誤の判定がなされ
たことをしめすフラグである。このフラグＦｈを値１と
することによって、本装置は、その問題が、学習者によ
り過去に解かれた問題であることを判別することができ
る。

【００３２】次に、不正解と判断された全ての問題につ
いて、不正解フラグＦｗを値１として、予めＲＡＭ２３
上に設けられた問題別履歴リストに記憶する処理を行な
う（ステップＳ１８５）。不正解フラグＦｗを値１とす
ることによって、本装置は、その問題が、学習者が過去
に間違えた問題であることを判別することができる。こ
の正誤判定処理およびフラグ処理を行なった後、得点を
記録する処理を行ない（ステップＳ１９０）、本ルーチ
ンを終了する。なお、総ての問題について一通り解答が
終わっていても、時間があれば、学習者は既に解いた問
題を確認することもあり得るから、学習者からの明示の
指示を待って模擬試験の終了とすることも現実的であ
る。このような場合、学習者は図６に示す模擬試験終了
ボタンＥＤを操作することにより、模擬試験を終了する
ことができる。

【００３３】以上、本実施例の漢字学習検定装置２０が
漢字検定模擬試験の開始から終了までに行なう一連の処
理について説明した。次に、本実施例の漢字学習検定装
置２０が新規問題群作成の開始から終了までに行なう一
連の処理について、図８のフローチャートおよび図９の
説明図を参照しつつ説明する。新規問題群作成ルーチン
は、学習検定のルーチンとは別のアプリケーションプロ
グラムとして用意されており、学習検定とは別個に実行
される。但し、新規問題群作成ルーチンは、学習検定の
プログラムが実行された結果作成される問題別履歴リス
トを参照することができる。問題別履歴リストについて
は、後で詳しく説明するが、このリストは、登録された
使用者毎に用意されている。新規問題群作成ルーチンが
起動されると、ＣＲＴ２６には、図９に例示した新規問
題群作成ツール画面ＳＳが表示される。そこで、まず学
習者は模擬試験のランクＲＡを指定し、試験回ＴＩを指
定する。図８に示した新規問題群作成ルーチンが起動さ
れると、まず学習者が指定したランクＲＡと試験回ＴＩ
を入力する処理を行なう（ステップＳ２００）。本実施
例では、各ランクＲＡは、予め第１回から第８回までの
試験回ＴＩを準備しているので、学習者は第９回以降の
試験回ＴＩを任意に設定する。図９に新規問題群作成ツ
ール画面ＳＳにおいて学習者が模擬試験のランクＲＡと
して３級を選択し、試験回ＴＩとして第２５回を新規設
定した場合のＣＲＴ２６への表示例を示す。

【００３４】ランクＲＡが指定された後、指定されたラ
ンクＲＡに属する全問題を、新規問題群の作成時に選択
することができる問題として確定した後（ステップＳ２
１０）、この中から問題を選択する処理を行なう（ステ
ップＳ２２０）。即ち、ランクＲＡに属する全問題の中
から一定数の問題を選択し、選択された一定数の問題の
集合を新規問題群とし、これを学習者が新規設定した試
験回ＴＩに準備するのである。本実施例では、選択でき
る総選択問題数Ｒｍａｘを、２級では１５０個、３級で
は１４０個として設定している。どの問題を選択するか
については、各問題に与えられた所定の履歴情報に基づ
いて判断するが、この処理の詳細については後述する。
問題を選択する処理を行なった後、選択した問題毎に選
択情報フラグＦｓを値１として、予めＲＡＭ２３上に設
けられた問題別履歴リストに記憶する処理を行ない（ス
テップＳ２３０）、選択された問題の数が総選択問題数
Ｒｍａｘ個に達したと判断したとき、問題の選択処理を
終了して、選択された各問題を新規問題群として出力す
る処理を行なう（ステップＳ２４０）。本装置が準備す
る全ての問題には、予め問題毎に固有の通し番号が与え
られており、選択された問題の出力処理は、ＣＰＵ２１
が、選択された問題の問題番号情報を、学習者が設定し
た試験回ＴＩというインデックス情報とともに、ＲＡＭ
２３に記憶することによって行なわれる。通し番号およ
びインデックス情報を、ＲＡＭ２３の所定領域へ格納す
ることにより、新規問題群を記憶する処理を行なったも
のとし（ステップＳ２５０）、本ルーチンを終了する。

【００３５】以上、本実施例の漢字学習検定装置２０が
新規問題群作成の開始から終了までに行なう一連の処理
について説明した。次に、この漢字学習検定装置２０が
行なう一連の処理のうち、本実施例の特徴的な部分であ
る問題選択処理の詳細について説明する。図１０は、新
規問題群の作成処理を中心に漢字学習検定装置２０が実
行する各機能を、模式的にブロックにより表した説明図
である。これらの機能ブロックは、ＣＰＵ２１が後述す
る処理を実行することにより実現される。

【００３６】学習者がマウス３６を操作して新規問題群
作成処理の実行を選択した後、ランクＲＡを指定し、試
験回ＴＩを設定すると、これらの指定・設定情報は、ポ
インティングデバイスインタフェース３７を介して、Ｃ
ＰＵ２１による一連の処理により実現されている選択問
題制御部１４９に送られる。選択問題制御部１４９は、
ジャンル別配分決定部１５０、問題選択部１５４に対
し、どの範囲から何個の問題が選択可能であって、選択
された問題群をどのランクＲＡおよび試験回ＴＩとして
新規設定するか、ということを制御する機能部である。
選択問題制御部１４９は、選択可能な問題の数および範
囲と、選択された問題群が模擬試験問題として新規設定
されるランクＲＡ・試験回ＴＩの情報をジャンル別配分
決定部１５０に送る。本実施例では、模擬試験の試験回
ＴＩ１回分に含まれる総選択問題数をＲｍａｘ個、本実
施例では２級では１５０個、３級では１４０個として設
定している。例えば、図９に示すように、学習者がラン
クＲＡとして「３級」を指定し、試験回ＴＩとして「第
２５回模擬試験問題」を設定した場合には、ＣＤ−ＲＯ
Ｍに格納された「３級」に属する全ての問題の中から総
選択問題数として予め定めたＲｍａｘ個の問題を選択可
能であり、選択された問題群は、「３級」の中の「第２
５回模擬試験問題」として新規設定する、という情報が
ジャンル別配分決定部１５０に送られる。

【００３７】ジャンル別配分決定部１５０は、選択問題
制御部１４９から指定された問題数をジャンルＧＥ別に
割り当てて、問題選択部１５４が選択すべき問題の数を
ジャンルＧＥ毎に決定する機能部である。例えば、選択
可能なＲｍａｘ個の問題のうち、「読み」については３
問を選択し、「送り仮名」については２問を選択し、…
というように、ジャンルＧＥ別に選択される問題の配分
が決定される。配分の方法は、ジャンルＧＥ毎の配分既
定値を予め設定する方法のみならず、問題の履歴情報を
参照し、その参照結果に対して一定の演算処理を行なう
ことによって配分値を決定する方法としてもよい。本実
施例では、総選択問題数Ｒｍａｘ個に対するジャンルＧ
Ｅ毎の配分既定値を、問題数を単位として予め設定して
いる。その問題数は、ジャンルＧＥ毎に、「読み」につ
いては３０個、「同一漢字」については２０個（３級の
場合は１０個）、「書き取り」については２０個、「部
首」、「熟語構成」、「送り仮名」、「類義語・対義
語」、「熟語構成」、「四字熟語」、「音訓異字」、
「画数」についてはそれぞれ１０個として設定されてお
り、複数の問題が組み合されて一つの問題を構成してい
るジャンルＧＥ、例えば「類義語・対義語」では、少な
い数に設定されている。ジャンル別配分決定部１５０
は、決定されたジャンルＧＥ毎の選択問題数についての
情報を問題選択部１５４に送り、この情報を受け取った
問題選択部１５４が、ＲＡＭ２３上の所定領域に設けら
れた問題別履歴リスト１４８を参照して、新規問題群に
含めるべき個々の問題を選択する。

【００３８】問題別履歴リスト１４８は、問題を選択す
る基準とするための種々の履歴情報が記憶される領域で
ある。このリストに記憶される情報は、先に説明した漢
字検定模擬試験ルーチンまたは新規問題群作成ルーチン
において生成され、問題選択部１５４による識別が可能
な形で書き込まれる。以下、この記憶情報の書き込み処
理を実行する機能部について説明する。学習者がマウス
３６を操作して漢字検定模擬試験処理の実行を選択した
後、ランクＲＡ、試験回ＴＩを指定すると、これらの指
定情報は、ポインティングデバイスインタフェース３７
を介して、ＣＰＵ２１による一連の処理により実現され
ているジャンル認識部１４０に送られる。ジャンル認識
部１４０は、試験の開始が指示されると、各試験回ＴＩ
において準備された出題用の問題のうち、これから出題
する問題がどのジャンルＧＥに属すべきか、ということ
を認識する機能部である。この認識ジャンル情報は問題
出力部１４２に送られる。情報を受け取った問題出力部
１４２は、ＣＤ−ＲＯＭに格納された出題問題の情報を
参照して、ジャンル認識部１４０により認識されたジャ
ンルについての出題を行なうとともに、問題の出力を開
始することを解答時間計測部１４４に指示する。解答時
間計測部１４４は、問題の出題から解答入力までに学習
者が要した時間を問題毎に計測する機能部である。この
計測処理は、学習者により設定された解答制限時間ＰＴ
Ｌ内で、その経過した時間を検知するものである。解答
時間計測部１４４は、検知した所要時間を問題別履歴リ
スト１４８中の解答所要時間リストＴＳに書き込む。問
題別履歴リスト１４８中に記憶される各要素について、
図１１に、その一例を示した。

【００３９】模擬試験制限時間ＴＴＬが経過し、または
学習者による模擬試験終了ボタンＥＤを操作したとき、
漢字学習検定装置２０は模擬試験を終了し、この終了情
報を正誤判定部１４６に送る。情報を受け取った正誤判
定部１４６は、入力されたすべての解答についてその正
誤を判定する処理を行なうとともに、正誤判定をしたす
べての問題について、既正誤判定フラグＦｈの値を１と
し、不正解であると判定した問題について、不正解フラ
グの値を１として、問題別履歴リスト１４８中の不正解
リストＪＵ（図１１参照）に書き込む。

【００４０】新規問題群作成ルーチンにおいて問題別履
歴リスト１４８に書き込まれる履歴情報について説明す
る。問題選択部１５４は、後に説明する方法により新規
問題群に含めるべき問題を選択するとともに、選択した
すべての問題について、既選択フラグＦｓの値を１とし
て、問題別履歴リスト１４８中の既選択リストＡＲ（図
１１参照）に書き込む。

【００４１】問題選択部１５４は、以上説明した問題別
履歴リスト１４８中の既選択リストＡＲ、不正解リスト
ＪＵ、解答所要時間リストＴＳという３種類のリストを
参照して、新規問題群に含めるべき個々の問題を選択す
る処理部である。問題選択部１５４がどのリストを参照
するかということは、新規問題群作成ルーチンの起動後
に表示される新規問題作成ツール画面ＳＳにおいて、予
め学習者が任意に指定することにより、決定される。図
９に示した例では、問題作成方法欄の中に、「過去に間
違えた問題を優先する」「まだ選択されていない問題を
優先する」というチェックボックスが設けられている。
学習者が「過去に間違えた問題を優先する」を指定した
場合には、対応するチェックボックスにチェック印が表
示され、以後、問題選択部１５４は、問題選択処理の際
に、問題別履歴リスト１４８中の不正解リストＪＵを参
照する。学習者が「まだ選択されていない問題を優先す
る」を指定した場合には、対応するチェックボックスに
チェック印が表示され、以後、問題選択部１５４は、問
題選択処理の際に、問題別履歴リスト１４８中の既選択
リストＡＲを参照する。図９では、両方のチェックボッ
クスにチェック印が表示されているので、この場合は、
不正解リストＪＵおよび既選択リストＡＲの両方を参照
して、新規問題群に含められるべき個々の問題が選択さ
れる。なお、両方のチェックボックスにチェック印が表
示されている場合には、過去に間違えた問題と過去に選
択しなかった問題とから、新たな問題群が生成される。
過去に選択しかつ正解であった問題を除いて問題が生成
されることになる。

【００４２】図９では図示していないが、「過去に解答
に際し長時間を要した問題を優先する」というチェック
ボックスを設けることにより、解答所要時間リストＴＳ
を参照して、問題を選択することも可能である。問題選
択部１５４が参照するリストの数に限定はなく、一度に
既選択リストＡＲ、不正解リストＪＵ、解答所要時間リ
ストＴＳという３種類のリストのすべてを参照すること
も可能である。ただし、本実施例では、新規問題群作成
処理により得られる効果を一定レベル以上に保つため、
参照リスト制御部１５２が設けられている。参照リスト
制御部１５２は、学習者によって複数のチェックボック
スの指定がされた場合に、問題選択部１５４が参照すべ
きリストの優先度を決定する機能部である。決定された
優先度情報は、問題選択部１５４に送られ、問題選択部
１５４は、この情報に従って、各リストを参照する。

【００４３】問題選択部１５４は、所定のリストを参照
して新規問題群に含められるべき個々の問題を選択した
後、前記した問題別履歴リスト１４８中の既選択リスト
ＡＲへの書き込みを行なうとともに、選択した問題の通
し番号およびランクＲＡ・試験回ＴＩを新規問題群記憶
部１５６に送る。新規問題群記憶部１５６は、ランクＲ
Ａ・試験回ＴＩをインデックスとして、当インデックス
に属する各問題の通し番号を記憶する。この新規問題群
として記憶されたランクＲＡ・試験回ＴＩについて模擬
試験の実行指示がなされたとき、問題出力部１４２は、
新規問題群記憶部１５６のインデックス領域に記憶され
た問題の通し番号を読み出し、この問題のイニシャルに
相当する問題をＣＤ−ＲＯＭから出力することにより、
新規問題群が問題順にＣＲＴ２６へ表示されることにな
る。

【００４４】次に、この漢字学習検定装置２０が、使用
者の求めに応じて新たな問題群を生成する処理について
詳しく説明する。図１２は、過去に一度でも出題された
問題を除いて新規問題群を作成する処理を示すフローチ
ャートである。過去に一度でも出題された問題を除いて
新規問題群を作成するという指示は図９に示した「問題
作成方法」のチェックボックスの指示により行なわれて
いる。この処理が起動されると、まず問題についての通
し番号を示す変数Ｑと、新規に選択された問題の数を示
す変数Ｒを、それぞれ値１に初期化する処理を行なう
（ステップＳ３００）。次に、通し番号Ｑの問題につい
ての問題別履歴リストを参照する処理を行ない（ステッ
プＳ３１０）、選択情報フラグＦｓ（Ｑ）が値１である
か否かの判断を行なう（ステップＳ３２０）。選択情報
フラグＦｓ（Ｑ）が値１でなければ、過去に出題された
問題でないと判断できるので、この場合には、この問題
が既に新規問題記憶部に記憶されているか否かの判断を
行なう（ステップＳ３３０）。後述するように、問題群
を作成している途中で選択可能な問題がなくなってしま
うと、一旦選択情報フラグＦｓを初期化して最初の問題
から処理を繰り返すことがあり得るので、既に記憶部に
記憶された問題でないかチェックするのである。既に新
規問題記憶部に記憶された問題でなれば、通し番号Ｑの
問題を新規問題記憶部に記憶する処理を行ない（ステッ
プＳ３４０）、次にこの問題は出題済みになったとし
て、この問題に関する選択情報フラグＦｓ（１）に値１
を設定する（ステップＳ３４５）。

【００４５】こうして新たな問題をひとつ選択した後、
選択された問題の数を示す変数Ｒを値１だけインクリメ
ントし（ステップＳ３５０）、この変数Ｒが予め定めた
総出題数Ｒｍａｘ以下であるか否かの判断を行なう（ス
テップＳ３６０）。変数Ｒの値がＲｍａｘ以下であれ
ば、総選択問題数Ｒｍａｘまでなお選択の余地があると
して、次に通し番号Ｑを値１だけインクリメントする処
理を行なう（ステップＳ３７０）。なお、選択情報フラ
グＦｓ（Ｑ）が値１の場合や（ステップＳ３２０）、通
し番号Ｑの問題が既に新規問題記憶部に記憶されている
場合にも（ステップＳ３３０）、処理はステップＳ３７
０に移行して、通し番号Ｑのインクリメントが行なわれ
る。通し番号Ｑを値１だけインクリメントした後、通し
番号Ｑが、予め用意した総問題数以下であるか否かの判
断を行なう（ステップＳ３７５）。通し番号Ｑが総問題
数以下であれば、まだ選択可能な問題が残っていると判
断できるから、上述したステップＳ３１０に戻って、通
し番号Ｑの問題についての問題別履歴リストを参照する
処理以下を繰り返す。

【００４６】他方、通し番号Ｑが総問題数を越えていれ
ば、予め用意した総ての問題について、条件に合致する
問題を選択しようとしたことになるから、もはや選択で
きる問題はないことになるので、一旦全問題についての
選択情報フラグＦｓをＯＦＦ、即ち値０に設定する処理
を行ない（ステップＳ３９０）、通し番号Ｑを初期値に
戻して、最初の問題に戻る処理を行なう（ステップＳ３
９５）。その後、ステップＳ３１０に戻って、改めて通
し番号Ｑの問題についての問題別履歴リストの参照から
処理を繰り返す。総ての問題について選択できるか否か
の判断を行なった時点で選択情報フラグＦｓが値０の問
題、即ち、過去に一度も選択されていない問題がなくな
ってしまった場合、本実施例では、総ての問題を初期化
して、最初から問題の選択をやり直す。これに対して、
選択できる問題がなくなった時点で、メッセージを出力
し、新規問題群の生成を打ち切るといった対応も可能で
ある。

【００４７】こうして新規問題群の生成を行なう中で、
選択問題数Ｒが、総選択問題数Ｒｍａｘを越えた場合に
は（ステップＳ３６０）、新規問題群の作成処理は完了
したとして、「ＮＥＸＴ」に抜けて、本ルーチンを終了
する。

【００４８】以上説明した本実施例によれば、使用者
は、過去に出題されたことのない問題のみからなる新規
な問題群を容易に作成することができる。したがって、
過去に一度もの解いたことがない問題群に取り組むこと
ができる。

【００４９】次に、本発明の第２の実施例について説明
する。第２実施例では、新規問題群は過去において間違
えた問題から新規な問題群を作成する。この処理ルーチ
ンを図１３に示すが、このルーチンは、第１実施例の処
理ルーチンと、ほぼ同一の処理を行なうので、対応する
ステップの下２桁は同一の番号としてある。第２実施例
の処理で第１実施例と異なるのは、間違えた問題だけか
ら新規問題群を作成するのではなく間違えた問題を優先
して問題を作成するため、優先度の切り換えを示すフラ
グＦＰＲ（初期値０、ステップＳ４００で設定）が存在
すること、および問題を選択する判断条件だけなので、
この点についてのみ説明する。即ち、第２実施例では、
通し番号Ｑの問題について問題別履歴リスト（図１１）
を参照し（ステップＳ４１０）、既正誤判定フラグＦｈ
（Ｑ）が値１であるか否かの判断を行なう（ステップＳ
４２０）。既正誤判定フラグＦｈ（Ｑ）は、その問題が
既に解かれたことがあるか否かを示すフラグなので、こ
のフラグＦｈ（Ｑ）が値１であれば、この問題は過去に
解かれたことがあるとして、次に優先度のフラグＦＰＲ
の値について判定する処理を行なう（ステップＳ４２
５）。過去に間違えた問題が総て選択されるとこのフラ
グＦＰＲは値１に設定されるので（ステップＳ４９
０）、それまではフラグＦＰＲは値０となっている。し
たがって、この場合（過去に間違えた問題が総て選択さ
れるまで）は、不正解フラグＦｗ（Ｑ）が値０であるか
否かの判断を行なう（ステップＳ４３５）。不正解フラ
グＦｗ（Ｑ）が値０でなければ、過去に間違えた問題で
あると判断し、この問題を新規問題群に含ませる処理を
行なう（ステップＳ４３０以下の処理）。

【００５０】こうした処理を、選択された問題の数Ｒが
総選択問題数Ｒｍａｘとなるまで繰り返すが、選択され
た問題の数が総選択問題数Ｒｍａｘに至る前に過去に間
違えた問題を総て選択してしまった場合には、フラグＦ
ＰＲを値１に設定する（ステップＳ４９０）。したがっ
て、それ以後は、過去に解かれた問題であれば（フラグ
Ｆｈ（Ｑ）＝１）であれば、間違えた問題か否かを問わ
ず、新規問題群に含ませるものとなる（ステップＳ４２
５，Ｓ４３０）。即ち、過去に間違えた問題を優先して
出題はするが、過去に間違えた問題が総て出題されてし
まえば、過去に解いた問題の中から適宜選択して、新規
問題群を作成することになる。

【００５１】以上説明した本実施例によれば、新規問題
群を作成する際、過去に間違えた問題を優先して問題を
作成することができ、使用者は、自分が間違えた問題を
優先して、取り組むことができる。

【００５２】次に、本発明の第３の実施例について説明
する。第３実施例では、新規問題群を、過去の使用者が
解いた問題のうち、正答率の低いものから出題する。正
答率を参照して問題を選択するので、新規問題群の作成
処理に先立って、正答率を求める処理が必要になる。こ
の処理を示したのが、図１４のフローチャートである。
この処理は、学習検定装置２０における模擬試験ルーチ
ン（図７）の回答の正誤判定（ステップＳ１８０）に相
当する処理である。この処理が開始されると、まず正誤
を判定する問題の解答と正解とを読み出す処理が行なわ
れる（ステップＳ５００）。模擬試験の回答群に含まれ
る問題の通し番号Ｑは必ずしも連続していないので、模
擬試験用に並べられた配列から順に処理が行なわれる。
回答は、使用者が入力したものがＲＡＭ２３の所定の領
域に記憶されており、正解は、ＣＤ−ＲＯＭ内に記憶さ
れている。ステップＳ５００では、これらの領域から回
答と正解を読み出すのである。

【００５３】通し番号Ｑの問題について、正解と回答と
を読み出した後、その両者が一致しているか否かを判定
する（ステップＳ５１０）。両者が一致する場合には、
正解と判定し（ステップＳ５２０）、両者が一致しない
場合には、不正解と判定する（ステップＳ５３０）。不
正解と判定した場合には、不正解フラグＦｗ（Ｑ）に値
１を設定してリストに書き込む（ステップＳ５４０）。
また、正解であれは不正解であれ、ステップＳ５４５に
進んで、正答率ｃを演算する処理を行なう（ステップＳ
５４５）。３回解いて正解が１回なら正答率３３［％］
といったように正答率を演算するのである。次に、この
演算処理の結果をリストに問題別履歴リストに記憶する
処理を行なう（ステップＳ５５５）。正答率ｃか記憶さ
れる問題別履歴リストの一例を図１５に示した。

【００５４】正答率ｃの演算と記憶を行なった後、次の
問題を選択する処理を行ない（ステップＳ５６０）、総
ての問題についての解答と正解との一致判断が終了する
まで、上述した処理（ステップＳ５００ないしＳ５７
０）を繰り返す。総ての問題について回答と正解との一
致判定が行なわれると、「ＮＥＸＴ」に抜けて、本処理
ルーチンを終了する。

【００５５】次に第３実施例における新規問題群作成処
理について、図１６のフローチャートを参照して説明す
る。このルーチンが起動されると、先ず通し番号Ｑにつ
いての問題別履歴リストを参照する処理を行なう（ステ
ップＳ６００）。リストを参照して既正誤判定フラグＦ
ｈ（Ｑ）が値１であるか否かの判断を行ない（ステップ
Ｓ６０５）、値１であれば、不正解リストＪＵの参照対
象とする処理を行ない（ステップＳ６１０）、値１でな
ければ、不正解リストＪＵの参照対象から除く処理を行
なう（ステップＳ６１５）。具体的には、図１７に示す
ように、不正解リストＪＵを作成し、過去に正誤の判定
を行なったことのある問題を集めるのである。この例で
は、各問題は過去に３回程度解いており、問題を解いた
日付と共に、正誤の判定結果が記録されている。総て正
解なら正答率１００［％］、一つ正解なら正答率３３
［％］のように定められる。なお、２回しか回答して居
なければ、正答率は、０，５０，１００［％］のいずれ
かになる。こうして不正解リストＪＵを作成した後、通
し番号Ｑを値１だけインクリメントし（ステップＳ６２
０）、総ての問題についてこの処理を完了するまで、上
述した処理を繰り返す（ステップＳ６２５）。

【００５６】総ての問題について、既正誤判定フラグＦ
ｈについての判定と不正解リストＪＵへの登録の処理を
終了すると、次に不正解リストＪＵの参照対象となった
問題の通し番号ＱをインデックスＩ（１）〜Ｉ（Ｎ）と
して記憶する処理を行なう（ステップＳ６３０）。次に
不正解リストＪＵの中を正答率ｃの小さい値から純に並
べ替える処理を行なう（ステップＳ６４０）。正答率ｃ
に基づいて並べ替えたものを図１８上欄に例示する。こ
うして正答率ｃにより並べ替えても、過去数回解いただ
けでは、正答率ｃが同一の値のものが多いから、更にこ
のリストについて、同一正答率ｃの問題の場合、いずれ
を優先するかを決める処理を行なう（ステップＳ６５
０）。具体的には、誤答した時期が最近であるものを、
リストの先頭に持ってくるように並べ替えるのである。
この結果、図１８下欄に示すように、正答率ｃが低い側
から、かつ同じ正答率ｃの問題については最近間違えた
ものから順に配列されたリストが得られる。

【００５７】以上の準備を行なった後、次に問題を選択
する処理を行なう。即ち、まず問題数を示す変数Ｒを値
１に初期化し（ステップＳ６６０）、先に作成した配列
Ｉ（１）〜Ｉ（Ｎ）を用いて、問題数Ｒが総選択問題数
Ｒｍａｘとなるまで、該当する問題を新規問題記憶部に
記憶する処理を行なう（ステップＳ６７０ないし６９
０）。したがって、配列Ｉ（１）〜Ｉ（Ｒｍａｘ）が、
新規問題として出力されることになる。これらの問題を
新規問題記憶部に記憶した後、「ＮＥＸＴ」に抜けて、
本ルーチンを終了する。

【００５８】以上説明した第３実施例によれば、学習検
定装置２０は、使用者の指示に基づいては、過去に間違
えた問題のうち、最も正答率ｃの低いものからＲｍａｘ
個の問題を新規問題群として作成することができる。し
かも、同じ正答率ｃのものでは、最近間違えた問題を優
先して新規問題群とするので、使用者は、自分が不得意
な問題を集中的に学ぶことかできる。

【００５９】次に、本発明の第４の実施例について説明
する。第４実施例の学習検定装置２０は、過去に解いた
問題の中から、特に解答するのに時間を要した問題を中
心に、新規問題群を作成する。この実施例において、学
習検定装置２０が新規問題の作成を行なう処理を図１９
のフローチャートに示す。この処理ルーチンは、第３実
施例の処理ルーチン（図１６）と同様の処理を行なうも
のであり、対応する処理を下２桁を同一の番号で示して
ある。この処理では、第３実施例と比べて、既に一度は
解いて正誤の判定が行なわれた問題（既正誤判定フラグ
Ｆｈ（Ｑ）が値１である問題）のみを、解答所要時間リ
ストＴＳの参照対象とする（ステップＳ８０５，８１
０，８１５）。解答所要時間ｔが問題履歴リストに記録
されている様子は図１５に示しておいた。かかる処理を
総ての問題について行なった後（ステップＳ８２０，８
２５）、このリストＴＳに登録されている問題を、イン
デックスＩ（１）〜Ｉ（Ｎ）として記憶する（ステップ
Ｓ８３０）。その後、第３実施例では正答率ｃや間違え
た日付でこれを並べ替えたように、解答所要時間ｔや最
も最近間違えた日付でこれを並べ替える処理を行なう
（ステップＳ８４０ないしＳ８６０）。その後、この配
列Ｉ（１）〜Ｉ（Ｒｍａｘ）を、第３実施例と同様、新
規問題として出力する処理を行なう（ステップＳ８６０
ないしＳ８９０）。

【００６０】かかる第４実施例によれば、使用者は、自
分が過去に解いた問題の中で、解答するのに時間のかか
った問題を優先して集めた新規問題群を作成することが
でき、自分が不得手な問題を集中的に学ぶことができ
る。特に、解答時間に制限のある試験を受けようとして
学習する場合には、最終的な解答が正解であっても、解
くのに時間がかかれば、全問題に対しては、高得点を取
ることができない場合が考えられる。したがって、所要
時間を考慮した新規問題群を作成できる利点は大きい。

【００６１】なお、既述したように、問題を解く際に
は、一つの問題を一度だけ取り組む訳ではなく、分から
ない問題の場合には、何度もその問題の画面を表示し
て、解こうとするのが普通である。したがって、解答所
要時間ｔ（Ｑ）は、予め配列として用意し、使用者がそ
の問題の画面を表示するたびに時間を計測し、その時間
を配列ｔ（Ｑ）に加えて行くことになる。かかる処理を
しておくことにより、いつでも問題の所要時間を知るこ
とができる。

【００６２】次に本発明の第５実施例について説明す
る。この実施例の学習検定装置２０は、新規問題群を作
成する際、複数のジャンルの問題をバランス良く作成す
る。第５実施例の学習検定装置２０が新規問題作成時に
実行する処理を図２０のフローチャートに示した。図２
０に示した処理が開始されると、先ずジャンルＥＩ別の
問題配分数ＢＬの決定を行なう（ステップＳ１２０
０）。ジャンル別の問題配分数ＢＬを決定する処理と
は、結局、ジャンル数Ｎと、各ジャンルＥＩ（Ｊ）毎に
配分される問題配分数ＢＬ（Ｊ）とを決定することに他
ならない。ここで、変数Ｊは、１，２，・・・・Ｎの値
をとる。問題配分数ＢＬ（Ｊ）は、ジャンルＥＩ（Ｊ）
毎に配分される問題の数を示す配列に相当する。

【００６３】このルーチンが開始されると、先ずジャン
ルを示す変数Ｊに値１を設定し（ステップＳ１２０
５）、次に選択問題数を示す変数Ｒに値１を設定する
（ステップＳ１２１０）。その後、ジャンルＥＩ（Ｊ）
に属する問題（通し番号Ｑ）について、問題別履歴リス
トを参照する処理を行なう（ステップＳ１２２０）。ジ
ャンル別の問題別履歴リストの一例を図２１に示す。こ
の例では、通し番号１ないし７の問題が「読み」のジャ
ンルの問題であり、通し番号１１ないし１７の問題が
「画数」の問題の相当する。

【００６４】次に、このリストを参照して、選択情報フ
ラグＦｓ（Ｑ）が値１であるか否かの判断を行なう（ス
テップＳ１２２５）。選択情報フラグＦｓが値１である
とは、その問題が過去に選択されたことがあることを示
すから、ここでは過去に選択された問題でない場合に限
り、この問題を新規問題群に登録可能と見て、先ずこの
問題が既に新規問題記憶部に記憶されているかの判断を
行なう（ステップＳ１２３０）。この処理以下ステップ
Ｓ１２４５までは、第１実施例のステップＳ３３０ない
しＳ３５０と同一である。即ち、過去に一度も解かれた
ことがなく、かつ登録されていない問題を新規問題記憶
部に記憶すると共に（ステップＳ１２３５）、フラグＦ
ｓ（Ｑ）を値１に設定し（ステップＳ１２４０）、更に
変数Ｒを値１だけインクリメントするのである。

【００６５】その後、この数Ｒが、ジャンル別の問題配
分数ＢＬ（Ｊ）を以下であるか否かの判断を行ない（ス
テップＳ１２５０）、問題配分数ＢＬ（Ｊ）以下である
と判断された場合には、そのジャンルの中で通し番号を
一つ進めて（ステップＳ１２６０）、そのジャンルＥＩ
（Ｊ）にまだ問題があるかを判断する（ステップＳ１２
６５）。図２１に示したように、過去に出題されたこと
がないということを示すフラグＦｓが値１でない問題
は、問題を選択するたびに減って行くから、何度か出題
しているうちに、ジャンルによっては、未出題の問題の
数が減って行くことがある。図２１の例では「画数」の
ジャンルについては、配分数ＢＬ（Ｊ）が値３であり、
過去に選択されていない問題が一つしか残っていない。
したがって、この問題を選択した時点で、そのジャンル
の総ての問題の選択情報フラグＦｓ（Ｑ）は、値１とな
っており、もはや選択すべき問題が残っていない。この
場合には、そのジャンルＥＩ（Ｊ）の全問題について選
択情報フラグＦｓ（Ｑ）を値０に戻す処理を行ない（ス
テップＳ１２７０）、最初の問題に戻って、上述した処
理を繰り返す。もとよりそのジャンルＥＩ（Ｊ）内に次
ぎも未出題の問題が残っていれば、そのままステップＳ
１２２０に戻って上述した処理を繰り返す。

【００６６】一方、各ジャンルＥＩ（Ｊ）について、配
分された問題数ＢＬ（Ｊ）個の問題が新規問題記憶部に
記憶された場合には（ステップＳ１２５０）、ジャンル
を示す変数Ｊを値１だけ進め（ステップＳ１２８０）、
総てのジャンルについて処理が完了したかを判断する
（ステップＳ１２９０）。残っているジャンルがあれ
ば、ステップＳ１２１０に戻って処理を繰り返し、総て
のジャンルについて処理が終わっていれば、「ＮＥＸ
Ｔ」に抜けて本ルーチンを終了する。

【００６７】以上説明した本実施例によれば、各ジャン
ル毎に、過去に解いたことのない問題を中心にバランス
良く問題を作成することができる。この結果、ＣＤ−Ｒ
ＯＭに記録されている問題にジャンル毎の偏りがあって
も、新規問題群を作成する際には、ジャンル毎の問題を
適正な数だけ作成することができる。したがって、使用
者は、バランス良く各ジャンルの問題を学習することが
できる。

【００６８】以上、本発明のいくつかの実施例について
説明したが、本発明はこうした実施例に何ら限定される
ものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲内におい
て、種々なる態様で実現できることは勿論である。例え
ば、漢字検定以外の問題作成に適用することも容易であ
る。各種語学学習、英会話学習、小学生や幼児用の学習
教材等に適用することができる。また、予め用意する問
題は、問題そのものをＣＤ−ＲＯＭなどの媒体に記憶し
ておいても良いし、問題を生成する処理ルーチンを用意
し、その都度、問題を生成しても良い。例えば、算数な
どの問題では、乱数の発生手段と所定のアルゴリズムを
用意しておけば、問題をその都度生成することも容易で
ある。また、学習検定装置にモデムなどの通信手段を設
け、モデムを介してネットワークに接続可能とし、問題
をサーバーに記憶して、適宜これをダウンロードする構
成とすることも可能である。この手法によれば、ＣＤ−
ＲＯＭ等のように大容量とはいえ記憶できる問題に限り
があるものと比べて、サーバー内に記憶した問題を適宜
更新することができ、学習検定装置からみれば、いくら
でも問題を追加することができることになる。また、学
習検定装置側から、問題を要求するジャンルを通信によ
り知らせ、使用者が取り組みたいと考えるジャンルの問
題を優先的に配信してもらい、新規問題群を作成するこ
とも望ましい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例である漢字学習検定装置の全体
構成を示す概略構成図である。

【図２】本発明の実施例である漢字学習検定装置が実現
されるハードウェア構成の概要を示すブロック図であ
る。

【図３】本発明の実施例である漢字学習検定装置で実現
できる漢字検定模擬試験の内容を表す説明図である。

【図４】漢字検定模擬試験においてＣＲＴ２６に表示さ
れる開始画面の一例を示す説明図である。

【図５】漢字検定模擬試験においてＣＲＴ２６に表示さ
れる詳細項目設定画面の一例を示す説明図である。

【図６】漢字検定模擬試験においてＣＲＴ２６に表示さ
れる解答入力中の画面の一例を示す説明図である。

【図７】本発明の実施例で実行される漢字検定模擬試験
の処理ルーチンを示すフローチャートである。

【図８】本発明の実施の態様における新規問題群作成ル
ーチンの全体構成を示すフローチャートである。

【図９】新規問題作成の初期画面を示す説明図である。

【図１０】新規問題作成を行なう処理の概要を、各機能
を示すブロックにより図示したブロック図である。

【図１１】新規問題作成時に参照される問題別履歴リス
トの一例を示す説明図である。

【図１２】本発明の第１実施例における問題選択ルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図１３】本発明の第２実施例における問題選択ルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図１４】本発明の第３実施例のおける問題選択の前提
条件として、各問題についての正解・不正解を示す不正
解フラグＦｗを設定する処理を示すフローチャートであ
る。

【図１５】問題別履歴リストにおける不正解リストＪＵ
と解答時間リストＴＳの一例を示す説明図である。

【図１６】本発明の第３実施例における問題選択ルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図１７】不正解リストＪＵの一例を示す説明図であ
る。

【図１８】不正解リストから正答率ｃが低い順に問題を
並べなおした様子を示す説明図である。

【図１９】本発明の第４実施例における問題選択ルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図２０】本発明の第５実施例における問題選択ルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図２１】問題別履歴リストを参照して各ジャンル毎の
問題数を適正にバランスさせつつ新規問題群を作成する
処理を示す説明図である。

【符号の説明】

２０…漢字学習検定装置 ２１…ＣＰＵ ２２…ＲＯＭ ２３…ＲＡＭ ２４…キーボード ２５…キーボードインタフェース ２６…ＣＲＴ ２７…ＣＲＴＣ ２８…プリンタ ２９…プリンタインタフェース ３１…バス ３２…ハードディスク ３３…タイマ ３４…ペン ３５…タブレット ３６…マウス ３７…ポインティングデバイスインタフェース ３８…コンピュータ本体 ３９…ＣＤ−ＲＯＭドライブユニット １４０…ジャンル認識部 １４２…問題出力部 １４４…解答時間計測部 １４６…正誤判定部 １４８…問題別履歴リスト １４９…選択問題制御部 １５０…ジャンル別配分決定部 １５２…参照リスト制御部 １５４…問題選択部 １５６…新規問題群記憶部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の問題を用意し、該複数の問題の中
   から問題を選択して、問題群を作成する学習問題作成装
   置であって、 問題群の作成を実行する命令を入力する入力手段と、 前記用意された複数の問題についての所定の履歴を問題
   ごとに記憶する問題履歴記憶手段と、 該問題履歴記憶手段により記憶された問題ごとの所定の
   履歴を参照して、前記複数の問題の中から所定の条件に
   合致した問題を選択する問題選択手段と、 該問題選択手段により選択された問題を、新たな問題群
   として出力する新規問題群出力手段とを備えた学習問題
   作成装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の学習問題作成装置であっ
   て、 前記問題履歴記憶手段は、各問題が既に新たな問題群と
   して出力されたことを記憶する手段であり、 前記問題選択手段は、該問題履歴記憶手段により既に出
   力されたことが記憶された問題以外の問題を優先して、
   前記複数の問題の中から問題を選択する手段である学習
   問題作成装置。
3. 【請求項３】 請求項１記載の学習問題作成装置であっ
   て、 前記問題履歴記憶手段は、問題に対する正誤判定の結果
   を記憶する手段であり、 前記問題選択手段は、該問題履歴記憶手段により記憶さ
   れた正誤判定の結果を参照して、前記複数の問題の中か
   ら所定の条件に合致した問題を選択する手段である学習
   問題作成装置。
4. 【請求項４】 請求項１ないし請求項３のいずれか記載
   の学習問題作成装置であって、 問題群の作成にあたり、問題の種類を考慮して、該問題
   の種類ごとに選択すべき問題の配分を決定する問題配分
   決定手段を備え、 前記問題選択手段は、該問題配分決定手段により決定さ
   れた問題の配分を優先して、問題ごとの所定の履歴を参
   照し、複数の問題の中から所定の条件に合致した問題を
   選択する手段である学習問題作成装置。
5. 【請求項５】 複数の問題を用意し、該複数の問題の中
   から問題を選択して、問題群を作成する学習問題作成方
   法であって、 問題群の作成を実行する命令を入力する入力し、 前記用意された複数の問題についての所定の履歴を問題
   ごとに記憶し、 該記憶された問題ごとの所定の履歴を参照して、前記複
   数の問題の中から所定の条件に合致した問題を選択し、 該選択された問題を、新たな問題群として出力する学習
   問題作成方法。
6. 【請求項６】 請求項５記載の学習問題作成方法であっ
   て、 問題群の作成にあたり、問題の種類を考慮して、該問題
   の種類ごとに選択すべき問題の配分を決定し、 前記問題の選択は、該決定された問題の配分を優先し
   て、問題ごとの所定の履歴を参照し、複数の問題の中か
   ら所定の条件に合致した問題を選択する方法である学習
   問題作成方法。