JPH10247784A - Multilayer printed wiring board and manufacture thereof - Google Patents

Multilayer printed wiring board and manufacture thereof

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JPH10247784A
JPH10247784A JP4945197A JP4945197A JPH10247784A JP H10247784 A JPH10247784 A JP H10247784A JP 4945197 A JP4945197 A JP 4945197A JP 4945197 A JP4945197 A JP 4945197A JP H10247784 A JPH10247784 A JP H10247784A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
resin
electroless plating
adhesive layer
wiring board
Prior art date
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Pending
Application number
JP4945197A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuji Hiramatsu
靖二 平松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP4945197A priority Critical patent/JPH10247784A/en
Publication of JPH10247784A publication Critical patent/JPH10247784A/en
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To restrain cracks from occurring in an electroless plating adhesive layer starting from an interface as a starting point between a conductor layer and a resin layer by a method wherein an interlayer insulating resin layer is composed of an electroless plating adhesive layer and a high-toughness resin layer. SOLUTION: In a multilayer printed wiring board, an electroless plating adhesive layer 7 serving as an upper conductor adhesive layer comprised in an interlayer resin insulating layer is laminating on a lower conductor layer 13 and an adjacent plating resist 12 through the intermediary of a high-toughness resin layer 6 and the lower conductor adhesive layer 8. Therefore, a stress induced in the electroless plating adhesive layer 7 at an interface between the conductor layer 13 and the plating resist 12 in a heat cycle is absorbed by the high-toughness resin layer 6, so that cracking is restrained from occurring in the electroless plating adhesive layer 7. Even if cracking occurs in the electroless plating adhesive layer 7, the cracking is stopped from running by the high-toughness resin layer 6, so that a lower conductor layer 13 can be protected against disconnection.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板およびその製造方法に関し、とくに、ヒートサイクル
特性に優れた多層プリント配線板について提案する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a multilayer printed wiring board having excellent heat cycle characteristics.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子工業の進歩に伴い電子機器の
小型化あるいは高速化が進められており、このためプリ
ント基板やLSIを実装する配線板に対してもファイン
パターンによる高密度化および高い信頼性が要求されて
いる。
2. Description of the Related Art In recent years, with the advance of the electronics industry, electronic devices have been reduced in size or increased in speed. Reliability is required.

【0003】この種の要求に対応するプリント配線板を
形成する従来方法の1つとして、アディティブ法があ
る。このアディティブ法は、無電解めっき用接着剤を基
板表面に塗布して接着剤層を形成し、この無電解めっき
用接着剤層の表面を粗化した後、無電解めっきを施して
導体を形成する方法である。
[0003] One of the conventional methods for forming a printed wiring board meeting this kind of demand is an additive method. In the additive method, an adhesive for electroless plating is applied to the surface of a substrate to form an adhesive layer, and after the surface of the adhesive layer for electroless plating is roughened, a conductor is formed by electroless plating. How to

【0004】この方法によると、導体回路が無電解めっ
きによって形成されるため、エッチングによりパターン
形成を行うエッチドフォイル方法(サブトラクティブ
法)よりも、高密度でパターン精度の高い配線を容易か
つ低コストで作製し得るという利点がある。しかも、導
体回路を粗化された接着剤層に強固に付着させることに
より、両者間に優れた接合性が確保されるので、導体回
路が接着剤層から剥離しにくいという特徴がある。
According to this method, since the conductor circuit is formed by electroless plating, a high-density wiring with high pattern precision can be easily and low-priced compared to the etched foil method (subtractive method) in which a pattern is formed by etching. There is an advantage that it can be manufactured at a low cost. In addition, since the conductive circuit is firmly adhered to the roughened adhesive layer, excellent bonding between the two is ensured, so that the conductive circuit is less likely to be separated from the adhesive layer.

【0005】このようなアディティブ法のもつ特徴を有
効に発現させるために、従来、無電解めっき用接着剤や
めっきレジストに関する種々の提案がなされている。例
えば、特開昭61−276875号、特開平2−188992号、US
P 5055321号などでは、耐熱性樹脂微粉末を感光性樹脂
マトリックス中に分散してなる感光性の無電解めっき用
接着剤を用いたプリント配線板が提案されている。この
提案にかかる技術によれば、より高密度でパターン精度
の高い配線においてもピール強度に優れるプリント配線
板を提供することができる。
[0005] In order to effectively exhibit the features of the additive method, various proposals have been made on an electroless plating adhesive and a plating resist. For example, JP-A-61-276875, JP-A-2-188992, US
P. 5055321 and the like propose a printed wiring board using a photosensitive adhesive for electroless plating in which a heat-resistant resin fine powder is dispersed in a photosensitive resin matrix. According to the technology according to this proposal, it is possible to provide a printed wiring board that is excellent in peel strength even in wiring with higher density and higher pattern accuracy.

【0006】また、特開平6−317904号公報では、めっ
きレジストとして、クレゾールノボラック型エポキシ樹
脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤からなるレジス
ト組成物を用いた配線板が提案されている。この提案に
かかる技術によれば、ファインパターンにおいても耐熱
性や耐アルカリ性等の信頼性に優れるプリント配線板を
提供することができる。
Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-317904 proposes a wiring board using a resist composition comprising a cresol novolak type epoxy resin acrylate and an imidazole hardener as a plating resist. According to the technology according to this proposal, it is possible to provide a printed wiring board having excellent reliability such as heat resistance and alkali resistance even in a fine pattern.

【0007】さらに、特開平7−34048 号公報(USP
5519177号)では、無電解めっき用接着剤層として、ク
レゾールノボラック型エポキシ樹脂とPESの複合樹脂
を用いたプリント配線板が提案されている。この提案に
かかる技術によれば、より高密度でパターン精度の高い
配線においてもピール強度に優れるプリント配線板を提
供することができる。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 7-34048 (USP)
No. 5,519,177) proposes a printed wiring board using a composite resin of cresol novolak type epoxy resin and PES as an adhesive layer for electroless plating. According to the technology according to this proposal, it is possible to provide a printed wiring board that is excellent in peel strength even in wiring with higher density and higher pattern accuracy.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな改善を施しても、ビルドアップ多層配線板は、IC
チップを搭載してヒートサイクル条件下に曝すと、めっ
きレジストとこのめっきレジストに隣接した導体回路と
の境界を起点として、層間樹脂絶縁層である無電解めっ
き用接着剤層にクラックが発生するという問題があった
(図16参照)。さらに、めっきレジストが形成されてい
ない配線板についても、導体層とこの導体層上に被覆し
て形成した無電解めっき用接着剤層との密着性が不十分
である場合は、ヒートサイクル条件下に曝すことによ
り、導体層と無電解めっき用接着剤層との界面を起点と
してその接着剤層にクラックが発生するという問題があ
った。
However, even if such improvements are made, the build-up multilayer wiring board will not
When a chip is mounted and exposed to heat cycle conditions, cracks occur in the adhesive layer for electroless plating, which is the interlayer resin insulation layer, starting from the boundary between the plating resist and the conductor circuit adjacent to the plating resist. There was a problem (see Figure 16). Furthermore, even for a wiring board on which a plating resist is not formed, if the adhesion between the conductor layer and the adhesive layer for electroless plating formed by coating on the conductor layer is insufficient, heat cycle conditions When exposed to water, there is a problem that cracks occur in the adhesive layer starting from the interface between the conductor layer and the adhesive layer for electroless plating.

【0009】本発明の主たる目的は、このような導体層
と樹脂層との界面を起点として無電解めっき用接着剤層
に発生するクラックを抑制し得るヒートサイクル特性に
優れた多層プリント配線板を提供することにある。ま
た、本発明の他の目的は、上記多層プリント配線板を有
利に製造することのできる方法を提案することにある。
A main object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board having excellent heat cycle characteristics capable of suppressing cracks generated in an adhesive layer for electroless plating starting from an interface between a conductor layer and a resin layer. To provide. Another object of the present invention is to propose a method capable of advantageously producing the multilayer printed wiring board.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】発明者は、上記目的の実
現に向け鋭意研究を行った。その結果、発明者らは、ヒ
ートサイクル時に発生する上述の如きクラックは、めっ
きレジストと導体層との熱膨張率差、あるいは導体層と
この導体層上に被覆して形成した無電解めっき用接着剤
層との熱膨張率差に起因することを突き止め、以下に示
すような本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems The inventor has conducted intensive studies for realizing the above object. As a result, the inventors found that the above-mentioned cracks generated during the heat cycle were caused by the difference in the coefficient of thermal expansion between the plating resist and the conductor layer, or the adhesion for the electroless plating formed by coating the conductor layer and the conductor layer. The inventors have found out that the difference is caused by a difference in thermal expansion coefficient with the agent layer, and have completed the present invention as described below.

【0011】すなわち、本発明の多層プリント配線板の
要旨構成は以下のとおりである。 .導体層と層間樹脂絶縁層とを交互に積層してなる多
層プリント配線板において、その層間樹脂絶縁層が、無
電解めっき用接着剤層と高靱性樹脂層とから構成されて
いることを特徴とする多層プリント配線板である。 .導体層と層間樹脂絶縁層とを交互に積層されてなる
多層プリント配線板において、その層間樹脂絶縁層が、
無電解めっき用接着剤層、高靱性樹脂層および下層導体
用接着剤層から構成されていることを特徴とする多層プ
リント配線板である。 .上層の導体層と下層の導体層とが層間樹脂絶縁層に
設けられたバイアホールを介して互いに接続されている
と共に、そのバイアホール内は無電解めっきで充填され
ていることを特徴とする上記またはに記載の多層プ
リント配線板である。
That is, the gist configuration of the multilayer printed wiring board of the present invention is as follows. . In a multilayer printed wiring board in which conductor layers and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, the interlayer resin insulation layer is composed of an adhesive layer for electroless plating and a high toughness resin layer. This is a multilayer printed wiring board. . In a multilayer printed wiring board in which conductor layers and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, the interlayer resin insulation layer is
A multilayer printed wiring board comprising an electroless plating adhesive layer, a high toughness resin layer, and a lower conductor adhesive layer. . The upper conductive layer and the lower conductive layer are connected to each other via via holes provided in the interlayer resin insulating layer, and the via holes are filled with electroless plating. Or the multilayer printed wiring board described in the above.

【0012】なお、上記〜に記載の発明において、
層間樹脂絶縁層は、基板側から、下層導体用接着剤層、
高靱性樹脂層および無電解めっき用接着剤層を順次に積
層したものであることが望ましい。また、上記高靱性樹
脂層は、ポリイミド樹脂層、熱可塑性樹脂層、熱硬化性
樹脂と熱可塑性樹脂の複合樹脂層、およびゴム層の中か
ら選ばれるいずれか1の層であることが望ましい。さら
に、無電解めっき用接着剤層は、酸あるいは酸化剤に可
溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸
化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中に分散してなる層
からなることが望ましい。
[0012] In the above inventions,
The interlayer resin insulation layer, from the substrate side, the lower conductor adhesive layer,
It is desirable that the high toughness resin layer and the adhesive layer for electroless plating are sequentially laminated. The high toughness resin layer is preferably any one layer selected from a polyimide resin layer, a thermoplastic resin layer, a composite resin layer of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, and a rubber layer. Further, the adhesive layer for electroless plating is a layer in which cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. It is desirable to become.

【0013】本発明にかかる多層プリント配線板の製造
方法は以下のとおりである。 .多層プリント配線板を製造するに当たり、少なくと
も下記の (1)〜(4) の工程、即ち、(1) 基板の下層導体
層上に高靱性樹脂層を形成する工程、(2) 前記高靱性樹
脂層上に無電解めっき用接着剤層を形成する工程、(3)
無電解めっき用接着剤層および高靱性樹脂層に対しこれ
らを貫通するバイアホール形成用の開口を設ける工程、
(4) 無電解めっきを施し、上層導体層およびバイアホー
ルを形成する工程、を経ることを特徴とする多層プリン
ト配線板の製造方法である。
A method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is as follows. . In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (4), namely, (1) a step of forming a high toughness resin layer on a lower conductive layer of a substrate, (2) the high toughness resin Forming an adhesive layer for electroless plating on the layer, (3)
Providing an opening for forming a via hole therethrough for the adhesive layer for electroless plating and the tough resin layer,
(4) a step of forming an upper conductor layer and a via hole by performing electroless plating to provide a method of manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0014】.多層プリント配線板を製造するに当た
り、少なくとも下記の (1)〜(4) の工程、即ち、(1) 基
板の下層導体層上に下層導体用接着剤層を形成し、その
上に高靱性樹脂層を順次に積層する工程、(2) 前記高靱
性樹脂層上に無電解めっき用接着剤層を形成する工程、
(3) 無電解めっき用接着剤層、高靱性樹脂層および下層
導体用接着剤層に対しこれらを貫通するバイアホール形
成用の開口を設ける工程、(4) 無電解めっきを施し、上
層導体層およびバイアホールを形成する工程、を経るこ
とを特徴とする多層プリント配線板の製造方法である。
[0014] In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (4), namely, (1) forming an adhesive layer for a lower conductor on a lower conductor layer of a substrate, and forming a high-toughness resin A step of sequentially laminating layers, (2) a step of forming an adhesive layer for electroless plating on the high toughness resin layer,
(3) a step of providing an opening for forming a via hole that penetrates the adhesive layer for electroless plating, the high-toughness resin layer, and the adhesive layer for the lower conductor, and (4) applying the electroless plating to the upper conductor layer. And a step of forming a via hole.

【0015】.多層プリント配線板を製造するに当た
り、少なくとも下記の (1)〜(4) の工程、即ち、(1) 高
靱性樹脂フィルムの一方の面に未硬化の無電解めっき用
接着剤層を形成し他方の面に未硬化の下層導体用接着剤
層を形成する工程、(2) 基板の下層導体層上に、基板側
に下層接導体用着剤層が接触するように上記高靱性樹脂
フィルムを積層し、加圧および加熱硬化して一体化する
工程、(3) 無電解めっき用接着剤層、高靱性樹脂層およ
び下層導体用接着剤層に対しこれらを貫通するバイアホ
ール形成用の開口を設ける工程、(4) 無電解めっき施
し、導体層およびバイアホールを形成する工程、を経る
ことを特徴とする多層プリント配線板の製造方法であ
る。
[0015] In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (4), namely, (1) forming an uncured electroless plating adhesive layer on one surface of a high toughness resin film and Forming an uncured lower conductor adhesive layer on the surface of (2), laminating the high toughness resin film on the lower conductor layer of the substrate so that the lower conductor contact adhesive layer contacts the substrate side (3) Providing an opening for forming a via hole that penetrates the adhesive layer for electroless plating, the high-toughness resin layer, and the adhesive layer for the lower conductor. A method for producing a multilayer printed wiring board, comprising: a step of (4) performing electroless plating to form a conductor layer and a via hole.

【0016】なお、上記〜に記載の発明方法におい
て、まず、バイアホール形成用の開口内に無電解めっき
を充填してバイアホールを形成し、その後、無電解めっ
き用接着剤層に触媒核を付与して無電解めっきを施すこ
とにより上層導体層を形成する、ことが望ましい。ま
た、上記バイアホール形成用の開口は、レーザ光または
酸素プラズマにより設けることが望ましい。
In the method of the invention described above, first, an opening for forming a via hole is filled with electroless plating to form a via hole, and then a catalyst core is formed on the adhesive layer for electroless plating. It is desirable to form the upper conductor layer by applying and electroless plating. The opening for forming the via hole is desirably provided by laser light or oxygen plasma.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明は、導体層と層間樹脂絶縁
層とを交互に積層してなるビルドアップ多層プリント配
線板において、前記層間樹脂絶縁層が、「無電解めっき
用接着剤層(上層導体用接着剤層)および高靱性樹脂
層」または「無電解めっき用接着剤層(上層導体用接着
剤層)、高靱性樹脂層および下層導体用接着剤層」から
なる点に特徴がある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention relates to a build-up multilayer printed wiring board in which conductor layers and interlayer resin insulating layers are alternately laminated, wherein the interlayer resin insulating layer is formed of an "electroless plating adhesive layer ( It is characterized in that it consists of an "adhesive layer for upper conductor) and a high toughness resin layer" or an "adhesive layer for electroless plating (adhesive layer for upper conductor), a high toughness resin layer and an adhesive layer for lower conductor". .

【0018】このような多層プリント配線板において
は、層間樹脂絶縁層を構成する無電解めっき用接着剤層
が、「高靱性樹脂層」または「高靱性樹脂層および下層
導体用接着剤層」を介して、その下層の導体層およびそ
の導体層に隣接するめっきレジストの上に積層される。
それ故に、本発明によれば、ヒートサイクル時に導体層
とその導体層に隣接するめっきレジストとの境界上の無
電解めっき用接着剤層に発生する応力は、高靱性樹脂層
によって吸収されるので、無電解めっき用接着剤層にク
ラックが発生するのを抑制することができる。また、無
電解めっき用接着剤層の上に形成される上層の導体層と
その導体層に隣接するめっきレジストとの界面を起点と
してその無電解めっき用接着剤層にクラックが発生した
場合でも、このクラックは、高靱性樹脂層にてその進行
が止まるので、下層導体層の断線には到らない。このよ
うに本発明によれば、クラックの発生を抑制でき、ま
た、クラックが発生した場合でもその進行を抑えること
が可能となる。
In such a multilayer printed wiring board, the adhesive layer for electroless plating constituting the interlayer resin insulating layer is composed of a “high toughness resin layer” or a “high toughness resin layer and an adhesive layer for a lower conductor”. Via the lower conductive layer and the plating resist adjacent to the conductive layer.
Therefore, according to the present invention, the stress generated in the adhesive layer for electroless plating on the boundary between the conductor layer and the plating resist adjacent to the conductor layer during the heat cycle is absorbed by the high toughness resin layer. In addition, the occurrence of cracks in the adhesive layer for electroless plating can be suppressed. Further, even when cracks occur in the electroless plating adhesive layer starting from the interface between the upper conductive layer formed on the electroless plating adhesive layer and the plating resist adjacent to the conductive layer, Since the progress of the crack stops in the high toughness resin layer, the crack does not reach the lower conductor layer. As described above, according to the present invention, the occurrence of cracks can be suppressed, and even if a crack occurs, its progress can be suppressed.

【0019】このような本発明において、高靱性樹脂層
は、その破壊伸度が無電解めっき用接着剤層よりも大き
いものであり、25℃における破壊伸度が6%以上のもの
であることが好適である(以下、破壊伸度は、レオメト
リックスの粘弾性スペクトロメーターを用い25℃で測定
した)。この高靱性樹脂層としては、例えば、ポリイミ
ド樹脂層、熱可塑性樹脂層、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹
脂の複合樹脂層、およびゴム層の中から選ばれるいずれ
か1の層であることが望ましい。これらは、靱性が高
く、破壊伸度も大きいため、応力を充分吸収できるから
である。なお、この高靱性樹脂層は、ガラス転移温度
(Tg点)が、 160℃以上であることが望ましい。その
理由は、めっきレジストや無電解めっき用接着剤層にエ
ポキシ樹脂を使用することが多く、熱硬化時に高靱性樹
脂層が軟化しないようにするためである。
In the present invention, the high toughness resin layer has a higher breaking elongation than the adhesive layer for electroless plating, and has a breaking elongation at 25 ° C. of 6% or more. (Hereinafter, the fracture elongation was measured at 25 ° C. using a rheometric viscoelastic spectrometer). The high toughness resin layer is preferably, for example, any one layer selected from a polyimide resin layer, a thermoplastic resin layer, a composite resin layer of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, and a rubber layer. . These are high in toughness and large in fracture elongation, so that they can sufficiently absorb stress. The high toughness resin layer desirably has a glass transition temperature (Tg point) of 160 ° C. or higher. The reason is that an epoxy resin is often used for a plating resist or an adhesive layer for electroless plating, so that the high toughness resin layer is not softened during thermosetting.

【0020】ポリイミド樹脂としては、イミド構造とビ
フェニル構造を共に有するものがよい。かかる構造のポ
リイミド樹脂は、耐アルカリ性などの耐薬品性に優れ、
破壊伸度も60%と高いからである。また、Tg点は 300
℃以上であり、耐熱性にも優れている。
The polyimide resin preferably has both an imide structure and a biphenyl structure. Polyimide resin of such a structure is excellent in chemical resistance such as alkali resistance,
This is because the elongation at break is as high as 60%. The Tg point is 300
° C or higher and excellent in heat resistance.

【0021】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES、破壊伸度:40〜80%、Tg点:215
℃)、ポリスルフォン(PS、破壊伸度:50〜100 %、
Tg点:100 ℃)、ポリフェニレンエーテル(PPE、
破壊伸度:50%、Tg点:207℃)、ポリフェニレンス
ルフォン(PPES、破壊伸度:60〜120 %、Tg点:
205 ℃)、ポリエチレンテレフタレート(PET、破壊
伸度:15%、Tg点:69℃)などがある。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES, elongation at break: 40-80%, Tg point: 215)
° C), polysulfone (PS, elongation at break: 50-100%,
Tg point: 100 ° C), polyphenylene ether (PPE,
Elongation at break: 50%, Tg point: 207 ° C), polyphenylene sulfone (PPES, elongation at break: 60 to 120%, Tg point:
205 ° C.) and polyethylene terephthalate (PET, elongation at break: 15%, Tg point: 69 ° C.).

【0022】熱硬化樹脂樹脂と熱可塑性樹脂の複合樹脂
において、熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェ
ノール樹脂、ポリイミド樹脂などが使用でき、特に、エ
ポキシ樹脂としては、脂環式エポキシ樹脂が使用でき
る。この脂環式エポキシ樹脂としては、後述するアラル
ダイト CY179 (チバガイギー社製)、ジシクロペン
タジエン構造を持つEPICLON HP−7200(大日本インキ株
式会社製)がよい。また、熱可塑性樹脂としては、ポリ
スルフォン(PS)、ポリフェニレンエーテル(PP
E)、ポリフェニレンスルフォン(PPES)、ポリエ
ーテルイミド(PEI)などが使用できる。具体的に
は、熱硬化樹脂樹脂と熱可塑性樹脂の複合樹脂として
は、エポキシ樹脂−ポリスルフォン(20重量%のPS
で、破壊伸度:7%、Tg点:200 ℃)、エポキシ樹脂
−ポリフェニレンエーテル(40重量%のPPEで、破壊
伸度:8%、Tg点:200 ℃)、エポキシ樹脂−ポリフ
ェニレンスルフォン(40重量%のPPESで、破壊伸
度:8.3 %、Tg点:200 ℃)、エポキシ樹脂−ポリエ
ーテルイミド(10重量%のPEIで、破壊伸度:6%、
Tg点:200 ℃)などが挙げられる。
In the composite resin of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin, or the like can be used as the thermosetting resin, and an alicyclic epoxy resin is particularly used as the epoxy resin. it can. As the alicyclic epoxy resin, Araldite CY179 (manufactured by Ciba Geigy) and EPICLON HP-7200 having a dicyclopentadiene structure (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) described below are preferable. As the thermoplastic resin, polysulfone (PS), polyphenylene ether (PP)
E), polyphenylene sulfone (PPES), polyetherimide (PEI) and the like can be used. Specifically, as a composite resin of a thermosetting resin resin and a thermoplastic resin, epoxy resin-polysulfone (20% by weight of PS
And elongation at break: 7%, Tg point: 200 ° C., epoxy resin-polyphenylene ether (40% by weight of PPE, elongation at break: 8%, Tg point: 200 ° C.), epoxy resin-polyphenylene sulfone (40% by weight) % By weight of PPES, breaking elongation: 8.3%, Tg point: 200 ° C.), epoxy resin-polyetherimide (10% by weight of PEI, breaking elongation: 6%,
(Tg point: 200 ° C.).

【0023】ゴムとしては、アクリロニトリル−ブタジ
エンゴム、ブタジエンゴム、クロロプレンゴム、スチレ
ンブタジエン共重合、ポリアミド、ポリエチレンテレフ
タレートやシリコーンゴムなどを使用することができ
る。
As the rubber, acrylonitrile-butadiene rubber, butadiene rubber, chloroprene rubber, styrene-butadiene copolymer, polyamide, polyethylene terephthalate, silicone rubber and the like can be used.

【0024】この高靱性樹脂層は、その厚みを1〜50μ
mとすることが望ましい。その理由は、薄すぎるとクラ
ック抑制効果が低下し、一方、厚すぎるとバイアホール
用開口のアスペクト比が大きくなり、めっきが付きにく
くなるからである。
This high toughness resin layer has a thickness of 1 to 50 μm.
m is desirable. The reason for this is that if it is too thin, the effect of suppressing cracks decreases, while if it is too thick, the aspect ratio of the via hole opening becomes large, and plating becomes difficult.

【0025】本発明において、下層導体用接着剤層は、
基板側の下層の導体層とその上に積層する高靱性樹脂層
−無電解めっき用接着剤層との密着性を改善するため
に、高靱性樹脂層と下層の導体層との間に設けられる。
In the present invention, the lower conductor adhesive layer comprises:
Provided between the high-toughness resin layer and the lower conductor layer to improve the adhesion between the lower conductor layer on the substrate side and the high-toughness resin layer laminated on it-the adhesive layer for electroless plating .

【0026】この下層導体用接着剤層としては、各種エ
ポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジ
ン樹脂、フェノール樹脂などを使用でき、特に、脂環式
エポキシ樹脂が望ましい。なぜなら、脂環式エポキシ樹
脂は、誘電率を4以下にできるために信号の伝搬遅延を
防止でき、破壊伸度もクレゾールノボラック型のエポキ
シ樹脂よりも大きいからである。
As the lower conductor adhesive layer, various epoxy resins, polyimide resins, bismaleimide triazine resins, phenol resins and the like can be used, and alicyclic epoxy resins are particularly desirable. The reason is that the alicyclic epoxy resin can prevent the signal propagation delay since the dielectric constant can be set to 4 or less, and the elongation at break is larger than that of the cresol novolac type epoxy resin.

【0027】この脂環式エポキシ樹脂としては、アラル
ダイト CY179 (チバガイギー社製)、ジシクロペン
タジエン構造を持つEPICLON HP−7200(大日本インキ株
式会社製)がよい。EPICLON HP−7200は、下記(化1)
に示す構造式を有し、誘電率が3.41とポリイミドなみに
低く、また破壊伸度も 4.6%と比較的大きい樹脂であ
る。
As the alicyclic epoxy resin, Araldite CY179 (manufactured by Ciba Geigy) and EPICLON HP-7200 having a dicyclopentadiene structure (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) are preferred. EPICLON HP-7200 is the following (Chemical 1)
The resin has the following structural formula, a dielectric constant of 3.41 as low as polyimide, and a relatively high elongation at break of 4.6%.

【0028】[0028]

【化1】 Embedded image

【0029】この下層導体用接着剤層には、脂環式エポ
キシ樹脂とシリコーン樹脂の複合材料を使用することも
できる。その理由は、靱性を改善でき、複合化させても
誘電率が大きくならないからである。
For the lower conductive adhesive layer, a composite material of an alicyclic epoxy resin and a silicone resin can be used. The reason for this is that the toughness can be improved and the dielectric constant does not increase even if the composite is formed.

【0030】この下層導体用接着剤層は、その厚みを
0.1〜30μmとすることが望ましい。その理由は、薄す
ぎると基板側の内層導体層と密着しにくくなり、厚すぎ
るとバイアホール用開口のアスペクト比が大きくなり、
めっきが付きにくくなるからである。
The thickness of the lower conductor adhesive layer is
Desirably, the thickness is 0.1 to 30 μm. The reason is that if it is too thin, it will be difficult to adhere to the inner conductor layer on the substrate side, and if it is too thick, the aspect ratio of the via hole opening will increase,
This is because plating becomes difficult.

【0031】本発明では、このような高靱性樹脂層ある
いは下層導体用接着剤層と接触する下層導体層の表面
は、密着性を改善するために粗化処理が施されていても
よい。この粗化処理としては、銅−ニッケル−リンから
なる針状合金を形成する無電解めっき、酸化(黒化)処
理、酸化(黒化)−還元処理、エッチング処理(メック
社製、「メックエッチボンドCZ」など)などがある。
In the present invention, the surface of the lower conductor layer which comes into contact with such a high toughness resin layer or the lower conductor adhesive layer may be subjected to a roughening treatment in order to improve adhesion. Examples of the roughening treatment include electroless plating for forming a needle-like alloy composed of copper-nickel-phosphorus, oxidation (blackening) treatment, oxidation (blackening) -reduction treatment, and etching treatment (manufactured by MEC Corporation, “Mech etch”). Bond CZ ”).

【0032】このような粗化処理により形成される粗化
層は、その厚みを1〜5μmとすることが望ましい。そ
の理由は、厚すぎると粗化層自体が損傷、剥離しやす
く、薄すぎると密着性が低下するからである。
The roughened layer formed by such a roughening treatment preferably has a thickness of 1 to 5 μm. The reason is that if it is too thick, the roughened layer itself is easily damaged and peeled off, and if it is too thin, the adhesion is reduced.

【0033】この粗化層は、イオン化傾向が銅よりも大
きくかつチタン以下である金属の層もしくは貴金属の層
で被覆しておくことが望ましい。というのは、酸や酸化
剤で層間樹脂絶縁層を粗化する際に、導体表面の粗化層
が酸や酸化剤により局部電極反応を引き起こし、その導
体が溶解するのを防止するためである。かかる金属とし
ては、チタン、アルミニウム、亜鉛、鉄、インジウム、
タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛およびビスマ
スから選ばれるいずれか少なくとも1種を用いることが
望ましい。貴金属としては、金、銀、白金、パラジウム
を用いることが望ましい。これらの金属のなかでも特に
スズは、無電解置換めっきにより薄い層を形成でき、粗
化層に追従できるため有利である。なお、このような金
属層あるいは貴金属層の厚さは 0.1〜2μmがよい。
This roughened layer is desirably covered with a metal layer or a noble metal layer whose ionization tendency is larger than copper and equal to or less than titanium. This is because, when roughening the interlayer resin insulating layer with an acid or an oxidizing agent, the roughened layer on the conductor surface causes a local electrode reaction due to the acid or the oxidizing agent to prevent the conductor from being dissolved. . Such metals include titanium, aluminum, zinc, iron, indium,
It is desirable to use at least one selected from thallium, cobalt, nickel, tin, lead and bismuth. It is desirable to use gold, silver, platinum, and palladium as the noble metal. Of these metals, tin is particularly advantageous because it can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow a roughened layer. The thickness of such a metal layer or a noble metal layer is preferably 0.1 to 2 μm.

【0034】本発明において、無電解めっき用接着剤層
は、特に限定されないが、酸あるいは酸化剤に可溶性の
硬化処理された耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に
難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中に分散してなる層からな
るものが望ましい。
In the present invention, the adhesive layer for electroless plating is not particularly limited. However, the cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent are not hardened in an acid or an oxidizing agent. It is desirable to use a layer composed of a layer dispersed in a conductive resin.

【0035】ここで、耐熱性樹脂粒子は、平均粒径が
10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径が2μm以下
の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、平均粒径が
2〜10μmの耐熱性粉末樹脂粒子と平均粒径が2μm以
下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均粒径が2μm〜
10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が2μm以下
の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれか少なくとも
1種を付着させてなる疑似粒子、のなかから選ばれるこ
とが望ましい。これらは、より複雑なアンカーを形成で
きるからである。この耐熱性樹脂粒子としては、エポキ
シ樹脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナ
ミン樹脂)などが使用できる。
Here, the heat-resistant resin particles have an average particle size.
Heat-resistant resin powder of 10 μm or less, aggregated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less, heat-resistant powder resin particles having an average particle size of 2 to 10 μm and heat-resistant resin having an average particle size of 2 μm or less Mixture with powder, average particle size 2μm ~
It is desirable to select from pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less and an inorganic powder to the surface of a 10 μm heat-resistant resin powder. This is because they can form more complex anchors. Epoxy resin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin) and the like can be used as the heat resistant resin particles.

【0036】酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱
性樹脂としては、クレゾールノボラック型エポキシ樹
脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂などの各種エポキシ
樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂
などが挙げられ、特に、脂環式エポキシ樹脂が望まし
い。脂環式エポキシ樹脂は、前述したように破壊伸度が
比較的高く、誘電率が低いからである。
Examples of the uncured heat-resistant resin which is hardly soluble in an acid or an oxidizing agent include various epoxy resins such as a cresol novolak type epoxy resin and a bisphenol type epoxy resin, a polyimide resin, a bismaleimide triazine resin and the like. Alicyclic epoxy resins are preferred. This is because the alicyclic epoxy resin has a relatively high elongation at break and a low dielectric constant as described above.

【0037】この無電解めっき用接着剤層は、その厚み
を2〜50μm程度とすることが望ましい。その理由は、
薄すぎると密着強度が低下し、一方、厚すぎるとバイア
ホール用開口のアスペクト比が大きくなり、めっきが付
きにくくなるからである。
This adhesive layer for electroless plating preferably has a thickness of about 2 to 50 μm. The reason is,
If the thickness is too small, the adhesion strength is reduced. On the other hand, if the thickness is too large, the aspect ratio of the opening for the via hole is increased, and plating is difficult to be formed.

【0038】本発明において、前記下層導体用接着剤層
ならびに前記無電解めっき用接着剤層の樹脂成分として
エポキシ樹脂を使用する場合は、このエポキシ樹脂の硬
化剤には、アミン系硬化剤、イミダゾール系硬化剤、酸
無水物などが使用できる。なかでもイミダゾール系硬化
剤が好適に用いられる。このイミダゾール硬化剤として
は、2−メチルイミダゾール(品名2MZ)、4−メチ
ル−2−エチルイミダゾール(品名2E4MZ)、2−
フェニルイミダゾール(品名2PZ)、4−メチル−2
−フェニルイミダゾール(品名2P4MZ)、1−ベン
ジル−2−メチルイミダゾール(品名1B2MZ)、2
−エチルイミダゾール(品名2EZ)、2−イソプロピ
ルイミダゾール(品名2IZ)、1−シアノエチル−2
−メチルイミダゾール(品名2MZ−CN)、1−シア
ノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール(品名
2E4MZ−CN)、1−シアノエチル−2−ウンデシ
ルイミダゾール(品名C11Z−CN)などがある。
In the present invention, when an epoxy resin is used as a resin component of the lower conductor adhesive layer and the electroless plating adhesive layer, an amine curing agent, imidazole, A system curing agent, an acid anhydride and the like can be used. Among them, an imidazole-based curing agent is preferably used. Examples of the imidazole curing agent include 2-methylimidazole (product name 2MZ), 4-methyl-2-ethylimidazole (product name 2E4MZ),
Phenylimidazole (product name 2PZ), 4-methyl-2
-Phenylimidazole (product name 2P4MZ), 1-benzyl-2-methylimidazole (product name 1B2MZ), 2
-Ethylimidazole (product name 2EZ), 2-isopropylimidazole (product name 2IZ), 1-cyanoethyl-2
- methylimidazole (product name 2MZ-CN), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (product name 2E4MZ-CN), and the like 1-cyanoethyl-2-undecyl imidazole (product name C 11 Z-CN).

【0039】特に本発明では、25℃で液状の硬化剤が好
適に用いられる。その理由は、無溶剤樹脂を使用するた
め粉末では、均一混練が難しく、液状の方が均一に混練
できるからである。液状イミダゾール硬化剤としては、
例えば、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール(品名
1B2MZ)、1−シアノエチル−2−エチル−4−メ
チルイミダゾール(品名2E4MZ−CN)、4−メチ
ル−2−エチルイミダゾール(品名2E4MZ)が挙げ
られる。
Particularly, in the present invention, a curing agent which is liquid at 25 ° C. is preferably used. The reason is that, since a solventless resin is used, it is difficult to knead the powder uniformly, and the liquid can be kneaded more uniformly. As a liquid imidazole curing agent,
Examples thereof include 1-benzyl-2-methylimidazole (product name 1B2MZ), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (product name 2E4MZ-CN), and 4-methyl-2-ethylimidazole (product name 2E4MZ).

【0040】このようなイミダゾール硬化剤の添加量
は、樹脂固形分に対して 0.1〜8重量%が望ましい。そ
の理由は、硬化剤の添加量が5重量%を超えると吸湿性
が上がり絶縁不良を生じ、一方、 0.1重量%未満では硬
化剤の効果が少ないからである。
The addition amount of such an imidazole curing agent is desirably 0.1 to 8% by weight based on the solid content of the resin. The reason is that if the added amount of the curing agent exceeds 5% by weight, the hygroscopicity increases and insulation failure occurs, while if less than 0.1% by weight, the effect of the curing agent is small.

【0041】本発明において、前記下層導体用接着剤層
ならびに前記無電解めっき用接着剤層は、その誘電率を
4以下とすることが望ましい。その理由は、誘電率を4
以下にすれば、伝搬遅延を防止できるからである。この
誘電率の調整は、前述の各樹脂から適宜選択することに
より行うことができる。
In the present invention, it is preferable that the lower conductive adhesive layer and the electroless plating adhesive layer have a dielectric constant of 4 or less. The reason is that the dielectric constant is 4
This is because the following can prevent the propagation delay. The adjustment of the dielectric constant can be performed by appropriately selecting from the above-described resins.

【0042】本発明の多層プリント配線板においては、
上述した層間樹脂絶縁層に設けられたバイアホールを介
して上層の導体層と下層の導体層が互いに接続されてい
る。本発明では、このバイアホール内が無電解めっきで
充填されていることが望ましい。この理由は、無電解め
っきによれば、50μm以下の小径バイアホールが形成で
き、しかも、バイアホール表面が平坦になるためバイア
ホール上にさらに他のバイアホールが形成でき、更なる
高密度化の実現が可能になるからである。
In the multilayer printed wiring board of the present invention,
The upper conductor layer and the lower conductor layer are connected to each other through via holes provided in the above-mentioned interlayer resin insulation layer. In the present invention, it is desirable that the inside of the via hole is filled with electroless plating. The reason is that, according to electroless plating, a via hole having a small diameter of 50 μm or less can be formed, and furthermore, another via hole can be formed on the via hole because the surface of the via hole is flattened, thereby further increasing the density. This is because realization becomes possible.

【0043】本発明において、導体層が形成された配線
基板は、無電解めっき用接着剤層上にめっきレジストが
形成され、そのめっきレジスト非形成部分に導体層が形
成された、いわゆるフルアディティブ配線基板であるこ
とが望ましい。本発明は、このようなめっきレジストを
持つ配線基板の層間樹脂絶縁層に発生するクラックを有
効に防止するための提案だからである。
In the present invention, the wiring board having the conductor layer formed thereon is a so-called full additive wiring in which a plating resist is formed on an adhesive layer for electroless plating and a conductor layer is formed on a portion where the plating resist is not formed. Preferably, it is a substrate. This is because the present invention is a proposal for effectively preventing cracks generated in an interlayer resin insulating layer of a wiring board having such a plating resist.

【0044】次に、本発明の多層プリント配線板を製造
する方法について説明する。本発明の製造方法には、基
板に層間樹脂絶縁層を形成する方法として、例えば .基板上に高靱性樹脂層、無電解めっき用接着剤層を
順次に積層する方法、 .高靱性樹脂フィルムの一方の面に未硬化の無電解め
っき用接着剤層を形成し、他方の面に未硬化の下層導体
用接着剤層を形成し、そのフィルムを、導体層を有する
基板と共に加熱加圧して一体化する方法、を採用したも
のがある。
Next, a method of manufacturing the multilayer printed wiring board of the present invention will be described. In the manufacturing method of the present invention, as a method of forming an interlayer resin insulating layer on a substrate, for example, A method of sequentially laminating a high toughness resin layer and an adhesive layer for electroless plating on a substrate; An uncured electroless plating adhesive layer is formed on one surface of the high-toughness resin film, and an uncured lower conductor adhesive layer is formed on the other surface, and the film is formed together with a substrate having a conductor layer. There is a method that adopts a method of integrating by heating and pressing.

【0045】(方法を含む多層プリント配線板の製造
方法について) (1)まず、コア基板の表面に内層銅パターンを形成した
配線基板を作製する。このコア基板への銅パターンの形
成には、銅張積層板をエッチングして行うか、あるい
は、ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、セラミック
基板、金属基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を
形成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、ここ
に無電解めっきを施して行う方法がある。さらに必要に
応じて、上記配線基板に無電解めっき用接着剤層を形成
し、この層にバイアホール用開口を設け、その層表面を
粗化し、ここに無電解めっきを施して銅パターンとバイ
アホールを形成する工程を繰り返して多層化した配線基
板とすることができる。
(Method of Manufacturing Multilayer Printed Wiring Board Including Method) (1) First, a wiring board having an inner copper pattern formed on the surface of a core board is manufactured. The copper pattern is formed on the core substrate by etching the copper-clad laminate, or by forming an adhesive layer for electroless plating on a substrate such as a glass epoxy substrate, polyimide substrate, ceramic substrate, or metal substrate. Then, there is a method in which the surface of the adhesive layer is roughened to a roughened surface, and electroless plating is performed thereon. Further, if necessary, an adhesive layer for electroless plating is formed on the wiring substrate, an opening for a via hole is formed in this layer, the surface of the layer is roughened, and electroless plating is performed thereon to form a copper pattern and a via. By repeating the step of forming holes, a multilayer wiring board can be obtained.

【0046】なお、コア基板には、スルーホールが形成
され、このスルーホールを介して表面と裏面の配線層を
電気的に接続することができる。また、コア基板の銅パ
ターン(導体層)の間や、スルーホール内部には、ビス
フェノール型エポキシ樹脂あるいは、ビスフェノール型
エポキシ樹脂と無機粒子からなる充填樹脂等を充填し、
基板表面を平滑化することができる。
Note that a through hole is formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole. In addition, between the copper pattern (conductor layer) of the core substrate and the inside of the through hole, a bisphenol-type epoxy resin or a filling resin composed of bisphenol-type epoxy resin and inorganic particles is filled,
The substrate surface can be smoothed.

【0047】さらに、スルーホール内壁、導体層の表面
に粗化層を形成することにより、充填樹脂や接着層、高
靱性樹脂層との密着性を改善することができる。この粗
化層の形成方法としては、導体回路表面をエッチング処
理、研磨処理、酸化還元処理あるいは無電解めっきする
方法がある。なかでも、無電解めっきする方法が望まし
い。具体的には、その無電解めっきの液組成は、銅イオ
ン濃度、ニッケルイオン濃度、次亜リン酸イオン濃度
が、それぞれ2.2 ×10-2〜 4.1×10-2 mol/l、 2.2×
10-3〜 4.1×10-3 mol/l、0.20〜0.25mol /lである
ことが望ましい。この範囲で析出する皮膜の結晶構造は
針状構造であり、アンカー効果に優れるからである。な
お、無電解めっき浴には上記化合物に加えて錯化剤や添
加剤を加えてもよい。
Further, by forming a roughened layer on the inner wall of the through hole and on the surface of the conductor layer, it is possible to improve the adhesion to the filling resin, the adhesive layer and the high toughness resin layer. As a method of forming the roughened layer, there is a method of performing etching, polishing, oxidation-reduction or electroless plating on the surface of the conductor circuit. Among them, a method of electroless plating is desirable. Specifically, the solution composition of the electroless plating has a copper ion concentration, a nickel ion concentration, and a hypophosphite ion concentration of 2.2 × 10 −2 to 4.1 × 10 −2 mol / l and 2.2 × 10 −2 mol / l, respectively.
It is desirably 10 −3 to 4.1 × 10 −3 mol / l and 0.20 to 0.25 mol / l. This is because the crystal structure of the film deposited in this range has a needle-like structure and is excellent in the anchor effect. In addition, you may add a complexing agent and an additive in addition to the said compound to an electroless plating bath.

【0048】酸化還元処理は、亜塩素酸ナトリウム、水
酸化ナトリウム、リン酸ナトリウムからなる酸化剤の溶
液を用いて行う酸化処理の後に、水酸化ナトリウムと水
素化ホウ素ナトリウムからなる溶液に浸漬して行うこと
が望ましい。具体的には、酸化浴(黒化浴)として、Na
OH(10g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3PO4(6g
/l)を用い、還元浴として、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (5g/l)を用いることが望ましい。
In the oxidation-reduction treatment, after the oxidation treatment using a solution of an oxidizing agent comprising sodium chlorite, sodium hydroxide and sodium phosphate, the substrate is immersed in a solution comprising sodium hydroxide and sodium borohydride. It is desirable to do. Specifically, Na is used as an oxidation bath (blackening bath).
OH (10 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO 4 (6 g / l)
/ L) and NaOH (10 g / l), NaBH
It is desirable to use 4 (5 g / l).

【0049】(2)次に、内層銅パターンを形成した配線
基板の上に、高靱性樹脂層を設ける。本発明では、配線
基板上に直に高靱性樹脂層を設けてもよく、また下層導
体用接着剤層を介して高靱性樹脂層を設けてもよい。直
に高靱性樹脂層を設ける場合は、配線基板上に、前述し
た高靱性樹脂の溶液を塗布したのち乾燥硬化することに
より、また配線基板上に、高靱性樹脂フィルムを載置し
たのち加熱加圧して硬化することにより、高靱性樹脂層
を形成することができる。
(2) Next, a high toughness resin layer is provided on the wiring board on which the inner layer copper pattern is formed. In the present invention, the high toughness resin layer may be provided directly on the wiring board, or the high toughness resin layer may be provided via the lower conductor adhesive layer. When a high toughness resin layer is to be provided directly, the above-mentioned high toughness resin solution is applied to the wiring board and then dried and cured, and the high toughness resin film is placed on the wiring board and then heated. By hardening by pressing, a high toughness resin layer can be formed.

【0050】一方、下層導体用接着剤層を介して高靱性
樹脂層を設ける場合は、配線基板上に、下層導体用接着
剤層となる樹脂溶液をスピンコーターやロールコータ、
カーテンコータなどで塗布し、乾燥させてBステージ状
態とし、ここに前述した高靱性樹脂フィルムを載置し、
加熱加圧して下層導体用接着剤層およびフィルムの樹脂
を硬化することにより、下層導体用接着剤層および高靱
性樹脂層を形成することができる。このときの加熱温度
および加圧条件は、下層導体用接着剤層の樹脂成分や高
靱性樹脂の種類により異なるが、下層導体用接着剤層の
樹脂成分として前述した脂環式エポキシ樹脂を使用し、
高靱性樹脂層としてポリイミド樹脂を使用する場合は、
150〜200 ℃で、1〜100kg /cm2 とすることが望まし
い。
On the other hand, when the high toughness resin layer is provided via the lower conductor adhesive layer, a resin solution to be the lower conductor adhesive layer is applied onto the wiring board by a spin coater or a roll coater.
It is applied with a curtain coater or the like, dried and brought into a B-stage state, and the above-described high toughness resin film is placed thereon,
By heating and pressing to cure the resin of the lower conductor adhesive layer and the film, the lower conductor adhesive layer and the high toughness resin layer can be formed. The heating temperature and pressurizing conditions at this time vary depending on the resin component of the lower conductor adhesive layer and the type of the high toughness resin, but the alicyclic epoxy resin described above is used as the resin component of the lower conductor adhesive layer. ,
When using a polyimide resin as the high toughness resin layer,
At 150 to 200 ° C., the pressure is preferably 1 to 100 kg / cm 2 .

【0051】(3)次に、前記(2) で高靱性樹脂層を設け
た配線基板の上に無電解めっき用接着剤層を設ける。こ
の無電解めっき用接着剤層は、配線基板の高靱性樹脂層
上に、未硬化の無電解めっき用接着剤溶液をロールコー
タやカーテンコータなどで塗布したのち乾燥硬化するこ
とにより、あるいは配線基板の高靱性樹脂層上に、ポリ
エチレンテレフタレートフィルムなどに未硬化の無電解
めっき用接着剤溶液を塗布して乾燥させてBステージと
したものを載置し、加熱加圧して硬化することにより、
形成される。
(3) Next, an adhesive layer for electroless plating is provided on the wiring board provided with the high toughness resin layer in (2). The adhesive layer for electroless plating is formed by applying an uncured adhesive solution for electroless plating on a high toughness resin layer of a wiring board with a roll coater or a curtain coater, and then drying and curing the solution. By applying an uncured electroless plating adhesive solution to a polyethylene terephthalate film or the like on the high toughness resin layer and drying it to form a B stage, and curing by heating and pressing,
It is formed.

【0052】なお、上記の下層導体用接着剤層および無
電解めっき用接着剤層を形成する際に用いる樹脂溶液あ
るいは接着剤溶液の溶媒は、メタノール、エタノールな
どのアルコール、ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル(DMDG)、トリエチレングリコールジメチルエー
テル(DMTG)などのグルコールエーテル系溶媒、N
−メチルピロリドン(NMP)、熱NMPがよい。
The solvent of the resin solution or the adhesive solution used when forming the lower conductor adhesive layer and the electroless plating adhesive layer is alcohol such as methanol and ethanol, diethylene glycol dimethyl ether (DMDG), Glycol ether solvents such as triethylene glycol dimethyl ether (DMTG), N
-Methylpyrrolidone (NMP) and hot NMP are good.

【0053】(4) 次に、「無電解めっき用接着剤層−高
靱性樹脂層」あるいは「無電解めっき用接着剤層−高靱
性樹脂層−下層導体用接着剤層」に対しこれらを貫通す
るバイアホール形成用の開口を設ける。この開口は、炭
酸ガスレーザ、紫外線レーザ、エキシマレーザなどのレ
ーザ光や酸素プラズマなどを使用することができる。酸
素プラズマを使用する場合は、コンフォーマルマスクと
呼ばれる、孔明け部分を開口させた金属マスクで被覆し
た後、酸素プラズマにより、層間樹脂絶縁層をアッシン
グする。
(4) Next, penetrate the “adhesive layer for electroless plating—high toughness resin layer” or “adhesive layer for electroless plating—high toughness resin layer—adhesive layer for lower conductor”. An opening for forming a via hole is provided. For this opening, a laser beam such as a carbon dioxide gas laser, an ultraviolet laser, an excimer laser, or oxygen plasma can be used. In the case of using oxygen plasma, the interlayer resin insulating layer is ashed by oxygen plasma after covering with a metal mask called a conformal mask and having a perforated portion opened.

【0054】(5)そして、フルアディテイブ法による場
合は、必要に応じて無電解めっき用接着剤層の表面を粗
化処理した後、触媒核を付与し、めっきレジストを形成
し、さらに無電解めっきを施して導体層およびバイアホ
ールを形成する。また、セミアディティブ法による場合
は、必要に応じて無電解めっき用接着剤層の表面を粗化
処理した後、触媒核を付与し、全面に無電解めっきを施
して導体層とバイアホールを形成し、さらに、パターン
非形成部分にめっきレジストを形成して電解めっきを施
して配線パターンおよびバイアホールの厚付けを行い、
めっきレジストを除去してエッチングを行い、配線パタ
ーンを独立化させる。
(5) In the case of the full additive method, the surface of the adhesive layer for electroless plating is roughened if necessary, and then a catalyst nucleus is applied to form a plating resist. Electrolytic plating is performed to form a conductor layer and a via hole. Also, in the case of the semi-additive method, after roughening the surface of the adhesive layer for electroless plating as necessary, a catalyst nucleus is provided, and the entire surface is subjected to electroless plating to form a conductor layer and a via hole. Then, furthermore, a plating resist is formed on a portion where no pattern is formed, and electrolytic plating is performed to thicken a wiring pattern and a via hole.
The wiring pattern is made independent by removing the plating resist and performing etching.

【0055】この工程において、無電解めっき用接着剤
層の表面は、酸や酸化剤などで粗化処理することができ
る他、粗化金属箔などを圧着し、その粗化金属箔をエッ
チングして除去することにより、無電解めっき用接着剤
層の表面を粗化することもできる。特に、前述した「酸
あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒
子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂
中に分散した無電解めっき用接着剤」を使用した場合
は、硬化後に酸や酸化剤で耐熱性樹脂粒子が選択的に除
去されるため、アンカーが形成でき、無電解めっき膜と
の良好な密着性が得られ有利である。
In this step, the surface of the adhesive layer for electroless plating can be roughened with an acid, an oxidizing agent, or the like. In addition, a roughened metal foil or the like is pressed and the roughened metal foil is etched. By removing it, the surface of the adhesive layer for electroless plating can be roughened. In particular, the above-mentioned "adhesive for electroless plating, in which cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent", was used. In this case, since the heat-resistant resin particles are selectively removed with an acid or an oxidizing agent after curing, an anchor can be formed, and good adhesion to the electroless plating film can be obtained, which is advantageous.

【0056】上記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あ
るいは蟻酸や酢酸などの有機酸があるが、特に有機酸を
用いることが望ましい。粗化処理した場合に、バイアホ
ールから露出する金属導体層を腐食させにくいからであ
る。一方、上記酸化剤としては、クロム酸、過マンガン
酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用いることが望ま
しい。
Examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid. It is particularly preferable to use organic acids. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. On the other hand, it is desirable to use chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.

【0057】この粗化処理は、バイアホール形成用の開
口を形成する前でも後でもよいが、開口を形成した後に
粗化処理した場合は、バイアホール壁面が粗化され、接
着剤層と導体層との密着性に優れるので有利である。
The roughening treatment may be performed before or after the formation of the opening for forming the via hole. However, when the roughening treatment is performed after the formation of the opening, the wall surface of the via hole is roughened, and the adhesive layer and the conductor layer are formed. This is advantageous because it has excellent adhesion to the layer.

【0058】この工程において、触媒核の付与には、貴
金属イオンや貴金属コロイドなどを用いることが望まし
く、一般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイド
を使用する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を
行うことが望ましい。このような触媒核としてはパラジ
ウムがよい。
In this step, it is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus. Generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0059】この工程において、めっきレジストとして
は、市販のドライフィルムを使用できるが、クレゾール
ノボラック型エポキシ樹脂やフェノールノボラック型エ
ポキシ樹脂などのノボラック型エポキシ樹脂をメタクリ
ル酸やアクリル酸でアクリル化した樹脂とイミダゾール
硬化剤からなる感光性樹脂組成物を使用することが望ま
しい。その理由は、かかる感光性樹脂組成物は、解像
度、耐塩基性に優れるからである。
In this step, a commercially available dry film can be used as a plating resist, and a resin obtained by acrylizing a novolak type epoxy resin such as a cresol novolak type epoxy resin or a phenol novolak type epoxy resin with methacrylic acid or acrylic acid is used. It is desirable to use a photosensitive resin composition comprising an imidazole curing agent. The reason is that such a photosensitive resin composition is excellent in resolution and base resistance.

【0060】なお、バイアホール形成用開口を無電解め
っきにて充填して、いわゆるフィルドビアを形成する場
合は、無電解めっき用接着剤層上に触媒核を付与する前
に、バイアホール形成用の開口から露出する下層の導体
層の表面を酸で処理して活性化して無電解めっき液に浸
漬する。そして、めっきでバイアホール形成用の開口を
充填した後、無電解めっき用接着剤層上に触媒核を付与
し、めっきレジストを設け、無電解めっきを行うことに
より、導体層を設ける。このようなめっき膜での充填に
より形成されたバイアホールは、その直上にさらに他の
バイアホールを形成することができるので、配線板の小
径化、高密度化が可能となる(図12参照)。
In the case where the via hole forming opening is filled with electroless plating to form a so-called filled via, before providing a catalyst nucleus on the adhesive layer for electroless plating, the via hole forming hole is formed. The surface of the lower conductor layer exposed from the opening is treated with an acid to be activated and immersed in an electroless plating solution. Then, after filling the opening for forming the via hole by plating, a catalyst nucleus is provided on the adhesive layer for electroless plating, a plating resist is provided, and electroless plating is performed to provide a conductor layer. In the via hole formed by filling with such a plating film, another via hole can be formed immediately above the via hole, so that the diameter and the density of the wiring board can be reduced (see FIG. 12). .

【0061】この工程において、導体層やバイアホール
を形成するための無電解めっきの処理液は、特に限定さ
れないが、銅イオン、トリアルカノールアミン、還元
剤、pH調整剤からなる無電解めっき液が有利である。
その理由は、かかる組成の無電解めっき液は高速めっき
を実現できるからである。前記トリアルカノールアミン
は、トリエタノールアミン、トリイソパノールアミン、
トリメタノールアミンおよびトリプロパノールアミンの
なかから選ばれるいずれか少なくとも1種であることが
望ましい。水溶性だからである。還元剤は、アルデヒ
ド、次亜リン酸塩、水素化ホウ素塩およびヒドラジンの
なかから選ばれるいずれか少なくとも1種であることが
望ましい。水溶性であり、塩基性条件下で還元力を持つ
からである。pH調整剤は、水酸化ナトリウム、水酸化
カリウムおよび水酸化カルシウムのなかから選ばれるい
ずれか少なくとも1種であることが望ましい。
In this step, the processing solution for electroless plating for forming the conductor layer and the via hole is not particularly limited, but an electroless plating solution comprising copper ions, trialkanolamine, a reducing agent and a pH adjuster is used. It is advantageous.
The reason is that an electroless plating solution having such a composition can realize high-speed plating. The trialkanolamine is triethanolamine, triisopanolamine,
Desirably, it is at least one selected from trimethanolamine and tripropanolamine. Because it is water-soluble. The reducing agent is desirably at least one selected from aldehyde, hypophosphite, borohydride, and hydrazine. This is because it is water-soluble and has a reducing power under basic conditions. The pH adjuster is desirably at least one selected from sodium hydroxide, potassium hydroxide and calcium hydroxide.

【0062】なお、導体層と無電解めっき用接着剤層と
の密着力を向上させる手段として、銅、ニッケル、コバ
ルトおよびリンから選ばれる少なくとも2種以上の金属
イオンを使用した合金めっきを一次めっきとして施し、
その後、銅めっきを二次めっきとして施す方法がある。
これらの合金は強度が高く、ピール強度を向上させるこ
とができるからである。
As means for improving the adhesion between the conductor layer and the adhesive layer for electroless plating, alloy plating using at least two kinds of metal ions selected from copper, nickel, cobalt and phosphorus is used for primary plating. Given as
Thereafter, there is a method of applying copper plating as secondary plating.
This is because these alloys have high strength and can improve peel strength.

【0063】(6)上述した (1)〜(5) の工程を必要に応
じて繰り返すことにより多層化し、多層配線板を製造す
る。 (7)多層配線板を製造した後、その配線板の両面に、ソ
ルダーレジスト組成物を塗布する。ソルダーレジスト組
成物は、市販品を使用できるが、クレゾールノボラック
型エポキシ樹脂やフェノールノボラック型エポキシ樹脂
などのノボラック型エポキシ樹脂をメタクリル酸やアク
リル酸でアクリル化した樹脂とイミダゾール硬化剤から
なる感光性樹脂組成物を使用することが望ましい。その
理由は、かかる感光性樹脂組成物はPbのマイグレーシ
ョンを防止できるからである。なお、ソルダーレジスト
組成物を塗布する前に、導体層表面を粗化処理してもよ
い。これにより、ソルダーレジスト層と導体層の密着性
が改善されるからである。
(6) The above-mentioned steps (1) to (5) are repeated as necessary to form a multilayer, thereby producing a multilayer wiring board. (7) After manufacturing the multilayer wiring board, a solder resist composition is applied to both sides of the wiring board. Commercially available solder resist compositions can be used, but a photosensitive resin consisting of a resin obtained by acrylizing a novolak type epoxy resin such as cresol novolak type epoxy resin or phenol novolak type epoxy resin with methacrylic acid or acrylic acid and an imidazole curing agent It is desirable to use a composition. The reason is that such a photosensitive resin composition can prevent migration of Pb. Before applying the solder resist composition, the surface of the conductor layer may be roughened. Thereby, the adhesion between the solder resist layer and the conductor layer is improved.

【0064】(8)前記 (7)で塗布したソルダーレジスト
の塗膜に、パッド部分を露出させた開口部を露光現像処
理により形成したのち、その塗膜を熱硬化する。そし
て、前記パッド部上に「ニッケル−金」などの金属層を
形成し、この上にはんだ体を供給する。
(8) An opening exposing the pad portion is formed by exposure and development processing on the solder resist coating film applied in (7), and the coating film is thermally cured. Then, a metal layer such as "nickel-gold" is formed on the pad portion, and a solder body is supplied thereon.

【0065】(方法を含む多層プリント配線板の製造
方法について)この製造方法は、層間樹脂絶縁層の形成
方法が異なること以外は、方法を含む上記製造方法と
同様である。 (1) 前述した高靱性樹脂フィルムの一方の面に未硬化の
下層導体用接着剤層、他方の面に未硬化の無電解めっき
用接着剤層を設ける。具体的には、まず、高靱性樹脂フ
ィルムの一方の面に前述した下層導体用接着剤層となる
樹脂溶液を塗布し、これを乾燥させてBステージ状態と
する。次いで、高靱性樹脂フィルムの反対側の面に無電
解めっき用接着剤の溶液を塗布し、これを乾燥させてB
ステージ状態とする。なお、塗布方法としては、ロール
コータやカーテンコータを使用できる。
(About the manufacturing method of the multilayer printed wiring board including the method) This manufacturing method is the same as the above-described manufacturing method including the method, except that the method of forming the interlayer resin insulating layer is different. (1) An uncured lower conductor adhesive layer is provided on one surface of the above-described high toughness resin film, and an uncured electroless plating adhesive layer is provided on the other surface. Specifically, first, the above-described resin solution for forming the lower conductor adhesive layer is applied to one surface of the high-toughness resin film, and dried to be in the B-stage state. Next, a solution of an adhesive for electroless plating is applied to the surface on the opposite side of the high toughness resin film, and the solution is dried and B
Set to the stage state. In addition, as a coating method, a roll coater or a curtain coater can be used.

【0066】(2) 方法を含む上記製造方法の工程(1)
と同様にして製造した配線基板に、基板側に下層導体用
接着剤層が接触するように上記高靱性樹脂フィルムを載
置し、加圧および加熱硬化して一体化する。このときの
加熱温度および加圧条件は、下層導体用接着剤層の樹脂
成分や高靱性樹脂の種類により異なるが、下層導体用接
着剤層の樹脂成分として前述した脂環式エポキシ樹脂を
使用し、高靱性樹脂層としてポリイミド樹脂フィルムを
使用する場合は、 150〜200 ℃で、1〜100kg /cm2
することが望ましい。
(2) Step (1) of the above production method including the method
The high-toughness resin film is placed on the wiring board manufactured in the same manner as described above so that the lower conductor adhesive layer is in contact with the board side, and is pressurized and heat-cured to be integrated. The heating temperature and pressurizing conditions at this time vary depending on the resin component of the lower conductor adhesive layer and the type of the high toughness resin, but the alicyclic epoxy resin described above is used as the resin component of the lower conductor adhesive layer. When a polyimide resin film is used as the high toughness resin layer, it is desirable that the temperature is 150 to 200 ° C. and 1 to 100 kg / cm 2 .

【0067】(3) 方法を含む上記製造方法と同様にし
て、バイアホール形成用の開口を設け、無電解めっきに
より、上層導体層とバイアホールを形成する。そしてさ
らに、多層化したのちソルダーレジスト層を形成しては
んだ体を供給する。
(3) In the same manner as the above manufacturing method including the method, an opening for forming a via hole is provided, and the upper conductor layer and the via hole are formed by electroless plating. Further, after the multilayered structure, a solder resist layer is formed and a solder body is supplied.

【0068】このような方法を含む製造方法は、層間
樹脂絶縁層が一工程で形成されるので、製造時間の短縮
化を図ることができ、量産に適している。また、この製
造方法は、下層導体用接着剤層−高靱性樹脂層−無電解
めっき用接着剤層からなるフィルムを積層して一括プレ
スするため、表面平坦性に優れ、硬化収縮などに起因す
る反りもない。
In the manufacturing method including such a method, since the interlayer resin insulating layer is formed in one step, the manufacturing time can be reduced, and the method is suitable for mass production. In addition, this manufacturing method is excellent in surface flatness and is caused by curing shrinkage and the like because a film composed of an adhesive layer for a lower conductor, a high-toughness resin layer, and an adhesive layer for electroless plating is laminated and pressed together. No warping.

【0069】以下、本発明を実施例に従って詳細に説明
する。なお、実施例1では方法を含む製造方法につい
て記載し、実施例2では方法を含む製造方法について
記載する。また、実施例中の符号は、図中の符号であ
る。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples. Example 1 describes a manufacturing method including a method, and Example 2 describes a manufacturing method including a method. Further, reference numerals in the embodiments are reference numerals in the drawings.

【0070】[0070]

【実施例】高靱性樹脂層として、実施例1,2ではポリ
イミド層を、実施例3ではPETを、実施例4ではPP
ESを、実施例5ではエポキシ樹脂−PPESを、実施
例6ではゴムを、それぞれ使用した。 (実施例1) (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマ
レイミドトリアジン)樹脂からなる基板の両面に18μm
の銅箔がラミネートされている銅張積層板を出発材料と
した。まず、この銅張積層板をドリル削孔し、めっきレ
ジストを形成した後、無電解めっき処理してスルーホー
ル3を形成し、さらに、銅箔を常法に従いパターン状に
エッチングすることにより、基板1の両面に内層銅パタ
ーン2を形成した(図1参照)。
EXAMPLES As a high toughness resin layer, a polyimide layer was used in Examples 1 and 2, PET was used in Example 3, and PP was used in Example 4.
ES was used in Example 5, epoxy resin-PPES was used, and in Example 6, rubber was used. Example 1 (1) 18 μm on both sides of a substrate made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm
Was used as a starting material. First, the copper-clad laminate is drilled to form a plating resist, and then subjected to electroless plating to form through-holes 3. Further, the copper foil is etched in a pattern according to a conventional method to obtain a substrate. An inner copper pattern 2 was formed on both surfaces of the first substrate 1 (see FIG. 1).

【0071】(2) 一方、ビスフェノールF型エポキシモ
ノマー(油化シェル製、分子量310 、商品名:YL983U)
100重量部と、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品
名:2E4MZ-CN)6重量部を混合し、さらに、この混合物
に対し、平均粒径 1.6μmで表面にシランカップリング
剤がコーティングされたSiO2 球状粒子(アドマテック
製、CRS 1101−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述す
る内層銅パターンの厚み(15μm)以下とする) 170重
量部、消泡剤(サンノプコ製、ペレノールS4)0.5 重
量部を混合し、3本ロールにて混練することにより、そ
の混合物の粘度を23±1℃で45,000〜49,000cps に調整
して、基板表面平滑化のための樹脂充填剤4を得た。
(2) On the other hand, bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, trade name: YL983U)
100 parts by weight and 6 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) were mixed, and the mixture was further coated with a silane coupling agent on the surface at an average particle size of 1.6 μm. SiO 2 spherical particles (manufactured by Admatech, CRS 1101-CE, where the maximum particle size is not more than the thickness (15 μm) of the inner layer copper pattern described later) 170 parts by weight, defoaming agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) By mixing 0.5 parts by weight and kneading with a three-roll mill, the viscosity of the mixture was adjusted to 45,000 to 49,000 cps at 23 ± 1 ° C. to obtain a resin filler 4 for smoothing the substrate surface. .

【0072】(3) 前記(1) で内層銅パターン2を形成し
た基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、Na
ClO2 (40g/l)、Na3PO4(6g/l)を酸化浴(黒
化浴)として用い、導体層2およびスルーホール3の全
表面に粗化層5を設けた(図2参照)。
(3) The substrate on which the inner layer copper pattern 2 was formed in the above (1) was washed with water and dried, and then NaOH (10 g / l), Na
ClO 2 (40 g / l) and Na 3 PO 4 (6 g / l) were used as an oxidation bath (blackening bath), and a roughened layer 5 was provided on the entire surface of the conductor layer 2 and the through hole 3 (see FIG. 2). ).

【0073】(4) 次に、基板の片面に、前記(2) で得た
樹脂充填剤4をロールコータを用いて塗布することによ
り、導体回路2間あるいはスルーホール3内に充填し、
70℃で20分間の乾燥を行った。そしてさらに、基板の他
方の面に、前記(2) で得た樹脂充填剤4をロールコータ
を用いて塗布することにより、導体回路2間あるいはス
ルーホール3内に充填し、70℃で40分加熱乾燥させた。
(4) Next, the resin filler 4 obtained in the above (2) is applied to one surface of the substrate using a roll coater to fill the space between the conductor circuits 2 or into the through holes 3.
Drying was performed at 70 ° C. for 20 minutes. Further, the resin filler 4 obtained in the above (2) is applied to the other surface of the substrate by using a roll coater to fill the space between the conductor circuits 2 or the inside of the through-holes 3 and then at 70 ° C. for 40 minutes. It was dried by heating.

【0074】(5) 前記(4) の処理を終えた基板の片面
を、#600 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベ
ルトサンダー研磨により、内層銅パターン2の表面やス
ルーホール3のランド表面に樹脂充填剤4が残らないよ
うに研磨し、次いで、前記ベルトサンダー研磨による傷
を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一連の
研磨を基板の他方の面についても同様に行った。そし
て、 100℃で1時間、120 ℃で3時間、 150℃で1時
間、 180℃で7時間の加熱処理を行って硬化した。
(5) One surface of the substrate after the treatment of the above (4) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 2 and the through holes 3. Polishing was performed so that the resin filler 4 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches due to the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then, a heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 3 hours, at 150 ° C. for 1 hour, and at 180 ° C. for 7 hours to cure.

【0075】このようにして、スルーホール3等に充填
された樹脂充填剤4の表層部および導体回路2上面の粗
化層5を除去して基板両面を平滑化し、樹脂充填剤4と
導体回路2の側面とが粗化層5を介して強固に密着し、
またスルーホール3の内壁面と樹脂充填剤4とが粗化層
5を介して強固に密着した配線基板を得た。
In this manner, the surface layer portion of the resin filler 4 filled in the through holes 3 and the like and the roughened layer 5 on the upper surface of the conductor circuit 2 are removed to smooth both surfaces of the substrate. 2 firmly adheres to the side surface via the roughened layer 5,
In addition, a wiring board in which the inner wall surface of the through hole 3 and the resin filler 4 were firmly adhered to each other via the roughened layer 5 was obtained.

【0076】(6) 前記(5) の処理で露出した導体回路2
およびスルーホール3のランド上面に厚さ 2.5μmのCu
−Ni−P合金からなる粗化層5を形成し、さらにその粗
化層5の表面に厚さ 0.3μmのSn層(図示しない)を形
成した(図2参照)。その形成方法は以下のとおりであ
る。即ち、基板を酸性脱脂してソフトエッチングし、次
いで、塩化パラジウムと有機酸からなる触媒溶液で処理
して、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化した後、硫
酸銅8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/l、クエン酸15g
/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/
l、界面活性剤 0.1g/l、pH=9からなる無電解め
っき浴にてめっきを施し、銅導体回路2およびスルーホ
ール3の全表面にCu−Ni−P合金の粗化層5を形成し
た。ついで、ホウフッ化スズ0.1mol/l、チオ尿素1.0m
ol/l、温度50℃、pH=1.2 の条件でCu−Sn置換反応
させ、粗化層5の表面に厚さ 0.3μmのSn層を設けた
(Sn層については図示しない)。
(6) The conductor circuit 2 exposed by the process (5)
And 2.5μm thick Cu on the land surface of through hole 3
A roughened layer 5 made of a -Ni-P alloy was formed, and a Sn layer (not shown) having a thickness of 0.3 µm was formed on the surface of the roughened layer 5 (see Fig. 2). The forming method is as follows. That is, the substrate is acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g
/ L, sodium hypophosphite 29g / l, boric acid 31g /
l, a surfactant is plated in an electroless plating bath consisting of 0.1 g / l and pH = 9 to form a roughened layer 5 of a Cu-Ni-P alloy on all surfaces of the copper conductor circuit 2 and the through holes 3. did. Then, tin borofluoride 0.1mol / l, thiourea 1.0m
A Cu-Sn substitution reaction was performed under the conditions of ol / l, a temperature of 50 ° C., and a pH of 1.2 to provide a 0.3 μm thick Sn layer on the surface of the roughened layer 5 (the Sn layer is not shown).

【0077】(7) また一方で、脂環式エポキシ樹脂であ
るジシクロペンタジエン変成エポキシ樹脂(大日本イン
キ株式会社製、商品名:EPICLON HP−7200)を35重量
部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名: 2E4MZ
−CN)2重量部、消泡剤(サンノプコ社製、商品名:S
−65)0.5 重量部、さらにこれらの混合物に対してエポ
キシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリマーポール)
の平均粒径 3.0μmのものを10.3重量部、平均粒径 0.5
μmのものを3.09重量部を混合した後、さらにNMP
(ノルマルメチルピロリドン)30重量部を添加しながら
混合し、ホモディスパー攪拌機で粘度7Pa・sに調整し
て無電解めっき用接着剤を得た。
(7) On the other hand, 35 parts by weight of a dicyclopentadiene-modified epoxy resin (manufactured by Dainippon Ink Co., Ltd., trade name: EPICLON HP-7200) which is an alicyclic epoxy resin, and an imidazole curing agent (Shikoku Chemicals) Product name: 2E4MZ
-CN) 2 parts by weight, defoamer (manufactured by San Nopco, trade name: S
-65) 0.5 parts by weight, and epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: Polymer Pole) based on these mixtures.
10.3 parts by weight of an average particle size of 3.0 μm and an average particle size of 0.5
After mixing 3.09 parts by weight of
The mixture was mixed while adding 30 parts by weight of (normal methylpyrrolidone), and the viscosity was adjusted to 7 Pa · s with a homodisper stirrer to obtain an adhesive for electroless plating.

【0078】(8) 脂環式エポキシ樹脂であるジシクロペ
ンタジエン変成エポキシ樹脂(大日本インキ株式会社
製、商品名:EPICLON HP−7200)をDMDGに溶解させ
て下層導体用接着剤層に使用される樹脂溶液を得た。
(8) Dicyclopentadiene-modified epoxy resin (EPICLON HP-7200, manufactured by Dainippon Ink Co., Ltd.), which is an alicyclic epoxy resin, is dissolved in DMDG and used for the lower conductive adhesive layer. A resin solution was obtained.

【0079】(9) 厚さ25μmのポリイミドフィルム(宇
部興産、商品名:ユーピレックス、破壊伸度:60%、T
g点:300 ℃以上)6の片面に、前記(8) で得た樹脂溶
液を塗布して80℃で乾燥させ、厚さ5μmの未硬化の下
層導体用接着剤層8を形成した。さらに他方の面には、
前記(7) で得た無電解めっき用接着剤を塗布して60℃で
乾燥させ、厚さ5μmの未硬化の無電解めっき用接着剤
層7を形成した(図3(a)(b)参照)。
(9) A polyimide film having a thickness of 25 μm (Ube Industries, trade name: Upilex, elongation at break: 60%, T
(g point: 300 ° C. or more)) The resin solution obtained in the above (8) was applied to one surface of (6) and dried at 80 ° C. to form an uncured lower conductive adhesive layer 8 having a thickness of 5 μm. On the other side,
The adhesive for electroless plating obtained in the above (7) was applied and dried at 60 ° C. to form an uncured adhesive layer for electroless plating 7 having a thickness of 5 μm (FIGS. 3A and 3B). reference).

【0080】(10)前記 (6)までの処理を施した基板の両
面に、前記(9) で得たポリイミドフィルムを下層導体用
接着剤層8が基板側に接触するように載置し、20kg/cm
2 の圧力、 175℃の温度にて加熱加圧して5時間放置
し、下層導体用接着剤層8および無電解めっき用接着剤
層7を硬化させて、基板とポリイミドフィルムを一体化
させた。
(10) The polyimide film obtained in the above (9) is placed on both sides of the substrate subjected to the processing up to the above (6) such that the lower conductor adhesive layer 8 comes into contact with the substrate, 20kg / cm
After heating and pressurizing at a pressure of 175 ° C. at a pressure of 2 and left for 5 hours, the lower conductor adhesive layer 8 and the electroless plating adhesive layer 7 were cured to integrate the substrate and the polyimide film.

【0081】(11)前記(10)の工程を経た基板の両面に、
内層の導体回路2を露出せしめる開口径30μmのバイア
ホール形成用の開口9をエキシマレーザにて形成した
(図5参照)。 (12)この開口9を形成した基板をクロム酸に2分間浸漬
し、樹脂マトリックス中のエポキシ樹脂粒子を部分的に
溶解して、無電解めっき用接着剤層の表面を粗化面10
(粗化深さ6μm)とし、その後、その基板を中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬して水洗いした(図6参照)。
(11) On both surfaces of the substrate having undergone the step (10),
An opening 9 for forming a via hole having an opening diameter of 30 μm for exposing the inner conductor circuit 2 was formed by an excimer laser (see FIG. 5). (12) The substrate in which the openings 9 are formed is immersed in chromic acid for 2 minutes to partially dissolve the epoxy resin particles in the resin matrix, and the surface of the adhesive layer for electroless plating is roughened.
(Roughening depth: 6 μm), and then the substrate was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water (see FIG. 6).

【0082】(13)さらに、この基板を酸に浸漬して、開
口9から露出している内層の導体回路2の表面を活性化
し、下記組成の無電解めっき液に約6時間浸漬して、開
口内を無電解めっき膜にて充填して、いわゆる「フィル
ドビア」11を形成した(図7参照)。 金属塩─ CuSO4・5H2O : 8.6 mM 錯化剤─TEA : 0.15M 還元剤─HCHO : 0.02M その他─安定剤(ビピリジル、フェロシアン化カリウム
等):少量 析出速度は、6μm/時間
(13) Further, the substrate is immersed in an acid to activate the surface of the inner conductor circuit 2 exposed from the opening 9 and immersed in an electroless plating solution having the following composition for about 6 hours. The opening was filled with an electroless plating film to form a so-called “filled via” 11 (see FIG. 7). Metal salt─ CuSO 4 · 5H 2 O: 8.6 mM Complexing agent─TEA: 0.15 M Reducing agent─HCHO: 0.02 M Other─Stabilizer (bipyridyl, potassium ferrocyanide, etc.): small amount Precipitation rate is 6 μm / hour

【0083】(14)また一方で、DMDGに溶解させた40
重量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与の
オリゴマー(分子量4000)を 100重量部、メチルエチル
ケトンに溶解させた20重量%のビスフェノールA型エポ
キシ樹脂(油化シェル製、商品名:エピコート1001)32
重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名: 2
E4MZ−CN)3.4 重量部、感光性モノマーである多価アク
リルモノマー(日本化薬製、商品名:R604 )6.4 重量
部、同じく感光性モノマーである多価アクリルモノマー
(共栄社化学製、商品名:DPE6A )3.2 重量部を混合
し、これらの混合物 100重量部に対してレベリング剤
(共栄社化学製、商品名:ポリフロー75) 0.5重量部を
混合して攪拌し、混合液Aを得た。さらに光開始剤とし
てのベンゾフェノン(関東化学製)4.3 重量部、光増感
剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)0.4 重量部を
40℃に加熱した 6.4重量部のジエチレングリコールジメ
チルエーテル(DMDG)に溶解させて混合液Bを得
た。そして、混合液Aと混合液Bを混合攪拌し、液状レ
ジストを得た。
(14) On the other hand, 40
20% by weight of bisphenol A type epoxy prepared by dissolving 100% by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylate of 50% of an epoxy group of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) in methyl ethyl ketone Resin (made of Yuka Shell, product name: Epikote 1001) 32
Parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2
E4MZ-CN) 3.4 parts by weight, photosensitive monomer polyvalent acrylic monomer (Nippon Kayaku, trade name: R604) 6.4 parts by weight, also photosensitive monomer polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: 3.2 parts by weight of DPE6A) were mixed, and 0.5 part by weight of a leveling agent (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd., trade name: Polyflow 75) was mixed with 100 parts by weight of the mixture and stirred to obtain a mixed solution A. Further, 4.3 parts by weight of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator and 0.4 parts by weight of Michler's ketone (Kanto Chemical) as a photosensitizer were added.
The mixture was dissolved in 6.4 parts by weight of diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) heated to 40 ° C. to obtain a mixture B. Then, the mixed liquid A and the mixed liquid B were mixed and stirred to obtain a liquid resist.

【0084】(15)基板表面の層間樹脂絶縁層(接着剤
層)に形成した粗化面10に、パラジウム触媒(アトテッ
ク製)を付与することにより、触媒核を付けた。 (16)上記(15)で触媒核を付与した基板の両面に、上記液
状レジストをロールコータを用いて塗布して60℃で30分
間の乾燥を行い、厚さ30μmのレジスト層を形成した。 (17)このレジスト層の上にフォトマスクフィルムを載置
して 400mJ/cm2 の紫外線を照射し、露光した。次い
で、そのフォトマスクフィルムを取り除き、レジスト層
をDMTGで溶解現像し、基板上に導体回路パターン部
の抜けためっきレジストを形成し、さらに、超高圧水銀
灯にて6000mJ/cm2 で露光し、100 ℃で1時間、その
後、150 ℃で3時間の加熱処理を行い、層間樹脂絶縁層
の上に永久レジスト12を形成した(図8参照)。
(15) A palladium catalyst (manufactured by Atotech) was applied to the roughened surface 10 formed on the interlayer resin insulating layer (adhesive layer) on the surface of the substrate to provide a catalyst core. (16) The liquid resist was applied on both sides of the substrate provided with the catalyst nucleus in the above (15) using a roll coater and dried at 60 ° C. for 30 minutes to form a resist layer having a thickness of 30 μm. (17) A photomask film was placed on the resist layer and exposed to ultraviolet light of 400 mJ / cm 2 . Next, the photomask film was removed, the resist layer was dissolved and developed with DMTG to form a plating resist on the substrate where the conductive circuit pattern portion was removed, and further exposed to 6000 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp, Heat treatment was carried out at a temperature of 150 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 3 hours to form a permanent resist 12 on the interlayer resin insulation layer (see FIG. 8).

【0085】(18)前記(17)で永久レジスト12を形成した
基板に、下記組成を有する無電解銅−ニッケル合金めっ
き浴を用いて一次めっきを行い、レジスト非形成部分に
厚さ約1.7 μmの銅−ニッケル−リンめっき薄膜を形成
した。このとき、めっき浴の温度は60℃とし、めっき浸
漬時間は1時間とした。 金属塩─ CuSO4・5H2O : 6.0 mM(1.5 g/l) ─ NiSO4・6H2O : 95.1 mM(25g/l) 錯化剤─ Na3C6H5O7 : 0.23M (60g/l) 還元剤─ NaPH2O2・H2O : 0.19M (20g/l) pH調節剤─NaOH : 0.75M (pH=9.5 ) 安定剤─硝酸鉛 : 0.2 mM(80ppm ) 界面活性剤 : 0.05g/l 析出速度は、1.7 μm/時間
(18) The substrate on which the permanent resist 12 was formed in the above (17) was subjected to primary plating using an electroless copper-nickel alloy plating bath having the following composition, and the portion where the resist was not formed had a thickness of about 1.7 μm. Of a copper-nickel-phosphorous plating thin film was formed. At this time, the temperature of the plating bath was 60 ° C., and the plating immersion time was 1 hour. Metal salt─CuSO 4 · 5H 2 O: 6.0 mM (1.5 g / l) ─NiSO 4 · 6H 2 O: 95.1 mM (25 g / l) Complexing agent─Na 3 C 6 H 5 O 7 : 0.23 M (60 g / L) Reducing agent─NaPH 2 O 2 · H 2 O: 0.19M (20 g / l) pH adjuster─NaOH: 0.75M (pH = 9.5) Stabilizer─Lead nitrate: 0.2 mM (80 ppm) Surfactant: 0.05 g / l Precipitation rate is 1.7 μm / hour

【0086】(19)一次めっき処理した基板を、前記めっ
き浴から引き上げて表面に付着しているめっき浴を水で
洗い流し、次いで酸性溶液で処理することにより、銅−
ニッケル−リンめっき薄膜の表層の酸化皮膜を除去し
た。そして、その基板に対し、Pd置換を行うことなく、
国際公開番号WO96/20294 号の国際特許出願に記載の前
処理液で活性化処理を施し、銅−ニッケル−リンめっき
薄膜上に、下記組成の無電解銅めっき浴を用いて二次め
っきを施した。これにより、アディティブ法による導体
層として必要な内層導体パターン13を形成した(図9参
照)。このとき、めっき浴の温度は50〜70℃とし、めっ
き浸漬時間は90〜360 分とした。 金属塩… CuSO4・5H2O : 8.6 mM 錯化剤…TEA : 0.15M 還元剤…HCHO : 0.02M その他…安定剤(ビピリジル、フェロシアン化カリウム
等):少量 析出速度は、6μm/時間
(19) The substrate that has been subjected to the primary plating is lifted from the plating bath, and the plating bath attached to the surface is washed away with water, and then treated with an acidic solution to obtain a copper-free substrate.
The oxide film on the surface of the nickel-phosphorus plating thin film was removed. And, without performing Pd substitution on the substrate,
An activation treatment is performed with a pretreatment solution described in the international patent application of International Publication No. WO96 / 20294, and a secondary plating is performed on the copper-nickel-phosphorus plating thin film using an electroless copper plating bath having the following composition. did. Thus, an inner conductor pattern 13 required as a conductor layer by the additive method was formed (see FIG. 9). At this time, the temperature of the plating bath was 50 to 70 ° C., and the plating immersion time was 90 to 360 minutes. Metal salts ... CuSO 4 · 5H 2 O: 8.6 mM Complexing agent ... TEA: 0.15 M reducing agent ... HCHO: 0.02 M Others ... stabilizer (bipyridyl, potassium ferrocyanide and the like): a small amount deposition rate, 6 [mu] m / Time

【0087】(20)このようにしてアディティブ法による
導体層13を形成した後、基板の片面を、#600 のベルト
研磨紙を用いたベルトサンダー研磨により、永久レジス
ト12の表面とバイアホールの銅の最上面(導体層13の表
面)とが揃うまで研磨し、引き続き、前記ベルトサンダ
ー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を行った(バ
フ研磨のみでもよい)。そして、他方の面についても同
様に研磨して、基板両面が平滑なプリント配線基板を形
成した。
(20) After the conductive layer 13 is formed by the additive method in this manner, one surface of the substrate is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper to remove the copper from the surface of the permanent resist 12 and the via hole. Was polished until the top surface (the surface of the conductor layer 13) was aligned, and then buffing was performed to remove the scratches caused by the belt sander polishing (only buffing may be performed). Then, the other surface was similarly polished to form a printed wiring board having both surfaces smooth.

【0088】(21)そして、内層導体パターン13の表面に
銅−ニッケル−リンの針状合金めっきによる粗化層14を
設け(図10参照)、前述の工程を繰り返すことにより、
アディティブ法による上層導体パターン15を更にもう一
層形成し、このようにして配線層をビルドアップするこ
とにより両面6層の多層プリント配線板を製造した(図
11参照)。
(21) Then, a roughened layer 14 is formed on the surface of the inner conductor pattern 13 by plating a needle-like alloy of copper-nickel-phosphorus (see FIG. 10).
An upper layer conductor pattern 15 was further formed by the additive method, and a wiring layer was built up in this way to manufacture a multilayer printed wiring board having six layers on both sides (FIG.
11).

【0089】(22)また一方で、DMDGに溶解させた60
重量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与の
オリゴマー(分子量4000)を 46.67重量部、メチルエチ
ルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エ
ポキシ樹脂(油化シェル製、商品名:エピコート1001)
15.0重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品
名:2E4MZ-CN)1.6 重量部、感光性モノマーである多価
アクリルモノマー(日本化薬製、商品名:R604 )3重
量部、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、商
品名:DPE6A ) 1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ
社製、商品名:S−65)0.71重量部を混合し、さらにこ
れらの混合物に対して光開始剤としてのベンゾフェノン
(関東化学製)を2重量部、光増感剤としてのミヒラー
ケトン(関東化学製)を 0.2重量部加えて、粘度を25℃
で 2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物を得
た。
(22) On the other hand, 60
50% by weight of cresol novolac epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) acrylated with 50% of epoxy groups, and 80% by weight of bisphenol A type epoxy dissolved in methyl ethyl ketone Resin (made of Yuka Shell, product name: Epikote 1001)
15.0 parts by weight, 1.6 parts by weight of imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), 3 parts by weight of polyacrylic monomer (Nippon Kayaku, trade name: R604) which is a photosensitive monomer, also polyvalent 1.5 parts by weight of an acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DPE6A) and 0.71 parts by weight of a dispersion defoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65) are mixed, and a photoinitiator is added to these mixtures. 2 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) and 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer were added at a viscosity of 25 ° C.
Thus, a solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s was obtained.

【0090】(23) (1)〜(21)の工程を終えた配線基板の
両面に、前記(22)で得たソルダーレジスト組成物を20μ
mの厚さで塗布した。次いで、70℃で20分間、70℃で30
分間の乾燥処理を行った後、1000mJ/cm2 の紫外線で露
光し、DMTG現像処理した。そしてさらに、80℃で1時
間、 100℃で1時間、 120℃で1時間、 150℃で3時間
の条件で加熱処理し、パッド部分が開口した(開口径 2
00μm)ソルダーレジスト層(厚み20μm)14を形成し
た。
(23) The solder resist composition obtained in the above (22) is applied to both sides of the wiring board after the steps (1) to (21) by 20 μm.
m. Then at 70 ° C for 20 minutes, 70 ° C for 30 minutes
After a drying treatment for 1 minute, the substrate was exposed to ultraviolet rays of 1000 mJ / cm 2 and developed with DMTG. Further, the pad was heated at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours to open the pad portion (opening diameter 2 mm).
(00 μm) A solder resist layer (thickness: 20 μm) 14 was formed.

【0091】(24)次に、ソルダーレジスト層18を形成し
た基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸ナトリウ
ム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lからなるpH
=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口
部に厚さ5μmのニッケルめっき層を形成した。さら
に、その基板を、シアン化金カリウム2g/l、塩化ア
ンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50g/l、次
亜リン酸ナトリウム10g/lからなる無電解金めっき液
に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層上に
厚さ0.03μmの金めっき層を形成した。
(24) Next, the substrate on which the solder resist layer 18 was formed was treated with a pH of 30 g / l of nickel chloride, 10 g / l of sodium hypophosphite, and 10 g / l of sodium citrate.
= 5 for 20 minutes to form a nickel plating layer having a thickness of 5 μm at the opening. Further, the substrate was placed on an electroless gold plating solution comprising 2 g / l of potassium gold cyanide, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate, and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. for 23 seconds. By dipping, a gold plating layer having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer.

【0092】(25)そして、ソルダーレジスト層14の開口
部に、はんだペーストを印刷して、ソルダーレジスト層
14の開口部に、はんだペーストを印刷して 200℃でリフ
ローすることによりはんだバンプ17を形成し、はんだバ
ンプ17を有する多層プリント配線板を製造した(図12参
照)。
(25) Then, a solder paste is printed on the opening of the solder resist layer 14 to form a solder resist layer.
Solder paste was printed in the openings of 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps 17, thereby producing a multilayer printed wiring board having the solder bumps 17 (see FIG. 12).

【0093】(実施例2) (1) 実施例1の (1)〜(6) で得られた基板の両面に、実
施例1の (8)で得た樹脂溶液をスピンコータで塗布し、
これを80℃で乾燥させてBステージ状態とし、厚さ5μ
mの下層導体用接着剤層8を形成した(図13参照)。 (2) 下層導体用接着剤層8を形成した基板の両面に、厚
さ25μmのポリイミドフィルム(宇部興産製、商品名:
ユーピレックス、破壊伸度:60%、Tg点:300℃以
上)を積層し、20kg/cm2 の圧力、175 ℃の温度で5時
間加熱加圧してポリイミド層6を形成した(図14参
照)。 (3) ポリイミド層6を形成した基板の両面に、実施例1
の(7) で得た無電解めっき用接着剤を塗布し、これを60
℃で乾燥した後、175 ℃で5時間加熱硬化し、厚さ5μ
mの無電解めっき用接着剤層7を形成した(図15参
照)。 (4) 実施例1の(11)〜(20)を実施した。 (5) 本実施例の工程 (1)〜(4) を繰り返して両面6層の
多層プリント配線板を得た。 (6) そして、実施例1の(22)〜(25)を実施して、はんだ
バンプ17を有する多層プリント配線板を製造した。
(Example 2) (1) The resin solution obtained in (8) of Example 1 was applied to both surfaces of the substrate obtained in (1) to (6) of Example 1 by a spin coater.
This is dried at 80 ° C. to be in the B-stage state, and the thickness is 5 μm.
The lower conductive adhesive layer 8 was formed (see FIG. 13). (2) A polyimide film having a thickness of 25 μm (trade name, manufactured by Ube Industries, Ltd.) on both surfaces of the substrate on which the lower conductor adhesive layer 8 is formed.
(Upilex, elongation at break: 60%, Tg point: 300 ° C. or more)), and heated and pressed at a pressure of 20 kg / cm 2 and a temperature of 175 ° C. for 5 hours to form a polyimide layer 6 (see FIG. 14). (3) Example 1 on both sides of the substrate on which the polyimide layer 6 was formed
Apply the electroless plating adhesive obtained in (7) of
After drying at 175 ° C, heat and cure at 175 ° C for 5 hours.
m of the adhesive layer 7 for electroless plating was formed (see FIG. 15). (4) Steps (11) to (20) of Example 1 were performed. (5) The steps (1) to (4) of this example were repeated to obtain a multilayer printed wiring board having six layers on both sides. (6) Then, (22) to (25) of Example 1 were performed to manufacture a multilayer printed wiring board having the solder bumps 17.

【0094】(実施例3)実施例1(9) におけるポリイ
ミドフィルムに代えて、厚さ25μmポリエチレンテレ
フタレートフィルム(東レ製、破壊伸度:15%、Tg
点:69℃)を使用したこと以外は、実施例1と同様にし
て、はんだバンプ17を有する多層プリント配線板を製造
した。
Example 3 A 25 μm thick polyethylene terephthalate film (manufactured by Toray, breaking elongation: 15%, Tg) was used in place of the polyimide film in Example 1 (9).
(Point: 69 ° C.), except that a multilayer printed wiring board having solder bumps 17 was manufactured in the same manner as in Example 1.

【0095】(実施例4) (1) N−メチルピロリドン(NMP)にポリフェニレン
スルフォン(PPES)を溶解させて50重量%のPPE
S溶液を調製した。 (2) 実施例1の (1)〜(6) で得られた基板の両面に、P
PES溶液をロールコータで塗布し、80℃で5時間乾燥
させて、厚さ25μmの高靱性樹脂層を形成した。 (3) さらに、その基板の両面に、実施例1の(7) で得た
無電解めっき用接着剤を塗布し、これを60℃で乾燥した
後、175 ℃で5時間加熱硬化し、厚さ5μmの無電解め
っき用接着剤層を形成した。 (4) 実施例1の(11)〜(20)を実施した。 (5) 本実施例の工程 (1)〜(4) を繰り返して両面6層の
多層プリント配線板を得た。 (6) そして、実施例1の(22)〜(25)を実施して、はんだ
バンプを有する多層プリント配線板を製造した。
Example 4 (1) Polyphenylene sulfone (PPES) was dissolved in N-methylpyrrolidone (NMP) to obtain 50% by weight of PPE.
An S solution was prepared. (2) On both sides of the substrate obtained in (1) to (6) of Example 1, P
The PES solution was applied by a roll coater and dried at 80 ° C. for 5 hours to form a 25 μm thick high toughness resin layer. (3) Further, the adhesive for electroless plating obtained in (7) of Example 1 was applied to both surfaces of the substrate, dried at 60 ° C., and then heat-cured at 175 ° C. for 5 hours. An adhesive layer for electroless plating having a thickness of 5 μm was formed. (4) Steps (11) to (20) of Example 1 were performed. (5) The steps (1) to (4) of this example were repeated to obtain a multilayer printed wiring board having six layers on both sides. (6) Then, (22) to (25) of Example 1 were performed to manufacture a multilayer printed wiring board having solder bumps.

【0096】(実施例5) (1) N−メチルピロリドン(NMP)50重量部にポリフ
ェニレンスルフォン(PPES)25重量部および脂環式
エポキシ樹脂であるジシクロペンタジエン変成エポキシ
樹脂(大日本インキ株式会社製、商品名:EPICLON HP−
7200)を25重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、
商品名: 2E4MZ−CN)2重量部を混合し、エポキシ樹脂
−PPESの溶液を調製した。 (2) 実施例1の (1)〜(6) で得られた基板の両面に、P
PES溶液をロールコータで塗布し、80℃で5時間乾燥
させた後、 175℃で5時間加熱して、厚さ25μmの高靱
性樹脂層を形成した。 (3) さらに、その基板の両面に、実施例1の(7) で得た
無電解めっき用接着剤を塗布し、これを60℃で乾燥した
後、175 ℃で5時間加熱硬化し、厚さ5μmの無電解め
っき用接着剤層を形成した。 (4) 実施例1の(11)〜(20)を実施した。 (5) 本実施例の工程 (1)〜(4) を繰り返して両面6層の
多層プリント配線板を得た。 (6) そして、実施例1の(22)〜(25)を実施して、はんだ
バンプを有する多層プリント配線板を製造した。
Example 5 (1) 50 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP), 25 parts by weight of polyphenylene sulfone (PPES), and a dicyclopentadiene-modified epoxy resin which is an alicyclic epoxy resin (Dainippon Ink Co., Ltd.) Product name: EPICLON HP-
7200), 25 parts by weight of an imidazole curing agent (Shikoku Chemicals,
(Trade name: 2E4MZ-CN) 2 parts by weight were mixed to prepare a solution of epoxy resin-PPES. (2) On both sides of the substrate obtained in (1) to (6) of Example 1, P
The PES solution was applied with a roll coater, dried at 80 ° C. for 5 hours, and then heated at 175 ° C. for 5 hours to form a 25 μm thick high toughness resin layer. (3) Further, the adhesive for electroless plating obtained in (7) of Example 1 was applied to both surfaces of the substrate, dried at 60 ° C., and then heat-cured at 175 ° C. for 5 hours to obtain a thick film. An adhesive layer for electroless plating having a thickness of 5 μm was formed. (4) Steps (11) to (20) of Example 1 were performed. (5) The steps (1) to (4) of this example were repeated to obtain a multilayer printed wiring board having six layers on both sides. (6) Then, (22) to (25) of Example 1 were performed to manufacture a multilayer printed wiring board having solder bumps.

【0097】(実施例6) (1) 実施例1の (1)〜(6) で得られた基板の両面に、ニ
トリル含有率20%のアクリロニトリル−ブタジエンゴム
のメチルエチルケトン溶液をロールコータで塗布し、80
℃で5時間乾燥させて、厚さ20μmの高靱性樹脂層を形
成した。 (2) さらに、その基板の両面に、実施例1の(7) で得た
無電解めっき用接着剤を塗布し、これを60℃で乾燥した
後、175 ℃で5時間加熱硬化し、厚さ5μmの無電解め
っき用接着剤層を形成した。 (3) 実施例1の(11)〜(20)を実施した。 (4) 本実施例の工程 (1)〜(3) を繰り返して両面6層の
多層プリント配線板を得た。 (5) そして、実施例1の(22)〜(25)を実施して、はんだ
バンプを有する多層プリント配線板を製造した。
Example 6 (1) A methyl ethyl ketone solution of acrylonitrile-butadiene rubber having a nitrile content of 20% was applied to both surfaces of the substrate obtained in (1) to (6) of Example 1 by a roll coater. , 80
After drying at 5 ° C. for 5 hours, a high toughness resin layer having a thickness of 20 μm was formed. (2) Further, the adhesive for electroless plating obtained in (7) of Example 1 was applied to both surfaces of the substrate, dried at 60 ° C., and then heat-cured at 175 ° C. for 5 hours to obtain a thick film. An adhesive layer for electroless plating having a thickness of 5 μm was formed. (3) Steps (11) to (20) of Example 1 were performed. (4) The steps (1) to (3) of this example were repeated to obtain a multilayer printed wiring board having six layers on both sides. (5) Then, (22) to (25) of Example 1 were performed to manufacture a multilayer printed wiring board having solder bumps.

【0098】(比較例1) (1) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、ポリ
エーテルスルフォン(三井東圧製、商品名:PES1010P)
12重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:
2E4MZ−CN)2重量部、感光性モノマーであるカプロラ
クトン変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレー
ト(東亜合成製、商品名:アロニックスM325 )4重量
部、光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)2
重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学
製)0.2 重量部、さらにこれらの混合物に対してエポキ
シ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリマーポール)の
平均粒径 3.0μmのものを10.3重量部、平均粒径 0.5μ
mのものを3.09重量部、消泡剤(サンノプコ、商品名:
S−65)0.5 重量部を混合した後、NMP(ノルマルメ
チルピロリドン)30重量部を添加して粘度 7.0 Pa ・s
に調整した無電解めっき用接着剤を得た。 (2) 実施例1の (1)〜(6) で得られた基板の両面に、本
実施例の(1) で得た無電解めっき用接着剤をロールコー
タで塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で乾
燥を行い、層間樹脂絶縁層(接着剤層)を形成した。 (3) 接着剤層を形成した基板の両面に、 100μmφの黒
円が印刷されたフォトマスクフィルムを密着させ、超高
圧水銀灯により 500mJ/cm2 で露光した。これをDMT
G溶液でスプレー現像することにより、前記接着剤層に
バイアホールとなる 100μmφの開口を形成した。さら
に、当該基板を超高圧水銀灯により3000mJ/cm2 で露光
し、100 ℃で1時間、その後 150℃で5時間の加熱処理
をすることにより、フォトマスクフィルムに相当する寸
法精度に優れた開口(バイアホール形成用開口)を有す
る厚さ50μmの接着剤層(層間樹脂絶縁層)を形成し
た。 (4) 接着剤層に開口を形成した基板を、クロム酸に2分
間浸漬し、接着剤層の樹脂マトリックス中に存在するエ
ポキシ樹脂粒子を部分的に溶解して、当該接着剤層の表
面を粗化面(粗化深さ6μm)とし、その後、中和溶液
(シプレイ社製)に浸漬した後に水洗いした。 (5) 前記(4) の処理を施した基板にパラジウム触媒(ア
トテック製)を付与することにより、接着剤層表面およ
びバイアホール用開口内面に触媒核を付けた。 (6) 触媒核を付与した基板の両面に、実施例1に準じて
調製した液状レジストをロールコーターを用いて塗布
し、60℃で30分間の乾燥を行い、厚さ30μmのレジスト
層を形成した。 (7) このレジスト層の上にフォトマスクフィルムを載置
して 400mJ/cm2 の紫外線を照射し、露光した。次い
で、そのフォトマスクフィルムを取り除き、レジスト層
をDMTGで溶解現像し、基板上に導体回路パターン部
の抜けためっき用レジストを形成し、さらに、超高圧水
銀灯にて6000mJ/cm2 で露光し、100 ℃で1時間、その
後、150 ℃で3時間の加熱処理を行い、層間樹脂絶縁層
の上に永久レジストを形成した。 (8) 永久レジストを形成した基板に対し、実施例1に準
じて無電解めっきを行い、導体パターンおよびバイアホ
ール(BVH )を形成した。 (9) このようにしてアディティブ法による導体層を形成
した後、基板の片面を、#600 のベルト研磨紙を用いた
ベルトサンダー研磨により、永久レジストの表面と導体
層もしくはバイアホールの導体最上面とが揃うまで研磨
し、引き続き、ベルトサンダー研磨による傷を取り除く
ためのバフ研磨を行った。そして、他方の面についても
同様に研磨して、基板両面が平滑な多層プリント配線基
板を形成した。 (10)そして、前述の工程を繰り返すことにより、アディ
ティブ法による導体層を更にもう一層形成し、このよう
にして配線層をビルドアップすることにより両面6層の
多層プリント配線板を製造した。 (11)そして、実施例1に準じてソルダーレジスト層とは
んだバンプを形成し、はんだバンプを有する多層プリン
ト配線板を製造した。
(Comparative Example 1) (1) 35 parts by weight of a 25% acrylate of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight: 2500), polyether sulfone (trade name: PES1010P, manufactured by Mitsui Toatsu)
12 parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name:
2E4MZ-CN) 2 parts by weight, caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name: Aronix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) as a photosensitive monomer, benzophenone (Kanto Chemical) 2 as a photoinitiator
Parts by weight, 0.2 part by weight of Michler's ketone as a photosensitizer (manufactured by Kanto Kagaku), and a mixture of these with an average particle diameter of 3.0 μm of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., trade name: polymer pole) of 10.3 Parts by weight, average particle size 0.5μ
3.09 parts by weight of an antifoaming agent (San Nopco, trade name:
S-65) After mixing 0.5 part by weight, 30 parts by weight of NMP (normal methylpyrrolidone) was added, and the viscosity was 7.0 Pa · s.
To obtain an adhesive for electroless plating. (2) The adhesive for electroless plating obtained in (1) of this embodiment was applied to both surfaces of the substrate obtained in (1) to (6) of Example 1 with a roll coater, and the adhesive was applied in a horizontal state. After standing for 60 minutes, drying was performed at 60 ° C. to form an interlayer resin insulating layer (adhesive layer). (3) A photomask film on which a black circle of 100 μmφ was printed was brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the adhesive layer was formed, and was exposed at 500 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp. This is DMT
A 100 μmφ opening serving as a via hole was formed in the adhesive layer by spray development with the G solution. Further, the substrate is exposed to 3000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and is subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 5 hours, so that openings having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film are obtained. An adhesive layer (interlayer resin insulating layer) having a thickness of 50 μm having an opening for forming a via hole) was formed. (4) The substrate having the opening formed in the adhesive layer is immersed in chromic acid for 2 minutes to partially dissolve the epoxy resin particles present in the resin matrix of the adhesive layer, and to clean the surface of the adhesive layer. The surface was roughened (roughening depth: 6 μm), and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water. (5) By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the substrate treated in the above (4), catalyst nuclei were attached to the surface of the adhesive layer and the inner surface of the via hole opening. (6) A liquid resist prepared according to Example 1 was applied to both sides of the substrate provided with the catalyst nucleus using a roll coater, and dried at 60 ° C. for 30 minutes to form a 30 μm thick resist layer. did. (7) A photomask film was placed on the resist layer and irradiated with ultraviolet rays at 400 mJ / cm 2 . Next, the photomask film was removed, and the resist layer was dissolved and developed with DMTG to form a plating resist on the substrate where the conductive circuit pattern was removed, and further exposed to 6000 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp, Heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 3 hours to form a permanent resist on the interlayer resin insulating layer. (8) The substrate on which the permanent resist was formed was subjected to electroless plating in the same manner as in Example 1 to form a conductor pattern and a via hole (BVH). (9) After the conductor layer is formed by the additive method in this manner, one surface of the substrate is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper to make contact with the surface of the permanent resist and the conductor upper surface of the conductor layer or via hole. Then, buffing was performed to remove scratches caused by belt sander polishing. Then, the other surface was polished in the same manner to form a multilayer printed wiring board having both surfaces smooth. (10) By repeating the above-mentioned steps, a further conductive layer was formed by the additive method, and the wiring layer was built up in this way to produce a multilayer printed wiring board having six double-sided layers. (11) Then, a solder resist layer and a solder bump were formed according to Example 1, and a multilayer printed wiring board having the solder bump was manufactured.

【0099】実施例1〜6および比較例1で製造した配
線板にICチップを搭載し、−55〜125 ℃で1000回のヒ
ートサイクル試験を実施した。その結果、実施例1〜6
では、導体層とめっきレジストの境界を起点として無電
解めっき用接着剤層に発生するクラックは、ほとんど観
察されず、クラックが生じていてもポリイミド層にてそ
の進行が抑止されており、導体回路の断線には到らない
ことを確認した。これに対して比較例では、導体層とめ
っきレジストの境界を起点とするクラックが多数観察さ
れ、導体回路が断線していた。
An IC chip was mounted on the wiring boards manufactured in Examples 1 to 6 and Comparative Example 1, and a heat cycle test was performed 1,000 times at -55 to 125 ° C. As a result, Examples 1 to 6
In the figure, cracks generated in the adhesive layer for electroless plating starting from the boundary between the conductor layer and the plating resist were hardly observed, and even if cracks had occurred, their progress was suppressed by the polyimide layer. It was confirmed that there was no disconnection. On the other hand, in the comparative example, many cracks starting from the boundary between the conductor layer and the plating resist were observed, and the conductor circuit was broken.

【0100】実施例1〜6においては、無電解めっき用
接着剤の破壊伸度は 4.6%であり、高靱性樹脂層を構成
するポリイミドの破壊伸度は60%、ポリエチレンテレフ
タレートの破壊伸度は15%、PPESの破壊伸度は60〜
120 %、エポキシ−PPESの破壊伸度は8.2 %、ゴム
の破壊伸度は 100%を超える。それ故に、導体層とめっ
きレジストの境界上では、破壊伸度の大きな高靱性樹脂
層がクラックの発生を抑制し得る。また、クラックが発
生した場合でも、破壊伸度大きな高靱性樹脂層でそのク
ラックの進行を抑えることができると考えられる。一
方、比較例においては、無電解めっき用接着剤の破壊伸
度は 5.2%であるが高靱性樹脂層が存在しないために、
クラックが発生してしまい、またクラックの進行も抑え
ることができないと考えられる。
In Examples 1 to 6, the elongation at break of the adhesive for electroless plating was 4.6%, the elongation at break of polyimide constituting the high toughness resin layer was 60%, and the elongation at break of polyethylene terephthalate was 60%. 15%, fracture elongation of PPES is 60 ~
The elongation at break of 120%, the epoxy-PPES is 8.2% and the elongation at break of rubber exceeds 100%. Therefore, on the boundary between the conductor layer and the plating resist, the high toughness resin layer having a large breaking elongation can suppress the occurrence of cracks. Further, even when a crack occurs, it is considered that the progress of the crack can be suppressed by the high toughness resin layer having a large fracture elongation. On the other hand, in the comparative example, the breaking elongation of the adhesive for electroless plating is 5.2%, but since the high toughness resin layer is not present,
It is considered that a crack is generated and the progress of the crack cannot be suppressed.

【0101】また、実施例1〜6では、下層導体用接着
剤層、無電解めっき用接着剤層ともにジシクロペンタジ
エンを構造中に含む脂環式エポキシ樹脂を使用している
ので、その誘電率も3.4 と低い。これに対して比較例で
は、無電解めっき用接着剤層としてクレゾールノボラッ
ク型エポキシ樹脂のアクリレートを使用しており、その
誘電率が4.33と高い。
In Examples 1 to 6, the alicyclic epoxy resin containing dicyclopentadiene in the structure was used for both the lower conductor adhesive layer and the electroless plating adhesive layer. Is also low at 3.4. On the other hand, in the comparative example, the acrylate of cresol novolak type epoxy resin is used as the adhesive layer for electroless plating, and its dielectric constant is as high as 4.33.

【0102】さらに、本発明では、図12に示すように、
バイアホールの直上にバイアホールを信頼性良く接続で
きるので、導体回路の更なる高密度化を実現できる。
Further, in the present invention, as shown in FIG.
Since the via hole can be connected with high reliability right above the via hole, it is possible to further increase the density of the conductor circuit.

【0103】[0103]

【発明の効果】以上説明のように本発明によれば、ヒー
トサイクル時に発生するクラックを抑制でき、しかも、
層間樹脂絶縁層の低誘電率化、ならびに導体回路の高密
度化を実現できる。
As described above, according to the present invention, cracks that occur during a heat cycle can be suppressed.
The dielectric constant of the interlayer resin insulating layer can be reduced, and the density of the conductive circuit can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing each manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to Example 1.

【図2】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図3】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図4】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図5】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing each manufacturing step of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図6】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 6 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図7】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 7 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図8】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 8 is a partial cross-sectional view showing each manufacturing step of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図9】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 9 is a partial cross-sectional view showing each manufacturing step of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図10】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 10 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing step of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図11】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 11 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図12】実施例1に係る多層プリント配線板の各製造工
程を示す部分断面図である。
FIG. 12 is a partial cross-sectional view illustrating each manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment.

【図13】実施例2に係る多層プリント配線板の製造工程
における一過程を示す部分断面図である。
FIG. 13 is a partial cross-sectional view showing one step in a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the second embodiment.

【図14】実施例2に係る多層プリント配線板の製造工程
における一過程を示す部分断面図である。
FIG. 14 is a partial cross-sectional view showing one step in a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the second embodiment.

【図15】実施例2に係る多層プリント配線板の製造工程
における一過程を示す部分断面図である。
FIG. 15 is a partial cross-sectional view showing one step in a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the second embodiment.

【図16】従来技術にかかる多層プリント配線板において
発生するクラックを示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing cracks that occur in a multilayer printed wiring board according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 内層銅パターン 3 スルーホール 4 樹脂充填剤 5 粗化層 6 ポリイミドフィルム(高靱性樹脂層) 7 無電解めっき用接着剤層 8 下層導体用接着剤層 9 バイアホール形成用の開口 10 粗化面 11 バイアホール(フィルドビア) 12 めっきレジスト(永久レジスト) 13 内層導体パターン 14 粗化層 15 上層導体パターン 16 ニッケル−金層 17 はんだバンプ 18 ソルダーレジスト Reference Signs List 1 substrate 2 inner layer copper pattern 3 through hole 4 resin filler 5 roughened layer 6 polyimide film (high toughness resin layer) 7 adhesive layer for electroless plating 8 adhesive layer for lower conductor 9 opening for forming via hole 10 coarse Surface 11 Via hole (filled via) 12 Plating resist (permanent resist) 13 Inner layer conductor pattern 14 Roughened layer 15 Upper layer conductor pattern 16 Nickel-gold layer 17 Solder bump 18 Solder resist

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導体層と層間樹脂絶縁層とを交互に積層
してなる多層プリント配線板において、その層間樹脂絶
縁層が、無電解めっき用接着剤層と高靱性樹脂層とから
構成されていることを特徴とする多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board in which conductor layers and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, wherein the interlayer resin insulation layer comprises an electroless plating adhesive layer and a high toughness resin layer. A multilayer printed wiring board.
【請求項2】 導体層と層間樹脂絶縁層とを交互に積層
されてなる多層プリント配線板において、その層間樹脂
絶縁層が、無電解めっき用接着剤層、高靱性樹脂層およ
び下層導体用接着剤層から構成されていることを特徴と
する多層プリント配線板。
2. A multilayer printed wiring board in which conductor layers and interlayer resin insulation layers are alternately laminated, wherein the interlayer resin insulation layer is composed of an adhesive layer for electroless plating, a high-toughness resin layer, and an adhesive for a lower conductor. A multilayer printed wiring board characterized by comprising an agent layer.
【請求項3】 上層の導体層と下層の導体層とが層間樹
脂絶縁層に設けられたバイアホールを介して互いに接続
されていると共に、そのバイアホール内は無電解めっき
で充填されていることを特徴とする請求項1または2に
記載の多層プリント配線板。
3. An upper conductor layer and a lower conductor layer are connected to each other via via holes provided in an interlayer resin insulating layer, and the via holes are filled with electroless plating. The multilayer printed wiring board according to claim 1 or 2, wherein:
【請求項4】 上記層間樹脂絶縁層は、基板側から、下
層導体用接着剤層、高靱性樹脂層および無電解めっき用
接着剤層を順次に積層したものである請求項1〜3のい
ずれか1項に記載の多層プリント配線板。
4. The interlayer resin insulating layer according to claim 1, wherein an adhesive layer for a lower conductor, a high-toughness resin layer, and an adhesive layer for electroless plating are sequentially laminated from the substrate side. 2. The multilayer printed wiring board according to claim 1.
【請求項5】 上記高靱性樹脂層は、ポリイミド樹脂
層、熱可塑性樹脂層、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂の複
合樹脂層、およびゴム層の中から選ばれるいずれか1の
層である請求項1〜4のいずれか1項に記載の多層プリ
ント配線板。
5. The high toughness resin layer is any one layer selected from a polyimide resin layer, a thermoplastic resin layer, a composite resin layer of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, and a rubber layer. Item 5. The multilayer printed wiring board according to any one of Items 1 to 4.
【請求項6】 上記無電解めっき用接着剤層は、酸ある
いは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子
が、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中
に分散してなる層からなる請求項1〜4のいずれか1項
に記載の多層プリント配線板。
6. The adhesive layer for electroless plating comprises a cured heat-resistant resin particle soluble in an acid or an oxidizing agent dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. The multilayer printed wiring board according to any one of claims 1 to 4, comprising a layer comprising:
【請求項7】 多層プリント配線板を製造するに当た
り、少なくとも下記の(1)〜(4) の工程、即ち、(1) 基
板の下層導体層上に高靱性樹脂層を形成する工程、(2)
前記高靱性樹脂層上に無電解めっき用接着剤層を形成す
る工程、(3) 無電解めっき用接着剤層および高靱性樹脂
層に対しこれらを貫通するバイアホール形成用の開口を
設ける工程、(4) 無電解めっきを施し、上層導体層およ
びバイアホールを形成する工程、を経ることを特徴とす
る多層プリント配線板の製造方法。
7. In manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (4), namely, (1) a step of forming a high toughness resin layer on a lower conductive layer of a substrate; )
Forming an electroless plating adhesive layer on the high toughness resin layer, (3) providing an opening for forming a via hole therethrough to the electroless plating adhesive layer and the high toughness resin layer, (4) A method for producing a multilayer printed wiring board, which comprises a step of applying an electroless plating to form an upper conductor layer and a via hole.
【請求項8】 多層プリント配線板を製造するに当た
り、少なくとも下記の(1)〜(4) の工程、即ち、(1) 基
板の下層導体層上に下層導体用接着剤層を形成し、その
上に高靱性樹脂層を順次に積層する工程、(2) 前記高靱
性樹脂層上に無電解めっき用接着剤層を形成する工程、
(3) 無電解めっき用接着剤層、高靱性樹脂層および下層
導体用接着剤層に対しこれらを貫通するバイアホール形
成用の開口を設ける工程、(4) 無電解めっきを施し、上
層導体層およびバイアホールを形成する工程、を経るこ
とを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。
8. When manufacturing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (4): (1) forming an adhesive layer for a lower conductor on a lower conductor layer of a substrate; Step of sequentially laminating a high toughness resin layer on, (2) forming an adhesive layer for electroless plating on the high toughness resin layer,
(3) a step of providing an opening for forming a via hole that penetrates the adhesive layer for electroless plating, the high-toughness resin layer, and the adhesive layer for the lower conductor, and (4) applying the electroless plating to the upper conductor layer. And a step of forming a via hole.
【請求項9】 多層プリント配線板を製造するに当た
り、少なくとも下記の(1)〜(4) の工程、即ち、(1) 高
靱性樹脂フィルムの一方の面に未硬化の無電解めっき用
接着剤層を形成し他方の面に未硬化の下層導体用接着剤
層を形成する工程、(2) 基板の下層導体層上に、基板側
に下層導体用接着剤層が接触するように上記高靱性樹脂
フィルムを積層し、加圧および加熱硬化して一体化する
工程、(3) 無電解めっき用接着剤層、高靱性樹脂層およ
び下層導体用接着剤層に対しこれらを貫通するバイアホ
ール形成用の開口を設ける工程、(4) 無電解めっき施
し、導体層およびバイアホールを形成する工程、を経る
ことを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。
9. In producing a multilayer printed wiring board, at least the following steps (1) to (4), namely: (1) an uncured adhesive for electroless plating on one surface of a high toughness resin film. Forming a layer and forming an uncured lower conductor adhesive layer on the other surface, (2) on the lower conductor layer of the substrate, the high toughness such that the lower conductor adhesive layer contacts the substrate side. Laminating resin films, pressurizing and heat-curing to integrate them. And (4) forming a conductor layer and a via hole by electroless plating to form a conductor layer and a via hole.
【請求項10】 まず、バイアホール形成用の開口内に無
電解めっきを充填してバイアホールを形成し、その後、
無電解めっき用接着剤層上に触媒核を付与して無電解め
っきを施すことにより上層導体層を形成する、ことを特
徴とする請求項7〜9のいずれか1項に記載の製造方
法。
10. A via hole is formed by filling an opening for forming a via hole with electroless plating.
The method according to any one of claims 7 to 9, wherein an upper conductor layer is formed by applying a catalyst core to the electroless plating adhesive layer and performing electroless plating.
【請求項11】 上記バイアホール形成用の開口は、レー
ザ光または酸素プラズマにより設けることを特徴とする
請求項7〜9のいずれか1項に記載の製造方法。
11. The method according to claim 7, wherein the opening for forming the via hole is provided by laser light or oxygen plasma.
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Cited By (6)

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