JPH10186002A - テストヘッドの冷却構造 - Google Patents

テストヘッドの冷却構造

Info

Publication number
JPH10186002A
JPH10186002A JP8357281A JP35728196A JPH10186002A JP H10186002 A JPH10186002 A JP H10186002A JP 8357281 A JP8357281 A JP 8357281A JP 35728196 A JP35728196 A JP 35728196A JP H10186002 A JPH10186002 A JP H10186002A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling
test head
heat transfer
manifold
cooling structure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8357281A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3577711B2 (ja
Inventor
Shinya Suzuki
信哉 鈴木
Koji Niima
浩二 新間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP35728196A priority Critical patent/JP3577711B2/ja
Publication of JPH10186002A publication Critical patent/JPH10186002A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3577711B2 publication Critical patent/JP3577711B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ICテスタのテストヘッドを水等の冷媒を用
いて液冷する冷却構造において、小型化され、しかもメ
インテナンスが容易なテストヘッドの冷却構造を提供す
る。 【解決手段】冷却パイプ101とサブマニホルド102
から構成されたコールドプレート1A、1Bが、プリン
ト基板2の両面2A、2Bに固定され、分配用マニホル
ド12と集合用マニホルド14が、テストヘッド10内
の片側にそれぞれ配置されている。コールドプレート1
A、1Bが、分配用マニホルド12と集合用マニホルド
14にそれぞれ着脱自在に接続され、個々のIC201
に応じた液冷部品60が、各冷却パイプ101に取り付
けられ、液冷部品60を介して各冷却パイプ101がI
C201に接合されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はテストヘッドの冷
却構造、特にICテスタのテストヘッドを水等の冷媒を
用いて液冷するテストヘッドの冷却構造に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ICテスタのテストヘッドは、
測定するICを高速、かつ高精度で測定する必要があ
る。このため、テストヘッドには、ICを装着したプリ
ント基板を高密度で実装することにより、テストヘッド
を効率良く冷却する必要がある。
【0003】また、テストヘッドを、ICを自動供給搬
送するオ−トハンドラと接続させることにより、ICを
多数個同時に測定する場合や、プロ−バと接続させるこ
とにより、ICをウエハ−の段階で測定する場合があ
る。
【0004】このような場合には、テストヘッドは、オ
−トハンドラやプロ−バとの接続上機械的制約を受け、
小型化する必要がある。
【0005】更に、テストヘッドは、1日24時間フル
稼働で動作するため、実装されたプリント基板を定期的
に交換したり、メンテナンスを容易に行うことも必要で
ある。
【0006】以上の冷却効率と小型化とメインテナンス
の容易性という条件を満たすために、従来は、図8に示
すように、テストヘッド50に実装したプリント基板3
1上のIC32に、放熱フィン33を取り付けると共
に、テストヘッド50の側面に、軸流ファン34を取り
付け、強制空冷を行っていた。
【0007】また、図8において、テストヘッド50の
消費電力の増加に伴い、より冷却能力を上げるため軸流
ファン34を大型化したり、より効率の良い放熱器を
(図示省略)IC32に取り付けて対応し、前記条件の
うちの冷却効率を充足させていた。
【0008】しかし、消費電力の増加により、テストヘ
ッド50の排熱が、測定するIC32の周囲温度を上昇
させるようになり、図8の方法では、測定IC32の温
度保証範囲を維持することが困難になってきた。
【0009】これを解決するために提案されたのが、図
9と図10に示す方法である。
【0010】図9の方法によれば、軸流ファン34(図
8)の代わりに大風量、高静圧の得られる大型のシロッ
コファン35を使用して、シロッコファン35とテスト
ヘッド50を、フレキシブルホ−ス36で接続し、テス
トヘッド50の排熱を吸引することにより、天井、又は
図示するように床下へ排気していた。
【0011】また、図10の方法によれば、ユニットク
−ラ37を使用し、フレキシブルホ−ス38を介してテ
ストヘッド50へ冷気を送ることにより、オートハンド
ラ51によりICが自動供給されたテストヘッド50の
周囲温度を下げていた。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
【0013】しかし、最近では、ICテスタの測定速
度、及び測定精度をより向上させるために、大規模な集
積回路をテストヘッド内に大量に実装する必要があり、
冷却能力を一層向上させねばならなくなってきた。
【0014】このような冷却能力の向上という観点から
見ると、図9の方法は、シロッコファン35が大型化す
ると共に、フレキシブルホ−ス36の径も大型化するた
め、騒音が増大し、更にテストヘッド50の操作性が問
題となり(例えば、フレキシブルホ−ス36が邪魔にな
り、テストヘッド50とオ−トハンドラやプロ−バとの
接続ができない)、実用上実施不可能である。
【0015】また、図10の方法も、同様にユニットク
ーラ37のファンの大型化と、フレキシブルホ−ス38
の大型化により、騒音が増大すると共に、作業性が悪化
し(例えば、フレキシブルホ−ス38が作業者の邪魔に
なる)、更に、ユニットクーラ37の冷気温度を低減さ
せることによって、フレキシブルホ−ス38の表面に結
露水が付着するため、新たにドレン配管を設ける必要性
が生じる等の問題が発生する。
【0016】また、図10の方法では、ユニットクーラ
37の冷気温度は10°Cから15°C程度に、また、
テストヘッド50の吸気温度は25°Cから30°C程
度に、更には、テストヘッド50の排気温度は35°C
から40°Cにそれぞれ達するため、場所による温度差
が大きく、混合むらが生じることにより、測定ICの周
囲温度が不安定に変動する等の問題が生じる。
【0017】そこで、図11に示す液冷方式を採用し、
テストヘッドを水等の冷媒を用いて冷却すれば、前記測
定ICの周囲温度が不安定に変動する等の問題は、解決
する。
【0018】しかし、図11の液冷方式は、図示するよ
うに機構が複雑化し、スペ−スが必要であり、従来の空
冷方式よりもテストヘッドが大型化し、実用化が困難で
ある。
【0019】また、IC39の交換などのメンテナンス
においても、液冷部品を全て取り外す必要があり、作業
性が悪い。
【0020】更に、IC39の実装上の制約として、I
C39の高さや大きさを制限しないと、ブロック43に
内蔵したばね42の作用によるピストン41の均一な押
しつけ圧力、液冷管44を通過する冷媒による均一な冷
却特性が得られない。
【0021】その上、オ−トハンドラやプロ−バと接続
する場合、テストヘッドを180度反転または90度回
転する必要があるが、図11の従来方式では、プリント
基板40を水平に置く必要がある等の制約上の問題や、
IC39にバネ圧が加わるため、IC39自身やIC3
9のリ−ドに機械的ストレスが加わる等の問題もある。
【0022】この発明の目的は、ICテスタのテストヘ
ッドを水等の冷媒を用いて液冷する冷却構造において、
小型化され、しかもメインテナンスが容易なテストヘッ
ドの冷却構造を提供する。
【0023】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、この発明は、IC201を装着したプリント基板2
が実装されているテストヘッド10を液冷するテストヘ
ッドの冷却構造において、前記プリント基板(2)の両
面(2A、2B)には、冷媒を循環させる複数の冷却パ
イプ(101)と、冷却パイプ(101)と一体的に形
成されたサブマニホルド(102)から構成され、互い
に連通したコールドプレート(1A、1B)が固定され
ていると共に、テストヘッド(10)内の片側には、分
配用マニホルド(12)と集合用マニホルド(14)が
それぞれ配置され、コールドプレート(1A)が分配用
マニホルド(12)に、コールドプレート(1B)が集
合用マニホルド(14)にそれぞれ着脱自在に接続さ
れ、各冷却パイプ(101)には、個々のIC(20
1)に応じた液冷部品(60)が取り付けられ、液冷部
品(60)を介して各冷却パイプ(101)がIC(2
01)に接合されているという手段が提供される。
【0024】従って、この発明によれば、個々のIC2
01に応じた液冷部品60が(図4)冷却パイプ101
に取り付けられているので、液冷部品60の実装スペ−
スが必要最小限で済み、また分配用マニホルド12と集
合用マニホルド14を、テストヘッド10内の片側に配
置することができるので(図1、図6、図7)、ヘッド
10内の冷媒配管が容易になると共に、配管系を最短で
接続でき、これにより、テストヘッド10の小型化が可
能となる。
【0025】また、液冷部品60の一部を、例えば冷却
パイプ101の周りで回転させるだけで(図5
(A))、IC201個々に取り外し、取り付けができ
るので(図5(B))、従来の液冷構造のように(図1
1)、液冷部品の全てを取り外すことなくIC201の
メンテナンスを容易に行うことができ、更にコールドプ
レート1Aと1Bを、例えば両端開閉型のワンタッチカ
ップラを介して(図1、図6、図7)、分配用マニホル
ド12と集合用マニホルド14に着脱自在に接続したの
で、コールドプレート1Aと1Bが固定されたままで、
プリント基板2を、テストヘッド10から容易に取り出
すことができる(図6)。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、この発明を実施の形態によ
り添付図面を参照して説明する。図1はこの発明の実施
形態を示す全体図、図2は図1に示す一点鎖線IIの部
分の拡大図である。
【0027】図において、テストヘッド10に収容され
たプリント基板2の両面2A、2Bには、コールドプレ
ート1A、1Bが固定されている。
【0028】コールドプレート1A、1Bは、冷媒とし
ての例えば水を循環させる複数の冷却パイプ101と、
複数の冷却パイプ101と一体的に形成されたサブマニ
ホ−ルド102から構成されている。
【0029】コールドプレート1A、1Bの対応する各
冷却パイプ101同士は、図1に示すように、ホ−ス3
で接続されている。例えば、コールドプレート1Aの一
番上の冷却パイプ101は、コールドプレート1Bの一
番上の冷却パイプ101と、ホース3で接続されてい
る。
【0030】これにより、コールドプレート1A、1B
は、互いに連通している。
【0031】一方、 テストヘッド10内の片側には、
分配用マニホルド12と集合用マニホルド14が配置さ
れ、前記コールドプレート1Aが分配用マニホルド12
に、前記コールドプレート1Bが集合用マニホルド14
にそれぞれ着脱自在に接続されている。
【0032】例えば、コールドプレート1Aと1Bは、
ホース104Aとカップラ103A、11、ホース10
4Bとカップラ103B、13を介して(図1、図6、
図7)、分配用マニホルド12と集合用マニホルド14
に着脱自在に接続されている。
【0033】前記冷却パイプ101には、伝熱取付け部
材4と、熱伝導性グリース6と、伝熱板5と、伝熱補助
板7から成る液冷部品60(図2〜図4)が取り付けら
れている。
【0034】即ち、図2において、伝熱取付け部材4
は、例えば全体として平板状であって円形の内周面40
1を備え、内周面401が前記冷却パイプ101の外周
面111を挟み込むと同時に外周面111に接触し、こ
れにより、伝熱取付け部材4は、冷却パイプ101に取
り付けられている。
【0035】前記伝熱取付け部材4には、伝熱板5と伝
熱補助板7がそれぞれ接触し、ねじ61と62により固
定され、伝熱板5は、プリント基板2上のIC201の
上面に、熱伝導性接着剤8により、接着されている。
【0036】この伝熱板5は、IC201の高さのばら
つきを揃えるためのものであり、後述するように、IC
201の高さに応じて厚さが異なる(図4(A)〜図4
(D))。
【0037】そして、図3(A)に示すように、冷却パ
イプ101と伝熱取付け部材4、伝熱取付け部材4と伝
熱板5、伝熱取付け部材4と伝熱補助板7の各接触面に
は、熱伝導性のグリ−ス6が塗布されている。
【0038】以下、このような液冷部品60、及び前記
コールドプレート1のプリント基板2に対する実装方法
を、図2と図3に基づいて説明する。
【0039】先ず、図3(A)に示すように、伝熱取付
け部材4を冷却パイプ101に嵌め込み、伝熱取付け部
材4に、伝熱板5をねじ61で、伝熱補助板7をねじ6
2でそれぞれ固定した後、ねじ62の締め付け力を、伝
熱取付け部材4を指で押して回転できる程度(矢印a)
に調整する。
【0040】このとき、冷却パイプ101と伝熱取付け
部材4との接触面、伝熱取付け部材4と伝熱板5との接
触面、伝熱取付け部材4と伝熱補助板7との接触面に、
それぞれ熱伝導性グリ−ス6を塗布する。
【0041】次に、図2に示すように、各IC201と
コ−ルドプレ−ト1の高さを合わせるために、固定板2
02と支柱203をプリント基板2にそれぞれ取り付け
る。
【0042】この状態で、コ−ルドプレ−ト1のサブマ
ニホルド102に取り付けられたアングル105を、ね
じ64により前記固定板202に、またコールドプレー
ト1の複数の冷却パイプ101に跨がって取り付けられ
たアングル106を、ねじ63により前記支柱203に
それぞれ固定する。
【0043】このとき、アングル105は、固定板20
2の長穴212によって高さおよび傾きを調整し、アン
グル106は、支柱203との間に必要に応じてスペ−
サ204を入れ、高さおよび傾きを調整する。
【0044】調整の目安としては、図3(B)に示すよ
うに、各IC201と伝熱板5の隙間Sが平行になり、
かつ隙間Sのばらつきが最小となるようにし、目視また
は隙間ゲ−ジ等で調整した後、図3(C)に示すよう
に、伝熱取付け部材4と共に伝熱板5を上方に回転さ
せ、IC201の上面に熱伝導性接着剤8を塗布する。
【0045】そして、図3(D)に示すように、伝熱取
付け部材4と共に伝熱板5を下方に回転させ、熱伝導性
接着剤8によりIC201に接着する。このとき、IC
201個々の高さのばらつきは、熱伝導性接着剤8によ
って埋められる。
【0046】また、コ−ルドプレ−ト1は、前記アング
ル105およびアングル106を介して(図2)プリン
ト基板2に固定されているため、IC201へ直接に機
械的ストレスが加わることはない。
【0047】この場合、より良く調整するために、図1
に示すように、サブマニホ−ルド102を複数に分割し
て間をホ−ス112で接続しても良い。このようにすれ
ば、IC201と伝熱板5の高さと傾きを精度良く調整
できる。
【0048】更に、IC201と伝熱板5の隙間Sは
(図3(B))、熱伝導性接着剤8で埋められるため、
伝熱板5がIC201に機械的ストレスを与えることも
ない。
【0049】このようにしてプリント基板2に実装され
た液冷部品60、及びコールドプレート1により、IC
201に発生した熱は、次のような伝熱経路を通って移
動する。
【0050】即ち、図3(D)において、IC201の
熱は、熱伝導性接着剤8、伝熱板5、熱伝導性グリ−ス
6、伝熱取付け部材4、熱伝導性グリ−ス6、冷却パイ
プ101へと伝わるAル−トを経て、冷却パイプ101
内を流れるより低温の冷媒の方に移動する。
【0051】また、一部の熱は、伝熱取付け部材4から
熱伝導性グリ−ス6を介して伝熱補助板7を通り、再度
熱伝導性グリ−ス6、伝熱接触板4、熱伝導性グリ−ス
6、冷却パイプ101へと伝わるBル−トを通る。この
場合、伝熱補助板7は、Bル−トを作る役割を果たし、
IC201から冷媒までの熱抵抗を低減させる。
【0052】冷媒として、比熱の大きな水を使用する
と、冷却能力を大きくできると共に入手性も容易で安価
である。また、水温が20°Cから40°C位の水を冷
媒として使用すると、結露の心配も無く、ICの冷媒と
しても問題無いので、テストヘッドの冷媒条件を満たし
ている。
【0053】前記の構成と作用を備えた液冷部品60
は、IC201の消費電力、高さ、上面積に応じて色々
なバリエ−ションを展開することができ、図4に一例を
示す。
【0054】図4(A)は、大型パッケ−ジであって、
消費電力が5W程度のIC201に対して適する方式の
例である。
【0055】この場合の伝熱取付け部材4の厚さは、
0.2から0.5mm程度、材質はBeCu、又は純銅
等が望ましい。伝熱板5および伝熱補助板7は、純アル
ミ系もしくはジュラルミン系等の高熱伝導性の材質が望
ましい。
【0056】図4(E)は、図4(A)のE方向から見
た図であり、伝熱取付け部材4と伝熱板5を、ねじ61
により固定した例である。
【0057】図4(B)は、大型パッケ−ジであって、
消費電力が10Wから15W程度の大電力のIC201
に対して適する方式の例である。
【0058】この場合の伝熱取付け部材4の厚さは、
0.5から1mm程度、材質はBeCu、又は純銅等が
望ましい。また、伝熱板5および伝熱補助板7は、純ア
ルミ系もしくはジュラルミン系等の高熱伝導性の材質が
望ましい。
【0059】また、図4(F)は、図4(B)のF方向
から見た図であって、大電力のIC201に対する別の
冷却方法として効果があり、図示するように、伝熱取付
け部材4をICパッケ−ジよりも大きくすることで熱抵
抗を下げることもできる。
【0060】この場合、伝熱取付け部材4を、IC20
1よりも大きくすることにより、伝熱取付け部材4自
身、及び伝熱取付け部材4と冷却パイプ101との接触
熱抵抗を低減することができる。
【0061】図4(C)は、小型パッケ−ジであって、
消費電力が1Wから5W程度のIC201に対して適す
る方式の例である。
【0062】この場合伝熱取付け部材4の厚さは、0.
2から0.5mm程度、材質はBeCu、又は純銅等が
望ましい。また、伝熱板5および伝熱補助板7は、純ア
ルミ系もしくはジュラルミン系等の高熱伝導性の材質が
望ましい。
【0063】図4(D)は、同じく小型のIC201に
対する別の構造例であり、ねじ止め箇所を少なくし、ね
じ62のみを用いて、伝熱取付け部材4に対して伝熱板
5と伝熱補助板7の双方を固定した例である。また、背
の低いIC201に対しても、図4(D)は、有効であ
る。
【0064】このように、IC201の消費電力、高
さ、上面積に応じてさまざまなバリエ−ションを組み合
わせることができ、従来の水冷方式の様にICのパッケ
−ジの大きさ、高さを統一する様な制約条件が無い。
【0065】しかも、液冷が必要なIC201にのみ、
冷却パイプ101に液冷部品60を取り付けるだけでよ
いため、必要最小限のスペ−スで実現できる。
【0066】このため、プリント基板2の実装高さを、
ほとんど冷却パイプ101の高さ分で抑えることがで
き、プリント基板2の実装密度を上げることができる。
【0067】一例として、本冷却構造によって、プリン
ト基板2の両面に冷却パイプ101を取り付けた場合の
実装ピッチを、30mmから50mm程度に抑えること
ができる。
【0068】これは、従来の空冷での実装ピッチが、片
面実装で15mmから25mmピッチであるためほぼ同
等の実装ピッチで実現できる。
【0069】一方、既述したように(図4)、消費電力
が1Wから15W程度までのIC201に対して、幅広
い冷却能力を実現できるため、従来の空冷の3倍から5
倍の冷却能力を同等のスペ−ス容量で実現できる。
【0070】また、小型のため重量も少なく抑えられる
ためテストヘッドとオ−トハンドラ、テストヘッドとプ
ロ−バとの接続機構もそれぞれ小型軽量化できる。
【0071】更に、IC201を交換する場合、図5
(A)に示すように、ねじ61を外すことにより、伝熱
板5をIC201に接着させた状態で、伝熱取付け部材
4だけを上方に回転させ上に持ち上げた後、図5(B)
に示すように、IC201のリ−ドをリペア装置9で加
熱して半田を外し、IC201を取り外す。
【0072】このように、IC201個々に取り外し、
取り付けが出来る。このため従来の液冷構造のように
(図11)、液冷部品の全てを取り外す必要が無く、I
C201のメンテナンスを容易に行うことができる。
【0073】以下、コールドプレート1の詳細を、図6
に基づいて説明する。
【0074】図6において、テストヘッド10内の片
側、例えば図面に向かって右側には、分配用マニホルド
12と集合用マニホルド14がそれぞれ配置されてい
る。
【0075】分配用マニホルド12のカップラ11は、
コールドプレート1Aのカップラ103Aと嵌合し(図
7(B))、カップラ103Aは、ホース104Aを介
してサブマニホルド102に接続されている。
【0076】この構成により、分配用マニホルド12
は、コールドプレート1Aの複数の冷却パイプ101に
冷媒を分配する。
【0077】集合用マニホルド14のカップラ13は、
コールドプレート1Bのカップラ103Bと嵌合し(図
7(B))、カップラ103Bは、ホース104Bを介
してサブマニホルド102に接続されている。
【0078】この構成により、集合用マニホルド14
は、コールドプレート1Bの複数の冷却パイプ101か
ら冷媒を集合させる。
【0079】前記分配用マニホルド12と集合用マニホ
ルド14は、ホ−スまたは金属配管を介して、給水カッ
プラ15と還水カップラ16にそれぞれ接続されている
(図6)。
【0080】給水カップラ15と還水カップラ16は、
テストヘッド10の電源用ケーブル19の取り出し側に
設けられ、それぞれ給水ホ−ス17と還水ホ−ス18に
接続されている。
【0081】また、給水ホ−ス17と還水ホ−ス18
は、冷媒循環装置(図示省略)等に接続されている。こ
の冷媒循環装置により、水等の冷媒を熱交換して一定温
度にし、テストヘッドに冷媒を循環させることが好まし
い。
【0082】冷媒は、先ず、給水ホ−ス17と給水カッ
プラ15を経由して分配用マニホルド12に入り、カッ
プラ11と103A、及びホース104Aを介して、各
プリント基板2ごとに分配され、サブマニホルド102
によりコールドプレート1Aの各冷却パイプ101ごと
に分配される。
【0083】コールドプレート1Aの各冷却パイプ10
1に分配された冷媒は、ホース3を通って、反対側のコ
ールドプレート1Bの各冷却パイプ101に流れ、サブ
マニホルド102により各冷却パイプ101ごとに集合
させられ、更にホース104B、及びカップラ103B
とカップラ13を介してプリント基板2ごとに集合させ
られ、集合用マニホルド14に入る。
【0084】このようにして、各プリント基板2を冷却
した冷媒は、集合用マニホルド14から、還水カップラ
16、還水ホ−ス18へと流れ、冷媒循環装置(図示省
略)で熱交換される。
【0085】一方、コ−ルドプレ−ト1A、1Bのカッ
プラ103Aと103Bは、分配用マニホルド12と集
合用マニホルド14に取り付けられたカップラ11と1
3から外すことにより、プリント基板2を、コールドプ
レート1を固定した状態で、テストヘッド10から容易
に取り出すことができる(図6)。
【0086】すなわち、プリント基板2は、カップラ1
03A、103Bが付いた状態で抜き差しする(図
6)。
【0087】このとき、カップラ103A,103Bと
それに嵌合するカップラ11、13には、抜くと冷媒が
止まる両端開閉型のワンタッチカップラを使用すれば、
簡単に抜き差しが可能となり、冷媒が脱着によって漏れ
ることは無い。
【0088】本冷却構造は、前記分配用マニホルド12
と集合用マニホルド14を、テストヘッド10内の片側
に配置することができるので(図6、図7)、ヘッド1
0内の冷媒配管が容易になると共に、配管系を最短で接
続でき、これにより、テストヘッド10の小型化が可能
となる。
【0089】また、電気回路と冷媒回路を分離できるた
め安全性も向上する。
【0090】更に、図7に示すように、本冷却構造と併
用して、テストヘッド10の片面に、小型のファン21
を配置し、対向面に吸気口20をあければ、液冷できな
い小型のチップ部品やリレ−等を冷却できる。
【0091】これにより、プリント基板2の実装は、従
来の空冷とほとんど変わらない実装で、テストヘッド1
0の冷却能力を飛躍的に向上させることができる。
【0092】例えば、この冷却構造によれば、液冷部分
は10KW以上を許容し、空冷部分は1KW以上を許容
できる。
【0093】これを空冷のみで実現しようとすると、空
気の温度上昇を10°Cで設計する場合、風量が50m
3/min以上必要となり、大風量と大電力の熱がテス
トヘッドから排気され、測定するICの温度精度を維持
できなくなる。
【0094】空冷の実用上、問題なく実現できる範囲と
しては5KW程度である。
【0095】また、大型のファンが必要となるため騒音
が増大し、作業環境も悪化する。
【0096】しかし、図7に示すこの発明の冷却構造に
よれば、テストヘッド10から排気される熱量は、1K
W程度であり、ファン21も小型で済むため、測定する
IC201の温度精度を十分クリアできる。また、ファ
ン21も小型のため、騒音による問題も起こらない。
【0097】
【発明の効果】上述したように、この発明によれば、小
型化され、しかもメインテナンスが容易なテストヘッド
の冷却構造を提供するという効果がある。
【0098】即ち、液冷の冷却パイプを使用し、その冷
却パイプに、個々にICを冷却する液冷部品を取付けた
ので、必要最小限の冷却構造を可能にすると共に、分配
用マニホルドと集合用マニホルドをテストヘッド内の片
側に配置できる構造にしたので、冷媒配管を最短で接続
でき、テストヘッドの小型化が実現できる。
【0099】また、液冷部品全体を外さずに、IC個々
の取り付け取り外しが可能であり、プリント基板毎に取
り外しができ、冷媒を遮断できるので、テストヘッドの
メインテナンスが極めて容易になった。
【0100】更に、ICの消費電力、寸法、実装高さに
合わせたさまざまなバリエ−ションを組み合わせること
ができ、30mmから50mm程度のプリント基板の実
装ピッチにより、プリント基板の両面に対して、1Wか
ら15W程度の幅広い冷却能力を実現できる。これは、
従来と同等のスペ−ス容量で3倍から5倍の冷却能力を
実現できる。
【0101】また、ICに機械的ストレスが加わらない
ので、信頼性が向上すると共に、機械的ストレスによる
たわみ防止等の強度的な補強対策も不要である。
【0102】その他、小型の冷却ファンを組み合わせる
ことにより、従来の空冷式のプリント基板の実装形態を
踏襲でき、飛躍的に冷却能力を向上させることができ
る。
【0103】冷却能力として、テストヘッド当たりで
は、水冷部分10KW、空冷部分1KW程度を冷却可能
とし、従来の空冷方式の約2倍の冷却能力を実現でき
る。
【0104】この場合、テストヘッドからの排熱がほと
んど無いので測定ICの温度精度を保証できると共に、
テストヘッドに大型のファンがないので、騒音による作
業環境の悪化がない。
【0105】
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施形態を示す全体図である。
【図2】図1の部分拡大図である。
【図3】この発明を構成する液冷部品60の実施形態を
示す図である。
【図4】この発明を構成する液冷部品60とIC201
との関係を示す図である。
【図5】この発明を構成する液冷部品60とIC201
の取り外し方法を示す図である。
【図6】この発明を構成するコールドプレート1の実施
形態を示す図である。
【図7】図6の平面図と断面図である。
【図8】第1従来技術の説明図である。
【図9】第2従来技術の説明図である。
【図10】第3従来技術の説明図である。
【図11】第4従来技術の説明図である。
【符号の説明】
1 コ−ルドプレ−ト 2 プリント基板 3 ホ−ス 4 伝熱取付け部材 5 伝熱板 6 熱伝導性グリ−ス 7 伝熱補助板 8 熱伝導性接着剤 9 リペア装置 10 テストヘッド 11 カップラ 12 分配用マニホルド 13 カップラ 14 集合用マニホルド 15 給水カップラ 16 還水カップラ 17 給水ホ−ス 18 還水ホ−ス 19 ケ−ブル 20 吸気口 21 ファン 31 プリント基板 32 IC 33 放熱フィン 34 軸流ファン 35 シロッコファン 36 フレキシブルホ−ス 37 ユニットク−ラ 38 フレキシブルホ−ス 39 IC 40 プリント基板 41 ピストン 42 ばね 43 ブロック 44 液冷管 101 冷却パイプ 102 サブマニホルド 103 カップラ 104 ホ−ス 105 アングル 106 アングル 111 外周面 112 ホ−ス 201 IC 202 固定板 203 支柱 204 スペ−サ 212 長穴 401 内周面

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 IC(201)を装着したプリント基板
    (2)が実装されているテストヘッド(10)を液冷す
    るテストヘッドの冷却構造において、 前記プリント基板(2)の両面(2A、2B)には、冷
    媒を循環させる複数の冷却パイプ(101)と、冷却パ
    イプ(101)と一体的に形成されたサブマニホルド
    (102)から構成され、互いに連通したコールドプレ
    ート(1A、1B)が固定されていると共に、 テストヘッド(10)内の片側には、分配用マニホルド
    (12)と集合用マニホルド(14)がそれぞれ配置さ
    れ、 コールドプレート(1A)が分配用マニホルド(12)
    に、コールドプレート(1B)が集合用マニホルド(1
    4)にそれぞれ着脱自在に接続され、 各冷却パイプ(101)には、個々のIC(201)に
    応じた液冷部品(60)が取り付けられ、液冷部品(6
    0)を介して各冷却パイプ(101)がIC(201)
    に接合されていることを特徴とするテストヘッドの冷却
    構造。
  2. 【請求項2】 複数の冷却パイプ(101)に跨がって
    取り付けられたアングル(106)が、プリント基板
    (2)の支柱(203)に、サブマニホルド(102)
    に取り付けられたアングル(105)が、プリント基板
    (2)の固定板(202)にそれぞれねじ固定されてい
    る請求項1記載のテストヘッドの冷却構造。
  3. 【請求項3】 コールドプレート(1A)が、カップラ
    (103A、11)を介して分配用マニホルド(12)
    に、コールドプレート(1B)が、カップラ(103
    B、13)を介して集合用マニホルド(14)にそれぞ
    れ接続され、カップラ(103A、11)とカップラ
    (103B、13)は、共に両端開閉型ワンタッチカッ
    プラにより形成されている請求項1記載のテストヘッド
    の冷却構造。
  4. 【請求項4】 液冷部品(60)が、冷却パイプ(10
    1)に回転可能に取り付けられた伝熱取付け部材(4)
    と、熱伝導性グリース(6)を介して伝熱取付け部材
    (4)にそれぞれねじ固定された伝熱板(5)、及び伝
    熱補助板(7)から構成され、伝熱板(5)が熱伝導性
    接着剤(8)によりIC(201)に接着されている請
    求項1記載のテストヘッドの冷却構造。
  5. 【請求項5】 伝熱板(5)と伝熱補助板(7)が、別
    々のねじ(61)と(62)により、伝熱取付け部材
    (4)に固定されている請求項4記載のテストヘッドの
    冷却構造。
  6. 【請求項6】 ねじ(61)を外して伝熱取付け部材
    (4)を冷却パイプ(101)の周りで上方に回転し、
    伝熱板(5)が接着している状態でIC(201)をプ
    リント基板(2)から取り外す請求項5記載のテストヘ
    ッドの冷却構造。
  7. 【請求項7】 伝熱板(5)と伝熱補助板(7)が、共
    通のねじ(62)により、伝熱取付け部材(4)に固定
    されている請求項4記載のテストヘッドの冷却構造。
  8. 【請求項8】 伝熱取付け部材(4)が、IC(20
    1)のパッケージより大きく形成されている請求項4記
    載のテストヘッドの冷却構造。
  9. 【請求項9】 テストヘッド(10)の片面に小型のフ
    ァン(21)が、対向面に吸気口(20)がそれぞれ設
    けられている請求項1記載のテストヘッドの冷却構造。
JP35728196A 1996-12-26 1996-12-26 テストヘッドの冷却構造 Expired - Fee Related JP3577711B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35728196A JP3577711B2 (ja) 1996-12-26 1996-12-26 テストヘッドの冷却構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35728196A JP3577711B2 (ja) 1996-12-26 1996-12-26 テストヘッドの冷却構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10186002A true JPH10186002A (ja) 1998-07-14
JP3577711B2 JP3577711B2 (ja) 2004-10-13

Family

ID=18453320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35728196A Expired - Fee Related JP3577711B2 (ja) 1996-12-26 1996-12-26 テストヘッドの冷却構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3577711B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001313485A (ja) * 2000-04-27 2001-11-09 Fujitsu Ltd 冷却機構、ヒートシンク、電子装置及び電子装置の組み立て方法
JP2006234669A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 Advantest Corp 伝熱体、テストボード、及び試験装置
WO2012158687A2 (en) * 2011-05-16 2012-11-22 Teradyne, Inc. Liquid cooling during testing

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001313485A (ja) * 2000-04-27 2001-11-09 Fujitsu Ltd 冷却機構、ヒートシンク、電子装置及び電子装置の組み立て方法
JP2006234669A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 Advantest Corp 伝熱体、テストボード、及び試験装置
WO2012158687A2 (en) * 2011-05-16 2012-11-22 Teradyne, Inc. Liquid cooling during testing
WO2012158687A3 (en) * 2011-05-16 2013-02-28 Teradyne, Inc. Liquid cooling during testing
US8736288B2 (en) 2011-05-16 2014-05-27 Teradyne, Inc. Liquid cooling during testing

Also Published As

Publication number Publication date
JP3577711B2 (ja) 2004-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10136551B2 (en) Liquid cooling system for server
US9185830B2 (en) Thermoelectric-enhanced, liquid-based cooling of a multi-component electronic system
US7826217B2 (en) Cooling device and electronic apparatus using the same
US6496367B2 (en) Apparatus for liquid cooling of specific computer components
US7537048B2 (en) Integrated liquid cooling system for electronic components
US20070034353A1 (en) Integrated liquid cooling system for electronic components
US8432695B2 (en) Cooling device
US20040196628A1 (en) Electronic apparatus having heat-generating components to be cooled with liquid coolant
CN207115002U (zh) 一种相机感光芯片的散热装置
JPH0832262A (ja) Lsiの冷却モジュール
JP2003130517A (ja) 電子装置用冷却装置及び冷却装置付電子装置
JPH10186002A (ja) テストヘッドの冷却構造
US7215544B2 (en) Apparatus for enhancing heat transfer efficiency of endothermic/exothermic article
US7312995B2 (en) Cooling system for computer electronics
JP2013187348A (ja) 冷却ユニット
JP2907800B2 (ja) 電子機器
JP2000286483A (ja) レーザ光発生装置
TWI403883B (zh) 藉使用經模組匯流排型熱交換器連結之多流體熱交換迴路於個人電腦中冷卻多熱源之方法
JPH08213526A (ja) 回路パック
CN211531656U (zh) 一种冷冻冷脂机的热交换器装配结构
CN220752625U (zh) 一种超静音液冷服务器
JPH09326576A (ja) 冷却装置
JPH06302982A (ja) 電子機器の冷却装置
CN111384468A (zh) 一种用于车辆的电池包组件及车辆
CN102573396A (zh) 用于电子设备的冷却系统及相应冷却方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040611

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040621

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040704

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080723

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090723

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees