JPH10260218A

JPH10260218A - インパルス試験器

Info

Publication number: JPH10260218A
Application number: JP9081930A
Authority: JP
Inventors: Teruo Minami; 照夫南; Takekatsu Kawamura; 雄克川村
Original assignee: BITSUGU BAAN KK; Nikon Corp
Current assignee: BITSUGU BAAN KK; Nikon Corp
Priority date: 1997-03-14
Filing date: 1997-03-14
Publication date: 1998-09-29

Abstract

(57)【要約】【課題】ＩＥＣ９５０で規定された試験等を幅広い範
囲で行え、しかも各種の耐性テストを行えるようにす
る。【解決手段】このインパルス試験器１では、電圧およ
び電流を制御する制御回路部２と、充電高圧発生回路部
３と、制御回路部２からのタイミングによってサージ出
力を発生するサージ発生回路部４とを備える。そして、
サージ出力を所定の繰り返し間隔で発生させる繰り返し
数設定部２５と、サージ出力の電圧を設定するサージ電
圧設定部２２と、サージ出力の発生間隔を設定するサー
ジ出力発生間隔設定部２４を設け、１秒以下の間隔を含
む複数の発生間隔を設定可能とし、その設定された間隔
で所定電圧のサージ出力を繰り返し発生できるようにし
ている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、サージ電圧やサー
ジ電流に対する電子機器や電気設備のブレークダウン
（絶縁破壊）を確認するための試験器に関するもので、
さらに詳細に述べると、サージ電圧等を人為的に発生さ
せる雷サージシミュレータと同様な波形を使用して行う
絶縁耐圧試験に利用されるインパルス試験器に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】近年、電子技術の進歩により通信機器や
制御機器等の電子機器や電気設備は、小型化と実装密度
の向上が図られている。このように精密化された電子機
器や電気設備にとって、ノイズ、特に突発的なサージに
よる影響は大きく、電子機器や電気設備の誤動作、故
障、破壊といった被害につながっている。ここで、サー
ジとは、雷等のように短時間に激しく変動する電圧や電
流のことを意味し、一過性で再現性のないものを意味し
ている。

【０００３】このようなサージとしては、雷によるもの
や人体に帯電した静電気が、電子機器や電気設備に接触
したときに発生する放電現象が典型的な例として知られ
ている。特に、雷のような大電力、大電流のサージが電
源ライン等に流入すると、電子機器や電気設備はブレー
クダウン（絶縁破壊）を生じ、破壊されてしまう危険性
が高い。このため、このようなサージによる電子機器の
被害を防止するために、回路的な対策を立てることが重
要になる。この回路的な対策のため、人工的に発生させ
たサージ電圧やサージ電流を電子機器や電気設備に与え
てその影響、特に、ブレークダウンの状況を詳しく調べ
ることが行われている。

【０００４】図１６は、電子機器等のブレークダウンの
状況を調べるため、従来から使用されている雷サージシ
ミュレータの基本回路を示している（特開平２−２９１
９７号公報等参照）。この雷サージシミュレータは、サ
ージ発生回路２０１により発生したサージ電圧またはサ
ージ電流を試験対象回路２０２に流すものとなってい
る。そして、両回路２０１，２０２の間に抵抗ＲＯ，Ｒ
Ｐ，ＲＩを介在させて接続し、この接続部から検出用の
電圧Ｖおよび電流Ｉを取り出している。

【０００５】このような回路を有する雷サージシミュレ
ータとしては、図１７のように構成されているものが知
られている。すなわち、サージ発生回路２０１が、雷サ
ージシミュレータとなる雷サージ試験機２１１内に入
り、試験対象回路２０２が被試験体２１２内に入る構成
となっている。雷サージ試験機２１１には、ケーブル２
１３を介して外部より電力が供給される。

【０００６】一方、この雷サージ試験機２１１によっ
て、通信回線絡みの試験を行う場合は、雷サージ試験機
２１１からサージ電圧またはサージ電流が、通信回線２
１４を介して被試験体２１２の試験対象回路２０２に供
給される。そして、検出用の電圧Ｖと検出用の電流Ｉを
取り出し、雷サージ試験機２１１で処理している。な
お、被試験体２１２にはＡＣケーブル２１５が接続され
ると共に、雷サージ試験機２１１からはライン出力ケー
ブル２１６が取り出されている。

【０００７】このような雷サージシミュレータの多く
は、ＩＥＣ（国際電気標準会議）でＩＥＣ１０００−４
−５としてその規格が決められた出力波形を出すものと
なっている。例えば、電源ラインに印加する電圧波形
は、図１８に示すように、ピーク値の３０％の値から９
０％の値までの時間Ｔ０の１．６７倍の時間Ｔ１が１．
２μｓとなり、立上がり開始からピーク値の５０％の値
に落ちるまでの時間Ｔ２が５０μｓとなるように規定さ
れている。これは、この波形が電源ラインに乗る平均的
かつ代表的な波形とされているためである。そして、こ
のような波形を１．２／５０μｓの電圧波形と称してい
る。

【０００８】また、通信回線に印加させるときは、ＣＣ
ＩＴＴ（国際電信電話諮問委員会、なお現在はＩＴＵと
略称されている）で引用された電圧波形を出力するよう
になっている。この電圧波形は、時間Ｔ１が１０μｓで
時間Ｔ２が７００μｓとされている。これは、このよう
な波形が、通信回線に乗る平均的かつ代表的な波形とさ
れているためである。そして、この波形を１０／７００
μｓの電圧波形と称している。なお、各時間Ｔ２の始ま
りは、正確には、時間Ｔ１の始まりと同一部分である
が、立ち上がりが極めて急峻であるため、時間Ｔ２を計
測する際は、便宜的に波形の立ち上がり点から計測開始
している（図１８の点線参照）。

【０００９】雷サージシミュレータは、雷サージ電圧を
かけたときの被試験体２１２の動作確認を目的としてい
る。この動作確認は、ＩＥＣ１０００−４−５という形
で規格として規定されている。一方、ＩＥＣ９５０とし
て規定される規格が存在する。このＩＥＣ９５０は、電
源ラインからのパルス（サージ）の進入による絶縁破壊
の試験を目的とするもので、一種の製品安全試験となっ
ている。そして、その波形としては、ＩＥＣ１０００−
４−５で規定された波形（図１８参照）を使用してい
る。

【００１０】雷サージシミュレータでは、図１８に示す
波形を１個出力し、被試験体２１２が壊れるか壊れない
かの試験および誤動作するか否かの試験を行うのに対
し、ＩＥＣ９５０で規定される試験は、図１８に示すよ
うな波形を何発も間欠的に発生させ、電源がオフされて
いる被試験体２１２にそのサージ出力波形を印加させる
ものとなっている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】従来の雷サージシミュ
レータは、最短で６０秒に１回のパルス波形を出力する
ものとなっているため、ＩＥＣ９５０で規定される試験
を行う場合、６０秒以上の間隔でパルスを発生させる試
験にのみ使用できるものとなる。すなわち、ＩＥＣ９５
０で規定される出力インパルス波形は、出力電圧として
数ｋＶまで必要となると共に、６０秒以内の間隔の波形
も含まれている。しかし、そのような高圧の出力インパ
ルス波形を６０秒以内の間隔で発生させることは、電荷
をためておくのに時間がかかる従来の雷サージシミュレ
ータでは不可能となっている。

【００１２】このため、従来の雷サージシミュレータで
は、限られた試験しか行えず、ＩＥＣ９５０で規定され
た試験は、実質的には行われていない状態となってい
る。また、電子機器や電気設備のメーカーは、製品の耐
性テストを行い、改善を行う必要があるが、従来の雷サ
ージシミュレータでは、出来上がった製品が壊れるか否
かの試験のみであり、各種の耐性テストが出来ないもの
となっている。

【００１３】本発明は、ＩＥＣ９５０で規定された試験
等を幅広い範囲で行え、しかも各種の耐性テストを行え
るインパルス試験器を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、請求項１記載のインパルス試験器では、電圧および
電流を制御する制御回路部と、充電高圧発生回路部と、
制御回路部からのタイミングによってサージ出力を発生
するサージ発生回路部とを備え、サージ出力を所定の繰
り返し間隔で発生させる繰り返し数設定部と、サージ出
力の電圧を設定するサージ電圧設定部と、サージ出力の
発生間隔を設定するサージ出力発生間隔設定部を設け、
１秒以下の間隔を含む複数の発生間隔を設定可能とし、
その設定された間隔で所定電圧のサージ出力を繰り返し
発生できるようにしている。

【００１５】また、請求項２記載の発明では、請求項１
記載のインパルス試験器において、制御回路部に、定電
流制御回路部を設け、所定間隔よりも短い時間内に、所
定電圧となるようにサージ発生回路部の充放電部を充電
している。

【００１６】また、請求項３記載の発明では、請求項１
記載のインパルス試験器において、制御回路部に、充電
時間を可変とする時間可変手段と、サージ出力として発
生する所定電圧を設定する電圧設定部とを設け、所定電
圧に充電される時間を変更することより繰り返し間隔の
時間を設定している。

【００１７】さらに、請求項４記載の発明では、請求項
１、２または３記載のインパルス試験器において、サー
ジ出力として、±１．２／５０μｓの電圧波形および±
８／２０μｓの電流波形からなるコンビネーション波形
を発生可能にしている。また、請求項５記載の発明で
は、請求項１、２、３または４記載のインパルス試験器
において、サージ出力発生間隔設定部によって設定され
た間隔で、サージ出力を所定回数発生させた後、その極
性を反転させ、同様の繰り返し間隔でサージ出力を所定
回数発生させることができるようにしている。加えて、
請求項６記載の発明では、請求項１、２、３、４または
５記載のインパルス試験器において、サージ出力とし
て、±１０／７００μｓの電圧波形で、出力間隔が固定
された波形も出力するようにしている。

【００１８】本発明のインパルス試験器は、１秒以下の
間隔を含む複数の発生間隔で、高圧のサージ出力を発生
させることができる。このため、このインパルス試験器
では、ＩＥＣ９５０で規定された試験等を幅広い範囲で
行える。また、出来上がった製品の各種の耐性テストを
行えるため、製品の電気的耐圧の改善作業を効率的に実
施することが可能となる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の第１の実施の形態
のインパルス試験器１について、図１から図１３に基づ
き説明する。なお、このインパルス試験器１は、上述し
たＩＥＣ９５０に適合するサージ電圧・電流のコンビネ
ーション波形（詳細は後述）とＣＣＩＴＴのサージ電圧
波形（詳細は後述）の計３種類のサージ出力が得られる
ものとなっている。ここで、各サージ波形は、上述した
ＩＥＣ１０００−４−５に規定された波形となってい
る。

【００２０】インパルス試験器１の回路構成は、図１に
示すブロックダイヤグラムのように、電圧や電流の制御
やトリガを発生させる制御回路部２と、制御回路部２か
ら電圧と電流の制御を受け高圧を発生させる充電高圧発
生回路部３と、制御回路部２からタイミングパルスを受
けサージ出力（＝インパルス）を発生するサージ発生回
路部４とから主に構成されている。なお、充電高圧発生
回路部３は、極性切替回路５を含み、サージ発生回路部
４は、サージ用スイッチング部６と電圧波形および電流
波形を行う波形成形部７とを含むものとなっている。

【００２１】コンビネーション波形は、１．２／５０μ
ｓの電圧波形と８／２０μｓの電流波形とから構成され
る。一方、ＣＣＩＴＴのサージ電圧波形（以下ＣＣＩＴ
Ｔ波形という）は、１０／７００μｓの電圧波形となっ
ている。

【００２２】コンビネーション波形を生成する場合、通
常、電圧波形と電流波形とはそれぞれ別個の波形成形回
路（詳細は後述）を有する。ここで電圧波形成形回路
は、出力端開放電圧波形出力であり、電流波形成形回路
は、出力端短絡電流波形となっている。そして、２つの
波形成形回路の定数を適切に選ぶことにより、１個の回
路で、電圧波形と電流波形とを自動的に切り替え出力が
出来るようになっている。すなわち、後述する具体的回
路中のコンビネーション波形成形回路部４８は、出力端
開放時に電圧波形となり、出力端短絡時に電流波形とな
るものとなっている。なお、出力インピーダンスは、次
式により定められている。出力インピーダンス＝電圧波形ピーク電圧／電流波形ピ
ーク電流＝２オーム

【００２３】コンビネーション波形は、具体的には図２
に示す２つの波形から構成される。一方の１．２／５０
μｓの電圧波形は、図２（Ａ）に示すように、ピーク値
の３０％の値から９０％までの時間の１．６７倍の時間
Ｔ１、すなわち波頭長が１．２μｓ±３０％で、立ち上
がり開始（ピーク値の３０％と９０％の値を結んだ線と
基線との交点位置）からピーク値の５０％の値に落ちる
までの時間Ｔ２、すなわち波尾長が５０μｓ±２０％と
なっている。他方の８／２０μｓの電流波形は、図２
（Ｂ）に示すように、ピーク値の１０％の値から９０％
までの時間の１．２５倍の時間Ｔ３、すなわち波頭長が
８μｓ±２０％で、波尾長が２０μｓ±２０％となって
いる。

【００２４】ＣＣＩＴＴの波形は、図３に示すとおりと
なっている。すなわち、図２（Ａ）に相当する時間Ｔ５
（波頭長）は、１０μｓ±３０％で時間Ｔ６（波尾長）
は、７００μｓ±２０％とされている。なお、各波尾長
Ｔ２，Ｔ４，Ｔ６の始まりは、上述したように各波頭長
Ｔ１，Ｔ３，Ｔ５の始まりと同一部分であるが、全体の
長さに比べ、各立ち上がりが極めて急峻であるため、各
波尾長Ｔ２、Ｔ４、Ｔ６を計測する際は、便宜的に波形
の立ち上がり点から計測を開始している。また、各波形
は、極性が切り替わることによりマイナス側に立ち下が
る波形となる。このため、各波形は、実際としては、そ
の値の前に±がつくものとなっている。

【００２５】コンビネーション波形をＩＥＣの規格で規
定しているのは、１．２／５０μｓの電圧波形を加えた
とき、絶縁破壊が生ずると、短絡が生じ、その波形はそ
の時点で急激に立ち下がる（図４の矢示Ａ参照）。する
と、その被試験体には、大電流が流れることとなるため
である。その代表的な電流波形が、図２（Ｂ）に示す８
／２０μｓの電流波形であり、図４に示すように、被試
験体が絶縁破壊され短絡すると、その電流波形（図４の
点線）が被試験体に加わるようになっている。

【００２６】図１で示されるブロックダイヤグラムを具
体化したブロック回路は、図５および図６に示すとおり
となっている。すなわち、制御回路部２は、定電流制御
部の一部を構成する差動増幅器１１と、電圧制御を行う
差動増幅器１２と、両差動増幅器１１，１２を加える和
回路１３と、演算増幅器１４等から構成される制御電圧
・電流生成部１５を有している。

【００２７】制御回路部２には、さらに抵抗１６，１７
で分割される分圧回路や抵抗１８の両端の電圧変化を検
出し、制御電圧・電流生成部１５に入力する電圧・電流
検出回路部１９と、制御電圧・電流生成部１５で生成さ
れた制御電圧や制御電流が入力する電圧・電流制御部２
０と、サージ出力のタイミングを制御するタイミング制
御部２１と、サージ出力の電圧を設定するサージ電圧設
定部２２と、コンビネーション波形やＣＣＩＴＴ波形の
設定をする波形設定部２３とが含まれる。なお、タイミ
ング制御部２１には、図示しないその他の各種の設定部
や表示部が接続されており、後述する各種の動作および
表示が行われるようになっている。

【００２８】なお、制御回路部２１は、上述の各構成部
以外に、サージ出力の発生間隔を設定するサージ出力発
生間隔設定部２４と、発生させる各波形の繰り返し数を
設定する繰り返し数設定部２５と、ＬＥＤ等からなる充
電中表示部２６と、発生させる各波形のサージ電圧を表
示するサージ電圧表示部２７と、タイミング制御部２１
および波形設定部２３から状態信号が入力する正負切替
部２８と、波形発生のためのスタート釦等からなるスタ
ート部２９と、緊急時に波形発生を停止させるストップ
釦等からなる停止部３０等を有している。

【００２９】充電高圧発生回路部３は、ＡＣ１００Ｖ等
の交流電源を入力し直流電源に変換する整流部３１と、
先に示した電圧・電流制御部２０と、この電圧・電流制
御部２０の制御を受けて高電圧を発生させる昇圧回路３
２と、正負切替部２８の制御を受けて切り替わるスイッ
チ等からなる極性切替回路５等を有している。

【００３０】サージ発生回路部４は、充放電部４１と、
サージ用スイッチング部６と、波形成形部７とから構成
される。そして、充放電部４１は、充電抵抗４２と、充
放電コンデンサ４３とから主に構成される。サージ用ス
イッチング部６は、トリガパルス発生部４４と、スイッ
チング部４５とから構成される。そしてスイッチング部
４５は、トリガパルス発生部４４からトリガパルスを受
けて高圧のサージ電圧を発生する高圧スイッチング部４
６と、ＩＧＢＴ（Insulated Gate Bipoler Transister)
等からなる低圧のサージ電圧を発生する低圧スイッチン
グ部４７とから主に構成される。また、波形成形部７
は、コンビネーション波形を整形するコンビネーション
波形成形回路部４８と、ＣＣＩＴＴ波形を成形するＣＣ
ＩＴＴ波形成形回路部４９とから主に構成される。

【００３１】各波形成形回路部４８，４９で成形された
各波形が高圧端子５０ａとグランド端子５０ｂから構成
される出力端子５０から出力される。なお、放電抵抗
は、ここでは波形整形回路部４８，４９中に入れて、波
形成形用と兼用している。

【００３２】差動増幅器１１によって行う定電流制御
は、少ないパワーで高速に充電が可能となるものであ
る。本実施の形態では、１秒に１回の間隔で４ｋＶの放
電を９９９９９回まで行うことができるものとなってい
るが、この短間隔の放電が行えるのは、定電流充電によ
る高速充電が行えるためである。

【００３３】例えば、図７（Ｃ）に示す従来の定電圧の
充電回路の場合、コンデンサａとして７μＦのものを使
用し、印加電圧ｂとして４ｋＶを印加するとする。これ
を１秒間で充電するとする。すなわち、１秒間でコンデ
ンサａを０Ｖから４ｋＶの電圧を充電し、放電可能な状
態にするとする。すると、図７（Ｄ）に示す完全充電の
９９％の容量までの充電時間（＝コンデンサａと抵抗ｃ
による時定数τの５倍）、すなわち５τが１秒となるた
め、τは２００ｍｓとなる。このため、抵抗ｃは、（２
００×１０^-3ｓ）÷（７×１０^-6Ｆ）＝約３０×１０³
オームとなる。この結果、電流は、Ｉ＝Ｖ／Ｒより、す
なわち（４×１０³Ｖ）÷（３０×１０³オーム）＝
０．１３３Ａとなる。このため、必要な電力Ｐ１は、Ｖ
×Ｉ＝４×１０³Ｖ×０．１３３Ａ＝５３３ワットとな
る。

【００３４】一方、これを定電流充電で行うと、Ｑ＝Ｃ
Ｖより、７×１０^-6Ｆ×４×１０³Ｖ＝２８×１０^-3Ｃ
＝２８ｍＣとなる。このクーロン値を１秒間で充電する
となると、流す電流は２８ｍＡとなる。このときの必要
な電力Ｐ２は、４×１０³Ｖ×２８×１０^-3Ｃ＝１１２
ワットとなる。このように、従来の必要な電力Ｐ１に比
べ、この定電流充電のときの必要な電力Ｐ２は約５分の
１となる。すなわち、定電流充電の場合、従来のものに
比べ、電源の大きさとして５分の１のものを使用できる
こととなる。

【００３５】この定電流充電は、図７（Ａ）のような回
路で達成される。すなわち、電流を監視する小さい抵抗
ｄの両端の電圧変化を検出し、この検出結果によって直
流制御トランジスタｅを制御し、電流が一定になるよう
に制御するものである。これは一種の定傾斜電圧となる
もので、充電される電圧は、図７（Ｂ）に示すように、
４ｋＶの充電のときは、その４ｋＶまで定傾斜で充電さ
れ、その後一定となる。これは、電圧Ｖが、（１／Ｃ）
×（電流Ｉと時間ｄｔの積分）で現されることから、電
流Ｉが一定であれば時間と共に所定割合で電圧Ｖが高く
なっていくためである。

【００３６】なお、この定傾斜電圧を得るには、図６の
回路の他に、ランプ回路等で基準スロープを得て、その
基準スロープと合うように分圧電圧を制御する方法もあ
る。このランプ回路の例としては、図８に示すように、
差動増幅器６０と、抵抗６１，６２と、スロープの上限
を調整するための抵抗６３と、スロープ形成のためのチ
ャージ用抵抗６４と、ＣＣＩＴＴ波形用のコンデンサ６
５と、このコンデンサ６５と共に用いられるコンビネー
ション波形用のコンデンサ６６と、コンデンサ６６を無
効にするためのスイッチ６７およびそのスイッチ６７の
保護用の極めて小さな抵抗６８と、コンデンサ６５およ
びコンデンサ６６ののチャージ電荷を放電するためのス
イッチ６９およびそのスイッチ６７の保護用の極めて小
さな抵抗７０とから主に構成されている。

【００３７】そして、抵抗６４とコンデンサ６５，６６
とでコンビネーション波形用の基準スロープを成形す
る。一方、抵抗６４とコンデンサ６５とでＣＣＩＴＴ波
形用の基準スロープを形成する。また、抵抗６３への接
続点を調整することで図７（Ｂ）の平行状態となる電圧
を得ている。なお、コンデンサ６５はコンデンサ６６よ
り１桁以上大きなものとする。

【００３８】このランプ回路では、コンビネーション波
形時、サージ電圧発生と同時にスイッチ６７を開状態か
ら図８の状態にすると共にスイッチ６９を閉状態にし
て、放電する。一方、ＣＣＩＴＴ波形時は、スイッチ６
７は図７の状態として充電し、サージ電圧発生と同時に
スイッチ６９を閉状態として、コンデンサ６５の電荷を
放電する。このように、充電、放電を繰り返して、基準
スロープをサージ発生のたびに得るようにすることがで
きる。

【００３９】図６において、定電流充電される充放電コ
ンデンサ４３は、図９に示すように、コンデンサ８０，
８１から構成される。そして、ショートバー８２をＣＣ
ＩＴＴ側に接続したとき、両コンデンサ８０，８１を合
わせて２０μＦとなるようにされている。なお、コンデ
ンサ８０，８１は、急速充電が可能となるようなオイル
コンデンサ等が使用されている。

【００４０】ショートバー８３がＨＩＧＨ側に設定され
ると、球ギャップ方式で形成されるギャップ８４で高圧
のスイッチングがなされる。この高圧のスイッチング
は、半球状の電極８５と、その電極８５と対向する半球
状の電極８６と、ギャップ８４の空間部分をイオン化し
電流が電極８５から電極８６へ流れ易くする予備電極８
７とから構成される。そして、発生させたい電圧によっ
て両電極８５，８６間の距離を変えている。例えば、１
ｋＶのときは、その距離を約０．５ｍｍとし、４ｋＶの
ときは２〜３ｍｍとしている。

【００４１】なお、高圧スイッチング部４６と低圧スイ
ッチング部４７の切り替えを行うショートバー８８と、
コンビネーション波形とＣＣＩＴＴ波形の切り替えを行
うショートバー８９，９０が、サージ用スイッチング部
６と波形成形部７に設置されている。

【００４２】高圧スイッチング部４６は、５００Ｖから
４ｋＶに対応し、低圧スイッチング部４７は、１００Ｖ
から８００Ｖまでに対応させ、両者をオーバーラップさ
せている。そして、球ギャップ方式のスイッチング特性
に合わせ、ＩＧＢＴによるスイッチング特性を調整し、
両者を同等にしている。この結果、低圧側と高圧側との
間で相互にリニアな特性で連続推移するものとなる。ま
た、各波形は、インパルス試験器１内のデータメモリ
（図示省略）に保存され、被試験体の改善、耐性の解析
に利用される。

【００４３】出力端子５０には、オシロスコープ用の電
圧出力端子１０１と、電流出力端子１０２とが接続され
ている。そして、モニタトリガ用回路部１０３でモニタ
用トリガ信号が形成されオシロスコープ１６０でサージ
出力と同期して各波形がモニタされる。

【００４４】以上のような回路構成を有するインパルス
試験器１の外観構成は、図１０および図１１に示すよう
になっている。このインパルス試験器１は、箱形状でそ
の前面側に各種のつまみや設定部があり（図１０参
照）、背面側に電源入力部等がある（図１１参照）。な
お、寸法は、高さ１．７ｍで、幅０．６ｍで、奥行き
０．９ｍとなっている。そして、本体前面の中央部に各
種のつまみや各種のメータが配置され、操作し易く、か
つ見易くしている。また、本体前面の中央部の上方の見
易く操作し易い位置に内蔵のオシロスコープ１６０が配
置されている。

【００４５】次に、このような外観構成を有するインパ
ルス試験器１の前面および背面に配置される各種の設定
部や表示部について説明する。なお、これらの設定部や
表示部のほぼ全てが先に示したタイミング制御部２１に
よって制御されるものとなっている。

【００４６】電源スイッチ１２１は、このインパルス試
験器１の電源スイッチで、オン時に点灯、オフ時に消灯
となる。サージ極性切替スイッチ１２２は、サージ極性
（＋／−）の切り替えスイッチで、後述するＨＶ−ＯＮ
スイッチ１３３がオンの時には切り替え出来ないように
なっている。よって、ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３をオフ
（停止部３０に相当するストップスイッチ１３５を押
す）にして操作する。なお、＋極性は「ＰＯＳＩ」、−
極性は「ＮＥＧＡ」の各表示となっている。サージ電圧
／電流調整ツマミ１２３は、出力されるサージ電圧とサ
ージ電流を設定するつまみで、サージ電圧設定部２２の
一部となっている。

【００４７】チャージ電圧メータ１２４は、ＬＥＤ等で
構成されているもので、チャージ電圧を表示する。サー
ジ電圧／電流調整ツマミ１２３で設定した電圧までの充
電状況をこのチャージ電圧メータ１２４で確認すること
が出来る。設定電圧に達した時、サージが出力され、こ
のチャージ電圧メータ１２４の指示値は初期状態に戻
る。なお、チャージ電圧は、サージアウト電圧より約１
割位高くなっている。これは、サージアウト電圧（＝サ
ージ出力電圧）は、途中の回路で電圧降下が生じるため
である。チャージ電圧検出ランプ１２５は、充電中表示
部２６に相当し、チャージを行っている間、点灯する。

【００４８】サージ出力電圧メータ１２６は、サージ電
圧表示部２７に相当し、サージ出力電圧の出力値を設定
するメータとなっている。この設定は、サージ電圧／電
流調整ツマミ１２３で行う。シングル／リピート設定ス
イッチ１２７は、サージ出力をシングル（単発）、リピ
ート（繰り返し）のどちらかに設定するスイッチとなっ
ている。

【００４９】サージ繰り返し回数設定スイッチ１２８
は、繰り返し数設定部２５に相当し、リピートのとき、
繰り返し回数を最大９９９９９回まで設定することが出
来る。設定が「０００００」の場合は作動せず、一方、
シングル（単発）モードのときは、設定が「００００
０」の場合でもサージは出力されるようになっている。
なお、設定された数値は、後述するプリセット釦１２９
ｂによりプリセットカウンタ１２９ａにセットされる。

【００５０】プリセットカウンタ１２９ａおよびプリセ
ット釦１２９ｂからなるプリセット部１２９は、リピー
トモードの時、設定回数を表示する。プリセットカウン
タ１２９ａは、減算カウンタとして働き、表示が「００
０００」の時は、高圧をオンに出来ない。なお、再度同
じ回数で試験をする場合は、プリセット釦１２９ｂを押
すと、サージ繰り返し回数設定スイッチ１２８で設定し
た回数を表示する。インターバル設定スイッチ１３０
は、リピートモードの時、サージの繰り返し間隔を１〜
９９９秒まで設定出来る。また、ＣＣＩＴＴ波形の時は
このインターバル設定スイッチ１３０は働かず、１分間
固定間隔で交互に＋／−波形を出力することとなる。な
お、この間隔を固定ではなく、任意の間隔に設定できる
ようにしても良い。

【００５１】ローカル／ＧＰ−ＩＢ設定スイッチ１３１
は、このインパルス試験器１を外部よりＧＰ−ＩＢ制御
するときの設定スイッチとなっている。ローカルに設定
した時は、各スイッチが動作状態となり、ＧＰ−ＩＢに
設定した時は、外部制御となる。ＣＯＭＢＩ＋／−ＴＵ
ＲＮＩＮＧ設定スイッチ１３２は、極性を切り替える時
の切り替え時間を設定するスイッチとなっている。コン
ビネーション波形の時のみ有効で、ＣＣＩＴＴ波形の時
は１分間固定となる。なお、１０．０秒から９９．９秒
のセットが可能で、１０秒未満の数字を設定すると、Ｈ
Ｖ−ＯＮスイッチ１３３をオン出来ないようになってい
る。

【００５２】ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３は、高圧をオン
にするスイッチで、このＨＶ−ＯＮスイッチ１３３をオ
ンした後、スタートスイッチ１３４を押すとチャージを
開始し、インターバル設定時間後、サージが出力され
る。なお、次の場合は、ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３をオ
ンできない。すなわち、各ショートバーの設定違い、ド
アが開いている、インターバルの設定が０秒、プリセッ
トカウンタ１２９ａが「０」、切替時間が１０秒未満、
ブレークダウンが働いているという各場合には、オンで
きない。

【００５３】スタートスイッチ１３４は、スタート部２
９に相当し、このスタートスイッチ１３４用の釦を押す
とチャージを開始し、インターバル設定時間後にサージ
が出力される。なお、安全のためにカバー付きとなって
おり、カバーを持ち上げてスタートスイッチ１３４を押
す。このスタートスイッチ１３４は、ＨＶ−ＯＮスイッ
チ１３３がオンの時のみ動作する。ストップスイッチ１
３５は、停止部３０に相当し、試験を停止または中止す
るとき、このストップスイッチ１３５を押す。すると、
ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３とスタートスイッチ１３４が
オフとなり、高圧がオフされる。

【００５４】絶縁破壊検出表示ランプ１３６は、被試験
体の絶縁破壊を検出し、ランプとブザーで表示する。絶
縁破壊検出機能オンオフ切替及びブザーリセットボタン
１３７は、上に倒すと機能がオフになる。また、下に倒
し機能オンにし、かつ絶縁破壊を検出した時、さらに下
に押すと絶縁破壊検出表示ランプ１３６部分の鳴奏中の
ブザーが止まる。

【００５５】高圧危険表示ランプ１３８は、ＨＶ−ＯＮ
スイッチ１３３（高圧オンスイッチ）をオンにすると点
灯し、試験中に周囲の人に注意を促すものとなってい
る。サージ電圧切替スイッチ１３９は、サージ出力電圧
範囲を設定するスイッチで、「ＨＩＧＨ」表示の釦と
「ＬＯＷ」表示の釦とからなっている。そして、コンビ
ネーション波形の場合９００Ｖから４ｋＶの高圧と、１
００Ｖから９００Ｖの低圧に切り替えるものとなってい
る。一方、ＣＣＩＴＴ波形の場合、８００Ｖから２．５
ｋＶの高圧と、１００Ｖから８００Ｖの低圧に切り替え
るものとなっている。なお、このサージ電圧切替スイッ
チ１３９は、押すごとに交互に切り替わるようになって
いる。

【００５６】波形選択スイッチ１４０は、波形設定部２
３に相当し、サージ波形を設定するものとなっている。
すなわち、対応する釦を押すごとにコンビネーション波
形とＣＣＩＴＴ波形が交互に切り替わる。リモートスイ
ッチ接続用コネクタ１４１は、リモートスイッチを接続
するためのもので、離れた場所からのスタートが出来る
ようにするものである。なお、リモートスイッチを接続
すると、リモートスイッチ優先となり、スタートスイッ
チ１３４は、使用出来なくなる。

【００５７】サージ電圧接続切替部１４２は、サージ出
力電圧の設定を行うもので、ショートバー８３，８８と
その接続部からなる。サージ電圧切替スイッチ１３９で
設定した位置のＬＥＤが点灯するので、２回路ともその
ＬＥＤの点灯位置側に各ショートバー８３，８８を接続
する。

【００５８】本体下方部の波形選択接続切替部１４３
は、サージ出力波形の設定を行うもので、ショートバー
８２，８９，９０とその接続部からなる。波形選択スイ
ッチ１４０で設定した位置側にあるＬＥＤが点灯するの
で、３回路とも各ＬＥＤの点灯位置側にショートバー８
２，８９，９０を接続する。なお、３回路ともＬＥＤの
点灯位置に接続しないとサージを発生させることが出来
ない。

【００５９】本体最下方部のアウトプット（サージアウ
ト）端子１４４は、出力端子５０に相当し、サージが直
接出力される。このアウトプット端子１４４に、出力ケ
ーブルを接続して、被試験体にサージを供給する。電圧
モニタ接続コネクタ１４５は、出力電圧波形をモニタす
る際、ここにモニタ出力ケーブルを接続し、もう一方
を、外部のオシロスコープに接続する。なお、出力電圧
は１０００：１で分圧されている。すなわち１ｋＶで、
モニタ側は１Ｖとなる。また、電流モニタ接続コネクタ
１４６は、出力電流波形をモニタする際、ここにモニタ
出力ケーブルを接続し、もう一方を外部のオシロスコー
プに接続する。なお、出力電流は１０００：１で電圧変
換されている。すなわち、１ＫＡで、モニタ側は１Ｖと
なる。

【００６０】Ｖ出力（波形取り込み用）接続コネクタ１
４７は、サージ電圧波形を内蔵のオシロスコープ１６０
に取り込む為のコネクタとなっている。また、Ｉ出力
（波形取り込み用）接続コネクタ１４８は、サージ電流
波形を内蔵のオシロスコープ１６０に取り込むためのコ
ネクタとなっている。さらに、トリガ接続コネクタ１４
９は、サージ電圧／電流波形を内蔵のオシロスコープ１
６０に取り込むためのトリガをオシロスコープ１６０に
出力するための接続コネクタとなっている。

【００６１】扉開閉安全スイッチ１５０は、扉を開くと
開となり、サージ用高圧電源がオン出来ないよう危険防
止の役割を有している。この扉開閉安全スイッチ１５０
は、前面アクリル扉１６１に設けられているが、同様の
安全スイッチが後部扉に１ヶ所、このインパルス試験器
１の左右パネル各１ヶ所に設けられている。さらに、イ
ンパルス試験器１の本体下部には、本体固定用アジャス
タ１５１が設置固定のために設けられている。

【００６２】本体背面側に存在する本機ヒューズ１５２
は、このインパルス試験器１の所要電源用ヒューズで、
その値は１０Ａとなっている。本機電源コネクタ１５３
は、所要電源入力コネクタで、各種の電圧を適宜入力で
きる。この実施の形態では、所要電源電圧はＡＣ１００
Ｖで１０Ａとなっている。

【００６３】本機アース端子１５４は、保安用接地端子
で、人体安全のため、必ずこの端子１５４から屋内の接
地端子に接続するようにする。また、ＧＰ−ＩＢ接続用
コネクタ１５５は、内蔵のオシロスコープ１６０からの
波形出力用ＧＰ−ＩＢインターフェースコネクタとなっ
ている。このＧＰ−ＩＢ接続用コネクタ１５５への接続
によって、このインパルス試験器１を外部よりコントロ
ールする機能を付加させることが出来る。

【００６４】本機ノンヒューズブレーカ１５６は、本体
所要電源用ノンヒューズブレーカで、この実施の形態で
は１０Ａの容量となっている。さらに、後部扉用取っ手
１５７は、後部扉１６２の開閉用で、この扉１６２が完
全に閉まっていないと高圧がオン出来ないようになって
いる。

【００６５】サービスコンセント１５８は、外部出力用
サービスコンセントで、この実施の形態ではＡＣ１００
Ｖで、取り出せる最大電流は３Ａとなっている。また、
サービスコンセント用ヒューズ１５９は、サービス出力
コンセント用ヒューズで、この実施の形態では、３Ａが
内蔵されている。

【００６６】次に、以上のように構成されるインパルス
試験器１による各種試験方法について説明する。

【００６７】まず、このインパルス試験器１によって行
われるブレークダウン検出について説明する。このブレ
ークダウン検出は、サージ電圧の印加によって発生する
絶縁破壊の有無を知るための機能で、何ｋＶのサージ電
圧で絶縁破壊が発生したかを検知するものとなってい
る。

【００６８】この検出は、未知の耐サージ電圧の電気設
備や電気・電子部品を試験する場合に、比較的低めのサ
ージ電圧から試験を開始し、徐々に印加サージ電圧を上
げていく。さらに、印加サージ電圧を増大させて行き、
あるしきい値に達するとそれまでの電圧に比例した電流
と全く異なって急激な電流増加が現れる。これを絶縁破
壊とみなし、ブレークダウンとして検出する。

【００６９】次に、このようなブレークダウン検出を行
う場合の、一般的な操作手順について説明する。ケーブル類および被試験体を接続後、電源スイッチ１
２１をオンする。サージ極性をサージ極性切替スイッチ１２２で決定す
る。なお、リピート時は最初のパルスの極性が選択さ
れ、シングル時は選択された極性のみのサージが得られ
る。サージ繰り返しをシングル／リピート設定スイッチ１
２７で決定する。サージの繰り返しをリピートに設定し
た時は、サージ繰り返し回数設定スイッチ１２８で回数
を設定し、プリセット釦１２９ｂを押すと、プリセット
カウンタ１２９ａに設定値がプリセットされる。コンビネーション波形の時は、サージの間隔をインタ
ーバル設定スイッチ１３０で１．０〜９９．９秒の間に
設定し、極性切替時の間隔をＣＯＭＢＩ＋／−ＴＵＲＮ
ＩＮＧ設定スイッチ１３２で１０．０から９９．９秒の
間に設定する。ＣＣＩＴＴ波形の時は、インターバル設
定スイッチ１３０やＣＯＭＢＩ＋／−ＴＵＲＮＩＮＧ設
定スイッチ１３２の設定に関係なく、１分間固定で＋サ
ージと−サージが交互に出力される。ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３を押す。サージ電圧／電流調整ツマミ１２３で、任意の電圧に
設定する。スタートスイッチ１３４を押す。チャージが開始されると、チャージ電圧検出ランプ１
２５が点灯し、チャージが完了すると、チャージ電圧検
出ランプ１２５が消え、所定の時間が来るとサージが発
生する。

【００７０】コンビネーション波形出力の時は、サージ
極性切替スイッチ１２２で設定した極性のサージを、リ
ピート回数出力後、自動的に逆極性に切り替わり、再度
リピート回数出力し、自動停止する（図１２参照）。Ｃ
ＣＩＴＴ波形の時は、サージ極性切替スイッチ１２２で
設定した極性のサージと逆極性のサージを、各１回を１
サイクルとし、リピート回数繰り返し、自動停止する
（図１３参照）。

【００７１】以上のような一般的動作に加え、特定の試
験に特有な操作を各試験毎に説明する。

【００７２】まず、ＩＥＣ９５０に基づく絶縁耐力試験
方法について説明する。この試験ではコンビネーション
波形を利用する。１．アウトプット（サージアウト）端子１４４の両端子
を、被試験体の一次、二次回路等、または印刷回路基板
等の試験箇所に接続する。２．サージ繰り返し回数設定スイッチ１２８で繰り返し
回数を３回に設定し、プリセット釦１２９ｂを押す。３．シングル／リピート設定スイッチ１２７をリピート
に設定する。４．必要に応じ、サージ極性切替スイッチ１２２で極性
を切り替える。５．サージ電圧切替スイッチ１３９を設定する。すなわ
ち印加する電圧が９００Ｖ以下の時はＬＯＷに、９００
Ｖ以上はＨＩＧＨに設定する。６．波形選択スイッチ１４０をコンビネーション波形に
設定する。７．各ショートバー８２，８３，８８，８９，９０をＬ
ＥＤの点灯に従い設定し、確実にショートバー用つまみ
を締め付ける。８．サージ電圧／電流調整ツマミ１２３でサージ電圧を
必要電圧に調整する。９．ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３を押した後、スタートス
イッチ１３４を押す。１０．絶縁破壊を検出すると、絶縁破壊検出表示ランプ
１３６が点灯し、ブザーが鳴ると共に、全てのサージ発
生動作が停止する。なお、絶縁破壊の確認は、内蔵のオ
シロスコープ１６０でも確認可能となっている。このと
きの波形は、図４に示すような波形となる。

【００７３】次に、ＩＥＣ９５０に基づく電気通信回線
の絶縁試験方法について説明する。この試験ではＣＣＩ
ＴＴ波形を利用する。１．アウトプット（サージアウト）端子１４４の高圧側
に、被試験体の、電気通信回線に接続するボード、また
は使用者が接続する他の機器に接続する全ての電線をま
とめて接続する。２．アウトプット（サージアウト）端子１４４の接地側
に、被試験体の、正常使用時に保持したり接触する非接
地金属部および非金属部等を接続する。３．サージ繰り返し回数設定スイッチ１２８で繰り返し
回数を１０回に設定し、プリセット釦１２９ｂを押す。４．シングル／リピート設定スイッチ１２７をリピート
に設定する。５．必要に応じ、サージ極性切替スイッチ１２２で極性
を切り替える。６．サージ電圧切替スイッチ１３９をＨＩＧＨに設定す
る。７．波形選択スイッチ１４０をＣＣＩＴＴ波形に設定す
る。８．各ショートバー８２，８３，８８，８９，９０をＬ
ＥＤの点灯に従い設定し、確実にショートバー用つまみ
を締め付ける。９．サージ電圧／電流調整ツマミ１２３でサージ電圧を
２．５ｋＶ、あるいは１．５ｋＶに調整する。すなわ
ち、接触する部分が非金属部または非接地の金属部の場
合は２．５ｋＶに、回路部等の場合は１．５ｋＶに設定
する。１０．ＨＶ−ＯＮスイッチ１３３を押した後、スタート
スイッチ１３４を押す。１１．絶縁破壊を検出すると、絶縁破壊検出表示ランプ
１３６が点灯し、ブザーが鳴ると共に、全てのサージ発
生動作が停止する。なお、絶縁破壊の確認は、内蔵のオ
シロスコープ１６０でも確認可能となっている。

【００７４】以上のように、各試験においてブレークダ
ウンを検出すると、コントロールパネルにある絶縁破壊
検出表示ランプ１３６が点灯し、ブザーが鳴る。リピー
トモードで試験を行っているときでも、ブレークダウン
を検出すると全てのサージ発生動作が停止する。また、
サージ発生停止解除、ランプ消灯およびブザー停止に
は、絶縁破壊検出機能オンオフ切替及びブザーリセット
ボタン１３７を一番下にあるリセット側に押す。なお、
ブレークダウン検出機能を使用しないときは、上述のい
わば絶縁破壊検出機能オンオフ切替及びブザーリセット
ボタン１３７をオフ（上側）の位置で使用するようにす
る。

【００７５】このインパルス試験器１を使用すると、Ｉ
ＥＣ９５０の規定の基づく試験が行える他に、被試験体
の耐性テストが可能であり、被試験体のサージ電圧に対
する改善、改良が容易に行える。すなわち、１秒以上の
任意の間隔で、かつ任意の回数でしかも任意の電圧でサ
ージ電圧やサージ電流を被試験体に加えることができ
る。このため、どの時点で被試験体がブレークダウン
（絶縁破壊）を起こすかを正確に確認できる。しかも、
そのブレークダウン時の波形がメモリされるので、解析
も十分行える。

【００７６】次に、本発明の第２の実施の形態のインパ
ルス試験器１８０を、図１４および図１５に基づいて説
明する。

【００７７】このインパルス試験器１８０は、図１４に
示すように、直流電源１８１と、第１および第２のトラ
ンジスタ１８２，１８３と、時間可変手段となる可変抵
抗１８４と、コンデンサ１８５と、抵抗１８６と、昇圧
回路１８７と、分圧するための抵抗１８８，１８９と、
波形成形回路１９０と、放電用のスイッチ１９１と、分
圧電圧をプラス側に入力し、電圧設定部となる可変電圧
発生部１９２の電圧をマイナス側に入力する差動増幅器
１９３と、その差動増幅器１９３の出力を受けてスイッ
チ１９１をオンオフするトリガ発生部１９４とから主に
構成される。

【００７８】ここで、可変抵抗１８４とコンデンサ１８
５によって決まる定数によって電圧が徐々にコンデンサ
１８５にチャージされる。可変抵抗１８４は、そのチャ
ージの際の傾斜を決めるもので、図の実線のように急速
にチャージしたり、１点鎖線のようにゆっくりとチャー
ジしたりすることができる。一方、トランジスタ１８３
のゲートには、図中に示すチャージングスタート信号が
入力し、そのチャージングのスタートを決めている。な
お、このチャージングスタート信号は、トリガ発生部１
９４に同期させている。

【００７９】可変電圧発生部１９２によってサージ出力
の電圧が設定される。図１５の例では、４ｋＶに設定さ
れている。このため、サージ出力の発生間隔は、可変抵
抗１８４を動作させて図１５の実線のようなチャージ電
圧曲線を得ると、チャージ後、時間ｔ１１を経過した時
点でサージ出力を発生し、瞬間に放電される。そして、
すぐに再チャージがなされる。この結果、時間ｔ１１の
間隔で４ｋＶのサージ出力が発生する。一方、可変抵抗
１８４によって１点鎖線で示されるようにチャージがな
されると、可変電圧発生部１９２の設定がそのまま４ｋ
Ｖであると、時間ｔ１２を経過すると放電がなされる。
すなわち、時間ｔ１２の間隔で４ｋＶのサージ出力を得
ることが出来る。

【００８０】なお、サージ出力電圧は、可変電圧発生部
１９２を動作させることによってその値を自由に変更す
ることができる。また、サージ出力の発生回数は、チャ
ージスタート信号のパルス数を設定することにより自由
に設定することができる。

【００８１】なお、上述の各実施の形態は、本発明の好
適な実施の形態の例であるが、これに限定されるもので
はなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々
変形実施可能である。例えば、第１の実施の形態では、
スイッチング部４５を、高圧スイッチング部４６と低圧
スイッチング部４７の２つに分け、電圧の高低によって
それぞれ分担させるようにしているが、リレーやイグナ
イトロン等を使った従来のスイッチング部と同様に低圧
から高圧までを１つのスイッチング部で対応するように
しても良い。

【００８２】また、出力する波形としては、コンビネー
ション波形やＣＣＩＴＴ波形の他に、他の各種の波形を
出力するようにしても良い。この場合、充電抵抗４２や
充放電コンデンサ４３等をその波形に対応して、他の値
のものに切り替えることができるようにする。また、制
御回路部２を形成する場合、各実施の形態のように各種
の回路素子で構成するのではなく、マイコン（ＣＰＵ）
等によって形成するようにしても良い。同様に、制御回
路部２の一部であるタイミング制御部２１のみをマイコ
ン化するようにしても良い。

【００８３】さらに、繰り返し間隔を１秒以上としてい
るが、各種の値を変更することによって１秒以下の間隔
とすることもできる。同様に、繰り返し数やサージ電圧
の各値を上記実施の形態の各値ではなく、一層大きな値
や広い値とすることができる。また、±１０／７００μ
ｓの電圧波形も１分間固定の間隔ではなく、１．２／５
０μｓの電圧波形のように、任意の間隔としたり、加え
てコンビネーション波形のようにブレークダウン時に電
流波形を発生させるようにしても良い。

【００８４】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載のイ
ンパルス試験器は、１秒以下の間隔を含む複数の間隔で
サージ出力を発生させることができるため、ＩＥＣ９５
０で規定された試験はもちろんのこと、その他の各種の
耐圧試験を行うことができる。このため、被試験体の改
善、改良を効率的に行うことができるものとなる。

【００８５】また、請求項２記載の発明では、サージ出
力発生のための充電を定電流充電としているので、少な
いパワーの電源で高圧の充電が可能となる。このため、
従来と同等のパワーの電源を使用すると高速充電が可能
となり、サージ出力の発生間隔を従来に比べ短くするこ
とができる。この結果、各種の試験を行えるものにな
り、応用範囲の広いインパルス試験器とすることができ
る。

【００８６】さらに、請求項３記載の発明では、充電時
間の変更という簡単の方法で、時間間隔を設定できるの
で、回路を簡単なものとすることができ、低価格なイン
パルス試験器を得ることができる。

【００８７】また、請求項４記載の発明は、ＩＥＣで規
定されるコンビネーション波形をサージ出力として発生
させることができるので、ＩＥＣで規定される各種の試
験を行えると共に、電流波形によってブレークダウン後
の被試験体の状態を分析でき、被試験体の耐圧に関する
改善、改良を効率的に実施することができる。さらに、
請求項５記載の発明では、設定された間隔でサージ出力
を発生させた後、極性を反転させ、同様の間隔でサージ
出力を発生させているので、従来の６０秒間隔の雷サー
ジシミュレータでは行うことができない各種の試験を行
うことができるようになる。加えて、請求項６記載の発
明では、ＩＥＣで規定される±１０／７００μｓの電圧
波形を出力できるようにしているので、通信ラインにサ
ージが印加される場合の各種のＩＥＣ規定の試験を行う
ことができる。このため、通信機器の耐圧試験や改善、
改良作業を行うことができ、幅広い被試験体に適用でき
るインパルス試験器となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験器
のブロックダイヤグラムを示す図である。

【図２】本発明のインパルス試験器によって発生するコ
ンビネーション波形を示す図で、（Ａ）は電圧波形を示
し、（Ｂ）は電流波形を示す図である。

【図３】本発明のインパルス試験器によって発生するＣ
ＣＩＴＴ波形を示す図である。

【図４】本発明のインパルス試験器によって被試験体が
絶縁破壊を起こしたときの電圧波形と電流波形の関係を
示す図である。

【図５】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験器
の詳細なブロック図である。

【図６】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験器
の要部回路図である。

【図７】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験器
に使用されている定電流制御を説明するための図で、
（Ａ）は定電流制御の基本回路を示す図で、（Ｂ）は定
電流制御による充電状態を示す図で、（Ｃ）は従来の定
電圧制御の回路を示す図で、（Ｄ）は（Ｃ）の回路での
充電状態を示す図である。

【図８】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験器
によって定電流充電を行わせる際の定電流制御の変形例
で、ランプ回路を示す図である。

【図９】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験器
のスイッチング部周辺の回路を示す図である。

【図１０】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験
器の前面外観を示す図である。

【図１１】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験
器の背面外観を示す図である。

【図１２】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験
器によって発生する１．２／５０μｓの波形を使用して
試験を行う場合の、サージ出力の発生状態を説明するた
めの図である。

【図１３】本発明の第１の実施の形態のインパルス試験
器によって発生するＣＣＩＴＴ波形を使用して試験を行
う場合の、サージ出力の発生状態を説明するための図で
ある。

【図１４】本発明の第２の実施の形態のインパルス試験
器の回路構成を示す図である。

【図１５】図１４のインパルス試験器におけるサージ出
力の発生間隔を変更する方法を説明するための図であ
る。

【図１６】従来の雷サージシミュレータに使用されてい
る要部回路図である。

【図１７】従来の雷サージシミュレータの外観および使
用方法を説明するための図である。

【図１８】従来の雷サージシミュレータで生成される電
圧波形を示す図である。

【符号の説明】

１インパルス試験器２制御回路部３充電高圧発生回路部４サージ発生回路部５極性切替回路６サージ用スイッチング部７波形成形部１１差動増幅器（定電流制御用）１２差動増幅器（電圧制御用）１３和回路１５制御電圧・電流生成部１９分圧回路部２０電圧・電流制御部２１タイミング制御部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電圧および電流を制御する制御回路部
と、充電高圧発生回路部と、上記制御回路部からのタイ
ミングによってサージ出力を発生するサージ発生回路部
とを備え、上記サージ出力を所定の繰り返し間隔で発生
させる繰り返し数設定部と、上記サージ出力の電圧を設
定するサージ電圧設定部と、上記サージ出力の発生間隔
を設定するサージ出力発生間隔設定部を設け、１秒以下
の間隔を含む複数の発生間隔を設定可能とし、その設定
された間隔で所定電圧のサージ出力を繰り返し発生でき
るようにしたことを特徴とするインパルス試験器。
【請求項２】前記制御回路部に、定電流制御回路部を
設け、前記間隔よりも短い時間内に、前記所定電圧とな
るように前記サージ発生回路部の充放電部を充電したこ
とを特徴とする請求項１記載のインパルス試験器。
【請求項３】前記制御回路部に、充電時間を可変とす
る時間可変手段と、前記所定電圧を設定する電圧設定部
とを設け、前記所定電圧に充電される時間を変更するこ
とより前記繰り返し間隔の時間を設定したことを特徴と
する請求項１記載のインパルス試験器。
【請求項４】前記サージ出力として、±１．２／５０
μｓの電圧波形および±８／２０μｓの電流波形からな
るコンビネーション波形を発生可能にしたことを特徴と
する請求項１、２または３記載のインパルス試験器。
【請求項５】前記サージ出力発生間隔設定部によって
設定された間隔で、前記サージ出力を所定回数発生させ
た後、その極性を反転させ、同様の繰り返し間隔で前記
サージ出力を上記所定回数発生させることができるよう
にしたことを特徴とする請求項１、２、３または４記載
のインパルス試験器。
【請求項６】前記サージ出力として、±１０／７００
μｓの電圧波形で、出力間隔が固定された波形も出力す
るようにしたことを特徴とする請求項１、２、３、４ま
たは５記載のインパルス試験器。