JPH10251892A - 電気メッキ方法 - Google Patents

電気メッキ方法

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JPH10251892A
JPH10251892A JP7277997A JP7277997A JPH10251892A JP H10251892 A JPH10251892 A JP H10251892A JP 7277997 A JP7277997 A JP 7277997A JP 7277997 A JP7277997 A JP 7277997A JP H10251892 A JPH10251892 A JP H10251892A
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plating film
film
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hole
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JP7277997A
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Fumihiro Yamazaki
文宏 山崎
Masahiko Ejiri
雅彦 江尻
Hidenori Kitago
秀紀 北郷
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 メッキ膜の表面に凹凸を生じさせず、メッキ
膜の組成を均一にすることのできる電気メッキ方法を提
供すること 【解決手段】 メッキ槽1に充填されたメッキ液2内に
アノード3とカソード4を挿入し、カソードの表面には
基板5を配置する。メッキ槽の底面に超音波発振器11
を配置する。基板の表面には孔部13aが形成されたレ
ジスト層13が積層されており、孔部の底面にはメッキ
ベース12が露出されている。メッキ液に電流を流して
孔部底面にメッキ膜14を形成し、同時に、メッキ膜形
成時にメッキ液に微振動を与える。すると、表面に気泡
15が付着していたとしても、孔部内のメッキ液に微振
動が伝わり、気泡は除去される。よって、メッキ膜表面
に凹凸が生じない。また、微振動により孔部内のメッキ
液は攪拌され、組成が均一となるので、組成が均一なメ
ッキ膜が形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気メッキ方法に
関するもので、例えば、薄膜磁気ヘッドの製造方法にお
いて、磁極層,コイル等の薄膜を形成するために用いら
れる電気メッキ方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の電気メッキ方法としては、例えば
図2,図3に示すような方法がある。図2は、メッキ液
を循環させながらメッキを行う方法を示している。同図
に示すように、メッキ槽1内にメッキ液2を充填した状
態で、メッキ液2中にアノード3とカソード4を挿入す
る。このとき、メッキ液2内に挿入されたカソード4の
表面に、メッキ膜の形成を行う被メッキ部品である基板
5を配置し、基板5全体をメッキ液2に浸す。この状態
で、アノード3,カソード4間に通電することにより、
メッキ液2中のイオンが基板5のメッキ膜形成面5aに
析出し、メッキ膜が形成される。
【0003】ところで、電気メッキを行うと、メッキ液
中のイオンの析出に伴い、メッキ液内の組成比が均一で
なくなる。そして、そのままメッキを続けると、成膜さ
れたメッキ膜の組成が、メッキ開始当初の基板5に近い
部分と、終了直前に形成された表面付近の部分の組成比
が異なってしまう。また、このように厚さ方向に限ら
ず、面方向でもばらつくことがある。
【0004】そこで、従来は図示するようにメッキ槽1
の側面に配管6a,6bを取り付けるとともに、その配
管6a,6bの他端を管理槽7に接続することにより、
メッキ液の循環経路を形成する。さらに、管理槽7から
メッキ槽1へ戻る経路を構成する配管6bの途中に循環
ポンプ8及びフィルタ9を設ける。これにより、循環ポ
ンプ8を作動させることによって、メッキ槽1と管理槽
7との間でメッキ液2を循環させ、その途中でフィルタ
9によってメッキ液2の不純物を取り除くようにしてい
る。
【0005】上記の循環に従って、メッキ槽1内でもメ
ッキ液2の流れが生じて、メッキ液が攪拌され、これに
より、メッキ層1内のメッキ液2の組成比が常に均一に
なるようにしている。
【0006】また、上記したように、循環する装置を設
けるのではなく、簡易的な組成比を均一化する方法とし
ては、図3に示すように、パドル10によりメッキ液
2、特に基板5のメッキ膜形成面5aの付近のメッキ液
を攪拌しながら、電気メッキを行う方法もある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、電気メッキ
を行った場合には、電気メッキ中にガスが発生するもの
がある。一例を示すと、Ni−Feをメッキする場合に
は、H2 ガスが発生する。そして、その発生したガスの
一部は気泡として基板5の表面や形成途中のメッキ膜の
表面に付着する。
【0008】そして、そのように気泡が付着したままの
場合には、係る気泡の部分には、その後イオンが析出せ
ずにメッキ膜が形成されない。その結果、メッキ膜表面
に凹凸が生じてしまう。そして、そのメッキ膜がそのま
ま外表面になる場合はもちろんのこと、その上に別の膜
をさらに成膜したとしても、係る膜が薄膜の場合には、
その凹凸のメッキ膜表面に沿って成膜されるので、外表
面に凹凸が生じ外観不良となる。
【0009】また、外観に影響を与えない場合であって
も、そのメッキ膜は部分的に膜厚が薄くなるところが生
じ、設計通りの特性が得られなくなる。そして、最悪の
場合には、不良品となるので歩留まりの低下もきたすこ
とになる。
【0010】そして、図2,図3に示した従来の品質・
組成の均一化のために攪拌処理を行うことにより、副次
的に上記発生した気泡の除去効果も期待できる。つま
り、メッキ液2の循環・攪拌に従って、メッキ槽1内で
もメッキ液2の流れが生じ、メッキ膜形成面5aに当た
るので、メッキ膜形成面5aに発生した気泡が、係る流
れに乗って移動して除去される。
【0011】しかしながら、上記した従来のメッキ液2
をメッキ槽1内で移動させることによる気泡の除去効果
は、あくまでも副次的なもので、十分なものとはいえ
ず、除去できずに気泡が最後まで残ってしまったり、或
いは仮に除去できたとしても、気泡が付着してから除去
されるまでに時間がかかり、その間に気泡が付着されて
いない部分でメッキ成長が進んでしまうことがある。
【0012】すなわち、係るメッキ液2の流れは、比較
的大きな流れであり、特に図2の方式では基板5の全面
に流れているメッキ液が当たることになり、しかも、メ
ッキ膜形成面5aには直接当たりにくい配置構成となっ
ている。また、図3に示すパドル10による攪拌処理を
した場合には、図2の方法に比べると液体の流れは部分
的ではあるが、それでも、メッキ液形成面5aに沿って
なめらかな流れとなる。その結果、気泡が発生した周囲
に障害物などがあると、係るメッキ液の流れが係る気泡
の部分にまで到達することができないので、気泡の除去
ができなくなる。
【0013】この現象は、特にメッキ膜形成面5aに部
分的にメッキ膜を形成する場合に生じやすくなる。つま
り、部分的にメッキする場合には、メッキしない部分を
パターニングしたレジストで覆うことになり、レジスト
の孔部内に露出したメッキ膜形成面上にメッキ膜を成長
させることになる。従って、係るレジストが上記の障害
物として機能し、孔部の奥側に気泡が発生した場合に
は、上記したいずれの方式でもメッキ液の流れが気泡発
生部位まで到達せず、気泡を除去できなくなる過、仮に
できたとしても、非常に時間がかかってしまう。さらに
は、係る孔部の寸法形状が小さいと、上記問題がより顕
著となる。
【0014】すると、上記したように気泡発生に基づく
凹凸・特性の変化の問題を生じてしまい、品質のばらつ
き・低下を伴うとともに、劣化の程度が過大きくなる
と、不良品となり、歩留まりの低下もきたすことにな
る。
【0015】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題点を解
決し、電気メッキによるメッキ膜形成の領域が、たとえ
微小な凹部内の領域であっても、付着した気泡を迅速に
除去することができ、気泡の付着によりメッキ成長を抑
制することがなく、メッキ膜の表面に凹凸を生じさせ
ず、メッキ膜の組成を均一にする電気メッキ方法を提供
することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明に係る電気メッキ方法では、メッキ液内に
挿入した被メッキ部品(実施の形態では、「基板5」に
対応)の表面(実施の形態では、「メッキ膜形成面5a
およびまたはメッキベース12」に対応)にメッキ膜を
形成するに際し、前記メッキ膜の形成領域付近を含むメ
ッキ液を微振動させながら電気メッキをすることによ
り、前記メッキ膜の形成を行うようにした(請求項
1)。
【0017】請求項1に記載するように、メッキ膜の形
成領域付近のメッキ液に微振動を与えることにより、仮
に、被メッキ部品及びまたは形成途中のメッキ膜の表面
に気泡が付着したとしても、その気泡に微振動が伝わる
ので、付着してもすぐに気泡が剥離される。その結果、
メッキ成長させる表面は、常時気泡がない状態となり、
その表面形状に沿ってきれいに均一な膜厚からなるメッ
キ膜が形成される。
【0018】また、メッキ膜の形成領域付近のメッキ液
に微振動が伝わることにより、その周囲のメッキ液が攪
拌され、メッキ液の組成が均一となる。そして、この攪
拌は、微振動により細かく攪拌されることになるので、
従来のメッキ液の流れ等による攪拌よりも高速・緻密に
行われ、メッキ成長させる周囲のメッキ液の組成も常時
均一な状態が保てるようになる。よって、形成されるメ
ッキ膜の組成も、均一となる。
【0019】そして、前記微振動は、各種の方法により
行うことができるが、例えば、超音波発振器により発生
させることができる(請求項2)。超音波発振器を用い
ると、メッキ液に生じさせる微振動を非常に微小なもの
にすることができる。よって、より微小な領域に電気メ
ッキを行っても、形成されるメッキ膜の表面に凹凸が生
じず、メッキ膜の組成が均一となる。
【0020】また、本発明が対象とする被メッキ部品の
メッキ形成領域は、その表面全面に対して行うものでも
よく、或いは、表面の一部に部分的にメッキ膜を形成す
るものでも良い。そして、後者の利用態様を限定したの
が、請求項3である。すなわち、前記被メッキ部品の表
面は、所定形状の孔部を有するレジスト層で覆われたも
のであり、前記孔部内に前記メッキ膜を形成するように
した(請求項3)。
【0021】このように、孔部により露出する表面にメ
ッキ膜を形成する場合には、係る孔部の内周面と被メッ
キ部品の表面とにより凹部が形成されることになる。す
ると、レジスト層の陰になり、凹部内はメッキ液の流れ
があまりないよどみ部分となり、さらに、孔部の内周面
など気泡が付着しやすくなるが、本発明では、メッキ液
を微振動させることから、たとえ係る凹部・孔部内に気
泡が付着していても、確実に振動させ、迅速に短時間で
気泡を除去させることができる。このことは、孔部の寸
法形状が小さく、微小領域にメッキ膜を形成する場合も
同様である。よって、所望のパターン形状にメッキ膜を
形成することができる。
【0022】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る電気メッキ方
法の好適な一実施の形態を行うための装置を示してい
る。同図(A)に示すように、電気メッキを行うための
基本的な構成は、上記した従来のものと同様で、メッキ
槽1内に充填したメッキ液2内に、アノード3と、カソ
ード4が対向状態で挿入されている。そして、アノード
3,カソード4はそれぞれ電源装置(図示省略する)の
陽極,陰極に接続されており、アノード3,カソード4
を通してメッキ液2に電流を流すことができる。
【0023】ここで、メッキ槽1の内部底面に超音波発
振器11を配置している。超音波発振器11は周囲を耐
酸性の樹脂によって形成されたカバーで覆われており、
超音波発振器11がメッキ液により腐食されるのを防止
している。係る超音波発振器11により、発振された超
音波をメッキ液2に微振動として伝えることができる。
【0024】次に、上記装置を用いて本発明に係る電気
メッキ方法の一実施の形態を説明する。基本的な処理
は、従来の工程のものと同様に行うことができ、カソー
ド4に基板5を取り付けた状態でカソード4をメッキ液
2に浸漬する。そして、通常では、この後に電源装置を
オンにしてアノード3,カソード4間のメッキ液中に電
流を流すことになるが、本発明では、係る通電に先立
ち、超音波発信器11を作動させ、メッキ液2中に超音
波を発生させる。この状態で通電を開始し、基板5のメ
ッキ膜形成面5に、メッキ液2中に溶融しているイオン
を析出させ、所望の組成比からなるメッキ膜を成膜す
る。
【0025】この時、ガスが発生し、その一部がメッキ
膜形成面5aに気泡として付着することがあるが、本形
態では、超音波を発生させて基板5(メッキ膜形成面5
a)及びその周辺に存在するメッキ液2を微振動させて
いるため、その微振動により気泡が基板5メッキ膜形成
面5aからすぐに離脱し、除去される。従って、気泡の
ない平坦な面に対してメッキ成長が行われるので、最終
的に形成されたメッキ膜の外表面も凹凸のないきれいな
ものとなる。また、そのように凹凸がないことから、膜
厚も全面均一になる。
【0026】また、本形態では、従来のように液体の流
れではなく、超音波によりメッキ液を超音波振動させる
ため、たとえ障害物があって流れのないよどみ部分に位
置するメッキ液であっても、振動させることができ、確
実にしかも気泡の付着から短時間でその気泡の除去が行
える。
【0027】その結果、メッキ膜形成面5aの一部をマ
スキングして部分的にメッキ膜を形成するような場合
に、マスキング材によってメッキ液のよどみが生じて
も、気泡を除去でき、確実に所望の膜厚のメッキ膜を形
成できる。
【0028】一例を示すと、図1(B)に示すように、
基板5のメッキ膜形成面5aに形成したメッキベース1
2上にパターニングしたレジスト層13が形成されてい
る。このレジスト層13は、露光現像処理によって所定
形状の孔部13aが形成され、この孔部13aの底面
に、メッキベース12の表面が露出される。そして、こ
のようにレジスト層13が設けられた基板5をメッキ液
2内に浸漬した状態で通電すると、メッキベース12の
露出部分にメッキ膜14が形成される。
【0029】このとき、所定のガスが発生し、メッキベ
ース12上、或いは形成途中のメッキ膜14の表面に気
泡15が付着することがある。この気泡15は、図示す
るように、孔部13a内で、レジスト層13の陰になる
箇所に発生しているが、本形態では、超音波発振器11
によってメッキ液2に微振動(超音波)を与えるので、
基板5の表面付近のメッキ液2に微振動が伝わり、基板
5の表面に存在する孔部13a内メッキ液2も微振動が
伝わるので、気泡15は付着面との間の密着力が弱めら
れて剥離される。よって、メッキは、気泡のない平坦な
メッキベース12の表面に成長するので、表面に凹凸は
生じない。
【0030】また、メッキ膜14の形成領域付近のメッ
キ液2は、微振動が伝わることにより攪拌されるので、
メッキ液2の組成が均一となり、形成されるメッキ膜1
4の組成は均一となる。
【0031】さらに、上記した本発明は、例えば薄膜磁
気ヘッドの磁極層やコイル層を形成する際に利用でき
る。すなわち、例えば磁極層は、Ni−Feにより形成
されるので、電気メッキによりメッキ膜形成中にH2
スが発生する。さらに、いずれの層も、パターニングす
ることから図1(B)に示す孔部13aを有するレジス
ト層13でマスキングした状態で電気メッキを行い、ま
た、その孔部13aの幅寸法は、ミクロンオーダーの非
常に小さいものとなる。従って、従来のように液体の流
れを用いた気泡除去方法では、孔部13a内はよどみ部
分となり気泡除去の効果は期待できないが、本形態のよ
うに超音波振動により直接孔部13a内のメッキ液2を
振動させると、気泡を確実に短時間で除去できる。その
結果、凹凸がない、膜厚並びに品質・組成も均一な磁極
層を製造することができ、気泡による磁極層部分の不良
品の発生を可及的に抑制でき、歩留まりの向上を図るこ
とができる。
【0032】なお、上記した実施の形態では、超音波発
振器11を動作させた後で、アノード3−カソード4間
に通電をして電気メッキをするようにしたが、超音波を
発生させる(微振動させる)タイミングはこれに限るこ
とはなく、例えば、アノード3−カソード4間の通電開
始後に、超音波発振器11を動作させるようにしても良
く、また、必ずしも電気メッキ処理中の全期間に渡って
微振動させている必要はない。
【0033】また、この電気メッキ処理中に、従来のよ
うにメッキ槽1内のメッキ液2の攪拌処理を合せて行う
ようにしてももちろん良い。つまり、図1に示す装置構
成において、図3のようにパドルを用いてメッキ液を攪
拌したり、図2に示す装置のメッキ槽1内に超音波発信
器11を設置するなど、各種の手法を用いることができ
る。そのようにすることにより、従来の攪拌によるメッ
キ液の組成比の均一化の効果も合わせて発揮することが
できる。
【0034】なおまた、本発明の具体的な利用態様は、
薄膜磁気ヘッドの製造方法に限るものではもちろんな
く、また、部分的にメッキを形成する場合にそのメッキ
膜を形成する領域が、薄膜磁気ヘッドのように微小な凹
部内の領域に限らず比較的広い領域としてもよく、ま
た、全面に形成する場合ももちろん適用することができ
る。
【0035】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る電気メッキ
方法では、メッキ液に微振動を与えながら電気メッキを
行うようにしたため、メッキ膜を形成する領域が微小で
あるか否かを問わず、被メッキ部品の表面或いは形成途
中のメッキ膜表面に気泡が付着したとしても、その気泡
は上記微振動により迅速に除去することができる。よっ
て、メッキ膜表面に凹凸を発生しないので、外表面がき
れいで、膜厚が均一なメッキ膜を形成できる。また、メ
ッキ膜の表面を覆うようにさらに所定層を形成する場合
であっても、メッキ膜に凹凸がないので、所定層表面に
も凹凸が生じない。
【0036】その結果、部分的に膜厚が薄くなることも
なくなり、メッキ膜部分では所望の特性を発揮させるこ
とができ、メッキ不良に伴う不良品の発生を可及的に防
止でき、製品の歩留まりを向上させることができる。
【0037】また、メッキ膜の形成領域付近のメッキ液
が微振動されることにより、確実かつ緻密に攪拌される
ので、メッキ液の組成は常時均一な状態となる。よっ
て、形成されるメッキ膜の組成も均一となり、高精度で
ばらつきの少ないメッキ膜を形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本発明に係る電気メッキ方法の一実施
の形態を実施するための装置の一例を示した図である。
(B)は本発明に係る電気メッキ方法の一実施の形態を
説明する図で、基板のメッキ形成面を拡大した図であ
る。
【図2】従来の電気メッキ方法を行うための装置の一例
である。
【図3】従来の電気メッキ方法を行うための装置の一例
である。
【符号の説明】
1 メッキ槽 2 メッキ液 3 アノード 4 カソード 5 基板 5a メッキ膜形成面 11 超音波発振器 12 メッキベース 13 レジスト層 13a 孔部 14 メッキ膜

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メッキ液(2)内に挿入した被メッキ部
    品(5)の表面にメッキ膜(14)を形成するに際し、 前記メッキ膜の形成領域付近を含むメッキ液を微振動さ
    せながら電気メッキをすることによって前記メッキ膜の
    形成を行うようにしたことを特徴とする電気メッキ方
    法。
  2. 【請求項2】 前記微振動は、超音波発振器により発生
    させることを特徴とする請求項1に記載の電気メッキ方
    法。
  3. 【請求項3】 前記被メッキ部品(5)の表面は、所定
    形状の孔部(13a)を有するレジスト層(13)で覆
    われたものであり、 前記孔部内に前記メッキ膜(14)を形成することを特
    徴とする請求項1または2のいずれかに記載の電気メッ
    キ方法。
JP7277997A 1997-03-11 1997-03-11 電気メッキ方法 Pending JPH10251892A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100390890B1 (ko) * 1998-11-14 2003-10-08 주식회사 하이닉스반도체 도전층형성방법
CN106011962A (zh) * 2016-07-13 2016-10-12 中南大学 一种超声外场作用下的tsv电镀方法及系统
US20200048786A1 (en) * 2018-08-09 2020-02-13 Yuan Ze University High-speed electroplating method

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