JPH10240576A - 検証装置および方法 - Google Patents

検証装置および方法

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JPH10240576A
JPH10240576A JP9045144A JP4514497A JPH10240576A JP H10240576 A JPH10240576 A JP H10240576A JP 9045144 A JP9045144 A JP 9045144A JP 4514497 A JP4514497 A JP 4514497A JP H10240576 A JPH10240576 A JP H10240576A
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JP
Japan
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verification
application program
model
dsp
unit
Prior art date
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Application number
JP9045144A
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Koji Aoyama
幸治 青山
Yoshito Kondo
芳人 近藤
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 短時間でDSPの各機能を詳細に検証する。 【解決手段】 最初に、シミュレーション条件入力部1
に検証条件のデータが入力されるとともに、記録媒体1
01からアプリケーションプログラムが入力データ用バ
ッファ102に供給される。そして、入力された条件の
データと、画像データ入力部103に入力された画像デ
ータが、入力データ用バッファ102に供給される。そ
して、入力データ用バッファ102は、これらのデータ
とともに、DSP用の命令セットで記述されたアプリケ
ーションプログラムを検証部2に出力する。検証部2
は、入力データ用バッファ102より供給された検証条
件に従って検証を行う。そして、検証部2は、検証の結
果であるデバッグ情報、信号波形情報、および、処理後
の画像データを、デバッグ情報表示部5、信号波形情報
表示部6、および、処理画像表示部7にそれぞれ出力す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、検証装置および方
法に関し、特に、検証における検証項目を設定し、ソフ
トウェアモデルおよびハードウェアモデルを使用して、
アプリケーションプログラムを、その検証項目に関して
検証する検証装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】所定の画像処理を実行する回路を実現す
る場合、その処理専用のASIC(Application Specif
ic Integrated Circuit)が設計されることが多い。
【0003】一方、最近の半導体技術の進歩に伴い、処
理を記述したソフトウェアを利用してプログラマブルに
回路を実現するDSP(Digital Signal Processor)の
処理速度が速くなりつつあり、実時間で画像処理が可能
である速度を有するDSPが開発されている。
【0004】DSPにより処理されるアプリケーション
プログラムの開発においては、プログラムの検証を行う
ことが必要であり、検証を行う場合においては、DSP
の機能をソフトウェア化したプログラムであるソフトウ
ェアモデル、あるいは、DSPの機能を有する回路であ
るハードウェアモデルが利用される。
【0005】図7は、DSPのソフトウェアモデルを利
用した検証装置の構成例を示している。記録媒体101
には、アプリケーションプログラムを有する入力ファイ
ル121が記録されており、そのプログラムは、入力デ
ータ用バッファ102に出力される。
【0006】画像データ入力部103は、所定の装置
(図示せず)より供給された所定の画像データを入力デ
ータ用バッファ102に出力する。
【0007】入力データ用バッファ102は、供給され
たアプリケーションプログラムと画像データを一時的に
保持する。
【0008】一方、記憶部105には、DSPの機能を
有するプログラムであるソフトウェアモデル122が記
憶されており、このソフトウェアモデル122が検証部
104に出力される。
【0009】このとき、入力データ用バッファ102か
ら、アプリケーションプログラムと画像データも、検証
部104に出力される。
【0010】検証部104は、いわゆるマイクロコンピ
ュータとして構成されており、供給されたアプリケーシ
ョンプログラムとソフトウェアモデルに従って、画像デ
ータに対してDSPにより行われる処理の検証結果を表
示部106に表示させる。
【0011】このとき、デバッグ情報、信号波形情報、
および、処理した画像情報のいずれか1つが、検証結果
として出力されるように予め設定されており、設定され
た情報だけが、表示部106に表示される。
【0012】図8は、DSPのハードウェアモデルを利
用した検証装置の構成例を示している。記録媒体10
1、入力データ用バッファ102、および、画像データ
入力部103は、図7のものと同様であり、アプリケー
ションプログラムおよび画像データが、入力データ用バ
ッファ102を介して検証部112に供給される。
【0013】ハードウェアウェアモデル111は、実際
に使用するDSPの回路(LSIチップ)を内蔵してい
る。
【0014】検証部112は、入力データ用バッファ1
02より供給されたアプリケーションプログラムに従っ
て処理を行い、その処理のうち、DSPにより行われる
処理をハードウェアモデル111に行わせることにより
検証を行う。
【0015】この場合の検証結果は、実際のハードウェ
ア(DSP)を使用しているので、処理した画像情報だ
けであり、この画像情報は、処理画像表示部113(例
えばCRT)に表示される。
【0016】このようにして、ハードウェアモデルまた
はソフトウェアモデルを利用して、DSP用のアプリケ
ーションプログラムの検証が行われている。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ソフト
ウェアモデルを利用して検証を行う場合、DSPの各機
能に対する詳細な情報を獲得することができるが、検証
に要する処理時間が非常に長い。一方、ハードウェアモ
デルを利用して検証を行う場合、実時間で処理が行われ
るので検証に要する時間は短いが、DSPの各機能に対
する詳細な情報を獲得することが困難である。従って、
短時間でDSPの各機能を詳細に検証することが困難で
あるという問題を有している。
【0018】本発明は、そのような状況に鑑みてなされ
たもので、検証における検証項目を設定し、ソフトウェ
アモデルおよびハードウェアモデルを使用して、アプリ
ケーションプログラムをその検証項目に関して検証する
ようにして、短時間でDSPの各機能を詳細に検証する
ことができるようにするものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の検証装
置は、ソフトウェアモデルおよびハードウェアモデルを
使用して、アプリケーションプログラムを検証する検証
手段と、検証手段により検証における検証項目を設定す
る設定手段とを備えることを特徴とする。
【0020】請求項5に記載の検証方法は、検証におけ
る検証項目を設定するステップと、ソフトウェアモデル
およびハードウェアモデルを使用して、アプリケーショ
ンプログラムを検証項目に関して検証するステップとを
備えることを特徴とする。
【0021】請求項1に記載の検証装置においては、設
定手段は、検証手段により検証における検証項目を設定
し、検証手段は、ソフトウェアモデルおよびハードウェ
アモデルを使用して、アプリケーションプログラムを検
証する。
【0022】請求項5に記載の検証方法においては、検
証における検証項目を設定し、ソフトウェアモデルおよ
びハードウェアモデルを使用して、アプリケーションプ
ログラムを検証項目に関して検証する。
【0023】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の検証装置の一実
施の形態の構成を示している。この検証装置における記
録媒体101、入力データ用バッファ102、画像デー
タ入力部103、記憶部105(記憶手段)、および、
ハードウェアモデル111(処理手段)は、図7または
図8のものと同様であるのでその説明を省略する。
【0024】シミュレーション条件入力部1(設定手
段)は、例えばSD(Standard Definition)画像、H
D(High Definition)画像などの、入力する画像デー
タの種類、検証時にデバッグ情報として出力させるDS
Pの機能、検証時に波形情報が出力されるDSPの所定
の部位、検証に利用するモデルの種類などの検証の条件
を入力され、モデルの種類に対応する信号をスイッチ3
(第2の設定手段)に出力するとともに、これらの検証
の条件を入力データ用バッファ102に出力するように
なされている。
【0025】変換部4は、記録媒体101から入力デー
タ用バッファ102に供給されたアプリケーションプロ
グラムが、例えばアセンブリ言語やC言語などで記述さ
れている場合、即ち、検証するDSP用の命令セット
(機械語)で記述されていない場合、そのアプリケーシ
ョンプログラムを検証するDSP用の命令セットに変換
するようになされている。
【0026】スイッチ3は、シミュレーション条件入力
部1より供給された信号に対応して、ソフトウェアモデ
ル122を記憶している記憶部105またはハードウェ
アモデル111を検証部2(検証手段)に接続させるよ
うになされている。
【0027】検証部2は、入力データ用バッファ102
より供給された検証条件で、アプリケーションプログラ
ムに従って処理を行い、検証条件により指定されている
情報のうち、デバッグ情報をデバッグ情報表示部5に出
力し、波形情報を信号波形表示部6に出力し、処理した
画像データを処理画像表示部7に出力するようになされ
ている。
【0028】デバッグ情報表示部5は、例えばCRTを
有しており、供給されたデバッグ情報をそのCRTに表
示させるようになされている。
【0029】信号波形表示部6は、例えばロジックアナ
ライザであり、供給された波形情報に対応する信号波形
を例えばCRTに表示させるようになされている。
【0030】処理画像表示部7は、例えばCRTを有し
ており、供給された画像データに対応する画像をそのC
RTに表示させるようになされている。
【0031】次に、図2のフローチャートを参照して、
図1の検証装置の動作について説明する。
【0032】最初に、ステップS1において、シミュレ
ーション条件入力部1に、例えば図3に示すような条件
のデータが入力される。図3に示す条件のデータにおい
ては、SD画像が、入力する画像データの種類として設
定され、DSPの加算器のレジスタ値、DSPの除算器
のレジスタ値、および、DSPのプログラムカウンタの
値が、デバッグ情報として設定されている。さらに、図
3のデータにおいては、DSPの演算器のI/Oピンの
波形が、波形情報として設定され、ソフトウェアモデル
とハードウェアモデルの両方が、検証において使用され
るモデルとして設定されている。
【0033】なお、この条件のデータを入力する場合、
例えばキーボードなどを利用して入力するようにしても
よいし、図3に示すようにテキストデータとして所定の
記録媒体にファイルとして予め保存しておき、そのファ
イルを入力するようにしてもよい。
【0034】次に、ステップS2において、記録媒体1
01からアプリケーションプログラムが入力データ用バ
ッファ102に供給される。アプリケーションプログラ
ムが、検証するDSP用の命令セットで記述されていな
い場合、変換部4は、そのアプリケーションプログラム
を、DSP用の命令セットで記述されたものに変換す
る。
【0035】例えば、図4に示すように画像サイズを縦
横それぞれ2倍にする処理を行う場合、新たに挿入され
る画素の値L1乃至L5は、次式に従って算出される。 L1=(P1+P2)/2 L2=(P3+P4)/2 L3=(P1+P3)/2 L4=(P2+P4)/2 L5=(L1+L2)/2 ここで、P1乃至P4は、元の画像のうちの図4に示す
4つの画素の画素値を表し、L1乃至L5は、拡大後の
画像のうちの、図4に示す元の画像のうちの4つの画素
の画素値より算出される画素値(即ち、新たに挿入され
る画素の値)を表している。
【0036】そして、この処理に対応するアプリケーシ
ョンプログラムは、図5に示すように、例えばDSP用
のアセンブリ言語で記述される。なお、図5において、
行頭の「%」は、その行がコメント行であることを表
し、命令「add r,x1,x2」は、レジスタまた
は変数x1の値とレジスタまたは変数x2の値の和を計
算し、その計算結果をレジスタまたは変数rに保存する
ことを表し、命令「divi r,x1,2」は、レジ
スタまたは変数x1の値を2で除算し、その計算結果を
レジスタまたは変数rに保存することを表している。
【0037】このように、アプリケーションプログラム
がアセンブリ言語で記述されている場合、変換部4は、
このアセンブリ言語で記述されたアプリケーションプロ
グラムをDSP用の命令セット(機械語)で記述された
ものに変換する。
【0038】例えば、DSPの32ビットの命令セット
において、最上位の6ビット(第32ビット乃至第27
ビット)がオペコードを表し、次の上位6ビット(第2
6ビット乃至第21ビット)が演算結果を代入するレジ
スタのアドレスを表し、第20ビット乃至第15ビット
の6ビットと、第14ビット乃至第9ビットの6ビット
が、演算する値を格納しているレジスタのアドレスをそ
れぞれ表し、第8ビット乃至第1ビットが、演算する値
の即値を表すものとする。その場合、命令「add」の
オペコードを「000001」とし、命令「divi」
のオペコードを「010010」とし、「r」で始まる
レジスタのタイプを「00」とし、「P」で始まるレジ
スタのタイプを「01」とし、「L」で始まるレジスタ
のタイプを「10」とすると、変換部4は、図5に示す
アセンブリ言語で記述されたプログラムを、図6に示す
機械語の命令セット(16進数)に変換する。なお、図
6の「#」以降の文字列は、コメントであり、特に意味
はない。
【0039】なお、DSPの命令セットの語長(ビット
長)は、32ビットに限定されるものではなく、16ビ
ットや他のビット長でもよい。
【0040】また、このとき、ステップS1において入
力された条件のデータと、画像データ入力部103に入
力された画像データが、入力データ用バッファ102に
供給される。なお、画像データは、検証条件において設
定されていれば、静止画像のデータおよび動画像のデー
タのいずれでもよい。
【0041】そして、入力データ用バッファ102は、
これらのデータとともに、DSP用の命令セットで記述
されたアプリケーションプログラムを検証部2に出力す
る。
【0042】次に、ステップS3において、検証部2
は、入力データ用バッファ102より供給された検証条
件に従って検証を行う。このとき、検証条件において設
定されているDSPのモデルがソフトウェアモデルであ
る場合、検証部2は、記憶部105が記憶しているソフ
トウェアモデル122を使用して検証を行う。
【0043】なお、ソフトウェアモデル122として、
C言語で記述されたものの他、Verilog HDL(Hardwa
re Description Language)やVHDL(VHSIC HDL)な
どのハードウェア記述言語で記述されたものを使用する
ことができる。なお、ソフトウェアモデル122がC言
語で記述されている場合、検証部2は、そのソフトウェ
アモデルを、Cコンパイラを利用して機械語に変換した
後、検証を行う。また、ソフトウェアモデル122がハ
ードウェア記述言語で記述されている場合、検証部2
は、そのハードウェア記述言語に対応するシミュレータ
を利用して検証を行う。
【0044】一方、検証条件において設定されているD
SPのモデルがハードウェアモデルである場合、検証部
2は、ハードウェアモデル111にアプリケーションプ
ログラムを実行させる。
【0045】また、検証条件において設定されているD
SPのモデルがソフトウェアモデルとハードウェアモデ
ルの両方である場合、検証部2は、予め設定されている
部分の処理をソフトウェアモデル122に従って実行
し、その他の処理をハードウェアモデル111に実行さ
せる。
【0046】なお、検証条件において設定されているD
SPのモデルがソフトウェアモデルとハードウェアモデ
ルの両方である場合、検証する処理のうち、ソフトウェ
アモデル122により検証される部分と、ハードウェア
モデル111により検証される部分は、検証条件とし
て、シミュレーション条件入力部1に入力されるデータ
において設定される。
【0047】例えば、図3に示すように検証条件が設定
され、DSPに図6に示す処理を行わせる場合、デバッ
グ情報であるDSPの加算器のレジスタ値、除算器のレ
ジスタ値、および、プログラムカウンタの値、並びに、
信号波形情報であるDSPの演算器のI/Oピンの信号
波形は、ソフトウェアモデル122を利用して算出し、
処理後の画像データは、ハードウェアモデル111を利
用して算出する。
【0048】そして、ステップS4において、検証部2
は、検証の結果であるデバッグ情報、信号波形情報、お
よび、処理後の画像データを、デバッグ情報表示部5、
信号波形情報表示部6、および、処理画像表示部7にそ
れぞれ出力する。
【0049】なお、このとき、同時に、デバッグ情報、
信号波形情報、および、処理後の画像データを、デバッ
グ情報表示部5、信号波形情報表示部6、および、処理
画像表示部7にそれぞれ表示させることができる。
【0050】以上のようにして、ハードウェアモデルと
ソフトウェアモデルを利用して、シミュレーション条件
入力部1に入力された検証条件に従ってアプリケーショ
ンプログラムの検証が行われる。
【0051】なお、上記実施の形態は、DSPのアプリ
ケーションプログラムの検証を行っているが、ハードウ
ェアモデルとソフトウェアモデルを変更することによ
り、他の処理回路の検証を行うことが可能である。
【0052】
【発明の効果】以上のごとく、請求項1に記載の検証装
置および請求項5に記載の検証方法によれば、検証にお
ける検証項目を設定し、ソフトウェアモデルおよびハー
ドウェアモデルを使用して、アプリケーションプログラ
ムを検証項目に関して検証するので、短時間でDSPの
各機能を詳細に検証することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の検証装置の一実施の形態の構成例を示
すブロック図である。
【図2】図1の検証装置の動作について説明するフロー
チャートである。
【図3】検証条件の一例を示す図である。
【図4】画像の拡大の一例を示す図である。
【図5】アセンブリ言語で記述されたアプリケーション
プログラムの一例を示す図である。
【図6】機械語に変換された図5のアプリケーションプ
ログラムの一例を示す図である。
【図7】ソフトウェアモデルだけを利用した検証装置の
一構成例を示すブロック図である。
【図8】ハードウェアモデルだけを利用した検証装置の
一構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 シミュレーション条件入力部, 2 検証部, 3
スイッチ, 4 変換部, 5 デバッグ情報表示
部, 6 信号波形表示部, 7 処理画像表示部,
101 記録媒体, 102 入力データ用バッファ,
105 記憶部, 111 ハードウェアモデル,
122 ソフトウェアモデル

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の処理回路のソフトウェアモデルま
    たはハードウェアモデルを利用して、前記処理回路のア
    プリケーションプログラムを検証する検証装置におい
    て、 前記ソフトウェアモデルおよび前記ハードウェアモデル
    を使用して、前記アプリケーションプログラムを検証す
    る検証手段と、 前記検証手段により検証における検証項目を設定する設
    定手段とを備えることを特徴とする検証装置。
  2. 【請求項2】 前記ハードウェアモデルを構成し、前記
    処理回路に対応する処理を行う処理手段と、 前記ソフトウェアモデルを記憶する記憶手段と、 前記処理手段のハードウェアモデルおよび前記記憶手段
    のソフトウェアモデルのうち、前記検証において使用す
    る1つまたは2つのモデルを設定する第2の設定手段と
    をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の検証
    装置。
  3. 【請求項3】 前記所定の処理回路は、デジタルシグナ
    ルプロセッサであることを特徴とする請求項1に記載の
    検証装置。
  4. 【請求項4】 前記アプリケーションプログラムは、画
    像処理用のプログラムであることを特徴とする請求項1
    に記載の検証装置。
  5. 【請求項5】 所定の処理回路のソフトウェアモデルま
    たはハードウェアモデルを利用して、前記処理回路のア
    プリケーションプログラムを検証する検証方法におい
    て、 検証における検証項目を設定するステップと、 前記ソフトウェアモデルおよび前記ハードウェアモデル
    を使用して、前記アプリケーションプログラムを前記検
    証項目に関して検証するステップとを備えることを特徴
    とする検証方法。
JP9045144A 1997-02-28 1997-02-28 検証装置および方法 Withdrawn JPH10240576A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Effective date: 20040511