JPH10184961A - 液体処理装置 - Google Patents
液体処理装置Info
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- JPH10184961A JPH10184961A JP33973896A JP33973896A JPH10184961A JP H10184961 A JPH10184961 A JP H10184961A JP 33973896 A JP33973896 A JP 33973896A JP 33973896 A JP33973896 A JP 33973896A JP H10184961 A JPH10184961 A JP H10184961A
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- Japan
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- pressure
- liquid
- circulation line
- air
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液体処理装置に備えられた循環ラインの循環
圧力が変動し、製品歩留りが低下していた。 【解決手段】 処理液を循環手段3により圧送し、循環
フィルタ4により液中の微粒子を捕捉する循環ライン5
を備えた液体処理装置1であり、循環ライン5に調整バ
ルブ6を介設するとともに、圧力計11を介設し、エア
駆動バルブ6の開度が圧力計11の検出圧力の変動に基
づいて調整される。
圧力が変動し、製品歩留りが低下していた。 【解決手段】 処理液を循環手段3により圧送し、循環
フィルタ4により液中の微粒子を捕捉する循環ライン5
を備えた液体処理装置1であり、循環ライン5に調整バ
ルブ6を介設するとともに、圧力計11を介設し、エア
駆動バルブ6の開度が圧力計11の検出圧力の変動に基
づいて調整される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体製造
工程等において、半導体チップの洗浄やウェットエッチ
ング等を行う液体処理装置に係り、特に薬液や純水等の
処理液を循環手段により圧送し、循環フィルタにより液
中の微粒子を捕捉する循環ラインを備えた液体処理装置
に関するものである。
工程等において、半導体チップの洗浄やウェットエッチ
ング等を行う液体処理装置に係り、特に薬液や純水等の
処理液を循環手段により圧送し、循環フィルタにより液
中の微粒子を捕捉する循環ラインを備えた液体処理装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造工程における半導体チップの
洗浄工程やウェットエッチング工程には、図4に示すよ
うな液体処理装置41が用いられている。図4におい
て、42は半導体チップの洗浄やウェットエッチングを
行う処理槽であり、この処理槽42は内槽42aと外槽
42bとからなっている。
洗浄工程やウェットエッチング工程には、図4に示すよ
うな液体処理装置41が用いられている。図4におい
て、42は半導体チップの洗浄やウェットエッチングを
行う処理槽であり、この処理槽42は内槽42aと外槽
42bとからなっている。
【0003】これら内槽42aおよび外槽42bには、
薬液や純水等の処理液を循環ポンプ43により圧送し、
循環フィルタ44により液中の微粒子を捕捉する循環ラ
イン45が備えられている。すなわち、この循環ライン
45の上流部は内槽42aに、下流部は外槽42bに接
続されており、その上流側から順にポンプガード46、
循環ポンプ43、加熱冷却ユニット47および循環フィ
ルタ44が配置されている。
薬液や純水等の処理液を循環ポンプ43により圧送し、
循環フィルタ44により液中の微粒子を捕捉する循環ラ
イン45が備えられている。すなわち、この循環ライン
45の上流部は内槽42aに、下流部は外槽42bに接
続されており、その上流側から順にポンプガード46、
循環ポンプ43、加熱冷却ユニット47および循環フィ
ルタ44が配置されている。
【0004】また、循環ポンプ43と加熱冷却ユニット
47との間には、パルスダンパ48が介設されており、
さらに、加熱冷却ユニット47と循環フィルタ44との
間には、圧力計49が介設されている。
47との間には、パルスダンパ48が介設されており、
さらに、加熱冷却ユニット47と循環フィルタ44との
間には、圧力計49が介設されている。
【0005】このような液体処理装置41では、循環ラ
イン45内の圧力が上昇し、循環流量が変化することが
ある。従来、循環流量の変化が生じた場合、処理液を圧
送する循環ポンプ43の駆動圧力を最適化することによ
り循環流量を確保したり、あるいは循環ライン45に存
在するバルブの開度を手動で調整することにより循環流
量を確保する対策が採られていた。
イン45内の圧力が上昇し、循環流量が変化することが
ある。従来、循環流量の変化が生じた場合、処理液を圧
送する循環ポンプ43の駆動圧力を最適化することによ
り循環流量を確保したり、あるいは循環ライン45に存
在するバルブの開度を手動で調整することにより循環流
量を確保する対策が採られていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の液体
処理装置41における循環ライン45の循環流量を確保
する対策はいずれも手動調整であり、循環圧力の変動に
対するリアルタイムでの対応は困難であった。したがっ
て、循環ライン45内の循環圧力の変動による循環流量
の変化により、半導体チップの清浄度や、エッチング量
およびエッチングの均一性に悪影響を与え、製品の歩留
りの低下を招くという問題があった。
処理装置41における循環ライン45の循環流量を確保
する対策はいずれも手動調整であり、循環圧力の変動に
対するリアルタイムでの対応は困難であった。したがっ
て、循環ライン45内の循環圧力の変動による循環流量
の変化により、半導体チップの清浄度や、エッチング量
およびエッチングの均一性に悪影響を与え、製品の歩留
りの低下を招くという問題があった。
【0007】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、循環圧力の変動による循環流量の変化
を抑制して、製品の歩留りを向上させることができる液
体処理装置を提供することを目的とする。
れたものであり、循環圧力の変動による循環流量の変化
を抑制して、製品の歩留りを向上させることができる液
体処理装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、処理液を循環手段により圧送し、循環フィルタに
より液中の微粒子を捕捉する循環ラインを備えた液体処
理装置において、上記循環ラインに調整バルブを介設す
るとともに、圧力計を介設し、上記調整バルブの開度
が、上記圧力計よって検出する循環圧力の変動に基づい
て調整されることを特徴とする液体処理装置により、達
成される。
れば、処理液を循環手段により圧送し、循環フィルタに
より液中の微粒子を捕捉する循環ラインを備えた液体処
理装置において、上記循環ラインに調整バルブを介設す
るとともに、圧力計を介設し、上記調整バルブの開度
が、上記圧力計よって検出する循環圧力の変動に基づい
て調整されることを特徴とする液体処理装置により、達
成される。
【0009】本発明によれば、循環ラインの循環圧力の
変動が、循環ラインに介設された圧力計により検出され
る。この検出圧力の変動に基づいて、循環ラインに介設
された調整バルブの開度が調整されるので、循環圧力が
変動しても循環流量が一定に維持されものである。
変動が、循環ラインに介設された圧力計により検出され
る。この検出圧力の変動に基づいて、循環ラインに介設
された調整バルブの開度が調整されるので、循環圧力が
変動しても循環流量が一定に維持されものである。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施形態は、本発明の好適な形態であるから、技術
的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範
囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記
載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施形態は、本発明の好適な形態であるから、技術
的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範
囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記
載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
【0011】図1は、本発明の液体処理装置の一実施形
態を示す概略図である。図示するように、この液体処理
装置1には、例えば半導体製造工程における半導体チッ
プの洗浄工程やウェットエッチング工程などを行う処理
槽2が設けられている。処理槽2は内槽2aと外槽2b
とからなっており、この処理槽う2内には洗浄やウェッ
トエッチングに使用する薬液や純水等の処理液が貯溜さ
れている。
態を示す概略図である。図示するように、この液体処理
装置1には、例えば半導体製造工程における半導体チッ
プの洗浄工程やウェットエッチング工程などを行う処理
槽2が設けられている。処理槽2は内槽2aと外槽2b
とからなっており、この処理槽う2内には洗浄やウェッ
トエッチングに使用する薬液や純水等の処理液が貯溜さ
れている。
【0012】これら内槽2aおよび外槽2bには、処理
液を循環手段である、例えば循環ポンプ3により圧送
し、循環フィルタ4により液中の微粒子を捕捉する循環
ライン5が備えられており、この循環ライン5の上流部
は内槽2aに、下流部は外槽2bに接続されている。
液を循環手段である、例えば循環ポンプ3により圧送
し、循環フィルタ4により液中の微粒子を捕捉する循環
ライン5が備えられており、この循環ライン5の上流部
は内槽2aに、下流部は外槽2bに接続されている。
【0013】この循環ライン5には、その上流側から順
に、調整バルブである、例えば駆動エアの圧力により循
環ライン5を開閉するエア駆動バルブ6、ポンプを保護
するポンプガード7、処理液を循環圧送する循環ポンプ
3、処理液を加熱または冷却する加熱冷却ユニット8、
処理液中の微粒子を捕捉する循環フィルタ4、および処
理液の流量を検出する流量計9が配置されている。
に、調整バルブである、例えば駆動エアの圧力により循
環ライン5を開閉するエア駆動バルブ6、ポンプを保護
するポンプガード7、処理液を循環圧送する循環ポンプ
3、処理液を加熱または冷却する加熱冷却ユニット8、
処理液中の微粒子を捕捉する循環フィルタ4、および処
理液の流量を検出する流量計9が配置されている。
【0014】上記循環ライン5において、循環ポンプ3
と加熱冷却ユニット8との間には、循環圧力の変動に伴
う過剰圧力を吸収するパルスダンパ10が介設されてお
り、さらに、加熱冷却ユニット8と循環フィルタ4との
間には、循環圧力を検出する圧力計11が介設されてい
る。
と加熱冷却ユニット8との間には、循環圧力の変動に伴
う過剰圧力を吸収するパルスダンパ10が介設されてお
り、さらに、加熱冷却ユニット8と循環フィルタ4との
間には、循環圧力を検出する圧力計11が介設されてい
る。
【0015】本実施形態において使用する最適なエア駆
動バルブ6は複動型であり、通常のスプリング形態を採
るノーマリーオープン型あるいはノーマリークローズ型
ではなく、開閉動作をすべて駆動エアの圧力で制御する
ようになっている。
動バルブ6は複動型であり、通常のスプリング形態を採
るノーマリーオープン型あるいはノーマリークローズ型
ではなく、開閉動作をすべて駆動エアの圧力で制御する
ようになっている。
【0016】図2および図3は、本実施の形態において
使用するエア駆動バルブの内部構造を示す概略図であ
る。まず、図2に示すエア駆動バルブ61は、その本体
611内に液体シリンダ室612と気体シリンダ室61
3とを備えている。液体シリンダ室612には、同軸上
に位置する流入ポート614と流出ポート615とが連
通されており、この液体シリンダ室612内には、上下
移動するロッド616が備えられている。このロッド6
16の下部にはダイヤフラム617が設けられており、
このダイヤフラム617が流入ポート614を開閉する
ようになっている。
使用するエア駆動バルブの内部構造を示す概略図であ
る。まず、図2に示すエア駆動バルブ61は、その本体
611内に液体シリンダ室612と気体シリンダ室61
3とを備えている。液体シリンダ室612には、同軸上
に位置する流入ポート614と流出ポート615とが連
通されており、この液体シリンダ室612内には、上下
移動するロッド616が備えられている。このロッド6
16の下部にはダイヤフラム617が設けられており、
このダイヤフラム617が流入ポート614を開閉する
ようになっている。
【0017】また、気体シリンダ室613には、ロッド
616の上部に取り付けられたピストン618が配置さ
れており、このピストン618により気体シリンダ室6
13が下部シリンダ室613aと上部シリンダ室613
bとに区画されている。そして、下部シリンダ室613
aには駆動エアの下部供給ポート619が連通されてお
り、上部シリンダ室613bには上部供給ポート620
が連通されている。
616の上部に取り付けられたピストン618が配置さ
れており、このピストン618により気体シリンダ室6
13が下部シリンダ室613aと上部シリンダ室613
bとに区画されている。そして、下部シリンダ室613
aには駆動エアの下部供給ポート619が連通されてお
り、上部シリンダ室613bには上部供給ポート620
が連通されている。
【0018】すなわち、このエア駆動バルブ61は、下
部供給ポート619から下部シリンダ室613a内へ駆
動エアを供給することにより開き、上部供給ポート62
0から上部シリンダ室613b内へ駆動エアを供給する
ことにより閉じるようになっている。
部供給ポート619から下部シリンダ室613a内へ駆
動エアを供給することにより開き、上部供給ポート62
0から上部シリンダ室613b内へ駆動エアを供給する
ことにより閉じるようになっている。
【0019】一方、図3に示すエア駆動バルブ62は、
その本体621内に液体シリンダ室622と気体シリン
ダ室623とを備えている。液体シリンダ室622に
は、流入ポート624と流出ポート625とが連通され
ており、この液体シリンダ室622内には、上下移動す
るロッド626が備えられている。このロッド626の
下部にはベローズ627が設けられており、このベロー
ズ627が伸縮してロッド626の下端部が流入ポート
624を開閉するようになっている。
その本体621内に液体シリンダ室622と気体シリン
ダ室623とを備えている。液体シリンダ室622に
は、流入ポート624と流出ポート625とが連通され
ており、この液体シリンダ室622内には、上下移動す
るロッド626が備えられている。このロッド626の
下部にはベローズ627が設けられており、このベロー
ズ627が伸縮してロッド626の下端部が流入ポート
624を開閉するようになっている。
【0020】また、気体シリンダ室623には、ロッド
626の上部に取り付けられたピストン628が配置さ
れており、このピストン628により気体シリンダ室6
23が下部シリンダ室623aと上部シリンダ室623
bとに区画されている。そして、下部シリンダ室623
aには駆動エアの下部供給ポート629が連通されてお
り、上部シリンダ室623bには上部供給ポート630
が連通されている。
626の上部に取り付けられたピストン628が配置さ
れており、このピストン628により気体シリンダ室6
23が下部シリンダ室623aと上部シリンダ室623
bとに区画されている。そして、下部シリンダ室623
aには駆動エアの下部供給ポート629が連通されてお
り、上部シリンダ室623bには上部供給ポート630
が連通されている。
【0021】すなわち、このエア駆動バルブ62は、下
部供給ポート629から下部シリンダ室623a内へ駆
動エアを供給することにより開き、上部供給ポート63
0から上部シリンダ室623b内へ駆動エアを供給する
ことにより閉じるようになっている。
部供給ポート629から下部シリンダ室623a内へ駆
動エアを供給することにより開き、上部供給ポート63
0から上部シリンダ室623b内へ駆動エアを供給する
ことにより閉じるようになっている。
【0022】本発明の実施の形態に係る液体処理装置1
は以上のように構成されており、半導体製造における半
導体チップの洗浄装置やウェットエッチング装置として
使用され、内槽2aに貯溜された薬液や純水等の処理液
を循環ポンプ3により圧送し、循環フィルタ4により液
中の微粒子を捕捉して外槽2bに戻し、処理液の清浄度
を維持する循環ライン5を備えている。
は以上のように構成されており、半導体製造における半
導体チップの洗浄装置やウェットエッチング装置として
使用され、内槽2aに貯溜された薬液や純水等の処理液
を循環ポンプ3により圧送し、循環フィルタ4により液
中の微粒子を捕捉して外槽2bに戻し、処理液の清浄度
を維持する循環ライン5を備えている。
【0023】この循環ライン5に生ずる循環圧力の変動
を圧力計11により検出し、検出圧力の変動に基づいて
エア駆動バルブ6に供給する駆動エアの圧力を制御し
て、このエア駆動バルブ6の開度を調整する。そして、
流量計9により循環ライン5の下流部の流量を検出し、
検出流量の変化をリアルタイムでエア駆動バルブ6の駆
動エア制御系にフィードバックする。
を圧力計11により検出し、検出圧力の変動に基づいて
エア駆動バルブ6に供給する駆動エアの圧力を制御し
て、このエア駆動バルブ6の開度を調整する。そして、
流量計9により循環ライン5の下流部の流量を検出し、
検出流量の変化をリアルタイムでエア駆動バルブ6の駆
動エア制御系にフィードバックする。
【0024】具体的には、圧力計11により循環ライン
5内の循環圧力の上昇を検出した場合、あるいは流量計
9により循環流量の低下を検出した場合、エア駆動バル
ブ61,62の下部供給ポート619,629から下部
シリンダ室613a, 623a内へ駆動エアを供給する
ことにより、エア駆動バルブ61,62の開度が大きく
なるように調整する。
5内の循環圧力の上昇を検出した場合、あるいは流量計
9により循環流量の低下を検出した場合、エア駆動バル
ブ61,62の下部供給ポート619,629から下部
シリンダ室613a, 623a内へ駆動エアを供給する
ことにより、エア駆動バルブ61,62の開度が大きく
なるように調整する。
【0025】一方、圧力計11により循環ライン5内の
循環圧力の下降を検出した場合、あるいは流量計9によ
り循環流量の上昇を検出した場合、エア駆動バルブ6
1,62の上部供給ポート620,630から下部シリ
ンダ室613b, 623b内に駆動エアを供給すること
により、エア駆動バルブ61,62の開度が小さくなる
ように調整する。
循環圧力の下降を検出した場合、あるいは流量計9によ
り循環流量の上昇を検出した場合、エア駆動バルブ6
1,62の上部供給ポート620,630から下部シリ
ンダ室613b, 623b内に駆動エアを供給すること
により、エア駆動バルブ61,62の開度が小さくなる
ように調整する。
【0026】このように本発明の実施の形態に係るエア
駆動バルブ6の駆動エアの圧力を循環圧力の変動に応じ
て自動的に調整することで、エア駆動バルブ6の開度を
一定に設定し、循環流量を一定に維持するようにしてい
る。ここで、以下に循環圧力の変動により循環流量が変
化する原因について説明する。まず、循環ライン5内の
循環圧力の上昇、あるいは循環流量の低下が生じる具体
的な原因は、循環フィルタ4の目詰まりが考えられる。
被洗浄物および被エッチング物から除去された物質が循
環フィルタ4にトラップされ、循環フィルタ4内の圧力
損失が大きくなった場合に、循環圧力の変動による循環
流量の変化が生じる。
駆動バルブ6の駆動エアの圧力を循環圧力の変動に応じ
て自動的に調整することで、エア駆動バルブ6の開度を
一定に設定し、循環流量を一定に維持するようにしてい
る。ここで、以下に循環圧力の変動により循環流量が変
化する原因について説明する。まず、循環ライン5内の
循環圧力の上昇、あるいは循環流量の低下が生じる具体
的な原因は、循環フィルタ4の目詰まりが考えられる。
被洗浄物および被エッチング物から除去された物質が循
環フィルタ4にトラップされ、循環フィルタ4内の圧力
損失が大きくなった場合に、循環圧力の変動による循環
流量の変化が生じる。
【0027】また、循環ライン5内の循環圧力が下降、
あるいは循環流量の上昇が生じる具体的な原因は、循環
フィルタ4の交換によるフィルタ特性の変動が挙げられ
る。循環フィルタ4は定期交換を行う部品であり、循環
ライン5へ取り付ける際に前処理が必要となり、その前
処理によってフィルタ特性が変動する場合がある。もち
ろん、そのフィルタ特性が循環ライン5内の循環圧力の
上昇、あるいは循環流量の低下する方向へ変動する場合
もある。
あるいは循環流量の上昇が生じる具体的な原因は、循環
フィルタ4の交換によるフィルタ特性の変動が挙げられ
る。循環フィルタ4は定期交換を行う部品であり、循環
ライン5へ取り付ける際に前処理が必要となり、その前
処理によってフィルタ特性が変動する場合がある。もち
ろん、そのフィルタ特性が循環ライン5内の循環圧力の
上昇、あるいは循環流量の低下する方向へ変動する場合
もある。
【0028】かくして本実施の形態によれば、循環ライ
ン5の循環圧力の変動が、循環ライン5の下流部に介設
された圧力計11または流量計9により検出される。こ
の検出圧力の変動に基づいて、循環ライン5の上流部に
介設されたエア駆動バルブ6の開度が調整されるととも
に、循環流量が流量計9からエア駆動バルブ6にフィー
ドバックされるので、循環圧力が変動しても循環流量が
一定に維持される。したがって、循環圧力の変動による
清浄度、エッチング量およびエッチング均一性の変動を
抑制することができ、製品の歩留りを向上させることが
できるものである。
ン5の循環圧力の変動が、循環ライン5の下流部に介設
された圧力計11または流量計9により検出される。こ
の検出圧力の変動に基づいて、循環ライン5の上流部に
介設されたエア駆動バルブ6の開度が調整されるととも
に、循環流量が流量計9からエア駆動バルブ6にフィー
ドバックされるので、循環圧力が変動しても循環流量が
一定に維持される。したがって、循環圧力の変動による
清浄度、エッチング量およびエッチング均一性の変動を
抑制することができ、製品の歩留りを向上させることが
できるものである。
【0029】以上述べたように、本発明の実施の形態に
よれば、循環ライン5の循環圧力や循環流量をモニタリ
ングし、それらの変動に合わせてエア駆動バルブ6の駆
動エアの圧力を自動的に調整し、エア駆動バルブ6の開
口度を一定の流量が得られるように調整することによ
り、循環圧力の変動による清浄度、エッチング量および
エッチング均一性の変動を抑制することができるので、
製品の歩留りを飛躍的に向上させることができる。
よれば、循環ライン5の循環圧力や循環流量をモニタリ
ングし、それらの変動に合わせてエア駆動バルブ6の駆
動エアの圧力を自動的に調整し、エア駆動バルブ6の開
口度を一定の流量が得られるように調整することによ
り、循環圧力の変動による清浄度、エッチング量および
エッチング均一性の変動を抑制することができるので、
製品の歩留りを飛躍的に向上させることができる。
【0030】
【発明の効果】かくして、本発明によれば、循環圧力の
変動による循環流量の変化を抑制して、製品の歩留りを
向上させることができる液体処理装置を提供することが
できる。
変動による循環流量の変化を抑制して、製品の歩留りを
向上させることができる液体処理装置を提供することが
できる。
【図1】本発明に係る液体処理装置の一実施形態を示す
概略図である。
概略図である。
【図2】本実施形態におけるエア駆動バルブの一形態を
示す概略図である。
示す概略図である。
【図3】本実施形態におけるエア駆動バルブの他の形態
を示す概略図である。
を示す概略図である。
【図4】従来の液体処理装置を示す概略図である。
1・・・液体処理装置、3・・・循環ポンプ、4・・・
循環フィルタ、5・・・循環ライン、6・・・エア駆動
バルブ、9・・・流量計、11・・・圧力計
循環フィルタ、5・・・循環ライン、6・・・エア駆動
バルブ、9・・・流量計、11・・・圧力計
Claims (4)
- 【請求項1】 処理液を循環手段により圧送し、循環フ
ィルタにより液中の微粒子を捕捉する循環ラインを備え
た液体処理装置において、 上記循環ラインに調整バルブを介設するとともに、圧力
計を介設し、上記調整バルブの開度が、上記圧力計よっ
て検出する循環圧力の変動に基づいて調整されることを
特徴とする液体処理装置。 - 【請求項2】 前記循環ラインに流量計を介設し、この
流量計によって検出する循環流量の変化が前記調整バル
ブにフィードバックされることを特徴とする請求項1に
記載の液体処理装置。 - 【請求項3】 前記調整バルブがエア駆動バルブであ
り、このエア駆動バルブが循環ラインの上流部に介設さ
れ、前記圧力計および流量計が循環ラインの下流部に介
設されていることを特徴とする請求項1に記載の液体処
理装置。 - 【請求項4】 前記調整バルブがエア駆動バルブであ
り、この前記エア駆動バルブが循環ラインの上流部に介
設され、前記圧力計および流量計が循環ラインの下流部
に介設されていることを特徴とする請求項2に記載の液
体処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33973896A JPH10184961A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | 液体処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33973896A JPH10184961A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | 液体処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10184961A true JPH10184961A (ja) | 1998-07-14 |
Family
ID=18330343
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33973896A Pending JPH10184961A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | 液体処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10184961A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009009606A (ja) * | 2001-11-26 | 2009-01-15 | Emerson Electric Co | 高純度流体供給システム |
CN112619272A (zh) * | 2019-09-24 | 2021-04-09 | 株式会社斯库林集团 | 基板处理装置 |
-
1996
- 1996-12-19 JP JP33973896A patent/JPH10184961A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009009606A (ja) * | 2001-11-26 | 2009-01-15 | Emerson Electric Co | 高純度流体供給システム |
USRE43288E1 (en) | 2001-11-26 | 2012-04-03 | Emerson Electric Co. | High purity fluid delivery system |
CN112619272A (zh) * | 2019-09-24 | 2021-04-09 | 株式会社斯库林集团 | 基板处理装置 |
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