JPH10198034A - Photosensitive resin composition and its use - Google Patents
Photosensitive resin composition and its useInfo
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- JPH10198034A JPH10198034A JP1336097A JP1336097A JPH10198034A JP H10198034 A JPH10198034 A JP H10198034A JP 1336097 A JP1336097 A JP 1336097A JP 1336097 A JP1336097 A JP 1336097A JP H10198034 A JPH10198034 A JP H10198034A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス基材との密
着性に富み、アルカリによる現像剥離性に優れた感光性
樹脂組成物および該組成物を用いたフォトレジストフィ
ルムに関し、更に詳しくは、プラズマディスプレイパネ
ル(PDP)等の大形ガラス基材上にパターン形成を行
うときに有用な感光性樹脂組成物および該組成物を用い
たフォトレジストフィルムに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosensitive resin composition having a high adhesion to a glass substrate and excellent in the peelability by development with an alkali, and a photoresist film using the composition. The present invention relates to a photosensitive resin composition useful for forming a pattern on a large glass substrate such as a plasma display panel (PDP) and a photoresist film using the composition.
【0002】[0002]
【従来の技術】ポリエステルフィルムなどのベースフィ
ルム上に感光性樹脂組成物を層状に塗布乾燥成層し、そ
の上からポリエステルフィルム、ポリビニルアルコール
フィルムなどの保護フィルムを積層した3層ラミネート
フィルムは、一般にフォトレジストフィルム或いはドラ
イフィルムレジスト(DFR)と称され、プリント配線
板の製造用、金属の精密加工用等に広く利用されてい
る。その使用にあたっては、まずDFRからベースフィ
ルムまたは保護フィルムのうち接着力の小さいほうのフ
ィルムを剥離除去して感光性樹脂組成物層の側を銅張基
板の銅面等のパターンを形成させたい基材表面に張り付
けた後、パターンマスクを他方のフィルム上に当接させ
た状態で露光し(当該他方のフィルムを剥離除去してか
ら露光する場合もある)、ついでその他方のフィルムを
剥離除去して現像に供する。露光後の現像方式として
は、溶剤現像型のものと稀アルカリ現像型のものとがあ
る。2. Description of the Related Art A three-layer laminated film in which a photosensitive resin composition is applied in a layer form on a base film such as a polyester film, dried and laminated, and a protective film such as a polyester film or a polyvinyl alcohol film is laminated thereon, is generally a photo film. It is called a resist film or a dry film resist (DFR), and is widely used for manufacturing printed wiring boards, precision metal processing, and the like. When using the photosensitive resin composition layer, first remove the base film or the protective film having the smaller adhesive strength from the DFR to remove the photosensitive resin composition layer from the DFR. After sticking to the surface of the material, exposure is performed while the pattern mask is in contact with the other film (in some cases, exposure is performed after peeling off the other film), and then the other film is peeled off. For development. As a development method after exposure, there are a solvent development type and a dilute alkali development type.
【0003】DFRのほか、該基材面に直接感光性樹脂
組成物を塗布成層し、その上に積層したポリエステルフ
ィルムなどのフィルムを介してパターンマスクを密着さ
せ、露光を行う方法も良く知られている。一方、最近、
各種平板ディスプレイの開発が盛んに行われており、中
でもPDPが注目を浴びており、今後ラップトップ型パ
ソコンの表示画面から、各種電光掲示板、更には、いわ
ゆる「壁掛けテレビ」へとその用途は拡大しつつある
が、かかるPDPの表示パネルは、ガラス基材に電極が
形成されており、該電極形成にも上記のDFRが利用さ
れ始めている。[0003] In addition to DFR, there is also a well-known method in which a photosensitive resin composition is applied directly onto the substrate surface, and a pattern mask is adhered through a film such as a polyester film laminated thereon to perform exposure. ing. Meanwhile, recently,
Various flat panel displays are being actively developed, and PDPs are particularly attracting attention. Their use will expand from the display screen of laptop computers to various electronic bulletin boards and so-called “wall-mounted TVs” in the future. However, in such a PDP display panel, an electrode is formed on a glass substrate, and the above-mentioned DFR has begun to be used for the electrode formation.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
電極形成においては、基材が従来の銅等の金属と異なり
ガラスやITO膜、SnO2膜等であるため、密着性が
悪く、密着性を上げるために密着助剤等を用いると今度
はアルカリ現像時の剥離性が低下して良好なパターン形
成を行うことが困難となってしまう。However, in the above-mentioned electrode formation, unlike a conventional metal such as copper, the substrate is glass, ITO film, SnO 2 film or the like, so that the adhesion is poor and the adhesion is poor. If an adhesion aid or the like is used to increase the film thickness, the releasability at the time of alkali development is reduced, and it becomes difficult to form a good pattern.
【0005】[0005]
【問題を解決するための手段】そこで、本発明者等は、
かかる課題について鋭意研究をした結果、ベースポリマ
ー(A)、エチレン性不飽和化合物(B)及び光重合開
始剤(C)を含有してなるか、更にシラン系化合物
(D)を含有してなり、かつベースポリマー(A)の共
重合体主成分としてアクリル酸アルキルエステル、アク
リル酸及び水酸基含有アクリル酸アルキルエステルを用
いた感光性樹脂組成物が、ガラス基材、ITO膜、Sn
O2膜等との密着性に優れ、かつアルカリ現像時の剥離
性にも優れ、更にはエッチング時の密着性にも優れ、か
かる感光性樹脂組成物をベースフィルムに積層したフォ
トレジストフィルムが、上記のPDPの電極形成に有用
であることを見いだし、本発明を完成するに至った。[Means to solve the problem] Therefore, the present inventors,
As a result of intensive studies on such a problem, it has been found that the polymer contains a base polymer (A), an ethylenically unsaturated compound (B) and a photopolymerization initiator (C), or further contains a silane compound (D). And a photosensitive resin composition using an alkyl acrylate, an acrylic acid and a hydroxyl group-containing alkyl acrylate as a main component of a copolymer of the base polymer (A), a glass substrate, an ITO film, a Sn film,
Excellent adhesion with O 2 film, etc., and excellent peelability during alkali development, and also excellent adhesion during etching, a photoresist film obtained by laminating such a photosensitive resin composition on a base film, The present inventors have found that the present invention is useful for forming the electrodes of the above PDP, and have completed the present invention.
【0006】[0006]
【発明の実施の形態】以下に、本発明を詳細に述べる。
本発明のベースポリマー(A)としては、アクリル系樹
脂が用いられる。本発明においては、かかるアクリル系
樹脂の共重合体主成分として、(メタ)アクリル酸エス
テル、(メタ)アクリル酸及び水酸基含有(メタ)アク
リル酸エステルを必須成分として用いることを最大の特
徴とするもので、かかる成分中1成分でも欠けると本発
明の目的を達成することは困難となる。更に本発明で
は、上記成分中の水酸基含有(メタ)アクリル酸エステ
ルの含有量を5〜50重量%(更には5〜20重量%)
にすることが好ましく、水酸基含有アクリル酸アルキル
エステルの含有量が5重量%未満では、密着性が低下
し、逆に50重量%を越えると現像性が低下して好まし
くない。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail.
An acrylic resin is used as the base polymer (A) of the present invention. In the present invention, the main feature is that (meth) acrylic acid ester, (meth) acrylic acid and hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid ester are used as essential components as the main component of the copolymer of the acrylic resin. However, if even one of these components is missing, it is difficult to achieve the object of the present invention. Furthermore, in the present invention, the content of the hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid ester in the above components is 5 to 50% by weight (further 5 to 20% by weight).
When the content of the hydroxyl group-containing alkyl acrylate is less than 5% by weight, the adhesion decreases, and when the content exceeds 50% by weight, the developability decreases, which is not preferable.
【0007】上記の(メタ)アクリル酸エステルとして
は、具体的に、メチル(メタ)アクリレート、エチル
(メタ)アクリレート、n−プロピル(メタ)アクリレ
ート、iso−プロピル(メタ)アクリレート、n−ブ
チル(メタ)アクリレート、t−ブチル(メタ)アクリ
レート、iso−ブチル(メタ)アクリレート、ヘキシ
ル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)
アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、トリデ
シル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリ
レート、ヘキシル(メタ)アクリレート、シクロヘキシ
ル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレー
ト、イソボニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタ
ニル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレ
ート、ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート等が
挙げられ、好適にはメチル(メタ)アクリレート、n−
ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メ
タ)アクリレートが用いられ、更にはメチル(メタ)ア
クリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、2−エ
チルヘキシル(メタ)アクリレートの3種類を併用する
ことが好ましい。As the above (meth) acrylic acid ester, specifically, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, iso-propyl (meth) acrylate, n-butyl ( (Meth) acrylate, t-butyl (meth) acrylate, iso-butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth)
Acrylate, lauryl (meth) acrylate, tridecyl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, isobonyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) ) Acrylate, benzyl (meth) acrylate, dimethylaminoethyl (meth) acrylate, etc., and preferably methyl (meth) acrylate, n-
Butyl (meth) acrylate and 2-ethylhexyl (meth) acrylate are used, and more preferably, three kinds of methyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, and 2-ethylhexyl (meth) acrylate are used in combination.
【0008】また、水酸基含有(メタ)アクリル酸エス
テルとしては、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレ
ート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、
3−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、3−ク
ロロ2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ヒ
ドロキシブチル(メタ)アクリレート、6−ヒドロキシ
ヘキシル(メタ)アクリレート、8−ヒドロキシオクチ
ル(メタ)アクリレート、10−ヒドロキシデシル(メ
タ)アクリレート等が挙げられ、好適には2−ヒドロキ
シエチル(メタ)アクリレートが用いられる。また、本
発明のベースポリマー(A)は、上記の共重合体主成分
以外の単量体を併用することも可能で、かかる単量体と
しては、アクリルアミド、メタクリルアミド、アクリロ
ニトリル、メタクリロニトリル、スチレン、α−メチル
スチレン、酢酸ビニル、アルキルビニルエーテルなどが
挙げられる。Further, as the hydroxyl group-containing (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate,
3-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3-chloro-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate, 8-hydroxyoctyl (meth) acrylate, 10-hydroxydecyl (Meth) acrylate and the like can be mentioned, and preferably, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate is used. Further, the base polymer (A) of the present invention can also use a monomer other than the above-mentioned copolymer main component in combination, and examples of such a monomer include acrylamide, methacrylamide, acrylonitrile, methacrylonitrile, Examples include styrene, α-methylstyrene, vinyl acetate, and alkyl vinyl ether.
【0009】更に稀アルカリ現像型とするときは、エチ
レン性不飽和カルボン酸を15〜30重量%程度(酸価
で100〜200mgKOH/g)共重合することが必要
である。また、ベースポリマー(A)の重量平均分子量
としては、5〜10万が好ましく、更には6〜8万であ
る。Further, in the case of a dilute alkali developing type, it is necessary to copolymerize an ethylenically unsaturated carboxylic acid in an amount of about 15 to 30% by weight (acid value: 100 to 200 mg KOH / g). The weight average molecular weight of the base polymer (A) is preferably from 50,000 to 100,000, and more preferably from 60,000 to 80,000.
【0010】エチレン性不飽和化合物(B)としては、
エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレ
ングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレン
グリコールジ(メタ)アクリレート、ブチレングリコー
ルジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ
(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサングリコールジ
(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ
(メタ)アクリレート、グリセリンジ(メタ)アクリレ
ート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、
ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、2,
2−ビス(4−(メタ)アクリロキシジエトキシフェニ
ル)プロパン、2,2−ビス−(4−(メタ)アクリロ
キシポリエトキシフェニル)プロパン、2−ヒドロキシ
−3−(メタ)アクリロイルオキシプロピル(メタ)ア
クリレート、エチレングリコールジグリシジルエーテル
ジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジグリ
シジルエーテルジ(メタ)アクリレート、フタル酸ジグ
リシジルエステルジ(メタ)アクリレート、グリセリン
トリアクリレート、グリセリンポリグリシジルエーテル
ポリ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ
(メタ)アクリレートなどの多官能モノマーが挙げら
れ、グリセリントリアクリレート、ポリエチレングリコ
ールジ(メタ)アクリレート(ジエチレングリコールジ
(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ
(メタ)アクリレート等)が、好適に用いられ、2官能
モノマーと3官能モノマーとの併用が好ましく、また、
これらの多官能モノマーと共に、単官能モノマーを適当
量併用することもでき、かかる単官能モノマーの例とし
ては、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2
−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒド
ロキシブチル(メタ)アクリレート、2−フェノキシ−
2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−
(メタ)アクリロイルオキシ−2−ヒドロキシプロピル
フタレート、3−クロロ−2−ヒドロキシプロピル(メ
タ)アクリレート、グリセリンモノ(メタ)アクリレー
ト、2−(メタ)アクリロイルオキシエチルアシッドホ
スフェート、フタル酸誘導体のハーフ(メタ)アクリレ
ート、N−メチロール(メタ)アクリルアミドなどが挙
げられる。As the ethylenically unsaturated compound (B),
Ethylene glycol di (meth) acrylate, propylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, butylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexane glycol di (meth) ) Acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, glycerin di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate,
Pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, 2,
2-bis (4- (meth) acryloxydiethoxyphenyl) propane, 2,2-bis- (4- (meth) acryloxypolyethoxyphenyl) propane, 2-hydroxy-3- (meth) acryloyloxypropyl ( (Meth) acrylate, ethylene glycol diglycidyl ether di (meth) acrylate, diethylene glycol diglycidyl ether di (meth) acrylate, diglycidyl phthalate di (meth) acrylate, glycerin triacrylate, glycerin polyglycidyl ether poly (meth) acrylate, Examples include polyfunctional monomers such as polyethylene glycol di (meth) acrylate, and glycerin triacrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate (diethylene glycol di (meth) acrylate). , Tetraethylene glycol di (meth) acrylate) is suitably used, preferably in combination with bifunctional monomers and trifunctional monomers, also,
An appropriate amount of a monofunctional monomer can be used together with these polyfunctional monomers. Examples of such a monofunctional monomer include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate,
-Hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, 2-phenoxy-
2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-
(Meth) acryloyloxy-2-hydroxypropyl phthalate, 3-chloro-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, glycerin mono (meth) acrylate, 2- (meth) acryloyloxyethyl acid phosphate, half of phthalic acid derivative (meta ) Acrylate, N-methylol (meth) acrylamide and the like.
【0011】ベースポリマー(A)100重量部に対す
るエチレン性不飽和化合物(B)の配合割合は、10〜
200重量部、特に40〜100重量部の範囲から選ぶ
ことが望ましい。エチレン性不飽和化合物(B)の過少
は硬化不良、可撓性の低下、現像速度の遅延を招き、エ
チレン性不飽和化合物(B)の過多は粘着性の増大、コ
ールドフロー、硬化レジストの剥離速度低下を招く。The mixing ratio of the ethylenically unsaturated compound (B) to 100 parts by weight of the base polymer (A) is 10 to
It is desirable to select from the range of 200 parts by weight, particularly 40 to 100 parts by weight. An insufficient amount of the ethylenically unsaturated compound (B) causes poor curing, a decrease in flexibility and a delay in the development speed, and an excessive amount of the ethylenically unsaturated compound (B) causes an increase in tackiness, cold flow, and peeling of the cured resist. It causes a reduction in speed.
【0012】更に、光重合開始剤(C)としては、ベン
ゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチル
エーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾイ
ンn−ブチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル、
ベンジルジフェニルジスルフィド、ベンジルジメチルケ
タール、ジベンジル、ジアセチル、アントラキノン、ナ
フトキノン、3,3’−ジメチル−4−メトキシベンゾ
フェノン、ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジメチル
アミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジエチルア
ミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ジエチルアミノベン
ゾフェノン、ピバロインエチルエーテル、1,1−ジク
ロロアセトフェノン、p−t−ブチルジクロロアセトフ
ェノン、ヘキサアリールイミダゾール二量体、2,2’
−ビス(o−クロロフェニル)4,5,4’,5’−テ
トラフェニル−1,2’−ビイミダゾール、2−クロロ
チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2,4−
ジエチルチオキサントン、2,2’−ジエトキシアセト
フェノン、2,2’−ジメトキシ−2−フェニルアセト
フェノン、2,2’−ジクロロ−4−フェノキシアセト
フェノン、フェニルグリオキシレート、α−ヒドロキシ
イソブチルフェノン、ジベゾスパロン、1−(4−イソ
プロピルフェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチル−1
−プロパノン、2−メチル−[4−(メチルチオ)フェ
ニル]−2−モルフォリノ−1−プロパノン、トリブロ
モフェニルスルホン、トリブロモメチルフェニルスルホ
ンなどが挙げられ、これらの1種または2種以上が用い
られる。光重合開始剤(C)の含有量は、ベースポリマ
ー(A)とエチレン性不飽和化合物(B)との合計量1
00重量部に対して、1〜20重量部程度とするのが適
当である。Further, as the photopolymerization initiator (C), benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin n-butyl ether, benzoin phenyl ether,
Benzyl diphenyl disulfide, benzyl dimethyl ketal, dibenzyl, diacetyl, anthraquinone, naphthoquinone, 3,3'-dimethyl-4-methoxybenzophenone, benzophenone, 4,4'-bis (dimethylamino) benzophenone, 4,4'-bis (diethylamino ) Benzophenone, 4,4′-diethylaminobenzophenone, pivaloin ethyl ether, 1,1-dichloroacetophenone, pt-butyldichloroacetophenone, hexaarylimidazole dimer, 2,2 ′
-Bis (o-chlorophenyl) 4,5,4 ', 5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2,4-
Diethylthioxanthone, 2,2′-diethoxyacetophenone, 2,2′-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2′-dichloro-4-phenoxyacetophenone, phenylglyoxylate, α-hydroxyisobutylphenone, dibezosparone, -(4-isopropylphenyl) -2-hydroxy-2-methyl-1
-Propanone, 2-methyl- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propanone, tribromophenylsulfone, tribromomethylphenylsulfone, etc., and one or more of these are used . The content of the photopolymerization initiator (C) is 1 based on the total amount of the base polymer (A) and the ethylenically unsaturated compound (B).
It is appropriate to use about 1 to 20 parts by weight with respect to 00 parts by weight.
【0013】本発明においては、上記の(A)〜(C)
に、更にシラン系化合物(D)を含有させることも有用
で、シラン系化合物(D)としては、γ−グリシドキシ
プロピルトリメトキシシラン、β−(3,4エポキシシ
クロヘキシ)−エチルトリメトキシシラン、β−(3,
4エポキシシクロヘキシ)−エチルトリエトキシシラン
等のエポキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミ
ノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−γ−ア
ミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノシラン、γ
−クロロプロピルトリメトキシシラン等のクロロプロピ
ルシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシ
ラン等のメタクリロシランなどが挙げられるが、エポキ
シシラン、アミノシラン、クロロプロピルシランのいず
れか1種以上を用いることが好ましい。シラン系化合物
(D)の含有量としては、上記(A)〜(C)の総量1
00重量部に対して0.01〜5重量部とすることが好
ましく、更には0.1〜1重量部で、特に0.1〜0.
3重量部とすることが好ましい。シラン系化合物(D)
の含有量が0.01重量%未満では、レジストの密着性
が低下し、逆に1重量%を越えるとガラスやITO膜界
面で剥離現象が見られて好ましくない。In the present invention, the above (A) to (C)
It is also useful to further include a silane compound (D). Examples of the silane compound (D) include γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane and β- (3,4 epoxycyclohexyl) -ethyltrimethoxy. Silane, β- (3,
Epoxysilane such as 4 epoxycyclohexyl) -ethyltriethoxysilane, aminosilane such as N-β (aminoethyl) γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ
Examples thereof include chloropropylsilane such as -chloropropyltrimethoxysilane and methacrylosilane such as γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, and it is preferable to use one or more of epoxysilane, aminosilane, and chloropropylsilane. . As the content of the silane compound (D), the total amount of the above (A) to (C) is 1
The amount is preferably 0.01 to 5 parts by weight, more preferably 0.1 to 1 part by weight, and particularly preferably 0.1 to 0.1 part by weight based on 100 parts by weight.
Preferably it is 3 parts by weight. Silane-based compound (D)
If the content is less than 0.01% by weight, the adhesion of the resist decreases, and if it exceeds 1% by weight, a peeling phenomenon is observed at the glass or ITO film interface, which is not preferable.
【0014】シラン系化合物(D)を含有させる方法と
しては、特に限定されず公知の方法、例えば上記の
(A)〜(C)の樹脂組成物に所定量のシラン系化合物
(D)を添加して、十分混合撹拌する方法等がある。本
発明の感光性樹脂組成物には、そのほか、染料(クリス
タルバイオレット,マラカイトグリーン,マラカイトグ
リーンレイク,ブリリアントグリーン,パテントブル
ー,メチルバイオレット,ビクトリアブルー,ローズア
ニリン,パラフクシン,エチレンバイオレット等)、密
着性付与剤、可塑剤、酸化防止剤、熱重合禁止剤、溶
剤、表面張力改質材、安定剤、連鎖移動剤、消泡剤、難
燃剤、などの添加剤を適宜添加することができる。The method for incorporating the silane compound (D) is not particularly limited, and is a known method, for example, adding a predetermined amount of the silane compound (D) to the above resin compositions (A) to (C). And then thoroughly mixing and stirring. In addition to the photosensitive resin composition of the present invention, dyes (crystal violet, malachite green, malachite green lake, brilliant green, patent blue, methyl violet, Victoria blue, roseaniline, parafuchsin, ethylene violet, etc.) Additives such as agents, plasticizers, antioxidants, thermal polymerization inhibitors, solvents, surface tension modifiers, stabilizers, chain transfer agents, defoamers, and flame retardants can be added as appropriate.
【0015】本発明の感光性樹脂組成物を用いたDFR
の製造及びそれを用いたPDP用基板に電極形成(パタ
ーン形成)する方法について、具体的に説明する。 (成層方法)上記の感光性樹脂組成物は、これをポリエ
ステルフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリスチレ
ンフィルムなどのベースフィルム面に塗工した後、その
塗工面の上からポリエチレンフィルム、ポリビニルアル
コール系フィルムなどの保護フィルムを被覆してDFR
とする。また、本発明の感光性樹脂組成物は、DFR以
外の用途にも利用することができ、かかる用途として
は、本発明の感光性樹脂組成物を、ディップコート法、
フローコート法、スクリーン印刷法等の常法により、加
工すべき(ガラス等の)基板上に直接塗工し、厚さ1〜
150μmの感光層を容易に形成することもできる。塗
工時に、メチルエチルケトン、メチルセロソルブアセテ
ート、エチルセロソルブアセテート、シクロヘキサン、
メチルセルソルブ、塩化メチレン、1,1,1−トリク
ロルエタン等の溶剤を添加することもできる。DFR using the photosensitive resin composition of the present invention
The method of forming an electrode (pattern formation) on a PDP substrate using the same and a method for manufacturing the same will be specifically described. (Lamination method) The above-mentioned photosensitive resin composition is coated on a base film surface such as a polyester film, a polypropylene film, or a polystyrene film, and then protected from above the coated surface with a polyethylene film, a polyvinyl alcohol-based film, or the like. DFR by coating the film
And In addition, the photosensitive resin composition of the present invention can be used for applications other than DFR, such as the use of the photosensitive resin composition of the present invention, a dip coating method,
It is applied directly onto a substrate (such as glass) to be processed by a conventional method such as a flow coating method or a screen printing method, and has a thickness of 1 to
A photosensitive layer having a thickness of 150 μm can be easily formed. At the time of coating, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, cyclohexane,
Solvents such as methylcellosolve, methylene chloride, 1,1,1-trichloroethane can also be added.
【0016】(露光)DFRによって画像を形成させる
にはベースフィルムと感光性樹脂組成物層との接着力及
び保護フィルムと感光性樹脂組成物層との接着力を比較
し、接着力の低い方のフィルムを剥離してから感光性樹
脂組成物層の側をガラス面やITO膜に貼り付けた後、
他方のフィルム上にパターンマスクを密着させて露光す
る。感光性樹脂組成物が粘着性を有しないときは、前記
他方のフィルムを剥離してからパターンマスクを感光性
樹脂組成物層に直接接触させて露光することもできる。
ITO膜などの導電物に直接塗工した場合は、その塗工
面に直接またはポリエステルフィルムなどを介してパタ
ーンマスクを接触させ、露光に供する。露光は通常紫外
線照射により行い、その際の光源としては、高圧水銀
灯、超高圧水銀灯、カーボンアーク灯、キセノン灯、メ
タルハライドランプ、ケミカルランプなどが用いられ
る。紫外線照射後は、必要に応じ加熱を行って、硬化の
完全を図ることもできる。(Exposure) To form an image by DFR, the adhesive strength between the base film and the photosensitive resin composition layer and the adhesive strength between the protective film and the photosensitive resin composition layer are compared. After the film is peeled off, the photosensitive resin composition layer side is attached to the glass surface or ITO film,
Exposure is performed by bringing a pattern mask into close contact with the other film. When the photosensitive resin composition does not have adhesiveness, the other film may be peeled off, and then the pattern mask may be brought into direct contact with the photosensitive resin composition layer for exposure.
When a conductive material such as an ITO film is applied directly, a pattern mask is brought into contact with the coated surface directly or via a polyester film or the like, and exposed. Exposure is usually performed by ultraviolet irradiation, and as a light source at that time, a high-pressure mercury lamp, an ultra-high-pressure mercury lamp, a carbon arc lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, a chemical lamp, or the like is used. After irradiation with ultraviolet rays, heating can be performed as necessary to complete the curing.
【0017】(現像)露光後は、レジスト上のフィルム
を剥離除去してから現像を行う。本発明の感光性樹脂組
成物は稀アルカリ現像型であるので、露光後の現像は、
炭酸ソーダ、炭酸カリウムなどのアルカリ0.5〜3重
量%程度の稀薄水溶液を用いて行う。 (エッチング)現像後、エッチングを行う。エッチング
は、通常塩化第二銅−塩酸又は塩化第二鉄−塩酸等の酸
性エッチング液が用いられる。 (硬化レジスト剥離)エッチング工程後、残っている硬
化レジストの剥離を行う。硬化レジストの剥離除去は、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウムなどの0.5〜10
重量%程度の濃度のアルカリ水溶液からなるアルカリ剥
離液を用いて行う。次いで、十分に水洗浄を行った後、
乾燥される。(Development) After exposure, the film on the resist is peeled off and developed. Since the photosensitive resin composition of the present invention is a rare alkali developing type, development after exposure is
This is performed using a diluted aqueous solution of about 0.5 to 3% by weight of an alkali such as sodium carbonate and potassium carbonate. (Etching) After development, etching is performed. For etching, an acidic etching solution such as cupric chloride-hydrochloric acid or ferric chloride-hydrochloric acid is usually used. (Removal of cured resist) After the etching step, the remaining cured resist is removed. Removal and removal of the cured resist
0.5 to 10 such as sodium hydroxide and potassium hydroxide
This is performed using an alkali stripper composed of an aqueous alkali solution having a concentration of about weight%. Then, after thoroughly washing with water,
Dried.
【0018】かくして、PDP用前面基板上に電極が形
成されて、その後、背面基材との間にガス封入後、接合
されてPDPとして実用に供されるのである。Thus, the electrodes are formed on the front substrate for PDP, and after that, the gas is sealed between the front substrate and the back substrate, and then joined to be put to practical use as a PDP.
【0019】[0019]
【実施例】以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明
する。なお、例中「部」とあるのは、断りのない限り重
量基準を意味する。 実施例1 (ドープの調整)下記のベースポリマー(A)59部、
下記のエチレン性不飽和化合物(B)25部及び下記処
方の光重量開始剤(C)5部を混合して感光性樹脂組成
物を調製した。ベースポリマー(A) メチル(メタ)アクリレート/n−ブチルアクリレート
/2−エチルヘキシルアクリレート/メタクリル酸/ヒ
ドロキシエチル(メタ)アクリレートの共重合割合が重
量基準で15/30/15/20/20(酸価143.
3、ガラス転移点66.3℃、重量平均分子量8万)エチレン性不飽和化合物(B) テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート光重合開始剤(C) ベンゾフェノン/4,4’−ジエチルアミノベンゾフェ
ノン/2,2−ビス(o−クロロフェニル)4,5,
4’,5’−テトラフェニル−1,2’−ビイミダゾー
ルの重量比8/0.15/1の混合物The present invention will be specifically described below with reference to examples. In the examples, "parts" means on a weight basis unless otherwise specified. Example 1 (Adjustment of dope) 59 parts of the following base polymer (A)
A photosensitive resin composition was prepared by mixing 25 parts of the following ethylenically unsaturated compound (B) and 5 parts of a photoweight initiator (C) having the following formulation. The copolymerization ratio of the base polymer (A) methyl (meth) acrylate / n-butyl acrylate / 2-ethylhexyl acrylate / methacrylic acid / hydroxyethyl (meth) acrylate is 15/30/15/20/20 (acid value) on a weight basis. 143.
3, glass transition point 66.3 ° C, weight average molecular weight 80,000) ethylenically unsaturated compound (B) tetraethylene glycol di (meth) acrylate photopolymerization initiator (C) benzophenone / 4,4'-diethylaminobenzophenone / 2 , 2-bis (o-chlorophenyl) 4,5
Mixture of 4 ', 5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole in a weight ratio of 8 / 0.15 / 1
【0020】(ドライフィルムの作製)上記のドープ
を、ギャップ3ミルのアプリケーターを用いて厚さ20
μmのポリエステルフイルム上に塗工し、室温で1分3
0秒放置した後、60℃、90℃、110℃のオーブン
でそれぞれ3分間ずつ乾燥して、レジスト厚20μmの
ドライフイルムとなした(ただし保護フイルムは設けて
いない)。 (PDPガラス基板へのラミネート)このドライフイル
ムを、オーブンで60℃に予熱したITO付きガラス基
材(200mm×200mm×2mm)上に、ラミネー
トロール温度100℃、同ロール圧3kg/cm2、ラ
ミネート速度1.5m/secにてラミネートした。 (露光,現像)ラミネート後、ITO全面にL/S(ラ
イン/スペース)=100μm/100μmになるよう
にラインパターンをポリエステルフイルム上に置いて、
オーク製作所製の露光機HMW−532Dにて3kw超
高圧水銀灯で100mjに露光した。露光後15分間の
ホールドタイムを取った後、1%Na2CO3水溶液、3
0℃で、最少現像時間の1.5倍の時間で現像し、その
後、水洗・乾燥を行って、L/S=100μm/100
μmのレジスト層のパターンを形成させた。 (エッチング、硬化レジスト剥離)上記のパターンを塩
化第2鉄(45℃、42゜Be)でエッチングし、その
後、レジストパターンに3%NaOH水溶液を50℃に
て2kgの圧力でスプレーして、レジスト層の剥離を行
ってITOパターン(L/S=100μm/100μ
m)を、PDP用基板上に形成した。(Preparation of Dry Film) The above dope was applied to a thickness of 20 mm using an applicator having a gap of 3 mils.
3 μm at room temperature for 1 min.
After leaving it for 0 seconds, it was dried in an oven at 60 ° C., 90 ° C., and 110 ° C. for 3 minutes each to obtain a dry film having a resist thickness of 20 μm (however, no protective film was provided). (Lamination on PDP glass substrate) This dry film was laminated on a glass substrate with ITO (200 mm × 200 mm × 2 mm) preheated to 60 ° C. in an oven, at a laminating roll temperature of 100 ° C. and a roll pressure of 3 kg / cm 2 , and laminated. Lamination was performed at a speed of 1.5 m / sec. (Exposure, development) After lamination, a line pattern is placed on the polyester film so that L / S (line / space) = 100 μm / 100 μm over the entire surface of the ITO.
Exposure was performed to 100 mj with a 3 kW ultra-high pressure mercury lamp using an exposure machine HMW-532D manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd. After taking a hold time of 15 minutes after exposure, 1% Na 2 CO 3 aqueous solution, 3
Develop at 0 ° C. for 1.5 times the minimum development time, then wash and dry to obtain L / S = 100 μm / 100
A pattern of a μm resist layer was formed. (Etching, peeling of cured resist) The above pattern was etched with ferric chloride (45 ° C., 42 ° Be), and then a 3% NaOH aqueous solution was sprayed on the resist pattern at 50 ° C. under a pressure of 2 kg to form a resist. The layer was peeled off to form an ITO pattern (L / S = 100 μm / 100 μm).
m) was formed on a PDP substrate.
【0021】上記のITOパターンの作製工程におい
て、以下の評価を行った。 [レジスト密着性]上記の現像工程において、別途、最
少現像時間の3倍の時間で現像した場合のレジストの密
着性を目視観察して、以下の通り評価した。 ◎ −−− レジストに浮きが全く認められない ○ −−− レジストの先端部に浮きが認められる × −−− 全体的にレジストの浮きが認められる [エッチング密着性]上記のエッチング工程において、
形成されたパターンのライン幅(100μm)を実測し
て、その測定値により、以下の通り評価した。なお、ラ
インパターンは100μmに設定しているが、エッチン
グ時の密着性が低下すると、形成されたライン幅が細く
なり好ましくない。 ◎ −−− 形成されたライン幅が95μm以上 ○ −−− 形成されたライン幅が90μm以上、95
μm未満 × −−− 形成されたライン幅が90μm未満 [剥離性] 上記のエッチング後のレジスト剥離工程において、該ラ
イン状のレジストの剥離状態を目視観察して、以下の通
り評価した。 ◎ −−− レジストが分散(細分化)して剥離 ○ −−− レジストが2分割して剥離 × −−− レジストがライン状で剥離The following evaluations were made in the above-described ITO pattern forming process. [Resist Adhesion] In the above-mentioned development step, the adhesion of the resist when developed separately for three times the minimum development time was visually observed and evaluated as follows. ◎ −−− No lift is observed in the resist at all ○ −−− Lift is recognized at the tip of the resist × −−− Lift of the resist is recognized as a whole [etching adhesion] In the above etching process,
The line width (100 μm) of the formed pattern was actually measured, and the measured value was used to evaluate as follows. Although the line pattern is set to 100 μm, if the adhesion at the time of etching is reduced, the formed line width becomes thin, which is not preferable. ◎ −−− The formed line width is 95 μm or more ○ −−− The formed line width is 90 μm or more, 95
Less than μm × −−− The formed line width is less than 90 μm [Removability] In the resist removal step after the above etching, the removal state of the linear resist was visually observed and evaluated as follows. ◎ −−− The resist is dispersed (subdivided) and peeled ○ −−− The resist is divided into two and peeled × −−− The resist is peeled in a line
【0022】実施例2 実施例1において、ドープの配合成分として、更にシラ
ン系化合物(D)であるγ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシランを0.2部配合した以外は同様に行って
感光性樹脂組成物を得て、同様に評価を行った。 実施例3 実施例2において、エチレン性不飽和化合物(B)とし
て、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート
/グリセリントリアクリレート=10/25(重量比)
の混合物を用いた以外は同様に行って感光性樹脂組成物
を得て、同様に評価を行った。 実施例4 実施例2において、ベースポリマー(A)のメチル(メ
タ)アクリレート/n−ブチルアクリレート/2−エチ
ルヘキシルアクリレート/メタクリル酸/ヒドロキシエ
チル(メタ)アクリレートの共重合割合を重量基準で3
0/30/15/20/5とした以外は同様に行って感
光性樹脂組成物を得て、同様に評価を行った。Example 2 Photosensitivity was obtained in the same manner as in Example 1, except that 0.2 part of γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, which is a silane compound (D), was further added as a compounding component of the dope. A resin composition was obtained and similarly evaluated. Example 3 In Example 2, tetraethylene glycol di (meth) acrylate / glycerin triacrylate = 10/25 (weight ratio) as the ethylenically unsaturated compound (B).
The photosensitive resin composition was obtained in the same manner except that a mixture of the above was used, and was similarly evaluated. Example 4 In Example 2, the copolymerization ratio of methyl (meth) acrylate / n-butyl acrylate / 2-ethylhexyl acrylate / methacrylic acid / hydroxyethyl (meth) acrylate of the base polymer (A) was 3 based on the weight.
A photosensitive resin composition was obtained in the same manner except that 0/30/15/20/5 was used, and the evaluation was performed in the same manner.
【0023】比較例1 実施例1において、ベースポリマー(A)をメチル(メ
タ)アクリレート/n−ブチルアクリレート/2−エチ
ルヘキシルアクリレート/メタクリル酸=40/30/
15/15(重量比)の共重合体とした以外は同様に行
って感光性樹脂組成物を得て、同様に評価を行った。実
施例及び比較例の評価結果を表1に示す。Comparative Example 1 In Example 1, the base polymer (A) was changed to methyl (meth) acrylate / n-butyl acrylate / 2-ethylhexyl acrylate / methacrylic acid = 40/30 /
A photosensitive resin composition was obtained in the same manner except that a 15/15 (weight ratio) copolymer was used, and the same evaluation was performed. Table 1 shows the evaluation results of the examples and the comparative examples.
【0024】[0024]
【表1】 レジスト密着性 エッチング密着性 剥離性 実施例1 ○ ○ ◎ 〃 2 ◎ ◎ ◎ 〃 3 ◎ ◎ ◎ 〃 4 ○ ○ ○ 比較例1 × × × [Table 1] Resist adhesion Etching adhesion Peeling Example 1 ○ ○ ◎ 〃 2 ◎ ◎ ◎ 〃 3 ◎ ◎ ◎ 〃 4 ○ ○ ○ Comparative Example 1 × × ×
【0025】[0025]
【発明の効果】本発明の感光性樹脂組成物は、特定の共
重合体成分を有するベースポリマーを用い、かつシラン
系化合物を含有しているため、ガラス基材、ITO膜、
SnO2膜等との密着性に富み、アルカリによる現像剥
離性に優れており、更にはエッチング時の密着性にも優
れ、PDP等の大形ガラス基材上に電極を形成する等の
パターン形成用途に大変有用である。The photosensitive resin composition of the present invention uses a base polymer having a specific copolymer component and contains a silane compound, so that a glass substrate, an ITO film,
Excellent adhesion with SnO 2 film, etc., excellent peeling property by development with alkali, and also excellent adhesion during etching, pattern formation such as forming electrodes on large glass base material such as PDP Very useful for applications.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01J 9/02 H01J 9/02 F ──────────────────────────────────────────────────の Continued on front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01J 9/02 H01J 9/02 F
Claims (9)
和化合物(B)及び光重合開始剤(C)を含有してな
り、かつベースポリマー(A)の共重合体主成分として
(メタ)アクリル酸エステル、(メタ)アクリル酸及び
水酸基含有(メタ)アクリル酸エステルを用いることを
特徴とする感光性樹脂組成物。1. A composition comprising a base polymer (A), an ethylenically unsaturated compound (B) and a photopolymerization initiator (C), and (meth) acryl as a main component of a copolymer of the base polymer (A). A photosensitive resin composition using an acid ester, (meth) acrylic acid and a hydroxyl group-containing (meth) acrylate.
和化合物(B)、光重合開始剤(C)及びシラン系化合
物(D)を含有してなり、かつベースポリマー(A)の
共重合体主成分として(メタ)アクリル酸エステル、
(メタ)アクリル酸及び水酸基含有(メタ)アクリル酸
エステルを用いることを特徴とする感光性樹脂組成物。2. A copolymer of a base polymer (A) comprising a base polymer (A), an ethylenically unsaturated compound (B), a photopolymerization initiator (C) and a silane compound (D). (Meth) acrylic acid ester as the main component,
A photosensitive resin composition using (meth) acrylic acid and a hydroxyl group-containing (meth) acrylate.
アクリル酸エステルの含有量が5〜50重量%であるこ
とを特徴とする請求項1または2記載の感光性樹脂組成
物。3. Hydroxyl group-containing (meth) in the main component of the copolymer
3. The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the content of the acrylate is 5 to 50% by weight.
が、5〜10万であることを特徴とする請求項1〜3い
ずれか記載の感光性樹脂組成物。4. The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the weight average molecular weight of the base polymer (A) is 50,000 to 100,000.
ン、アミノシラン、クロロプロピルシランのいずれか1
種以上であることを特徴とする請求項2〜4いずれか記
載の感光性樹脂組成物。5. The silane compound (D) is one of epoxy silane, amino silane and chloropropyl silane.
The photosensitive resin composition according to claim 2, wherein the composition is at least one kind.
スポリマー(A)、エチレン性不飽和化合物(B)及び
光重合開始剤(C)の総量100重量部に対して、0.
01〜5重量部であることを特徴とする請求項2〜5い
ずれか記載の感光性樹脂組成物。6. The content of the silane-based compound (D) is 0.1 part by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the base polymer (A), the ethylenically unsaturated compound (B) and the photopolymerization initiator (C).
The photosensitive resin composition according to any one of claims 2 to 5, wherein the amount is from 01 to 5 parts by weight.
するエチレン性不飽和化合物(B)の配合割合が、10
〜200重量部であることを特徴とする請求項1〜6い
ずれか記載の感光性樹脂組成物。7. The mixing ratio of the ethylenically unsaturated compound (B) to 100 parts by weight of the base polymer (A) is 10
The photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the amount is from 200 to 200 parts by weight.
脂組成物をベースフィルムに積層してなることを特徴と
するフォトレジストフィルム。8. A photoresist film obtained by laminating the photosensitive resin composition according to claim 1 on a base film.
上の電極形成時のパターン形成に用いることを特徴とす
る請求項1〜7いずれか記載の感光性樹脂組成物または
請求項8記載のフォトレジストフィルム。9. The photosensitive resin composition according to claim 1, which is used for forming a pattern when forming an electrode on a substrate for forming a plasma display panel, or the photoresist film according to claim 8. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1336097A JPH10198034A (en) | 1997-01-08 | 1997-01-08 | Photosensitive resin composition and its use |
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JP (1) | JPH10198034A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006521702A (en) * | 2003-03-25 | 2006-09-21 | モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド | Positive tone double layer imprint lithography method and composition |
JP2007128052A (en) * | 2005-10-05 | 2007-05-24 | Kansai Paint Co Ltd | Ultraviolet-curing resist composition for glass etching and glass etching processing method |
JP2008107543A (en) * | 2006-10-25 | 2008-05-08 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Photosensitive resin composition and glass pattern forming method |
-
1997
- 1997-01-08 JP JP1336097A patent/JPH10198034A/en active Pending
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