JPH10185773A - サンプリング方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 精粉搬送シュートからの分岐路で精粉の反射
光量を測定するサンプリング方法およびその装置に関
し、精粉搬送シュートからの分岐路で精粉の反射光量を
測定することにより、反射光量に対する変動要因の影響
を少なくすることを課題とする。 【解決手段】 分級された粉体の精粉搬送シュートから
分岐したサンプリング路で粉体を連続的にサンプリング
し、スクリューコンベアにより低速で安定した状態に粉
体を圧密できる構造と、測定プローブの挿入深さと挿入
角度を最適な位置に設定できる構造と、適切なタイミン
グによりプローブ測定面を洗浄できる空気洗浄装置とを
備えたサンプリング装置により、前記サンプリングした
粉体の反射光量を測定するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粉体搬送シュート
からの分岐路で粉体の反射光量を測定するサンプリング
方法およびその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、粉体の反射光量に基づき塊状体ま
たは粒状体の粒度を測定するには、例えば、特開昭５８
−６２５４０号公報記載の方法があった。この方法で
は、コンベア上で搬送される測定対象に光をあてて、塊
状体または粒状体の部分を検知するときと、間隙部分を
検知しているときの２種類の信号だけで、搬送されてい
る塊状体または粒状体の粒度分布を表す。１つ１つの塊
状体または粒状体の粒径は、塊状体または粒状体を検知
している信号が出力されている時間とコンベアの搬送速
度から求められる。しかし、この方法は粒径が数センチ
以上の塊状体に対しては有効であるが、セメントのよう
に、殆どが 100μｍ以下となる微細な粒体に対しては、
適用できないという問題点がある。

【０００３】この問題点を解消すべく、本願発明者等
は、特願平７−２１０５７８号によって、新規な粉体製
造装置のオンライン粒度測定法を適用し、微細に粉砕し
た粉体の粉末度を実時間で正確に測定し、精度良く粉末
度を調整できるようにした。しかし、この場合において
も、粉体搬送シュートに反射光量測定用プローブを直接
挿入して搬送中の粉体を測定しようとすると、流速の速
い粉体によってプローブの測定面に取り付けられたガラ
スを摩耗させるため反射光量が経時的に減少し、また、
粉体搬送シュート内の粉末には多量の空気が含まれ、こ
の存在が反射光量のバラツキを大きくする。また、反射
光量測定用プローブが固定式であるために設備の運転停
止時にプローブ先端に付着した粉末が固着し、運転再開
後に反射光量の誤差を大きくする等の問題点があった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の技術
における前記問題点を解消するためのものであり、その
ための課題は、粉体搬送シュートからの分岐路で粉体の
反射光量を測定することにより、反射光量に対する変動
要因の影響を少なくするサンプリング方法およびその装
置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明における請求項１
に係るサンプリング方法は、粉体の搬送シュートから分
岐したサンプリング路で粉体を連続的にサンプリング
し、該サンプリングした粉体の反射光量を測定すること
を特徴とするものである。

【０００６】また、請求項２に係るサンプリング方法
は、前記サンプリング路で粉体圧密輸送装置により圧密
輸送された粉体の反射光量を測定することを特徴とす
る。

【０００７】また、請求項３に係るサンプリング装置
は、粉体搬送路から分岐して設けたサンプリング路と、
このサンプリング路の一端部に設けた反射光量測定用プ
ローブと、この反射光量測定用プローブからの出力信号
を増幅する増幅器とを備えたことを特徴とするものであ
る。

【０００８】また、請求項４に係るサンプリング装置
は、前記サンプリング路は入口を粉体の搬送シュートに
接続し、出口を後段の搬送路に接続させたサンプリング
専用バイパス路を形成したことを特徴とする。

【０００９】また、請求項５に係るサンプリング装置
は、前記サンプリング路にスクリューコンベアを配設し
たことを特徴とする。

【００１０】また、請求項６に係るサンプリング装置
は、前記反射光量測定用プローブを前記スクリューコン
ベアの下流側に設けたことを特徴とする。

【００１１】また、請求項７に係るサンプリング装置
は、前記反射光量測定用プローブは角度および挿入深さ
を調節可能に設けたことを特徴とする。

【００１２】また、請求項８に係るサンプリング装置
は、前記反射光量測定用プローブの測定面のクリーニン
グ手段を設けたことを特徴とする。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を分岐
路中にスクリューコンベアを組み込んだ場合について具
体的に説明する。ただし、この実施の形態は、本発明を
より良く理解させるために具体的に説明するものであっ
て、特に指定のない限り、本発明の内容を限定するもの
ではない。

【００１４】〔装置構成〕この実施の形態においては、
サンプリング装置を設けた粉体製造装置の基本構成を図
１に、そのサンプリング装置の主要構成を図２に、サン
プリング装置の具体的構成を図３〜７に示す。

【００１５】粉体製造装置は、図１に示すように、石
膏、石灰石等の添加材を添加したセメントクリンカ（以
下、単にクリンカという）を機械的に粉砕する粉砕機１
と、粉砕機１によって粉砕された砕製物を供給して所定
粒度より粗い粗粉と所定粒度以下である精粉とに分級す
る分級機２と、分級された精粉を捕集するバッグフィル
タ３と、バッグフィルタ３の出口側の精粉輸送シュート
３ａから分岐し製品サイロ行き輸送機３ｂへ接続する分
岐路を形成して精粉の反射光量を測定し易くしたサンプ
リング装置４と、サンプリング装置４に供給された精粉
の反射光量を測定する反射光量測定用プローブ５と、反
射光量測定用プローブ５からの出力信号を増幅して送信
するアンプ６と、バッグフィルタ３により捕集されて図
示しない製品サイロへ搬送される精粉の化学成分を分析
するＸ線分析機７と、クリンカに添加した添加材の添加
率を伝送する添加材添加率設定装置８と、アンプ６の出
力信号とＸ線分析機７の分析結果と添加材添加率設定装
置８の添加材添加率とを入力して変動要因の影響を補正
した粉末度を求め、その求めた粉末度に基づき分級機２
の回転数操作およびバッグフィルタ３の風量調節を行う
制御装置としての計算機９とを備える。

【００１６】サンプリング装置４は、図２，３に示すよ
うに、精粉輸送シュート３ａに接続した分岐シュート１
１と、水平に設置して分岐搬送されてきた精粉の密度を
高め流速を１ｍ／ｍｉｎ以下に遅くして搬送するスクリ
ューコンベア１２と、スクリューコンベア１２の出口か
ら製品サイロ行き輸送機３ｂへ接続する分岐出口配管１
１ａと、スクリューコンベア１２の出口部で搬送された
精粉の反射光量を測定することができるように取付角度
を適当に変えて設けた複数のプローブ挿入口１３，…，
１３と、スクリューコンベア１２のスクリュー１２ａを
駆動する電動機１４と、電動機１４の回転を減速してス
クリューコンベア１２に伝達する減速歯車１５，１６，
１７とを備える。

【００１７】精粉を測定する反射光量測定用プローブ５
は、取付角度の異なる複数のプローブ挿入口１３，…，
１３のいずれかに挿入して挿入角度を変え、挿入深さを
調節して最適な状態で精粉を測定することができるよう
にするプローブ制御装置２０に取り付け、必要に応じ
て、適切なプローブ挿入口１３，…，１３を選択し、挿
入深さを調節して、反射光量を測定することができるよ
うにする。

【００１８】プローブ制御装置２０は、図２に示すよう
に、反射光量測定用プローブ５と同軸的に設けて反射光
量測定用プローブ５をプローブ挿入口１３に対して挿入
脱抜するプローブ挿入用エアシリンダ２１と、粗粉側
（低反射光量）の標準試料Ａと細粉側（高反射光量）の
標準試料Ｂとを用意して定期的に反射光量測定用プロー
ブ５の測定誤差を検査する検定装置２２と、この検定装
置２２を動作させて反射光量測定用プローブ５を標準試
料側へ移動させるプローブ駆動装置２３と、プローブ挿
入用エアシリンダ２１に駆動用高圧空気を供給するガス
ボンベまたはコンプレッサ等の空気源２４と、空気源２
４からプローブ挿入用エアシリンダ２１に駆動用高圧空
気を供給することを制御する遮断弁２５と、空気源２４
から反射光量測定用プローブ５の先端の測定面にパージ
用高圧空気を供給することを制御する遮断弁２６とを備
える。

【００１９】さらに、プローブ制御装置２０には、図３
〜図６に示すように、（例えば、垂直および垂直に対し
て 30 度と 45 度に設定した）プローブ挿入口１３，
…，１３の取付角に合わせた角度に反射光量測定用プロ
ーブ５を傾斜させるプローブ傾倒装置２７と、プローブ
傾倒装置２７に取り付けてプローブ挿入用エアシリンダ
２１を高さ調節可能に取り付けるシリンダ取付部材２８
とを備える。そして、プローブ傾倒装置２７の角度調節
には、中心軸取付部２７ａに設けた締付ボルト２７ｂを
緩めてシリンダ取付部材２８を傾斜させ、再度締付ボル
ト２７ｂを締め付けることにより行う。

【００２０】プローブ挿入口１３には、図７に示すよう
に、エアシリンダ２１により反射光量測定用プローブ５
が引き抜かれた最高点にパージ用高圧空気供給口１３ａ
を設け、適切なタイミングで測定面をエアパージしてク
リーニングすることにより、常に、プローブ先端に粉体
を付着させず、反射光量測定値が安定する良好な状態で
測定することができるようにする。また、プローブ挿入
口１３の上端にはグランドパッキン１３ｂを装着し、抑
え部材１３ｃによって適当な力で押圧することにより、
反射光量測定用プローブ５の抜き差しを妨げることなく
パージ用空気あるいは粉体の漏れを防止する。

【００２１】計算機９は、アンプ６からの反射光量測定
結果と、Ｘ線分析機７からの成分分析結果と、添加材添
加率設定装置８からの添加材添加率とを入力して、反射
光量測定に対する変動要因の影響を補正した粉末度を求
め、その求めた粉末度に基づき、分級機の回転数操作信
号およびバッグフィルタ風量調節信号を出力して、精粉
粉末度を調節する。処理すべき反射光量測定値から粉末
度を推定するには、一次式で最小二乗近似して求めた検
量線を用いて粉末度を算出して求めるものとする。

【００２２】〔粉末度の推定〕精粉の反射光量測定プロ
ーブ５からの出力電圧（以下、単に反射光量という）Ｌ
と、精粉の粉末度の一指標である比表面積（ブレーン法
を適用して得られた値、以下ブレーン値という）Ｓとの
関係は一次式で表わされ、標準検量線における反射光量
Ｌとブレーン値Ｓ_s との関係式は次のようになる。

【００２３】

【数１】 Ｓ_s ＝ｋ₁ Ｌ＋ｋ₄ … （１）

【００２４】この標準検量線からの偏りδを粉体の品質
変化によるものとすると、供給原料の品質変動に起因し
て生じるブレーン値の標準検量線からの偏りδ_s は、粉
体の品質の標準値からの偏りδ_p に比例し、

【００２５】

【数２】 δ_s ＝αδ_p … （２）

【００２６】これより測定反射光量Ｌに対する品質の偏
りを修正したブレーン値Ｓは、

【数３】 Ｓ ＝Ｓ_s ＋δ_s … （３）

【００２７】これより、

【数４】 Ｓ ＝ｋ₁ Ｌ＋ｋ₄ ＋αδ_p … （４） となる。

【００２８】例えば、化学成分Ｘの標準値からの変動量
ΔＸに対しては成分変化に応じて検量線が並行移動した
場合に略相当するから、係数をかけた値を加え、その成
分変動量による切片変化量を補正する。添加材Ｙの標準
値からの変動量ΔＹに対しても、検量線が並行移動した
場合に略相当するから、係数を添加材添加率の変動量に
掛けた値を元のブレーン値に加えて補正する。

【００２９】すなわち、ΔＸを化学成分の標準値からの
変動量、ΔＹを添加材添加率の標準値からの変動量とす
ると、

【数５】 Ｓ ＝ｋ₁ Ｌ＋ｋ₂ ΔＸ＋ｋ₃ ΔＹ＋ｋ₄ … （５） となる。

【００３０】ただし、粉体の品種Ｖが異なる場合には化
学成分、焼成条件等が異なるので検量線も異なった線と
なるから、品種変更がされた場合、その都度、検量線を
その品種に合った検量線に変更する。また、反射光量の
測定値Ｌは、適宜の時間間隔でサンプリングしたデータ
の最大値を採り、その値を所定時間の範囲で移動平均化
し、その平均化した値に対して補正を実施する。このよ
うにして、許容できない供給原料の品質変動があった場
合であっても、その品質変動分を補正した粉末度を正確
に把握する。

【００３１】そして、正確に把握された粉末度が製造す
べき目標とする精粉の粉末度になるように、得られた精
粉のブレーン値Ｓと、目標とされる精粉のブレーン値Ｓ
_r とを比較して、その比較の結果に基づき分級機２の回
転数と、バッグフィルター３の風量を調節する電動ダン
パの開度との操作量を求め、その操作量を信号化してそ
れぞれ出力し、分級機２の回転数およびバッグフィルタ
ー３の電動ダンパを操作して、所定粉末度に精度良く制
御する。

【００３２】〔較正〕反射光量の測定に先立ち、反射光
量測定用プローブ５を較正する。較正には、プローブ駆
動装置２３を起動させて検定装置２２を動作させ、反射
光量測定用プローブ５を反射光量が既知である標準試料
Ａ，Ｂ側へ移動させて標準試料Ａ，Ｂの中に挿入し、そ
れぞれの反射光量を測定して標準試料Ａ，Ｂの反射光量
が得られているか否かを判定することによって行う。較
正は、標準試料Ａ，Ｂを測定し、その測定誤差が、温度
および電圧の変動、プローブの長期間連続使用、発光・
受光ダイオードやプローブのガラスの劣化等によって、
アンプ自体の温度補償回路および安定化電源の補償範囲
を超えたために、許容誤差以上になった場合には、計算
機９に設定されている検量線を更新する。

【００３３】

【実施例】以下、実施例として、粉体がセメントの場合
につき、具体的に説明する。標準検量線における係数ｋ
₁ ，ｋ₄ の具体的な値は、例えば、普通ポルトランドセ
メントの場合、ｋ₁ ＝ 280、ｋ₄ ＝ 2638 であり、ま
た、早強ポルトランドセメントの場合、ｋ₁ ＝ 162、ｋ
₄ ＝ 4032 である。したがって、普通ポルトランドセメ
ントの標準検量線は、

【数６】 Ｓ_NC＝ 280Ｌ_NC＋ 2638 … （６） また、早強ポルトランドセメントの標準検量線は、

【数７】 Ｓ_HC＝ 162Ｌ_HC＋ 4032 … （７） となる。

【００３４】反射光量測定用プローブ５の較正を終了し
ている場合の計算機９における処理システムを図８に示
す。このシステムにおける処理は、粉体の製造中であれ
ば、セメントの品種Ｖ、サンプリングデータＬ、酸化鉄
分Ｆ、酸化マグネシウム分Ｍ、石膏添加率Ｇおよび石灰
石添加率Ｃ等の変動の影響を補正した粉末度を求め、そ
の粉末度に基づき分級機回転数およびバッグフィルタ風
量を操作して目的とする粉末度を得るようにする。

【００３５】セメントの品種Ｖは、その品種を定めた時
に、その都度、設定品種Ｖを入力して品種データを更新
させる。品種変更がされた場合、その都度、検量線をそ
の品種に合った検量線に変更する。例えば、普通ポルト
ランドセメントから早強ポルトランドセメントに変更さ
れた場合には普通ポルトランドセメントの検量線から早
強ポルトランドセメントの検量線に変更する。

【００３６】クリンカ送量に対して設定されている石膏
添加率Ｇおよび石灰石添加率Ｃの標準値からの変動添加
率ΔＧ，ΔＣにより検量線を補正する。酸化鉄分Ｆまた
は酸化マグネシウム分Ｍ等の検量線への影響の大きな成
分については、数時間（例えば図８では４時間）間隔で
成分量をチェックし、標準値からの変動量ΔＦ，ΔＭに
より検量線を補正する。

【００３７】反射光量の測定には、適宜の時間（図８で
は１０秒）内に最大値をサンプリングし、所定時間（図
８では１０分間）における移動平均値Ｌを求める。そし
て、求めた移動平均値Ｌと、各補正すべき要因であるセ
メント成分の酸化鉄分Ｆおよび酸化マグネシウム分Ｍ等
の標準値からの変動量ΔＦ，ΔＭと、添加材の石膏Ｇお
よび石灰石Ｃの標準値からの変動添加率ΔＧ，ΔＣとか
ら、セメントの品種Ｖに適応した検量線を用いて、それ
ぞれの重み付け係数ａ，ｂ，ｃ，ｄを考慮して補正した
ブレーン値を求める。

【００３８】この場合には、補正すべきブレーン値は式
（５）から次のようになる。

【数８】 Ｓ＝ ａＬ＋ｂΔＦ＋ｃΔＭ＋ｄΔＧ＋ｅΔＣ＋ｆ … （８）

【００３９】これにより補正したブレーン値に基づき分
級機の回転数およびバッグフィルタの風量を操作して、
常に、目的とする粉末度の粉体が得られるように粉体製
造装置を制御する。

【００４０】ブレーン値の補正には、品種Ｖ、酸化鉄含
有量Ｆおよび酸化マグネシウム添加量Ｍ、石膏添加率Ｇ
および石灰石添加率Ｃの標準値からの変動量ΔＦ，Δ
Ｍ，ΔＧ，ΔＣに基づき、計算機の内部で設定された補
正係数を使用する。例えば、セメントに含まれる酸化鉄
と酸化マグネシウム等の場合には、酸化鉄の標準値との
差ΔＦに係数ｂを掛け、酸化マグネシウムの標準値との
差ΔＭに係数ｃを掛けて、それぞれを元のブレーン値に
加えて補正する。また、セメントの場合は石膏、石灰石
等が混合材として加えられているから、これらの添加率
の標準値との差ΔＧ，ΔＣに係数ｄ，ｅをそれぞれ掛け
た値を元のブレーン値に加えて補正する。

【００４１】ここで、前記セメントの具体的なデータを
代入すると、普通ポルトランドセメントの場合は、

【数９】 Ｓ_NC＝ 280Ｌ＋ 153ΔＦ− 218ΔＭ− 142ΔＧ− 44 ΔＣ＋ 2638 …（９） また、早強ポルトランドセメントの場合は、

【数１０】 Ｓ_HC＝ 162Ｌ＋ 153ΔＦ− 218ΔＭ− 142ΔＧ− 44 ΔＣ＋ 4032 …（１０） となる。

【００４２】〔実施例の作用効果〕このような実施例に
おいては、普通ポルトランドセメントおよび早強ポルト
ランドセメントに対する検量線を図９に示すと、品種の
影響は検量線の傾向が明らかに異なるので、品種の変更
に伴い検量線の変更が必要である。このため、これらの
検量線を記憶装置に記憶させておき、品種の変更時に品
種を入力して計算機で自動的に検量線を変更させるよう
にする。

【００４３】測定データをサンプリングして平滑化処理
した後のデータと原データとを重ね合わせた結果を図１
０に示す。この平滑化処理により、制御に不要な変動を
除いた出力電圧が得られ、検量線からブレーン値Ｓを得
るために必要な反射光量Ｌとして用いることができる値
が得られることが示されている。

【００４４】セメント組成の変動について、図１１
（イ）に酸化鉄（Ｆｅ₂ Ｏ₃ ）の含有量の変動に対する
影響を、図１１（ロ）に酸化マグネシウム（ＭｇＯ）の
含有量の変動に対する影響を示す。この結果では、酸化
鉄含有量が多くなるほど反射光量が減る傾向があり、ま
た、酸化マグネシウム含有量が多くなるほど反射光量が
増す傾向があり、それぞれの変動は検量線が略並行移動
するものと見做せる。このため、ブレーン値は含有量の
変動による切片の変化量を補正すれば良いことになる。

【００４５】添加材については、クリンカ粉砕前に添加
する石膏の添加率について、検量線の変化を図１２に示
す。石膏の添加率が多いほど反射光量が増加する傾向に
あり、その変動は検量線が略並行移動するものと見做せ
る。このため、ブレーン値は添加率の変動による切片の
変化量を補正すれば良いことになる。

【００４６】このようにして、品種の違いに対しては検
量線を変更し、測定データをサンプリングし平滑化処理
して得られたデータを使用して、セメント組成および添
加材の添加率に対する切片変化量を補正すると、図１３
（イ），（ロ）に示すように、サンプリングした反射光
量の測定値から得られたブレーン値が分級機２の回転数
に応じて変化し、手分析の実測値にも非常に良く追従し
ていることが示されている。また、これにより、得られ
たブレーン値から分級機２の回転数を調節することによ
り、所望の粉末度の粉体を得ることができるようにな
る。

【００４７】

【発明の効果】以上のように本発明では、請求項１に係
るサンプリング方法では、分級された粉体を分岐したサ
ンプリング路で測定することにより、流速を遅くして反
射光量を測定することができ、また、粉体輸送中の空気
の影響を減少させることができ、測定用プローブの摩耗
を防止することができるとともに測定反射光量の変動を
少なくすることができる。

【００４８】また、請求項２に係るサンプリング方法で
は、粉体の密度を高くするとともに粉体の流速を下げ
て、測定不良を減少させるとともに反射光量測定用プロ
ーブの摩耗を減少させて、測定精度を高めるとともにプ
ローブ寿命を延ばすことができる。

【００４９】また、請求項３に係るサンプリング装置で
は、製造された精粉を精粉搬送路から分岐させたサンプ
リング路で測定することができ、より理想的な条件の下
で反射光量を測定することができ、反射光量測定の精度
および信頼性を向上させることができる。

【００５０】また、請求項４に係るサンプリング装置で
は、製造された精粉を輸送するバイパス路を形成させた
ことにより、粉体製造の流れを妨げず、かつ精粉を損失
させることなく、製造工程中で、精粉の反射光量を精度
良く測定できる。

【００５１】また、請求項５に係るサンプリング装置で
は、サンプリング専用路の粉体をスクリューコンベアに
より低速で搬送させることにより、粉体の流速を下げて
プローブの摩耗を減少させるとともに、プローブ先端部
の測定面に搬送されている粉体を均等に当接させて測定
状態を良好な状態に維持させることができる。

【００５２】また、請求項６に係るサンプリング装置で
は、スクリューコンベアによって粉体を稠密にして気泡
を排除した状態で粉体の反射光量を測定でき、プローブ
の測定面に当接する粉体を均一にすることができて測定
状態を良好な状態にすることができる。

【００５３】また、請求項７に係るサンプリング装置で
は、サンプリング専用路で反射光量を測定するときに最
適な角度および深さでプローブの測定面が粉体に当接で
きるように調節でき、反射光量の測定を良好な状態で測
定することができる。

【００５４】また、請求項８に係るサンプリング装置で
は、反射光量測定用プローブの測定面をクリーニングで
きるようにしたことによって、測定面が汚れてくると、
適宜、測定面を清浄な面にクリーニングして、一定の条
件の下で測定ができるようにし、運転停止時にあっても
プローブ先端に粉体を付着させずに済み、常に、反射光
量測定値が安定する良好な状態で測定することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明における実施例の粉体製造装置を示すブ
ロック図である。

【図２】実施例の粉末度測定装置を示す拡大ブロック図
である。

【図３】実施例の粉末度測定装置を示す正面図である。

【図４】実施例の粉末度測定装置を示す平面図である。

【図５】実施例の粉末度測定装置を示す側面図である。

【図６】実施例のプローブ制御装置を示す後正面図であ
る。

【図７】実施例のプローブ挿入口を示す拡大部分断面図
である。

【図８】実施例における補正処理を示す流れ図である。

【図９】実施例におけるセメント品種による検量線の違
いを示すグラフである。

【図１０】実施例における平滑化処理の結果を示すグラ
フである。

【図１１】実施例におけるセメント組成による検量線の
移動を示すグラフであり、（イ）は酸化鉄の含有量の変
動による移動、（ロ）は酸化マグネシウムの含有量の変
動による移動を示す。

【図１２】実施例における石膏添加量による検量線の移
動を示すグラフである。

【図１３】実施例における粉体製造装置の制御結果を示
すグラフであり、（イ）はブレーン値の測定値と平滑化
処理後の値との経時変化を示すグラフ、（ロ）は分級機
の回転数の経時変化を示すグラフである。

【符号の説明】

１ 粉砕機 ２ 分級機 ３ バッグフィルタ ３ａ 精粉輸送シュート ３ｂ 製品サイロ行き輸送機 ４ サンプリング装置 ５ 反射光量測定用プローブ ６ アンプ ７ Ｘ線（成分）分析機 ８ 添加材添加率設定装置 ９ 計算機（粉末度補正手段） １１ 分岐シュート １１ａ 分岐出口配管 １２ スクリューコンベア １２ａ スクリュー １３ ブローブ挿入口 １３ａ パージ用高圧空気供給口 １４ 電動機 １５，１６，１７ 歯車 ２０ プローブ制御装置 ２１ エアシリンダ ２２ 検定装置 ２３ プローブ駆動装置 ２４ 空気源 ２５，２６ 遮断弁 ２７ プローブ傾倒装置 ２７ａ 中心軸取付部 ２７ｂ 締付けボルト ２８ シリンダ取付部材

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】粉体の搬送シュートから分岐したサンプリ
   ング路で粉体を連続的にサンプリングし、該サンプリン
   グした粉体の反射光量を測定することを特徴とするサン
   プリング方法。
2. 【請求項２】前記サンプリング路で粉体圧密輸送装置に
   より圧密輸送された粉体の反射光量を測定することを特
   徴とする請求項１記載のサンプリング方法。
3. 【請求項３】粉体搬送路から分岐して設けたサンプリン
   グ路と、このサンプリング路の一端部に設けた反射光量
   測定用プローブと、この反射光量測定用プローブからの
   出力信号を増幅する増幅器とを備えたことを特徴とする
   サンプリング装置。
4. 【請求項４】前記サンプリング路は入口を粉体の搬送シ
   ュートに接続し、出口を後段の搬送路に接続させたサン
   プリング専用バイパス路を形成したことを特徴とする請
   求項３記載のサンプリング装置。
5. 【請求項５】前記サンプリング路にスクリューコンベア
   を配設したことを特徴とする請求項３または４記載のサ
   ンプリング装置。
6. 【請求項６】前記反射光量測定用プローブを前記スクリ
   ューコンベアの下流側に設けたことを特徴とする請求項
   ３〜５のいずれかに記載のサンプリング装置。
7. 【請求項７】前記反射光量測定用プローブは角度および
   挿入深さを調節可能に設けたことを特徴とする請求項３
   〜６のいずれかに記載のサンプリング装置。
8. 【請求項８】前記反射光量測定用プローブの測定面のク
   リーニング手段を設けたことを特徴とする請求項３〜７
   のいずれかに記載のサンプリング装置。