JPH10235658A - 樹脂材料の金型汚染性測定方法 - Google Patents
樹脂材料の金型汚染性測定方法Info
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- JPH10235658A JPH10235658A JP4180797A JP4180797A JPH10235658A JP H10235658 A JPH10235658 A JP H10235658A JP 4180797 A JP4180797 A JP 4180797A JP 4180797 A JP4180797 A JP 4180797A JP H10235658 A JPH10235658 A JP H10235658A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C33/00—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor
- B29C33/70—Maintenance
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C41/00—Shaping by coating a mould, core or other substrate, i.e. by depositing material and stripping-off the shaped article; Apparatus therefor
- B29C41/02—Shaping by coating a mould, core or other substrate, i.e. by depositing material and stripping-off the shaped article; Apparatus therefor for making articles of definite length, i.e. discrete articles
- B29C41/18—Slush casting, i.e. pouring moulding material into a hollow mould with excess material being poured off
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 樹脂材料による金型汚染度を、素早く簡単に
評価することがきるスラッシュ成形材料の金型汚染性測
定方法を提供するを提供する。 【解決手段】 表面が平坦な測定板１を用いて、その測
定板１の表面で試料２にてスラッシュ成形を定数回繰り
返し、定数回繰り返した後の測定板１の光沢度を光沢度
計で測定し、予め測定しておいたスラッシュ成形前の測
定板の光沢度との比を算出することによって光沢保持率
を求め、該光沢保持率から、スラッシュ成形に供される
前記試料が金型を汚染する程度を判定する方法であっ
て、前記測定板１として、表面が鏡面であるものを用い
ることを特徴としている。
評価することがきるスラッシュ成形材料の金型汚染性測
定方法を提供するを提供する。 【解決手段】 表面が平坦な測定板１を用いて、その測
定板１の表面で試料２にてスラッシュ成形を定数回繰り
返し、定数回繰り返した後の測定板１の光沢度を光沢度
計で測定し、予め測定しておいたスラッシュ成形前の測
定板の光沢度との比を算出することによって光沢保持率
を求め、該光沢保持率から、スラッシュ成形に供される
前記試料が金型を汚染する程度を判定する方法であっ
て、前記測定板１として、表面が鏡面であるものを用い
ることを特徴としている。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、スラッシュあるい
はローテーション成形等、金型を用いた樹脂成形に使用
される樹脂材料の金型汚染性を測定する方法に関する。
さらに詳しくは、実際の金型を用いずに平板状の鏡板を
用いて樹脂材料が金型を汚染する度合いを測定する金型
汚染性測定方法であって、樹脂材料の評価を早く、簡単
に行うことができるので、樹脂材料の選定、およびその
樹脂材料を用いた場合の金型の交換時期の判定などを容
易に行うことができるようにするものである。
はローテーション成形等、金型を用いた樹脂成形に使用
される樹脂材料の金型汚染性を測定する方法に関する。
さらに詳しくは、実際の金型を用いずに平板状の鏡板を
用いて樹脂材料が金型を汚染する度合いを測定する金型
汚染性測定方法であって、樹脂材料の評価を早く、簡単
に行うことができるので、樹脂材料の選定、およびその
樹脂材料を用いた場合の金型の交換時期の判定などを容
易に行うことができるようにするものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、スラッシュ成形などに用いられ
る、塩ビパウダーなどの粉末材料中には、可塑剤、オイ
ル、界面活性剤などの添加物が含まれており、これら
が、成形の熱によって金型面に移行し、付着して汚す
（プレートアウト）。一方、特に、艶消し製品など、表
面に微細なしぼを有する製品を形成するための成形型
（このような成形型の多くは電鋳などによって形成され
る）は、金型の表面に微細な凹凸を有している。このよ
うな微細な凹凸に移行物は残留しやすく、成形回数の増
加に伴って増し、ついには凹凸を埋め、艶消し効果のな
い不良品を製造することになる。
る、塩ビパウダーなどの粉末材料中には、可塑剤、オイ
ル、界面活性剤などの添加物が含まれており、これら
が、成形の熱によって金型面に移行し、付着して汚す
（プレートアウト）。一方、特に、艶消し製品など、表
面に微細なしぼを有する製品を形成するための成形型
（このような成形型の多くは電鋳などによって形成され
る）は、金型の表面に微細な凹凸を有している。このよ
うな微細な凹凸に移行物は残留しやすく、成形回数の増
加に伴って増し、ついには凹凸を埋め、艶消し効果のな
い不良品を製造することになる。
【０００３】ところで、この添加物による移行物の付着
量（金型汚染性の程度）は、添加物の種類、量などによ
って決定されるものである。したがって、金型の使用可
能期間を長くし、交換頻度を下げるためには、金型を汚
染しにくい樹脂材料を選定すればよく、そのために、簡
単に効果的に樹脂材料を試験し、評価する方法が求めら
れている。
量（金型汚染性の程度）は、添加物の種類、量などによ
って決定されるものである。したがって、金型の使用可
能期間を長くし、交換頻度を下げるためには、金型を汚
染しにくい樹脂材料を選定すればよく、そのために、簡
単に効果的に樹脂材料を試験し、評価する方法が求めら
れている。
【０００４】従来では、樹脂材料による金型汚染性の程
度を簡便に測定できるような方法はとくになく、試料
（樹脂材料）の試験を行おうとすれば、実際に成形に供
される金型を用いて、実際に試料にて成形を繰り返し、
製品の外観（艶消し状態）を観察するといった方法がと
られた。
度を簡便に測定できるような方法はとくになく、試料
（樹脂材料）の試験を行おうとすれば、実際に成形に供
される金型を用いて、実際に試料にて成形を繰り返し、
製品の外観（艶消し状態）を観察するといった方法がと
られた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな観察による方法は、大掛かりで、手間と時間がかか
るという問題があった。そこで、金型の光反射率の変化
や、光沢度の変化を測定し、不偏的に評価しようとする
試みがあるが、実際の金型は、複雑な形状で入り組んで
いるため、曲面や凹凸によって安定した測定値を得られ
ないという問題がある。
うな観察による方法は、大掛かりで、手間と時間がかか
るという問題があった。そこで、金型の光反射率の変化
や、光沢度の変化を測定し、不偏的に評価しようとする
試みがあるが、実際の金型は、複雑な形状で入り組んで
いるため、曲面や凹凸によって安定した測定値を得られ
ないという問題がある。
【０００６】また、実際の金型を用いずに、表面が平坦
な平板を用い、その表面でスラッシュ成形を定数回繰り
返して移行物の付着状況を比較検討しようとする方法が
あるが、表面に艶のないあるいは紋付きの平板では、も
ともと光反射率や光沢度などの値が低く、移行物の付着
によるそれらの値の減少の度合いが読み取りにくいとい
う問題がある。具体的には、スラッシュ成形を数百回繰
り返さないと、光沢度の低下が明確に現れず、時間と手
間がかかっていた。
な平板を用い、その表面でスラッシュ成形を定数回繰り
返して移行物の付着状況を比較検討しようとする方法が
あるが、表面に艶のないあるいは紋付きの平板では、も
ともと光反射率や光沢度などの値が低く、移行物の付着
によるそれらの値の減少の度合いが読み取りにくいとい
う問題がある。具体的には、スラッシュ成形を数百回繰
り返さないと、光沢度の低下が明確に現れず、時間と手
間がかかっていた。
【０００７】そこで本発明は、樹脂材料による金型汚染
度を、素早く簡単に評価することがきる樹脂材料の金型
汚染性測定方法を提供することを主な目的とする。
度を、素早く簡単に評価することがきる樹脂材料の金型
汚染性測定方法を提供することを主な目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に係る発明は、金型を用いた樹脂成形に使
用される樹脂材料の金型汚染性を評価する方法であっ
て、鏡面を持った平板状の鏡板上で樹脂材料を繰返し成
形し、あらかじめ測定しておいた成形前の鏡板の光沢度
と繰返し成形した後の光沢度を測定し、その変化率を金
型汚染度合の指標とすることを特徴としている。鏡板は
平板状のものであり、実際の成形時のような大掛かりな
装置を必要とせず、光沢度計などの測定器による測定の
操作が容易である。また、鏡板の表面は鏡面で光沢があ
り、少ない成形回数で簡単に曇るので、少ない時間で効
率よく（感度よく）試験結果を得ることができる。な
お、定数回とは、予め決めておく成形回数のことであ
る。本実施例では、２０回であり、そのように少ない成
形回数で明確に、材料間の差が検出できる。
め、請求項１に係る発明は、金型を用いた樹脂成形に使
用される樹脂材料の金型汚染性を評価する方法であっ
て、鏡面を持った平板状の鏡板上で樹脂材料を繰返し成
形し、あらかじめ測定しておいた成形前の鏡板の光沢度
と繰返し成形した後の光沢度を測定し、その変化率を金
型汚染度合の指標とすることを特徴としている。鏡板は
平板状のものであり、実際の成形時のような大掛かりな
装置を必要とせず、光沢度計などの測定器による測定の
操作が容易である。また、鏡板の表面は鏡面で光沢があ
り、少ない成形回数で簡単に曇るので、少ない時間で効
率よく（感度よく）試験結果を得ることができる。な
お、定数回とは、予め決めておく成形回数のことであ
る。本実施例では、２０回であり、そのように少ない成
形回数で明確に、材料間の差が検出できる。
【０００９】請求項２に係る発明は、請求項１に記載の
発明に加えて、前記鏡板が、表面の平滑な金属板にメッ
キを施し、反射率の高い表面としたものである。たとえ
ば、ステンレスなどの金属板の表面にクロムメッキを施
したものを鏡板として利用することができる。
発明に加えて、前記鏡板が、表面の平滑な金属板にメッ
キを施し、反射率の高い表面としたものである。たとえ
ば、ステンレスなどの金属板の表面にクロムメッキを施
したものを鏡板として利用することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、図示例と
ともに説明する。図１は、本発明の樹脂材料の金型汚染
性測定方法の一工程を示す図であり、図２は、図１の方
法で測定された光沢保持率の一例を示す図である。
ともに説明する。図１は、本発明の樹脂材料の金型汚染
性測定方法の一工程を示す図であり、図２は、図１の方
法で測定された光沢保持率の一例を示す図である。
【００１１】本発明は、鏡板を使用し、成形の前と後に
光沢度を測定し、その比（光沢保持率）から、金型汚染
性を判断するものである。鏡板としては、ステンレスな
どの鉄、ニッケル、鋼などからなる金属製の平板で表面
が平滑にされたものを母体として、その表面に、クロム
などをメッキしたものを用いることができる。これによ
って、光をよく反射させ、光沢のある鏡面を持った平板
状の鏡板が形成される。また、光沢度計としては、変角
光沢度計を用いることができる。図２に示される測定例
では、鏡板として、フェロ板（三幸写真工業株式会社製
Ferro type plate ステンレスハードクロム ０．４
mm）を使用し、変角光沢度計として、スガ試験機株式会
社製ＵＧＶ−５Ｄを使用した。
光沢度を測定し、その比（光沢保持率）から、金型汚染
性を判断するものである。鏡板としては、ステンレスな
どの鉄、ニッケル、鋼などからなる金属製の平板で表面
が平滑にされたものを母体として、その表面に、クロム
などをメッキしたものを用いることができる。これによ
って、光をよく反射させ、光沢のある鏡面を持った平板
状の鏡板が形成される。また、光沢度計としては、変角
光沢度計を用いることができる。図２に示される測定例
では、鏡板として、フェロ板（三幸写真工業株式会社製
Ferro type plate ステンレスハードクロム ０．４
mm）を使用し、変角光沢度計として、スガ試験機株式会
社製ＵＧＶ−５Ｄを使用した。
【００１２】光沢保持率は、以下の手順によって測定さ
れる。 (1) 成形前の鏡板の光沢を（８か所程度）測定する。 (2) 鏡板で試料にて成形する（図１参照）。 (3) ２０回成形後の鏡板の光沢を測定する。 (4) 次式より保持率を１％の単位まで求める。 ΔＧｌ＝（ＧＩ1 ／ＧＩ0 ）×１００ ここで、ΔＧｌ：光沢保持率 Ｇｌ0 ：成形前の光沢（グロス値） Ｇｌ1 ：成形後の光沢（グロス値）
れる。 (1) 成形前の鏡板の光沢を（８か所程度）測定する。 (2) 鏡板で試料にて成形する（図１参照）。 (3) ２０回成形後の鏡板の光沢を測定する。 (4) 次式より保持率を１％の単位まで求める。 ΔＧｌ＝（ＧＩ1 ／ＧＩ0 ）×１００ ここで、ΔＧｌ：光沢保持率 Ｇｌ0 ：成形前の光沢（グロス値） Ｇｌ1 ：成形後の光沢（グロス値）
【００１３】前記(2) 鏡板で試料にて成形する工程を、
図１に基づいて説明する。図１において、１は鏡板、２
は粉末試料（粉末状の樹脂材料）である。
図１に基づいて説明する。図１において、１は鏡板、２
は粉末試料（粉末状の樹脂材料）である。
【００１４】(1) オーブン３が３８０℃になったのを確
認し、鏡板１上に付着したゴミ、チリをエアーで吹き飛
ばした後、鏡板をオーブン３の中に投入し、ストップウ
ォッチをスタートさせる。 (2) 鏡板１が狙いの温度（２６０℃）に達する時間にな
ったら、プライヤー４で鏡板１の端部１ａを掴みオーブ
ン３より取り出す、 (3) 表面温度計で鏡板１の温度を測定する。 (4) 鏡板１の温度が、狙いの温度の±５℃の範囲なら
ば、鏡板１を粉回収箱（粉末試料２をショットしたとき
に床に溢れ落ちないようにするためのパッケージ）５の
上に持っていく。 (5) 粉末試料２が手前（プライヤー４で挟んでいる側）
から奥に流れ易いように鏡板１を斜めに傾け、鏡板１の
手前１／４〜１／３に粉末試料２が落下するようにカッ
プ６より粉を流す。 (6) 粉末試料２が厚さ１cm程度で全体に行き渡ったら、
粉末試料２の落下を止め、鏡板１上の粉末試料２が流れ
落ちないように鏡板１を水平にする。 (7) その状態で一定時間（約１０秒）保持したあと、鏡
板１をほぼ垂直に傾け、余分な（メルトしていない）粉
末試料２を回収箱５に振り落とす。 (8) 鏡板１を３８０℃設定のオーブン３に投入する。 (9) 一定時間（約１０秒）経過後オーブン３より鏡板１
を取り出し、速やかに水中に浸し（水中に鏡板１全体が
完全に没するようにする）、冷却する。 (10)数秒間（２〜３秒）水中に浸したあと、水中より取
り出し、鏡板１に付着している水滴をエアーで吹いて取
り除く。 (11)鏡板１を作業テーブルに持っていき、成形品７の一
方を剥がし、その後速やかに全体を剥がす（脱型す
る）。
認し、鏡板１上に付着したゴミ、チリをエアーで吹き飛
ばした後、鏡板をオーブン３の中に投入し、ストップウ
ォッチをスタートさせる。 (2) 鏡板１が狙いの温度（２６０℃）に達する時間にな
ったら、プライヤー４で鏡板１の端部１ａを掴みオーブ
ン３より取り出す、 (3) 表面温度計で鏡板１の温度を測定する。 (4) 鏡板１の温度が、狙いの温度の±５℃の範囲なら
ば、鏡板１を粉回収箱（粉末試料２をショットしたとき
に床に溢れ落ちないようにするためのパッケージ）５の
上に持っていく。 (5) 粉末試料２が手前（プライヤー４で挟んでいる側）
から奥に流れ易いように鏡板１を斜めに傾け、鏡板１の
手前１／４〜１／３に粉末試料２が落下するようにカッ
プ６より粉を流す。 (6) 粉末試料２が厚さ１cm程度で全体に行き渡ったら、
粉末試料２の落下を止め、鏡板１上の粉末試料２が流れ
落ちないように鏡板１を水平にする。 (7) その状態で一定時間（約１０秒）保持したあと、鏡
板１をほぼ垂直に傾け、余分な（メルトしていない）粉
末試料２を回収箱５に振り落とす。 (8) 鏡板１を３８０℃設定のオーブン３に投入する。 (9) 一定時間（約１０秒）経過後オーブン３より鏡板１
を取り出し、速やかに水中に浸し（水中に鏡板１全体が
完全に没するようにする）、冷却する。 (10)数秒間（２〜３秒）水中に浸したあと、水中より取
り出し、鏡板１に付着している水滴をエアーで吹いて取
り除く。 (11)鏡板１を作業テーブルに持っていき、成形品７の一
方を剥がし、その後速やかに全体を剥がす（脱型す
る）。
【００１５】以上の手順によって、測定された光沢保持
率の一例を図２に示す。２０回成形後の試料１の光沢保
持率は約８８％と最も大きく、金型汚染性が低いことが
わかる。これに対し、試料５および試料６の光沢保持率
は約７６％と小さく、金型汚染性が大きいことがわか
る。このように、本発明では、２０回という少ない成形
回数で、試料による光沢保持率の違いが顕著に現れる。
このような結果は、表面が鏡面でないものでは、数百か
ら数千回の実験によってしか得られなかったものであ
り、本発明によって、樹脂材料の選定が素早く正確にで
きるようになった。
率の一例を図２に示す。２０回成形後の試料１の光沢保
持率は約８８％と最も大きく、金型汚染性が低いことが
わかる。これに対し、試料５および試料６の光沢保持率
は約７６％と小さく、金型汚染性が大きいことがわか
る。このように、本発明では、２０回という少ない成形
回数で、試料による光沢保持率の違いが顕著に現れる。
このような結果は、表面が鏡面でないものでは、数百か
ら数千回の実験によってしか得られなかったものであ
り、本発明によって、樹脂材料の選定が素早く正確にで
きるようになった。
【００１６】
【発明の効果】本発明では、表面が鏡面の鏡板を使用し
ているので、光沢の曇りを感度よく正確に測定すること
ができる。すなわち、成形回数の増加による光沢保持率
の減少が顕著であり、少ない成形回数で他のものと比較
するに足る数値が得られるため、樹脂材料の評価、選定
が素早くできる。また、鏡板は平板であり、実際の成形
時のような大掛かりな装置を必要とせず、光沢度計など
の測定器による測定の操作が容易である。
ているので、光沢の曇りを感度よく正確に測定すること
ができる。すなわち、成形回数の増加による光沢保持率
の減少が顕著であり、少ない成形回数で他のものと比較
するに足る数値が得られるため、樹脂材料の評価、選定
が素早くできる。また、鏡板は平板であり、実際の成形
時のような大掛かりな装置を必要とせず、光沢度計など
の測定器による測定の操作が容易である。
【図１】本発明の樹脂材料の金型汚染性測定方法の一工
程であり、鏡板上で粉末樹脂材料から成形品を形成する
ときの手順を説明する図である。
程であり、鏡板上で粉末樹脂材料から成形品を形成する
ときの手順を説明する図である。
【図２】本発明の一工程により測定された光沢保持率の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
１ 鏡板 ２ 粉末試料（樹脂材料）
Claims (2)
- 【請求項１】 金型を用いた樹脂成形に使用される樹脂
材料の金型汚染性を評価する方法であって、鏡面を持っ
た平板状の鏡板上で樹脂材料を繰返し成形し、あらかじ
め測定しておいた成形前の鏡板の光沢度と繰返し成形し
た後の光沢度を測定し、その変化率を金型汚染度合の指
標とすることを特徴とする樹脂材料の金型汚染性測定方
法。 - 【請求項２】 前記鏡板が、表面の平滑な金属板にメッ
キを施し、反射率の高い表面としたものである樹脂材料
の金型汚染性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4180797A JPH10235658A (ja) | 1997-02-26 | 1997-02-26 | 樹脂材料の金型汚染性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4180797A JPH10235658A (ja) | 1997-02-26 | 1997-02-26 | 樹脂材料の金型汚染性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10235658A true JPH10235658A (ja) | 1998-09-08 |
Family
ID=12618604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4180797A Pending JPH10235658A (ja) | 1997-02-26 | 1997-02-26 | 樹脂材料の金型汚染性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10235658A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1312454A2 (en) * | 2001-11-16 | 2003-05-21 | Towa Corporation | Apparatus and method for evaluating degree of adhesion of adherents to mold surface, apparatus and method for surface treatment of mold surface and method and apparatus for cleaning mold used for molding resin |
| KR100779279B1 (ko) * | 2000-09-26 | 2007-11-23 | 제너럴 일렉트릭 캄파니 | 표면 청정도 측정 조립체 및 방법 |
| WO2019194065A1 (ja) * | 2018-04-02 | 2019-10-10 | 日本電産株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよび外観検査方法 |
-
1997
- 1997-02-26 JP JP4180797A patent/JPH10235658A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100779279B1 (ko) * | 2000-09-26 | 2007-11-23 | 제너럴 일렉트릭 캄파니 | 표면 청정도 측정 조립체 및 방법 |
| EP1312454A2 (en) * | 2001-11-16 | 2003-05-21 | Towa Corporation | Apparatus and method for evaluating degree of adhesion of adherents to mold surface, apparatus and method for surface treatment of mold surface and method and apparatus for cleaning mold used for molding resin |
| EP1312454A3 (en) * | 2001-11-16 | 2003-06-25 | Towa Corporation | Apparatus and method for evaluating degree of adhesion of adherents to mold surface, apparatus and method for surface treatment of mold surface and method and apparatus for cleaning mold used for molding resin |
| EP1767326A1 (en) * | 2001-11-16 | 2007-03-28 | Towa Corporation | Apparatus and method for evaluating degree of adhesion of adherents to mold surface |
| WO2019194065A1 (ja) * | 2018-04-02 | 2019-10-10 | 日本電産株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよび外観検査方法 |
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