JPH10233781A - Ａｔｍ回線インタフェース - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 一端が回線側と、他端がＡＴＭスイッチ側と
接続されるＡＴＭ回線インタフェースにおいて、現用系
の通話路に影響を及ぼさずに、二重化された通話路の正
常性の診断を簡単な構成で実現する。 【解決手段】 ＡＴＭ回線インタフェース２を複数の機
能ブロック３，４に分割するとともに、一つの機能ブロ
ックに、試験セルを生成／挿入し、外部回路で折り返っ
た試験セルを抽出／検査する試験機能部４１と、現用系
ｒの通話路信号セルと試験セルの両方を選択し通過させ
る多重セレクタ４２を配備し、現用系回線９ｒに接続さ
れる現用系の機能ブロックにおいて試験セルを廃棄する
機能を配備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、通話路がＡＴＭス
イッチ部とＡＴＭ回線インタフェース部で構成されるＡ
ＴＭ交換機に関し、特にＡＴＭ回線インタフェース部を
２つ以上の機能ブロックに分割して構成し、ＡＴＭスイ
ッチ部とＡＴＭ回線インタフェース部の機能ブロックの
それぞれが現用系と予備系に二重化され、各機能ブロッ
ク間に交絡を有するＡＴＭ交換機に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７および図８を用いてＡＴＭ通信網の
概念図を示す。図７はＡＴＭ通信網の概念を説明する図
であり、図８はＡＴＭ交換機の概念構成を説明するブロ
ック図である。図７において、ＡＴＭ通信網は、複数の
ＡＴＭ通信装置（ＡＴＭ交換機）１ａ〜１ｇを伝送路９
を介して接続して構成される。各ＡＴＭ交換機１は、現
用系ｒと予備系ｗの２系統で構成されるとともに、それ
ぞれのＡＴＭ交換機間は現用系伝送路９ｒと予備系伝送
路９ｗで接続されている。以下、本明細書においては、
符号ｒまたはｗを付与しない場合は現用系と予備系に共
通の事項を表わし、符号ｒは現用系を符号ｗは予備系を
表わすこととする。図８において、ＡＴＭ交換機１は、
回線（伝送路）９に接続された複数のＡＴＭ回線インタ
フェース部２とこれらのＡＴＭ回線インタフェース部を
収容するＡＴＭスイッチ部５とを現用系ｒと予備系ｗの
２系統、および、回線インタフェース部およびＡＴＭス
イッチ部の動作を制御する制御部６を有している。

【０００３】図８に示すように、ＡＴＭ回線インタフェ
ース部２は、例えば、ラインインタフェース（ＬＩ）部
３とラインユニット（ＬＵ）部５との複数の機能部に分
割されて構成され、それぞれの機能部は独立したパッケ
ージであり、いずれかの機能部に障害などが発生したと
きには、その機能部のパッケージのみを交換するように
構成されている。例えば、現用系のＡＴＭ回線インタフ
ェース部２ｒのＬＵ部４ｒに障害が発生したときには、
現用回線９ｒに接続されたＬＩ部４ｒ−予備系のＬＵ部
４ｗ−現用系のＡＴＭスイッチ部５ｒのルートを設定す
ることによって、現用系の回線９ｒを接続したまま現用
系のＬＵ部４ｗを交換することができる。このことは、
回線を現用系９ｒから予備系９ｗに変更する必要がない
ので、相手側のＡＴＭ交換機になんら処理の負担を掛け
ずに故障に対応することが可能となる。さらに、このよ
うなＡＴＭ通信網では、通信網の規模に応じてＡＴＭ交
換機１のＡＴＭ回線インタフェース部２を増設したり減
設したりして通信網の規模に対応している。このように
ＡＴＭ回線インタフェース部を増減するようにしたＡＴ
Ｍ交換機は、ＡＴＭ回線インタフェース部（ＡＴＭ回線
対応部）の増設または減設を容易に施工できるように構
成するとともに、回路の診断性に優れたＡＴＭ回線イン
タフェース部を簡単な構成で実現する必要がある。

【０００４】ＡＴＭ交換機の診断方法としては、以下の
ような方法が既に提案されている。図９に示すように、
複数の回線対応部ＬＵを有するＡＴＭ交換機の各回線対
応部ＬＵにそれぞれ試験機能部ＴＣＣを設け、不必要な
試験ルートを排除した効率のよい診断方法であり、回
線対応部ＬＵ１から回線インターフェース部ＬＩで折り
返して回線対応部までのルートの診断、回線対応部Ｌ
Ｕ１からＡＴＭスイッチ部ＳＷを介して他の回線対応部
ＬＵ２までのルートの診断、他の回線対応部ＬＵ２か
らＡＴＭスイッチ部ＳＷを介して回線対応部ＬＵ１まで
のルートの診断、回線対応部ＬＵ１からＡＴＭスイッ
チ部ＳＷで折り返して回線対応部ＬＵ１までのルートの
診断が可能にされている。

【０００５】上記診断方法では、回線対応部ＬＵに具備
された試験機能部ＴＣＣは、受信ハイウェイおよび送信
ハイウェイに沿ってそれぞれ試験セル抽出部および試験
セル挿入部を備えて構成される。この試験セル挿入部に
おいては空きセルに試験セルを挿入することによって、
また、試験セル抽出部においてはフィルタにてハイウェ
イ上の試験セルのみを抽出することによって、ハイウェ
イ上を流れる通話路信号セルを欠落させずに、試験セル
を用いて通話路の正常性を試験できることを示してい
る。

【０００６】しかし、図８におけるＡＴＭ回線インタフ
ェース部２のＬＩ部３とＬＵ部４のようにＡＴＭ回線イ
ンタフェースを構成する機能ブロックを２以上に分割し
て構成し、それぞれの機能ブロックが現用系ｒ、予備系
ｗに二重化され、各機能ブロック間に交絡を有するＡＴ
Ｍ交換機においては、ある機能ブロックを増設あるいは
交換する際に、該機能ブロックのみならず現用系の機能
ブロックとの交絡部分についてもその正常性を診断する
ことによって、二重化された通話路に対しても正常性を
保証する必要がある。

【０００７】図１０を用いてＡＴＭ交換機における通話
路の構成例を説明する。図１０において、ＡＴＭ交換機
１は、それぞれ、ＡＴＭ回線インタフェース部２とＡＴ
Ｍスイッチ部５とからなる現用系通話路と予備系通話路
の２系統の通話路から構成される。ＡＴＭ回線インタフ
ェース部２は、ＬＩ部３とＬＵ部４の２つの機能ブロッ
クで構成される。ＬＩ部３は、回線９を終端する物理終
端部３１と、折返部３２と、ＳＤＨ部３３と、選択器
（セレクタ：ＳＥＬ）３７と、これらを制御する制御部
とを有している。ＬＵ部４は、セル処理部４１と、試験
機能部４４と、制御部４５とセレクタ４３，４１０とを
有している。ＡＴＭスイッチ部５は、セレクタ５１と、
スイッチ部（自己ルーティングスイッチ：ＳＲＳＷ）５
２と、制御部５３とを有している。ＡＴＭ回線インタフ
ェース部２およびＡＴＭスイッチ部５は、それぞれ、現
用系ｒと予備系ｗの２系統からなり、例えば、ＬＩ部３
とＬＵ部４とは、現用系ｒと予備系ｗがそれぞれ交絡し
ており、同様に、ＬＵ部４とＡＴＭスイッチ５とは、現
用系ｒと予備系ｗがそれぞれ交絡して設けられている。
上記構成を持つＡＴＭ交換機１において、ＬＵ部４に具
備された試験機能部４４を用いて二重化された通話路の
正常性を試験する場合の課題を述べる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】まず、予備系ＬＩ部３
ｗを新たに組み込んでその正常性を診断する場合の課題
を以下に示す。 予備系ＬＵ部４ｗに具備された試験機能部４４ｗか
ら送出された試験セルが、現用系ＬＩ部３ｒの通話路へ
混入しないこと。 予備系ＬＵ部４ｗに具備された試験機能部４４ｗか
ら送出された試験セルが、予備系ＬＩ部３ｗで折り返っ
て現用系ＬＵ部４ｒの通話路へ混入しないこと。 現用系のＬＵ部４ｒに具備された試験機能部４４ｒ
から送出された試験セルが、現用系ＬＩ部３ｒの通話路
へ混入しないこと。 現用系のＬＵ部４ｒに具備された試験機能部４４ｒ
から送出された試験セルが、予備系ＬＩ部３４ｗで折り
返って現用系ＬＵ部４ｒで受信できること。

【０００９】次に、予備系ＬＵ部４ｗを新たに組み込ん
で診断する場合の課題を述べる。 予備系ＬＵ部４ｗと現用系ＬＩ部３ｒとの交絡部を
診断できること。 予備系ＬＵ部４ｗから送出された試験セルが、予備
系ＡＴＭスイッチ部５ｗで折り返って現用系のＬＵ部４
ｒの通話路へ混入しないこと。 予備系ＬＵ部４ｗから送出された試験セルが、現用
系ＡＴＭスイッチ部５ｒで受信できること。 予備系ＬＵ部４ｗから送出された試験セルが、現用
系ＡＴＭスイッチ部５ｒで折り返って現用系のＬＵ部４
ｒの通話路へ混入しないこと。

【００１０】以上のように、本発明は、複数の機能ブロ
ックからなるＡＴＭ回線インタフェース部とＡＴＭスイ
ッチ部とからなる現用系と予備系の２系統の通話路を有
するとともに、現用系と予備系とが交絡して設けられた
ＡＴＭ交換機において、試験機能部からのセルが現用系
の通話路に混入して通話の障害とならないようにするこ
とを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明にかかるＡＴＭ交換機は、以下の機能を具備
する。予備系ＬＩ部３ｗで折り返った試験セルを受信で
きるように、ＬＵ部４のセレクタ４１０は、現用系の機
能ブロック４ｒから送出される通話路信号セルと予備系
の機能ブロック４ｗから送出される試験セルの両方を選
択する多重セレクタとしての機能を有する。また、ＬＵ
部４に具備された試験機能部４４では、他系ＬＵ部４の
試験機能部４４から送出した試験セルを抽出し、検査せ
ずに廃棄する機能を有する。次に、試験セルが現用系Ｌ
Ｉ部３ｒの通話路へ混入しないために、現用系ＬＩ部３
ｒにて該試験セルを廃棄する機能を具備する。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明に可かつＡＴＭ交換
機の構成の一実施例について、図１〜図４を用いて説明
する。図１は、本発明にかかるＡＴＭ交換機の通話路の
構成例を示す図である。ＡＴＭ交換機の通話路は、ＬＵ
部４とＬＩ部３からなるＡＴＭ回線インタフェース部２
と、ＡＴＭスイッチ部５から構成され、それぞれ現用系
ｒと予備系ｗの２系統を有している。ＬＩ部３は、物理
終端部３１と、折返部３２と、ＳＤＨ処理部３３と、系
選択ビット付加部（ＡＧ部）３４と、試験セル識別ビッ
ト・系選択ビット付加部（ＴＡＧ部）３５と、制御部Ｉ
Ｆ３８と、セレクタ３７と、フィルタ（ＦＩＬ）部３６
とを有している。セレクタ部３７は、単純なセレクタ部
として構成される。ＡＧ部３４は、自ＬＩ部３が現用系
ｒの場合に通話路信号セルへ系選択ビットを付加する機
能を有している。ＴＡＧ部３５は、試験セルへ試験セル
識別ビットおよび系選択ビットを付加する機能を有して
いる。ＦＩＬ部３６は、特定のバーチャルチャネル識別
子（ＶＣＩ）を持つセルをフィルタリングして廃棄する
機能を有している。

【００１３】ＬＵ部４は、試験機能部４４を有するセル
処理部４１と、多重セレクタ４２と、セレクタ４３と、
制御部４５とを有している。多重セレクタ部４２は、試
験機能部４４から送られ、系選択ビットを付加された試
験セルと、現用系ＬＩ部３ｒおよび予備系ＬＩ部３ｗか
ら流れてくる系選択ビットを付加された通話路信号セル
を通過させ、系選択ビットを付加されていないセルを廃
棄する機能を有している。セレクタ部４３は、単純なセ
レクタ部として構成される。制御部４５は、ＬＵ部４の
各処理ブロックを制御をするとともに、通話路とは別の
個別制御線ならびにＬＩ部３の制御部ＩＦ３８を介して
ＬＩ部３の各処理ブロックを制御する。

【００１４】ＡＴＭスイッチ部５は、セレクタ５１と、
自己ルーティングスイッチ（ＳＲＳＷ）５２と、制御部
５３を有している。セレクタ部５１は、単純なセレクタ
部として構成される。制御部５３は、ＡＴＭスイッチ部
５の各制御部を処理する。

【００１５】セルは、回線９から回線インタフェース部
２のＬＩ部３に入力される。ＬＩ部３のＴＡＧ部３５の
出力は、現用系ＬＵ部４ｒのセレクタ４２ｒと予備系Ｌ
Ｕ部４ｗのセレクタ４２ｗに入力される。ＬＵ部４のセ
レクタ４２の出力は、現用系のＡＴＭスイッチ部５ｒの
セレクタ５１ｒと、予備系のＡＴＭスイッチ部５ｗのセ
レクタ５１ｗに入力される。現用系ＡＴＭスイッチ部５
ｒの折り返し出力は、現用系ＬＵ部４ｒのセレクタ４３
ｒと、予備系ＬＵ部４のセレクタ４３ｗに入力され、現
用系ＬＵ部４ｒのセル処理部４１ｒの出力は、現用系Ｌ
Ｉ部３ｒのセレクタ３７ｒと予備系ＬＩ部３ｗのセレク
タ３７ｗに入力される。

【００１６】図１において、本実施例におけるＡＴＭ交
換機１の受信ハイウェイ（入り側方向）の通話路信号の
流れについて説明する。図中、矢印は、通話路信号セル
の向きを表し、矢印付きの太い実線は現用系ｒの通話路
を流れる通話路信号セルを表し、矢印付きの破線は予備
系ｗの通話路を流れる通話路信号セルを表す。

【００１７】現用系ＬＩ部３ｒでは、現用系回線９ｒか
らの通話路信号セルに対して、ＡＧ部３４ｒにおいて系
選択ビットを付加する。系選択ビットを付加された通話
路信号セルは、現用系ＬＵ部４ｒおよび予備系ＬＵ部４
ｗへ送出される。該通話路信号セルは、現用系ＬＵ部４
ｒの多重セレクタ４２ｒを通過してセル処理部４１ｒ
で、および、予備系ＬＵ部４ｗの多重セレクタ４２ｗを
通過してセル処理部４１ｗでそれぞれ処理される。

【００１８】現用系ＬＵ部４ｒから送出された通話路信
号セルは、現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒおよび予備系Ａ
ＴＭスイッチ部５ｗへ送出される。該通話路信号セル
は、現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒのセレクタ５１ｒを通
過してＳＲＳＷ５２ｒにおいてルーティングされるとと
もに、予備系ＡＴＭスイッチ部５ｗのセレクタ５１ｗを
通過してＳＲＳＷ５２ｗにおいてルーティングされる。
また、予備系ＬＵ部４ｗから送出された通話路信号セル
は、現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒのセレクタ５１ｒ、お
よび、予備系ＡＴＭスイッチ部５ｗのセレクタ５１ｗに
てそれぞれ廃棄される。

【００１９】予備系ＬＩ部３ｗでは、予備系回線９ｗか
らの通話路信号セルに対して、ＡＧ部３４ｗにおいて系
選択ビットを付加しない。系選択ビットが付加されない
通話路信号セルは現用系ＬＵ部４ｒおよび予備系ＬＵ部
４ｗへ送出される。該通話路信号セルは、系選択ビット
が付加されていないので、現用系ＬＵ部４ｒの多重セレ
クタ４２ｒ、および、予備系ＬＵ部４ｗの多重セレクタ
４２ｗにおいてそれぞれ廃棄される。

【００２０】次に、本実施例におけるＡＴＭ交換機の送
信ハイウェイ（送信出側方向）の通話路信号の流れにつ
いて説明する。現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒのＳＲＳＷ
５２ｒで折り返った通話路信号セルは、現用系ＬＵ部４
ｒおよび予備系ＬＵ部４ｗへ送出される。現用系ＡＴＭ
スイッチ部５ｒから折り返して送出された通話路信号セ
ルは、現用系ＬＵ部４ｒのセレクタ４３ｒを通過してセ
ル処理部４４ｒにおいて処理され、現用系ＬＩ部３ｒお
よび予備系ＬＩ部３ｗへ送出される。同様に、予備系Ｌ
Ｕ部４ｗに入力された現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒから
折り返して送出された通話路信号セルは、予備系セレク
タ４３ｗを通過してセル処理部４４ｗにて処理され、現
用系ＬＩ部３ｒおよび予備系ＬＩ部３ｗへ送出される。
現用系ＬＵ部４ｒの制御部４５ｒは、現用系ＬＩ部３ｒ
の制御部ＩＦ３８ｒを介してセレクタ３７ｒに対し、現
用系ＬＵ部４ｒからの通話路信号セルを選択するように
設定する。同様に、予備系ＬＵ部４ｗの制御部４５ｗ
は、予備系ＬＩ部３ｗの制御部ＩＦ３８ｗを介してセレ
クタ３７ｗに対し、現用系ＬＵ部４ｒからの通話路信号
セルを選択するように設定する。

【００２１】現用系ＬＵ部４ｒから送信された通話路信
号セルは、現用系ＬＩ部３ｒのセレクタ部３７ｒを通過
してＦＩＬ部３６ｒ、ＳＤＨ処理部３３ｒおよび物理終
端部３１ｒを経て、現用系回線９ｒへ送出される。同様
に、現用系ＬＵ部４ｒから送信された通話路信号セル
は、予備系ＬＩ部３ｗのセレクタ３７ｗを通過してＦＩ
Ｌ部３６ｗ、ＳＤＨ処理部３３ｗおよび物理終端部３１
ｗを経て、予備系回線９ｗへ送出される。予備系ＬＵ部
４ｗから送出された通話路信号セルは、現用系ＬＩ部３
ｒのセレクタ３７ｒおよび予備系ＬＩ部３ｗのセレクタ
３７ｗにおいて廃棄される。

【００２２】試験機能部４４の構成をその内部ブロック
構成を示す図２を用いて説明する。試験機能部４４は、
主信号受信ハイウエイ４４１と、入り側方向の受信部４
４２と、送信部４４３と、主信号送信ハイウエイ４４４
と、送信出側の受信部４４５と、送信部４４６と、回線
側から入力されたセルを回線側に折り返す折返バッファ
４４７と、ＡＴＭスイッチ側から入力されたセルをＡＴ
Ｍスイッチ側に折り返す折返バッファ４４８と、制御イ
ンタフェース４４９とから構成される。

【００２３】受信部４４２は、試験セル抽出部４４２−
１と、試験セル検査部４４２−２を有して構成される。
同様に、受信部４４５は、試験セル抽出部４４５−１
と、試験セル検査部４４２−５を有して構成される。送
信部４４３は、試験セル生成部４４３−１と、試験セル
挿入部４４３−２とを有して構成される。同様に、送信
部４４６は、試験セル生成部４４６−１と、試験セル挿
入部４４６−２とを有して構成される。

【００２４】試験セルのセルフォーマットを、その一例
を示す図３を用いて説明する。試験セルは、５４オクテ
ットで構成され、先頭から６オクテットまでをセルヘッ
ダとして使用し、７オクテットから５４オクテットまで
をペイロードとして用いる。セルヘッダは、１ビットの
系選択ビットＡと、５ビットのＳＲＳＷルーティング情
報ＲＢと、１ビットの試験セル識別子Ｔと、１２ビット
のバーチャルパス識別子ＶＰＩと、１６ビットのバーチ
ャルチャネル識別子ＶＣＩと、３ビットのペイロードタ
イプ識別子ＰＴＩと、１ビットのセル損失優先表示ビッ
トＣＬＰとから構成される。試験セルのＶＣＩには、交
換機内で使用しないとされている値が付与される。

【００２５】次に、本実施例において予備系ＬＩ部３ｗ
を新たに組み込む場合の試験手順および試験セルの流れ
について、現用系ＬＵ部４ｒの試験機能部４４ｒを用い
て予備系ＬＩ部３ｗの試験を実施する手順および試験セ
ルの流れを示す図４を用いて説明する。

【００２６】現用系ＬＵ部４ｒは、現用系ＬＩ部３ｒの
セレクタ３７ｒに対して、現用系ＬＵ部４ｒからの通話
路信号セルを選択するように設定し、現用系ＦＩＬ部３
６ｒに対し特定のＶＣＩを持つセルを廃棄するように設
定する。予備系ＬＵ部４ｗは、予備系ＬＩ部３ｗ（新た
に組み込むＬＩ部）のセレクタ３７ｗに対して、現用系
ＬＵ部４ｒからの通話路信号セルを選択するように設定
し、予備系ＬＩ部３ｗのＦＩＬ部３６ｗに対し特定のＶ
ＣＩを持つセルを通過するように設定し、折返部３２ｗ
に対して通話路を流れる全てのセルを折り返すように設
定し、ＴＡＧ部３５ｗにて試験セルに系選択ビットおよ
び試験セル識別ビットを付加するように設定する。次
に、現用系ＬＵ部４ｒの試験機能部４４ｒに対して装置
（ＡＴＭ交換機）内でのみ使用する特定のＶＣＩを持つ
試験セル（試験セル識別ビットを付加されたセル）の生
成および挿入を設定し、試験セル識別ビットを付加され
たセルを抽出および検査を行うよう設定する。このＶＣ
ＩはＡＴＭ交換機内では使用しないとされている値が付
与される。

【００２７】現用系ＬＵ部４ｒの試験機能部４４ｒは、
交換機内では使用しないとされているＶＣＩを付与した
試験セルを作成し出力する。現用系ＬＵ部４ｒの試験機
能部４４ｒから送出された試験セルは、現用系ＬＩ部３
ｒのセレクタ３７ｒと、予備系ＬＩ部３ｗのセレクタ３
７ｗへ出力される。現用系ＬＩ部３ｒのセレクタ３７ｒ
は、試験セルをＦＩＬ部３６ｒへ通過させる。現用系Ｆ
ＩＬ部３６ｒは、ＶＣＩを参照して交換機内では使用し
ないとされた試験セル識別ビットを付加されたセルをフ
ィルタリングして廃棄する。

【００２８】該試験セルは、予備系ＬＩ部３ｗのセレク
タ３７ｗを通過し、ＦＩＬ部３６ｗを通過し、ＳＤＨ処
理部３３ｗを経由して折返部３２ｗにおいて折り返さ
れ、ＴＡＧ部３５ｗにおいて試験セル識別ビットおよび
系選択ビットを付加され、現用系ＬＵ部４ｒおよび予備
系ＬＵ部４ｗへ送出される。現用系ＬＵ部４ｒに入力さ
れた試験セルは、多重セレクタ４２を通過し、セル処理
部４１ｒの試験機能部４４ｒにおいて抽出され、検査さ
れる。予備系ＬＵ部４ｗに入力された試験セルは、多重
セレクタ４３ｗを通過した後、試験機能部４４ｗで抽出
し、検査せずに廃棄する。

【００２９】ここで、現用系ＬＵ部４ｒの通話路上を流
れる通話路信号セルは、試験セルと同じく予備系ＬＩ部
３ｗへ送出され、予備系ＬＩ部３ｗのセレクタ３７ｗ、
ＦＩＬ部３６ｗを通過し、折返部３２ｗにて折り返され
るが、ＴＡＧ部３５ｗで系選択ビットが付加されないの
で、現用系ＬＵ部４ｒの多重セレクタ４２ｒ、および、
予備系ＬＵ部４ｗの多重セレクタ４２ｗにおいて廃棄さ
れる。

【００３０】図５を用いて、予備系ＬＵ部４ｗの試験機
能部４４ｗを用いて新たに組み込んだ予備系ＬＩ部３ｗ
の試験を実施する手順および試験セルの流れを示す。予
備系ＬＩ部３ｗのセレクタ３７ｗに対して予備系ＬＵ部
４ｗからの通話路信号セルを選択するように設定し、予
備系ＬＩ部３ｗの折返部３２ｗに対して折り返しを設定
し、予備系ＬＩ部３ｗのＴＡＧ部３５ｗにおいて試験セ
ルに試験セル識別ビットおよび系選択ビット付加するよ
うに設定する。この時、現用系ＬＩ部３ｒのセレクタ３
７ｒは現用系ＬＵ部４ｒからの通話路信号セルを選択す
るように設定している。また、予備系ＬＵ部４ｗの試験
機能部４４ｗに対して装置（ＡＴＭ交換機）内でのみ使
用する特定のＶＣＩを持つ試験セルの生成および挿入を
設定し、試験セル識別ビットを付加されたセルを抽出
し、検査を行うよう設定する。

【００３１】予備系ＬＵ部４ｗの試験機能部４４ｗから
送出された該試験セルは、予備系ＬＩ部３ｗのセレクタ
３７ｗを通過し、ＦＩＬ部３６ｗを通過し、折返部３２
ｗにおいて折り返され、ＴＡＧ部３５ｗにおいて試験セ
ル識別ビットおよび系選択ビットを付加され、現用系Ｌ
Ｕ部４ｒおよび予備系ＬＵ部４ｗへ送出される。予備系
ＬＵ部４ｗに入力された試験セルは、多重セレクタ４２
ｗを通過し、試験機能部４４ｗにおいて回収され、検査
が行なわれる。現用系ＬＵ部４ｒに入力された試験セル
は、多重セレクタ４２ｒを通過した後、試験機能部４４
ｒで抽出し、検査せずに廃棄される。

【００３２】次に、予備系ＬＵ部４ｗを新たに組み込む
場合の試験手順および試験セルの流れについて説明す
る。予備系ＬＵ部４ｗと予備系ＬＩ部３ｗの間の通話路
の試験手順については既に述べた通りに行われる。現在
現用系ＬＩ部３ｒと予備系ＬＵ部４ｗの通話路の交絡部
を試験する際は、予備系ＬＩ部３ｗを現用系ＬＩ部ｒに
切り替えて現用系ＬＩ部３ｒに折返しを設定して、予備
系ＬＵ部４ｗと予備系ＬＩ部３ｗとの間の通話路を試験
するのと同様の手順によって行う。

【００３３】図６を用いて、ＡＴＭスイッチ部５ｗと新
たに組み込んだ予備系ＬＵ部４ｗの間の通話路を試験手
順を説明する。予備系ＬＵ部４ｗの試験機能部４４ｗに
対して装置（ＡＴＭ交換機）内でのみ使用する特定のＶ
ＣＩを持つ試験セルの生成および挿入を設定し、試験セ
ル識別ビットを付加されたセルを回収し、検査を行うよ
う設定する。現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒのセレクタ５
１ｒは現用系ＬＵ部４ｒを選択するように設定し、予備
系ＡＴＭスイッチ部５ｗのセレクタ５１ｗは予備系ＬＵ
部４ｗを選択するように設定する。また、現用系ＬＵ部
４ｒのセレクタ４３ｒは現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒを
選択するように設定し、予備系ＬＵ部４ｗのセレクタ４
３ｗは予備系ＡＴＭスイッチ部５ｗを選択するように設
定する。

【００３４】該試験セルは、現用系ＡＴＭスイッチ部５
ｒおよび予備系ＡＴＭスイッチ部５ｗへ送出される。現
用系ＡＴＭスイッチ部５ｒに入力された試験セルは、セ
レクタ５１ｒにおいて廃棄される。予備系ＡＴＭスイッ
チ部５ｗに入力された試験セルは、セレクタ５１ｗを通
過し、ＳＲＷＳ５２ｗにてルーティングされる。予備系
ＡＴＭスイッチ部５ｗでルーティングされた該試験セル
は、現用系ＬＵ部４ｒおよび予備系ＬＵ部４ｗへ送出さ
れる。現用系ＬＵ部４ｒに入力された試験セルは、セレ
クタ４３ｒで廃棄される。予備系ＬＵ部４ｗに入力され
た試験セルは、セレクタ４３ｗを通過し、試験機能部４
４ｗにて抽出され、検査される。

【００３５】予備系ＬＵ部４ｗと現在現用系ＡＴＭスイ
ッチ部５ｒとの間を試験する際は、予備系ＡＴＭスイッ
チ部５ｗを現用系ＡＴＭスイッチ部５ｒに切り替えるこ
とによって、予備系ＬＵ部４ｗと予備系ＡＴＭスイッチ
部５ｗとの間を試験するのと同様の手順にて行う。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
通話路がＡＴＭスイッチ部とＡＴＭ回線インタフェース
部で構成され、そのＡＴＭ回線インタフェース部が２つ
以上の機能ブロックで構成され、それぞれの機能ブロッ
クが現用系と予備系に二重化され、各機能ブロック間に
交絡を有するＡＴＭ交換機において、折返部を有する予
備系機能ブロックを新たに組み込んでその正常性を診断
する場合、以下の効果を得ることができる。予備系機能
ブロックに具備された試験機能部から送出された試験セ
ルが、現用系機能ブロック部の通話路へ混入しない。予
備系組込機能ブロックで折り返った試験セルが現用系機
能ブロックの通話路へ混入しない。現用系の機能ブロッ
クに具備された試験機能部から送出された試験セルが、
現用系他の機能ブロックの通話路へ混入しない。現用系
の機能ブロックに具備された試験機能部から送出された
試験セルが、予備系組込機能ブロックで折り返って現用
系試験機能部で受信することができる。

【００３７】さらに、本発明によれば、試験機能部を有
する予備系機能ブロックを新たに組み込んでその正常性
を診断する場合、以下の効果を得ることができる。予備
系組込機能ブロックと現用系機能部ブロックとの交絡部
を診断することができる。予備系組込機能ブロックから
送出された試験セルが、予備系ＡＴＭスイッチ部で折り
返って現用系の機能ブロックの通話路へ混入しない。予
備系組込機能ブロックから送出された試験セルを、現用
系ＡＴＭスイッチ部で受信することができる。予備系組
込機能ブロックから送出された試験セルが、現用系ＡＴ
Ｍスイッチ部で折り返って現用系の機能ブロックの通話
路へ混入しない。

【００３８】以上説明したように、本発明によれば、現
用系の通話路信号セルを欠落させずに、かつ、現用系の
通信回線へ試験セルが侵入することなく、新たに組み込
む機能ブロックの診断および他機能ブロックとの間の交
絡部の診断も効率よく実施できるＡＴＭ回線インタフェ
ースを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかるＡＴＭ回線インタフェースにお
ける通話路構成例を示したブロック図。

【図２】本発明にかかるＡＴＭ回線インタフェースの試
験機能部の構成を示すブロック図。

【図３】本発明にかかるＡＴＭ回線インタフェースで用
いる試験セルのセルフォーマットの一例を示す図。

【図４】本発明にかかるＡＴＭ回線インタフェースにお
ける現用系ＬＵ部と予備系ＬＩ部間の通話路上の試験セ
ルのルートを示したブロック図。

【図５】本発明にかかるＡＴＭ回線インタフェースにお
ける予備系ＬＵ部と予備系ＬＩ部間の通話路上の試験セ
ルのルートを示した図。

【図６】本発明にかかるＡＴＭ回線インタフェースにお
ける予備系ＬＵ部とＡＴＭスイッチ部間の通話路上の試
験セルのルートを示した図。

【図７】ＡＴＭ通信網の概念を示した図。

【図８】従来のＡＴＭ交換機の構成例を示した図。

【図９】先行するＡＴＭ交換機における通話路診断方法
を示したブロック図。

【図１０】先行するＡＴＭ交換機における通話路構成例
を示したブロック図。

【符号の説明】

１ ＡＴＭ交換機 ２ ＡＴＭ回線インタフェース部 ３ ＬＩ部 ４ ＬＵ部 ５ ＡＴＭスイッチ部 ６ 制御部 ９ 伝送路 ３１ 物理終端部 ３２ 折返部 ３３ ＳＤＨ処理部 ３４ 通話路信号セルに対して系選択ビットを付加する
ＡＧ部 ３５ 試験セルに対して試験識別ビットおよび系選択ビ
ットを付加するＴＡＧ部 ３６ 試験セルを廃棄するフィルタ（ＦＩＬ）部 ３７ 単純セレクタ（ＳＥＬ） ３８ 制御部ＩＦ ４１ セル処理部 ４２ 系選択ビットを付加されたセルのみを通過させる
多重セレクタ（ＳＥＬ）部 ４３ 単純セレクタ（ＳＥＬ） ４４ 試験機能部 ５１ 単純セレクタ（ＳＥＬ） ５２ 自己ルーティングスイッチ（ＳＲＳＷ）

フロントページの続き (71)出願人 000005223 富士通株式会社 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 (71)出願人 000000295 沖電気工業株式会社 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 (72)発明者 小橋 一朗 神奈川県横浜市戸塚区戸塚町216番地 株 式会社日立製作所情報通信事業部内 (72)発明者 宮城 盛仁 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 長門 裕司 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 高木 康志 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 森崎 茂樹 東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株 式会社内 (72)発明者 田所 直昭 東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株 式会社内 (72)発明者 瀬戸 弌 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 鈴木 一之 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 小池 武史 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電気 工業株式会社内

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 通話路がＡＴＭスイッチ部とＡＴＭ回線
   インタフェース部で構成され、そのＡＴＭ回線インタフ
   ェース部が２つ以上の機能ブロックで構成され、それぞ
   れの機能ブロックが現用系と予備系に二重化され、各機
   能ブロック間に交絡を有するＡＴＭ交換機のＡＴＭ回線
   インタフェースにおいて、 ＡＴＭ回線インタフェース部を構成する機能ブロックの
   うちいずれかの機能ブロックに、受信ハイウェイおよび
   送信ハイウェイに沿ってそれぞれ設けた試験セル抽出部
   および試験セル挿入部および該試験セル抽出部に接続さ
   れた試験セル検査部ならびに該試験セル挿入部に接続さ
   れた試験セル生成部とからなる試験機能部と、現用系の
   通話路信号セルと試験セルの両方を選択する多重セレク
   タ部を設け、 ＡＴＭ回線インタフェース部を構成する他の機能ブロッ
   クの現用系の機能ブロックに前記試験機能部の送信ハイ
   ウェイから送られてきた試験セルを廃棄する試験セル廃
   棄部を設け、 ＡＴＭ回線インタフェース部を構成する他の機能ブロッ
   クの予備系の機能ブロックに前記試験機能部の送信ハイ
   ウェイから送られてきた試験セルを折り返す試験セル折
   返部を設け、 試験機能部を有する機能ブロックの試験セル生成部で生
   成した試験セルを試験セル挿入部で通話路信号に挿入し
   て送出し、他の機能ブロックの試験セル折返部で折り返
   して来た該試験セルを該試験機能部における試験セル抽
   出部で抽出し、試験セル検査部で該試験セルを検査する
   ことを特徴とするＡＴＭ回線インタフェース。
2. 【請求項２】 試験セル生成部で生成する試験セルに、
   ＡＴＭ交換機内でのみ使用する特定のＶＣＩを付与する
   ことを特徴とする請求項１に記載のＡＴＭ回線インタフ
   ェース。
3. 【請求項３】 試験セル生成部で生成する試験セルに、
   ＡＴＭ交換機内でのみ使用する特定のＶＰＩを付与する
   ことを特徴とする請求項１に記載のＡＴＭ回線インタフ
   ェース。
4. 【請求項４】 試験セル生成部で生成する試験セルに、
   試験セルであることを識別する試験セル識別ビットを付
   加したことを特徴とする請求項１ないし請求項３のいず
   れかに記載のＡＴＭ回線インタフェース。
5. 【請求項５】 試験セル生成部で生成する試験セルに、
   ＡＴＭ交換機内のセルの自己ルーティング（ＳＲＳＷ）
   には使用しないルーティング情報を付与することを特徴
   とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載のＡＴ
   Ｍ回線インタフェース。
6. 【請求項６】 現用系のＡＴＭ回線インタフェース部を
   構成する機能ブロックのうちいずれかの機能ブロック
   に、該機能ブロックの通話路を流れるセルに対して現用
   系の通話路を流れるセルであることを示す系選択ビット
   を付加する機能を備え、予備系のＡＴＭ回線インタフェ
   ース部を構成する機能ブロックのうちいずれかの機能ブ
   ロックに試験セルに対して該系選択ビットを付加する機
   能を備え、多重セレクタ部が、該系選択ビットを付加さ
   れたセルを選択する機能を有することを特徴とする請求
   項１ないし請求項５のいずれかに記載のＡＴＭ回線イン
   タフェース。