JPH10253676A - 電磁シールド性能測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 費用や工期の点での不利益を招くことなく、
完成前の電磁シールド室のシールド性能を測定すること
ができる電磁シールド性能測定方法を提供する。 【解決手段】 発信手段及び受信手段を測定対象となる
電磁シールド材を隔てて配置し、前記発信手段から測定
波を発信すると共に、その測定波のうち前記電磁シール
ド材を透過する透過波であって、前記電磁シールド室の
シールド未完成部を回折して前記電磁シールド室に侵入
する回折波が前記受信手段に到達する前に前記受信手段
で受信された前記透過波の強度に基づいて、前記電磁シ
ールド材のシールド性能を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術の分野】本発明は、電磁シールド材
のシールド性能を測定する電磁シールド性能測定方法に
係り、特に周囲が測定対象となる電磁シールド材によっ
て完全に覆われていない状態にある完成前の電磁シール
ド室において、そのシールド部に設けられた電磁シール
ド材のシールド性能を測定するのに好適な電磁シールド
性能測定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば、外部からの電磁波をシー
ルドすることを目的とした電磁シールド室において、そ
の電磁シールド室のシールド部に設けられた電磁シール
ド材のシールド性能を測定する電磁シールド性能測定方
法としては、米国陸軍規格（ＭＩＬ−ＳＴＤ２８５）に
よる測定方法や、到来波による測定方法などが用いられ
ていた。

【０００３】米国陸軍規格による電磁シールド性能測定
方法は、壁面が測定対象となる電磁シールド材によって
完全に覆われた状態にある電磁シールド室において、そ
の電磁シールド室の室内に受信機を配置し、その電磁シ
ールド室の室外に発信機を配置して、発信機から前記電
磁シールド材に要求されるシールド周波数帯域に係る周
波数成分を含んだ測定波を発信し、受信機でその測定波
のうち前記電磁シールド材を透過してくる透過波を受信
する。そうして、受信機で受信されたその透過波が、発
信機から発信された前記測定波に対してどれぐらい減衰
しているかを測定することによって、前記電磁シールド
材のシールド性能を測定する方法である。この方法は、
発信機および受信機の配置を逆にして、室内の発信機か
ら発信された測定波のうち前記電磁シールド材を透過す
る透過波を室外の受信機で受信することによっても、前
記電磁シールド材のシールド性能を測定することができ
る。

【０００４】一方、到来波による測定方法は、同様に壁
面が測定対象となる電磁シールド材によって完全に覆わ
れた状態にある電磁シールド室において、その電磁シー
ルド室の室内に受信機を配置し、測定波として例えば放
送波のように到来方向、周波数、強度がほぼ一定してい
る到来波を利用する。そうして、受信機でその到来して
くる測定波のうち前記電磁シールド材を透過してくる透
過波を受信し、その透過波が、直接到来してくる測定波
に対してどれぐらい減衰しているかを測定することによ
って、前記電磁シールド材のシールド性能を測定する方
法である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
電磁シールド性能測定方法にあってはいずれも、発信機
から発信される測定波のうち直接波または回折、反射若
しくは干渉等による２次波であって、測定対象となる電
磁シールド材を透過する透過波以外のものが、わずかで
も受信機で受信されてしまうと、受信機で前記透過波の
減衰度を正確に測定することができなくなり、前記電磁
シールド材のシールド性能の測定精度を著しく低下させ
てしまう。このため、正確に測定するためには、前記透
過波のみが受信機に受信されるように、受信機の周囲を
測定対象となる電磁シールド材によって完全に覆う必要
があった。

【０００６】したがって、上記従来の電磁シールド性能
測定方法は、完成後の電磁シールド室でなければ、有効
に用いることができなかった。そうすると、例えば、工
事に長期間を要する大規模な電磁シールド室を建設する
場合に、その電磁シールド室が完成してから壁面の電磁
シールド材のシールド性能を測定するのであっては、仮
にその測定によって電磁シールド材の欠陥が発見された
ときに、改修工事に莫大な費用がかかるだけではなく、
工期の著しい遅延をもたらすことになる。また、そうで
あるからといって、前記電磁シールド室が完成する前に
壁面の電磁シールド材のシールド性能を測定しようとす
るには、仮設的に測定エリアのみを電磁シールド材によ
って覆わなければならず、やはり費用や工期の点で不利
となる。

【０００７】そこで、本発明は、このような従来の問題
を解決することを課題としており、費用や工期の点での
不利益を招くことなく、完成前の電磁シールド室のシー
ルド性能を測定することができる電磁シールド性能測定
方法を提供することを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る請求項１記載の電磁シールド性能測定
方法は、発信手段及び受信手段を、測定対象となる電磁
シールド材を隔てて配置し、その電磁シールド材のシー
ルド性能を測定する電磁シールド性能測定方法におい
て、前記発信手段から発信され前記電磁シールド材を透
過して前記受信手段に到達する透過波のうち、前記電磁
シールド材を透過しない回折波の到達前に到達した前記
透過波の強度に基づいて、前記電磁シールド材のシール
ド性能を測定することを特徴としている。

【０００９】すなわち、この請求項１記載の発明は、発
信手段から発信され測定対象となる電磁シールド材を透
過する透過波が、前記電磁シールド材を透過しない回折
波よりも速く受信手段に到達することに着眼したもので
あって、その時間差を利用して、前記透過波のうち前記
回折波が到達する前に到達した前記透過波の成分を得る
のである。そうして、その得られた成分から電磁シール
ド材を透過した透過波の減衰度が判るから、まさに電磁
シールド材のシールド性能が測定できるのである。

【００１０】また、本発明に係る請求項２記載の電磁シ
ールド性能測定方法は、電磁シールド室のシールド部に
設けられた電磁シールド材のシールド性能を、前記電磁
シールド室の完成前に測定する電磁シールド性能測定方
法であって、発信手段及び受信手段を、前記電磁シール
ド室の室内と室外とに分けて且つ測定対象となる電磁シ
ールド材を隔てるように配置し、前記発信手段から前記
電磁シールド材に要求されるシールド周波数帯域に係る
周波数成分を含んだ測定波を発信すると共に、前記測定
波のうち前記電磁シールド材を透過する透過波であっ
て、前記電磁シールド室のシールド未完成部を回折して
前記電磁シールド室に侵入する回折波が前記受信手段に
到達する前に前記受信手段で受信された前記透過波の強
度に基づいて、前記電磁シールド材のシールド性能を測
定することを特徴としている。

【００１１】この請求項２記載の発明であっても、上記
請求項１記載の発明と同様の作用が発揮される。したが
って、完成前の電磁シールド室であっても、そのシール
ド性能が正確に測定される。

【００１２】さらに、本発明に係る請求項３記載の電磁
シールド性能測定方法は、請求項１又は２記載の電磁シ
ールド性能測定方法において、前記発信手段及び受信手
段を、所定距離を隔てて配置し、その所定距離及び前記
回折波の経路に基づいて、前記透過波が前記受信手段に
到達してから前記回折波が前記受信手段に到達するまで
の到達時間差を算出し、前記透過波が前記受信手段に到
達してから前記到達時間差が経過するまでに前記受信手
段に受信された前記透過波の強度に基づいて、前記電磁
シールド材のシールド性能を測定することを特徴として
いる。

【００１３】このような構成であれば、発信手段から受
信手段までの直線距離に基づいて前記透過波が受信手段
に到達するまでの時間が算出され、前記回折波の経路に
基づいてその回折波が受信手段に到達するまでの時間が
算出され、これらに基づいて前記透過波と回折波との到
達時間差が算出される。そうして、前記透過波が受信手
段に到達した時点が判れば、前記到達時間差から前記透
過波のうちシールド性能の測定に必要な成分のみが容易
に抽出される。

【００１４】さらに、本発明に係る請求項４記載の電磁
シールド性能測定方法は、請求項１、２又は３記載の電
磁シールド性能測定方法において、前記発信手段及び受
信手段を、前記透過波を測定するときと同じ距離だけ離
隔し且つ両者間に前記電磁シールド材を隔てずに配置
し、前記発信手段から発信される測定波うち前記受信手
段に直接到達する直接波の強度を測定し、その直接波の
強度と前記透過波の強度とに基づいて、前記電磁シール
ド材のシールド性能を測定することを特徴としている。

【００１５】このような構成であれば、前記透過波の強
度の前記直接波の強度に対する減衰度が測定されるか
ら、前記電磁シールド材での電磁波の減衰度が判る。さ
らに、本発明に係る請求項１、２、３又は４記載の電磁
シールド性能測定方法において、前記透過波が前記受信
手段に到達してから前記回折波が前記受信手段に到達す
るまでの到達時間差をより大きくする工夫を行うことが
望ましい。例えば、電磁シールド室のシールド部に設け
られた電磁シールド材のシールド性能を測定する場合で
あれば、室内に配置される前記発信手段及び受信手段の
一方を測定対象となる電磁シールド材に近接して配置
し、電磁シールド材のシールド性能を単体で測定する場
合であれば、前記発信手段及び受信手段のいずれか一方
を測定対象となる電磁シールド材に近接して配置すれば
よい。

【００１６】このような構成であれば、前記透過波の到
達距離に対する前記回折波の到達距離が大きくなるか
ら、前記透過波と回折波との到達時間差が大きくなる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る電磁シールド
性能測定方法の実施の形態を図面を参照しながら説明す
る。図１は、完成前の電磁シールド室における電磁シー
ルド材のシールド性能を測定する場合の実施の形態を示
す平面図である。図２は、図１における受信機の構成の
一例を示すブロック図である。

【００１８】すなわち、本実施の形態は、本発明に係る
電磁シールド性能測定方法を、図１に示すように、壁面
の一部が電磁シールド材によってシールドされていない
ような状態にある完成前の電磁シールド室の壁面のシー
ルド部に設けられた電磁シールド材のシールド性能を測
定するのに適用したものである。

【００１９】電磁シールド室１は、周囲が壁面２によっ
て構成されている。壁面２は、その大部分が電磁シール
ド材によって形成されたシールド完成部３から構成され
ており、壁面２の一か所に電磁シールド材によってシー
ルドされていないシールド未完成部４を有する。そうし
て、シールド性能を測定しようとするシールド完成部３
を隔てて、発信機５を電磁シールド室１の外に配置し、
受信機６を電磁シールド室１の内に配置する。具体的に
は、壁面２のうちシールド未完成部４に対向する側の壁
面２に設けられたシールド完成部３を測定対象として選
択し、発信機５および受信機６を前記シールド完成部３
を隔てるように、かつ、両者を結ぶ直線が前記シールド
完成部３の面に対して直交するように、発信機５を電磁
シールド室１の外に配置し、受信機６を電磁シールド室
１の内に配置する。

【００２０】発信機５は、前記シールド完成部３に要求
されるシールド周波数帯域に係る任意の周波数成分が選
択可能で、選択されたそれら周波数成分を含む測定波を
発信するように構成されている。

【００２１】受信機６は、図２に示すように、電磁波を
受信するアンテナ６ａと、アンテナ６ａで受信された電
磁波を増幅して時系列の電気信号として出力する受信回
路６ｂと、受信回路６ｂから出力された電気信号のうち
前記シールド完成部３に要求されるシールド周波数帯域
に係る周波数成分のみを通過させ信号Ｓ₁ として出力す
るバンドパスフィルタ６ｃと、バンドパスフィルタ６ｃ
から出力される信号Ｓ ₁ の絶対値レベルが所定レベルα
以上であるときに高レベルの信号を、そうでないときに
は低レベルの信号を信号Ｓ₂ として出力する比較回路６
ｄと、比較回路６ｄから出力される最初の高レベル信号
Ｓ₂ を受けてから所定時間Ｔ_arが経過するまでの間のみ
高レベルの信号を、そうでないときには低レベルの信号
を信号Ｓ ₃ として出力するゲート制御回路６ｅと、バン
ドパスフィルタ６ｃから出力される信号Ｓ₁ を所定時間
Ｔ_dlだけ遅延させ信号Ｓ₄ として出力する遅延回路６ｆ
と、ゲート制御回路６ｅから出力される信号Ｓ₃ が高レ
ベルであるときに遅延回路６ｆから出力される信号Ｓ₄
を通過させ信号Ｓ₅ として出力するゲート回路６ｇと、
ゲート回路６ｇから出力される信号Ｓ₅ を単一周波数ご
とのスペクトル成分に変換して表示する波形分析回路６
ｈとで構成されている。

【００２２】ここで、所定時間Ｔ_arには、発信機５から
受信機６までの距離およびこれらからシールド未完成部
４までの距離に基づいて、後述する透過波７が受信機６
に到達するまでの時間と、後述する回折波８ａおよび８
ｂのいずれか速く受信機６に到達する方の時間とを算出
し、それらの時間差を設定する。また、所定レベルαに
は、発信機５を作動させていない定常状態において検出
されるノイズレベルよりも高いレベルを設定し、所定時
間Ｔ_dlには、バンドパスフィルタ６ｃから出力される信
号Ｓ₁ が立ち上がり始めてから所定レベルαに達するま
でのおおよその時間を算出し、それを設定する。

【００２３】次に、上記実施の形態の動作を説明する。
図１において、発信機５から測定波が発信されると、受
信機６には、はじめにその測定波のうち前記シールド完
成部３を透過して電磁シールド室１に侵入してくる透過
波７が到達する。次いで、前記測定波のうち壁面２のａ
点、ｂ点およびｃ点で回折してシールド未完成部４から
電磁シールド室１に侵入してくる回折波８ａが到達し、
次いで、前記測定波のうち壁面２のｄ点、ｅ点およびｆ
点で回折してシールド未完成部４から電磁シールド室１
に侵入してくる回折波８ｂが到達する。すなわち、受信
機６では、前記測定波のうち透過波７が受信され、その
後しばらくして、回折波８ａが受信機６に到達すること
によって透過波７と回折波８ａとによる干渉波９ａが受
信され、その後しばらくして、回折波８ｂが受信機６に
到達することによって透過波７と回折波８ａ，８ｂとに
よる干渉波９ｂが受信されることになる。

【００２４】以下、この過程を図３を参照しながらより
具体的に説明する。図３は、受信機６で処理される各信
号を示すタイムチャートである。まず、発信機５から受
信機６までの距離に基づいて、透過波７が受信機６に到
達するまでの時間を算出し、発信機５と受信機６とから
シールド未完成部４までの距離に基づいて、回折波８ａ
および８ｂのいずれか速く受信機６に到達する方の時間
を算出し、これらの時間差をゲート制御回路６ｅでの所
定時間Ｔ_arに設定する。この場合において、回折波８ａ
は、回折波８ｂよりも速く受信機６に到達するため、後
者の時間は、回折波８ａが受信機６に到達するまでの時
間として算出される。

【００２５】次いで、受信機６では、受信機６を構成す
る各回路に対してリセット信号を出力し、各回路の状態
を初期化する。特に、ゲート制御回路６ｅは、比較回路
６ｄから出力される最初の高レベルの信号Ｓ₂ を受けて
から所定時間Ｔ_arが経過するまでの間のみ高レベルの信
号Ｓ₃ を出力するように構成されているため、測定開始
後にその最初の高レベルの信号Ｓ₂ を判定できるよう
に、その状態を初期化する。

【００２６】さて、時刻ｔ₀ 以前において発信機５から
測定波が発信され、時刻ｔ₀ においてその測定波のうち
透過波７が受信機６に到達するものとすると、時刻ｔ₀
において受信機６では、アンテナ６ａにおいて透過波７
を受信し、受信回路６ｂにおいてアンテナ６ａで受信さ
れた透過波７を増幅して時系列の電気信号として出力
し、同図（ａ）に示すように、バンドパスフィルタ６ｃ
において受信回路６ｂから出力された電気信号のうち前
記シールド完成部３に要求されるシールド周波数帯域に
係る周波数成分のみを通過させ、それを信号Ｓ₁ として
出力する。

【００２７】そうして、時刻ｔ₁ においてバンドパスフ
ィルタ６ｃから出力される信号Ｓ₁が所定レベルαを上
回ると、この信号Ｓ₁ を受ける比較回路６ｄでは、同図
（ｂ）に示すように、高レベルの信号Ｓ₂ を出力する。
そうすると、比較回路６ｄから出力される最初の高レベ
ルの信号Ｓ₂ を受けるゲート制御回路６ｅでは、同図
（ｃ）に示すように、高レベルの信号Ｓ₃ を出力すると
ともに、その高レベルの信号Ｓ₃ を所定時間Ｔ_arだけ出
力するためにタイマを始動させる。

【００２８】一方、時刻ｔ₀ においてバンドパスフィル
タ６ｃから出力される信号Ｓ₁ は、その信号Ｓ₁ が比較
回路６ｄに出力されるのと同時に遅延回路６ｆにも出力
される。そうすると、時刻ｔ₀ において遅延回路６ｆで
は、同図（ｄ）に示すように、この信号Ｓ₁ を所定時間
Ｔ_dlだけ遅延させ、時刻ｔ₁ において時刻ｔ₀ で受けた
信号Ｓ₁ と同一の信号Ｓ₄ を出力する。

【００２９】そうして、このようにして遅延回路６ｆか
ら出力された信号Ｓ₄ は、ゲート回路６ｇに入力される
が、同時刻ｔ₁ においてゲート制御回路６ｅから高レベ
ルの信号Ｓ₃ が出力されているため、ゲート回路６ｇで
は、同図（ｅ）に示すように、遅延回路６ｆから出力さ
れた信号Ｓ₄ と同一の信号Ｓ₅ を波形分析回路６ｈに出
力する。

【００３０】次いで、時刻ｔ₂ においてバンドパスフィ
ルタ６ｃから出力される信号Ｓ₁ が所定レベルαを下回
ると、この信号Ｓ₁ を受ける比較回路６ｄでは、同図
（ｂ）に示すように、低レベルの信号Ｓ₂ を出力する。

【００３１】しかしながら、ゲート制御回路６ｅでは、
時刻ｔ₁ から所定時間Ｔ_arが経過するまでの間は入力さ
れる信号Ｓ₂ のいかんに関わらず高レベルの信号Ｓ₃ を
出力するようになっているため、ゲート制御回路６ｅで
は、同図（ｃ）に示すように、依然として高レベルの信
号Ｓ₃ を出力しつづける。したがって、これに伴い遅延
回路６ｆでは、同図（ｄ）に示すように、バンドパスフ
ィルタ６ｃから出力される信号Ｓ₁ が所定時間Ｔ_dlだけ
遅延した信号Ｓ₄ を出力し、ゲート回路６ｇでも、同図
（ｅ）に示すように、遅延回路６ｆから出力された信号
Ｓ₄ と同一の信号Ｓ₅ を波形分析回路６ｈに出力しつづ
ける。

【００３２】次いで、時刻ｔ₃ において前記測定波のう
ち回折波８ａが受信機６に到達するものとすると、時刻
ｔ₃ において受信機６では、アンテナ６ａにおいて透過
波７と回折波８ａとによる干渉波９ａを受信し、受信回
路６ｂにおいてアンテナ６ａで受信された干渉波９ａを
増幅して時系列の電気信号として出力し、同図（ａ）に
示すように、バンドパスフィルタ６ｃにおいて受信回路
６ｂから出力された電気信号のうち前記シールド完成部
３に要求されるシールド周波数帯域に係る周波数成分の
みを通過させ、それを信号Ｓ₁ として出力する。

【００３３】そうして、時刻ｔ₄ においてバンドパスフ
ィルタ６ｃから出力される信号Ｓ₁が所定レベルαを上
回ると、この信号Ｓ₁ を受ける比較回路６ｄでは、同図
（ｂ）に示すように、高レベルの信号Ｓ₂ を出力する。

【００３４】しかしながら、ゲート制御回路６ｅでは、
時刻ｔ₁ から所定時間Ｔ_arが経過するまでの間は入力さ
れる信号Ｓ₂ のいかんに関わらず高レベルの信号Ｓ₃ を
出力するようになっているため、比較回路６ｄから出力
される高レベルの信号Ｓ₂ は、ゲート制御回路６ｅから
出力される信号Ｓ₃ に影響を及ぼさず、したがって、遅
延回路６ｆおよびゲート回路６ｇから出力されるそれぞ
れの信号Ｓ₄ およびＳ ₅ にも影響を及ぼさない。

【００３５】次いで、時刻ｔ₅ において時刻ｔ₁ から所
定時間Ｔ_arが経過すると、ゲート制御回路６ｅでは、同
図（ｃ）に示すように、低レベルの信号Ｓ₃ を出力す
る。そうすると、その低レベルの信号Ｓ₃ を受けるゲー
ト回路６ｇでは、同図（ｅ）に示すように、遅延回路６
ｆから受ける信号Ｓ₄ を遮断して零レベルの信号Ｓ₅ を
波形分析回路６ｈに出力する。

【００３６】一方、時刻ｔ₅ 以降において前記測定波の
うち回折波８ｂが受信機６に到達するものとすると、そ
の回折波８ｂが受信機６に到達した時刻において受信機
６では、アンテナ６ａにおいて透過波７と回折波８ａ，
８ｂとによる干渉波９ｂを受信し、受信回路６ｂにおい
てアンテナ６ａで受信された干渉波９ｂを増幅して時系
列の電気信号として出力し、バンドパスフィルタ６ｃに
おいて受信回路６ｂから出力された電気信号のうち前記
シールド完成部３に要求されるシールド周波数帯域に係
る周波数成分のみを通過させ、それを信号Ｓ₁ として出
力する。

【００３７】しかしながら、この場合にあっても、ゲー
ト制御回路６ｅでは、時刻ｔ₁ から所定時間Ｔ_arが経過
するまでの間のみ高レベルの信号Ｓ₃ を出力するように
なっているため、この信号Ｓ₁ が入力された比較回路６
ｄが出力する信号Ｓ₂ は、ゲート制御回路６ｅ、遅延回
路６ｆ、およびゲート回路６ｇから出力されるそれぞれ
の信号Ｓ₃ 、Ｓ₄ およびＳ₅ に影響を及ぼさない。

【００３８】すなわち、ゲート制御回路６ｅから出力さ
れる信号Ｓ₃ が低レベルに転換した時刻ｔ₅ 以降では、
ゲート制御回路６ｅから出力される信号Ｓ₃ が、比較回
路６ｄから出力される信号Ｓ₂ のいかんに関わらず常に
低レベルを保持するため、この時刻ｔ₅ 以降に受信され
る干渉波９ａまたは９ｂの成分は、波形分析回路６ｈに
出力されることはない。

【００３９】他方、波形分析回路６ｈでは、ゲート回路
６ｇから出力される信号Ｓ₅ を単一周波数ごとのスペク
トル成分に変換し、そのスペクトル成分を表示する。そ
うして、あらかじめ発信機５および受信機６をこの測定
を行う場合と同じに離隔した距離で、発信機５から発信
される測定波の直接波を受信機６で受信し、波形分析回
路６ｈで、その直接波を単一周波数ごとのスペクトル成
分に変換し、それを直接波スペクトルとして測定してお
き、ゲート回路６ｇから出力される信号Ｓ₅ に係る前記
スペクトル成分の、前記直接波スペクトルに対する減衰
度を測定することによって、前記シールド完成部３のシ
ールド性能を測定する。

【００４０】このようにして、比較回路６ｄで透過波７
の到達を検出し、ゲート制御回路６ｅでその到達が検出
された時刻からあらかじめ発信機５、受信機６およびシ
ールド未完成部４の配置位置に基づいて設定した透過波
７と回折波８ａとの到達時間差が経過するまでゲート回
路６ｇの出力を解放し、遅延回路６ｆで遅延させた透過
波７の成分をゲート制御回路６ｅから出力を解放された
時間だけゲート回路６ｇを介して波形分析回路６ｈに出
力することによって、回折波８ａ，８ｂを含まない透過
波７の成分のみを抽出することができるため、回折波８
ａ，８ｂが受信機６に受信されてしまうような完成前の
前記電磁シールド室１であっても、前記シールド完成部
３のシールド性能を正確に測定することができる。

【００４１】また、発信機５から受信機６までの距離と
それらからシールド未完成部４までの距離とに基づい
て、透過波７と回折波８ａとの到達時間差を算出し、そ
の到達時間差に基づいて、回折波８ａ，８ｂを含まない
透過波７の成分のみを抽出するようにしているから、前
記回折波を含まない前記透過波の成分を抽出することが
比較的容易になるという利点もある。

【００４２】さらに、ゲート回路６ｇから出力される信
号Ｓ₅ に係る前記スペクトル成分の、前記直接波スペク
トルに対する減衰度を測定するようにしているから、前
記シールド完成部３のシールド性能をより正確に測定す
ることができる。

【００４３】なお、上記実施の形態においては、受信機
６を図２に示すように構成する場合について説明した
が、これに限らず、例えば、スペクラムアナライザ等を
用いて、アンテナ６ａで受信する電磁波を周波数領域で
取り込み、前記シールド完成部３に要求されるシールド
周波数帯域に係る周波数成分のみを逆フーリエ変換によ
って時間領域の信号に変換し、あらかじめ算出した透過
波７と回折波８ａとの到達時間差に基づいて、変換した
時間領域の信号から透過波７の成分のみを抽出し、抽出
したその透過波７の成分をフーリエ変換によって周波数
領域のスペクトル成分に変換し、その変換したスペクト
ル成分の前記直接波スペクトルに対する減衰度を測定す
ることによっても、同様に前記シールド完成部３のシー
ルド性能を測定することができる。

【００４４】また、例えば、図１に示す受信機６は、図
４に示すように、マイクロコンピュータによって構成す
るようにしてもよい。この場合に図４において、受信機
６は、アンテナ６ａと、受信回路６ｂと、受信回路６ｂ
から出力される時系列の電気信号を処理するマイクロコ
ンピュータ６ｉと、マイクロコンピュータ６ｉから出力
される情報を表示するＣＲＴ６ｊとで構成されており、
さらに、マイクロコンピュータ６ｉは、Ａ／Ｄ変換機能
を有する入力インターフェース部６ｋ、出力インターフ
ェース部６ｍ、演算および各回路を制御する演算処理部
６ｎおよびデータ等を格納する記憶部６ｐを少なくとも
有して構成されている。

【００４５】マイクロコンピュータ６ｉでは、次のよう
にして信号処理を行う。まず、受信回路６ｂから出力さ
れる時系列の電気信号を所定サンプリング周期でサンプ
リングし、それを受信データとして記憶部６ｐの所定領
域に格納する。次いで、前記シールド完成部３に要求さ
れるシールド周波数帯域において、各周波数ごとにその
周波数に基づいて、透過波７と回折波８ａとの到達時間
差を算出する。次いで、前記受信データを先頭から検索
していき、所定レベルαを上回るデータがはじめて検出
されたときに、その検出されたデータの１つ前に検出さ
れた零レベルのデータがサンプリングされた時刻を前記
透過波７の到達時刻として推定する。次いで、前記各周
波数ごとに、フーリエ変換における積分終了時刻を前記
到達時刻に前記到達時間差を加算した時刻として設定
し、フーリエ変換によって透過波７の前記各周波数成分
に係るスペクトル成分を算出し、それを透過波スペクト
ルデータとして記憶部６ｐの所定領域に格納する。次い
で、あらかじめ記憶部６ｐの所定領域に格納に格納され
ている前記直接波スペクトルに対する、前記透過波スペ
クトルデータの減衰度を算出し、その結果をＣＲＴ６ｊ
に出力する。そうして、ＣＲＴ６ｊで表示されたその結
果に基づいて、前記シールド完成部３のシールド性能を
測定する。

【００４６】マイクロコンピュータ６ｉにおいて上記処
理を実行するにあたっては、具体的に、これらの手順を
示したプログラムが記録された記憶媒体からそのプログ
ラムを読み出して実行する。なお、ここでいう記録媒体
とは、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＦＤ、コンパクトディスク、ハ
ードディスクまたは光磁気ディスク等の記録媒体であっ
て、電子的、磁気的、光学的等の記録方法のいかんを問
わず、情報を記録することができるあらゆる媒体を指し
ていうものである。

【００４７】受信機６がこのような構成であれば、媒質
を伝搬する電磁波の位相速度が周波数に応じて変化する
ことをに基づいて、前記各周波数に応じて透過波７の成
分を抽出することによって、回折波８ａ，８ｂを含まな
い透過波７の成分のみをより正確に得ることができるた
め、前記シールド完成部３のシールド性能をより正確に
測定することができる。

【００４８】さらに、受信機６をマイクロコンピュータ
によって構成した場合の実施の形態においては、これに
代えて、比較回路、演算回路、論理回路等の電子回路を
組み合わせて構成するようにしてもよい。

【００４９】さらに、上記実施の形態においては、発信
機５を電磁シールド室１の外に配置し、受信機６を電磁
シールド室１の内に配置する場合について説明したが、
これに限らず、発信機５を電磁シールド室１の内に配置
し、受信機６を電磁シールド室１の外に配置するように
してもよい。

【００５０】さらに、上記実施の形態においては、シー
ルド未完成部４で回折して電磁シールド室１に侵入して
くる回折波８ａ，８ｂを除去すべき対象となる回折波と
して取り扱った場合について説明したが、これに限ら
ず、例えば、図１に示すａ点またはｄ点で回折して電磁
シールド室１に侵入してくる回折波を除去すべき対象と
なる回折波として取り扱ってもよい。すなわち、透過波
７よりも遅れて受信機６に到達する回折波についてはす
べて、除去すべき対象となる回折波として取り扱うこと
ができる。

【００５１】さらに、上記実施の形態においては、図１
に示すように、電磁シールド室１の壁面２に設けられた
シールド完成部３のシールド性能を測定することについ
て説明したが、これに限らず、図５に示すように、電磁
シールド材１０のシールド性能を単体で測定することも
できる。この場合においては、発信機５から受信機６ま
での距離に基づいて、発信機５から発信される測定波の
うち電磁シール材１０を透過する透過波７が受信機６に
到達するまでの時間を算出し、発信機５および受信機６
と電磁シールド材１０の形状に基づいて、電磁シールド
材１０のｇ点およびｈ点でそれぞれ回折する回折波８ａ
および８ｂのいずれか速く受信機６に到達する方の時間
を算出し、これらの時間差をゲート制御回路６ｅでの所
定時間Ｔ _arに設定することによって、上記同様の操作で
電磁シールド材１０のシールド性能を正確に測定するこ
とができる。

【００５２】さらに、上記実施の形態においては、発信
機５および受信機６を前記シールド完成部３を隔てるよ
うに、かつ、両者を結ぶ直線が前記シールド完成部３の
面に対して直交するように配置すること以外に、それら
の配置位置について特に限定しなかったが、例えば、図
１に示すような電磁シールド室１において前記シールド
完成部３のシールド性能を測定する場合には、電磁シー
ルド室１の内に配置される発信機５および受信機６の一
方を前記シールド完成部３に近接して配置し、また、図
５に示すような電磁シールド材１０のシールド性能を測
定する場合には、発信機５および受信機６のいずれか一
方を電磁シールド材１０に近接して配置することが好ま
しい。

【００５３】このように発信機５および受信機６を配置
すれば、透過波７の到達距離を同一にするように発信機
５と受信機６とを所定距離を隔てて配置するときに、図
１に示すような電磁シールド室１であれば、図６（ａ）
に示すように、電磁シールド室１の室内中心付近に受信
機６が配置された状態Ａよりも、前記シールド完成部３
に近接して受信機６が配置された状態Ｂのほうが、発信
機５からａ点までの距離とｃ点から受信機６までの距離
とが大きくなる。また、同じ条件において、図５に示す
ような電磁シールド材１０を測定する環境であれば、図
６（ｂ）に示すように、電磁シールド材１０から離れた
位置に受信機６が配置された状態Ａよりも、電磁シール
ド材１０に近接して受信機６が配置された状態Ｂのほう
が、発信機５からｇ点を介して受信機６までの距離が大
きくなる。したがって、いずれの場合にも、透過波７が
受信機６に到達してから回折波８ａが受信機６に到達す
るまでの時間が大きくなる。

【００５４】そうすると、回折波８ａを含まない透過波
７の成分のみをより多く抽出することができるため、前
記シールド完成部３または電磁シールド材１０のシール
ド性能をより正確に測定することができる。

【００５５】上記実施の形態において、発信機５は、請
求項１、２、３または４記載の発信手段に対応し、アン
テナ６ａおよび受信回路６ｂは、請求項１、２、３また
は４記載の受信手段に対応し、前記シールド完成部３
は、請求項１または２記載の測定対象となる電磁シール
ド材に対応し、所定時間Ｔ_arは、請求項３記載の到達時
間差に対応している。

【００５６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る請求
項１記載の電磁シールド性能測定方法によれば、前記回
折波が受信手段に到達してしまうような測定環境であっ
ても、前記電磁シールド材のシールド性能を正確に測定
することができるという効果が得られる。

【００５７】また、本発明に係る請求項２記載の電磁シ
ールド性能測定方法によれば、完成前の電磁シールド室
であっても、そのシールド部に設けられている前記電磁
シールド材のシールド性能を正確に測定することがで
き、電磁シールド室の製造コストの低減および工期の短
縮に寄与できるという効果が得られる。

【００５８】さらに、本発明に係る請求項３記載の電磁
シールド性能測定方法によれば、前記到達時間差を考慮
するようにしたため、前記回折波を含まない前記透過波
の成分を抽出することが比較的容易になるという効果が
得られる。

【００５９】さらに、本発明に係る請求項４記載の電磁
シールド性能測定方法によれば、前記電磁シールド材の
シールド性能をより正確に測定することができるという
効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態を示す平面図である。

【図２】図１における受信機の構成の一例を示すブロッ
ク図である。

【図３】図２における受信機で処理される各信号を示す
タイムチャートである。

【図４】第２の実施の形態を示すブロック図である。

【図５】第３の実施の形態を示す平面図である。

【図６】発信機５および受信機６の好適な配置例を示す
平面図である。

【符号の説明】

１ 電磁シールド室 ２ 壁面 ３ シールド完成部 ４ シールド未完成部 ５ 発信機 ６ 受信機 ６ａ アンテナ ６ｂ 受信回路 ６ｃ バンドパスフィルタ ６ｄ 比較回路 ６ｅ ゲート制御回路 ６ｆ 遅延回路 ６ｇ ゲート回路 ６ｈ 波形分析回路 ６ｉ マイクロコンピュータ ７ 透過波 ８ａ，８ｂ 回折波 １０ 電磁シールド材

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 発信手段及び受信手段を、測定対象とな
   る電磁シールド材を隔てて配置し、その電磁シールド材
   のシールド性能を測定する電磁シールド性能測定方法に
   おいて、 前記発信手段から発信され前記電磁シールド材を透過し
   て前記受信手段に到達する透過波のうち、前記電磁シー
   ルド材を透過しない回折波の到達前に到達した前記透過
   波の強度に基づいて、前記電磁シールド材のシールド性
   能を測定することを特徴とする電磁シールド性能測定方
   法。
2. 【請求項２】 電磁シールド室のシールド部に設けられ
   た電磁シールド材のシールド性能を、前記電磁シールド
   室の完成前に測定する電磁シールド性能測定方法であっ
   て、 発信手段及び受信手段を、前記電磁シールド室の室内と
   室外とに分けて且つ測定対象となる電磁シールド材を隔
   てるように配置し、前記発信手段から前記電磁シールド
   材に要求されるシールド周波数帯域に係る周波数成分を
   含んだ測定波を発信すると共に、前記測定波のうち前記
   電磁シールド材を透過する透過波であって、前記電磁シ
   ールド室のシールド未完成部を回折して前記電磁シール
   ド室に侵入する回折波が前記受信手段に到達する前に前
   記受信手段で受信された前記透過波の強度に基づいて、
   前記電磁シールド材のシールド性能を測定することを特
   徴とする電磁シールド性能測定方法。
3. 【請求項３】 前記発信手段及び受信手段を、所定距離
   を隔てて配置し、その所定距離及び前記回折波の経路に
   基づいて、前記透過波が前記受信手段に到達してから前
   記回折波が前記受信手段に到達するまでの到達時間差を
   算出し、前記透過波が前記受信手段に到達してから前記
   到達時間差が経過するまでに前記受信手段に受信された
   前記透過波の強度に基づいて、前記電磁シールド材のシ
   ールド性能を測定することを特徴とする請求項１又は２
   記載の電磁シールド性能測定方法。
4. 【請求項４】 前記発信手段及び受信手段を、前記透過
   波を測定するときと同じ距離だけ離隔し且つ両者間に前
   記電磁シールド材を隔てずに配置し、前記発信手段から
   発信される測定波うち前記受信手段に直接到達する直接
   波の強度を測定し、その直接波の強度と前記透過波の強
   度とに基づいて、前記電磁シールド材のシールド性能を
   測定することを特徴とする請求項１、２又は３記載の電
   磁シールド性能測定方法。