JPH10253339A - 音波利用計測方法及び計測装置 - Google Patents

音波利用計測方法及び計測装置

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JPH10253339A
JPH10253339A JP9051793A JP5179397A JPH10253339A JP H10253339 A JPH10253339 A JP H10253339A JP 9051793 A JP9051793 A JP 9051793A JP 5179397 A JP5179397 A JP 5179397A JP H10253339 A JPH10253339 A JP H10253339A
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oscillator
amplitude
wave
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Noritaka Egami
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 音波を利用した厚みの計測に於いて、従来、
発振音波に高調波を含む率が高くなるように発振子をパ
ルス駆動し、受信は広い受信周波数範囲をカバー出来る
ようにするため、受信器の帯域特性を広帯域とせざるを
得ず、そのためノイズを拾い易く正確な測定が難しかっ
た。 【解決手段】 音波の発振には、磁歪振動子22を出来
るだけ高調波を含まないように正弦波(正弦波可変周波
数発振器25)で駆動し、受信は駆動した基本波のみを
受信する。そのためきわめて狭帯域のバンドパスフィル
タ16を用いる。必要な周波数範囲にわたってこの測定
を少しずつ周波数を変えて何度も測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はコンクリート製構
造物の寸法計測やコンクリートの音速計測に用いる音波
利用計測装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】音波を用いて物体の厚さを計測したり、
物体内の内在ひび割れ位置を計測することは古くから行
われている。図13は例えば特開昭63−247608
号公報に示されたものと類似のコンクリートの板厚を測
定する(又は板厚が既知なら音速を測定する)音波利用
計測装置の構成図である。又、図14は図13の構成を
更に詳しく説明するための詳細構成図である。
【0003】図13、図14に於いて1aは厚さを計測
したいコンクリート壁、2はコンクリート壁1aの表面
に圧接した超音波発振子、3は壁の振動検出用の加速度
センサ(受波器)、4は計測装置本体で、受波器3の検
出信号が入力され、又、超音波発振子2へ矩形波パルス
を送出するものである。5は指令信号を用いて発振周波
数を変化させることのできる矩形波パルス可変周波数発
振器(以下発振器という)、6は演算増幅器、7はNP
Nトランジスタ、8と9は抵抗器、10は受波器3から
の入力を増幅するバッファアンプ、11はアナログ値を
ディジタル値に変換するA/D変換器である。12はマ
イコン、13はメモリである。A/D変換器11とマイ
コン12とメモリ13はスペクトル解析器32を構成し
ている。
【0004】マイコン12は所定の周波数の矩形波パル
ス電圧を発生するように発振器5に対して指令する。発
振器5は矩形波パルス電圧を出力し、超音波発振子2は
この周波数で振動し被測定物1aも振動する。矩形波パ
ルスで駆動されているので、当然この周波数を基本波と
する多くの高調波成分を含んだ超音波が送信される。被
測定物1a内に生じている振動を受波器3で一定時間に
わたって時系列的に検出し、バッファアンプ11で信号
増幅し、A/D変換器10で順次A/D変換してメモリ
13に取込み、フーリエ変換して発振周波数から発振周
波数の数倍の周波数にわたる各周波数成分の振幅(振動
加速度の波高値)を求める。ここでバッファアンプ10
は幅広い高調波成分の周波数に対して対応できる広帯域
アンプが用いられている。
【0005】このようにして最終的に図15のような、
横軸に周波数、縦軸にその周波数の振動加速度(あるい
は波高値、振幅値)のグラフを得る。複数の特定周波数
では送信波と反射波が干渉して定在波が生じるので、波
高値のピークを持つ周波数が被測定物1aの共振周波数
であり、 2L=n・υ/f ……(1)式が成立つ。 ここでLは壁1aの厚み、υは壁1a内での音速、fは
共振周波数、nは正の整数である。υが既知であればL
を、Lが既知であればυを求めることが出来るのであ
る。以後の説明は全てυが既知であるとして厚みを測定
する場合を例として説明する。
【0006】ところで一般にコンクリート内の音速は4
〜5Km/S程度であるので数m程度の厚みのコンクリ
ートの計測に用いる周波数は超音波では高すぎる
((1)式のnが大きくなりすぎる)のである。そこで
超音波発振子2の代りに、より低い周波数を出力するの
に適した磁歪発振子が用いられる。
【0007】図16は磁歪発振子22の構造の詳細を示
したもので、22aは磁歪材、22b、22Cは壁1a
への加振力を強めるための重りである。磁歪材22aに
はコイルが巻かれていてコイルに電流が流れると磁化さ
れ磁歪材22aが歪み、交流電流を加えると振動が発生
するようになっている。磁歪材22aには、磁化される
ことによって延びる素材のものと縮む素材のものとがあ
り、いずれも電流の方向には関係なく、電流の大きさに
応じて延びる素材は延び、縮む素材は縮むという性質の
ため、加えた交流電流と同じ周波数の振動を発生させる
ためにはあらかじめ交流分に直流分を付加しておく必要
がある。
【0008】そこで磁歪発振子22には、発振器5から
図17(a)に示すようなプラス側にシフトしたパルス
電圧を発生する。その周波数はマイコン12から設定す
ることが可能である。演算増幅器6とトランジスタ7、
抵抗器8、9の回路は典型的な電圧/電流変換回路で磁
歪発振子22にはプラス側にシフトしたパルス電流が流
れる。磁歪発振子22の入力電流と歪みの関係はヒステ
リシスを持った非線形の関係を持つため、振動出力は歪
んでおり、パルスで駆動していることと相まって基本周
波数の他に多くの高調波成分が存在する。例えば磁歪発
振子22に連続パルス列電圧(図17(a)電流ON時
間150μs、OFF時間350μs、周波数2KH
Z)を印加したときの、出力波形を図17(b)に示
す。磁歪発振子22の出力に如何に多くの高調波が含ま
れているかを説明するため、この出力波形信号を100
KHZで1秒間取込んでフーリエ変換して、スペクトル
分析した図を図18に示す。
【0009】磁歪発振子22に連続パルス列電圧を印可
した場合、発振子22の振動出力は図18のように、周
波数によって振動強さが極端に変動しているので、振動
強さがピークとなる周波数が見かけ上ずれることにな
る。従来の計測に利用するのに理想的な発振子の振動出
力特性は、計測に必要な全ての周波数成分を含み、又そ
の強さが周波数に対して一定であるものである。特定の
周波数成分が少ないとその周波数については計測不能と
なり、強さがばらつくということは、共振周波数を見か
け上狂わせ、測定結果の精度が悪化する。また、例えば
床の厚み計測の場合、コンクリートの下には土がある。
空気や水に比べて土は音響特性インピーダンスがコンク
リートに近いため、反射率が小さくなる。又、厚みが大
きくなりがちなため帰ってくる反射波は小さくなる。従
って、周波数を横軸にし、振動加速度を縦軸にしたグラ
フでの振動加速度強さのピークは現実にはそれほど明確
に識別できるものではない。床に送信する振動強さと、
反射も重なった計測振動強さの間には比例関係があるた
め、発振子22の振動出力がばらつくと計測振動強さに
直接影響し、正確にピークを把握できないと言う問題が
生じる。
【0010】その上受波器3で受信した振動加速度信号
には図13の図中に示すように、異なるルートA、B…
…を経由した沢山の信号が来るので、図15に示したグ
ラフのピーク周波数を明瞭に識別することが困難とな
る。共振周波数を正確に知ることが出来なければ厚みを
正確に測定することが出来ない、つまり計測そのものが
難しい。図15は説明の都合上明瞭に記載しているが、
バッファアンプ10は広帯域特性であるためノイズも拾
いやすく、実際のデータはノイズに埋まったはなはだ識
別困難なものとなる。もっとも、信号を順次取込み、ス
ペクトル解析器32でフーリエ変換すれば、各周波数成
分の波高値を正確に算出できるが、フーリエ変換するに
は例えば1HZ刻みの精度で周波数を特定しようとした
場合、原理的にもデータの取込みに1秒間必要である。
周波数を順次変えて計測すると100周波数分の計測を
しようとすると最低100秒も掛ってしまう。
【0011】図19は理解を助けるためフーリエ変換に
より1HZ毎の解析を行った場合、100周波数分の計
測に要する時間を図示したものである。100周波数分
に対して例えば102秒の時間が必要である。図中N1
〜N100は100周波数分の計測の繰返しを示してい
る。これでは計測時間が長く大変効率が悪い。また、単
に効率だけが問題でなく、コンクリート壁1aへの磁歪
発振子2の固定方法は、人間が手でもって押えつけるの
が最も簡単なので、一般的にはそのように行うのである
が、100秒もかかつていると、その間に押しつけ力や
位置が変るなど計測そのものが一定の条件で行われない
と言う問題があった。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来の音波利用計測方
法並びに計測装置は以上のように構成されているので、
受波に際して広帯域の増幅器を用いざるを得ないので、
ノイズを拾いやすく、共振周波数を捉えることがきわめ
て困難で、計測が難しいという問題があった。又、計測
時間の間、一定の条件で計測することが困難であるぐら
いに計測時間が長く掛ると言う問題があった。
【0013】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、狭帯域の増幅器を用いることが
でき、ノイズを拾うことが少ない計測方法、計測装置を
提供しようとするものである。また、計測時間内に計測
条件の変動が生じる恐れがない程度に計測時間を短くす
ることを目的とする。また、共振周波数の識別が正確に
行える計測装置を提供しようとするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】第1の発明に係る音波利
用計測方法は、下記ア)〜オ)の手順を用いるものであ
る。 ア)測定対象物の一面に磁歪発振子と受波器とを設置す
る手順。 イ)前記磁歪発振子を任意の1つの周波数で励振しこの
測定対象物の対向面に向けて音波を送信する手順。 ウ)前記対向面からの反射波を前記受波器で受信して、
前記周波数の成分における受信波振幅を測定する手順。 エ)上記イ)ウ)の手順を前記1つの周波数と異なり、
且つ、互いに異なる周波数で複数回繰返し行う手順。 オ)前記繰返し行ったイ)ウ)の手順によって得られた
複数の異なる周波数に対する前記受信波振幅が極大とな
る周波数値から、この測定対象物の厚さ又はこの測定対
象物中の音速を演算する手順。この手順によれば、1回
の計測の受信は1つの周波数でのみ行われるので、きわ
めて狭帯域の受信器を用いることが出来、ノイズの混入
を軽減することが出来る。
【0015】第2の発明による音波利用計測装置は、測
定対象物の一面に設置した磁歪発振子と受波器、前記磁
歪発振子を他から指令される任意の周波数で励磁する正
弦波可変周波数発振器、前記受波器から前記他から指令
される任意の周波数の信号を抽出する可変周波数バンド
パスフィルタ、前記磁歪発振子が前記周波数で送信して
いる間の任意の時刻に、前記可変周波数バンドパスフィ
ルタの出力端で受信波振幅(V1)を計測する第1の振
幅計測手段、この第1の振幅計測手段の動作時刻の後、
前記周波数の1/4周期の時間差で前記可変周波数バン
ドパスフィルタの出力端で同じ周波数の受信波振幅(V
2)を計測する第2の振幅計測手段、V0={(V1)
2+(V2)21/2 式を含む演算によって、前記送信
周波数における受信波振幅(V0)を求める演算手段、
互いに異なる周波数からなる周波数列を構成し、前記正
弦波可変周波数発振器と前記可変周波数バンドパスフィ
ルタに前記周波数列の周波数を順次、所定時間間隔で指
示するコントローラを有するものである。この手段によ
り、狭帯域受信によりノイズの影響がなく、また、多く
の周波数で繰返し測定を行うにも係わらずトータルの計
測所要時間を短縮することが可能となる。
【0016】第3の発明による音波計測装置は、測定対
象物の一面に設置した磁歪発振子と受波器、前記磁歪発
振子を他から指令される任意の周波数で励磁する正弦波
可変周波数発振器、前記受波器から前記他から指令され
る任意の周波数の信号を抽出する可変周波数バンドパス
フィルタ、前記磁歪発振子が前記周波数で送信している
間の任意の時刻に、この送信周波数の1/4周期の時間
差で2つのタイミング信号t1、t2を発生するタイミ
ング信号発生回路、前記可変周波数バンドパスフィルタ
の出力端で、前記タイミング信号t1を与えられたとき
受信波の振幅(V1)を計測し、t2を与えられたとき
受信波の振幅(V2)を計測する第3の振幅計測手段、
V0={(V1)2+(V2)21/2 式を含む演算
によって、前記周波数における受信波振幅(V0)を求
める演算手段、互いに異なる周波数からなる周波数列を
構成し、前記正弦波可変周波数発振器と前記可変周波数
バンドパスフィルタに前記周波数列の周波数を順次、所
定時間間隔で指示するコントローラを有するものであ
る。この手段により、多くの周波数で繰返し測定を行う
にも係わらずトータルの計測所要時間を短縮することが
可能となる。
【0017】第4の発明による音波計測装置は、磁歪発
振子の励磁信号を、この磁歪発振子の周波数対基本波出
力振幅特性に反比例して補正する発振補正増幅器を有す
るものである。この手順によれば、異なる周波数での発
振出力を容易に補正し均等化できることとなり、共振周
波数の正確な測定が可能となる。
【0018】第5の発明による音波計測装置は、受波器
で受波した信号を、あらかじめ測定した磁歪発振子の周
波数対基本波出力振幅特性に反比例して補正する受波補
正増幅器を有するものである。この手順によれば、異な
る周波数での発振出力の差を受信側で容易に補正できる
こととなり、共振周波数の正確な測定が可能となる。
【0019】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.以下、この発明の第1と第2の発明の音
波利用計測装置並びに計測方法を実施の形態1として図
について説明する。図1に於いて1aは厚さを計測した
いコンクリート壁、22はコンクリート壁1aの表面に
圧接した磁歪発振子、3は壁の振動振幅検出用の加速度
センサ(受波器)、4は計測装置本体で、受波器3の検
出信号が入力され、又、磁歪発振子22へ励磁出力信号
を送出するものである。25は周波数指令信号をマイコ
ン12から受けて発振周波数を変化させることのできる
正弦波可変周波数発振器(以下正弦波発振器という)、
6は演算増幅器、7はNPNトランジスタ、8と9は抵
抗器、11はアナログ値をディジタル値に変換するA/
D変換器である。12はマイコン、13はメモリであ
る。15はマイコン12の指令に基づいて振幅計測のた
めのタイミング信号15aと15bを発生させるタイミ
ング信号発生回路、16はバンドパス周波数をマイコン
12からの指令に基づいて変化出来る狭帯域可変周波数
バンドパスフィルタ(以下BPFという)、17、18
は共にサンプルホールド回路、19はアナログマルチプ
レクサである。
【0020】次に動作について説明する。図1では磁歪
発振子22は出来るだけその出力に高調波を含まないよ
うに駆動される。そのため駆動はプラス側又はマイナス
側にシフトした正弦波で行う。シフトした正弦波電流を
流すのは従来例で説明したとおり極力基本周波数成分を
高め、高調波成分を低くするためである。特に磁歪発振
子22の固有振動数をfcとして、fc/N(Nは正の
整数)で磁歪発振子22を振動させると磁歪発振子22
自体の共振のためfc成分を大きくすることができる。
それでも高調波はゼロにはならないので、受波器3によ
り検出される振動加速度信号(振幅信号)は、従来例で
説明したように基本周波数成分の他にその高調波成分が
含まれている。そこで、基本周波数のみを通過できるよ
うにBPF16の周波数を基本波に設定すれば、BPF
16の出力は基本周波数成分が主となる。99%以上、
即ち、高調波成分を見かけ上ゼロとする程度のことは市
販のアクティブフィルタを使って容易に実現できる。
【0021】BPF16の出力である正弦波出力の波高
値の検出は次のように行う。マイコン12からのサンプ
ル指令で、信号15aと16bは図2に示すように順次
出力されるが、そのタイミング差は基本周波数の1周期
のちょうど1/4{90゜位相差あるいは1/(4f)
と同じ時間差}となるように設定しておく。基本波の電
圧が V0sin(wt)とすると、サンプルホ
ールド17でサンプルされる電圧V1、V1=V0si
n(wt+α)サンプルホールド18でサンプルされる
電圧V2は、V2=V0sin(wt+α+90゜)=
V0cos(wt+α)となり V0={(V1)2+(V2)21/2 ……(2) の演算で容易にV0を計算できる。
【0022】V1、V2は、アナログマルチプレクサ1
9を順次切替えて、A/D変換して取込むことが出来、
BPF16の動作時間を考慮しても基本波1周期以内で
波高値を算出できる。 即ち、コンクリートの壁厚を1
mとすると共振基本周波数は約2KHZとなるから、1
/2000秒での波高値計測も可能なことが判る。即
ち、従来のフーリエ変換方式における1データの計測時
間(図19のN1相当)1秒がこの程度に短縮される。
以上の計測を、正弦波発振器25とバンドパスフィルタ
16の周波数を所定量例えば1HZずつ変更して、所定
の周波数範囲にわたって繰返し行い、図15に相当する
データを得る。なお、周波数を変えた直後は磁歪発振子
22の振動が直ちには安定しないので、そのときの周期
の10倍程度待ってから計測する必要があるが、このこ
とは従来でも同様である。
【0023】計測方法のフローチャートを図3に示す。
図3のステップのスタートの前に、まず、測定対象であ
るコンクリートの一面に図1のように磁歪発振子22と
受波器3とを設置する。計測をスタートすると、計測す
べき周波数幅(fn〜fm)の端(上端でも下端でも良
い)の周波数f1を決定する(S1)。次に正弦波発振
器25とバンドパスフィルタ16に周波数f1の指令を
行い設定する(S2)。正弦波発振器25の発振が安定
するまで1周期の10倍程度の時間待ちを行う(S
3)。サンプルホールド17、18に1/(4f1)の
時間差で指令を送る(S4)。サンプルホールド17、
18がV1、V2のサンプリングを行う時間の間待つ
(S5)。マルチプレクサ19でV1、V2を取込み、
演算してf1にたいする振幅値V0を得る(S6)。こ
こでV0に対して磁歪発振子22の周波数特性に応じた
補正(図18の相当周波数の発信出力により除算する)
を行っても良い(S7)。上記で1つの周波数f1にた
いする振幅値V0を得たが、計測すべき全周波数(n=
2〜n)の計測はまだ完了していない(S8)。同じこ
とを繰返し行うためにnを(n+1)として、例えば1
HZ異なる周波数を設定する(S9)。周波数f(n+
1)に対してS1〜S8のステップを繰返す。上記手順
をfn〜fmまで必要な周波数幅にわたって実行し、図
15のグラフを得て、その極大点から共振周波数を求め
る(S10)。求めた共振周波数から板厚を演算するの
は従来例で説明した式(1)によればよいので説明は省
略する。
【0024】以上説明した計測方法によれば、1つの計
測においては発振子22を励振する基本周波数1波の振
幅データしか計測しないので、BPF16の通過帯域幅
をきわめて狭くすることが出来ると共に、各周波数毎に
受信結果に対して発振出力に応じた振幅データの補正を
行うことも出来るので、ノイズの影響を排除できると共
に、計測が正確に行える。
【0025】次にこの計測を行うに要する時間について
説明する。ステップS1〜S3までは従来の場合と同様
なので、例えば1/100秒程度である。また、前述の
とおり、ステップS4からステップS8までは1回当り
1/2000秒程度で終了するので、S1からS8まで
は21/2000秒程度の時間で終了する。100周波
数分の計測を行い、更にS10のステップ(1秒程度)
を考慮しても (21/2000)×100+1≒2秒 程度で終了するので、図19の場合に比して格段に計測
時間が短縮されているということが出来る。図4は実施
の形態1による計測時間を図にしたものである。図中n
1……n100は図3のフローS1〜S9の繰返し10
0回を示す。
【0026】タイミング信号発生器15とサンプルホー
ルド回路17とマルチプレクサ19によつて第1の振幅
計測手段を構成している。また、タイミング信号発生器
15とサンプルホールド回路18とマルチプレクサ19
で第2の振幅計測手段を構成している。マイコン12と
メモリ13は、(2)式を含む演算を行って送信周波数
における受信波振幅を求める演算手段を構成していると
ともに、互いに異なる周波数列を構成し、正弦波可変周
波数発振器と可変周波数バンドパスフィルタに前記周波
数列の周波数を順次、所定の時間間隔で指示するコント
ローラをも兼ねている。
【0027】図1の説明に於いて、バンドパスフィルタ
16は例えば遮断周波数を基本周波数の1.5倍程度に
設定したローパスフィルタでも実用上差支えない。増幅
器6〜トランジスタ7に至る駆動回路は一例を示したも
のにすぎず、この回路でなければならぬと言うものでは
ない。又、測定対象物としてコンクリートの場合につい
て説明したが、コンクリートに限らず金属、プラスチッ
ク、液体などにも使用できることは言うまでもない。
【0028】実施の形態2.この発明の第3の発明の実
施の形態2による音波利用計測装置の構成を図5に示
す。図5に於いて20はタイマーである。正弦波信号発
振器25とバンドパスフィルタ16は図1と同様マイコ
ン12からの指令(仮にfとする)によって周波数が設
定されるものである。 バンドパスフィルタ16はタイ
ミング信号発生器15の指令があったときに、設定され
た周波数成分のみを通過させるきわめて狭帯域の特性を
有するものである。図5の構成の場合の計測のフローを
図7のフローチャートに示す。タイマー20は図6に示
すように1/(4f)の時間差を置いてタイミング信号
を2回発生する。最初のタイミング信号をt1、2度目
のものをt2と呼ぶ。最初のタイミング信号t1が発生
したとき、一度A/D変換した値をV1、そして一度A
/D変換した後タイマー20を使って正確に1/(4
f)、(90゜遅れ)時間後に2回目のタイミング信号
t2が発生したとき、再度A/D変換した値をV2とす
ると、基本波の波高値V0は実施の形態1に示した
(2)式で算出できる。ただし、図5のものでは、周波
数が高くなったときに1/(4f)が短い時間となるの
で、マイコン12の処理速度の関係で、サンプリングタ
イムの精度が悪化し、算出精度が悪くなると言う問題が
ある。つまり図5のものは周波数が比較的低いときに有
効と言える。
【0029】1/(4f)に相当する時間離れた2つの
信号t1、t2は、タイマー20から発信するとして説
明したが、タイミング信号発生回路15で行ってもよ
く、また、タイマー20はマイコン12でソフト的に構
成するものでも良いことは言うまでもない。
【0030】図7のフローは各ステップ毎に実行する内
容をフロー図内に記載しているので、特にフローのステ
ップを追う説明は行わない。次に計測所要時間について
説明する。ステップS11〜S13までは実施の形態1
の図3と同様で、その所要時間は例えば1/100秒程
度である。ステップS14からステップS19までは実
施の形態1に説明した変換を2度行うので例えば2/2
000秒程度で終了する。したがってS11〜S19に
至るまでは22/2000秒程度の時間で終了し、10
0周波数分の計測を行い、更にS20のステップ(1秒
程度)を考慮しても (22/2000)×100+1≒2.1秒 程度で終了するので、図19の従来の場合に比して格段
に計測時間が短縮されているということが出来る。
【0031】図8は実施の形態2による計測方法の計測
時間を図にしたものである。図中n1……n100は図
7のフローS11〜S19の繰返しを示す。
【0032】以上の説明では、コンクリート中の音速が
既知で、厚さを計測するとして説明したが、厚さが既知
で音速を計測する場合も同様である。また厚さでなくコ
ンクリート中にあるひび割れや異物の位置を知る場合で
も同様であることは言うまでもない。
【0033】マイコン12とメモリ13は、(2)式を
含む演算を行って前記送信周波数における受信波振幅を
求める演算手段を構成している。図5の説明に於いて、
バンドパスフィルタ16は例えば遮断周波数を基本周波
数の1.5倍程度に設定したローパスフィルタでも実用
上差支えない。増幅器6〜トランジスタ7に至る駆動回
路は一例を示したものにすぎず、この回路でなければな
らぬと言うものではない。
【0034】実施の形態3.この発明の第4の発明の音
波利用計測装置を実施の形態3として図9にその構成を
示す。図に於いて、14は増幅率可制御増幅器(オート
ゲインアンプ)であり、マイコン12からの設定で任意
にゲインを代えることが可能である。それ以外の部分は
図1の構成と同じでその動作も同じである。オートゲイ
ンアンプ14は磁歪発振子22の周波数特性に応じて、
例えば設定周波数が低いときゲインをあげて駆動電流を
増加させ、高いときに減少させて発振出力が設定周波数
に係わらず一定になるように制御する。従来のようにパ
ルスで駆動し生じる振動に含まれる全周波数を同時に用
いる場合には、特定周波数のみの出力調整は不可能であ
るが、本発明においては基本波しか用いていないので出
力調整が可能となるのである。具体的には、事前に反射
波が無視できるぐらいに厚みの厚いコンクリート構造物
に、磁歪発振子22と受波器3を取付け、センサ3で検
出される基本波の振幅を測定する。図10は磁歪発振子
22に一定値の直流バイアス電流と一定値の正弦波電流
を流したときの、磁歪発振子22の出力する振動加速度
(無論基本波成分のみ)と設定周波数の関係の実測例で
ある。設定周波数を順次変化させて得たデータである。
振動出力は大体周波数の二乗に比例しているが、所々に
不連続点が現れる。これは発振子材料の非線形性、構造
寸法によって定まる自己共振点などの影響によるものと
思われる。
【0035】そして、使用する周波数範囲全体で上記基
本波振幅が一定になるようにオートゲインアンプ14の
ゲイン(周波数特性)を決定し、その周波数特性(例え
ば図11)をメモリ13に保存しておき、計測を行うと
きに発振周波数を変化させる度に、その周波数に対応し
たゲインに設定を変更し計測する。こうすることで振動
出力が周波数に係わらず一定となり、正確なピーク周波
数の計測が出来るようになる。勿論使用する最高周波数
以上、最低周波数以下ではオートゲインアンプ14の増
幅率は出来るだけ低くしておくのがよい。
【0036】図10の特性を得る他の方法として、磁歪
発振子22をフリー(コンクリートに取付けないの意、
例えば床に寝かせるなど)の状態にして、発振子22の
重り22cの壁に押しつける側に直接受波器3を取付け
て、周波数を変えながら、受波器3の検出する基本波の
波高値又は振幅が一定になるようにオートゲインアンプ
14のゲインを決定しても良い。オートゲインアンプ1
4を発振補正増幅器という。
【0037】実施の形態3の説明は実施の形態1の図1
のものに適用した場合について説明したが、実施の形態
2の図5のものに適用することも可能である。
【0038】実施の形態4.この発明の第5の発明の構
成を実施の形態4として図12に示す。10aは増幅率
可制御増幅器(オートゲインアンプ)でマイコン12か
らの設定で任意にゲインを変えることが出来る。それ以
外の部分は実施の形態1の図1と同じである。磁歪発振
子22への駆動電流が一定であるとすれば、オートゲイ
ンアンプ10aのゲインは、周波数が低いときは受波器
3の出力が小さいのでゲインをあげ、高いときは下げ
る、即ちオートゲインアンプ10aの特性は実施の形態
4の図11と同じである。測定を行う前に、反射波が無
視できるぐらいに厚みの厚いコンクリート構造物に、磁
歪発振子22と受波器3を取付け、受波器3で検出され
る基本波の振幅特性(図10に相当)を測定する。これ
を補正する特性は図11のようになるがこれをメモリー
13に保存しておき、測定に際して計測した波高値にた
いして、保存しておいた特性値で除算し、その商を使用
することで磁歪発振子22の出力の周波数にたいする変
動の影響を受けずに正確に波高値のピークとなる周波数
を知ることが可能である。
【0039】大きなコンクリート構造物がない場合は実
施の形態3に説明したように、発振子22に直接受波器
3を取付けて特性を採っても良い。
【0040】オートゲインアンプ10aのゲインは、市
販品であれば8段階程度であるのが通常であるので、実
施の形態3の図9のオートゲインアンプ14のみを使っ
て振動出力を使用する全周波数範囲にわたって一定化す
るのは困難になる。又、図12のオートゲインアンプ1
0aのみで数mV〜数Vの信号を取込むのもホワイトノ
イズがあるため困難である。そこで図9と図12の両方
を併用して、増幅率を分担化するのがよい。周波数によ
ってオートゲインアンプ14のゲインを決めておき変化
させる点は実施の形態3と、それ以外は実施の形態4と
同じ構成ならびに動作となる。オートゲインアンプ10
aは受波補正増幅器である。受波補正増幅器10aは増
幅器でなくともいわゆるデバイダーであっても同様の目
的を達成することは可能である。
【0041】
【発明の効果】以上のように第1の発明による音波利用
計測方法は、磁歪発振子を1つの周波数で駆動し、受波
に際してはこの1つの周波数成分のみの振幅測定を行う
手順を用い、この周波数を少し変えて再度同じ計測を行
うという手順を繰返しているので、受信にきわめて狭帯
域のバンドパスフィルタを用いることが可能となり、計
測が雑音にじゃまされることが無く、正確に行うことが
出来るという効果を奏する。
【0042】第2、第3の発明による音波利用計測装置
では、従来のようにフーリエ変換するのでなく、1周期
の1/4の時間離れた2つの振幅データから信号振幅を
演算で求めているので、格段に計測時間を短縮すること
が出来、その結果必要な計測時間の間、発振子やセンサ
を一定の力で対象物に押しつけていることが容易とな
り、時間的効率の向上と共に測定精度の向上が得られる
と言う効果がある。
【0043】第4の発明によれば、磁歪発振子を用いて
いるにも係わらず、発振周波数を変化させても発振子の
振動加速度が変化せず、測定対象の共振周波数のピーク
値が磁歪発振子の特性によって影響されることなく正確
に捕えうると言う効果が得られる。
【0044】第5の発明によれば、磁歪発振子を用いて
いるにもかかわらず、発振周波数を変化しても検出する
振動加速度信号の大きさが、磁歪発振子の出力変動に対
して補正されているので、測定対象の共振周波数のピー
クを正確に捕えることが出来るという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による音波利用計測
装置の構成図である。
【図2】 図1中のタイミング信号発生器の出力信号説
明図である。
【図3】 図1の計測装置の動作フロー説明図である。
【図4】 図3のフローチャートの実行時間説明図であ
る。
【図5】 実施の形態2による音波利用計測装置の構成
図である。
【図6】 タイマーの出力信号説明図である。
【図7】 図5の動作フローチャートである。
【図8】 図6のフローチャートの実行時間説明図であ
る。
【図9】 実施の形態3による音波利用計測装置の構成
図である。
【図10】磁歪発振子の駆動電流一定の場合の振動出力
周波数特性図である。
【図11】図9のオートゲインアンプの周波数特性を示
す図である。
【図12】実施の形態4による音波利用計測装置の構成
図である。
【図13】従来の音波利用計測装置の構成原理図であ
る。
【図14】図8の詳細構成図である。
【図15】図13の音波利用計測装置が得るデータの説
明図である。
【図16】磁歪発振子の構造説明図である。
【図17】磁歪発振子の励磁電圧説明図である。
【図18】磁歪発振子の出力周波数特性図である。
【図19】図13の音波利用計測装置の動作時間を説明
する図である。
【符号の説明】
1 コンクリート壁 2
磁歪発振子 3 加速度センサ(受波器) 4
計測装置本体 5 矩形波パルス可変周波数発振器 10a 増幅率可制御増幅器(オートゲインアンプ)
(受波補正増幅器) 12 マイコン 14 増幅率可制御増幅器(オートゲインアンプ)(発
振補正増幅器) 15 タイミング信号発生器 16
バンドパスフィルタ 17、18サンプルホールド回路 19
マルチプレクサ 25 正弦波周波数可変発振器 32 スペクトル解析器

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記ア)〜オ)の手順を用いることを特
    徴とする音波利用計測方法。 ア)測定対象物の一面に磁歪発振子と受波器とを設置す
    る手順。 イ)前記磁歪発振子を任意の1つの周波数で励振しこの
    測定対象物の内部に向けて音波を送信する手順。 ウ)この測定対象物の対向面又は内部の傷からの反射波
    を前記受波器で受信して、前記周波数の成分における受
    信波振幅を測定する手順。 エ)上記イ)ウ)の手順を前記1つの周波数と異なり、
    且つ、互いに異なる周波数で複数回繰返し行う手順。 オ)前記繰返し行ったイ)ウ)の手順によって得られた
    複数の異なる周波数に対する前記受信波振幅が極大とな
    る周波数値から、この測定対象物の厚さ又は前記内部の
    傷までの距離又はこの測定対象物中の音速を演算する手
    順。
  2. 【請求項2】 測定対象物の一面に設置した磁歪発振子
    と受波器、 前記磁歪発振子を他から指令される任意の周波数で励磁
    する正弦波可変周波数発振器、 前記受波器から前記他から指令される任意の周波数の信
    号を抽出する可変周波数バンドパスフィルタ、 前記磁歪発振子が前記周波数で送信している間の任意の
    時刻に、前記可変周波数バンドパスフィルタの出力端で
    受信波振幅(V1)を計測する第1の振幅計測手段、 この第1の振幅計測手段の動作時刻の後、前記周波数の
    1/4周期の時間差で前記可変周波数バンドパスフィル
    タの出力端で同じ周波数の受信波振幅(V2)を計測す
    る第2の振幅計測手段、 V0={(V1)2+(V2)21/2 なる式を含む演
    算によって、前記送信周波数における受信波振幅(V
    0)を求める演算手段、 所定の法則に従い、かつ互いに異なる周波数からなる周
    波数列を構成し、前記正弦波可変周波数発振器と前記可
    変周波数バンドパスフィルタに前記周波数列の周波数を
    順次、所定時間間隔で指示するコントローラを有するこ
    とを特徴とする音波利用計測装置。
  3. 【請求項3】 測定対象物の一面に設置した磁歪発振子
    と受波器、 前記磁歪発振子を他から指令される任意の周波数で励磁
    する正弦波可変周波数発振器、 前記受波器から前記他から指令される任意の周波数の信
    号を抽出する可変周波数バンドパスフィルタ、 前記磁歪発振子が前記周波数で送信している間の任意の
    時刻に、この送信周波数の1/4周期の時間差で2つの
    タイミング信号t1、t2を発生するタイミング信号発
    生回路、 前記可変周波数バンドパスフィルタの出力端で、前記タ
    イミング信号t1を与えられたとき受信波の振幅(V
    1)を計測し、t2を与えられたとき受信波の振幅(V
    2)を計測する第3の振幅計測手段、 V0={(V1)2+(V2)21/2 なる式を含む演
    算によって、前記周波数における受信波振幅(V0)を
    求める演算手段、 互いに異なる周波数からなる周波数列を構成し、前記正
    弦波可変周波数発振器と前記可変周波数バンドパスフィ
    ルタに前記周波数列の周波数を順次、所定時間間隔で指
    示するコントローラを有することを特徴とする音波利用
    計測装置。
  4. 【請求項4】 磁歪発振子の励磁信号を、この磁歪発振
    子の周波数対基本波出力振幅特性に反比例して補正する
    増幅率可制御増幅器からなる発振補正増幅器を有するこ
    とを特徴とする請求項2に記載の音波利用計測装置。
  5. 【請求項5】 受波器で受波した信号を、あらかじめ測
    定した磁歪発振子の周波数対基本波出力振幅特性に反比
    例して補正する増幅率可制御増幅器からなる受波補正増
    幅器を有することを特徴とする請求項2に記載の音波利
    用計測装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1028314A1 (en) * 1998-09-01 2000-08-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for nondestructive testing
WO2002016925A1 (fr) * 2000-08-23 2002-02-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Dispositif non destructif d'inspection
JP2002095088A (ja) * 2000-09-13 2002-03-29 Masahiro Nishikawa 磁歪超音波素子及びこれを利用した非破壊検査方法
JP4050470B2 (ja) * 1999-03-01 2008-02-20 株式会社エッチアンドビーシステム 超音波探知装置及びそれを使用した超音波探知方法
JP2009025103A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Tokyo Electric Power Co Inc:The 反射法探査システム
JP2012013522A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Korea Atomic Energy Research Inst 超音波を用いる低周波数振動加振方法および装置
JP2018091685A (ja) * 2016-12-01 2018-06-14 国立研究開発法人産業技術総合研究所 検査装置および検査方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5942687A (en) * 1998-04-01 1999-08-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method and apparatus for in situ measurement of corrosion in filled tanks
JP3581262B2 (ja) * 1998-10-07 2004-10-27 有限会社オープンハート 超音波波形を利用した媒質中の異物の非破壊検出方法
US6205859B1 (en) * 1999-01-11 2001-03-27 Southwest Research Institute Method for improving defect detectability with magnetostrictive sensors for piping inspection
US6427536B1 (en) * 1999-12-13 2002-08-06 International Business Machines Corporation Method and system for measuring anisotropic material properties
US6880403B1 (en) * 2000-08-28 2005-04-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Structure inspection device
US7573159B1 (en) 2001-10-22 2009-08-11 Apple Inc. Power adapters for powering and/or charging peripheral devices
US20070121423A1 (en) * 2001-12-20 2007-05-31 Daniel Rioux Head-mounted display apparatus for profiling system
CA2366030A1 (en) * 2001-12-20 2003-06-20 Global E Bang Inc. Profiling system
US6731225B2 (en) * 2002-02-14 2004-05-04 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for detecting and measuring thickness of ice on aircraft
US7093492B2 (en) * 2004-03-19 2006-08-22 Mechworks Systems Inc. Configurable vibration sensor
WO2006054330A1 (ja) * 2004-11-16 2006-05-26 H & B System Co., Ltd. 共振現象を利用した超音波探査方法およびその装置
CN1908649B (zh) * 2006-08-03 2010-05-12 长安大学 一种混凝土结构层析成像检测系统
US9836945B2 (en) 2011-12-01 2017-12-05 Mark Kramer Wireless appliance vibration sensor monitor and method
SE536842C2 (sv) * 2012-09-24 2014-09-30 Totalförsvarets Forskningsinstitut FOI Anordning och metod för att på avstånd fastställa impulssvaret hos ett objekt med hjälp av elektromagnetisk strålning
WO2016132282A1 (en) * 2015-02-20 2016-08-25 Tata Consultancy Services Limited Anomaly detection system and method
CN108931215B (zh) * 2018-07-27 2024-02-02 山东大学 混凝土长度测量仪及使用方法
CN110455704B (zh) * 2019-09-09 2020-09-29 中南大学 一种混凝土材料抗硫酸盐侵蚀性能检测方法及系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3938072A (en) * 1974-03-18 1976-02-10 Charles Baird Resonance earth structure logging
US4305294A (en) * 1980-01-10 1981-12-15 Rockwell International Corporation Ultrasonic apparatus and method for measuring wall thickness
DE3113025A1 (de) * 1981-04-01 1982-10-21 Battelle-Institut E.V., 6000 Frankfurt "verfahren und vorrichtung zur dickenkontrolle bzw.-messung von materialschichten"
US4566084A (en) * 1982-09-30 1986-01-21 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Acoustic velocity measurements in materials using a regenerative method
JP2581916B2 (ja) * 1987-04-03 1997-02-19 株式会社 東横エルメス コンクリ−トの厚さ又は内在ひび割れ深度の測定方法
US5009103A (en) * 1988-02-01 1991-04-23 Tokyo Keiki Co., Ltd. Ultrasonic thickness measuring method and apparatus
US6188643B1 (en) * 1994-10-13 2001-02-13 Schlumberger Technology Corporation Method and apparatus for inspecting well bore casing
JPH08334431A (ja) * 1995-06-09 1996-12-17 Mitsubishi Electric Corp 非破壊検査装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1028314A1 (en) * 1998-09-01 2000-08-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Apparatus for nondestructive testing
EP1028314A4 (en) * 1998-09-01 2001-11-07 Mitsubishi Electric Corp NON-DESTRUCTIVE TEST DEVICE
JP4357120B2 (ja) * 1998-09-01 2009-11-04 三菱電機株式会社 非破壊検査装置
JP4050470B2 (ja) * 1999-03-01 2008-02-20 株式会社エッチアンドビーシステム 超音波探知装置及びそれを使用した超音波探知方法
WO2002016925A1 (fr) * 2000-08-23 2002-02-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Dispositif non destructif d'inspection
JP3725515B2 (ja) * 2000-08-23 2005-12-14 三菱電機株式会社 非破壊検査装置
JP2002095088A (ja) * 2000-09-13 2002-03-29 Masahiro Nishikawa 磁歪超音波素子及びこれを利用した非破壊検査方法
JP2009025103A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Tokyo Electric Power Co Inc:The 反射法探査システム
JP2012013522A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Korea Atomic Energy Research Inst 超音波を用いる低周波数振動加振方法および装置
JP2018091685A (ja) * 2016-12-01 2018-06-14 国立研究開発法人産業技術総合研究所 検査装置および検査方法

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