JPH10209103A - 基板洗浄装置 - Google Patents

基板洗浄装置

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JPH10209103A
JPH10209103A JP1975197A JP1975197A JPH10209103A JP H10209103 A JPH10209103 A JP H10209103A JP 1975197 A JP1975197 A JP 1975197A JP 1975197 A JP1975197 A JP 1975197A JP H10209103 A JPH10209103 A JP H10209103A
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JP
Japan
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nozzle
gas
fluid
substrate
supply
Prior art date
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JP1975197A
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English (en)
Inventor
Kazuki Kubo
和樹 久保
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Kaijo Corp
Original Assignee
Kaijo Corp
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Publication date
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Publication of JPH10209103A publication Critical patent/JPH10209103A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄対象たる基板の汚染及び酸化をほぼ完全
に防止し得、しかも装置の製造及び運営のコストが安い
基板洗浄装置を提供すること。 【解決手段】 回転する基板7上に流下する洗浄用流体
15を覆うように不活性気体17を供給し、以て浮遊物
質に対するシールとなし、前記の効果を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、いわゆる枚葉式
で、シリコンウェーハや液晶用ガラス基板等の基板の洗
浄に供されて好適な基板洗浄装置に関し、特に、パーテ
ィクル及びカーボンやボロン等クリーンルーム内での浮
遊物質による基板の汚染をほぼ完全に防止し、かつ酸化
を防止し得るものに関する。
【0002】
【従来の技術】図2に、この種の基板洗浄装置の従来例
を示す。
【0003】図示のように、当該基板洗浄装置は、洗浄
作業が行われる空間を形成するハウジング1を備えてい
る。該ハウジング1内に、水平に回転する(矢印Rにて
示す)ターンテーブル3と、該ターンテーブル3を回転
駆動するモータ5とが配置されている。このターンテー
ブル3は、洗浄対象としてのシリコンウェーハ7を保持
して回転する。
【0004】前記ターンテーブル3の上方に、供給管9
と、該供給管9を内包して保持する保持管10とが水平
に設けられている。これら供給管9及び保持管10の先
端部分は下方に向けて屈曲されている。そして、供給管
9の該屈曲部分の先端はノズル9aとなされており、保
持管10の先端は埋栓12によって閉塞されている。
【0005】前記供給管9には、その後端部から洗浄用
流体15が連続的に供給される。この洗浄用流体15と
しては、洗浄・除去すべきパーティクル(partic
le)に適するものが適宜選定され、例えば超音波が乗
せられた純水や、所用の薬液等が採用される。
【0006】一方、前記ハウジング1内には、図示しな
い手段により、不活性気体としての窒素(N2)ガス1
7が導入され、充満される。この窒素ガス17は、該ハ
ウジング1内に大気が存在していては大気に含まれるパ
ーティクルによって洗浄効果が殺がれることから導入さ
れるものである。
【0007】なお、ハウジング1内に充満させる気体を
不活性気体とする理由は、洗浄対象であるシリコンウェ
ーハ7は勿論のこと、使用する洗浄用流体15の性状を
化学反応等により変化させないためである。
【0008】当該基板洗浄装置では、前記ターンテーブ
ル3上にシリコンウェーハ7を装填し、該ターンテーブ
ル3を回転せしめる。この状態で、前記供給管9に洗浄
用流体15が供給される。供給された洗浄用流体は、図
において矢印Fで示すようにノズル9aを通じて流下
し、シリコンウェーハ7はこれに曝される。
【0009】前記ノズル9aから注がれる洗浄用流体1
5は、ターンテーブル3の回転による遠心力によって、
矢印Lで示すように該シリコンウェーハ7の表面に沿っ
て膜状に拡散し、洗浄作用をなす。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した基板洗浄装置
は、前記シリコンウェーハ7等の主たる面に付着してい
るパーティクルを除去するために多用されるものであ
り、特にハウジング1内に窒素ガスを導入し、以て大気
による汚染の防止を図っている。
【0011】しかしながら、モータ5及びターンテーブ
ル7などの回転機構の可動部を真空レベルでシールする
構造は極めて難しいものであり、未だ完全なシールはな
されていないのが実状である。従って、この可動部から
発生するパーティクルがハウジング1内に浮遊し、該浮
遊パーティクルによって僅かながら汚染されてしまう場
合がある。
【0012】一方、前記洗浄用流体15として薬液な
ど、ガスを発生するものを使用するとき、ハウジング1
にはこのガスを外部に排出するための排気ラインが設け
られる。よって、該ハウジング1内に充満させている窒
素ガスの一部がこの排気ラインを通じて逃げてしまい、
窒素ガスによる汚染防止効果が減ぜられるという不都合
がある。
【0013】また、窒素ガスの漏れとは逆に、前記ハウ
ジング1内に大気が流入し、この大気によりシリコンウ
ェーハ7が酸化するおそれがある。
【0014】本発明は、上記従来技術の欠点に鑑みてな
されたものであって、その目的とするところは、洗浄対
象たる基板の汚染及び大気による酸化をほぼ完全に防止
し得、しかも製造及び運営のコストが安い基板洗浄装置
を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の基板洗浄装置は、基板を保持して回転させ
る回転手段と、前記基板の主たる面に洗浄用流体を流下
させる流体供給手段とを備え、流下する前記洗浄用流体
を覆うように不活性気体を供給する気体供給手段を有す
る。
【0016】加えて、前記流体供給手段は前記洗浄用流
体を吐出するノズルを有し、前記気体供給手段は該ノズ
ルの外側に設けられて前記不活性気体を吐出するノズル
を有する。
【0017】また、前記各ノズル及び該ノズル各々に続
く供給管が同心に設けられている。
【0018】また、前記気体供給手段が具備するノズル
が有するスリットの開口幅、供給する不活性気体の流量
等が、該ノズルから吐出する流れが層流を呈するように
設定されている。
【0019】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例としての基
板洗浄装置を、添付図面を参照しつつ説明する。但し、
当該基板洗浄装置は、以下に説明する部分を除いて前述
した従来例と同様に構成されており、装置全体としての
構成及び動作の説明は重複する故に省略し、要部のみの
説明に止める。
【0020】また、以下の説明において、上記従来例と
同一又は対応する構成部分に関しては同じ参照符号を用
いて示している。
【0021】なお、当該基板洗浄装置において、前記タ
ーンテーブル3と、これを回転駆動するモータ5とを、
回転手段と総称する。
【0022】また、前記ノズル9aを有する供給管9
と、該供給管9に洗浄用流体15を送り込むタンク等
(図示せず)とを、流体供給手段と総称する。
【0023】上記の構成を踏まえ、本実施例では、下記
の構成が付加されている。
【0024】図1において、保持管10の先端部を閉塞
する埋栓12に、供給管9のノズル9aを囲むように環
状のノズル12aが形成されている。そして、該保持管
10の後端部に供給口10bが形成され、図示しないタ
ンク等から該供給口10bを通じて該保持管10内に不
活性気体である窒素ガス17が注入される。
【0025】保持管10内に注入された窒素ガスは前記
ノズル12aから下方に向けて吐出される。すなわち、
保持管10は、該窒素ガス17を供給するための供給管
として作用する。該保持管10と、前記タンク等を、気
体供給手段と総称する。
【0026】当該基板洗浄装置においては、図示のよう
に、供給管9のノズル9aからシリコンウェーハ7上に
洗浄用流体15が流下される(矢印Fで示す)と同時
に、前記タンク等から保持管10内に窒素ガス17が注
入され、ノズル12aから吐出される(矢印Hで示
す)。ノズル12aから吐出された窒素ガス17は流下
する洗浄用流体15を覆い、更に、シリコンウェーハ7
上で膜状に拡散する(矢印Lで示している)洗浄流体1
5の表面を同じく膜状に覆うように流れる(矢印Gにて
示す)。
【0027】上述のように、当該基板洗浄装置では、洗
浄対象たるシリコンウェーハ7の表面を流れる洗浄用流
体15を不活性気体である窒素ガス17で完全にシール
する状況となる。よって、作業場内、本実施例の場合ハ
ウジング1内の雰囲気に含まれるカーボン等の浮遊物質
によってシリコンウェーハ7が汚染されることがほぼ完
全に防止されると共に、雰囲気、すなわち大気による酸
化が防止される。
【0028】因みに、上記窒素ガス17によるシールを
施すことなく、ハウジング1内に大気を導入した状態で
洗浄されたシリコンウェーハについて、洗浄後に付着し
ているカーボン量をある検出器を用いて検出した値を1
00%とすると、本実勢例の基板洗浄装置を用いた洗浄
を行ったシリコンウェーハ7に関しては、該検出器の検
出下限界を下回り、1%にも未たず検出不能であった。
【0029】また、図2に示した従来の基板洗浄装置を
用いて洗浄されたシリコンウェーハについては、40%
の値が検出された。
【0030】また、本実施例の基板洗浄装置によれば、
前記ターンテーブル3やモータ5などの可動部分を完全
にシールする必要がないことから構造が簡単であり、
又、ハウジング1内に窒素ガスを充満させておく必要も
ないから窒素ガスの使用量が大幅に削減され、装置の製
造及び運営の両観点からコストの低減が達成されてい
る。
【0031】ここで、前記ノズル12aから吐出される
窒素ガス17は、その流れが層流を呈するようになされ
る。これは、該ノズル12aが有する吐出用スリットの
開口幅b、供給する窒素ガスの流量などを適宜設定する
ことで実現される。このように層流として供給すること
で、窒素ガスは乱れを生ずることがなく、流下してシリ
コンウェーハ7上で広がる前記洗浄用流体15を確実に
シールする。
【0032】また、層流にして乱れぬことで周囲の大気
を取り込むことがなく、シリコンウェーハ7の汚染及び
酸化を防止する上で有効である。
【0033】ところで、前述した如く、窒素ガス17を
吐出するノズル12aを環状として、洗浄用流体吐出用
のノズル9aの外側に配置したことで、該ノズル9aか
らシリコンウェーハ7上に至るまでの間、洗浄用流体1
5を窒素ガス17で完全に覆うことが可能となってい
る。
【0034】また、当該基板洗浄装置では、前記ノズル
9a及び12a、並びに該ノズル各々に続く供給管9、
保持管(供給管として作用する)10が互いに同心に設
けられている。従って、該ノズル同士及び供給管同士が
コンパクトにまとまり、装置の小型化が図られている。
【0035】なお、本実施例では不活性気体として窒素
ガスが用いられているが、例えばアルゴンなど、他の気
体を採用してもよい。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る基板
洗浄装置では、洗浄対象たる基板の表面を流れる洗浄用
流体を不活性ガスで完全にシールする状況となるから、
作業場内の雰囲気に含まれるカーボン等の浮遊物質によ
る汚染をほぼ完全に防止し、かつ酸化を防止することが
出来る。
【0037】また、本発明によれば、実施例で示したタ
ーンテーブルやモータなどの可動部分を完全にシールす
る必要がないことから構造が簡単であり、また、ハウジ
ング内に不活性気体(窒素ガス等)を充満させておく必
要もないから不活性気体の使用量が大幅に削減され、装
置の製造及び運営の両観点からコストの低減が達成され
ている。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の実施例としての基板洗浄装置
の要部の縦断面図である。
【図2】図2は、従来の基板洗浄装置の要部の縦断面図
である。
【符号の説明】
1 ハウジング 3 ターンテーブル 5 モータ 7 シリコンウェーハ(洗浄対象基板) 9 供給管 9a ノズル(洗浄用流体吐出用) 10 保持管(供給管として作用) 12 埋栓 12a ノズル(不活性気体吐出用) 15 洗浄用流体 17 窒素ガス(不活性気体)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持して回転させる回転手段と、 前記基板の主たる面に洗浄用流体を流下させる流体供給
    手段とを備え、 流下する前記洗浄用流体を覆うように不活性気体を供給
    する気体供給手段を有することを特徴とする基板洗浄装
    置。
  2. 【請求項2】 前記流体供給手段は前記洗浄用流体を吐
    出するノズルを有し、前記気体供給手段は該ノズルの外
    側に設けられて前記不活性気体を吐出するノズルを有す
    ることを特徴とする請求項1記載の基板洗浄装置。
  3. 【請求項3】 前記各ノズル及び該ノズル各々に続く供
    給管が同心に設けられていることを特徴とする請求項2
    記載の基板洗浄装置。
  4. 【請求項4】 前記気体供給手段が具備するスリットの
    開口幅、供給する不活性気体の流量等は、該ノズルから
    吐出する流れが層流を呈するように設定されていること
    を特徴とする請求項1乃至請求項3のうちいずれか1記
    載の基板洗浄装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009111219A (ja) * 2007-10-31 2009-05-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2009224513A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2010238758A (ja) * 2009-03-30 2010-10-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
WO2013133401A1 (ja) * 2012-03-09 2013-09-12 株式会社 荏原製作所 基板処理方法及び基板処理装置
US9362147B2 (en) 2008-10-29 2016-06-07 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment method
CN115213168A (zh) * 2021-04-15 2022-10-21 通用汽车环球科技运作有限责任公司 用于传感器透镜清洁的系统和方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009111219A (ja) * 2007-10-31 2009-05-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2009224513A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
US9362147B2 (en) 2008-10-29 2016-06-07 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment method
JP2010238758A (ja) * 2009-03-30 2010-10-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
WO2013133401A1 (ja) * 2012-03-09 2013-09-12 株式会社 荏原製作所 基板処理方法及び基板処理装置
JP2013214737A (ja) * 2012-03-09 2013-10-17 Ebara Corp 基板処理方法及び基板処理装置
CN115213168A (zh) * 2021-04-15 2022-10-21 通用汽车环球科技运作有限责任公司 用于传感器透镜清洁的系统和方法
CN115213168B (zh) * 2021-04-15 2023-09-19 通用汽车环球科技运作有限责任公司 用于传感器透镜清洁的系统和方法

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040312