JPH10197561A - 検査用ヘッドの基板 - Google Patents

検査用ヘッドの基板

Info

Publication number
JPH10197561A
JPH10197561A JP1482897A JP1482897A JPH10197561A JP H10197561 A JPH10197561 A JP H10197561A JP 1482897 A JP1482897 A JP 1482897A JP 1482897 A JP1482897 A JP 1482897A JP H10197561 A JPH10197561 A JP H10197561A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat transfer
main body
heat
cylindrical portion
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1482897A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Kato
浩 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP1482897A priority Critical patent/JPH10197561A/ja
Publication of JPH10197561A publication Critical patent/JPH10197561A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の上下面の温度差を可及的に小さく
することにある。 【解決手段】 検査用ヘッドの基板は、板状の主体と、
該主体をその厚さ方向へ貫通する複数の貫通穴と、該貫
通穴に配置された複数の伝熱体とを含む。各伝熱体は、
貫通穴に受け入れられた筒状部と、該筒状部の内側を筒
状部の軸線の周りに間隔をおいて上下方向および半径方
向へ伸び、筒状部の内面に結合された複数のフィンとを
備える。これにより、基板の一方の面の熱を筒状体によ
り他方の面の側へ放散させるとともに、伝熱体を通る空
気流により拡散させ、さらに伝熱体とこれを通る空気流
との接触面積を高めて放熱効率を高める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路のような
平板状被検査体のための検査用ヘッドに用いる基板に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエーハ上の集積回路、半導体ウ
エーハからチップに分離された集積回路、および、チッ
プを実装した集積回路は、回路が仕様書通りに動作する
か否かの通電試験(電気的特性試験)をされる。この種
の試験すなわち検査は、一般に、プローブカード、プロ
ーブボード等と称されている試験用ヘッドすなわち検査
用ヘッドを用いて行われる。
【0003】この種の検査用ヘッドは、一般に、針押え
を配線基板に取付け、複数のプローブを針押えに片持ち
梁状に支持させ、各プローブを配線基板に印刷配線技術
により形成された配線部に電気的に接続している。検査
時、各プローブは、集積回路の電気的な端子部すなわち
電極パッドに通電可能に当接され、集積回路への通電の
ための高周波信号を受ける。
【0004】集積回路は、集積回路用検査装置の載置台
に載置され、次いで電極パッドをプローブにわずかに過
剰に押圧されてオーバドライブ状態とされるとともに、
載置台に設けられた温度調整手段により所定の温度、た
とえば−20℃〜150℃の範囲内の所定の温度に維持
され、その状態で検査用ヘッドにより通電される。
【0005】検査用ヘッドの基板は、プローブを配置し
た側の面(一般に、下面)が被検査体である集積回路の
側となるように、検査装置にセットされる。このため、
基板は、高温度状態の基での検査においては集積回路か
らの熱を下面に受け、低温度状態の基での検査において
は下面の熱を集積回路に吸収される。
【0006】しかし、一般に、厚さ方向における基板の
熱伝導性が低いから、従来の検査用ヘッドでは、高温状
態または低温状態で集積回路の検査をすると、基板の下
面と上面との間に大きな温度差が生じ、その結果基板が
熱膨張または熱収縮により撓み、基板に上下方向の高低
差が生じる。このような高低差は、プローブの針先の高
低差に大きな影響を与える。プローブの針先の高低差
は、極端な高温状態の基での集積回路の検査の場合に顕
著に現れ、ときには±200μmにも達する。
【0007】プローブの針先に高低差が生じると、極端
な場合、たとえ集積回路をオーバードライブ状態に維持
しても、電極パッドに接触しないプローブが存在し、そ
の結果正確に検査が行われない。また、たとえ全てのプ
ローブの針先が電極パッドに接触したとしても、電極パ
ッドへのプローブの押圧力(すなわち、針圧)が異なる
から、電極パッドとプローブとの電気的接続条件が異な
り、その結果正確な検査が行われない。
【0008】
【解決しようとする課題】本発明の目的は、基板の上下
面の温度差を可及的に小さくすることにある。
【0009】
【解決手段、作用、効果】本発明の検査用ヘッドの基板
は、板状の主体と、該主体をその厚さ方向へ貫通する複
数の貫通穴と、該貫通穴に配置された複数の伝熱体とを
含む。各伝熱体は、前記貫通穴に受け入れられた筒状部
と、該筒状部の内側を該筒状部の軸線の周りに間隔をお
いて上下方向および半径方向へ伸び、該筒状部の内面に
結合された複数のフィンとを備える。
【0010】基板の下面と上面との間に温度差が生じる
と、温度が高い側の面の熱は、伝熱体により他方の面の
側に伝達され、他方の面の側から放散される。また、伝
熱体の熱は、伝熱体内を基板の厚さ方向へ通過する空気
に伝達され、その空気により放散される。さらに、空気
が伝熱体内を通過しやすくなるから、多量の空気が伝熱
体内を通過し、その結果放熱量がより大きくなる。さら
にまた、伝熱体内を通過する空気が伝熱体の筒状部内面
と各フィンとに接触するから、空気流への伝熱体の放熱
面積が大きく、その結果伝熱体と空気との間の熱伝達が
効率的に行われる。
【0011】本発明によれば、板状の主体に形成した複
数の貫通穴のそれぞれに伝熱体を設け、各伝熱体を、貫
通穴に受け入れられた筒状部と、該筒状部の軸線の周り
に間隔をおいて上下方向および半径方向へ伸びる複数の
フィンとにより形成し、該フィンを筒状部の内面に結合
したから、基板の一方の面の熱が伝熱体と、伝熱体内を
通過する空気とを介して他方の面側に放散され、その結
果基板の上下面の温度差が小さくなる。また、多量の空
気が伝熱体内を通過しやすいとともに、空気流への伝熱
体の放熱面積が大きいから、放熱効率が高く、その結果
基板の上下面の温度差がより小さくなる。
【0012】各伝熱体は、さらに、板状主体の上面およ
び下面に当接する一対のフランジ部を備えることができ
る。これにより、板状の主体からの伝熱体の脱落を防止
することができる。
【0013】前記主体は、複数の第1の導電体層と複数
の導電体層とを電気絶縁材料層を間にして交互に積層
し、各第1の導電体層を前記貫通穴の軸線の周りに間隔
をおいて放射状に伸びる複数の配線部により形成し、各
第2の導電体層を前記筒状部の軸線の周りに環状に形成
することができる。このようにすれば、第2の導電体層
をアースに接続することにより、基板の厚さ方向に隣り
合う配線部間の電気信号の漏洩を第2の導電体層により
著しく小さくすることができる。
【0014】好ましい実施例においては、主体は、第1
の導電体層を電気絶縁材料層を介して複数の第2の導電
体層でサンドイッチ状に挟んで積層した複数の積層構造
体を電気絶縁材料層を介して主体の厚さ方向に重ねてお
り、各第2の導電体層を前記伝熱体に結合させている。
しかし、前記絶縁材料層を主体の下面に設け、最上部の
第2の導電体層を露出させてもよい。
【0015】
【発明の実施の形態】図1〜図4を参照するに、基板1
0は、円板状の板状主体12と、板状主体12をこれの
厚さ方向へ貫通する複数の貫通穴14と、貫通穴14に
対応されかつ対する貫通穴14に配置された複数の伝熱
体16とを含む。
【0016】主体12は、複数の第1の導電体層20と
複数の第2の導電体層22とを、第2の導電体層22が
第1の導電体層20の両側に位置するように、電気絶縁
材料層24を介して交互に積層している。最上部の第2
の導電体層22の上面と、最下部の第2の導電体層22
の下面には、それぞれ、主体12の上下面を形成する電
気絶縁材料製の保護層26が形成されている。
【0017】保護層26は、電気絶縁材料層24と共同
して第1および第2の導電体層20および22を包囲す
るように、電気絶縁材料層24と一体的に形成されてい
る。したがって、図示してはいないが、主体12の外周
縁部にも、気絶縁材料層24と共同して第1および第2
の導電体層20および22を包囲するように、電気絶縁
材料が設けられている。
【0018】各第1の導電体層20は、貫通穴14の軸
線の周りに間隔をおいて放射状に(すなわち、主体12
の半径方向へ)伸びる複数の配線部により形成されてい
る。各第2の導電体層22は、筒状部の軸線の周りに環
状に形成されており、また複数の伝熱体16、好ましく
は全ての伝熱体16に電気的に導通状態に結合されてい
る。図示の例では、第2の導電体層22と伝熱体16と
を別部材で形成し、それらを導通状態に結合している
が、第2の導電体層22と伝熱体16とを一体的に形成
してもよい。
【0019】主体12は、ほぼ矩形の開口28を中央部
に有しており、また通電用および信号処理用の電気回路
に接続される複数の端子部すなわちランド30を上面外
周縁部に有する。ランド30は、貫通穴14の軸線の周
りに多重に形成されている。各ランド30は、第1の導
電体層20を形成する配線部に電気的に接続されてい
る。各貫通穴14は、第2の導電体層22、電気絶縁材
料層24および保護層26を貫通している。第1の導電
体層20は、たとえば貫通穴14を迂回するように、貫
通穴14を避けて形成されている。
【0020】基板10は、これが集積回路のような平板
状被検査体の検査用ヘッドに用いられることから、開口
28を形成する縁部に沿って伸びる環状の針押え32を
接着剤のような適宜な手段により取り付けており、また
集積回路の電極パッドが押圧される複数のプローブ34
を針押え32に接着剤のような適宜な手段により取り付
けている。針押え34は、針押え32の長手方向に間隔
をおいて主体12の半径方向へ伸びており、また適宜な
接続手段により第1の導電体層20を形成する配線部に
電気的に接続されている。
【0021】各伝熱体16は、熱伝導性の高い材料で形
成されている。各伝熱体16は、対応する貫通穴14に
嵌合された筒状部40と、筒状部40の内側を筒状部4
0の軸線の周りに間隔をおいて上下方向および半径方向
へ伸びる複数のフィン42と、筒状部40の上下の端部
外側に設けられたフランジ部44とを備える。
【0022】筒状部40は、第2の導電体層22に電気
的に結合されている。各フィン42は、長方形の薄い板
状に形成されており、また筒状部40の内面に熱的およ
び電気的に結合されている。フランジ部44は、両者で
主体12を挟むように主体12の上面および下面に当接
している。これにより、主体12からの伝熱体16の脱
落が防止される。
【0023】図示の例では、筒状部40、各フィン42
およびフランジ部44は、熱伝導性の材料で一体的に製
作されている。また、筒状部40は、第2の導電性層2
2と一体に形成されていてもよい。
【0024】検査時、集積回路は、所定の温度に加熱さ
れるとともに、各電極パッドをプローブ34の針先に押
圧される。このため、集積回路と基板10との間隔が小
さく、それにより基板10のプローブ34側の面(下
面)が集積回路からの熱により昇温する。
【0025】従来の基板では、電気絶縁材料層24およ
び保護層26の熱伝導性が低いことから、基板10の下
面の熱は基板10のプローブ34と反対の側の面(上
面)に伝達されにくい。特に、実施例のように基板10
が多層構造に形成されている場合、電気絶縁材料層24
および保護層26の熱伝導性が低いことと、多層構造で
あることとに起因して、基板10の下面の熱は基板10
のプローブ34と反対の側の面(上面)にほとんど伝達
されない。その結果、基板10の下面と上面との間の温
度差が大きくなる。
【0026】しかし、基板10においては、基板10の
下面の熱は、各伝熱体16により上面の側に伝達され、
他方の面から放散される。また、各伝熱体16の熱は、
伝熱体16内を基板10の厚さ方向へ通過する空気に伝
達され、その空気により放散される。さらに、空気が伝
熱体16内を通過しやすくなるから、多量の空気が伝熱
体内を通過し、その結果放熱量がより大きくなる。その
上、伝熱体16内を通過する空気が伝熱体16の筒状部
40内面と各フィン42とに接触するから、空気流への
伝熱体16の放熱面積が大きく、その結果伝熱体16と
空気との間の熱伝達が効率的に行われる。
【0027】基板10によれば、基板10の下面の熱が
伝熱体16を介して上面の側に放散されるとともに、伝
熱体16内を通過する空気により拡散されるから、基板
10の上下面の温度差が小さくなる。また、多量の空気
が伝熱体16内を通過しやすいとともに、空気流への伝
熱体16の放熱面積が大きいから、放熱効率が高く、基
板10の上下面の温度差がより小さくなる。
【0028】上記の結果、基板10によれば、基板が熱
膨張による基板10の撓みが著しく小さく、基板に生じ
る上下方向の高低差が著しく小さくなるから、温度変化
に起因するプローブの針先の高低差も著しく小さくな
り、したがって各プローブが電極パッドに確実に接触
し、正確な検査をすることができる。
【0029】上記実施例において、主体12のプローブ
34と反対の側(上側)の保護層26を設けることな
く、主体12のプローブ34と反対の側(最上部)の第
2の導電体層22を露出させてもよい。このようにすれ
ば、基板10の下面の熱は、伝熱体16から最上部の第
2の導電体層22に伝達され、その第2の導電体層22
から放熱されるから、放熱効率がより高くなる。
【0030】本発明は、上記実施例に限定されない。た
とえば、本発明は、集積回路を高温低温状態で検査する
検査用ヘッドのための基板として好適であるが、集積回
路を低温状態で検査する検査用ヘッドの基板にも適用す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板の一実施例を示す斜視図である。
【図2】図1における2−2線に沿って得た拡大断面図
である。
【図3】本発明で用いる伝熱体の一実施例を示す斜視図
である。
【図4】図3に示す伝熱体の平面図である。
【符号の説明】
10 基板 12 板状の主体 14 貫通穴 16 伝熱体 20,22 主体の導電体層 24 主体の電気絶縁材料層 26 主体の保護層 28 主体の開口 32 針押え 34 プローブ 40 伝熱体の筒状部 42 伝熱体のフィン 44 伝熱体のフランジ部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 板状の主体と、該主体をその厚さ方向へ
    貫通する複数の貫通穴と、該貫通穴に配置された複数の
    伝熱体とを含み、各伝熱体は、前記貫通穴に受け入れら
    れた筒状部と、該筒状部の内側を該筒状部の軸線の周り
    に間隔をおいて上下方向および半径方向へ伸び、該筒状
    部の内面に結合された複数のフィンとを備える、検査用
    ヘッドの基板。
  2. 【請求項2】 各伝熱体は、さらに、前記主体の面に当
    接するフランジ部を備える、請求項1に記載の基板。
  3. 【請求項3】 前記主体は、複数の第1の導電体層と複
    数の第2の導電体層とを電気絶縁材料層を間にして交互
    に積層しており、各第1の導電体層は前記貫通穴の軸線
    の周りに間隔をおいて放射状に伸びる複数の配線部によ
    り形成されており、各第2の導電体層は前記筒状部の軸
    線の周りに環状に形成されている、請求項1または2に
    記載の基板。
  4. 【請求項4】 前記主体は、さらに、少なくとも下面を
    形成する電気絶縁材料製の保護層を備える、請求項3に
    記載の基板。
JP1482897A 1997-01-13 1997-01-13 検査用ヘッドの基板 Pending JPH10197561A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1482897A JPH10197561A (ja) 1997-01-13 1997-01-13 検査用ヘッドの基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1482897A JPH10197561A (ja) 1997-01-13 1997-01-13 検査用ヘッドの基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10197561A true JPH10197561A (ja) 1998-07-31

Family

ID=11871911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1482897A Pending JPH10197561A (ja) 1997-01-13 1997-01-13 検査用ヘッドの基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10197561A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013024689A (ja) * 2011-07-20 2013-02-04 Micronics Japan Co Ltd 電気信号を通すプローブ、これを用いた電気的接続装置、及びプローブの製造方法
WO2017191726A1 (ja) * 2016-05-06 2017-11-09 株式会社日本マイクロニクス 多層配線基板及びこれを用いたプローブカード
KR102456906B1 (ko) * 2022-05-31 2022-10-20 주식회사 프로이천 방열 프로브카드

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013024689A (ja) * 2011-07-20 2013-02-04 Micronics Japan Co Ltd 電気信号を通すプローブ、これを用いた電気的接続装置、及びプローブの製造方法
WO2017191726A1 (ja) * 2016-05-06 2017-11-09 株式会社日本マイクロニクス 多層配線基板及びこれを用いたプローブカード
US11099227B2 (en) 2016-05-06 2021-08-24 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Multilayer wiring base plate and probe card using the same
KR102456906B1 (ko) * 2022-05-31 2022-10-20 주식회사 프로이천 방열 프로브카드

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5159535A (en) Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate
US5201451A (en) Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate
US5170931A (en) Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate
US6886347B2 (en) Workpiece chuck with temperature control assembly having spacers between layers providing clearance for thermoelectric modules
JPH04321250A (ja) 電気的相互接続装置
JPH08114625A (ja) 高温測定用プローブカード
WO1989009410A1 (en) Test fixture for tab circuits and devices
US6745575B2 (en) Workpiece chuck with temperature control assembly having spacers between layers providing clearance for thermoelectric modules
JPS6332958A (ja) 導体基板上に半導体を取外し可能に取付けるシステム
US11099227B2 (en) Multilayer wiring base plate and probe card using the same
US20130206460A1 (en) Circuit board for semiconductor device inspection apparatus and manufacturing method thereof
JPH10185954A (ja) 検査用ヘッド
JPH10197561A (ja) 検査用ヘッドの基板
JPH0782026B2 (ja) コンタクトプローブ
CN111880067B (zh) 晶片测试组件及其电性连接模块
JP5294982B2 (ja) 電気的接続装置
JP2004288911A (ja) 半導体ウエハ試験装置およびその試験方法
JP6392630B2 (ja) 回路基板および回路装置
JPH11260871A (ja) プローブ装置
JP3737886B2 (ja) プローブ装置
US11183439B2 (en) Package structure for power device
JP2661230B2 (ja) 混成集積回路装置
JP2001228169A (ja) 電気的接続装置
JPH0750325A (ja) プローブ装置
KR20010093811A (ko) 집적회로 칩 캐리어